WO2018142499A1 - 波長可変光源 - Google Patents

波長可変光源 Download PDF

Info

Publication number
WO2018142499A1
WO2018142499A1 PCT/JP2017/003564 JP2017003564W WO2018142499A1 WO 2018142499 A1 WO2018142499 A1 WO 2018142499A1 JP 2017003564 W JP2017003564 W JP 2017003564W WO 2018142499 A1 WO2018142499 A1 WO 2018142499A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
laser
wavelength tunable
submount
laser element
light source
Prior art date
Application number
PCT/JP2017/003564
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
雄鋭 上野
敬太 望月
清智 長谷川
勇人 佐野
Original Assignee
三菱電機株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 三菱電機株式会社 filed Critical 三菱電機株式会社
Priority to JP2017533979A priority Critical patent/JPWO2018142499A1/ja
Priority to PCT/JP2017/003564 priority patent/WO2018142499A1/ja
Publication of WO2018142499A1 publication Critical patent/WO2018142499A1/ja

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/024Arrangements for thermal management

Definitions

  • the present invention relates to a wavelength tunable light source having a heat dissipation via in a laser submount.
  • WDM wavelength division multiplexing
  • the wavelength variable light source is required to increase the wavelength switching speed.
  • wavelength control by temperature adjustment using self-heating of a laser diode (hereinafter referred to as “LD”) is effective.
  • LD laser diode
  • a laser submount that uses a laser submount with a low thermal conductivity to suppress heat dissipation of heat generated in the LD is disclosed (for example, see Patent Document 1).
  • the laser submount on which one element is arranged is divided into two laser submounts having different thermal conductivities, and the part of the element that suppresses heat dissipation is arranged on the side of the laser submount having low thermal conductivity.
  • a device in which a portion to be radiated is arranged on the laser submount side with high thermal conductivity is disclosed (for example, see Patent Document 2).
  • the laser submount disclosed in Patent Document 1 is generated in the SOA when a general wavelength tunable laser element in which an LD and a semiconductor optical amplifier (Semiconductor Optical Amplifier; hereinafter referred to as “SOA”) are integrated is mounted. Heat dissipation is also suppressed. For this reason, there has been a problem that the temperature of the SOA rises and the optical output characteristics deteriorate. Further, since the laser submount of Patent Document 2 is composed of two parts, there is a possibility that the heights of the two parts differ due to processing errors and the like. If the heights of the two parts are different, the wavelength tunable laser element is mounted with an inclination, and in some cases, the necessary power may not be obtained.
  • SOA semiconductor optical amplifier
  • wavelength tunable laser element when soldered to the laser submount, stress corresponding to the difference in thermal expansion coefficient between the laser submount and the wavelength tunable laser element is applied to the wavelength tunable laser element. Therefore, when the thermal conductivity coefficients of the two parts are different, different thermal stresses are applied to the wavelength tunable laser element from the two parts, which may adversely affect the characteristics and long-term reliability of the wavelength tunable laser element.
  • the present invention has been made to solve the above-described problems, and provides a wavelength variable light source that achieves both a wide wavelength variable range and high output characteristics without adversely affecting the characteristics and reliability of the wavelength variable laser element. For the purpose.
  • a wavelength tunable light source includes a heat sink, a laser submount attached to the heat sink, and a wavelength tunable laser element attached to the upper surface of the laser submount.
  • the wavelength tunable laser element includes a mounting surface and a mounting surface.
  • the laser submount has a heat dissipation via, the heat dissipation via has a through hole having an opening on the upper surface of the laser submount, and a through hole.
  • the wavelength tunable laser element corresponding to the mounting surface on which the semiconductor optical amplifier is mounted above the region where the heat dissipation via is formed is formed of a material having a higher thermal conductivity than the laser submount. Place the back side, and place the back side corresponding to the mounting surface on which the laser diode is mounted above the area where the heat dissipation vias are not formed. It is attached to the upper surface of the Bumaunto.
  • a plurality of regions in one laser submount have different heat dissipation effects. Then, heat radiation suitable for each element constituting the wavelength tunable laser element attached to the laser submount can be performed, and the attitude of the wavelength tunable laser element can be stabilized. As a result, it is possible to obtain a wavelength tunable light source having both a wide wavelength tunable range and high output characteristics without adversely affecting the characteristics and reliability of the wavelength tunable laser element.
  • FIG. 6 is a top view showing a modification of the wavelength tunable light source in the first embodiment. It is sectional drawing which shows the wavelength variable light source in Embodiment 2 of this invention. It is sectional drawing which shows the wavelength variable light source in Embodiment 3 of this invention. It is a top view of the wavelength variable light source in Embodiment 4 of this invention.
  • FIG. 7 is a cross-sectional view showing a wavelength tunable light source taken along line VII-VII in FIG. 6.
  • FIG. 1 is a top view of a wavelength tunable light source 1 according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II-II in FIG.
  • the wavelength tunable light source 1 according to the first embodiment includes a heat sink 10 and a laser submount 20 disposed on the heat sink 10.
  • a wavelength variable laser element 30 is disposed on the laser submount 20 .
  • the wavelength tunable laser element 30 includes an LD 40 that performs laser oscillation, a mounting surface 30a on which an SOA 50 that amplifies the light emitted from the LD 40 is mounted, and a heat dissipation surface 30b on the back side of the mounting surface 30a.
  • the tunable laser element 30 may be a semiconductor laser that oscillates in a single mode.
