WO2018235729A1 - 駆動回路、アクティブマトリクス基板及び表示装置 - Google Patents

駆動回路、アクティブマトリクス基板及び表示装置 Download PDF

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WO2018235729A1
WO2018235729A1 PCT/JP2018/022840 JP2018022840W WO2018235729A1 WO 2018235729 A1 WO2018235729 A1 WO 2018235729A1 JP 2018022840 W JP2018022840 W JP 2018022840W WO 2018235729 A1 WO2018235729 A1 WO 2018235729A1
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signal
reference voltage
terminal
voltage signal
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梅原 哲也
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シャープ株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to a drive circuit, an active matrix substrate provided with the drive circuit, and a display device provided with the active matrix substrate.
  • FIG. 8 is a view showing a schematic configuration of a COG (Chip On Glass) type display device 100 in which source drive circuits 104 a and 104 b are provided in a peripheral region 103 of the display region 102 on the active matrix substrate 101.
  • COG Chip On Glass
  • an external circuit board 107 (for example, Printed Circuit Board; Supply of signals and power supply voltage to the source drive circuits 104a and 104b provided on the active matrix substrate 101 from the PCB) is a flexible circuit substrate electrically connected to the wiring (not shown) of the external circuit substrate 107.
  • the wiring 106 (Flexible Printed Circuit Board; FPC
  • the wiring 106a of) are performed via the wiring 105a ⁇ 105b formed in the peripheral region 103 of the wiring 106a electrically connected to the active matrix substrate 101 of the flexible printed circuit board 106.
  • the external circuit substrate 107 can be disposed on the back surface of the active matrix substrate 101 by bending the flexible circuit substrate 106. Therefore, in the case of the display device 100, the peripheral region of the active matrix substrate 101 is realized in order to realize frame narrowing. It is important to reduce the area of the wirings 105a and 105b formed in 103.
  • the wirings 105a and 105b formed in the peripheral region 103 of the active matrix substrate 101 are configured by the minimum required number of wirings and the wiring width in accordance with the number of input terminals of the source drive circuits 104a and 104b. There is.
  • FIG. 9 shows the electrical connection between the wiring 105a formed in the peripheral region 103 of the active matrix substrate 101 in the display device 100 shown in FIG. 8 and the wiring 106a of the flexible circuit substrate 106, and the wiring of the flexible circuit substrate 106.
  • FIG. 6 is a diagram showing an electrical connection relationship between the wiring 106a and the wirings 111 to 122 on the external circuit board 107, the gradation reference power supply circuit 108, the power supply circuit 109, and the video signal processing circuit 110.
  • each input terminal of the source drive circuit 104a is connected to an external circuit board via a plurality of wires 105a formed in the peripheral region 103 of the active matrix substrate 101 and the wires 106a of the flexible circuit substrate 106. It is electrically connected to the wirings 111 to 122 formed on the surface 107.
  • the wirings 111, 112, 121, and 122 formed on the external circuit board 107 are resistance measurement wirings, and the wirings 113, 114, 115, and 116 are gradation reference voltage signal wirings. It is electrically connected to the output terminal of the circuit 108.
  • the wirings 117 and 118 are power supply wirings and are electrically connected to the output terminal of the power supply circuit 109, and the wirings 119 and 120 are video signal wirings and the output terminal of the video signal processing circuit 110. Are connected electrically.
  • the wirings 113 to 120 and the corresponding wirings in the plurality of wirings 105 a electrically connected to each of the wirings 113 to 120 through the wirings 106 a of the flexible circuit board 106 have a gray scale reference voltage in the source drive circuit 104 a. Since the wiring is for supplying signals, power and video signals, there is a limitation in reducing the number.
  • the corresponding ones of the plurality of wirings 105a electrically connected to the wirings 111, 112, 121, and 122, which are resistance measurement wirings, and the respective wirings 111, 112, 121, and 122 through the wirings 106a of the flexible circuit board 106.
  • the quality of the electrical connection between each terminal of the source drive circuit 104a and the wire 105a the quality of the electrical connection between the wire 105a and the wire 106a of the flexible circuit board 106, and the flexible circuit board
  • the ultimate voltage of the power supply to the source drive circuit 104a causes a voltage drop due to the amount of current flowing through the line, and the line width is restricted by the voltage value. In this case, it is necessary to provide a wide and shortest low resistance wiring.
  • the area of the wires 105a and 105b formed in the peripheral region 103 of the active matrix substrate 101 is reduced by reducing the number of wires or narrowing the wire width, and It is difficult to realize narrowing of the frame.
  • Patent Document 1 describes a configuration in which a terminal dedicated to measurement of resistance and a wiring are eliminated by using a power supply wiring as a resistance measurement wiring.
  • FIG. 10 is a view showing the periphery of the display area of the liquid crystal display panel described in Patent Document 1. As shown in FIG.
  • a region 153 surrounded by a two-dot chain line is a region on which the IC chip is mounted, and a plurality of lead wirings 154 forming a lead wiring group 152 from the display region of the liquid crystal display panel are drawn to the region 153 It has been turned.
  • the IC chip is mounted in the region 153, one output terminal of the IC chip is connected to one lead wiring 154.
  • a region 158 below the alternate long and short dash line is a region to which the end portion of the flexible circuit board is connected, and a wiring group 159 including three strip relay wirings 155 to 157 It is formed to be routed around.
  • the relay wires 155 to 157 are formed on the upper surface of the peripheral portion 151 of the substrate (active matrix substrate).
  • one power supply voltage terminal 132 is connected to one end of the first relay wiring 155, and the other two power supply voltage terminals 132 are the second relay wiring 156.
  • the four power supply voltage terminals 133 are connected to one end of the third relay wiring 157.
  • both of the first relay wiring 155 and the second relay wiring 156 are supplied with the positive power supply voltage Vdd, and it is determined when the IC chip is properly mounted. Measures the resistance between the first relay wiring 155 and the second relay wiring 156 using the first relay wiring 155 and the second relay wiring 156, and based on the measured resistance value, performs an IC. It is possible to judge whether or not the mounting state of the chip is good.
  • the first relay wiring 155 and the second relay wiring 156 which are power supply wirings, can be used as the resistance measurement wiring, so the terminal and wiring dedicated to resistance measurement can be used. Can be eliminated, the number of wirings formed in the peripheral portion 151 of the substrate (active matrix substrate) can be reduced, and the narrowing of the liquid crystal display panel can be realized. However, for the following reasons It can not be done with high accuracy.
  • the first relay wiring 155 and the second relay wiring 156 are electrically connected to each other through the internal circuit in the IC chip, not only the resistance value related to the mounting state of the IC chip but also the IC chip Because the resistance value of the internal circuit of the above is also measured together, it is not possible to accurately measure the quality of the mounted state of the IC chip.
  • the present invention has been made in view of the above problems, and can reduce the area of the wiring formed in the peripheral area of the display area of the active matrix substrate, and determine the quality of the mounting state of the drive circuit. It is an object of the present invention to provide a drive circuit capable of performing the
  • the drive circuit according to the present invention is a drive circuit provided with a plurality of input terminals and a plurality of output terminals in order to solve the above-mentioned problems, and the plurality of input terminals are at least input of video signals.
  • a video signal input from the input terminal of the video signal including a terminal, an input terminal of a first signal, and an input terminal of a power supply voltage, and a first signal input from the input terminal of the first signal
  • an output signal generation circuit for generating an output signal, wherein each output signal generated in the output signal generation circuit is output at each of the plurality of output terminals, and an input terminal for the first signal It is characterized in that an electrically connected terminal for resistance measurement is provided.
  • the drive circuit is mounted by measuring the resistance value using the input terminal of the first signal and the terminal for measuring resistance electrically connected to the input terminal of the first signal. You can judge whether the condition is good or bad. That is, by measuring the resistance value using the wiring electrically connected to the input terminal of the first signal and the wiring electrically connected to the resistance measurement terminal, the above-described drive circuit can be obtained. It can be judged whether the connection state between the input terminal and the wiring is good or bad.
  • the input terminal of the first signal and the terminal for resistance measurement are electrically connected without passing through the internal circuit in the drive circuit, the influence of the resistance of the internal circuit in the drive circuit is suppressed. It is possible to accurately determine whether the mounting state of the drive circuit is good or bad.
  • the input terminal of the first signal supplied to the output signal generation circuit can be used to measure the resistance value, the number of resistance measurement terminals can be reduced. That is, the input terminal of the first signal can be shared with the resistance measurement terminal.
  • the drive circuit since the number of input terminals of the drive circuit can be reduced, the area of the wiring formed in the peripheral region of the display region of the active matrix substrate can be reduced by using the drive circuit having a small number of such input terminals. It can be reduced.
  • FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a liquid crystal display device of Embodiment 1.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view of the liquid crystal display device illustrated in FIG.
  • FIG. 7 is a diagram for describing the reason why the area of the wiring formed in the peripheral region of the display region of the active matrix substrate can be reduced in the liquid crystal display device illustrated in FIG. 1. It is a figure which shows schematic structure of the source drive circuit with which the liquid crystal display device illustrated in FIG. 1 was equipped. It is a figure which shows schematic structure of the other source drive circuit which can be equipped with the liquid crystal display shown in figure in FIG.
  • FIG. 7 is a diagram showing a schematic configuration of a liquid crystal display device of Embodiment 3.
  • FIG. 7 is a diagram showing a schematic configuration of still another source drive circuit that can be provided in the liquid crystal display device shown in FIG. 6.
  • FIG. 14 is a diagram showing a schematic configuration of a conventional COG type display device in which a source drive circuit is provided in a peripheral region of a display region on an active matrix substrate. Electrical connection between the flexible circuit substrate and the wiring formed in the peripheral region of the active matrix substrate in the display device shown in FIG. 8, and the gradation reference power supply circuit and power supply circuit on the flexible circuit substrate and the external circuit substrate And an electrical connection with the video signal processing circuit. It is a figure which shows the circumference
  • a liquid crystal display device including an active matrix substrate including a source drive circuit, an opposing substrate, and a liquid crystal layer is described as an example of a display device, but the present invention is limited thereto.
  • an EL display device including an active matrix substrate provided with a source drive circuit and a protective layer formed on the active matrix substrate without including an opposing substrate and a liquid crystal layer may be used.
  • non-flexible display is mentioned as an example and demonstrated as a display, it is not limited to this, and a reflective liquid crystal display without a backlight or It may be a flexible display (flexible display) such as an EL display.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view of the liquid crystal display device 11.
  • the liquid crystal display device 11 includes an active matrix substrate 1, an opposite substrate 1 ′ disposed to face the active matrix substrate 1, and a flexible printed circuit board 6 (flexible printed circuit board; And an external circuit board 7 (e.g., a printed circuit board; PCB).
  • an active matrix substrate 1 an opposite substrate 1 ′ disposed to face the active matrix substrate 1
  • a flexible printed circuit board 6 flexible printed circuit board
  • an external circuit board 7 e.g., a printed circuit board; PCB
  • Active matrix substrate 1 and counter substrate 1 ′ are bonded via a sealing agent (not shown), and a liquid crystal layer (not shown) is formed between active matrix substrate 1 and counter substrate 1 ′. Is equipped.
  • the opposite substrate 1 ' is a color filter substrate or the like.
  • a plurality of data signal lines (not shown) and a plurality of active elements (not shown) provided in the display area of active matrix substrate 1 are provided in the peripheral area of the display area of active matrix substrate 1.
