WO2018056208A1 - 光波長測定装置 - Google Patents

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WO2018056208A1
WO2018056208A1 PCT/JP2017/033445 JP2017033445W WO2018056208A1 WO 2018056208 A1 WO2018056208 A1 WO 2018056208A1 JP 2017033445 W JP2017033445 W JP 2017033445W WO 2018056208 A1 WO2018056208 A1 WO 2018056208A1
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WO
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wavelength
output
light
optical
tunable filter
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Application number
PCT/JP2017/033445
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English (en)
French (fr)
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圭一 藤田
容 尾嶋
直幸 大井
尚志 川上
広樹 小林
顕 小川
Original Assignee
長野計器株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength

Definitions

  • the present invention relates to an optical wavelength measuring device.
  • An optical wavelength change sensor having a fiber Bragg grating (FBG) element that outputs a wavelength corresponding to a physical quantity, and an optical wavelength measurement device using other sensors are known.
  • FBG fiber Bragg grating
  • an optical wavelength measurement device there is an optical sensor measurement device that acquires a reflection spectrum of a plurality of FBG sensors using a wavelength variable light source and measures a peak wavelength value in the spectrum (Patent Document 1).
  • the variable wavelength light source sweeps the wavelength of the output light in synchronization with the control clock.
  • the wavelength tunable light source sweeps light having a wavelength of ⁇ s to ⁇ e and reaches the reflection wavelength of each FBG sensor, the reflected light passes through a circulator and is converted into a voltage by a photoelectric conversion circuit. By measuring which wavelength the wavelength tunable light source outputs, the peak of the voltage waveform is obtained, and the wavelength of the peak can be obtained.
  • an acoustooptic wavelength tunable filter to which a light source having an FBG, reference light output from the light source and measured light output from the sensor are input, and output light output from the acoustooptic wavelength filter are provided.
  • an optical spectrum analyzer that includes a light receiver for receiving light, and that corrects the wavelength of the selected light obtained from the light to be measured by an arithmetic unit based on the wavelength and excitation frequency of the selected light when the reference light is incident (patent) Reference 2).
  • a waveguide type acoustooptic wavelength tunable filter to which light to be measured is input a heating adjustment heater for heating and keeping the waveguide type acoustooptic wavelength tunable filter, and a waveguide acoustooptic wavelength tunable filter
  • a light receiver that receives output light that is output
  • an optical spectrum analyzer that calculates an optical spectrum of measured light based on an output signal from the light receiver
  • JP 2010-151601 A International Publication No. 2007/083609 International Publication No. 2008/152879
  • Patent Document 1 since a plurality of threshold values are set, the structure of the apparatus is complicated and expensive. Furthermore, the setting itself becomes complicated and inconvenient.
  • the reference light itself does not have temperature characteristics. Since the reference light is FBG, it is necessary to athermalize the temperature control function for keeping the FBG at a constant temperature and the FBG itself, but there is no disclosure of means for achieving it.
  • a Peltier element or a resistance heater is used as a heating adjustment heater for heating and keeping the waveguide type acoustooptic wavelength tunable filter. Expensive means are required.
  • An object of the present invention is to provide an optical wavelength measuring apparatus having a simple structure, high stability with respect to temperature changes, and capable of performing a wide range of measurement with high accuracy.
  • An optical wavelength measuring device of the present invention includes an acoustooptic wavelength tunable filter that selectively extracts a predetermined wavelength from input light, a high frequency voltage generation circuit that excites the acoustooptic wavelength tunable filter by adding a high frequency signal, and an arbitrary reference
  • a reference wavelength generator that outputs wavelength light
  • an optical wavelength change sensor that outputs light of a wavelength according to a physical quantity installed on the object to be measured, and the output light output from the acoustooptic wavelength tunable filter is the reference wavelength.
  • a filter temperature detector for detecting the temperature of the variable filter, and a control for controlling a frequency signal output from the high frequency voltage generation circuit to the acousto-optic wavelength tunable filter based on a temperature signal output from the filter temperature detector And a section.
  • a predetermined wavelength is selectively extracted from the input light by an acousto-optic wavelength tunable filter called AOTF.
  • the selectively extracted output light is input to the reference wavelength generator and the optical wavelength change sensor by the input unit.
  • the optical wavelength change type sensor light having a wavelength corresponding to a physical quantity is output, and this output light is sent to a measuring light receiver by an input unit.
  • the output light output from the reference wavelength generator is sent to the measuring light receiver.
  • the signal output from the measuring light receiver is sent to the arithmetic circuit, and the arithmetic circuit calculates the wavelength according to the physical quantity of the optical wavelength sensor.
  • the filter temperature detection unit and the control unit are provided, the temperature of the acousto-optic wavelength tunable filter is detected by the filter temperature detection unit, and the control unit has a high frequency based on the temperature signal from the filter temperature detection unit.
  • the frequency signal output to the acousto-optic tunable filter is controlled by the voltage generation circuit.
  • the wavelength range of the output light sent from the acousto-optic wavelength tunable filter to the reference wavelength generator and the optical wavelength change type sensor becomes the wavelength range of the output light whose temperature is corrected. Therefore, output light having a specific wavelength can be output from the acoustooptic wavelength tunable filter without being affected by temperature change, and an optical wavelength measuring device having high stability against temperature change can be provided.
  • a generator temperature detector for detecting the temperature of the reference wavelength generator is provided, and the arithmetic circuit is output from the reference wavelength generator based on a temperature signal output from the generator temperature detector.
  • a configuration having a wavelength calculation unit for calculating the wavelength of output light is preferable. In this configuration, since the temperature detector for the generator is provided in the reference wavelength generator, even when a reference wavelength generator that is affected by a temperature change is used, the reference wavelength generator is detected using the detected temperature signal of the reference wavelength generator. It is possible to improve the measurement accuracy by calculating the wavelength of the output light output from the wavelength calculating unit.
  • an optical amplifier disposed on a light input side or a light output side of the acoustooptic wavelength tunable filter, and output light output from one of the acoustooptic wavelength tunable filter and the optical amplifier is changed to the acoustooptic wavelength tunable.
  • a configuration including a filter and a feedback unit that feeds back to the other of the optical amplifiers is preferable. With this configuration, it is possible to easily increase the intensity of light input to the reference wavelength generator and the optical wavelength change sensor and the wavelength range of the sweep.
  • the acoustooptic wavelength tunable filter and the filter temperature detecting unit are disposed in the same casing.
  • the acousto-optic wavelength tunable filter and the filter temperature detecting unit disposed in the same casing are in an approximate temperature environment, the temperature of the acousto-optic wavelength tunable filter is correctly detected by the filter temperature detecting unit. As a result, the measurement accuracy can be improved.
  • the acoustooptic wavelength tunable filter and the reference wavelength generator are arranged in the same casing.
  • the filter temperature detection unit can also serve as the generator temperature detection unit. Reduction can be achieved.
  • the measuring light receiver is disposed in the same casing as the acoustooptic wavelength tunable filter and the reference wavelength generator.
  • the measuring light receiver is disposed in the same casing together with the acousto-optic tunable filter and the reference wavelength generator, so that an optical cable for connecting these members is not necessary, and the cost can be reduced.
  • the input unit inputs the output light output from the acoustooptic wavelength tunable filter to the reference wavelength generator, and the output light output from the acoustooptic wavelength tunable filter A second input unit for inputting to the optical wavelength variation sensor, wherein the measurement light receiver includes a first optical receiver that receives the output light output from the reference wavelength generator, and the optical wavelength variation type A reference light receiver having a second light receiver for receiving the output light output from the sensor via the second input unit, and further receiving the output light output from the acoustooptic wavelength tunable filter A separation unit that separates output light output from the acoustooptic wavelength tunable filter into the second input unit and the reference light receiver, and an output value of a signal output from the reference light receiver
  • the first receiver and the second receiver A divider for dividing an output value of the signal output from at least one of the vessels, configurations with are preferred.
  • the output light output from the acoustooptic wavelength tunable filter is sent to the reference wavelength generator by the first input unit, and the reference wavelength light is sent from the reference wavelength generator to the first light receiver.
  • the output light output from the acousto-optic wavelength tunable filter is separated into the second input unit and the reference light receiver by the separation unit.
  • the output light sent to the second input unit is sent to the optical wavelength change type sensor, and the reflected light reflected by the optical wavelength change type sensor is sent as measurement light to the second light receiver via the second input unit.
  • the output light sent from the separation unit is sent to the reference light receiver as reference light.
  • An output signal is sent from the first light receiver, the second light receiver, and the reference light receiver to the divider, and the divider outputs the reference light output value and the reference light output value. Division is performed.
  • the reference wavelength generator and the optical wavelength change type depend on the type and individual difference of the light source that inputs the input light to the acousto-optic wavelength change filter, as well as the type and individual difference of the acousto-optic wavelength tunable filter itself, temperature change, change over time, etc.
  • the structure of the optical wavelength measuring device can be simplified. Furthermore, because the measuring light receiver is divided into a first light receiver and a second light receiver, the reference light and the output light output from the optical wavelength change type sensor are set to the same optical wavelength band. Therefore, a wide range of measurements can be accurately performed with a simple structure.
  • the graph which shows the relationship between time and the received light intensity output from a light-receiving part.
  • the graph which shows the relationship between the wavelength of the signal output from the light receiver for reference light, and a voltage.
  • the graph which shows the relationship between the wavelength of the signal output from the light receiver for measurement light, and a voltage.
  • the graph which shows the relationship between the wavelength of the signal output from a divider, and a voltage.