  • a distributed feedback (Distributed Feedback) laser, a distributed reflective (Bragg Reflector) laser, or the like is used.
  • the laser submount 20 is provided with four columnar heat radiation vias 60.
  • the four heat dissipation vias 60 are each formed by filling a material different from that of the laser submount 20 in the four through holes 20 a provided in the laser submount 20.
  • the laser submount 20 is formed of a material having a lower thermal conductivity than the wavelength tunable laser element 30 such as quartz glass.
  • the heat dissipation via 60 is formed of a material having a higher thermal conductivity than the laser submount 20, such as a copper paste.
  • the wavelength tunable laser element 30 is attached to the laser submount 20 so that the heat radiating via 60 is disposed at the position of the heat radiating surface 30b facing the position where the SOA 50 is mounted. At this time, the heat radiation via 60 is not disposed at the position of the heat radiation surface 30b facing the position where the LD 40 is mounted.
  • the wavelength tunable light source 1 In the wavelength tunable light source 1 according to the first embodiment, the heat generated when the laser emits light when current is supplied to the LD 40 is radiated to the heat sink 10 via the laser submount 20.
  • the laser submount 20 is formed of a material having a low thermal conductivity, heat radiation generated by the LD 40 is suppressed.
  • the temperature of the LD 40 itself increases greatly due to the heat generated in the LD 40. Thereby, even if it is the same calorific value, compared with the case where it attaches to the laser submount 20 with high heat conductivity, the change range of a wavelength becomes wide.
  • the heat dissipation via 60 formed of a material having high thermal conductivity is disposed below the SOA 50, the heat generation of the SOA 50 is quickly radiated. Therefore, the temperature rise of the SOA 50 itself due to the heat generation of the SOA 50 is suppressed to be small, and the deterioration of the output characteristics of the SOA 50 is suppressed.
  • the heat dissipation via 60 is integrated with the laser submount 20 in such a manner that a through hole 20a formed in the laser submount 20 is filled with a material different from the laser submount 20. Forming. For this reason, the thermal expansion coefficient of the entire laser submount 20 is determined by the material forming the laser submount 20. Therefore, unlike the laser submount described in Patent Document 2, the laser tunable laser element 30 is applied with a uniform thermal stress, unlike the laser submount in which different types of laser submounts are arranged side by side. Therefore, a load applied to the wavelength tunable laser element 30 is reduced, and durability and performance reliability are improved.
  • the posture of the wavelength tunable laser element 30 is affected by the unevenness of the upper surface of the heat dissipation via 60 with which the back surface of the wavelength tunable laser element 30 abuts. It is about several ⁇ m.
  • the processing accuracy of each laser submount affects the attitude of the wavelength tunable laser element 30. .
  • the standard dimensional accuracy is several tens of ⁇ m.
  • the wavelength tunable light source 1 As described above, according to the wavelength tunable light source 1 according to the first embodiment, the heat radiation suitable for each element constituting the wavelength tunable laser element 30 attached to the laser submount 20 is performed, and the attitude of the wavelength tunable laser element 30 is determined. Can be stabilized. As a result, the wavelength tunable light source 1 that achieves both a wide wavelength tunable range and high output characteristics can be obtained without adversely affecting the characteristics and reliability of the wavelength tunable laser element 30.
  • heat dissipation vias 60 are formed in the laser submount 20, but the number of heat dissipation vias 60 is not limited to this.
  • the number of heat dissipation vias 6 may be one.
  • the heat radiating via 60 is formed in a cylindrical shape, but the present invention is not limited to this.
  • the shape of the heat dissipation via 60 may be a prismatic shape or may be inclined.
  • the material of the laser submount 20 may be any material having a lower thermal conductivity than that of the wavelength tunable laser element 30.
  • the material forming the heat radiation via 60 may be, for example, a resin in which a metal powder such as a copper paste or a silver paste is dissolved, or a metal or solder. Any material having a higher thermal conductivity than the laser submount 20 may be used.
  • the wavelength tunable laser element 30 is formed by one LD 40 and one SOA 50, but is not limited thereto.
  • the LD 40 may be composed of twelve LDs 40A to 40L having different wavelengths of light to be emitted.
  • the wavelength tunable laser element 30 may be configured by the LDs 40A to 40L arranged in parallel, the multiplexer / demultiplexer 70 that combines and outputs the light output from the LDs 40A to 40L, and the SOA 50.
  • the wavelength range that can be emitted can be further expanded.
  • the number of LDs 40 is not limited to 12, and may be 2 to 11, or 13 or more.
  • FIG. FIG. 4 is a cross-sectional view of the wavelength tunable light source 2 according to the second embodiment of the present invention.
  • the variable wavelength light source 2 according to the second embodiment is different from the variable wavelength light source 1 according to the first embodiment in the structure of the laser submount 21.
  • Other configurations are the same as those in the first embodiment.
  • the laser submount 21 is composed of a substrate composed of two layers, a first layer 21a and a second layer 21b.
  • the first layer 21a on the side in contact with the heat sink 10 has four cylindrical heat radiation vias 61 in which four through holes formed in a material having low thermal conductivity are filled with a material having high thermal conductivity.
  • the second layer 21b in contact with the wavelength tunable laser element 30 is formed only of a material having low thermal conductivity.
  • the upper surface of the heat dissipation via 61 has irregularities of about several ⁇ m, it may slightly affect the attitude of the wavelength tunable laser element 30.
  • the first layer 21a for adjusting the heat dissipation of the LD 40 and the SOA 50 is separated from the second layer 2b formed of a single material and having a high surface flatness.