  • Each of the plurality of output terminals 4c of the source drive circuit 4a is aligned with each of the plurality of lead wirings 1c, and each of the plurality of input terminals 4d of the source drive circuit 4a and each of the plurality of wirings 5a are positioned.
  • the source drive circuit 4a is mounted and mounted on the active matrix substrate 1 by pressure bonding through the anisotropic conductive film 12a (Anisotropic Conductive Film; ACF).
  • the plurality of wires 5a formed in the peripheral region of the display region of the active matrix substrate 1 and the wires 7a of the external circuit board 107 have anisotropic conductive films 12b and 12c and softness. It is electrically connected via the plurality of wirings 6 a of the circuit board 6.
  • FIG. 1 is a view showing a schematic configuration of the liquid crystal display device 11.
  • the liquid crystal display device 11 is a COG (Chip On Glass) liquid crystal display device 11 in which source drive circuits 4 a and 4 b are provided in the peripheral region 3 of the display region 2 on the active matrix substrate 1. is there.
  • COG Chip On Glass
  • Data signal is output.
  • the wires 41 and 50 formed on the external circuit board 7 are resistance measurement wires, and the wires 42 and 49 are wires sharing the resistance measurement wire and the gradation reference voltage signal wire.
  • the wires 42 and 49 as well as the wires 43 and 48 are wires for the gray scale reference voltage signal, and therefore, are electrically connected to the output terminals of the gray scale reference power supply circuits 8a and 8b.
  • the wirings 44 and 45 are power supply wirings and are electrically connected to the output terminals of the power supply circuits 9a and 9b, and the wirings 46 and 47 are video signal wirings, and the video signal processing circuit 10a ⁇ ⁇ It is electrically connected to the output terminal 10b.
  • FIG. 1 illustrates the case where the source drive circuits 4a and 4b are in the connection resistance measurement mode (second state), and therefore the wiring 41 and the wiring 42 are the source drive circuit 4a.
  • the wiring 49 is also electrically connected in the 4b, and the wiring 49 is also electrically connected to the wiring 50 in the source drive circuits 4a and 4b.
  • ⁇ illustrated on the wirings 41, 42, 49, 50 in the external circuit board 7 illustrates an example of a position where the connection resistance can be measured.
  • connection resistance on the wires 41, 42, 49, 50 in the external circuit board 7 is described as an example, the present invention is not limited thereto, and the connection resistance is measured. Positions may be the corresponding wires 6a on the flexible circuit board 6 electrically connected to the wires 41, 42, 49, 50, and the active matrix electrically connected to the wires 41, 42, 49, 50.
  • the wirings 5a and 5b formed in the peripheral region 3 of the substrate 1 may be used.
  • each output terminal of the source drive circuit 4a, 4b and the wire 5a, 5b It is possible to judge whether the quality of the electrical connection (quality of the mounting state of the source drive circuits 4a and 4b) and the quality of the electrical connection between the wiring 5a and the wiring 6a of the flexible circuit board 6 are good or bad.
  • the source drive circuits 4a and 4b are used. It can be determined whether the electrical connection between the output terminals and the wirings 5a and 5b is good (the mounting condition of the source drive circuits 4a and 4b).
  • peripheral region 3 of active matrix substrate 1 electrically connected to interconnections 41, 42, 49, 50. It is preferable to measure the connection resistance on the wires 5a and 5b formed on the flexible circuit board 6 after the flexible circuit board 6 is electrically connected to the active matrix substrate 1, and the circuit board 7 outside the flexible circuit board 6 is preferably formed. It is preferable to measure the connection resistance on the corresponding wire 6a in the flexible circuit board 6 electrically connected to the wires 41, 42, 49, 50 before electrically connecting the two.
  • the input terminals of the source drive circuits 4a and 4b electrically connected to the wirings 41, 42, 49 and 50 are disposed at the right end and the left end of the source drive circuits 4a and 4b.
  • the case has been described as an example, it is not limited thereto.
  • the present invention among the input terminals of the source drive circuits 4a and 4b, the case where the number of input terminals used as terminals for resistance measurement is four will be described as an example, but the present invention is limited thereto. There is nothing to do.
  • judgment of the quality of the electrical connection from the measured resistance value can be judged that the malfunction has arisen in the electrical connection, when the measured resistance value is more than fixed value .
  • FIG. 3A is a view showing a plurality of wirings 105a and 105b formed in the peripheral area of the display area of the conventional active matrix substrate 101 shown in FIG. 7, and FIG. FIG. 7 is a view illustrating a plurality of wires 5a and 5b formed in the peripheral area of the display area of the active matrix substrate 1 provided in the liquid crystal display device 11 illustrated in FIG.
  • the resistance measurement terminal and the gradation reference voltage signal terminal are not shared. Accordingly, the number of input terminals of the source drive circuits 104a and 104b is increased, and a plurality of input terminals formed in the peripheral region of the display area of the active matrix substrate 101 electrically connected to the input terminals of the source drive circuits 104a and 104b.
  • the number of wires 105a and 105b in the circuit also increases. Therefore, as shown in FIG. 3A, the width A in the vertical direction of the peripheral area of the display area of the active matrix substrate 101 is particularly increased.
  • the resistance measurement terminal and the gradation reference voltage signal terminal are connected. Since sharing is achieved, the number of input terminals of the source drive circuits 4a and 4b can be reduced by that amount, and the display of the active matrix substrate 1 electrically connected to the input terminals of the source drive circuits 4a and 4b.
  • the number of the plurality of wirings 5a and 5b formed in the peripheral area of the area can also be reduced. Therefore, the vertical width A of the peripheral area of the display area of the active matrix substrate 1 can be particularly reduced.
  • the area of the wiring formed in the peripheral area of the display area of the active matrix substrate 1 can be reduced.
  • FIG. 4 illustrates the case where the source drive circuit 4a is in the normal drive mode (first state), and (b) of FIG. 4 illustrates the connection resistance measurement mode (second state) of the source drive circuit 4a. The case of) is illustrated.
  • the source drive circuit 4 a includes a switch element 25 (analog switch), a switch element 26 (analog switch), a switch element 27 (analog switch), and a switch element 28 (analog switch). There is.
  • the switch element 25 is an input terminal of the gray scale reference voltage signal VH + (a first gray scale reference voltage signal Electrically separated from the input terminal (input terminal of the second gradation reference voltage signal) of the gradation reference voltage signal VL +, and electrically connected to the input terminal of the output signal generation circuit 13,
  • Switch element 26 receives the input terminal of gray scale reference voltage signal VL + (the input terminal of the second gray scale reference voltage signal) from the input terminal of gray scale reference voltage signal VH + (the input terminal of the first gray scale reference voltage signal). It electrically separates and electrically connects with the input terminal of the output signal generation circuit 13.
  • the switch element 27 electrically connects the input terminal of the gradation reference voltage signal VL- to the input terminal of the gradation reference voltage signal VH-.
  • the switch element 28 electrically connects the input terminal of the gray scale reference voltage signal VH- from the input terminal of the gray scale reference voltage signal VL- while separating and electrically connecting with the input terminal of the output signal generation circuit 13. As well as being separated, they are electrically connected to the input terminal of the output signal generation circuit 13.
  • the switch element 25 when the source drive circuit 4a is in the connection resistance measurement mode (second state), the switch element 25 generates the output signal of the input terminal of the gradation reference voltage signal VH +.
  • the switch element 26 is electrically separated from the circuit 13 and electrically connected to the input terminal of the gradation reference voltage signal VL +, and the switch element 26 electrically connects the input terminal of the gradation reference voltage signal VL + from the output signal generation circuit 13. And electrically connected to the input terminal of the gradation reference voltage signal VH +.
  • the switch element 27 electrically isolates the input terminal of the gradation reference voltage signal VL- from the output signal generation circuit 13.
  • the switch element 28 electrically isolates the input terminal of the gradation reference voltage signal VH- from the output signal generation circuit 13 and electrically connects the input terminal of the gradation reference voltage signal VH- to the gradation reference It is electrically connected to the input terminal of the voltage signal VL-.
  • the terminal for the gradation reference voltage signal VH +, the terminal for the gradation reference voltage signal VL +, the terminal for the gradation reference voltage signal VL ⁇ and the terminal for the gradation reference voltage signal VH ⁇ are resistance measurement It is also a terminal.
  • the resistance detection voltage input and the resistance detection voltage are detected using the gradation reference voltage signal VH + terminal and the gradation reference voltage signal VL + terminal. It is possible to measure the resistance value.
  • the resistance detection voltage can be input and the resistance detection voltage can be measured using the gray scale reference voltage signal VL ⁇ terminal and the gray scale reference voltage signal VH ⁇ terminal, and the resistance value can be measured. .
  • switch element 25, switch element 26, switch element 27 and switch element 28 are provided to separate the circuit in the normal drive mode from the circuit in the connection resistance measurement mode.
  • each input terminal of the source drive circuit 4a electrically connected to the wires 41, 42, 49, 50 is disposed at the right end and the left end of the source drive circuit 4a as an example. Although mentioned and explained, it is not limited to this.
  • the case where the number of input terminals used as terminals for resistance measurement is four among the input terminals of the source drive circuit 4a is described as an example, but it is limited to this Absent.
  • FIG. 1 A second embodiment of the present invention will now be described based on FIG.
  • the present embodiment is different from the first embodiment in that the source drive circuit 24 not including the switch element (analog switch) is used, and the others are as described in the first embodiment.
  • the switch element analog switch
  • members having the same functions as the members shown in the drawings of Embodiment 1 are given the same reference numerals, and descriptions thereof will be omitted.
  • FIG. 5 is a diagram showing a schematic configuration of the source drive circuit 24. As shown in FIG.
  • the input terminal of the source drive circuit 24 is a terminal 18 for gray scale reference voltage signal VH +, a terminal 19 for resistance measurement, a terminal for gray scale reference voltage signal VL +, and an IC power supply voltage input. It includes a plurality of terminals, a plurality of terminals for input such as video and synchronization signals, a terminal for gradation reference voltage signal VL-, a terminal 20 for gradation reference voltage signal VH-, and a terminal 21 for resistance measurement. .
  • the gradation reference voltage signal VH + terminal 18 and the resistance measurement terminal 19 have contact points 18 a and are electrically connected, and the gradation reference voltage signal VH ⁇ terminal 20 and the resistance measurement terminal 21 are electrically connected. Has a contact point 20a and is electrically connected.
  • the source drive circuit 24 does not have a switch element (analog switch), there is no change in the circuit in the normal drive mode or in the connection resistance measurement mode.
  • the terminal for resistance measurement and the terminal for gray scale reference voltage signal are shared, and gray scale reference voltage signal VH + terminal 18 and the floor are provided.
  • the adjustment reference voltage signal VH ⁇ terminal 20 is also a resistance measurement terminal.
  • the terminal 18 for gray scale reference voltage signal VH + and the terminal 19 for resistance measurement do not pass through the internal circuit in the source drive circuit 24 but through the contact 18 a.
  • the gradation reference voltage signal VH ⁇ terminal 20 and the resistance measurement terminal 21 are electrically connected through the contact 20 a without passing through the internal circuit in the source drive circuit 24. Since they are connected, highly accurate resistance measurement can be realized while suppressing the influence of the resistance of the internal circuit in the source drive circuit 24.
