WO2019106909A1 - 高周波増幅器、電子機器および通信機器 - Google Patents
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Definitions
- the present technology relates to a high frequency amplifier, an electronic device, and a communication device, and more particularly to the technology of a high frequency amplifier provided with an impedance matching configuration.
- the power amplifier (PA) for 5G is a semiconductor chip such as a GaAs substrate or GaN substrate It is implemented on top, including matching circuits up to 50 ohms, for example.
- a matching circuit is formed on a separate substrate, and the dispersion of wires and bumps used as a connection between the separate substrate and the semiconductor chip is adjusted. It has been known.
- Patent Document 1 discloses an input matching circuit and an output matching circuit formed on a dielectric substrate and a signal from the input matching circuit.
- an inductive reactance circuit connected to the ground terminal of the transistor is provided on the dielectric substrate in a direction perpendicular to the propagation direction of the microwave.
- a microwave amplifier characterized by including a strip conductor and a metal wire.
- Patent Document 2 discloses a microwave amplifier including a transistor having a matching circuit connected to an input side and an output side, and a prematch circuit inserted between the transistor and the matching circuit on the input side. There is disclosed a microwave amplifier characterized by setting the characteristic impedance and the line length such that the characteristic impedance of the line and the line length satisfy a predetermined relationship.
- Patent Document 3 includes a semiconductor element provided with a microwave integrated circuit, a metal plate to which the semiconductor element is joined, and an insulator frame portion surrounding the semiconductor element and joined to the metal plate.
- a mounting member having a first transmission line provided in the insulator frame and having a characteristic impedance of 50 ⁇ , and disposed on the metal plate between the semiconductor element and the first transmission line.
- a relay substrate having a second transmission line having a characteristic impedance of 50 ⁇ , and a capacitive stub which is spaced apart from the second transmission line and connectable to a central portion of the second transmission line;
- a first bonding wire connecting an inner end of a first transmission line and a first end of the second transmission line, a first electrode of the semiconductor element, and the second transmission line Opposite to the first end of the And a second bonding wire for connecting the second end of the second side.
- Patent Documents 1 to 3 may not be able to further improve the technique for reducing the size by miniaturizing the circuit board.
- the present technology has been made in view of such a situation, and has as its main object to provide a high frequency amplifier that can reduce the size by miniaturizing a circuit board.
- a high frequency amplifier which is an example of the present technology includes a first substrate having a matching portion, and a second substrate having a transistor and a first impedance conversion portion connected to each other, The matching portion of one substrate and the first impedance conversion portion are connected via the first connection portion.
- the high frequency amplifier which is an example of the present technology further includes a third substrate having a matching unit, and the second substrate further includes a second impedance conversion unit connected to the transistor, and the second impedance conversion unit And the matching portion of the third substrate may be connected via the second connection portion.
- an electronic device which is an example of the present technology amplifies a input signal or an output signal, and has a first substrate having a matching portion, and a second substrate having a transistor and a first impedance conversion portion connected to each other. And a high frequency amplifier in which the matching portion of the first substrate and the first impedance conversion portion are connected via the first connection portion.
- a communication device which is an example of the present technology amplifies a transmission signal or a reception signal, and has a first substrate having a matching unit, and a second substrate having a transistor and a first impedance conversion unit connected to each other. And a high frequency amplifier in which the matching portion of the first substrate and the first impedance conversion portion are connected via the first connection portion.
- the present technology it is possible to provide a high frequency amplifier capable of reducing the size by miniaturizing a circuit board.
- the effect of the present technology is not necessarily limited to the above effect, and may be any effect described in the present disclosure.
- FIG. 1 is a circuit configuration diagram showing a high frequency amplifier according to a first embodiment of the present technology. It is a circuit block diagram which shows the signal which flows through the high frequency amplifier of FIG. It is a schematic diagram which shows the output side impedance conversion part of the high frequency amplifier of FIG. It is a Smith chart figure which shows the movement of the impedance in the high frequency amplifier of FIG. It is a circuit block diagram which shows the high frequency amplifier of 2nd Embodiment which concerns on this technique. It is a schematic diagram which shows the output side impedance conversion part of the high frequency amplifier of FIG. It is a Smith chart figure which shows the motion of the impedance in the high frequency amplifier of FIG. It is a figure which shows the relationship between a Smith chart and an admittance chart.
- (A) is a Smith chart figure
- (B) is an admittance chart figure. It is a graph which shows the relationship between the insertion loss degradation amount of a connection part, and an impedance real part. It is a graph which shows the relationship of the variation
- High Frequency Amplifier According to First Embodiment (1-1) Example of Circuit Configuration of High Frequency Amplifier (1-2) Example of Operation of High Frequency Amplifier (1-3) Example of Configuration of Impedance Converter (1-4) Movement of Impedance 2. High Frequency Amplifier According to Second Embodiment (2-1) Example of Circuit Configuration of High Frequency Amplifier (2-2) Example of Configuration of Impedance Converter (2-3) Movement of Impedance (2-4) Relationship Between Impedance and Admittance 3. Example of high frequency amplifier to which the present technology is applied 4. Electronic Device of Third Embodiment Communication Device of Fourth Embodiment Application example of high frequency amplifier to which this technology is applied
- High-Frequency Amplifier of First Embodiment> A high frequency amplifier according to a first embodiment of the present technology will be described using FIGS. 1 to 4.
- the high frequency amplifier of the present embodiment is, for example, a high frequency amplifier which can be used for a front end circuit which is a transmitting / receiving end circuit on the antenna side for the fifth generation mobile communication system (5G).
- 5G fifth generation mobile communication system
- FIG. 1 is a circuit diagram showing the high frequency amplifier of this embodiment.
- the high frequency amplifier 100 includes a first substrate 101 which is an external substrate on the input side, a second substrate 102 of a circuit board made of semiconductor chips, and an external substrate which is an output side. 3 and a substrate 103.
- the first substrate 101 includes an input-side bias circuit 104 and an input matching unit 105 electrically connected to the input-side bias circuit 104.
- the input side bias circuit 104 is an electronic circuit for applying a bias voltage or a bias current on the input side.
- the input matching unit 105 is configured to match the impedance on the input side and the impedance in the circuit to, for example, 50 ⁇ .
- the second substrate 102 has an input-side impedance converter 106, which is a first impedance converter, a transistor 107, and an output-side impedance converter 108, which is a second impedance converter.
- the input impedance conversion unit 106 is electrically connected to the gate terminal of the transistor 107.
- the drain terminal of the transistor 107 is electrically connected to the output impedance conversion unit 108, and the source terminal of the transistor 107 is connected to the ground.
- the input impedance converter 106 and the output impedance converter 108 are configured to match the input impedance Zin of the high frequency amplifier 100 and the output impedance Zout of the high frequency amplifier 100 with the impedance of the transistor 107.
- the third substrate 103 includes an output side bias circuit 109 and an output matching unit 110 electrically connected to the output side bias circuit 109.
- the output side bias circuit 109 is an electronic circuit for applying a bias voltage or a bias current on the output side.
- the output matching unit 110 is configured to match the impedance in the circuit and the impedance on the output side to, for example, 50 ⁇ .
- the input terminal 111 of the high frequency amplifier 100 is connected to one end of the input matching unit 105.
- the other end of the input matching unit 105 is connected to the input-side impedance conversion unit 106 via the input-side connection unit 112 which is a first connection unit.
- the output impedance conversion unit 108 is connected to one end of the output matching unit 110 via the output connection unit 113 which is a second connection unit.
- the other end of the output matching unit 110 is connected to the output terminal 114 of the high frequency amplifier 100.
- a wire, a bump, or the like is used for the input side connection unit 112 and the output side connection unit 113.
- the high frequency amplifier 100 increases the output impedance real part of the transistor by the input impedance conversion unit 106 and / or the output impedance conversion unit 108 and then connects the input connection unit 112 / or the output connection unit 113. To reduce the influence of the connection.
- FIG. 2 is a circuit diagram showing signals flowing through the high frequency amplifier of this embodiment.
- an RF signal 201 is input to the input matching unit 105 via the input terminal 111 from, for example, a mixer or a quadrature modulator.
- the RF signal 201 input to the input matching unit 105 is input to the input impedance conversion unit 106 via the input connection unit 112, amplified from the input impedance conversion unit 106 via the transistor 107, and output impedance conversion It is input to the unit 108.
- the RF signal 201 amplified and input to the output impedance conversion unit 108 is input to the output matching unit 110 via the output connection unit 113. Then, the RF signal 201 input to the output matching unit 110 is output to, for example, an antenna via the output terminal 114.
- the input impedance of the transistor 107 is Z1i [ohm], and the impedance of the end point of the input side connection portion 112 on the second substrate 102 side is Z2i [ohm].
- the input impedance of the amplifier 100 is Zin [ohm].
- the output impedance of the transistor 107 is Z1o [ohm]
- the impedance of the end of the output side connection portion 113 on the second substrate 102 side is Z2o [ohm]
- the output impedance of the high frequency amplifier 100 is Zout [ ohm] is said.
- FIG. 3 is a schematic view showing the output side impedance converter of the high frequency amplifier of the present embodiment.
- the output impedance converter 108 includes a transmission line 301 and a capacitive element 302 electrically connected to the transmission line 301.
