JP5023094B2 - 光ヘテロダインスペクトラムアナライザ - Google Patents
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λ=λs+Λ(t)
=λs+Wsin(2πft)で示される。
ここで、掃引しないときの波長λsは予め測定できるので既知である。波長掃引特性Λは、その変化が正弦波形状であり、実際に波長を測定して校正する必要がある。また、エタロン330が透過する光の波長λe0,λe1、λe2,・・・、λen、・・も既知である。そこで、実際に掃引したときの、波長掃引時の発振波長とエタロン330の出力のピークの発生タイミングとの時間関係は図3のようになる。横軸が掃引時間tでT0、T1、T2、・・・、Tnは、PD340がエタロン330から受けた透過光のピークを検出したタイミングである。縦軸は発振波長であり、タイミングT0、T1、T2、・・・、Tnにおける波長λ0(=λe0),λ1(=λe1)、λ2(=λe2),・・・、λn(=λen)と特定できる。ただし、温度等で掃引波長範囲が変わらなければ、一度これで校正すれば良い。しかし、温度変動がある場合は、例えば、掃引波長範囲が波長λe0〜λenから、波長λe1〜λen+1に変動したとき、図3の縦軸(波長軸)の目盛が狂ってしまう。そこで、縦軸の一点で波長の絶対値を確認する必要がある。この一点で波長の絶対値を確認できれば、それに応じて既知の波長λe0,λe1、λe2、・・・、λenを振り分けて、タイミングT0、T1、T2、・・・、Tnにおける波長λ0、λ1、λ2,・・・、λnとするように目盛ればよいからである。そのため、PD340の出力される透過光を基に、エタロン330が透過する波長間隔と、PD340から出力される時間に対応して現れる透過光のピークにおけるタイミングT0、T1、T2、・・・、Tnとから、最小自乗法等で多項式の近似曲線(滑らかであれば、3次曲線で十分である)、つまり波長掃引特性λ(t)=a0+a1t+a2t2+・・・・amtmを求め、更にその最大傾斜点(微分値が最大の点を求める。その最大傾斜点の位置(上記式の波長掃引特性Λが0になる位置)における波長が、MEMSスキャナ360が静止時の発振波長をλsとなる。この波長はλsは、既知なので、波長λe0,λe1、λe2,・・・、λen、・・、タイミングT0,T2,・・・、Tn、及び波長掃引特性を含むグラフを図3のように生成することができる。このとき、上記のような変動があれば、タイミングT0,T2,・・・、Tn、における波長は波長λ0=λe1、λ1=λe2、・・・・となる。図3の縦軸が校正された波長である。なお、波長λ0、λ1、・・・・、λn間にある波長を知るには、図3の近似した波長掃引特性λ(t)を参照して知ることができる。
λ=λs+Λ(t)
=λs+Wsin(2πft)で示される。
数値例としては、次の通りである。
―W〜+W:1534nm〜1568nm
λs:1551nm
所定波長間隔:5nm
f:10kHz以下
(1) 被測定光のパワー測定
A/D変換部8から掃引時間に対応して次々とデジタルデータとして送られてくる被測定光のパワーPgを、可変波長光源2が掃引開始したときから始まる掃引時間t(最大は掃引繰り返し周波数をfとすると、1/2f以下)に対応して収集する。被測定光のパワーPgを検出したときの時間をt=Tgとする。
(2) 波長校正したスペクトラムを求める。
(2−1)波長の校正については、従来技術で説明した技術が使えるので、ここでは簡単に説明する。まず、後記する波長検出部200から出力されてくるエタロン11が透過する等間隔(Δλ)の波長λ(λ0、λ1、・・・、λn)に対応する時間信号であるタイミング信号Ts(T0,T1,T2,・・・、Tn)を受けて、(1)で収集したときの、掃引時間tとタイミング信号Tsとを対比することで掃引時間tを等間隔の波長λで値付けする(校正する)。図3に示すような校正したデータを取得しておくと良い。1周期分の校正された掃引時間をThとする。
(2−2)波長が値付けされた掃引時間Thに対する被測定光が検出された時間Tgの時間位置を対比することで、該当する波長λgを特定(校正)する。そして、特定された波長λgにおけるパワーPgのスペクトラムを出力する。
5a 第1の受光部、5b 第2の受光部、6 差動アンプ、7 フィルタ部、
8 A/D変換部、 9 データ処理部、 10 補正部、
11 エタロン(櫛形光学フィルタ)、 12 第3の受光部、
13 レファレンス生成部、 15 測定制御部、16 ユーザインターフェース、 16a 表示制御部、 16b 操作部、16c 表示部、17 電力変換部
100 測定部、 200 波長検出部、
300 LD、 310 コリメータレンズ、 320 回折格子、
330 エタロン、 340 PD、 350 処理手段、
360 MEMSスキャナ、 360a 反射体、 360b 反射体駆動体、
1000 MEMS波長掃引光源
Claims (3)
- 波長が掃引された掃引光を出力する可変波長光源(2)と、被測定光と前記可変波長光源からの掃引光とを個別に受けて合波し、その合波された合波光からそれらの周波数差を有するヘテロダイン信号に変換して被測定光のパワーを測定する測定部(100)と、前記可変波長光源から出力される前記掃引光を受けて所定波長間隔で通過させる櫛形光学フィルタ(11)を有し、前記所定波長間隔を検出する波長検出部(200)とを備え、前記測定部は前記パワーが測定された被測定光の波長を前記波長検出部で検出された所定波長間隔を基に値付けしてスペクトラムとして出力する光ヘテロダインスペクトラムアナライザであって、
前記波長検出部は、前記波長を検出するとともに、前記所定波長間隔で出力される光ピークパワーを検出する構成とされ、
該波長検出部から出力される前記所定波長間隔に対応する各ピークパワーを基に、前記測定部で測定されたスペクトラムのパワーを補正する補正部(10)を備えたことを特徴とする光ヘテロダインスペクトラムアナライザ。 - 前記波長検出部は、前記櫛形光学フィルタとして前記所定波長間隔の各波長に透過させるエタロン(11)と、及び該エタロンから透過された各ピークパワーを検出することにより、前記所定波長間隔に対応する時間信号として出力する受光部(12)とを有し、
前記測定部は、前記波長が掃引される掃引時間に対する、被測定光のパワーにおける時間位置を、該受光部から出力される該時間信号を基に波長に値付けして、前記スペクトラムとして出力し、
前記補正部は、該受光部が検出した前記所定波長間隔のピークパワーを結ぶ包絡線上の値及び前記時間信号を基に、前記測定部で測定された被測定光のスペクトラムのパワーを補正することを特徴とする請求項1に記載の光ヘテロダインスペクトラムアナライザ。 - 前記可変波長光源は、波長掃引幅±W、掃引周波数fとすると、前記掃引時間tに対する波長変化Λ=Wsin(2πft)で示される掃引光を出力し、
さらに、
表示部と、
前記波長変化を基に前記波長対前記パワーの座標であって少なくとも該波長がリニアな座標を生成し、該座標に前記測定部からのスペクトラムを表したグラフを該表示部に表示させる表示制御部と、を備えた請求項2に記載の光ヘテロダインスペクトラムアナライザ。
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