  • the source drive circuit 24 when the source drive circuit 24 is in the connection resistance measurement mode, various signals and power supply voltages supplied from the external circuit board 7 to the source drive circuit 24 may not be supplied, but in the present embodiment, The resistance value was measured using the gray scale reference voltage signal VH + or the gray scale reference voltage signal VH ⁇ .
  • the gray scale reference voltage signal VH + can be input from the gray scale reference voltage signal VH + terminal 18 using the gray scale reference voltage signal VH + terminal 18 and the resistance measurement terminal 19, and the resistance value can be measured.
  • the gray scale reference voltage signal VH ⁇ is input from the gray scale reference voltage signal VH ⁇ terminal 20 using the gray scale reference voltage signal VH ⁇ terminal 20 and the resistance measurement terminal 21, and the resistance value is obtained. Measurement can be performed.
  • the resistance detection signal (Error signal) from the video signal confirmation circuit 15 is a warning signal, and this signal causes no change in the circuit in the source drive circuit 24.
  • each input terminal of the source drive circuit 24 electrically connected to the wires 41, 42, 49, 50 is disposed at the right end and the left end of the source drive circuit 24 as an example. Although mentioned and explained, it is not limited to this.
  • the case where the number of input terminals used as the terminals for resistance measurement is four among the input terminals of the source drive circuit 24 is described as an example, but it is limited to this Absent.
  • Embodiment 3 of the present invention will be described based on FIGS. 6 and 7.
  • various signals and power supply voltages output from one gradation reference power supply circuit 8c, one power supply circuit 9c and one video signal processing circuit 10c are connected to the wirings 42 to 49 of the external circuit board 7 and the like.
  • the fourth embodiment differs from the first embodiment in that it is input from the input terminals of the source drive circuits 34a and 34b via the formed wirings 5a and 5b, and the other is the same as that described in the first embodiment.
  • members having the same functions as the members shown in the drawings of Embodiment 1 are given the same reference numerals, and descriptions thereof will be omitted.
  • FIG. 6 is a view showing a schematic configuration of the liquid crystal display device 11 '.
  • the liquid crystal display device 11 ′ is a COG (Chip On Glass) liquid crystal display device 11 in which source drive circuits 34 a and 34 b are provided in the peripheral region 3 of the display region 2 on the active matrix substrate 1. '.
  • COG Chip On Glass
  • Data signal is output.
  • various signals and power voltages output from one common gradation reference power supply circuit 8c, one common power supply circuit 9c and one common video signal processing circuit 10c provided on the external circuit board 7 are Electrically connected to the wiring 6a of the flexible circuit board 6 electrically connected to the wirings 42 to 49 of the external circuit board 7 and the wirings 42 to 49 of the external circuit board 7 and the wiring 6a of the flexible circuit board 6
  • the signals are input from the input terminals of the source drive circuits 34a and 34b via the wirings 5a and 5b formed in the peripheral region 3 of the active matrix substrate 1 as described above.
  • the wires 41 and 50 formed on the external circuit board 7 are resistance measurement wires, and the wires 42 and 49 are wires sharing the resistance measurement wire and the gradation reference voltage signal wire.
  • the wires 42 and 49 as well as the wires 43 and 48 are wires for the gray scale reference voltage signal, and therefore, are electrically connected to the output terminal of one common gray scale reference power supply circuit 8 c.
  • the wirings 44 and 45 are power supply wirings and are electrically connected to the output terminal of one common power supply circuit 9c, and the wirings 46 and 47 are video signal wirings and one common It is electrically connected to the output terminal of the video signal processing circuit 10c.
  • FIG. 6 shows the case where the source drive circuits 34a and 34b are in the connection resistance measurement mode (fourth state), the wires 41 and 42 are electrically connected in the source drive circuits 34a and 34b.
  • the wiring 49 is also electrically connected in the wiring 50 and the source drive circuits 34a and 34b.
  • ⁇ illustrated on the wirings 41, 42, 49, 50 in the external circuit board 7 illustrates an example of a position where the connection resistance can be measured.
  • connection resistance on the wires 41, 42, 49, 50 in the external circuit board 7 is described as an example, the present invention is not limited thereto, and the connection resistance is measured. Positions may be the corresponding wires 6a on the flexible circuit board 6 electrically connected to the wires 41, 42, 49, 50, and the active matrix electrically connected to the wires 41, 42, 49, 50.
  • the wirings 5a and 5b formed in the peripheral region 3 of the substrate 1 may be used.
  • the electrical connection between each output terminal of the source drive circuits 34a, 34b and the wires 5a, 5b Good (good or bad of mounting condition of source drive circuits 34a and 34b), good or bad of electrical connection between the wiring 5a and the wiring 6a of the flexible circuit board 6, and the wiring 6a of the flexible circuit board 6 and the external circuit It can be determined whether the electrical connection with the wirings 41 to 50 formed on the substrate 7 is good or bad.
  • connection resistance is measured on the corresponding wire 6a in the flexible circuit board 6 electrically connected to the wires 41, 42, 49, 50, each output terminal of the source drive circuit 34a, 34b and the wire 5a, 5b It is possible to judge whether the quality of the electrical connection (quality of the mounting state of the source drive circuits 34a and 34b) and the quality of the electrical connection between the wiring 5a and the wiring 6a of the flexible circuit board 6 are good or bad.
  • the source drive circuits 34a and 34b It is possible to determine the quality of the electrical connection between the output terminals and the wirings 5a and 5b (quality of the mounting state of the source drive circuits 34a and 34b).
  • peripheral region 3 of active matrix substrate 1 electrically connected to interconnections 41, 42, 49, 50. It is preferable to measure the connection resistance on the wires 5a and 5b formed on the flexible circuit board 6 after the flexible circuit board 6 is electrically connected to the active matrix substrate 1, and the circuit board 7 outside the flexible circuit board 6 is preferably formed. It is preferable to measure the connection resistance on the corresponding wire 6a in the flexible circuit board 6 electrically connected to the wires 41, 42, 49, 50 before electrically connecting the two.
  • the input terminals of the source drive circuits 34a and 34b electrically connected to the wires 41, 42, 49 and 50 are disposed at the right end and the left end of the source drive circuits 34a and 34b. Although the case has been described as an example, it is not limited thereto.
  • the present invention among the input terminals of the source drive circuits 34a and 34b, the case where the number of input terminals used as terminals for resistance measurement is four will be described as an example, but the present invention is limited thereto. There is nothing to do.
  • judgment of the quality of the electrical connection from the measured resistance value can be judged that the malfunction has arisen in the electrical connection, when the measured resistance value is more than fixed value .
  • FIG. 7A shows the case where the source drive circuit 34a provided in the liquid crystal display device 11 'is in the normal drive mode (third state), and FIG. 7B shows the liquid crystal display device 11'.
  • the figure shows the case where the source drive circuit 34a provided in 'is in the connection resistance measurement mode (fourth state).
  • the source drive circuit 34 a includes an output signal generation circuit 13, a gradation power supply circuit 14, a video signal confirmation circuit 15, and switch elements 16 and 17.
  • the input terminals of the source drive circuit 34a are the gradation reference voltage signal VH + terminals 16a and 17a, the resistance measurement terminals 16b and 17b, two gradation reference voltage signal VL + terminals, and a plurality of IC power supply voltage input terminals. And a plurality of terminals for input such as video and synchronization signals.
  • the resistance measurement terminal 16b is electrically connected to the wiring 41 shown in FIG. 6, and the gradation reference voltage signal VH + terminal 16a is electrically connected to the wiring 42 shown in FIG.
  • the terminal for the gradation reference voltage signal VL + adjacent to the terminal 16a is electrically connected to the wiring 43 shown in FIG. 6, and the terminal for the gradation reference voltage signal VL + adjacent to the terminal 17a for the gradation reference voltage signal is
  • the gradation reference voltage signal VH + terminal 17a is electrically connected with the interconnection 49 shown in FIG. 6, and the resistance measurement terminal 17b is shown in FIG. 6 with the interconnection 49 shown in FIG. It is electrically connected to 50.
  • each of the plurality of terminals for IC power supply voltage input is electrically connected to the wiring 44 and the wiring 45 shown in FIG. 6, and each of the plurality of terminals for input of video and synchronization signals is shown in FIG. And the wires 47 and 47 shown in FIG.
  • the output signal generation circuit 13 includes a signal input from each of a plurality of input terminals such as video and synchronization signals, a gray scale reference voltage signal VH + terminal 16a and 17a, and two gray scale reference voltage signal VL + terminals An output signal is generated on the basis of the signal input from each of the two, and output from an output terminal (not shown) of each of the source drive circuits 34a.
  • the gradation power supply circuit 14 is a circuit for adjusting the power supply voltage input from each of the plurality of terminals for IC power supply voltage input and supplying the adjusted output voltage to the output signal generation circuit 13.
  • the video signal confirmation circuit 15 judges the propriety from the signals input from each of the plurality of input terminals such as video and synchronization signals, and when judging that the signal is an inappropriate signal, the resistance detection signal (Error signal) is output to the switch elements 16 and 17.
  • the source drive circuit 34a is set to the connection resistance measurement mode (fourth state) illustrated in FIG. 7B.
  • the video signal confirmation circuit 15 When it is determined that the signal is appropriate, the switch element 16 electrically isolates the gray scale reference voltage signal VH + terminal 16 a from the resistance measurement terminal 16 b, and the input terminal of the output signal generation circuit 13. The switch element 17 electrically isolates the gray scale reference voltage signal VH + terminal 17 a from the resistance measurement terminal 17 b and electrically connects it to the input terminal of the output signal generation circuit 13. .
  • the source drive circuit 34a is in the connection resistance measurement mode illustrated in FIG. 7B, that is, the video signal confirmation circuit 15 is input from each of a plurality of input terminals such as video and synchronization signals.
  • the switch element 16 electrically isolates the gradation reference voltage signal VH + terminal 16 a from the input terminal of the output signal generation circuit 13 and
  • the switch element 17 electrically isolates the gradation reference voltage signal VH + terminal 17a from the input terminal of the output signal generation circuit 13, and electrically connects the resistance measurement terminal 17b to the electrical connection with the measurement terminal 16b.
  • the resistance measurement terminal and the gradation reference voltage signal terminal are shared, and the gradation reference voltage signal VH + terminal is used.
  • the terminal 16a for gray scale reference voltage signal VH + 16a is also a terminal for resistance measurement.
  • the resistance detection voltage is input and the resistance detection voltage is performed using the gradation reference voltage signal VH + terminal 16a and the resistance measurement terminal 16b. It is possible to measure the resistance value.
  • the resistance detection voltage can be input and the resistance detection voltage can be measured using the gradation reference voltage signal VH + terminal 17a and the resistance measurement terminal 17b to measure the resistance value.
  • the switch elements (analog switches) 16 and 17 are provided to separate the circuit in the normal drive mode and the circuit in the connection resistance measurement mode, thereby performing the normal drive. In addition to suppressing adverse effects in the mode, highly accurate resistance measurement can be realized.
  • a drive circuit is a drive circuit provided with a plurality of input terminals and a plurality of output terminals in order to solve the above problems, and the plurality of input terminals are at least a video.
  • a signal input terminal, a first signal input terminal, and a power supply voltage input terminal, and a video signal input from the video signal input terminal and a first signal input from the first signal input terminal And an output signal generation circuit for generating an output signal based on the signals, wherein each of the plurality of output terminals outputs each output signal generated in the output signal generation circuit, and It is characterized in that a resistance measurement terminal electrically connected to the input terminal is provided.