  • the graph which shows the relationship between the wavelength of the output light output from a reference
  • FIG. 1 shows a schematic configuration of the optical wavelength measuring device 1.
  • an optical wavelength measuring device 1 includes an optical module 10, an optical wavelength change sensor 20, a light receiving unit 3A, a control unit 40, a high-frequency voltage generation circuit 50, and a light receiving unit 3A connected to the optical module 10, respectively.
  • the light receiving unit 3A includes a measuring light receiver 30 and a reference light receiver 33.
  • the light source 80 is composed of a broadband light source.
  • the optical module 10 includes an acoustooptic wavelength tunable filter 12, a reference wavelength generator 13, an input unit 140, and a separation unit 151 that are provided in the casing 11.
  • the input unit 140 includes a beam splitter or a circulator.
  • adjacent members are connected by an optical fiber.
  • the separation unit 151 and the reference light receiver 33 and the input unit 140 and the measurement light receiver 30 are connected by optical fibers or connected via a space, respectively.
  • the acoustooptic wavelength tunable filter 12 is an element that selectively extracts a predetermined wavelength from input light, and is referred to as an AOTF (Acoustro Optical Tunable Filter).
  • the acoustooptic wavelength tunable filter 12 is a waveguide filter having an IDT 120 that receives input light from the light source 80 and a high-frequency signal from the high-frequency voltage generation circuit 50.
  • IDT 120 is an Inter Digital Transducer (comb electrode).
  • the reference wavelength generator 13 includes elements such as an etalon, a gas cell (Hydrogen CiaNyde; HCN), a fiber Bragg grating (FBG), and a dielectric multilayer filter.
  • the reference wavelength generator 13 outputs the output light output from the acousto-optic wavelength tunable filter 12 to the optical wavelength change type sensor 20, and the input unit 140 uses the output light from the optical wavelength change type sensor 20 as an arbitrary reference wavelength light. Send to.
  • the input unit 140 outputs the output light (measurement light) corresponding to the physical quantity of the optical wavelength change sensor 20 from the optical wavelength change sensor 20 and the reference wavelength light output from the reference wavelength generator 13 to the measurement light receiver 30.
  • the separation unit 151 is disposed between the acoustooptic wavelength tunable filter 12 and the input unit 140, and outputs output light output from the acoustooptic wavelength tunable filter 12 to the input unit 140 and reference light. The light is separated into reference light traveling toward the light receiver 33.
  • the optical wavelength change sensor 20 is composed of a single or a plurality of sensors in an optical fiber, and is installed in a measurement object (not shown).
  • the sensor includes a derivative multilayer filter type, an FBG type, and a Fabry-Perot interference type.
  • the optical wavelength change type sensor 20 inputs the output light of the acousto-optic wavelength tunable filter 12 via the input unit 140 and emits reflected light toward the input unit 140.
  • the reflected light output from the optical wavelength change sensor 20 corresponds to the change in the physical quantity of the measurement object on which the optical wavelength change sensor 20 is installed.
  • the arithmetic circuit 60 receives a signal output from each of the measuring light receiver 30 and the reference light receiver 33, and receives the output signal from the divider 600. And a wavelength calculation unit 63 for calculating.
  • FIG. 2 shows the relationship between time and the received light intensity output from the light receiving unit 3A.
  • the received light intensity of the reference wavelength light output from the measuring light receiver 30 peaks at wavelengths ⁇ r1 , ⁇ r2 , ⁇ r3 , ⁇ r4 , and ⁇ r5 .
  • the received light intensity of the measurement light output from the measurement light receiver 30 has a peak at wavelengths ⁇ f1 and ⁇ f2 .
  • the time at ⁇ f1 is t f1
  • the time at ⁇ f2 is t f2 .
  • the wavelength calculation unit 63 obtains the wavelength ⁇ f1 and the wavelength ⁇ f2 of the optical wavelength change sensor 20 by the following calculation formula.
  • the wavelength calculated by the wavelength calculation unit 63 is output to the output unit 70.
  • the wavelength calculation method is obtained from the relative time difference between ⁇ rn and ⁇ fn, and is not limited to the method using the above-described calculation formula.
  • the output unit 70 may be a display unit that displays the wavelength value calculated by the wavelength calculation unit 63, or may be a memory such as a Lan, a hard disk (HD), or an SD card.
  • a measuring light receiver 30 and a reference light receiver 33 each have an amplifier, and constitute a photoelectric conversion circuit.
  • the output light output from the acoustooptic wavelength tunable filter 12 is branched into two by the separation unit 151.
  • One of the output lights branched into two by the separation unit 151 is sent to the optical wavelength change sensor 20 via the input unit 140.
  • the output from the optical wavelength change type sensor 20, that is, the reflected light ( ⁇ 1 , ⁇ 2 ,... ⁇ n ) is received by the measurement light receiver 30 as measurement light.
  • the measuring light is converted into a spectrum waveform signal by the measuring light receiver 30. This spectrum is shown in FIG. 3B. It can be seen that the spectrum waveform shown in FIG. 3B has a mountain shape with a high voltage in the vicinity of the wavelength of 1545 nm.
  • the other of the output lights branched in two by the separation unit 151 is received by the reference light receiver 33 as reference light.
  • the reference light is converted into a spectrum waveform signal by the reference light receiver 33.
  • This spectrum is shown in FIG. 3A.
  • the spectral shape of the output light output from the acousto-optic wavelength tunable filter 12 and changes with time are shown.
  • Th indicates a threshold value.
  • the threshold value Th is 0.6V.
  • the signal having the spectrum waveform shown in FIG. 3B is obtained by multiplying the reflection spectrum of the optical wavelength change type sensor 20 by the spectrum of the acoustooptic wavelength tunable filter 12.
  • Signals output from the measurement light receiver 30 and the reference light receiver 33 are sent to the divider 600.
  • the divider 600 divides the output value of the signal output from the measurement light receiver 30 by the output value of the signal output from the reference light receiver 33. As shown in FIG. 3C, it can be seen that the spectral waveform signal after the division is less influenced by the spectrum of the acousto-optic tunable filter 12.
  • a high-frequency voltage generation circuit 50 excites a high-frequency signal to the acousto-optic wavelength tunable filter 12 and amplifies a high-frequency signal generation element 51 and a high-frequency signal output from the high-frequency signal generation element 51. And an amplifier 52 for sending to the IDT 120.
  • the high-frequency signal generating element 51 includes a voltage controlled oscillator (VCO) and a digital IC (Direct Digital Synthesizer) that generates a waveform using a DA converter.
  • VCO voltage controlled oscillator
  • digital IC Direct Digital Synthesizer
  • the casing 11 is provided with a filter temperature detector 91 that detects the temperature of the acoustooptic wavelength tunable filter 12.
  • the filter temperature detection unit 91 is configured by an element that detects a temperature, such as a thermocouple, a thermistor, or a platinum resistance thermometer.
  • the temperature signal of the acousto-optic wavelength tunable filter 12 detected by the filter temperature detection unit 91 is sent to the control unit 40, and the high-frequency signal generating element 51 is controlled by the control unit 40.
  • FIG. 4 shows the relationship between the sweep frequency input to the acoustooptic wavelength tunable filter 12 from the high frequency voltage generation circuit 50 and the temperature.
  • the sweep frequency region input from the high-frequency voltage generation circuit 50 to the acoustooptic wavelength tunable filter 12 is indicated by hatching.
  • the sweep start position is indicated by fa, and the end of sweep is indicated by fb.
  • the sweep start position fa is expressed by the following expression that expresses the temperature t as a variable.
  • fa fr + ⁇ (t ⁇ tr)
  • ⁇ is a frequency temperature coefficient, which is a specific value of the acoustooptic wavelength tunable filter 12, and is usually 0.1 MHz / ° C.
  • tr is a reference temperature (for example, 25 ° C.)
  • fr is a sweep start frequency at the reference temperature. From this equation, the sweep start frequency is determined. That is, the control unit 40 that has received the signal of the temperature tr detected by the filter temperature detecting unit 91 determines the sweep start frequency fr based on the above-described equation and the graph of FIG. A signal is sent to the high-frequency signal generating element 51 so as to sweep in the range of C (for example, 10 MHz).
  • a generator temperature detector 92 that detects the temperature of the reference wavelength generator 13 is disposed inside the casing 11.
  • the temperature signal of the reference wavelength generator 13 detected by the generator temperature detector 92 is sent to the wavelength calculator 63.
  • the wavelength calculator 63 corrects the wavelength of the output light output from the reference wavelength generator 13 based on the temperature signal output from the generator temperature detector 92.
  • FIG. 5 shows the relationship between the wavelength of the output light output from the reference wavelength generator 13 and the transmittance.
  • the transmittances of the wavelength ⁇ rm ⁇ 1, the wavelength ⁇ rm, and the wavelength ⁇ rm + 1 are centered around the temperature of 30 ° C.
  • the wavelength is small at the temperature of 0 ° C.
  • the wavelength at the temperature of 60 ° C. Is big.
  • the wavelength of the output light output from the reference wavelength generator 13 changes due to the influence of temperature.
  • the amount of change is a change between 30 ° C. and 60 ° C., and a change between 0 ° C. and 30 ° C., respectively. 5 pm / ° C.
  • FIG. 6 shows the relationship between the temperature and wavelength of the output light output from the reference wavelength generator 13.
  • the wavelengths ⁇ rm ⁇ 1, ⁇ rmm, and ⁇ rm + 1 increase.
  • the wavelength ⁇ rm of the reference wavelength generator 13 is expressed by the following equation using the temperature t as a variable.
