WO2017130888A1 - 構造体 - Google Patents
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Definitions
- a fine pattern formed in a fine structure may have a plurality of regions having different heights.
- Japanese Patent Application No. 2014-152190 which is an earlier application of the applicant of the present application, describes a first transferred resin layer obtained by applying a first photocurable resin composition on a transparent substrate having a light shielding pattern.
- the first cured resin layer to which the first pattern is transferred is formed by irradiating the first transferred resin layer with active energy rays through the first mold while the first pattern of the first mold is pressed.
- the second light-shielding pattern is used as a mask while the second pattern of the second mold is pressed against the second transferred resin layer obtained by applying the second photocurable resin composition on the cured resin layer.
- (A) is a schematic diagram showing the structure 2 which concerns on one Embodiment of this invention
- (b) is the elements on larger scale of the area
- the depth of the high step portion 11h and the low step portion 11l may be substantially the same or different from each other.
- a sufficient fine pattern can be transferred to the transfer layer 21 described later.
- Specific examples of the unevenness include moth eye, line, cylinder, monolith, cone, polygonal pyramid, and microlens.
- the fine pattern may be a fine shape pattern with irregularities randomly, or a fine shape pattern with a plurality of irregularities.
- the material of the base material 13 and the fine patterns 11h and 11l constituting the composite mold 1 is not particularly limited, and a known resin, quartz, metal, or the like can be used. Moreover, the same kind or different kinds of base materials may be laminated, or the resin composition may be laminated on the base material in the form of a film, and it is preferable to laminate a release layer on the fine patterns 11h and 11l.
- the thickness of the substrate is preferably 200 nm to 20 cm. More preferably, it is 2 ⁇ m to 1 cm. More preferably, it is 20 ⁇ m to 2 mm.