  • the attitude of the wavelength tunable laser element 30 can be further stabilized.
  • the laser submount 21 is a two-layer substrate.
  • the present invention is not limited to this.
  • the laser submount 21 may be a substrate composed of three or more layers. It is only necessary that the layer in which the heat dissipation via 61 is formed and the layer in which the wavelength tunable laser element 30 is mounted are separated.
  • FIG. FIG. 5 shows a wavelength tunable light source 3 according to Embodiment 3 of the present invention.
  • the laser submount 21 in the second embodiment is a two-layer substrate
  • the wavelength tunable light source 3 according to the third embodiment replaces the laser submount 20 with two layers, The difference is that a buffer substrate 80 is disposed between the tunable laser element 30 and the wavelength tunable laser element 30.
  • Other configurations are the same as those in the second embodiment.
  • ⁇ Solder used for mounting electronic components on a substrate is usually melted at a high temperature of 200 ° C or higher. If the thermal expansion coefficient differs between the electronic component and the substrate, stress is applied to the electronic component when the solder returns to room temperature. This stress increases as the difference in coefficient of thermal expansion increases, which may adversely affect the performance of the electronic component.
  • a buffer substrate 80 is disposed between the laser submount 20 and the wavelength tunable laser element 30.
  • the buffer substrate 80 is made of a material different from that of the laser submount 20.
  • the difference in thermal expansion coefficient between the buffer substrate 80 and the wavelength tunable laser element 30 is smaller than the difference in thermal expansion coefficient between the laser submount 20 and the wavelength tunable laser element 30.
  • the buffer substrate 80 is formed of a material such as silicon, a synthetic resin, or a metal in addition to a ceramic such as aluminum nitride or alumina.
  • the coefficient of thermal expansion of the buffer substrate 80 that is directly bonded to the wavelength tunable laser element 30 is close to the coefficient of thermal expansion of the wavelength tunable laser element 30. Then, the difference in thermal expansion coefficient between the buffer substrate 80 and the wavelength tunable laser element 30 is made smaller than the difference in thermal expansion coefficient between the laser submount 20 and the wavelength tunable laser element 30. Thereby, the stress applied to the wavelength tunable laser element 30 before and after soldering is relaxed, and the durability and reliability of the wavelength tunable laser element 30 are improved. In addition, the oscillation wavelength shift corresponding to the strain caused by the stress is reduced.
  • FIG. FIG. 6 is a top view of the wavelength tunable light source 4 according to Embodiment 4 of the present invention.
  • FIG. 7 is a cross-sectional view showing the wavelength tunable light source along the line VII-VII in FIG.
  • the wavelength tunable light source 4 according to the fourth embodiment is different from the laser submount 20 according to the first embodiment in that the laser submount 22 has a cavity via 90.
  • the laser submount 22 according to the fourth embodiment is different from the first embodiment in that the LD electrode 100 for wire bonding and the SOA electrode 110 for wire bonding electrically connected to the SOA 50 are provided. Different. Other configurations are the same as those in the first embodiment.
  • the laser submount 22 of the wavelength tunable light source 4 includes four columnar heat radiation vias 62 and four columnar cavity vias 90.
  • Each hollow via 90 is disposed below the LD 40, and each hollow via 90 is filled with a gas such as air or nitrogen.
  • the wavelength tunable light source 4 is electrically connected to the LD electrode 100 for wire bonding electrically connected to the LD 40 and the SOA 50 on the upper surface of the wavelength tunable laser element 30.
  • An SOA electrode 110 for conducting wire bonding is provided.
  • the LD electrode 100 and the SOA electrode 110 are disposed on the mounting surface 30a of the wavelength tunable laser element 30 in a region that does not face each cavity via 90 with the wavelength tunable laser element 30 interposed therebetween.
  • the heat generated in the LD 40 is dissipated to the heat sink 10 through the portion of the laser submount 22 where each cavity via 90 is formed.
  • the thermal conductivity of a gas such as air or nitrogen filled in each cavity via 90 is very small compared to a solid. For this reason, each hollow via 90 hardly contributes to the heat dissipation of the LD 40.
  • the horizontal cross-sectional area of the laser submount 22 in the region where each cavity via 90 is formed is smaller than that when each cavity via 90 is not formed, the heat dissipation effect is further suppressed.
  • the temperature rise of the LD 40 becomes larger than when there is no cavity via 90, and the variable width of the wavelength is further expanded.
  • heat generated in the SOA 50 is radiated through the heat radiating vias 60 below the SOA 50. Therefore, the heat radiation of the SOA 50 is hardly suppressed by the hollow vias 90, and the output characteristics of the SOA 50 are not impaired.
  • the power is supplied via the LD electrode 100 provided on the wavelength tunable laser element 30 and a wire bonded to the SOA electrode 110.
  • the wire, the LD electrode 100, and the SOA electrode 110 are bonded by heat, load, and ultrasonic waves.
  • heat at the time of wire bonding is not dissipated, and the load on the wavelength tunable laser element 30 increases, and the wavelength tunable laser element 30 Damage and reliability may be reduced.
  • the LD electrode 100 and the SOA electrode 110 are arranged at positions away from the upper portions of the respective cavity vias 90, the load on the wavelength tunable laser element 30 due to wire bonding is reduced. There is no increase.
  • the number and shape of the hollow vias 90 are not limited to this.
  • the number of the hollow vias 90 may be one and the shape may be a prismatic shape.
  • the shape and number of the cavity vias 90 can be arbitrarily set.
  • the LD 40 is disposed above the cavity via 90 and the SOA 50 is not disposed. There is a need.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

