JP4932629B2 - 物理量の温度補償方法及び温度補償型光ファイバセンサ - Google Patents

物理量の温度補償方法及び温度補償型光ファイバセンサ Download PDF

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Description

本発明は、光ファイバを用いて圧力などの物理量を測定するセンサ分野に関し、特に、3心アレイ方式において適切な温度補償を行うことで、高精度な測定が可能な物理量の温度補償方法と、該温度補償方法により物理量を高精度に測定可能な温度補償型光ファイバセンサに関する。
光ファイバを用い、測定部まで光を導波し、測定部での光状態の変化によりセンシングをする光センサは、測定部で電気を使わないことから防爆性・耐雷性・耐電磁雑音性に優れ、遠隔測定も容易であるなどの利点がある。このようなセンサにおいて、被測定対象が温度以外の物理量である場合、温度変化による特性変化は精度悪化要因となるため、高精度な測定を行う場合には温度変化による影響を補償する必要がある。
このような温度補償型光ファイバセンサとしては、
・光の干渉を用いる方法(特許文献2参照)、
・光ファイバグレーティングの中心波長変化を測定する方法(特許文献3参照)、
などが提案されている。しかし、これらの方法は、測定原理として、光の波長変化や変調成分を測定するため、測定装置が高価になってしまうという問題があった。また、特許文献3に開示された従来技術では、特殊な構造体を作製したりする必要があり、これも価格が高くなる原因であった。
一方、光強度の変化で測定することで、より安価な測定装置を用いることが可能な方法も提案されている。例えば、特許文献1、特許文献4及び特許文献5などである。これらは、光源からの光をセンシング部まで導光する光ファイバからの出射光を被測定対象物で反射させ、同じ光ファイバに結合する光の強度を測定する方法である。この種の光ファイバセンサは、センシング部の構造が単純であり、強度変化を測定する測定器も比較的安価に実現できるという利点がある。
特開平5−196528号公報 特開平9−5028号公報 特開2002−267557号公報 特開2002−372472号公報 特開平8−62080号公報 特開2007−24826号公報 特開2007−33075号公報
しかしながら、前述した光強度の変化で測定する方式の光ファイバセンサは、被測定対象物に対し投光する光ファイバで受光も行うため、反射光をフォトダイオードなどの受光器に入射するためには、光カプラなどの光分岐素子を使用する必要があった。この光分岐素子は、温度依存性や光源の波長依存性があるため、温度や光源の波長変化によって分岐比が変化してしまう。このため、特許文献1,4及び5の構造では、光分岐比の変化により測定値が変化するため、精度悪化の要因となる問題があった。これを回避するために、特許文献4では、当該光分岐部の温度を一定にする機構を追加し、精度の安定化を図っているが、構造が複雑になり、温度制御機構も必要なため、装置が高価格になり、実用上問題となっていた。
これらの問題を解決する方法として、例えば、特許文献6及び特許文献7に開示された技術が提案されている。これらの方法では、1本の光ファイバからの出射光を2本の光ファイバで受光し、それらの光ファイバに結合した光の強度比を測定することで、測定アレイと反射面との距離を正確に測定することができる(以下、本方式を3心アレイ方式と記す。)。このため、安価で高精度の測定が実現できる。ただし、3心アレイ方式でも、他の方式と同様に温度変化によって生じる基材の膨張などの影響で、光ファイバ端面と反射面との距離が変化してしまうなどが生じるため、精度の良い圧力測定などを行う場合は温度補償が必要であった。この時、3心アレイ方式では、光ファイバ位置と反射面の距離だけを考慮した温度補償方式では、精度の良い補償ができないことが分かった。このため、従来の温度補償方法の延長では、測定する全ての温度域で特性を測定し、対応表を作ることで温度補償する必要がある。この場合、温度補償に必要なデータ数が非常に多くなり、温度補償に必要なデータを取得するための測定に時間がかかることに加え、計算も複雑になるという問題があった。
本発明は、前記事情に鑑みてなされ、安価で高精度な測定を実現できる3心アレイ方式において、簡単でありながら高精度な温度補償が実現可能な温度補償型光ファイバセンサの提供を目的とする。
前記目的を達成するため、本発明は、光源と、反射面を有し光ファイバ端面との相対距離が物理量に応じて変化する測定部と、光源からの光を測定部に伝送する投光用光ファイバと、測定部反射面で反射した光を複数の受光部にそれぞれ伝送する複数本の受光用光ファイバと、受光部からの電気信号の比から前記物理量を算出する演算処理回路とを有する光ファイバセンサを用いた物理量測定における物理量の温度補償方法であって、
以下の手順:
1.各受光用ファイバで測定される光強度(P1,P2)の強度比F(P1,P2)=(P1−P2)/(P1+P2)と物理量P T0 の関係を測定部の環境温度T で測定し、
2.F値と物理量P T0 の関係を表す関数g(F)を求め、これを基本物理量特性とし、
T0 =g(F)・・・(1)
3.測定部の異なる環境温度をT とし、強度比F(P1,P2)=(P1−P2)/(P1+P2)と物理量P Tn の関係を測定し、
4.各温度で測定した物理量P Tn と測定した全ての温度T を用い、P Tn 温度補償がなされるように、式(2)の温度補償関数、A(T)、B(T),C(T)を決定すること、
P(T)=g(F)−A(T)−B(T)*F−C(T)*g’(F)・・・(2)
(式中、g’(F)は(1)式のF値での1次微分であり、A(T)、B(T)、C(T)は温度Tを変数とした関数であり、右辺第2項は距離変化温度補償項、右辺第3項は角度変化温度補償項、右辺第4項は非線形温度補償をそれぞれ表す。)
によって温度補償後測定物理量を算出することを特徴とする物理量の温度補償方法を提供する。
本発明の物理量の温度補償方法において、受光用光ファイバの損失(β ,β )を測定し、損失補償定数β(ただし、β=β /β )を算出し、この損失補償定数βで測定物理量を更に補償することが好ましい。
本発明の物理量の温度補償方法において、測定する物理量は、圧力であることが好ましい。
また本発明は、光源と、反射面を有し光ファイバ端面との相対距離が圧力や温度などの物理量に応じて変化する測定部と、光源からの光を測定部に伝送する投光用光ファイバと、測定部反射面で反射した光を複数の受光部にそれぞれ伝送する複数本の受光用光ファイバと、受光部からの電気信号の比から前記物理量を算出する演算処理回路とを有する光ファイバセンサであって、
測定部又はその近傍に温度測定手段が設けられ、
演算処理回路は、該温度測定手段で測定した温度を元に、前述した本発明に係る物理量の温度補償方法を実行し、温度補償後測定物理量を算出するプログラムを有していることを特徴とする温度補償型光ファイバセンサを提供する
本発明の温度補償型光ファイバセンサにおいて、投光用光ファイバと2本の受光用光ファイバとのそれぞれの先端部が、反射面に対する法線を基準として固定角度θで対称に固定された3心アレイ構造を有していることが好ましい
本発明の温度補償型光ファイバセンサにおいて、温度測定手段が前記3心アレイ構造を有する光ファイバセンサであることが好ましい
本発明の温度補償型光ファイバセンサにおいて、予め測定した物理量換算定数、温度補償定数及び温度換算定数を記録しておく不揮発性記憶媒体を演算処理回路に接続したことが好ましい。
本発明によれば、安価で高精度な測定を実現できる3心アレイ方式において、簡単でありながら高精度な温度補償が実現可能となる。
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。
なお、以下の記載では、1本の投光用光ファイバと2本の受光用光ファイバを組み合わせた3心アレイ方式光ファイバセンサを例示しているが、本発明の光ファイバセンサは本方式にのみ限定されるものではなく、使用する各光ファイバの本数や配置方法等は適宜変更可能である。また、以下の記載では、物理量として圧力を測定する光ファイバセンサを例示しているが、測定する物理量は圧力にのみ限定されず、他の物理量の測定に適用させることが可能である。
[3心アレイ測定原理]
まず、3心アレイ方式光ファイバセンサの測定原理について、図1を参照して説明する。
3心アレイ方式光ファイバセンサによる測定は、図1に示すように、反射面5を有し光ファイバ端面との相対距離が圧力や温度などの物理量に応じて変化する測定部6と、光源1からの光を測定部6に伝送する投光用光ファイバ2と、測定部6の反射面5で反射した光を2つの受光部7A,7Bにそれぞれ伝送する2本の受光用光ファイバ3,4と、受光部7A,7Bで光電変換された電気信号の比をとり、物理量を算出する演算処理回路9とから構成されており、反射面5に対向させた3本の光ファイバ端面は、光ファイバ長手方向と反射面に対する法線とのなす角度がθとなるように固定されていることを特徴としている。
図2は前記測定部の拡大図である。図2に示すように、2本の受光用光ファイバ3,4は平行であり、投光用光ファイバ2と受光用光ファイバ3,4とは、反射板5Aの反射面5に対する法線を基準として固定角度θで対称に固定されている。投光用光ファイバ2からの出射光は、反射面で反射され、受光用光ファイバ3,4にそれぞれ結合した反射光が受光部7A,7Bに伝送される。それぞれの受光部7A,7Bでは、フォトダイオードなどを用い、光強度を電気信号に変換する。