  • ⁇ rm ⁇ tr + ⁇ (t ⁇ tr)
  • ⁇ is a wavelength temperature coefficient, which is a specific value of the reference wavelength generator 13.
  • t is the temperature obtained by the generator temperature detector 92
  • tr is the reference temperature
  • ⁇ tr is the wavelength of the output light output from the reference wavelength generator 13 at the reference temperature tr.
  • the temperature of the acoustooptic wavelength tunable filter 12 is detected by the filter temperature detecting unit 91, and the control unit 40 uses the high frequency voltage generating circuit 50 to control the acoustooptic wavelength tunable filter based on the temperature signal from the filter temperature detecting unit 91.
  • the frequency signal output to 12 is controlled. Therefore, the output light sent from the acousto-optic wavelength tunable filter 12 to the reference wavelength generator 13 and the optical wavelength change sensor 20 can be temperature-corrected output light, and the optical wavelength measurement has high stability against temperature change.
  • An apparatus can be provided.
  • the generator temperature detector 92 Since the generator temperature detector 92 is provided in the reference wavelength generator 13, the calculation result of the reference wavelength output from the reference wavelength generator 13 using the detected temperature signal of the reference wavelength generator 13 is used as the wavelength calculator.
  • the measurement accuracy can be improved by correcting at 63.
  • the acousto-optic wavelength tunable filter 12 and the filter temperature detecting unit 91 are disposed inside the same casing 11, these members are in an approximate temperature environment. Therefore, the temperature of the acousto-optic wavelength tunable filter 12 is accurately detected by the filter temperature detector 91, and the measurement accuracy can be improved.
  • the reference wavelength generator 13 and the generator temperature detector 92 are disposed in the same casing 11, these members are in an approximate temperature environment. Therefore, the temperature of the reference wavelength generator 13 is accurately detected by the generator temperature detector 92, and the measurement accuracy can be further improved.
  • the filter temperature detection unit 91 can also serve as the generator temperature detection unit 92, and the number of components can be reduced.
  • the filter temperature detection unit 91 also serves as the generator temperature detection unit 92, the temperature signal S from the filter temperature detection unit 91 of FIG. 1 is sent to the wavelength calculation unit 63.
  • the reference light receiver 33 that receives the output light output from the acoustooptic wavelength tunable filter 12, the output light output from the acoustooptic wavelength tunable filter 12, the input unit 140, and the reference light receiver 33
  • the divider 600 that divides the output value of the signal output from the measurement light receiver 30 by the output value of the signal output from the reference light receiver 33.
  • FIG. 7 shows a schematic configuration of the optical wavelength measuring device 2 according to the second embodiment.
  • the optical wavelength measuring device 2 includes a casing 11, an acoustooptic wavelength tunable filter 12, a filter temperature detection unit 91, an input unit 140, a separation unit 151, and a reference wavelength generator, which are disposed inside the casing 11. 13, a generator temperature detector 92 and a light receiver 3A.
  • the acoustooptic wavelength tunable filter 12, the separation unit 151, the input unit 140, the reference wavelength generator 13, the measurement light receiver 30, and the reference light receiver 33 are each arranged on a straight line with a predetermined gap. Unlike the first embodiment, an optical fiber is not disposed between them, but is a space. Also in the present embodiment, as in the first embodiment, the acousto-optic wavelength tunable filter 12, the separation unit 151, the input unit 140, the reference wavelength generator 13, the measurement light receiver 30, and the reference light receiver 33 are used. They may be connected by optical fibers.
  • the measurement light receiver 30 and the reference light receiver 33 are arranged in the same casing 11 as the acoustooptic wavelength tunable filter 12 and the reference wavelength generator 13. Therefore, by providing a space between these members, an optical cable for connecting them becomes unnecessary, and the cost can be reduced.
  • FIG. 8 shows a schematic configuration of the optical wavelength measuring device 3 according to the third embodiment.
  • the optical wavelength measurement device 3 includes a casing 11 and an acoustooptic wavelength tunable filter 12, a filter temperature detection unit 91, an input unit 140, a separation unit 151, and a reference wavelength generator, which are disposed inside the casing 11. And a generator temperature detector 92 and a light receiver 3A, and an arithmetic circuit 60 connected to the light receiver 3A.
  • the light receiving unit 3 ⁇ / b> A includes a measurement light receiver and a reference light receiver 33, and the measurement light receiver 30 includes a first light receiver 31 and a second light receiver 32.
  • the input unit 140 includes a first input unit 141 disposed between the acoustooptic wavelength tunable filter 12 and the separation unit 151, and a second input unit disposed between the separation unit 151 and the optical wavelength change sensor 20. 142.
  • the first input unit 141 inputs the output light output from the acoustooptic wavelength tunable filter 12 to the reference wavelength generator 13.
  • the second input unit 142 sends the output light from the acousto-optic wavelength tunable filter 12 via the separation unit 151 to the optical wavelength change sensor 20, and outputs the output light corresponding to the physical quantity of the optical wavelength change sensor 20 as the measurement light. This is output to the two light receivers 32.
  • the reference wavelength generator 13 inputs the output light output from the acousto-optic wavelength tunable filter 12 via the first input unit 141 and outputs arbitrary reference wavelength light to the first light receiver 31.
  • the separation unit 151 separates output light output from the acoustooptic wavelength tunable filter 12 into output light directed to the second input unit 142 and reference light directed to the reference light receiver 33.
  • the reference light traveling from the separation unit 151 to the reference light receiver 33 and the output light traveling from the separation unit 151 to the second input unit 142 are in a predetermined ratio, for example, a ratio of 1: 9 to 1:19. Divided.
  • Each of the first input unit 141, the second input unit 142, and the separation unit 151 includes a beam splitter.
  • separation part 151 are contained in the optical system comprised with an optical fiber, these elements are comprised from an optical coupler.
  • the second input unit 142 may be constituted by a circulator.
  • the optical wavelength change type sensor 20 inputs the output light of the acousto-optic wavelength tunable filter 12 via the second input unit 142 and emits reflected light toward the second input unit 142.
  • the reflected light output from the optical wavelength change sensor 20 corresponds to the change in the physical quantity of the measurement object on which the optical wavelength change sensor 20 is installed. Examples of physical quantities of the object to be measured include displacement, acceleration, inclination, strain, temperature, and the like.
  • the divider 600 is output from the first divider 61 that receives the signals output from the first light receiver 31 and the reference light receiver 33, the second light receiver 32, and the reference light receiver 33, respectively. And a second divider 62 for receiving the signal.
  • the measurement method in the third embodiment is the same as that in the first embodiment. That is, the output light output from the acoustooptic wavelength tunable filter 12 is branched into two by the separation unit 151. One of the two branched output lights is sent to the optical wavelength change sensor 20 via the second input unit 142. It reflected light from the optical wavelength change sensor 20 ( ⁇ 1, ⁇ 2, ⁇ ⁇ n) again through the second input unit 142, is received as the measurement light by the second light receiver 32. The measurement light is converted into a spectrum waveform signal by the second light receiver 32. The other of the two branched output lights is received by the reference light receiver 33 as reference light. Signals output from the second light receiver 32 and the reference light receiver 33 are sent to the second divider 62.
  • the second divider 62 divides the output value of the signal output from the reference light receiver 33 by the output value of the signal output from the second light receiver 32. That is, the second divider 62 functions as a differential amplifier, and the light obtained by the second light receiver 32 is the spectrum waveform of the acoustooptic wavelength tunable filter 12 obtained by the reference light receiver 33. The spectrum of the reflected light from the wavelength change type sensor 20 is divided (measurement light / reference light).
  • the principles of the first light receiver 31, the reference light receiver 33, and the first divider 61 are also the same as in the examples of FIGS. 3A to 3C.
  • the first divider 61 is configured to divide the output value of the signal output from the first light receiver 31 by the output value of the signal output from the reference light receiver 33.
  • the measurement light receiver 30 receives the reference light output from the reference wavelength generator 13 and the second light reception for receiving the output light output from the optical wavelength change sensor 20. Therefore, the reference wavelength light and the output light output from the optical wavelength change type sensor can be set to the same optical wavelength band, and a wide range of measurements can be made with a simple and accurate structure. It can be carried out.
  • FIG. 9 shows a schematic configuration of the optical wavelength measuring device 4.
  • the input unit in the optical wavelength measurement device 4, includes an optical amplifier 81 and a feedback unit 152 that feeds back the output light output from the acoustooptic wavelength tunable filter 12 to the optical amplifier 81.
  • the optical amplifier 81 includes an erbium-doped fiber amplifier (EDFA) or a semiconductor optical amplifier (SOA).
  • the feedback unit 152 is composed of the same elements as the first input unit 141 and the second input unit 142, and feeds back the output light output from the acoustooptic wavelength tunable filter 12 to the optical amplifier 81 and also to the first input unit 141. send.
  • the feedback unit 152 is disposed between the acoustooptic wavelength tunable filter 12 and the first input unit 141.
  • the position of the feedback unit 152 is not limited.
  • the feedback unit 152 is between the first input unit 141 and the separation unit 151, between the separation unit 151 and the second input unit 142, or between the second input unit 142 and the optical wavelength change sensor 20. It may be arranged in.
  • An input unit that inputs input light to the acoustooptic wavelength tunable filter 12 includes an optical amplifier 81 and a feedback unit 152 that feeds back output light output from the acoustooptic wavelength tunable filter 12 to the optical amplifier 81. Since it is configured, it is possible to easily increase the intensity of light input to the reference wavelength generator 13 and the optical wavelength change sensor 20, and further, it is possible to expand the wavelength sweep range.
