WO2017010347A1

WO2017010347A1 - 液晶組成物及びそれを使用した液晶表示素子

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Publication number: WO2017010347A1
Application number: PCT/JP2016/069871
Authority: WO
Inventors: 丸山　和則; 晴己大石
Original assignee: Dic株式会社
Priority date: 2015-07-14
Filing date: 2016-07-05
Publication date: 2017-01-19
Also published as: TW201718828A; JPWO2017010347A1; CN107710063B; JP6338018B2; CN107710063A

Abstract

対向に配置された第一の基板および第二の基板と、第一の基板および第二の基板の間に挟持された液晶組成物を含有する液晶層と、第一の基板上に設けられる第一の電極と、第一の基板上に設けられ、第一の電極との間に電界を生じさせる第二の電極と、を有し、液晶組成物が、一般式（ａ）で表される化合物と、一般式（ｉ）で表される化合物を含有し、分子内に（ＡＡ）で表される基を１個又は２個以上有する化合物の液晶組成物中総量のうち、一般式（ｉ）で表される化合物の含有量の総量が、０．１～４０質量％である液晶表示素子を提供する。

Description

液晶組成物及びそれを使用した液晶表示素子

　本願発明は、誘電率異方性が負のネマチック液晶組成物を用いる液晶表示素子に関する。

　液晶表示素子は、時計、電卓をはじめとして、家庭用各種電気機器、測定機器、自動車用パネル、ワープロ、電子手帳、プリンター、コンピューター、テレビ等に用いられている。液晶表示方式としては、その代表的なものにＴＮ（捩れネマチック）型、ＳＴＮ（超捩れネマチック）型、ＤＳ（動的光散乱）型、ＧＨ（ゲスト・ホスト）型、ＩＰＳ（インプレーンスイッチング）型、ＦＦＳ型（フリンジフィールドスイッチング）型、ＯＣＢ（光学補償複屈折）型、ＥＣＢ（電圧制御複屈折）型、ＶＡ（垂直配向）型、ＣＳＨ（カラースーパーホメオトロピック）型、あるいはＦＬＣ（強誘電性液晶）等を挙げることができる。

　これらの中で、スマートフォン用、タブレット用の液晶ディスプレイとしては、高品位で視覚特性に優れるＩＰＳ型や、その一種であるＦＦＳ型の液晶表示素子が広く用いられている。特にΔεが負の値を示す液晶材料を用いたＦＦＳ型の表示装置は高い透過率が得られるため、近年積極的な開発が進められている。Δεが負でその絶対値の大きな液晶材料としては、例えば以下の化合物（Ａ）、化合物（Ｂ）及び化合物（Ｃ）等を用いた液晶組成物が知られている（特許文献１参照）。

　このＩＰＳ型やＦＦＳ型は、基板面に対して水平方向に発生する電界を利用する横電界型であるが、透明電極のエッジ部分で強電場が発生し易く、それに伴い液晶のフレクソ分極が起こり易くなり、その結果表示のちらつき（フリッカー）や、透過率の低下を発生させる要因となっている。

　また近年、さらなる省電力化の要求のため、従来のアクティブ駆動よりもリフレッシュ周波数を低減することができる酸化物半導体を用いた液晶駆動素子の開発が盛んに行われている。リフレッシュ周波数を低減する駆動方法は、従来の60Ｈｚの駆動方法よりも表示のちらつき（フリッカー）や、透過率の低下を著しく発生させてしまう。

　そのため、テレビ等の用途に使用される液晶組成物に通常求められる高速応答や高信頼性に加えて、ちらつきの発生や透過率の低下を低減する液晶組成物が求められている。

国際公開第２０１０／０８４８２３号

　本発明が解決しようとする課題は、屈折率異方性（Δｎ）及びネマチック相－等方性液体相転移温度（Ｔｎｉ）を低下させることなく、絶対値が大きな負の誘電率異方性（Δε）を有する液晶組成物を用いて、高い透過率を有し、且つちらつきの発生が低減される、表示品位の優れた液晶表示素子を提供することにある。

　本願発明者らは、上記課題を解決するために鋭意検討し、横電界モードの液晶表示素子に最適な種々の液晶組成物の構成を検討した結果、特定の液晶化合物を含有する液晶組成物の有用性を見出し本願発明の完成に至った。

　本願発明は、対向に配置された第一の基板および第二の基板と、第一の基板および第二の基板の間に挟持された液晶組成物を含有する液晶層と、第一の基板上に設けられる第一の電極と、第一の基板上に設けられ、第一の電極との間に電界を生じさせる第二の電極と、を有し、液晶組成物が、　一般式（ａ）

（式中、Ｒ^ａ１及びＲ^ａ２はそれぞれ独立して炭素原子数１～１０のアルキル基又は炭素原子数２～１０のアルケニル基を表し、該基中に存在する１個の－ＣＨ_２－又は隣接していない２個以上の－ＣＨ_２－はそれぞれ独立して－Ｏ－又は－Ｓ－に置換されてもよく、また、該基中に存在する１個又は２個以上の水素原子はそれぞれ独立してフッ素原子又は塩素原子に置換されてもよく、
Ｍ^ａ１及びＭ^ａ２はそれぞれ独立して
（ａ）　１，４－シクロヘキシレン基（この基中に存在する１個の－ＣＨ_２－又は隣接していない２個以上の－ＣＨ_２－は－Ｏ－に置き換えられてもよい。）、
（ｂ）　１，４－フェニレン基（この基中に存在する１個の－ＣＨ＝又は隣接していない２個以上の－ＣＨ＝は－Ｎ＝に置き換えられてもよい。）及び
（ｃ）　ナフタレン－２，６－ジイル基（この基中に存在する１個の－ＣＨ＝又は隣接していない２個以上の－ＣＨ＝は－Ｎ＝に置き換えられてもよい。）
からなる群より選ばれる基を表し、上記の基（ａ）、基（ｂ）及び基（ｃ）はそれぞれ独立してシアノ基、フッ素原子又は塩素原子で置換されていてもよく、
Ｚ^ａ１及びＺ^ａ２はそれぞれ独立して単結合、－ＣＨ＝ＣＨ－、－Ｃ≡Ｃ－、－ＣＨ_２ＣＨ_２－、－（ＣＨ_２）_４－、－ＣＯＯ－、－ＯＣＯ－、－ＯＣＨ_２－、－ＣＨ_２Ｏ－、－ＯＣＦ_２－又は－ＣＦ_２Ｏ－を表すが、１個又は２個以上のＺ^ａ１は－ＣＨ_２ＣＨ_２－を表し、
ｍ^ａ１は１、２又は３を表し、ｍ^ａ２は０、１又は２を表し、ｍ^ａ１＋ｍ^ａ２は１、２又は３であり、Ｍ^ａ１及びＺ^ａ１が複数存在する場合は、それらは同一であっても異なっていてもよく、Ｍ^ａ２及びＺ^ａ２が複数存在する場合は、それらは同一であっても異なっていてもよい。）
で表される化合物を１種又は２種以上と、
一般式（ｉ）

（式中、Ｒ^ｉ１及びＲ^ｉ２はそれぞれ独立して炭素原子数１～１０のアルキル基又は炭素原子数２～１０のアルケニル基を表し、該基中の１つ又は２つ以上の－ＣＨ_２－又は隣接していない２個以上の－ＣＨ_２－はそれぞれ独立して－Ｏ－又は－Ｓ－に置換されてもよく、また、該基中に存在する１個又は２個以上の水素原子はそれぞれ独立してフッ素原子又は塩素原子に置換されてもよく、
Ａ^ｉ１はそれぞれ独立して
（ａ）　１，４－シクロヘキシレン基（この基中に存在する１個の－ＣＨ_２－又は隣接していない２個以上の－ＣＨ_２－は－Ｏ－に置き換えられてもよい。）
（ｂ）　１，４－フェニレン基（この基中に存在する１個の－ＣＨ＝又は隣接していない２個以上の－ＣＨ＝は－Ｎ＝に置き換えられてもよい。）及び
（ｃ）　ナフタレン－２，６－ジイル基（この基中に存在する１個の－ＣＨ＝又は隣接していない２個以上の－ＣＨ＝は－Ｎ＝に置き換えられてもよい。ただし、一般式（ｉ）において一般式（ａ）で表される化合物は除く。）
からなる群より選ばれる基を表し、上記の基（ａ）、基（ｂ）及び基（ｃ）はそれぞれ独立してシアノ基、フッ素原子又は塩素原子で置換されていてもよく、
Ｚ^ｉ１は－ＯＣＨ_２－、－ＣＨ_２Ｏ－、－ＯＣＦ_２－又は－ＣＦ_２Ｏ－を表し、
Ｚ^ｉ２は単結合、－ＯＣＨ_２－、－ＣＨ_２Ｏ－、－ＯＣＦ_２－又は－ＣＦ_２Ｏ－を表すが、Ｒ^ｉｉ１と直接結合するＺ^ｉｉ２は単結合を表し、
ｍ^ｉ１は１～３の整数を表し、Ａ^ｉ１及びＺ^ｉ１が複数存在する場合は、それらは同一であっても異なっていてもよい。）
で表される化合物を１種又は２種以上含有し、
分子内に

で表される基を１個又は２個以上有する化合物の液晶組成物中の総量のうち、一般式（ｉ）で表される化合物の含有量の総量が、０．１～４０質量％である液晶表示素子を提供する。

　本発明の液晶表示素子は、高い透過率を有し、ちらつきの発生が低減され且つ焼き付きの発生が少なく、優れた表示特性を有する。

本発明の液晶表示素子の構成の一例を模式的に示す図図１における基板２上に形成された電極層３のＩＩ線で囲まれた領域を拡大した平面図図２におけるＩＩＩ－ＩＩＩ線方向に図１に示す液晶表示素子を切断した断面図配向膜４により誘起された液晶の配向方向を模式的に示す図図１における基板２上に形成された電極層３のＩＩ線で囲まれた領域の他の例を拡大した平面図図２におけるＩＩＩ－ＩＩＩ線方向に図１に示す液晶表示素子を切断した他の例の断面図液晶表示素子の電極構成を拡大した平面図