- the transmission line 301 is connected in series between the transistor-side input terminal 303 of the output-side impedance conversion unit 108 and the connection-side output terminal 304.
- the capacitive element 302 is branched and connected between the transmission line 301 and the connection section output terminal 304. Examples of the configuration of the capacitive element 302 include MIM capacitance + Backside VIA, capacitive open stubs, and the like.
- FIG. 4 is a Smith chart showing the movement of the impedance of the output side impedance converter 108 of this embodiment.
- the concentric circular curve group 401 represents contour lines of the impedance real part
- the curve group 402 intersecting the curve group 401 represents contour lines of the impedance imaginary part.
- the left end of FIG. 4 shows 0 ⁇ and the right end shows ⁇ ⁇ , and the real part of impedance increases from the left end toward the right end.
- point P 0 in FIG. 4 is 25 ⁇ j * 25 ⁇ .
- a curve 403 from point P1 to point P2 in FIG. 4 represents the change in impedance due to the transmission line 301
- a curve 404 from point P2 to point P3 in FIG. 4 represents the change in impedance due to the capacitive element 302.
- the output impedance conversion unit 108 converts the impedance real part from point P1 to point P3 high without changing the imaginary part of impedance.
- the impedance imaginary part may change before and after conversion.
- the input matching unit 105 and the output matching unit 110 which are conventionally disposed in the second substrate 102 of the semiconductor chip, are the first external substrates. It is installed on the substrate 101 and the third substrate 103.
- This can reduce the size of a semiconductor chip using an expensive material such as a GaN substrate, which has a higher performance than the high frequency amplifier 100.
- the output impedance conversion unit 108 can reduce the impedance conversion ratio, it is not necessary to convert the impedance of the transistor 107 up to the input / output impedance of the high frequency amplifier 100, so the semiconductor chip can be miniaturized. Therefore, the second substrate 102 of the high frequency amplifier 100 can be miniaturized and the cost can be reduced without adjusting the wire length or the like of the output side connection portion 113.
- the high frequency amplifier 100 increases the impedance real part at the output side impedance conversion unit 108, the influence of the manufacturing variation at the output side connection unit 113 on the characteristics of the high frequency amplifier 100 can be reduced. it can.
- the high frequency amplifier 100 can suppress the influence of the manufacturing variation sufficiently even if the wire etc. is used between the semiconductor chip and the external substrate, so it is robust against the manufacturing variation (strong against the error factor) Design becomes possible.
- the impedance real part of the output side connection part 113 can be made higher than the terminal part of the transistor 107. Also in this case, the high frequency amplifier 100 can realize a robust design against manufacturing variations of the output side connection portion 113.
- manufacturing variation means that an inductance shifts
- High Frequency Amplifier of Second Embodiment> A high frequency amplifier according to a second embodiment of the present technology will be described with reference to FIGS. 5 to 8.
- the high frequency amplifier of the present embodiment is different from the high frequency amplifier 100 of the first embodiment in that a bias connection portion is connected in the middle of the impedance conversion portion in the second substrate.
- symbol is described in the structure similar to the structure of 1st Embodiment, and description is abbreviate
- FIG. 5 is a circuit configuration diagram showing the high frequency amplifier of the present embodiment.
- the high frequency amplifier 500 according to this embodiment includes a first substrate 501 which is an external substrate on the input side, a second substrate 502 made of a semiconductor chip, and a third substrate 503 which is an external substrate on the output side. And have.
- the first substrate 501 has an input side bias circuit 104 and an input matching unit 105. However, on the first substrate 501, the input side bias circuit 104 and the input matching unit 105 are not electrically connected.
- the second substrate 502 has an input impedance conversion unit 506 which is a first impedance conversion unit, a transistor 107, and an output impedance conversion unit 508 which is a second impedance conversion unit.
- the input impedance converter 506 is electrically connected to the gate terminal of the transistor 107.
- the drain terminal of the transistor 107 is electrically connected to the output impedance conversion unit 508, and the source terminal of the transistor 107 is connected to the ground.
- the input impedance conversion unit 506 includes two transmission lines 515 and a transmission line 516 connected in series.
- the output impedance transformation unit 508 has two transmission lines 517 and 518 connected in series.
- the number of transmission lines included in the input impedance conversion unit 506 and the output impedance conversion unit 508 is not limited to two but may be three or more.
- the third substrate 503 has an output side bias circuit 109 and an output matching unit 110. However, in the third substrate 503, the output side bias circuit 109 and the output matching unit 110 are not electrically connected.
- the input terminal 111 of the high frequency amplifier 500 is connected to one end of the input matching unit 105.
- the other end of the input matching unit 105 is connected to the input impedance conversion unit 506 via the input connection unit 112.
- the output impedance converter 508 is connected to one end of the output matching unit 110 via the output connector 113.
- the other end of the output matching unit 110 is connected to the output terminal 114 of the high frequency amplifier 500.
- the input-side bias circuit 104 is connected between the transmission line 515 and the transmission line 516 in the input-side impedance conversion unit 506 via the input-side bias connection unit 522.
- the output side bias circuit 109 is connected between the transmission line 517 and the transmission line 518 in the output side impedance conversion unit 508 via the output side bias connection unit 523.
- a wire, a bump or the like is used for the input side bias connection portion 522 and the output side bias connection portion 523.
- the input impedance of the transistor 107 is Z1i [ohm]
- the impedance of the end of the input-side connection unit 112 on the second substrate 502 side is Z2i [ohm]
- the output impedance of the transistor 107 is Z1 o [ohm]
- the impedance of the end of the output-side connecting portion 113 on the second substrate 502 side is Z2 o [ohm]
- the output impedance of the high frequency amplifier 500 is Z out [ohm].
- the input impedance of the branch point to the input side bias connection 522 between the transmission line 515 and the transmission line 516 is Z0i [ohm]
- the branch point to the output side bias circuit 109 between the transmission line 517 and the transmission line 518 is The output impedance is Z0 o [ohm].
- the high frequency amplifier 500 satisfies at least one of the above-described (Expression 1) or (Expression 2). Furthermore, the high frequency amplifier 500 satisfies at least one of the above (Equation 3) or (Equation 4).
- FIG. 6 is a schematic view showing the output side impedance converter of the high frequency amplifier of the present embodiment.
- the output side impedance converter 508 includes two transmission lines 517 and 518 connected in series, and two capacitive elements 601 and 602.
- the transmission line 517 and the transmission line 518 are connected in series between the transistor-side input terminal 603 of the output-side impedance conversion unit 508 and the connection-side output terminal 604.
- the capacitive element 601 is branched and connected between the transistor side input terminal 603 and the transmission line 517.
- the capacitive element 602 is branched and connected between the transmission line 518 and the connection side output terminal 604.
- the branch point Q between the transmission line 517 and the transmission line 518 is connected to the bias connection side output terminal 605.
- the branch point Q indicates a feeding point.
- the impedance of the transistor-side input terminal 603 is 10-j * 10 [ohm]
- the impedance of the branch point Q which is a feeding point is 4 [ohm]
- the impedance of the connection-side output terminal 604 is , 30-j * 10 [ohm].
- FIG. 7 is a Smith chart diagram showing the movement of the impedance of the output side impedance converter 508 of this embodiment. Similar to FIG. 4, the concentric circular curve group 401 shown in the Smith chart of FIG. 7 represents contour lines of the impedance real part, and the curve group 402 intersecting the curve group 401 represents contour lines of the impedance imaginary part. ing.
- a curve 701 from point Q2 to point Q3 in FIG. 7 represents the change in impedance due to the transmission line 517
- a curve 702 from point Q3 to point Q4 in FIG. 7 represents the change in impedance due to the transmission line 518
- the curve 703 from point Q1 to point Q2 in FIG. 7 represents the change in impedance due to the capacitive element 601
- the curve 704 from point Q4 to point Q5 in FIG. 7 represents the change in impedance due to the capacitive element 602.
- the output impedance conversion unit 508 converts the real part of the impedance from point Q1 to point Q5 high without changing the imaginary part of impedance.
- the impedance imaginary part may change before and after conversion.
- FIG. 8 is a diagram showing the relationship between the Smith chart and the admittance chart.
- FIG. 8A is a Smith chart similar to FIG. 7, and
- FIG. 8B is an admittance chart corresponding to FIG. 8A.
- the concentric circular curve group 401 shown in the Smith chart of FIG. 8A represents the contour line of the impedance real part
- the curve group 402 intersecting the curve group 401 represents the contour line of the impedance imaginary part. ing.
- the reference impedance 50 [Omega, P A point 8A is a 25-j * 25 ⁇ .
- concentric circular curves 801 represent contours of the admittance real part
- curves 802 intersecting the curve group 801 represent contours of the admittance imaginary part.
- the right end of FIG. 8B is 0S and the left end is ⁇ S on the line segment in the left-right direction that represents the diameter of the circle of the admittance chart, and the admittance real part increases in size from the right end toward the left end.
- the reference impedance to 50 [ ⁇ ] 0.02 [S ]
- the input admittance of the transistor 107 is 1 / Z1i [S]
- the admittance at the end point (branch point) of the input side bias connection portion 522 on the second substrate 502 side is 1 / Z0i [S].
- the output admittance of the transistor 107 is 1 / Z1o [S]
- the admittance at the end point (branch point) of the output side bias connection portion 523 on the second substrate 502 side is 1 / Z0o [S].