  • FIG. 10 shows a schematic configuration of the optical wavelength measuring device 5.
  • the optical amplifier 81 constituting the input unit is disposed between the acousto-optic wavelength variable filter 12 and the feedback unit 152.
  • the feedback unit 152 feeds back the output light output from the acoustooptic wavelength tunable filter 12 to the optical amplifier 81.
  • the same effects as (1) to (6), (8) and (9) of the fourth embodiment can be obtained.
  • FIG. 11 shows a schematic configuration of the optical wavelength measuring device 6.
  • an input unit 140 is disposed between the acoustooptic wavelength tunable filter 12 and the reference wavelength generator 13, and the reference wavelength light and the measurement light transmitted from the input unit 140 are measured light.
  • Sent to the optical receiver 30 An output signal from the measurement light receiver 30 is sent to the wavelength calculation unit 63, and the wavelength calculation unit 63 calculates the measurement wavelength.
  • the same effects as (1) to (5) of the first embodiment can be obtained.
  • FIG. 12 shows a schematic configuration of the optical wavelength measuring device 7.
  • the temperature information of the reference wavelength generator 13 is not sent to the wavelength calculation unit 63.
  • FIG. 13 shows a schematic configuration of the optical wavelength measuring device 8.
  • the reference wavelength generator 13 is disposed between the input unit 140 and the measurement light receiver 30, and the light input from the input unit 140 to the reference wavelength generator 13 is the reference. It is sent to the light receiver 30 for measurement light as wavelength light.
  • a beam splitter 153 is disposed inside the casing 11 between the input unit 140 and the optical wavelength change type sensor 20, and a beam splitter 154 is disposed between the reference wavelength generator 13 and the measurement light receiver 30. Placed inside. Light from the input unit 140 is sent to the optical wavelength change sensor 20 through the beam splitter 153, and the light reflected from the optical wavelength change sensor 20 is reflected by the beam splitter 153 and disposed inside the casing 11. The light is sent as measurement light to the light receiver 30 for measurement light via the mirror 155 and the beam splitter 154.
  • the same effects as (1), (3) and (5) of the first embodiment can be obtained.
  • FIG. 14 shows a schematic configuration of the optical wavelength measuring device 9.
  • an input unit 140 is disposed inside the casing 11 between the acoustooptic wavelength tunable filter 12 and the optical wavelength change sensor 20.
  • the input unit 140 includes a first input unit 141 disposed on the acoustooptic wavelength tunable filter 12 side and a second input unit 142 disposed on the optical wavelength change type sensor 20 side.
  • a reference wavelength generator 13 is disposed between the first input unit 141 and the measurement light receiver 30.
  • the measurement light receiver 30 includes a first light receiver 31 disposed between the reference wavelength generator 13 and the divider 600, and a second light receiver disposed between the second input unit 142 and the divider 600.
  • Instrument 32 In the ninth embodiment, the same effects as (1), (3), and (5) of the first embodiment and (8) of the third embodiment can be achieved.
  • FIG. 15 shows a schematic configuration of the optical wavelength measuring device 1A.
  • a generator temperature detector 92 that detects the temperature of the reference wavelength generator 13 is disposed inside the casing 11. The temperature signal of the reference wavelength generator 13 detected by the generator temperature detector 92 is sent to the wavelength calculator 63.
  • the same effects as (1) to (6) of the first embodiment and (8) of the third embodiment can be achieved.
  • FIG. 16 shows a schematic configuration of the optical wavelength measuring device 1B.
  • the generator temperature detection unit 92 that detects the temperature of the reference wavelength generator 13 is omitted, and the wavelength calculation unit 63 measures the wavelength without correcting the temperature. Is done.
  • the same effects as (1), (3) to (6) of the first embodiment can be obtained.
  • the present invention is not limited to the above-described embodiments, and modifications, improvements, and the like within the scope that can achieve the object of the present invention are included in the present invention.
  • the acoustooptic wavelength tunable filter 12 of the present invention is not limited to the waveguide type.

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Abstract

