WO2019225432A1 - コネクタ - Google Patents

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WO2019225432A1
WO2019225432A1 PCT/JP2019/019287 JP2019019287W WO2019225432A1 WO 2019225432 A1 WO2019225432 A1 WO 2019225432A1 JP 2019019287 W JP2019019287 W JP 2019019287W WO 2019225432 A1 WO2019225432 A1 WO 2019225432A1
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WO
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housing
connector
connection
contact spring
connector housing
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PCT/JP2019/019287
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English (en)
French (fr)
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直哉 笹野
宏真 寺西
貴浩 酒井
時薫 崔
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Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00—Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/70—Coupling devices
    • H01R12/91—Coupling devices allowing relative movement between coupling parts, e.g. floating or self aligning
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/62—Means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts or for holding them in engagement
    • H01R13/629—Additional means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts, e.g. aligning or guiding means, levers, gas pressure electrical locking indicators, manufacturing tolerances
    • H01R13/631—Additional means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts, e.g. aligning or guiding means, levers, gas pressure electrical locking indicators, manufacturing tolerances for engagement only
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    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/66—Structural association with built-in electrical component
    • H—ELECTRICITY
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    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R24/00—Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure
    • H01R24/38—Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure having concentrically or coaxially arranged contacts
    • H01R24/40—Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure having concentrically or coaxially arranged contacts specially adapted for high frequency
    • H01R24/54—Intermediate parts, e.g. adapters, splitters or elbows
    • H—ELECTRICITY
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    • H01R24/60—Contacts spaced along planar side wall transverse to longitudinal axis of engagement
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    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R31/00—Coupling parts supported only by co-operation with counterpart
    • H01R31/06—Intermediate parts for linking two coupling parts, e.g. adapter
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R43/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors

Definitions

  • This disclosure relates to a connector capable of connecting a connection target such as a USB device.
  • a continuity test and an operation characteristic test are generally performed in the manufacturing process. These inspections are performed by connecting the inspection apparatus and the electronic component module with a connector.
  • the connector includes a base portion that can be disposed on the substrate, and a fitting portion that extends from the upper portion of the base portion in parallel with the upper surface of the substrate and can be fitted to the connector of the electronic component module.
  • the movement restricting portion provided in the base portion and the movement restricting portion provided in the fitting portion are engaged with a gap, and the fitting portion is within the range of the gap. It is movable relative to the part.
  • the movement restricting portions are respectively provided at both ends in the longitudinal direction of the base portion and the fitting portion, unless the members of the base portion and the fitting portion are formed with high accuracy, It may be difficult to move the fitting portion as designed, and the mating connector may be damaged.
  • This disclosure is intended to provide a connector that can be connected without damaging the connection object even when the connection object is connected from a direction different from the connection direction to the terminal connection portion.
  • An example connector of the present disclosure is: A connector that can be connected to an object to be connected, A connector housing having an opening surface provided with an opening; One end portion in the first direction intersecting the opening surface is located inside the connector housing, and the other end portion in the first direction is exposed to the outside of the connector housing so that the connection object can be connected.
  • a terminal connection portion disposed in a reference position where a gap is provided between the opening portion and an edge portion of the opening portion, and supported by the connector housing in a swingable state on the opening surface;
  • a biasing portion disposed inside the connector housing and biasing the terminal connection portion toward the reference position with respect to the connector housing;
  • the connector housing having the opening surface provided with the opening and the reference position within the opening that is provided with a gap between the edge of the opening and swings on the opening surface.
  • standard position are provided.
  • a connector 1 is configured to be connectable to an inspection apparatus 100 and an inspection object 200 as an example of an object to be connected (see FIG. 3). As illustrated in FIG. 1, as shown in FIG. And a first terminal connecting portion 20 supported by the housing 10 so as to be swingable. An urging portion 30 is provided inside the connector housing 10 as shown in FIG.
  • the connector housing 10 has, for example, a substantially rectangular box shape, and includes an upper housing 11 and a lower housing 12 stacked in the thickness direction (that is, the vertical direction in FIG. 1). Yes.
  • the connector housing 10 has an opening surface 13 on one of the side surfaces facing the longitudinal direction (that is, the first direction X), and the opening surface 13 is provided with a substantially elliptical opening 14. .
  • a board 40 and a second terminal connection portion 50 that can be connected to the inspection apparatus 100 are provided inside the connector housing 10.
  • the board 40 is electrically connected to the first terminal connection part 20 and the second terminal connection part 50 via connection terminals 41 (shown in FIG. 6) provided at both ends of the plate surface in the first direction X.
  • connection terminals 41 shown in FIG. 6
  • the second terminal connection portion 50 is disposed on the opposite side of the first terminal connection portion 20 in the first direction X with respect to the substrate 40.
  • the first terminal connecting portion 20 has a first end 201 that is one end portion in the first direction X intersecting (for example, orthogonal to) the opening surface 13 and is located inside the connector housing 10.
  • a second end 202 that is the other end in the first direction X is exposed to the outside of the connector housing 10 so that the inspection object 200 can be connected.
  • the inspection target 200 is, for example, an electronic component module having a USB connector or an HDMI connector.
  • the first terminal connecting portion 20 is located in the opening 14 and between the edges of the opening 14 at the reference position P, and the first terminal connecting portion 20 is illustrated on the opening surface 13. 4 is supported by the connector housing 10 so as to be swingable in any direction of up, down, left and right.
  • the gap 15 is provided at the reference position P over the entire circumference around the first direction X of the first terminal connection portion 20 (that is, the paper surface penetration direction in FIG. 2).
  • the first terminal connecting portion 20 and the plate-like probe pin 60 extend in the first direction X and cross in the first direction X (for example, orthogonal) to the second direction Y ( 4) and a connection housing 21 provided with a first housing portion 22 capable of housing the probe pin 60 so that the plate surfaces face each other.
  • the first terminal connection portion 20 has a plurality of probe pins 60
  • the connection housing 21 has a plurality of pieces arranged at intervals along the second direction Y.
  • a pair of first accommodating portions 22 is provided, and the probe pins 60 are accommodated in the respective first accommodating portions 22.
  • each pair of first accommodating portions 22 is viewed in the third direction Z as viewed from the first direction X and intersects (for example, orthogonally intersects) the first direction X and the second direction Y of the first terminal connection portion 20. They are arranged symmetrically with respect to the center line L1 and are electrically independent from each other. That is, the probe pin 60 accommodated in each pair of first accommodating portions 22 can hold the inspection object 200 from the third direction Z by a first contact spring portion 61 described later, and a second contact spring portion described later. 62, the substrate 40 can be sandwiched from the third direction Z.
  • a support portion 211 that supports a biasing member (that is, a coil spring 31) of a biasing portion 30 described later is provided at an end portion of the connection housing 21 on the first end portion 201 side.
  • a recess 23 that opens in the first direction X and can accommodate the inspection object 200 from the first direction X, and a confirmation window 24 are provided.
  • a first contact spring portion 61 (described later) of each probe pin 60 is disposed inside the recess 23. That is, the inspection target 200 is connected to the first terminal connection unit 20 along the first direction X.
  • the confirmation window 24 communicates with the first housing portion 22 and the outside of the connection housing 21 so that the first contact spring portion 61 of each probe pin 60 can be confirmed from the outside of the connection housing 21.
  • the first terminal connection portion 20 covers the outer surface of the connection housing 21 and also includes a conductive outer shell portion 25 provided with a ground terminal 26 disposed inside the connector housing 10.
  • the outer shell portion 25 is made of a metal such as iron and covers a region excluding the second end portion 202 on the outer surface of the connection housing 21 while being electrically independent from each probe pin 60. Yes.
  • a pair of ground terminals 26 is provided at each of both end portions of the outer shell portion 25 in the second direction Y.
  • a concave portion 212 that can accommodate the outer shell portion 25 is provided on the outer surface of the connection housing 21.