- the high frequency amplifier 500 according to the present embodiment can reduce the size and cost of the second substrate 502 of the high frequency amplifier 500, similarly to the high frequency amplifier 100 according to the first embodiment. Further, in the high frequency amplifier 500, as in the high frequency amplifier 100 according to the first embodiment, the impedance real part is increased by the input impedance conversion unit 506 and / or the output impedance conversion unit 508 to sufficiently reduce the influence of manufacturing variations. Since it can be suppressed, a robust design is possible against manufacturing variations. Further, in the high frequency amplifier 500, as in the high frequency amplifier 100 according to the first embodiment, the impedance real part of the output side connection portion 113 can be made higher than the terminal portion of the transistor 107. Also in this case, the high frequency amplifier 500 can realize a robust design against manufacturing variations of the output side connection portion 113.
- the input impedance conversion unit 506 is configured such that the admittance real part of the input side bias connection unit 522 and / or the output side bias connection unit 523 is equal to or higher than the input / output admittance of the transistor 107.
- / or the output side impedance converter 508 is configured.
- Example of high frequency amplifier to which the present technology is applied An embodiment of a high frequency amplifier to which the present technology is applied will be described with reference to FIGS. 9 to 11.
- FIG. 9 is a graph showing the relation between the insertion loss deterioration amount at the connection portion and the real part of the impedance.
- the horizontal axis in FIG. 9 shows the real part Re (Ztr / Zout) of the ratio of the output impedance (Ztr) of the transistor to the output impedance (Zout) of the high frequency amplifier, and the vertical axis in FIG.
- the insertion loss deterioration amount [dB] is shown.
- Zout 50 ⁇ is used as an example.
- the pass characteristic of the connection part is significantly reduced.
- the passage characteristic of the connection portion is significantly lower than the curve L1 in which the deviation is small. Therefore, it is necessary to enlarge the real part of the impedance immediately before the connection to reduce the influence of the connection (wire).
- FIG. 10 is a graph showing the relationship between the amount of change in the wire length of the connection portion of the high frequency amplifier to which the prior art is applied and the passage characteristic.
- FIG. 11 is a graph showing the relationship between the amount of change in the wire length of the connection portion of the high frequency amplifier to which the present technology is applied and the passage characteristic. 10 and 11, the horizontal axis represents frequency [GHz], and the vertical axis represents insertion loss [dB] from the output of the drain terminal of the transistor to the output of the high frequency amplifier (matching circuit).
- the curve C1 is the wire length change amount when the wire length change amount is ⁇ 0 um
- the curve C2 is the wire length change amount when the wire length change amount is +50 um, with respect to the original wire length 300 um.
- curve C4 represents a change in wire length of +150 um
- curve C5 represents a change in wire length of +200 um.
- the insertion loss at 28 GHz is degraded by about 1 dB with respect to ⁇ 0 um. From this, as shown by the curves C1 to C5 in FIG. 10, in the high frequency amplifier to which the prior art is applied, when the frequency becomes high, the influence of the manufacturing variation of the output side wire length becomes large by the change amount of the wire length. I understand that.
- the high frequency amplifier to which the present technology is applied can reduce the influence of the variation in the wire length on the output side due to the change in the wire length even if the frequency increases. I understand.
- the electronic device of the third embodiment according to the present technology is an electronic device provided with the high frequency amplifier according to any one of the first embodiment and the second embodiment according to the present technology.
- the high frequency amplifiers according to the first and second embodiments of the present technology are as described above, and thus the description thereof is omitted here.
- the electronic device according to the third embodiment of the present technology includes the high-frequency amplifier that is downsized and has excellent reliability, so that the performance of the electronic device can be reduced, and the performance can be improved.
- a communication device of a fourth embodiment according to the present technology is a device including the high frequency amplifier according to any one of the first embodiment and the second embodiment according to the present technology.
- the high frequency amplifiers according to the first and second embodiments of the present technology are as described above, and thus the description thereof is omitted here. Since the communication device of the fourth embodiment according to the present technology includes the high-frequency amplifier which is miniaturized and has excellent reliability, it is possible to improve the performance such as amplification of transmission and reception signals.
- Examples of communication devices according to the present embodiment include mobile communication terminals (mobile phones and smart phones), mobile communication base stations, other wireless stations, IoT devices, radars, and the like.
- FIG. 12 is a diagram showing an example of use of the high frequency amplifier according to the first and second embodiments of the present technology.
- the high frequency amplifiers according to the first and second embodiments described above may be used, for example, in various cases for sensing light such as visible light, infrared light, ultraviolet light, X-rays, etc. as described below. it can. That is, as shown in FIG. 12, for example, the field of viewing where images are provided for viewing, the field of transportation, the field of home appliances, the field of medical and healthcare, the field of security, the field of beauty, sports
- the high-frequency amplifier according to the first and second embodiments is used in an apparatus (for example, the electronic device according to the third embodiment described above) including a solid-state imaging device (image sensor) used in the field of agriculture, the field of agriculture, etc. can do.
- a device for capturing an image to be provided for viewing such as a digital camera, a smartphone, a mobile phone with a camera function, etc. includes the first embodiment and the second embodiment.
- the high frequency amplifier of the embodiment can be used.
- in-vehicle sensors for capturing images in front of, behind, around, inside of vehicles, etc., for monitoring safe driving such as automatic stop, etc., driving vehicles and roads.
- the high frequency amplifiers of the first embodiment and the second embodiment can be used in devices provided for traffic, such as surveillance cameras, distance measuring sensors for distance measurement between vehicles, etc.
- a device provided to home appliances such as a television receiver, a refrigerator, an air conditioner, etc. in order to photograph a user's gesture and perform device operation according to the gesture.
- the high frequency amplifier of the embodiment and the second embodiment can be used.
- devices provided for medical use and healthcare such as an endoscope and a device for performing blood vessel imaging by receiving infrared light are the first embodiment and the second embodiment.
- the high frequency amplifier of the embodiment can be used.
- the high frequency amplifier according to the first embodiment and the second embodiment for an apparatus provided for security, such as a surveillance camera for crime prevention and a camera for person authentication. it can.
- the high-frequency amplifier according to the first embodiment or the second embodiment is used for a device provided for beauty use, such as a skin measuring instrument for photographing the skin and a microscope for photographing the scalp. can do.
- the high-frequency amplifier according to the first and second embodiments can be used in devices provided for sports, such as action cameras and wearable cameras for sports applications and the like. .
- the high-frequency amplifier according to the first and second embodiments can be used in an apparatus used for agriculture, such as a camera for monitoring the condition of fields and crops. .
- the present technology can have the following configurations.
- At least one of the first substrate and the third substrate has a bias circuit, The high frequency amplifier according to (2), wherein the bias circuit is connected to the matching unit in a substrate having the bias circuit.
- the input (output) impedance of the transistor is Z1i (Z1o)
- the impedance of the end of the input (output) side connection on the second substrate side is Z2i (Z2o)
- the input (output) impedance of the amplifier is Zin (Zout)
- the high frequency amplifier according to (2) or (3) satisfying at least one of Re (Z1i) ⁇ Re (Z2i) ⁇ Re (Zin) or Re (Z1o) ⁇ Re (Z2o) ⁇ Re (Zout).
- the first impedance conversion unit has a transmission line connected in series to the first connection unit, and a capacitive element connected in parallel to the first connection unit in any one of (1) to (8).
- the high frequency amplifier as described in any one.
- Electronic equipment provided with the high frequency amplifier in any one of (1) to (9) which amplifies an input signal or an output signal.
- a communication device comprising the high frequency amplifier according to any one of (1) to (9), which amplifies a transmission signal or a reception signal.