　本発明の液晶組成物は、一般式（ａ）で表される化合物を１種又は２種以上含有する。

　一般式（ａ）で表される化合物は、Δεが負でその絶対値が３よりも大きな化合物であることが好ましい。

　一般式（ａ）において、Ｒ^ａ１は炭素原子数１～８のアルキル基、炭素原子数１～８のアルコキシ基、炭素原子数２～８のアルケニル基又は炭素原子数２～８のアルケニルオキシ基が好ましく、炭素原子数１～５のアルキル基、炭素原子数１～５のアルコキシ基、炭素原子数２～５のアルケニル基又は炭素原子数２～５のアルケニルオキシ基が好ましく、炭素原子数１～５のアルキル基又は炭素原子数２～５のアルケニル基が更に好ましく、炭素原子数１～３のアルキル基又は炭素原子数２～４のアルケニル基が更に好ましく、直鎖状であることが好ましい。Ｒ^ａ２は炭素原子数１～８のアルキル基、炭素原子数１～８のアルコキシ基、炭素原子数２～８のアルケニル基又は炭素原子数２～８のアルケニルオキシ基が好ましく、炭素原子数１～５のアルキル基、炭素原子数１～５のアルコキシ基、炭素原子数２～５のアルケニル基又は炭素原子数２～５のアルケニルオキシ基が好ましく、炭素原子数１～４のアルコキシ基が更に好ましく、エトキシ基、プロポキシ基又はブトキシ基が更に好ましく、直鎖状であることが好ましい。

　アルケニル基としては、式（Ｒ１）から式（Ｒ９）のいずれかで表される基から選ばれることが好ましく、式（Ｒ８）又は式（Ｒ９）であることが特に好ましい。（各式中の黒点はＲ^ａ１又はＲ^ａ２が結合する環構造中の炭素原子を表す。）

　アルケニルオキシ基としては、式（ＯＲ１）から式（ＯＲ９）のいずれかで表される基から選ばれることが好ましい（各式中の黒点はＲ^ａ１またはＲ^ａ２が結合する環構造中の炭素原子を表す。）。

　Ｚ^ａ１又はＺ^ａ２において、１個又は２個以上のＺ^ａ１又はＺ^ａ２は－ＣＨ_２ＣＨ_２－を表す。ｍ^ａ１が２又は３を表す場合、複数存在するＺ^ａ１は単結合又は－ＣＨ_２ＣＨ_２－を表すことが好ましく、１個のＺ^ａ１が－ＣＨ_２ＣＨ_２－を表し、残る１個又は２個のＺ^ａ１が単結合を表すことが好ましい。ｍ^ａ２が２を表す場合、複数存在するＺ^ａ２は単結合又は－ＣＨ_２ＣＨ_２－を表すことが好ましく、１個のＺ^ａ２が－ＣＨ_２ＣＨ_２－を表し、残る１個のＺ^ａ２が単結合を表すことが好ましい。１個又は２個以上のＺ^ａ１が－ＣＨ_２ＣＨ_２－を表すことがより好ましい。

　Ｍ^ａ１又はＭ^ａ２は以下の基を表すことが好ましい。

　中でも、Ｍ^ａ１又はＭ^ａ２の１個又は２個以上は１，４－シクロヘキシレン基、無置換の１，４－フェニレン基又は無置換のナフタレン－２，６－ジイル基を表すことが好ましく、Ｍ^ａ１又はＭ^ａ２が複数存在する場合は全てのＭ^ａ１又はＭ^ａ２が、１，４－シクロヘキシレン基、無置換の１，４－フェニレン基又は無置換のナフタレン－２，６－ジイル基を表すことがより好ましい。また、Ｍ^ａ１又はＭ^ａ２の１個又は２個以上が１，４－シクロヘキシレン基又は１，４－フェニレン基を表すことがより好ましく、１，４－シクロヘキシレン基を表すことがより好ましく、Ｍ^ａ１又はＭ^ａ２が複数存在する場合は全てのＭ^ａ１又はＭ^ａ２が１，４－シクロヘキシレン基又は１，４－フェニレン基を表すことがより好ましく、存在する全てのＭ^ａ１又はＭ^ａ２が１，４－シクロヘキシレン基を表すことが特に好ましい。

　ｍ^ａ１は１又は２を表すことが好ましい。ｍ^ａ２は０又は１を表すことが好ましく、０を表すことがより好ましい。

　一般式（ａ）で表される化合物は、以下の一般式（ａ０）又は一般式（ａ１）で表される化合物であることが好ましい。

（式中、Ｘ^ａ１及びＸ^ａ２はそれぞれ独立して水素原子又はフッ素原子を表すが、Ｘ^ａ１及びＸ^ａ２の少なくともいずれか一方は水素原子を表し、Ｒ^ａ１、Ｒ^ａ２、Ｚ^ａ１及びｍ^ａ１はそれぞれ独立して一般式（ａ）におけるＲ^ａ１、Ｒ^ａ２、Ｚ^ａ１及びｍ^ａ１と同じ意味を表す。）
　Ｘ^ａ１及びＸ^ａ２は水素原子であることがより好ましい。

　また、一般式（ａ０）で表される化合物として一般式（ａ０１）で表される化合物であり、一般式（ａ１）で表される化合物として、一般式（ａ１１）で表される化合物であることが好ましい。

（式中、Ｒ^ａ３は炭素原子数１から８のアルキル基を表し、Ｘ^ａ１及びＸ^ａ２はそれぞれ独立して水素原子又はフッ素原子を表すが、Ｘ^ａ１及びＸ^ａ２の少なくともいずれか一方は水素原子を表し、Ｒ^ａ１、Ｚ^ａ１及びｍ^ａ１はそれぞれ独立して一般式（ａ）におけるＲ^ａ１、Ｚ^ａ１及びｍ^ａ１と同じ意味を表す。）
　また、一般式（ａ）で表される化合物は、以下の一般式（ａ２）で表される化合物であることが好ましい。

（式中、Ｍ^ａ２１及びＭ^ａ２２はそれぞれ独立して１，４－シクロヘキシレン基、１，４－フェニレン基、又はナフタレン－２，６－ジイル基を表すが、該基中に存在する１個の水素原子はそれぞれ独立してフッ素原子又は塩素原子に置換されても良く、Ｚ^ａ２は単結合、－ＣＨ＝ＣＨ－、－Ｃ≡Ｃ－、－ＣＨ_２ＣＨ_２－、－（ＣＨ_２）_４－、－ＣＯＯ－、－ＯＣＯ－、－ＯＣＨ_２－、－ＣＨ_２Ｏ－、－ＯＣＦ_２－又は－ＣＦ_２Ｏ－を表し、ｍ^ｉ１は０又は１を表し、Ｒ^ａ１及びＲ^ａ２はそれぞれ独立して一般式（ａ）におけるＲ^ａ１及びＲ^ａ２と同じ意味を表す。）
　一般式（ａ）で表される化合物としてより具体的には、以下の一般式（ａ－１）～（ａ－１４）で表される化合物を１種又は２種以上含有することが好ましい。

（式中、Ｒ^ａ１及びＲ^ａ２はそれぞれ独立して一般式（ａ）におけるＲ^ａ１及びＲ^ａ２と同じ意味を表す。）
　本発明の液晶組成物は、一般式（ａ）で表される化合物を１種又は２種以上含有するが、２種から１０種含有することが好ましい。

　一般式（ａ）で表される化合物の含有量の総量は、組成物中に下限値として、０．１質量％（以下組成物中の％は質量％を表す。）以上含有することが好ましく、０．５％以上含有することが好ましく、１％以上含有することが好ましく、３％以上含有することが好ましく、４％以上含有することが好ましく、５％以上含有することが好ましく、７％以上含有することが好ましく、１０％以上含有することが好ましく、１３％以上含有することが好ましく、１５％以上含有することが好ましく、１８％以上含有することが好ましく、２０％以上含有することが好ましく、２３％以上含有することが好ましく、２５％以上含有することが好ましく、２８％以上含有することが好ましく、３０％以上含有することが好ましく、３３％以上含有することが好ましく、３５％以上含有することが好ましく、３８％以上含有することが好ましく、４０％以上含有することが好ましい。また、上限値として、９０％以下含有することが好ましく、８０％以下含有することが好ましく、７５％以下含有することが好ましく、７０％以下含有することが好ましく、６８％以下含有することが好ましく、６５％以下含有することが好ましく、６３％以下含有することが好ましく、６０％以下含有することが好ましく、５５％以下含有することが好ましく、５０％以下含有することが好ましく、４０％以下含有することが好ましく、３８％以下含有することが好ましく、３５％以下含有することが好ましく、３３％以下含有することが好ましく、３０％以下含有することが好ましく、２８％以下含有することが好ましく、２５％以下含有することが好ましく、２３％以下含有することが好ましく、２０％以下含有することが好ましく、１８％以下含有することが好ましく、１５％以下含有することが好ましく、１０％以下含有することが好ましい。

　一般式（ａ）で表される化合物として、一般式（ａ－１）、一般式（ａ－３）、一般式（ａ－１１）及び一般式（ａ－１２）から選ばれる化合物を１種又は２種以上含有することが好ましい。これらの化合物の好ましい含有量の下限値は、０．１質量％（以下組成物中の％は質量％を表す。）以上含有することが好ましく、０．５％であり、１％であり、３％であり、４％であり、５％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１７％であり、２０％である。また、これらの化合物の好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、３５％であり、３０％であり、２８％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％である。

　本発明の液晶組成物は、一般式（ｉ）で表される化合物を含有する。

　一般式（ｉ）中、Ｒ^ｉ１は、炭素原子数１から５のアルキル基、炭素原子数１から５のアルコキシル基、炭素原子数２から５のアルケニル基又は炭素原子数２から５のアルケニルオキシ基が好ましく、炭素原子数１から５のアルキル基又は炭素原子数２から５のアルケニル基が更に好ましく、炭素原子数２から５のアルキル基又は炭素原子数２から３のアルケニル基が更に好ましく、炭素原子数３のアルケニル基（プロペニル基）が特に好ましい。Ｒ^ｉ２は、炭素原子数１から５のアルキル基、炭素原子数１から５のアルコキシル基、炭素原子数２から５のアルケニル基又は炭素原子数２から５のアルケニルオキシ基が好ましく、炭素原子数１から４のアルコキシル基が更に好ましい。

