WO2019049716A1 - 眼鏡枠形状測定装置及び眼鏡枠形状測定プログラム - Google Patents

眼鏡枠形状測定装置及び眼鏡枠形状測定プログラム Download PDF

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WO2019049716A1
WO2019049716A1 PCT/JP2018/031669 JP2018031669W WO2019049716A1 WO 2019049716 A1 WO2019049716 A1 WO 2019049716A1 JP 2018031669 W JP2018031669 W JP 2018031669W WO 2019049716 A1 WO2019049716 A1 WO 2019049716A1
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WO
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rim
cross
eyeglass frame
sectional shape
groove
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Application number
PCT/JP2018/031669
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English (en)
French (fr)
Inventor
教児 武市
通浩 滝井
Original Assignee
株式会社ニデック
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures

Definitions

  • the present disclosure relates to an eyeglass frame shape measuring device for obtaining an eyeglass frame shape, and an eyeglass frame shape measuring program for controlling the eyeglass frame shape measuring device.
  • an eyeglass frame shape measuring apparatus which traces the contour of a rim and measures the shape of the rim by inserting a measuring element in the rim of the eyeglass frame and moving the measuring element against the rim by moving the element (for example, Patent Document 1).
  • a shape (target shape) for fitting the spectacle lens to the rim is obtained based on the measurement result (trace data) of the rim obtained by the spectacle frame shape measuring device.
  • the contour shape of the spectacle lens is determined based on the shape, and the rim of the lens is processed by the spectacle lens processing device.
  • the shape of the rim and the contour shape of the lens after processing are closer.
  • the measurement of the rim shape using the measuring element is easy to perform the measurement at the position where the measuring element is pressed (for example, the measurement of the bottom portion of the rim), the cross section of the groove of the rim It was difficult to get the shape.
  • the inventors irradiate the measurement light toward the groove of the rim of the eyeglass frame, receive the reflected light of the measurement light reflected by the groove of the rim of the eyeglass frame, and based on the reflected light, the eyeglass frame
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus provided with the structure which acquires the cross-sectional shape of the groove
  • the reflected light flux can not be received well from the groove of the rim depending on the type of the eyeglass frame, the dust attached to the eyeglass frame, etc. It has been found that it may be difficult to obtain the cross-sectional shape of the groove.
  • This indication makes it a technical subject to provide an eyeglass frame shape measuring device and an eyeglass frame shape measurement program which can acquire suitably the section shape of the rim in various types of eyeglass frames in view of the above-mentioned conventional technology.
  • this indication is characterized by having the following composition.
  • An eyeglass frame shape measuring device for measuring the shape of an eyeglass frame, including a light source, and the light source directed toward the groove of the rim of the eyeglass frame And a detector.
  • the light is emitted toward the groove of the rim of the eyeglass frame by the light emission optical system, and is reflected by the groove of the rim of the eyeglass frame.
  • a light receiving optical system that receives the reflected light beam of the measurement light beam by the detector; and an acquisition unit that acquires the cross-sectional shape of the groove of the rim of the eyeglass frame based on the reflected light beam received by the detector.
  • An eyeglass frame shape measurement program includes a light projection optical system having a light source and irradiating the measurement light beam from the light source toward the groove of the rim of the eyeglass frame; A light receiving optical system which is irradiated by the light emitting optical system toward the groove of the rim of the eyeglass frame and receives the reflected light beam of the measuring light beam reflected by the groove of the rim of the eyeglass frame by the detector And an acquisition means for acquiring the cross-sectional shape of the groove of the rim of the eyeglass frame based on the reflected light beam received by the detector, and measuring the shape of the eyeglass frame An eyeglass frame shape measurement program to be executed by the processor, wherein the cross-sectional shape acquired by the acquisition unit is executed by being executed by a processor of the The eyeglass frame shape measuring apparatus is caused to execute an interpolation step of interpolating the
  • FIGS. 1 to 15 are diagrams for explaining the configuration of the eyeglass frame shape measuring apparatus according to the present embodiment.
  • the depth direction of the spectacle frame shape measuring apparatus 1 (vertical direction of the spectacle frame when the spectacles are arranged) is perpendicular to the Y direction and the depth direction (in the case of the spectacle frame when the spectacles are arranged
  • the horizontal direction on the horizontal plane is taken as the X direction
  • the vertical direction front and back direction of the eyeglass frame when the glasses are arranged
  • the item classified by ⁇ > below may be used independently or in connection.
  • terminal control software program
  • program program
  • a control device for example, a CPU or the like
  • the rim portion of the eyeglass frame F is disposed in the downward direction, and the temple portion of the eyeglass frame F is in the upward direction. That is, when the eyeglass frame F is disposed in the eyeglass frame shape measuring apparatus 1, the left and right rims FL, FR of the eyeglass frame F are downward, and the left and right temples FTL, FTR of the eyeglass frame F are upward.
  • a configuration in which the rim portion of the eyeglass frame F is disposed downward and the temple portion of the eyeglass frame F is disposed upward is described as an example. It is not limited to this.
  • the rim portion of the eyeglass frame F may be disposed in the upward direction, and the temple portion of the eyeglass frame F may be disposed in the downward direction.
  • the upper ends of the left and right rims FL and FR of the eyeglass frame F are downward, and the lower ends of the left and right rims FL and FR of the eyeglass frame F are upward
  • the eyeglass frame F is disposed in the eyeglass frame shape measuring device 1
  • the upper ends of the left and right rims FL and FR of the eyeglass frame F are upward, and the lower ends of the left and right rims FL and FR of the eyeglass frame F are downward It may be arranged to be
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus measures the shape of the eyeglass frame.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus includes a light projecting optical system (for example, a light projecting optical system 30a).
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus includes a light receiving optical system (for example, a light receiving optical system 30b).
  • the eyeglass frame shape measurement apparatus includes an acquisition unit (for example, the control unit 50).
  • the projection optical system has a light source (for example, the light source 31).
  • the projection optical system emits a measurement light flux from the light source toward the groove of the rim of the eyeglass frame.
  • a light source for example, the light source 31.
  • the projection optical system emits a measurement light flux from the light source toward the groove of the rim of the eyeglass frame.
  • at least one light source may be used as the light source.
  • one light source may be used.
  • a plurality of light sources may be used.
  • the light receiving optical system has a detector (eg, detector 37).
  • the light receiving optical system is irradiated toward the groove of the rim of the eyeglass frame by the projection optical system, and the detector receives the reflected light beam of the measurement light beam reflected by the groove of the rim of the eyeglass frame by the detector.
  • the detector receives the reflected light beam of the measurement light beam reflected by the groove of the rim of the eyeglass frame by the detector.
  • at least one detector may be used as the detector.
  • one detector may be used.
  • multiple detectors may be used.
  • the acquisition means processes the reflected luminous flux of the measurement luminous flux reflected by the groove of the rim of the spectacle frame, and based on the reflected luminous flux of the measurement luminous flux received by the detector, the sectional shape of the groove of the rim of the spectacle frame To get
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus emits light toward the rim of the eyeglass frame by the light emitting optical system that emits measurement light flux from the light source toward the rim of the eyeglass frame;
  • the light receiving optical system receives the reflected light flux of the measurement light flux reflected by the rim of the eyeglass frame by the detector, and acquisition means for processing the reflected light flux to acquire the cross-sectional shape of the rim of the eyeglass frame.
  • the cross-sectional shape of the rim of the eyeglass frame can be easily and accurately obtained.
  • measurement can be performed quickly.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus includes interpolation means (for example, the control unit 50) that interpolates the missing portion of the rim in the cross-sectional shape acquired by the acquisition means.
  • interpolation means for example, the control unit 50
  • the control unit 50 interpolates the missing portion of the rim in the cross-sectional shape acquired by the acquisition means.
  • the projection optical system may have an optical member.
  • the measurement light beam emitted from the light source may be irradiated toward the groove of the rim of the eyeglass frame through each optical member.
  • the optical member at least one of a lens, a mirror, a diaphragm, and the like may be used.
  • the depth of focus can be increased by using a stop.
  • an optical member it is not limited to the said optical member, A different optical member may be used.
  • the projection optical system may have a configuration in which the measurement light beam emitted from the light source is irradiated toward the groove of the rim of the eyeglass frame.
  • it may be configured to have at least a light source.
  • the measurement light flux emitted from the light source may be irradiated toward the groove of the rim of the eyeglass frame via a member different from the optical member.
  • the measuring beam emitted toward the groove of the rim of the eyeglass frame by the projection optical system may be irradiated with a spot-like measuring beam.
  • the measurement light beam irradiated toward the groove of the rim of the eyeglass frame by the light projection optical system may be a measurement light beam having a width (for example, a measurement light beam in the form of a slit).
  • the projection optical system may irradiate the measurement light flux from the light source toward the groove of the rim of the eyeglass frame to form a light cutting surface on the groove of the rim.
  • the light receiving optical system detects a reflected light beam (eg, scattered light, specular light, etc.) of the groove of the rim obtained by reflection (eg, scattering, specular reflection, etc.) on the groove of the rim of the light cutting surface
  • a reflected light beam eg, scattered light, specular light, etc.
  • reflection e.g. scattering, specular reflection, etc.
  • a light source that emits a slit-like light beam may be used.
  • a point light source may be used.
  • the measurement light flux having a width may be irradiated by arranging a plurality of point light sources side by side.
  • the measurement light flux having a width may be irradiated by scanning a spot-like light flux emitted from a point light source.
  • the measurement light flux having a width may be irradiated by diffusing the spot-like measurement light flux emitted from the point light source by the optical member.
  • the light source for example, various types of light sources different from the above-described light source may be used to emit a measurement light beam having a width.
  • the light receiving optical system may have an optical member.
  • the reflected luminous flux of the measurement luminous flux reflected by the groove of the rim of the eyeglass frame may be received by the detector through each optical member.
  • the optical member at least one of a lens, a mirror, a diaphragm, and the like may be used.
  • an optical member it is not limited to the said optical member, A different optical member may be used.
  • the light receiving optical system may have a configuration in which the reflected light beam of the measurement light beam reflected by the groove of the rim of the eyeglass frame is received by the detector.
  • the configuration may have at least a detector.
  • the detector may be configured to receive the reflected light flux of the measurement light flux reflected by the groove of the rim of the eyeglass frame via a member different from the optical member.
  • the acquisition means processes the reflected luminous flux of the measurement luminous flux reflected by the groove of the rim of the spectacle frame to acquire the cross-sectional shape of the groove of the rim of the spectacle frame.
  • the acquisition unit may acquire the cross-sectional shape from the light reception position of the reflected light beam in the detector.
  • the cross-sectional shape may be an image (image data). That is, the cross-sectional shape may be a cross-sectional image.
  • the cross-sectional shape may be a signal (signal data). That is, the cross-sectional shape may be signal data of the cross-sectional shape.
  • the two-dimensional cross-sectional shape is a cross-sectional shape obtained by irradiating the measurement light beam to the groove of the rim at one radial angle and receiving the reflected light beam.
  • the two-dimensional cross-sectional shape is obtained by cutting the groove of the rim in the direction (the Z direction in the present embodiment) perpendicular to the radial direction (the XY direction in the present embodiment) of the eyeglass frame It is the shape of a surface.
  • the two-dimensional cross-sectional shape may be acquired by scanning the measurement light beam along the cross position (in the present embodiment, the Z direction).
  • the three-dimensional cross-sectional shape is a cross-sectional shape acquired by acquiring a two-dimensional cross-sectional shape for each radius vector angle.
  • the three-dimensional cross-sectional shape may be obtained by scanning the measurement light beam for obtaining the two-dimensional cross-sectional shape in the radial plane direction (in the present embodiment, the XY plane direction) of the eyeglass frame .
  • the loss of light is obtained from the light reception result of the reflected light beam at a position around the lost position (for example, adjacent position)
  • the part may be interpolated.
  • the missing portion may be interpolated by approximating the cross-sectional shape.
  • the cross-sectional shape may be re-acquired so that the lost portion is obtained.
  • the secondary cross-sectional shape is a rim at at least one location (one radius angle position) of the entire circumference of the rim of the eyeglass frame (all portions where the rim is formed at each radius angle)
  • a two-dimensional cross-sectional shape of the groove of may be acquired.
  • the two-dimensional cross-sectional shape may be obtained all around the rim of the spectacle frame.
  • the two-dimensional cross-sectional shape may be acquired at a plurality of positions (for example, the left end, the right end, the upper end, the lower end, etc.) of the rim of the eyeglass frame.
  • the two-dimensional cross-sectional shape may be acquired at a position of one radial angle all around the rim of the eyeglass frame.
  • the three-dimensional shape of the groove of the rim in at least a part of the entire circumference of the rim of the eyeglass frame (all portions where the rim is formed at each radial angle) may be acquired.
  • the three-dimensional cross-sectional shape may be obtained all around the rim of the spectacle frame.
  • the three-dimensional cross-sectional shape is obtained in a plurality of areas (for example, the left end area, the right end area, the upper end area, the lower end area, etc.) of the rim of the eyeglass frame May be Also, in this case, for example, the three-dimensional cross-sectional shape may be acquired in a partial region over the entire circumference of the rim of the eyeglass frame.
  • the two-dimensional cross-sectional shape of the rim of the eyeglass frame is acquired with respect to the entire circumference of the rim of the eyeglass frame.
  • the three-dimensional cross-sectional shape of the entire circumference of the rim of the eyeglass frame may be acquired by performing interpolation based on the two-dimensional cross-sectional shape (three-dimensional cross-sectional shape) of the part.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus may include a first changing unit (for example, the moving unit 210, the rotating unit 260).
  • the first changing means changes the irradiation position of the measurement light beam with respect to the groove of the rim of the eyeglass frame.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus may include a first control unit (for example, the control unit 50) that controls the first changing unit.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus includes a first change unit that changes the irradiation position of the measurement light beam to the groove of the rim of the eyeglass frame, and a first control unit that controls the first change unit. This makes it possible to irradiate the measurement light beam to the position of the groove of any rim in the spectacle frame, and to obtain the cross-sectional shape of the groove of the rim at any position.
  • the first changing unit may be configured to change the relative position between the irradiation position of the measurement light beam and the groove of the rim of the eyeglass frame.
  • the first change unit may change at least one of the irradiation position of the measurement light beam and the position of the groove of the rim of the eyeglass frame.
  • the first changing unit may be configured to change the position of the groove of the rim of the eyeglass frame with respect to the irradiation position of the measurement light beam. That is, the first changing unit may be configured to change the position of the eyeglass frame with respect to the irradiation position of the measurement light beam.
  • the first change unit may change the irradiation position of the measurement light flux with respect to the position of the groove of the rim of the eyeglass frame.
  • the first changing unit may be configured to change both the position of the groove of the rim of the eyeglass frame and the irradiation position of the measurement light flux.
  • the position of the projection optical system may be the position of the optical axis (for example, the optical axis L1) of the projection optical system. That is, for example, the first changing means changes the relative position between the position of the optical axis of the light projecting optical system and the groove of the rim of the eyeglass frame, so that the relative position between the irradiation position of the measurement light beam and the groove of the rim of the eyeglass frame The position may be changed.
  • the position of the projection optical system for example, the position of the optical axis of the projection optical system
  • the position of the projection optical system and the spectacle frame The position of at least one of the position of the groove of the rim may be changed.
  • the position of the groove of the rim of the eyeglass frame relative to the position of the projection optical system may be changed.
  • the projection optical with respect to the position of the groove of the rim of the eyeglass frame It may be configured to change the position of the system.
  • the position of the light projection optical system and the position of the groove of the rim of the eyeglass frame the position of the light projection optical system and the position of the groove of the rim of the eyeglass frame The position of both may be changed.
  • the position of at least one member (for example, a light source, an optical member, other members, etc.) included in the light projection optical system is changed.
  • the first changing unit changes the position of the light projecting optical system with respect to the groove of the rim of the eyeglass frame by changing the position of at least a part (a part of the members) of the light projecting optical system.
  • the first control means changes the position of at least a part of the light projecting optical system by changing the first changing means, and changes the irradiation position of the measurement light beam with respect to the groove of the rim of the eyeglass frame You may do so.
  • the first changing means is a first changing means for moving at least a part of the light projecting optical system
  • the first control means controls the first changing means to At least a part of the projection optical system is moved with respect to the groove of the rim of the frame to change the irradiation position of the measurement light beam with respect to the groove of the rim of the spectacle frame.
  • an X direction driving unit having a drive source (for example, a motor) and moving the position of at least a portion of the light projecting optical system in the X direction
  • a Y direction driving means having a drive source (for example, a motor) and moving the position of at least a part of the light projecting optical system in the Y direction
  • a Z direction driving unit having a drive source (for example, a motor) and moving the position of at least a part of the light projecting optical system in the Z direction
  • a drive source for example, a motor
  • rotational driving means for example
  • the configuration for changing the position of at least a part of the light projecting optical system may be at least one of an X direction driving unit, a Y direction driving unit, a Z direction driving unit, and a rotation driving unit.
  • the configuration for changing the position of at least a part of the light projecting optical system is not limited to the above driving means, and the driving means is used in a direction different from the above direction for at least a part of the light projecting optical system. It may be a configuration.
  • a scanning unit that has an optical scanner and scans the optical scanner may be used.
  • the irradiation position of the measurement light beam may be changed by changing the angle of the light scanner. That is, for example, the irradiation position of the measurement light beam may be changed by changing the position of the light scanner.
  • an X-direction drive unit having a drive source (for example, a motor) and moving the eyeglass frame in the X direction may be used.
  • Y-direction drive means may be provided which has a drive source (for example, a motor) and moves the eyeglass frame in the Y direction.
  • Z-direction drive means having a drive source (for example, a motor) and moving the eyeglass frame in the Z direction may be used.
  • a rotational drive means having a drive source (for example, a motor) and rotating the eyeglass frame may be used.
  • the configuration of changing the position of the groove of the rim of the eyeglass frame may be at least one of an X direction drive unit, a Y direction drive unit, a Z direction drive unit, and a rotation drive unit.
  • the configuration for changing the position of the groove of the rim of the eyeglass frame is not limited to the above drive means, and the drive means is used in a direction different from the above direction for the position of the groove of the rim of the eyeglass frame It is also good.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus may be provided with a second changing unit (for example, the moving unit 210, the rotating unit 260).
  • the second changing unit changes the light receiving position of the reflected light beam by the light receiving optical system.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus may include a second control unit (for example, the control unit 50) that controls the second changing unit.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus includes a second changing unit that changes the light receiving position of the reflected light beam by the light receiving optical system, and a second control unit that controls the second changing unit.
  • the light receiving position can be changed to a position where the cross-sectional shape of the groove of the rim can be favorably acquired, and the cross-sectional shape of the rim of the eyeglass frame can be acquired more accurately.
  • the second changing unit may change the relative position between the position of the light receiving optical system and the groove of the rim of the eyeglass frame to change the light receiving position of the reflected light beam by the light receiving optical system.
  • the position of the light receiving optical system may be the position of the optical axis (for example, the optical axis L2) of the light receiving optical system. That is, for example, the second changing unit changes the relative position between the position of the optical axis of the light receiving optical system and the groove of the rim of the eyeglass frame, so that the relative position between the irradiation position of the measurement light beam and the groove of the rim of the eyeglass frame May be changed.
  • the second changing unit may change at least one of the position of the light receiving optical system and the position of the groove of the rim of the eyeglass frame.
  • the second changing unit may be configured to change the position of the groove of the rim of the eyeglass frame with respect to the position of the light receiving optical system. That is, the second changing unit may be configured to change the position of the eyeglass frame with respect to the position of the light receiving optical system.
  • the second changing unit may be configured to change the position of the light receiving optical system with respect to the position of the groove of the rim of the eyeglass frame.
  • the second changing unit may be configured to change both the position of the groove of the rim of the eyeglass frame and the position of the light receiving optical system.
  • the second changing unit is configured to change the position of the light receiving optical system with respect to the groove of the rim of the eyeglass frame by changing the position of at least a part (a part of the members) of the light receiving optical system. It is also good.
  • the second control means changes the position of at least a part of the light receiving optical system by controlling the second changing means, and changes the light receiving position of the reflected light beam by the light receiving optical system. Good.
  • an X direction driving unit having a drive source (for example, a motor) and moving the position of at least a part of the light receiving optical system in the X direction.
  • a drive source for example, a motor
  • Y direction driving unit that has a drive source (for example, a motor) and moves the position of at least a part of the light receiving optical system in the Y direction.
  • a Z direction driving unit having a drive source (for example, a motor) and moving the position of at least a part of the light receiving optical system in the Z direction.
  • a rotational drive unit having a drive source (for example, a motor) and rotating at least a part of the light receiving optical system may be used.
  • the configuration for changing the position of at least a part of the light receiving optical system may be at least one of an X direction drive unit, a Y direction drive unit, a Z direction drive unit, and a rotation drive unit.
  • the configuration for changing the position of at least a part of the light receiving optical system is not limited to the above driving means, and the driving means is used in a direction different from the above direction for at least a part of the light receiving optical system. It may be.
  • a scanning unit that has an optical scanner and scans the optical scanner may be used.
  • the light receiving position of the reflected light beam by the light receiving optical system may be changed by changing the angle of the light scanner. That is, for example, the light receiving position of the reflected light beam by the light receiving optical system may be changed by changing the position of the light scanner.
  • control of the first changing unit and the control of the second changing unit may be controlled at different timings.
  • control of the first change means and the control of the second change means may be controlled integrally.
  • at least a part of the members of the configuration of the first changing unit and the configuration of the second changing unit may be used in common.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus includes interpolation means that interpolates the missing portion of the rim in the cross-sectional shape acquired by the acquisition means.
  • the interpolation means may interpolate the missing part of any part of the rim.
  • any part of the rim may be a shoulder of the rim, a groove of the rim, an outer surface portion of the rim (the outer portion of the rim), and / or a rib of the rim.
  • the shoulder of the rim may be at least one of the shoulder on the front of the rim and the shoulder on the rear of the rim.
  • the groove of the rim may be the slope of the groove of the rim and / or the bottom of the groove of the rim.
  • the slope of the groove of the rim may be either the front slope of the groove of the rim or the rear slope of the groove of the rim.
  • the interpolation means may at least interpolate the missing portion of the groove of the rim in the cross-sectional shape.
  • the cross-sectional shape in the groove portion of the rim can be acquired more reliably, and a good cross-sectional shape can be acquired.
  • it is more preferable to obtain the cross-sectional shape of the groove portion of the rim well it is useful.
  • the interpolation means may interpolate the cross-sectional shape based on the operation signal from the operation means.
  • the examiner operates the operation means based on the acquired cross-sectional shape, and the operation signal is output by the operation of the operation means.
  • the interpolation means may interpolate the cross-sectional shape based on the output operation signal.
  • the examiner may operate the operation means to select a defective portion and interpolate the defective portion (for example, draw a line).
  • the examiner may perform an operation for interpolation based on the determination information on the missing portion.
  • the determination information may be a determination result (a result indicating the presence or absence of the missing portion) described later.
  • the determination information may be guide information based on the determination result (for example, warning information indicating that a missing part exists, information prompting confirmation of the missing part, information prompting interpolation of the missing part, interpolation of the missing part Information indicating the method of
  • the determination information is not limited to the above configuration, and any information that can identify the presence or absence of the missing portion may be used.
  • the interpolation means may perform interpolation based on previously set rim information.
  • the interpolation means may estimate and interpolate the shape of the missing portion from preset rim information.
  • the interpolation means may perform interpolation so that the rim information set in advance and the shape of the missing portion are similar.
  • the interpolation unit may estimate the shape of the missing portion from the preset rim information and interpolate.
  • the preset rim information may be information on at least a part of the rim to be measured.
  • the preset rim information may be design data (data indicating the structure of the rim) of an eyeglass frame to be measured.
  • the rim information set in advance may be shape data of the groove (for example, shape data indicating at least one of a triangle, a quadrangle, a circle, etc.).
  • the rim information may be acquired by the eyeglass frame shape measuring device receiving the rim information from another device.
  • the rim information may be input by the examiner, and may be acquired by the rim shape measuring apparatus receiving the input rim information.
  • desired rim information may be selected from rim information stored in the memory by the examiner, and rim information may be input.
  • the rim information is transmitted from the memory and the rim information is input by, for example, the examiner connecting the memory detachable to the eyeglass frame shape measuring device to the eyeglass frame shape measuring device You may
  • the interpolation means interpolates based on the measurement result measured by tracing the contour of the rim by pressing and moving the measuring element to the rim at at least one or more measurement positions in the eyeglass frame. You may do it.
  • a measuring element is inserted into the rim of the eyeglass frame, and the measuring element is pressed against the rim and moved to trace the rim contour and measure the rim shape
  • An optical system may be provided.
  • the shape of the rim may be measured using the above-mentioned measurement optical system provided in an apparatus different from the eyeglass frame shape measurement apparatus.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus may receive measurement results obtained by different devices.