音響光学波長可変フィルタ（１２）に高周波信号を加えて励振する高周波電圧発生回路（５０）、基準波長発生器（１３）、光波長変化型センサ（２０）、音響光学波長可変フィルタ（１２）から出力された出力光を基準波長発生器（１３）と光波長変化型センサ（２０）とに入力させる入力部（１４０）、基準波長発生器（１３）から出力された出力光と光波長変化型センサ（２０）で出力された出力光とを受光する測定光用受光器（３０）、測定光用受光器（３０）から出力される信号に基づいて光波長変化型センサ（２０）の波長を演算する演算回路（６０）、音響光学波長可変フィルタ（１２）の温度を検知するフィルタ用温度検知部（９１）、及びフィルタ用温度検知部（９１）からの温度信号に基づいて音響光学波長可変フィルタ（１２）に出力する周波数信号を制御する制御部（４０）を備えた。

Description

光波長測定装置
　本発明は、光波長測定装置に関する。
　物理量に応じた波長を出力するファイバブラッググレーティング（ＦＢＧ）の素子を有する光波長変化型センサ、その他のセンサを用いた光波長測定装置が知られている。
　光波長測定装置の従来例として、波長可変光源を用いて、複数のＦＢＧセンサの反射スペクトルを取得し、そのスペクトル中のピーク波長の値を計測する光センサ測定装置がある（特許文献１）。特許文献１の従来例では、波長可変光源は、制御クロックに同期して出力光の波長を掃引する。波長可変光源がλs～λeの波長の光を掃引し、各ＦＢＧセンサの反射波長に到達すると、その反射光はサーキュレータを通り、光電変換回路で電圧に変換される。波長可変光源が、どの波長を出力した時に電圧波形のピークが得られたかを計測すれば、そのピークの波長を求めることができる。
　別の従来例として、ＦＢＧを有する光源と、光源から出力される基準光とセンサから出力される被測定光とが入力する音響光学波長可変フィルタと、音響光学波長フィルタから出力される出力光を受光する受光器とを備え、基準光を入射した際の選択光の波長と励振周波数とに基づいて、被測定光から得られる選択光の波長を演算装置で補正する光スペクトラムアナライザがある（特許文献２）。
　別の従来例として、被測定光が入力される導波路型音響光学波長可変フィルタと、導波路型音響光学波長可変フィルタを加熱保温する加熱調整用ヒータと、導波路型音響光学波長可変フィルタから出力される出力光を受光する受光器とを備え、受光器からの出力信号に基づいて被測定光の光スペクトラムを演算する光スペクトラムアナライザがある（特許文献３）。
特開２０１０－１５１６０１号公報 国際公開２００７／０８３６０９号公報 国際公開２００８／１５２８７９号公報
　特許文献１の従来例では、複数の閾値を設定する構成としたので、装置の構造が複雑化され、高価なものとなる。さらに、設定自体が煩雑となり、使い勝手の悪いものとなる。
　特許文献２の従来例では、基準光自体が温度特性を持たないことが前提となっている。基準光がＦＢＧであるため、ＦＢＧを一定温度に保つ温度調節機能やＦＢＧ自体をアサーマル化する必要があるが、それを達成するための手段の開示がない。
　特許文献３の従来例では、導波路型音響光学波長可変フィルタを加熱保温する加熱調整用ヒータとして、ペルチェ素子や抵抗ヒータが用いられているので、周辺の温度変化に対する追従性が悪く、複雑かつ高価な手段が必要となる。
　本発明の目的は、簡易な構造で、温度変化に対する安定性が高く、広範囲な測定を精度よく行える光波長測定装置を提供することにある。
　本発明の光波長測定装置は、入力光から所定波長を選択的に抽出する音響光学波長可変フィルタと、前記音響光学波長可変フィルタに高周波信号を加えて励振する高周波電圧発生回路と、任意の基準波長光を出力する基準波長発生器と、被測定物に設置され物理量に応じた波長の光を出力する光波長変化型センサと、前記音響光学波長可変フィルタから出力された出力光を前記基準波長発生器と前記光波長変化型センサとにそれぞれに入力させる入力部と、前記基準波長発生器から出力された出力光を受光し、かつ、前記光波長変化型センサで出力された出力光を、前記入力部を介して受光する測定光用受光器と、前記測定光用受光器から出力される信号に基づいて前記光波長変化型センサの波長を演算する演算回路と、前記音響光学波長可変フィルタの温度を検知するフィルタ用温度検知部と、前記フィルタ用温度検知部から出力された温度信号に基づいて前記高周波電圧発生回路が前記音響光学波長可変フィルタに出力する周波数信号を制御する制御部と、を備えたことを特徴とする。
　本発明では、高周波電圧発生回路を駆動すると、ＡＯＴＦと称される音響光学波長可変フィルタにより、入力光から所定波長が選択的に抽出される。選択的に抽出された出力光は、入力部によって基準波長発生器と光波長変化型センサとに入力される。光波長変化型センサでは、物理量に応じた波長の光が出力され、この出力光が入力部によって測定光用受光器に送られる。基準波長発生器から出力された出力光は測定光用受光器に送られる。測定光用受光器から出力された信号は演算回路に送られ、この演算回路により、光波長型センサの物理量に応じた波長が演算される。
　しかも、フィルタ用温度検知部と制御部とを備えているから、音響光学波長可変フィルタの温度をフィルタ用温度検知部で検知し、フィルタ用温度検知部からの温度信号に基づいて制御部が高周波電圧発生回路で音響光学波長可変フィルタに出力される周波数信号を制御する。これにより、音響光学波長可変フィルタから基準波長発生器と光波長変化型センサとに送られる出力光の波長範囲は、温度が補正された出力光の波長範囲となる。そのため、温度変化に影響されることなく、音響光学波長可変フィルタから特定の波長の出力光を出力することができることになり、温度変化に対する安定性が高い光波長測定装置を提供することができる。
　本発明では、前記基準波長発生器の温度を検知する発生器用温度検知部を備え、前記演算回路は、前記発生器用温度検知部から出力された温度信号に基づいて前記基準波長発生器から出力される出力光の波長を演算する波長演算部を有する構成が好ましい。
　この構成では、基準波長発生器に発生器用温度検知部を設けたから、温度変化の影響を受ける基準波長発生器を使用した場合でも、検知した基準波長発生器の温度信号を用いて基準波長発生器から出力される出力光の波長を波長演算部で演算して測定精度を向上させることができる。
　本発明では、前記音響光学波長可変フィルタの光入力側又は光出力側に配置された光増幅器と、前記音響光学波長可変フィルタと前記光増幅器の一方から出力される出力光を前記音響光学波長可変フィルタと前記光増幅器の他方に帰還させる帰還部とを備えた構成が好ましい。
　この構成では、基準波長発生器や光波長変化型センサに入力する光の強さや、掃引の波長範囲を容易に上げることが可能となる。
　本発明では、前記音響光学波長可変フィルタと前記フィルタ用温度検知部とは同一ケーシング内に配置される構成が好ましい。
　この構成では、同一ケーシング内に配置される音響光学波長可変フィルタとフィルタ用温度検知部とは、近似した温度環境下にあるため、音響光学波長可変フィルタの温度がフィルタ用温度検知部により正しく検知されることになり、測定精度を向上させることができる。
　本発明では、前記音響光学波長可変フィルタと前記基準波長発生器とは同一ケーシング内に配置されている構成が好ましい。
　この構成では、同一ケーシングにある音響光学波長可変フィルタと基準波長発生器とが近似した温度環境下にあるため、フィルタ用温度検知部が発生器用温度検知部を兼ねることが可能となり、部品点数の減少を図ることができる。
　本発明では、前記測定光用受光器は、前記音響光学波長可変フィルタ及び前記基準波長発生器と同一ケーシング内に配置される構成が好ましい。
　この構成では、測定光用受光器が音響光学波長可変フィルタと基準波長発生器とともに同一ケーシングに配置されるので、これらの部材を接続するための光ケーブルが不要となり、コスト低減を図ることができる。
　本発明では、前記入力部は、前記音響光学波長可変フィルタから出力された出力光を前記基準波長発生器に入力させる第一入力部と、前記音響光学波長可変フィルタから出力された出力光を前記光波長変化型センサに入力させる第二入力部とを有し、前記測定光用受光器は、前記基準波長発生器から出力された出力光を受光する第一受光器と、前記光波長変化型センサで出力された出力光を、前記第二入力部を介して受光する第二受光器とを有し、さらに、前記音響光学波長可変フィルタから出力された出力光を受光する参照光用受光器と、前記音響光学波長可変フィルタから出力される出力光を前記第二入力部と前記参照光用受光器とに分離する分離部と、前記参照光用受光器から出力される信号の出力値で、前記第一受光器と前記第二受光器との少なくとも一方から出力される信号の出力値を除算する除算器と、を備えた構成が好ましい。
　この構成では、音響光学波長可変フィルタから出力される出力光は、第一入力部により基準波長発生器に送られ、基準波長発生器から基準波長光が第一受光器に送られる。音響光学波長可変フィルタから出力される出力光は、分離部によって、第二入力部と参照光用受光器とに分離される。第二入力部に送られる出力光は光波長変化型センサに送られ、光波長変化型センサで反射された反射光が測定光として第二入力部を介して第二受光器に送られる。分離部から送られる出力光は参照光として参照光用受光器に送られる。第一受光器、第二受光器及び参照光用受光器から出力信号が除算器に送られ、除算器によって、参照光の出力値で、基準波長光の出力値と測定光の出力値との除算が実施される。
　音響光学波長変化フィルタに入力光を入力させる光源の種類や個体差、さらには、音響光学波長可変フィルタ自体の種類や個体差、温度変化や経時変化等によって、基準波長発生器と光波長変化型センサに入力する光スペクトルプロファイルの変動が生じるが、前述の構成により、光スペクトルプロファイルの変動影響を安価で容易に低減できる。しかも、複数の閾値を設定する構成を採用することを要せず、光波長測定装置の構造を簡易なものにできる。
　さらに、測定光用受光器を第一受光器と第二受光器とに分けて構成しているから、基準光と光波長変化型センサから出力される出力光とを同じ光波長帯にすることが可能となり、簡易な構造で、広範囲な測定を精度よく行うことができる。