  • the recess 212 has an outer surface of the accommodated outer shell portion 25 with respect to an outer surface of a portion where the recess 212 of the connection housing 21 is not provided (for example, the end 213 on the second end 201 side of the connection housing 21). And are configured to be located on the same plane.
  • each pair of ground terminals 26 is arranged so as to face the third direction Z, and is configured to be able to contact the substrate 40 connection terminal 41 in a state of being elastically deformed in the third direction Z. ing.
  • the urging portion 30 is disposed inside the connector housing 10 and urges the first terminal connection portion 20 toward the reference position P with respect to the connector housing 10.
  • the urging unit 30 includes a plurality of urging members (four coil springs 31 in this embodiment), and the four coil springs 31 are imaginary straight lines (for example, first lines) orthogonal to the first direction X.
  • the one-terminal connecting portion 20 is disposed symmetrically with respect to the center line L1) in the third direction Z.
  • Each coil spring 31 is provided in each of the substantially cylindrical recess 214 provided in the support portion 211 of the connection housing 21 and the recess 214 of the connection housing 21 provided in each of the upper housing 11 and the lower housing 12. Is housed in a coil spring housing portion 16 that is composed of substantially cylindrical recesses 111 and 121 arranged in the inner space. By using the coil spring 31 as the urging member, the first terminal connecting portion 20 can be swung in the first direction X in addition to an arbitrary direction on the opening surface 13.
  • each probe pin 60 has a plate shape, and the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62, and the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62 are between the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62.
  • An intermediate portion 63 and a buffer spring portion 64 arranged in series along the direction X are provided. That is, the first contact spring part 61, the intermediate part 63, the buffer spring part 64, and the second contact spring part 62 are arranged along the first direction X.
  • Each probe pin 60 is formed by, for example, an electroforming method, and the first contact spring portion 61, the intermediate portion 63, the buffer spring portion 64, and the second contact spring portion 62 are integrally formed.
  • Each of the first contact spring part 61 and the second contact spring part 62 has a meandering shape when viewed from the second direction Y, and is configured to be elastically deformable in the third direction Z with respect to the intermediate part 63. .
  • the 1st contact spring part 61 is comprised by the some strip
  • the intermediate portion 63 has a substantially rectangular shape, and both end portions in the first direction X are connected to the first contact spring portion 61 and the buffer spring portion 64, respectively.
  • a direction toward the second contact spring portion 62 in the first direction X of the probe pin 60 when accommodated in the first accommodating portion 22 of the connection housing 21 is provided at an end portion of the intermediate portion 63 on the buffer spring portion 64 side.
  • a first positioning portion 631 that restricts the movement of the first positioning portion 631 is provided.
  • the first positioning portion 631 is configured by a plane extending in the direction away from the buffer spring portion 64 in the third direction Z.
  • the buffer spring portion 64 has a substantially rectangular frame shape protruding from the intermediate portion 63 in the third direction Z, and both end portions in the first direction X are connected to the intermediate portion 63 and the second contact spring portion 62, respectively.
  • the part 63 is configured to be elastically deformable in the second direction Y (that is, the plate thickness direction).
  • the probe pin 60 is accommodated in the first direction X and toward the first contact spring portion 61 when accommodated in the first accommodating portion 22 of the connection housing 21.
  • a second positioning portion 641 that restricts movement is provided.
  • the second positioning portion 641 is configured by a plane extending in the third direction Z in the direction away from the buffer spring portion 64 and in the direction opposite to the first positioning portion 631 of the intermediate portion 63.
  • a protruding portion that extends from the second positioning portion 641 along the first direction X toward the first contact spring portion 62. 642 is provided.
  • the projection 642 is provided in the support portion 211 of the connection housing 21 in the third direction Z, and is accommodated in a recess 215 disposed between the coil spring 31 and the intermediate portion 63. Yes.
  • each of the second contact spring portion 62 and the buffer spring portion 64 is located outside the connection housing 21 and inside the connector housing 10.
  • the buffer spring portion 64 is accommodated in the second accommodating portion 17 provided in the connector housing 10, and the second contact spring portion 62 is accommodated in the third accommodating portion 18 provided in the connector housing 10. Yes.
  • the shortest distance D1 between the plate surface of the intermediate portion 63 and the first accommodating portion 22 in the second direction Y is equal to the plate surface of the buffer spring portion 64 in the second direction Y. It is smaller than the shortest distance D ⁇ b> 2 between the housing portion 17. Further, the plate thickness W1 of each probe pin 60 is configured to be 1/2 or less (preferably 1/3 or less) of the shortest distance W2 between the plate surfaces of adjacent probe pins 60. Although not shown, the shortest distance between the plate surface of the second contact spring portion 62 and the third housing portion 18 in the second direction Y is the same as that of the plate surface of the intermediate portion 63 in the second direction Y. It is substantially the same as the shortest distance D ⁇ b> 1 between the housing portion 22.
  • the connector housing 10 having the opening surface 13 provided with the opening 14 is disposed at the reference position P where the gap 15 is provided between the opening 14 and the edge of the opening 14.
  • the first terminal connection portion 20 supported by the connector housing 10 in a swingable manner on the opening surface 13 and the urging portion 30 that urges the first terminal connection portion 20 toward the reference position P. I have.
  • the first terminal connection portion 20 can be returned to the reference position P by the urging force of the urging portion 30 after the first terminal connection portion 20 is once displaced from the reference position P against the urging force of the urging portion 30. Therefore, since the first terminal connection portion 20 can be self-aligned with the connection object such as the inspection object 200, the connector 1 that can be connected without damaging the connection object such as the inspection object 200 can be realized.
  • the first terminal connection portion 20 has a conductive outer shell portion 25 that covers the outer surface and is provided with a ground terminal 26 disposed inside the connector housing 10.
  • the outer shell portion 25 can reduce the loss of signals in the high frequency region flowing through the connector.
  • a board 40 electrically connected to the first terminal connection portion 20 is provided inside the connector housing 10, and the ground terminal 26 contacts the connection terminal 41 of the board 40 in an elastically deformed state. It is configured to be possible. With such a configuration, the contact pressure between the ground terminal 26 and the connection terminal 41 of the substrate 40 can be increased, and the contact reliability between the ground terminal 26 and the connection terminal 41 can be increased.
  • the urging unit 30 is configured by a plurality of urging members (for example, coil springs 31), and the plurality of urging members are arranged symmetrically with respect to a virtual straight line L1 orthogonal to the first direction X. ing.
  • a plurality of urging members for example, coil springs 31
  • the plurality of urging members are arranged symmetrically with respect to a virtual straight line L1 orthogonal to the first direction X. ing.
  • the first terminal connecting portion 20 has a plate-like probe pin 60 and a first housing portion 22 that can house the probe pin 60 so that the plate surface faces the plate direction in the second direction Y extending in the first direction X.
  • the probe pin 60 has a first direction between the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62, and the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62.
  • An intermediate portion 63 and a buffer spring portion 64 arranged in series along X are provided.
  • the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62 are configured to be elastically deformable in the third direction Z with respect to the intermediate portion 63, and the intermediate portion 63 has a first contact at both ends in the first direction X, respectively.
  • the buffer spring part 64 is connected to the spring part 61 and the buffer spring part 64, and the buffer spring part 64 is connected to the intermediate part 63 and the second contact spring part 62 at both ends in the first direction X, respectively. It is configured to be elastically deformable in the second direction Y.
  • the second contact spring portion 62 and the buffer spring portion 64 are located outside the connection housing 21 and inside the connector housing 10.
  • the connector housing 10 can extend in the first direction X and accommodate the buffer spring portion 64.
  • a second accommodating portion 17 is provided.
  • the shortest distance D1 between the plate surface of the intermediate portion 63 and the first storage portion 22 in the second direction Y is between the plate surface of the buffer spring portion 64 and the second storage portion 17 in the second direction Y. It is smaller than the shortest distance D2.