  • the interpolation means may interpolate the missing portion of the rim in the cross-sectional shape based on the cross-sectional shape in the vicinity of the missing portion of the rim in the cross-sectional shape. As a result, for example, it is possible to easily perform interpolation of a missing portion without requiring control for using an extra configuration or configuration.
  • the interpolation means interpolates so that the cross-sectional shape of the rim of the missing portion is estimated from the cross-sectional shape of the near portion You may do it.
  • the interpolation unit may acquire an approximate curve that matches the cross-sectional shape in the vicinity, and interpolate the deficient portion with the approximate curve.
  • the interpolation means may interpolate the defect portion by connecting the cross-sectional shapes in the vicinity of the defect portion with at least one of a straight line and a curve. Good.
  • the method of interpolating the missing portion of the rim in the cross-sectional shape is not limited to the above method based on the nearby cross-sectional shape, as long as the missing portion is acquired using the nearby cross-sectional shape.
  • the interpolation unit may separately acquire the cross-sectional shape and interpolate the missing portion of the rim based on the acquired cross-sectional shape.
  • the acquiring unit may acquire a sectional shape (second sectional shape) different from the sectional shape (first sectional shape). That is, the acquisition unit may acquire a second cross-sectional shape different from the first cross-sectional shape.
  • the interpolation unit may interpolate the missing portion of the rim in the cross-sectional shape based on a cross-sectional shape different from the cross-sectional shape.
  • the interpolation means may interpolate the missing portion of the cross-sectional shape by combining different cross-sectional shapes as a configuration to interpolate the missing portion of the rim in the cross-sectional shape based on different cross-sectional shapes.
  • the interpolation means may interpolate the missing portion of the rim in the cross-sectional shape by combining different cross-sectional shapes with respect to the cross-sectional shape.
  • cross-sectional shape interpolation can be performed by synthesis processing, it is possible to easily obtain a favorable cross-sectional shape without requiring complicated arithmetic processing and the like.
  • the combining process may be performed on at least the defective portion.
  • the defect portion may be synthesized based on different cross-sectional shapes.
  • the interpolation unit may extract a cross-sectional shape that conforms to the defect portion from different cross-sectional shapes, and perform synthesis processing on the defect portion of the cross-sectional shape in which the defect portion is generated.
  • the present invention is not limited to the above method, and the combining process may be performed using various methods.
  • the interpolation means may be configured to synthesize the whole between the shapes with a cross-sectional shape different from the cross-sectional shape in which the defect portion is generated.
  • the interpolation means adds the entire cross-sectional shape by adding different cross-sectional shapes (for example, cross-sectional images as an example) to the cross-sectional shapes (as an example, cross-sectional image) in which the missing portion occurs. You may do it.
  • the interpolation means may combine the entire shape by performing an averaging process on the cross-sectional shape in which the defective portion is generated and the cross-sectional shape different from the cross-sectional shape.
  • the luminance value of the cross-sectional shape may be subjected to the addition processing or the addition averaging processing.
  • the present invention is not limited to the above method, and various methods may be used to perform combining processing.
  • the interpolation means may be configured to interpolate the shape of the missing portion based on different cross-sectional shapes, as a configuration for interpolating the missing portion of the rim in the cross-sectional shape based on different cross-sectional shapes.
  • the interpolation means may perform interpolation so that different cross-sectional shapes and shapes of the defect portion are similar.
  • the interpolation means may estimate and interpolate the shape of the defect portion from different cross-sectional shapes.
  • the configuration for interpolating the missing portion of the rim in the cross-sectional shape based on different cross-sectional shapes is not limited to the above configuration.
  • any cross-sectional shape may be used as long as it is configured to interpolate a missing portion of the cross-sectional shape.
  • timing to acquire different cross-sectional shapes it may be acquired during measurement. In this case, for example, continuously different cross-sectional shapes may be obtained at the measurement position where the cross-sectional shape in which the defect portion is generated during the measurement is obtained. Further, as the timing for acquiring different cross-sectional shapes, it may be acquired after the measurement is completed. In this case, for example, after the measurement is completed, different cross-sectional shapes may be acquired by performing re-measurement on the cross-sectional shape in which the defect portion is generated during the measurement.
  • the timing at which different cross-sectional shapes are acquired is not limited to the above timing, and it may be timing at which cross-sectional shapes for interpolating missing parts can be acquired.
  • the different cross-sectional shape is a cross-sectional shape obtained by changing the imaging condition at the same measurement position as the measurement position at which the cross-sectional shape (the cross-sectional shape including the defect portion) in which the defect portion is generated is acquired. It is also good.
  • the different cross-sectional shapes may be cross-sectional shapes acquired under different imaging conditions from the imaging conditions at the time of acquiring the cross-sectional shape at the same measurement position as the measurement position at which the cross-sectional shape was acquired. .
  • by acquiring the cross-sectional shape under different imaging conditions it becomes possible to favorably acquire the cross-sectional shape of the defect portion. This makes it possible to interpolate the cross-sectional shape in which the deficient portion is generated based on the cross-sectional shape of the deficient portion, so that the cross-sectional shape can be interpolated more accurately.
  • the different cross-sectional shape may be a cross-sectional shape obtained at a measurement position different from the measurement position at which the cross-sectional shape in which the defect portion occurs is obtained.
  • the different measurement positions may be measurement positions in the vicinity of the measurement position at which the cross-sectional shape in which the defect portion is generated is acquired.
  • the different measurement positions are not limited to the measurement positions in the vicinity of the measurement position at which the cross-sectional shape in which the defect portion occurs is acquired, and may be different measurement positions.
  • cross-sectional shapes are cross-sectional shapes acquired when at least one of the imaging condition and the measurement position is changed with respect to the case where the cross-sectional shape in which the defect portion is generated is acquired It is also good.
  • the change of the imaging condition may be a change of at least one of the brightness level of the reflected light received by the detector and the incident angle of the measurement light flux to the rim.
  • the change of the imaging conditions is not limited to the above configuration.
  • the change of the imaging condition may be a change that causes a change in the acquired cross-sectional shape.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus measures the luminance of the reflected light received by the detector.
  • a brightness control means may be provided to control (change) the level (brightness value). For example, even if the cross-sectional shape can not be obtained at a portion where the brightness level is low in the cross-sectional shape and the defect portion is generated by changing the brightness level, the brightness level is increased to increase the brightness level. By performing control, it is possible to obtain the cross-sectional shape of the defect portion.
  • the control of the luminance level is performed to lower the luminance level. By doing this, it is possible to obtain the cross-sectional shape of the defect portion.
  • the brightness control means may be configured to control at least one of the members included in the eyeglass frame shape measuring apparatus.
  • each member may be at least one of a light source, a detector, a lens, a reflecting member, and the like.
  • the brightness control means may control the brightness level of the reflected light received by the detector by controlling the projection light amount of the measurement light from the light source. Also, for example, the brightness control means may control the brightness level of the reflected light received by the detector by controlling the gain of the detector.
  • the brightness control means may be configured to provide a member for adjusting the light amount of the measurement light in the light path from the light source to the detector (in the light path of the light projecting optical system and the light receiving optical system).
  • a dedicated member for adjusting the amount of light may be provided.
  • a dedicated member a light quantity adjustment filter or an optical attenuator may be used.
  • any one of the light emitting optical system and the light receiving optical system may be used as the light amount adjusting member.
  • the brightness control means may control the brightness level of the reflected light received by the detector by controlling the exposure time in the detector.
  • the brightness control means may control the brightness level of the reflected light received by the detector by controlling the light emission time of the light source.
  • the brightness control means controls the brightness level of the reflected light by any one of the configuration for changing the distance from the light source to the rim, the configuration for changing the distance from the rim to the detector, and You may
  • at least one of the first change unit and the second change unit is controlled to change the irradiation position of the measurement light beam to the groove of the rim of the eyeglass frame, and control; At least one of the above may be implemented when the light receiving position of At this time, for example, the brightness control means may be used as at least one of the first control means and the second control means.
  • the brightness control means may be separately provided.
  • the brightness control unit is not limited to the above configuration.
  • the brightness control means may be configured to be able to control the brightness level of the reflected light received by the detector.
  • the brightness control unit may be at least one of the above configurations.
  • the brightness control means may be configured to include one of the above configurations.
  • the brightness control unit may combine a plurality of configurations among the above configurations.
  • the brightness control means may perform control of the projection light amount of the measurement light from the light source and adjustment of the gain of the detector.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus measures the incident angle of the measurement light beam directed toward the groove of the rim of the eyeglass frame
  • the incident angle control means for example, control part 50
  • the incident angle control means may control the incident angle of the measurement light beam by controlling the incident angle changing means.
  • the incident angle changing means at least one of a first changing means and a second changing means may be used.
  • the incident angle changing unit may be separately provided with a dedicated configuration.
  • a partial configuration of at least one of the first changing unit and the second changing unit and a dedicated configuration may be used.
  • the incident angle changing means may change the incident angle of the measurement light beam by rotating the measurement light beam on the XY plane.
  • the acquired different cross-sectional shapes may be used for interpolation after correcting at least one of distortion and inclination (particularly distortion).
  • the incident angle changing means may change the incident angle of the measurement light beam by rotating the measurement light beam in the Z direction.
  • the acquired different cross-sectional shapes may be used for interpolation after correcting at least one of distortion and inclination (particularly, inclination).
  • the incident angle of the measurement light beam may be changed by the combination of the rotation on the XY plane and the rotation in the Z direction.
  • the acquired different cross-sectional shapes may be used for interpolation after correcting at least one of distortion and inclination.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus may determine whether or not to perform interpolation by determining whether or not there is a missing portion.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus may be provided with a defect portion determination unit that determines whether a defect portion in the cross-sectional shape exists by analyzing and processing the cross-sectional shape.
  • the interpolation means may interpolate the missing part of the rim in the cross-sectional shape based on the determination result by the missing part determining means. For example, by performing the determination process, it is possible to specify the defective portion in the cross-sectional shape more accurately. For this reason, the defect part in cross-sectional shape can be interpolated more reliably, and a favorable cross-sectional shape can be acquired easily.
  • the determination unit may determine whether or not there is a defect in the cross-sectional shape based on whether the luminance level of the acquired cross-sectional shape satisfies the allowable level.
  • the determination unit may detect the brightness level of the cross-sectional shape in the acquired cross-sectional shape.
  • the determination unit may determine whether the luminance level in the cross-sectional shape satisfies the allowable level for each region (portion) on the cross-sectional shape.
  • the determination unit may determine as a defective portion in a region where the luminance level does not satisfy the allowable level.
  • the above-mentioned permissible level may be a preset permissible level.
  • an allowable level at which the cross-sectional shape can be detected may be set in advance by simulation, experiment, or the like.
  • the determination method it is not limited to the said method.
  • the determination method may be any method that can determine whether or not the cross-sectional shape can be detected.
  • the determining unit determines that there is a missing portion in a region of a certain range, it may determine that the missing portion is present as a final determination result. Further, for example, when it is determined that the defect portion exists even in one place (a part), the determination unit may determine that the defect portion exists as a final determination result.
  • the interpolation means may interpolate the acquired cross-sectional shape during measurement of the rim of the eyeglass frame. That is, in parallel with the acquisition of the cross-sectional shape by measurement of the rim of the eyeglass frame, interpolation of the cross-sectional shape in which the missing portion is generated may be performed. Also, for example, the interpolation means may perform interpolation in the missing portion of the acquired cross-sectional shape after the measurement of the rim of the eyeglass frame is completed.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus may acquire the shape (shape data) of the eyeglass frame.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus may include an analysis unit (for example, the control unit 50).
  • the first control means may control the first changing means to irradiate the measurement luminous flux to the groove of the rim at a plurality of radius vector angles of the spectacle frame.
  • the acquisition means may acquire the cross-sectional shape of the groove of the rim at a plurality of radius vector angles of the eyeglass frame.
  • the interpolation unit may interpolate the missing portion of the cross-sectional shape.
  • the analysis means detects the bottom of the groove of the rim at a plurality of radius angles of the eyeglass frame from the cross-sectional shape of the groove of the rim at a plurality of radius angles of the eyeglass frame, and detects the glasses
  • the shape of the frame may be acquired.
  • the shape of the eyeglass frame may be a two-dimensional shape (two-dimensional shape data).
  • the two-dimensional shape is represented by data in the radial direction (XY direction) of the eyeglass frame.
  • the shape of the eyeglass frame may be a three-dimensional shape (three-dimensional shape data).
  • the three-dimensional shape is represented by data in a radial direction (XY direction) of the eyeglass frame and a direction (Z direction) perpendicular to the radial direction.
  • the analysis unit may detect the position of the groove of the rim in the X and Y directions from the three-dimensional shape to acquire the two-dimensional shape.
  • the two-dimensional shape may be obtained by projecting the three-dimensional shape onto the XY plane.
  • the first control means controls the first changing means to irradiate the measurement luminous flux to the groove of the rim at a plurality of radius vector angles of the eyeglass frame.
  • An acquisition means acquires the cross-sectional shape of the groove
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus detects the bottom of the groove of the rim at a plurality of radius vector angles of the eyeglass frame from the cross-sectional shape of the groove of the rim at a plurality of radius vector angles of the eyeglass frame.
  • An analysis means for acquiring the shape of the eyeglass frame is provided. This makes it possible to prevent the measuring element from coming off the groove of the lens frame and making it impossible to measure depending on the eyeglass frame as in the conventional case, and the eyeglass frame can be accurately and easily for eyeglass frames of various shapes. You can get the shape of.
  • the shape of the eyeglass frame may be obtained in at least a partial region of the entire circumference of the rim of the eyeglass frame (all portions where the rim is formed at each radial angle).
  • the shape of the eyeglass frame may be obtained all around the rim of the eyeglass frame.
  • the shape of the eyeglass frame is obtained in a plurality of areas (for example, the left end area, the right end area, the upper end area, the lower end area, etc.) of the entire rim of the eyeglass frame. May be Also, in this case, for example, the shape of the eyeglass frame may be acquired in a partial region around the entire circumference of the rim of the eyeglass frame.
  • the shape of the eyeglass frame was acquired when it is desired to acquire the shape of the eyeglass frame all around the rim of the eyeglass frame
  • the shape of the entire circumference of the rim of the eyeglass frame may be acquired by performing interpolation based on the shape of the part.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus may acquire a three-dimensional cross-sectional shape.
  • the first control means controls the first changing means to irradiate the measurement luminous flux to the groove of the rim at a plurality of radius vector angles of the eyeglass frame.
  • the acquiring unit may acquire the three-dimensional cross-sectional shape by acquiring cross-sectional shapes of the groove of the rim at a plurality of radius vector angles of the eyeglass frame.
  • the acquiring unit may acquire the three-dimensional cross-sectional shape by using the cross-sectional shape obtained by interpolating the deficient portion and the cross-sectional shape in which the deficient portion does not exist.
  • the first control means controls the first changing means to irradiate the measurement luminous flux to the groove of the rim at a plurality of radius vector angles of the eyeglass frame.
  • An acquisition means acquires the cross-sectional shape of the groove
  • the three-dimensional cross-sectional shape of the eyeglass frame can be easily and accurately obtained.
  • an acquisition unit For example, at least one of an acquisition unit, a first control unit, a second control unit, an interpolation unit, a brightness control unit, an incident angle control unit, a determination unit, and an analysis unit is used in common. May be configured. Also, for example, in a configuration in which an acquisition unit, a first control unit, a second control unit, an interpolation unit, a brightness control unit, an incident angle control unit, a determination unit, and an analysis unit are separately provided. It may be.
  • the cross-sectional shape of the groove of the rim of the eyeglass frame acquired by the eyeglass frame shape measuring apparatus may be used for processing of the lens.
  • the lens processing apparatus for example, the lens processing apparatus 300 which processes the periphery of a lens acquires the cross-sectional shape of the groove of the rim of the eyeglass frame acquired by the eyeglass frame shape measuring apparatus.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus may have transmitting means, and the transmitting means may transmit the sectional shape of the groove of the rim of the eyeglass frame to the lens processing apparatus.
  • the lens processing apparatus may have a receiving unit to receive the cross-sectional shape of the groove of the rim of the eyeglass frame transmitted from the eyeglass frame shape measuring apparatus.
  • the lens processing device may be configured to include the eyeglass frame shape measuring device.
  • the lens processing device and the eyeglass frame shape measuring device may be separate devices.
  • the cross-sectional shape of the groove of the rim of the eyeglass frame may be transmitted from the eyeglass frame shape measuring device to the lens processing device by at least one of wired and wireless.
  • the lens processing apparatus may include processing control means (for example, the control unit 310).
  • the processing control means may process the periphery of the lens based on the cross-sectional shape of the groove of the rim of the eyeglass frame acquired by the eyeglass frame shape measuring device.
  • the processing control means may control the lens holding means for holding the lens and the processing tool to process the periphery of the lens based on the cross-sectional shape of the groove of the rim of the eyeglass frame.
  • the lens processing apparatus includes processing control means for processing the periphery of the lens based on the cross-sectional shape of the groove of the rim of the eyeglass frame.
  • processing control means for processing the periphery of the lens based on the cross-sectional shape of the groove of the rim of the eyeglass frame.
  • FIG. 1 is a schematic view of an eyeglass frame shape measuring apparatus.
  • FIG. 2 is a top view of the frame holding unit with the eyeglass frame held.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus 1 includes the frame holding unit 10 and the measuring unit 20.
  • the frame holding unit 10 holds the eyeglass frame F in a desired state.
  • the measurement unit 20 irradiates the measurement light flux toward the groove of the rim of the eyeglass frame F (for example, the left rim FL, the right rim FRs) held by the frame holding unit 10 and receives the reflected light flux. , And is used to obtain the cross-sectional shape of the groove of the rim of the eyeglass frame F.
  • the measurement unit 20 is disposed below the frame holding unit 10.
  • a switch unit 4 having a switch for starting measurement and the like is disposed on the front side of the casing of the eyeglass frame shape measuring apparatus 1.
  • a touch panel type display 3 is disposed on the rear side of the casing of the eyeglass frame shape measuring apparatus 1.
  • layout data of the lens with respect to the lens-shaped data, processing conditions of the lens, and the like are input by the panel unit 3.
  • the acquisition result (cross-sectional shape of groove of rim, eyeglass frame shape, etc.) obtained by the eyeglass frame shape measuring device 1 and the data input by the display 3 are transmitted to the lens processing device.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus 1 may be configured to be incorporated in a lens processing apparatus, as in Japanese Patent Laid-Open No. 2000-314617 and the like.
  • a measurement unit 20 is provided below the frame holding unit 10.
  • the front slider 102 and the rear slider 103 for holding the eyeglass frame F horizontally are placed on the holding portion base 101.
  • horizontal may be substantially horizontal.
  • the front slider 102 and the rear slider 103 are slidably disposed opposite to each other on the two rails 111 with the center line CL at the center, and always in the direction toward the both center lines CL by the spring 113 It is being pulled.
  • clamp pins 130a and 130b for clamping the rim of the eyeglass frame F from its thickness direction are disposed at two positions.
  • clamp pins 131a and 131b for clamping the rim of the eyeglass frame F from its thickness direction are disposed at two positions.
  • a known template holding jig is disposed at a predetermined mounting position 140 and used.
  • the configuration of the frame holding unit 10 for example, a known one described in Japanese Patent Laid-Open No. 2000-314617 or the like can be used.
  • the lower side of the rim at the time of wearing is positioned on the front slider 102 side, and the upper side of the rim is positioned on the rear slider 103 side.
  • the eyeglass frame F is held in a predetermined measurement state by clamp pins located on the lower and upper sides of the left and right rims, respectively.
  • the configuration of the clamp pins 130a and 130b and the clamp pins 131a and 131b has been described as an example of the configuration for regulating the position of the rim in the front-rear direction, but the present invention is not limited thereto.
  • Well known mechanisms may be used.
  • a configuration may be employed in which contact members (regulating members) having V-shaped grooves are respectively provided for the left and right rims.
  • the measurement unit 20 includes an eyeglass frame measurement optical system 30.
  • the eyeglass frame measuring optical system 30 includes a light projecting optical system 30a and a light receiving optical system 30b.
  • the projection optical system 30a and the light receiving optical system 30b are used to obtain the shape of the eyeglass frame and the cross-sectional shape of the groove of the rim of the eyeglass frame (details will be described later).
  • the measurement unit 20 includes a holding unit 25 that holds the light projecting optical system 30a and the light receiving optical system 30b.
  • the measurement unit 20 includes a moving unit 210 that moves the holding unit 25 in the XYZ directions (see, for example, FIGS. 3 to 5).
  • the measurement unit 20 includes a rotation unit 260 that rotates the holding unit 25 around the rotation axis L0 (see, for example, FIG. 6).
  • the XY direction is parallel to the measurement plane (radial radius direction of the rim) of the eyeglass frame F held by the frame holding unit 10, and the Z direction is the direction perpendicular to the measurement plane.
  • FIGS. 3 to 5 illustrate the configuration of the mobile unit 210.
  • FIG. 3 shows a perspective view of the moving unit 210 as viewed from above.
  • FIG. 4 shows a perspective view of the moving unit 210 as viewed from below.
  • FIG. 5 shows a top perspective view of the Z moving unit 220 and the Y moving unit 230 (a perspective view with the X moving unit 240 and the base portion 211 removed).
  • the moving unit 210 roughly includes a Z moving unit (Z direction driving unit) 220, a Y moving unit (Y direction driving unit) 230, and an X moving unit (X direction driving unit) 240.
  • the Z moving unit (Z direction driving means) 220 moves the holding unit 25 in the Z direction.
  • the Y moving unit 230 holds the holding unit 25 and the Z moving unit 220 and moves them in the Y direction.
  • the X moving unit 240 moves the holding unit 25 together with the Z moving unit 220 and the Y moving unit 230 in the X direction.
  • the X mobile unit 240 is roughly configured as follows.
  • the X moving unit 240 includes a guide rail 241 extending in the X direction below the base portion 211 having a rectangular frame extended in the horizontal direction (XY direction).
  • the Y base 230 a of the Y moving unit 230 is attached movably in the X direction along the guide rail 241.
  • a motor (drive source) 245 is attached to the base portion 211.
  • a feed screw 242 extending in the X direction is attached to the rotation shaft of the motor 245.
  • a nut portion 246 fixed to the Y base 230 a is screwed into the feed screw 242.
  • the Y base 230a is moved in the X direction.
  • the movement range of the X movement unit 240 in the X direction moves the Y base 230a on which the holding unit 25 is mounted to the left or right width of the eyeglass frame to enable measurement of the left and right lens frames of the eyeglass frame. It may have a possible length.
  • the Y movement unit 230 is roughly configured as follows.
  • a guide rail 231 extending in the Y direction is attached to the Y base 230a.
  • the Z base 220 a is mounted movably in the Y direction along the guide rail 231.
  • a Y movement motor (drive source) 235 and a feed screw 232 extending in the Y direction are rotatably attached to the Y base 230a.
  • the rotation of the motor 235 is transmitted to the feed screw 232 via a rotation transmission mechanism such as a gear.
  • a nut 227 attached to the Z base 220a is screwed into the feed screw 232.
  • the X moving unit 240 and the Y moving unit 230 constitute an XY moving unit.
  • the range in which the holding unit 25 is moved in the X and Y directions is larger than the measurable radius of the rim.
  • the movement position of the holding unit 25 in the XY direction is detected by the number of pulses for driving the motors 245 and 235 by the control unit 50 described later, and the first XY for detecting the position of the holding unit 25 in the XY direction.
  • the position detection unit is constituted by the motors 245 and 235 and the control unit 50.
  • a sensor such as the XY position detection unit of the holding unit 25, in addition to detection by pulse control of the motors 245 and 235, a sensor such as an encoder attached to the respective rotation shafts of the motors 245 and 235 may be used.
  • the Z moving unit 220 is roughly configured as follows.
  • a guide rail 221 extending in the Z direction is formed on the Z base 220a, and a moving base 250a to which the holding unit 25 is attached is held movably in the Z direction along the guide rail 221.
  • a pulse motor 225 for Z movement is attached to the Z base 220a, and a feed screw (not shown) extending in the Z direction is rotatably attached.
  • a feed screw (not shown) extending in the Z direction is rotatably attached.
  • it is screwed into a nut attached to the base 250 a of the holding unit 25.
  • the rotation of the motor 225 is transmitted to the feed screw 222 via a rotation transmission mechanism such as a gear, and the rotation of the feed screw 222 moves the holding unit 25 in the Z direction.
  • the movement position of the holding unit 25 in the Z direction is detected by the number of pulses by which the motor 225 is driven by the control unit 50 described later, and the Z position detection unit detects the position of the holding unit 25 in the Z direction. It consists of 50.
  • a sensor such as an encoder attached to the rotation shaft of the motor 225 may be used.
  • each movement mechanism of the above X direction, Y direction, and Z direction is not restricted to an Example, A well-known mechanism is employable.
  • the holding unit 25 instead of moving the holding unit 25 linearly, the holding unit 25 may be moved by arc activation with respect to the center of the rotation base (see, for example, JP-A-2006-350264).