投光用光ファイバ2及び受光用光ファイバ3,4は、全長にわたり、使用波長においてシングルモードで伝搬する光ファイバを使用している。これは、使用する光ファイバがマルチモードであると、モード間のパワー分布の変化により測定精度が悪化するためである。ここで使用波長とは、使用する光源1における強度スペクトルのピーク波長のことである。シングルモードで伝搬する光ファイバを使用すると、コア径が小さいため光強度を大きくとることが困難となるが、A/D変換した後にデジタル高速フーリエ変換(FFT)を行ったり、測定値演算の積分時間を長くしたりするなど、電気処理により精度良く測定することが可能であり、そのための演算処理回路も安価で入手可能である。
図3に、光ファイバ端面と反射面5との相対距離Dの変化に対する、受光用光ファイバ3,4のそれぞれの反射光強度P1,P2および強度比F(P1,P2)を示す(以下、距離依存性と記す。)。強度比Fの演算式としては、P1/P2、P2/P1、(P1−P2)/(P1+P2)、(P2−P1)/(P1+P2)などが挙げられる。今回は、強度比F(P1,P2)=(P1−P2)/(P1+P2)を用い検討した。これは、本方式では、分母に(P1,P2)の和、分子にP1,P2の差をとることで、強度比F値の距離依存性がより線形に近い特性が得られ、精度良く測定できるためである。図3は横軸が相対距離D,縦左軸が光強度、縦右軸が強度比を示す。反射光強度P1とP2は、それぞれ異なる位置でピークをもつ曲線となる。これにより、それぞれのピークの間で得られる強度比は、単調変化を有する曲線となる。物理量変化による反射面5と3心アレイの光ファイバ先端との相対距離Dの変化を測定する場合は、この単調変化部が使用される。また測定感度は、この曲線の傾きΔ=dF(P1,P2)/dDで表され、Δが大きい方が測定感度は良くなる。
本方法では、測定値として光強度P1及びP2の強度比Fを用いるため、光源の光強度が変化しても測定値が変化せず、安定した測定ができる。また、測定部6から受光部7A,7Bの間に光分岐素子を使用しないことにより、光源1の波長変化による影響も小さく、高精度の測定が実現できる。これにより、比較的安価に入手可能なLED光源などを用いても、高精度の測定が実現できる。
図4に、光ファイバ固定角度θが異なる、3心アレイ方式光ファイバセンサを用いて測定した強度比Fの距離依存性を示す。図4に示すように、固定角度θを大きくするとΔは大きくなり、逆にθを小さくするとΔは小さくなる。このように、固定角度θを変化させるとΔが変化するため、これを利用し測定感度を容易に選択することが可能となる。ここで測定範囲、つまり距離依存性において線形のスロープが存在する相対距離範囲は、測定感度とトレードオフの関係にあり、測定感度が大きくなると測定範囲は狭く、逆に測定感度が小さくなると測定範囲は広くなる。
ここで、図4の測定に用いた3心アレイ方式光ファイバセンサは、光通信に用いられるシングルモード光ファイバ(ITU−T G.652.B相当)と石英ガラス製のV溝アレイ基板を使用し作製した。図2のように各光ファイバを固定角度θで固定する場合、光ファイバが収まるようにV溝加工を行った基板を用いることで精度良く光ファイバを固定することができる。光ファイバの固定方法としては、V溝アレイ基板の各V溝に沿って光ファイバを仮止めし、上部からV溝加工なしの石英板(光ファイバ押え蓋)で挟んだ状態で樹脂によって固定する。これにより3本の光ファイバは、同一平面上に精度良く固定することができ、高さばらつきによる強度変動がなく、測定精度の悪化を防ぐことができる。ここで、V溝アレイ基板に石英ガラス基板を用いるのは、光ファイバが同じ石英ガラス製であり、両者の線膨張係数を同じにするためである。図5は、図2中のA−A’断面図であり、この図5中、符号10A,10B,10Cは光ファイバ、11A,11B,11Cは各光ファイバのコア、12はV溝アレイ基板、13は光ファイバ押え蓋をそれぞれ表している。以下、図2及び図5に示す3心アレイ方式光ファイバセンサの先端部分を3心アレイと略記する。
[温度補償方法]
この3心アレイ方式光ファイバセンサを用い、圧力測定を行った場合の温度特性について検討を行った。
圧力測定には、圧力が加わると変形するダイアフラムを使用した。図6に示すように、筒部14の端にダイアフラム15を設け、該筒部14内にその先端をダイアフラム15に向けて圧力測定用の3心アレイ16を配置した。この時、測定部の温度が上昇するとダイアフラム15及び筒部14の材料が熱膨張し、3心アレイ16先端とダイアフラム15の距離が変化する。通常、従来のセンサにおいては、この距離変化を補償する計算を実行していたが、高精度に補償が必要な場合は、それだけでは補償できないことが分かった。
これは、3心アレイ方式では、他の方法に比べ、3心アレイと反射面の角度変化によっても、特性が大きく変わるためである。
例えば、図7に示すように、ダイアフラム15の変形中心と3心アレイ16の位置がずれている場合、距離変化と共に角度変化も生じる。
また、図8に示すように、3心アレイ16自体の角度が温度により変化してしまう場合、距離変化を補償するだけでは、温度変化による特性を完全には補償できない。
