JP4932629B2 - 物理量の温度補償方法及び温度補償型光ファイバセンサ - Google Patents
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・光の干渉を用いる方法(特許文献2参照)、
・光ファイバグレーティングの中心波長変化を測定する方法(特許文献3参照)、
などが提案されている。しかし、これらの方法は、測定原理として、光の波長変化や変調成分を測定するため、測定装置が高価になってしまうという問題があった。また、特許文献3に開示された従来技術では、特殊な構造体を作製したりする必要があり、これも価格が高くなる原因であった。
以下の手順:
1.各受光用ファイバで測定される光強度(P1,P2)の強度比F(P1,P2)=(P1−P2)/(P1+P2)と物理量P T0 の関係を測定部の環境温度T 0 で測定し、
2.F値と物理量P T0 の関係を表す関数g(F)を求め、これを基本物理量特性とし、
P T0 =g(F)・・・(1)
3.測定部の異なる環境温度をT n とし、強度比F(P1,P2)=(P1−P2)/(P1+P2)と物理量P Tn の関係を測定し、
4.各温度で測定した物理量P Tn と測定した全ての温度T n を用い、P Tn 温度補償がなされるように、式(2)の温度補償関数、A(T)、B(T),C(T)を決定すること、
P(T)=g(F)−A(T)−B(T)*F−C(T)*g’(F)・・・(2)
(式中、g’(F)は(1)式のF値での1次微分であり、A(T)、B(T)、C(T)は温度Tを変数とした関数であり、右辺第2項は距離変化温度補償項、右辺第3項は角度変化温度補償項、右辺第4項は非線形温度補償をそれぞれ表す。)
によって温度補償後測定物理量を算出することを特徴とする物理量の温度補償方法を提供する。
測定部又はその近傍に温度測定手段が設けられ、
演算処理回路は、該温度測定手段で測定した温度を元に、前述した本発明に係る物理量の温度補償方法を実行し、温度補償後測定物理量を算出するプログラムを有していることを特徴とする温度補償型光ファイバセンサを提供する。
なお、以下の記載では、1本の投光用光ファイバと2本の受光用光ファイバを組み合わせた3心アレイ方式光ファイバセンサを例示しているが、本発明の光ファイバセンサは本方式にのみ限定されるものではなく、使用する各光ファイバの本数や配置方法等は適宜変更可能である。また、以下の記載では、物理量として圧力を測定する光ファイバセンサを例示しているが、測定する物理量は圧力にのみ限定されず、他の物理量の測定に適用させることが可能である。
まず、3心アレイ方式光ファイバセンサの測定原理について、図1を参照して説明する。
3心アレイ方式光ファイバセンサによる測定は、図1に示すように、反射面5を有し光ファイバ端面との相対距離が圧力や温度などの物理量に応じて変化する測定部6と、光源1からの光を測定部6に伝送する投光用光ファイバ2と、測定部6の反射面5で反射した光を2つの受光部7A,7Bにそれぞれ伝送する2本の受光用光ファイバ3,4と、受光部7A,7Bで光電変換された電気信号の比をとり、物理量を算出する演算処理回路9とから構成されており、反射面5に対向させた3本の光ファイバ端面は、光ファイバ長手方向と反射面に対する法線とのなす角度がθとなるように固定されていることを特徴としている。
この3心アレイ方式光ファイバセンサを用い、圧力測定を行った場合の温度特性について検討を行った。
圧力測定には、圧力が加わると変形するダイアフラムを使用した。図6に示すように、筒部14の端にダイアフラム15を設け、該筒部14内にその先端をダイアフラム15に向けて圧力測定用の3心アレイ16を配置した。この時、測定部の温度が上昇するとダイアフラム15及び筒部14の材料が熱膨張し、3心アレイ16先端とダイアフラム15の距離が変化する。通常、従来のセンサにおいては、この距離変化を補償する計算を実行していたが、高精度に補償が必要な場合は、それだけでは補償できないことが分かった。
例えば、図7に示すように、ダイアフラム15の変形中心と3心アレイ16の位置がずれている場合、距離変化と共に角度変化も生じる。
また、図8に示すように、3心アレイ16自体の角度が温度により変化してしまう場合、距離変化を補償するだけでは、温度変化による特性を完全には補償できない。
すなわち、本発明に係る温度補償方法では、前述したような3心アレイ方式光ファイバセンサにおいて物理量として圧力を測定する場合に、測定部又はその近傍に温度測定手段を設け、該温度測定手段で測定した温度を元に、測定部と反射部の距離が温度により変化する距離変動を補償する距離変化温度補償と、測定部と反射部の角度が温度により変化する角度変動を補償する角度変化温度補償と、測定される物理量と各受光用光ファイバで測定される光強度の強度比との関係が線形でないために生じる非線形誤差を補償する非線形温度補償とを算出し、該温度で測定された基本圧力特性から、次式(A’):