  • FIG. 6 is a diagram for explaining the rotation unit 260.
  • the holding unit 25 is provided with an opening 26.
  • the opening 26 allows the measurement light flux from the light projection optical system 30a to pass and also allows the reflected light flux reflected by the eyeglass frame F to pass.
  • the opening 26 may be provided with a transparent panel that covers the opening 26.
  • the opening 26 emits the measurement light beam emitted from the light projection optical system 30 a from the inside of the holding unit 25 to the outside. That is, the measurement light beam from the light projecting optical system 30 a passes through the opening 26 and is irradiated toward the groove of the rim of the eyeglass frame F.
  • the opening 26 allows the reflected light flux reflected by the groove of the rim of the eyeglass frame F to pass from the outside of the holding unit 25 toward the light receiving optical system 30 b inside the holding unit 25. That is, the reflected light beam reflected by the groove of the rim of the eyeglass frame F passes through the opening 26 and is received by the light receiving optical system 30b.
  • the rotation unit 260 changes the XY direction in which the opening 26 faces by rotating the holding unit 25 around the rotation axis LO extending in the Z direction.
  • the rotation unit 260 includes a rotation base 261.
  • the holding unit 25 is attached to the rotation base 261.
  • the rotation base 261 is rotatably held around a rotation axis LO extending in the Z direction.
  • a large diameter gear 262 is formed on the outer periphery of the lower portion of the rotation base 261.
  • the rotation unit 260 has a mounting plate 252.
  • a motor (drive source) 265 is attached to the mounting plate 252.
  • the pinion gear 266 is fixed to the rotation shaft of the motor 265, and the rotation of the pinion gear 266 is transmitted to the large diameter gear 262 via the gear 263 rotatably provided on the mounting plate 252.
  • the rotation of the motor 265 causes the rotation base 261 to rotate about the rotation axis LO.
  • the rotation of the motor 265 is detected by an encoder (sensor) 265a integrally attached to the motor 265, and the rotation angle of the rotation base 261 (ie, the holding unit 25) is detected from the output of the encoder 265a.
  • the origin position of the rotation of the rotation base 261 is detected by an origin position sensor (not shown).
  • each moving mechanism of the above rotation units 260 is not restricted to an Example, A well-known mechanism is employable.
  • the rotation axis LO of the rotation unit 260 is set as an axis passing through the light source 31 of the light projecting optical system 30a described later. That is, the rotation unit 260 rotates around the light source 31 of the light projecting optical system 30a.
  • the rotation axis of the rotation unit 260 may have different positions as the rotation axis.
  • the rotation axis LO of the rotation unit 260 may be set to an axis passing through the detector 37 of the light receiving optical system 30b described later.
  • FIG. 7 is a schematic block diagram showing the eyeglass frame measurement optical system 30.
  • the eyeglass frame measurement optical system 30 is used to acquire an eyeglass frame F.
  • the eyeglass frame measurement optical system 30 is used to obtain the cross-sectional shape of the groove of the rim of the eyeglass frame F.
  • the eyeglass frame measurement optical system 30 is used to measure the shape of the eyeglass frame F.
  • the eyeglass frame measurement optical system 30 is disposed inside the holding unit 25.
  • the eyeglass frame measuring optical system 30 is configured of a light projecting optical system 30a and a light receiving optical system 30b.
  • the light projecting optical system 30a has a light source, and irradiates the measurement light flux from the light source toward the groove of the rim of the eyeglass frame F.
  • the light receiving optical system 30b has a detector, is irradiated by the light emitting optical system 30a toward the groove of the rim of the eyeglass frame F, and reflects the reflected light flux of the measurement light beam reflected by the groove of the rim of the eyeglass frame F Light is received by the detector.
  • the eyeglass frame measurement optical system 30 is configured to acquire the cross-sectional shape of the groove of the rim of the eyeglass frame F based on the principle of Shine Pluke.
  • the projection optical system 30a irradiates slit light to the groove of the rim of the eyeglass frame.
  • the light receiving optical system 30b has an optical axis L2 inclined with respect to the optical axis L1 to which the slit light is irradiated, and includes a lens and a detector which are disposed based on the principle of Shine Pluke.
  • the eyeglass frame measurement optical system 30 is not an optical system based on the principle of Shine Pluke, but optical systems of different configurations may be used.
  • the eyeglass frame measurement optical system 30 may be any optical system in which the cross-sectional shape of the groove of the rim of the eyeglass frame F is acquired.
  • the configuration in which the light projecting optical system 30a and the light receiving optical system 30b move integrally is described as an example, but the present invention is not limited to this.
  • the projection optical system 30a and the light receiving optical system 30b are separately moved in at least one of the driving units of the X moving unit 240, the Y moving unit 230, the Z moving unit 220, and the rotating unit 260. It may be a configuration.
  • the light projecting optical system 30 a includes the light source 31, the lens 32, and the slit plate 33.
  • the measurement light beam emitted from the light source 31 is condensed by the lens 32 to illuminate the slit plate 33.
  • the measurement light flux illuminating the slit plate 33 becomes a measurement light flux limited in a narrow slit shape by the slit plate 33 and is irradiated to the groove FA of the rim of the eyeglass frame F. That is, for example, slit light is applied to the groove FA of the rim of the eyeglass frame F.
  • the groove FA of the rim of the eyeglass frame F is illuminated in the form of being light-cut by the slit light.
  • the light receiving optical system 30 b includes a lens 36 and a detector (for example, a light receiving element) 37.
  • the light receiving optical system 30 b is configured to obtain a cross-sectional shape from an oblique direction with respect to the groove FA of the rim of the eyeglass frame F.
  • the light receiving optical system 30b is configured to obtain the cross-sectional shape of the groove FA of the rim of the eyeglass frame F based on the principle of Shine Pluke.
  • the lens 36 detects the reflected light beam of the groove FA of the rim (for example, the scattered light of the groove FA of the rim, the specularly reflected light of the groove FA of the rim, etc.) obtained by the reflection at the groove FA of the rim Lead.
  • the detector 37 has a light receiving surface disposed at a position substantially conjugate with the groove FA of the rim of the eyeglass frame F.
  • the light receiving optical system 30b has an imaging optical axis L2 inclined with respect to the light projection optical axis L1 of the light projection optical system 30a, and has a lens 36 and a detector 37 which are disposed based on the principle of Shine Pluke. There is.
  • the light receiving optical system 30b is disposed such that the optical axis (imaging optical axis) L2 intersects with the optical axis L1 of the light projecting optical system 30a at a predetermined angle.
  • the light receiving surface (light receiving position) of the detector 37 is arranged in a relation of a shine-plough.
  • FIG. 8 is a control block diagram of the eyeglass frame shape measuring apparatus 1.
  • a non-volatile memory (storage means) 52, a display 3, a switch unit 4 and the like are connected to the control unit 50.
  • control unit 50 includes a CPU (processor), a RAM, a ROM, and the like.
  • the CPU of the control unit 50 includes each unit (for example, light source 31, detector 37, encoder 265a) and drive means for each unit (for example, drive source for the frame holding unit 10, each motor 225, 235, 245, 265), etc. Take control of the entire device.
  • control unit 50 functions as an operation unit (analysis unit) that performs various operations (for example, operation of the shape of the eyeglass frame based on output signals and the like from each sensor).
  • the RAM temporarily stores various information.
  • the ROM of the control unit 50 stores various programs for controlling the operation of the entire apparatus, initial values, and the like.
  • the control unit 50 may be configured by a plurality of control units (that is, a plurality of processors).
  • the non-volatile memory (storage means) 52 is a non-transitory storage medium capable of holding stored contents even when the supply of power is shut off.
  • a hard disk drive, a flash ROM, a USB memory detachably attached to the eyeglass frame shape measuring apparatus 1 or the like can be used as the non-volatile memory (memory) 52.
  • control unit 50 is connected to a lens processing device 300 that processes the peripheral edge of the lens.
  • various data acquired by the eyeglass frame shape measuring device 1 is transmitted to the control unit 310 of the lens processing device 300.
  • the control unit 310 of the lens processing device 300 controls the drive means of each unit and each unit of the lens processing device 300 based on the received various data, and performs lens processing.
  • the lens processing apparatus 300 and the eyeglass frame shape measuring apparatus 1 may be an integrated apparatus.
  • a touch panel type display is used as the display 3. That is, in the present embodiment, since the display 3 is a touch panel, the display 3 functions as an operation unit (operation unit).
  • the control unit 50 receives an input signal by the touch panel function of the display 3 and controls the display and the like of figures and information of the display 3.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus 1 may be separately provided with an operation unit. In this case, for example, at least one of a mouse, a joystick, a keyboard, a touch panel, and the like may be used as the operation unit.
  • both the display 60 and the operation unit may be used to operate the eyeglass frame shape measuring apparatus 1.
  • the structure provided with the switch part (operation part) 4 separately is mentioned as an example, and is demonstrated.
  • the operator causes the frame holding unit 10 to hold the eyeglass frame F.
  • the operator causes the frame holding unit 10 to hold the eyeglass frame F such that the left and right rims FL and FR of the eyeglass frame F are downward and the left and right temples FTL and FTR of the eyeglass frame F are upward.
  • the control unit 50 drives the holding unit 25 by driving at least one of the X moving unit 240, the Y moving unit 230, the Z moving unit 220, and the rotating unit 260.
  • the projection of the rim of the eyeglass frame F is started by moving (the light projecting optical system 30a and the light receiving optical system 30b).
  • the measurement of the rim is started from the right rim FR. of course. The measurement may be started from the left rim FL.
  • control unit 50 moves the holding unit 25 to measure the rim contour of the eyeglass frame by measuring the eyeglass frame measurement optical system 30 (the projection optical system 30a and the light receiving optical system 30b). Get the cross-sectional shape of the rim groove of the.
  • the light projecting optical system 30a and the light receiving optical system 30b are moved with respect to the eyeglass frame F in a state in which the relationship between Shine Pluke is maintained. That is, the sectional shape of the groove of the rim of the eyeglass frame F can be acquired by moving the eyeglass frame measurement optical system 30 with respect to the groove of the rim of the eyeglass frame F so as to have a fixed positional relationship.
  • the control unit 50 controls driving of the moving unit 210 (at least one of the X moving unit 240, the Y moving unit 230, and the Z moving unit 220) and the rotation unit 260.
  • the holding unit 25 placed at the retracted position is moved to the initial position of the measurement start.
  • the initial position of the measurement start is set at the central position of the clamp pins 130a and 130b at the lower end side of the right rim FR and the clamp pins 131a and 131b of the holding unit 25.
  • the initial position of the measurement start can be set to any position.
  • control unit 50 turns on the light source 31. Then, along with the lighting of the light source 31, the control unit 50 controls the driving of at least one of the moving unit 210 and the rotating unit 260 in order to irradiate the measurement light beam to the groove of the rim of the predetermined position of the eyeglass frame F. .
  • the control unit 50 controls the rotation unit 260 to set the acquisition position.
  • FIG. 9 is a diagram for explaining the case where the rotation unit 260 is controlled to acquire the cross-sectional shape of the rim at different radius vector angles. 9A and 9B acquire the cross-sectional shape of the rim at different radial angles.
  • the control unit 50 controls the rotation unit 260 to rotate the optical axis L1 of the light projecting optical system 30a on the XY plane to move the optical axis L1 of the light projecting optical system 30a in the circumferential direction of the rim .
  • control unit 50 controls the X rotation unit 260 to change the radius vector angle for acquiring the cross-sectional shape of the groove of the rim. For example, by controlling the rotation unit 260, the irradiation position T1 of the light projecting optical system 30a is changed to the irradiation position T2 of the light projecting optical system 30a.
  • moving unit 210 when the position to acquire the cross-sectional shape of the groove of the rim is set, and the irradiation position of the measurement light beam with respect to the groove of the rim is changed, moving unit 210 (X moving unit 240, Y moving unit 230, Z The moving position of at least one of the moving units 220 is controlled to change the irradiation position of the measurement light flux so that the groove of the rim is irradiated with the measurement light flux.
  • the setting of the position for acquiring the cross-sectional shape of the groove of the rim and the change of the irradiation position of the measurement light beam with respect to the groove of the rim may be simultaneously performed.
  • the rotation unit 260 not only the rotation unit 260 but also at least one of the X moving unit 240, the Y moving unit 230, and the Z moving unit 220 may be used to set the position for acquiring the cross-sectional shape of the groove of the rim.
  • the setting of the position for acquiring the cross-sectional shape of the groove of the rim may be performed by at least one of the X moving unit 240, the Y moving unit 230, and the Z moving unit 220.
  • the rotating unit 260 may be used to change the irradiation position of the measurement light beam with respect to the groove of the rim.
  • the change of the irradiation position of the measurement light beam with respect to the groove of the rim may be configured such that only the rotation unit 260 is used.
  • the control unit 50 acquires the two-dimensional cross-sectional shape of the groove of the rim of the eyeglass frame based on the reflected light beam received by the detector 37.
  • a cross-sectional image is acquired as the cross-sectional shape.
  • the cross-sectional shape may be a configuration obtained as a signal.
  • the control unit 50 performs drive control for irradiating the measurement luminous flux to the groove of the rim of the eyeglass frame F.
  • the drive control for irradiating the groove of the rim of the eyeglass frame F with the measurement light beam will be described below.
  • FIG. 10 is a diagram showing the light reception result before moving the holding unit 25 so that the measurement light beam is irradiated to the groove of the rim of the eyeglass frame F.
  • FIG. 11 is a diagram showing the light reception result after moving the holding unit 25 so that the measurement light beam is irradiated to the groove of the rim of the eyeglass frame F.
  • the irradiation position T3 of the projection optical system 30a is not located in the groove of the rim. For this reason, the reflected light flux from the groove of the rim of the spectacles frame F can not be received.
  • the control unit 50 acquires a cross-sectional image in a state in which the reflected light flux is not received, the cross-sectional image is not displayed on the image 40 indicating the acquisition result.
  • the irradiation position T4 of the light projecting optical system 30a is located in the groove of the rim. For this reason, the reflected light flux from the groove of the rim of the spectacles frame F can be received.
  • the control unit 50 acquires a cross-sectional image in a state in which the reflected light flux is received, the cross-sectional image 41 is displayed on the image 40 indicating the acquisition result.
  • the control unit 50 controls the moving unit 210 based on the light reception result. For example, the control unit 50 controls the moving unit 210 based on whether or not a cross-sectional image can be acquired. For example, the control unit 50 analyzes the acquired image 40, and controls the moving unit 210 so that a cross-sectional image is detected when the cross-sectional image can not be detected.
  • the control unit 50 can detect whether or not a cross-sectional image has been acquired by detecting a change in luminance value. For example, when a cross-sectional image is acquired, a constant luminance value is detected. That is, since the reflected light beam can be detected by the detector, the luminance value is increased.
  • FIG. 12 is a diagram for explaining detection of a luminance value.
  • the control unit 50 detects luminance values in the order of the scanning line S1, the scanning line S2, the scanning line S3,..., The scanning line Sn on the acquired cross-sectional image to obtain a luminance distribution. That is, the control unit 50 can extract the cross-sectional image of the rim from the image by detecting the luminance value.
  • a cross-sectional image of the groove of the rim at a predetermined position can be obtained.
  • the control unit 50 controls the rotation unit 260 to obtain a cross-sectional image of the groove of the rim while changing the radial angle around the rotation axis (the axis passing through the light source 31 in the present embodiment) LO. I will change the position.
  • the position at which the cross-sectional image of the rim is acquired is moved in the circumferential direction of the rim.
  • the control unit 50 controls the moving unit 210 every time the position at which the cross-sectional image of the rim is obtained is changed, and changes the irradiation position so that the measurement light beam is irradiated to the groove of the rim.
  • the control unit 50 stores the cross-sectional image in the memory 52 for each predetermined rotation angle. Further, the position at which each cross-sectional image is acquired is calculated from at least one of the pulse number of the motor 225, the pulse number of the motor 235, the pulse number of the motor 245, and the detection result of the encoder 265a.
  • the position at which the cross-sectional image of the rim is acquired is obtained. It can be identified.
  • control unit 50 can acquire the position (acquisition position information) at which the tomographic image of the groove of the rim is acquired.
  • the acquisition position information can be used when acquiring a three-dimensional cross-sectional image of a groove of a rim, a shape of an eyeglass frame, and the like.
  • a missing portion may occur in the cross-sectional image.
  • the reflected light flux may not be received well from the groove of the rim, and it may be difficult to obtain a cross-sectional image of the groove of the rim.
  • the measurement luminous flux is blocked because the measurement luminous flux is hard to irradiate the grooves of the rim of the spectacles frame It becomes difficult to satisfactorily receive the reflected light beam, and a defect may occur in the cross-sectional image.
  • the emitted light beam can not be well received, and it may be difficult to obtain a cross-sectional image of the groove of the rim. is there.
  • a good cross-sectional image is obtained by interpolating the missing portion of the cross-sectional image.
  • the interpolation of the missing part will be described below.
  • an eyeglass frame different in at least one of the shape of the eyeglass frame, the material of the eyeglass frame, the color of the eyeglass frame, the design of the eyeglass frame, etc. may be mentioned.
  • the shape of the eyeglass frame may be any shape such as Full lim or Nylor.
  • the shape of the eyeglass frame may be different from that described above.
  • any of metal, plastic, optyl, etc. may be used as a material of the eyeglass frame.
  • the material of the eyeglass frame may be a material different from the above.
  • the color of the eyeglass frame may be at least one of red, blue, yellow, black, gray and the like.
  • the design of the eyeglass frame may be at least one of a dot, a border, and the like.
  • the design of the eyeglass frame may be different from the above.
  • the eyeglass frame of the type which has a rim generally is mentioned.
  • the nyroll there is a type of spectacle frame without a rim. In this case, the eyeglass lens is fixed to a portion without a rim by nylon thread or the like.
  • the control unit 50 acquires a cross-sectional image at each measurement position of the rim, and determines whether or not a defect exists in the cross-sectional image.
  • the control unit 50 detects the luminance distribution of the cross-sectional image, and depending on whether a rise in luminance corresponding to the rim is detected. Determine if there is a missing part.
  • FIG. 13 is an example showing the luminance distribution in one scanning line of the acquired image 40. As shown in FIG. FIG. 13A is an example showing the luminance distribution in a state in which no defect exists in the cross-sectional image 41. FIG. 13B is an example showing a luminance distribution in a state in which a defect portion exists in the cross-sectional image 41.
  • FIG. 13 for example, as shown in FIG. 13A, when the cross-sectional image 41 of the rim is present, the luminance distribution D1 obtained at the scanning line S10 with respect to the obtained image 40. There is a peak P that corresponds to the rim. However, as shown in FIG. 13B, when the cross-sectional image 41 of the rim disappears, a peak corresponding to the rim is seen in the luminance distribution D2 obtained by the scanning line S10 with respect to the obtained image 40. Absent.
  • the control unit 50 performs the determination process on a plurality of scanning lines with respect to the image 40.
  • the determination process may be performed on substantially all scanning lines of the image 40.
  • the determination process may be performed on the scanning lines separated at a constant interval on the image 40.
  • the determination process may be performed on the scanning line set in advance on the image 40. The scanning line set in advance may be arbitrarily set by the examiner.
  • the control unit 50 determines whether a luminance value exceeding a preset threshold exists in the luminance distribution acquired in the scanning line. It may be determined. For example, when there is a luminance value exceeding the threshold value in the luminance distribution detected in the scanning line, the control unit 50 determines that a peak corresponding to the rim is detected and that a defective portion does not exist. . In addition, for example, when there is no luminance value exceeding the threshold in the luminance distribution detected in the scanning line, the control unit 50 determines that there is a missing portion, assuming that the peak corresponding to the rim is not detected. .
  • the control unit 50 may determine that the defect portion is present when the peak corresponding to the rim is not detected in at least two or more scan lines. In this case, for example, the control unit 50 may determine that a missing portion is present when a peak corresponding to a rim is not detected in at least two or more consecutive (adjacent) scan lines. Of course, at least two or more scan lines may not be continuous.
  • the control unit 50 controls the luminance of the acquired image 40 in the order of scan line S1, scan line S2, scan line S3, ... scan line Sn.
  • the values are detected to obtain the luminance distribution.
  • the control unit 50 determines whether or not a defect exists in the obtained luminance distribution.
  • the control unit 50 determines whether or not each defective portion exists in each scanning line, and it is determined that the defective portion exists in at least two or more consecutive scanning lines. Finally, it is determined that a defect exists in the image 40 (the cross-sectional image 41 in the image 40).
  • the control unit 50 interpolates the missing portion when it is determined that the missing portion is present in the acquired cross-sectional image.
  • FIG. 14 is a diagram for explaining the interpolation of the missing part.
  • the control unit 50 acquires a cross-sectional image at each measurement position, and performs determination processing each time a cross-sectional image is acquired.
  • the determination process may be performed after the measurement at each measurement position is completed.
  • the control unit 50 Interpolate. That is, for example, the control unit 50 interpolates the deficient portion of the cross-sectional image in which the deficient portion is present based on the second cross-sectional image different from the first cross-sectional image in which the deficient portion is present.
  • different cross-sectional images are acquired by changing imaging conditions at the same measurement position as that of the cross-sectional image in which the defect portion exists. For example, the control unit 50 changes the imaging condition at the same measurement position as the measurement position where it is determined that the defect portion is present, and performs measurement again.
  • the control unit 50 acquires the cross-sectional image again at the measurement position where it is determined that the defect portion is present. For example, the control unit 50 increases the projection light amount of the light source 31.
  • FIG. 14A is an example showing a cross-sectional image 46 obtained before the light projection light quantity of the light source 31 is increased.
  • FIG. 14B is an example showing the cross-sectional image 47 acquired after increasing the light projection light amount of the light source 31.
  • FIG. 14C is an example showing the cross-sectional image 48 after the missing part is interpolated. For example, as shown in FIG. 14A, in the cross-sectional image 46 acquired before the projection light amount of the light source 31 is increased, the defective portion G is present.
  • the control unit 50 performs remeasurement at the same measurement position as the measurement position at which the image 40a including the cross-sectional image 46 determined to have a defect portion is obtained. .
  • the control unit 50 performs remeasurement at the same measurement position as the measurement position at which the image 40a including the cross-sectional image 46 determined to have a defect portion is obtained.
  • the control unit 50 performs remeasurement at the same measurement position as the measurement position at which the image 40a including the cross-sectional image 46 determined to have a defect portion is obtained.
  • the control unit 50 performs remeasurement at the same measurement position as the measurement position at which the image 40a including the cross-sectional image 46 determined to have a defect portion is obtained.
  • a good cross-sectional image portion of the cross-sectional image 46 for example, a cross-sectional image of a rim shoulder and an outer portion of the rim
  • a good cross-sectional image portion in the cross-sectional image 47 for example, a cross-sectional image 44 corresponding to a missing portion
  • interpolate the missing part by synthesizing As a result, a new cross-sectional image 48 using a good cross-sectional image portion in the cross-sectional image 46 and the cross-sectional image 47 can be obtained, and a good cross-sectional image 48 can be obtained.
  • the control unit 50 may increase the projection light quantity of the light source 31, re-measurement is performed at the same measurement position, and a defect portion is present in the cross-sectional image of the rim for the newly acquired image. It may be determined. For example, the control unit 50 may shift to the measurement of the next measurement position, when it is determined that the defect portion does not exist in the cross-sectional image of the rim in the newly acquired image.
  • control unit 50 determines again whether or not a defect exists in the cross-sectional image of the rim in the acquired image, and when it is determined that the defect exists, the light source 31 is further thrown. Even if you increase the light intensity.
  • imaging conditions different from the control of the light source 31 may be changed.
  • the control unit 50 may acquire a cross-sectional image of a new rim again at the same measurement position.
  • the control unit 50 may repeat the above-described control until a cross-sectional image of the rim in which no missing portion exists is obtained.
  • the control unit 50 detects the defect portion G based on the image 40b including the cross-sectional image 44 in which the defect portion G does not exist.
  • the image 40a including the cross-sectional image 41 is interpolated.
  • the control unit 50 extracts a cross-sectional image 44 corresponding to the position of the defect portion G from the image 40b.
  • the control unit 50 acquires the position of the defect site G based on the luminance distribution of the image 40a.
  • the positions G1 and G2 at which the portion where the cross-sectional image of the rim is obtained may be interrupted may be acquired from the luminance distribution of each scanning line.
  • control unit 50 extracts the cross-sectional image 44 in the region corresponding to the position of the defect site G from the image 40b. For example, the control unit 50 combines the extracted cross-sectional image 44 into the defect portion G of the cross-sectional image 46. As a result, it is possible to acquire an image 40c including the cross-sectional image 48 in which the defective portion G is interpolated.
  • the combining process since the image 40a and the image 40b are images acquired at the same measurement position, both images can be associated in a pixel-to-pixel relationship.
  • the spectacle frame shape measuring apparatus includes interpolation means for interpolating the missing portion of the rim in the cross-sectional shape obtained by the obtaining means.