  • the connection object such as the inspection object 200 is connected to the first terminal connection unit 20 from the direction intersecting the contact direction (that is, the first direction X) and is planned to the probe pin 60. Even if a stress in a direction crossing the contact direction (for example, the second direction Y) is applied, the stress can be dispersed by the buffer spring portion 64 to reduce damage to the probe pin 60. That is, even when a connection object such as the inspection object 200 is connected to the first terminal connection unit 20 from a direction crossing the contact direction, the probe pin 60 that is not easily damaged can be realized.
  • connection housing 21 communicates with the first housing portion 22 and the outside of the connection housing 21, and has a confirmation window 24 through which the first contact spring portion 61 can be confirmed from the outside of the connection housing 21.
  • this confirmation window 24 With this confirmation window 24, the accommodation state of the first contact spring portion 62 of the probe pin 60 accommodated in the first accommodation portion 22 can be easily confirmed.
  • the first terminal connection portion 20 includes a plurality of probe pins 60 and a plurality of first accommodation portions 22 that are arranged at intervals in the second direction Y and each probe pin 60 is accommodated.
  • the plate thickness W1 of each probe pin 60 is 1 ⁇ 2 or less of the shortest distance W2 between the plate surfaces of the adjacent probe pins 60. With such a configuration, the insulation of each probe pin 60 can be reliably ensured.
  • the probe pin 60 is provided between the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62, and is in the first direction X with respect to the first terminal connection portion 20 when accommodated in the first accommodation portion 22.
  • Positioning parts 631 and 641 for determining the position are further provided. The positioning portions 631 and 641 can reduce the dropout of the probe pin 60 from the first housing portion 22.
  • the positioning portion is provided on one side in the third direction Z of the intermediate portion 63, and the first positioning that restricts the movement in one side of the first direction X (for example, the direction toward the second contact spring portion 62).
  • Part 631 and a second positioning part that is provided on the other side in the third direction Z of the buffer spring part 64 and restricts the movement in the other side of the first direction X (for example, the direction toward the second contact spring part 61). 641.
  • the connector housing 10 includes the upper housing 11 and the lower housing 12 stacked in the third direction Z.
  • the present invention is not limited to this.
  • the left housing 71 and the right housing 72 may be stacked in the second direction Y.
  • the four coil springs 31 of the urging portion 30 are in the second direction of the first terminal connection portion 20 when viewed from the first direction X (that is, the paper surface penetration direction in FIG. 10). They can be arranged symmetrically with respect to the Y center line L2.
  • the shortest distance D1 between the plate surface of the intermediate portion 63 of the probe pin 60 housed in the first housing portion 22 and the first housing portion 22 is equal to the plate surface of the buffer spring portion 64 of the probe pin 60 and the first surface. 2 is configured to be smaller than the shortest distance D ⁇ b> 2 between the housing portions 17, but is not limited thereto.
  • the shortest distance D ⁇ b> 1 and the shortest distance D ⁇ b> 2 may be the same.
  • the outer shell 25 is not limited to being configured to cover a part of the connection housing 21, and may be configured to cover the entire connection housing 21, for example, as illustrated in FIG. 9. If it is not necessary to consider the loss of signals in the high frequency region, it can be omitted.
  • the ground terminal 26 is configured not to be in contact with the connection terminal 41 of the substrate 40 in an elastically deformed state, but to be in contact with the connection terminal 41 of the substrate 40 in a state of not being elastically deformed. May be.
  • the ground terminal 26 may be connected to the connection terminal 41 of the substrate 40 by soldering or the like to improve contact reliability.
  • the urging unit 30 is not limited to the case where the urging unit 30 is configured by four coil springs 31.
  • the urging unit 30 may be configured by one to three coil springs 31, or may be configured by five or more coil springs 31.
  • the urging unit 30 is not limited to the case where the plurality of coil springs 31 are arranged above and below the third direction Z, and the plurality of coil springs 31 are added to the top and bottom of the third direction Z and the left and right in the second direction Y You may arrange
  • the urging member is not limited to the coil spring 31 and may be configured by a plate spring 32 as shown in FIG. 12, for example.
  • a plate spring 32 as shown in FIG. 12, for example.
  • two leaf springs 32 are arranged above and below the third direction Z (FIG. 12 shows only three leaf springs 32), and the leaf springs 32 are arranged on both the left and right sides in the second direction Y, respectively. Two are arranged.
  • the configuration of the terminal connection portion can be changed as appropriate according to the design of the connector 1 or the like.
  • the probe pin of the first terminal connection unit 20 is not limited to the probe pin 60, and a probe pin having another configuration can be used.
  • a probe pin formed by a method other than electroforming can be used as the probe pin of the first terminal connection unit 20, or a probe pin without the positioning units 631 and 641 can be used.
  • connection housing 21 is not limited to the case where the connection housing 21 includes a plurality of pairs of first housing portions 22 arranged at intervals along the second direction Y.
  • a plurality of first accommodating portions 22 may be provided only on one side with respect to the center line L1 (in FIG. 13, the upper housing 11 side of the center line L1 in the third direction Z).
  • the ground terminal 26 of the outer shell portion 25 may be provided only on one side of the center line L1 in the third direction Z.
  • the plurality of probe pins 60 of the first terminal connection portion 20 are such that the tip ends of the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62 are aligned along the second direction Y.
  • positions so that it may be located in a line only the 2nd contact spring part 62 is shown in FIG. 5
  • the plurality of probe pins 60 may be arranged in a zigzag pattern in which the tip portions of the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62 are alternately shifted in the first direction X.
  • the confirmation window 24 may be omitted.
  • the plate thickness W1 of each probe pin 60 is not limited to be configured to be 1/2 or less (preferably 1/3 or less) of the shortest distance W2 between the plate surfaces of adjacent probe pins 60.
  • the plate thickness W1 of each probe pin 60 can be configured to be larger than 1 ⁇ 2 of the shortest distance W2 between the plate surfaces of the adjacent probe pins 60.
  • the connector 1 includes: A connector 1 connectable to the connection objects 100 and 200, A connector housing 10 having an opening surface 13 provided with an opening 14; One end portion in the first direction X intersecting the opening surface 13 is located inside the connector housing 10, and the other end portion in the first direction X is connected to the connection object 200 to the outside of the connector housing 10. It is exposed, and is disposed at a reference position P in the opening 14 where a gap 15 is provided between the opening 14 and an edge of the opening 14, and can swing on the opening surface 13.
  • a terminal connection portion 20 supported by the connector housing 10; A biasing portion 30 is provided inside the connector housing 10 and biases the terminal connection portion 20 toward the reference position P with respect to the connector housing 10.
  • the connection object such as the inspection object 200 is connected from the direction intersecting the connection direction to the terminal connection portion 20 (that is, the first direction X).
  • the first terminal connection portion 20 can be returned to the reference position P by the urging force of the urging portion 30 after the terminal connection portion 20 once deviates from the reference position P against the urging force of the urging portion 30. Therefore, since the terminal connection part 20 can be self-aligned with the connection object such as the inspection object 200, the connector 1 that can be connected without damaging the connection object such as the inspection object 200 can be realized.
  • the connector 1 includes:
  • the terminal connection portion 20 has a conductive outer shell portion 25 that covers an outer surface thereof and is provided with a ground terminal 26 disposed inside the connector housing 10.
  • the outer shell portion 25 can reduce the loss of signals in the high frequency region flowing through the connector.
  • the connector 1 includes: A board 40 that is electrically connected to the terminal connection portion 20 is provided inside the connector housing 10;
  • the ground terminal 26 is configured to be able to contact the connection terminal 41 of the substrate in an elastically deformed state.
  • the contact pressure between the ground terminal 26 and the connection terminal 41 of the substrate 40 can be increased, and the contact reliability between the ground terminal 26 and the connection terminal 41 can be increased.