波長可変光源は、ヒートシンクと、ヒートシンクに取付けられるレーザサブマウントと、レーザサブマウントの上面に取付けられる波長可変レーザ素子とを有し、波長可変レーザ素子は、実装面と、実装面に水平方向に並べて実装される、レーザダイオードと半導体光増幅器とを有し、レーザサブマウントは、放熱ビアを有し、放熱ビアは、レーザサブマウントの上面に開口部を有する貫通孔と、貫通孔に充填される、レーザサブマウントより熱伝導率の高い材料とにより形成され、波長可変レーザ素子は、放熱ビアが形成された領域の上方に、半導体光増幅器が実装された実装面と対応する背面を配置し、放熱ビアの形成されていない領域の上方に、レーザダイオードが実装された実装面と対応する背面を配置して、レーザサブマウントの上面に取付けられる。

Description

波長可変光源
 本発明は、レーザサブマウントに放熱ビアを備えた波長可変光源に関する。
 近年、動画配信等の大容量コンテンツの増加及びスマートフォン、タブレット等のモバイル端末の普及により、インターネットトラヒックは爆発的な増加を続けており、光通信システムの伝送容量の増大が強く求められている。これを実現するための中核技術の一つとして、波長分割多重(WaVelength Division Multiplexingu。以下、「WDM」という。)がある。WDMにおいては、単一の波長を有する光源を複数備えるよりも、任意の波長を出力可能な、波長可変光源を用いることが、保守及び運用上の観点から望ましい。
 WDMを用いたネットワークシステムにおいては、障害発生時に新たな正常光パスへ切り替える波長リストレーション及び電気の帯域や遅延に影響されない光スイッチに対し、高速化の要求がある。よって、波長可変光源には、波長切り換えの高速化が求められている。
 これを実現するための波長制御手法としては、レーザダイオード(Laser Diode。以下、「LD」という。)の自己発熱を利用した、温度調整による波長制御が有効である。LDの自己発熱を利用した波長制御においては、広い波長可変幅、すなわち温度調整幅を得るために、LDで発生した熱を素子内へ強く閉じ込める必要がある。
 そこで、低熱伝導率のレーザサブマウントを使用して、LDで発生した熱の放熱を抑制するものが開示されている(例えば特許文献1参照)。また、1つの素子を配置するレーザサブマウントを、熱伝導率の異なる二つのレーザサブマウントに分割し、素子の、放熱を抑制する部位を低熱伝導率のレーザサブマウント側に配置し、素子の、放熱させたい部位を高熱伝導率のレーザサブマウント側に配置するものが開示されている(例えば特許文献2参照)。
特開2013-243206号公報 特開2004-007023号公報
 しかしながら、特許文献1のレーザサブマウントでは、LDと半導体光増幅器(Semiconductor Optical Amplifier。以下、「SOA」という。)が集積された、一般的な波長可変レーザ素子を実装した場合に、SOAで発生した熱の放熱も抑制されてしまう。このため、SOAの温度が上昇して、光出力特性が劣化してしまうという課題があった。また、特許文献2のレーザサブマウントは、2つの部品で構成されているため、加工誤差などにより、2つの部品の高さが異なる可能性がある。2つの部品の高さが異なると、波長可変レーザ素子が傾いて実装され、場合によっては必要なパワーが得られなくなるおそれがある。さらに、波長可変レーザ素子をレーザサブマウントにはんだ接合した際には、レーザサブマウントと波長可変レーザ素子との熱膨張率の差に応じた応力が、波長可変レーザ素子に加わる。よって、2つの部品の熱伝導係数が異なる場合には、2つの部品から、異なる熱応力が波長可変レーザ素子に加わり、波長可変レーザ素子の特性や長期信頼性に悪影響を及ぼす可能性がある。
 本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであり、波長可変レーザ素子の特性及び信頼性に悪影響を与えずに、広い波長可変範囲と高出力特性を両立する波長可変光源を得ることを目的とする。
 本発明に係る波長可変光源は、ヒートシンクと、ヒートシンクに取付けられるレーザサブマウントと、レーザサブマウントの上面に取付けられる波長可変レーザ素子とを有し、波長可変レーザ素子は、実装面と、実装面に水平方向に並べて実装される、レーザダイオードと半導体光増幅器とを有し、レーザサブマウントは、放熱ビアを有し、放熱ビアは、レーザサブマウントの上面に開口部を有する貫通孔と、貫通孔に充填される、レーザサブマウントより熱伝導率の高い材料とにより形成され、波長可変レーザ素子は、放熱ビアが形成された領域の上方に、半導体光増幅器が実装された実装面と対応する背面を配置し、放熱ビアの形成されていない領域の上方に、レーザダイオードが実装された実装面と対応する背面を配置して、レーザサブマウントの上面に取付けられる。
 本発明は、1つのレーザサブマウントにおける複数の領域に、それぞれ異なる放熱効果をもたせている。そして、レーザサブマウントに取付けられる、波長可変レーザ素子を構成する各素子に適した放熱をするとともに、波長可変レーザ素子の姿勢を安定させることができる。これにより、波長可変レーザ素子の特性及び信頼性に悪影響を与えずに、広い波長可変範囲と高出力特性を両立した波長可変光源を得ることができる。
本発明の実施の形態1における波長可変光源の上面図である。 図1のII-II線に沿う波長可変光源を示す断面図である。 実施の形態1における波長可変光源の変形例を示す上面図である。 本発明の実施の形態2における波長可変光源を示す断面図である。 本発明の実施の形態3における波長可変光源を示す断面図である。 本発明の実施の形態4における波長可変光源の上面図である。 図6のVII-VII線に沿う波長可変光源を示す断面図である。
 以下、本発明の波長可変光源の好適なえ実施の形態につき、図面を用いて説明する。
 実施の形態1.
 図1は、本発明の実施の形態1における波長可変光源1の上面図である。また、図2は、図1のII-II線に沿う断面図である。図1及び図2に示すように、実施の形態1による波長可変光源1は、ヒートシンク10と、ヒートシンク10上に配置されたレーザサブマウント20とを有する。レーザサブマウント20の上には、波長可変レーザ素子30が配置されている。波長可変レーザ素子30は、レーザ発振するLD40と、LD40から出射された光を増幅するSOA50が実装された実装面30aと、実装面30aの裏側の放熱面30bを有している。