  • interpolation means for interpolating the missing portion of the rim in the cross-sectional shape obtained by the obtaining means.
  • the acquiring unit may acquire a cross-sectional shape different from the cross-sectional shape.
  • the interpolation unit may interpolate the missing portion of the rim in the cross-sectional shape based on a cross-sectional shape different from the cross-sectional shape.
  • the interpolation unit may interpolate the missing portion of the rim in the cross-sectional shape by combining different cross-sectional shapes with respect to the cross-sectional shape.
  • cross-sectional shape interpolation can be performed by synthesis processing, it is possible to easily obtain a favorable cross-sectional shape without requiring complicated arithmetic processing and the like.
  • the different cross-sectional shapes may be cross-sectional shapes acquired at imaging conditions different from the imaging conditions at the time of acquiring the cross-sectional shape at the same measurement position as the measurement position at which the cross-sectional shape is acquired.
  • the cross-sectional shape by acquiring the cross-sectional shape under different imaging conditions, it becomes possible to favorably acquire the cross-sectional shape of the defect portion. This makes it possible to interpolate the cross-sectional shape in which the deficient portion is generated based on the cross-sectional shape of the deficient portion, so that the cross-sectional shape can be interpolated more accurately.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus may include a defect portion determination unit that determines whether or not there is a defect portion in the cross-sectional shape by analyzing and processing the cross-sectional shape.
  • the interpolation means may interpolate the missing part of the rim in the cross-sectional shape based on the determination result by the missing part determining means. For example, by performing the determination process, it is possible to specify the defective portion in the cross-sectional shape more accurately. For this reason, the defect part in cross-sectional shape can be interpolated more reliably, and a favorable cross-sectional shape can be acquired easily.
  • the interpolation means may at least interpolate the missing portion of the groove of the rim in the cross-sectional shape.
  • the cross-sectional shape in the groove portion of the rim can be acquired more reliably, and a good cross-sectional shape can be acquired.
  • it is more preferable to obtain the cross-sectional shape of the groove portion of the rim well it is useful.
  • the control unit 50 can obtain various parameters related to the groove of the rim by analyzing and processing the cross-sectional image obtained as described above.
  • FIG. 15 is a diagram for explaining parameters acquired from the cross-sectional image of the groove of the rim.
  • the control unit 50 can acquire the parameter of the groove of the rim by acquiring the luminance distribution of the cross-sectional image by image processing.
  • the control unit 50 sets the distance K1 to the bottom of the groove of the rim, the left and right slope angles ⁇ 1 and ⁇ 2 of the groove of the rim, and the left and right slope lengths K2 and K3 of the groove of the rim as parameters of the groove of the rim.
  • Rim shoulder length K4, K5, etc. can be obtained.
  • the control unit 50 can acquire a cross-sectional image of the groove of the rim in the entire circumference of the rim by repeating the above control over the entire circumference of the rim. For example, when the acquisition of the cross-sectional image of the groove of the rim in the entire circumference of the rim is completed, the control unit 50 calls the sectional image of the entire circumference of the rim stored in the memory 52 and the acquired position information thereof, performs arithmetic processing, Acquire a cross-sectional image. That is, the control unit 50 acquires a three-dimensional cross-sectional image using the interpolated cross-sectional image and the non-interpolated cross-sectional image.
  • control unit 50 stores the acquired three-dimensional cross-sectional image in the memory 52.
  • the control unit 50 stores the acquired three-dimensional cross-sectional image in the memory 52.
  • the structure which acquires a three-dimensional cross-sectional image was mentioned as an example and demonstrated, it is not limited to this.
  • calculation processing may be performed each time the cross-sectional image is acquired.
  • control unit 50 can acquire the shape (shape data) of the eyeglass frame from the acquired cross-sectional image.
  • the control unit 50 detects the bottom of the groove of the rim at a plurality of radial angles of the eyeglass frame from the cross-sectional images of the grooves of the rim at the plurality of radial angles of the eyeglass frame. Get the shape of the glasses frame.
  • the control unit 50 detects the position of the bottom of the groove of the rim by acquiring the luminance distribution of the cross-sectional image by image processing. As illustrated in FIG. 12, for example, the control unit 50 detects luminance values in the order of scan line S1, scan line S2, scan line S3, ... scan line Sn on the acquired cross-sectional image. , Get the luminance distribution. For example, the control unit 50 may detect, as the bottom of the groove of the rim, a position at which the luminance value is detected at the lowermost position in the obtained luminance distribution.
  • the control unit 50 processes each of the cross-sectional images acquired for each radial angle, and detects the position of the bottom of the groove of the rim on the image. For example, the control unit 50 acquires the position information of the bottom of the groove of the rim from the position of the bottom of the groove of the rim on the image detected from the cross-sectional image and the acquired position information of the acquired sectional image. For example, the control unit 50 detects the position of the bottom of the groove of the rim on the image from the cross-sectional image obtained for each radial angle, and the position of the bottom of the groove of the rim on the detected image The position information of the bottom of the groove of the rim for each radius vector angle is acquired from the acquired position information for acquiring the cross-sectional image.
  • the three-dimensional shape of the eyeglass frame Fn may be acquired over the entire circumference of the rim, or may be acquired in a partial area of the entire circumference of the rim. As described above, the shape of the eyeglass frame F can be obtained.
  • the configuration for acquiring the three-dimensional shape of the eyeglass frame has been described as an example by acquiring the position information of the bottom of the groove of the rim for each radius vector angle, but the present invention is not limited thereto .
  • the position of the bottom of the groove of the rim is not acquired at each radial angle, the position of the bottom of the groove of the rim at the peripheral angle of radius
  • the position information of the bottom of the groove of the rim may be obtained by interpolation based on the information.
  • the position of the bottom of the rim groove is not acquired at each radius angle, the bottom of the rim groove at the peripheral radius angle It may be made to interpolate from the result of approximation of position information on
  • the control unit 50 controls the drive of the X moving unit 240 to move the holding unit 25 to a predetermined position for measurement of the left rim FL.
  • acquisition of the cross-sectional shape of the right rim FR and the shape of the eyeglass frame are acquired.
  • Cross sectional images and shapes of the right rim FR and the left rim FL are stored in the memory 52.
  • various parameters may be acquired based on the acquired three-dimensional shape of the eyeglass frame.
  • the two-dimensional shape may be acquired from the three-dimensional shape of the eyeglass frame.
  • the two-dimensional shape can be obtained by projecting the three-dimensional shape onto the XY plane in the front direction of the eyeglass frame F.
  • the two-dimensional shape mentioned the structure acquired from a three-dimensional shape as an example it is not limited to this.
  • control unit 50 transmits the cross-sectional shape of the groove of the rim, the shape of the eyeglass frame, and the like acquired by the eyeglass frame shape measuring device 1 to the lens processing device 300.
  • control unit 310 of the lens processing device 300 receives the cross-sectional shape of the groove of the rim acquired by the spectacle frame shape measuring device 1, the shape of the spectacle frame, and the like.
  • the lens processing apparatus 300 includes a lens rotating unit that holds a lens on a lens chuck shaft and rotates it, and a processing tool rotating unit that rotates a processing tool attached to a processing tool rotation shaft.
  • the control unit 310 of the lens processing apparatus acquires acquired information acquired by the eyeglass frame shape measuring apparatus 1 (for example, the sectional shape of the groove of the rim of the eyeglass frame, the shape of the eyeglass frame, etc.) Based on the lens rotation means and the processing tool rotation means, the peripheral edge processing of the lens is performed.
  • the control unit 310 of the lens processing apparatus may be configured to be also used as the control unit of the eyeglass frame shape measuring apparatus 1, or separately provided with the control unit 310 for performing various controls of the lens processing apparatus. May be configured.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus is illuminated toward the rim of the eyeglass frame by the projection optical system that emits the measurement light beam from the light source toward the rim of the eyeglass frame, A light receiving optical system for receiving a reflected light beam of the measurement light beam reflected by the rim of the frame by the detector, and an acquisition means for acquiring the cross-sectional shape of the rim of the eyeglass frame based on the reflected light beam received by the detector .
  • the cross-sectional shape of the rim of the eyeglass frame can be easily and accurately obtained.
  • measurement can be performed quickly.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus comprises: first changing means for changing the irradiation position of the measurement light beam to the groove of the rim of the eyeglass frame; and first control means for controlling the first changing means. Equipped with This makes it possible to irradiate the measurement light beam to the position of the groove of any rim in the spectacle frame, and to obtain the cross-sectional shape of the groove of the rim at any position.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus is a changing means for moving the position of at least a part of the light projecting optical system by the first changing means
  • the first control means is the first changing means Is controlled to change the position of at least a part of the projection optical system with respect to the groove of the rim of the eyeglass frame, and to change the irradiation position of the measurement light beam with respect to the groove of the rim of the eyeglass frame.
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus includes a second changing unit that changes the light receiving position of the reflected light beam by the light receiving optical system, and a second control unit that controls the second changing unit.
  • the light receiving position can be changed to a position where the cross-sectional shape of the groove of the rim can be favorably acquired, and the cross-sectional shape of the rim of the eyeglass frame can be acquired more accurately.
  • the first control means controls the first changing means to irradiate the measurement light beam to the groove of the rim at a plurality of radius vector angles of the eyeglass frame .
  • An acquisition means acquires the cross-sectional shape of the groove
  • the eyeglass frame shape measuring apparatus detects the bottom of the groove of the rim at a plurality of radius vector angles of the eyeglass frame from the cross-sectional shape of the groove of the rim at a plurality of radius vector angles of the eyeglass frame.