  • the drive circuit is mounted by measuring the resistance value using the input terminal of the first signal and the terminal for measuring resistance electrically connected to the input terminal of the first signal. You can judge whether the condition is good or bad. That is, by measuring the resistance value using the wiring electrically connected to the input terminal of the first signal and the wiring electrically connected to the resistance measurement terminal, the above-described drive circuit can be obtained. It can be judged whether the connection state between the input terminal and the wiring is good or bad.
  • the input terminal of the first signal and the terminal for resistance measurement are electrically connected without passing through the internal circuit in the drive circuit, the influence of the resistance of the internal circuit in the drive circuit is suppressed. It is possible to accurately determine whether the mounting state of the drive circuit is good or bad.
  • the input terminal of the first signal supplied to the output signal generation circuit can be used to measure the resistance value, the number of resistance measurement terminals can be reduced. That is, the input terminal of the first signal can be shared with the resistance measurement terminal.
  • the drive circuit since the number of input terminals of the drive circuit can be reduced, the area of the wiring formed in the peripheral region of the display region of the active matrix substrate can be reduced by using the drive circuit having a small number of such input terminals. It can be reduced.
  • the plurality of input terminals are provided with an input terminal of a first gradation reference voltage signal and an input terminal of a second gradation reference voltage signal.
  • the input terminal of the first signal is either the input terminal of the first gray scale reference voltage signal or the input terminal of the second gray scale reference voltage signal
  • the resistance measurement terminal is the The other of the input terminal of the first gray scale reference voltage signal and the input terminal of the second gray scale reference voltage signal, comprising a first switch element and a second switch element, the first switch element and the second switch element
  • the switch element electrically separates the first switch element from the input terminal of the second gray scale reference voltage signal from the input terminal of the first gray scale reference voltage signal, and electrically connects the output signal generation circuit and the electricity.
  • a switch element electrically isolates the input terminal of the second gradation reference voltage signal from the input terminal of the first gradation reference voltage signal and electrically connects the output terminal to the output signal generation circuit.
  • the first switch element electrically isolates the input terminal of the first gradation reference voltage signal from the output signal generation circuit, and electrically connects the input terminal of the second gradation reference voltage signal to the input terminal of the second gradation reference voltage signal.
  • the second switch element electrically isolates the input terminal of the second gray scale reference voltage signal from the output signal generation circuit, and the input terminal of the first gray scale reference voltage signal. It may be configured to switch between the second state in which electrical connection is made.
  • the first switch element and the second switch element are provided to separate the circuit in the normal drive mode (first state) from the circuit in the connection resistance measurement mode (second state), In addition to suppressing the adverse effect in the normal drive mode, highly accurate resistance measurement can be realized.
  • the input terminal of the first signal is an input terminal of the gradation reference voltage signal, and includes a third switch element;
  • the element electrically separates the input terminal of the first signal from the resistance measurement terminal, and a third state in which the input terminal of the first signal is electrically connected to the output signal generation circuit, and the input terminal of the first signal, It may be configured to be electrically separated from the output signal generation circuit, and to be switched to a fourth state to be electrically connected to the resistance measurement terminal.
  • the third switch element is provided to separate the circuit in the normal drive mode (third state) from the circuit in the connection resistance measurement mode (fourth state). In addition to suppressing adverse effects, highly accurate resistance measurement can be realized.
  • the input terminal of the first signal is an input terminal of the gradation reference voltage signal
  • the input terminal of the first signal is the output signal generation It may be electrically connected to the circuit and the terminal for resistance measurement.
  • the first signal may be a gradation reference voltage signal that is a signal that determines a reference voltage of the output signal.
  • the input terminal of the gradation reference voltage signal which is a signal for determining the reference voltage of the output signal, can be used as the resistance measurement terminal. Since the input terminal for the gray scale reference voltage signal is high impedance, almost no current flows, so that highly accurate resistance measurement can be realized.
  • the active matrix substrate according to aspect 6 of the present invention is provided with the plurality of active elements in the first area, and is described in any one of aspects 1 to 5 above in the second area which is the peripheral area of the first area.
  • the plurality of output terminals of the drive circuit are electrically connected to the respective data signal lines electrically connected to the plurality of active elements, The output signal output from each of the plurality of output terminals of the drive circuit may be supplied to each of the plurality of active elements.