 波長可変レーザ素子30は、単一モード発振する半導体レーザであればよく、例えば、分布帰還型(Distributed  Feedback)レーザや、分布反射型(Distributed  Bragg  Reflector)レーザ等が用いられる。
 図1及び図2に示すように、レーザサブマウント20には、4つの円柱状の放熱ビア60が設けられている。4つの放熱ビア60は、それぞれレーザサブマウント20に設けられた4つの貫通孔20aの中に、レーザサブマウント20とは異なる材料を充填して形成されている。レーザサブマウント20は、例えば石英ガラスなど、波長可変レーザ素子30よりも熱伝導率の低い材料で形成される。一方、放熱ビア60は、例えば、銅ペースト等、レーザサブマウント20よりも熱伝導率が高い材料で形成される。
 図2に示すように、波長可変レーザ素子30は、SOA50が実装された位置と対峙する放熱面30bの位置に、放熱ビア60が配置されるように、レーザサブマウント20に取付けられる。このとき、LD40が実装された位置と対峙する放熱面30bの位置には、放熱ビア60は配置されない。
 次に、実施の形態1による波長可変光源1の作用及び効果について説明する。実施の形態1による波長可変光源1では、LD40に電流が供給されて、レーザが発光した際に発生する熱は、レーザサブマウント20を介して、ヒートシンク10に放熱される。しかし、レーザサブマウント20は、熱伝導率の低い材料で形成されているため、LD40で発生した熱の放熱が抑制される。そして、LD40で発生した熱により、LD40自身の温度が大きく上昇する。これにより、同一の発熱量であっても、熱伝導率の高いレーザサブマウント20に取付けた場合と比較して、波長の変化幅が広くなる。
 一方、SOA50の下方には、熱伝導率の高い材料で形成された放熱ビア60が配置されているため、SOA50の発熱は速やかに放熱される。よって、SOA50の発熱によるSOA50自身の温度上昇は小さく抑えられ、SOA50の出力特性の劣化が抑制される。
 また、実施の形態1では、放熱ビア60を、レーザサブマウント20に形成された貫通孔20a内に、レーザサブマウント20とは異なる材料を充填する、という形で、レーザサブマウント20と一体に形成している。このため、レーザサブマウント20全体の熱膨張率は、レーザサブマウント20を形成している材料によって決定される。したがって、特許文献2に記載されたレーザサブマウントのように、異種材料のレーザサブマウントを並べて配置したものとは異なり、波長可変レーザ素子30には、均一の熱応力が印可される。よって、波長可変レーザ素子30に加わる負荷が軽減され、耐久性及び性能の信頼性が向上する。
 実施の形態1では、波長可変レーザ素子30の姿勢は、波長可変レーザ素子30の背面が当接する、放熱ビア60の上面の凹凸に影響されるが、放熱ビア60の上面の凹凸は、一般に±数μm程度である。一方、特許文献2に記載されたレーザサブマウントのように、異なる複数のレーザサブマウントを並べて配置する場合には、各レーザサブマウントの加工精度が、波長可変レーザ素子30の姿勢に影響を与える。通常採用される切削加工においては、標準寸法精度は・数十μmである。
 このように、実施の形態1による波長可変光源1によれば、レーザサブマウント20に取付けられる、波長可変レーザ素子30を構成する各素子に適した放熱をするとともに、波長可変レーザ素子30の姿勢を安定させることができる。これにより、波長可変レーザ素子30の特性及び信頼性に悪影響を与えずに、広い波長可変範囲と高出力特性を両立した波長可変光源1を得ることができる。
 なお、実施の形態1では、レーザサブマウント20に、放熱ビア60を4つ形成しているが、放熱ビア60の数は、これに限るものではない。例えば、放熱ビア6の数は一つでもよい。また、実施の形態1では、放熱ビア60を円柱状に形成したが、これに限るものではない。例えば、放熱ビア60の形状は、角柱状であってもよいし、傾斜していてもよい。
 また、レーザサブマウント20の材質は、波長可変レーザ素子30よりも熱伝導率の低い材質であればよい。例えば、アルミナなどのセラミックのほか、ガラス又は合成樹脂などでもよい。また、放熱ビア60を形成する材料は、例えば、銅ペーストや銀ペースト等の金属粉末を溶かし込んだ樹脂のほか、金属やはんだなどでもよい。レーザサブマウント20よりも、熱伝導率の高い材料であればよい。
 また、実施の形態1では、波長可変レーザ素子30は、1つのLD40と、1つのSOA50により形成されていたが、これに限るものではない。例えば、図3に示す変形例のように、LD40を、それぞれ発光する光の波長が異なる12個のLD40A~40Lで構成してもよい。そして、波長可変レーザ素子30は、並列に配置されたLD40A~40Lと、LD40A~40Lから出力された光を合成して出力する合分波器70と、SOA50とにより構成してもよい。LD40A~40Lを使い分けることで、出射可能な波長範囲を更に拡大することができる。なお、LD40の数は12個に限るものでなく、2~11個でもよく、13個以上であってもよい。
 実施の形態2.
 図4は、本発明の実施の形態2による波長可変光源2の断面図である。実施の形態2による波長可変光源2は、実施の形態1の波長可変光源1と、レーザサブマウント21の構造が異なる。他の構成は、実施の形態1と同様である。
 図4に示すように、実施の形態2による波長可変光源2は、レーザサブマウント21を、第1層21aと第2層21bの2層からなる基板で構成している。ヒートシンク10と接する側の第1層21aは、熱伝導率の低い材料に形成した4つの貫通孔に、熱伝導率の高い材料を充填した、4つの円柱状の放熱ビア61を有している。一方、波長可変レーザ素子30と接する第2層21bは、熱伝導率の低い材料のみで形成されている。
 放熱ビア61の上面は、数μm程度の凹凸を有しているため、波長可変レーザ素子30の姿勢に、わずかながら影響を及ぼす可能性がある。実施の形態2による波長可変光源2によれば、LD40及びSOA50の放熱性を調整する第1層21aと、単一材料で形成され、表面の平面性が高い第2層2bとを分離することにより、波長可変レーザ素子30の姿勢をさらに安定なものとすることができる。