  • the connector 1 includes:
  • the urging portion 30 is composed of a plurality of urging members 31, 32,
  • the plurality of urging members 31 and 32 are arranged symmetrically with respect to a virtual straight line L1 orthogonal to the first direction X.
  • the connector 1 of the fourth aspect variation in the urging force with respect to the terminal connecting portion 20 can be reduced, and the terminal connecting portion 20 can be more reliably rocked as designed. As a result, the terminal connection part 20 can be more self-aligned with respect to the connection object such as the inspection object 200.
  • the connector 1 includes:
  • the terminal connection 20 is A plate-like probe pin 60;
  • a connection housing 21 provided with a first housing portion 22 capable of housing the probe pin 60 so as to face the plate surface in a second direction Y extending in the first direction X and intersecting the first direction X;
  • Have The probe pin 60 is A first contact spring portion 61 and a second contact spring portion 62;
  • An intermediate portion 63 and a buffer spring portion 64 disposed in series along the first direction X between the first contact spring portion 61 and the second contact spring portion 62;
  • the first contact spring part 61 and the second contact spring part 62 are configured to be elastically deformable with respect to the intermediate part 63 in a third direction Z intersecting the first direction X and the second direction Y,
  • the intermediate part 63 is connected to the first contact spring part 61 and the buffer spring part 64 at both ends in the first direction X, respectively.
  • the shock-absorbing spring portion 64 has both ends in the first direction X connected to the intermediate portion 63 and the second contact spring portion 62, respectively, and is elastic in the second direction Y with respect to the intermediate portion 63. It is configured to be deformable,
  • the second contact spring part 62 and the buffer spring part 64 are located outside the connection housing 21 and inside the connector housing 10,
  • the connector housing 10 is provided with a second accommodating portion 17 that extends in the first direction X and can accommodate the buffer spring portion 64.
  • the shortest distance D1 between the plate surface of the intermediate portion 63 and the first housing portion 22 in the second direction Y is equal to the plate surface of the buffer spring portion 64 and the second housing portion 17 in the second direction Y. It is smaller than the shortest distance D2 between.
  • the connection object such as the inspection object 200 is connected to the terminal connection portion 20 from the direction intersecting the contact direction (that is, the first direction X), and the probe pin 60 is contacted with the contact direction. Even if a stress in a direction intersecting with (for example, the second direction Y) is applied, the stress can be dispersed by the buffer spring portion 64, and damage to the probe pin 60 can be reduced. That is, even when a connection object such as the inspection object 200 is connected to the terminal connection unit 20 from a direction intersecting the contact direction, the probe pin 60 that is not easily damaged can be realized.
  • the connector 1 includes: The connection housing 21 communicates with the first housing portion 22 and the outside of the connection housing 21, and has a confirmation window 24 that allows the first contact spring portion 61 to be confirmed from the outside of the connection housing 21. ing.
  • the accommodation state of the contact spring portion 62 of the probe pin 60 accommodated in the first accommodation portion 22 can be easily confirmed by the confirmation window 24.