  • the wiring of may be formed.
  • the resistance value can be measured using the wiring formed in the second region of the active matrix substrate.
  • a display device includes the active matrix substrate according to aspect 7 above, and is electrically connected to each of the plurality of wirings in the second region of the active matrix substrate.
  • a flexible circuit board provided with a plurality of wires may be provided.
  • the resistance value can be measured using the wiring provided on the flexible circuit board.
  • the display device may further include a circuit board including a plurality of lines electrically connected to each of the plurality of lines of the flexible circuit board according to the above-mentioned aspect 8 .
  • the resistance value can be measured using the wiring provided on the circuit board.
  • the opposite substrate disposed to face the active matrix substrate is provided, and the active matrix substrate and the opposite substrate are sealed.
  • a liquid crystal layer may be provided between the active matrix substrate and the counter substrate, which are attached to each other through an agent.
  • the present invention can be used for a drive circuit, an active matrix substrate and a display device.

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Abstract

アクティブマトリクス基板の表示領域の周辺領域に形成された配線の面積を縮小することができるとともに、駆動回路の搭載状態の良否の判断を精度高く行うことができる駆動回路を提供する。ソース駆動回路(4a)は、階調基準電圧信号VL+用端子と、電気的に接続された抵抗測定用端子兼階調基準電圧信号VH+用端子を備えている。

Description

駆動回路、アクティブマトリクス基板及び表示装置
 本発明は、駆動回路と、駆動回路を備えたアクティブマトリクス基板と、アクティブマトリクス基板を備えた表示装置とに関する。
 近年、液晶表示装置やEL表示装置などの表示装置の分野においては、狭額縁化への要求が強くなっており、このような狭額縁化を実現するためには、表示装置における表示領域の周辺領域を狭くする必要がある。
 図8は、ソース駆動回路104a・104bを、アクティブマトリクス基板101上の表示領域102の周辺領域103に設けたCOG(Chip On Glass)型の表示装置100の概略構成を示す図である。
 図示されているように、表示装置100の表示領域102に表示を行うために、表示領域102に備えられた複数のデータ信号線(図示せず)及び複数のアクティブ素子(図示せず)に、データ信号を供給するソース駆動回路104a・104bを、アクティブマトリクス基板101上の表示領域102の周辺領域103に設けたCOG型の表示装置100の場合、外部の回路基板107(例えば、Printed Circuit Board;PCB)から、アクティブマトリクス基板101に設けられたソース駆動回路104a・104bへの信号や電源電圧の供給は、外部の回路基板107の配線(図示せず)と電気的に接続された軟性回路基板106(Flexible Printed Circuit Board;FPCB)の配線106aと、軟性回路基板106の配線106aと電気的に接続されたアクティブマトリクス基板101の周辺領域103に形成された配線105a・105bとを介して行われる。
 軟性回路基板106を折り曲げることによって、外部の回路基板107は、アクティブマトリクス基板101の裏面に配置できることから、表示装置100の場合、狭額縁化を実現するためには、アクティブマトリクス基板101の周辺領域103に形成された配線105a・105bの面積を縮小することが重要である。
 しかしながら、アクティブマトリクス基板101の周辺領域103に形成された配線105a・105bは、ソース駆動回路104a・104bの入力端子数に合わせて、最低限必要とされる配線数と配線幅とで構成されている。
 図9は、図8に図示した表示装置100におけるアクティブマトリクス基板101の周辺領域103に形成された配線105aと軟性回路基板106の配線106aとの電気的な接続関係と、軟性回路基板106の配線106aと外部の回路基板107上の配線111~122、階調基準電源回路108、電源回路109及び映像信号処理回路110との電気的な接続関係とを示す図である。
 図示されているように、ソース駆動回路104aの各入力端子は、アクティブマトリクス基板101の周辺領域103に形成された複数の配線105aと軟性回路基板106の配線106aとを介して、外部の回路基板107上に形成された配線111~122と電気的に接続されている。
 外部の回路基板107上に形成された配線111・112・121・122は抵抗測定用配線であり、配線113・114・115・116は階調基準電圧信号用配線であって、階調基準電源回路108の出力端子に電気的に接続されている。
 また、配線117・118は電源用配線であって、電源回路109の出力端子に電気的に接続されており、配線119・120は映像信号用配線であって、映像信号処理回路110の出力端子に電気的に接続されている。
 配線113~120と、配線113~120の各々と軟性回路基板106の配線106aを介して電気的に接続された複数の配線105a中の該当配線とは、ソース駆動回路104aに、階調基準電圧信号、電源及び映像信号を供給するための配線であるため、その数を減らすことには制約がある。
 抵抗測定用配線である配線111・112・121・122と、配線111・112・121・122の各々と軟性回路基板106の配線106aを介して電気的に接続された複数の配線105a中の該当配線とを減らした場合には、ソース駆動回路104aの各端子と配線105aとの電気的な接続の良否、配線105aと軟性回路基板106の配線106aとの電気的な接続の良否及び軟性回路基板106の配線106aと外部の回路基板107上に形成された配線111~122との電気的な接続の良否を判断できなくなってしまうという問題がある。
 また、配線幅については、配線に流れる電流量によりソース駆動回路104aへの供給電源の到達電圧が電圧降下を起こすので、その電圧値により配線幅は制約を受けることとなり、特に、電源用配線の場合には、幅広くかつ最短で低抵抗配線とする必要がある。
 以上の理由から、表示装置100において、配線数を減らしたり、配線幅を狭くすることで、アクティブマトリクス基板101の周辺領域103に形成された配線105a・105bの面積を縮小し、表示装置100の狭額縁化を実現するのは困難である。
 特許文献1には、電源用配線を抵抗測定用配線として用いることで、抵抗測定専用の端子及び配線を無くす構成について記載されている。
 図10は、特許文献1に記載されている液晶ディスプレイパネルの表示領域の周囲を示す図である。
 図中において、二点鎖線で囲まれる領域153が、ICチップが搭載される領域であり、液晶ディスプレイパネルの表示領域からの引き回し配線群152を成す複数の引出配線154が、領域153にまで引き回されている。領域153内にICチップが実装された状態では、1本の引出配線154につき、ICチップの1つの出力端子が接続されている。
 また、図中において一点鎖線の下の領域158は、軟性回路基板の端部が接続される領域であり、3本の帯状の中継配線155~157を含む配線群159が、領域158から領域153にかけて引き回されるように形成されている。中継配線155~157は、基板(アクティブマトリクス基板)の周辺部151の上面に形成されている。
 領域153内にICチップが実装された状態では、1つの電源電圧用端子132が第1の中継配線155の一端部に接続され、他の2つの電源電圧用端子132が第2の中継配線156の一端部に接続され、4つの電源電圧用端子133が第3の中継配線157の一端部に接続されている。
 この構成によれば、ICチップの駆動時には、第1の中継配線155及び第2の中継配線156には、共に正の電源電圧Vddが供給され、ICチップの搭載状態の良否を判断する際には、第1の中継配線155及び第2の中継配線156を利用して、第1の中継配線155と第2の中継配線156との間の抵抗値を測定し、その測定抵抗値に基づきICチップの搭載状態の良否を判断することができる。
日本国公開特許公報「特開2010-185747号」公報(2010年8月26日公開)
 特許文献1に開示されている構成によれば、電源用配線である第1の中継配線155及び第2の中継配線156を抵抗測定用配線として用いることができるので、抵抗測定専用の端子及び配線を無くすことができ、基板(アクティブマトリクス基板)の周辺部151に形成する配線の数を減らし、液晶ディスプレイパネルの狭額縁化を実現できるが、以下の理由から、ICチップの搭載状態の良否を精度高く行えない。
 第1の中継配線155と第2の中継配線156とは、ICチップ内の内部回路を介して、互いに導通しているので、ICチップの搭載状態に関係する抵抗値のみでなく、ICチップ内の内部回路の抵抗値も一緒に測定されるため、ICチップの搭載状態の良否を精度高く行えない。
 本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、アクティブマトリクス基板の表示領域の周辺領域に形成された配線の面積を縮小することができるとともに、駆動回路の搭載状態の良否の判断を精度高く行うことができる駆動回路を提供することを目的とする。
 本発明に係る駆動回路は、上記の課題を解決するために、複数の入力端子と、複数の出力端子とを備えた駆動回路であって、上記複数の入力端子は、少なくとも、映像信号の入力端子と、第1信号の入力端子と、電源電圧の入力端子とを含み、上記映像信号の入力端子から入力された映像信号と、上記第1信号の入力端子から入力された第1信号とに基づいて、出力信号を生成する出力信号生成回路を備え、上記複数の出力端子の各々においては、上記出力信号生成回路において生成された各々の出力信号が出力され、上記第1信号の入力端子と電気的に接続された抵抗測定用端子が備えられていることを特徴としている。
 上記構成によれば、上記第1信号の入力端子と、上記第1信号の入力端子と電気的に接続された抵抗測定用端子とを用いて、抵抗値を測定することで、駆動回路の搭載状態の良否の判断をできる。すなわち、上記第1信号の入力端子と電気的に接続された配線と、上記抵抗測定用端子と電気的に接続された配線とを用いて、抵抗値を測定することで、上記駆動回路の上記入力端子と配線との接続状態の良否の判断をできる。
 上記第1信号の入力端子と上記抵抗測定用端子とは、上記駆動回路内の内部回路を介さずに、電気的に接続されているので、上記駆動回路内の内部回路の抵抗の影響を抑制しながら、駆動回路の搭載状態の良否の判断を精度高く行うことができる。
 また、上記構成によれば、上記出力信号生成回路に供給される上記第1信号の入力端子を、抵抗値の測定に用いることができるので、抵抗測定用端子の数を減らすことができる。すなわち、上記第1信号の入力端子を抵抗測定用端子と共用化できる。
 したがって、上記駆動回路の入力端子の数を減らすことができるので、このような入力端子の数が少ない駆動回路を用いることにより、アクティブマトリクス基板の表示領域の周辺領域に形成される配線の面積を縮小することができる。
 本発明の一態様によれば、アクティブマトリクス基板の表示領域の周辺領域に形成された配線の面積を縮小することができるとともに、駆動回路の搭載状態の良否の判断を精度高く行うことができる駆動回路を提供できる。
実施形態1の液晶表示装置の概略構成を示す図である。 図1に図示した液晶表示装置の断面図である。 図1に図示した液晶表示装置において、アクティブマトリクス基板の表示領域の周辺領域に形成された配線の面積を縮小できる理由を説明するための図である。 図1に図示した液晶表示装置に備えられたソース駆動回路の概略構成を示す図である。 図1に図示した液晶表示装置に備えることができる他のソース駆動回路の概略構成を示す図である。 実施形態3の液晶表示装置の概略構成を示す図である。 図6に図示した液晶表示装置に備えることができるさらに他のソース駆動回路の概略構成を示す図である。 ソース駆動回路を、アクティブマトリクス基板上の表示領域の周辺領域に設けた従来のCOG型の表示装置の概略構成を示す図である。 図8に図示した表示装置におけるアクティブマトリクス基板の周辺領域に形成された配線と軟性回路基板との電気的な接続関係と、軟性回路基板と外部の回路基板上の階調基準電源回路、電源回路及び映像信号処理回路との電気的な接続関係とを示す図である。 特許文献1に記載されている液晶ディスプレイパネルの表示領域の周囲を示す図である。