　Ｒ^ｉ１及びＲ^ｉ２がアルケニル基の場合、式（Ｒ１）から式（Ｒ９）のいずれかで表される基から選ばれることが好ましい。（各式中の黒点は環との連結点を表す。）

一般式（ｉ）中、Ａ^ｉ１はトランス－１，４－シクロへキシレン基、１，４－フェニレン基、２－フルオロ－１，４－フェニレン基、３－フルオロ－１，４－フェニレン基、３，５－ジフルオロ－１，４－フェニレン基、２，３－ジフルオロ－１，４－フェニレン基、１，４－シクロヘキセニレン基、１，４－ビシクロ［２．２．２］オクチレン基、ピペリジン－１，４－ジイル基、ナフタレン－２，６－ジイル基、デカヒドロナフタレン－２，６－ジイル基又は１，２，３，４－テトラヒドロナフタレン－２，６－ジイル基を表すが、トランス－１，４－シクロへキシレン基又は１，４－フェニレン基が好ましい。
Ｚ^ｉ１は、－ＯＣＨ_２－、－ＣＨ_２Ｏ－、－ＯＣＦ_２－又は－ＣＦ_２Ｏ－を表すが、－ＣＨ_２Ｏ－又は－ＣＦ_２Ｏ－が好ましく、－ＣＨ_２Ｏ－が更に好ましい。
Ｚ^ｉ２は、単結合、－ＯＣＨ_２－、－ＣＨ_２Ｏ－、－ＯＣＦ_２－又は－ＣＦ_２Ｏ－を表すが、－ＣＨ_２Ｏ－、－ＣＦ_２Ｏ－又は単結合が好ましく、－ＣＨ_２Ｏ－又は単結合が更に好ましい。但し、Ｒ^ｉ１と直接結合するＺ^ｉ２は、単結合を表す。
ｍ^ｉ１は１、２又は３を表すが、１又は２を表すことが好ましい。

　一般式（ｉ）で表される化合物は、一般式（ｉ－１Ａ）又は一般式（ｉ－１Ｂ）で表される化合物であることが好ましい。

（式中、Ｒ^ｉ１、Ｒ^ｉ２、Ａ^ｉ１及びＺ^ｉ１は、それぞれ独立的に一般式（ｉｉ）におけるＲ^ｉ１、Ｒ^ｉ２、Ａ^ｉ１及びＺ^ｉ１と同じ意味を表す。）

（式中、Ｂ^ｉ１はトランス－１，４－シクロへキシレン基、１，４－フェニレン基、２－フルオロ－１，４－フェニレン基、３－フルオロ－１，４－フェニレン基、３，５－ジフルオロ－１，４－フェニレン基、２，３－ジフルオロ－１，４－フェニレン基、１，４－シクロヘキセニレン基、１，４－ビシクロ［２．２．２］オクチレン基、ピペリジン－１，４－ジイル基、ナフタレン－２，６－ジイル基、デカヒドロナフタレン－２，６－ジイル基又は１，２，３，４－テトラヒドロナフタレン－２，６－ジイル基を表す。Ｒ^ｉ１、Ｒ^ｉ２、Ａ^ｉ１及びＺ^ｉ１は、それぞれ独立的に一般式（ｉｉ）におけるＲ^ｉ１、Ｒ^ｉ２、Ａ^ｉ１及びＺ^ｉ１と同じ意味を表す。）
　一般式（ｉ－１Ａ）で表される化合物としては、下記一般式（ｉ－１Ａ－１）及び一般式（ｉ－１Ａ－２）で表される化合物が好ましく、一般式（ｉ－１Ａ－１）で表される化合物が更に好ましい。また、一般式（ｉ－１Ｂ）で表される化合物としては、下記一般式（ｉ－１Ｂ－１）～一般式（ｉ－１Ｂ－３）で表される化合物であることが好ましく、一般式（ｉ－１Ｂ－１）及び一般式（ｉ－１Ｂ－３）で表される化合物であることが更に好ましい。

（式中、Ｒ^ｉ１及びＲ^ｉ２は、それぞれ独立的に一般式（ｉｉ－１）におけるＲ^ｉ１及びＲ^ｉ２と同じ意味を表す。）
　さらに、一般式（ｉ－１Ａ）で表される化合物は、式（ｉ－１Ａ－１０．１）から式（ｉ－１Ａ－１０．１５）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましく、式（ｉ－１Ａ－１０．１）～（ｉ－１Ａ－１０．６）で表される化合物であることが好ましく、式（ｉ－１Ａ－１０．１）、（ｉ－１Ａ－１０．２）、（ｉ－１Ａ－１０．５）及び式（ｉ－１Ａ－１０．６）で表される化合物が好ましい。

　式（ｉ－１Ａ－１０．１）及び式（ｉ－１Ａ－１０．２）で表される化合物は単独で使用することも、組み合わせて使用することも可能であるが、本発明の組成物の総量に対しての単独又はこれら化合物の好ましい含有量の下限値は、０．１％であり、１％であり、３％であり、５％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１７％であり、２０％である。
好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、３５％であり、３０％であり、２８％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％である。

　さらに、一般式（ｉ－１Ｂ）で表される化合物は、式（ｉ－１Ｂ－１１．１）から式（ｉ－１Ｂ－１１．１５）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましく、式（ｉ－１Ｂ－１１．１）～（ｉ－１Ｂ－１１．１５）で表される化合物であることが好ましく、式（ｉ－１Ｂ－１１．２）及び式（ｉ－１Ｂ－１１．４）で表される化合物が好ましい。

　式（ｉ－１Ｂ－１１．２）及び式（ｉ－１Ｂ－１１．４）で表される化合物は単独で使用することも、組み合わせて使用することも可能であるが、本発明の組成物の総量に対しての単独又はこれら化合物の好ましい含有量の下限値は、０．１％であり、１％であり、３％であり、５％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１７％であり、２０％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、３５％であり、３０％であり、２８％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％である。

　本発明の液晶組成物は、一般式（ｉ－１Ａ）及び一般式（ｉ－１Ｂ）で表される化合物のうちいずれか一方を少なくとも１種以上含有してもよいし、一般式（ｉ－１Ａ）及び一般式（ｉ－１Ｂ）で表される化合物の両方をそれぞれ１種以上含有してもよい。本発明の液晶組成物は、一般式（ｉ－１Ａ）及び一般式（ｉ－１Ｂ）で表される化合物を１種又は２種以上含有することが好ましく、２種から１０種含有することがより好ましい。

　更に詳述すると、一般式（ｉ－１Ａ）及び一般式（ｉ－１Ｂ）は一般式（ｉ－１Ａ－１）及び一般式（ｉ－１Ｂ－１）で表される化合物群から選ばれる化合物を１種又は２種以上含有することが好ましく、一般式（ｉ－１Ａ－１）で表される化合物及び一般式（ｉ－１Ｂ－１）で表される化合物の組み合わせであることがより好ましい。

　本発明の液晶組成物は、分子内に

で表される基を１個又は２個以上有する化合物の総量のうち、一般式（ｉ）で表される化合物の含有量の総量が、０．１～４０質量％（以下組成物中の％は質量％を表す。）である。より好ましくは、液晶組成物中の負の誘電率異方性を有する化合物の総量のうち一般式（ｉ）で表される化合物の含有量の総量として、下限値は０．２％であり、０．３％であり、０．５％であり、０．８％であり、１％であり、２％であり、３％であり、５％であり、７％であり、１０％であり、１５％であり、２０％である。また、上限値は、３９％であり、３７％であり、３５％であり、３３％であり、３２％であり、３０％であり、２８％であり、２５％であり、２４％であり、２２％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％であり、１０％であり、８％であり、５％である。なお、分子内に

で表される基を１個又は２個以上有する化合物の総量とは、一般式（ａ）で表される化合物、一般式（ｉ）で表される化合物、及び一般式（Ｎ－１）～一般式（Ｎ－３）で表される化合物群から選ばれる化合物の総量と略等しくなる。

　また、液晶組成物の総量のうち、一般式（ｉ）で表される化合物の含有量は０．０１から４０質量％であることが好ましい。より具体的には、一般式（ｉ）で表される化合物の含有量として、組成物中の下限値は、０．１％であり、０．５％であり、１％であり、５％であり、１０％であり、１５％である。また、上限値は、４０％であり、３９％であり、３７％であり、３５％であり、３３％であり、３２％であり、３０％であり、２８％であり、２５％であり、２４％であり、２２％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％であり、１０％であり、８％であり、５％である。

