WO2018066267A1 - 回転機異常検出装置および該方法ならびに回転機 - Google Patents

回転機異常検出装置および該方法ならびに回転機 Download PDF

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rotating machine
frequency
noise
processing unit
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要 荒木
高橋 英二
秀剛 高木
雅人 林
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株式会社神戸製鋼所
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    • G01M13/02Gearings; Transmission mechanisms
    • G01M13/028Acoustic or vibration analysis
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
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    • G01N29/46Processing the detected response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor by spectral analysis, e.g. Fourier analysis or wavelet analysis
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    • G01N29/4472Mathematical theories or simulation

Definitions

  • the present invention relates to a rotating machine abnormality detecting device and a rotating machine abnormality detecting method for detecting abnormality of a rotating machine and a rotating machine provided with the rotating machine abnormality detecting device.
  • rotating machines such as electric motors, generators, compressors, and pumps include a rotating body that rotates about a predetermined axis.
  • a rotating machine is used in various plants, and its abnormality is detected in order to ensure its normal operating state.
  • the present invention is an invention made in view of the above-described circumstances, and an object of the present invention is to provide a rotating machine abnormality detecting device, a rotating machine abnormality detecting method, and the rotating machine abnormality detecting device capable of determining an abnormality with higher reliability. It is to provide a rotating machine.
  • the rotating machine abnormality detection device, the rotating machine abnormality detection method, and the rotating machine according to the present invention vibration caused by at least one of the first and second rotating bodies is measured, and the frequency spectrum of the measurement data is displayed. Based on this, a predetermined feature amount related to the frequency component is obtained, and the presence or absence of abnormality is determined based on the obtained predetermined feature amount. At that time, when it is determined that there is an abnormality, it is determined whether the determination of the abnormality is due to noise based on the frequency spectrum, and when it is determined that it is not due to the noise, the determination The anomaly that was made is finally regarded as anomaly. Therefore, the rotating machine abnormality detection device and the rotating machine abnormality detection method according to the present invention can determine the abnormality with higher reliability. According to the present invention, a rotating machine including such a rotating machine abnormality detection device can be provided.
  • FIG. 2 is a schematic top view of an example rotating body in the rotating machine shown in FIG. 1. It is a cross-sectional schematic diagram of the rotary body shown in FIG. It is a figure for demonstrating the spectrum process in the case of a comparatively small background noise. It is a figure for demonstrating the spectrum process in the case of a comparatively large background noise. It is a figure which shows each B-frequency spectrum at the time of normal time and abnormality, and each B-frequency spectrum at the time of normal time and noise occurrence.
  • FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a rotating machine and a rotating machine abnormality detection device provided in the rotating machine in the embodiment.
  • FIG. 2 is a schematic top view of an example rotating body in the rotating machine shown in FIG.
  • FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of the rotating body shown in FIG.
  • FIG. 4 is a diagram for explaining spectrum processing in the case of relatively small background noise.
  • FIG. 4A shows measurement data measured by the AE sensor
  • FIG. 4B shows its RMS
  • FIG. 4C shows its frequency spectrum.
  • the horizontal axis in FIG. 4A is time (elapsed time from the start of measurement), and the vertical axis is the output level of the sensor output.
  • FIG. 4B is time (elapsed time from the start of measurement), and the vertical axis is the RMS value.
  • the horizontal axis in FIG. 4C is the frequency, and the vertical axis is the component value.
  • FIG. 5 is a diagram for explaining spectrum processing in the case of relatively large background noise.
  • FIG. 5A shows measurement data measured by the AE sensor
  • FIG. 5B shows measurement data after passing through the high-pass filter.
  • Each horizontal axis in FIGS. 5A and 5B represents time (elapsed time from the start of measurement), and each vertical axis represents the output level of the sensor output.
  • the rotating machine (rotating machine) in the embodiment is a device including a rotating body that rotates about an axis with respect to a predetermined axis. Further, in the present embodiment, the rotating machine abnormality detection for detecting an abnormality of the rotating body.
  • Equipment More specifically, for example, as shown in FIG. 1, the rotating machine M includes a rotating unit RB having at least first and second rotating bodies and a rotating machine abnormality detection device AD, and this rotating machine abnormality detection is performed.
  • the device AD includes, for example, a vibration measurement unit 1 and a control processing unit 2 having an abnormality detection unit 22.
  • the rotating machine abnormality detection device AD further includes an input unit 3, an output unit 4, an interface unit (IF unit) 5, and a storage unit 6.
  • the rotating machine M incorporating the rotating machine abnormality detection device AD of the present embodiment may be any device including the rotating body RB, such as an electric motor, a generator, a compressor, and a pump.
  • the rotating machine M is a compressor will be described below.
  • the rotating machine M as the compressor has at least the first and second rotating bodies, and functions as a compressor for pumping fluid, and a peripheral portion (not shown) for rotationally driving the rotating body.
  • the rotating part RB rotates around a predetermined axis with respect to each predetermined axis while engaging so as to engage with each other with a predetermined gap (gap) G in a normal state.
  • a pair of first and second rotating bodies 81-1 and 81-2 and a casing 82 for housing the first and second rotating bodies 81-1 and 81-2 are provided.
  • the first rotator 81-1 is a male rotor in the compressor, and generally includes a first rotator body 811-1 and a plurality of convex portions 812-1 formed on the peripheral surface of the first rotator body.
  • the first rotating body 811-1 is provided with a first rotating shaft 813-1 provided coaxially. Such a first rotating body 81-1 is driven to rotate, for example, counterclockwise (in the direction of arrow A) around the first rotating shaft 813-1.
  • the second rotating body 81-2 is a female rotor in the compressor.
  • the second rotating body main body 811-2 a plurality of recesses 812-2 formed on the peripheral surface of the second rotating body main body, And a second rotating shaft 813-2 provided coaxially with the second rotating body main body 811-2.
  • the second rotating body 81-2 is driven to rotate, for example, clockwise (in the direction of arrow B) around the second rotating shaft 813-2.
  • the plurality of convex portions 812-1 means the plurality of convex portions 812-1 formed on the peripheral surface of the first rotating body 81-1, and the convex portion 812-1 means the plurality of convex portions. Any one of 812-1.
  • the plurality of recesses 812-2 means a plurality of recesses 812-2 formed on the peripheral surface of the second rotating body 81-2, and the recess 812-2 is one of the plurality of recesses 812-2. Means.
  • the first rotating body 81-1 rotates counterclockwise and the second rotating body 81-2 rotates clockwise.
  • the corresponding convex part 812-1 and the concave part 812-2 are engaged with each other in order. That is, when the first rotating body 81-1 rotates counterclockwise and the second rotating body 81-2 rotates clockwise, a certain convex portion 812-1 and a certain concave portion 812-2 Are engaged with each other and further rotated to cancel their engagement, and the next convex portion 812-1 and the next concave portion 812-2 are engaged with each other, and further rotated to reciprocate them. Is eliminated, and the next convex portion 812-1 and the next concave portion 812-2 are engaged with each other. This is repeated thereafter. This compresses the fluid.
  • the convex portion 812-1 and the concave portion 812-2 are engaged with each other.
  • the convex portion 812-1 is in the concave portion 812-2, but in a normal state, the convex portion 812-1 and the concave portion 812-2 are in contact with each other. Without having the predetermined gap G.
  • the contact between the convex portion 812-1 and the concave portion 812-2 means the contact between the first rotating body 81-1 and the second rotating body 81-2, and is an aspect of an abnormal state.
  • the casing 82 has an oval cross section, and the first and second rotating bodies 81-1 and 81-2 arranged in parallel so that the respective axes are parallel to each other are spaced from the inner peripheral surface of the casing 82 by a predetermined distance. It is a hollow cylindrical body having a space that can be accommodated.
  • the casing 82 is provided with an unillustrated inlet for taking in a fluid to be compressed on one side in the axial direction of the first and second rotating bodies 81-1 and 81-2, and on the other side, the first and second rotating bodies 81-1 and 81-2 are provided.
  • An unillustrated outflow port for taking out the fluid compressed by the two-rotors 81-1 and 81-2 is provided.
  • the vibration measuring unit 1 is attached to the outer wall of the casing 82 at a predetermined position in order to detect the abnormality of the rotating body by the rotating machine abnormality detecting device AD.
  • the vibration measuring unit 1 may be a plurality of units attached to different positions of the casing 82. In FIG. 2, as an example, the vibration measuring unit 1 is attached to the outer wall of the casing 82 at a position closer to one side than the substantially central position in the axial direction.
  • the vibration measuring unit 1 is connected to the control processing unit 2 and is a device that measures vibrations caused by the rotating body 81 in order to detect abnormalities occurring in the rotating body 81 of the rotating machine M, particularly the rotating unit RB. It is. In the present embodiment, the vibration measuring unit 1 measures vibrations caused by at least one of the first and second rotating bodies 81-1 and 81-2. The vibration measuring unit 1 preferably measures at least one of the vibration in the audible band and the vibration in the ultrasonic band. The audible band is generally in the range of 20 Hz to 20 kHz, and the ultrasonic band is generally 20 kHz or more. Such a vibration measuring unit 1 is, for example, an AE (Acoustic Emission) sensor.
  • AE Acoustic Emission
  • the vibration measuring unit 1 including this AE sensor observes and measures an elastic wave in a predetermined wavelength band generated due to the rotating body 81 due to an abnormality such as contact.
  • the measurement result measured by the vibration measuring unit 1 is output to the control processing unit 2. More specifically, the vibration measuring unit 1 observes the vibration and outputs the measurement result of the vibration to the control processing unit 2.
  • the control processing unit 2 samples the measurement result input from the vibration measurement unit 1 as measurement data at a predetermined time interval (sampling interval) set in advance. Thereby, the control processing unit 2 acquires continuous time-series measurement data with a sampling interval.
  • the input unit 3 is connected to the control processing unit 2 and, for example, various commands such as a command for instructing the start of abnormality detection, and an identifier (ID) in the rotating machine M (or the rotating body 81), for example, an abnormality detection target.
  • a device for inputting various data necessary for detecting an abnormality such as an input to the rotating machine abnormality detecting device AD (rotating machine M).
  • the output unit 4 is connected to the control processing unit 2 and outputs commands and data input from the input unit 3 and results detected and measured by the rotating machine abnormality detection device AD in accordance with the control of the control processing unit 2.
  • a display device such as a CRT display, an LCD (liquid crystal display) and an organic EL display, a printing device such as a printer, and the like.
  • the IF unit 5 is a circuit that is connected to the control processing unit 2 and inputs / outputs data to / from an external device in accordance with the control of the control processing unit 2, such as an RS-232C interface circuit that is a serial communication system, And an interface circuit using a USB (Universal Serial Bus) standard.
  • an RS-232C interface circuit that is a serial communication system
  • USB Universal Serial Bus
  • the storage unit 6 is connected to the control processing unit 2, and according to the control of the control processing unit 2, a control program for operating each unit of the rotating machine abnormality detection device AD according to the function of each unit, and an abnormality of the rotating machine M
  • Each control processing program such as an anomaly detection program for detecting an error and information necessary for executing each control processing program are stored.
  • the storage unit 6 is also a so-called working memory for the control processing unit 2.
  • the storage unit 6 stores the above-described control processing programs, information necessary for the above, and can be rewritten, for example, a nonvolatile storage element such as a ROM (Read Only Memory) or an EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read Only Memory).
  • a nonvolatile storage element a volatile storage element such as a RAM (Random Access Memory) that serves as a working memory, and peripheral circuits thereof are configured.
  • the storage unit 6 functionally includes a measurement data temporary storage unit 61 and a normal frequency spectrum storage unit 62.
  • the measurement data temporary storage unit 61 measures the measurement data necessary for obtaining at least the frequency spectrum measured by the vibration measurement unit 1 (for example, 20 seconds, 30 seconds, 40 seconds, 60 seconds, etc.). (Temporal measurement data) is temporarily stored. When the measurement data is temporarily stored, the measurement data temporary storage unit 61 deletes the measurement data stored the oldest in terms of time and stores the latest measurement data.
  • the storage capacity of the measurement data temporary storage unit 61 is equal to or greater than the capacity of the measurement data necessary to obtain at least the frequency spectrum.
  • the normal frequency spectrum storage unit 62 stores a normal frequency spectrum.
  • the normal frequency spectrum is a frequency spectrum of measurement data measured by the vibration measurement unit 1 when it is determined that there is no abnormality by an abnormality determination unit 223 described later in the abnormality detection unit 22.
  • the normal frequency spectrum 62 is the normal frequency spectrum of the measurement data measured by the vibration measurement unit 1 used for the determination when the abnormality determination unit 223 determines that there is no abnormality most recently. Is stored (updated and stored).
  • the storage unit 6 measures time series measurement data of a number (time length) greater than or equal to the measurement data necessary for obtaining the frequency spectrum measured by the vibration measurement unit 1 and performs predetermined data processing on the measurement data.
  • a relatively large capacity storage device such as a hard disk may be further provided.
  • the control processing unit 2 controls each part of the rotating machine abnormality detection device AD according to the function of each part in order to detect an abnormality of the rotating machine M.
  • a micro processing unit such as a CPU (Central Processing Unit) is used.
  • a processor and its peripheral circuits are provided.
  • the control processing unit 2 is functionally configured with a control unit 21 and an abnormality detection unit 22 by executing a control processing program.
  • the control unit 21 controls each part of the rotating machine abnormality detection device AD according to the function of each part, and governs overall control of the rotating machine abnormality detection device AD.
  • the abnormality detection unit 22 detects an abnormality in the rotating machine M based on the measurement result measured by the vibration measurement unit 1. More specifically, in the present embodiment, the abnormality detection unit 22 functionally includes a spectrum processing unit 221, a feature amount processing unit 222, an abnormality determination unit 223, and a noise determination unit 224 by executing the control processing program. .
  • the spectrum processing unit 221 obtains the frequency spectrum of the measurement data measured by the vibration measurement unit 1.
  • the RMS data spectrum (A-frequency spectrum) of the measurement data measured by the vibration measurement unit 1 by the feature quantity processing unit 222 is used, while the measurement data itself measured by the vibration measurement unit 1 by the noise determination unit 224 is used.
  • Frequency spectrum (B-frequency spectrum) is used, the spectrum processing unit 221 corresponding to them uses an A-subspectral processing unit 2211 for obtaining an A-frequency spectrum for the feature amount processing unit 222, and a noise determination unit A B-subspectral processing unit 2212 for obtaining a B-frequency spectrum for 224 is functionally provided.
  • the A-subspectral processing unit 2211 obtains the RMS (Root Mean Square) of the measurement data measured by the vibration measurement unit 1, and Fourier transforms the RMS of the obtained measurement data, for example, An A-frequency spectrum (A-power spectrum) of the measurement data is obtained by fast Fourier transform.
  • the RMS of the measurement data shown in FIG. 4B is obtained from the measurement data shown in FIG. 4A by the A-subspectral processing unit 2211, and the measurement shown in FIG. 4C is performed by the A-subspectral processing unit 2211.
  • An A-frequency spectrum (A-power spectrum) of the data is obtained.
  • FIG. 4 is a measurement result of the rotating machine M including the first rotating body 81-1 having 3 teeth and the second rotating body 81-2 having 4 teeth.
  • the third-order harmonic component F3 is the strongest, the second rotating body 81-2 having four teeth is in contact with each rotation once.
  • the C-subspectrum for obtaining the frequency spectrum (C-frequency spectrum) by obtaining the envelope (envelope) shown by the broken line in FIG. A processing unit 2213 may be used.
  • the C-subspectral processing unit 2213 obtains an envelope (envelope) of measurement data measured by the vibration measurement unit 1 by envelope detection, and performs a Fourier transform (preferably a fast Fourier transform) on the obtained envelope of measurement data. ) To obtain the frequency spectrum (C-frequency spectrum, C-power spectrum) of the measurement data.
  • the B-subspectral processing unit 2212 obtains a B-frequency spectrum (B-power spectrum) of the measurement data by directly subjecting the measurement data measured by the vibration measurement unit 1 to Fourier transform, for example, fast Fourier transform. That is, the B-subspectral processing unit 2212 performs Fourier transform on the measurement data itself measured by the vibration measurement unit 1 (raw measurement data measured by the vibration measurement unit 1).
  • the RMS of the measurement data and the envelope of the measurement data are obtained from the measurement data of the vibration measuring unit 1.
  • the background noise may be relatively large as shown in FIG. 5A, for example.
  • a signal indicating an abnormality of the rotating body 81 is generated.
  • the noise is buried in the background noise and does not appear clearly.
  • the spectrum processing unit 221 performs, for example, a high-pass filter 2214 for removing noise such as the background noise as indicated by a broken line in FIG.
  • the cut-off frequency of the high-pass filter 2214 may be appropriately set in consideration of the frequency of the signal indicating the abnormality of the rotating body 81, but is set to a value such as 100 kHz, for example.
  • the above-described A-subspectral processing unit 2211 and C-subspectral processing unit 2213 obtain the RMS and the envelope of the measurement data filtered (filtered) by the high-pass filter 2214, and obtain the frequency spectrum.
  • the B-subspectral processing unit 2212 described above obtains the frequency spectrum of the measurement data filtered (filtered) by the high-pass filter 2214.
  • the feature amount processing unit 222 obtains a predetermined feature amount CV related to a predetermined frequency component based on the frequency spectrum obtained by the spectrum processing unit 221.
  • the feature amount processing unit 222 performs the predetermined feature amount CV related to the predetermined frequency component based on the A-frequency spectrum obtained by the A-subspectral processing unit 2211 of the spectrum processing unit 221. Ask for. More specifically, the feature amount processing unit 222 sets the first number of teeth and the first rotation frequency of the first rotating body 81-1 to MA [pieces] and VA [Hz], and uses the second rotating body 81-2.
  • the second number of teeth and the second rotation frequency of each are MB [pieces] and VB [Hz], the least common multiple of the first number of teeth MA and the second number of teeth MB is XAB, and the first rotation frequency VA is the first
  • the fundamental wave mesh frequency VA / MA divided by the number of teeth MA is defined as f1 [Hz]
  • the nth harmonic mesh frequency (n is an integer of 2 or more) with respect to the fundamental wave mesh frequency f1 is defined as fn [Hz].
  • the nth-order harmonics of the nth-order harmonic tooth frequency fn (n 2 to XAB) from the frequency spectrum obtained by the spectrum processing unit 221 to the fundamental wave component F1 of the fundamental wave tooth frequency f1 and the least common multiple XAB.
  • the wave component Fn is obtained, and the obtained fundamental wave component F is obtained.
  • determining the predetermined feature quantity CV based on the n-order harmonic component Fn.
  • the predetermined feature amount CV related to the predetermined frequency component is used to extract a signal indicating abnormality of the rotating body 81 included in the measurement data of the vibration measuring unit 1 or various kinds of data included in the measurement data of the vibration measuring unit 1.
