WO2017015979A1 - 测试引出线结构及测试装置 - Google Patents
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- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
Definitions
- the invention relates to the field of testing, and in particular to a test lead wire structure and a testing device.
- Fig. 1A is a schematic structural view of a prior art test lead wire structure
- Fig. 1B is a cross-sectional view taken along line A-A' of Fig. 1A.
- the display panel is 11, the signal line is 12, the test lead line is 13, the test line is 14, and the test signal generating device is 15.
- the signal line 12 and the test lead line 13 are formed.
- the signal line 12 is in one-to-one correspondence with the test lead line 13.
- the test signal generating device 15 transmits the test signal to the signal line 12 through the test lead line 13. To perform display detection on the display panel 11.
- the test lead wire 13 is cut off in order to facilitate the setting of the signal line terminal.
- the spacing between the test lead wires 13 is also smaller and smaller.
- the object of the present invention is to provide a test lead wire structure and a test device which can better avoid short circuit between different test lead wires when performing a cutting operation; to solve the existing test lead wire structure and test device A technical problem of short-circuiting between different test leads when performing a cutting operation.
- the embodiment of the invention provides a test lead line structure for connecting a signal line inside the display device and an external test line, which includes:
- first lead line disposed between the first insulating layer and the second insulating layer
- the projection of the first lead line on the second insulating layer and the projection interval of the second lead line on the second insulating layer are disposed;
- the spacing between the adjacent first lead lines is greater than or equal to a preset safety value, and the spacing between the adjacent second lead lines is greater than or equal to the preset safety value;
- One end of the second lead line is directly connected to the signal line, and the other end of the second lead line is directly connected to the test line.
- test lead line structure further includes:
- a first via hole is disposed on the second insulating layer for guiding the first lead line to the second insulating layer, so that the first lead line is connected to the signal line.
- test lead line structure further includes:
- a second via hole is disposed on the second insulating layer for guiding the first lead wire to the second insulating layer, so that the first lead wire is connected to the test line.
- the first through hole and the second through hole are respectively disposed at both ends of the first lead line.
- the embodiment of the invention provides a test lead line structure for connecting a signal line inside the display device and an external test line, which includes:
- first lead line disposed between the first insulating layer and the second insulating layer
- the projection of the first lead line on the second insulating layer and the projection of the second lead line on the second insulating layer are spaced apart.
- the spacing of the adjacent first lead lines is greater than or equal to a preset safety value.
- the spacing of the adjacent second lead lines is greater than or equal to the preset safety value.
- test lead line structure further includes:
- a first via hole is disposed on the second insulating layer for guiding the first lead line to the second insulating layer, so that the first lead line is connected to the signal line.
- test lead line structure further includes:
- a second via hole is disposed on the second insulating layer for guiding the first lead wire to the second insulating layer, so that the first lead wire is connected to the test line.
- the first through hole and the second through hole are respectively disposed at both ends of the first lead line.
- one end of the second lead line is directly connected to the signal line, and the other end of the second lead line is directly connected to the test line.
- An embodiment of the present invention further provides a testing apparatus, including:
- test signal generating device for generating a test signal
- Testing a lead line structure connected to the test signal generating device through a test line, for transmitting the test signal to a signal line inside a corresponding display device;
- the test lead line structure includes:
- first lead line disposed between the first insulating layer and the second insulating layer
- the projection of the first lead line on the second insulating layer and the projection of the second lead line on the second insulating layer are spaced apart.
- the testing device further includes:
- a cutting mark is disposed on the test lead line structure to separate the signal line and the test line after the test is completed.
- the spacing of the adjacent first lead lines is greater than or equal to a preset safety value.
- the spacing of the adjacent second lead lines is greater than or equal to the preset safety value.
- test lead line structure further includes:
- a first via hole is disposed on the second insulating layer for guiding the first lead line to the second insulating layer, so that the first lead line is connected to the signal line.
- test lead line structure further includes:
- a second via hole is disposed on the second insulating layer for guiding the first lead wire to the second insulating layer, so that the first lead wire is connected to the test line.
- the first through hole and the second through hole are respectively disposed at both ends of the first lead line.
- one end of the second lead line is directly connected to the signal line, and the other end of the second lead line is directly connected to the test line.