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Abstract
回路基板を小型化してコストを削減できる高周波増幅器を提供すること。 高周波増幅器は、整合部を有する第1基板と、互いに接続されたトランジスタおよび第1のインピーダンス変換部を有する第2基板と、を備え、第1基板の整合部と第1のインピーダンス変換部とが第1の接続部を介して接続されている。また、高周波増幅器は、整合部を有する第3基板をさらに備え、第2基板は、トランジスタに接続された第2のインピーダンス変換部をさらに有し、第2のインピーダンス変換部と第3基板の整合部とが第2の接続部を介して接続されていてもよい。
Description
本技術は、高周波増幅器、電子機器および通信機器に関し、特に、インピーダンスを整合する構成を備える高周波増幅器の技術に関する。
近年開発が進められている第5世代移動通信システム(5G)用のアンテナ側の送受信端回路であるフロントエンド回路では、5G向けの電力増幅器(PA)が、GaAs基板やGaN基板等の半導体チップ上に、例えば50Ωまでの整合回路を含めて実装されている。
このような電力増幅器は、消費電力が大きいため、低消費電力化および発熱抑制の観点から、高効率化が重要である。特に、5Gで使われるような高周波数(例えば、28GHzなど)では、トランジスタの性能が悪化するため、電力増幅器の高効率化はより重要となる。ところが、トランジスタの入出力インピーダンスを増幅器の入出力インピーダンス(一般に50Ω)まで変換する整合部が半導体チップ内にあり、チップサイズの大半を占めていることから整合回路のサイズが大きく、より高性能とされるGaN基板等の高価な材料を使う場合にコストが嵩むこととなる。
この半導体チップサイズの低減による低コスト化を図る手法としては、例えば、整合回路を別基板に形成し、その別基板と半導体チップとの接続部として使用する、ワイヤやバンプのバラつきを調整することが知られている。
ここで、半導体チップのワイヤのバラつきを調整する技術の一例として、特許文献1には、誘導体基板上に形成された入力整合回路および出力整合回路と、上記入力整合回路からの信号を増幅して、上記出力整合回路へ出力するトランジスタとを有する集積回路のマイクロ波増幅器において、上記トランジスタの接地端子に接続される誘導性リアクタンス回路を、上記誘電体基板上にマイクロ波の伝搬方向と垂直に設けられるストリップ導体と金属細線とを含み構成したことを特徴とするマイクロ波増幅器が開示されている。
また、特許文献2には、入力側及び出力側に整合回路が接続されたトランジスタと、上記トランジスタと入力側の整合回路間に挿入されたプリマッチ回路とを備えたマイクロ波増幅器において、上記プリマッチ回路の特性インピーダンスと線路長が所定の関係を満足するように、その特性インピーダンスと線路長を設定することを特徴とするマイクロ波増幅器が開示されている。
また、特許文献3には、マイクロ波集積回路が設けられた半導体素子と、前記半導体素子が接合された金属板と、前記半導体素子を囲みかつ前記金属板に接合された絶縁体枠部と、前記絶縁体枠部に設けられかつ50Ωの特性インピーダンスを有する第1の伝送線路と、を有する実装部材と、前記半導体素子と前記第1の伝送線路との間の前記金属板上に配置され、50Ωの特性インピーダンスを有する第2の伝送線路と、前記第2の伝送線路から離間して配置され前記第2の伝送線路の中央部に接続可能な容量性スタブと、を有する中継基板と、前記第1の伝送線路の内部端と、前記第2の伝送線路の第1の端部と、を接続する第1のボンディングワイヤと、前記半導体素子の第1の電極と、前記第2の伝送線路の前記第1の端部とは反対の側の第2の端部と、を接続する第2のボンディングワイヤと、を備えた高周波半導体装置が開示されている。
しかしながら、特許文献1から3で提案された技術では、回路基板を小型化してコストを削減する技術のさらなる向上が図れないおそれがある。
そこで、本技術は、このような状況に鑑みてなされたものであり、回路基板を小型化してコストを削減できる高周波増幅器を提供することを主目的とする。
上記目的を解決するために、本技術の一例である高周波増幅器は、整合部を有する第1基板と、互いに接続されたトランジスタおよび第1のインピーダンス変換部を有する第2基板と、を備え、第1基板の整合部と第1のインピーダンス変換部とが第1の接続部を介して接続されている。また、本技術の一例である高周波増幅器は、整合部を有する第3基板をさらに備え、第2基板は、トランジスタに接続された第2のインピーダンス変換部をさらに有し、第2のインピーダンス変換部と第3基板の整合部とが第2の接続部を介して接続されていてもよい。
また、本技術の一例である電子機器は、入力信号または出力信号を増幅し、整合部を有する第1基板と、互いに接続されたトランジスタおよび第1のインピーダンス変換部を有する第2基板と、を備え、第1基板の整合部と第1のインピーダンス変換部とが第1の接続部を介して接続されている高周波増幅器を備えている。
また、本技術の一例である通信機器は、送信信号または受信信号を増幅し、整合部を有する第1基板と、互いに接続されたトランジスタおよび第1のインピーダンス変換部を有する第2基板と、を備え、第1基板の整合部と第1のインピーダンス変換部とが第1の接続部を介して接続されている高周波増幅器を備えている。
本技術によれば、回路基板を小型化してコストを削減できる高周波増幅器を提供することができる。なお、本技術の効果は、必ずしも上記の効果に限定されるものではなく、本開示中に記載されたいずれかの効果であってもよい。
以下、本技術を実施するための好適な形態について図面を参照しながら説明する。なお、以下に説明する実施形態は、本技術の代表的な実施形態の一例を示したものであり、これにより本技術の範囲が狭く解釈されることはない。また、本技術は、下記の各実施形態およびその変形例のいずれかを互いに組み合わせることもできる。
なお、説明は以下の順序で行う。
1.第1実施形態の高周波増幅器
(1-1)高周波増幅器の回路構成例
(1-2)高周波増幅器の動作例
(1-3)インピーダンス変換部の構成例
(1-4)インピーダンスの動き
2.第2実施形態の高周波増幅器
(2-1)高周波増幅器の回路構成例
(2-2)インピーダンス変換部の構成例
(2-3)インピーダンスの動き
(2-4)インピーダンスとアドミタンスとの関係
3.本技術を適用した高周波増幅器の実施例
4.第3実施形態の電子機器
5.第4実施形態の通信機器
6.本技術を適用した高周波増幅器の使用例
1.第1実施形態の高周波増幅器
(1-1)高周波増幅器の回路構成例
(1-2)高周波増幅器の動作例
(1-3)インピーダンス変換部の構成例
(1-4)インピーダンスの動き
2.第2実施形態の高周波増幅器
(2-1)高周波増幅器の回路構成例
(2-2)インピーダンス変換部の構成例
(2-3)インピーダンスの動き
(2-4)インピーダンスとアドミタンスとの関係
3.本技術を適用した高周波増幅器の実施例
4.第3実施形態の電子機器
5.第4実施形態の通信機器
6.本技術を適用した高周波増幅器の使用例
<1.第1実施形態の高周波増幅器>
図1から図4を用いて、本技術に係る第1実施形態の高周波増幅器について説明する。本実施形態の高周波増幅器は、例えば、第5世代移動通信システム(5G)用のアンテナ側の送受信端回路であるフロントエンド回路に用いることができる高周波増幅器である。
図1から図4を用いて、本技術に係る第1実施形態の高周波増幅器について説明する。本実施形態の高周波増幅器は、例えば、第5世代移動通信システム(5G)用のアンテナ側の送受信端回路であるフロントエンド回路に用いることができる高周波増幅器である。
(1-1)高周波増幅器の回路構成例
まず、図1を用いて、本実施形態に係る高周波増幅器の回路構成の一例について説明する。図1は、本実施形態の高周波増幅器を示す回路構成図である。図1に示すように、本実施形態の高周波増幅器100は、入力側の外部基板である第1基板101と、半導体チップからなる回路基板の第2基板102と、出力側の外部基板である第3基板103と、を備えている。
まず、図1を用いて、本実施形態に係る高周波増幅器の回路構成の一例について説明する。図1は、本実施形態の高周波増幅器を示す回路構成図である。図1に示すように、本実施形態の高周波増幅器100は、入力側の外部基板である第1基板101と、半導体チップからなる回路基板の第2基板102と、出力側の外部基板である第3基板103と、を備えている。
第1基板101は、入力側バイアス回路104と、入力側バイアス回路104と電気的に接続されている入力整合部105と、を有している。入力側バイアス回路104は、入力側のバイアス電圧またはバイアス電流を加えるための電子回路である。入力整合部105は、入力側のインピーダンスと回路内のインピーダンスとを、例えば50Ωに整合させる構成である。
第2基板102は、第1のインピーダンス変換部である入力側インピーダンス変換部106と、トランジスタ107と、第2のインピーダンス変換部である出力側インピーダンス変換部108と、を有している。入力側インピーダンス変換部106は、トランジスタ107のゲート端子と電気的に接続されている。トランジスタ107のドレイン端子は、出力側インピーダンス変換部108と電気的に接続され、トランジスタ107のソース端子は、グランドに接続されている。入力側インピーダンス変換部106および出力側インピーダンス変換部108は、高周波増幅器100の入力インピーダンスZinおよび高周波増幅器100の出力インピーダンスZoutとトランジスタ107のインピーダンスとを整合させる構成である。
第3基板103は、出力側バイアス回路109と、出力側バイアス回路109と電気的に接続されている出力整合部110と、を有している。出力側バイアス回路109は、出力側のバイアス電圧またはバイアス電流を加えるための電子回路である。出力整合部110は、回路内のインピーダンスと出力側のインピーダンスとを、例えば50Ωに整合させる構成である。