  • various appropriate quantities are possible.
  • the feature quantities CVa to CVe of the first to fifth aspects can be mentioned.
  • the feature quantity CVa of the first aspect will be described, and the feature quantities CVb to CVe of the second to fifth aspects will be described later.
  • i is an integer from 1 to XAB
  • is an operator for obtaining the sum of F for i.
  • these least common multiples XAB are 12, and thus the teeth There are 12 combinations.
  • the abnormality determination unit 223 determines whether there is an abnormality in the rotating machine M based on the feature amount CV obtained by the feature amount processing unit 222. More specifically, the abnormality determination unit 223 determines whether there is an abnormality in the rotating machine M depending on whether or not the feature amount CV obtained by the feature amount processing unit 222 is equal to or greater than a predetermined threshold (abnormality determination threshold) tha. Determine presence or absence. More specifically, the abnormality determination unit 223 determines that the rotating machine M is abnormal when the feature amount CV obtained by the feature amount processing unit 222 is equal to or greater than the abnormality determination threshold value tha, and the feature amount processing unit 222 obtains the feature amount CV.
  • a predetermined threshold abnormality determination threshold
  • the abnormality determination threshold value tha When the feature value CV is not equal to or greater than the abnormality determination threshold value tha (when the feature value CV is less than the abnormality determination threshold value tha), it is determined that there is no abnormality in the rotating machine M.
  • the predetermined threshold value (abnormality determination threshold value) tha is appropriately set according to the feature amount CV from the measurement data sampled from the rotating machine M in the normal state and the measurement data sampled from the rotating machine M in the abnormal state. .
  • the abnormality determination unit 223 determines that there is no abnormality as a result of the determination, the abnormality determination unit 223 stores the frequency spectrum of the measurement data used for this determination in the storage unit 6 as a normal time frequency spectrum.
  • the abnormality determination unit 223 obtains a B-frequency spectrum by the B-subspectral processing unit 2212 from the measurement data used for this determination,
  • the obtained B-frequency spectrum is stored in the normal frequency spectrum storage unit 62 of the storage unit 6 as a normal frequency spectrum.
  • the abnormality determination unit 223 determines that there is an abnormality as a result of determining the presence or absence of the abnormality, the abnormality determination unit 223 determines that the determined abnormality is a tentative determination, and the noise determination unit 224 determines that it is not caused by noise. In this case, the abnormality determined as the tentative determination is finally determined to be abnormal.
  • the noise determination unit 224 determines that the abnormality is caused by noise, the abnormality determined as the tentative determination is discarded. Instead of the discard, the generation of the noise may be output.
  • the noise determination unit 224 determines whether the abnormality determination is caused by noise based on the frequency spectrum obtained by the spectrum processing unit 221 when the abnormality determination unit 223 determines that there is an abnormality. is there. In the present embodiment, as described above, the noise determination unit 224 determines whether the abnormality determination is caused by noise based on the B-frequency spectrum obtained by the B-subspectral processing unit 2212 of the spectrum processing unit 221. Determine. Therefore, in this embodiment, the noise determination unit 224 does not perform the determination process when the abnormality determination unit 223 determines that there is no abnormality.
  • the noise determination unit 224 includes the B-frequency spectrum obtained by the B-subspectral processing unit 2212 of the spectrum processing unit 221 and the normal-time frequency stored in the normal-time frequency spectrum storage unit 62 of the storage unit 6. Based on the spectrum and the difference, it is determined whether the abnormality is due to noise. More specifically, the noise determination unit 224 determines whether or not the abnormality determination is caused by noise based on a subtraction result (first subtraction result) obtained by subtracting the average value in the difference from the maximum value in the difference. .
  • the noise determination unit 224 compares the first subtraction result with a predetermined threshold (first determination threshold) thb set in advance, and the first subtraction result is greater than the first determination threshold thb (or When the first subtraction result is greater than or equal to the first determination threshold thb), it is determined that the abnormality determination is due to noise, and when the first subtraction result is less than or equal to the first determination threshold thb (or When the first subtraction result is less than the first determination threshold thb), it is determined that the abnormality determination is not caused by noise.
  • first determination threshold predetermined threshold
  • FIG. 6 is a diagram showing each B-frequency spectrum at normal time and abnormal time, and each B-frequency spectrum at normal time and when noise occurs.
  • FIG. 6A shows B-frequency spectra at normal times and abnormal times
  • FIG. 6B shows B-frequency spectra at normal times and noise occurrences.
  • each horizontal axis is frequency
  • each vertical axis is spectrum intensity (component value, spectrum value).
  • the B-frequency spectrum is shown in a frequency range including a frequency higher than the cutoff frequency of the high-pass filter 2214.
  • FIG. 7 is a diagram showing a difference between each B-frequency spectrum during normal time and abnormal time, and a difference between each B-frequency spectrum during normal time and when noise occurs.
  • FIG. 7 The horizontal axis in FIG. 7 is the frequency, and the vertical axis is the difference value.
  • FIG. 8 is a diagram illustrating a difference between the maximum value and the average value and a difference between the maximum value and the intermediate value.
  • FIG. 8A shows the difference between the maximum value and the average value
  • FIG. 8B shows the difference between the maximum value and the intermediate value.
  • FIG. 9 is a diagram illustrating each difference between the maximum value and the average value when there is an abnormality and when noise occurs.
  • the horizontal axis in FIG. 9 is an example (measurement data name), and the vertical axis is the index value ⁇ .
  • indicates an index value ⁇ at the time of abnormality
  • indicates an index value ⁇ at the time of noise occurrence.
  • FIG. 6A and FIG. 6B show waveforms indicated by broken lines.
  • the B-frequency spectrum (frequency spectrum at the time of occurrence of abnormality) obtained from the measurement data when there is an abnormality in the rotating machine M and the measurement data measured by the vibration measurement unit 1 does not include the noise is as follows: In one example, as shown by a solid line in FIG. 6A, a waveform having a component value larger than the normal frequency spectrum at each frequency due to the occurrence of the abnormality (roughly, a component value larger than the normal frequency spectrum over the entire frequency range). Waveform).
  • the B-frequency spectrum (frequency spectrum at the time of noise generation) obtained from the measurement data in the case where there is no abnormality in the rotating machine M and the noise is included in the measurement data measured by the vibration measuring unit 1 is, for example, As shown by a solid line in FIG. 6B, the waveform generally has a waveform having substantially the same component value as the normal frequency spectrum. However, due to the occurrence of the noise, the normal frequency is pulsed at various frequencies. The waveform has a component value larger than the spectrum.
  • the difference (first difference) between the frequency spectrum at the time of occurrence of abnormality and the frequency spectrum at normal time obtained for each frequency is over the entire frequency range as shown by the solid line in FIG. In general, it becomes a flat waveform (flat waveform as an overall trend).
  • the difference (second difference) between the noise-occurrence frequency spectrum and the normal-time frequency spectrum obtained for each frequency is a large value in a pulse shape at the various frequencies as shown by the broken line in FIG. A waveform with
  • the first subtraction result obtained by subtracting the average value in the second difference from the maximum value in the second difference between the frequency spectrum at the time of noise generation and the frequency spectrum at the time of normality (at the time of noise generation, right side of FIG. 8A)
  • the first subtraction result obtained by subtracting the average value in the second difference from the maximum value in the second difference between the frequency spectrum at the time of occurrence of abnormality and the frequency spectrum at the time of normality (at the time of contact abnormality, the left side of FIG. Is significantly larger than
  • the first subtraction results in other cases (samples) are shown in FIG. 9, and the same results as in FIG. 8A are obtained.
  • the first subtraction result can be used as an index value ⁇ that can distinguish between the occurrence of abnormality and the occurrence of noise with respect to the measurement data measured by the vibration measuring unit 1
  • the average value in the second difference is obtained by integrating (adding all) the second differences of the respective frequencies and dividing by the number of the respective frequencies.
  • the first determination threshold thb is appropriately set so that an index value ⁇ ( ⁇ ) at the time of occurrence of abnormality and an index value ⁇ ( ⁇ ) at the time of occurrence of noise can be separated from a plurality of cases. Is set.
  • a subtraction result obtained by subtracting an intermediate value (median) in the second difference from the maximum value in the second difference between the noise generation frequency spectrum and the normal frequency spectrum.
  • the right side of FIG. 8B shows a second subtraction result obtained by subtracting the intermediate value of the second difference from the maximum value of the second difference between the frequency spectrum at the time of abnormality occurrence and the frequency spectrum at the time of normality (at the time of contact abnormality, This is significantly larger than the left side of FIG. 8B.
  • the noise determination unit 224 determines whether the abnormality determination is caused by noise based on a subtraction result (second subtraction result) obtained by subtracting an intermediate value (median) in the second difference from the maximum value in the second difference. It may be determined whether or not. In this case, preferably, the noise determination unit 224 compares the second subtraction result with a preset threshold (second determination threshold) thc, and the second subtraction result is greater than the second determination threshold thc.
  • second determination threshold preset threshold
  • FIG. 10 is a flowchart illustrating the operation of the rotating machine abnormality detection device according to the embodiment.
  • Rotating machine abnormality detection device AD executes a control processing program when, for example, a start switch (not shown) is operated by a user to start operation of rotating machine M.
  • the control processing unit 2 has a control unit 21 and an abnormality detection unit 22 functionally configured.
  • the abnormality detection unit 22 includes a spectrum processing unit 221 and a feature amount processing unit 222 (here, a feature amount processing unit). 222a), the abnormality determination unit 223 and the noise determination unit 224 are functionally configured, and the A-subspectral processing unit 2211 and the B-subspectral processing unit 2212 are functionally configured in the spectrum processing unit 221. Then, the rotating machine abnormality detection device AD detects an abnormality of the rotating machine M by the following operation.
  • the vibration measurement unit 1 observes the vibration in the rotating machine M and outputs the measurement result of the vibration to the control processing unit 2.
  • the rotating machine abnormality detection device AD collects measurement data by the control processing unit 2 (S1). More specifically, in the above-described state, the control processing unit 2 uses the measurement result (output of the vibration measurement unit 1) input from the vibration measurement unit 1 at a predetermined sampling interval by the control unit 21 as measurement data. Sampling is performed, and this is stored in the measurement data temporary storage unit 61 of the storage unit 6. As a result, the measurement results are continuously measured with a sampling interval, and measurement data including a plurality of time-series data is stored in the measurement data temporary storage unit 61.
  • each time-series measurement data is stored to the full storage capacity of the measurement data temporary storage unit 61 (to the storage area secured as the measurement data temporary storage unit 61 in the storage unit 6), it is sampled the oldest in time.
  • the stored measurement data is deleted from the measurement data temporary storage unit 61, and the newly sampled measurement data is stored in the measurement data temporary storage unit 61.
  • the rotating machine abnormality detection device AD uses the latest information stored in the storage unit 6 by the A-subspectral processing unit 2211 (or C-subspectral processing unit 2213) of the spectrum processing unit 221 in the abnormality detection unit 22.
  • Measurement data including measurement data that has been measured (sampled), and measurement data in a predetermined time range set in advance (each measurement measured from the latest measurement time point to a time point that is back by a time corresponding to the predetermined time range)
  • the RMS of the measurement data (or the envelope of the measurement data) is obtained from the measurement data obtained as a result, and the RMS of the measurement data (or the envelope of the measurement data) is measured by fast Fourier transform (FFT).
  • FFT fast Fourier transform
  • a first frequency spectrum (or C-frequency spectrum) of data is obtained (S2).
  • the measurement data may be filtered by the high-pass filter 2214 before obtaining the RMS and the envelope.
  • the rotating machine abnormality detection device AD obtains the predetermined feature amount CV based on the frequency spectrum obtained by the spectrum processing unit 221 by the feature amount processing unit 222 of the abnormality detection unit 22 (S3).
  • each of the fundamental wave component F1 and the nth-order harmonic component Fn is included in order to include each component of the fundamental wave component F1 and the nth-order harmonic component Fn in consideration of the rotational speed error of the rotating body 81.
  • the preceding and following numerical data may be added to the sum.
  • the rotating machine abnormality detection device AD determines the presence or absence of abnormality in the rotating machine M based on the predetermined feature value CV obtained by the feature value processing unit 222 by the abnormality determination unit 223 of the abnormality detection unit 22 ( S4). More specifically, here, the abnormality determination unit 223 determines whether or not the feature amount CVa of the first aspect obtained by the feature amount processing unit 222a is equal to or greater than the predetermined threshold (abnormality determination threshold) tha. Thus, the presence or absence of abnormality in the rotating machine M is determined.
  • the predetermined threshold abnormality determination threshold
  • the abnormality determining unit 223 determines that there is an abnormality in the rotating machine M when the feature amount CVa of the first aspect obtained by the feature amount processing unit 222a is equal to or greater than the abnormality determination threshold value tha (Yes).
  • the process S5 is executed.
  • the abnormality determination unit 223 determines that there is no abnormality in the rotating machine M when the feature amount CVa of the first aspect obtained by the feature amount processing unit 222a is not equal to or greater than the abnormality determination threshold value tha ( No), next, process S11 is performed.
  • the B-subspectral processing unit 2212 performs B-subspect processing from the measurement data used for this determination.
  • a frequency spectrum is obtained, the obtained B-frequency spectrum is stored as a normal frequency spectrum in the normal frequency spectrum storage unit 62 of the storage unit 6, and the process returns to the process S2.
  • the normal frequency spectrum storage unit 62 stores the normal frequency spectrum
  • the normal frequency spectrum storage unit 62 is updated with the obtained B-frequency spectrum, and the obtained B-frequency spectrum is normal. It is stored in the frequency spectrum storage unit 62.
  • the normal frequency spectrum storage unit 62 of the storage unit 6 stores the B-frequency spectrum of the measurement data measured by the vibration measurement unit 1 when the abnormality determination unit 223 has recently determined that there is no abnormality. Stored (updated and stored) as a frequency spectrum.
  • the rotating machine abnormality detection device AD determines whether the abnormality determination in the process S4 is caused by noise based on the frequency spectrum obtained by the spectrum processing unit 221 by the noise determination unit 224 of the abnormality detection unit 22. Determine whether or not. More specifically, in the present embodiment, the noise determination unit 224 first obtains the B-frequency spectrum of the measurement data by the B-subspectral processing unit 2212 of the spectrum processing unit 221, and the obtained B-frequency spectrum. And the normal frequency spectrum stored in the normal frequency spectrum storage unit 62 of the storage unit 6 (second difference). As described above, the measurement data may be filtered by the high-pass filter 2214 before obtaining the B-frequency spectrum.
  • the noise determination unit 224 obtains a subtraction result (first subtraction result) obtained by subtracting the average value in the second difference from the maximum value in the second difference. Then, the noise determination unit 224 compares the first subtraction result with a predetermined threshold (first determination threshold) thb set in advance, and thereby the abnormality determination is caused by noise based on the first subtraction result. It is determined whether or not. As a result of this determination, when the first subtraction result is greater than the first determination threshold thb (or when the first subtraction result is greater than or equal to the first determination threshold thb), the noise determination unit 224 It is determined that the determination is caused by noise (Yes), and the process returns to the process S2.
  • first determination threshold predetermined threshold
  • the determination result determined to be abnormal by the abnormality determination unit 223 in step S4 is discarded.
  • the noise determination unit 224 determines that the first subtraction result is less than or equal to the first determination threshold thb (or the first subtraction result is less than the first determination threshold thb). It is determined that the determination of the abnormality is not due to noise (No), and then processing S6 is executed.
  • the intermediate value (median) may be used instead of the average value, and in this case, the third determination threshold thc is used instead of the first determination threshold thb.
  • the rotating machine abnormality detection device AD uses the determination result determined by the abnormality determination unit 223 of the abnormality detection unit 22 to be abnormal by the abnormality determination unit 223 in process S4 as a final determination result. 21, the determination result of process S4 (abnormal) is output to the output unit 4.
  • the rotating machine abnormality detection device AD determines whether or not the control processing unit 2 is finished, that is, whether or not the next abnormality determination is unnecessary (S7). As a result of this determination, the control processing unit 2 ends the process when it is finished (unnecessary) (Yes), and returns the process to process S2 when it is not finished (unnecessary) (No). Note that a standby process (wait process) that waits for a predetermined time before returning the process to process S2 may be performed. As a result, the abnormality determination is continuously performed every predetermined time.
  • the rotating machine abnormality detection device AD in this embodiment, the rotating machine abnormality detection method mounted thereon, and the rotating machine M including the same are determined by the noise determination unit 224 not to be caused by the noise. If the abnormality is determined by the abnormality determination unit 223, the abnormality is finally determined to be abnormal. Therefore, the determination of the abnormality caused by the noise and the determination of the abnormality not caused by the noise can be distinguished, and the abnormality is more reliable. It can be judged by degree. Then, when the abnormality determining unit 223 determines that the rotating machine abnormality detection device AD, the method, and the rotating machine M are abnormal, the noise determining unit 224 performs the determination process. When the unit 223 determines that there is no abnormality, the noise determination unit 224 does not perform the determination process, so that the data processing amount can be reduced.
  • the rotating machine abnormality detection device AD, the method, and the rotating machine M determine whether or not the abnormality determination is caused by noise on the basis of a normal frequency spectrum. Can be detected, and abnormality can be determined with higher reliability. In particular, by determining whether the abnormality determination is due to noise based on the most recent normal frequency spectrum, even when the normal frequency spectrum changes, noise that occurs occasionally but not always is more accurately detected. Can be caught.
  • FIG. 6, FIG. 7, FIG. 9 Since the rotating machine abnormality detection device AD, the method, and the rotating machine M determine whether the abnormality determination is caused by noise based on the first subtraction result, FIG. 6, FIG. 7, FIG.
  • the characteristics described with reference to FIG. 9 can be used, and abnormality can be determined with higher reliability.
  • the rotating machine abnormality detection device AD, the method, and the rotating machine M have the characteristics described with reference to FIGS. 6, 7, and 8B. Can be used, and abnormality can be determined with higher reliability.
  • the rotating machine abnormality detection device AD, the method, and the rotating machine M have a frequency VA / MA obtained by dividing the first rotational frequency VA by the first tooth number MA as a fundamental wave mesh frequency f1 [Hz], and the first tooth number
  • the least common multiple of MA and the second number of teeth MB is XAB
  • the rotating machine abnormality detection device AD, the method, and the rotating machine M determine the presence or absence of contact based on the frequency components F1 and Fn applied to all the combinations of these contacts, so that the abnormality can be determined with higher accuracy. .
  • the rotating machine abnormality detection device AD, the method, and the rotating machine M can remove background noise distributed in a relatively low frequency band, and can detect abnormality with higher accuracy.
  • background noise in a compressor is mainly caused by vibration, it is strongly distributed in a relatively low frequency band, while a signal due to contact is also strongly generated in a high frequency band. From such a difference in characteristics, the performance of detecting the presence or absence of contact can be improved by providing the high-pass filter 2214.