- the test lead wire structure and the test device of the present invention can be better when the cutting operation is performed by setting the first lead wire and the second lead wire located at different levels. Avoid short circuit between different test leads; to solve the technical problem of short circuit between different test leads when the existing test lead structure and test device are performing cutting operation.
- 1A is a schematic structural view of a test lead line structure of the prior art
- Figure 1B is a cross-sectional view taken along line A-A' of Figure 1A;
- FIG. 2A is a schematic structural view of a preferred embodiment of a test lead wire structure of the present invention.
- Fig. 2B is a cross-sectional view taken along line B-B' of Fig. 2A.
- FIG. 2A is a schematic structural view of a preferred embodiment of the test lead wire structure of the present invention
- FIG. 2B is a cross-sectional view taken along line B-B' of FIG. 2A.
- the test lead line structure 21 of the preferred embodiment is used to connect the signal line 22 inside the display device and the external test line 23, the test lead line structure 21 includes a first insulating layer 211, a second insulating layer 212, and a first lead line. 213 (test lead) and second lead 214 (test lead).
- the second insulating layer 212 is disposed on the first insulating layer 211, the first lead line 213 is disposed between the first insulating layer 211 and the second insulating layer 212, and the second lead line 214 is disposed on the second insulating layer 212.
- the projection of the first lead line 213 on the second insulating layer 212 and the projection interval of the second lead line 214 on the second insulating layer 212 are disposed.
- the test lead line structure 21 further includes a first through hole 215 and a second through hole 216.
- the first through hole 215 is disposed on the second insulating layer 212 for guiding the first lead line 213 to the second insulating layer 212.
- the first lead-out line 213 is connected to the signal line 22;
- the second via hole 216 is disposed on the second insulating layer 212 for guiding the first lead-out line 213 to the second insulating layer 212, so that the first lead-out line 213 and Test line 23 is connected.
- the first through hole 215 and the second through hole 216 are respectively disposed at two ends of the first lead line 213, one end of the second lead line 214 is directly connected to the signal line 22, and the other end of the second lead line 214 is directly connected to the test line 23. connection.
- the external test signal generating device 25 is connected to the test lead-out line structure 21 through the test line 23, so that the test signal generated by the test signal generating device 25 can be
- the first lead line 213 and the second lead line 214 of the test lead line structure 21 are input to the signal line 22 of the display panel 24, and the second lead line 214 is directly connected to the signal line 22 and the test line 23, and the first lead line 213 is connected.
- the first through hole 215 is connected to the signal line 22, and the second through hole 216 is connected to the test line 23, thereby performing corresponding screen display detection.
- the first lead line 213 and the second lead line 214 can be cut by the cutting mark 217 provided on the test lead line structure 21, thereby separating the signal line 22 and the test line 23. Since the spacing of the adjacent first lead lines 213 is greater than or equal to the preset safety value, the spacing of the adjacent second lead lines 214 is also greater than or equal to the preset safety value, so that different test lead lines are not generated when the cutting operation is performed. Short circuit between.
- the projection of the first lead line 213 on the second insulating layer 212 and the projection of the second lead line 24 on the second insulating layer 212 are The spacing between the two can be less than the preset safety value, so more test leads can be set under the same area, which is convenient for display testing of high resolution display devices.
- the test lead-out line structure of the preferred embodiment can prevent short-circuiting between different test lead-out lines during the cutting operation by setting the first lead-out line and the second lead-out line at different levels.
- the invention also provides a testing device comprising a test signal generating device and a test lead wire structure, wherein the test signal generating device is configured to generate a test signal; and the test lead wire structure is connected to the test signal generating device through the test line for using the test signal Transmission to the signal line inside the corresponding display device.
- the test lead line structure includes a first insulating layer, a second insulating layer, a first lead line, and a second lead line.
- the second insulating layer is disposed on the first insulating layer
- the first lead line is disposed between the first insulating layer and the second insulating layer
- the second lead line is disposed on the second insulating layer.
- a projection of the first lead line on the second insulating layer and a projection interval of the second lead line on the second insulating layer are disposed.