温度補償後測定圧力=基本圧力特性−距離変化温度補償−角度変化温度補償−非線形温度補償 …(A’)
によって温度補償後測定圧力を算出することを特徴としている。このように計算すると、少ないパラメータにより、精度の高い温度補償が行える。
以下に、具体的な手順を説明する。
2.F値と圧力PT0の関係を表す関数g(F)を求める。これが基本圧力特性となる。
PT0=g(F) …(1)
例えば、g(F)が4次関数の場合、PT0=a+b*F2+d*F3+e*F4
となる。ただし、a〜eは圧力換算定数を表す。
3.測定部の環境温度をTnとし、強度比F(P1,P2)=(P1−P2)/(P1+P2)と圧力PTnの関係を測定する。ここで、TnはT0とは異なる温度を表し、異なる温度で測定した場合nを増やす。
4.各温度で測定したPTnと測定した全ての温度Tnを用い、PTn温度補償がなされるように、式(2)の温度補償関数、A(T)、B(T),C(T)を決定する。
P(T)=g(F)−A(T)−B(T)*F−C(T)*g’(F) …(2)
ただし、g’(F)は、(1)式のF値での1次微分であり、A(T)、B(T)、C(T)は温度Tを変数とした関数を示す。
例えば、1次関数の場合、
A(T)=(A0+A1T),B(T)=(B0+B1T),C(T)=(C0+C1T)
となる。ただし、A0,A1,B0,B1,C0,C1は定数であり、ここでは、温度補償定数と呼ぶ。
例えば、温度の関数を2次とした場合、(2)式は以下のようになる。
P(T)=g(F)−(A0+A1*T+A2*T2)−(B0+B1*T+B2*T2)*F−(C0+C1*T+C2*T2)*g’(F)
3心アレイ方式は光強度を測定するため、光ファイバ自体の伝搬損失や、融着部での損失(以下、融着損失と記す。)などにより、光ファイバの途中で光強度が低下した場合、測定値が変化してしまう問題がある。光ファイバ自体の伝搬損失は、同じファイバを使用すればほぼ同じであり、環境温度変化による損失変動も同じ傾向を示す。3心アレイ方式では、光源から各受光部までの光ファイバ長が同じであるため、光ファイバ自体の損失は強度比をとることにより相殺され、測定値には影響を与えない。また、光ファイバの融着損失は、融着条件により異なるため、各光ファイバで異なった値となるが、融着損失の温度依存性や経年変化は小さいため、使用開始前に光ファイバ損失値の校正を行うことで、問題なく測定できる。この時、3心アレイ方式では各ファイバでの損失を個別に測定する必要はなく、一つの定数により全ての条件を補償できる。以下に詳細を説明する。
F=(α β1P1−α β2P2)/(α β1P1+α β2P2)
=(βP1−P2)/(βP1+P2)
と書き直すことができる。ただし、β=β1/β2である。つまり、この3心アレイ方式では、3本の光ファイバにそれぞれ損失がある場合でも、一つの損失補償定数βで補償できる。このため、3本の光ファイバを使用しながら、損失補償定数が1つで良いため、補償のためのパラメータが少なくて済む。また、補償定数が一つであるため、損失補償をする際に、ある1点での校正により損失補償定数を算出することができる。つまり、3心アレイ方式を用いた温度センサの場合、ある一つの温度で3心アレイから出力されるF値を測定し、そのF値が校正温度になるように損失補償定数βTを計算する。同様に、3心アレイ方式を用いた圧力センサの場合、ある一つの圧力で3心アレイから出力されるF値を測定し、そのF値が校正圧力になるように損失補償定数βPを計算する。ここで、βの添え字TとPはそれぞれ温度測定用3心アレイ方式での損失補償定数、圧力測定用3心アレイ方式での損失補償定数を示している。
図1に示す構成の3心アレイ方式光ファイバセンサを用い、その3心アレイを図6に示すようにして、400kPa圧力により約200μm変形するダイアフラムに3心アレイを対向して固定し、20℃、55℃、−10℃の3温度で圧力特性を測定した。前記の3温度は、使用環境温度が−5℃〜50℃であるため、使用温度範囲が内包されるように設定した。このような温度設定を行うことで、使用温度範囲全体に渡り精度良く温度補償できる。
比較例1の結果を元に、各温度での測定値から温度補償関数を求め、温度補償演算を行った結果を図12に示す。この温度補償は、測定した3温度での圧力とF値の関係を元に温度補償関数を予め求め、この温度補償関数を元に、式(2)に従い温度変化による特性変動を補償した。なお、温度補償関数は温度の1次式とした。使用した温度補償定数を表2に示す。なお、基本圧力特性の圧力換算定数は、比較例1と同じ値である。
図13に示す構成の温度補償型光ファイバセンサによって温度補償後測定圧力を測定した結果、使用温度範囲全域に渡って±0.2%以下の測定精度を実現できた。
実施例1では、測定部26の温度測定を熱電対30で行った。この場合、測定部26の測温に電気信号が必要となるため、センサの光化の利点が半減する。そこで、実施例2では、温度測定用にも3心アレイ方式の温度センサを用いた全光方式の温度補償型光ファイバセンサを作製した。