  • the number of vibration measurement units 1 is one, but a plurality of vibration measurement units 1 may be provided, and each measurement data measured by each vibration measurement unit 1 may be individually processed.
  • the feature amount processing unit 222 is configured to include the feature amount processing unit 222a for obtaining the feature amount CVa of the first aspect. However, the feature amount for obtaining the feature amounts CVb to CVe of the second to fifth aspects.
  • the processing units 222b to 222e may be provided.
  • FIG. 11 is a diagram for explaining the feature quantity of the second mode.
  • the horizontal axis in FIG. 11 is time, and the vertical axis is the amount of change.
  • FIG. 12 is a diagram showing the time change of the frequency spectrum before and after the occurrence of abnormality.
  • FIG. 12A shows a frequency spectrum 10 seconds before the occurrence of contact
  • FIG. 12B shows a frequency spectrum 5 seconds before the occurrence of contact
  • FIG. 12C shows a frequency spectrum at the time of occurrence of contact
  • FIG. The frequency spectrum after 2 seconds is shown.
  • Each horizontal axis in each figure of FIG. 12 is a frequency, and those vertical axes are component values (spectral intensity, spectral value).
  • FIG. 13 is a diagram for explaining the feature amount of the third aspect.
  • FIG. 13 is a diagram for explaining the feature amount of the third aspect.
  • FIG. 13A shows each component of the fundamental wave mesh frequency f1 and the nth harmonic mesh frequency fn
  • FIG. 13B shows each non-harmonic component.
  • FIG. 14 is a diagram illustrating an example of model information regarding the feature amount of the fourth aspect.
  • FIG. 15 is a diagram for explaining how to obtain the model information shown in FIG. FIG. 15A shows the RMS of measurement data in the case of contact with one tooth in 12 teeth, and FIG. 15B shows a part of the result of the Fourier transform.
  • FIG. 16 is a diagram illustrating an example of a determination result of abnormality using the feature amount of the fifth aspect.
  • the horizontal axis in FIG. 16 is an example, and the vertical axis is a feature amount (index value ⁇ ).
  • the feature amount CVb of the second aspect is a change amount in the fundamental wave component F1 and the nth-order harmonic component Fn, more specifically, a change amount in the fundamental wave component F1 and the nth-order harmonic component Fn with respect to time. is there.
  • the frequency spectrum changes as shown in FIG. 12, and as a result, the amount of change in the fundamental wave component F1 and the nth-order harmonic component Fn over time is as shown in FIG. To change. More specifically, before contact occurs, the frequency spectrum hardly changes as shown in FIGS. 12A and 12B. As a result, the amount of change is also substantially zero as shown in FIG.
  • the frequency spectrum changes as shown in FIG. 12C, and this change appears as the amount of change as shown in FIG.
  • the frequency spectrum further changes as shown in FIG. 12D, and this change appears as a larger amount of change as shown in FIG.
  • the amount of change in the fundamental wave component F1 and the nth-order harmonic component Fn over time can be used as an index for evaluating the presence or absence of abnormality, and is suitable as one of the predetermined feature amounts CV. is there.
  • the feature quantity processing unit 222 uses the first and second frequencies of the first and second measurement data measured in the first and second periods different from each other. From each spectrum, the fundamental wave component F1 and the nth-order harmonic component Fn for each of the first and second periods are obtained, and the fundamental wave component F1 and the nth-order harmonic for each of the obtained first and second periods are obtained.
  • a feature amount processing unit 222b for obtaining the amount of change in the component Fn as the feature amount CVb of the second aspect is configured. More specifically, the feature amount processing unit 222b calculates the square sum of the difference of each component in the fundamental wave component F1 and the nth-order harmonic component Fn in the first and second periods.
  • Fi_now 1 to n
  • the feature amount processing unit 222b obtains the change amount, that is, the feature amount CVb of the second mode, as shown in the following equation 2.
  • the period for calculating the average value Fi_past is appropriately set according to the cycle of changing the operating condition in the target rotating machine M or the like.
  • CVb ⁇ (Fi_now ⁇ Fi_past) 2 (2)
  • the output of the vibration measuring unit 1 changes relatively greatly as described above.
  • the change amount CVb in the fundamental wave component F1 and the n-th harmonic component Fn in each of the first and second periods, in particular, the square sum CVb of the difference for each component in the equation 2 is the periodicity of the contact. Since it represents a change, it has a characteristic that it becomes relatively large when contact occurs from a non-contact state or when the contact state itself changes.
  • the rotating machine abnormality detection device AD for obtaining the feature value CVb of the second aspect, the method mounted thereon, and the rotating machine M using the same are used as the predetermined feature value CV. Therefore, it is possible to detect the time point when the contact occurs from the non-contact state or the time point when the contact state itself changes with higher accuracy. Even if the background noise is relatively large, if the trend does not change, the amount of change does not increase. Therefore, the rotating machine abnormality detection device AD, the method, and the rotating machine M are excessive. Detection can be reduced.
  • the amount is also based on the non-harmonic component G of the predetermined frequency g existing between the measured frequencies.
  • the feature quantity processing unit 222 uses the nth-order harmonics from the frequency spectrum obtained by the spectrum processing unit 221 to the fundamental frequency f1 and the least common multiple XAB.
  • a feature amount processing unit 222c for obtaining the feature amount CVc of the third aspect based on the harmonic component G is provided.
  • the feature amount processing unit 222c performs the nth-order harmonic mesh frequency fn from the frequency spectrum obtained by the spectrum processing unit 221 to the fundamental wave mesh frequency f1 and the least common multiple XAB.
  • the component sum ratio obtained by dividing the sum of the fundamental component F1 and the n-th harmonic component Fn (see FIG. 13A) obtained by the sum of the non-harmonic components Gk (see FIG. 13B) obtained in the third aspect is obtained. Obtained as a feature value CVc.
  • ⁇ Single electric noise or the like may be superimposed on the output of the vibration measuring unit 1 such as an AE sensor.
  • the rotating machine abnormality detection device AD for obtaining the feature value CVc of the third aspect, the method mounted thereon, and the rotating machine M using the same include the non-harmonic component G in consideration of the predetermined feature value CV. Therefore, it is possible to avoid the influence of such superposition of single electric noise or the like on the detection of abnormality, and to reduce noise without periodicity.
  • the feature quantity CVd of the fourth mode is the degree of coincidence obtained with each of a plurality of models generated in advance for each mode of abnormality in the first and second rotating bodies 81-1 and 81-2. It is the maximum value.
  • the model is composed of model values of the fundamental wave component F1 and the n-th harmonic component Fn corresponding to the abnormal state.
  • the degree of coincidence is a value representing the degree of coincidence between the fundamental wave component F1 and the nth-order harmonic component Fn obtained from the frequency spectrum of the measurement data measured by the vibration measuring unit 1 and the model.
  • the rotating machine abnormality detection device AD stores the abnormality aspect in the storage unit 6 for each abnormality aspect, as indicated by a broken line in FIG.
  • a model information storage unit 63 is further provided that stores in advance the corresponding model values of the fundamental wave component F1 and the n-th harmonic component Fn as model information.
  • the feature-value process part 222 is the said fundamental wave component F1 calculated
  • a feature amount processing unit 222d that obtains the degree of coincidence with the model) and obtains the maximum degree of coincidence as the feature amount CVd of the fourth aspect from the degree of coincidence obtained for each of the abnormal aspects is configured.
  • the model information is stored in the model information storage unit 63 in a table format.
  • the model information table MT includes a contact model field 631 for registering a model name, and coefficients for registering each model value of a model represented by the model name registered in the contact model field 631.
  • the coefficient field 632 includes subfields of the least common multiple XAB of the first tooth number MA and the second tooth number MB in order to register each model value.
  • the first number of teeth MA of the first rotating body 81-1 is three
  • the second number of teeth MB of the second rotating body 81-2 is four.
  • the model information table MT six models in which abnormalities in which contact occurs periodically are modeled are registered, and 12 teeth that are abnormal in contact with one of these 12 combinations.
  • Middle 1-tooth contact
  • each model value ai is registered
  • each of the 12-tooth contact which is an abnormal contact with 2 teeth of the 12 combinations
  • each model of 2-tooth contact The second row record for registering the value ai and the third row for registering each model value ai for the three-tooth contact during the 12-tooth engagement, which is an abnormality in contact with the three teeth of the 12 combinations.
  • Each model value ai of each model is obtained by, for example, actually measuring a plurality of samples from the rotating machine M that actually causes contact abnormality, and performing statistical processing from the plurality of samples while performing fundamental processing on the fundamental wave component F1 and the nth harmonic component. It is calculated
  • FIG. 15A shows a part of the result of the fast Fourier transform.
  • FIG. 15B shows a part of the result of the fast Fourier transform).
  • the feature amount processing unit 222d models each value Fi of the fundamental wave component F1 and the nth harmonic component Fn obtained from the frequency spectrum of the measurement data measured by the vibration measurement unit 1.
  • the feature quantity processing unit 222d obtains the maximum value among the respective division results (each matching degree) obtained for each model as the feature quantity CVd of the fourth mode.
  • the rotating machine abnormality detection device AD for obtaining the feature value CVd of the fourth aspect, the method implemented therein, and the rotating machine M using the same have the degree of coincidence obtained for each abnormality aspect (in the above-described contact aspect). Since the maximum degree of coincidence is obtained as the predetermined feature amount, it is possible to discriminate between electrical pulse noise, noise with a single and relatively large amplitude due to external impact, and abnormalities such as contact, etc. Anomalies can be detected with accuracy.
  • the abnormality determination unit 223 has the largest degree of coincidence among the coincidence degrees obtained for each abnormality aspect by the feature amount processing unit 222d. It may be determined that there is an abnormality in the rotating machine M in an abnormal manner. For example, during 12 teeth, 1 tooth contact, 12 teeth, 2 teeth contact, 12 teeth, 3 teeth contact, 12 teeth, 4 teeth contact Of 12 teeth, 6 teeth contact, and 12 teeth, 12 teeth contact, the maximum agreement is 12 teeth, 2 teeth contact If it is the degree, the abnormality determining unit 223 determines that there is an abnormality in the two-tooth contact during the twelve teeth. According to this, an abnormality mode can be detected.
  • the feature amount CVe of the fifth aspect is an amount based on a plurality of the aforementioned sum, change amount, component sum ratio, and maximum matching degree.
  • the feature quantity processing unit 222 performs a plurality of processes among the summation process, the change amount process, the component summation ratio process, and the maximum matching degree process, The feature amount processing unit 222e for obtaining the feature amount CVe of the fifth aspect based on the processing results of the plurality of processes is provided.
  • the summation process is a process for obtaining the sum CVa of the fundamental wave component F1 and the nth-order harmonic component Fn.
  • the change amount processing obtains the fundamental wave component F1 and the nth-order harmonic component Fn for the first and second periods from the first and second frequency spectra, respectively, This is a process for obtaining the change amount CVb in the fundamental wave component F1 and the n-th harmonic component Fn in each of the two periods.
  • Each non-harmonic component Gi (i is an integer in the range from 1 to (n-1)) of each predetermined frequency gi in the above, and the obtained fundamental wave component F1 and n-order harmonic component Fn Is obtained by dividing the sum total by the sum of the obtained non-harmonic components Gi.
  • the maximum coincidence degree processing obtains the degree of coincidence indicating the degree of coincidence between the obtained fundamental wave component F1 and the nth-order harmonic component Fn and the model information for each abnormality aspect, and obtained for each abnormality aspect. This is a process for obtaining the maximum matching degree CVd from the matching degrees.
  • the feature amount processing unit 222e obtains the feature amount CVe of the fifth aspect by the following equation 4, for example.
  • CVe p1 * CVa + p2 * CVb + p3 * CVc + p4 * CVd (4)
  • the feature amount processing unit 222e obtains the feature amount CVe of the fifth aspect by the following equation 5, for example.
  • CVe CVa p1 * CVb p2 * CVc p3 * CVd p4 (5)
  • the parameters p1 to p4 (real numbers) in the equations 4 and 5 are the sum CVa, the change CVb, the component obtained from the measurement data actually measured by the vibration measuring unit 1 when the contact occurs.
  • the sum ratio CVc, the maximum coincidence CVd, the sum CVa, the variation CVb, the component sum ratio CVc, and the maximum coincidence CVd obtained from the measurement data actually measured by the vibration measurement unit 1 when there is no contact By using this, a value capable of suitably discriminating the presence or absence of contact can be obtained by a technique such as multiple regression analysis.
  • FIG. 16 shows the result of the feature value CVe ( ⁇ ) obtained from the measured data obtained by Expression 5.
  • the distribution of the feature value CVe ( ⁇ ) in the case of contact and the distribution of the feature value CVe (x) in the case of non-contact are substantially clearly separated. The presence or absence of abnormality due to contact can be discriminated by the amount CVe.
  • the rotating machine abnormality detection device AD for obtaining the feature value CVe of the fifth aspect, the method mounted thereon, and the rotating machine M using the same are based on the processing results of the plurality of processes performed above. Since CVe is obtained, an abnormality can be detected with higher accuracy.
  • equations 4 and 5 all four of the sum CVa, the change amount CVb, the component sum ratio CVc, and the maximum coincidence CVd are used. However, these equations 4 and 5 represent the sum CVa and the change amount. Two of any combination of CVb, component sum ratio CVc, and maximum coincidence CVd may be used, and these equations 4 and 5 are expressed as sum CVa, change amount CVb, component sum ratio CVc. And any three of the maximum matching degrees CVd may be used.
  • the sum CVa, the change amount CVb, the component sum ratio CVc, and the maximum coincidence CVd are used to extract a signal indicating abnormality of the rotating body 81 included in the measurement data of the vibration measuring unit 1 or Since these are appropriate amounts for removing various noises included in the measurement data of the vibration measuring unit 1, these equations 4 and 5 are preferably given by the sum CVa, the change amount CVb, the component sum ratio CVc, and the maximum Of the degree of coincidence CVd of each of the two, and may be configured by a combination of two according to the above-mentioned purpose. Preferably, these expressions 4 and 5 are expressed by the sum CVa, the variation CVb, the component sum ratio CVc and Of the maximum coincidence degree CVd, it may be composed of an appropriate combination of three according to the purpose.
  • the diagnostic device disclosed in Patent Document 1 and the abnormal contact detection device disclosed in Patent Document 2 do not individually detect the contact mode and are different from the present embodiment.
  • An abnormality detection device for a rotating machine includes an abnormality in a rotating machine including at least first and second rotating bodies that rotate about predetermined axes while being engaged with each other at a predetermined interval in a normal state.
  • a rotating machine abnormality detection device that detects vibrations, a vibration measuring unit that measures vibration caused by at least one of the first and second rotating bodies, and a measurement data measured by the vibration measuring unit.
  • An abnormality determination unit that determines the presence or absence of an abnormality in the rotating machine based on the amount, and the spectrum processing when the abnormality determination unit determines that there is an abnormality.
  • a noise determination unit that determines whether or not the determination of the abnormality is caused by noise based on the frequency spectrum obtained in step (i), and the abnormality determination unit is further configured so that the noise determination unit does not depend on the noise. When it is determined, the determined abnormality is finally regarded as an abnormality.
  • the spectrum processing unit obtains an RMS (Root Mean Square) of the measurement data measured by the vibration measurement unit, and the RMS of the obtained measurement data is Fourier transformed.
  • An A-subspectral processing unit that obtains an A-frequency spectrum (A-power spectrum) of the measurement data by transforming (preferably fast Fourier transform), and measurement data measured by the vibration measuring unit are directly subjected to Fourier transform (preferably Includes a B-subspectral processing unit that obtains a B-frequency spectrum (B-power spectrum) of the measurement data by performing a fast Fourier transform, and the feature amount processing unit is obtained by the A-subspectral processing unit.
  • the predetermined feature amount is obtained based on the A-frequency spectrum.
  • the noise judgment unit, the B- subspectrum processor determination of the abnormality based on the obtained B- frequency spectrum is determined whether due to noise.
  • the spectrum processing unit obtains an envelope (envelope) of measurement data measured by the vibration measurement unit, and Fourier transforms (preferably a high speed) on the obtained measurement data envelope.
  • Fourier transform the C-subspectrum processing unit for obtaining the C-frequency spectrum (C-power spectrum) of the measurement data, and the measurement data measured by the vibration measurement unit are directly subjected to Fourier transform (preferably fast Fourier transform).
  • a B-subspectrum processing unit for obtaining a B-frequency spectrum (B-power spectrum) of the measurement data, wherein the feature amount processing unit is a C-frequency spectrum obtained by the C-subspectral processing unit.
  • the predetermined feature value is obtained based on the noise, and the noise determination unit.
  • the abnormality determination based on the B- frequency spectrum obtained by the sub-spectrum processing unit determines whether due to noise.
  • the rotating machine abnormality detection device when the noise determination unit determines that the noise is not caused by the noise, the abnormality determined by the abnormality determination unit is finally determined to be abnormal. It is possible to discriminate between the determination of abnormality and the determination of abnormality that does not depend on the noise, and the abnormality can be determined with higher reliability.
  • the rotating machine abnormality detection device performs the determination process when the abnormality determination unit determines that there is an abnormality. Therefore, the abnormality determination unit determines that there is no abnormality. In such a case, since the noise determination unit does not perform the determination process, the data processing amount can be reduced accordingly.
  • the storage stores the frequency spectrum of the measurement data measured by the vibration measurement unit as a normal time frequency spectrum
  • the noise determination unit determines whether the abnormality determination is caused by noise based on a difference between the frequency spectrum obtained by the spectrum processing unit and a normal frequency spectrum stored in the storage unit. judge.
  • the vibration measurement unit measures the vibration at a predetermined sampling interval set in advance, and each measurement data measured at the predetermined sampling interval by the vibration measurement unit.
  • the spectrum processing unit obtains the frequency spectrum
  • the feature amount processing unit obtains the predetermined feature amount
  • the abnormality determination unit determines presence / absence of the abnormality
  • the storage unit includes the abnormality
  • the frequency spectrum of the measurement data measured by the vibration measurement unit when it is most recently determined by the determination unit that there is no abnormality is stored (updated and stored) as a normal frequency spectrum.
  • Such a rotating machine abnormality detection device determines whether or not the abnormality determination is caused by noise on the basis of a normal frequency spectrum. Can be determined with higher reliability. In particular, by determining whether the abnormality determination is due to noise based on the most recent normal frequency spectrum, even when the normal frequency spectrum changes, noise that occurs occasionally but not always is more accurately detected. Can be caught.
  • the noise determination unit determines the abnormality based on a subtraction result (first subtraction result) obtained by subtracting an average value in the difference from a maximum value in the difference. It is determined whether or not the noise is caused by noise.
