CN201936581U - 显示屏测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种显示屏测试装置，包括电路板、多个第一及第二测试引脚。第一测试引脚与待测显示屏的显示单元电极相连，第二测试引脚与测试仪相连，第一测试引脚与第二测试引脚相连，且相邻的第一测试引脚的距离大于两个相邻的显示单元电极的距离，从而在对待测显示屏进行测试时不容易造成相邻的显示单元电极短路，减小了测试的难度。
Description
技术领域
本实用新型属于测试领域，尤其涉及一种显示屏测试装置。
背景技术
显示技术日新月异，随着信息量的不断增加，液晶显示屏的显示容量也越来越大。与液晶显示屏的电极走线相连的显示单元电极的数量也相应的增加，显示单元电极的尺寸也越来越小，逐一地对显示单元电极进行测试比较麻烦，且很容易造成相邻的显示单元电极短路，使得测试的难度增加。
实用新型内容
本实用新型目的在于提供一种显示屏测试装置，用于解决现有技术中逐一地对显示单元电极进行测试时比较麻烦，且容易造成相邻的显示单元电极短路，测试难度较大的问题。
为解决上述技术问题，本实用新型的实施例提供一种显示屏测试装置，包括：
电路板；
多个第一测试引脚，各个第一测试引脚平行且等距离地设置于电路板的第一面上，每一测试引脚与待测显示屏的显示单元电极相连，相邻的两个第一测试引脚的距离等于相邻的两个显示单元电极之间的距离的整数倍，且大于相邻的两个显示单元电极之间的距离；及
多个第二测试引脚，各个第二测试引脚平行设置于电路板与其第一面相对的第二面上，第二测试引脚的第一端与第一测试引脚相连，第二测试引脚的第二端与一测试仪相连。
进一步地，所述装置上相邻的两个第一测试引脚之间的距离为相邻的显示单元电极的距离的两倍。
进一步地，所述第一测试引脚按照相邻不同逻辑的连线原则进行连接，分成若干组，每一组分别与所述第二测试引脚相连。
进一步地，所述第一测试引脚通过导电胶条与待测显示屏的显示单元电极相连。
进一步地，所述第二测试引脚的第二端通过信号线与所述测试仪相连。
进一步地，所述第二测试引脚包括扫描电极测试接口及公共电极测试接口。
本实用新型显示屏测试装置通过在电路板上设置多个第一测试引脚及多个第二测试引脚，第一测试引脚与待测显示屏的显示单元电极相连，第二测试引脚与测试仪相连，第一测试引脚与第二测试引脚相连，且相邻的第一测试引脚的距离大于两个相邻的显示单元电极的距离，从而在对待测显示屏进行测试时不容易造成相邻的显示单元电极短路，减小了测试的难度。
附图说明
图1是使用本实用新型实施例提供的显示屏测试装置对显示屏进行测试的示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
在本实用新型显示屏测试装置通过设置多个第一及第二测试引脚，第一测试引脚与待测显示屏的显示单元电极相连，第二测试引脚与测试仪相连，第一测试引脚与第二测试引脚相连，且相邻的第一测试引脚的距离等于三个显示单元电极的距离，从而在对待测显示屏进行测试时不容易造成相邻的显示单元电 极短路，减小了测试的难度。
请参考图1，本实用新型提供一种显示屏测试装置，包括电路板10、多个第一测试引脚20及多个第二测试引脚30。
各个第一测试引脚20平行且等距离地设置于电路板10的第一面上。每一第一测试引脚20通过各向异性的导电胶条(图未示)与待测显示屏200的显示单元电极210相连。相邻的两个第一测试引脚20之间的距离D为待测显示屏200相邻的显示单元电极210的距离d的两倍。
其他实施方式中，每相邻的两个第一测试引脚20之间的距离D可以为相邻的两个显示单元电极210的距离的其他整数倍，如相邻的显示单元电极210的三倍，只要第一测试引脚20的距离大于相邻的两个显示单元电极210之间的距离即可，在此不用以限制本实用新型。
电路板10与其第一面相对的第二面平行地设置若干第二测试引脚30，第二测试引脚30的第一端与第一测试引脚20相连，第二端通过信号线(图未示)与一测试仪(图未示)相连。
使用时，将显示屏测试装置的第一测试引脚20接触待测显示屏200的显示单元电极210，第二测试引脚30与测试仪相连。测试仪通过显示屏测试装置将测试信号传输给待测显示屏200的显示单元电极210。若待测显示屏200中相邻的显示单元存在短路，则给其中的一个显示单元电极210加测试信号时，与短路的两个显示单元220同时被点亮；若待测显示屏200中的显示单元存在断路，则显示单元220不点亮。如此可同时测试待测显示屏200的多个显示单元电极210，同时不会引起相邻的显示单元电极210短路，减小了测试的难度。
进一步地，第一测试引脚20按照相邻不同逻辑的连线原则进行连接，分成若干组，每一组分别与对应的第二测试引脚30相连。本实施方式中，相隔两个第一测试引脚20的第一测试引脚20相互连接。
进一步地，第二测试引脚30包括扫描电极测试接口31及公共电极测试接口32。