  • the connector 1 includes: The terminal connection 20 is A plurality of the probe pins 60; A plurality of first accommodating portions 22 arranged at intervals in the second direction Y and accommodating the probe pins 60; The plate thickness W1 of the probe pin 60 is 1 ⁇ 2 or less of the shortest distance W1 between the plate surfaces of the adjacent probe pins 60.
  • the insulation of each probe pin 60 can be reliably ensured.
  • the connector of the present disclosure can be used, for example, for testing a USB device or an HDMI device.

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Abstract

コネクタが、開口部が設けられた開口面を有するコネクタハウジングと、開口面に交差する第１方向の一端部がコネクタハウジングの内部に位置しかつ第１方向の他端部が接続対象物を接続可能にコネクタハウジングの外部に露出していると共に、開口部内で開口部の縁部との間に隙間が設けられる基準位置に配置され、開口面上で揺動可能な状態でコネクタハウジングに支持されている端子接続部と、コネクタハウジングの内部に配置されて、コネクタハウジングに対して端子接続部を前記基準位置に向かって付勢する付勢部とを備える。

Description

コネクタ
　本開示は、ＵＳＢデバイス等の接続対象物を接続可能なコネクタに関する。
　ＵＳＢデバイス等の電子部品モジュールでは、一般に、その製造工程において、導通検査および動作特性検査等が行われる。これらの検査は、検査装置と電子部品モジュールとをコネクタで接続することにより行われる。
　このようなコネクタとしては、特許文献１に記載されたものがある。このコネクタは、基板上に配置可能なベース部と、ベース部の上部から基板の上面と平行に延びて、電子部品モジュールのコネクタと嵌合可能な嵌合部とを備えている。前記コネクタでは、ベース部に設けられた移動規制部と、嵌合部に設けられた移動規制部とが、間隙を有して係合されており、この間隙の範囲内で嵌合部がベース部に対して相対的に移動可能になっている。
特開２０１５－１５８９９０号公報
　しかし、前記コネクタでは、ベース部および嵌合部の各々の長手方向の両端部にそれぞれ移動規制部が設けられているため、高い精度でベース部および嵌合部の各部材を形成しなければ、設計通り嵌合部を移動させることが困難になり、相手側コネクタが損傷してしまう場合がある。
　本開示は、接続対象物が端子接続部への接続方向とは異なる方向から接続された場合であっても、接続対象物を損傷させることなく接続可能なコネクタを提供することを課題とする。
　本開示の一例のコネクタは、
　接続対象物に接続可能なコネクタであって、
　開口部が設けられた開口面を有するコネクタハウジングと、
　前記開口面に交差する第１方向の一端部が前記コネクタハウジングの内部に位置しかつ前記第１方向の他端部が前記接続対象物を接続可能に前記コネクタハウジングの外部に露出していると共に、前記開口部内で前記開口部の縁部との間に隙間が設けられる基準位置に配置され、前記開口面上で揺動可能な状態で前記コネクタハウジングに支持されている端子接続部と、
　前記コネクタハウジングの内部に配置されて、前記コネクタハウジングに対して前記端子接続部を前記基準位置に向かって付勢する付勢部と
を備える。
　前記コネクタによれば、開口部が設けられた開口面を有するコネクタハウジングと、開口部内であって開口部の縁部との間に隙間が設けられる基準位置に配置され、開口面上で揺動可能な状態でコネクタハウジングに支持されている端子接続部と、端子接続部を基準位置に向かって付勢する付勢部とを備えている。このような構成により、接続対象物が端子接続部への接続方向に対して交差する方向から接続された場合であっても、端子接続部を接続対象物に対してセルフアライメントさせることができるので、接続対象物を損傷させることなく接続可能なコネクタを実現できる。
本開示の一実施形態のコネクタを示す斜視図。 図１のII-II線に沿った断面図。 図１のIII-III線に沿った断面図。 図１のコネクタの第１端子接続部側の側面図。 図１のコネクタの第１端子接続部を示す斜視図。 図１のVI-VI線に沿った断面図。 図１のコネクタのプローブピンを示す斜視図。 図１のVIII-VIII線に沿った断面図。 図１のコネクタの第１の変形例を示す斜視図。 図９のコネクタのコネクタハウジングを取り除いた状態における第１端子接続部側の側面図。 図１のコネクタの第２の変形例を示す斜視図。 図１のコネクタの第３の変形例を示す第１端子接続部の斜視図。 図１のコネクタの第４の変形例を示す図１のII-II線に沿った断面図。 図１のコネクタの第５の変形例を示す斜視図。
　以下、本開示の一例を添付図面に従って説明する。なお、以下の説明では、必要に応じて特定の方向あるいは位置を示す用語（例えば、「上」、「下」、「右」、「左」を含む用語）を用いるが、それらの用語の使用は図面を参照した本開示の理解を容易にするためであって、それらの用語の意味によって本開示の技術的範囲が限定されるものではない。また、以下の説明は、本質的に例示に過ぎず、本開示、その適用物、あるいは、その用途を制限することを意図するものではない。さらに、図面は模式的なものであり、各寸法の比率等は現実のものとは必ずしも合致していない。
　本開示の一実施形態のコネクタ１は、接続対象物の一例の検査装置１００および検査対象２００に接続可能に構成され（図３参照）、図１に示すように、コネクタハウジング１０と、このコネクタハウジング１０に揺動可能に支持されている第１端子接続部２０とを備えている。コネクタハウジング１０の内部には、図２に示すように、付勢部３０が設けられている。
　コネクタハウジング１０は、図１に示すように、一例として、略矩形の箱状で、厚さ方向（すなわち、図１の上下方向）に積み重ねられた上ハウジング１１と下ハウジング１２とで構成されている。このコネクタハウジング１０は、その長手方向（すなわち、第１方向Ｘ）に対向する側面の一方に開口面１３を有し、この開口面１３には、略楕円形状の開口部１４が設けられている。
　図３に示すように、コネクタハウジング１０の内部には、基板４０と、検査装置１００に接続可能な第２端子接続部５０とが設けられている。基板４０は、その板面における第１方向Ｘの両端部に設けられた接続端子４１（図６に示す）を介して、第１端子接続部２０および第２端子接続部５０に電気的に接続されている。第２端子接続部５０は、基板４０に対して第１方向Ｘにおける第１端子接続部２０の反対側に配置されている。
　第１端子接続部２０は、図３に示すように、開口面１３に交差（例えば、直交）する第１方向Ｘの一端部である第１端部２０１がコネクタハウジング１０の内部に位置しかつ第１方向Ｘの他端部である第２端部２０２が検査対象２００を接続可能にコネクタハウジング１０の外部に露出している。なお、検査対象２００は、例えば、ＵＳＢコネクタあるいはＨＤＭＩコネクタを有する電子部品モジュールである。
　また、第１端子接続部２０は、図４に示すように、開口部１４内であって開口部１４の縁部との間に隙間１５が基準位置Ｐに配置され、開口面１３上で図４の上下左右の任意の方向に対して揺動可能な状態で、コネクタハウジング１０に支持されている。この実施形態では、隙間１５は、基準位置Ｐにおいて、第１端子接続部２０の第１方向Ｘ（すなわち、図２の紙面貫通方向）まわりの全周に亘って設けられている。
　詳しくは、第１端子接続部２０は、図３に示すように、板状のプローブピン６０と、第１方向Ｘに延びて第１方向Ｘに交差（例えば、直交）する第２方向Ｙ（図４に示す）に板面が対向するようにプローブピン６０を収容可能な第１収容部２２が設けられた接続ハウジング２１とを有している。この実施形態では、第１端子接続部２０は、図２に示すように、複数のプローブピン６０を有し、接続ハウジング２１には、第２方向Ｙに沿って間隔を空けて配置された複数対の第１収容部２２が設けられ、各第１収容部２２にプローブピン６０がそれぞれ収容されている。これにより、各対の第１収容部２２は、第１方向Ｘから見て、第１端子接続部２０の第１方向Ｘおよび第２方向Ｙに交差（例えば、直交）する第３方向Ｚの中心線Ｌ１に対して対称に配置され、相互に電気的独立している。すなわち、各対の第１収容部２２に収容されたプローブピン６０は、後述する第１接触ばね部６１によって検査対象２００を第３方向Ｚから挟持可能であると共に、後述する第２接触ばね部６２によって基板４０を第３方向Ｚから挟持可能に構成されている。