  • the noise determination unit compares the first subtraction result with a preset threshold (first determination threshold), and the first subtraction result is the first determination threshold. If greater (or if the first subtraction result is greater than or equal to the first determination threshold), it is determined that the abnormality determination is due to noise, and the first subtraction result is less than or equal to the first determination threshold. In the case (or when the first subtraction result is less than the first determination threshold value), it is determined that the abnormality determination is not caused by noise.
  • the rotating machine abnormality detection device determines whether or not the abnormality determination is caused by noise based on the first subtraction result, and the characteristics described later with reference to FIGS. 6, 7, 8 ⁇ / b> A, and 9. Can be used, and abnormality can be determined with higher reliability.
  • the noise determination unit is based on a subtraction result (second subtraction result) obtained by subtracting an intermediate value (median) in the difference from a maximum value in the difference. Then, it is determined whether or not the abnormality determination is caused by noise.
  • the noise determination unit compares the second subtraction result with a preset threshold (second determination threshold), and the second subtraction result is the second determination threshold. If greater (or if the second subtraction result is greater than or equal to the second determination threshold), it is determined that the abnormality determination is due to noise, and the second subtraction result is less than or equal to the second determination threshold. In the case (or when the second subtraction result is less than the second determination threshold value), it is determined that the abnormality determination is not caused by noise.
  • the rotating machine abnormality detection device determines whether or not the abnormality determination is caused by noise based on the second subtraction result. Therefore, the characteristics described later with reference to FIGS. 6, 7 and 8B can be used. The abnormality can be determined with higher reliability.
  • the feature amount processing unit sets the first tooth number and the first rotation frequency of the first rotating body to MA [pieces] and VA [Hz], respectively.
  • the second number of teeth of the second rotating body is MB [pieces]
  • the least common multiple of the first number of teeth MA and the second number of teeth MB is XAB
  • the first rotational frequency VA is the first tooth.
  • the fundamental wave mesh frequency VA / MA divided by several MA is f1 [Hz]
  • the nth harmonic mesh frequency (n is an integer of 2 or more) with respect to the fundamental wave mesh frequency f1 is fn [Hz].
  • the obtained fundamental wave component F1 and the nth order Determining the predetermined feature amounts based on the harmonic component Fn.
  • the vibration measuring unit measures at least one of an audible band vibration and an ultrasonic band vibration.
  • the feature amount processing unit obtains a sum total of the obtained fundamental wave component F1 and n-order harmonic component Fn as the predetermined feature amount.
  • the abnormality determination unit determines whether there is an abnormality in the rotating machine according to whether or not the feature amount obtained by the feature amount processing unit is equal to or greater than a predetermined threshold value. Determine.
  • the frequency VA / MA obtained by dividing the first rotation frequency VA by the first tooth number MA is set as a fundamental wave engagement frequency f1 [Hz], and the first tooth number MA and the second tooth number.
  • the spectrum processing unit includes first and second frequency spectra of first and second measurement data measured in different first and second periods, respectively. And the feature amount processing unit obtains the fundamental wave component F1 and the n-th harmonic component Fn of the first and second periods from the first and second frequency spectra, respectively. The amount of change in the fundamental wave component F1 and the nth harmonic component Fn in each of the first and second periods is obtained as the predetermined feature amount.
  • the feature amount processing unit may calculate a difference for each component in the fundamental wave component F1 and the n-th harmonic component Fn in the first and second periods obtained. Is calculated as the amount of change.
  • the output of the vibration measurement unit changes relatively greatly, but even in the case of non-contact, for example, when the operating condition of the rotating machine changes, the output of the vibration measurement unit changes gradually. There is a case. Since the amount of change in the fundamental wave component F1 and the nth-order harmonic component Fn in each of the first and second periods, in particular, the sum of squares of the difference of each component in them, represents a change in contact periodicity. It has a feature that it becomes relatively large when contact occurs from a non-contact state or when the contact state itself changes.
  • the rotating machine abnormality detection device obtains such a change amount as the predetermined feature amount, when the contact occurs from the non-contact state or when the contact state itself changes, It can be detected accurately. Even if the background noise is relatively large, if the trend does not change, the amount of change does not increase. Therefore, the rotating machine abnormality detection device can reduce overdetection.
  • the feature amount processing unit includes an nth-order harmonic mesh frequency fn (from the frequency spectrum to the fundamental wave mesh frequency f1 and the least common multiple XAB).
  • n 2 to XAB
  • a non-harmonic component G having a predetermined frequency g existing between adjacent frequencies is further obtained, and the obtained fundamental wave component F1, n-order harmonic component Fn, and non-harmonic component G are obtained. Based on this, the predetermined feature amount is obtained.
  • each non-harmonic component Gk (k is an integer in the range from 1 to (XAB-1)) of each predetermined frequency gk existing between the adjacent frequencies is obtained, and the obtained basic A component sum ratio obtained by dividing the sum of the wave component F1 and the n-th harmonic component Fn by the sum of the obtained non-harmonic component Gk is obtained as the predetermined feature amount.
  • ⁇ Single electrical noise may be superimposed on the output of the vibration measurement unit.
  • the rotating machine abnormality detection apparatus obtains the predetermined feature amount by further considering the non-harmonic component G, and therefore, it is possible to avoid the influence of superimposition of such single electric noise on abnormality detection, Noise can be reduced.
  • the fundamental wave component F1 and the nth-order harmonic component Fn corresponding to the abnormality aspect for each abnormality aspect in the first and second rotating bodies.
  • a model information storage unit that stores each model value as model information in advance, and the feature amount processing unit includes the obtained fundamental wave component F1 and nth-order harmonic component Fn and the model for each abnormality mode.
  • the degree of coincidence representing the degree of coincidence with the information is obtained, and the maximum degree of coincidence is obtained as the predetermined feature amount from among the degree of coincidence obtained for each of the abnormal modes.
  • Such a rotating machine abnormality detection apparatus obtains the maximum degree of coincidence among the degrees of coincidence obtained for each aspect of the abnormality as the predetermined feature amount. Noise having a relatively large amplitude and abnormalities such as contact can be distinguished, and abnormalities can be detected with higher accuracy.
  • the abnormality determination unit is an abnormality mode having a maximum degree of coincidence among the degree of coincidence obtained for each abnormality state by the feature amount processing unit. It is determined that there is an abnormality in the rotating machine.
  • Such a rotating machine abnormality detection device can detect an abnormality mode.
  • the fundamental wave component F1 and the nth-order harmonic component Fn corresponding to the abnormality aspect for each abnormality aspect in the first and second rotating bodies.
  • a model information storage unit for storing each model value in advance as model information, wherein the spectrum processing unit includes first and second measurement data of first and second measurement data measured in different first and second periods, respectively.
  • the feature amount processing unit obtains the first and second frequency spectra from the summation processing for obtaining the sum of the obtained fundamental wave component F1 and the nth-order harmonic component Fn, and the first and second frequency spectra, respectively.
  • the fundamental wave component F1 and the nth-order harmonic component Fn of each second period are obtained, and the fundamentals of the obtained first and second periods are obtained.
  • Component sum ratio processing for obtaining a component sum ratio obtained by dividing the sum of the fundamental wave component F1 and the n-th order harmonic component Fn by the sum of the obtained non-harmonic components Gi, and the obtained fundamental wave for each of the abnormal modes.
  • the maximum coincidence degree processing for obtaining the degree of coincidence representing the degree of coincidence between the component F1 and the nth harmonic component Fn and the model information and obtaining the maximum degree of coincidence from the degree of coincidence obtained for each of the abnormal modes of It performed the number of processing, obtaining the predetermined feature amounts based on the processing results of the plurality of processing performed.
  • Such a rotating machine abnormality detection device obtains the predetermined feature amount based on the processing results of the plurality of processes performed, it is possible to detect an abnormality with higher accuracy.
  • the spectrum processing unit includes a high-pass filter for removing noise and a frequency of measurement data measured by the vibration measurement unit via the high-pass filter.