 本発明の実施の形態について図1から図7に基づいて説明すれば、次の通りである。以下、説明の便宜上、特定の実施形態にて説明した構成と同一の機能を有する構成については、同一の符号を付記し、その説明を省略する場合がある。
 なお、以下の実施形態においては、ソース駆動回路を備えたアクティブマトリクス基板と、対向基板と、液晶層とを備えた液晶表示装置を、表示装置の一例として挙げて説明するが、これに限定されることはなく、例えば、対向基板及び液晶層を含まず、ソース駆動回路を備えたアクティブマトリクス基板と、アクティブマトリクス基板上に形成された保護層とを含むEL表示装置などであってもよい。
 また、以下の実施形態においては、表示装置として、非可撓性表示装置を一例に挙げて説明するが、これに限定されることはなく、バックライトを有さない反射型の液晶表示装置やEL表示装置などのような可撓性表示装置(フレキシブル表示装置)であってもよい。
 〔実施形態1〕
 図2は、液晶表示装置11の断面図である。
 図2に図示されているように、液晶表示装置11は、アクティブマトリクス基板1と、アクティブマトリクス基板1と対向するように配置された対向基板1’と、軟性回路基板6(Flexible Printed Circuit Board;FPCB)と、外部の回路基板7(例えば、Printed Circuit Board;PCB)とを備えている。
 アクティブマトリクス基板1と対向基板1’とはシール剤(図示せず)を介して、貼り合せられており、アクティブマトリクス基板1と対向基板1’との間には、液晶層(図示せず)が備えられている。
 なお、対向基板1’は、カラーフィルタ基板などである。
 図示されているように、アクティブマトリクス基板1の表示領域の周辺領域には、アクティブマトリクス基板1の表示領域に備えられた複数のデータ信号線(図示せず)及び複数のアクティブ素子(図示せず)からの複数の引き回し配線1cと、軟性回路基板6(Flexible Printed Circuit Board;FPCB)の複数の配線6aと電気的に接続するための複数の配線5aとが設けられている。
 ソース駆動回路4aの複数の出力端子4cの各々と複数の引き回し配線1cの各々とが位置合わせされ、かつ、ソース駆動回路4aの複数の入力端子4dの各々と複数の配線5aの各々とが位置合わせされ、ソース駆動回路4aがアクティブマトリクス基板1に異方性導電フィルム12a(Anisotropic Conductive Film;ACF)を介して圧着されることによって、搭載されている。
 アクティブマトリクス基板1の表示領域の周辺領域に形成された複数の配線5aと、外部の回路基板107(例えば、Printed Circuit Board;PCB)の配線7aとは、異方性導電フィルム12b・12c及び軟性回路基板6の複数の配線6aを介して、電気的に接続されている。
 図1は、液晶表示装置11の概略構成を示す図である。
 図示されているように、液晶表示装置11は、ソース駆動回路4a・4bを、アクティブマトリクス基板1上の表示領域2の周辺領域3に設けたCOG(Chip On Glass)型の液晶表示装置11である。
 ソース駆動回路4a・4bの出力端子からは、表示領域2に表示を行うために、表示領域2に備えられた複数のデータ信号線(図示せず)及び複数のアクティブ素子(図示せず)に、データ信号が出力される。
 一方、外部の回路基板7に備えらえた階調基準電源回路8a・8b、電源回路9a・9b及び映像信号処理回路10a・10bから出力された各種信号や電源電圧は、外部の回路基板7の配線42~49と、外部の回路基板7の配線42~49と電気的に接続された軟性回路基板6の配線6aと、軟性回路基板6の配線6aと電気的に接続されたアクティブマトリクス基板1の周辺領域3に形成された配線5a・5bとを介してソース駆動回路4a・4bの入力端子から入力される。
 外部の回路基板7上に形成された配線41・50は抵抗測定用配線であり、配線42・49は、抵抗測定用配線と階調基準電圧信号用配線とを共用化した配線である。
 したがって、配線43・48とともに、配線42・49も階調基準電圧信号用配線であるので、階調基準電源回路8a・8bの出力端子に電気的に接続されている。
 また、配線44・45は電源用配線であって、電源回路9a・9bの出力端子に電気的に接続されており、配線46・47は映像信号用配線であって、映像信号処理回路10a・10bの出力端子に電気的に接続されている。
 なお、詳しくは後述するが、図1においては、ソース駆動回路4a・4bが接続抵抗測定モード(第2の状態)の場合を図示しているので、配線41と配線42とがソース駆動回路4a・4b内で電気的に接続されており、配線49も配線50とソース駆動回路4a・4b内で電気的に接続されている。
 図1において、外部の回路基板7における配線41・42・49・50上に図示した○は、接続抵抗を測定できる位置の一例を図示したものである。
 本実施形態においては、外部の回路基板7における配線41・42・49・50上で接続抵抗を測定する場合を一例に挙げて説明するが、これに限定されることはなく、接続抵抗を測定する位置は、配線41・42・49・50と電気的に接続される軟性回路基板6における該当配線6aであってもよく、配線41・42・49・50と電気的に接続されるアクティブマトリクス基板1の周辺領域3に形成された配線5a・5bであってもよい。
 本実施形態のように、外部の回路基板7における配線41・42・49・50上で接続抵抗を測定する場合は、ソース駆動回路4a・4bの各出力端子と配線5a・5bとの電気的な接続の良否(ソース駆動回路4a・4bの搭載状態の良否)と、配線5aと軟性回路基板6の配線6aとの電気的な接続の良否と、軟性回路基板6の配線6aと外部の回路基板7上に形成された配線41~50との電気的な接続の良否を判断できる。
 一方、配線41・42・49・50と電気的に接続される軟性回路基板6における該当配線6a上で接続抵抗を測定する場合は、ソース駆動回路4a・4bの各出力端子と配線5a・5bとの電気的な接続の良否(ソース駆動回路4a・4bの搭載状態の良否)と、配線5aと軟性回路基板6の配線6aとの電気的な接続の良否を判断できる。
 そして、配線41・42・49・50と電気的に接続されるアクティブマトリクス基板1の周辺領域3に形成された配線5a・5b上で接続抵抗を測定する場合は、ソース駆動回路4a・4bの各出力端子と配線5a・5bとの電気的な接続の良否(ソース駆動回路4a・4bの搭載状態の良否)を判断できる。
 したがって、アクティブマトリクス基板1に軟性回路基板6及び外部の回路基板7を電気的に接続する前には、配線41・42・49・50と電気的に接続されるアクティブマトリクス基板1の周辺領域3に形成された配線5a・5b上で接続抵抗を測定することが好ましく、アクティブマトリクス基板1に軟性回路基板6は電気的に接続させた後であって、軟性回路基板6に外部の回路基板7を電気的に接続する前には、配線41・42・49・50と電気的に接続される軟性回路基板6における該当配線6a上で接続抵抗を測定することが好ましい。
 本実施形態においては、配線41・42・49・50と電気的に接続されるソース駆動回路4a・4bの各入力端子は、ソース駆動回路4a・4bの右端部及び左端部に配置されている場合を一例に挙げて説明したが、これに限定されることはない。
 また、本実施形態においては、ソース駆動回路4a・4bの入力端子中、抵抗測定用端子として利用される入力端子の数が4個である場合を一例に挙げて説明するがこれに限定されることはない。
 なお、測定された抵抗値からの電気的な接続の良否の判断は、測定された抵抗値が一定値以上である場合には、電気的な接続に不具合が生じていると判断することができる。
 図3の(a)は、図7に図示した従来のアクティブマトリクス基板101の表示領域の周辺領域に形成された複数の配線105a・105bを図示した図であり、図3の(b)は、図1に図示した液晶表示装置11に備えられたアクティブマトリクス基板1の表示領域の周辺領域に形成された複数の配線5a・5bを図示した図である。
 図7に図示した従来のアクティブマトリクス基板101に備えられたソース駆動回路104a・104bの入力端子においては、抵抗測定用端子と階調基準電圧信号用端子との共用化が図られていないので、その分、ソース駆動回路104a・104bの入力端子数が増加することとなり、ソース駆動回路104a・104bの入力端子と電気的に接続されるアクティブマトリクス基板101の表示領域の周辺領域に形成された複数の配線105a・105bの数も増加する。したがって、図3の(a)に図示されているように、アクティブマトリクス基板101の表示領域の周辺領域の上下方向の幅Aが特に増加してしまう。
 一方、図3の(b)に図示されているように、アクティブマトリクス基板1に備えられたソース駆動回路4a・4bの入力端子においては、抵抗測定用端子と階調基準電圧信号用端子との共用化が図られているので、その分、ソース駆動回路4a・4bの入力端子数を減らすことができ、ソース駆動回路4a・4bの入力端子と電気的に接続されるアクティブマトリクス基板1の表示領域の周辺領域に形成された複数の配線5a・5bの数も減らすことができる。したがって、アクティブマトリクス基板1の表示領域の周辺領域の上下方向の幅Aを特に減らすことができる。
 したがって、ソース駆動回路4a・4bを用いることにより、アクティブマトリクス基板1の表示領域の周辺領域に形成された配線の面積を縮小することができる。
 以下、図4に基づいて、ソース駆動回路4a・4bを用いることにより、ソース駆動回路4a・4bの搭載状態の良否を含めた電気的な接続の良否の判断を精度高く行うことができることについて説明する。
 図4の(a)は、ソース駆動回路4aが通常駆動モード(第1状態)の場合を図示しており、図4の(b)は、ソース駆動回路4aが接続抵抗測定モード(第2状態)の場合を図示している。
 図4に図示されているように、ソース駆動回路4aは、スイッチ素子25(アナログスイッチ)、スイッチ素子26(アナログスイッチ)、スイッチ素子27(アナログスイッチ)及びスイッチ素子28(アナログスイッチ)を備えている。
 図4の(a)に図示するように、ソース駆動回路4aが通常駆動モード(第1状態)の場合、スイッチ素子25は、階調基準電圧信号VH+の入力端子(第1階調基準電圧信号の入力端子)を、階調基準電圧信号VL+の入力端子(第2階調基準電圧信号の入力端子)から電気的に分離するとともに、出力信号生成回路13の入力端子と電気的に接続させ、スイッチ素子26は、階調基準電圧信号VL+の入力端子(第2階調基準電圧信号の入力端子)を、階調基準電圧信号VH+の入力端子(第1階調基準電圧信号の入力端子)から電気的に分離するとともに、出力信号生成回路13の入力端子と電気的に接続させる。
 同様に、ソース駆動回路4aが通常駆動モード(第1状態)の場合、スイッチ素子27は、階調基準電圧信号VL-の入力端子を、階調基準電圧信号VH-の入力端子から電気的に分離するとともに、出力信号生成回路13の入力端子と電気的に接続させ、スイッチ素子28は、階調基準電圧信号VH-の入力端子を、階調基準電圧信号VL-の入力端子から電気的に分離するとともに、出力信号生成回路13の入力端子と電気的に接続させる。
 一方、図4の(b)に図示するように、ソース駆動回路4aが接続抵抗測定モード(第2状態)の場合、スイッチ素子25は、階調基準電圧信号VH+の入力端子を、出力信号生成回路13から電気的に分離するとともに、階調基準電圧信号VL+の入力端子と電気的に接続させ、スイッチ素子26は、階調基準電圧信号VL+の入力端子を、出力信号生成回路13から電気的に分離するとともに、階調基準電圧信号VH+の入力端子と電気的に接続させる。
 同様に、ソース駆動回路4aが接続抵抗測定モード(第2状態)の場合、スイッチ素子27は、階調基準電圧信号VL-の入力端子を、出力信号生成回路13から電気的に分離するとともに、階調基準電圧信号VH-の入力端子と電気的に接続させ、スイッチ素子28は、階調基準電圧信号VH-の入力端子を、出力信号生成回路13から電気的に分離するとともに、階調基準電圧信号VL-の入力端子と電気的に接続させる。
 ソース駆動回路4aの入力端子中、階調基準電圧信号VH+用端子、階調基準電圧信号VL+用端子、階調基準電圧信号VL-用端子及び階調基準電圧信号VH-用端子は、抵抗測定用端子でもある。
 以上のように、図4に図示したソース駆動回路4aの入力端子においては、全ての階調基準電圧信号用端子が、抵抗測定用端子と共用化されているので、ソース駆動回路4aの入力端子の数をさらに減らすことができ、ソース駆動回路4aの入力端子と電気的に接続されるアクティブマトリクス基板1の表示領域の周辺領域に形成された複数の配線5a・5bの数も減らすことができる。
 そして、図4の(b)に図示されているように、階調基準電圧信号VH+用端子と階調基準電圧信号VL+用端子とを利用して、抵抗検出電圧の入力と抵抗検出電圧とを行い、抵抗値の測定を行うことができる。
 同様に、階調基準電圧信号VL-用端子と階調基準電圧信号VH-用端子とを利用して、抵抗検出電圧の入力と抵抗検出電圧とを行い、抵抗値の測定を行うことができる。
 なお、ソース駆動回路4aが接続抵抗測定モードである場合には、外部の回路基板7からソース駆動回路4aに供給される各種信号や電源電圧は供給されなくてもよい。
 以上のように、ソース駆動回路4aにおいては、スイッチ素子25、スイッチ素子26、スイッチ素子27及びスイッチ素子28を設けて、通常駆動モード時の回路と接続抵抗測定モード時の回路とを分離することで、通常駆動モードにおいての悪影響を抑制するとともに、高精度の抵抗測定を実現できる。
 本実施形態においては、配線41・42・49・50と電気的に接続されるソース駆動回路4aの各入力端子は、ソース駆動回路4aの右端部及び左端部に配置されている場合を一例に挙げて説明したが、これに限定されることはない。