 なお、実施の形態2では、レーザサブマウント21を2層からなる基板としたが、これに限るものではない。例えば、レーザサブマウント21は、3層以上からなる基板であってもよい。放熱ビア61が形成される層と、波長可変レーザ素子30が実装される層とが、分離されていればよい。
 実施の形態3.
 図5は、本発明の実施の形態3における波長可変光源3を示している。実施の形態2におけるレーザサブマウント21は2層からなる基板であったが、実施の形態3による波長可変光源3は、レーザサブマウント20を2層とすることに代えて、レーザサブマウント20と波長可変レーザ素子30との間に、バッファ基板80を配置した点が異なる。他の構成は、実施の形態2と同様である。
 電子部品を基板に実装する際に使用されるはんだは、通常200℃以上の高温で溶解される。電子部品と基板の熱膨張率が異なれば、はんだが室温に戻る際に電子部品に応力が加わる。この応力は、熱膨張率の差が大きければ大きいほど大きくなり、電子部品の性能に悪影響を及ぼすことがある。
 図5に示すように、実施の形態3による波長可変光源3は、レーザサブマウント20と波長可変レーザ素子30の間に、バッファ基板80を配置している。バッファ基板80は、レーザサブマウント20とは異なる材料で形成されている。バッファ基板80と波長可変レーザ素子30との熱膨張率の差は、レーザサブマウント20と波長可変レーザ素子30の熱膨張率の差よりも小さい。バッファ基板80は、窒化アルミまたはアルミナなどのセラミックのほか、シリコン又は合成樹脂又は金属などの材料により形成される。
 実施の形態3による波長可変光源3によれば、波長可変レーザ素子30と直接接合されるバッファ基板80の熱膨張率を、波長可変レーザ素子30の熱膨張率に近くする。そして、レーザサブマウント20と波長可変レーザ素子30の熱膨張率の差よりも、バッファ基板80と波長可変レーザ素子30の熱膨張率の差を小さくする。これにより、はんだ接合の前後に、波長可変レーザ素子30に加わる応力が緩和され、波長可変レーザ素子30の耐久性及び信頼性が向上する。また、応力に起因する歪に応じた発振波長シフトも小さくなる。
 実施の形態4.
 図6は、本発明の実施の形態4における波長可変光源4の上面図である。また、図7は、図6のVII-VII線に沿う波長可変光源を示す断面図である。実施の形態4による波長可変光源4は、レーザサブマウント22に、空洞ビア90を有している点が、実施の形態1のレーザサブマウント20と異なる。さらに、実施の形態4のレーザサブマウント22には、ワイヤボンディング用のLD電極100と、SOA50と電気的に導通したワイヤボンディング用のSOA電極110が設けられている点が実施の形態1とは異なる。他の構成は、実施の形態1と同様である。
 実施の形態4による波長可変光源4のレーザサブマウント22は、図6及び図7に示すように、4つの円柱状の放熱ビア62と、4つの円柱状の空洞ビア90を有している。各空洞ビア90は、LD40の下方に配置されており、各空洞ビア90の中には、空気又は窒素などの気体が充填されている。
 また、図6に示すように、実施の形態4による波長可変光源4は、波長可変レーザ素子30の上面に、LD40と電気的に導通するワイヤボンディング用のLD電極100と、SOA50と電気的に導通するワイヤボンディング用のSOA電極110を有している。LD電極100とSOA電極110は、波長可変レーザ素子30の実装面30aにおける、波長可変レーザ素子30を挟んで、各空洞ビア90と対峙しない領域に配置される。
 LD40で発生した熱は、レーザサブマウント22の、各空洞ビア90が形成された部分を介してヒートシンク10に放熱される。各空洞ビア90の中に充填された空気又は窒素などの気体の熱伝導率は、固体と比較して非常に小さい。このため、各空洞ビア90は、LD40の放熱にほとんど寄与しない。また、各空洞ビア90が形成されている領域における、レーザサブマウント22の水平方向の断面積は、各空洞ビア90が形成されていない場合よりも小さくなるため、放熱効果は更に抑制される。
 したがって、LD40の温度上昇は、各空洞ビア90がない場合よりも大きくなり、波長の可変幅が更に拡大される。一方、SOA50で発生した熱は、SOA50の下方にある各放熱ビア60を介して放熱される。よって、各空洞ビア90により、SOA50の放熱が抑制されることはほとんどなく、SOA50の出力特性が損なわれることはない。
 一般に、LD40及びSOA50に給電する際には、波長可変レーザ素子30上に設けられたLD電極100と、SOA電極110にボンディングしたワイヤを介して給電される。そして、ワイヤボンディングする際には、熱と荷重及び超音波によりワイヤとLD電極100及びSOA電極110をボンディングする。このとき、LD電極100又はSOA電極110の直下に空洞ビア90があると、ワイヤボンディングする際の熱が放熱されず、波長可変レーザ素子30への負荷が増大して、波長可変レーザ素子30の破損及び信頼性が低下するおそれがある。実施の形態4による波長可変光源4では、LD電極100とSOA電極110を、各空洞ビア90の上部から離れた位置に配置しているため、ワイヤボンディングによる、波長可変レーザ素子30への負荷が増大することはない。
 なお、実施の形態4では、4つの円柱状の空洞ビア90を設けたが、空洞ビア90の数及び形状は、これに限るものではない。例えば、空洞ビア90の数は1つであってもよく、形状は角柱状などでもよい。空洞ビア90の形状及び数については任意に設定可能であるが、空洞ビア90と波長可変レーザ素子30の位置関係については、空洞ビア90の上方にLD40を配置し、SOA50を配置しないようにする必要がある。
 1~4 波長可変光源、10 ヒートシンク、20~22 レーザサブマウント、20a 貫通孔、21a 第1層、21b 第2層、30 波長可変レーザ素子、30a 実装面、30b 放熱面、40,40A~40L LD(レーザダイオード)、50 SOA(半導体光増幅器)、60~62 放熱ビア、70 合分波器、80 バッファ基板、90 空洞ビア、100 LD電極(第1の電極)、110 SOA電極(第2の電極)。