  • a subspectral processing unit for obtaining a spectrum.
  • Such a rotating machine abnormality detection device includes the high-pass filter, so that background noise distributed in a relatively low frequency band can be removed. Therefore, the rotating machine abnormality detection device can detect an abnormality with higher accuracy.
  • a rotating machine abnormality detecting method for detecting an abnormality wherein a vibration measuring step for measuring vibration caused by at least one of the first and second rotating bodies, and measurement data measured in the vibration measuring step
  • a spectrum processing step for obtaining a frequency spectrum of the first a feature amount processing step for obtaining a predetermined feature amount related to a predetermined frequency component based on the frequency spectrum obtained in the spectrum processing step, and a feature amount obtained in the feature amount processing step Based on the frequency spectrum obtained in the spectrum processing step
  • the rotating machine includes any one of the above-described rotating machine abnormality detection devices.
  • a rotating machine including any one of the above-described rotating machine abnormality detection devices is provided, and since such a rotating machine includes any one of the above-described rotating machine abnormality detection devices, the abnormality is higher. Can be judged by reliability.
  • a rotating machine abnormality detecting device it is possible to provide a rotating machine abnormality detecting device, a rotating machine abnormality detecting method, and a rotating machine including the rotating machine abnormality detecting device.

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Abstract

本発明にかかる回転機異常検出装置、回転機異常検出方法および回転機では、第1および第2回転体のうちの少なくとも一方に起因して生じた振動が測定され、その測定データの周波数スペクトルに基づいて周波数成分に関わる所定の特徴量が求められ、この求めた所定の特徴量に基づいて異常の有無が判定される。その際に、異常が有ると判定された場合に、前記周波数スペクトルに基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かが判定され、前記ノイズに因らないと判定した場合に、前記判定した異常が最終的に異常とされる。

Description

回転機異常検出装置および該方法ならびに回転機
 本発明は、回転機の異常を検出する回転機異常検出装置および回転機異常検出方法ならびに前記回転機異常検出装置を備える回転機に関する。
 例えば、電動機、発電機、圧縮機およびポンプ等の回転機は、所定の軸に対し軸回りに回転する回転体を備えている。このような回転機は、様々なプラントで利用されており、その正常な稼働状態を確保するために、その異常が検出されている。その異常を検出するために、例えば、特許文献1に開示された診断装置や特許文献2に開示された異常接触検出装置がある。
 ところで、センサの出力に基づいて回転機の異常を検出する場合、前記センサの出力にノイズが混入すると、誤検出してしまう虞がある。前記センサの出力に常時に重畳するノイズの場合には、前記ノイズの特徴がその調査によって判明できるので、その判明した前記ノイズの特徴に応じたフィルタによって前記センサの出力をフィルタリング(濾波)することで前記ノイズを除去できる。しかしながら、異常時ではないときどき生じるノイズは、必ずしも再現性が無く、その特徴が掴み難く、したがって、このようなノイズを除去することが難しい。この結果、誤検出してしまう虞がある。
特開平5-231361号公報 特開平9-133577号公報
 本発明は、上述の事情に鑑みて為された発明であり、その目的は、異常をより高い信頼度で判定できる回転機異常検出装置および回転機異常検出方法ならびに前記回転機異常検出装置を備える回転機を提供することである。
 本発明にかかる回転機異常検出装置、回転機異常検出方法および回転機では、第1および第2回転体のうちの少なくとも一方に起因して生じた振動が測定され、その測定データの周波数スペクトルに基づいて周波数成分に関わる所定の特徴量が求められ、この求めた所定の特徴量に基づいて異常の有無が判定される。その際に、異常が有ると判定された場合に、前記周波数スペクトルに基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かが判定され、前記ノイズに因らないと判定した場合に、前記判定した異常が最終的に異常とされる。したがって、本発明にかかる回転機異常検出装置および回転機異常検出方法は、異常をより高い信頼度で判定できる。本発明によれば、このような回転機異常検出装置を備える回転機が提供できる。
 上記並びにその他の本発明の目的、特徴及び利点は、以下の詳細な記載と添付図面から明らかになるであろう。
実施形態における回転機およびこれに備えられた回転機異常検出装置の構成を示すブロック図である。 図1に示す回転機における一例の回転体の上面模式図である。 図2に示す回転体の断面模式図である。 比較的小さなバックグラウンドノイズの場合におけるスペクトル処理を説明するための図である。 比較的大きいバックグラウンドノイズの場合におけるスペクトル処理を説明するための図である。 正常時および異常時における各B-周波数スペクトルならびに正常時およびノイズ発生時における各B-周波数スペクトルを示す図である。 正常時および異常時における各B-周波数スペクトルの差ならびに正常時およびノイズ発生時における各B-周波数スペクトルの差を示す図である。 最大値と平均値との差および最大値と中間値との差を示す図である。 異常時およびノイズ発生時における最大値と平均値との各差を示す図である。 実施形態における回転機異常検出装置の動作を示すフローチャートである。 第2態様の特徴量を説明するための図である。 異常発生前後における周波数スペクトルの時間変化を示す図である。 第3態様の特徴量を説明するための図である。 第4態様の特徴量に関し、モデル情報の一例を示す図である。 図14に示すモデル情報の求め方を説明するための図である。 第5態様の特徴量を用いた異常の判定結果の一例を示す図である。
 以下、本発明にかかる実施の一形態を図面に基づいて説明する。なお、各図において同一の符号を付した構成は、同一の構成であることを示し、適宜、その説明を省略する。本明細書において、総称する場合には添え字を省略した参照符号で示し、個別の構成を指す場合には添え字を付した参照符号で示す。
 図1は、実施形態における回転機およびこれに備えられた回転機異常検出装置の構成を示すブロック図である。図2は、図1に示す回転機における一例の回転体の上面模式図である。図3は、図2に示す回転体の断面模式図である。図4は、比較的小さいバックグラウンドノイズの場合におけるスペクトル処理を説明するための図である。図4Aは、AEセンサで測定された測定データを示し、図4Bは、そのRMSを示し、図4Cは、その周波数スペクトルを示す。図4Aの横軸は、時間(測定開始からの経過時間)であり、その縦軸は、センサ出力の出力レベルである。図4Bの横軸は、時間(測定開始からの経過時間)であり、その縦軸は、RMS値である。図4Cの横軸は、周波数であり、その縦軸は、成分値である。図5は、比較的大きいバックグラウンドノイズの場合におけるスペクトル処理を説明するための図である。図5Aは、AEセンサで測定された測定データを示し、図5Bは、ハイパスフィルタ透過後の測定データを示す。図5AおよびBの各横軸は、時間(測定開始からの経過時間)であり、その各縦軸は、センサ出力の出力レベルである。
 実施形態における回転機(回転機械)は、所定の軸に対し軸回りに回転する回転体を備える装置であり、さらに、本実施形態では、前記回転体の異常を検出するための回転機異常検出装置を備える。より具体的には、例えば、図1に示すように、回転機Mは、第1および第2回転体を少なくとも有する回転部RBと、回転機異常検出装置ADとを備え、この回転機異常検出装置ADは、例えば、振動測定部1と、異常検出部22を持つ制御処理部2とを備える。そして、図1に示す例では、前記回転機異常検出装置ADは、さらに、入力部3と、出力部4と、インターフェース部(IF部)5と、記憶部6とを備えている。
 本実施形態の回転機異常検出装置ADが組み込まれた回転機Mは、例えば、電動機、発電機、圧縮機およびポンプ等の、回転体RBを含む任意の装置であって良いが、ここでは、一例として、回転機Mが圧縮機である場合について以下に説明する。
 この圧縮機としての回転機Mは、前記第1および第2回転体を少なくとも有し、流体を圧送する圧縮機として機能する回転部RBと、前記回転体を回転駆動するための図略の周辺装置とを備える。回転部RBは、例えば、図2および図3に示すように、正常状態において所定のギャップ(間隙)Gを空けて互いに咬合するように係合しつつ所定の各軸に対し軸回りに回転する一対の第1および第2回転体81-1、81-2と、これら第1および第2回転体81-1、81-2を収容するケーシング82とを備える。
 第1回転体81-1は、圧縮機における雄ロータであり、大略、第1回転体本体811-1と、第1回転体本体の周面に形成された複数の凸部812-1と、この第1回転体本体811-1に同軸で設けられた第1回転軸813-1とを備える。このような第1回転体81-1は、第1回転軸813-1を中心に例えば反時計回り(矢印A方向)に回転駆動される。第2回転体81-2は、圧縮機における雌ロータであり、大略、第2回転体本体811-2と、第2回転体本体の周面に形成された複数の凹部812-2と、この第2回転体本体811-2に同軸で設けられた第2回転軸813-2とを備える。このような第2回転体81-2は、第2回転軸813-2を中心に例えば時計回り(矢印B方向)に回転駆動される。
 以下、複数の凸部812-1とは、第1回転体81-1の周面に形成された複数の凸部812-1を意味し、凸部812-1とは、それら複数の凸部812-1のいずれかを意味する。複数の凹部812-2とは、第2回転体81-2の周面に形成された複数の凹部812-2を意味し、凹部812-2とは、それら複数の凹部812-2のいずれかを意味する。
 第1回転体81-1が反時計回りに回転し、かつ、第2回転体81-2が時計回りに回転することによって、複数の凸部812-1および複数の凹部812-2の中で、対応する凸部812-1と凹部812-2とが順番に咬合する。すなわち、第1回転体81-1が反時計回りに回転し、かつ、第2回転体81-2が時計回りに回転することによって、或る凸部812-1と或る凹部812-2とが互いに咬合し、さらにそれぞれ回転することによって、それらの咬合いが解消され、次の凸部812-1と次の凹部812-2とが咬合し、さらにそれぞれ回転することによって、それらの咬合いが解消され、その次の凸部812-1と次の凹部812-2とが咬合する。以下、これが繰り返される。そして、これによって流体が圧縮される。
 凸部812-1と凹部812-2とが咬合するとは、凸部812-1が凹部812-2に入っているが、正常な状態では、凸部812-1と凹部812-2とが接触せずに、前記所定のギャップGを有していることである。凸部812-1と凹部812-2との接触は、第1回転体81-1と第2回転体81-2との接触を意味し、異常な状態の一態様である。
 ケーシング82は、断面長円形であって、各軸が平行となるように並設された第1および第2回転体81-1、81-2を当該ケーシング82の内周面から所定の間隔開けて収容できる空間を有する中空の円柱体である。ケーシング82は、第1および第2回転体81-1、81-2における軸方向の一方側に、圧縮するべき流体を取り入れる図略の流入口が設けられ、その他方側に、第1および第2回転体81-1、81-2によって圧縮された流体を取り出す図略の流出口が設けられている。
 そして、回転機異常検出装置ADによって回転体の異常を検出するために、本実施形態では、ケーシング82の外壁には、予め設定された所定の位置に振動測定部1が取り付けられる。なお、振動測定部1は、ケーシング82の互いに異なる位置に取り付けられた複数であってよい。図2には、その一例として、前記振動測定部1は、軸方向における略中央位置より一方側に寄った位置であってケーシング82の外側壁に取り付けられている。
 振動測定部1は、制御処理部2に接続され、回転機M、特に回転部RBの回転体81に生じた異常を検出するために、回転体81に起因して生じた振動を測定する装置である。本実施形態では、振動測定部1は、第1および第2回転体81-1、81-2のうちの少なくとも一方に起因して生じた振動を測定する。振動測定部1は、好ましくは、可聴帯域の振動および超音波帯域の振動のうちの少なくとも一方の振動を測定する。なお、可聴帯域は、一般的に20Hzないし20kHzの範囲であり、超音波帯域は、一般的に20kHz以上である。このような振動測定部1は、例えばAE(Acoustic Emission)センサ等である。このAEセンサを備える振動測定部1は、例えば接触等の異常により回転体81に起因して生じた所定の波長帯域の弾性波を観測し、それを測定する。振動測定部1で測定した測定結果は、制御処理部2へ出力される。より具体的には、振動測定部1は、振動を観測し、前記振動の測定結果を制御処理部2へ出力する。制御処理部2は、予め設定された所定の時間間隔(サンプリング間隔)で、振動測定部1から入力された測定結果を測定データとしてサンプリングする。これによって制御処理部2は、サンプリング間隔を空けて連続的した時系列な測定データを取得する。
 入力部3は、制御処理部2に接続され、例えば、異常検出の開始を指示するコマンド等の各種コマンド、および、例えば異常検出対象の回転機M(または回転体81)における識別子(ID)の入力等の異常を検出する上で必要な各種データを回転機異常検出装置AD(回転機M)に入力する機器であり、例えば、所定の機能を割り付けられた複数の入力スイッチ等や、キーボードや、マウス等である。出力部4は、制御処理部2に接続され、制御処理部2の制御に従って、入力部3から入力されたコマンドやデータ、および、回転機異常検出装置ADによって検知や測定された各結果を出力する機器であり、例えばCRTディスプレイ、LCD(液晶ディスプレイ)および有機ELディスプレイ等の表示装置やプリンタ等の印刷装置等である。
 IF部5は、制御処理部2に接続され、制御処理部2の制御に従って外部機器との間でデータの入出力を行う回路であり、例えば、シリアル通信方式であるRS-232Cのインターフェース回路、および、USB(Universal Serial Bus)規格を用いたインターフェース回路等である。
 記憶部6は、制御処理部2に接続され、制御処理部2の制御に従って、回転機異常検出装置ADの各部を当該各部の機能に応じて動作させるための制御プログラムや、回転機Mの異常を検出するための異常検出プログラム等の各制御処理プログラム、および、各制御処理プログラムの実行に必要な情報等を記憶する。記憶部6は、制御処理部2に対する所謂ワーキングメモリでもある。記憶部6は、上記各制御処理プログラムやこれに必要な情報等を記憶する、例えばROM(Read Only Memory)等の不揮発性の記憶素子、EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory)等の書換え可能な不揮発性の記憶素子、および、ワーキングメモリとなる例えばRAM(Random Access Memory)等の揮発性の記憶素子およびそれらの周辺回路を備えて構成される。そして、記憶部6は、測定データ一時記憶部61および正常時周波数スペクトル記憶部62を機能的に備える。
 測定データ一時記憶部61は、後述するように、振動測定部1で測定した、少なくとも周波数スペクトルを求めるために必要な測定データ(例えば20秒間や、30秒間や、40秒間や、60秒間等の時系列な測定データ)を一時的に記憶するものである。測定データ一時記憶部61は、その記憶容量一杯に測定データを記憶すると、時間的に最も古く記憶した測定データを削除し、最新の測定データを記憶する。測定データ一時記憶部61の記憶容量は、前記少なくとも周波数スペクトルを求めるために必要な測定データの容量以上である。
 正常時周波数スペクトル記憶部62は、正常時周波数スペクトルを記憶するものである。前記正常時周波数スペクトルは、異常検出部22における後述の異常判定部223によって異常が無いと判定された場合において振動測定部1で測定した測定データの周波数スペクトルである。好ましくは、正常時周波数スペクトル62は、異常判定部223によって異常が無いと直近に判定された場合において、その判定に用いた、振動測定部1で測定した測定データの周波数スペクトルを正常時周波数スペクトルとして記憶(更新して記憶)する。
 なお、記憶部6は、振動測定部1で測定した、周波数スペクトルを求めるために必要な測定データ以上の個数(時間長)の時系列な測定データや、この測定データに所定の各データ処理を施すことによって得られた各種データを記憶するために、例えばハードディスク等の比較的大容量の記憶装置をさらに備えてもよい。
 制御処理部2は、回転機Mの異常を検出するべく、回転機異常検出装置ADの各部を当該各部の機能に応じてそれぞれ制御するものであり、例えば、CPU(Central Processing Unit)等のマイクロプロセッサおよびその周辺回路を備えて構成される。そして、制御処理部2には、制御処理プログラムを実行することによって、機能的に、制御部21と、異常検出部22とが構成される。
 制御部21は、回転機異常検出装置ADの各部を当該各部の機能に応じてそれぞれ制御し、回転機異常検出装置ADの全体制御を司るものである。
 異常検出部22は、振動測定部1で測定された測定結果に基づいて回転機Mにおける異常を検出するものである。より具体的には、本実施形態では、異常検出部22は、前記制御処理プログラムの実行によって、スペクトル処理部221、特徴量処理部222、異常判定部223およびノイズ判定部224を機能的に備える。
 スペクトル処理部221は、振動測定部1で測定した測定データの周波数スペクトルを求めるものである。本実施形態では、特徴量処理部222が振動測定部1で測定した測定データのRMSの周波数スペクトル(A-周波数スペクトル)を用いる一方、ノイズ判定部224が振動測定部1で測定した測定データそのものの周波数スペクトル(B-周波数スペクトル)を用いるので、これらに対応してスペクトル処理部221は、特徴量処理部222用のA-周波数スペクトルを求めるA-サブスペクトル処理部2211、および、ノイズ判定部224用のB-周波数スペクトルを求めるB-サブスペクトル処理部2212を機能的に備える。
 より具体的には、A-サブスペクトル処理部2211は、振動測定部1で測定した測定データのRMS(Root Mean Square、二乗平均平方根)を求め、この求めた測定データのRMSをフーリエ変換、例えば高速フーリエ変換することによって、前記測定データのA-周波数スペクトル(A-パワースペクトル)を求める。一例では、図4Aに示す測定データから、A-サブスペクトル処理部2211によって、図4Bに示す前記測定データのRMSが求められ、そして、A-サブスペクトル処理部2211によって、図4Cに示す前記測定データのA-周波数スペクトル(A-パワースペクトル)が求められる。なお、RMSの時定数(RMSを求めるための測定データの個数)は、振動測定部1のサンプリングレートと回転体81の回転数とを考慮して適宜に設定される。また、図4は、歯数3個の第1回転体81-1と歯数4個の第2回転体81-2とを備える回転機Mの測定結果であり、図4Cに示す例では、3次高調波成分F3が最も強いことから、歯数4個の第2回転体81-2が1回転ごとに1度接触している。
 なお、RMSを求めてA-周波数スペクトルを求めるA-サブスペクトル処理部2211に代え、図1に破線で示すエンベロープ(包絡線)を求めて周波数スペクトル(C-周波数スペクトル)を求めるC-サブスペクトル処理部2213が用いられても良い。例えば、C-サブスペクトル処理部2213は、包絡線検波によって、振動測定部1で測定した測定データのエンベロープ(包絡線)を求め、この求めた測定データのエンベロープをフーリエ変換(好ましくは高速フーリエ変換)することによって前記測定データの周波数スペクトル(C-周波数スペクトル、C-パワースペクトル)を求める。
 B-サブスペクトル処理部2212は、振動測定部1で測定した測定データをそのままフーリエ変換、例えば高速フーリエ変換することによって前記測定データのB-周波数スペクトル(B-パワースペクトル)を求める。すなわち、B-サブスペクトル処理部2212は、振動測定部1で測定した測定データそのもの(振動測定部1で測定した生の測定データ)をフーリエ変換する。
 なお、略常時生じているバックグラウンドノイズが例えば図4Aに示すように比較的小さい場合には、上述のように、振動測定部1の測定データから、前記測定データのRMSや前記測定データのエンベロープが求められて良いが、例えば回転機Mの設置環境等によって前記バックグラウンドノイズが例えば図5Aに示すように比較的大きい場合があり、このような場合では、回転体81の異常を示す信号が前記バックグラウンドノイズに埋もれ明確に現れない場合がある。このような場合に回転体81の異常を示す信号を取り出すために、スペクトル処理部221は、例えば、図1に破線で示すように、前記バックグラウンドノイズ等のノイズを除去するためのハイパスフィルタ2214をさらに備えても良い。ハイパスフィルタ2214のカットオフ周波数は、回転体81の異常を示す信号の周波数を考慮して適宜に設定されて良いが、例えば、100kHz等の値に設定される。これら上述のA-サブスペクトル処理部2211およびC-サブスペクトル処理部2213は、ハイパスフィルタ2214でフィルタリング(濾波)された測定データに対し、そのRMSやそのエンベロープを求め、その周波数スペクトルを求める。同様に、上述のB-サブスペクトル処理部2212は、ハイパスフィルタ2214でフィルタリング(濾波)された測定データに対し、その周波数スペクトルを求める。