  • An analysis means for acquiring the shape of the eyeglass frame is provided. This makes it possible to prevent the measuring element from coming off the groove of the lens frame and making it impossible to measure depending on the eyeglass frame as in the conventional case, and the eyeglass frame can be accurately and easily for eyeglass frames of various shapes. You can get the shape of.
  • the first control means controls the first changing means to irradiate the measurement light beam to the groove of the rim at a plurality of radius vector angles of the eyeglass frame .
  • An acquisition means acquires the cross-sectional shape of the groove
  • the three-dimensional cross-sectional shape of the eyeglass frame can be easily and accurately obtained.
  • the lens processing apparatus includes processing control means for processing the peripheral edge of the lens based on the cross-sectional shape of the groove of the rim of the eyeglass frame.
  • the cross-sectional shape and the shape of the eyeglass frame may be displayed on the display 3.
  • it may be displayed on the display of the lens processing device 300 (not shown).
  • the cross-sectional shape and the shape of the eyeglass frame may be displayed on different screens on the display 3.
  • the cross-sectional shape and the shape of the eyeglass frame may be switched and displayed by switching the screen.
  • the cross-sectional shape and the shape of the eyeglass frame may be displayed on the same screen. In this case, for example, the cross-sectional shape and the shape of the eyeglass frame may be arranged side by side on the same screen.
  • a display may be made to indicate the acquisition position of the cross-sectional shape such that the acquisition position of the cross-sectional shape can be identified.
  • the cross-sectional shape and the shape of the eyeglass frame may be superimposed and displayed.
  • the superimposed display is performed, the cross-sectional shape and the shape of the eyeglass frame may be aligned based on the acquisition position information of the cross-sectional shape and the acquisition position of the cross-sectional shape of the rim groove.

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Abstract

眼鏡フレームの形状を測定する眼鏡枠形状測定装置であって、光源を有し、眼鏡フレームのリムの溝に向けて光源から測定光束を照射する投光光学系と、検出器を有し、投光光学系によって眼鏡フレームのリムの溝に向けて照射され、眼鏡フレームのリムの溝によって反射された測定光束の反射光束を検出器によって受光する受光光学系と、検出器によって受光された反射光束に基づいて、眼鏡フレームのリムの溝の断面形状を取得する取得手段と、取得手段によって取得された断面形状におけるリムの欠損部分を補間する補間手段と、を備える。

Description

眼鏡枠形状測定装置及び眼鏡枠形状測定プログラム
　本開示は、眼鏡フレームの形状を得るための眼鏡枠形状測定装置及び眼鏡枠形状測定装置を制御する眼鏡枠形状測定プログラムに関する。
　眼鏡フレームのリムに測定子を挿入し、測定子をリムに押し当てて移動させることで、リムの輪郭をトレースし、リムの形状を測定する眼鏡枠形状測定装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。この眼鏡枠形状測定装置で得られたリムの測定結果（トレースデータ）に基づいて、眼鏡レンズをリムに嵌めるための形状（目標形状）が得られる。そして、形状に基づいて眼鏡レンズの輪郭形状が決定され、眼鏡レンズ加工装置によってレンズの周縁が加工される。
特開２０１５－００７５３６号公報
　ところで、眼鏡フレームに加工後のレンズを良好に枠入れするためには、リムの形状と加工後のレンズの輪郭形状が近いほどより好ましいと考えられている。しかしながら、測定子を用いてのリム形状の測定では、測定子が押し当てられた位置での測定(例えば、リムの底の部分の測定)を行うことは容易であるものの、リムの溝の断面形状を得ることは困難であった。
　このため、発明者らは、眼鏡フレームのリムの溝に向けて測定光を照射し、眼鏡フレームのリムの溝によって反射された測定光の反射光を受光し、反射光に基づいて、眼鏡フレームのリムの溝の断面形状を取得する構成を備える眼鏡枠形状測定装置について検討した。しかしながら、このような眼鏡枠形状測定装置を用いる場合に、眼鏡フレームのタイプ、眼鏡フレームに付着したごみ等の影響によっては、リムの溝から反射光束を良好に受光することができず、リムの溝の断面形状を取得することが困難となる場合があることがわかった。
　本開示は、上記従来技術に鑑み、種々のタイプの眼鏡フレームにおけるリムの断面形状を良好に取得することができる眼鏡枠形状測定装置及び眼鏡枠形状測定プログラムを提供することを技術課題とする。
　上記課題を解決するために、本開示は以下のような構成を備えることを特徴とする。
　（１）　本開示の第１態様に係る眼鏡枠形状測定装置は、眼鏡フレームの形状を測定する眼鏡枠形状測定装置であって、光源を有し、眼鏡フレームのリムの溝に向けて前記光源から測定光束を照射する投光光学系と、検出器を有し、前記投光光学系によって前記眼鏡フレームの前記リムの溝に向けて照射され、前記眼鏡フレームの前記リムの溝によって反射された前記測定光束の反射光束を前記検出器によって受光する受光光学系と、前記検出器によって受光された前記反射光束に基づいて、前記眼鏡フレームの前記リムの溝の断面形状を取得する取得手段と、前記取得手段によって取得された前記断面形状における前記リムの欠損部分を補間する補間手段と、を備えることを特徴とする。
（２）　本開示に係る第２様態に係る眼鏡枠形状測定プログラムは、光源を有し、眼鏡フレームのリムの溝に向けて前記光源から測定光束を照射する投光光学系と、検出器を有し、前記投光光学系によって前記眼鏡フレームの前記リムの溝に向けて照射され、前記眼鏡フレームの前記リムの溝によって反射された前記測定光束の反射光束を前記検出器によって受光する受光光学系と、前記検出器によって受光された前記反射光束に基づいて、前記眼鏡フレームの前記リムの溝の断面形状を取得する取得手段と、を備え、眼鏡フレームの形状を測定する眼鏡枠形状測定装置において実行される眼鏡枠形状測定プログラムであって、前記眼鏡枠形状測定装置のプロセッサによって実行されることで、前記取得手段によって取得された前記断面形状における前記リムの欠損部分を補間する補間ステップを前記眼鏡枠形状測定装置に実行させることを特徴とする。
眼鏡枠形状測定装置の外観略図である。 眼鏡フレームが保持された状態のフレーム保持ユニットの上面図である。 移動ユニットを上方から見た斜視図を示している。 移動ユニットの下方から見た斜視図を示している。 Ｚ移動ユニットとＹ移動ユニットの上面斜視図を示している。 回転ユニットについて説明する図である。 眼鏡フレーム測定光学系について示す概略構成図である。 眼鏡枠形状測定装置に関する制御ブロック図である。 回転ユニットを制御して、異なる動径角にてリムの断面形状を取得する場合の一例について説明する図である。 異なる動径角にてリムの断面形状を取得する場合の一例について説明する図である。 眼鏡フレームのリムの溝に測定光束が照射されるように保持ユニットを移動させる前の受光結果を示す図である。 眼鏡フレームのリムの溝に測定光束が照射されるように保持ユニットを移動させた後の受光結果を示す図である。 断面画像に対する輝度分布の取得について説明する図である。 断面画像に欠損部分が存在していない状態の輝度分布を示す例である。 断面画像に欠損部分が存在している状態の輝度分布を示す例である。 欠損部分の補間について説明する図である。 リムの溝の断面画像から取得されるパラメータについて説明する図である。
　以下、本実施形態を図面に基づいて説明する。図１～図１５は本実施形態に係る眼鏡枠形状測定装置の構成について説明する図である。なお、本実施形態においては、眼鏡枠形状測定装置１の奥行き方向（眼鏡が配置された際の眼鏡フレームの上下方向）をＹ方向、奥行き方向に垂直（眼鏡が配置された際の眼鏡フレームの左右方向）な平面上の水平方向をＸ方向、鉛直方向（眼鏡が配置された際の眼鏡フレームの前後方向）をＺ方向として説明する。なお、以下の＜＞にて分類された項目は、独立又は関連して利用されうる。
　なお、本開示においては、本実施形態に記載した装置に限定されない。例えば、下記実施形態の機能を行う端末制御ソフトウェア（プログラム）をネットワーク又は各種記憶媒体等を介して、システムあるいは装置に供給する。そして、システムあるいは装置の制御装置（例えば、ＣＰＵ等）がプログラムを読み出し、実行することも可能である。
　なお、本実施形態における眼鏡枠形状測定装置１には、眼鏡フレームＦのリム部分が下方向、眼鏡フレームＦのテンプル部分が上方向とした状態で配置される。すなわち、眼鏡枠形状測定装置１に眼鏡フレームＦが配置された場合に、眼鏡フレームＦの左右リムＦＬ，ＦＲが下方向、眼鏡フレームＦの左右のテンプルＦＴＬ，ＦＴＲが上方向となる。もちろん、本実施形態の眼鏡枠形状測定装置１においては、眼鏡フレームＦのリム部分が下方向、眼鏡フレームＦのテンプル部分が上方向とした状態で配置される構成を例に挙げて説明するがこれに限定されない。例えば、眼鏡フレームＦのリム部分が上方向、眼鏡フレームＦのテンプル部分が下方向とした状態で配置される構成であってもよい。また、例えば、眼鏡枠形状測定装置１に眼鏡フレームＦが配置された場合に、眼鏡フレームＦの左右リムＦＬ，ＦＲの上端が下方向、眼鏡フレームＦの左右リムＦＬ，ＦＲの下端が上方向となるように配置される構成であってもよい。また、例えば、眼鏡枠形状測定装置１に眼鏡フレームＦが配置された場合に、眼鏡フレームＦの左右リムＦＬ，ＦＲの上端が上方向、眼鏡フレームＦの左右リムＦＬ，ＦＲの下端が下方向となるように配置される構成であってもよい。
　＜概要＞
　本開示の実施形態に係る眼鏡枠形状測定装置（例えば、眼鏡枠形状測定装置１）の概要について説明する。例えば、本実施形態に関わる眼鏡枠形状測定装置は、眼鏡フレームの形状を測定する。例えば、眼鏡枠形状測定装置は、投光光学系（例えば、投光光学系３０ａ）を備える。例えば、眼鏡枠形状測定装置は、受光光学系（例えば、受光光学系３０ｂ）を備える。例えば、眼鏡枠形状測定装置は、取得手段（例えば、制御部５０）を備える。
　例えば、投光光学系は、光源（例えば、光源３１）を有する。例えば、投光光学系は、眼鏡フレームのリムの溝に向けて光源から測定光束を照射する。なお、例えば、光源は、少なくとも１つ以上の光源が用いられてもよい。例えば、１つの光源が用いられてもよい。また、例えば、複数の光源が用いられてもよい。
　例えば、受光光学系は、検出器（例えば、検出器３７）を有する。例えば、受光光学系は、投光光学系によって眼鏡フレームのリムの溝に向けて照射され、眼鏡フレームのリムの溝によって反射された測定光束の反射光束を検出器によって受光する。なお、例えば、検出器は、少なくとも１つ以上の検出器が用いられてもよい。例えば、１つの検出器が用いられてもよい。また、例えば、複数の検出器が用いられてもよい。
　例えば、取得手段は、眼鏡フレームのリムの溝によって反射された測定光束の反射光束を処理して、検出器によって受光された測定光束の反射光束に基づいて、眼鏡フレームのリムの溝の断面形状を取得する。
　例えば、本実施形態において、眼鏡枠形状測定装置は、眼鏡フレームのリムに向けて光源から測定光束を照射する投光光学系と、投光光学系によって眼鏡フレームの前記リムに向けて照射され、眼鏡フレームのリムによって反射された測定光束の反射光束を検出器によって受光する受光光学系と、反射光束を処理して、眼鏡フレームのリムの断面形状を取得する取得手段と、を備える。これによって、例えば、眼鏡フレームのリムの断面形状を容易に精度よく取得することができる。また、例えば、測定光束による測定であるため、迅速に測定を行うことができる。
　例えば、本実施形態において、眼鏡枠形状測定装置は、取得手段によって取得された断面形状におけるリムの欠損部分を補間する補間手段（例えば、制御部５０）を備える。これによって、例えば、眼鏡フレームのタイプ、眼鏡フレームに付着したごみ等によって、リムの溝から反射光束を良好に受光することが困難であり、取得した断面形状に欠損部分が生じていた場合であっても、欠損部分を補間することで、良好な断面形状を取得することができる。すなわち、例えば、種々のタイプの眼鏡フレームにおけるリムの断面形状を良好に取得することができる。
　＜投光光学系＞
　例えば、投光光学系は、光学部材を有してもよい。この場合、例えば、光源から出射された測定光束が各光学部材を介して眼鏡フレームのリムの溝に向けて照射されるようにしてもよい。例えば、光学部材としては、レンズ、ミラー、絞り、等の少なくともいずれかを用いてもよい。例えば、絞りを用いることによって、焦点深度を深くすることができる。もちろん、光学部材としては、上記光学部材に限定されず、異なる光学部材が用いられてもよい。
　なお、例えば、投光光学系は、光源から出射された測定光束が眼鏡フレームのリムの溝に向けて照射される構成であればよい。例えば、少なくとも光源を有する構成であってもよい。また、例えば、投光光学系としては、光学部材とは異なる部材を経由して、光源から出射された測定光束が眼鏡フレームのリムの溝に向けて照射される構成であってもよい。
　例えば、投光光学系によって、眼鏡フレームのリムの溝に向けて照射される測定光束は、スポット状の測定光束を照射してもよい。また、例えば、投光光学系によって、眼鏡フレームのリムの溝に向けて照射される測定光束は、幅を有する測定光束（例えば、スリット状の測定光束）であってもよい。この場合、例えば、投光光学系は、光源からの測定光束を眼鏡フレームのリムの溝に向けて照射し、リムの溝上に光切断面を形成させてもよい。例えば、受光光学系は、光切断面のリムの溝での反射（例えば、散乱、正反射等）により取得されるリムの溝の反射光束（例えば、散乱光、正反射光等）を検出器によって、受光するようにしてもよい。
　例えば、幅を有する測定光束を照射する場合、スリット状の光束を出射する光源を用いてもよい。例えば、点光源を用いてもよい。この場合、例えば、点光源を複数並べて配置することによって、幅を有する測定光束を照射するようにしてもよい。また、例えば、点光源から照射されたスポット状の光束を走査することによって、幅を有する測定光束を照射するようにしてもよい。また、例えば、点光源から照射されたスポット状の測定光束を光学部材によって拡散させることによって、幅を有する測定光束を照射するようにしてもよい。もちろん、例えば、光源としては、上記光源とは異なる種々の種類の光源を用いて、幅を有する測定光束を照射するようにしてもよい。
　＜受光光学系＞
　例えば、受光光学系は、光学部材を有してもよい。この場合、例えば、眼鏡フレームのリムの溝によって反射された測定光束の反射光束が各光学部材を介して、検出器に受光されるようにしてもよい。例えば、光学部材としては、レンズ、ミラー、絞り、等の少なくともいずれかを用いてもよい。もちろん、光学部材としては、上記光学部材に限定されず、異なる光学部材が用いられてもよい。
　なお、例えば、受光光学系は、眼鏡フレームのリムの溝によって反射された測定光束の反射光束が検出器に受光される構成であればよい。例えば、少なくとも検出器を有する構成であってもよい。また、例えば、受光光学系としては、光学部材とは異なる部材を経由して、眼鏡フレームのリムの溝によって反射された測定光束の反射光束が検出器に受光される構成であってもよい。
　＜取得手段＞
　例えば、取得手段は、眼鏡フレームのリムの溝によって反射された測定光束の反射光束を処理して、眼鏡フレームのリムの溝の断面形状を取得する。例えば、取得手段は、検出器における反射光束の受光位置から断面形状を取得してもよい。例えば、断面形状は、画像（画像データ）であってもよい。すなわち、断面形状は、断面画像であってもよい。また、例えば、断面形状は、信号（信号データ）であってもよい。すなわち、断面形状は、断面形状の信号データであってもよい。
　例えば、断面形状としては、二次元断面形状、三次元断面形状等が挙げられる。例えば、二次元断面形状は、１つの動径角におけるリムの溝に測定光束を照射し、その反射光束を受光することによって取得される断面形状である。例えば、本実施形態において、二次元断面形状は、リムの溝を眼鏡フレームの動径方向（本実施形態においては、ＸＹ方向）に垂直な方向（本実施形態においては、Ｚ方向）に切断した面の形状である。なお、例えば、二次元断面形状は、測定光束を横断位置（本実施形態においては、Ｚ方向）に沿って走査させることによって取得してもよい。また、例えば、三次元断面形状は、二次元断面形状を各動径角毎に取得することによって、取得される断面形状である。例えば、三次元断面形状は、二次元断面形状を取得するための測定光束を眼鏡フレームの動径平面方向（本実施形態においては、ＸＹ平面方向）で走査することによって取得するようにしてもよい。
　なお、例えば、断面形状の取得した際に、断面形状の一部が欠損している場合に、欠損している位置の周辺の位置（例えば、隣接する位置）における反射光束の受光結果から、欠損部分を補間するようにしてもよい。また、例えば、断面形状の取得した際に、断面形状の一部が欠損している場合に、断面形状を近似することによって、欠損部分を補間するようにしてもよい。また、例えば、断面形状の取得した際に、断面形状の一部が欠損している場合に、欠損部分が取得されるように断面形状の再取得を行うようにしてもよい。
　例えば、二次断面形状は、眼鏡フレームのリムの全周（各動径角においてリムが形成されているすべての部分）の内、少なくとも１つの箇所（1つの動径角の位置）でのリムの溝の二次元断面形状が取得されるようにしてもよい。この場合、例えば、二次元断面形状は、眼鏡フレームのリムの全周において、取得されるようにしてもよい。また、この場合、例えば、二次元断面形状は、眼鏡フレームのリムの全周において、複数の位置（例えば、眼鏡フレームの左端、右端、上端、下端等）で取得されるようにしてもよい。また、この場合、例えば、二次元断面形状は、眼鏡フレームのリムの全周において、1つの動径角の位置で取得されるようにしてもよい。
　例えば、三次元断面形状を取得する場合、眼鏡フレームのリムの全周（各動径角においてリムが形成されているすべての部分）の内、少なくとも一部の領域でのリムの溝の三次元断面形状が取得されるようにしてもよい。この場合、例えば、三次元断面形状は、眼鏡フレームのリムの全周において、取得されるようにしてもよい。また、この場合、例えば、三次元断面形状は、眼鏡フレームのリムの全周において、複数の領域（例えば、眼鏡フレームの左端領域、右端領域、上端領域、下端領域等）で取得されるようにしてもよい。また、この場合、例えば、三次元断面形状は、眼鏡フレームのリムの全周において、一部分の領域で取得されるようにしてもよい。なお、眼鏡フレームのリムの全周に対して三次元断面形状を取得していない場合で、眼鏡フレームのリムの全周の三次元断面形状を取得したい場合には、二次元断面形状を取得した部分の二次元断面形状（三次元断面形状）に基づいて、補間をすることによって、眼鏡フレームのリムの全周の三次元断面形状を取得してもよい。
　＜第１変更手段及び第１制御手段＞
　例えば、眼鏡枠形状測定装置は、第１変更手段（例えば、移動ユニット２１０、回転ユニット２６０）を備えてもよい。例えば、第１変更手段は、眼鏡フレームのリムの溝に対する測定光束の照射位置を変更する。また、例えば、眼鏡枠形状測定装置は、第１変更手段を制御する第１制御手段（例えば、制御部５０）を備えてもよい。
　例えば、眼鏡枠形状測定装置は、眼鏡フレームのリムの溝に対する測定光束の照射位置を変更する第１変更手段と、第１変更手段を制御する第１制御手段と、を備える。これによって、眼鏡フレームにおける任意のリムの溝の位置へ測定光束を照射することが可能となり、任意の位置におけるリムの溝の断面形状を取得することができる。
　例えば、第１変更手段は、測定光束の照射位置と眼鏡フレームのリムの溝との相対位置を変更する構成であってもよい。例えば、第１変更手段は、測定光束の照射位置と、眼鏡フレームのリムの溝の位置と、の少なくとも一方の位置を変更する構成であってもよい。この場合、例えば、第１変更手段は、測定光束の照射位置に対して、眼鏡フレームのリムの溝の位置を変更する構成であってもよい。すなわち、第１変更手段は、測定光束の照射位置に対して、眼鏡フレームの位置を変更する構成であってもよい。また、この場合、例えば、第１変更手段は、眼鏡フレームのリムの溝の位置に対して、測定光束の照射位置を変更する構成であってもよい。また、この場合、例えば、第１変更手段は、眼鏡フレームのリムの溝の位置と、測定光束の照射位置と、の双方を変更する構成であってもよい。
　例えば、第１変更手段が測定光束の照射位置と眼鏡フレームのリムの溝との相対位置を変更する構成として、投光光学系と眼鏡フレームのリムの溝との相対位置を変更する構成であってもよい。例えば、投光光学系の位置とは、投光光学系の光軸（例えば、光軸Ｌ１）の位置であってもよい。すなわち、例えば、第１変更手段が投光光学系の光軸の位置と眼鏡フレームのリムの溝との相対位置を変更することで、測定光束の照射位置と眼鏡フレームのリムの溝との相対位置を変更する構成であってもよい。
　例えば、投光光学系の位置（例えば、投光光学系の光軸の位置）と眼鏡フレームのリムの溝の位置との相対位置を変更する構成としては、投光光学系の位置と眼鏡フレームのリムの溝の位置との少なくとも一方の位置を変更する構成であってもよい。この場合、例えば、投光光学系の位置と眼鏡フレームのリムの溝の位置との少なくとも一方の位置を変更する構成としては、投光光学系の位置に対して、眼鏡フレームのリムの溝の位置を変更する構成であってもよい。また、この場合、例えば、投光光学系の位置と眼鏡フレームのリムの溝の位置との少なくとも一方の位置を変更する構成としては、眼鏡フレームのリムの溝の位置に対して、投光光学系の位置を変更する構成であってもよい。また、この場合、例えば、投光光学系の位置と眼鏡フレームのリムの溝の位置との少なくとも一方の位置を変更する構成としては、投光光学系の位置と眼鏡フレームのリムの溝の位置との双方の位置を変更する構成であってもよい。
　なお、例えば、投光光学系の位置を変更する構成としては、投光光学系に含まれる少なくともいずれかの部材（例えば、光源、光学部材、その他部材等）の位置を変更する構成であってもよい。すなわち、例えば、第１変更手段は、投光光学系の少なくとも一部（一部の部材）の位置を変更させることで、眼鏡フレームのリムの溝に対する投光光学系の位置を変更する構成であってもよい。この場合、例えば、第１制御手段は、第１変更手段を制御することによって、投光光学系の少なくとも一部の位置を変更させ、眼鏡フレームのリムの溝に対する測定光束の照射位置を変更するようにしてもよい。
　例えば、眼鏡枠形状測定装置は、第１変更手段が投光光学系の少なくとも一部を移動させる第１変更手段であって、第１制御手段は、第１変更手段を制御することによって、眼鏡フレームのリムの溝に対して投光光学系の少なくとも一部を移動させ、眼鏡フレームのリムの溝に対する測定光束の照射位置を変更する。これによって、眼鏡フレームにおける任意のリムの溝の位置へ測定光束を照射することが可能となり、任意の位置におけるリムの溝の断面形状を取得することができる。
　例えば、投光光学系の少なくとも一部の位置を変更させる構成としては、駆動源（例えば、モータ）を有し、投光光学系の少なくとも一部の位置をＸ方向に移動させるＸ方向駆動手段であってもよい。例えば、投光光学系の少なくとも一部の位置を変更させる構成としては、駆動源（例えば、モータ）を有し、投光光学系の少なくとも一部の位置をＹ方向に移動させるＹ方向駆動手段であってもよい。例えば、投光光学系の少なくとも一部の位置を変更させる構成としては、駆動源（例えば、モータ）を有し、投光光学系の少なくとも一部の位置をＺ方向に移動させるＺ方向駆動手段であってもよい。例えば、投光光学系の少なくとも一部の位置を変更させる構成としては、駆動源（例えば、モータ）を有し、投光光学系の少なくとも一部の位置を回転させる回転駆動手段（例えば、回転ユニット２６０）であってもよい。また、例えば、投光光学系の少なくとも一部の位置を変更させる構成としては、Ｘ方向駆動手段、Ｙ方向駆動手段、Ｚ方向駆動手段、回転駆動手段、の少なくともいずれかであってもよい。もちろん、投光光学系の少なくとも一部の位置を変更させる構成としては、上記駆動手段に限定されず、投光光学系の少なくとも一部の位置を上記方向とは異なる方向に駆動手段が用いられる構成であってもよい。
　また、例えば、投光光学系の少なくとも一部の位置を変更させる構成としては、光スキャナを有し、光スキャナを走査する走査手段であってもよい。この場合、例えば、光スキャナの角度が変更されることによって、測定光束の照射位置が変更されるようにしてもよい。すなわち、例えば、光スキャナの位置が変更されることによって、測定光束の照射位置が変更されるようにしてもよい。
　例えば、眼鏡フレームのリムの溝の位置を変更させる構成としては、駆動源（例えば、モータ）を有し、眼鏡フレームをＸ方向に移動させるＸ方向駆動手段であってもよい。また、例えば、眼鏡フレームのリムの溝の位置を変更させる構成としては、駆動源（例えば、モータ）を有し、眼鏡フレームをＹ方向に移動させるＹ方向駆動手段であってもよい。また、例えば、眼鏡フレームのリムの溝の位置を変更させる構成としては、駆動源（例えば、モータ）を有し、眼鏡フレームをＺ方向に移動させるＺ方向駆動手段であってもよい。また、例えば、眼鏡フレームのリムの溝の位置を変更させる構成としては、駆動源（例えば、モータ）を有し、眼鏡フレームを回転させる回転駆動手段であってもよい。また、例えば、眼鏡フレームのリムの溝の位置を変更させる構成としては、Ｘ方向駆動手段、Ｙ方向駆動手段、Ｚ方向駆動手段、回転駆動手段、の少なくともいずれかであってもよい。もちろん、眼鏡フレームのリムの溝の位置を変更させる構成としては、上記駆動手段に限定されず、眼鏡フレームのリムの溝の位置を上記方向とは異なる方向に駆動手段が用いられる構成であってもよい。
　＜第２変更手段及び第２制御手段＞
　例えば、眼鏡枠形状測定装置は、第２変更手段（例えば、移動ユニット２１０、回転ユニット２６０）を備えてもよい。例えば、第２変更手段は、受光光学系による反射光束の受光位置を変更する。例えば、眼鏡枠形状測定装置は、第２変更手段を制御する第２制御手段（例えば、制御部５０）を備えてもよい。