本实用新型显示屏测试装置通过在电路板10上设置多个第一测试引脚20及多个第二测试引脚30，第一测试引脚20与待测显示屏200的显示单元电极210相连，第二测试引脚30与测试仪相连，第一测试引脚20与第二测试引脚30相连，且相邻的第一测试引脚20的距离等于三个显示单元电极210的距离，从而在对待测显示屏200进行测试时不容易造成相邻的显示单元电极210短路，减小了测试的难度。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种显示屏测试装置，其特征在于，所述显示屏测试装置包括：
电路板；
多个第一测试引脚，各个第一测试引脚平行且等距离地设置于电路板的第一面上，每一测试引脚与待测显示屏的显示单元电极相连，相邻的两个第一测试引脚的距离等于相邻的两个显示单元电极之间的距离的整数倍，且大于相邻的两个显示单元电极之间的距离；及
多个第二测试引脚，各个第二测试引脚平行设置于电路板与其第一面相对的第二面上，第二测试引脚的第一端与第一测试引脚相连，第二测试引脚的第二端与一测试仪相连。
2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置上相邻的两个第一测试引脚之间的距离为相邻的显示单元电极的距离的两倍。
3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一测试引脚按照相邻不同逻辑的连线原则进行连接，分成若干组，每一组分别与所述第二测试引脚相连。
4.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一测试引脚通过导电胶条与待测显示屏的显示单元电极相连。
5.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第二测试引脚的第二端通过信号线与所述测试仪相连。
6.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第二测试引脚包括扫描电极测试接口及公共电极测试接口。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2010206224338U CN201936581U (zh) | 2010-11-24 | 2010-11-24 | 显示屏测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2010206224338U CN201936581U (zh) | 2010-11-24 | 2010-11-24 | 显示屏测试装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN201936581U true CN201936581U (zh) | 2011-08-17 |
Family
ID=44448097
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN2010206224338U Expired - Lifetime CN201936581U (zh) | 2010-11-24 | 2010-11-24 | 显示屏测试装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017015979A1 (zh) * | 2015-07-24 | 2017-02-02 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 测试引出线结构及测试装置 |
| CN107316597A (zh) * | 2017-08-11 | 2017-11-03 | 深圳同兴达科技股份有限公司 | 一种液晶显示模组开路短路检测系统 |
| CN107329291A (zh) * | 2017-08-11 | 2017-11-07 | 深圳同兴达科技股份有限公司 | 一种液晶显示模组高效检测系统 |
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2010
- 2010-11-24 CN CN2010206224338U patent/CN201936581U/zh not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017015979A1 (zh) * | 2015-07-24 | 2017-02-02 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 测试引出线结构及测试装置 |
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