本発明の第１実施形態にかかる光波長測定装置を示す概略図。 時間と受光部から出力される受光強度との関係を示すグラフ。 参照光用受光器から出力される信号の波長と電圧との関係を示すグラフ。 測定光用受光器から出力される信号の波長と電圧との関係を示すグラフ。 除算器から出力される信号の波長と電圧との関係を示すグラフ。 高周波電圧発生回路から音響光学波長可変フィルタに入力する掃引周波数と温度との関係を示すグラフ。 基準波長発生器から出力される出力光の波長と透過率との関係を示すグラフ。 基準波長発生器から出力される出力光の温度と波長との関係を示すグラフ。 本発明の第２実施形態にかかる光波長測定装置を示す概略図。 本発明の第３実施形態にかかる光波長測定装置を示す概略図。 本発明の第４実施形態にかかる光波長測定装置を示す概略図。 本発明の第５実施形態にかかる光波長測定装置を示す概略図。 本発明の第６実施形態にかかる光波長測定装置を示す概略図。 本発明の第７実施形態にかかる光波長測定装置を示す概略図。 本発明の第８実施形態にかかる光波長測定装置を示す概略図。 本発明の第９実施形態にかかる光波長測定装置を示す概略図。 本発明の第１０実施形態にかかる光波長測定装置を示す概略図。 本発明の第１１実施形態にかかる光波長測定装置を示す概略図。
　本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。ここで、各実施形態の説明において、同一構成要素は同一符号を付して説明を省略する。
［第１実施形態］
　図１に基づいて、第１実施形態にかかる光波長測定装置１を説明する。
　図１には光波長測定装置１の概略構成が示されている。
　図１において、光波長測定装置１は、光学モジュール１０と、光学モジュール１０にそれぞれ接続される光波長変化型センサ２０、受光部３Ａ、制御部４０及び高周波電圧発生回路５０と、受光部３Ａに接続される演算回路６０と、演算回路６０に接続される出力部７０と、光源８０とを備えている。
　受光部３Ａは測定光用受光器３０及び参照光用受光器３３を備える。
　光源８０は広帯域光源から構成されている。
　光学モジュール１０は、ケーシング１１にそれぞれ設けられた音響光学波長可変フィルタ１２、基準波長発生器１３、入力部１４０及び分離部１５１を備えている。入力部１４０は、ビームスプリッタやサーキュレータで構成される。
　これらの音響光学波長可変フィルタ１２、基準波長発生器１３、入力部１４０、分離部１５１のうち隣り合う部材は光ファイバで接続されている。さらに、分離部１５１と参照光用受光器３３との間、入力部１４０と測定光用受光器３０との間は、それぞれ光ファイバで接続され、もしくは、空間を介して接続されている。
　音響光学波長可変フィルタ１２は、入力光から所定波長を選択的に抽出する素子であって、ＡＯＴＦ（Acoustro Optical Tunable Filter）と称される。
　音響光学波長可変フィルタ１２は、光源８０から入力光と、高周波電圧発生回路５０から高周波信号とを受けるＩＤＴ１２０を有する導波路型フィルタである。ＩＤＴ１２０は、Inter Digital Transducer（櫛歯電極）である。基準波長発生器１３は、エタロン、ガスセル（シアン化水素（Hydrogen CiaNyde；ＨＣＮ））、ファイバブラッググレーティング（ＦＢＧ）、誘電体多層膜フィルタ、等の素子から構成される。
　基準波長発生器１３は、音響光学波長可変フィルタ１２で出力された出力光を光波長変化型センサ２０に出力し、光波長変化型センサ２０からの出力光を任意の基準波長光として入力部１４０に送る。
　入力部１４０は、光波長変化型センサ２０から光波長変化型センサ２０の物理量に応じた出力光（測定光）と基準波長発生器１３から出力される基準波長光とを測定光用受光器３０に入力させるものである。
　分離部１５１は、音響光学波長可変フィルタ１２と入力部１４０との間に配置されるものであり、音響光学波長可変フィルタ１２から出力される出力光を入力部１４０に向かう出力光と、参照光用受光器３３に向かう参照光とに分離するものである。
　光波長変化型センサ２０は、光ファイバに単一もしくは複数のセンサから構成されており、図示しない被測定物に設置されている。ここで、センサには、誘導体多層膜フィルタタイプ、ＦＢＧタイプ、ファブリペロー干渉タイプが含まれる。
　光波長変化型センサ２０は、音響光学波長可変フィルタ１２の出力光を、入力部１４０を経由して入力するとともに、入力部１４０に向けて反射光を出射する。ここで、光波長変化型センサ２０で出力される反射光は、光波長変化型センサ２０が設置される被測定物の物理量変化に応じたものである。
　演算回路６０は、測定光用受光器３０と参照光用受光器３３とからそれぞれ出力される信号を受ける除算器６００と、除算器６００からの出力信号を受けて光波長変化型センサ２０の波長を演算する波長演算部６３とを備えて構成されている。
　図２に基づいて、波長演算部６３を用いて光波長変化型センサ２０で検出される物理量を演算する方法を説明する。図２には、時間と受光部３Ａから出力される受光強度との関係が示されている。
　図２において、測定光用受光器３０から出力される基準波長光の受光強度は、波長λｒ１、λｒ２、λｒ３、λｒ４、λｒ５の時にピークとなる。λｒ１の時の時間がｔｒ１であり、λｒ２の時の時間がｔｒ２であり、λｒ３の時の時間がｔｒ３であり、λｒ４の時の時間がｔｒ４であり、λｒ５の時の時間がｔｒ５である。
　仮に、光波長変化型センサ２０を２つ用いた場合、測定光用受光器３０から出力される測定光の受光強度は、波長λｆ１、λｆ２の時にピークとなる。λｆ１の時の時間がｔｆ１であり、λｆ２の時の時間がｔｆ２である。
　波長演算部６３は、例えば、次の演算式により光波長変化型センサ２０の波長λｆ１と波長λｆ２とを求める。
　λｆ１＝｛（λｒ３－λｒ２）／（ｔｒ３－ｔｒ２）｝・ｔｆ１＋λｒ２
　λｆ２＝｛（λｒ５－λｒ４）／（ｔｒ５－ｔｒ４）｝・ｔｆ２＋λｒ４
　波長演算部６３で演算された波長は、出力部７０に出力される。波長の演算方法は、λｒｎとλｆｎとの相対的な時間差から求められるものであり、前述の演算式による方法に限定されない。
　出力部７０は、波長演算部６３で演算された波長の値を表示する表示部であってもよく、Ｌａｎ、ハードディスク（ＨＤ）、ＳＤカード等のメモリであってもよい。
　図１において、測定光用受光器３０及び参照光用受光器３３は、それぞれアンプを有するものであり、光電変換回路を構成する。
　音響光学波長可変フィルタ１２から出力された出力光は、分離部１５１により２分岐される。分離部１５１で２分岐された出力光のうち一方は、入力部１４０を経由して、光波長変化型センサ２０に送られる。光波長変化型センサ２０からの出力、すなわち、反射光（λ1、λ2、・・・λn）は、測定光として測定光用受光器３０で受光される。測定光は測定光用受光器３０によりスペクトル波形の信号に変換される。このスペクトルが図３Ｂに示されている。図３Ｂで示されるスペクトル波形は、波長が１５４５ｎｍ付近で電圧が高く、山形となっていることがわかる。
　分離部１５１で２分岐された出力光のうち他方は、参照光として参照光用受光器３３で受光される。参照光は参照光用受光器３３によりスペクトル波形の信号に変換される。このスペクトルが図３Ａに示される。
　参照光用受光器３３では、音響光学波長可変フィルタ１２で出力される出力光のスペクトル形状と経時的な変化が示されている。図３Ｂ、図３Ｃにおいて、Ｔｈは閾値を示す。閾値Ｔｈは、０．６Ｖである。
　図３Ｂで示されるスペクトル波形の信号は、光波長変化型センサ２０の反射スペクトルに音響光学波長可変フィルタ１２のスペクトルが掛け合わされたものである。
　測定光用受光器３０と参照光用受光器３３とから出力される信号は除算器６００に送られる。
　除算器６００は、測定光用受光器３０から出力される信号の出力値を、参照光用受光器３３から出力される信号の出力値で除算する。図３Ｃで示される通り、除算後のスペクトル波形の信号は、音響光学波長可変フィルタ１２のスペクトルの影響が少ないことがわかる。
　図１において、高周波電圧発生回路５０は、音響光学波長可変フィルタ１２に高周波信号を加えて励振するものであり、高周波信号発生素子５１と、高周波信号発生素子５１から出力される高周波信号を増幅してＩＤＴ１２０に送る増幅器５２とを有する。
　高周波信号発生素子５１は、電圧制御発振子（ＶＣＯ：Voltage Control Oscillator）や、ＤＡコンバータを用いて波形を生成するデジタルＩＣ（Direct Digital Synthesizer）から構成される。
　ケーシング１１には、音響光学波長可変フィルタ１２の温度を検知するフィルタ用温度検知部９１が設けられている。
　フィルタ用温度検知部９１は、熱電対、サーミスタ、白金測温抵抗体等の温度を検知する素子から構成される。
　フィルタ用温度検知部９１で検知される音響光学波長可変フィルタ１２の温度信号は、制御部４０に送られ、制御部４０によって高周波信号発生素子５１が制御される。
　図４には、高周波電圧発生回路５０から音響光学波長可変フィルタ１２に入力する掃引周波数と温度との関係が示されている。
　図４において、高周波電圧発生回路５０から音響光学波長可変フィルタ１２に入力する掃引周波数領域が斜線で示されている。
　掃引開始位置がｆａで示され、掃引終了がｆｂで示されている。Ｃを定数とすると、
　　　　　　　　　ｆａ－ｆｂ＝Ｃである。
　Ｃを、例えば、１０ＭHzとし、ｆａを、例えば、１８０ＭHzとすると、ｆｂは、１７０ＭHzである。
　掃引開始位置ｆａは、温度ｔを変数として表す次式で示される。
　　　　　　　　　ｆａ＝ｆｒ＋α（ｔ―ｔｒ）
　ここで、αは、周波数温度係数で、音響光学波長可変フィルタ１２の固有の値であり、通常、０．１ＭHz／℃である。
　ｔｒは基準温度（例えば、２５℃）、ｆｒは基準温度の時の掃引開始周波数である。
　この式により、掃引開始周波数が決定される。
　つまり、フィルタ用温度検知部９１で検知される温度ｔｒの信号を受領した制御部４０は、前述の式や図４のグラフに基づいて掃引開始の周波数ｆｒを決定し、この周波数ｆｒから定数値Ｃ（例えば、１０ＭHz）の範囲で、掃引するように高周波信号発生素子５１に信号を送る。
　図１において、ケーシング１１の内部には、基準波長発生器１３の温度を検知する発生器用温度検知部９２が配置されている。
　発生器用温度検知部９２で検知される基準波長発生器１３の温度信号は、波長演算部６３に送られる。波長演算部６３では、後述する通り、発生器用温度検知部９２から出力された温度信号に基づいて基準波長発生器１３が出力する出力光の波長を補正する。
　図５には、基準波長発生器１３から出力される出力光の波長と透過率との関係が示されている。
　図５に示される通り、波長λｒm-1、波長λｒm、波長λｒm+1の透過率は、それぞれ、温度３０℃の場合を中心として、温度０℃では、波長が小さく、温度６０℃では、波長が大きい。このように、基準波長発生器１３から出力される出力光は、温度の影響を受けて波長が変化する。例えば、基準波長発生器１３として石英製のソリッドエタロンを用いた場合には、変化量は３０℃と６０℃との間での変化、０℃と３０℃との間での変化で、それぞれ約５ｐｍ／℃である。
　図６には、基準波長発生器１３から出力される出力光の温度と波長との関係が示されている。
　図６において、温度が上がると、波長λｒm-1、波長λｒm、波長λｒm+1の波長がそれぞれ大きくなる。ここで、基準波長発生器１３の波長λｒmは、温度ｔを変数として次の式で表される。
