CN202956462U - 一种面板测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及平板显示技术领域，尤其涉及一种面板测试装置。该面板测试装置包括承载平台及设置于所述承载平台上的多个第一探针，相邻所述第一探针之间具有一第三间距，相邻两第一探针在所述第一探针的分布方向上具有一第四间距，且所述第三间距大于所述第四间距。

Description

一种面板测试装置

技术领域

本实用新型涉及平板显示技术领域，尤其涉及一种面板测试装置。

背景技术

电容式触摸面板由于具有多点触控、透过率高、使用寿命长等优点，日益取代传统电阻式触摸面板，在手机、播放器、电子书、上网本、个人数字助理、平板电脑上使用。

现有的电容式触摸面板包括基板及设置于基板表面的多条第一感应电极串列、多条第二感应电极串列。所述多条第一感应电极串列相互平行并均沿一第一方向如X方向延伸，所述多条第二感应电极串列相互平行并沿一第二方向如Y方向延伸；所述多条第一感应电极串列分别与多条第二感应电极串列相互交叉并形成多个交叉点。所述多条第一感应电极串列连续分布，并在所述交叉点处将所述多条第二感应电极串列隔断为多个第二感应电极单元。所述电容式触摸面板还包括多个绝缘块及多个桥结构。所述多个绝缘块与所述交叉点一一对应，并覆盖所述第一感应电极串列位于所述交叉点处的那一部分。所述多个桥结构与所述多个绝缘块一一对应，且所述桥结构设置于所述绝缘块上，用于连接同一第二感应电极串列上两相邻的第二感应单元。

所述电容式触摸面板还包括与所述多条第一感应电极串列电性连接的多条第一引线、与所述多条第二感应电极串列相连的多条第二引线。所述多条第一引线的一端分别于所述多条第一感应电极串列相连，另一端汇集于所述基板表面的一侧，形成一第一连接端子；所述多条第二引线的一端分别与所述多条第二感应电极串列相连，另一端汇集于基板表面的另一侧，形成一第二连接端子，或者其另一端汇集于所述第一连接端子。由于第一感应电极串列和第二感应电极串列的数量较多，使得分别与其连接的第一引线和第二引线的数量也较多，而电容式触摸面板的尺寸通常为3、3.5、3.7、4寸等，在如此有限的区域内需要设置如此多的第一引线和第二引线，使得汇集于第一连接端子(或第二连接端子)的第一引线和第二引线(或第二引线)之间的间距相当小，通常为0.2mm。在电容式触摸面板制作完所述第一感应电极串列、第二感应电极串列及第一引线和第二引线后，通常需要对该电容式触摸面板进行测试，以确定该电容式触摸面板是否存在断线或短路等缺陷。业界目前采用测试设备通过探针方式将所述第一引线、第二引线与测试设备连接。由于所述探针排列成一排，每一探针均具有一定尺寸，且每一探针必须与一第一引线或第二引线对应，因此，相邻探针之间的间距非常小，造成测试人员难以将所述探针与所述第一连接端子或第二连接端子上的第一引线或第二引线进行对位接触，即测试人员可能需要花费大量时间来对探针与第一引线或第二引线进行对位接触，加大了测试人员的劳动强度且不利于太高生产效率，同时也容易因所述探针与第一引线或第二引线对位不准确，使所述测试设备作出错误判断，将良品判定为残次品。

实用新型内容

有鉴于此，有必要提供一种可有效提高生产效率、降低劳动强度及有助于降低误判几率的面板测试装置。

一种面板测试装置包括承载平台及设置于所述承载平台上的多个第一探针，相邻所述第一探针之间具有一第三间距，相邻两第一探针在所述第一探针的分布方向上具有一第四间距，且所述第三间距大于所述第四间距。

本实用新型提供的所述面板测试装置中，所述承载平台具有一第二表面，所述第二表面为光滑且平整的矩形，所述承载平台上还设有多个第一收容空间，该多个第一收容空间分别用于收容和固定所述多个第一探针。

本实用新型提供的所述面板测试装置中，所述面板测试装置用于测试一面板结构，该面板结构包括具有一表面光滑且平整的第一表面的基板、设置于所述基板上的多条第一功能线及多条第一引线，所述第一表面具有功能区域和周边区域，所述第一功能线设置于所述功能区域内，且多条第一功能线之间平行等间隔分布；所述第一引线设置于所述周边区域上，所述周边区域围绕所述功能区域。