高周波増幅器100の入力端子111は、入力整合部105の一端と接続されている。入力整合部105の他端は、第1の接続部である入力側接続部112を介して入力側インピーダンス変換部106と接続されている。また、出力側インピーダンス変換部108は、第2の接続部である出力側接続部113を介して出力整合部110の一端と接続されている。出力整合部110の他端は、高周波増幅器100の出力端子114と接続されている。入力側接続部112および出力側接続部113には、例えば、ワイヤやバンプ等が使用される。このように、高周波増幅器100は、入力側インピーダンス変換部106および/または出力側インピーダンス変換部108によってトランジスタの出力インピーダンス実部を高くしてから入力側接続部112/または出力側接続部113を接続し、接続部の影響を低減している。
(1-2)高周波増幅器の動作例
次に、図1および図2を用いて、本実施形態に係る高周波増幅器の動作の一例について説明する。図2は、本実施形態の高周波増幅器を流れる信号を示す回路構成図である。
次に、図1および図2を用いて、本実施形態に係る高周波増幅器の動作の一例について説明する。図2は、本実施形態の高周波増幅器を流れる信号を示す回路構成図である。
図2に示すように、本実施形態の高周波増幅器100では、例えば、ミキサや直交変調器などからRF信号201が入力端子111を介して入力整合部105に入力される。入力整合部105に入力されたRF信号201は、入力側接続部112を介して入力側インピーダンス変換部106に入力され、入力側インピーダンス変換部106からトランジスタ107を介して増幅され、出力側インピーダンス変換部108に入力される。出力側インピーダンス変換部108に増幅されて入力されたRF信号201は、出力側接続部113を介して出力整合部110に入力される。そして、出力整合部110に入力されたRF信号201は、出力端子114を介して、例えば、アンテナに出力される。
図1および図2に示すように、本実施形態では、トランジスタ107の入力インピーダンスをZ1i[ohm]とし、入力側接続部112の第2基板102側の端点のインピーダンスをZ2i[ohm]とし、高周波増幅器100の入力インピーダンスをZin[ohm]としている。また、本実施形態では、トランジスタ107の出力インピーダンスをZ1o[ohm]とし、出力側接続部113の第2基板102側の端点のインピーダンスをZ2o[ohm]とし、高周波増幅器100の出力インピーダンスをZout[ohm]としている。
ここで、インピーダンスZの実部をRe(Z)とすると、高周波増幅器100は、
Re(Z1i)<Re(Z2i)<Re(Zin)・・・(式1)
または、
Re(Z1o)<Re(Z2o)<Re(Zout)・・・(式2)
の少なくとも一方を満たしている。
例えば、Z1i=5-5j[Ω]、Zin=50[Ω]なら、(式1)より、5<Re(Z2i)<50であれば良い。
Re(Z1i)<Re(Z2i)<Re(Zin)・・・(式1)
または、
Re(Z1o)<Re(Z2o)<Re(Zout)・・・(式2)
の少なくとも一方を満たしている。
例えば、Z1i=5-5j[Ω]、Zin=50[Ω]なら、(式1)より、5<Re(Z2i)<50であれば良い。
さらに、高周波増幅器100は、
0.1*Re(Zin)<Re(Z2i)<0.9*Re(Zin)・・・(式3)
または、
0.1*Re(Zout)<Re(Z2o)<0.9*Re(Zout)・・・(式4)
の少なくとも一方を満たしている。
例えば、Zin=50[Ω]なら、(式3)より、5<Re(Z2i)<45であれば良い。
0.1*Re(Zin)<Re(Z2i)<0.9*Re(Zin)・・・(式3)
または、
0.1*Re(Zout)<Re(Z2o)<0.9*Re(Zout)・・・(式4)
の少なくとも一方を満たしている。
例えば、Zin=50[Ω]なら、(式3)より、5<Re(Z2i)<45であれば良い。
(1-3)インピーダンス変換部の構成例
次に、図3を用いて、本実施形態に係る第2基板102の出力側インピーダンス変換部108の構成の一例について説明する。図3は、本実施形態の高周波増幅器の出力側インピーダンス変換部を示す模式図である。
次に、図3を用いて、本実施形態に係る第2基板102の出力側インピーダンス変換部108の構成の一例について説明する。図3は、本実施形態の高周波増幅器の出力側インピーダンス変換部を示す模式図である。
出力側インピーダンス変換部108は、伝送線路301と、伝送線路301と電気的に接続されている容量性素子302と、を備えている。伝送線路301は、出力側インピーダンス変換部108のトランジスタ側入力端子303と接続部側出力端子304との間に直列接続されている。容量性素子302は、伝送線路301と接続部側出力端子304との間で分岐して接続されている。容量性素子302の構成例としては、MIM容量+Backside VIAや容量性オープンスタブ等がある。
ここで、一例として、高周波増幅器100のインピーダンスを、Re(Z1o)=10Ω、Re(Z2o)=30Ω、Re(Zout)=50Ωとすると、トランジスタ側入力端子303のインピーダンスは、10-j*10[ohm]であり、接続部側出力端子304のインピーダンスは、30-j*10[ohm]である。
(1-4)インピーダンスの動き
次に、図4を用いて、本実施形態に係る高周波増幅器100内のインピーダンスの動きの一例について説明する。図4は、本実施形態の出力側インピーダンス変換部108のインピーダンスの動きを示すスミスチャート図である。
次に、図4を用いて、本実施形態に係る高周波増幅器100内のインピーダンスの動きの一例について説明する。図4は、本実施形態の出力側インピーダンス変換部108のインピーダンスの動きを示すスミスチャート図である。
図4のスミスチャート図に示すように、同心円の円周状の曲線群401は、インピーダンス実部の等高線を表し、曲線群401と交わる曲線群402は、インピーダンス虚部の等高線を表している。スミスチャートの円の直径を表す左右方向の線分上において、図4の左端が0Ωで右端が∞Ωを示し、左端から右端に向かうにつれてインピーダンス実部が大きくなっている。一例として、基準インピーダンスを50Ωとすると、図4の点P0は、25-j*25Ωである。
図4の点P1から点P2に向かう曲線403は、伝送線路301によるインピーダンスの変化を表し、図4の点P2から点P3に向かう曲線404は、容量性素子302によるインピーダンスの変化を表す。図4に示すように、出力側インピーダンス変換部108では、インピーダンス虚部を変化させずに、点P1から点P3へインピーダンス実部を高く変換している。ただし、インピーダンス虚部は変換の前後で変化していてもよい。
以上述べたように、本実施形態に係る高周波増幅器100は、従来、半導体チップの第2基板102内に配置されていた入力整合部105および出力整合部110を、それぞれの外部基板である第1基板101および第3基板103に設置している。これにより、高周波増幅器100のより高性能とされるGaN基板などの高価な材料を使う半導体チップサイズを低減することができる。また、出力側インピーダンス変換部108は、インピーダンス変換比を小さくできるため、トランジスタ107のインピーダンスを高周波増幅器100の入出力インピーダンスまで変換しなくて良いので、半導体チップを小型化できる。したがって、出力側接続部113のワイヤ長等を調整することなく、高周波増幅器100の第2基板102を小型化してコストを削減することができる。
さらに、本実施形態に係る高周波増幅器100は、出力側インピーダンス変換部108でインピーダンス実部を増加させるため、出力側接続部113での製造バラつきが高周波増幅器100の特性に与える影響を低減することができる。このように、高周波増幅器100は、半導体チップと外部基板間にワイヤ等を使ったとしても、製造バラつきの影響を十分小さく抑えることができるので、製造バラつきに対してロバストな(誤差因子に強い)設計が可能となる。また、高周波増幅器100は、出力側接続部113のインピーダンス実部をトランジスタ107の端子部分より高くすることができる。これによっても、高周波増幅器100は、出力側接続部113の製造バラつきに対してロバストな設計を実現することができる。なお、製造バラつきとは、例えば、ワイヤの長さの違いにより、インダクタンスがずれることをいう。
<2.第2実施形態の高周波増幅器>
図5から図8を用いて、本技術に係る第2実施形態の高周波増幅器について説明する。本実施形態の高周波増幅器が、第1実施形態の高周波増幅器100と相違する点は、第2基板内のインピーダンス変換部の途中にバイアス接続部が接続されている点である。なお、第1実施形態の構成と同様の構成には、同一の符号を記し、説明は省略する。
図5から図8を用いて、本技術に係る第2実施形態の高周波増幅器について説明する。本実施形態の高周波増幅器が、第1実施形態の高周波増幅器100と相違する点は、第2基板内のインピーダンス変換部の途中にバイアス接続部が接続されている点である。なお、第1実施形態の構成と同様の構成には、同一の符号を記し、説明は省略する。
(2-1)高周波増幅器の回路構成例
まず、図5を用いて、本実施形態に係る高周波増幅器の回路構成の一例について説明する。図5は、本実施形態の高周波増幅器を示す回路構成図である。図5に示すように、本実施形態の高周波増幅器500は、入力側の外部基板である第1基板501と、半導体チップからなる第2基板502と、出力側の外部基板である第3基板503と、を備えている。
まず、図5を用いて、本実施形態に係る高周波増幅器の回路構成の一例について説明する。図5は、本実施形態の高周波増幅器を示す回路構成図である。図5に示すように、本実施形態の高周波増幅器500は、入力側の外部基板である第1基板501と、半導体チップからなる第2基板502と、出力側の外部基板である第3基板503と、を備えている。