- the trifunctional (meth) acrylate compound is a (meth) acrylate compound having three (meth) acrylate groups, such as trimethylolpropane tri (meth) acrylate, ethylene oxide-modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, pentaerythritol tris. And (meth) acrylate.
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Abstract
Description
好ましくは、前記弾性層のヤング率に対する前記基材のヤング率の比の値が10以上である。
好ましくは、前記微細パターンは、複数の凸部及び複数の凹部を含み、前記微細パターンの前記高さが異なる複数の領域は、高段部及び前記高段部より高さの低い低段部を含み、前記高段部の前記複数の凸部の上面を結ぶ仮想線と、前記低段部の前記複数の凸部の上面を結ぶ仮想線と、の間の距離が、500μm以下である。
好ましくは、前記樹脂層は、前記微細パターンが設けられている領域での最薄部の厚さが、100nm以下である。
好ましくは、前記樹脂層の厚さに対する前記弾性層の厚さの比の値が10以上である。
好ましくは、前記弾性層は、一様な厚さを有する。
以下、図1を用いて本発明の実施形態に係る構造体2について説明する。以下に示す実施形態中で示した各種特徴事項は、互いに組み合わせ可能である。また、各特徴事項について独立して発明が成立する。
図1(a)は本発明の一実施形態に係る構造体2を表す模式図であり、図1(b)は図1(a)における領域Xの部分拡大図である。構造体2は、基材23と、弾性層22と、樹脂層24と、を有する。樹脂層24は、弾性層22の反対側の面に微細パターン26を備える。微細パターン26は、例えば樹脂組成物により構成される樹脂層である。
微細パターン26は、例えば透明樹脂層であり、その厚さd1(微細パターン26を有する面24bと高段部21hの凸部の上面までの距離であり、樹脂層24の厚さでもある)は、1nm~1mmが好ましい。より好ましくは、5nm~200nmである。さらに好ましくは、10nm~100nmである。このような厚さとすれば、インプリント加工が行い易い。
弾性層22は、微細パターン26の載置面側に設けられた層である。弾性層22は、例えば樹脂で構成することができる。弾性層22は、(1)弾性層22のヤング率が1GPa以下である、又は、(2)弾性層22のヤング率が弾性層22を支持する基材23のヤング率よりも小さい、という特性を有する。ここで、ヤング率とは、フックの法則が成立する弾性範囲における、同軸方向のひずみと応力の比例定数である。線形弾性体では、ヤング率をE、ひずみをx、応力をFとすると、「F=Ex」が成立する。これより、ひずみの大きさが同じ場合、ヤング率が大きい物質ほどひずんだ状態からの復元力が大きくなることがわかる。弾性層22のヤング率の上限は、1GPa以下が好ましい。より好ましくは、500MPa以下である。さらに好ましくは、200MP以下である。弾性層22のヤング率の下限は、0.5MPa以上が好ましい。より好ましくは、1MPa以上である。さらに好ましくは、5MPaである。とりわけ好ましくは、10MPa以上である。弾性層22のヤング率は、例えば、15,20,25,30,35,40,45,50,55,60MPaであり、ここで例示した数値の何れか2つの間の範囲内であってもよい。
基材23は、弾性層22を支持するものである。基材23の材質は、特に限定されず、公知の樹脂、石英、金属などを用いることができる。また、同種又は異種の基材を積層したり、基材に樹脂組成物を膜状に積層させたりしてもよい。基材23は、例えば、樹脂基材、石英基材などの透明材料で形成される。
次に、図2~図4を用いて、構造体2の製造方法について説明する。本発明に係る製造方法としては、弾性層の上側に被転写層を形成する被転写層形成工程と、微細パターンを有するモールドを前記被転写層に押し付けて、前記被転写層に前記微細パターンを転写する転写工程と、前記被転写層を硬化する硬化工程と、を備え、以下の(1)又は(2)の構成を備える;(1)弾性層のヤング率が1GPa以下である(2)弾性層のヤング率が前記弾性層を支持する基材のヤング率よりも小さい、構造体の製造方法を用いることができる。(1)は、基材23を用いずに弾性層22を載置面に直接載置した場合の条件である。(2)は、弾性層22の下側に基材23を設けた場合の条件である。ヤング率の調整方法は特に限定されないが、例えば複数の樹脂の配合比率を変更することによりヤング率を調整することができる。
<複合モールド1>