　図３に示すように、接続ハウジング２１の第１端部２０１側の端部には、後述する付勢部３０の付勢部材（すなわち、コイルばね３１）を支持する支持部２１１が設けられ、接続ハウジング２１の第２端部２０２側の端部には、第１方向Ｘに開口して第１方向Ｘから検査対象２００を収容可能な凹部２３と、確認用窓２４とが設けられている。凹部２３の内部には、各プローブピン６０の後述する第１接触ばね部６１が配置されている。すなわち、検査対象２００は、第１方向Ｘに沿って第１端子接続部２０に接続される。また、確認用窓２４は、第１収容部２２と接続ハウジング２１の外部とに連通して、各プローブピン６０の第１接触ばね部６１を接続ハウジング２１の外部から確認可能になっている。
　また、図５に示すように、第１端子接続部２０は、接続ハウジング２１の外面を覆うと共に、コネクタハウジング１０の内部に配置されるグランド端子２６が設けられた導電性の外殻部２５を有している。この実施形態では、外殻部２５は、鉄等の金属で構成され、各プローブピン６０とは電気的に独立した状態で接続ハウジング２１の外面の第２端部２０２を除いた領域を覆っている。このように構成することで、第１端子接続部２０に検査対象２００を接続するときに、検査対象２００が外殻部２５に接触することがなくなり、第１端子接続部２０への接続時における検査対象２００の損傷を低減できる。また、グランド端子２６は、外殻部２５の第２方向Ｙの両端部のそれぞれに一対ずつ設けられている。
　接続ハウジング２１の外面には、図３に示すように、外殻部２５を収容可能な凹部２１２が設けられている。この凹部２１２は、収容された外殻部２５の外面が、接続ハウジング２１の凹部２１２が設けられていない部分（例えば、接続ハウジング２１の第２端部２０１側の端部２１３）の外面に対して、同一平面上に位置するように構成されている。
　各対のグランド端子２６は、図６に示すように、第３方向Ｚに対向するように配置され、第３方向Ｚに弾性変形した状態で基板４０接続端子４１に対して接触可能に構成されている。
　付勢部３０は、図２に示すように、コネクタハウジング１０の内部に配置されて、コネクタハウジング１０に対して第１端子接続部２０を基準位置Ｐに向かって付勢する。詳しくは、付勢部３０は、複数の付勢部材（この実施形態では、４つのコイルばね３１）で構成され、４つのコイルばね３１が、第１方向Ｘに直交する仮想直線（例えば、第１端子接続部２０の第３方向Ｚの中心線Ｌ１）に対して対称に配置されている。
　各コイルばね３１は、接続ハウジング２１の支持部２１１に設けられた略円柱状の凹部２１４と、上ハウジング１１および下ハウジング１２の各々に設けられ相互に接続ハウジング２１の凹部２１４にそれぞれ対向するように配置された略円柱状の凹部１１１、１２１とで構成されるコイルばね収容部１６に収容されている。付勢部材としてコイルばね３１を用いることで、第１端子接続部２０を開口面１３上の任意の方向に加えて、第１方向Ｘに揺動させることができる。
　各プローブピン６０は、図７に示すように、板状で、第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２と、第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２の間に第１方向Ｘに沿って直列的に配置された中間部６３および緩衝ばね部６４とを備えている。すなわち、第１接触ばね部６１、中間部６３、緩衝ばね部６４および第２接触ばね部６２は、第１方向Ｘに沿って配列されている。また、各プローブピン６０は、例えば、電鋳法で形成され、第１接触ばね部６１、中間部６３、緩衝ばね部６４および第２接触ばね部６２が、一体に構成されている。
　第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２の各々は、第２方向Ｙから見て、蛇行形状を有し、中間部６３に対して第３方向Ｚに弾性変形可能に構成されている。また、第１接触ばね部６１は、複数の帯状弾性片（この実施形態では、２つの帯状弾性片６１１、６１２）で構成されている。
　中間部６３は、略矩形状を有し、第１方向Ｘの両端部がそれぞれ第１接触ばね部６１および緩衝ばね部６４に接続されている。この中間部６３の緩衝ばね部６４側の端部には、接続ハウジング２１の第１収容部２２に収容されたときのプローブピン６０の第１方向Ｘでかつ第２接触ばね部６２に向かう方向の移動を規制する第１位置決め部６３１が設けられている。第１位置決め部６３１は、第３方向Ｚにおいて緩衝ばね部６４から離れる方向に延びる平面で構成されている。
　緩衝ばね部６４は、中間部６３から第３方向Ｚにおいて突出した略矩形の枠状を有し、第１方向Ｘの両端部がそれぞれ中間部６３および第２接触ばね部６２に接続され、中間部６３に対して第２方向Ｙ（すなわち、板厚方向）に弾性変形可能に構成されている。緩衝ばね部６４の中間部６３側の端部には、接続ハウジング２１の第１収容部２２に収容されたときのプローブピン６０の第１方向Ｘでかつ第１接触ばね部６１に向かう方向の移動を規制する第２位置決め部６４１が設けられている。第２位置決め部６４１は、第３方向Ｚにおいて緩衝ばね部６４から離れる方向でかつ中間部６３の第１位置決め部６３１とは反対方向に延びる平面で構成されている。
　また、第２位置決め部６４１の第３方向Ｚにおける中間部６３のから遠い方の端部には、第２位置決め部６４１から第１方向Ｘ沿いを第１接触ばね部６２に向かって延びる突起部６４２が設けられている。この突起部６４２は、図３に示すように、第３方向Ｚにおいて、接続ハウジング２１の支持部２１１に設けられ、コイルばね３１と中間部６３との間に配置された凹部２１５に収容されている。
　図３に示すように、第２接触ばね部６２および緩衝ばね部６４の各々は、接続ハウジング２１の外部でかつコネクタハウジング１０の内部に位置している。緩衝ばね部６４は、コネクタハウジング１０の内部に設けられた第２収容部１７に収容され、第２接触ばね部６２は、コネクタハウジング１０の内部に設けられた第３収容部１８に収容されている。
　また、図８に示すように、第２方向Ｙにおける中間部６３の板面と第１収容部２２との間の最短距離Ｄ１が、第２方向Ｙにおける緩衝ばね部６４の板面と第２収容部１７との間の最短距離Ｄ２よりも小さくなっている。さらに、各プローブピン６０の板厚Ｗ１が、隣接するプローブピン６０の板面間の最短距離Ｗ２の１／２以下（好ましくは１／３以下）になるように構成されている。なお、図示していないが、第２方向Ｙにおける第２接触ばね部６２の板面と第３収容部１８との間の最短距離は、第２方向Ｙにおける中間部６３の板面と第１収容部２２との間の最短距離Ｄ１と略同一になっている。
　前記コネクタ１では、開口部１４が設けられた開口面１３を有するコネクタハウジング１０と、開口部１４内であって開口部１４の縁部との間に隙間１５が設けられる基準位置Ｐに配置され、開口面１３上で揺動可能な状態でコネクタハウジング１０に支持されている第１端子接続部２０と、第１端子接続部２０を基準位置Ｐに向かって付勢する付勢部３０とを備えている。このような構成により、検査対象２００等の接続対象物が第１端子接続部２０への接続方向（すなわち、第１方向Ｘ）に対して交差する方向から接続された場合であっても、付勢部３０の付勢力に抗して第１端子接続部２０が基準位置Ｐから一旦ずれたのち付勢部３０の付勢力で第１端子接続部２０を基準位置Ｐに戻すことができる。よって、第１端子接続部２０を検査対象２００等の接続対象物に対してセルフアライメントさせることができるので、検査対象２００等の接続対象物を損傷させることなく接続可能なコネクタ１を実現できる。
　また、第１端子接続部２０が、その外面を覆うと共に、コネクタハウジング１０の内部に配置されたグランド端子２６が設けられた導電性の外殻部２５を有している。この外殻部２５により、コネクタを流れる高周波領域の信号の損失を低減できる。
　また、コネクタハウジング１０の内部に、第１端子接続部２０に対して電気的に接続された基板４０が設けられており、グランド端子２６が、弾性変形した状態で基板４０の接続端子４１に接触可能に構成されている。このような構成により、グランド端子２６の基板４０の接続端子４１に対する接圧を高めて、グランド端子２６と接続端子４１との間の接触信頼性を高めることができる。
　また、付勢部３０が、複数の付勢部材（例えば、コイルばね３１）で構成されており、複数の付勢部材が、第１方向Ｘに直交する仮想直線Ｌ１に対して対称に配置されている。このような構成により、第１端子接続部２０に対する付勢力のばらつきを低減して、より確実に第１端子接続部２０を設計通りに揺動させることができる。その結果、第１端子接続部２０を検査対象２００等の接続対象物に対してより確実にセルフアライメントさせることができる。