　本発明の液晶組成物は、更に、一般式（Ｎ－１）～一般式（Ｎ－３）で表される化合物群から選ばれる化合物を１種又は２種以上含有することが好ましい。

（式中、Ｒ^Ｎ１１、Ｒ^Ｎ１２、Ｒ^Ｎ２１、Ｒ^Ｎ２２、Ｒ^Ｎ３１及びＲ^Ｎ３２はそれぞれ独立して炭素原子数１～８のアルキル基を表し、該アルキル基中の１個又は非隣接の２個以上の－ＣＨ_２－はそれぞれ独立して－ＣＨ＝ＣＨ－、－Ｃ≡Ｃ－、－Ｏ－、－ＣＯ－、－ＣＯＯ－又は－ＯＣＯ－によって置換されていてもよく、
　Ａ^Ｎ１１、Ａ^Ｎ１２、Ａ^Ｎ２１、Ａ^Ｎ２２、Ａ^Ｎ３１及びＡ^Ｎ３２はそれぞれ独立して
（ａ）　１，４－シクロヘキシレン基（この基中に存在する１個の－ＣＨ_２－又は隣接していない２個以上の－ＣＨ_２－は－Ｏ－に置き換えられてもよい。）
（ｂ）　１，４－フェニレン基（この基中に存在する１個の－ＣＨ＝又は隣接していない２個以上の－ＣＨ＝は－Ｎ＝に置き換えられてもよい。）
（ｃ）　１，４－シクロヘキセニル基（この基中に存在する１個の－ＣＨ_２－又は隣接していない２個以上の－ＣＨ_２－は－Ｏ－に置き換えられてもよい。）及び（ｄ）ナフタレン－２，６－ジイル基、１，２，３，４－テトラヒドロナフタレン－２，６－ジイル基又はデカヒドロナフタレン－２，６－ジイル基（ナフタレン－２，６－ジイル基又は１，２，３，４－テトラヒドロナフタレン－２，６－ジイル基中に存在する１個の－ＣＨ＝又は隣接していない２個以上の－ＣＨ＝は－Ｎ＝に置き換えられても良い。）
からなる群より選ばれる基を表し、上記の基（ａ）、基（ｂ）及び基（ｃ）はそれぞれ独立してシアノ基、フッ素原子又は塩素原子で置換されていても良く、
　Ｚ^Ｎ１１及びＺ^Ｎ１２はそれぞれ独立して単結合、－（ＣＨ_２）_４－、－ＯＣＨ_２－、－ＣＨ_２Ｏ－、－ＣＯＯ－、－ＯＣＯ－、－ＯＣＦ_２－、－ＣＦ_２Ｏ－、－ＣＨ＝Ｎ－Ｎ＝ＣＨ－、－ＣＨ＝ＣＨ－、－ＣＦ＝ＣＦ－又は－Ｃ≡Ｃ－を表し、　Ｚ^Ｎ２１、Ｚ^Ｎ２２、Ｚ^Ｎ３１及びＺ^Ｎ３２はそれぞれ独立して単結合、－ＣＨ_２ＣＨ_２－、－（ＣＨ_２）_４－、－ＯＣＨ_２－、－ＣＨ_２Ｏ－、－ＣＯＯ－、－ＯＣＯ－、－ＯＣＦ_２－、－ＣＦ_２Ｏ－、－ＣＨ＝Ｎ－Ｎ＝ＣＨ－、－ＣＨ＝ＣＨ－、－ＣＦ＝ＣＦ－又は－Ｃ≡Ｃ－を表し、
　Ｘ^Ｎ２１は水素原子又はフッ素原子を表し、
　Ｔ^Ｎ３１は－ＣＨ_２－又は酸素原子を表し、
　ｎ^Ｎ１１、ｎ^Ｎ１２、ｎ^Ｎ２１、ｎ^Ｎ２２、ｎ^Ｎ３１及びｎ^Ｎ３２はそれぞれ独立して０～３の整数を表すが、ｎ^Ｎ１１＋ｎ^Ｎ１２、ｎ^Ｎ２１＋ｎ^Ｎ２２及びｎ^Ｎ３１＋ｎ^Ｎ３２はそれぞれ独立して１、２又は３であり、Ａ^Ｎ１１～Ａ^Ｎ３２、Ｚ^Ｎ１１～Ｚ^Ｎ３２が複数存在する場合は、それらは同一であっても異なっていても良い。ただし、一般式（Ｎ－１）及び一般式（Ｎ－２）において、一般式（ａ）で表される化合物は除き、また、一般式（Ｎ－２）及び一般式（Ｎ－３）において一般式（Ｎ－１）で表される化合物は除き、更に一般式（Ｎ－３）において一般式（Ｎ－１）で表される化合物は除く。）
　一般式（Ｎ－１）、（Ｎ－２）及び（Ｎ－３）中、Ｒ^Ｎ１１、Ｒ^Ｎ１２、Ｒ^Ｎ２１、Ｒ^Ｎ２２、Ｒ^Ｎ３１及びＲ^Ｎ３２はそれぞれ独立して、炭素原子数１～８のアルキル基、炭素原子数１～８のアルコキシ基、炭素原子数２～８のアルケニル基又は炭素原子数２～８のアルケニルオキシ基が好ましく、炭素原子数１～５のアルキル基、炭素原子数１～５のアルコキシ基、炭素原子数２～５のアルケニル基又は炭素原子数２～５のアルケニルオキシ基が好ましく、炭素原子数１～５のアルキル基又は炭素原子数２～５のアルケニル基が更に好ましく、炭素原子数２～５のアルキル基又は炭素原子数２～３のアルケニル基が更に好ましく、炭素原子数３のアルケニル基（プロペニル基）が特に好ましい。

　また、それが結合する環構造がフェニル基（芳香族）である場合には、直鎖状の炭素原子数１～５のアルキル基、直鎖状の炭素原子数１～４のアルコキシ基及び炭素原子数４～５のアルケニル基が好ましく、それが結合する環構造がシクロヘキサン、ピラン及びジオキサンなどの飽和した環構造の場合には、直鎖状の炭素原子数１～５のアルキル基、直鎖状の炭素原子数１～４のアルコキシ基及び直鎖状の炭素原子数２～５のアルケニル基が好ましい。ネマチック相を安定化させるためには炭素原子及び存在する場合酸素原子の合計が５以下であることが好ましく、直鎖状であることが好ましい。

　アルケニル基としては、式（Ｒ１）から式（Ｒ５）のいずれかで表される基から選ばれることが好ましい。（各式中の黒点は環構造中の炭素原子を表す。）

　Ａ^Ｎ１１、Ａ^Ｎ１２、Ａ^Ｎ２１、Ａ^Ｎ２２、Ａ^Ｎ３１及びＡ^Ｎ３２はそれぞれ独立してΔｎを大きくすることが求められる場合には芳香族であることが好ましく、応答速度を改善するためには脂肪族であることが好ましく、トランス－１，４－シクロへキシレン基、１，４－フェニレン基、２－フルオロ－１，４－フェニレン基、３－フルオロ－１，４－フェニレン基、３，５－ジフルオロ－１，４－フェニレン基、２，３－ジフルオロ－１，４－フェニレン基、１，４－シクロヘキセニレン基、１，４－ビシクロ［２．２．２］オクチレン基、ピペリジン－１，４－ジイル基、ナフタレン－２，６－ジイル基、デカヒドロナフタレン－２，６－ジイル基又は１，２，３，４－テトラヒドロナフタレン－２，６－ジイル基を表すことが好ましく、下記の構造を表すことがより好ましく、

トランス－１，４－シクロへキシレン基、又は１，４－フェニレン基を表すことがより好ましい。

　Ｚ^Ｎ１１、Ｚ^Ｎ１２、Ｚ^Ｎ２１、Ｚ^Ｎ２２、Ｚ^Ｎ３１及びＺ^Ｎ３２はそれぞれ独立して－ＣＨ_２Ｏ－、－ＣＦ_２Ｏ－、－ＣＨ_２ＣＨ_２－、－ＣＦ_２ＣＦ_２－又は単結合を表すことが好ましく、－ＣＨ_２Ｏ－、－ＣＨ_２ＣＨ_２－又は単結合が更に好ましく、－ＣＨ_２Ｏ－又は単結合が特に好ましい。

　Ｘ^Ｎ２１はフッ素原子が好ましい。

　Ｔ^Ｎ３１は酸素原子が好ましい。

　ｎ^Ｎ１１＋ｎ^Ｎ１２、ｎ^Ｎ２１＋ｎ^Ｎ２２及びｎ^Ｎ３１＋ｎ^Ｎ３２は１又は２が好ましく、ｎ^Ｎ１１が１でありｎ^Ｎ１２が０である組み合わせ、ｎ^Ｎ１１が２でありｎ^Ｎ１２が０である組み合わせ、ｎ^Ｎ１１が１でありｎ^Ｎ１２が１である組み合わせ、ｎ^Ｎ１１が２でありｎ^Ｎ１２が１である組み合わせ、ｎ^Ｎ２１が１でありｎ^Ｎ２２が０である組み合わせ、ｎ^Ｎ２１が２でありｎ^Ｎ２２が０である組み合わせ、ｎ^Ｎ３１が１でありｎ^Ｎ３２が０である組み合わせ、ｎ^Ｎ３１が２でありｎ^Ｎ３２が０である組み合わせ、が好ましい。

　本発明の組成物の総量に対しての式（Ｎ－１）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、０％であり、１％であり、３％であり、５％であり、１０％であり、２０％であり、３０％であり、４０％であり、５０％であり、５５％であり、６０％であり、６５％であり、７０％であり、７５％であり、８０％である。好ましい含有量の上限値は、９５％であり、８５％であり、７５％であり、６５％であり、５５％であり、５０％であり、４５％であり、３５％であり、２５％であり、２０％である。

　本発明の組成物の総量に対しての式（Ｎ－２）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、０％であり、１％であり、３％であり、１０％であり、２０％であり、３０％であり、４０％であり、５０％であり、５５％であり、６０％であり、６５％であり、７０％であり、７５％であり、８０％である。好ましい含有量の上限値は、９５％であり、８５％であり、７５％であり、６５％であり、５５％であり、４５％であり、３５％であり、２５％であり、２０％である。

　本発明の組成物の総量に対しての式（Ｎ－３）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、０％であり、１％であり、３％であり、１０％であり、２０％であり、３０％であり、４０％であり、５０％であり、５５％であり、６０％であり、６５％であり、７０％であり、７５％であり、８０％である。好ましい含有量の上限値は、９５％であり、８５％であり、７５％であり、６５％であり、５５％であり、４５％であり、３５％であり、２５％であり、２０％である。

　本発明の組成物の総量に対しての式（Ｎ－１）から式（Ｎ－３）で表される化合物の含有量の総量が液晶組成物において５０質量％以下であることが好ましい。より具体的には、本発明の組成物の総量に対しての式（Ｎ－１）から式（Ｎ－３）から選択される化合物の好ましい含有量の下限値は、０％であり、１％であり、３％であり、５％であり、１０％であり、２０％であり、３０％であり、４０％であり、５０％であり、５５％であり、６０％であり、６５％であり、７０％であり、７５％であり、８０％である。好ましい含有量の上限値は、９５％であり、８５％であり、７５％であり、６５％であり、５５％であり、５０％であり、４５％であり、３５％であり、２５％であり、２０％である。　本発明の組成物の粘度を低く保ち、応答速度が速い組成物が必要な場合は上記の下限値が低く上限値が低いことが好ましい。さらに、本発明の組成物のＴｎｉを高く保ち、温度安定性の良い組成物が必要な場合は上記の下限値が低く上限値が低いことが好ましい。また、駆動電圧を低く保つために誘電率異方性を大きくしたいときは、上記の下限値を高く上限値が高いことが好ましい。

　一般式（Ｎ－１）で表される化合物として、一般式（Ｎ－ｉ）で表される化合物を１種又は２種以上含有することが好ましい。

（式中、Ｒ^Ｎ１１、Ｒ^Ｎ１２、Ａ^Ｎ１１及びＡ^Ｎ１２はそれぞれ独立して一般式（Ｎ－１）中のＲ^Ｎ１１、Ｒ^Ｎ１２、Ａ^Ｎ１１及びＡ^Ｎ１２と同じ意味を表し、ｍ^Ｎｉ１は１～３の整数を表し、ｍ^Ｎｉ２は０～３の整数を表し、ｍ^Ｎｉ１＋ｍ^Ｎｉ２は１、２又は３であり、Ａ^Ｎｉ１及びＡ^Ｎｉ２が複数存在する場合は、それらは同一であっても異なっていてもよい。）
　ｍ^Ｎｉ１は１又は２を表し、ｍ^Ｎｉ２は０又は１を表し、ｍ^Ｎｉ１＋ｍ^Ｎｉ２は１又は２であることが好ましい。本発明の液晶組成物は、一般式（Ｎ－ｉ）で表される化合物を１種又は２種以上含有することが好ましい。