第1基板501は、入力側バイアス回路104と、入力整合部105と、を有している。ただし、第1基板501では、入力側バイアス回路104と入力整合部105とは、電気的な接続がされていない。
第2基板502は、第1のインピーダンス変換部である入力側インピーダンス変換部506と、トランジスタ107と、第2のインピーダンス変換部である出力側インピーダンス変換部508と、を有している。入力側インピーダンス変換部506は、トランジスタ107のゲート端子と電気的に接続されている。トランジスタ107のドレイン端子は、出力側インピーダンス変換部508と電気的に接続され、トランジスタ107のソース端子は、グランドに接続されている。
入力側インピーダンス変換部506は、直列に接続された2つの伝送線路515および伝送線路516を有している。出力側インピーダンス変換部508は、直列に接続された2つの伝送線路517および伝送線路518を有している。なお、入力側インピーダンス変換部506および出力側インピーダンス変換部508が有する伝送線路は、2つに限らず3つ以上であってもよい。
第3基板503は、出力側バイアス回路109と、出力整合部110と、を有している。ただし、第3基板503では、出力側バイアス回路109と出力整合部110とは、電気的な接続がされていない。
高周波増幅器500の入力端子111は、入力整合部105の一端と接続されている。入力整合部105の他端は、入力側接続部112を介して入力側インピーダンス変換部506と接続されている。また、出力側インピーダンス変換部508は、出力側接続部113を介して出力整合部110の一端と接続されている。出力整合部110の他端は、高周波増幅器500の出力端子114と接続されている。
一方、入力側バイアス回路104は、入力側バイアス接続部522を介して入力側インピーダンス変換部506内の伝送線路515および伝送線路516の間に接続されている。また、出力側バイアス回路109は、出力側バイアス接続部523を介して出力側インピーダンス変換部508内の伝送線路517および伝送線路518の間に接続されている。入力側バイアス接続部522および出力側バイアス接続部523には、例えば、ワイヤやバンプ等が使用される。
また、第1実施形態と同様に、トランジスタ107の入力インピーダンスをZ1i[ohm]とし、入力側接続部112の第2基板502側の端点のインピーダンスをZ2i[ohm]とし、高周波増幅器500の入力インピーダンスをZin[ohm]としている。また、トランジスタ107の出力インピーダンスをZ1o[ohm]とし、出力側接続部113の第2基板502側の端点のインピーダンスをZ2o[ohm]とし、高周波増幅器500の出力インピーダンスをZout[ohm]としている。さらに、伝送線路515および伝送線路516間の入力側バイアス接続部522への分岐点の入力インピーダンスをZ0i[ohm]とし、伝送線路517および伝送線路518間の出力側バイアス回路109への分岐点の出力インピーダンスをZ0o[ohm]としている。
ここで、高周波増幅器500は、第1実施形態と同様に、上述の(式1)または(式2)の少なくとも一方を満たしている。さらに、高周波増幅器500は、上述の(式3)または(式4)の少なくとも一方を満たしている。
(2-2)インピーダンス変換部の構成例
次に、図6を用いて、本実施形態に係る第2基板502の出力側インピーダンス変換部508の構成の一例について説明する。図6は、本実施形態の高周波増幅器の出力側インピーダンス変換部を示す模式図である。
次に、図6を用いて、本実施形態に係る第2基板502の出力側インピーダンス変換部508の構成の一例について説明する。図6は、本実施形態の高周波増幅器の出力側インピーダンス変換部を示す模式図である。
出力側インピーダンス変換部508は、直列に接続された2つの伝送線路517および伝送線路518と、2つの容量性素子601および容量性素子602と、を備えている。伝送線路517および伝送線路518は、出力側インピーダンス変換部508のトランジスタ側入力端子603と接続部側出力端子604との間に直列接続されている。容量性素子601は、トランジスタ側入力端子603と伝送線路517との間で分岐して接続されている。容量性素子602は、伝送線路518と接続部側出力端子604との間で分岐して接続されている。
出力側インピーダンス変換部508は、伝送線路517および伝送線路518の間の分岐点Qとバイアス接続部側出力端子605とが接続されている。本実施形態において、分岐点Qは、給電点を示している。
ここで、一例として、高周波増幅器500のインピーダンスを、Re(Z1o)=10Ω、Re(Z2o)=30Ω、Re(Zout)=50Ωとし、Re(1/Z1o)=0.05S、Re(1/Z0o)=0.25S、Re(1/Zout)=0.02Sとする。このとき、トランジスタ側入力端子603のインピーダンスは、10-j*10[ohm]であり、給電点である分岐点Qのインピーダンスは、4[ohm]であり、接続部側出力端子604のインピーダンスは、30-j*10[ohm]である。
(2-3)インピーダンスの動き
次に、図7を用いて、本実施形態に係る高周波増幅器500内のインピーダンスの動きの一例について説明する。図7は、本実施形態の出力側インピーダンス変換部508のインピーダンスの動きを示すスミスチャート図である。図4と同様に、図7のスミスチャート図に示す同心円の円周状の曲線群401は、インピーダンス実部の等高線を表し、曲線群401と交わる曲線群402は、インピーダンス虚部の等高線を表している。
次に、図7を用いて、本実施形態に係る高周波増幅器500内のインピーダンスの動きの一例について説明する。図7は、本実施形態の出力側インピーダンス変換部508のインピーダンスの動きを示すスミスチャート図である。図4と同様に、図7のスミスチャート図に示す同心円の円周状の曲線群401は、インピーダンス実部の等高線を表し、曲線群401と交わる曲線群402は、インピーダンス虚部の等高線を表している。
図7の点Q2から点Q3に向かう曲線701は、伝送線路517によるインピーダンスの変化を表し、図7の点Q3から点Q4に向かう曲線702は、伝送線路518によるインピーダンスの変化を表す。図7の点Q1から点Q2に向かう曲線703は、容量性素子601によるインピーダンスの変化を表し、図7の点Q4から点Q5に向かう曲線704は、容量性素子602によるインピーダンスの変化を表す。図7に示すように、出力側インピーダンス変換部508では、インピーダンス虚部を変化させずに、点Q1から点Q5へインピーダンス実部を高く変換している。ただし、インピーダンス虚部は変換の前後で変化していてもよい。
(2-4)インピーダンスとアドミタンスとの関係
次に、図8を用いて、本実施形態に係る高周波増幅器500のインピーダンスとアドミタンスとの関係の一例について説明する。図8は、スミスチャートとアドミタンスチャートの関係を示す図である。図8Aは、図7と同様のスミスチャート図であり、図8Bは、図8Aに対応するアドミタンスチャート図である。
次に、図8を用いて、本実施形態に係る高周波増幅器500のインピーダンスとアドミタンスとの関係の一例について説明する。図8は、スミスチャートとアドミタンスチャートの関係を示す図である。図8Aは、図7と同様のスミスチャート図であり、図8Bは、図8Aに対応するアドミタンスチャート図である。
図8Aのスミスチャート図に示す同心円の円周状の曲線群401は、図7と同様に、インピーダンス実部の等高線を表し、曲線群401と交わる曲線群402は、インピーダンス虚部の等高線を表している。一例として、基準インピーダンスを50Ωとすると、図8Aの点PAは、25-j*25Ωである。
図8Bのアドミタンスチャート図に示すように、同心円の円周状の曲線群801は、アドミタンス実部の等高線を表し、曲線群801と交わる曲線群802は、アドミタンス虚部の等高線を表している。アドミタンスチャートの円の直径を表す左右方向の線分上において、図8Bの右端が0Sで左端が∞Sを示し、右端から左端に向かうにつれてアドミタンス実部が大きくなっている。一例として、基準インピーダンスを50[Ω]=0.02[S]とすると、図8Bの点PBは、1/(25-j*25)[Ω]=0.02+j0.02[S]である。
上記より、トランジスタ107の入力アドミタンスは、1/Z1i[S]となり、入力側バイアス接続部522の第2基板502側の端点(分岐点)におけるアドミタンスは、1/Z0i[S]となる。また、トランジスタ107の出力アドミタンスは、1/Z1o[S]となり、出力側バイアス接続部523の第2基板502側の端点(分岐点)におけるアドミタンスは、1/Z0o[S]となる。
ここで、アドミタンス1/Zの実部をRe(1/Z)とすると、高周波増幅器500は、
Re(1/Z1i)≦Re(1/Z0i)・・・(式5)
と、
Re(1/Z1o)≦Re(1/Z0o)・・・(式6)
の少なくとも一方を満たしている。
例えば、Z1i=5-5j[Ω]なら、1/(Z1i)=0.1+0.1j[S]なので、(式5)より、0.1≦Re(1/Z0i)であれば良い。
Re(1/Z1i)≦Re(1/Z0i)・・・(式5)
と、
Re(1/Z1o)≦Re(1/Z0o)・・・(式6)
の少なくとも一方を満たしている。
例えば、Z1i=5-5j[Ω]なら、1/(Z1i)=0.1+0.1j[S]なので、(式5)より、0.1≦Re(1/Z0i)であれば良い。
さらに、高周波増幅器500は、
Re(1/Z0i)>2*Re(1/Zin)・・・(式7)
または、
Re(1/Z0o)>2*Re(1/Zout)・・・(式8)
の少なくとも一方を満たしている。
例えば、Zin=50[Ω]なら、1/Zin=0.02[S]なので、(式7)より、0.04<Re(1/Z0i)であれば良い。
Re(1/Z0i)>2*Re(1/Zin)・・・(式7)
または、
Re(1/Z0o)>2*Re(1/Zout)・・・(式8)