　例えば、本実施形態において、眼鏡枠形状測定装置は、受光光学系による反射光束の受光位置を変更する第２変更手段と、第２変更手段を制御する第２制御手段と、を備える。これによって、リムの溝の断面形状を良好に取得することができる位置に受光位置を変更することができ、眼鏡フレームのリムの断面形状をより精度よく取得することができる。
　例えば、第２変更手段は、受光光学系の位置と眼鏡フレームのリムの溝との相対位置を変更することで、受光光学系による反射光束の受光位置を変更する構成であってもよい。例えば、受光光学系の位置とは、受光光学系の光軸（例えば、光軸Ｌ２）の位置であってもよい。すなわち、例えば、第２変更手段が受光光学系の光軸の位置と眼鏡フレームのリムの溝との相対位置を変更することで、測定光束の照射位置と眼鏡フレームのリムの溝との相対位置を変更する構成であってもよい。
　例えば、第２変更手段は、受光光学系の位置と、眼鏡フレームのリムの溝の位置と、の少なくとも一方の位置を変更する構成であってもよい。この場合、例えば、第２変更手段は、受光光学系の位置に対して、眼鏡フレームのリムの溝の位置を変更する構成であってもよい。すなわち、第２変更手段は、受光光学系の位置に対して、眼鏡フレームの位置を変更する構成であってもよい。また、この場合、例えば、第２変更手段は、眼鏡フレームのリムの溝の位置に対して、受光光学系の位置を変更する構成であってもよい。また、この場合、例えば、第２変更手段は、眼鏡フレームのリムの溝の位置と、受光光学系の位置と、の双方を変更する構成であってもよい。
　なお、例えば、受光光学系の位置を変更する構成としては、受光光学系に含まれる少なくともいずれかの部材（例えば、検出器、光学部材、その他部材等）の位置を変更する構成であってもよい。すなわち、例えば、第２変更手段は、受光光学系の少なくとも一部（一部の部材）の位置を変更させることで、眼鏡フレームのリムの溝に対する受光光学系の位置を変更する構成であってもよい。この場合、例えば、第２制御手段は、第２変更手段を制御することによって、受光光学系の少なくとも一部の位置を変更させ、受光光学系による反射光束の受光位置を変更するようにしてもよい。
　例えば、受光光学系の少なくとも一部の位置を変更させる構成としては、駆動源（例えば、モータ）を有し、受光光学系の少なくとも一部の位置をＸ方向に移動させるＸ方向駆動手段であってもよい。例えば、受光光学系の少なくとも一部の位置を変更させる構成としては、駆動源（例えば、モータ）を有し、受光光学系の少なくとも一部の位置をＹ方向に移動させるＹ方向駆動手段であってもよい。例えば、受光光学系の少なくとも一部の位置を変更させる構成としては、駆動源（例えば、モータ）を有し、受光光学系の少なくとも一部の位置をＺ方向に移動させるＺ方向駆動手段であってもよい。例えば、受光光学系の少なくとも一部の位置を変更させる構成としては、駆動源（例えば、モータ）を有し、受光光学系の少なくとも一部の位置を回転させる回転駆動手段であってもよい。また、例えば、受光光学系の少なくとも一部の位置を変更させる構成としては、Ｘ方向駆動手段、Ｙ方向駆動手段、Ｚ方向駆動手段、回転駆動手段、の少なくともいずれかであってもよい。もちろん、受光光学系の少なくとも一部の位置を変更させる構成としては、上記駆動手段に限定されず、受光光学系の少なくとも一部の位置を上記方向とは異なる方向に駆動手段が用いられる構成であってもよい。
　また、例えば、受光光学系の少なくとも一部の位置を変更させる構成としては、光スキャナを有し、光スキャナを走査する走査手段であってもよい。この場合、例えば、光スキャナの角度が変更されることによって、受光光学系による反射光束の受光位置を変更するようにしてもよい。すなわち、例えば、光スキャナの位置が変更されることによって、受光光学系による反射光束の受光位置を変更するようにしてもよい。
　例えば、眼鏡フレームのリムの溝の位置を変更させる構成としては、上記で記載した＜第１変更手段及び第１制御手段＞の構成と同様の構成を用いることができる。
　なお、例えば、第１変更手段と第２変更手段の制御は、それぞれ異なるタイミングで制御されるようにしてもよい。また、例えば、第１変更手段と第２変更手段の制御は、一体的に制御されるようにしてもよい。なお、例えば、第１変更手段の構成と第２変更手段の構成とは、少なくとも一部の部材が兼用されてもよい。
　＜補間手段＞
　例えば、本実施形態において、眼鏡枠形状測定装置は、取得手段によって取得された断面形状におけるリムの欠損部分を補間する補間手段を備える。
　例えば、補間手段は、リムのいずれかの部位の欠損部分を補間するようにしてもよい。例えば、リムのいずれかの部位は、リムの肩と、リムの溝と、リムの外部表面部分（リムの外形部）、リムのリブの少なくともいずれかであってもよい。なお、例えば、リムの肩とは、リムの前面の肩とリムの後面の肩との少なくともいずれかであってもよい。例えば、リムの溝とは、リムの溝の斜面とリムの溝の底との少なくともいずれかであってもよい。なお、例えば、リムの溝の斜面とは、リムの溝の前斜面とリムの溝の後斜面とのいずれかであってもよい。
　なお、例えば、少なくともリムの溝の欠損部分を補間することがより好ましい。この場合、例えば、補間手段は、断面形状におけるリムの溝の欠損部分を少なくとも補間するようにしてもよい。例えば、断面形状において、リムの溝部分における断面形状をより確実に取得することができ、良好な断面形状を取得することができる。特に、リムの溝部分の断面形状を良好に取得することがより好ましいため、有用となる。
　例えば、補間手段は、操作手段からの操作信号に基づいて、断面形状を補間するようにしてもよい。この場合、例えば、検者によって、取得された断面形状に基づいて、操作手段が操作され、操作手段の操作によって操作信号が出力される。例えば、補間手段は、出力された操作信号に基づいて、断面形状を補間するようにしてもよい。一例として、例えば、検者が操作手段を操作して、欠損部分が選択し、欠損部分を補間（例えば、線を引く等）するようにしてもよい。なお、例えば、検者は、欠損部分に関する判定情報に基づいて、補間のための操作を行ってもよい。例えば、判定情報は、後述する判定結果（欠損部分の存在の有無を示す結果）であってもよい。また、例えば、判定情報は、判定結果に基づくガイド情報（例えば、欠損部分が存在していることを示す警告情報、欠損部分の確認を促す情報、欠損部分の補間を促す情報、欠損部分の補間の仕方を示す情報等）であってもよい。もちろん、判定情報としては、上記構成に限定されず、欠損部分の存在の有無を識別できる情報あればよい。
　例えば、補間手段は、予め設定されたリム情報に基づいて、補間を行うようにしてもよい。例えば、補間手段は、予め設定されたリム情報から欠損部分の形状を推定して補間するようにしてもよい。この場合、例えば、補間手段は、予め設定されたリム情報と欠損部分の形状が類似するように、補間を行うようにしてもよい。この場合、例えば、補間手段は、予め設定されたリム情報から欠損部分の形状を推定して補間するようにしてもよい。例えば、予め設定されたリム情報とは、測定を行うリムの少なくとも一部に関する情報であればよい。この場合、例えば、予め設定されたリム情報とは、測定を行う眼鏡フレームの設計データ（リムの構造を示すデータ）であってもよい。また、例えば、予め設定されたリム情報とは、溝の形状データ（例えば、溝部分の形状が三角形、四角形、円形等の少なくともいずれかを示す形状データ等）であってもよい。なお、例えば、リム情報は、眼鏡枠形状測定装置がリム情報を他の装置から受信することによって、取得してもよい。また、例えば、リム情報は、検者によって、リム情報が入力され、入力されたリム情報を眼鏡枠形状測定装置が受信することによって取得する構成であってもよい。この場合、例えば、検者によって、メモリに記憶されたリム情報の中から所望のリム情報が選択されて、リム情報が入力されるようにしてもよい。また、この場合、例えば、検者によって、眼鏡枠形状測定装置に着脱可能なメモリが眼鏡枠形状測定装置に接続されることによって、メモリからリム情報が送信されて、リム情報が入力されるようにしてもよい。
　また、例えば、補間手段は、眼鏡フレームにおける少なくとも１つ以上の測定位置において、測定子をリムに押し当てて移動させることで、リムの輪郭をトレースして測定された測定結果に基づいて、補間するようにしてもよい。この場合、例えば、眼鏡枠形状測定装置において、眼鏡フレームのリムに測定子を挿入し、測定子をリムに押し当てて移動させることで、リムの輪郭をトレースし、リムの形状を測定する測定光学系を設けてもよい。もちろん、眼鏡枠形状測定装置とは異なる装置に設けられた上記測定光学系を用いて、リムの形状を測定してもよい。この場合、異なる装置によって取得された測定結果を眼鏡枠形状測定装置が受信するようにしてもよい。測定子によって測定された結果を用いることで、リムからの反射光束が取得しづらい眼鏡フレームであっても、良好に補間を行うことができる。
　また、例えば、補間手段は、断面形状におけるリムの欠損部分の近傍の断面形状に基づいて、断面形状におけるリムの欠損部分を補間するようにしてもよい。これによって、例えば、余分な構成や構成を用いるための制御を必要とせず、容易に欠損部分の補間を行うことができる。
　例えば、近傍の断面形状に基づいて、断面形状におけるリムの欠損部分を補間する方法として、補間手段は、欠損部分の近傍部分の断面形状から欠損部分のリムの断面形状を推定するようにして補間するようにしてもよい。例えば、欠損部分の近傍部分から推定する方法として、補間手段は、近傍の断面形状に適合する近似曲線を取得し、近似曲線にて欠損部分を補間するようにしてもよい。また、例えば、欠損部分の近傍部分から推定する方法として、補間手段は、欠損部分の近傍の断面形状間を直線と曲線との少なくとも一方で接続することによって、欠損部分を補間するようにしてもよい。この場合、例えば、補間手段は、断面形状が存在している部分の２つの末端（欠損部分の２つ末端）を直線と曲線の少なくとも一方にて延長させて断面形状が存在している部分の２つの末端を接続させるようにしてもよい。もちろん、近傍の断面形状に基づいて、断面形状におけるリムの欠損部分を補間する方法としては上記方法に限定されず、近傍の断面形状を用いて欠損部分が取得される構成であればよい。
　また、例えば、補間手段は、別途断面形状を取得して、取得した断面形状に基づいて、リムの欠損部分を補間するようにしてもよい。この場合、例えば、取得手段は、断面形状（第１断面形状）とは異なる断面形状（第２断面形状）を取得するようにしてもよい。すなわち、取得手段は、第１断面形状とは異なる第２断面形状を取得するようにしてもよい。また、例えば、補間手段は、断面形状とは異なる断面形状に基づいて、断面形状におけるリムの欠損部分を補間するようにしてもよい。　これによって、例えば、他の断面形状に基づく補間を行うことができるため、欠損部分を実際の断面形状又は実際の断面形状に近い形状で補間することができる。このため、より精度よく補間を行うことができ、良好な断面形状を取得することができる。
　例えば、補間手段は、異なる断面形状に基づいて断面形状におけるリムの欠損部分を補間する構成として、異なる断面形状を合成処理することで、断面形状の欠損部分の補間を行うようにしてもよい。この場合、例えば、補間手段は、断面形状に対して、異なる断面形状を合成処理することによって、断面形状におけるリムの欠損部分を補間するようにしてもよい。例えば、合成処理によって断面形状の補間を行うことができるため、複雑な演算処理等を必要とせず、容易に良好な断面形状を取得することができる。
　なお、合成処理を行う場合、少なくとも欠損部分について合成処理が行われるようにしてもよい。例えば、異なる断面形状に基づいて欠損部分のみが合成処理されるようにしてもよい。この場合、例えば、補間手段は、異なる断面形状から欠損部分に適合する断面形状を抽出して、欠損部分が生じている断面形状の欠損部分に対して合成処理するようにしてもよい。もちろん、異なる断面形状に基づいて欠損部分のみを合成する際には、上記手法に限定されず、種々の方法を用いて合成処理を行うようにしてもよい。
　また、例えば、補間手段は、欠損部分が生じている断面形状と異なる断面形状とで形状間全体が合成処理されるようにしてもよい。この場合、例えば、補間手段は、欠損部分が生じている断面形状（一例として、断面画像）に対して異なる断面形状（例えば、一例として断面画像）を加算処理することで、形状間全体を合成するようにしてもよい。また、この場合、例えば、補間手段は、欠損部分が生じている断面形状と異なる断面形状とを加算平均処理することによって、形状間全体を合成するようにしてもよい。なお、例えば、加算処理及び加算平均処理を行う場合に、断面形状の輝度値を加算処理又は加算平均処理するようにしてもよい。もちろん、形状間全体を合成する際には、上記手法に限定されず、種々の方法を用いて合成処理を行うようにしてもよい。
　また、例えば、補間手段は、異なる断面形状に基づいて断面形状におけるリムの欠損部分を補間する構成として、異なる断面形状に基づいて欠損部分の形状を推定して補間するようにしてもよい。この場合、例えば、補間手段は、異なる断面形状と欠損部分の形状が類似するように、補間を行うようにしてもよい。この場合、例えば、補間手段は、異なる断面形状から欠損部分の形状を推定して補間するようにしてもよい。
　もちろん、例えば、異なる断面形状に基づいて断面形状におけるリムの欠損部分を補間する構成としては上記構成に限定されない。例えば、異なる断面形状を利用して、断面形状の欠損部分の補間を行う構成であればよい。
　例えば、異なる断面形状を取得するタイミングとしては、測定中に取得するようにしてもよい。この場合、例えば、測定中に欠損部分が生じた断面形状が取得された測定位置において、連続的に異なる断面形状が取得されてもよい。また、異なる断面形状を取得するタイミングとしては、測定が完了した後に取得するようにしてもよい。この場合、例えば、測定が完了した後、測定中に欠損部分が生じた断面形状について再測定が行われることで異なる断面形状が取得されるようにしてもよい。もちろん、異なる断面形状を取得するタイミングとしては、上記タイミングに限定されず、欠損部分を補間するための断面形状が取得可能なタイミングであればよい。
　例えば、異なる断面形状とは、欠損部分が生じている断面形状（欠損部分を含む断面形状）を取得した測定位置と同一の測定位置にて撮影条件を変更して取得された断面形状であってもよい。この場合、例えば、異なる断面形状は、断面形状を取得した測定位置と同一の測定位置において、断面形状を取得した際の撮影条件とは異なる撮影条件にて取得された断面形状であってもよい。例えば、異なる撮影条件で断面形状を取得することによって、欠損部分の断面形状を良好に取得することが可能となる。これによって、欠損部分の断面形状に基づいて、欠損部分が生じている断面形状の補間を行うことができるため、断面形状をより精度よく補間することができる。
　また、例えば、異なる断面形状とは、欠損部分が生じている断面形状を取得した測定位置と異なる測定位置にて取得された断面形状であってもよい。この場合、例えば、異なる測定位置は、欠損部分が生じている断面形状を取得した測定位置の近傍の測定位置であってもよい。この場合、例えば、異なる測定位置は、欠損部分が生じている断面形状を取得した測定位置の近傍の測定位置に限定されず、異なる測定位置であってもよい。
　なお、例えば、異なる断面形状とは、欠損部分が生じている断面形状を取得した場合に対して、撮影条件と測定位置との少なくともいずれかが変更された場合で取得された断面形状であってもよい。
　例えば、撮影条件の変更は、検出器によって受光される反射光の輝度レベル、リムに対する測定光束の入射角、の少なくともいずれかの変更であってもよい。もちろん、撮影条件の変更は、上記構成に限定されない。例えば、撮影条件の変更は、取得された断面形状に変化が生じる変更であればよい。
　例えば、撮影条件の変更するために、検出器によって受光される反射光の輝度レベル（輝度値）を制御（変更）する場合、眼鏡枠形状測定装置は、検出器によって受光される反射光の輝度レベル（輝度値）を制御（変更）する輝度制御手段を備えていてもよい。例えば、輝度レベルが変更されることによって、断面の形状において輝度レベルが低い部分において断面形状が取得できず欠損部分が生じている場合であっても、輝度レベルを高くするように、輝度レベルの制御を行うことで、欠損部分に関する断面形状を取得することができる。また、例えば、輝度レベルが変更されることによって、輝度レベルが高い部分において断面形状の取得できず欠損部分が生じている場合であっても、輝度レベルを低くするように、輝度レベルの制御を行うことで、欠損部分に関する断面形状を取得することができる。
　例えば、輝度制御手段は、眼鏡枠形状測定装置が備える各部材の少なくともいずれかの部材を制御する構成であってもよい。例えば、各部材は、光源、検出器、レンズ、反射部材等の少なくともいずれかであってもよい。
　例えば、輝度制御手段は、光源からの測定光の投光光量を制御することによって、検出器によって受光される反射光の輝度レベルを制御するようにしてもよい。また、例えば、輝度制御手段は、検出器のゲインを制御することによって、検出器によって受光される反射光の輝度レベルを制御するようにしてもよい。
　また、例えば、輝度制御手段は、光源から検出器までの光路中（投光光学系と受光光学系の光路中）に測定光の光量を調整する部材を設ける構成としてもよい。この場合、例えば、光量を調整する専用の部材が設けられる構成であってもよい。例えば、専用の部材としては、光量調整フィルタ、光減衰器であってもよい。また、この場合、例えば、投光光学系と受光光学系の各部材の内、いずれかの部材が光量を調整する部材として用いられてもよい。また、例えば、輝度制御手段は、検出器における露光時間を制御することによって、検出器によって受光される反射光の輝度レベルを制御するようにしてもよい。また、例えば、輝度制御手段は、光源の発光時間を制御することによって、検出器によって受光される反射光の輝度レベルを制御するようにしてもよい。
　また、例えば、輝度制御手段は、光源からリムまでの距離を変更する構成と、リムから検出器までの距離を変更する構成と、いずれか一方の構成によって、反射光の輝度レベルを制御するようにしてもよい。この場合、例えば、第１変更手段と、第２変更手段と、の少なくとも一方が制御されて、眼鏡フレームのリムの溝に対する測定光束の照射位置を変更するし制御と、受光光学系による反射光束の受光位置を変更すると、の少なくとも一方が実施されるようにしてもよい。なお、このとき、例えば、輝度制御手段は、第１制御手段と、第２制御手段と、の少なくともいずれかと兼用されてもよい。もちろん、例えば、輝度制御手段は、別途、設けられるようにしてもよい。
　なお、例えば、輝度制御手段は、上記構成に限定されない。例えば、輝度制御手段は、検出器によって受光される反射光の輝度レベルを制御できる構成であればよい。なお、例えば、輝度制御手段は、上記構成の少なくともいずれかの構成であってもよい。例えば、輝度制御手段は、上記構成の内、１つを備える構成であってもよい。また、例えば、輝度制御手段は、上記構成の内、複数の構成を組み合わせるようにしてもよい。一例として、輝度制御手段は、光源からの測定光の投光光量の制御と、検出器のゲインを調整と、を行うようにしてもよい。
　また、例えば、撮影条件の変更するために、リムに対する測定光束の入射角を変更する場合、例えば、眼鏡枠形状測定装置は、眼鏡フレームのリムの溝に向けて照射する測定光束の入射角を変更する入射角変更手段と、入射角変更手段を制御する入射角制御手段（例えば、制御部５０）と、を設けてもよい。例えば、入射角制御手段は、入射角変更手段を制御することで、測定光束の入射角を制御するようにしてもよい。
　例えば、入射角変更手段は、第１変更手段と第２変更手段の少なくともいずれかが用いられてもよい。また、この場合、例えば、入射角変更手段は、別途、専用の構成が設けられるようにしてもよい。また、この場合、例えば、入射角変更手段は、第１変更手段と第２変更手段の少なくともいずれかの一部の構成と専用の構成とが用いられるようにしてもよい。
　例えば、入射角変更手段は、測定光束をＸＹ平面上で回転させて、測定光束の入射角を変更させるようにしてもよい。この場合、例えば、取得される異なる断面形状は、歪みと傾きの少なくともいずれか（特に歪み）を補正した後に、補間に用いられるようにしてもよい。また、例えば、入射角変更手段は、測定光束をＺ方向に回転させて、測定光束の入射角を変更させるようにしてもよい。この場合、例えば、取得される異なる断面形状は、歪みと傾きの少なくともいずれか（特に傾き）を補正した後に、補間に用いられるようにしてもよい。もちろん、上記ＸＹ平面上での回転及びＺ方向への回転が組みわされた回転によって、測定光束の入射角を変更させるようにしてもよい。この場合、例えば、取得される異なる断面形状は、歪みと傾きの少なくともいずれかを補正した後に、補間に用いられるようにしてもよい。
　なお、例えば、眼鏡枠形状測定装置は、欠損部分が存在するか否かを判定することによって、補間を行うか否かを決定するようにしてもよい。この場合、例えば、眼鏡枠形状測定装置は、断面形状を解析処理することによって、断面形状における欠損部分が存在する否かを判定する欠損部分判定手段を備えるようにしてもよい。例えば、補間手段は、欠損部分判定手段による判定結果に基づいて、断面形状におけるリムの欠損部分を補間するようにしてもよい。例えば、判定処理を行うことで、断面形状における欠損部分をより精度よく特定することができる。このため、断面形状における欠損部分をより確実に補間することができ、容易に良好な断面形状を取得することができる。
　例えば、判定手段は、取得された断面形状の輝度レベルが許容レベルを満たすか否かに基づいて、断面形状における欠損部分が存在する否かを判定するようにしてもよい。一例として、例えば、判定手段は、取得された断面形状において、断面形状の輝度レベルを検出するようにしてもよい。例えば、判定手段は、断面形状における輝度レベルが許容レベルを満たすか否かを断面形状上における領域（部分）毎に判定をするようにしてもよい。例えば、判定手段は、輝度レベルが許容レベルを満たさなかった領域において欠損部分として判定するようにしてもよい。
　なお、例えば、上記の許容レベルは、予め設定された許容レベルであってもよい。例えば、予め、シミュレーションや実験等によって断面形状が検出できる許容レベルが設定されるようにしてもよい。なお、判定方法としては、上記手法に限定されない。例えば、判定手法としては、断面形状が検出できるか否かを判定できる方法であればよい。
　例えば、判定手段は、一定の範囲の領域で欠損部分があると判定した場合に、最終的な判定結果として、欠損部分が存在すると判定するようにしてもよい。また、例えば、判定手段は、一箇所（一部）でも欠損部分が存在すると判定した場合、最終的な判定結果として、欠損部分が存在すると判定するようにしてもよい。
　なお、例えば、補間手段が補間を行うタイミングとしては種々のタイミング実施するようにしてもよい。例えば、補間手段は、眼鏡フレームのリムの測定中において、取得された断面形状を補間していくようにしてもよい。すなわち、眼鏡フレームのリムの測定による断面形状の取得と並行して、欠損部分が生じている断面形状の補間を実施していくようにしてもよい。また、例えば、補間手段は、眼鏡フレームのリムの測定が完了した後、取得された断面形状の欠損部分における補間を行うようにしてもよい。
　＜眼鏡フレームの形状取得＞
　例えば、眼鏡枠形状測定装置は、眼鏡フレームの形状（形状データ）を取得するようにしてもよい。この場合、例えば、眼鏡枠形状測定装置は、解析手段（例えば、制御部５０）を備えてもよい。例えば、第１制御手段は、第１変更手段を制御して、眼鏡フレームの複数の動径角におけるリムの溝に対して測定光束を照射してもよい。例えば、取得手段は、眼鏡フレームの複数の動径角におけるリムの溝の断面形状をそれぞれ取得してもよい。なお、例えば、取得手段によって取得された断面形状に欠損部分が生じている場合に、補間手段は、断面形状の欠損部分を補間するようにしてもよい。
　例えば、解析手段は、眼鏡フレームの複数の動径角におけるリムの溝の断面形状から眼鏡フレームの複数の動径角におけるリムの溝の底をそれぞれ検出し、検出した検出結果に基づいて、眼鏡フレームの形状を取得するようにしてもよい。
　例えば、眼鏡フレームの形状は、二次元形状（二次元形状データ）であってもよい。例えば、二次元形状は、眼鏡フレームの動径方向（ＸＹ方向）のデータで表したものである。また、例えば、眼鏡フレームの形状は、三次元形状（三次元形状データ）であってもよい。例えば、三次元形状は、眼鏡フレームの動径方向（ＸＹ方向）及び動径方向に垂直な方向（Ｚ方向）のデータで表したものである。なお、例えば、二次元形状を取得する場合、解析手段は、三次元形状からＸＹ方向のリムの溝の位置を検出して二次元形状を取得するようにしてもよい。この場合、例えば、二次元形状は、三次元形状をＸＹ平面に投影することによって取得してもよい。
　例えば、眼鏡枠形状測定装置は、第１制御手段が第１変更手段を制御して、眼鏡フレームの複数の動径角におけるリムの溝に対して測定光束を照射する。取得手段は、眼鏡フレームの複数の動径角におけるリムの溝の断面形状をそれぞれ取得する。眼鏡枠形状測定装置は、眼鏡フレームの複数の動径角におけるリムの溝の断面形状から眼鏡フレームの複数の動径角におけるリムの溝の底をそれぞれ検出し、検出した検出結果に基づいて、眼鏡フレームの形状を取得する解析手段を備える。これによって、従来のように、眼鏡フレームによっては、測定子がレンズ枠の溝から外れてしまい測定できないことを抑制することができ、種々の形状の眼鏡フレームに対して、容易に精度よく眼鏡フレームの形状を取得することできる。
　例えば、眼鏡フレームの形状は、眼鏡フレームのリムの全周（各動径角においてリムが形成されているすべての部分）の内、少なくとも一部の領域で取得されるようにしてもよい。この場合、例えば、眼鏡フレームの形状は、眼鏡フレームのリムの全周において、取得されるようにしてもよい。また、この場合、例えば、眼鏡フレームの形状は、眼鏡フレームのリムの全周において、複数の領域（例えば、眼鏡フレームの左端領域、右端領域、上端領域、下端領域等）で取得されるようにしてもよい。また、この場合、例えば、眼鏡フレームの形状は、眼鏡フレームのリムの全周において、一部分の領域で取得されるようにしてもよい。なお、眼鏡フレームのリムの全周に対して眼鏡フレームの形状を取得していない場合で、眼鏡フレームのリムの全周の眼鏡フレームの形状を取得したい場合には、眼鏡フレームの形状を取得した部分の形状に基づいて、補間をすることによって、眼鏡フレームのリムの全周の形状を取得するようにしてもよい。
　＜三次元断面形状取得＞
　例えば、眼鏡枠形状測定装置は、三次元断面形状を取得してもよい。例えば、第１制御手段は、第１変更手段を制御して、眼鏡フレームの複数の動径角におけるリムの溝に対して測定光束を照射する。例えば、取得手段は、眼鏡フレームの複数の動径角におけるリムの溝の断面形状をそれぞれ取得することによって、三次元断面形状を取得するようにしてもよい。本実施例において、例えば、取得手段は、欠損部分を補間された断面形状と、欠損部分が存在していない断面形状とを用いて、三次元断面形状を取得するようにしてもよい。
　例えば、本実施形態において、眼鏡枠形状測定装置は、第１制御手段が第１変更手段を制御して、眼鏡フレームの複数の動径角におけるリムの溝に対して測定光束を照射する。取得手段は、眼鏡フレームの複数の動径角におけるリムの溝の断面形状をそれぞれ取得し、三次元断面形状を取得する。これによって、容易に精度よく眼鏡フレームの三次元断面形状を取得することできる。
　なお、例えば、取得手段と、第１制御手段と、第２制御手段と、補間手段と、輝度制御手段と、入射角制御手段と、判定手段と、解析手段と、の少なくともいずれかが兼用される構成であってもよい。また、例えば、取得手段と、第１制御手段と、第２制御手段と、補間手段と、輝度制御手段と、入射角制御手段と、判定手段と、解析手段と、が別途それぞれ設けられる構成であってもよい。
　＜レンズ加工＞
　例えば、眼鏡枠形状測定装置によって取得された眼鏡フレームのリムの溝の断面形状をレンズの加工に用いてもよい。例えば、レンズの周縁を加工するレンズ加工装置（例えば、レンズ加工装置３００）は、眼鏡枠形状測定装置によって取得された眼鏡フレームのリムの溝の断面形状を取得する。
　例えば、眼鏡枠形状測定装置は、送信手段を有し、送信手段によって、レンズ加工装置に向けて眼鏡フレームのリムの溝の断面形状を送信するようにしてもよい。この場合、例えば、レンズ加工装置は、受信手段を有し、眼鏡枠形状測定装置から送信された眼鏡フレームのリムの溝の断面形状を受信するようにしてもよい。
　なお、例えば、レンズ加工装置に眼鏡枠形状測定装置が備えられた構成であってもよい。また、例えば、レンズ加工装置と眼鏡枠形状測定装置とが別途それぞれ別装置であってもよい。この場合には、有線と無線との少なくともいずれかによって、眼鏡フレームのリムの溝の断面形状が眼鏡枠形状測定装置からレンズ加工装置に送信されるようにしてもよい。