本实用新型提供的所述面板测试装置中，所述周边区域至少包括一第一周边子区域，该第一周边子区域位于所述功能区域的一侧，且其靠近所述功能区域的一侧具有一第一边缘，所述第一引线包括与所述第一功能线连接的第一部分和汇集于所述第一周边子区域上的第二部分，所述第二部分沿一第一方向平行等间隔分布，相邻两第二部分之间具有第一间距，所述第二部分在第一方向上具有一第一跨度。

本实用新型提供的所述面板测试装置中，所述第一表面与所述第二表面相对，所述第一边缘与第二边缘平行，所述面板测试装置还包括一调节模块，所述调节模块用于调整所述承载平台，以改变所述第一表面和第二表面之间的第一间距，使所述第一探针与所述第一引线的第二部分接触。

本实用新型提供的所述面板测试装置中，所述第一收容空间沿所述第二边缘延伸方向分布，且相邻来那个第一收容空间与所述第二边缘的间距不相同，相间的两第一收容空间与所述第二边缘之间的间距可以相同，也可以不相同。

本实用新型提供的所述面板测试装置中，所述第一探针整体呈棒状，其一端收容于所述第一收容空间并通过一外部电极线与一中央处理装置相连，另一端为面向所述第一表面的自由端。

本实用新型提供的所述面板测试装置中，所述第一探针在所述第二边缘延伸方向上具有第二跨度，相间两所述第一探针之间具有第五间距，所述第三间距大于所述第四间距和第二跨度之和，所述第五间距大于所述第四间距。

本实用新型提供的所述面板测试装置中，所述第一跨度等于第二跨度，第一间距等于第四间距。

本实用新型提供的所述面板测试装置中，所述第一探针通过一弹性元件收容于所述第一收容空间，且所述第一探针在接触所述面板结构的所述第一引线的第二部分时，可向所述第一收容空间方向收缩，并在所述第一探针与第二部分结束接触时，所述第一探针向其自由端扩展。

本实用新型提供的所述面板测试装置的第一探针分别与所述面板结构的第一引线的第二部分接触，并所述第一探针分别通过一外部电极线与所述中央处理装置相连，以向所述面板结构施加或收集所述面板结构的电信号，进而测试所述面板结构是否存在短路或断路等缺陷。本实用新型提供的面板测试装置通过将所述第一探针进行错位设置，进而可以有效增大所述第一探针在第二边缘延伸方向上的第二跨度，使第二跨度大于所述第一跨度，可有效克服相邻两第一探针之间的间距过小、需要长时间对位的缺陷，可大大提高测试的准确性及极大地降低测试人员的劳动强度。同时，由于相邻两所述第一探针之间的第三间距N大于所述第四间距d，可以有效减少更换所述第一探针的时间，提高生产效率。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明，附图中：

图1为一较佳实施方式的面板测试装置测试使用的面板结构的示意图。

图2为一较佳实施方式的面板测试装置的仰视示意图。

图3为图2所示的面板测试装置测试图1所示的面板结构的示意图。

图4为另一较佳实施方式的面板测试装置的仰视示意图。

具体实施方式

为了说明本实用新型提供的面板测试装置，以下结合说明书附图对本实用新型进行详细阐述。

请参阅图1，其为本实用新型提供的一较佳实施方式的面板测试装置测试的面板结构的示意图。所述面板测试装置用于测试一面板结构200，该面板结构200至少包括基板210、设置于基板210上的多条第一功能线211、多条第一引线212。所述基板210具有光滑且平整的第一表面213，且第一表面213具有功能区域213a和周边区域213b，所述功能区域213a与所述周边区域213b相邻，所述周边区域213b围绕所述功能区域213a。在本实施方式中，所述功能区域213a呈矩形，所述周边区域213b呈矩形环状。所述周边区域213b至少包括一第一周边子区域213bb，所述第一周边子区域213bb位于该功能区域213a的一侧，且其具有一第一边缘215，该第一边缘215位于所述第一周边子区域213bb上靠近所述功能区域213a的一侧。所述多条第一功能线211设置于所述第一表面213的功能区域213a上，且多条第一功能线211之间平行等间隔分布。所述多条第一引线212设置于所述周边区域213b上，每一所述第一引线212包括与所述第一功能线211连接的第一部分212a、汇集于所述第一周边子区域213bb上的第二部分212b。所述多条第一引线212的第二部分212b沿一第一方向平行等间隔分布，相邻两第二部分212b之间具有第一间距，且在本实施方式中，第一间距为0.2mm，且所述第二部分212b在垂直于其延伸方向上具有第一跨度，该第一跨度为0.2mm。比较优选地是：所述第一边缘215沿所述第一方向延伸，每一所述第二部分212b与所述第一边缘215相互垂直。