の少なくとも一方を満たしている。
例えば、Zin=50[Ω]なら、1/Zin=0.02[S]なので、(式7)より、0.04<Re(1/Z0i)であれば良い。
以上述べたように、本実施形態に係る高周波増幅器500は、第1実施形態に係る高周波増幅器100と同様に、高周波増幅器500の第2基板502を小型化してコストを削減することができる。また、高周波増幅器500は、第1実施形態に係る高周波増幅器100と同様に、入力側インピーダンス変換部506および/または出力側インピーダンス変換部508でインピーダンス実部を増加させて製造バラつきの影響を十分小さく抑えることができるので、製造バラつきに対してロバストな設計が可能となる。また、高周波増幅器500は、第1実施形態に係る高周波増幅器100と同様に、出力側接続部113のインピーダンス実部をトランジスタ107の端子部分より高くすることができる。これによっても、高周波増幅器500は、出力側接続部113の製造バラつきに対してロバストな設計を実現することができる。
さらに、本実施形態に係る高周波増幅器500は、入力側バイアス接続部522および/または出力側バイアス接続部523のアドミタンス実部がトランジスタ107の入出力アドミタンス以上になるように、入力側インピーダンス変換部506および/または出力側インピーダンス変換部508を構成している。これにより、入力側バイアス回路104および/または出力側バイアス回路109内の回路は、高周波増幅器500の入出力部やトランジスタ107からあまり変化しなくなり、特性への影響が小さくなるので、上記バイアス回路を容易に調整することができる。
<3.本技術を適用した高周波増幅器の実施例>
図9から図11を用いて、本技術を適用した高周波増幅器の実施例について説明する。
図9から図11を用いて、本技術を適用した高周波増幅器の実施例について説明する。
まず、図9を用いて、接続部の挿入損失劣化量とインピーダンス実部との関係について説明する。図9は、接続部の挿入損失劣化量とインピーダンス実部との関係を示すグラフである。図9の横軸は、高周波増幅器の出力インピーダンス(Zout)に対するトランジスタの出力インピーダンス(Ztr)の割合の実部Re(Ztr/Zout)を示し、図9の縦軸は、高周波増幅器の接続部の挿入損失劣化量[dB]を示している。本実施例では、一例として、Zout=50Ωを用いている。
図9中の曲線L1は、周波数f=28GHzにおいて、約0.1nHからのずれが+0.02nHの場合を表している。図9中の曲線L2は、周波数f=28GHzにおいて、0.1nHからのずれが+0.04nHの場合を表している。
図9に示すように、例えば、トランジスタの出力インピーダンス実部Re(Ztr)が10Ω以下の場合は、接続部の通過特性が大きく低下することがわかる。特に、上記インピーダンス実部Re(Ztr/Zout)の約0.1nHからのずれが大きい曲線L2の方が、ずれが小さい曲線L1よりも、接続部の通過特性が顕著に低下している。そこで、接続部の直前のインピーダンス実部を大きくし、接続部(ワイヤ)の影響を低減することが必要となる。
次に、接続部であるワイヤ長の変化量と通過特性との関係について説明する。図10は、従来技術を適用した高周波増幅器の接続部のワイヤ長の変化量と通過特性との関係を示すグラフである。図11は、本技術を適用した高周波増幅器の接続部のワイヤ長の変化量と通過特性との関係を示すグラフである。図10および図11において、横軸は周波数[GHz]を示し、縦軸はトランジスタのドレイン端子の出力から高周波増幅器(整合回路)の出力までの挿入損失[dB]を示している。
図10および図11において、元のワイヤ長300umに対し、曲線C1はワイヤ長の変化量が±0umの場合、曲線C2はワイヤ長の変化量が+50umの場合、曲線C3はワイヤ長の変化量が+100umの場合、曲線C4はワイヤ長の変化量が+150umの場合、曲線C5はワイヤ長の変化量が+200umの場合、を表している。
図10に示すように、例えばワイヤ長+200umで、28GHzにおける挿入損失が±0umに対して約1dB劣化している。このことから、図10の曲線C1から曲線C5に示すように、従来技術を適用した高周波増幅器は、周波数が高くなると、ワイヤ長の変化量によって出力側のワイヤ長の製造バラつきによる影響が大きくなることがわかる。
これに対し、図11に示すように、例えばワイヤ長+200umで、28GHzにおける挿入損失が劣化せずに改善されている。したがって、図11の曲線C1から曲線C5に示すように、本技術を適用した高周波増幅器は、周波数が高くなっても、ワイヤ長の変化量によって出力側のワイヤ長の製造バラつきによる影響を低減できることがわかった。
<4.第3実施形態の電子機器>
本技術に係る第3実施形態の電子機器は、本技術に係る第1実施形態および第2実施形態のいずれかの高周波増幅器を備える電子機器である。本技術に係る第1実施形態および第2実施形態の高周波増幅器は上記のとおりであるので、ここでは説明を省略する。本技術に係る第3実施形態の電子機器は、小型化して優れた信頼性を有する高周波増幅器を備えるので、電子機器の小型化や特性等の性能の向上を図ることができる。
本技術に係る第3実施形態の電子機器は、本技術に係る第1実施形態および第2実施形態のいずれかの高周波増幅器を備える電子機器である。本技術に係る第1実施形態および第2実施形態の高周波増幅器は上記のとおりであるので、ここでは説明を省略する。本技術に係る第3実施形態の電子機器は、小型化して優れた信頼性を有する高周波増幅器を備えるので、電子機器の小型化や特性等の性能の向上を図ることができる。
<5.第4実施形態の通信機器>
本技術に係る第4実施形態の通信機器は、本技術に係る第1実施形態および第2実施形態のいずれかの高周波増幅器を備える機器である。本技術に係る第1実施形態および第2実施形態の高周波増幅器は上記のとおりであるので、ここでは説明を省略する。本技術に係る第4実施形態の通信機器は、小型化して優れた信頼性を有する高周波増幅器を備えるので、送受信信号の増幅等の性能の向上を図ることができる。本実施形態の通信機器としては、例えば、移動通信端末(携帯電話、スマートホン)、移動通信基地局、その他の無線局、IoT機器、レーダー等がある。
本技術に係る第4実施形態の通信機器は、本技術に係る第1実施形態および第2実施形態のいずれかの高周波増幅器を備える機器である。本技術に係る第1実施形態および第2実施形態の高周波増幅器は上記のとおりであるので、ここでは説明を省略する。本技術に係る第4実施形態の通信機器は、小型化して優れた信頼性を有する高周波増幅器を備えるので、送受信信号の増幅等の性能の向上を図ることができる。本実施形態の通信機器としては、例えば、移動通信端末(携帯電話、スマートホン)、移動通信基地局、その他の無線局、IoT機器、レーダー等がある。
<6.本技術を適用した高周波増幅器の使用例>
図12は、本技術に係る第1実施形態および第2実施形態の高周波増幅器の使用例を示す図である。
図12は、本技術に係る第1実施形態および第2実施形態の高周波増幅器の使用例を示す図である。
上述した第1実施形態および第2実施形態の高周波増幅器は、例えば、以下のように、可視光や、赤外光、紫外光、X線等の光をセンシングするさまざまなケースに使用することができる。すなわち、図12に示すように、例えば、鑑賞の用に供される画像を撮影する鑑賞の分野、交通の分野、家電の分野、医療・ヘルスケアの分野、セキュリティの分野、美容の分野、スポーツの分野、農業の分野等において用いられる固体撮像素子(イメージセンサ)を備える装置(例えば、上述した第3の実施形態の電子機器)に、第1実施形態および第2実施形態の高周波増幅器を使用することができる。
具体的には、鑑賞の分野においては、例えば、デジタルカメラやスマートフォン、カメラ機能付きの携帯電話機等の、鑑賞の用に供される画像を撮影するための装置に、第1実施形態および第2実施形態の高周波増幅器を使用することができる。
交通の分野においては、例えば、自動停止等の安全運転や、運転者の状態の認識等のために、自動車の前方や後方、周囲、車内等を撮影する車載用センサ、走行車両や道路を監視する監視カメラ、車両間等の測距を行う測距センサ等の、交通の用に供される装置に、第1実施形態および第2実施形態の高周波増幅器を使用することができる。
家電の分野においては、例えば、ユーザのジェスチャを撮影して、そのジェスチャに従った機器操作を行うために、テレビ受像機や冷蔵庫、エアーコンディショナ等の家電に供される装置で、第1実施形態および第2実施形態の高周波増幅器を使用することができる。
医療・ヘルスケアの分野においては、例えば、内視鏡や、赤外光の受光による血管撮影を行う装置等の、医療やヘルスケアの用に供される装置に、第1実施形態および第2実施形態の高周波増幅器を使用することができる。
セキュリティの分野においては、例えば、防犯用途の監視カメラや、人物認証用途のカメラ等の、セキュリティの用に供される装置に、第1実施形態および第2実施形態の高周波増幅器を使用することができる。
美容の分野においては、例えば、肌を撮影する肌測定器や、頭皮を撮影するマイクロスコープ等の、美容の用に供される装置に、第1実施形態および第2実施形態の高周波増幅器を使用することができる。
スポーツの分野において、例えば、スポーツ用途等向けのアクションカメラやウェアラプルカメラ等の、スポーツの用に供される装置に、第1実施形態および第2実施形態の高周波増幅器を使用することができる。
農業の分野においては、例えば、畑や作物の状態を監視するためのカメラ等の、農業の用に供される装置に、第1実施形態および第2実施形態の高周波増幅器を使用することができる。
なお、本技術の実施形態は、上述した実施形態に限定されるものではなく、本技術の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。例えば、上述した複数の実施形態の全てまたは一部を組み合わせた形態を採用することができる。また、本明細書に記載された効果はあくまでも例示であって限定されるものではなく、また他の効果があってもよい。