　　　　λｒm＝λｔｒ＋β（ｔ－ｔｒ）
　ここで、βは波長温度係数で、基準波長発生器１３の固有の値である。ｔは発生器用温度検知部９２で求められた温度であり、ｔｒは基準温度、λｔｒは基準温度ｔｒの時の基準波長発生器１３で出力される出力光の波長である。
　従って、第１実施形態では、次の効果を奏することができる。
（１）音響光学波長可変フィルタ１２の温度をフィルタ用温度検知部９１で検知し、フィルタ用温度検知部９１からの温度信号に基づいて制御部４０が高周波電圧発生回路５０で音響光学波長可変フィルタ１２に出力される周波数信号を制御する。そのため、音響光学波長可変フィルタ１２から基準波長発生器１３と光波長変化型センサ２０とに送られる出力光を温度補正された出力光とすることができ、温度変化に対する安定性が高い光波長測定装置を提供することができる。
（２）基準波長発生器１３に発生器用温度検知部９２を設けたから、検知した基準波長発生器１３の温度信号を用いて基準波長発生器１３から出力される基準波長の演算結果を波長演算部６３で補正し、測定精度を向上させることができる。
（３）音響光学波長可変フィルタ１２とフィルタ用温度検知部９１とは同一のケーシング１１の内部に配置されるから、これらの部材は、近似した温度環境下にあることになる。そのため、音響光学波長可変フィルタ１２の温度がフィルタ用温度検知部９１により正確に検知されることになり、測定精度を向上させることができる。
（４）基準波長発生器１３と発生器用温度検知部９２とは同一のケーシング１１の内部に配置されるから、これらの部材は、近似した温度環境下にあることになる。そのため、基準波長発生器１３の温度が発生器用温度検知部９２により正確に検知されることになり、測定精度をより向上させることができる。
（５）音響光学波長可変フィルタ１２と基準波長発生器１３とは同一のケーシング１１の内部に配置されているから、これらの部材は近似した温度環境下にあることになる。そのため、フィルタ用温度検知部９１が発生器用温度検知部９２を兼ねることが可能となり、部品点数の減少を図ることができる。フィルタ用温度検知部９１が発生器用温度検知部９２を兼ねる場合では、図１のフィルタ用温度検知部９１からの温度信号Ｓを波長演算部６３に送る。
（６）音響光学波長可変フィルタ１２から出力された出力光を受光する参照光用受光器３３と、音響光学波長可変フィルタ１２から出力される出力光を入力部１４０と参照光用受光器３３とに分離する分離部１５１と、測定光用受光器３０から出力される信号の出力値を、参照光用受光器３３から出力される信号の出力値で除算する除算器６００を備えたから、音響光学波長可変フィルタ１２の種類や個体差、温度変化や経時変化等によって生じる基準波長発生器１３と光波長変化型センサ２０に入力する光スペクトルプロファイルの変動影響を安価で容易に低減できる。
［第２実施形態］
　次に、本発明の第２実施形態を図７に基づいて説明する。
　第２実施形態は、受光部３Ａがケーシング１１の内部に配置されている点が第１実施形態と異なるものであり、他の構成は第１実施形態と同じである。
　図７には第２実施形態にかかる光波長測定装置２の概略構成が示されている。
　図７において、光波長測定装置２は、ケーシング１１と、ケーシング１１の内部にそれぞれ配置された音響光学波長可変フィルタ１２、フィルタ用温度検知部９１、入力部１４０、分離部１５１、基準波長発生器１３、発生器用温度検知部９２及び受光部３Ａとを備えている。
　音響光学波長可変フィルタ１２、分離部１５１、入力部１４０、基準波長発生器１３、測定光用受光器３０及び参照光用受光器３３は、それぞれ所定の隙間をもって直線上に配置されているが、第１実施形態とは異なり、これらの間は、光ファイバが配置されるものではなく、空間とされる。なお、本実施形態においても、第１実施形態と同様に、音響光学波長可変フィルタ１２、分離部１５１、入力部１４０、基準波長発生器１３、測定光用受光器３０及び参照光用受光器３３の間をそれぞれ光ファイバで接続するものでもよい。
　第２実施形態では、第１実施形態の（１）～（６）と同様の効果を奏することができる他、次の効果を奏することができる。
（７）測定光用受光器３０と参照光用受光器３３とは、音響光学波長可変フィルタ１２及び基準波長発生器１３と同一のケーシング１１の内部に配置されている。そのため、これらの部材の間を空間とすることで、これらを接続するための光ケーブルが不要となり、コスト低減を図ることができる。
［第３実施形態］
　次に、本発明の第３実施形態を図８に基づいて説明する。
　第３実施形態は、入力部１４０、測定光用受光器３０、除算器６００がそれぞれ２つから構成されている点が第１実施形態と異なるものであり、他の構成は第１実施形態と同じである。
　図８には第３実施形態にかかる光波長測定装置３の概略構成が示されている。
　図８において、光波長測定装置３は、ケーシング１１と、ケーシング１１の内部にそれぞれ配置された、音響光学波長可変フィルタ１２、フィルタ用温度検知部９１、入力部１４０、分離部１５１、基準波長発生器１３、発生器用温度検知部９２及び受光部３Ａと、受光部３Ａに接続される演算回路６０と、を備えている。
　受光部３Ａは、測定光用受光器と参照光用受光器３３とを備え、測定光用受光器３０は、第一受光器３１及び第二受光器３２を有する。
　入力部１４０は、音響光学波長可変フィルタ１２と分離部１５１との間に配置された第一入力部１４１と、分離部１５１と光波長変化型センサ２０との間に配置された第二入力部１４２とを備える。
　第一入力部１４１は、音響光学波長可変フィルタ１２から出力された出力光を基準波長発生器１３に入力させるものである。
　第二入力部１４２は、音響光学波長可変フィルタ１２から分離部１５１を経由した出力光を光波長変化型センサ２０に送り、光波長変化型センサ２０の物理量に応じた出力光を測定光として第二受光器３２に出力するものである。
　基準波長発生器１３は、音響光学波長可変フィルタ１２で出力された出力光を、第一入力部１４１を介して入力し、任意の基準波長光を第一受光器３１に出力するものである。
　分離部１５１は、音響光学波長可変フィルタ１２から出力される出力光を第二入力部１４２に向かう出力光と、参照光用受光器３３に向かう参照光とに分離するものである。ここで、分離部１５１から参照光用受光器３３に向かう参照光と、分離部１５１から第二入力部１４２へ向かう出力光とは、所定割合、例えば、１：９～１：１９の割合で分割される。
　第一入力部１４１、第二入力部１４２及び分離部１５１は、それぞれビームスプリッタから構成される。なお、第一入力部１４１、第二入力部１４２及び分離部１５１が光ファイバで構成される光学系に含まれる場合には、これらの素子は、光カプラーから構成される。さらに、第二入力部１４２はサーキュレータから構成されるものでもよい。
　光波長変化型センサ２０は、第二入力部１４２を経由して音響光学波長可変フィルタ１２の出力光を入力するとともに、第二入力部１４２に向けて反射光を出射する。ここで、光波長変化型センサ２０で出力される反射光は、光波長変化型センサ２０が設置される被測定物の物理量変化に応じたものである。被測定物の物理量として、変位、加速度、傾斜、歪み、温度等を例示できる。
　除算器６００は、第一受光器３１と参照光用受光器３３とからそれぞれ出力される信号を受ける第一除算器６１と、第二受光器３２と参照光用受光器３３とからそれぞれ出力される信号を受ける第二除算器６２とを備えている。
　第３実施形態における測定方法は第１実施形態と同じである。
　つまり、音響光学波長可変フィルタ１２から出力された出力光は、分離部１５１により２分岐される。２分岐された出力光のうち、一方は、第二入力部１４２を経由して、光波長変化型センサ２０に送られる。光波長変化型センサ２０からの反射光（λ1、λ2、・・・λn）は、再び、第二入力部１４２を通り、測定光として第二受光器３２で受光される。測定光は第二受光器３２によりスペクトル波形の信号に変換される。
　２分岐された出力光のうち他方は、参照光として参照光用受光器３３で受光される。
　第二受光器３２と参照光用受光器３３とから出力される信号は第二除算器６２に送られる。第二除算器６２は参照光用受光器３３から出力される信号の出力値を、第二受光器３２から出力される信号の出力値で除算する。つまり、第二除算器６２は、差動アンプとして機能するものであり、参照光用受光器３３で得られた音響光学波長可変フィルタ１２のスペクトル波形で、第二受光器３２で得られた光波長変化型センサ２０からの反射光のスペクトルを除算する（測定光／参照光）。なお、第一受光器３１、参照光用受光器３３及び第一除算器６１の原理も図３Ａ～図３Ｃの例と同じである。第一除算器６１は、参照光用受光器３３から出力される信号の出力値で、第一受光器３１から出力される信号の出力値を除算する構成である。
　第３実施形態では、第１実施形態の（１）～（６）と同様の効果を奏することができる他、次の効果を奏することができる。
（８）測定光用受光器３０を、基準波長発生器１３から出力される基準光を受光する第一受光器３１と、光波長変化型センサ２０から出力される出力光を受光する第二受光器３２とに分けて構成しているから、基準波長光と光波長変化型センサから出力される出力光とを同じ光波長帯にすることが可能となり、広範囲な測定を精度よく簡易な構造で行うことができる。
［第４実施形態］
　次に、本発明の第４実施形態を図９に基づいて説明する。
　第４実施形態は、音響光学波長可変フィルタ１２に入力光を入力させる構成が第３実施形態とは相違するものであり、他の構成は第３実施形態と同じである。
　図９は光波長測定装置４の概略構成が示されている。
　図９において、光波長測定装置４では、入力部は、光増幅器８１と、音響光学波長可変フィルタ１２から出力される出力光を光増幅器８１に帰還させる帰還部１５２とを備えている。
　光増幅器８１は、エルビウムドープファイバーアンプ（ＥＤＦＡ）や、半導体光アンプ（ＳＯＡ）から構成される。
　帰還部１５２は、第一入力部１４１や第二入力部１４２と同じ素子から構成され、音響光学波長可変フィルタ１２から出力される出力光を光増幅器８１に帰還させるとともに、第一入力部１４１に送る。
　帰還部１５２は、図９では、音響光学波長可変フィルタ１２と第一入力部１４１との間に配置されているが、本実施形態では、帰還部１５２の配置位置は限定されるものではない。例えば、帰還部１５２は、第一入力部１４１と分離部１５１との間、分離部１５１と第二入力部１４２との間、あるいは、第二入力部１４２と光波長変化型センサ２０との間に配置されるものであってもよい。
　第４実施形態では、第３実施形態の（１）～（６）（８）と同様の効果を奏することができる他、次の効果を奏することができる。