 特徴量処理部222は、スペクトル処理部221で求めた周波数スペクトルに基づいて所定の周波数成分に関わる所定の特徴量CVを求めるものである。本実施形態では、上述したように、特徴量処理部222は、スペクトル処理部221のA-サブスペクトル処理部2211で求めたA-周波数スペクトルに基づいて所定の周波数成分に関わる所定の特徴量CVを求める。より具体的には、特徴量処理部222は、第1回転体81-1の第1歯数および第1回転周波数それぞれをMA[個]およびVA[Hz]とし、第2回転体81-2の第2歯数および第2回転周波数それぞれをMB[個]およびVB[Hz]とし、第1歯数MAと第2歯数MBとの最小公倍数をXABとし、第1回転周波数VAを第1歯数MAで除した基本波歯合周波数VA/MAをf1[Hz]とし、基本波歯合周波数f1に対するn次高調波歯合周波数(nは2以上の整数)をfn[Hz]とする場合に、スペクトル処理部221で求めた周波数スペクトルから、基本波歯合周波数f1の基本波成分F1および最小公倍数XABまでのn次高調波歯合周波数fn(n=2~XAB)のn次高調波成分Fnを求め、この求めた基本波成分F1およびn次高調波成分Fnに基づいて前記所定の特徴量CVを求める。
 この所定の周波数成分に関わる前記所定の特徴量CVは、振動測定部1の測定データに含まれる、回転体81の異常を示す信号を取り出すためや、振動測定部1の測定データに含まれる種々のノイズを取り除くために、種々適宜な諸量が可能であるが、例えば、第1ないし第5態様の各特徴量CVa~CVeが挙げられる。ここでは、第1態様の特徴量CVaについて説明し、第2ないし第5態様の各特徴量CVb~CVeについては、後述する。
 この第1態様の特徴量CVaは、次式1に示すように、前記求めた基本波成分F1およびn次高調波成分Fnの総和CVaである。したがって、特徴量処理部222は、スペクトル処理部221で求めたA-周波数スペクトルから、基本波歯合周波数f1の基本波成分F1および最小公倍数XABまでのn次高調波歯合周波数fn(n=2~XAB)のn次高調波成分Fnを求め、この求めた基本波成分F1およびn次高調波成分Fnの総和を求める特徴量処理部222aを備えて構成される。なお、上述したように、A-周波数スペクトルに代え、C-周波数スペクトルが用いられても良い。以下も同様である。
CVa=ΣFi   ・・・(1)
ただし、iは、1~XABの整数であり、Σは、iについてFの和と求める演算子である。
 例えば、第1回転体81-1において、その第1歯数MAが3個であり、その第1回転周波数VAが60Hzであり(MA=3、VA=60)、第2回転体81-2において、その第2歯数MBが4個であり、その第2回転周波数VBが45Hzである(MB=4、VB=45)場合では、これらの最小公倍数XABは、12であり、したがって、歯合の組合せも12通りとなる。ここで、基本波歯合周波数f1は、20(=60/3)Hzとなるから、これら第1および第2回転体81-1、81-2は、基本波歯合周波数f1の20Hzと、40Hz、60Hz、80Hz、・・・、200、220、240のn次高調波歯合周波数fn(n=2~XAB(=12))との12通りの歯合周波数(f1~f12)を持つ。このため、このような場合では、特徴量処理部222aは、A-周波数スペクトルから、基本波歯合周波数20Hzの基本波成分F1および最小公倍数12までのn次高調波歯合周波数fn(n=2~12)のn次高調波成分Fnを求め、これらの総和を第1態様の特徴量CVaとして求める(CVa=ΣFi、i=1~12、Σはiについて和と求める)。
 異常判定部223は、特徴量処理部222で求めた特徴量CVに基づいて回転機Mにおける異常の有無を判定するものである。より具体的には、異常判定部223は、特徴量処理部222で求めた特徴量CVが予め設定された所定の閾値(異常判定閾値)tha以上か否かに応じて回転機Mにおける異常の有無を判定する。より詳しくは、異常判定部223は、特徴量処理部222で求めた特徴量CVが前記異常判定閾値tha以上である場合には回転機Mの異常と判定し、特徴量処理部222で求めた特徴量CVが前記異常判定閾値tha以上ではない場合(前記特徴量CVが前記異常判定閾値tha未満である場合)には回転機Mの異常無しと判定する。前記所定の閾値(異常判定閾値)thaは、正常状態の回転機Mからサンプリングした測定データと異常状態の回転機Mからサンプリングした測定データから、特徴量CVの態様に合わせて適宜に設定される。そして、異常判定部223は、前記判定の結果、異常が無いと判定した場合において、この判定に用いられた測定データの周波数スペクトルを正常時周波数スペクトルとして記憶部6に記憶する。より具体的には、異常判定部223は、前記判定の結果、異常が無いと判定した場合において、この判定に用いられた測定データからB-サブスペクトル処理部2212によってB-周波数スペクトルを求め、この求めたB-周波数スペクトルを正常時周波数スペクトルとして記憶部6の正常時周波数スペクトル記憶部62に記憶する。
 ここで、異常判定部223は、前記異常の有無を判定した結果、異常が有ると判定した場合には、この判定した異常を仮の判定とし、ノイズ判定部224によってノイズに因らないと判定された場合に、前記仮の判定とした異常を最終的に異常とする一方、ノイズ判定部224によってノイズに因ると判定された場合に、前記仮の判定とした異常を破棄する。なお、前記破棄に代え、前記ノイズの発生が出力されても良い。
 ノイズ判定部224は、異常判定部223によって異常が有ると判定された場合に、スペクトル処理部221で求めた周波数スペクトルに基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定するものである。本実施形態では、上述したように、ノイズ判定部224は、スペクトル処理部221のB-サブスペクトル処理部2212で求めたB-周波数スペクトルに基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定する。したがって、本実施形態では、ノイズ判定部224は、異常判定部223によって異常が無いと判定された場合には、その判定の処理を実施しない。
 より具体的には、ノイズ判定部224は、スペクトル処理部221のB-サブスペクトル処理部2212で求めたB-周波数スペクトルと記憶部6の正常時周波数スペクトル記憶部62に記憶された正常時周波数スペクトルと差に基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定する。より詳しくは、ノイズ判定部224は、前記差における最大値から前記差における平均値を減算した減算結果(第1減算結果)に基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定する。好ましくは、ノイズ判定部224は、前記第1減算結果と予め設定した所定の閾値(第1判定閾値)thbとを比較し、前記第1減算結果が前記第1判定閾値thbより大きい場合(または前記第1減算結果が前記第1判定閾値thb以上である場合)には前記異常の判定がノイズに因ると判定し、前記第1減算結果が前記第1判定閾値thb以下である場合(または前記第1減算結果が前記第1判定閾値thb未満である場合)には前記異常の判定がノイズに因らないと判定する。
 このようなノイズ判定部224のデータ処理によって前記ノイズの有無が判定できる理由について以下に説明する。
 図6は、正常時および異常時における各B-周波数スペクトルならびに正常時およびノイズ発生時における各B-周波数スペクトルを示す図である。図6Aは、正常時および異常時における各B-周波数スペクトルを示し、図6Bは、正常時およびノイズ発生時における各B-周波数スペクトルを示す。図6Aおよび図6Bにおいて、その各横軸は、周波数であり、その各縦軸は、スペクトル強度(成分値、スペクトル値)である。なお、図6Aおよび図6Bでは、ハイパスフィルタ2214のカットオフ周波数よりも高い周波数を含む周波数範囲でB-周波数スペクトルが示されている。図7は、正常時および異常時における各B-周波数スペクトルの差ならびに正常時およびノイズ発生時における各B-周波数スペクトルの差を示す図である。図7の横軸は、周波数であり、その縦軸は、差分値である。図8は、最大値と平均値との差および最大値と中間値との差を示す図である。図8Aは、最大値と平均値との差を示し、図8Bは、最大値と中間値との差を示す。図9は、異常時およびノイズ発生時における最大値と平均値との各差を示す図である。図9の横軸は、事例(測定データ名)であり、その縦軸は、指標値αである。◇は、異常時の指標値αを示し、□は、ノイズ発生時の指標値αを示す。
 回転機Mに異常が無く振動測定部1によって測定された測定データに前記ノイズが含まれていない場合(正常時)における測定データから求められたB-周波数スペクトル(正常時周波数スペクトル)は、一例では、図6Aおよび図6Bに破線によって示す波形となっている。
 これに対し、回転機Mに異常が有り振動測定部1によって測定された測定データに前記ノイズが含まれていない場合における測定データから求められたB-周波数スペクトル(異常発生時周波数スペクトル)は、一例では、図6Aに実線によって示すように、前記異常の発生により、各周波数において、正常時周波数スペクトルより大きな成分値を持つ波形(大略、周波数範囲全体に亘って正常時周波数スペクトルより大きな成分値を持つ波形)となっている。
 一方、回転機Mに異常が無く振動測定部1によって測定された測定データに前記ノイズが含まれている場合における測定データから求められたB-周波数スペクトル(ノイズ発生時周波数スペクトル)は、一例では、図6Bに実線によって示すように、大略、全体的には正常時周波数スペクトルと略同一な成分値を持つ波形であるが、前記ノイズの発生により、所々の周波数において、パルス状に正常時周波数スペクトルより大きな成分値を持つ波形となっている。
 このような特性のため、各周波数ごとに求められた、異常発生時周波数スペクトルと正常時周波数スペクトルとの差(第1差)は、図7に実線によって示すように、周波数範囲全体に亘って、大略、フラットな波形(全体的な傾向としてフラットな波形)となる。一方、各周波数ごとに求められた、ノイズ発生時周波数スペクトルと正常時周波数スペクトルとの差(第2差)は、図7に破線によって示すように、前記所々の周波数において、パルス状に大きな値を持つ波形となる。
 この結果、ノイズ発生時周波数スペクトルと正常時周波数スペクトルとの第2差における最大値から前記第2差における平均値を減算した第1減算結果(ノイズ発生時、図8Aの紙面右側)は、図8Aに示すように、異常発生時周波数スペクトルと正常時周波数スペクトルとの第2差における最大値から前記第2差における平均値を減算した第1減算結果(接触異常時、図8Aの紙面左側)よりも、有意に、大きくなる。他の複数の事例(サンプル)における第1減算結果が図9に示されており、図8Aと同様の結果が得られている。したがって、これらより、第1減算結果は、振動測定部1によって測定された測定データに対し、異常発生時とノイズ発生時とを切り分け得る指標値αとして用いることができる((指標値α)=(第1減算結果)=(前記第2差における最大値)-(前記第2差における平均値))。前記第2差における平均値は、各周波数の各第2差を積算し(全て足し合わせ)、前記各周波数の個数で除算することで求められる。
 第1判定閾値thbは、例えば図9に示すように、複数の事例から、異常発生時の指標値α(◇)とノイズ発生時の指標値α(□)とを切り分け得るように、適宜に設定される。
 なお、図8Bに示すように、ノイズ発生時周波数スペクトルと正常時周波数スペクトルとの第2差における最大値から前記第2差における中間値(メディアン)を減算した減算結果(第2減算結果)(ノイズ発生時、図8Bの紙面右側)は、異常発生時周波数スペクトルと正常時周波数スペクトルとの第2差における最大値から前記第2差における中間値を減算した第2減算結果(接触異常時、図8Bの紙面左側)よりも、有意に、大きくなる。図示しないが、他の複数の事例(サンプル)における第2減算結果も同様である。このため、前記第2差における平均値に代え、前記第2差における中間値が用いられても良い。すなわち、ノイズ判定部224は、前記第2差における最大値から前記第2差における中間値(メディアン)を減算した減算結果(第2減算結果)に基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定しても良い。この場合において、好ましくは、ノイズ判定部224は、前記第2減算結果と予め設定した閾値(第2判定閾値)thcとを比較し、前記第2減算結果が前記第2判定閾値thcより大きい場合(または前記第2減算結果が前記第2判定閾値thc以上である場合)には前記異常の判定がノイズに因ると判定し、前記第2減算結果が前記第2判定閾値thc以下である場合(または前記第2減算結果が前記第2判定閾値thc未満である場合)には前記異常の判定がノイズに因らないと判定する。
 次に、本実施形態の動作について説明する。図10は、実施形態における回転機異常検出装置の動作を示すフローチャートである。
 回転機異常検出装置ADは、例えば、ユーザによって図略の起動スイッチが操作されて回転機Mの運転が開始されると、制御処理プログラムを実行する。この制御処理プログラムの実行によって、制御処理部2に制御部21および異常検出部22が機能的に構成され、異常検出部22にスペクトル処理部221、特徴量処理部222(ここでは特徴量処理部222a)、異常判定部223およびノイズ判定部224が機能的に構成され、スペクトル処理部221にA-サブスペクトル処理部2211およびB-サブスペクトル処理部2212が機能的に構成される。そして、回転機異常検出装置ADは、以下の動作によって、回転機Mの異常を検出する。
 まず、振動測定部1は、回転機Mにおける振動を観測し、前記振動の測定結果を制御処理部2へ出力する。
 図10において、まず、回転機異常検出装置ADは、制御処理部2によって測定データを収集する(S1)。より具体的には、上述の状態において、制御処理部2は、制御部21によって、所定のサンプリング間隔で、振動測定部1から入力された測定結果(振動測定部1の出力)を測定データとしてサンプリングし、これを記憶部6の測定データ一時記憶部61に記憶する。これによって測定結果がサンプリング間隔を空けて連続的に計測され、時系列な複数のデータから成る測定データが測定データ一時記憶部61に記憶される。測定データ一時記憶部61の記憶容量一杯に(記憶部6に測定データ一時記憶部61として確保された記憶領域一杯に)時系列な各測定データが記憶されると、時間的に最も古くサンプリングされて記憶された測定データが測定データ一時記憶部61から削除され、新たにサンプリングした測定データが測定データ一時記憶部61に記憶される。
 次に、回転機異常検出装置ADは、異常検出部22におけるスペクトル処理部221のA-サブスペクトル処理部2211(またはC-サブスペクトル処理部2213)によって、記憶部6に記憶された、最新に測定(サンプリング)された測定データを含み、予め設定された所定の時間範囲における測定データ(最新の測定時点から前記所定の時間範囲に対応する時間だけ遡った時点までの間に測定された各測定結果の測定データ)から、前記測定データのRMS(または前記測定データのエンベロープ)を求め、この求めた前記測定データのRMS(または前記測定データのエンベロープ)を高速フーリエ変換(FFT)することによって測定データの第1周波数スペクトル(またはC-周波数スペクトル)を求める(S2)。なお、上述したように、RMSやエンベロープを求める前に、測定データは、ハイパスフィルタ2214でフィルタリングされても良い。
 次に、回転機異常検出装置ADは、異常検出部22の特徴量処理部222によって、スペクトル処理部221で求めた周波数スペクトルに基づいて前記所定の特徴量CVを求める(S3)。ここでは、特徴量処理部222aによって、第1態様の特徴量CVa、すなわち、基本波成分F1およびn次高調波成分Fnの総和が求められる(CVa=ΣFi、i=1~12、Σはiについて和と求める)。なお、回転体81の回転数の誤差を考慮し、基本波成分F1およびn次高調波成分Fnの各成分が含まれるようにするために、基本波成分F1およびn次高調波成分Fnの各成分それぞれにおいて、前後の数データが前記総和に加えられても良い。
 次に、回転機異常検出装置ADは、異常検出部22の異常判定部223によって、特徴量処理部222で求めた前記所定の特徴量CVに基づいて回転機Mにおける異常の有無を判定する(S4)。より具体的には、ここでは、異常判定部223は、特徴量処理部222aで求めた第1態様の特徴量CVaが前記所定の閾値(異常判定閾値)tha以上であるか否かを判定することで回転機Mにおける異常の有無を判定する。この判定の結果、異常判定部223は、特徴量処理部222aで求めた第1態様の特徴量CVaが前記異常判定閾値tha以上である場合には回転機Mの異常有りと判定し(Yes)、次に処理S5を実行する。一方、前記判定の結果、異常判定部223は、特徴量処理部222aで求めた第1態様の特徴量CVaが前記異常判定閾値tha以上ではない場合には回転機Mの異常無しと判定し(No)、次に処理S11を実行する。
 処理S11では、回転機異常検出装置ADは、異常検出部22の異常判定部223によって、異常が無いと判定した場合において、この判定に用いられた測定データからB-サブスペクトル処理部2212によってB-周波数スペクトルを求め、この求めたB-周波数スペクトルを正常時周波数スペクトルとして記憶部6の正常時周波数スペクトル記憶部62に記憶し、処理を処理S2に戻す。正常時周波数スペクトル記憶部62に正常時周波数スペクトルが記憶されている場合には、この求めたB-周波数スペクトルで正常時周波数スペクトル記憶部62が更新され、この求めたB-周波数スペクトルが正常時周波数スペクトル記憶部62に記憶される。したがって、記憶部6の正常時周波数スペクトル記憶部62には、異常判定部223によって前記異常が無いと直近に判定された場合において振動測定部1で測定した測定データのB-周波数スペクトルが正常時周波数スペクトルとして記憶(更新されて記憶)される。
 一方、処理S5では、回転機異常検出装置ADは、異常検出部22のノイズ判定部224によって、スペクトル処理部221で求めた周波数スペクトルに基づいて前記処理S4における異常の判定がノイズに因るか否かを判定する。より具体的には、本実施形態では、ノイズ判定部224は、まず、スペクトル処理部221のB-サブスペクトル処理部2212によって前記測定データのB-周波数スペクトルを求め、この求めたB-周波数スペクトルと記憶部6の正常時周波数スペクトル記憶部62に記憶された正常時周波数スペクトルと差(第2差)を求める。なお、上述したように、B-周波数スペクトルを求める前に、測定データは、ハイパスフィルタ2214でフィルタリングされても良い。次に、ノイズ判定部224は、ノイズ判定部224は、前記第2差における最大値から前記第2差における平均値を減算した減算結果(第1減算結果)を求める。そして、ノイズ判定部224は、前記第1減算結果と予め設定した所定の閾値(第1判定閾値)thbとを比較し、これによって前記第1減算結果に基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定する。この判定の結果、ノイズ判定部224は、前記第1減算結果が前記第1判定閾値thbより大きい場合(または前記第1減算結果が前記第1判定閾値thb以上である場合)には前記異常の判定がノイズに因ると判定し(Yes)、処理を処理S2に戻す。したがって、本実施形態では、処理S4で異常判定部223によって異常が有ると判定された判定結果が破棄される。一方、前記判定の結果、ノイズ判定部224は、前記第1減算結果が前記第1判定閾値thb以下である場合(または前記第1減算結果が前記第1判定閾値thb未満である場合)には前記異常の判定がノイズに因らないと判定し(No)、次に、処理S6を実行する。なお、上述したように、前記平均値に代え前記中間値(メディアン)が用いられても良く、この場合、前記第1判定閾値thbに代え、前記第3判定閾値thcが用いられる。
 処理S6では、回転機異常検出装置ADは、異常検出部22の異常判定部223によって、処理S4で異常判定部223によって異常が有ると判定された判定結果を最終的な判定結果とし、制御部21によって、処理S4の判定結果(異常有り)を出力部4に出力する。
 次に、回転機異常検出装置ADは、制御処理部2によって、終了か否か、すなわち、次の異常判定が不要か否かを判定する(S7)。この判定の結果、制御処理部2は、終了(不要)である場合(Yes)には本処理を終了し、一方、終了(不要)ではない場合(No)には処理を処理S2に戻す。なお、処理を処理S2に戻す前に所定の時間だけ待機する待機処理(Wait処理)が実施されても良い。これによって所定の時間ごとに異常判定が続けて実施される。
 以上説明したように、本実施形態における回転機異常検出装置AD、これに実装された回転機異常検出方法およびこれを備える回転機Mは、ノイズ判定部224によって前記ノイズに因らないと判定された場合に、異常判定部223によって判定された異常を最終的に異常とするので、前記ノイズに因る異常の判定と前記ノイズに因らない異常の判定とを弁別でき、異常をより高い信頼度で判定できる。そして、上記回転機異常検出装置AD、該方法および回転機Mは、異常判定部223によって異常が有ると判定された場合に、ノイズ判定部224が判定の処理を実施するので、したがって、異常判定部223によって異常が無いと判定された場合には、ノイズ判定部224が判定の処理を実施しないから、その分のデータ処理量を低減できる。
 上記回転機異常検出装置AD、該方法および回転機Mは、正常時周波数スペクトルを基準に前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定するので、常時ではなくときどき生じるノイズをより的確に捉えることができ、異常をより高い信頼度で判定できる。特に、直近の正常時周波数スペクトルを基準に前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定することで、正常時周波数スペクトルが変化する場合でも、常時ではなくときどき生じるノイズをさらにより的確に捉えることができる。
 上記回転機異常検出装置AD、該方法および回転機Mは、前記第1減算結果に基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定するので、図6、図7、図8Aおよび図9を用いて説明した特性を利用でき、異常をより高い信頼度で判定できる。なお、前記第1減算結果に代え前記第2減算結果が用いられる場合も、上記回転機異常検出装置AD、該方法および回転機Mは、図6、図7および図8Bを用いて説明した特性を利用でき、異常をより高い信頼度で判定できる。
 上記回転機異常検出装置AD、該方法および回転機Mは、第1回転周波数VAを第1歯数MAで除した周波数VA/MAを基本波歯合周波数f1[Hz]とし、第1歯数MAと第2歯数MBとの最小公倍数をXABとし、前記基本波歯合周波数f1の基本波成分F1および前記最小公倍数XABまでの、前記基本波歯合周波数f1に対するn次高調波歯合周波数fn(n=2~XAB)のn次高調波成分Fnを周波数スペクトルから求めるので、第1および第2回転体81-1、81-2における接触の全ての組合せにかかる周波数成分F1、Fnを求めることができる。そして、上記回転機異常検出装置AD、該方法および回転機Mは、これら接触の全ての組合せにかかる周波数成分F1、Fnに基づいて接触の有無を判定するので、より高精度に異常を判定できる。
 上述のハイパスフィルタ2214を備える場合には、上記回転機異常検出装置AD、該方法および回転機Mは、比較的低周波数帯域に分布するバックグラウンドノイズを除去でき、より高精度に異常を検出できる。特に、圧縮機におけるバックグラウンドノイズは、主に振動が起因して生じるため、比較的低周波帯域に強く分布する一方、接触による信号は、高周波帯域にも強く発生する。このような特徴の差異から、ハイパスフィルタ2214を備えることで、接触の有無を検出する性能が向上できる。