Claims (7)

  1.  ヒートシンクと、
     前記ヒートシンクに取付けられるレーザサブマウントと、
     前記レーザサブマウントに取付けられる波長可変レーザ素子とを有する波長可変光源であって、
     前記波長可変レーザ素子は、
     レーザダイオード及び半導体光増幅器が実装される実装面と、
     前記実装面の反対側に形成された放熱面とを有し、
     前記レーザサブマウントは、
     放熱ビアを有し、
     前記放熱ビアは、
     前記レーザサブマウントに設けられた貫通孔に、
    前記レーザサブマウントより熱伝導率の高い材料が充填されて形成され、
     前記放熱ビアの一端側は、
     前記波長可変レーザ素子の前記放熱面側において、
    前記波長可変レーザ素子を挟んで前記半導体光増幅器と対峙する位置に当接され、
     前記放熱ビアの他端側は、
     前記ヒートシンクに当接される、
    波長可変光源。
  2.  前記レーザサブマウントは、
     前記放熱ビアが形成された第1層と、
     前記第1層に積層され前記放熱ビアが形成されていない第2層とにより形成され、
     前記波長可変レーザ素子は、
     前記第2層に取付けられる、
    請求項1の波長可変光源。
  3.  前記レーザサブマウントと前記波長可変レーザ素子との間にバッファ基板を有し、
     前記波長可変レーザ素子と前記バッファ基板との熱膨張率の差は、
     前記波長可変レーザ素子と前記レーザサブマウントとの熱膨張率の差よりも小さい、
    請求項1の波長可変光源。
  4.  前記波長可変レーザ素子は、
     並列に配置された複数の前記レーザダイオードと、
     前記複数のレーザダイオードから出力された光を合波して出力する合分波器とを有し、
     前記合分波器の出力は前記半導体光増幅器に入力される、
    請求項1から3のいずれか1項に記載の波長可変光源。
  5.  前記レーザサブマウントは、
     空洞ビアを有し、
     前記空洞ビアは、
     前記レーザサブマウントに設けられた貫通孔により形成され、
     前記空洞ビアを形成する前記貫通孔の一端側は、
     前記波長可変レーザ素子の前記放熱面側において、
    前記波長可変レーザ素子を挟んで前記レーザダイオードと対峙する位置に対して開口し、
     前記空洞ビアを形成する前記貫通孔の他端側は、
     前記ヒートシンクに対して開口する、
    請求項1に記載の波長可変光源。
  6.  前記波長可変レーザ素子は、
     前記レーザダイオードに接続される第1の電極と、
     前記半導体光増幅器に接続される第2の電極とを有し、
     前記第1の電極及び前記第2の電極は、
     前記波長可変レーザ素子の前記実装面において、前記波長可変レーザ素子を挟んで、
    前記レーザサブマウントにおける前記空洞ビアが形成されていない領域と対峙する領域に配置される、
    請求項5に記載の波長可変光源。
  7.  前記レーザサブマウントは、
    セラミック、合成樹脂又はガラスのいずれかにより形成される、
    請求項1から6のいずれか一つに記載の波長可変光源。
PCT/JP2017/003564 2017-02-01 2017-02-01 波長可変光源 WO2018142499A1 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017533979A JPWO2018142499A1 (ja) 2017-02-01 2017-02-01 波長可変光源
PCT/JP2017/003564 WO2018142499A1 (ja) 2017-02-01 2017-02-01 波長可変光源

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2017/003564 WO2018142499A1 (ja) 2017-02-01 2017-02-01 波長可変光源

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2018142499A1 true WO2018142499A1 (ja) 2018-08-09