そこで、本発明者らは、前述したような3心アレイ方式光ファイバセンサにおける温度補償に必要な要素を、距離変動(ゼロ点変動)、角度変動(スパン変動)、非線形補償の3項目に分け、それぞれの項について温度による影響を補償することで精度の高い補償を実現できることを見出した。
すなわち、本発明に係る温度補償方法では、前述したような3心アレイ方式光ファイバセンサにおいて物理量として圧力を測定する場合に、測定部又はその近傍に温度測定手段を設け、該温度測定手段で測定した温度を元に、測定部と反射部の距離が温度により変化する距離変動を補償する距離変化温度補償と、測定部と反射部の角度が温度により変化する角度変動を補償する角度変化温度補償と、測定される物理量と各受光用光ファイバで測定される光強度の強度比との関係が線形でないために生じる非線形誤差を補償する非線形温度補償とを算出し、該温度で測定された基本圧力特性から、次式(A’):
温度補償後測定圧力=基本圧力特性−距離変化温度補償−角度変化温度補償−非線形温度補償 …(A’)
によって温度補償後測定圧力を算出することを特徴としている。このように計算すると、少ないパラメータにより、精度の高い温度補償が行える。
以下に、具体的な手順を説明する。
1.3心アレイ方式で測定される強度比F(P1,P2)=(P1−P2)/(P1+P2)と圧力PT0の関係を測定部の環境温度Tで測定する。
2.F値と圧力PT0の関係を表す関数g(F)を求める。これが基本圧力特性となる。
T0=g(F) …(1)
例えば、g(F)が4次関数の場合、PT0=a+b*F+d*F+e*F
となる。ただし、a〜eは圧力換算定数を表す。
3.測定部の環境温度をTとし、強度比F(P1,P2)=(P1−P2)/(P1+P2)と圧力PTnの関係を測定する。ここで、TはTとは異なる温度を表し、異なる温度で測定した場合nを増やす。
4.各温度で測定したPTnと測定した全ての温度Tを用い、PTn温度補償がなされるように、式(2)の温度補償関数、A(T)、B(T),C(T)を決定する。
P(T)=g(F)−A(T)−B(T)*F−C(T)*g’(F) …(2)
ただし、g’(F)は、(1)式のF値での1次微分であり、A(T)、B(T)、C(T)は温度Tを変数とした関数を示す。
例えば、1次関数の場合、
A(T)=(A+AT),B(T)=(B+BT),C(T)=(C+CT)
となる。ただし、A,A,B,B,C,Cは定数であり、ここでは、温度補償定数と呼ぶ。
ここで、各項の物理的意味について考察する。式(2)において、右辺第2項は、3心アレイ16とダイアフラム15の距離が温度により変化することが主因であるゼロ点変動(距離変動)を補償する項であり、ここでは距離変化温度補償項と呼ぶ。また右辺第3項は、3心アレイ16及びダイアフラム15の相対角度が変化することが主因である特性曲線の傾き(F値スパン変動)を補償する項であり、ここでは角度変化温度補償項と呼ぶ。また右辺第4項は、圧力とF値の関係が線形ではないために生じる誤差を補償する項であり、ここでは非線形温度補償項と呼ぶ。このように、3心アレイ方式において距離変化、角度変化、非線形補償の3項によって数式を分けることにより、少ないデータ補償により使用する温度範囲で、精度の良い温度補償が実現できる。なお、測定温度を増やすことにより温度補償の制度を上げることも可能であり、その場合は、温度補償関数において、温度Tの次数を上げることで対応できる。
例えば、温度の関数を2次とした場合、(2)式は以下のようになる。
P(T)=g(F)−(A+A*T+A*T)−(B+B*T+B*T)*F−(C+C*T+C*T)*g’(F)
[光ファイバ損失補償方法]
3心アレイ方式は光強度を測定するため、光ファイバ自体の伝搬損失や、融着部での損失(以下、融着損失と記す。)などにより、光ファイバの途中で光強度が低下した場合、測定値が変化してしまう問題がある。光ファイバ自体の伝搬損失は、同じファイバを使用すればほぼ同じであり、環境温度変化による損失変動も同じ傾向を示す。3心アレイ方式では、光源から各受光部までの光ファイバ長が同じであるため、光ファイバ自体の損失は強度比をとることにより相殺され、測定値には影響を与えない。また、光ファイバの融着損失は、融着条件により異なるため、各光ファイバで異なった値となるが、融着損失の温度依存性や経年変化は小さいため、使用開始前に光ファイバ損失値の校正を行うことで、問題なく測定できる。この時、3心アレイ方式では各ファイバでの損失を個別に測定する必要はなく、一つの定数により全ての条件を補償できる。以下に詳細を説明する。
図9に示すように、投光用光ファイバ2の損失がα、2本の受光用光ファイバ3,4の損失がβ,βである場合、損失がない場合の光強度をP1,P2とした場合、実際に測定される強度比F値は、
F=(α βP1−α βP2)/(α βP1+α βP2)
=(βP1−P2)/(βP1+P2)