 なお、上述では、振動測定部1は、1個であるが、複数であっても良く、各振動測定部1で測定された各測定データが個別に処理されても良い。
 また、上述では、特徴量処理部222は、第1態様の特徴量CVaを求める特徴量処理部222aを備えて構成されたが、第2ないし第5態様の特徴量CVb~CVeを求める特徴量処理部222b~222eを備えて構成されても良い。
 図11は、第2態様の特徴量を説明するための図である。図11の横軸は、時間であり、その縦軸は、変化量である。図12は、異常発生前後における周波数スペクトルの時間変化を示す図である。図12Aは、接触発生10秒前の周波数スペクトルを示し、図12Bは、接触発生5秒前の周波数スペクトルを示し、図12Cは、接触発生時の周波数スペクトルを示し、図12Dは、接触発生2秒後の周波数スペクトルを示す。図12の各図における各横軸は、周波数であり、それらの縦軸は、成分値(スペクトル強度、スペクトル値)である。図13は、第3態様の特徴量を説明するための図である。図13Aは、基本波歯合周波数f1およびn次高調波歯合周波数fnの各成分を示し、図13Bは、各非高調波成分を示す。図14は、第4態様の特徴量に関し、モデル情報の一例を示す図である。図15は、図14に示すモデル情報の求め方を説明するための図である。図15Aは、12歯合中、1歯合で接触する場合における測定データのRMSを示し、図15Bは、そのフーリエ変換の結果の一部を示す。図16は、第5態様の特徴量を用いた異常の判定結果の一例を示す図である。図16の横軸は、事例であり、その縦軸は、特徴量(指標値β)である。
 まず、第2態様の特徴量CVbについて説明する。この第2態様の特徴量CVbは、基本波成分F1およびn次高調波成分Fnにおける変化量、より具体的には、時間経過に対する、基本波成分F1およびn次高調波成分Fnにおける変化量である。異常として接触が発生する前後では、周波数スペクトルは、図12に示すように変化し、これによって、時間経過に対する、基本波成分F1およびn次高調波成分Fnにおける変化量は、図11に示すように変化する。より詳しくは、接触が発生する前は、周波数スペクトルは、図12AおよびBに示すように、ほとんど変化せず、この結果、前記変化量も、図11に示すように、略0である。接触が発生すると、図12Cに示すように、周波数スペクトルが変化し、この変化が図11に示すように、前記変化量として現れる。そして、接触が進むと周波数スペクトルは、図12Dに示すように、さらに変化し、この変化が図11に示すように、より大きな前記変化量として現れる。このため、時間経過に対する、基本波成分F1およびn次高調波成分Fnにおける前記変化量は、異常の有無を評価する指標として利用可能と考えられ、前記所定の特徴量CVの一つとして好適である。
 このような第2態様の特徴量CVbが用いられる場合では、特徴量処理部222は、互いに異なる第1および第2期間それぞれで測定された第1および第2測定データの第1および第2周波数スペクトルそれぞれから、前記第1および第2期間それぞれの基本波成分F1およびn次高調波成分Fnを求め、これら求めた前記第1および第2期間それぞれの前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnにおける変化量を第2態様の特徴量CVbとして求める特徴量処理部222bを備えて構成される。より具体的には、特徴量処理部222bは、これら求めた前記第1および第2期間それぞれの前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnにおける各成分ごとの差分の2乗和を前記変化量として求める。なお、スペクトル処理部221は、上述したように、処理S6から処理S2に戻される場合では、互いに異なる期間で周波数スペクトルを順次に求めるので、互いに異なる第1および第2期間それぞれで測定された第1および第2測定データの第1およびB-周波数スペクトルそれぞれを求めていることになる。
 より詳しくは、今回の期間における基本波成分F1およびn次高調波成分Fn(前記第1期間の前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnの一例)をFi_now(i=1~nの整数)とし、今回の期間より以前の各期間で求められた基本波成分F1およびn次高調波成分Fnそれぞれの平均値(前記第2期間の前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnの一例)をFi_past(i=1~nの整数)とする場合、特徴量処理部222bは、次式2に示すように、前記変化量、すなわち、第2態様の特徴量CVbを求める。なお、前記平均値Fi_pastを算出するための期間は、対象の回転機Mにおける運転条件を変更する周期等に応じて適宜に設定される。
CVb=Σ(Fi_now-Fi_past)   ・・・(2)
 また、異常として接触が発生した時点の前後では、振動測定部1の出力は、上述のように、比較的大きく変化するが、非接触の場合でも例えば回転機Mの運転条件が変化すると、振動測定部1の出力は、徐々に変化する場合がある。前記第1および第2期間それぞれの基本波成分F1およびn次高調波成分Fnにおける変化量CVb、特に前記式2で示すそれらにおける各成分ごとの差分の2乗和CVbは、接触の周期性の変化を表すことから、非接触の状態から接触が発生した時点や、接触の状態自体が変化した時点で比較的大きくなる特徴を持っている。このため、第2態様の特徴量CVbを求める回転機異常検出装置ADおよびこれに実装された方法ならびにこれを用いた回転機Mは、このような前記変化量CVbを前記所定の特徴量CVとして求めているので、非接触の状態から接触が発生した時点や、接触の状態自体が変化した時点を、より高精度に検出できる。また、バックグラウンドノイズが比較的大きい場合でも、そのトレンド(傾向)に変化が無い場合には、前記変化量も大きくならないので、上記回転機異常検出装置AD、該方法および回転機Mは、過検出を少なくできる。
 次に、第3態様の特徴量CVcについて説明する。この第3態様の特徴量CVcは、基本波成分F1およびn次高調波成分Fnだけでなく、基本波歯合周波数f1およびn次高調波歯合周波数fn(n=2~XAB)における互いに隣接した周波数間に在る所定の周波数gの非高調波成分Gにも基づく量である。
 このような第3態様の特徴量CVcが用いられる場合では、特徴量処理部222は、スペクトル処理部221で求めた周波数スペクトルから、基本波歯合周波数f1および最小公倍数XABまでのn次高調波歯合周波数fn(n=2~XAB)における互いに隣接した周波数間に在る所定の周波数gの非高調波成分Gをさらに求め、前記求めた基本波成分F1、n次高調波成分Fnおよび非高調波成分Gに基づいて第3態様の特徴量CVcを求める特徴量処理部222cを備えて構成される。より具体的には、基本波歯合周波数f1およびn次高調波歯合周波数fnから最も離れた周波数を求める観点から、非高調波成分Gは、図13Bに示すように、前記互いに隣接した周波数間の中央に当たる周波数の成分である(Gk=(Fk+Fk+1)/2、k=1~XAB-1の整数)。
 より詳しくは、特徴量処理部222cは、次式3に示すように、スペクトル処理部221で求めた周波数スペクトルから、基本波歯合周波数f1および最小公倍数XABまでのn次高調波歯合周波数fn(n=2~XAB)における互いに隣接した各周波数間の中央に在る所定の各周波数gkの各非高調波成分Gk(kは1から(XAB-1)までの範囲内の整数)をさらに求め、これら求めた基本波成分F1およびn次高調波成分Fnの総和(図13A参照)を前記求めた非高調波成分Gkの総和(図13B参照)で除した成分総和比を第3態様の特徴量CVcとして求める。なお、非高調波成分Gkの総和で異常の有無が判定されても良いが、この手法は、バックグラウンドノイズのレベルの変化に弱くなるため、本実施形態では、成分総和比で異常の有無が判定されている。これによって第3態様の特徴量CVc(=成分総和比)が、回転体81に起因して生じる信号とほぼ一致すると判断できる。
CVc=成分総和比=(基本波成分F1およびn次高調波成分Fnの総和)/(非高調波成分Gkの総和)=(ΣFi)/(ΣGk)   ・・・(3)
 AEセンサ等の振動測定部1の出力には、単発の電気ノイズ等が重畳する場合がある。第3態様の特徴量CVcを求める回転機異常検出装置ADおよびこれに実装された方法ならびにこれを用いた回転機Mは、前記非高調波成分Gもさらに考慮して前記所定の特徴量CVを求めるので、このような単発の電気ノイズ等の重畳が異常の検出に与える影響を回避でき、周期性の無いノイズを低減できる。
 次に、第4態様の特徴量CVdについて説明する。この第4態様の特徴量CVdは、第1および第2回転体81-1、81-2における異常の態様ごとに予め生成された複数のモデルそれぞれとの間で求められた一致度の中の最大値である。前記モデルは、前記異常の態様に対応した前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnの各モデル値で構成される。前記一致度は、振動測定部1で測定された測定データの周波数スペクトルから求めた前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnと前記モデルとの一致の程度を表す値である。
 このような第4態様の特徴量CVdが用いられる場合では、回転機異常検出装置ADは、図1に破線で示すように、記憶部6に、前記異常の態様ごとに、前記異常の態様に対応した前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnの各モデル値をモデル情報として予め記憶するモデル情報記憶部63をさらに備える。そして、特徴量処理部222は、前記異常の態様ごとに、振動測定部1で測定された測定データの周波数スペクトルから求めた前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnと前記モデル情報(前記モデル)との前記一致度を求め、前記異常の態様ごとに求めた一致度の中から最大の一致度を第4態様の特徴量CVdとして求める特徴量処理部222dを備えて構成される。
 より具体的には、前記モデル情報は、テーブル形式でモデル情報記憶部63に記憶される。このモデル情報テーブルMTは、例えば、図14に示すように、モデル名を登録する接触モデルフィールド631と、接触モデルフィールド631に登録されたモデル名で表されるモデルの各モデル値を登録する係数フィールド632とを備え、モデル名ごとにレコードを備える。係数フィールド632は、各モデル値を登録するために、第1歯数MAと第2歯数MBとの最小公倍数XAB個のサブフィールドを備える。図14に示す例では、上述したように、第1回転体81-1の第1歯数MAが3個であり、第2回転体81-2の第2歯数MBが4個であることから、係数フィールド632は、各モデル値ai(i=1~12)を登録するために、12個のサブフィールド632-1~632-12を備える。そして、モデル情報テーブルMTは、接触が周期的に発生する異常をモデル化した6個のモデルを登録しており、これら12通りの組合せのうちの1歯合で接触する異常である12歯合中、1歯合接触の各モデル値aiを登録する1行目のレコードと、前記12通りの組合せのうちの2歯合で接触する異常である12歯合中、2歯合接触の各モデル値aiを登録する2行目のレコードと、前記12通りの組合せのうちの3歯合で接触する異常である12歯合中、3歯合接触の各モデル値aiを登録する3行目のレコードと、前記12通りの組合せのうちの4歯合で接触する異常である12歯合中、4歯合接触の各モデル値aiを登録する4行目のレコードと、前記12通りの組合せのうちの6歯合で接触する異常である12歯合中、6歯合接触の各モデル値aiを登録する5行目のレコードと、前記12通りの組合せのうちの12歯合で接触する異常である12歯合中、12歯合接触の各モデル値aiを登録する6行目のレコードとを備える。各モデルの各モデル値aiは、例えば、実際に接触の異常を生じている回転機Mから複数のサンプルを実測し、これら複数のサンプルから統計処理しつつ基本波成分F1およびn次高調波成分Fnを求めることによって予め求められる。例えば、12歯合中、1歯合接触の場合では、サンプルの測定データからRMSを求めると、図15Aに示す結果が得られ、これを高速フーリエ変換(FFT)することによって、図15Bに示す結果が得られる(図15Bには高速フーリエ変換の結果の一部が図示されている)。この図15Bに示す高速フーリエ変換の各ピーク値が12歯合中、1歯合接触のモデルにおける各モデル値aiとなる。なお、各モデル値aiは、各モデル値aiの総和が1となるように、規格化される(Σai=1)。
 特徴量処理部222dは、例えば、各モデルごとに、振動測定部1で測定された測定データの周波数スペクトルから求めた前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnの各値Fiそれぞれにモデルの各モデル値aiそれぞれを乗算し(Fi×ai)、その総和Smを求める(Sm=Σ(Fi×ai)、i=1~12、Σはiについて和を求める、この例ではmは1~6)。特徴量処理部222dは、これら各モデルごとに求めた各総和Smの総和SSを求め(SS=ΣSm、m=1~6、Σはmについて和を求める)、各モデルごとに、モデルの総和Smをその求めた総和SSで除算(規格化)する(Sm/SS、m=1~6)。この除算結果が一致度であり、このような算出方法によって前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnの各成分分布における絶対値の影響を除去できる。そして、特徴量処理部222dは、これら各モデルごとに求めた各除算結果(各一致度)の中の最大値を第4態様の特徴量CVdとして求める。
 第4態様の特徴量CVdを求める回転機異常検出装置ADおよびこれに実装された方法ならびにこれを用いた回転機Mは、前記異常の態様(上述では接触の態様)ごとに求めた一致度の中から最大の一致度を前記所定の特徴量として求めるので、電気的なパスルノイズや、外部からの衝撃による単発で比較的大きな振幅を持つノイズと、例えば接触等の異常とを弁別でき、より高精度に異常を検出できる。
 なお、この第4態様の特徴量CVdが用いられる場合に、好ましくは、異常判定部223は、特徴量処理部222dで前記異常の態様ごとに求めた一致度の中から最大の一致度を持つ異常の態様で回転機Mにおける異常が有ると判定しても良い。例えば、12歯合中、1歯合接触の一致度、12歯合中、2歯合接触の一致度、12歯合中、3歯合接触の一致度、12歯合中、4歯合接触の一致度、12歯合中、6歯合接触の一致度、および、12歯合中、12歯合接触の一致度のうち、最大の一致度が12歯合中、2歯合接触の一致度であった場合には、異常判定部223は、この12歯合中、2歯合接触の異常が有ると判定する。これによれば、異常の態様が検出できる。
 次に、第5態様の特徴量CVeについて説明する。この第5態様の特徴量CVeは、これら上述の総和、変化量、成分総和比、および、最大の一致度のうちの複数に基づく量である。
 このような第5態様の特徴量CVeが用いられる場合では、特徴量処理部222は、総和処理、変化量処理、成分総和比処理および最大一致度処理のうちの複数の処理を行い、前記行った複数の処理の処理結果に基づいて第5態様の特徴量CVeを求める特徴量処理部222eを備えて構成される。前記総和処理は、上述のように、基本波成分F1およびn次高調波成分Fnの総和CVaを求める処理である。前記変化量処理は、上述のように、第1および第2周波数スペクトルそれぞれから、第1および第2期間それぞれの基本波成分F1およびn次高調波成分Fnを求め、これら求めた第1および第2期間それぞれの基本波成分F1およびn次高調波成分Fnにおける変化量CVbを求める処理である。前記成分総和比処理は、上述のように、周波数スペクトルから、基本波歯合周波数f1および最小公倍数XABまでのn次高調波歯合周波数fn(n=2~XAB)における互いに隣接した各周波数間に在る所定の各周波数giの各非高調波成分Gi(iは1から(n-1)までの範囲内の整数)をさらに求め、前記求めた基本波成分F1およびn次高調波成分Fnの総和を前記求めた非高調波成分Giの総和で除した成分総和比CVcを求める処理である。前記最大一致度処理は、異常の態様ごとに、前記求めた基本波成分F1およびn次高調波成分Fnとモデル情報との一致の程度を表す一致度を求め、前記異常の態様ごとに求めた一致度の中から最大の一致度CVdを求める処理である。
 より具体的には、特徴量処理部222eは、例えば、次式4によって第5態様の特徴量CVeを求める。
CVe=p1*CVa+p2*CVb+p3*CVc+p4*CVd   ・・・(4)
 また例えば、特徴量処理部222eは、例えば、次式5によって第5態様の特徴量CVeを求める。
CVe=CVap1*CVbp2*CVcp3*CVdp4   ・・・(5)
 ここで、これら式4および式5におけるパラメータp1~p4(実数)は、接触が生じている場合に実際に振動測定部1で測定された測定データから求められた総和CVa、変化量CVb、成分総和比CVcおよび最大の一致度CVdと、非接触の場合に実際に振動測定部1で測定された測定データから求められた総和CVa、変化量CVb、成分総和比CVcおよび最大の一致度CVdとを用いることによって、接触の有無を好適に弁別し得る値を例えば重回帰分析等の手法で求められる。
 一例として、接触が生じている場合に実際に振動測定部1で測定された測定データから式5で求めた特徴量CVe(◆)、および、非接触の場合に実際に振動測定部1で測定された測定データから式5で求めた特徴量CVe(×)の結果が図16に示されている。図16に示すように、接触の場合における特徴量CVe(◆)の分布と、非接触の場合における特徴量CVe(×)の分布とは、略明確に分かれていることから、式5の特徴量CVeによって、接触による異常の有無が弁別可能である。
 第5態様の特徴量CVeを求める回転機異常検出装置ADおよびこれに実装された方法ならびにこれを用いた回転機Mは、前記行った複数の処理の処理結果に基づいて第5態様の特徴量CVeを求めるので、より高精度に異常を検出できる。
 なお、上述の式4および式5は、総和CVa、変化量CVb、成分総和比CVcおよび最大の一致度CVdの4個全てを用いたが、これら式4および式5は、総和CVa、変化量CVb、成分総和比CVcおよび最大の一致度CVdのうちの任意の組合せの2個を用いて構成されて良く、また、これら式4および式5は、総和CVa、変化量CVb、成分総和比CVcおよび最大の一致度CVdのうちの任意の組合せの3個を用いて構成されて良い。総和CVa、変化量CVb、成分総和比CVcおよび最大の一致度CVdそれぞれは、上述したように、振動測定部1の測定データに含まれる、回転体81の異常を示す信号を取り出すための、あるいは、振動測定部1の測定データに含まれる種々のノイズを取り除くための、適宜な量であるので、好ましくは、これら式4および式5は、総和CVa、変化量CVb、成分総和比CVcおよび最大の一致度CVdのうちの、上記目的に応じた適宜な2個の組合せで構成されて良く、また、好ましくは、これら式4および式5は、総和CVa、変化量CVb、成分総和比CVcおよび最大の一致度CVdのうちの、上記目的に応じた適宜な3個の組合せで構成されて良い。
 また、前記特許文献1に開示された診断装置や前記特許文献2に開示された異常接触検出装置は、接触の態様を個々個別に検出しておらず、本実施形態と相違する。
 本明細書は、上記のように様々な態様の技術を開示しているが、そのうち主な技術を以下に纏める。
 一態様にかかる回転機異常検出装置は、正常状態において互いに所定の間隔を空けて係合しつつ所定の各軸に対し軸回りに回転する第1および第2回転体を少なくとも備える回転機における異常を検出する回転機異常検出装置であって、前記第1および第2回転体のうちの少なくとも一方に起因して生じた振動を測定する振動測定部と、前記振動測定部で測定した測定データの周波数スペクトルを求めるスペクトル処理部と、前記スペクトル処理部で求めた周波数スペクトルに基づいて所定の周波数成分に関わる所定の特徴量を求める特徴量処理部と、前記特徴量処理部で求めた所定の特徴量に基づいて前記回転機における異常の有無を判定する異常判定部と、前記異常判定部によって異常が有ると判定された場合に、前記スペクトル処理部で求めた周波数スペクトルに基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定するノイズ判定部とを備え、前記異常判定部は、さらに、前記ノイズ判定部が前記ノイズに因らないと判定した場合に、前記判定した異常を最終的に異常とする。好ましくは、上述の回転機異常検出装置において、前記スペクトル処理部は、前記振動測定部で測定した測定データのRMS(Root Mean Square、二乗平均平方根)を求め、この求めた測定データのRMSをフーリエ変換(好ましくは高速フーリエ変換)することによって前記測定データのA-周波数スペクトル(A-パワースペクトル)を求めるA-サブスペクトル処理部と、前記振動測定部で測定した測定データをそのままフーリエ変換(好ましくは高速フーリエ変換)することによって前記測定データのB-周波数スペクトル(B-パワースペクトル)を求めるB-サブスペクトル処理部とを備え、前記特徴量処理部は、前記A-サブスペクトル処理部で求めたA-周波数スペクトルに基づいて前記所定の特徴量を求め、前記ノイズ判定部は、前記B-サブスペクトル処理部で求めたB-周波数スペクトルに基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定する。好ましくは、上述の回転機異常検出装置において、前記スペクトル処理部は、前記振動測定部で測定した測定データのエンベロープ(包絡線)を求め、この求めた測定データのエンベロープをフーリエ変換(好ましくは高速フーリエ変換)することによって前記測定データのC-周波数スペクトル(C-パワースペクトル)を求めるC-サブスペクトル処理部と、前記振動測定部で測定した測定データをそのままフーリエ変換(好ましくは高速フーリエ変換)することによって前記測定データのB-周波数スペクトル(B-パワースペクトル)を求めるB-サブスペクトル処理部とを備え、前記特徴量処理部は、前記C-サブスペクトル処理部で求めたC-周波数スペクトルに基づいて前記所定の特徴量を求め、前記ノイズ判定部は、前記B-サブスペクトル処理部で求めたB-周波数スペクトルに基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定する。
 このような回転機異常検出装置は、前記ノイズ判定部によって前記ノイズに因らないと判定された場合に、前記異常判定部によって判定された異常を最終的に異常とするので、前記ノイズに因る異常の判定と前記ノイズに因らない異常の判定とを弁別でき、異常をより高い信頼度で判定できる。そして、上記回転機異常検出装置は、前記異常判定部によって異常が有ると判定された場合に、前記ノイズ判定部が判定の処理を実施するので、したがって、前記異常判定部によって異常が無いと判定された場合には、前記ノイズ判定部が判定の処理を実施しないから、その分のデータ処理量を低減できる。
 他の一態様では、上述の回転機異常検出装置において、前記異常判定部によって異常が無いと判定された場合において前記振動測定部で測定した測定データの周波数スペクトルを正常時周波数スペクトルとして記憶する記憶部をさらに備え、前記ノイズ判定部は、前記スペクトル処理部で求めた周波数スペクトルと前記記憶部に記憶された正常時周波数スペクトルと差に基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定する。好ましくは、上述の回転機異常検出装置において、前記振動測定部は、予め設定された所定のサンプリング間隔で前記振動を測定し、前記振動測定部で前記所定のサンプリング間隔で測定した各測定データに対し、前記スペクトル処理部は、前記周波数スペクトルを求め、前記特徴量処理部は、前記所定の特徴量を求め、前記異常判定部は、前記異常の有無を判定し、前記記憶部は、前記異常判定部によって前記異常が無いと直近に判定された場合において前記振動測定部で測定した測定データの周波数スペクトルを正常時周波数スペクトルとして記憶(更新して記憶)する。