 また、本実施形態においては、ソース駆動回路4aの入力端子中、抵抗測定用端子として利用される入力端子の数が4個である場合を一例に挙げて説明するがこれに限定されることはない。
 〔実施形態2〕
 次に、図5に基づいて、本発明の実施形態2について説明する。本実施形態においては、スイッチ素子(アナログスイッチ)を備えていないソース駆動回路24を用いている点において、実施形態1とは異なり、その他については実施形態1において説明したとおりである。説明の便宜上、実施形態1の図面に示した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付し、その説明を省略する。
 図5は、ソース駆動回路24の概略構成を示す図である。
 図示しているように、ソース駆動回路24の入力端子は、階調基準電圧信号VH+用端子18と、抵抗測定用端子19と、階調基準電圧信号VL+用端子と、IC電源電圧入力用の複数の端子と、映像・同期信号などの入力用の複数の端子と、階調基準電圧信号VL-用端子と、階調基準電圧信号VH-用端子20と、抵抗測定用端子21とを含む。
 そして、階調基準電圧信号VH+用端子18と抵抗測定用端子19とは、接点18aを有し、電気的に接続されており、階調基準電圧信号VH-用端子20と抵抗測定用端子21とは、接点20aを有し、電気的に接続されている。
 ソース駆動回路24は、スイッチ素子(アナログスイッチ)を備えていないので、通常駆動モード時においても接続抵抗測定モード時においても、回路に変化はない。
 なお、図5に図示したソース駆動回路24の入力端子においては、抵抗測定用端子と階調基準電圧信号用端子との共用化が図られており、階調基準電圧信号VH+用端子18及び階調基準電圧信号VH-用端子20は、抵抗測定用端子でもある。
 図示されているように、ソース駆動回路24においては、階調基準電圧信号VH+用端子18と抵抗測定用端子19とは、ソース駆動回路24内の内部回路を介さずに、接点18aを介して、電気的に接続されており、階調基準電圧信号VH-用端子20と抵抗測定用端子21とは、ソース駆動回路24内の内部回路を介さずに、接点20aを介して、電気的に接続されているので、ソース駆動回路24内の内部回路の抵抗の影響を抑制しながら、高精度の抵抗測定を実現できる。
 なお、ソース駆動回路24が接続抵抗測定モードである場合には、外部の回路基板7からソース駆動回路24に供給される各種信号や電源電圧は供給されなくてもよいが、本実施形態においては、階調基準電圧信号VH+または階調基準電圧信号VH-を用いて、抵抗値の測定を行った。
 階調基準電圧信号VH+用端子18と抵抗測定用端子19とを利用して、階調基準電圧信号VH+用端子18から階調基準電圧信号VH+を入力し、抵抗値の測定を行うことができ、同様に、階調基準電圧信号VH-用端子20と抵抗測定用端子21とを利用して、階調基準電圧信号VH-用端子20から階調基準電圧信号VH-を入力し、抵抗値の測定を行うことができる。
 本実施形態においては、映像信号確認回路15からの抵抗検出信号(Error信号)は、警告信号であり、この信号によって、ソース駆動回路24内の回路に変化は生じない。
 本実施形態においては、配線41・42・49・50と電気的に接続されるソース駆動回路24の各入力端子は、ソース駆動回路24の右端部及び左端部に配置されている場合を一例に挙げて説明したが、これに限定されることはない。
 また、本実施形態においては、ソース駆動回路24の入力端子中、抵抗測定用端子として利用される入力端子の数が4個である場合を一例に挙げて説明するがこれに限定されることはない。
 〔実施形態3〕
 次に、図6及び図7に基づいて、本発明の実施形態3について説明する。本実施形態においては、一つの階調基準電源回路8c、一つの電源回路9c及び一つの映像信号処理回路10cから出力された各種信号や電源電圧は、外部の回路基板7の配線42~49と、外部の回路基板7の配線42~49と電気的に接続された軟性回路基板6の配線6aと、軟性回路基板6の配線6aと電気的に接続されたアクティブマトリクス基板1の周辺領域3に形成された配線5a・5bとを介してソース駆動回路34a・34bの入力端子から入力される点において、実施形態1とは異なり、その他については実施形態1において説明したとおりである。説明の便宜上、実施形態1の図面に示した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付し、その説明を省略する。
 図6は、液晶表示装置11’の概略構成を示す図である。
 図示されているように、液晶表示装置11’は、ソース駆動回路34a・34bを、アクティブマトリクス基板1上の表示領域2の周辺領域3に設けたCOG(Chip On Glass)型の液晶表示装置11’である。
 ソース駆動回路34a・34bの出力端子からは、表示領域2に表示を行うために、表示領域2に備えられた複数のデータ信号線(図示せず)及び複数のアクティブ素子(図示せず)に、データ信号が出力される。
 一方、外部の回路基板7に備えらえた一つの共通の階調基準電源回路8c、一つの共通の電源回路9c及び一つの共通の映像信号処理回路10cから出力された各種信号や電源電圧は、外部の回路基板7の配線42~49と、外部の回路基板7の配線42~49と電気的に接続された軟性回路基板6の配線6aと、軟性回路基板6の配線6aと電気的に接続されたアクティブマトリクス基板1の周辺領域3に形成された配線5a・5bとを介してソース駆動回路34a・34bの入力端子から入力される。
 外部の回路基板7上に形成された配線41・50は抵抗測定用配線であり、配線42・49は、抵抗測定用配線と階調基準電圧信号用配線とを共用化した配線である。
 したがって、配線43・48とともに、配線42・49も階調基準電圧信号用配線であるので、一つの共通の階調基準電源回路8cの出力端子に電気的に接続されている。
 また、配線44・45は電源用配線であって、一つの共通の電源回路9cの出力端子に電気的に接続されており、配線46・47は映像信号用配線であって、一つの共通の映像信号処理回路10cの出力端子に電気的に接続されている。
 なお、図6においては、ソース駆動回路34a・34bが接続抵抗測定モード(第4状態)の場合を図示しているので、配線41と配線42とがソース駆動回路34a・34b内で電気的に接続されており、配線49も配線50とソース駆動回路34a・34b内で電気的に接続されている。
 図6において、外部の回路基板7における配線41・42・49・50上に図示した○は、接続抵抗を測定できる位置の一例を図示したものである。
 本実施形態においては、外部の回路基板7における配線41・42・49・50上で接続抵抗を測定する場合を一例に挙げて説明するが、これに限定されることはなく、接続抵抗を測定する位置は、配線41・42・49・50と電気的に接続される軟性回路基板6における該当配線6aであってもよく、配線41・42・49・50と電気的に接続されるアクティブマトリクス基板1の周辺領域3に形成された配線5a・5bであってもよい。
 本実施形態のように、外部の回路基板7における配線41・42・49・50上で接続抵抗を測定する場合は、ソース駆動回路34a・34bの各出力端子と配線5a・5bとの電気的な接続の良否(ソース駆動回路34a・34bの搭載状態の良否)と、配線5aと軟性回路基板6の配線6aとの電気的な接続の良否と、軟性回路基板6の配線6aと外部の回路基板7上に形成された配線41~50との電気的な接続の良否を判断できる。
 一方、配線41・42・49・50と電気的に接続される軟性回路基板6における該当配線6a上で接続抵抗を測定する場合は、ソース駆動回路34a・34bの各出力端子と配線5a・5bとの電気的な接続の良否(ソース駆動回路34a・34bの搭載状態の良否)と、配線5aと軟性回路基板6の配線6aとの電気的な接続の良否を判断できる。
 そして、配線41・42・49・50と電気的に接続されるアクティブマトリクス基板1の周辺領域3に形成された配線5a・5b上で接続抵抗を測定する場合は、ソース駆動回路34a・34bの各出力端子と配線5a・5bとの電気的な接続の良否(ソース駆動回路34a・34bの搭載状態の良否)を判断できる。
 したがって、アクティブマトリクス基板1に軟性回路基板6及び外部の回路基板7を電気的に接続する前には、配線41・42・49・50と電気的に接続されるアクティブマトリクス基板1の周辺領域3に形成された配線5a・5b上で接続抵抗を測定することが好ましく、アクティブマトリクス基板1に軟性回路基板6は電気的に接続させた後であって、軟性回路基板6に外部の回路基板7を電気的に接続する前には、配線41・42・49・50と電気的に接続される軟性回路基板6における該当配線6a上で接続抵抗を測定することが好ましい。
 本実施形態においては、配線41・42・49・50と電気的に接続されるソース駆動回路34a・34bの各入力端子は、ソース駆動回路34a・34bの右端部及び左端部に配置されている場合を一例に挙げて説明したが、これに限定されることはない。
 また、本実施形態においては、ソース駆動回路34a・34bの入力端子中、抵抗測定用端子として利用される入力端子の数が4個である場合を一例に挙げて説明するがこれに限定されることはない。
 なお、測定された抵抗値からの電気的な接続の良否の判断は、測定された抵抗値が一定値以上である場合には、電気的な接続に不具合が生じていると判断することができる。
 図7の(a)は、液晶表示装置11’に備えられたソース駆動回路34aが通常駆動モード(第3状態)の場合を図示しており、図7の(b)は、液晶表示装置11’に備えられたソース駆動回路34aが接続抵抗測定モード(第4状態)の場合を図示している。
 図示しているように、ソース駆動回路34aは、出力信号生成回路13と、階調用電源回路14と、映像信号確認回路15と、スイッチ素子16・17とを備えている。
 ソース駆動回路34aの入力端子は、階調基準電圧信号VH+用端子16a・17aと、抵抗測定用端子16b・17bと、2つの階調基準電圧信号VL+用端子と、IC電源電圧入力用の複数の端子と、映像・同期信号などの入力用の複数の端子とを含む。
 抵抗測定用端子16bは図6に図示した配線41と電気的に接続され、階調基準電圧信号VH+用端子16aは図6に図示した配線42と電気的に接続され、階調基準電圧信号VH+用端子16aと隣接する階調基準電圧信号VL+用端子は図6に図示した配線43と電気的に接続され、階調基準電圧信号VH+用端子17aと隣接する階調基準電圧信号VL+用端子は図6に図示した配線48と電気的に接続され、階調基準電圧信号VH+用端子17aは図6に図示した配線49と電気的に接続され、抵抗測定用端子17bは図6に図示した配線50と電気的に接続されている。
 なお、IC電源電圧入力用の複数の端子の各々は、図6に図示した配線44及び配線45と電気的に接続され、映像・同期信号などの入力用の複数の端子の各々は、図6に図示した配線46及び配線47と電気的に接続されている。
 出力信号生成回路13は、映像・同期信号などの入力用の複数の端子の各々から入力された信号と、階調基準電圧信号VH+用端子16a・17a、2つの階調基準電圧信号VL+用端子の各々から入力された信号とに基づいて、出力信号を生成し、ソース駆動回路34aの各々の出力端子(図示せず)から出力する。
 階調用電源回路14は、IC電源電圧入力用の複数の端子の各々から入力された電源電圧を調整して、出力信号生成回路13に供給するための回路である。
 映像信号確認回路15は、映像・同期信号などの入力用の複数の端子の各々から入力された信号からその適否を判断し、信号として不適切な信号であると判断した場合は、抵抗検出信号(Error信号)をスイッチ素子16・17に出力し、その原因を探るため、ソース駆動回路34aを図7の(b)に図示した接続抵抗測定モード(第4状態)とする。
 ソース駆動回路34aが、図7の(a)に図示した通常駆動モードである場合、すなわち、映像信号確認回路15が映像・同期信号などの入力用の複数の端子の各々から入力された信号からその信号が適切であると判断した場合には、スイッチ素子16は、階調基準電圧信号VH+用端子16aを、抵抗測定用端子16bから電気的に分離するとともに、出力信号生成回路13の入力端子と電気的に接続させ、スイッチ素子17は、階調基準電圧信号VH+用端子17aを、抵抗測定用端子17bから電気的に分離するとともに、出力信号生成回路13の入力端子と電気的に接続させる。
 一方、ソース駆動回路34aが、図7の(b)に図示した接続抵抗測定モードである場合、すなわち、映像信号確認回路15が映像・同期信号などの入力用の複数の端子の各々から入力された信号からその信号が不適切であると判断した場合には、スイッチ素子16は、階調基準電圧信号VH+用端子16aを、出力信号生成回路13の入力端子から電気的に分離するとともに、抵抗測定用端子16bと電気的に接続させ、スイッチ素子17は、階調基準電圧信号VH+用端子17aを、出力信号生成回路13の入力端子から電気的に分離するとともに、抵抗測定用端子17bと電気的に接続させる。
 以上のように、図7に図示したソース駆動回路34aの入力端子においては、抵抗測定用端子と階調基準電圧信号用端子との共用化が図られており、階調基準電圧信号VH+用端子16a及び階調基準電圧信号VH+用端子17aは、抵抗測定用端子でもある。
 そして、図7の(b)に図示されているように、階調基準電圧信号VH+用端子16aと抵抗測定用端子16bとを利用して、抵抗検出電圧の入力と抵抗検出電圧とを行い、抵抗値の測定を行うことができる。
 同様に、階調基準電圧信号VH+用端子17aと抵抗測定用端子17bとを利用して、抵抗検出電圧の入力と抵抗検出電圧とを行い、抵抗値の測定を行うことができる。
 なお、ソース駆動回路34aが接続抵抗測定モードである場合には、外部の回路基板7からソース駆動回路34aに供給される各種信号や電源電圧は供給されなくてもよい。
 以上のように、ソース駆動回路34a・34bにおいては、スイッチ素子(アナログスイッチ)16・17を設けて、通常駆動モード時の回路と接続抵抗測定モード時の回路とを分離することで、通常駆動モードにおいての悪影響を抑制するとともに、高精度の抵抗測定を実現できる。