と書き直すことができる。ただし、β=β/βである。つまり、この3心アレイ方式では、3本の光ファイバにそれぞれ損失がある場合でも、一つの損失補償定数βで補償できる。このため、3本の光ファイバを使用しながら、損失補償定数が1つで良いため、補償のためのパラメータが少なくて済む。また、補償定数が一つであるため、損失補償をする際に、ある1点での校正により損失補償定数を算出することができる。つまり、3心アレイ方式を用いた温度センサの場合、ある一つの温度で3心アレイから出力されるF値を測定し、そのF値が校正温度になるように損失補償定数βを計算する。同様に、3心アレイ方式を用いた圧力センサの場合、ある一つの圧力で3心アレイから出力されるF値を測定し、そのF値が校正圧力になるように損失補償定数βを計算する。ここで、βの添え字TとPはそれぞれ温度測定用3心アレイ方式での損失補償定数、圧力測定用3心アレイ方式での損失補償定数を示している。
[比較例1]
図1に示す構成の3心アレイ方式光ファイバセンサを用い、その3心アレイを図6に示すようにして、400kPa圧力により約200μm変形するダイアフラムに3心アレイを対向して固定し、20℃、55℃、−10℃の3温度で圧力特性を測定した。前記の3温度は、使用環境温度が−5℃〜50℃であるため、使用温度範囲が内包されるように設定した。このような温度設定を行うことで、使用温度範囲全体に渡り精度良く温度補償できる。
3心アレイ方式光ファイバセンサの光源としては、波長1.3μm帯で発光するLEDを用いた。光ファイバは、使用波長でシングルモードになる、光通信で広く使用されているシングルモード光ファイバ(ITU−T G.652.B相当)を使用した。
図10に、設定圧力と測定されたF値の関係を示す。まず20℃で測定したF値を元に基本圧力特性(1)式を求めた。ここでは、基本圧力特性の式は4次の多項式関数とした。計算により算出した圧力換算定数を表1に示す。
Figure 0004932629
表1中の式に、−10℃、55℃で測定したF値をそのまま代入して測定圧力を演算し、測定誤差を求めた結果を図11に示す。図11において、横軸は設定圧力、縦軸はF値を元に計算した測定圧力と設定圧力との差を設定圧力の最大値で規格化した値で、ここでは測定誤差と呼ぶ。図11に示すように、温度補償を行わない場合、基本圧力特性を測定した温度では精度の良い測定ができるが、それ以外の温度では誤差が生じ、温度変化により1%以上の測定誤差が生じることが確認できる。
[実施例1]
比較例1の結果を元に、各温度での測定値から温度補償関数を求め、温度補償演算を行った結果を図12に示す。この温度補償は、測定した3温度での圧力とF値の関係を元に温度補償関数を予め求め、この温度補償関数を元に、式(2)に従い温度変化による特性変動を補償した。なお、温度補償関数は温度の1次式とした。使用した温度補償定数を表2に示す。なお、基本圧力特性の圧力換算定数は、比較例1と同じ値である。
Figure 0004932629
この温度補償により、使用温度範囲全域に渡って±0.2%以下の高精度での測定が実現できることが確認された。
前記の温度補償演算の結果を実証するべく、図13に示す構成の温度補償型光ファイバセンサを作製し、測定圧力の温度補償を行い、その精度を確認した。本実施例で作製した温度補償型光ファイバセンサは、反射面25を有し光ファイバ端面との相対距離が圧力に応じて変化する測定部26(ダイアフラム)と、光源21(LED)からの光を測定部26に伝送する投光用光ファイバ22と、測定部26の反射面25で反射した光を2つの受光部27A,27Bにそれぞれ伝送する2本の受光用光ファイバ23,24と、受光部27A,27B(フォトダイオード)で光電変換された電気信号及び測定部26の温度測定値を元に演算して温度補償した圧力を算出する演算処理回路29と、測定部26に先端部を配置した熱電対30により測定部26の温度を測定し、測定温度値を演算処理回路29に入力する温度測定手段31と、予め測定した圧力換算定数、温度補償定数を記憶した不揮発性記憶媒体からなり演算処理回路29に接続されたメモリー32とから構成されている。3心アレイの構造は、図2及び図5に示すものと同様であり、反射面25に対向させた3本の光ファイバ端面は、光ファイバ長手方向と反射面に対する法線とのなす角度がθとなるように固定した。使用した光源は、波長1.3μm帯で発光するLEDを用い、また光ファイバはシングルモード光ファイバ(ITU−T G.652.B相当)を使用した。
本実施例では、測定部26の環境温度Tを熱電対30によって測定し、その温度測定値を演算処理回路29に入力し、前述したように演算処理回路29での演算により測定値から温度補償関数を求めた。メモリー32には、予め測定した圧力換算定数、温度補償定数を不揮発性記憶媒体(例えばROMやHDDなど)に保存してあり、演算処理回路29において、3心アレイからのデータを元に計算されるF値と、熱電対30で測定した温度Tを式(2)に代入し、演算処理することで、温度補償後の圧力を算出した。
図13に示す構成の温度補償型光ファイバセンサによって温度補償後測定圧力を測定した結果、使用温度範囲全域に渡って±0.2%以下の測定精度を実現できた。
[実施例2]