実施例3では、融着部などによる損失補償の方法について示す。本実施例では、実施例2と同様に、温度測定用にも3心アレイ方式の温度センサを用いた全光方式の温度補償型光ファイバセンサを作製した。
図17は、本実施例の全光方式の温度補償型光ファイバセンサの構成図である。この温度補償型光ファイバセンサは、反射面65を有し光ファイバ端面との相対距離が圧力に応じて変化する圧力測定部66(ダイアフラム)と、光源61(LED)から光分岐部76で2分割された一方の光を圧力測定部66に伝送する投光用光ファイバ62と、圧力測定部66の反射面65で反射した光を圧力測定用の2つの受光部72A,72Bにそれぞれ伝送する圧力測定用の2本の受光用光ファイバ63,64と、光分岐部76で2分割された他方の光を圧力測定部66の近傍に設けられた温度測定部71に伝送する投光用光ファイバ67と、温度測定部71の反射面70で反射した光を温度測定用の2つの受光部72C,72Dにそれぞれ伝送する温度測定用の2本の受光用光ファイバ68,69と、4つの受光部72A〜72D(フォトダイオード)で光電変換された電気信号を演算し、温度補償後の圧力を算出する演算処理回路74と、予め測定した圧力換算定数、温度補償定数を記憶した不揮発性記憶媒体を有し演算処理回路74に接続されたメモリー75とから構成されている。圧力測定用及び温度測定用3心アレイの構造は、図2及び図5に示すものと同様であり、反射面に対向させた3本の光ファイバ端面は、光ファイバ長手方向と反射面に対する法線とのなす角度がθとなるように固定した。使用した光源61は、波長1.3μm帯で発光するLEDを用い、また光ファイバはシングルモード光ファイバ(ITU−T G.652.B相当)を使用した。
Claims (7)
- 光源と、反射面を有し光ファイバ端面との相対距離が物理量に応じて変化する測定部と、光源からの光を測定部に伝送する投光用光ファイバと、測定部反射面で反射した光を複数の受光部にそれぞれ伝送する複数本の受光用光ファイバと、受光部からの電気信号の比から前記物理量を算出する演算処理回路とを有する光ファイバセンサを用いた物理量測定における物理量の温度補償方法であって、
以下の手順:
1.各受光用ファイバで測定される光強度(P1,P2)の強度比F(P1,P2)=(P1−P2)/(P1+P2)と物理量P T0 の関係を測定部の環境温度T 0 で測定し、
2.F値と物理量P T0 の関係を表す関数g(F)を求め、これを基本物理量特性とし、
P T0 =g(F)・・・(1)
3.測定部の異なる環境温度をT n とし、強度比F(P1,P2)=(P1−P2)/(P1+P2)と物理量P Tn の関係を測定し、
4.各温度で測定した物理量P Tn と測定した全ての温度T n を用い、P Tn 温度補償がなされるように、式(2)の温度補償関数、A(T)、B(T),C(T)を決定すること、
P(T)=g(F)−A(T)−B(T)*F−C(T)*g’(F)・・・(2)
(式中、g’(F)は(1)式のF値での1次微分であり、A(T)、B(T)、C(T)は温度Tを変数とした関数であり、右辺第2項は距離変化温度補償項、右辺第3項は角度変化温度補償項、右辺第4項は非線形温度補償をそれぞれ表す。)
によって温度補償後測定物理量を算出することを特徴とする物理量の温度補償方法。 - 受光用光ファイバの損失(β1,β2)を測定し、損失補償定数β(ただし、β=β1/β2)を算出し、この損失補償定数βで測定物理量を更に補償することを特徴とする請求項1に記載の物理量の温度補償方法。
- 測定する物理量が圧力であることを特徴とする請求項1または2に記載の物理量の温度補償方法。
- 光源と、反射面を有し光ファイバ端面との相対距離が圧力や温度などの物理量に応じて変化する測定部と、光源からの光を測定部に伝送する投光用光ファイバと、測定部反射面で反射した光を複数の受光部にそれぞれ伝送する複数本の受光用光ファイバと、受光部からの電気信号の比から前記物理量を算出する演算処理回路とを有する光ファイバセンサであって、
測定部又はその近傍に温度測定手段が設けられ、
演算処理回路は、該温度測定手段で測定した温度を元に、請求項1〜3のいずれかに記載の物理量の温度補償方法を実行し、温度補償後測定物理量を算出するプログラムを有していることを特徴とする温度補償型光ファイバセンサ。 - 投光用光ファイバと2本の受光用光ファイバとのそれぞれの先端部が、反射面に対する法線を基準として固定角度θで対称に固定された3心アレイ構造を有していることを特徴とする請求項4に記載の温度補償型光ファイバセンサ。
- 温度測定手段が前記3心アレイ構造を有する光ファイバセンサであることを特徴とする請求項5に記載の温度補償型光ファイバセンサ。
- 予め測定した物理量換算定数、温度補償定数及び温度換算定数を記録しておく不揮発性記憶媒体を演算処理回路に接続したことを特徴とする請求項4〜6のいずれかに記載の温度補償型光ファイバセンサ。
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