- the test lead wire structure further includes a first through hole and a second through hole, wherein the first through hole is disposed on the second insulating layer for guiding the first lead wire to the second insulating layer, so that the first lead wire and the signal
- the second through hole is disposed on the second insulating layer for guiding the first lead wire to the second insulating layer, so that the first lead wire is connected to the test line.
- the first through hole and the second through hole are respectively disposed at two ends of the first lead line, one end of the second lead line is directly connected to the signal line, and the other end of the second lead line is directly connected to the test line.
- the testing apparatus of the preferred embodiment further includes a cutting mark disposed on the test lead line structure to separate the signal line and the test line after the test is completed.
- test apparatus of the preferred embodiment is the same as or similar to that of the preferred embodiment of the test lead line structure described above.
- test lead wire structure and the testing device of the invention can prevent the short circuit between the different test lead wires when the cutting operation is performed by setting the first lead wire and the second lead wire at different levels; Some test lead wire structures and test equipment have technical problems of short circuit between different test lead wires when performing cutting operations.
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
一种测试引出线结构（21），用于连接显示装置内部的信号线（22）以及外部的测试线（23），其包括第一绝缘层（211）、第二绝缘层（212）、第一引出线（213）以及第二引出线（214），其中第一引出线（213）在第二绝缘层（212）上的投影与第二引出线（214）在第二绝缘层（212）上的投影间隔设置；如此在进行切割操作时，可以较好的避免不同测试引出线之间产生短路现象。
Description
本发明涉及测试领域，特别是涉及一种测试引出线结构及测试装置。
随着科技的发展，人们对显示技术的要求也越来越高，现有的显示装置在出厂前均会进行多种显示检测，以满足人们的各种需要。
图1A为现有技术的测试引出线结构的结构示意图，图1B为沿图1A的A-A’截面线的截面图。显示面板为11，信号线为12，测试引出线为13，测试线为14，测试信号发生装置为15。