また、本技術は、以下のような構成を取ることができる。
(1)
整合部を有する第1基板と、互いに接続されたトランジスタおよび第1のインピーダンス変換部を有する第2基板と、を備え、
前記第1基板の整合部と前記第1のインピーダンス変換部とが第1の接続部を介して接続されている高周波増幅器。
(2)
整合部を有する第3基板をさらに備え、
前記第2基板は、前記トランジスタに接続された第2のインピーダンス変換部をさらに有し、
前記第2のインピーダンス変換部と前記第3基板の整合部とが第2の接続部を介して接続されている(1)に記載の高周波増幅器。
(3)
前記第1基板および前記第3基板の少なくとも一方が、バイアス回路を有し、
前記バイアス回路を有する基板内において、前記バイアス回路が前記整合部に接続されている(2)に記載の高周波増幅器。
(4)
前記トランジスタの入力(出力)インピーダンスをZ1i(Z1o)とし、入力(出力)側接続部の第2基板側の端点のインピーダンスをZ2i(Z2o)とし、増幅器の入力(出力)インピーダンスをZin(Zout)としたとき、
Re(Z1i)<Re(Z2i)<Re(Zin)、または、Re(Z1o)<Re(Z2o)<Re(Zout)の少なくとも一方を満たす、(2)または(3)に記載の高周波増幅器。
(5)
0.1*Re(Zin)<Re(Z2i)<0.9*Re(Zin)、または、0.1*Re(Zout)<Re(Z2o)<0.9*Re(Zout)の少なくとも一方を満たす、(4)に記載の高周波増幅器。
(6)
前記第1基板および前記第3基板内の少なくとも一方の前記バイアス回路が、バイアス接続部を介して前記第1または前記第2のインピーダンス変換部に接続されている、(3)に記載の高周波増幅器。
(7)
前記トランジスタの入力(出力)アドミタンスを1/Z1i(1/Z1o)とし、前記バイアス接続部の第2基板側の端点におけるアドミタンスを1/Z0i(1/Z0o)としたとき、
Re(1/Z1i)≦Re(1/Z0i)と、Re(1/Z1o)≦Re(1/Z0o)の少なくとも一方を満たす、(6)に記載の高周波増幅器。
(8)
Re(1/Z0i)>2*Re(1/Zin)またはRe(1/Z0o)>2*Re(1/Zout)の少なくとも一方を満たす、(7)に記載の高周波増幅器。
(9)
前記第1のインピーダンス変換部は、前記第1の接続部と直列接続される伝送線路と、前記第1の接続部と並列接続される容量性素子と、を有する(1)から(8)のいずれかに記載の高周波増幅器。
(10)
入力信号または出力信号を増幅する、(1)から(9)のいずれかに記載の高周波増幅器を備える電子機器。
(11)
送信信号または受信信号を増幅する、(1)から(9)のいずれかに記載の高周波増幅器を備える通信機器。
(1)
整合部を有する第1基板と、互いに接続されたトランジスタおよび第1のインピーダンス変換部を有する第2基板と、を備え、
前記第1基板の整合部と前記第1のインピーダンス変換部とが第1の接続部を介して接続されている高周波増幅器。
(2)
整合部を有する第3基板をさらに備え、
前記第2基板は、前記トランジスタに接続された第2のインピーダンス変換部をさらに有し、
前記第2のインピーダンス変換部と前記第3基板の整合部とが第2の接続部を介して接続されている(1)に記載の高周波増幅器。
(3)
前記第1基板および前記第3基板の少なくとも一方が、バイアス回路を有し、
前記バイアス回路を有する基板内において、前記バイアス回路が前記整合部に接続されている(2)に記載の高周波増幅器。
(4)
前記トランジスタの入力(出力)インピーダンスをZ1i(Z1o)とし、入力(出力)側接続部の第2基板側の端点のインピーダンスをZ2i(Z2o)とし、増幅器の入力(出力)インピーダンスをZin(Zout)としたとき、
Re(Z1i)<Re(Z2i)<Re(Zin)、または、Re(Z1o)<Re(Z2o)<Re(Zout)の少なくとも一方を満たす、(2)または(3)に記載の高周波増幅器。
(5)
0.1*Re(Zin)<Re(Z2i)<0.9*Re(Zin)、または、0.1*Re(Zout)<Re(Z2o)<0.9*Re(Zout)の少なくとも一方を満たす、(4)に記載の高周波増幅器。
(6)
前記第1基板および前記第3基板内の少なくとも一方の前記バイアス回路が、バイアス接続部を介して前記第1または前記第2のインピーダンス変換部に接続されている、(3)に記載の高周波増幅器。
(7)
前記トランジスタの入力(出力)アドミタンスを1/Z1i(1/Z1o)とし、前記バイアス接続部の第2基板側の端点におけるアドミタンスを1/Z0i(1/Z0o)としたとき、
Re(1/Z1i)≦Re(1/Z0i)と、Re(1/Z1o)≦Re(1/Z0o)の少なくとも一方を満たす、(6)に記載の高周波増幅器。
(8)
Re(1/Z0i)>2*Re(1/Zin)またはRe(1/Z0o)>2*Re(1/Zout)の少なくとも一方を満たす、(7)に記載の高周波増幅器。
(9)
前記第1のインピーダンス変換部は、前記第1の接続部と直列接続される伝送線路と、前記第1の接続部と並列接続される容量性素子と、を有する(1)から(8)のいずれかに記載の高周波増幅器。
(10)
入力信号または出力信号を増幅する、(1)から(9)のいずれかに記載の高周波増幅器を備える電子機器。
(11)
送信信号または受信信号を増幅する、(1)から(9)のいずれかに記載の高周波増幅器を備える通信機器。
100、500 高周波増幅器
101、501 第1基板
102、502 第2基板
103、503 第3基板
104 入力側バイアス回路
105 入力整合部
106、506 入力側インピーダンス変換部
107 トランジスタ
108、508 出力側インピーダンス変換部
109 出力側バイアス回路
110 出力整合部
111、303、603 入力端子
112、113、522、523 接続部
114、304、604、605 出力端子
201 RF信号
301、515~518 伝送線路
302、601、602 容量性素子
401、402、801、802 曲線群(等高線)
101、501 第1基板
102、502 第2基板
103、503 第3基板
104 入力側バイアス回路
105 入力整合部
106、506 入力側インピーダンス変換部
107 トランジスタ
108、508 出力側インピーダンス変換部
109 出力側バイアス回路
110 出力整合部
111、303、603 入力端子
112、113、522、523 接続部
114、304、604、605 出力端子
201 RF信号
301、515~518 伝送線路
302、601、602 容量性素子
401、402、801、802 曲線群(等高線)
Claims (11)
- 整合部を有する第1基板と、互いに接続されたトランジスタおよび第1のインピーダンス変換部を有する第2基板と、を備え、
前記第1基板の整合部と前記第1のインピーダンス変換部とが第1の接続部を介して接続されている高周波増幅器。 - 整合部を有する第3基板をさらに備え、
前記第2基板は、前記トランジスタに接続された第2のインピーダンス変換部をさらに有し、
前記第2のインピーダンス変換部と前記第3基板の整合部とが第2の接続部を介して接続されている請求項1に記載の高周波増幅器。 - 前記第1基板および前記第3基板の少なくとも一方が、バイアス回路を有し、
前記バイアス回路を有する基板内において、前記バイアス回路が前記整合部に接続されている請求項2に記載の高周波増幅器。 - 前記トランジスタの入力(出力)インピーダンスをZ1i(Z1o)とし、入力(出力)側接続部の第2基板側の端点のインピーダンスをZ2i(Z2o)とし、増幅器の入力(出力)インピーダンスをZin(Zout)としたとき、
Re(Z1i)<Re(Z2i)<Re(Zin)、または、Re(Z1o)<Re(Z2o)<Re(Zout)の少なくとも一方を満たす、請求項2に記載の高周波増幅器。 - 0.1*Re(Zin)<Re(Z2i)<0.9*Re(Zin)、または、0.1*Re(Zout)<Re(Z2o)<0.9*Re(Zout)の少なくとも一方を満たす、請求項4に記載の高周波増幅器。
- 前記第1基板および前記第3基板内の少なくとも一方の前記バイアス回路が、バイアス接続部を介して前記第1または前記第2のインピーダンス変換部に接続されている、請求項3に記載の高周波増幅器。
- 前記トランジスタの入力(出力)アドミタンスを1/Z1i(1/Z1o)とし、前記バイアス接続部の第2基板側の端点におけるアドミタンスを1/Z0i(1/Z0o)としたとき、
Re(1/Z1i)≦Re(1/Z0i)と、Re(1/Z1o)≦Re(1/Z0o)の少なくとも一方を満たす、請求項6に記載の高周波増幅器。 - Re(1/Z0i)>2*Re(1/Zin)またはRe(1/Z0o)>2*Re(1/Zout)の少なくとも一方を満たす、請求項7に記載の高周波増幅器。
- 前記第1のインピーダンス変換部は、前記第1の接続部と直列接続される伝送線路と、前記第1の接続部と並列接続される容量性素子と、を有する請求項1に記載の高周波増幅器。
- 入力信号または出力信号を増幅する、請求項1に記載の高周波増幅器を備える電子機器。
- 送信信号または受信信号を増幅する、請求項1に記載の高周波増幅器を備える通信機器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US16/766,282 US11336241B2 (en) | 2017-11-30 | 2018-09-12 | High-frequency amplifier, electronic device, and communication device |
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