（９）音響光学波長可変フィルタ１２に入力光を入力させる入力部を、光増幅器８１と、音響光学波長可変フィルタ１２から出力される出力光を光増幅器８１に帰還させる帰還部１５２とを備えて構成したから、基準波長発生器１３や光波長変化型センサ２０に入力する光の強さを容易に上げることが可能となり、さらに、波長の掃引範囲を拡大することができる。
［第５実施形態］
　次に、本発明の第５実施形態を図１０に基づいて説明する。
　第５実施形態は、光増幅器８１の配置位置が第４実施形態とは異なるもので、他の構成は第４実施形態と同じである。
　図１０は光波長測定装置５の概略構成が示されている。
　図１０において、光波長測定装置５では、入力部を構成する光増幅器８１は、音響光学波長可変フィルタ１２と帰還部１５２との間に配置されている。
　帰還部１５２は、音響光学波長可変フィルタ１２から出力される出力光を光増幅器８１に帰還させる。
　第５実施形態では第４実施形態の（１）～（６）（８）（９）と同様の効果を奏することができる。
［第６実施形態］
　次に、本発明の第６実施形態を図１１に基づいて説明する。
　第６実施形態は、分離部１５１、参照光用受光器３３及び除算器６００が省略されている点が第１実施形態とは異なるものであり、他の構成は第１実施形態と同じである。
　図１１には光波長測定装置６の概略構成が示されている。
　図１１において、光波長測定装置６では、音響光学波長可変フィルタ１２と基準波長発生器１３との間に入力部１４０が配置され、入力部１４０から送られる基準波長光と測定光とが測定光用受光器３０に送られる。測定光用受光器３０からの出力信号が波長演算部６３に送られて、波長演算部６３で測定波長が演算される。
　第６実施形態では第１実施形態の（１）～（５）と同様の効果を奏することができる。
［第７実施形態］
　次に、本発明の第７実施形態を図１２に基づいて説明する。
　第７実施形態は、発生器用温度検知部９２が省略されている点が第６実施形態とは異なるものであり、他の構成は第６実施形態と同じである。
　図１２には光波長測定装置７の概略構成が示されている。
　図１２において、光波長測定装置７では、基準波長発生器１３の温度情報が波長演算部６３に送られることがない。
　第７実施形態では、第１実施形態の（１）（３）（５）と同様の効果を奏することができる。
［第８実施形態］
　次に、本発明の第８実施形態を図１３に基づいて説明する。
　第８実施形態は、測定光と基準波長光とが測定光用受光器３０に入光する経路が第７実施形態とは異なるものであり、他の構成は第７実施形態と同じである。
　図１３には光波長測定装置８の概略構成が示されている。
　図１３において、光波長測定装置８では、基準波長発生器１３が入力部１４０と測定光用受光器３０との間に配置され、入力部１４０から基準波長発生器１３に入力される光は基準波長光として測定光用受光器３０に送られる。
　入力部１４０と光波長変化型センサ２０との間にはビームスプリッタ１５３がケーシング１１の内部に配置され、基準波長発生器１３と測定光用受光器３０との間にはビームスプリッタ１５４がケーシング１１の内部に配置される。入力部１４０からの光はビームスプリッタ１５３を通って光波長変化型センサ２０に送られ、光波長変化型センサ２０から反射された光はビームスプリッタ１５３で反射され、ケーシング１１の内部に配置されたミラー１５５とビームスプリッタ１５４とを介して測定光用受光器３０に測定光として送られる。
　第８実施形態では、第１実施形態の（１）（３）（５）と同様の効果を奏することができる。
［第９実施形態］
　次に、本発明の第９実施形態を図１４に基づいて説明する。
　第９実施形態は、発生器用温度検知部９２、分離部１５１及び参照光用受光器３３をそれぞれ省略した点、及び基準波長発生器１３の位置が第１実施形態とは異なるものであり、他の構成は第１実施形態と同じである。
　図１４には光波長測定装置９の概略構成が示されている。
　図１４において、光波長測定装置９では、音響光学波長可変フィルタ１２と光波長変化型センサ２０との間であってケーシング１１の内部に入力部１４０が配置されている。入力部１４０は、音響光学波長可変フィルタ１２側に配置された第一入力部１４１と、光波長変化型センサ２０側に配置された第二入力部１４２とを有する。第一入力部１４１と測定光用受光器３０との間には基準波長発生器１３が配置されている。測定光用受光器３０は、基準波長発生器１３と除算器６００との間に配置された第一受光器３１と、第二入力部１４２と除算器６００との間に配置された第二受光器３２とを有する。
　第９実施形態では、第１実施形態の（１）（３）（５）と第３実施形態の（８）と同様の効果を奏することができる。
［第１０実施形態］
　次に、本発明の第１０実施形態を図１５に基づいて説明する。
　第１０実施形態は、第９実施形態の基準波長発生器１３に発生器用温度検知部９２を設けた点が第９実施形態とは異なるものであり、他の構成は第９実施形態と同じである。
　図１５には光波長測定装置１Ａの概略構成が示されている。
　図１５において、光波長測定装置１Ａでは、基準波長発生器１３の温度を検知する発生器用温度検知部９２がケーシング１１の内部に配置されている。
　発生器用温度検知部９２で検知される基準波長発生器１３の温度信号は、波長演算部６３に送られる。
　第１０実施形態では、第１実施形態の（１）～（６）と第３実施形態の（８）と同様の効果を奏することができる。
［第１１実施形態］
　次に、本発明の第１１実施形態を図１６に基づいて説明する。
　第１１実施形態は、第１実施形態の基準波長発生器１３から発生器用温度検知部９２を省略した点が第１実施形態とは異なるものであり、他の構成は第１実施形態と同じである。
　図１６には光波長測定装置１Ｂの概略構成が示されている。
　図１６において、光波長測定装置１Ｂでは、基準波長発生器１３の温度を検知する発生器用温度検知部９２が省略されており、波長演算部６３では、温度の補正がされない状態で、波長が測定される。
　第１１実施形態では、第１実施形態の（１）（３）～（６）と同様の効果を奏することができる。
　なお、本発明は前述の各実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
　例えば、本発明の音響光学波長可変フィルタ１２は、導波路型に限定されるものではない。
　１，２，３，４，５，６，７，８，９，１Ａ，１Ｂ…光波長測定装置、１２…音響光学波長可変フィルタ、１３…基準波長発生器、１４０…入力部、１４１…第一入力部、１４２…第二入力部、１５１…分離部、１５２…帰還部、２０…光波長変化型センサ、３Ａ…受光部、３０…測定光用受光器、３１…第一受光器、３２…第二受光器、３３…参照光用受光器、４０…制御部、５０…高周波電圧発生回路、５１…高周波信号発生素子、５２…増幅器、６０…演算回路、６００…除算器、６１…第一除算器、６２…第二除算器、６３…波長演算部、８０…広帯域光源、８１…光増幅器、９１…フィルタ用温度検知部、９２…発生器用温度検知部

Claims (7)

  1. 　入力光から所定波長を選択的に抽出する音響光学波長可変フィルタと、
    　前記音響光学波長可変フィルタに高周波信号を加えて励振する高周波電圧発生回路と、
    　任意の基準波長光を出力する基準波長発生器と、
    　被測定物に設置され物理量に応じた波長の光を出力する光波長変化型センサと、
    　前記音響光学波長可変フィルタから出力された出力光を前記基準波長発生器と前記光波長変化型センサとにそれぞれに入力させる入力部と、
    　前記基準波長発生器から出力された出力光を受光し、かつ、前記光波長変化型センサで出力された出力光を、前記入力部を介して受光する測定光用受光器と、
    　前記測定光用受光器から出力される信号に基づいて前記光波長変化型センサの波長を演算する演算回路と、
    　前記音響光学波長可変フィルタの温度を検知するフィルタ用温度検知部と、
    　前記フィルタ用温度検知部から出力された温度信号に基づいて前記高周波電圧発生回路が前記音響光学波長可変フィルタに出力する周波数信号を制御する制御部と、を備えた
    　ことを特徴とする光波長測定装置。
  2. 　請求項１に記載された光波長測定装置において、
    　前記基準波長発生器の温度を検知する発生器用温度検知部を備え、
    　前記演算回路は、前記発生器用温度検知部から出力された温度信号に基づいて前記基準波長発生器から出力される出力光の波長を演算する波長演算部を有する
    　ことを特徴とする光波長測定装置。
  3. 　請求項１又は請求項２に記載された光波長測定装置において、
    　前記音響光学波長可変フィルタの光入力側又は光出力側に配置された光増幅器と、前記音響光学波長可変フィルタと前記光増幅器の一方から出力される出力光を前記音響光学波長可変フィルタと前記光増幅器の他方に帰還させる帰還部とを備えた
    　ことを特徴とする光波長測定装置。
  4. 　請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載された光波長測定装置において、
    　前記音響光学波長可変フィルタと前記フィルタ用温度検知部とは同一ケーシング内に配置される
    　ことを特徴とする光波長測定装置。
  5. 　請求項２ないし請求項４のいずれか１項に記載された光波長測定装置において、
    　前記音響光学波長可変フィルタと前記基準波長発生器とは同一ケーシング内に配置されている
    　ことを特徴とする光波長測定装置。
  6. 　請求項５に記載された光波長測定装置において、
    　前記測定光用受光器は、前記音響光学波長可変フィルタ及び前記基準波長発生器と同一ケーシング内に配置される
    　ことを特徴とする光波長測定装置。
  7. 　請求項１ないし請求項６のいずれか１項に記載された光波長測定装置において、
    　前記入力部は、前記音響光学波長可変フィルタから出力された出力光を前記基準波長発生器に入力させる第一入力部と、前記音響光学波長可変フィルタから出力された出力光を前記光波長変化型センサに入力させる第二入力部とを有し、
    　前記測定光用受光器は、前記基準波長発生器から出力された出力光を受光する第一受光器と、前記光波長変化型センサで出力された出力光を、前記第二入力部を介して受光する第二受光器とを有し、
    　さらに、前記音響光学波長可変フィルタから出力された出力光を受光する参照光用受光器と、前記音響光学波長可変フィルタから出力される出力光を前記第二入力部と前記参照光用受光器とに分離する分離部と、前記参照光用受光器から出力される信号の出力値で、前記第一受光器と前記第二受光器との少なくとも一方から出力される信号の出力値を除算する除算器と、を備えた
    　ことを特徴とする光波長測定装置。
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