 このような回転機異常検出装置は、正常時周波数スペクトルを基準に前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定するので、常時ではなくときどき生じるノイズをより的確に捉えることができ、異常をより高い信頼度で判定できる。特に、直近の正常時周波数スペクトルを基準に前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定することで、正常時周波数スペクトルが変化する場合でも、常時ではなくときどき生じるノイズをさらにより的確に捉えることができる。
 他の一態様では、上述の回転機異常検出装置において、前記ノイズ判定部は、前記差における最大値から前記差における平均値を減算した減算結果(第1減算結果)に基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定する。好ましくは、上述の回転機異常検出装置において、前記ノイズ判定部は、前記第1減算結果と予め設定した閾値(第1判定閾値)とを比較し、前記第1減算結果が前記第1判定閾値より大きい場合(または前記第1減算結果が前記第1判定閾値以上である場合)には前記異常の判定がノイズに因ると判定し、前記第1減算結果が前記第1判定閾値以下である場合(または前記第1減算結果が前記第1判定閾値未満である場合)には前記異常の判定がノイズに因らないと判定する。
 上記回転機異常検出装置は、前記第1減算結果に基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定するので、図6、図7、図8Aおよび図9を用いて後述する特性を利用でき、異常をより高い信頼度で判定できる。
 また、他の一態様では、上述の回転機異常検出装置において、前記ノイズ判定部は、前記差における最大値から前記差における中間値(メディアン)を減算した減算結果(第2減算結果)に基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定する。好ましくは、上述の回転機異常検出装置において、前記ノイズ判定部は、前記第2減算結果と予め設定した閾値(第2判定閾値)とを比較し、前記第2減算結果が前記第2判定閾値より大きい場合(または前記第2減算結果が前記第2判定閾値以上である場合)には前記異常の判定がノイズに因ると判定し、前記第2減算結果が前記第2判定閾値以下である場合(または前記第2減算結果が前記第2判定閾値未満である場合)には前記異常の判定がノイズに因らないと判定する。
 上記回転機異常検出装置は、前記第2減算結果に基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定するので、図6、図7および図8Bを用いて後述する特性を利用でき、異常をより高い信頼度で判定できる。
 他の一態様では、これら上述の回転機異常検出装置において、前記特徴量処理部は、前記第1回転体の第1歯数および第1回転周波数それぞれをMA[個]およびVA[Hz]とし、前記第2回転体の第2歯数をMB[個]とし、前記第1歯数MAと前記第2歯数MBとの最小公倍数をXABとし、前記第1回転周波数VAを前記第1歯数MAで除した基本波歯合周波数VA/MAをf1[Hz]とし、前記基本波歯合周波数f1に対するn次高調波歯合周波数(nは2以上の整数)をfn[Hz]とする場合に、前記周波数スペクトルから、前記基本波歯合周波数f1の基本波成分F1および前記最小公倍数XABまでのn次高調波歯合周波数fn(n=2~XAB)のn次高調波成分Fnを求め、前記求めた基本波成分F1およびn次高調波成分Fnに基づいて前記所定の特徴量を求める。好ましくは、上述の回転機異常検出装置において、前記振動測定部は、可聴帯域の振動および超音波帯域の振動のうちの少なくとも一方の振動を測定する。好ましくは、上述の回転機異常検出装置において、前記特徴量処理部は、前記求めた基本波成分F1およびn次高調波成分Fnの総和を前記所定の特徴量として求める。好ましくは、上述の回転機異常検出装置において、前記異常判定部は、前記特徴量処理部で求めた特徴量が予め設定された所定の閾値以上か否かに応じて前記回転機における異常の有無を判定する。
 このような回転機異常検出装置は、第1回転周波数VAを第1歯数MAで除した周波数VA/MAを基本波歯合周波数f1[Hz]とし、第1歯数MAと第2歯数MBとの最小公倍数をXABとし、前記基本波歯合周波数f1の基本波成分F1および前記最小公倍数XABまでの、前記基本波歯合周波数f1に対するn次高調波歯合周波数fn(n=2~XAB)のn次高調波成分Fnを周波数スペクトルから求めるので、第1および第2回転体における接触の全ての組合せにかかる周波数成分F1、Fnを求めることができる。そして、上記回転機異常検出装置は、これら接触の全ての組合せにかかる周波数成分F1、Fnに基づいて接触の有無を判定するので、より高精度に異常を判定できる。
 他の一態様では、上述の回転機異常検出装置において、前記スペクトル処理部は、互いに異なる第1および第2期間それぞれで測定された第1および第2測定データの第1および第2周波数スペクトルそれぞれを求め、前記特徴量処理部は、前記第1および第2周波数スペクトルそれぞれから、前記第1および第2期間それぞれの前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnを求め、これら求めた前記第1および第2期間それぞれの前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnにおける変化量を前記所定の特徴量として求める。好ましくは、上述の回転機異常検出装置において、前記特徴量処理部は、これら求めた前記第1および第2期間それぞれの前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnにおける各成分ごとの差分の2乗和を前記変化量として求める。
 異常として接触が発生した時点の前後では、振動測定部の出力は、比較的大きく変化するが、非接触の場合でも例えば回転機の運転条件が変化すると、振動測定部の出力は、徐々に変化する場合がある。前記第1および第2期間それぞれの前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnにおける変化量、特にそれらにおける各成分ごとの差分の2乗和は、接触の周期性の変化を表すことから、非接触の状態から接触が発生した時点や、接触の状態自体が変化した時点で比較的大きくなる特徴を持っている。上記回転機異常検出装置は、このような前記変化量を前記所定の特徴量として求めているので、非接触の状態から接触が発生した時点や、接触の状態自体が変化した時点を、より高精度に検出できる。また、バックグラウンドノイズが比較的大きい場合でも、そのトレンド(傾向)に変化が無い場合には、前記変化量も大きくならないので、上記回転機異常検出装置は、過検出を少なくできる。
 他の一態様では、上述の回転機異常検出装置において、前記特徴量処理部は、前記周波数スペクトルから、前記基本波歯合周波数f1および前記最小公倍数XABまでのn次高調波歯合周波数fn(n=2~XAB)における互いに隣接した周波数間に在る所定の周波数gの非高調波成分Gをさらに求め、前記求めた基本波成分F1、n次高調波成分Fnおよび非高調波成分Gに基づいて前記所定の特徴量を求める。好ましくは、上述の回転機異常検出装置において、前記基本波歯合周波数f1および前記n次高調波歯合周波数fnから最も離れた周波数を求める観点から、前記非高調波成分Gは、前記周波数間の中央に当たる周波数の成分である(Gk=(Fk+Fk+1)/2、k=1~XAB-1の整数)。好ましくは、上述の回転機異常検出装置において、前記特徴量処理部は、前記周波数スペクトルから、前記基本波歯合周波数f1および前記最小公倍数XABまでのn次高調波歯合周波数fn(n=2~XAB)における互いに隣接した各周波数間に在る所定の各周波数gkの各非高調波成分Gk(kは1から(XAB-1)までの範囲内の整数)をさらに求め、前記求めた基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnの総和を前記求めた非高調波成分Gkの総和で除した成分総和比を前記所定の特徴量として求める。
 振動測定部の出力には、単発の電気ノイズ等が重畳する場合がある。上記回転機異常検出装置は、前記非高調波成分Gもさらに考慮して前記所定の特徴量を求めるので、このような単発の電気ノイズ等の重畳が異常の検出に与える影響を回避でき、周期性の無いノイズを低減できる。
 他の一態様では、上述の回転機異常検出装置において、前記第1および第2回転体における異常の態様ごとに、前記異常の態様に対応した前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnの各モデル値をモデル情報として予め記憶するモデル情報記憶部をさらに備え、前記特徴量処理部は、前記異常の態様ごとに、前記求めた基本波成分F1およびn次高調波成分Fnと前記モデル情報との一致の程度を表す一致度を求め、前記異常の態様ごとに求めた一致度の中から最大の一致度を前記所定の特徴量として求める。
 このような回転機異常検出装置は、前記異常の態様ごとに求めた一致度の中から最大の一致度を前記所定の特徴量として求めるので、電気的なパスルノイズや、外部からの衝撃による単発で比較的大きな振幅を持つノイズと、例えば接触等の異常とを弁別でき、より高精度に異常を検出できる。
 他の一態様では、上述の回転機異常検出装置において、前記異常判定部は、前記特徴量処理部で前記異常の態様ごとに求めた一致度の中から最大の一致度を持つ異常の態様で前記回転機における異常が有ると判定する。
 このような回転機異常検出装置は、異常の態様を検出できる。
 他の一態様では、上述の回転機異常検出装置において、前記第1および第2回転体における異常の態様ごとに、前記異常の態様に対応した前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnの各モデル値をモデル情報として予め記憶するモデル情報記憶部をさらに備え、前記スペクトル処理部は、互いに異なる第1および第2期間それぞれで測定された第1および第2測定データの第1および第2周波数スペクトルそれぞれを求め、前記特徴量処理部は、前記求めた基本波成分F1およびn次高調波成分Fnの総和を求める総和処理、前記第1および第2周波数スペクトルそれぞれから、前記第1および第2期間それぞれの前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnを求め、これら求めた前記第1および第2期間それぞれの前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnにおける変化量を求める変化量処理、前記周波数スペクトルから、前記基本波歯合周波数f1および前記最小公倍数XABまでのn次高調波歯合周波数fn(n=2~XAB)における互いに隣接した各周波数間に在る所定の各周波数giの各非高調波成分Gi(iは1から(n-1)までの範囲内の整数)をさらに求め、前記求めた基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnの総和を前記求めた非高調波成分Giの総和で除した成分総和比を求める成分総和比処理、前記異常の態様ごとに、前記求めた基本波成分F1およびn次高調波成分Fnと前記モデル情報との一致の程度を表す一致度を求め、前記異常の態様ごとに求めた一致度の中から最大の一致度を求める最大一致度処理のうちの複数の処理を行い、前記行った複数の処理の処理結果に基づいて前記所定の特徴量を求める。
 このような回転機異常検出装置は、前記行った複数の処理の処理結果に基づいて前記所定の特徴量を求めるので、より高精度に異常を検出できる。
 他の一態様では、これら上述の回転機異常検出装置において、前記スペクトル処理部は、ノイズを除去するためのハイパスフィルタと、前記振動測定部で測定した、前記ハイパスフィルタを介した測定データの周波数スペクトルを求めるサブスペクトル処理部とを備える。
 このような回転機異常検出装置は、前記ハイパスフィルタを備えるので、比較的低周波数帯域に分布するバックグラウンドノイズを除去できる。したがって、上記回転機異常検出装置は、より高精度に異常を検出できる。
 他の一態様にかかる回転機異常検出方法において、正常状態において互いに所定の間隔を空けて係合しつつ所定の各軸に対し軸回りに回転する第1および第2回転体を備える回転機における異常を検出する回転機異常検出方法であって、前記第1および第2回転体のうちの少なくとも一方に起因して生じた振動を測定する振動測定工程と、前記振動測定工程で測定した測定データの周波数スペクトルを求めるスペクトル処理工程と、前記スペクトル処理工程で求めた周波数スペクトルに基づいて所定の周波数成分に関わる所定の特徴量を求める特徴量処理工程と、前記特徴量処理工程で求めた特徴量に基づいて前記回転機における異常の有無を判定する異常判定工程と、前記スペクトル処理工程で求めた周波数スペクトルに基づいて前記振動測定工程で測定した測定データに重畳するノイズの有無を判定するノイズ判定工程とを備え、前記ノイズ判定工程は、前記異常判定工程によって異常が有ると判定された場合に実施され、前記異常判定工程は、さらに、前記ノイズ判定工程によって前記ノイズが無いと判定された場合に、前記判定した異常を最終的に異常とする。
 このような回転機異常検出方法は、前記ノイズ判定工程によって前記ノイズが無いと判定された場合に、前記異常判定工程によって判定された異常を最終的に異常とするので、前記ノイズを含む測定データに基づく異常の判定と前記ノイズを含まない測定データに基づく異常の判定とを弁別でき、異常をより高い信頼度で判定できる。そして、上記回転機異常検出方法は、前記異常判定工程によって異常が有ると判定された場合に、前記ノイズ判定工程を実施するので、したがって、前記異常判定工程によって異常が無いと判定された場合には、前記ノイズ判定工程が実施されないから、その分のデータ処理量を低減できる。
 他の一態様では、これら上述のいずれかの回転機異常検出装置を備える回転機である。
 これによれば、これら上述のいずれかの回転機異常検出装置を備える回転機が提供され、このような回転機は、これら上述のいずれかの回転機異常検出装置を備えるので、異常をより高い信頼度で判定できる。
 この出願は、2016年10月6日に出願された日本国特許出願特願2016-197684を基礎とするものであり、その内容は、本願に含まれるものである。
 本発明を表現するために、上述において図面を参照しながら実施形態を通して本発明を適切且つ十分に説明したが、当業者であれば上述の実施形態を変更および/または改良することは容易に為し得ることであると認識すべきである。したがって、当業者が実施する変更形態または改良形態が、請求の範囲に記載された請求項の権利範囲を離脱するレベルのものでない限り、当該変更形態または当該改良形態は、当該請求項の権利範囲に包括されると解釈される。
 本発明によれば、回転機異常検出装置および回転機異常検出方法ならびに前記回転機異常検出装置を備える回転機が提供できる。
 

Claims (14)

  1.  正常状態において互いに所定の間隔を空けて係合しつつ所定の各軸に対し軸回りに回転する第1および第2回転体を少なくとも備える回転機における異常を検出する回転機異常検出装置であって、
     前記第1および第2回転体のうちの少なくとも一方に起因して生じた振動を測定する振動測定部と、
     前記振動測定部で測定した測定データの周波数スペクトルを求めるスペクトル処理部と、
     前記スペクトル処理部で求めた周波数スペクトルに基づいて所定の周波数成分に関わる所定の特徴量を求める特徴量処理部と、
     前記特徴量処理部で求めた所定の特徴量に基づいて前記回転機における異常の有無を判定する異常判定部と、
     前記異常判定部によって異常が有ると判定された場合に、前記スペクトル処理部で求めた周波数スペクトルに基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定するノイズ判定部とを備え、
     前記異常判定部は、さらに、前記ノイズ判定部が前記ノイズに因らないと判定した場合に、前記判定した異常を最終的に異常とする、
     回転機異常検出装置。
  2.  前記異常判定部によって異常が無いと判定された場合において前記振動測定部で測定した測定データの周波数スペクトルを正常時周波数スペクトルとして記憶する記憶部をさらに備え、
     前記ノイズ判定部は、前記スペクトル処理部で求めた周波数スペクトルと前記記憶部に記憶された正常時周波数スペクトルと差に基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定する、
     請求項1に記載の回転機異常検出装置。
  3.  前記ノイズ判定部は、前記差における最大値から前記差における平均値を減算した減算結果に基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定する、
     請求項2に記載の回転機異常検出装置。
  4.  前記ノイズ判定部は、前記差における最大値から前記差における中間値を減算した減算結果に基づいて前記異常の判定がノイズに因るか否かを判定する、
     請求項2に記載の回転機異常検出装置。
  5.  前記特徴量処理部は、前記第1回転体の第1歯数および第1回転周波数それぞれをMA[個]およびVA[Hz]とし、前記第2回転体の第2歯数をMB[個]とし、前記第1歯数MAと前記第2歯数MBとの最小公倍数をXABとし、前記第1回転周波数VAを前記第1歯数MAで除した基本波歯合周波数VA/MAをf1[Hz]とし、前記基本波歯合周波数f1に対するn次高調波歯合周波数(nは2以上の整数)をfn[Hz]とする場合に、前記周波数スペクトルから、前記基本波歯合周波数f1の基本波成分F1および前記最小公倍数XABまでのn次高調波歯合周波数fn(n=2~XAB)のn次高調波成分Fnを求め、前記求めた基本波成分F1およびn次高調波成分Fnに基づいて前記所定の特徴量を求める、
     請求項1に記載の回転機異常検出装置。
  6.  前記スペクトル処理部は、互いに異なる第1および第2期間それぞれで測定された第1および第2測定データの第1および第2周波数スペクトルそれぞれを求め、
     前記特徴量処理部は、前記第1および第2周波数スペクトルそれぞれから、前記第1および第2期間それぞれの前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnを求め、これら求めた前記第1および第2期間それぞれの前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnにおける変化量を前記所定の特徴量として求める、
     請求項5に記載の回転機異常検出装置。
  7.  前記特徴量処理部は、これら求めた前記第1および第2期間それぞれの前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnにおける各成分ごとの差分の2乗和を前記変化量として求める、
     請求項6に記載の回転機異常検出装置。
  8.  前記特徴量処理部は、前記周波数スペクトルから、前記基本波歯合周波数f1および前記最小公倍数XABまでのn次高調波歯合周波数fn(n=2~XAB)における互いに隣接した周波数間に在る所定の周波数gの非高調波成分Gをさらに求め、前記求めた基本波成分F1、n次高調波成分Fnおよび非高調波成分Gに基づいて前記所定の特徴量を求める、
     請求項5に記載の回転機異常検出装置。
  9.  前記第1および第2回転体における異常の態様ごとに、前記異常の態様に対応した前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnの各モデル値をモデル情報として予め記憶するモデル情報記憶部をさらに備え、
     前記特徴量処理部は、前記異常の態様ごとに、前記求めた基本波成分F1およびn次高調波成分Fnと前記モデル情報との一致の程度を表す一致度を求め、前記異常の態様ごとに求めた一致度の中から最大の一致度を前記所定の特徴量として求める、
     請求項5に記載の回転機異常検出装置。
  10.  前記異常判定部は、前記特徴量処理部で前記異常の態様ごとに求めた一致度の中から最大の一致度を持つ異常の態様で前記回転機における異常が有ると判定する、
     請求項9に記載の回転機異常検出装置。
  11.  前記第1および第2回転体における異常の態様ごとに、前記異常の態様に対応した前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnの各モデル値をモデル情報として予め記憶するモデル情報記憶部をさらに備え、
     前記スペクトル処理部は、互いに異なる第1および第2期間それぞれで測定された第1および第2測定データの第1および第2周波数スペクトルそれぞれを求め、
     前記特徴量処理部は、前記求めた基本波成分F1およびn次高調波成分Fnの総和を求める総和処理、前記第1および第2周波数スペクトルそれぞれから、前記第1および第2期間それぞれの前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnを求め、これら求めた前記第1および第2期間それぞれの前記基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnにおける変化量を求める変化量処理、前記周波数スペクトルから、前記基本波歯合周波数f1および前記最小公倍数XABまでのn次高調波歯合周波数fn(n=2~XAB)における互いに隣接した各周波数間に在る所定の各周波数giの各非高調波成分Gi(iは1から(n-1)までの範囲内の整数)をさらに求め、前記求めた基本波成分F1および前記n次高調波成分Fnの総和を前記求めた非高調波成分Giの総和で除した成分総和比を求める成分総和比処理、前記異常の態様ごとに、前記求めた基本波成分F1およびn次高調波成分Fnと前記モデル情報との一致の程度を表す一致度を求め、前記異常の態様ごとに求めた一致度の中から最大の一致度を求める最大一致度処理のうちの複数の処理を行い、前記行った複数の処理の処理結果に基づいて前記所定の特徴量を求める、
     請求項5に記載の回転機異常検出装置。
  12.  前記スペクトル処理部は、ノイズを除去するためのハイパスフィルタと、前記振動測定部で測定した、前記ハイパスフィルタを介した測定データの周波数スペクトルを求めるサブスペクトル処理部とを備える、
     請求項1に記載の回転機異常検出装置。
  13.  正常状態において互いに所定の間隔を空けて係合しつつ所定の各軸に対し軸回りに回転する第1および第2回転体を備える回転機における異常を検出する回転機異常検出方法であって、
     前記第1および第2回転体のうちの少なくとも一方に起因して生じた振動を測定する振動測定工程と、
     前記振動測定工程で測定した測定データの周波数スペクトルを求めるスペクトル処理工程と、
     前記スペクトル処理工程で求めた周波数スペクトルに基づいて所定の周波数成分に関わる所定の特徴量を求める特徴量処理工程と、
     前記特徴量処理工程で求めた特徴量に基づいて前記回転機における異常の有無を判定する異常判定工程と、
     前記スペクトル処理工程で求めた周波数スペクトルに基づいて前記振動測定工程で測定した測定データに重畳するノイズの有無を判定するノイズ判定工程とを備え、
     前記ノイズ判定工程は、前記異常判定工程によって異常が有ると判定された場合に実施され、前記異常判定工程は、さらに、前記ノイズ判定工程によって前記ノイズが無いと判定された場合に、前記判定した異常を最終的に異常とする、
     回転機異常検出方法。
  14.  請求項1に記載の回転機異常検出装置を備える回転機。
     
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