　一般式（Ｎ－１）及び一般式（Ｎ－ｉ）で表される化合物は一般式（Ｎ－１－１）～（Ｎ－１－７）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましい。

　一般式（Ｎ－１－１）で表される化合物は下記の化合物である。

（式中、Ｒ^Ｎ１１１及びＲ^Ｎ１１２はそれぞれ独立して、一般式（Ｎ－１）におけるＲ^Ｎ１１及びＲ^Ｎ１２と同じ意味を表す。）
　Ｒ^Ｎ１１１は炭素原子数１～５のアルキル基又は炭素原子数２～５のアルケニル基が好ましく、プロピル基又はペンチル基が好ましい。Ｒ^Ｎ１１２は炭素原子数１～５のアルキル基、炭素原子数４～５のアルケニル基又は炭素原子数１～４のアルコキシ基が好ましく、エトキシ基又はブトキシ基が好ましい。

　一般式（Ｎ－１－１）で表される化合物は単独で使用することもできるが、２以上の化合物を組み合わせて使用することもできる。組み合わせることができる化合物の種類に特に制限は無いが、低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率などの求められる性能に応じて適宜組み合わせて使用する。使用する化合物の種類は、例えば本発明の一つの実施形態としては１種類であり、２種類であり、３種類であり、４種類であり、５種類以上である。

　Δεの改善を重視する場合には含有量を高めに設定することが好ましく、低温での溶解性を重視する場合は含有量を多めに設定すると効果が高く、Ｔ_ＮＩを重視する場合は含有量を少なめに設定すると効果が高い。さらに、滴下痕や焼き付き特性を改良する場合は、含有量の範囲を中間に設定することが好ましい。

　本発明の組成物の総量に対しての式（Ｎ－１－１）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、０％であり、１％であり、３％であり、５％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１７％であり、２０％であり、２３％であり、２５％であり、２７％であり、３０％であり、３３％であり、３５％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、５０％であり、４０％であり、３８％であり、３５％であり、３３％であり、３０％であり、２８％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％であり、１０％であり、８％であり、７％であり、６％であり、５％であり、３％である。

　さらに、一般式（Ｎ－１－１）で表される化合物は、式（Ｎ－１－１．１）から式（Ｎ－１－１．１４）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましく、式（Ｎ－１－１．１）～（Ｎ－１－１．６）で表される化合物であることが好ましく、式（Ｎ－１－１．１）、（Ｎ－１－１．３）、（Ｎ－１－１．５）及び式（Ｎ－１－１．６）で表される化合物が好ましい。

　式（Ｎ－１－１．１）～（Ｎ－１－１．６）で表される化合物は単独で使用することも、組み合わせて使用することも可能であるが、本発明の組成物の総量に対しての単独又はこれら化合物の好ましい含有量の下限値は、０％であり、１％であり、３％であり、５％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１７％であり、２０％であり、２３％であり、２５％であり、２７％であり、３０％であり、３３％であり、３５％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、５０％であり、４０％であり、３８％であり、３５％であり、３３％であり、３０％であり、２８％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％であり、１０％であり、８％であり、７％であり、６％であり、５％であり、３％である。

　一般式（Ｎ－１－２）で表される化合物は下記の化合物である。

（式中、Ｒ^Ｎ１２１及びＲ^Ｎ１２２はそれぞれ独立して、一般式（Ｎ－１）におけるＲ^Ｎ１１及びＲ^Ｎ１２と同じ意味を表す。）
　Ｒ^Ｎ１２１は炭素原子数１～５のアルキル基又は炭素原子数２～５のアルケニル基が好ましく、エチル基、プロピル基、ブチル基又はペンチル基が好ましい。Ｒ^Ｎ１２２は炭素原子数１～５のアルキル基、炭素原子数４～５のアルケニル基又は炭素原子数１～４のアルコキシ基が好ましく、メチル基、プロピル基、メトキシ基、エトキシ基又はプロポキシ基が好ましい。

　　一般式（Ｎ－１－２）で表される化合物は単独で使用することもできるが、２以上の化合物を組み合わせて使用することもできる。組み合わせることができる化合物の種類に特に制限は無いが、低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率などの求められる性能に応じて適宜組み合わせて使用する。使用する化合物の種類は、例えば本発明の一つの実施形態としては１種類であり、２種類であり、３種類であり、４種類であり、５種類以上である。

　Δεの改善を重視する場合には含有量を高めに設定することが好ましく、低温での溶解性を重視する場合は含有量を少なめに設定すると効果が高く、Ｔ_ＮＩを重視する場合は含有量を多めに設定すると効果が高い。さらに、滴下痕や焼き付き特性を改良する場合は、含有量の範囲を中間に設定することが好ましい。

　本発明の組成物の総量に対しての式（Ｎ－１－２）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、０％であり、１％であり、３％であり、５％であり、７％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１７％であり、２０％であり、２３％であり、２５％であり、２７％であり、３０％であり、３３％であり、３５％であり、３７％であり、４０％であり、４２％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、５０％であり、４８％であり、４５％であり、４３％であり、４０％であり、３８％であり、３５％であり、３３％であり、３０％であり、２８％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％であり、１０％であり、８％であり、７％であり、６％であり、５％である。

　さらに、一般式（Ｎ－１－２）で表される化合物は、式（Ｎ－１－２．１）から式（Ｎ－１－２．１３）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましく、式（Ｎ－１－２．３）から式（Ｎ－１－２．１１）及び式（Ｎ－１－２．１３）で表される化合物であることが好ましく、Δεの改良を重視する場合には式（Ｎ－１－２．３）から式（Ｎ－１－２．７）で表される化合物が好ましく、Ｔ_ＮＩの改良を重視する場合には式（Ｎ－１－２．１０）、式（Ｎ－１－２．１１）及び式（Ｎ－１－２．１３）で表される化合物であることが好ましい。

　式（Ｎ－１－２．１）から式（Ｎ－１－２．１３）で表される化合物は単独で使用することも、組み合わせて使用することも可能であるが、本発明の組成物の総量に対しての単独又はこれら化合物の好ましい含有量の下限値は、０％であり、１％であり、３％であり、５％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１７％であり、２０％であり、２３％であり、２５％であり、２７％であり、３０％であり、３３％であり、３５％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、５０％であり、４０％であり、３８％であり、３５％であり、３３％であり、３０％であり、２８％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％であり、１０％であり、８％であり、７％であり、６％であり、５％であり、３％である。

　一般式（Ｎ－１－３）で表される化合物は下記の化合物である。

（式中、Ｒ^Ｎ１３１及びＲ^Ｎ１３２はそれぞれ独立して、一般式（Ｎ－１）におけるＲ^Ｎ１１及びＲ^Ｎ１２と同じ意味を表す。）
　Ｒ^Ｎ１３１は炭素原子数１～５のアルキル基又は炭素原子数２～５のアルケニル基が好ましく、エチル基、プロピル基又はブチル基が好ましい。Ｒ^Ｎ１３２は炭素原子数１～５のアルキル基、炭素原子数４～５のアルケニル基又は炭素原子数１～４のアルコキシ基が好ましく、エトキシ基、プロポキシ基又はブトキシ基が好ましい。

　一般式（Ｎ－１－３）で表される化合物は単独で使用することもできるが、２以上の化合物を組み合わせて使用することもできる。組み合わせることができる化合物の種類に特に制限は無いが、低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率などの求められる性能に応じて適宜組み合わせて使用する。使用する化合物の種類は、例えば本発明の一つの実施形態としては１種類であり、２種類であり、３種類であり、４種類であり、５種類以上である。

　Δεの改善を重視する場合には含有量を高めに設定することが好ましく、低温での溶解性を重視する場合は含有量を多めに設定すると効果が高く、Ｔ_ＮＩを重視する場合は含有量をおおめに設定すると効果が高い。さらに、滴下痕や焼き付き特性を改良する場合は、含有量の範囲を中間に設定することが好ましい。

　本発明の組成物の総量に対しての式（Ｎ－１－３）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、０％であり、１％であり、３％であり、５％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１７％であり、２０％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、３５％であり、３０％であり、２８％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％である。

　さらに、一般式（Ｎ－１－３）で表される化合物は、式（Ｎ－１－３．１）から式（Ｎ－１－３．１１）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましく、式（Ｎ－１－３．１）～（Ｎ－１－３．７）で表される化合物であることが好ましく、式（Ｎ－１－３．１）、式（Ｎ－１－３．２）、式（Ｎ－１－３．３）、式（Ｎ－１－３．４）及び式（Ｎ－１－３．６）で表される化合物が好ましい。

　式（Ｎ－１－３．１）～式（Ｎ－１－３．４）及び式（Ｎ－１－３．６）で表される化合物は単独で使用することも、組み合わせて使用することも可能であるが、式（Ｎ－１－３．１）及び式（Ｎ－１－３．２）の組み合わせ、式（Ｎ－１－３．３）、式（Ｎ－１－３．４）及び式（Ｎ－１－３．６）から選ばれる２種又は３種の組み合わせが好ましい。本発明の組成物の総量に対しての単独又はこれら化合物の好ましい含有量の下限値は、０％であり、１％であり、３％であり、５％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１７％であり、２０％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、３５％であり、３０％であり、２８％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％である。

　一般式（Ｎ－１－４）で表される化合物は下記の化合物である。

（式中、Ｒ^Ｎ１４１及びＲ^Ｎ１４２はそれぞれ独立して、一般式（Ｎ－１）におけるＲ^Ｎ１１及びＲ^Ｎ１２と同じ意味を表す。）
　Ｒ^Ｎ１４１及びＲ^Ｎ１４２はそれぞれ独立して、炭素原子数１～５のアルキル基、炭素原子数４～５のアルケニル基又は炭素原子数１～４のアルコキシ基が好ましく、メチル基、プロピル基、エトキシ基又はブトキシ基が好ましい。

　一般式（Ｎ－１－４）で表される化合物は単独で使用することもできるが、２以上の化合物を組み合わせて使用することもできる。組み合わせることができる化合物の種類に特に制限は無いが、低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率などの求められる性能に応じて適宜組み合わせて使用する。使用する化合物の種類は、例えば本発明の一つの実施形態としては１種類であり、２種類であり、３種類であり、４種類であり、５種類以上である。