　また、第１端子接続部２０が、板状のプローブピン６０と、第１方向Ｘに延びて第２方向Ｙで板面が対向するようにプローブピン６０を収容可能な第１収容部２２が設けられた接続ハウジング２１とを有し、プローブピン６０は、第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２と、第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２の間に第１方向Ｘに沿って直列的に配置された中間部６３および緩衝ばね部６４とを備えている。第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２は、中間部６３に対して第３方向Ｚに弾性変形可能に構成され、中間部６３は、第１方向Ｘの両端部がそれぞれ第１接触ばね部６１および緩衝ばね部６４に接続され、緩衝ばね部６４は、第１方向Ｘの両端部がそれぞれ中間部６３および第２接触ばね部６２に接続されていると共に、中間部６３に対して第２方向Ｙに弾性変形可能に構成されている。第２接触ばね部６２および緩衝ばね部６４は、接続ハウジング２１の外部でかつコネクタハウジング１０の内部に位置し、コネクタハウジング１０には、第１方向Ｘに延びて緩衝ばね部６４を収容可能な第２収容部１７が設けられている。そして、第２方向Ｙにおける中間部６３の板面と第１収容部２２との間の最短距離Ｄ１が、第２方向Ｙにおける緩衝ばね部６４の板面と第２収容部１７との間の最短距離Ｄ２よりも小さい。このような構成により、検査対象２００等の接続対象物物が接触方向（すなわち、第１方向Ｘ）に交差する方向から第１端子接続部２０に接続されて、プローブピン６０に予定している接触方向に交差する方向（例えば、第２方向Ｙ）の応力が加えられたとしても、緩衝ばね部６４によりその応力を分散させて、プローブピン６０の損傷を低減できる。すなわち、検査対象２００等の接続対象物が接触方向に交差する方向から第１端子接続部２０に接続された場合であっても、損傷し難いプローブピン６０を実現できる。
　また、接続ハウジング２１が、第１収容部２２と接続ハウジング２１の外部とに連通すると共に、第１接触ばね部６１を接続ハウジング２１の外部から確認可能な確認用窓２４を有している。この確認用窓２４により、第１収容部２２に収容されたプローブピン６０の第１接触ばね部６２の収容状態を容易に確認できる。
　また、第１端子接続部２０が、複数のプローブピン６０と、第２方向Ｙに間隔を空けて配置され、各プローブピン６０がそれぞれ収容された複数の第１収容部２２とを有し、各プローブピン６０の板厚Ｗ１が、隣接するプローブピン６０の板面間の最短距離Ｗ２の１／２以下である。このような構成により、各プローブピン６０の絶縁性を確実に確保することができる。
　また、前記プローブピン６０が、第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２の間に設けられ、第１収容部２２に収容されたときの第１端子接続部２０に対する第１方向Ｘの位置を決める位置決め部６３１、６４１をさらに備えている。この位置決め部６３１、６４１により、プローブピン６０の第１収容部２２からの脱落を低減できる。
　また、位置決め部が、中間部６３の第３方向Ｚの一方側に設けられ、第１方向Ｘの一方側（例えば、第２接触ばね部６２に向かう方向）への移動を規制する第１位置決め部６３１と、緩衝ばね部６４の第３方向Ｚの他方側に設けられ、第１方向Ｘの他方側（例えば、第２接触ばね部６１に向かう方向）への移動を規制する第２位置決め部６４１とを有している。このような構成により、プローブピン６０の第１収容部２２からの脱落をより低減できる。
　なお、前記コネクタ１では、コネクタハウジング１０が、第３方向Ｚに積層された上ハウジング１１および下ハウジング１２で構成されているが、これに限らない。例えば、図９に示すように、第２方向Ｙに積層された左ハウジング７１および右ハウジング７２で構成してもよい。この場合、図１０に示すように、付勢部３０の４つのコイルばね３１は、第１方向Ｘ（すなわち、図１０の紙面貫通方向）から見て、第１端子接続部２０の第２方向Ｙの中心線Ｌ２に対して対称に配置することができる。
　また、第１収容部２２に収容されたプローブピン６０の中間部６３の板面と第１収容部２２との間の最短距離Ｄ１が、このプローブピン６０の緩衝ばね部６４の板面と第２収容部１７との間の最短距離Ｄ２よりも小さくなるように構成されているが、これに限らず、例えば、最短距離Ｄ１と最短距離Ｄ２とが同じになるように構成してもよい。
　外殻部２５は、接続ハウジング２１の一部を覆うように構成されている場合に限らず、例えば、図９に示すように、接続ハウジング２１の全体を覆うように構成してもよいし、高周波領域の信号の損失をあまり考慮する必要がない場合には、省略することもできる。
　グランド端子２６は、弾性変形した状態で基板４０の接続端子４１に接触するように構成されている場合に限らず、弾性変形していない状態で基板４０の接続端子４１に接触するように構成してもよい。この場合、例えば、グランド端子２６は、基板４０の接続端子４１に半田付け等により接続して、接触信頼性を高めるようにしてもよい。
　付勢部３０は、４つのコイルばね３１で構成されている場合に限らず、例えば、１～３のコイルばね３１で構成してもよいし、５以上のコイルばね３１で構成してもよい。また、付勢部３０は、複数のコイルばね３１を第３方向Ｚの上下に配置する場合に限らず、複数のコイルばね３１を第３方向Ｚの上下に加えて、第２方向Ｙの左右の一方または両方に配置してもよい。
　付勢部材は、コイルばね３１に限らず、例えば、図１２に示すように、板ばね３２で構成してもよい。図１２では、第３方向Ｚの上下に板ばね３２をそれぞれ２つずつ配置し（図１２には、３つの板ばね３２のみ示す）、第２方向Ｙの左右の両方に板ばね３２をそれぞれ２つずつ配置している。
　端子接続部は、コネクタ１の設計等に応じて、その構成を適宜変更できる。
　例えば、第１端子接続部２０のプローブピンは、前記プローブピン６０に限らず、他の構成のプローブピンを用いることもできる。例えば、第１端子接続部２０のプローブピンとして、電鋳法以外の方法で形成されたプローブピンを用いることもできるし、位置決め部６３１、６４１を設けていないプローブピンを用いることもできる。
　また、接続ハウジング２１は、第２方向Ｙに沿って間隔を空けて配置された複数対の第１収容部２２を有する場合に限らず、例えば、図１３に示すように、第３方向Ｚの中心線Ｌ１に対する一方側（図１３では、第３方向Ｚの中心線Ｌ１の上ハウジング１１側）のみに、複数の第１収容部２２を設けてもよい。この場合、外殻部２５のグランド端子２６も、第３方向Ｚの中心線Ｌ１の一方側のみに設ければよい。
　また、第１端子接続部２０の複数のプローブピン６０は、図５に示すように、第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２の先端部が、第２方向Ｙに沿って一直線に並ぶように配置されている（図５では、第２接触ばね部６２のみ示す）が、これに限らない。例えば、第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２の先端部が交互に第１方向Ｘにずれた千鳥状に、複数のプローブピン６０を配置してもよい。
　また、図１４に示すように、確認用窓２４を省略してもよい。
　また、各プローブピン６０の板厚Ｗ１が、隣接するプローブピン６０の板面間の最短距離Ｗ２の１／２以下（好ましくは１／３以下）になるように構成されている場合に限らず、各プローブピン６０の板厚Ｗ１が、隣接するプローブピン６０の板面間の最短距離Ｗ２の１／２よりも大きくなるように構成することもできる。
　以上、図面を参照して本開示における種々の実施形態を詳細に説明したが、最後に、本開示の種々の態様について説明する。なお、以下の説明では、一例として、参照符号も添えて記載する。
　本開示の第１態様のコネクタ１は、
　接続対象物１００、２００に接続可能なコネクタ１であって、
　開口部１４が設けられた開口面１３を有するコネクタハウジング１０と、
　前記開口面１３に交差する第１方向Ｘの一端部が前記コネクタハウジング１０の内部に位置しかつ前記第１方向Ｘの他端部が前記接続対象２００を接続可能に前記コネクタハウジング１０の外部に露出していると共に、前記開口部１４内であって前記開口部１４の縁部との間に隙間１５が設けられる基準位置Ｐに配置され、前記開口面１３上で揺動可能な状態で前記コネクタハウジング１０に支持されている端子接続部２０と、
　前記コネクタハウジング１０の内部に配置されて、前記コネクタハウジング１０に対して前記端子接続部２０を前記基準位置Ｐに向かって付勢する付勢部３０と
を備える。
　第１態様のコネクタ１によれば、検査対象２００等の接続対象物物が端子接続部２０への接続方向（すなわち、第１方向Ｘ）に対して交差する方向から接続された場合であっても、付勢部３０の付勢力に抗して端子接続部２０が基準位置Ｐから一旦ずれたのち付勢部３０の付勢力で第１端子接続部２０を基準位置Ｐに戻すことができる。よって、端子接続部２０を検査対象２００等の接続対象物物に対してセルフアライメントさせることができるので、検査対象２００等の接続対象物を損傷させることなく接続可能なコネクタ１を実現できる。
　本開示の第２態様のコネクタ１は、
　前記端子接続部２０が、その外面を覆うと共に、前記コネクタハウジング１０の内部に配置されたグランド端子２６が設けられた導電性の外殻部２５を有している。
　第２態様のコネクタ１によれば、外殻部２５により、コネクタを流れる高周波領域の信号の損失を低減できる。
　本開示の第３態様のコネクタ１は、
　前記コネクタハウジング１０の内部に、前記端子接続部２０に対して電気的に接続された基板４０が設けられており、