请参阅图2，其为本实用新型提供的一较佳实施方式的面板测试装置的仰视示意图。所述面板测试装置100具有承载平台110、调节模块(图中未示出)、设置于所述承载平台110上的多个第一探针120。所述承载平台110具有第二表面111，所述第二表面111与所述第一表面213相对，在本实施方式中，所述第二表面111为光滑且平整的矩形，其具有一与所述第一边缘215相对应且平行的第二边缘113，且所述第二边缘113沿所述第一探针120的分布方向延伸。所述调节模块用于调节所述承载平台，并改变所述第一表面213与所述第二表面111之间的第二间距。

所述承载平台110上还设有多个用于收容和固定所述多个第一探针120的第一收容空间(图中未示出)。所述第一收容空间沿所述第二边缘113延伸方向分布，且相邻两第一收容空间与所述第二边缘113的距离不相同，相间的两第一收容空间与所述第二边缘的距离可以相同，也可以不相同。所述第一探针120整体呈棒状，其一端收容于所述第一收容空间并通过一外部电极线与一中央处理装置相连，另一端为面向所述第一表面213的自由端120a。所述第一探针120在所述第二边缘113的延伸方向上具有第二跨度w，在本实施方式中，所述第一探针120是一底面半径为0.2mm的圆柱体，即所述第二跨度w为0.2mm。所述第一探针120通过一弹性元件(图中未示出)收容于所述第一收容空间，且所述第一探针120在接触所述面板结构200的所述第一引线212时，可以往所述第一收容空间方向收缩，并在所述第一探针120与所述第一引线212结束接触时，所述第一探针120向其自由端120a扩展。

相邻两第一探针120之间具有第三间距N，相邻两第一探针120在所述第二边缘113延伸方向上具有第四间距d，相间两第一探针120之间具有第五间距D。所述第三间距N大于所述第四间距d，所述第三间距N大于第一间距，第五间距D大于第四间距d，比较优选地是，所述第一间距等于所述第四间距d，第一跨度等于第二跨度，且所述第三间距N大于所述第四间距d和第二跨度之和。

请参阅图3，其为图2所示的面板测试装置100测试图1所示的面板结构200的示意图。所述面板测试装置100的第一探针120分别与所述面板结构200的第一引线212的第二部分212b接触，并所述第一探针120分别通过一外部电极线与所述中央处理装置相连，以向所述面板结构施加或收集所述面板结构200的电信号，进而测试所述面板结构200是否存在短路或断路等缺陷。本实用新型提供的面板测试装置100通过将所述第一探针120进行错位设置，进而可以有效增大所述第一探针120在第二边缘113延伸方向上的第二跨度，使第二跨度大于所述第一跨度，可有效克服相邻两第一探针120之间的间距过小、需要长时间对位的缺陷，可大大提高测试的准确性及极大地降低测试人员的劳动强度。同时，由于相邻两所述第一探针120之间的第三间距N大于所述第四间距d，可以有效减少更换所述第一探针120的时间，提高生产效率。

如图4所示，其为本实用新型提供的另一较佳实施方式的面板测试装置的仰视示意图。所述面板测试装置300具有承载平台310、调节模块(图中未示出)、多个第一探针320。所述承载平台310具有第二表面311，所述第二表面311与所述第一表面213相对，在本实施方式中，所述第二表面311为光滑且平整的矩形，其具有一与所述第一边缘215相对应且平行的第二边缘313。所述调节模块用于调节所述承载平台310，并改变所述第一表面213与所述第二表面311之间的第二间距。