在显示装置的制成过程中会形成信号线12以及测试引出线13，信号线12与测试引出线13一一对应，测试信号发生装置为15会通过测试引出线13向信号线12传输测试信号，以对显示面板11进行显示检测。
在对显示面板11检测完毕后，为了便于设置信号线端子，会将测试引出线13切割掉。但是由于显示面板11的分辨率越来越高，导致测试引出线13之间的间距也越来越小，在进行切割操作时，切割产生的碎屑容易引起不同测试引出线13之间产生短路现象。
故，有必要提供一种测试引出线结构及测试装置，以解决现有技术所存在的问题。
本发明的目的在于提供一种在进行切割操作时，可以较好的避免不同测试引出线之间产生短路现象的测试引出线结构及测试装置；以解决现有的测试引出线结构及测试装置的在进行切割操作时，不同测试引出线之间产生短路现象的技术问题。
本发明实施例提供一种测试引出线结构，用于连接显示装置内部的信号线以及外部的测试线，其包括：
第一绝缘层；
第二绝缘层，设置在所述第一绝缘层上；
第一引出线，设置在所述第一绝缘层和所述第二绝缘层之间；以及
第二引出线，设置在所述第二绝缘层上；
其中所述第一引出线在所述第二绝缘层上的投影与所述第二引出线在所述第二绝缘层上的投影间隔设置；
其中相邻的所述第一引出线的间距大于等于预设安全值，相邻的所述第二引出线的间距大于等于所述预设安全值；
所述第二引出线的一端直接与所述信号线连接，所述第二引出线的另一端直接与所述测试线连接。
在本发明所述的测试引出线结构中，所述测试引出线结构还包括：
第一通孔，设置在所述第二绝缘层上，用于将所述第一引出线引出至所述第二绝缘层上，以便所述第一引出线与所述信号线连接。
在本发明所述的测试引出线结构中，所述测试引出线结构还包括：
第二通孔，设置在所述第二绝缘层上，用于将所述第一引出线引出至所述第二绝缘层上，以便所述第一引出线与所述测试线连接。
在本发明所述的测试引出线结构中，所述第一通孔和所述第二通孔分别设置在所述第一引出线的两端。
本发明实施例提供一种测试引出线结构，用于连接显示装置内部的信号线以及外部的测试线，其包括：
第一绝缘层；
第二绝缘层，设置在所述第一绝缘层上；
第一引出线，设置在所述第一绝缘层和所述第二绝缘层之间；以及
第二引出线，设置在所述第二绝缘层上；
其中所述第一引出线在所述第二绝缘层上的投影与所述第二引出线在所述第二绝缘层上的投影间隔设置。
在本发明所述的测试引出线结构中，相邻的所述第一引出线的间距大于等于预设安全值。
在本发明所述的测试引出线结构中，相邻的所述第二引出线的间距大于等于所述预设安全值。
在本发明所述的测试引出线结构中，所述测试引出线结构还包括：
第一通孔，设置在所述第二绝缘层上，用于将所述第一引出线引出至所述第二绝缘层上，以便所述第一引出线与所述信号线连接。
在本发明所述的测试引出线结构中，所述测试引出线结构还包括：
第二通孔，设置在所述第二绝缘层上，用于将所述第一引出线引出至所述第二绝缘层上，以便所述第一引出线与所述测试线连接。
在本发明所述的测试引出线结构中，所述第一通孔和所述第二通孔分别设置在所述第一引出线的两端。
在本发明所述的测试引出线结构中，所述第二引出线的一端直接与所述信号线连接，所述第二引出线的另一端直接与所述测试线连接。
本发明实施例还提供一种测试装置，其包括：
测试信号发生装置，用于生成测试信号；以及
测试引出线结构，通过测试线与所述测试信号发生装置连接，用于将所述测试信号传输至相应的显示装置内部的信号线；
其中所述测试引出线结构包括：
第一绝缘层；
第二绝缘层，设置在所述第一绝缘层上；
第一引出线，设置在所述第一绝缘层和所述第二绝缘层之间；以及
第二引出线，设置在所述第二绝缘层上；
其中所述第一引出线在所述第二绝缘层上的投影与所述第二引出线在所述第二绝缘层上的投影间隔设置。
在本发明所述的测试装置中，所述测试装置还包括：
切割标记，设置在所述测试引出线结构上，以便在测试完毕后，对所述信号线和所述测试线进行分离操作。
在本发明所述的测试装置中，相邻的所述第一引出线的间距大于等于预设安全值。
在本发明所述的测试装置中，相邻的所述第二引出线的间距大于等于所述预设安全值。
在本发明所述的测试装置中，所述测试引出线结构还包括：
第一通孔，设置在所述第二绝缘层上，用于将所述第一引出线引出至所述第二绝缘层上，以便所述第一引出线与所述信号线连接。
在本发明所述的测试装置中，所述测试引出线结构还包括：
第二通孔，设置在所述第二绝缘层上，用于将所述第一引出线引出至所述第二绝缘层上，以便所述第一引出线与所述测试线连接。
在本发明所述的测试装置中，所述第一通孔和所述第二通孔分别设置在所述第一引出线的两端。
在本发明所述的测试装置中，所述第二引出线的一端直接与所述信号线连接，所述第二引出线的另一端直接与所述测试线连接。