実施例1では、測定部26の温度測定を熱電対30で行った。この場合、測定部26の測温に電気信号が必要となるため、センサの光化の利点が半減する。そこで、実施例2では、温度測定用にも3心アレイ方式の温度センサを用いた全光方式の温度補償型光ファイバセンサを作製した。
図14は、3心アレイ方式の温度センサを例示する図であり、この温度センサは、基材33の上にミラー35と対向するように3心アレイ34を接着剤36で固定して構成され、基材33の膨張による3心アレイとミラー間の距離変化を測定するものである。ここで用いた3心アレイ34の基本構造は、圧力測定用の3心アレイと同じである(図2及び図5参照)。これにより、温度測定も光化できる利点がある。
図15は、この3心アレイ方式の温度センサで測定したF値と温度との関係を示すグラフである。図15から分かるように、F値と温度とは直線的な関係が得られ、この関係を予め測定し、温度換算定数を求めておくことにより、3心アレイを用いた温度測定が実現できる。図15の例では、温度換算式は、T=18.87−395.7Fとなるため、温度換算定数は18.87と−395.7となる。
図16は、本実施例の全光方式の温度補償型光ファイバセンサの構成図である。この温度補償型光ファイバセンサは、反射面45を有し光ファイバ端面との相対距離が圧力に応じて変化する圧力測定部46(ダイアフラム)と、光源41(LED)から光分岐部56で2分割された一方の光を圧力測定部46に伝送する投光用光ファイバ42と、圧力測定部46の反射面45で反射した光を圧力測定用の2つの受光部52A,52Bにそれぞれ伝送する圧力測定用の2本の受光用光ファイバ43,44と、光分岐部56で2分割された他方の光を圧力測定部46の近傍に設けられた温度測定部51に伝送する投光用光ファイバ47と、温度測定部51の反射面50で反射した光を温度測定用の2つの受光部52C,52Dにそれぞれ伝送する温度測定用の2本の受光用光ファイバ48,49と、4つの受光部52A〜52D(フォトダイオード)で光電変換された電気信号を演算し、温度補償後の圧力を算出する演算処理回路54と、予め測定した圧力換算定数、温度補償定数を記憶した不揮発性記憶媒体からなり演算処理回路54に接続されたメモリー55とから構成されている。圧力測定用及び温度測定用の3心アレイの構造は、図2及び図5に示すものと同様であり、反射面に対向させた3本の光ファイバ端面は、光ファイバ長手方向と反射面に対する法線とのなす角度がθとなるように固定した。使用した光源41は、波長1.3μm帯で発光するLEDを用い、また光ファイバはシングルモード光ファイバ(ITU−T G.652.B相当)を使用した。
メモリー55には、予め測定した圧力換算定数、温度補償定数、温度換算定数を不揮発性記憶媒体(例えばROMやHDDなど)に保存してあり、演算処理回路54では、温度測定用3心アレイから計算されるF値を元に温度換算定数を用いて計算される温度と、圧力測定部46の3心アレイから計算されるF値を式(2)に代入して温度補償後の圧力を計算している。これにより、全光型の温度補償圧力測定が実現でき、実施例1と同様に使用温度範囲全域に渡って±0.2%以下の測定精度を実現できた。
[実施例3]
実施例3では、融着部などによる損失補償の方法について示す。本実施例では、実施例2と同様に、温度測定用にも3心アレイ方式の温度センサを用いた全光方式の温度補償型光ファイバセンサを作製した。
図17は、本実施例の全光方式の温度補償型光ファイバセンサの構成図である。この温度補償型光ファイバセンサは、反射面65を有し光ファイバ端面との相対距離が圧力に応じて変化する圧力測定部66(ダイアフラム)と、光源61(LED)から光分岐部76で2分割された一方の光を圧力測定部66に伝送する投光用光ファイバ62と、圧力測定部66の反射面65で反射した光を圧力測定用の2つの受光部72A,72Bにそれぞれ伝送する圧力測定用の2本の受光用光ファイバ63,64と、光分岐部76で2分割された他方の光を圧力測定部66の近傍に設けられた温度測定部71に伝送する投光用光ファイバ67と、温度測定部71の反射面70で反射した光を温度測定用の2つの受光部72C,72Dにそれぞれ伝送する温度測定用の2本の受光用光ファイバ68,69と、4つの受光部72A〜72D(フォトダイオード)で光電変換された電気信号を演算し、温度補償後の圧力を算出する演算処理回路74と、予め測定した圧力換算定数、温度補償定数を記憶した不揮発性記憶媒体を有し演算処理回路74に接続されたメモリー75とから構成されている。圧力測定用及び温度測定用3心アレイの構造は、図2及び図5に示すものと同様であり、反射面に対向させた3本の光ファイバ端面は、光ファイバ長手方向と反射面に対する法線とのなす角度がθとなるように固定した。使用した光源61は、波長1.3μm帯で発光するLEDを用い、また光ファイバはシングルモード光ファイバ(ITU−T G.652.B相当)を使用した。