　例えば、レンズ加工装置は、加工制御手段（例えば、制御部３１０）を備えてもよい。例えば、加工制御手段は、眼鏡枠形状測定装置によって取得された眼鏡フレームのリムの溝の断面形状に基づいてレンズの周縁を加工してもよい。例えば、加工制御手段は、レンズを保持するレンズ保持手段及び加工具を制御して、眼鏡フレームのリムの溝の断面形状に基づいてレンズの周縁を加工してもよい。
　例えば、本実施形態において、レンズ加工装置は、眼鏡フレームのリムの溝の断面形状に基づいてレンズの周縁を加工する加工制御手段を備える。これによって、眼鏡フレームに加工後のレンズを良好に枠入れする際に、リムの溝の形状と加工後のレンズの輪郭形状が近い形状となるため、枠入れを良好に行うことができる。
　＜実施例＞
　本開示の典型的な実施例の１つについて、図面を参照して説明する。図１は、眼鏡枠形状測定装置の外観略図である。例えば、図２は、眼鏡フレームが保持された状態のフレーム保持ユニットの上面図である。例えば、本実施例において、眼鏡枠形状測定装置１は、フレーム保持ユニット１０と、測定ユニット２０と、を備える。例えば、フレーム保持ユニット１０は、眼鏡フレームＦを所期する状態に保持する。例えば、測定ユニット２０は、フレーム保持ユニット１０に保持された眼鏡フレームＦのリム(例えば、左側リムＦＬ、右側リムＦＲｓ)の溝に向けて測定光束を照射し、その反射光束を受光することにより、眼鏡フレームＦのリムの溝の断面形状を取得するために用いられる。例えば、測定ユニット２０はフレーム保持ユニット１０の下に配置されている。
　例えば、眼鏡枠形状測定装置１の筐体の前側には測定開始用のスイッチ等を持つスイッチ部４が配置されている。例えば、眼鏡枠形状測定装置１の筐体の後側には、タッチパネル式のディスプレイ３が配置されている。例えば、レンズの周縁加工に際し、パネル部３により玉型データに対するレンズのレイアウトデータ、レンズの加工条件等が入力される。例えば、眼鏡枠形状測定装置１で得られた取得結果（リムの溝の断面形状、眼鏡フレーム形状等）及びディスプレイ３で入力されたデータは、レンズ加工装置に送信される。なお、眼鏡枠形状測定装置１は、特開２０００－３１４６１７号公報等と同じく、レンズ加工装置に組み込まれる構成としてもよい。
　＜フレーム保持ユニット＞
　例えば、フレーム保持ユニット１０の下側には、測定ユニット２０が備えられている。例えば、保持部ベース１０１上には眼鏡フレームＦを水平に保持するための前スライダー１０２と後スライダー１０３が載置されている。なお、例えば、水平とは略水平であってもよい。例えば、前スライダー１０２と後スライダー１０３は、その中心線ＣＬを中心に２つのレール１１１上を対向して摺動可能に配置されていると共に、バネ１１３により常に両者の中心線ＣＬに向かう方向に引っ張られている。
　例えば、前スライダー１０２には、眼鏡フレームＦのリムをその厚み方向からクランプするためのクランプピン１３０ａ，１３０ｂがそれぞれ２箇所に配置されている。例えば、後スライダー１０３には眼鏡フレームＦのリムをその厚み方向からクランプするためのクランプピン１３１ａ，１３１ｂがそれぞれ２箇所に配置されている。また、例えば、型板を測定するときは、前スライダー１０２及び後スライダー１０３が開放され、周知の型板保持治具が所定の取付け位置１４０に配置されて使用される。このフレーム保持ユニット１０の構成は、例えば、特開２０００－３１４６１７号公報等に記載された周知のものが使用できる。
　例えば、眼鏡フレームＦは、眼鏡装用時のリムの下側が前スライダー１０２側に位置され、リムの上側が後スライダー１０３側に位置される。例えば、左右のリムのそれぞれの下側及び上側に位置するクランプピンにより、眼鏡フレームＦは所定の測定状態に保持される。
　なお、本実施例においては、リムの前後方向の位置を規制する構成として、上記クランプピン１３０ａ，１３０ｂ及びクランプピン１３１ａ，１３１ｂの構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。周知の機構が使用されても良い。例えば、左右リムの前後方向を固定する機構としては、Ｖ字状の溝を持つ当接部材（規制部材）を左右リム用にそれぞれ設ける構成でも良い。
　＜測定ユニット＞
　以下、測定ユニット２０の構成について説明する。例えば、測定ユニット２０は、眼鏡フレーム測定光学系３０を備える。例えば、眼鏡フレーム測定光学系３０は、投光光学系３０ａと、受光光学系３０ｂと、で構成される。例えば、投光光学系３０ａ及び受光光学系３０ｂは、眼鏡フレームの形状及び眼鏡フレームのリムの溝の断面形状を取得するために用いられる（詳細は後述する）。
　例えば、測定ユニット２０は、投光光学系３０ａと受光光学系３０ｂとを保持する保持ユニット２５を備える。例えば、測定ユニット２０は、保持ユニット２５をＸＹＺ方向に移動させる移動ユニット２１０を備える（例えば、図３～図５参照）。また、例えば、測定ユニット２０は、回転軸Ｌ０を中心として保持ユニット２５を回転させる回転ユニット２６０を備える（例えば、図６参照）。なお、例えば、本実施例において、ＸＹ方向はフレーム保持ユニット１０により保持される眼鏡フレームＦの測定平面（リムの動径方向）と平行であり、Ｚ方向は測定平面に垂直な方向である。
　＜移動ユニット＞
　以下、移動ユニット２１０について説明する。例えば、図３～図５は、移動ユニット２１０の構成を説明する図である。例えば、図３は、移動ユニット２１０を上方から見た斜視図を示している。例えば、図４は、移動ユニット２１０の下方から見た斜視図を示している。例えば、図５は、Ｚ移動ユニット２２０とＹ移動ユニット２３０の上面斜視図（Ｘ移動ユニット２４０とベース部２１１を取り外した状態の斜視図）を示している。
　例えば、移動ユニット２１０は、大別して、Ｚ移動ユニット（Ｚ方向駆動手段）２２０と、Ｙ移動ユニット（Ｙ方向駆動手段）２３０と、Ｘ移動ユニット（Ｘ方向駆動手段）２４０と、を備える。例えば、Ｚ移動ユニット（Ｚ方向駆動手段）２２０は、保持ユニット２５をＺ方向に移動させる。例えば、Ｙ移動ユニット２３０は、保持ユニット２５及びＺ移動ユニット２２０を保持し、Ｙ方向へ移動させる。例えば、Ｘ移動ユニット２４０は、保持ユニット２５をＺ移動ユニット２２０及びＹ移動ユニット２３０と共にＸ方向に移動させる。
　例えば、Ｘ移動ユニット２４０は、概略的に次のように構成されている。例えば、Ｘ移動ユニット２４０は、水平方向（ＸＹ方向）に伸展した方形状の枠を持つベース部２１１の下方に、Ｘ方向に延びるガイドレール２４１を備える。例えば、Ｙ移動ユニット２３０のＹベース２３０ａが、ガイドレール２４１に沿って、Ｘ方向に移動可能に取り付けられている。例えば、ベース部２１１には、モータ（駆動源）２４５が取り付けられている。例えば、モータ２４５の回転軸には、Ｘ方向に延びる送りネジ２４２が取り付けられている。例えば、Ｙベース２３０ａに固定されたナット部２４６が送りネジ２４２に螺合されている。これにより、モータ２４５が回転されると、Ｙベース２３０ａがＸ方向に移動される。なお、例えば、Ｘ移動ユニット２４０のＸ方向の移動範囲は、眼鏡フレームの左右のレンズ枠を測定可能にするために、保持ユニット２５が搭載されるＹベース２３０ａを眼鏡フレームの左右幅以上に移動可能な長さを持つようにしてもよい。
　例えば、Ｙ移動ユニット２３０は、概略的に次のように構成されている。例えば、Ｙベース２３０ａには、Ｙ方向に延びるガイドレール２３１が取り付けられている。例えば、Ｚベース２２０ａは、ガイドレール２３１に沿ってＹ方向に移動可能に取り付けられている。例えば、Ｙベース２３０ａにはＹ移動用のモータ（駆動源）２３５とＹ方向に延びる送りネジ２３２が回転可能に取り付けられている。例えば、モータ２３５の回転は、ギヤ等の回転伝達機構を介して送りネジ２３２に伝達される。例えば、送りネジ２３２には、Ｚベース２２０ａに取り付けられたナット２２７が螺合されている。これらの構成により、モータ２３５が回転されると、Ｚベース２２０ａがＹ方向に移動される。
　例えば、Ｘ移動ユニット２４０及びＹ移動ユニット２３０によりＸＹ移動ユニットが構成される。例えば、保持ユニット２５をＸＹ方向に移動させる範囲は、測定可能なリムの動径よりも大きくされている。また、例えば、保持ユニット２５のＸＹ方向の移動位置は、後述する制御部５０によりモータ２４５及び２３５が駆動されるパルス数によって検知され、保持ユニット２５のＸＹ方向の位置を検知する第１のＸＹ位置検知ユニットがモータ２４５，２３５及び制御部５０により構成される。例えば、保持ユニット２５のＸＹ位置検知ユニットとしては、モータ２４５及び２３５のパルス制御で検知する他、モータ２４５及び２３５のそれぞれの回転軸に取り付けられたエンコーダ等のセンサを使用する構成でも良い。
　例えば、Ｚ移動ユニット２２０は、概略的に次のように構成されている。例えば、Ｚベース２２０ａにはＺ方向に延びるガイドレール２２１が形成され、このガイドレール２２１に沿って保持ユニット２５が取り付けられた移動ベース２５０ａがＺ方向に移動可能に保持されている。例えば、Ｚベース２２０ａには、Ｚ移動用のパルスモータ２２５が取り付けられていると共に、Ｚ方向に延びる送りネジ（図示を略す）が回転可能に取り付けられている。例えば、保持ユニット２５のベース２５０ａに取り付けられたナットに螺合されている。例えば、モータ２２５の回転はギヤ等の回転伝達機構を介して送りネジ２２２に伝達され、送りネジ２２２の回転により保持ユニット２５がＺ方向に移動される。保持ユニット２５のＺ方向の移動位置は、後述する制御部５０によってモータ２２５が駆動されるパルス数により検知され、保持ユニット２５のＺ方向の位置を検知するＺ位置検知ユニットがモータ２２５及び制御部５０により構成される。例えば、保持ユニット２５のＺ位置検知ユニットとしては、モータ２２５のパルス制御で検知する他、モータ２２５の回転軸に取り付けられたエンコーダ等のセンサを使用する構成でも良い。
　なお、以上のようなＸ方向、Ｙ方向及びＺ方向の各移動機構は、実施例に限られず、周知の機構が採用できる。例えば、保持ユニット２５を直線移動させる代わりに、回転ベースの中心に対して円弧起動で移動させる構成としても良い（例えば、特開２００６－３５０２６４号公報等参照）。
　＜回転ユニット＞
　次いで、回転ユニット２６０について説明する。例えば、図６は、回転ユニット２６０について説明する図である。
　例えば、保持ユニット２５には、開口部２６が設けられている。例えば、開口部２６は、投光光学系３０ａからの測定光束を通過させるとともに、眼鏡フレームＦで反射された反射光束を通過させる。例えば、開口部２６には開口部２６を覆うような透明パネルが設けられていてもよい。例えば、開口部２６は、投光光学系３０ａのから照射される測定光束を保持ユニット２５の内部から外部に向けて出射する。すなわち、投光光学系３０ａからの測定光束は、開口部２６を通過して眼鏡フレームＦのリムの溝に向けて照射される。例えば、開口部２６は、眼鏡フレームＦのリムの溝によって反射された反射光束を保持ユニット２５の外部から保持ユニット２５の内部の受光光学系３０ｂに向けて通過させる。すなわち、眼鏡フレームＦのリムの溝によって反射された反射光束は、開口部２６を通過して受光光学系３０ｂに受光される。
　例えば、回転ユニット２６０は、Ｚ方向に延びる回転軸ＬＯを中心に保持ユニット２５を回転させることで、開口部２６が向くＸＹ方向を変更する。例えば、回転ユニット２６０は、回転ベース２６１を備える。例えば、保持ユニット２５は回転ベース２６１に取り付けられている。例えば、回転ベース２６１は、Ｚ方向に延びる回転軸ＬＯを中心にして回転可能に保持されている。例えば、回転ベース２６１の下部の外周には、大径ギア２６２が形成されている。例えば、回転ユニット２６０は、取り付け板２５２を有する。例えば、取り付け板２５２には、モータ（駆動源）２６５が取り付けられている。例えば、モータ２６５の回転軸にピニオンギア２６６が固定され、ピニオンギア２６６の回転は、取り付け板２５２に回転可能に設けられたギア２６３を介して、大径ギア２６２に伝達される。したがって、モータ２６５の回転により、回転ベース２６１が回転軸ＬＯの軸回りに回転される。例えば、モータ２６５の回転は、モータ２６５に一体的に取り付けられたエンコーダ（センサ）２６５ａにより検出され、エンコーダ２６５ａの出力から回転ベース２６１（すなわち、保持ユニット２５）の回転角が検知される。回転ベース２６１の回転の原点位置は、図示を略す原点位置センサにより検知される。なお、以上のような回転ユニット２６０の各移動機構は、実施例に限られず、周知の機構が採用できる。
　なお、本実施例において、回転ユニット２６０の回転軸ＬＯは、後述する投光光学系３０ａの光源３１を通る軸として設定されている。すなわち、回転ユニット２６０は、投光光学系３０ａの光源３１を中心として、回転する。もちろん、回転ユニット２６０の回転軸は、異なる位置を回転軸としてもよい。例えば、回転ユニット２６０の回転軸ＬＯを後述する受光光学系３０ｂの検出器３７を通る軸に設定してもよい。
　＜眼鏡フレーム測定光学系＞
　次いで、保持ユニット２５に保持された眼鏡フレーム測定光学系３０について説明する。例えば、図７は、眼鏡フレーム測定光学系３０について示す概略構成図である。例えば、眼鏡フレーム測定光学系３０は、眼鏡フレームＦを取得するために用いられる。例えば、本実施例において、眼鏡フレーム測定光学系３０は、眼鏡フレームＦのリムの溝の断面形状を取得するために用いられる。また、例えば、本実施例において、眼鏡フレーム測定光学系３０は、眼鏡フレームＦの形状を測定するために用いられる。
　例えば、本実施例において、眼鏡フレーム測定光学系３０は、保持ユニット２５の内部に配置される。例えば、眼鏡フレーム測定光学系３０は、投光光学系３０ａと、受光光学系３０ｂと、によって構成されている。例えば、投光光学系３０ａは、光源を有し、眼鏡フレームＦのリムの溝に向けて光源から測定光束を照射する。例えば、受光光学系３０ｂは、検出器を有し、投光光学系３０ａによって眼鏡フレームＦのリムの溝に向けて照射され、眼鏡フレームＦのリムの溝によって反射された測定光束の反射光束を検出器によって受光する．
　例えば、本実施例において、眼鏡フレーム測定光学系３０は、シャインプルークの原理に基づいて眼鏡フレームＦのリムの溝の断面形状を取得する構成となっている。例えば、投光光学系３０ａは、眼鏡フレームのリムの溝にスリット光を照射する。例えば、受光光学系３０ｂは、スリット光が照射される光軸Ｌ１に対して傾斜した光軸Ｌ２を持ち、シャインプルークの原理に基づいて配置されたレンズと検出器を備える。もちろん、眼鏡フレーム測定光学系３０は、シャインプルークの原理に基づく光学系ではなく、異なる構成の光学系が用いられてもよい。眼鏡フレーム測定光学系３０は、眼鏡フレームＦのリムの溝の断面形状が取得される光学系であればよい。
　なお、実施例においては、投光光学系３０ａと、受光光学系３０ｂと、が一体的に移動する構成を例に挙げて説明しているがこれに限定されない。例えば、Ｘ移動ユニット２４０、Ｙ移動ユニット２３０、Ｚ移動ユニット２２０、及び回転ユニット２６０の少なくともいずれか１つの駆動手段において、投光光学系３０ａと、受光光学系３０ｂと、が別途それぞれ移動される構成であってもよい。
　＜投光光学系＞
　例えば、投光光学系３０ａは、光源３１と、レンズ３２と、スリット板３３と、を備える。例えば、光源３１より出射された測定光束は、レンズ３２によって集光してスリット板３３を照明する。例えば、スリット板３３を照明した測定光束は、スリット板３３により細いスリット状に制限された測定光束となり眼鏡フレームＦのリムの溝ＦＡに照射される。すなわち、例えば、スリット光が眼鏡フレームＦのリムの溝ＦＡに照射される。これにより、眼鏡フレームＦのリムの溝ＦＡは、スリット光により光切断された形で照明される。
　＜受光光学系＞
　例えば、受光光学系３０ｂは、レンズ３６と、検出器（例えば、受光素子）３７と、を備える。例えば、受光光学系３０ｂは、眼鏡フレームＦのリムの溝ＦＡに対して、斜め方向から断面形状を取得する構成となっている。例えば、受光光学系３０ｂは、シャインプルークの原理に基づいて眼鏡フレームＦのリムの溝ＦＡの断面形状を取得する構成となっている。
　例えば、レンズ３６は、リムの溝ＦＡでの反射により取得されるリムの溝ＦＡの反射光束（例えば、リムの溝ＦＡの散乱光、リムの溝ＦＡの正反射光等）を検出器３７に導く。例えば、検出器３７は、眼鏡フレームＦのリムの溝ＦＡと略共役な位置に配置された受光面を持っている。例えば、受光光学系３０ｂは、投光光学系３０ａの投光光軸Ｌ１に対して傾斜した撮像光軸Ｌ２を持ち、シャインプルークの原理に基づいて配置されたレンズ３６と検出器３７を持っている。受光光学系３０ｂは、その光軸（撮像光軸）Ｌ２が投光光学系３０ａの光軸Ｌ１と所定の角度で交わるように配置されている。例えば、投光光学系３０ａによって眼鏡フレームＦのリムの溝ＦＡに照射される光断面と、眼鏡フレームＦのリムの溝ＦＡを含むレンズ系（眼鏡フレームＦのリムの溝ＦＡ及びレンズ３６）と検出器３７の受光面（受光位置）とがシャインプルークの関係にて配置されている。
　＜制御手段＞
　図８は、眼鏡枠形状測定装置１に関する制御ブロック図である。制御部５０には、不揮発性メモリ（記憶手段）５２、ディスプレイ３、スイッチ部４等が接続されている。
　例えば、制御部５０は、ＣＰＵ（プロセッサ）、ＲＡＭ、ＲＯＭ等を備える。制御部５０のＣＰＵは、各部（例えば、光源３１、検出器３７、エンコーダ２６５ａ）及び各ユニットの駆動手段（例えば、フレーム保持ユニット１０の駆動源、各モータ２２５、２３５、２４５、２６５）等、装置全体の制御を司る。また、例えば、制御部５０は、各種演算（例えば、各センサからの出力信号等に基づいて眼鏡フレームの形状の演算等）を行う演算手段（解析手段）として機能する。ＲＡＭは、各種情報を一時的に記憶する。制御部５０のＲＯＭには、装置全体の動作を制御するための各種プログラム、初期値等が記憶されている。なお、制御部５０は、複数の制御部（つまり、複数のプロセッサ）によって構成されてもよい。不揮発性メモリ（記憶手段）５２は、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体である。例えば、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、眼鏡枠形状測定装置１に着脱可能に装着されるＵＳＢメモリ等を不揮発性メモリ（メモリ）５２として使用することができる。
　例えば、制御部５０は、レンズの周縁を加工するレンズ加工装置３００と接続されている。例えば、眼鏡枠形状測定装置１によって取得された各種データがレンズ加工装置３００の制御部３１０に送信される。レンズ加工装置３００の制御部３１０は、受信した各種データに基づいてレンズ加工装置３００の各部及び各ユニットの駆動手段を制御して、レンズの加工を行う。もちろん、レンズ加工装置３００と眼鏡枠形状測定装置１は、一体的に構成された装置であってもよい。
　例えば、本実施例において、ディスプレイ３は、タッチパネル式のディスプレイが用いられる。すなわち、本実施例において、ディスプレイ３がタッチパネルであるため、ディスプレイ３が操作部（操作ユニット）として機能する。この場合、制御部５０はディスプレイ３が持つタッチパネル機能により入力信号を受け、ディスプレイ３の図形及び情報の表示等を制御する。もちろん、眼鏡枠形状測定装置１に、別途、操作部が設けられる構成としてもよい。この場合、例えば、操作部には、例えば、マウス、ジョイスティック、キーボード、タッチパネル等の少なくともいずれかを用いればよい。もちろん、ディスプレイ６０と、操作部と、の双方が用いられ、眼鏡枠形状測定装置１が操作される構成としてもよい。なお、本実施例においては、ディスプレイ６０が操作部として機能するとともに、別途、スイッチ部（操作部）４が備えられた構成を例に挙げて説明する。
　＜制御動作＞
　以上のような構成を持つ装置の動作を説明する。例えば、操作者は、フレーム保持ユニット１０に眼鏡フレームＦを保持させる。例えば、操作者は、眼鏡フレームＦの左右リムＦＬ，ＦＲが下方向、眼鏡フレームＦの左右のテンプルＦＴＬ，ＦＴＲが上方向となるように、フレーム保持ユニット１０に眼鏡フレームＦを保持させる。
　例えば、フレーム保持ユニット１０に眼鏡フレームＦが保持されると、操作者は、スイッチ部４を操作して、測定を開始させる。例えば、測定開始のトリガ信号が出力されると、制御部５０は、Ｘ移動ユニット２４０、Ｙ移動ユニット２３０、Ｚ移動ユニット２２０、及び回転ユニット２６０の少なくともいずれかを駆動することによって、保持ユニット２５（投光光学系３０ａ及び受光光学系３０ｂ）を移動させて眼鏡フレームＦのリムの測定を開始する。例えば、本実施例において、リムの測定は、右リムＦＲから測定が開始される。もちろん。左リムＦＬから測定が開始される構成であってもよい。
　例えば、制御部５０は、保持ユニット２５を移動させることによって、眼鏡フレーム測定光学系３０（投光光学系３０ａ及び受光光学系３０ｂ）を眼鏡フレームのリム輪郭を測定していくことによって、眼鏡フレームのリムの溝の断面形状を取得する。なお、本実施例においては、投光光学系３０ａ及び受光光学系３０ｂは、シャインプルークの関係を維持した状態で、眼鏡フレームＦに対して移動される。すなわち、眼鏡フレームＦのリムの溝に対して、眼鏡フレーム測定光学系３０が一定の位置関係となるように移動させることで、眼鏡フレームＦのリムの溝の断面形状が取得できる。
　例えば、測定開始のトリガ信号が出力されると、制御部５０は、移動ユニット２１０（Ｘ移動ユニット２４０、Ｙ移動ユニット２３０、Ｚ移動ユニット２２０の少なくともいずれか）、及び回転ユニット２６０の駆動を制御し、退避位置に置かれていた保持ユニット２５を測定開始の初期位置まで移動させる。なお、例えば、測定開始の初期位置は、保持ユニット２５が右リムＦＲの下端側のクランプピン１３０ａ，１３０ｂと、クランプピン１３１ａ，１３１ｂと、の中央位置に設定されている。もちろん、測定開始の初期位置は、任意の位置に設定することができる。
　例えば、保持ユニット２５が測定開始の初期位置まで移動されると、制御部５０は、光源３１を点灯する。そして、光源３１の点灯とともに、制御部５０は、眼鏡フレームＦの所定の位置のリムの溝に測定光束を照射するために、移動ユニット２１０、及び回転ユニット２６０の少なくともいずれかの駆動を制御する。
　例えば、本実施例において、リムの溝の断面形状を取得する位置を設定する場合に、制御部５０は、回転ユニット２６０を制御し、取得位置を設定する。図９は、回転ユニット２６０を制御して、異なる動径角にてリムの断面形状を取得する場合について説明する図である。図９Ａと図９Ｂは、異なる動径角にてリムの断面形状を取得している。
例えば、制御部５０は、回転ユニット２６０を制御して、投光光学系３０ａの光軸Ｌ１をＸＹ平面上で回転させて、投光光学系３０ａの光軸Ｌ１をリムの周方向に移動させる。すなわち、制御部５０は、Ｘ回転ユニット２６０を制御して、リムの溝の断面形状を取得する動径角を変更する。例えば、回転ユニット２６０が制御されることによって、投光光学系３０ａの照射位置Ｔ１が投光光学系３０ａの照射位置Ｔ２へと変更される。
　例えば、本実施例において、リムの溝の断面形状を取得する位置が設定され、リムの溝に対する測定光束の照射位置を変更する場合、移動ユニット２１０（Ｘ移動ユニット２４０、Ｙ移動ユニット２３０、Ｚ移動ユニット２２０の少なくともいずれか）を制御して、リムの溝に測定光束が照射されるように測定光束の照射位置を変更する。
　なお、本実施例において、リムの溝の断面形状を取得する位置の設定と、リムの溝に対する測定光束の照射位置の変更とは、同時に実施されるようにしてもよい。また、例えば、リムの溝の断面形状を取得する位置の設定は、回転ユニット２６０のみならず、Ｘ移動ユニット２４０、Ｙ移動ユニット２３０、Ｚ移動ユニット２２０の少なくともいずれかが用いられるようにしてもよい。また、リムの溝の断面形状を取得する位置の設定は、Ｘ移動ユニット２４０、Ｙ移動ユニット２３０、Ｚ移動ユニット２２０の少なくともいずれかで行われるようにしてもよい。また、例えば、リムの溝に対する測定光束の照射位置の変更は、Ｘ移動ユニット２４０、Ｙ移動ユニット２３０、Ｚ移動ユニット２２０の少なくともいずれかのみならず、回転ユニット２６０も用いられる構成としてもよい。また、例えば、リムの溝に対する測定光束の照射位置の変更は、回転ユニット２６０のみが用いられる構成としてもよい。
　例えば、光源３１の点灯により、眼鏡フレームＦのリムの溝はスリット光により光切断される。スリット光で光切断された眼鏡フレームＦのリムの溝からの反射光束は受光光学系３０ｂに向かい、検出器３７により受光される。例えば、制御部５０は、検出器３７によって受光された反射光束に基づいて、眼鏡フレームのリムの溝の二次元断面形状を取得する。なお、本実施例においては、断面形状として、断面画像を取得する。もちろん、断面形状は、信号として取得される構成であってもよい。
　ここで、眼鏡フレームＦのリムの溝に測定光束が照射されていない場合には、断面形状（本実施例では、断面画像）を取得することができない。このため、制御部５０は、眼鏡フレームＦのリムの溝に測定光束が照射されていない場合には、眼鏡フレームＦのリムの溝に測定光束を照射するための駆動制御を行う。以下、眼鏡フレームＦのリムの溝に測定光束を照射するための駆動制御について説明する。
　例えば、図１０は、眼鏡フレームＦのリムの溝に測定光束が照射されるように保持ユニット２５を移動させる前の受光結果を示す図である。例えば、図１１は、眼鏡フレームＦのリムの溝に測定光束が照射されるように保持ユニット２５を移動させた後の受光結果を示す図である。
　例えば、図１０において、投光光学系３０ａの照射位置Ｔ３がリムの溝に位置していない。このため、眼鏡フレームＦのリムの溝からの反射光束を受光することができない。例えば、反射光束を受光できていない状態で、制御部５０が断面画像を取得した場合に、取得結果を示す画像４０上には、断面画像が表示されない。一方、図１１において、投光光学系３０ａの照射位置Ｔ４がリムの溝に位置している。このため、眼鏡フレームＦのリムの溝からの反射光束を受光することできる。例えば、反射光束を受光できた状態で、制御部５０が断面画像を取得した場合に、取得結果を示す画像４０上には、断面画像４１が表示される。
　例えば、本実施例において、制御部５０は、眼鏡フレームＦのリムの溝に測定光束が照射されるように保持ユニット２５を移動させる際に、受光結果に基づいて、移動ユニット２１０を制御する。例えば、制御部５０は、断面画像が取得できているか否かに基づいて、移動ユニット２１０を制御する。例えば、制御部５０は、取得された画像４０を解析し、断面画像が検出できなかった場合に、断面画像が検出されるように、移動ユニット２１０を制御する。
　例えば、制御部５０は、輝度値の変化を検出することによって、断面画像が取得された否かを検出することができる。例えば、断面画像が取得されている場合には、一定の輝度値が検出される。すなわち、反射光束が検出器によって検出できるため、輝度値が上昇する。図１２は、輝度値の検出について説明する図である。例えば、制御部５０は、取得された断面画像に対して、走査線Ｓ１、走査線Ｓ２、走査線Ｓ３、・・・走査線Ｓｎの順に輝度値の検出を行い、輝度分布を得る。すなわち、制御部５０は、輝度値を検出することによって、画像上からリムの断面画像を抽出することができる。
　以上のようにして、所定の位置におけるリムの溝の断面画像を取得することができる。例えば、制御部５０は、回転ユニット２６０を制御し、回転軸（本実施例では、光源３１を通る軸）ＬＯを中心として、動径角を変更しながら、リムの溝の断面画像を取得する位置を変更していく。これによって、リムの断面画像を取得する位置がリムの周方向に移動されていく。例えば、制御部５０は、リムの断面画像を取得する位置が変更される毎に、移動ユニット２１０を制御し、測定光束がリムの溝に照射されるように照射位置の変更を行っていく。
　例えば、制御部５０は、各動径角において、リムの溝の断面画像が取得されていく際に、所定の回転角度毎に断面画像をメモリ５２に記憶させる。また、各断面画像を取得した位置を、モータ２２５のパルス数と、モータ２３５のパルス数と、モータ２４５のパルス数と、エンコーダ２６５ａの検出結果と、の少なくともいずれかから演算し、メモリ５２に記憶させる。すなわち、モータ２２５のパルス数と、モータ２３５のパルス数と、モータ２４５のパルス数と、エンコーダ２６５ａの検出結果と、の少なくともいずれかを取得することで、リムの断面画像が取得された位置を特定することができる。このようにして、例えば、制御部５０は、リムの溝の断層画像を取得した位置（取得位置情報）を取得することができる。例えば、取得位置情報は、リムの溝の三次元断面画像、眼鏡フレームの形状、等を取得する際に用いることができる。