Family

ID=63040343

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2017/003564 WO2018142499A1 (ja) 2017-02-01 2017-02-01 波長可変光源

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JPWO2018142499A1 (ja)
WO (1) WO2018142499A1 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020070946A1 (ja) * 2018-10-04 2020-04-09 京セラ株式会社 電子部品搭載用基板、電気装置および発光装置
JP2021077760A (ja) * 2019-11-08 2021-05-20 ウシオ電機株式会社 半導体レーザ装置
JP2022089985A (ja) * 2019-01-10 2022-06-16 三菱電機株式会社 半導体レーザ装置
WO2023132042A1 (ja) * 2022-01-07 2023-07-13 三菱電機株式会社 光通信用デバイス及び電子機器

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001144367A (ja) * 1999-11-11 2001-05-25 Mitsubishi Electric Corp 半導体レーザ装置及びその駆動方法
JP2003124408A (ja) * 2001-10-11 2003-04-25 Tokuyama Corp 放熱性基板
JP2011258758A (ja) * 2010-06-09 2011-12-22 Furukawa Electric Co Ltd:The 半導体レーザモジュール
US20120219025A1 (en) * 2009-11-04 2012-08-30 Nokia Siemens Networks Oy Method and device for adjusting a tunable laser of an optical network element
JP2013243206A (ja) * 2012-05-18 2013-12-05 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体レーザモジュール
US9166130B2 (en) * 2012-10-24 2015-10-20 Spectrasensors, Inc. Solderless mounting for semiconductor lasers

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004311720A (ja) * 2003-04-07 2004-11-04 Fujikura Ltd 多層配線基板、多層配線基板用基材およびその製造方法
JP5381480B2 (ja) * 2009-08-10 2014-01-08 日本電気株式会社 電子装置および電子装置の製造方法
JP5357706B2 (ja) * 2009-11-10 2013-12-04 パナソニック株式会社 半導体実装構造体

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001144367A (ja) * 1999-11-11 2001-05-25 Mitsubishi Electric Corp 半導体レーザ装置及びその駆動方法
JP2003124408A (ja) * 2001-10-11 2003-04-25 Tokuyama Corp 放熱性基板
US20120219025A1 (en) * 2009-11-04 2012-08-30 Nokia Siemens Networks Oy Method and device for adjusting a tunable laser of an optical network element
JP2011258758A (ja) * 2010-06-09 2011-12-22 Furukawa Electric Co Ltd:The 半導体レーザモジュール
JP2013243206A (ja) * 2012-05-18 2013-12-05 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体レーザモジュール
US9166130B2 (en) * 2012-10-24 2015-10-20 Spectrasensors, Inc. Solderless mounting for semiconductor lasers

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020070946A1 (ja) * 2018-10-04 2020-04-09 京セラ株式会社 電子部品搭載用基板、電気装置および発光装置
JPWO2020070946A1 (ja) * 2018-10-04 2021-09-02 京セラ株式会社 電子部品搭載用基板、電気装置および発光装置
JP7159335B2 (ja) 2018-10-04 2022-10-24 京セラ株式会社 電子部品搭載用基板、電気装置および発光装置
JP2022089985A (ja) * 2019-01-10 2022-06-16 三菱電機株式会社 半導体レーザ装置
JP7297121B2 (ja) 2019-01-10 2023-06-23 三菱電機株式会社 半導体レーザ装置
JP2021077760A (ja) * 2019-11-08 2021-05-20 ウシオ電機株式会社 半導体レーザ装置
WO2023132042A1 (ja) * 2022-01-07 2023-07-13 三菱電機株式会社 光通信用デバイス及び電子機器
JPWO2023132042A1 (ja) * 2022-01-07 2023-07-13

Also Published As

Publication number Publication date
JPWO2018142499A1 (ja) 2019-02-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8259765B2 (en) Passive phase control in an external cavity laser
WO2018142499A1 (ja) 波長可変光源
KR101098605B1 (ko) 열 광학 튜너블 레이저 장치
US7869475B2 (en) Misalignment prevention in an external cavity laser having temperature stabilisation of the resonator and the gain medium
WO2013150715A1 (ja) 半導体レーザ装置およびその製造方法
US20070217469A1 (en) Laser diode stack side-pumped solid state laser
US20110007762A1 (en) Optical module
JP2009111230A (ja) レーザモジュール
WO2016104449A1 (ja) 光学ユニット、光学ユニットの固定構造および半導体レーザモジュール
JP6984801B1 (ja) 半導体レーザ光源装置
US20190044302A1 (en) Cte-matched silicon-carbide submount with high thermal conductivity contacts
JP2019029394A (ja) キャリア実装構造
US10084284B2 (en) Light emitting device with extended mode-hop-free spectral tuning ranges and method of manufacture
US20220013980A1 (en) Optoelectronic semiconductor laser component and method for producing an optoelectronic semiconductor laser component
JP2008182019A (ja) 光送信モジュール、光伝送装置
JP2003163409A (ja) 半導体レーザーモジュール
JP2003198051A (ja) 半導体レーザ装置および半導体レーザモジュール
JP2007036046A (ja) 光送信デバイス
WO2023042461A1 (ja) 半導体発光デバイス
JP2004096062A (ja) 半導体発光装置
JP2010034137A (ja) 半導体レーザ装置
EP1958302B1 (en) Passive phase control in an external cavity laser
JP2009004760A (ja) 半導体レーザ装置
JP2006072171A (ja) 光モジュール
US10985527B2 (en) Laser diode surface mounting structure

Legal Events

Date Code Title Description
ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2017533979

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 17895258

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 17895258

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1