実施例2と同様に、予め、圧力測定用、温度測定用3心アレイの特性を評価し、圧力換算定数、温度補償定数、温度換算定数を求めておき、演算処理回路74のメモリー75に保存しておく。ついで、温度測定用3心アレイ及び圧力測定用3心アレイを光強度測定用の光源61及び受光部(フォトダイオード)72A〜72Dに接続する。ついで、温度測定部71の温度を熱電対などで測定し、その温度を演算処理回路74に入力する。演算処理回路74では、温度測定用の3心アレイの損失補償係数βを変えながら、温度換算定数から求められる温度と、入力された温度との差を計算し、その差が規定の値以下になるようにβを決定する。決定されたβは演算処理回路74のメモリー75に保存され、それ以降の温度計算の際に使用する。ここで、βは、温度測定用3心アレイの光ファイバ損失を補償する損失補償定数である。これにより、温度測定用センサの損失補償が完了する。
同様に、圧力測定用3心アレイの損失補償を行う。圧力測定用3心アレイの損失補償では、校正する圧力(通常は0kPa)を圧力測定部66のダイアフラムにかけ、その時の測定圧力を演算する。この時、温度測定用3心アレイで測定した温度Tと設定圧力を式(2)に代入し、設定圧力と測定圧力の差が既定値以下になるように圧力測定用3心アレイの損失係数βを決定する。決定されたβは、演算処理回路74のメモリー75に保存され、それ以降の圧力計算の際に使用する。ここで、βは、圧力測定用3心アレイの光ファイバ損失を補償する損失補償定数である。これにより、圧力測定用センサの損失補償が完了する。
その後の計算は実施例2と同様に行う。本実施例では、温度測定用及び圧力測定用3心アレイの損失補償定数を予め求めておき、測定圧力の演算時にこれを補償した値を出力することで、光ファイバ経路に損失がある場合でも、±0.2%以下の測定精度を実現できた。
3心アレイ方式光ファイバセンサの基本構成を例示する構成図である。 図1の3心アレイ方式光ファイバセンサにおける測定部の拡大図である。 図1に示す3心アレイ方式光ファイバセンサでの測定結果を例示するグラフである。 図1に示す3心アレイ方式光ファイバセンサにおいて3心アレイの固定角度θを種々変更した場合の測定結果を例示するグラフである。 図2中のA−A’部断面図である。 ダイアフラムを用いた圧力測定の3心アレイ配置状態を例示する側面断面図である。 ダイアフラム中心線と3心アレイがずれている場合を例示する側面断面図である。 ダイアフラム中心線に対して3心アレイが傾いた場合を例示する側面断面図である。 3心アレイ方式光ファイバセンサの光ファイバに損失がある場合を示す構成図である。 3心アレイ方式光ファイバセンサの圧力測定結果を例示するグラフである。 比較例1において温度補償をしない場合の圧力測定誤差の変動を示すグラフである。 実施例1において温度補償をした場合の圧力測定誤差の変動を示すグラフである。 実施例1で作製した温度補償型光ファイバセンサの構成図である。 実施例2で作製した3心アレイ方式の温度センサを示す側面図である。 実施例2で作製した3心アレイ方式の温度センサを用いた温度測定結果を示すグラフである。 実施例2で作製した温度補償型光ファイバセンサの構成図である。 実施例3で作製した温度補償型光ファイバセンサの構成図である。
符号の説明
1,21,41,61…光源、2,22,42,47,62,67…投光用光ファイバ、3,4,23,24,43,44,48,49、63,64,68,69…受光用光ファイバ、5,25,45,65,50,70…反射面、5A…反射板、6,26…測定部、7A,7B,27A,27B,52A,52B,52C,52D,72A,72B,72C,72D…受光部、9,29,54,74…演算処理回路、10A,10B,10C…光ファイバ、11A,11B,11C…コア、12…V溝アレイ基板、13…光ファイバ押え蓋、14…筒部、15…ダイアフラム、16…3心アレイ、30…熱電対、31…温度測定手段、32,55,75…メモリー、33…基材、34…3心アレイ、35…ミラー、46,66…圧力測定部、51,71…温度測定部、56,76…光分岐部。

Claims (7)

  1. 光源と、反射面を有し光ファイバ端面との相対距離が物理量に応じて変化する測定部と、光源からの光を測定部に伝送する投光用光ファイバと、測定部反射面で反射した光を複数の受光部にそれぞれ伝送する複数本の受光用光ファイバと、受光部からの電気信号の比から前記物理量を算出する演算処理回路とを有する光ファイバセンサを用いた物理量測定における物理量の温度補償方法であって、
    以下の手順:
    1.各受光用ファイバで測定される光強度(P1,P2)の強度比F(P1,P2)=(P1−P2)/(P1+P2)と物理量P T0 の関係を測定部の環境温度T で測定し、
    2.F値と物理量P T0 の関係を表す関数g(F)を求め、これを基本物理量特性とし、
    T0 =g(F)・・・(1)
    3.測定部の異なる環境温度をT とし、強度比F(P1,P2)=(P1−P2)/(P1+P2)と物理量P Tn の関係を測定し、