　本発明の組成物の総量に対しての式（Ｎ－１－４）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、０％であり、１％であり、３％であり、３％であり、５％であり、７％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１７％であり、２０％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、３５％であり、３０％であり、２８％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％であり、１１％であり、１０％であり、８％である。

　さらに、一般式（Ｎ－１－４）で表される化合物は、式（Ｎ－１－４．１）から式（Ｎ－１－４．１４）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましく、式（Ｎ－１－４．１）～（Ｎ－１－４．４）で表される化合物であることが好ましく、式（Ｎ－１－４．１）及び式（Ｎ－１－４．２）で表される化合物が好ましい。

　式（Ｎ－１－４．１）～（Ｎ－１－４．４）で表される化合物は単独で使用することも、組み合わせて使用することも可能であるが、本発明の組成物の総量に対しての単独又はこれら化合物の好ましい含有量の下限値は、０％であり、１％であり、３％であり、３％であり、５％であり、７％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１７％であり、２０％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、３５％であり、３０％であり、２８％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％であり、１１％であり、１０％であり、８％である。

　一般式（Ｎ－１－５）で表される化合物は下記の化合物である。

（式中、Ｒ^Ｎ１５１及びＲ^Ｎ１５２はそれぞれ独立して、一般式（Ｎ－１）におけるＲ^Ｎ１１及びＲ^Ｎ１２と同じ意味を表す。）
　Ｒ^Ｎ１５１及びＲ^Ｎ１５２はそれぞれ独立して、炭素原子数１～５のアルキル基、炭素原子数４～５のアルケニル基又は炭素原子数１～４のアルコキシ基が好ましくエチル基、プロピル基又はブチル基が好ましい。

　一般式（Ｎ－１－５）で表される化合物は単独で使用することもできるが、２以上の化合物を組み合わせて使用することもできる。組み合わせることができる化合物の種類に特に制限は無いが、低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率などの求められる性能に応じて適宜組み合わせて使用する。使用する化合物の種類は、例えば本発明の一つの実施形態としては１種類であり、２種類であり、３種類であり、４種類であり、５種類以上である。

　本発明の組成物の総量に対しての式（Ｎ－１－５）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、０％であり、１％であり、３％であり、５％であり、８％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１７％であり、２０％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、３５％であり、３３％であり、３０％であり、２８％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％である。

　さらに、一般式（Ｎ－１－５）で表される化合物は、式（Ｎ－１－５．１）から式（Ｎ－１－５．６）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましく、式（Ｎ－１－３．２及び式（Ｎ－１－３．４）で表される化合物が好ましい。

　式（Ｎ－１－５．２）及び式（Ｎ－１－５．４）で表される化合物は単独で使用することも、組み合わせて使用することも可能であるが、本発明の組成物の総量に対しての単独又はこれら化合物の好ましい含有量の下限値は、０％であり、１％であり、３％であり、５％であり、８％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１７％であり、２０％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、３５％であり、３３％であり、３０％であり、２８％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％である。

　一般式（Ｎ－１－６）で表される化合物は下記の化合物である。

　一般式（Ｎ－１－６）で表される化合物は単独で使用することもできるが、２以上の化合物を組み合わせて使用することもできる。組み合わせることができる化合物の種類に特に制限は無いが、低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率などの求められる性能に応じて適宜組み合わせて使用する。使用する化合物の種類は、例えば本発明の一つの実施形態としては１種類であり、２種類であり、３種類であり、４種類であり、５種類以上である。

　本発明の組成物の総量に対しての式（Ｎ－１－６）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、０％であり、１％であり、３％であり、５％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１７％であり、２０％であり、２３％であり、２５％であり、２７％であり、３０％であり、３３％であり、３５％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、５０％であり、４０％であり、３８％であり、３５％であり、３３％であり、３０％であり、２８％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％であり、１０％であり、８％であり、７％であり、６％であり、５％であり、３％である。

　さらに、一般式（Ｎ－１－６）で表される化合物は、式（Ｎ－１－６．１）から式（Ｎ－１－６．１４）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましく、式（Ｎ－１－６．１）～（Ｎ－１－６．６）で表される化合物であることが好ましく、式（Ｎ－１－６．１）、（Ｎ－１－６．３）、（Ｎ－１－６．５）及び式（Ｎ－１－６．６）で表される化合物が好ましい。

一般式（Ｎ－１－７）で表される化合物は下記の化合物である。

　一般式（Ｎ－１－７）で表される化合物は単独で使用することもできるが、２以上の化合物を組み合わせて使用することもできる。組み合わせることができる化合物の種類に特に制限は無いが、低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率などの求められる性能に応じて適宜組み合わせて使用する。使用する化合物の種類は、例えば本発明の一つの実施形態としては１種類であり、２種類であり、３種類であり、４種類であり、５種類以上である。

　本発明の組成物の総量に対しての式（Ｎ－１－７）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、０％であり、１％であり、３％であり、５％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１７％であり、２０％であり、２３％であり、２５％であり、２７％であり、３０％であり、３３％であり、３５％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、５０％であり、４０％であり、３８％であり、３５％であり、３３％であり、３０％であり、２８％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％であり、１０％であり、８％であり、７％であり、６％であり、５％であり、３％である。

　さらに、一般式（Ｎ－１－７）で表される化合物は、式（Ｎ－１－７．１）から式（Ｎ－１－７．１３）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましく、式（Ｎ－１－７．３）から式（Ｎ－１－７．１１）及び式（Ｎ－１－７．１３）で表される化合物であることが好ましく、Δεの改良を重視する場合には式（Ｎ－１－７．３）から式（Ｎ－１－７．９）で表される化合物が好ましく、Ｔ_ＮＩの改良を重視する場合には式（Ｎ－１－７．９）から、式（Ｎ－１－７．１１）及び式（Ｎ－１－７．１３）で表される化合物であることが好ましい。

　また、一般式（Ｎ－１）で表される化合物として、一般式（Ｎ－ｉｉｉ）で表される化合物を１種又は２種以上含有することが好ましい。

（式中、Ｒ^Ｎ１１、Ｒ^Ｎ１２、Ａ^Ｎ１１、Ａ^Ｎ１２、Ｚ^Ｎ１１及びＺ^Ｎ１２はそれぞれ独立して炭素原子数１～８のアルキル基又は炭素原子数２～１０のアルケニル基を表し、該基中の１つ又は２つ以上の－ＣＨ_２－又は隣接していない２個以上の－ＣＨ_２－はそれぞれ独立して－Ｏ－又は－Ｓ－に置換されてもよく、また、該基中に存在する１個又は２個以上の水素原子はそれぞれ独立してフッ素原子又は塩素原子に置換されてもよく、Ａ^{Ｎｉｉｉ１}及びＡ^{Ｎｉｉｉ２}はそれぞれ独立して一般式（Ｎ－１）中の^Ｎ１１、Ｒ^Ｎ１２、Ａ^Ｎ１１、Ａ^Ｎ１２、Ｚ^Ｎ１１及びＺ^Ｎ１２と同じ意味を表し、ｍ^{Ｎｉｉｉ１}は１～３の整数を表し、Ａ^Ｎ１１及びＺ^Ｎ１１が複数存在する場合は、それらは同一であっても異なっていてもよい。）
　一般式（Ｎ－１）及び一般式（Ｎ－ｉｉ）で表される化合物は一般式（Ｎ－１－２０）～（Ｎ－１－３１）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましい。

　一般式（Ｎ－１－２０）で表される化合物は下記の化合物である。

（式中、Ｒ^{Ｎ１２０１}及びＲ^{Ｎ１２０２}はそれぞれ独立して、一般式（Ｎ－１）におけるＲ^Ｎ１１及びＲ^Ｎ１２と同じ意味を表す。）
　一般式（Ｎ－１－２１）で表される化合物は下記の化合物である。

（式中、Ｒ^{Ｎ１２１１}及びＲ^{Ｎ１２１２}はそれぞれ独立して、一般式（Ｎ－１）におけるＲ^Ｎ１１及びＲ^Ｎ１２と同じ意味を表す。）
　一般式（Ｎ－１－２２）～一般式（Ｎ－１－３１）で表される化合物は下記の化合物である。

（式中、Ｒ^Ｎ１１及びＲ^Ｎ１２はそれぞれ独立して、一般式（Ｎ－１）におけるＲ^Ｎ１１及びＲ^Ｎ１２と同じ意味を表す。）
　一般式（Ｎ－２）で表される化合物は一般式（Ｎ－２－１）～（Ｎ－２－３）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましい。

　一般式（Ｎ－２－１）で表される化合物は下記の化合物である。

（式中、Ｒ^Ｎ２１１及びＲ^Ｎ２１２はそれぞれ独立して、一般式（Ｎ）におけるＲ^Ｎ１１及びＲ^Ｎ１２と同じ意味を表す。）
　一般式（Ｎ－２－２）で表される化合物は下記の化合物である。

（式中、Ｒ^Ｎ２２１及びＲ^Ｎ２２２はそれぞれ独立して、一般式（Ｎ）におけるＲ^Ｎ１１及びＲ^Ｎ１２と同じ意味を表す。）
　一般式（Ｎ－２－３）で表される化合物は下記の化合物である。

（式中、Ｒ^Ｎ２３１及びＲ^Ｎ２３２はそれぞれ独立して、一般式（Ｎ）におけるＲ^Ｎ１１及びＲ^Ｎ１２と同じ意味を表す。）
　一般式（Ｎ－３）で表される化合物は一般式（Ｎ－３－１）～（Ｎ－３－２）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましい。

　一般式（Ｎ－３－１）で表される化合物は下記の化合物である。

（式中、Ｒ^Ｎ３１１及びＲ^Ｎ３１２はそれぞれ独立して、一般式（Ｎ）におけるＲ^Ｎ１１及びＲ^Ｎ１２と同じ意味を表す。）
　一般式（Ｎ－３－２）で表される化合物は下記の化合物である。

（式中、Ｒ^Ｎ３２１及びＲ^Ｎ３２２はそれぞれ独立して、一般式（Ｎ）におけるＲ^Ｎ１１及びＲ^Ｎ１２と同じ意味を表す。）
　本発明における液晶組成物は、更に一般式（Ｌ）で表される化合物を１種類又は２種類以上含有することが好ましい。一般式（Ｌ）で表される化合物は誘電的にほぼ中性の化合物（Δεの値が－２～２）に該当する。