相较于现有的测试引出线结构及测试装置，本发明的测试引出线结构及测试装置通过设置位于不同层面的第一引出线以及第二引出线，在进行切割操作时，可以较好的避免不同测试引出线之间产生短路现象；以解决现有的测试引出线结构及测试装置的在进行切割操作时，不同测试引出线之间产生短路现象的技术问题。
图1A为现有技术的测试引出线结构的结构示意图；
图1B为沿图1A的A-A’截面线的截面图；
图2A为本发明的测试引出线结构的优选实施例的结构示意图；
图2B为沿图2A的B-B’截面线的截面图。
以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。
在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。
请参照图2A和图2B，图2A为本发明的测试引出线结构的优选实施例的结构示意图，图2B为沿图2A的B-B’截面线的截面图。本优选实施例的测试引出线结构21用于连接显示装置内部的信号线22以及外部的测试线23，该测试引出线结构21包括第一绝缘层211、第二绝缘层212、第一引出线213（测试引出线）以及第二引出线214（测试引出线）。第二绝缘层212设置在第一绝缘层211上，第一引出线213设置在第一绝缘层211和第二绝缘层212之间，第二引出线214设置在第二绝缘层212上。第一引出线213在第二绝缘层212上的投影和第二引出线214在第二绝缘层212上的投影间隔设置。
测试引出线结构21还包括第一通孔215以及第二通孔216，第一通孔215设置在第二绝缘层212上，用于将第一引出线213引出至第二绝缘层212上，以便第一引出线213与信号线22连接；第二通孔216设置在第二绝缘层212上，用于将第一引出线213引出至第二绝缘层212上，以便第一引出线213与测试线23连接。第一通孔215和第二通孔216分别设置在第一引出线213的两端，第二引出线214的一端直接与信号线22连接，第二引出线214的另一端直接与测试线23连接。
使用本优选实施例的测试引出线结构21进行显示装置的测试时，通过测试线23将外部的测试信号发生装置25与测试引出线结构21连接起来，这样测试信号发生装置25产生的测试信号可通过测试引出线结构21的第一引出线213和第二引出线214输入至显示面板24的信号线22上，第二引出线214直接与信号线22和测试线23连接，第一引出线213通过第一通孔215和信号线22连接，通过第二通孔216与测试线23连接，从而进行相应的屏幕显示检测。
显示面板24的测试结束后，可通过设置在测试引出线结构21上的切割标记217将第一引出线213和第二引出线214剪断，从而对信号线22和测试线23进行分离操作。由于相邻的第一引出线213的间距大于等于预设安全值，相邻的第二引出线214的间距也大于等于预设安全值，因此在进行切割操作时，不会产生不同测试引出线之间的短路现象。
同时由于第一引出线213和第二引出线214设置不同的平面上，因此第一引出线213在第二绝缘层212上的投影和第二引出线24在第二绝缘层212上的投影之间的间距可以小于预设安全值，因此在相同的面积下可以设置更多的测试引出线，便于对高分辨率的显示装置进行显示测试。
这样即完成了本优选实施例的测试引出线结构21的显示测试过程。
本优选实施例的测试引出线结构通过设置位于不同层面的第一引出线以及第二引出线，在进行切割操作时，可以较好的避免不同测试引出线之间产生短路现象。
本发明还提供一种测试装置，其包括测试信号发生装置以及测试引出线结构，测试信号发生装置用于生成测试信号；测试引出线结构通过测试线与测试信号发生装置连接，用于将测试信号传输至相应的显示装置内部的信号线。
该测试引出线结构包括第一绝缘层、第二绝缘层、第一引出线以及第二引出线。第二绝缘层设置在第一绝缘层上，第一引出线设置在第一绝缘层和第二绝缘层之间，第二引出线设置在第二绝缘层上。第一引出线在第二绝缘层上的投影和第二引出线在第二绝缘层上的投影间隔设置。
测试引出线结构还包括第一通孔以及第二通孔，第一通孔设置在第二绝缘层上，用于将第一引出线引出至第二绝缘层上，以便第一引出线与信号线连接；第二通孔设置在第二绝缘层上，用于将第一引出线引出至第二绝缘层上，以便第一引出线与测试线连接。第一通孔和第二通孔分别设置在第一引出线的两端，第二引出线的一端直接与信号线连接，第二引出线的另一端直接与测试线连接。
优选的，本优选实施例的测试装置还包括切割标记，该切割标记设置在测试引出线结构上，以便在测试完毕后，对信号线和测试线进行分离操作。
本优选实施例的测试装置的具体工作原理与上述的测试引出线结构的优选实施例中的描述相同或相似，具体请参见上述测试引出线结构的优选实施例中的相关描述。