 〔まとめ〕
 本発明の態様1に係る駆動回路は、上記の課題を解決するために、複数の入力端子と、複数の出力端子とを備えた駆動回路であって、上記複数の入力端子は、少なくとも、映像信号の入力端子と、第1信号の入力端子と、電源電圧の入力端子とを含み、上記映像信号の入力端子から入力された映像信号と、上記第1信号の入力端子から入力された第1信号とに基づいて、出力信号を生成する出力信号生成回路を備え、上記複数の出力端子の各々においては、上記出力信号生成回路において生成された各々の出力信号が出力され、上記第1信号の入力端子と電気的に接続された抵抗測定用端子が備えられていることを特徴としている。
 上記構成によれば、上記第1信号の入力端子と、上記第1信号の入力端子と電気的に接続された抵抗測定用端子とを用いて、抵抗値を測定することで、駆動回路の搭載状態の良否の判断をできる。すなわち、上記第1信号の入力端子と電気的に接続された配線と、上記抵抗測定用端子と電気的に接続された配線とを用いて、抵抗値を測定することで、上記駆動回路の上記入力端子と配線との接続状態の良否の判断をできる。
 上記第1信号の入力端子と上記抵抗測定用端子とは、上記駆動回路内の内部回路を介さずに、電気的に接続されているので、上記駆動回路内の内部回路の抵抗の影響を抑制しながら、駆動回路の搭載状態の良否の判断を精度高く行うことができる。
 また、上記構成によれば、上記出力信号生成回路に供給される上記第1信号の入力端子を、抵抗値の測定に用いることができるので、抵抗測定用端子の数を減らすことができる。すなわち、上記第1信号の入力端子を抵抗測定用端子と共用化できる。
 したがって、上記駆動回路の入力端子の数を減らすことができるので、このような入力端子の数が少ない駆動回路を用いることにより、アクティブマトリクス基板の表示領域の周辺領域に形成される配線の面積を縮小することができる。
 本発明の態様2に係る駆動回路は、上記の態様1において、上記複数の入力端子には、第1階調基準電圧信号の入力端子と第2階調基準電圧信号の入力端子とが備えられており、上記第1信号の入力端子は、上記第1階調基準電圧信号の入力端子及び上記第2階調基準電圧信号の入力端子の何れか一方であり、上記抵抗測定用端子は、上記第1階調基準電圧信号の入力端子及び上記第2階調基準電圧信号の入力端子の他方であり、第1スイッチ素子及び第2スイッチ素子を備えており、上記第1スイッチ素子及び上記第2スイッチ素子は、上記第1スイッチ素子が、上記第1階調基準電圧信号の入力端子を、上記第2階調基準電圧信号の入力端子から電気的に分離するとともに、上記出力信号生成回路と電気的に接続させ、かつ、上記第2スイッチ素子が、上記第2階調基準電圧信号の入力端子を、上記第1階調基準電圧信号の入力端子から電気的に分離するとともに、上記出力信号生成回路と電気的に接続させる第1状態と、上記第1スイッチ素子が、上記第1階調基準電圧信号の入力端子を、上記出力信号生成回路から電気的に分離するとともに、上記第2階調基準電圧信号の入力端子と電気的に接続させ、かつ、上記第2スイッチ素子が、上記第2階調基準電圧信号の入力端子を、上記出力信号生成回路から電気的に分離するとともに、上記第1階調基準電圧信号の入力端子と電気的に接続させる第2状態と、を切り替える構成であってもよい。
 上記構成によれば、第1スイッチ素子及び第2スイッチ素子を設けて、通常駆動モード(第1状態)時の回路と接続抵抗測定モード(第2状態)時の回路とを分離することで、通常駆動モードにおいての悪影響を抑制するとともに、高精度の抵抗測定を実現できる。
 本発明の態様3に係る駆動回路は、上記の態様1において、上記第1信号の入力端子は、階調基準電圧信号の入力端子であり、第3スイッチ素子を備えており、上記第3スイッチ素子は、上記第1信号の入力端子を、上記抵抗測定用端子から電気的に分離するとともに、上記出力信号生成回路と電気的に接続させる第3状態と、上記第1信号の入力端子を、上記出力信号生成回路から電気的に分離するとともに、上記抵抗測定用端子と電気的に接続させる第4状態と、を切り替える構成であってもよい。
 上記構成によれば、第3スイッチ素子を設けて、通常駆動モード(第3状態)時の回路と接続抵抗測定モード(第4状態)時の回路とを分離することで、通常駆動モードにおいての悪影響を抑制するとともに、高精度の抵抗測定を実現できる。
 本発明の態様4に係る駆動回路は、上記の態様1において、上記第1信号の入力端子は、階調基準電圧信号の入力端子であり、上記第1信号の入力端子は、上記出力信号生成回路及び上記抵抗測定用端子と電気的に接続されていてもよい。
 上記構成によれば、スイッチ素子を設けることなく、高精度の抵抗測定を実現できる。
 本発明の態様5に係る駆動回路は、上記の態様1において、上記第1信号は、上記出力信号の基準電圧を決める信号である階調基準電圧信号であってもよい。
 上記構成によれば、上記出力信号の基準電圧を決める信号である階調基準電圧信号の入力端子を、抵抗測定用端子として用いることができる。階調基準電圧信号の入力端子は、ハイインピーダンスであるため電流がほとんど流れないので、高精度の抵抗測定を実現できる。
 本発明の態様6に係るアクティブマトリクス基板は、第1領域に複数のアクティブ素子が備えられており、上記第1領域の周辺領域である第2領域に上記の態様1から5の何れかに記載の駆動回路が備えられており、上記駆動回路の上記複数の出力端子の各々は、上記複数のアクティブ素子の各々と電気的に接続されたデータ信号線の各々と電気的に接続されており、上記駆動回路の上記複数の出力端子の各々から出力された出力信号は、上記複数のアクティブ素子の各々に供給される構成であってもよい。
 上記構成によれば、第1領域の周辺領域である第2領域に形成される配線の面積を縮小したアクティブマトリクス基板を実現できる。
 本発明の態様7に係るアクティブマトリクス基板は、上記の態様6において、上記第2領域には、上記駆動回路の上記複数の入力端子及び上記抵抗測定用端子の各々と電気的に接続された複数の配線が形成されていてもよい。
 上記構成によれば、上記アクティブマトリクス基板の上記第2領域に形成された配線を用いて、抵抗値を測定することができる。
 本発明の態様8に係る表示装置は、上記の態様7に記載のアクティブマトリクス基板を備えており、上記アクティブマトリクス基板における上記第2領域の上記複数の配線の各々と、電気的に接続された複数の配線を備えた軟性回路基板を備えていてもよい。
 上記構成によれば、上記軟性回路基板に備えられた配線を用いて、抵抗値を測定することができる。
 本発明の態様9に係る表示装置は、上記の態様8において、上記軟性回路基板の上記複数の配線の各々と、電気的に接続された複数の配線を備えた回路基板を備えていてもよい。
 上記構成によれば、上記回路基板に備えられた配線を用いて、抵抗値を測定することができる。
 本発明の態様10に係る表示装置は、上記の態様8または9において、上記アクティブマトリクス基板と対向するように配置された対向基板を備えており、上記アクティブマトリクス基板と上記対向基板とは、シール剤を介して、貼り合せられており、上記アクティブマトリクス基板と上記対向基板との間には、液晶層が備えられていてもよい。
 上記構成によれば、液晶層を備えた表示装置の狭額縁化を実現できる。
 〔付記事項〕
 本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。さらに、各実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を組み合わせることにより、新しい技術的特徴を形成することができる。
 本発明は、駆動回路、アクティブマトリクス基板及び表示装置に利用することができる。
 1        アクティブマトリクス基板
 1’       対向基板
 2        表示領域(第1領域)
 3        周辺領域(第2領域)
 4a・4b    ソース駆動回路(駆動回路)
 4c       出力端子
 4d       入力端子
 5a・5b    配線
 6        軟性回路基板
 6a       配線
 7        外部の回路基板(回路基板)
 7a       配線
 8a・8b・8c 階調基準電源回路
 9a・9b・9c 電源回路
 10a・10b・10c 映像信号処理回路
 11       液晶表示装置(表示装置)
 11’      液晶表示装置(表示装置)
 12a~12c  異方性導電フィルム
 13       出力信号生成回路
 14       階調用電源回路
 15       映像信号確認回路
 16・17    スイッチ素子
 16a      階調基準電圧信号VH+用端子
 16b      抵抗測定用端子
 17a      階調基準電圧信号VH-用端子
 17b      抵抗測定用端子
 18       階調基準電圧信号VH+用端子
 19       抵抗測定用端子
 20       階調基準電圧信号VH-用端子
 21       抵抗測定用端子
 25~28    スイッチ素子
 41~50    配線
 24       ソース駆動回路(駆動回路)
 34a、34b  ソース駆動回路(駆動回路)

Claims (10)

  1.  複数の入力端子と、複数の出力端子とを備えた駆動回路であって、
     上記複数の入力端子は、少なくとも、映像信号の入力端子と、第1信号の入力端子と、電源電圧の入力端子とを含み、
     上記映像信号の入力端子から入力された映像信号と、上記第1信号の入力端子から入力された第1信号とに基づいて、出力信号を生成する出力信号生成回路を備え、
     上記複数の出力端子の各々においては、上記出力信号生成回路において生成された各々の出力信号が出力され、
     上記第1信号の入力端子と電気的に接続された抵抗測定用端子が備えられていることを特徴とする駆動回路。
  2.  上記複数の入力端子には、第1階調基準電圧信号の入力端子と第2階調基準電圧信号の入力端子とが備えられており、
     上記第1信号の入力端子は、上記第1階調基準電圧信号の入力端子及び上記第2階調基準電圧信号の入力端子の何れか一方であり、
     上記抵抗測定用端子は、上記第1階調基準電圧信号の入力端子及び上記第2階調基準電圧信号の入力端子の他方であり、
     第1スイッチ素子及び第2スイッチ素子を備えており、
     上記第1スイッチ素子及び上記第2スイッチ素子は、
     上記第1スイッチ素子が、上記第1階調基準電圧信号の入力端子を、上記第2階調基準電圧信号の入力端子から電気的に分離するとともに、上記出力信号生成回路と電気的に接続させ、かつ、上記第2スイッチ素子が、上記第2階調基準電圧信号の入力端子を、上記第1階調基準電圧信号の入力端子から電気的に分離するとともに、上記出力信号生成回路と電気的に接続させる第1状態と、
     上記第1スイッチ素子が、上記第1階調基準電圧信号の入力端子を、上記出力信号生成回路から電気的に分離するとともに、上記第2階調基準電圧信号の入力端子と電気的に接続させ、かつ、上記第2スイッチ素子が、上記第2階調基準電圧信号の入力端子を、上記出力信号生成回路から電気的に分離するとともに、上記第1階調基準電圧信号の入力端子と電気的に接続させる第2状態と、を切り替えることを特徴とする請求項1に記載の駆動回路。
  3.  上記第1信号の入力端子は、階調基準電圧信号の入力端子であり、
     第3スイッチ素子を備えており、
     上記第3スイッチ素子は、
     上記第1信号の入力端子を、上記抵抗測定用端子から電気的に分離するとともに、上記出力信号生成回路と電気的に接続させる第3状態と、
     上記第1信号の入力端子を、上記出力信号生成回路から電気的に分離するとともに、上記抵抗測定用端子と電気的に接続させる第4状態と、を切り替えることを特徴とする請求項1に記載の駆動回路。
  4.  上記第1信号の入力端子は、階調基準電圧信号の入力端子であり、
     上記第1信号の入力端子は、上記出力信号生成回路及び上記抵抗測定用端子と電気的に接続されていることを特徴とする請求項1に記載の駆動回路。
  5.  上記第1信号は、上記出力信号の基準電圧を決める信号である階調基準電圧信号であることを特徴とする請求項1に記載の駆動回路。
  6.  第1領域に複数のアクティブ素子が備えられており、
     上記第1領域の周辺領域である第2領域に請求項1から5の何れか1項に記載の駆動回路が備えられており、
     上記駆動回路の上記複数の出力端子の各々は、上記複数のアクティブ素子の各々と電気的に接続されたデータ信号線の各々と電気的に接続されており、
     上記駆動回路の上記複数の出力端子の各々から出力された出力信号は、上記複数のアクティブ素子の各々に供給されることを特徴とするアクティブマトリクス基板。
  7.  上記第2領域には、上記駆動回路の上記複数の入力端子及び上記抵抗測定用端子の各々と電気的に接続された複数の配線が形成されていることを特徴とする請求項6に記載のアクティブマトリクス基板。
  8.  請求項7に記載のアクティブマトリクス基板を備えており、
     上記アクティブマトリクス基板における上記第2領域の上記複数の配線の各々と、電気的に接続された複数の配線を備えた軟性回路基板を備えていることを特徴とする表示装置。
  9.  上記軟性回路基板の上記複数の配線の各々と、電気的に接続された複数の配線を備えた回路基板を備えていることを特徴とする請求項8に記載の表示装置。
  10.  上記アクティブマトリクス基板と対向するように配置された対向基板を備えており、
     上記アクティブマトリクス基板と上記対向基板とは、シール剤を介して、貼り合せられており、
     上記アクティブマトリクス基板と上記対向基板との間には、液晶層が備えられていることを特徴とする請求項8または9に記載の表示装置。
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