（式中、Ｒ^Ｌ１及びＲ^Ｌ２はそれぞれ独立して炭素原子数１～８のアルキル基を表し、該アルキル基中の１個又は非隣接の２個以上の－ＣＨ_２－はそれぞれ独立して－ＣＨ＝ＣＨ－、－Ｃ≡Ｃ－、－Ｏ－、－ＣＯ－、－ＣＯＯ－又は－ＯＣＯ－によって置換されていてもよく、
　ｎ^Ｌ１は０、１、２又は３を表し、
　Ａ^Ｌ１、Ａ^Ｌ２及びＡ^Ｌ３はそれぞれ独立して
（ａ）　１，４－シクロヘキシレン基（この基中に存在する１個の－ＣＨ_２－又は隣接していない２個以上の－ＣＨ_２－は－Ｏ－に置き換えられてもよい。）
（ｂ）　１，４－フェニレン基（この基中に存在する１個の－ＣＨ＝又は隣接していない２個以上の－ＣＨ＝は－Ｎ＝に置き換えられてもよい。）及び
（ｃ）　ナフタレン－２，６－ジイル基、１，２，３，４－テトラヒドロナフタレン－２，６－ジイル基又はデカヒドロナフタレン－２，６－ジイル基（ナフタレン－２，６－ジイル基又は１，２，３，４－テトラヒドロナフタレン－２，６－ジイル基中に存在する１個の－ＣＨ＝又は隣接していない２個以上の－ＣＨ＝は－Ｎ＝に置き換えられてもよい。）
からなる群より選ばれる基を表し、上記の基（ａ）、基（ｂ）及び基（ｃ）はそれぞれ独立してシアノ基、フッ素原子又は塩素原子で置換されていてもよく、
　Ｚ^Ｌ１及びＺ^Ｌ２はそれぞれ独立して単結合、－ＣＨ_２ＣＨ_２－、－（ＣＨ_２）_４－、－ＯＣＨ_２－、－ＣＨ_２Ｏ－、－ＣＯＯ－、－ＯＣＯ－、－ＯＣＦ_２－、－ＣＦ_２Ｏ－、－ＣＨ＝Ｎ－Ｎ＝ＣＨ－、－ＣＨ＝ＣＨ－、－ＣＦ＝ＣＦ－又は－Ｃ≡Ｃ－を表し、
　Ａ^Ｌ２及びＺ^Ｌ３が複数存在する場合は、それらは同一であっても異なっていてもよい。ただし、一般式（Ｌ）において、一般式（ａ）、一般式（ｉ）、一般式（Ｎ－１）、一般式（Ｎ－２）及び一般式（Ｎ－３）で表される化合物は除く。）
　一般式（Ｌ）で表される化合物は単独で用いてもよいが、組み合わせて使用することもできる。組み合わせることができる化合物の種類に特に制限は無いが、低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率などの所望の性能に応じて適宜組み合わせて使用する。使用する化合物の種類は、例えば本発明の一つの実施形態としては１種類である。あるいは本発明の別の実施形態では２種類であり、３種類であり、４種類であり、５種類であり、６種類であり、７種類であり、８種類であり、９種類であり、１０種類以上である。

　本発明の組成物において、一般式（Ｌ）で表される化合物の含有量は、低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率、プロセス適合性、滴下痕、焼き付き、誘電率異方性などの求められる性能に応じて適宜調整する必要がある。

　本発明の組成物の総量に対しての一般式（Ｌ）で表される化合物の含有量が液晶組成物において３質量％から５０質量％であることが好ましい。具体的には、本発明の組成物の総量に対しての一般式（Ｌ）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、１％であり、３％であり、１０％であり、２０％であり、３０％であり、４０％であり、５０％であり、５５％であり、６０％であり、６５％であり、７０％であり、７５％であり、８０％である。好ましい含有量の上限値は、９５％であり、８５％であり、７５％であり、６５％であり、５５％であり、５０％であり、４５％であり、３５％であり、２５％である。

　本発明の組成物の粘度を低く保ち、応答速度が速い組成物が必要な場合は上記の下限値が高く上限値が高いことが好ましい。さらに、本発明の組成物のＴｎｉを高く保ち、温度安定性のよい組成物が必要な場合は上記の下限値が高く上限値が高いことが好ましい。また、駆動電圧を低く保つために誘電率異方性を大きくしたいときは、上記の下限値を低く上限値が低いことが好ましい。

　信頼性を重視する場合にはＲ^Ｌ１及びＲ^Ｌ２はともにアルキル基であることが好ましく、化合物の揮発性を低減させることを重視する場合にはアルコキシ基であることが好ましく、粘性の低下を重視する場合には少なくとも一方はアルケニル基であることが好ましい。

　Ｒ^Ｌ１及びＲ^Ｌ２は、それが結合する環構造がフェニル基（芳香族）である場合には、直鎖状の炭素原子数１～５のアルキル基、直鎖状の炭素原子数１～４のアルコキシ基及び炭素原子数４～５のアルケニル基が好ましく、それが結合する環構造がシクロヘキサン、ピラン及びジオキサンなどの飽和した環構造の場合には、直鎖状の炭素原子数１～５のアルキル基、直鎖状の炭素原子数１～４のアルコキシ基及び直鎖状の炭素原子数２～５のアルケニル基が好ましい。ネマチック相を安定化させるためには炭素原子及び存在する場合酸素原子の合計が５以下であることが好ましく、直鎖状であることが好ましい。

　アルケニル基としては、式（Ｒ１）から式（Ｒ９）のいずれかで表される基から選ばれることが好ましい。（各式中の黒点は環構造中の炭素原子を表す。）

　ｎ^Ｌ１は応答速度を重視する場合には０が好ましく、ネマチック相の上限温度を改善するためには２又は３が好ましく、これらのバランスをとるためには１が好ましい。また、組成物として求められる特性を満たすためには異なる値の化合物を組み合わせることが好ましい。

　Ａ^Ｌ１、Ａ^Ｌ２及びＡ^Ｌ３はΔｎを大きくすることが求められる場合には芳香族であることが好ましく、応答速度を改善するためには脂肪族であることが好ましく、それぞれ独立してトランス－１，４－シクロへキシレン基、１，４－フェニレン基、２－フルオロ－１，４－フェニレン基、３－フルオロ－１，４－フェニレン基、３，５－ジフルオロ－１，４－フェニレン基、１，４－シクロヘキセニレン基、１，４－ビシクロ［２．２．２］オクチレン基、ピペリジン－１，４－ジイル基、ナフタレン－２，６－ジイル基、デカヒドロナフタレン－２，６－ジイル基又は１，２，３，４－テトラヒドロナフタレン－２，６－ジイル基を表すことが好ましく、下記の構造を表すことがより好ましく、

トランス－１，４－シクロへキシレン基又は１，４－フェニレン基を表すことがより好ましい。

　Ｚ^Ｌ１及びＺ^Ｌ２は応答速度を重視する場合には単結合であることが好ましい。

　分子内のハロゲン原子数は０個又は１個が好ましい。

　一般式（Ｌ）で表される化合物は一般式（Ｌ－１）～（Ｌ－７）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましい。

　一般式（Ｌ－１）で表される化合物は下記の化合物である。

（式中、Ｒ^Ｌ１１及びＲ^Ｌ１２はそれぞれ独立して、一般式（Ｌ）におけるＲ^Ｌ１及びＲ^Ｌ２と同じ意味を表す。）
　Ｒ^Ｌ１１及びＲ^Ｌ１２はそれぞれ独立して、粘度を低下させる為には直鎖状の炭素原子数直鎖状の炭素原子数１～５のアルキル基、直鎖状の炭素原子数１～４のアルコキシ基及び直鎖状の炭素原子数２～５のアルケニル基が好ましい。

　Ｒ^Ｌ１１及びＲ^Ｌ１２のいずれか１個又は両方が、直鎖状の炭素原子数２～５のアルケニル基であることがより好ましい。Ｒ^Ｌ１１及びＲ^Ｌ１２のいずれか一方が直鎖状の炭素原子数２～５のアルケニル基であり、他方が直鎖状の炭素原子数１～５のアルキル基を表すことがより好ましい。

　一般式（Ｌ－１）で表される化合物は単独で使用することもできるが、２以上の化合物を組み合わせて使用することもできる。組み合わせることができる化合物の種類に特に制限は無いが、低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率などの求められる性能に応じて適宜組み合わせて使用する。使用する化合物の種類は、例えば本発明の一つの実施形態としては１種類であり、２種類であり、３種類であり、４種類であり、５種類以上である。好ましい含有量の下限値は、本発明の組成物の総量に対して、１％であり、２％であり、３％であり、５％であり、７％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１８％であり、２０％であり、２１％であり、２３％であり、２５％であり、２８％であり、３０％であり、３５％であり、３６％であり、３７％であり、３８％であり、３９％であり、４０％であり、４５％であり、５０％であり、５５％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、９５％であり、９０％であり、８５％であり、８０％であり、７５％であり、７０％であり、６５％であり、６０％であり、５５％であり、５０％であり、４５％であり、４０％であり、３５％であり、３０％であり、２５％である。

　本発明の組成物の粘度を低く保ち、応答速度が速い組成物が必要な場合は上記の下限値が高く上限値が高いことが好ましい。さらに、本発明の組成物のＴｎｉを高く保ち、温度安定性のよい組成物が必要な場合は上記の下限値が中庸で上限値が中庸であることが好ましい。また、駆動電圧を低く保つために誘電率異方性を大きくしたいときは、上記の下限値が低く上限値が低いことが好ましい。

　一般式（Ｌ－１）で表される化合物は、一般式（ｉｉ－１）で表される化合物であることが好ましい。

（式中、Ｒ^ｉｉ１１は水素原子又はメチル基を表し、Ｒ^ｉｉ２は一般式（Ｌ－１）中のＲ^Ｌ２１と同じ意味を表す。）
　本発明の組成物の総量に対しての式（ｉｉ－１）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、１％であり、５％であり、１０％であり、１５％であり、１７％であり、２０％であり、２３％であり、２５％であり、２７％であり、３０％であり、３５％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、６０％であり、５５％であり、５０％であり、４５％であり、４２％であり、４０％であり、３８％であり、３５％であり、３３％であり、３０％である。

　一般式（ｉｉ－１）で表される化合物は、式（ｉｉ－１．１１）～式（ｉｉ－１．１３）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましく、式（ｉｉ－１．１２）又は式（ｉｉ－１．１３）で表される化合物であることが好ましく、特に、式（ｉｉ－１．１３）で表される化合物であることが好ましい。