本发明的测试引出线结构及测试装置通过设置位于不同层面的第一引出线以及第二引出线，在进行切割操作时，可以较好的避免不同测试引出线之间产生短路现象；以解决现有的测试引出线结构及测试装置的在进行切割操作时，不同测试引出线之间产生短路现象的技术问题。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。
Claims (19)
- 一种测试引出线结构，用于连接显示装置内部的信号线以及外部的测试线，其包括：第一绝缘层；第二绝缘层，设置在所述第一绝缘层上；第一引出线，设置在所述第一绝缘层和所述第二绝缘层之间；以及第二引出线，设置在所述第二绝缘层上；其中所述第一引出线在所述第二绝缘层上的投影与所述第二引出线在所述第二绝缘层上的投影间隔设置；其中相邻的所述第一引出线的间距大于等于预设安全值，相邻的所述第二引出线的间距大于等于所述预设安全值；所述第二引出线的一端直接与所述信号线连接，所述第二引出线的另一端直接与所述测试线连接。
- 根据权利要求1所述的测试引出线结构，其中所述测试引出线结构还包括：第一通孔，设置在所述第二绝缘层上，用于将所述第一引出线引出至所述第二绝缘层上，以便所述第一引出线与所述信号线连接。
- 根据权利要求2所述的测试引出线结构，其中所述测试引出线结构还包括：第二通孔，设置在所述第二绝缘层上，用于将所述第一引出线引出至所述第二绝缘层上，以便所述第一引出线与所述测试线连接。
- 根据权利要求3所述的测试引出线结构，其中所述第一通孔和所述第二通孔分别设置在所述第一引出线的两端。
- 一种测试引出线结构，用于连接显示装置内部的信号线以及外部的测试线，其包括：第一绝缘层；第二绝缘层，设置在所述第一绝缘层上；第一引出线，设置在所述第一绝缘层和所述第二绝缘层之间；以及第二引出线，设置在所述第二绝缘层上；其中所述第一引出线在所述第二绝缘层上的投影与所述第二引出线在所述第二绝缘层上的投影间隔设置。
- 根据权利要求5所述的测试引出线结构，其中相邻的所述第一引出线的间距大于等于预设安全值。
- 根据权利要求5所述的测试引出线结构，其中相邻的所述第二引出线的间距大于等于所述预设安全值。
- 根据权利要求5所述的测试引出线结构，其中所述测试引出线结构还包括：第一通孔，设置在所述第二绝缘层上，用于将所述第一引出线引出至所述第二绝缘层上，以便所述第一引出线与所述信号线连接。
- 根据权利要求8所述的测试引出线结构，其中所述测试引出线结构还包括：第二通孔，设置在所述第二绝缘层上，用于将所述第一引出线引出至所述第二绝缘层上，以便所述第一引出线与所述测试线连接。
- 根据权利要求9所述的测试引出线结构，其中所述第一通孔和所述第二通孔分别设置在所述第一引出线的两端。
- 根据权利要求5所述的测试引出线结构，其中所述第二引出线的一端直接与所述信号线连接，所述第二引出线的另一端直接与所述测试线连接。
- 一种测试装置，其包括：测试信号发生装置，用于生成测试信号；以及测试引出线结构，通过测试线与所述测试信号发生装置连接，用于将所述测试信号传输至相应的显示装置内部的信号线；其中所述测试引出线结构包括：第一绝缘层；第二绝缘层，设置在所述第一绝缘层上；第一引出线，设置在所述第一绝缘层和所述第二绝缘层之间；以及第二引出线，设置在所述第二绝缘层上；其中所述第一引出线在所述第二绝缘层上的投影与所述第二引出线在所述第二绝缘层上的投影间隔设置。
- 根据权利要求12所述的测试装置，其中所述测试装置还包括：切割标记，设置在所述测试引出线结构上，以便在测试完毕后，对所述信号线和所述测试线进行分离操作。
- 根据权利要求12所述的测试装置，其中相邻的所述第一引出线的间距大于等于预设安全值。
- 根据权利要求12所述的测试装置，其中相邻的所述第二引出线的间距大于等于所述预设安全值。
- 根据权利要求12所述的测试装置，其中所述测试引出线结构还包括：第一通孔，设置在所述第二绝缘层上，用于将所述第一引出线引出至所述第二绝缘层上，以便所述第一引出线与所述信号线连接。
- 根据权利要求16所述的测试装置，其中所述测试引出线结构还包括：第二通孔，设置在所述第二绝缘层上，用于将所述第一引出线引出至所述第二绝缘层上，以便所述第一引出线与所述测试线连接。
- 根据权利要求17所述的测试装置，其中所述第一通孔和所述第二通孔分别设置在所述第一引出线的两端。
- 根据权利要求12所述的测试装置，其中所述第二引出线的一端直接与所述信号线连接，所述第二引出线的另一端直接与所述测试线连接。
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