図2は、本発明の一実施形態に係る構造体2を製造する際に用いる複合モールド1と、被転写層21、弾性層22及び基材23を示す模式図である。複合モールド1は、基材13上に高さが異なる複数の領域が存在する微細パターンを有するモールドである。本実施形態の微細パターンは、一定の周期で繰り返す凹凸状の微細形状パターンである。微細パターンは、複数の凸部及び複数の凹部で構成される。また、微細パターンには、高段部11h及び低段部11lが含まれる。低段部11lは、高段部11hより高さの低い領域である。図2に示されるように、基材13から高段部11hの凸部までの距離と比べ、基材13から低段部11lの凸部までの距離の方が短くなっている。高段部11hを構成する複数の凸部の上面を結ぶ仮想線と、低段部11lを構成する複数の凸部の上面を結ぶ仮想線と、の間の距離Dは、0.5nm~500μmが好ましい。なお、複数の凸部の高さは厳密には異なるので、複数の凸部の平均的な高さを仮想線として用いることとしてもよい。ここで、微細パターンの周期及び転写面は、上述の微細パターン26と同様の条件とすることができる。また、高段部11hと低段部11lの深さは実質的に同じであってもよく、それぞれ異なっていても良い。このように設定すれば、後述の被転写層21に充分な微細パターンを転写することができる。凹凸の具体的な形状としては、モスアイ、線、円柱、モノリス、円錐、多角錐、マイクロレンズが挙げられる。また、微細パターンは、ランダムに凹凸する微細形状パターンであってもよいし、複数の凹凸を有する微細形状パターンであってもよい。
被転写層21は、複合モールド1の微細パターンが転写される層である。被転写層21は、微細パターン26を形成するものであり、例えば光硬化性樹脂組成物で構成される。被転写層21は、例えば透明樹脂層であり、その厚さd1は、1nm~1mmが好ましい。より好ましくは、5nm~200nmである。さらに好ましくは、10nm~100nmである。このような厚さとすれば、インプリント加工が行い易い。本実施形態では、モノマーと、光開始剤を含有し、活性エネルギー線の照射によって硬化する性質を有する光硬化性樹脂組成物を用いる。
<弾性層22>
iso-プロピル(メタ)アクリレート、iso-ブチル(メタ)アクリレート、tert-ブチル(メタ)アクリレート、2-エチルヘキシル(メタ)アクリレートおよびイソオクチル(メタ)アクリレートなどの分岐状アルキル基を有する(メタ)アクリル酸アルキルエステル;
イソボルニル(メタ)アクリレートおよびシクロへキシル(メタ)アクリレートなどの環状アルキル基を有する(メタ)アクリル酸アルキルエステル;
ベンジル(メタ)アクリレートおよびフェノキシエチル(メタ)アクリレートなどの芳香環基を有する(メタ)アクリル酸エステルなどを挙げることができる。
また、本発明のウレタン(メタ)アクリレートは、日本合成化学工業社製の「紫光」シリーズやDIC株式会社製の「UNIDIC」シリーズなどの市販品を用いることができる。
基材23の材質は特に限定されないが、樹脂基材、シリコーン基材、石英基材などの透明材料で形成されることが好ましい。樹脂基材を構成する樹脂として、ポリカーボネート、ポリエステル(ポリエチレンテレフタレート(PET))、ポリトリメチレンテレフタレート(PTT)、ポリブチレンテレフタレート(PBT)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリブチレンナフタレート(PBN))、ポリオレフィン、環状ポリオレフィン、ポリイミド、ポリサルフォン、ポリエーテルサルフォン等を利用することができる。また、樹脂基材を用いる場合には、同種又は異種の基材を積層したり、樹脂基材に樹脂組成物を膜状に積層させたりしてもよい。
<転写工程及び硬化工程>
次に、構造体2の製造方法の各工程について説明する。図3は、本実施形態に係る構造体2の製造方法について説明する図であり、(a)は複合モールド1の押圧前、(b)は被転写層21の硬化、(c)は複合モールド1の離間について示す図である。なお、説明の都合上、複合モールド1に含まれる高段部11h及び低段部11lと、被転写層21及び弾性層22の高さ方向の縮尺を変更している。また、基材23は図示を省略している。
図4は、図3(c)の拡大図であり、構造体2に含まれる高段部21hの高さと低段部21lの高さの差が小さくなるメカニズムを説明する図である。下方の矢印の下側の破線で示される位置が弾性層22の復元前の位置であり、下方の矢印の上側の点線で示される位置が弾性層22の復元後の位置である。また、上方の矢印の下側の破線で示される位置が弾性層22の復元前における低段部21lの凸部先端の位置であり、上方の矢印の上側の点線で示される位置が弾性層22の復元後における低段部21lの凸部先端の位置である。そして、弾性層22が矢印の分だけ復元することにともない、弾性層22に支持される微細パターン26の低段部21lも矢印の分だけ上昇する。これにより、低段部21lの凸部の上面を結ぶ仮想線と、高段部21hの凸部の上面を結ぶ仮想線と、の間の距離は、弾性層22の復元前のDから弾性層22の復元後にD1へと変化する。ここで、弾性層22の復元前において、低段部21lの凸部の上面を結ぶ仮想線と、高段部21hの凸部の上面を結ぶ仮想線と、の間の距離は、硬化前の被転写層21に転写された複合モールド1の微細パターンにおける高段部11hを構成する複数の凸部の上面を結ぶ仮想線と、低段部11lを構成する複数の凸部の上面を結ぶ仮想線と、の間の距離Dと等しいとした。実際には、構造体2における距離Dと複合モールド1における距離Dが等しくならない場合もあるが、説明の都合上、これらの距離が等しいとして近似した。なお、複数の凸部の高さは厳密には異なるので、複数の凸部の平均的な高さを仮想線として用いることとしてもよい。
(1)基材23との密着性(基材23を用いない場合は無関係)