所述承载平台310上还设有多个用于收容和固定所述多个第一探针320的第一收容空间(图中未示出)。所述第一收容空间沿所述第二边缘313延伸方向分布，且相邻两第一收容空间与所述第二边缘313的距离不相同，相间的两第一收容空间与所述第二边缘的距离可以相同，也可以不相同。所述第一探针320整体呈棒状，其一端收容于所述第一收容空间并通过一外部电极线与一中央处理装置相连，另一端为面向所述第一表面213的自由端320a。所述第一探针320在所述第二边缘313的延伸方向上具有第二跨度w，在本实施方式中，所述第一探针320是一底面半径为0.2mm的圆柱体，即所述第二跨度w为0.2mm。所述第一探针320通过一弹性元件(图中未示出)收容于所述第一收容空间，且所述第一探针120在接触所述面板结构200的所述第一引线212时，可以往所述第一收容空间方向收缩，并在所述第一探针320与所述第一引线212结束接触时，所述第一探针320向其自由端320a扩展。

相邻两第一探针320之间具有第三间距N，相邻两第一探针320在所述第二边缘313延伸方向上具有第四间距d，相间两第一探针320之间具有第五间距D。所述第三间距N大于所述第四间距d，所述第三间距N大于第一间距，所述第五间距D大于第四间距d，比较优选地是，所述第一间距等于所述第四间距d，第一跨度等于第二跨度，且所述第三间距N大于所述第四间距d和第二跨度之和。

以上为本实用新型提供的面板测试装置的较佳实施方式，并不能理解为对本实用新型权利保护范围的限制，本领域的技术人员应该知晓，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可做多种改进或替换，所有的该等改进或替换都应该在本实用新型的权利保护范围内，即本实用新型的权利保护范围应以权利要求为准。

Claims (10)

1.一种面板测试装置，其特征在于，该面板测试装置包括承载平台及设置于所述承载平台上的多个第一探针，相邻所述第一探针之间具有一第三间距，相邻两第一探针在所述第一探针的分布方向上具有一第四间距，且所述第三间距大于所述第四间距。

2.如权利要求1所述的面板测试装置，其特征在于：所述承载平台具有一第二表面，所述第二表面为光滑且平整的矩形，所述承载平台上还设有多个第一收容空间，该多个第一收容空间分别用于收容和固定所述多个第一探针。

3.如权利要求2所述的面板测试装置，其特征在于：所述面板测试装置用于测试一面板结构，该面板结构包括具有一表面光滑且平整的第一表面的基板、设置于所述基板上的多条第一功能线及多条第一引线，所述第一表面具有功能区域和周边区域，所述第一功能线设置于所述功能区域内，且多条第一功能线之间平行等间隔分布；所述第一引线设置于所述周边区域上，所述周边区域围绕所述功能区域。

4.如权利要求3所述的面板测试装置，其特征在于：所述周边区域至少包括一第一周边子区域，该第一周边子区域位于所述功能区域的一侧，且其靠近所述功能区域的一侧具有一第一边缘，所述第一引线包括与所述第一功能线连接的第一部分和汇集于所述第一周边子区域上的第二部分，所述第二部分沿一第一方向平行等间隔分布，相邻两第二部分之间具有第一间距，所述第二部分在第一方向上具有一第一跨度。

5.如权利要求4所述的面板测试装置，其特征在于：所述第一表面与所述第二表面相对，所述第一边缘与第二边缘平行，所述面板测试装置还包括一调节模块，所述调节模块用于调整所述承载平台，以改变所述第一表面和第二表面之间的第一间距，使所述第一探针与所述第一引线的第二部分接触。

6.如权利要求5所述的面板测试装置，其特征在于：所述第一收容空间沿所述第二边缘延伸方向分布，且相邻来那个第一收容空间与所述第二边缘的间距不相同，相间的两第一收容空间与所述第二边缘之间的间距可以相同，也可以不相同。

7.如权利要求6所述的面板测试装置，其特征在于：所述第一探针整体呈棒状，其一端收容于所述第一收容空间并通过一外部电极线与一中央处理装置相连，另一端为面向所述第一表面的自由端。

8.如权利要求6所述的面板测试装置，其特征在于：所述第一探针在所述第二边缘延伸方向上具有第二跨度，相间两所述第一探针之间具有第五间距，所述第三间距大于所述第四间距和第二跨度之和，所述第五间距大于所述第四间距。

9.如权利要求7所述的面板测试装置，其特征在于：所述第一跨度等于第二跨度，第一间距等于第四间距。

10.如权利要求7所述的面板测试装置，其特征在于：所述第一探针通过一弹性元件收容于所述第一收容空间，且所述第一探针在接触所述面板结构的所述第一引线的第二部分时，可向所述第一收容空间方向收缩，并在所述第一探针与第二部分结束接触时，所述第一探针向其自由端扩展。

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