　前記グランド端子２６が、弾性変形した状態で前記基板の接続端子４１に接触可能に構成されている。
　第３態様のコネクタ１によれば、グランド端子２６の基板４０の接続端子４１に対する接圧を高めて、グランド端子２６と接続端子４１との間の接触信頼性を高めることができる。
　本開示の第４態様のコネクタ１は、
　前記付勢部３０が、複数の付勢部材３１、３２で構成されており、
　前記複数の付勢部材３１、３２が、前記第１方向Ｘに直交する仮想直線Ｌ１に対して対称に配置されている。
　第４態様のコネクタ１によれば、端子接続部２０に対する付勢力のばらつきを低減して、より確実に端子接続部２０を設計通りに揺動させることができる。その結果、端子接続部２０を検査対象２００等の接続対象物に対してより確実にセルフアライメントさせることができる。
　本開示の第５態様のコネクタ１は、
　前記端子接続部２０が、
　板状のプローブピン６０と、
　前記第１方向Ｘに延びて前記第１方向Ｘに交差する第２方向Ｙで板面が対向するように前記プローブピン６０を収容可能な第１収容部２２が設けられた接続ハウジング２１と
を有し、
　前記プローブピン６０は、
　第１接触ばね部６１および第２接触ばね部６２と、
　前記第１接触ばね部６１および前記第２接触ばね部６２の間に前記第１方向Ｘに沿って直列的に配置された中間部６３および緩衝ばね部６４と
を備え、
　前記第１接触ばね部６１および前記第２接触ばね部６２は、前記中間部６３に対して前記第１方向Ｘおよび前記第２方向Ｙに交差する第３方向Ｚに弾性変形可能に構成され、
　前記中間部６３は、前記第１方向Ｘの両端部がそれぞれ前記第１接触ばね部６１および前記緩衝ばね部６４に接続され、
　前記緩衝ばね部６４は、前記第１方向Ｘの両端部がそれぞれ前記中間部６３および前記第２接触ばね部６２に接続されていると共に、前記中間部６３に対して前記第２方向Ｙに弾性変形可能に構成されており、
　前記第２接触ばね部６２および前記緩衝ばね部６４は、前記接続ハウジング２１の外部でかつ前記コネクタハウジング１０の内部に位置し、
　前記コネクタハウジング１０には、前記第１方向Ｘに延びて前記緩衝ばね部６４を収容可能な第２収容部１７が設けられており、
　前記第２方向Ｙにおける前記中間部６３の板面と前記第１収容部２２との間の最短距離Ｄ１が、前記第２方向Ｙにおける前記緩衝ばね部６４の板面と前記第２収容部１７との間の最短距離Ｄ２よりも小さい。
　第５態様のコネクタ１によれば、検査対象２００等の接続対象物物が接触方向（すなわち、第１方向Ｘ）に交差する方向から端子接続部２０に接続されて、プローブピン６０に接触方向に交差する方向（例えば、第２方向Ｙ）の応力が加わったとしても、緩衝ばね部６４によりその応力を分散させて、プローブピン６０の損傷を低減できる。すなわち、検査対象２００等の接続対象物が接触方向に交差する方向から端子接続部２０に接続された場合であっても、損傷し難いプローブピン６０を実現できる。
　本開示の第６態様のコネクタ１は、
　前記接続ハウジング２１が、前記第１収容部２２と前記接続ハウジング２１の外部とに連通すると共に、前記第１接触ばね部６１を前記接続ハウジング２１の外部から確認可能な確認用窓２４を有している。
　第６態様のコネクタ１によれば、確認用窓２４により、第１収容部２２に収容されたプローブピン６０の接触ばね部６２の収容状態を容易に確認できる。
　本開示の第７態様のコネクタ１は、
　前記端子接続部２０が、
　複数の前記プローブピン６０と、
　前記第２方向Ｙに間隔を空けて配置され、前記プローブピン６０がそれぞれ収容された複数の前記第１収容部２２と
を有し、
　前記プローブピン６０の板厚Ｗ１が、隣接する前記プローブピン６０の板面間の最短距離Ｗ１の１／２以下である。
　第７態様のコネクタ１によれば、各プローブピン６０の絶縁性を確実に確保することができる。
　なお、前記様々な実施形態または変形例のうちの任意の実施形態または変形例を適宜組み合わせることにより、それぞれの有する効果を奏するようにすることができる。また、実施形態同士の組み合わせまたは実施例同士の組み合わせまたは実施形態と実施例との組み合わせが可能であると共に、異なる実施形態または実施例の中の特徴同士の組み合わせも可能である。
　本開示のコネクタは、例えば、ＵＳＢデバイスあるいはＨＤＭＩデバイスの検査に用いることができる。
１　コネクタ
１０　コネクタハウジング
１１　上ハウジング
１１１　凹部
１２　下ハウジング
１２１　凹部
１３　開口面
１４　開口部
１５　隙間
１６　コイルばね収容部
１７　第２収容部
１８　第３収容部
２０　第１端子接続部
２０１　第１端部
２０２　第２端部
２１　接続ハウジング
２１１　支持部
２１２　凹部
２１３　端部
２１４、２１５　凹部
２２　第１収容部
２３　凹部
２４　確認用窓
２５　外殻部
２６　グランド端子
３０　付勢部
３１　コイルばね
３２　板ばね
４０　基板
５０　第２端子接続部
６０　プローブピン
６１　第１接触ばね部
６１１、６１２　帯状弾性片
６２　第２接触ばね部
６３　中間部
６３１　第１位置決め部
６４　緩衝ばね部
６４１　第２位置決め部
６４２　突起部
７１　左ハウジング
７２　右ハウジング
１００　検査装置
２００　検査対象
Ｌ１、Ｌ２　中心線
Ｐ　基準位置
Ｘ　第１方向
Ｙ　第２方向
Ｚ　第３方向
Ｄ１、Ｄ２　最短距離
Ｗ１　板厚
Ｗ２　最短距離

Claims (7)

  1. 　接続対象物に接続可能なコネクタであって、
    　開口部が設けられた開口面を有するコネクタハウジングと、
    　前記開口面に交差する第１方向の一端部が前記コネクタハウジングの内部に位置しかつ前記第１方向の他端部が前記接続対象物を接続可能に前記コネクタハウジングの外部に露出していると共に、前記開口部内で前記開口部の縁部との間に隙間が設けられる基準位置に配置され、前記開口面上で揺動可能な状態で前記コネクタハウジングに支持されている端子接続部と、
    　前記コネクタハウジングの内部に配置されて、前記コネクタハウジングに対して前記端子接続部を前記基準位置に向かって付勢する付勢部と
    を備える、コネクタ。
  2. 　前記端子接続部が、その外面を覆うと共に、前記コネクタハウジングの内部に配置されたグランド端子が設けられた導電性の外殻部を有している、請求項１のコネクタ。
  3. 　前記コネクタハウジングの内部に、前記端子接続部に対して電気的に接続された基板が設けられており、
    　前記グランド端子が、弾性変形した状態で前記基板の接続端子に接触可能に構成されている、請求項２のコネクタ。
  4. 　前記付勢部が、複数の付勢部材で構成されており、
    　前記複数の付勢部材が、前記第１方向に直交する仮想直線に対して対称に配置されている、請求項１から３のいずれか１つのコネクタ。
  5. 　前記端子接続部が、
    　板状のプローブピンと、
    　前記第１方向に延びて前記第１方向に交差する第２方向で板面が対向するように前記プローブピンを収容可能な第１収容部が設けられた接続ハウジングと
    を有し、
    　前記プローブピンは、
    　第１接触ばね部および第２接触ばね部と、
    　前記第１接触ばね部および前記第２接触ばね部の間に前記第１方向に沿って直列的に配置された中間部および緩衝ばね部と
    を備え、
    　前記第１接触ばね部および前記第２接触ばね部は、前記中間部に対して前記第１方向および前記第２方向に交差する第３方向に弾性変形可能に構成され、
    　前記中間部は、前記第１方向の両端部がそれぞれ前記第１接触ばね部および前記緩衝ばね部に接続され、
    　前記緩衝ばね部は、前記第１方向の両端部がそれぞれ前記中間部および前記第２接触ばね部に接続されていると共に、前記中間部に対して前記第２方向に弾性変形可能に構成されており、
    　前記第２接触ばね部および前記緩衝ばね部は、前記接続ハウジングの外部でかつ前記コネクタハウジングの内部に位置し、
    　前記コネクタハウジングには、前記第１方向に延びて前記緩衝ばね部を収容可能な第２収容部が設けられており、
    　前記第２方向における前記中間部の板面と前記第１収容部との間の最短距離が、前記第２方向における前記緩衝ばね部の板面と前記第２収容部との間の最短距離よりも小さい、請求項１から４のいずれか１つのコネクタ。
  6. 　前記接続ハウジングが、前記第１収容部と前記接続ハウジングの外部とに連通すると共に、前記第１接触ばね部を前記接続ハウジングの外部から確認可能な確認用窓を有している、請求項５のコネクタ。
  7. 　前記端子接続部が、
    　複数の前記プローブピンと、
    　前記第２方向に間隔を空けて配置され、前記プローブピンがそれぞれ収容された複数の前記第１収容部と
    を有し、
    　前記プローブピンの板厚が、隣接する前記プローブピンの板面間の最短距離の１／２以下である、請求項５または６のコネクタ。
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