基材23と弾性層22が剥離しない程度の密着性が必要である。このために、例えば、プライマー処理や易接着処理により、弾性層22を所望の特性へと調整することが考えられる。
(2)被転写層21に対する耐性及び密着性
弾性層22から被転写層21が剥離しない程度の密着性が必要である。また、被転写層21が液体のUV硬化樹脂の場合には、被転写層21に対して弾性層22がある閾値以上膨張及び溶解しないことが必要である。
(3)適度な弾性
後述の実施例より、弾性層22のヤング率が小さくなるにつれて、構造体2の微細パターン26の高さの差D1が小さくなっていることがわかる。しかし、弾性層22のヤング率が小さすぎると、弾性層の復元力が低くなりすぎて構造体2の微細パターン26の高さの差D1が小さくなりにくくなる。
次に、図5を用いて、かかる構造体2を複合モールド1として利用し、他の構造体3を製造する方法について説明する。図5における構造体2が図2における複合モールド1に対応する。なお、複合モールド1では弾性層がなかったが、構造体2には弾性層22がある点が異なる。また、図5における被転写層31及び基材33が、図2における被転写層21及び基材23に対応する。これらの機能は同様であるため、説明を省略する。このように、構造体2を被転写層31上に位置させた状態から、構造体3の製造が開始される。
次に、図7を用いて、その他の実施形態について説明する。図7(a)に示されるように、弾性層22の下側に基材23を設けず、弾性層22を直接載置面に載置する構成としてもよい。この場合、弾性層22が載置面に対して直立可能なように弾性層22のヤング率が調整される。ヤング率の調整方法は特に限定されないが、例えば複数の樹脂の配合比率を変更することによりヤング率を調整することができる。
次に、構造体2の具体的な製造条件について説明する。かかる製造条件は適宜調整することが可能であるが、一例として、以下の製造条件で構造体2を製造した場合について説明する。特に、弾性層22のヤング率を変化させた実施例1~実施例5について説明する。
<複合モールド1>
構造体2の製造条件は、以下の通りである。まず、厚さ200μm、ヤング率5GPaのPET基材上に、アクリル樹脂からなる樹脂層および離型層が積層された微細パターンが形成された複合モールド1を準備した。なお、微細パターンの高段部11hと低段部11lの高さの差(D)が100nmである。
<構造体2>
上記製造条件で、ウレタンアクリレートと2官能アクリレートの配合比率を変化させることにより弾性層22のヤング率を変化させ、構造体2における高さの差D1(図4参照)の変化を以下の表に示す。
次に、弾性層22を有さない場合について説明する。
<比較例1>
上記製造条件と同じ条件で、微細パターンの高段部11hと低段部11lの高さの差(D)が100nmの複合モールド1を、厚さ200μm、ヤング率3MPaのアクリル板基材上に形成された厚さ100nmの被転写層に押圧し、積算光量500mJ/cm2でUV照射を行い、複合モールド1の微細パターンが反転された被転写層を硬化させ、転写物Xを得た。ここで、被転写層は、上記と同様の条件で製造した。なお、複合モールド1の押圧は、5kgのゴムローラーでラミネートすることにより行った。このとき、転写物XのDx(構造体2のD1に相当)は、100nmであった。これは、弾性層22がないために、複合モールド1のDがほとんどそのまま被転写層21に転写されたためであると考えられる。
次に、比較例1と同じ条件で、微細パターンの高段部11hと低段部11lの高さの差(D)が30nmの複合モールド1を用い、転写物Y(微細パターンを有する構造体)を製造した。このとき、転写物YのDy(構造体2のD1に相当)は、30nmであった。これは、弾性層22がないために、複合モールド1のDがほとんどそのまま被転写層21に転写されたためであると考えられる。
Claims (6)
- 弾性層と、その上側に設けられた樹脂層を有する構造体であって、
前記樹脂層は、前記弾性層の反対側の面に微細パターンを備え、
前記微細パターンは、高さが異なる複数の領域を備え、
以下の(1)又は(2)の構成を備える;
(1)前記弾性層のヤング率が1GPa以下である
(2)前記弾性層のヤング率が前記弾性層を支持する基材のヤング率よりも小さい
構造体。 - 前記弾性層のヤング率に対する前記基材のヤング率の比の値が10以上である、
請求項1に記載の構造体。 - 前記微細パターンは、複数の凸部及び複数の凹部を含み、
前記微細パターンの前記高さが異なる複数の領域は、高段部及び前記高段部より高さの低い低段部を含み、
前記高段部の前記複数の凸部の上面を結ぶ仮想線と、前記低段部の前記複数の凸部の上面を結ぶ仮想線と、の間の距離が、500μm以下である、
請求項1又は請求項2に記載の構造体。 - 前記樹脂層は、前記微細パターンが設けられている領域での最薄部の厚さが、100nm以下である、
請求項1~請求項2のいずれか1項に記載の構造体。 - 前記樹脂層の厚さに対する前記弾性層の厚さの比の値が10以上である、
請求項1~請求項4のいずれか1項に記載の構造体。 - 前記弾性層は、一様な厚さを有する、
請求項1~請求項5のいずれか1項に記載の構造体。
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