　なお、例えば、各動径角において、リムの溝の断面画像を取得した場合に、断面画像に欠損部分が生じる場合がある。例えば、眼鏡フレームタイプによって、リムの溝から反射光束を良好に受光することができず、リムの溝の断面画像を取得することが困難となる場合がある。例えば、眼鏡フレームによって反射される光束の量が少ないこと、眼鏡フレームのリムの溝に測定光束が照射しづらい構造となっているため測定光束が遮られてしまうこと、等によって、リムの溝から反射光束を良好に受光することが困難となり、断面画像に欠損部分が生じる場合がある。また、例えば、眼鏡フレームに付着したごみ（例えば、埃、皮脂等）の影響によって、射光束を良好に受光することができず、リムの溝の断面画像を取得することが困難となる場合がある。
　このため、本実施例において、取得された断面画像において、欠損部分が存在した場合に、断面画像の欠損部分を補間することによって、良好な断面画像を取得する。以下、欠損部分の補間について説明する。
　なお、　例えば、眼鏡フレームタイプとしては、眼鏡フレームの形状、眼鏡フレームの材料、眼鏡フレームの色、眼鏡フレームのデザイン、等の少なくともいずれかが異なる眼鏡フレームが挙げられる。例えば、眼鏡フレームの形状としては、フルリム（Full lim）、ナイロール（Nylor）等のいずれかの形状であってもよい。もちろん、眼鏡フレームの形状としては、上記と異なる形状であってもよい。また、例えば、眼鏡フレームの材料としては、メタル（Metal）、プラスチック（Plastic）、オプチル(Optyl)等のいずれかであってもよい。もちろん、眼鏡フレームの材料としては、上記と異なる材料であってもよい。また、例えば、眼鏡フレームの色としては、赤、青、黄、黒、グレー等の少なくともいずれかであってもよい。もちろん、眼鏡フレームの色としては、上記と異なる色であってもよい。例えば、眼鏡フレームのデザインとしては、ドット、ボーダー等の少なくともいずれかであってもよい。もちろん、眼鏡フレームのデザインとしては、上記と異なるデザインであってもよい。なお、例えば、フルリムとしては、全体にリム（縁）があるタイプの眼鏡フレームが挙げられる。また、例えば、ナイロールとしては、一部分のリムがないタイプの眼鏡フレームが挙げられる。この場合、リムのない部分は、ナイロン糸などで眼鏡レンズが固定される。
　本実施例において、例えば、制御部５０は、リムの各測定位置において断面画像を取得するとともに、断面画像に欠損部分が存在しているか否かを判定する。断面画像に欠損部分が存在しているか否かを判定する場合、例えば、制御部５０は、断面画像の輝度分布を検出し、リムに対応する輝度の上昇が検出されたか否かに応じて、欠損部分の有無を判定する。
　図１３は、取得された画像４０の１つの走査線における輝度分布を示す例である。図１３Ａは、断面画像４１に欠損部分が存在していない状態の輝度分布を示す例である。図１３Ｂは、断面画像４１に欠損部分が存在している状態の輝度分布を示す例である。
　例えば、図１３に示されるように、例えば、図１３Ａに示されるように、リムの断面画像４１が存在している場合、得られた画像４０に対して走査線Ｓ１０で得られた輝度分布Ｄ１には、リムに対応するピークＰが見られる。しかしながら、図１３Ｂに示されるように、リムの断面画像４１が消失している場合、得られた画像４０に対して走査線Ｓ１０で得られた輝度分布Ｄ２には、リムに対応するピーク見られない。
　なお、上記リムの有無に関する判定処理において、例えば、制御部５０は、画像４０に対する複数の走査線に関して判定処理を行う。例えば、判定処理を行う場合、画像４０のほぼ全ての走査線において判定処理が行われるようにしてもよい。また、例えば、判定処理を行う場合、画像４０上において、一定間隔で離間した走査線において判定処理が行われるようにしてもよい。また、例えば、判定処理を行う場合、画像４０上において、予め設定された走査線に関して判定処理が行われるようにしてもよい。なお、予め設定された走査線は、検者によって任意に設定されるようにしてもよい。
　例えば、リムに対応するピークＰが検出されたか否かを判定する場合、制御部５０は、走査線において取得された輝度分布において、予め設定された閾値を超える輝度値が存在するか否かを判定するようにしてもよい。例えば、制御部５０は、走査線において検出された輝度分布において、閾値を超えている輝度値が存在する場合には、リムに対応するピークが検出されたとして、欠損部分は存在しないとして判定する。また、例えば、制御部５０は、走査線において検出された輝度分布において、閾値を超える輝度値が存在しない場合には、リムに対応するピークが検出されていないとして、欠損部分が存在すると判定する。
　なお、複数の走査線におけるピークの検出結果に基づいて、欠損部分が存在するか否かが判定されるようにしてもよい。一例として、例えば、制御部５０は、少なくとも２つ以上の走査線において、リムに対応するピークが検出されていない場合に、欠損部分が存在すると判定してもよい。この場合、例えば、制御部５０は、少なくとも２つ以上の連続する（隣接する）走査線において、リムに対応するピークが検出されていない場合に、欠損部分が存在すると判定してもよい。もちろん、少なくとも２つ以上の走査線が連続していなくてもよい。
　本実施例において、図１２に示されるように、例えば、制御部５０は、取得された画像４０に対して、走査線Ｓ１、走査線Ｓ２、走査線Ｓ３、・・・走査線Ｓｎの順に輝度値の検出を行い、輝度分布を得る。例えば、制御部５０は、得られた輝度分布において、欠損部分が存在するか否を判定する。本実施例において、例えば、制御部５０は、各走査線において、それぞれ欠損部分が存在するか否かを判定し、少なくとも連続する２つ以上の走査線において欠損部分が存在すると判定された場合に、最終的に画像４０（画像４０における断面画像４１）に欠損部分が存在すると判定する。
　例えば、制御部５０は、取得された断面画像において、欠損部分が存在すると判定した場合に、欠損部分の補間を行う。図１４は、欠損部分の補間について説明する図である。本実施例において、例えば、制御部５０は、各測定位置において、断面画像の取得を行っていき、断面画像が取得される毎に判定処理を行う。もちろん、各測定位置での測定が完了した後に、判定処理が行われるようにしてもよい。
　本実施例において、例えば、制御部５０は、欠損部分が存在する断面画像（第１断面画像）と異なる断面画像（第２断面画像）に基づいて、欠損部分が存在する断面画像の欠損部分を補間する。すなわち、例えば、制御部５０は、欠損部分が存在する第１断面画像と異なる第２断面画像に基づいて、欠損部分が存在する断面画像の欠損部分を補間する。本実施例において、異なる断面画像は、欠損部分が存在する断面画像と同一の測定位置にて撮影条件を変更して取得される。例えば、制御部５０は、欠損部分が存在すると判定した測定位置と、同一の測定位置において、撮影条件を変更して、再度測定を行う。なお、本実施例においては、リムからの反射光束が少ないために欠損部分が生じている場合を例に挙げて説明する。本実施例において、例えば、制御部５０は、欠損部分が存在すると判定した測定位置において、再度、断面画像を取得する。例えば、制御部５０は、光源３１の投光光量を増加させる。
　図１４（ａ）は、光源３１の投光光量が増加させる前に取得された断面画像４６を示す例である。図１４（ｂ）は、光源３１の投光光量を増加させた後に取得された断面画像４７を示す例である。図１４（ｃ）は、欠損部分が補間された後の断面画像４８を示す例である。例えば、図１４（ａ）に示されるように、光源３１の投光光量が増加させる前に取得された断面画像４６には、欠損部分Ｇが存在している。
　例えば、制御部５０は、光源３１の投光光量を増加させた後、欠損部分が存在すると判定された断面画像４６を含む画像４０ａを取得した測定位置と同一の測定位置において、再測定を行う。例えば、光源３１の投光光量を増加させたことによって、リムからの反射光束をより多く受光することができる。すなわち、光源３１の投光光量を増加させたことによって、輝度レベルが高くなり欠損部分Ｇの断面画像４４を取得することができる。これによって、図１４（ｂ）に示されるように、図１４（ａ）のリムの断面画像４６の欠損部分Ｇにおけるリムの断面画像４４が含まれるリムの断面画像４７を取得することができる。
　なお、図１４（ｂ）に示されるように、光源３１の投光光量を増加させたことによって、断面画像４７において、光源３１の投光光量を増加させる前から欠損をしていなかったリムの部位（例えば、リムの肩４２、リムの外形部４３）についても、輝度レベルが高くなる（図１４（ｂ）太線部）。これによって、光源３１の投光光量を増加させる前から欠損をしていなかったリムの部位の断面画像は、より高い輝度レベルで取得されることになり、眼鏡フレームのリムの形状が検出しづらくなることがある。例えば、断面画像４６の良好な断面画像部分（例えば、リムの肩及びリムの外形部の断面画像）と、断面画像４７における良好な断面画像部分（例えば、欠損部分に対応する断面画像４４）と、を合成処理することによって、欠損部分の補間を行う。これによって、断面画像４６と断面画像４７における良好な断面画像部分を用いた新たな断面画像４８を取得することができ、良好な断面画像４８を取得することができる。
　なお、光源３１の投光光量を増加させて再測定を行った場合であっても、欠損部分の断面画像を取得することができない場合がある。この場合、例えば、以下の制御を行うようにしてもよい。例えば、制御部５０は、光源３１の投光光量を増加させた後、同一の測定位置において、再測定を行い、新たに取得された画像について、リムの断面画像に欠損部分が存在するか否かを判定するようにしてもよい。例えば、制御部５０は、新たに取得された画像におけるリムの断面画像に欠損部分が存在しないと判定した場合に、次の測定位置の測定へと移行させるようにしてもよい。また、例えば、制御部５０は、再度、取得された画像について、リムの断面画像に欠損部分が存在するか否かを判定し、欠損部分が存在すると判定した場合に、さらに、光源３１の投光光量を増加させるようにしても。もちろん、光源３１の制御とは異なる撮影条件を変更するようにしてもよい。例えば、制御部５０は、さらに、光源３１の投光光量を増加させた後、再度、同一の測定位置において、新たなリムの断面画像の取得を行うようにしてもよい。例えば、制御部５０は、欠損部分が存在しないリムの断面画像が取得されるまで、上記制御を繰りかえすようにしてもよい。
　例えば、制御部５０は、欠損部分Ｇが存在しないリムの断面画像４４を含む画像４０ｂが取得された後、欠損部分Ｇが存在しない断面画像４４を含む画像４０ｂに基づいて、欠損部分Ｇが存在する断面画像４１を含む画像４０ａの補間を行う。例えば、制御部５０は、画像４０ｂから欠損部分Ｇの位置に対応する断面画像４４を抽出する。例えば、制御部５０は、画像４０ａの輝度分布に基づいて、欠損部位Ｇの位置を取得しておく。例えば、欠損部位Ｇの位置は、各走査線の輝度分布からリムの断面画像が取得されている部分が途切れている位置Ｇ１，Ｇ２を取得するようにしてもよい。
　例えば、制御部５０は、欠損部位Ｇの位置に対応する領域における断面画像４４を画像４０ｂから抽出する。例えば、制御部５０は抽出した断面画像４４を断面画像４６の欠損部分Ｇに合成処理する。これによって、欠損部分Ｇが補間された断面画像４８を含む画像４０ｃを取得することができる。なお、合成処理を行う場合に、画像４０ａと画像４０ｂは同一の測定位置において取得された画像であるため、pixel-to-pixelの関係で両画像を対応付けできる。
　このように、例えば、眼鏡枠形状測定装置は、取得手段によって取得された断面形状におけるリムの欠損部分を補間する補間手段を備える。これによって、例えば、眼鏡フレームのタイプ、眼鏡フレームに付着したごみ等によって、リムの溝から反射光束を良好に受光することが困難であり、取得した断面形状に欠損部分が生じていた場合であっても、欠損部分を補間することで、良好な断面形状を取得することができる。すなわち、例えば、種々のタイプの眼鏡フレームにおけるリムの断面形状を良好に取得することができる。
　また、例えば、取得手段は、断面形状とは異なる断面形状を取得してもよい。また、例えば、補間手段は、断面形状とは異なる断面形状に基づいて、断面形状におけるリムの欠損部分を補間するようにしてもよい。これによって、例えば、他の断面形状に基づく補間を行うことができるため、欠損部分を実際の断面形状又は実際の断面形状に近い形状で補間することができる。このため、より精度よく補間を行うことができ、良好な断面形状を取得することができる。
　また、例えば、補間手段は、断面形状に対して、異なる断面形状を合成処理することによって、断面形状におけるリムの欠損部分を補間するようにしてもよい。例えば、合成処理によって断面形状の補間を行うことができるため、複雑な演算処理等を必要とせず、容易に良好な断面形状を取得することができる。
　また、例えば、異なる断面形状は、断面形状を取得した測定位置と同一の測定位置において、断面形状を取得した際の撮影条件とは異なる撮影条件にて取得された断面形状であってもよい。例えば、異なる撮影条件で断面形状を取得することによって、欠損部分の断面形状を良好に取得することが可能となる。これによって、欠損部分の断面形状に基づいて、欠損部分が生じている断面形状の補間を行うことができるため、断面形状をより精度よく補間することができる。
　また、例えば、眼鏡枠形状測定装置は、断面形状を解析処理することによって、断面形状における欠損部分が存在する否かを判定する欠損部分判定手段を備えてもよい。例えば、補間手段は、欠損部分判定手段による判定結果に基づいて、断面形状におけるリムの欠損部分を補間するようにしてもよい。例えば、判定処理を行うことで、断面形状における欠損部分をより精度よく特定することができる。このため、断面形状における欠損部分をより確実に補間することができ、容易に良好な断面形状を取得することができる。
　また、例えば、補間手段は、断面形状におけるリムの溝の欠損部分を少なくとも補間するようにしてもよい。例えば、断面形状において、リムの溝部分における断面形状をより確実に取得することができ、良好な断面形状を取得することができる。特に、リムの溝部分の断面形状を良好に取得することがより好ましいため、有用となる。
　例えば、制御部５０は、上記のようにして取得された断面画像を解析処理することによって、リムの溝に関する種々のパラメータを取得することができる。図１５は、リムの溝の断面画像から取得されるパラメータについて説明する図である。例えば、制御部５０は、画像処理によって、断面画像の輝度分布を取得することで、リムの溝のパラメータを取得することができる。例えば、制御部５０は、リムの溝のパラメータとして、リムの溝の底までの距離Ｋ１、リムの溝の左右の斜面角度θ１，θ２、リムの溝の左右の斜面長さＫ２，Ｋ３、左右のリム肩の長さＫ４，Ｋ５、等を得ることができる。
　例えば、制御部５０は、リムの全周に亘って、上記制御を繰り返していくことによって、リムの全周におけるリムの溝の断面画像を取得することができる。例えば、リム全周におけるリムの溝の断面画像の取得が完了すると、制御部５０は、メモリ５２に記憶したリム全周の断面画像とその取得位置情報を呼び出し、演算処理を行って、三次元断面画像を取得する。すなわち、制御部５０は、補間された断面画像と、補間されていない断面画像と、を用いて、三次元断面画像を取得する。例えば、制御部５０は、取得した三次元断面画像を、メモリ５２に記憶させる。なお、本実施例においては、リム全周における断面画像の取得が完了した後に三次元断面画像を取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。リムの溝の断面画像の各取得位置にといて、断面画像を取得する毎に、演算処理を行っていく構成であってもよい。
　なお、例えば、制御部５０は、取得した断面画像から眼鏡フレームの形状（形状データ）を取得することができる。例えば、制御部５０は、眼鏡フレームの複数の動径角におけるリムの溝の断面画像から眼鏡フレームの複数の動径角におけるリムの溝の底をそれぞれ検出し、検出した検出結果に基づいて、眼鏡フレームの形状を取得する。
　例えば、制御部５０は、画像処理によって、断面画像の輝度分布を取得することで、リムの溝の底の位置を検出する。図１２に示されるように、例えば、制御部５０は、取得された断面画像に対して、走査線Ｓ１、走査線Ｓ２、走査線Ｓ３、・・・走査線Ｓｎの順に輝度値の検出を行い、輝度分布を得る。例えば、制御部５０は、得られた輝度分布において、もっとも下側の位置で輝度値の検出がされた位置をリムの溝の底として検出してもよい。
　例えば、制御部５０は、各動径角毎に取得された断面画像をそれぞれ処理して、画像上におけるリムの溝の底の位置をそれぞれ検出する。例えば、制御部５０は、断面画像から検出された画像上におけるリムの溝の底の位置と、その断面画像を取得した取得位置情報と、からリムの溝の底の位置情報を取得する。例えば、制御部５０は、各動径角毎においてそれぞれ取得された断面画像から画像上におけるリムの溝の底の位置を検出し、検出された画像上におけるリムの溝の底の位置と、その断面画像を取得した取得位置情報と、から各動径角毎のリムの溝の底の位置情報をそれぞれ取得する。これによって、例えば、制御部５０は、眼鏡フレームＦの三次元形状（ｒｎ，ｚｎ，θｎ）（ｎ＝１，２，３、・・・，Ｎ）を取得する。例えば、眼鏡フレームＦｎの三次元形状は、リムの全周に亘って取得されてもよいし、リムの全周の内、一部の領域において、取得されてもよい。以上のようにして、眼鏡フレームＦの形状を取得することができる。
　なお、本実施例においては、各動径角毎にリムの溝の底の位置情報を取得することによって、眼鏡フレームの三次元形状を取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、眼鏡フレームの三次元形状を取得する際に、各動径角において、リムの溝の底の位置情報を取得していない位置については、周辺の動径角におけるリムの溝の底の位置情報に基づいて、補間することで、リムの溝の底の位置情報を取得するようにしてもよい。また、例えば、眼鏡フレームの三次元形状を取得する際に、各動径角において、リムの溝の底の位置情報を取得していない位置については、周辺の動径角におけるリムの溝の底の位置情報の近似の結果から補間するようにしてもよい。
　例えば、制御部５０は、右リムＦＲの測定が終了すると、Ｘ移動ユニット２４０の駆動を制御し、左リムＦＬの測定用の所定位置に保持ユニット２５を移動させる。上記の測定制御と同様にして、右リムＦＲの断面形状の取得と、眼鏡フレームの形状を取得する。右リムＦＲ及び左リムＦＬの断面画像と形状は、メモリ５２に記憶される。
　なお、例えば、取得した眼鏡フレームの三次元形状に基づいて各種パラメータを取得してもよい。例えば、眼鏡フレームの三次元形状から二次元形状を取得するようにしてもよい。例えば、二次元形状は、三次元形状を眼鏡フレームＦの正面方向のＸＹ平面に投影した形状することによって取得することができる。なお、二次元形状は、三次元形状から取得する構成を例に挙げたがこれに限定されない。各動径角におけるリムの断面画像に基づいて、リムの溝の底の位置情報を取得する際に、ＸＹ平面上におけるリムの溝の底の位置情報のみを検出するようにすることで、取得するようにしてもよい。
　以上のようにして、眼鏡枠形状測定装置１によって取得されたリムの溝の断面形状、眼鏡フレームの形状、等は、制御部５０によって、レンズ加工装置３００に送信される。例えば、レンズ加工装置３００の制御部３１０は、眼鏡枠形状測定装置１によって取得されたリムの溝の断面形状、眼鏡フレームの形状、等を受信する。
　例えば、レンズ加工装置３００としては、レンズをレンズチャック軸に保持して回転するレンズ回転手段と、加工具回転軸に取り付けられた加工具を回転する加工具回転手段と、を備える。例えば、レンズ加工装置３００において、レンズ加工装置の制御部３１０は、眼鏡枠形状測定装置１によって取得された取得情報（例えば、眼鏡フレームのリムの溝の断面形状、眼鏡フレームの形状、等）に基づいて、レンズ回転手段と加工具回転手段を制御して、レンズの周縁加工を行う。なお、レンズ加工装置の制御部３１０としては、眼鏡枠形状測定装置１の制御部が兼用される構成であってもよいし、別途、レンズ加工装置の各種制御を行うための制御部３１０が設けられる構成であってもよい。
　例えば、本実施例において、眼鏡枠形状測定装置は、眼鏡フレームのリムに向けて光源から測定光束を照射する投光光学系と、投光光学系によって眼鏡フレームのリムに向けて照射され、眼鏡フレームのリムによって反射された測定光束の反射光束を検出器によって受光する受光光学系と、検出器によって受光された反射光束に基づいて眼鏡フレームのリムの断面形状を取得する取得手段と、を備える。これによって、例えば、眼鏡フレームのリムの断面形状を容易に精度よく取得することができる。また、例えば、測定光束による測定であるため、迅速に測定を行うことができる。
　また、例えば、本実施例において、眼鏡枠形状測定装置は、眼鏡フレームのリムの溝に対する測定光束の照射位置を変更する第１変更手段と、第１変更手段を制御する第１制御手段と、を備える。これによって、眼鏡フレームにおける任意のリムの溝の位置へ測定光束を照射することが可能となり、任意の位置におけるリムの溝の断面形状を取得することができる。
　また、例えば、本実施例において、眼鏡枠形状測定装置は、第１変更手段が投光光学系の少なくとも一部の位置を移動させる変更手段であって、第１制御手段は、第１変更手段を制御することによって、眼鏡フレームのリムの溝に対して投光光学系の少なくとも一部の位置を変更させ、眼鏡フレームのリムの溝に対する測定光束の照射位置を変更する。これによって、眼鏡フレームにおける任意のリムの溝の位置へ測定光束を照射することが可能となり、任意の位置におけるリムの溝の断面形状を取得することができる。
　また、例えば、本実施例において、眼鏡枠形状測定装置は、受光光学系による反射光束の受光位置を変更する第２変更手段と、第２変更手段を制御する第２制御手段と、を備える。これによって、リムの溝の断面形状を良好に取得することができる位置に受光位置を変更することができ、眼鏡フレームのリムの断面形状をより精度よく取得することができる。
　また、例えば、本実施例において、眼鏡枠形状測定装置は、第１制御手段が第１変更手段を制御して、眼鏡フレームの複数の動径角におけるリムの溝に対して測定光束を照射する。取得手段は、眼鏡フレームの複数の動径角におけるリムの溝の断面形状をそれぞれ取得する。眼鏡枠形状測定装置は、眼鏡フレームの複数の動径角におけるリムの溝の断面形状から眼鏡フレームの複数の動径角におけるリムの溝の底をそれぞれ検出し、検出した検出結果に基づいて、眼鏡フレームの形状を取得する解析手段を備える。これによって、従来のように、眼鏡フレームによっては、測定子がレンズ枠の溝から外れてしまい測定できないことを抑制することができ、種々の形状の眼鏡フレームに対して、容易に精度よく眼鏡フレームの形状を取得することできる。
　また、例えば、本実施例において、眼鏡枠形状測定装置は、第１制御手段が第１変更手段を制御して、眼鏡フレームの複数の動径角におけるリムの溝に対して測定光束を照射する。取得手段は、眼鏡フレームの複数の動径角におけるリムの溝の断面形状をそれぞれ取得し、三次元断面形状を取得する。これによって、容易に精度よく眼鏡フレームの三次元断面形状を取得することできる。
　また、例えば、本実施例において、レンズ加工装置は、眼鏡フレームのリムの溝の断面形状に基づいてレンズの周縁を加工する加工制御手段を備える。これによって、眼鏡フレームに加工後のレンズを良好に枠入れする際に、リムの溝の形状と加工後のレンズの輪郭形状が近い形状となるため、枠入れを良好に行うことができる。
　なお、本実施例において、断面形状と、眼鏡フレームの形状との少なくともいずれかは、にディスプレイ３上に表示されるようにしてもよい。もちろん、レンズ加工装置３００の図示無きディスプレイに表示されるようにしてもよい。例えば、断面形状と、眼鏡フレームの形状とは、ディスプレイ３上において、異なる画面にて表示されるようにしてもよい。この場合、画面が切り換えられることによって、断面形状と、眼鏡フレームの形状と、が切り換え表示されるようにしてもよい。また、例えば、断面形状と、眼鏡フレームの形状とは、同一画面上に表示されるようにしてもよい。この場合、例えば、断面形状と、眼鏡フレームの形状とは、同一画面上に並べて配置されるようにしてもよい。このとき、例えば、眼鏡フレームの形状において、断面形状の取得位置が識別できるような断面形状の取得位置を示す表示をするようにしてもよい。また、この場合、例えば、断面形状と、眼鏡フレームの形状とが重畳表示されるようしてもよい。重畳表示をする場合、断面形状の取得位置情報と、リム溝の断面形状の取得位置と、に基づいて、断面形状と眼鏡フレームの形状とが位置合わせされるようにしてもよい。
　１　眼鏡枠形状測定装置
　３　ディスプレイ
　４　スイッチ部
　１０　フレーム保持ユニット
　２０　測定ユニット
　２５　保持ユニット
　３０　眼鏡フレーム測定光学系
　３０ａ　投光光学系
　３０ｂ　受光光学系
　３１　光源
　３７　検出器
　５０　制御部
　５２　メモリ
　２１０　移動ユニット
　２２０　Ｚ移動ユニット
　２３０　Ｙ移動ユニット
　２４０　Ｘ移動ユニット
　２６０　回転ユニット
　３００　レンズ加工装置
　３１０　制御部
 
 
 

Claims (8)

  1. 　眼鏡フレームの形状を測定する眼鏡枠形状測定装置であって、
    　光源を有し、眼鏡フレームのリムの溝に向けて前記光源から測定光束を照射する投光光学系と、
    　検出器を有し、前記投光光学系によって前記眼鏡フレームの前記リムの溝に向けて照射され、前記眼鏡フレームの前記リムの溝によって反射された前記測定光束の反射光束を前記検出器によって受光する受光光学系と、
    　前記検出器によって受光された前記反射光束に基づいて、前記眼鏡フレームの前記リムの溝の断面形状を取得する取得手段と、
    　前記取得手段によって取得された前記断面形状における前記リムの欠損部分を補間する補間手段と、
    　を備えることを特徴とする眼鏡枠形状測定装置。
  2. 　請求項１の眼鏡枠形状測定装置において、
    　前記取得手段は、前記断面形状とは異なる断面形状を取得し、
    　前記補間手段は、前記断面形状とは前記異なる断面形状に基づいて、前記断面形状における前記リムの欠損部分を補間することを特徴とする眼鏡枠形状測定装置。
  3. 　請求項２の眼鏡枠形状測定装置において、
    　前記補間手段は、前記断面形状に対して、前記異なる断面形状を合成処理することによって、前記断面形状における前記リムの欠損部分を補間することを特徴とする眼鏡枠形状測定装置。
  4. 　請求項２又は３の眼鏡枠形状測定装置において、
    　前記異なる断面形状は、前記断面形状を取得した測定位置と同一の測定位置において、前記断面形状を取得した際の撮影条件とは異なる撮影条件にて取得された断面形状であることを特徴とする眼鏡枠形状測定装置。
  5. 　請求項１の眼鏡枠形状測定装置において、
    　前記補間手段は、前記断面形状における前記リムの欠損部分の近傍の断面形状に基づいて、前記断面形状における前記リムの欠損部分を補間することを特徴とする眼鏡枠形状測定装置。
  6. 　請求項１～５のいずれかの眼鏡枠形状測定装置において、
    　前記断面形状を解析処理することによって、前記断面形状における欠損部分が存在する否かを判定する欠損部分判定手段を備え、
    　前記補間手段は、前記欠損部分判定手段による判定結果に基づいて、前記断面形状における前記リムの欠損部分を補間することを特徴とする眼鏡枠形状測定装置。
  7. 　請求項１～６のいずれかの眼鏡枠形状測定装置において、
    　前記補間手段は、前記断面形状における前記リムの溝の欠損部分を少なくとも補間することを特徴とする眼鏡枠形状測定装置。
  8. 　光源を有し、眼鏡フレームのリムの溝に向けて前記光源から測定光束を照射する投光光学系と、
    　検出器を有し、前記投光光学系によって前記眼鏡フレームの前記リムの溝に向けて照射され、前記眼鏡フレームの前記リムの溝によって反射された前記測定光束の反射光束を前記検出器によって受光する受光光学系と、
    前記検出器によって受光された前記反射光束に基づいて、前記眼鏡フレームの前記リムの溝の断面形状を取得する取得手段と、
    を備え、
    　眼鏡フレームの形状を測定する眼鏡枠形状測定装置において実行される眼鏡枠形状測定プログラムであって、
    　前記眼鏡枠形状測定装置のプロセッサによって実行されることで、
    　前記取得手段によって取得された前記断面形状における前記リムの欠損部分を補間する補間ステップを前記眼鏡枠形状測定装置に実行させることを特徴とする眼鏡枠形状測定プログラム。
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