    4.各温度で測定した物理量P Tn と測定した全ての温度T を用い、P Tn 温度補償がなされるように、式(2)の温度補償関数、A(T)、B(T),C(T)を決定すること、
    P(T)=g(F)−A(T)−B(T)*F−C(T)*g’(F)・・・(2)
    (式中、g’(F)は(1)式のF値での1次微分であり、A(T)、B(T)、C(T)は温度Tを変数とした関数であり、右辺第2項は距離変化温度補償項、右辺第3項は角度変化温度補償項、右辺第4項は非線形温度補償をそれぞれ表す。)
    によって温度補償後測定物理量を算出することを特徴とする物理量の温度補償方法。
  2. 受光用光ファイバの損失(β,β)を測定し、損失補償定数β(ただし、β=β/β)を算出し、この損失補償定数βで測定物理量を更に補償することを特徴とする請求項1に記載の物理量の温度補償方法。
  3. 測定する物理量が圧力であることを特徴とする請求項1または2に記載の物理量の温度補償方法。
  4. 光源と、反射面を有し光ファイバ端面との相対距離が圧力や温度などの物理量に応じて変化する測定部と、光源からの光を測定部に伝送する投光用光ファイバと、測定部反射面で反射した光を複数の受光部にそれぞれ伝送する複数本の受光用光ファイバと、受光部からの電気信号の比から前記物理量を算出する演算処理回路とを有する光ファイバセンサであって、
    測定部又はその近傍に温度測定手段が設けられ、
    演算処理回路は、該温度測定手段で測定した温度を元に、請求項1〜のいずれかに記載の物理量の温度補償方法を実行し、温度補償後測定物理量を算出するプログラムを有していることを特徴とする温度補償型光ファイバセンサ。
  5. 投光用光ファイバと2本の受光用光ファイバとのそれぞれの先端部が、反射面に対する法線を基準として固定角度θで対称に固定された3心アレイ構造を有していることを特徴とする請求項に記載の温度補償型光ファイバセンサ。
  6. 温度測定手段が前記3心アレイ構造を有する光ファイバセンサであることを特徴とする請求項に記載の温度補償型光ファイバセンサ。
  7. 予め測定した物理量換算定数、温度補償定数及び温度換算定数を記録しておく不揮発性記憶媒体を演算処理回路に接続したことを特徴とする請求項のいずれかに記載の温度補償型光ファイバセンサ。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103383347A (zh) * 2013-07-04 2013-11-06 中国计量科学研究院 非线性误差的绝对测量方法及装置

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110967048B (zh) * 2019-12-28 2021-11-05 桂林电子科技大学 正交倾斜三芯光纤光栅并行集成Mach-Zehnder干涉仪
CN111323133B (zh) * 2020-02-14 2022-09-16 西安盛赛尔电子有限公司 感温传感器温度补偿方法、装置、电子设备及存储介质
CN113466174A (zh) * 2020-03-31 2021-10-01 比亚迪半导体股份有限公司 甲烷气体浓度检测方法、装置及微控制器
CN117470194B (zh) * 2023-12-28 2024-04-09 江西飞尚科技有限公司 一种倾角测量方法、系统、存储介质及计算机
CN117516596B (zh) * 2024-01-05 2024-04-26 华中科技大学 一种磁电编码器的高精度在线补偿方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61112938A (ja) * 1984-11-08 1986-05-30 Fujikura Ltd 半導体圧力センサの補償回路
JPH0854234A (ja) * 1994-08-12 1996-02-27 Kobe Steel Ltd 三次元座標位置計測方法
JPH0862080A (ja) * 1994-08-19 1996-03-08 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 光ファイバ圧力センサの温度補正機構
JP2003106970A (ja) * 2001-09-28 2003-04-09 Toshiba Corp 密度センサ
JP4751118B2 (ja) * 2005-07-21 2011-08-17 株式会社フジクラ 光学式検出センサ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103383347A (zh) * 2013-07-04 2013-11-06 中国计量科学研究院 非线性误差的绝对测量方法及装置

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