　本発明の組成物の総量に対しての式（ｉｉ－１．１３）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、１％であり、２％であり、３％であり、５％であり、７％であり、１０％１３％であり、１５％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、３０％であり、２５％であり、２０％であり、１５％であり、１３％であり、１０％であり、８％であり、７％であり、６％であり、５％であり、３％である。

　また、一般式（ｉｉ－１）で表される化合物は、式（ｉｉ－１．２１）から式（ｉｉ－１．２４）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましく、式（ｉｉ－１．２２）から式（ｉｉ－１．２４）で表される化合物であることが好ましい。特に、式（ｉｉ－１．２２）で表される化合物は本発明の組成物の応答速度を特に改善するため好ましい。また、応答速度よりも高いＴｎｉを求めるときは、式（ｉｉ－１．２３）又は式（ｉｉ－１．２４）で表される化合物を用いることが好ましい。式（ｉｉ－１．２３）及び式（ｉｉ－１．２４）で表される化合物の含有量は、低温での溶解度をよくするために３０％以上にすることは好ましくない。

　本発明の組成物の総量に対しての式（ｉｉ－１．２２）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、１０％であり、１５％であり、１６％であり、１７％であり、１８％であり、２０％であり、２１％であり、２２％であり、２３％であり、２５％であり、２７％であり、３０％であり、３３％であり、３５％であり、３８％であり、４０％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、６０％であり、５５％であり、５０％であり、４５％であり、４３％であり、４０％であり、３８％であり、３５％であり、３２％であり、３０％であり、２７％であり、２５％であり、２２％である。

　また、一般式（ｉｉ－１）で表される化合物は、式（ｉｉ－１．３１）及び式（ｉｉ－１．４１）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましい。

　一般式（ｉｉ－１）で表される化合物を少なくとも１種以上含有してもよいし、一般式（ｉｉ－ｉ）においてＲ^ｉｉ１１が水素原子を表す化合物及びＲ^ｉｉ１１がメチル基を表す化合物の両方をそれぞれ１種以上含有してもよい。更に具体的には、低い粘度又は低い回転粘性を得るためにはＲ^ｉｉ１１が水素原子を表す化合物をより多く含有することが好ましく、大きな弾性定数を得るためにはＲ^ｉｉ１１がメチル基を表す化合物をより多く含有することが好ましく、応答速度の速い液晶表示素子を得るためには、これらを同時にできる限り多く含有することが好ましい。

　本発明の組成物は、式（ｉｉ－１．１３）で表される化合物及び式（ｉｉ－１．２２）で表される化合物を含有することが好ましく、本発明の組成物の総量に対しての式（ｉｉ－１．１３）で表される化合物及び式（ｉｉ－１．２２）で表される化合物の合計の好ましい含有量の下限値は、１０％であり、１５％であり、２０％であり、２５％であり、２７％であり、３０％であり、３３％であり、３５％であり、３７％であり、４０％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、６０％であり、５５％であり、５０％であり、４５％であり、４３％であり、４０％であり、３８％であり、３５％であり、３２％であり、３０％であり、２７％であり、２５％であり、２２％である。

　一般式（Ｌ－１）で表される化合物は一般式（ｉｉ－２）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましい。

（式中Ｒ^ｉｉ２１及びＲ^ｉｉ２２はそれぞれ独立して炭素原子数１～８のアルキル基又は炭素原子数１～８のアルコキシ基を表す。）
　Ｒ^ｉｉ２１及びＲ^ｉｉ２２は、直鎖状の炭素原子数１～５のアルキル基及び直鎖状の炭素原子数１～４のアルコキシ基が好ましい。

　本発明の組成物の総量に対しての式（ｉｉ－２）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、１％であり、５％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１７％であり、２０％であり、２３％であり、２５％であり、３０％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、６０％であり、５５％であり、５０％であり、４５％であり、４０％であり、３７％であり、３５％であり、３３％であり、３０％であり、２７％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１７％であり、１５％であり、１３％であり、１０％である。

　さらに、一般式（ｉｉ－２）で表される化合物は、式（ｉｉ－２．１）から式（ｉｉ－２．１２）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましく、式（ｉｉ－２．１）、式（ｉｉ－２．３）又は式（ｉｉ－２．４）で表される化合物であることが好ましい。特に、式（ｉｉ－２．１）で表される化合物は本発明の組成物の応答速度を特に改善するため好ましい。また、応答速度よりも高いＴｎｉを求めるときは、式（ｉｉ－２．３）、式（ｉｉ－２．４）、式（ｉｉ－２．１１）及び式（ｉｉ－２．１２）で表される化合物を用いることが好ましい。式（ｉｉ－２．３）、式（ｉｉ－２．４）、式（ｉｉ－２．１１）及び式（ｉｉ－２．１２）で表される化合物の合計の含有量は、低温での溶解度をよくするために２０％以上にすることは好ましくない。

　本発明の組成物の総量に対しての式（ｉｉ－２．１）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、１％であり、２％であり、３％であり、５％であり、７％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１８％であり、２０％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、２０％であり、１７％であり、１５％であり、１３％であり、１０％であり、８％であり、７％であり、６％である。

　一般式（Ｌ－１）で表される化合物は一般式（ｉｉ－３）及び／又は（ｉｉ－４）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましい。

（式中Ｒ^ｉｉ３１及びＲ^ｉｉ４１はそれぞれ独立して一般式（Ｌ－１）中のＲ^Ｌ１２と同じ意味を表す。）
　Ｒ^ｉｉ３１及びＲ^ｉｉ３２は、直鎖状の炭素原子数１～５のアルキル基、直鎖状の炭素原子数１～４のアルコキシ基及び直鎖状の炭素原子数２～５のアルケニル基が好ましい。

　本発明の組成物の総量に対しての式（ｉｉ－３）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、１％であり、５％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１７％であり、２０％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１７％であり、１５％であり、１３％であり、１０％である。

　本発明の組成物の総量に対しての式（ｉｉ－４）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、１％であり、５％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１７％であり、２０％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１７％であり、１５％であり、１３％であり、１０％である。

　さらに、一般式（ｉｉ－３）及び（ｉｉ－４）で表される化合物は、式（ｉｉ－３．１）から式（ｉｉ－４．３）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましく、式（ｉｉ－３．２）又は式（ｉｉ－４．２）で表される化合物であることが好ましい。

　本発明の組成物の総量に対しての式（ｉｉ－３．２）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、１％であり、２％であり、３％であり、５％であり、７％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１８％であり、２０％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、２０％であり、１７％であり、１５％であり、１３％であり、１０％であり、８％であり、７％であり、６％である。

　式（ｉｉ－１．１３）、式（ｉｉ－１．２２）、式（ｉｉ－２．１）、式（ｉｉ－２．３）、式（ｉｉ－２．４）、式（ｉｉ－２．１１）及び式（ｉｉ－２．１２）で表される化合物から選ばれる２種以上の化合物を組み合わせることが好ましく、式（ｉｉ－１．１３）、式（ｉｉ－１．２２）、式（ｉｉ－２．１）、式（ｉｉ－２．３）、式（ｉｉ－２．４）及び式（ｉｉ－３．２）で表される化合物から選ばれる２種以上の化合物を組み合わせることが好ましく、これら化合物の合計の含有量の好ましい含有量の下限値は、本発明の組成物の総量に対して、１％であり、２％であり、３％であり、５％であり、７％であり、１０％であり、１３％であり、１５％であり、１８％であり、２０％であり、２３％であり、２５％であり、２７％であり、３０％であり、３３％であり、３５％であり、上限値は、本発明の組成物の総量に対して、８０％であり、７０％であり、６０％であり、５０％であり、４５％であり、４０％であり、３７％であり、３５％であり、３３％であり、３０％であり、２８％であり、２５％であり、２３％であり、２０％である。組成物の信頼性を重視する場合には、式（ｉｉ－２．１）、式（ｉｉ－２．３）及び式（ｉｉ－２．４））で表される化合物から選ばれる２種以上の化合物を組み合わせることが好ましく、組成物の応答速度を重視する場合には、式（ｉｉ－１．１３）、式（ｉｉ－１．２２）で表される化合物から選ばれる２種以上の化合物を組み合わせることが好ましい。

　一般式（Ｌ－２）で表される化合物は下記の化合物である。

（式中、Ｒ^Ｌ２１及びＲ^Ｌ２２はそれぞれ独立して、一般式（Ｌ）におけるＲ^Ｌ１及びＲ^Ｌ２と同じ意味を表す。）
　Ｒ^Ｌ２１は炭素原子数１～５のアルキル基又は炭素原子数２～５のアルケニル基が好ましく、Ｒ^Ｌ２２は炭素原子数１～５のアルキル基、炭素原子数４～５のアルケニル基又は炭素原子数１～４のアルコキシ基が好ましい。

　一般式（Ｌ－２）で表される化合物は単独で使用することもできるが、２以上の化合物を組み合わせて使用することもできる。組み合わせることができる化合物の種類に特に制限は無いが、低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率などの求められる性能に応じて適宜組み合わせて使用する。使用する化合物の種類は、例えば本発明の一つの実施形態としては１種類であり、２種類であり、３種類であり、４種類であり、５種類以上である。

　低温での溶解性を重視する場合は含有量を多めに設定すると効果が高く、反対に、応答速度を重視する場合は含有量を少なめに設定すると効果が高い。さらに、滴下痕や焼き付き特性を改良する場合は、含有量の範囲を中間に設定することが好ましい。

　本発明の組成物の総量に対しての式（Ｌ－２）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、１％であり、２％であり、３％であり、５％であり、７％であり、１０％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、２０％であり、１５％であり、１３％であり、１０％であり、８％であり、７％であり、６％であり、５％であり、３％である。

　さらに、一般式（Ｌ－２）で表される化合物は、式（Ｌ－２．１）から式（Ｌ－２．６）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましく、式（Ｌ－２．１）、式（Ｌ－２．３）、式（Ｌ－２．４）及び式（Ｌ－２．６）で表される化合物であることが好ましい。

　一般式（Ｌ－３）で表される化合物は下記の化合物である。

（式中、Ｒ^Ｌ３１及びＲ^Ｌ３２はそれぞれ独立して、一般式（Ｌ）におけるＲ^Ｌ１及びＲ^Ｌ２と同じ意味を表す。）
　Ｒ^Ｌ３１及びＲ^Ｌ３２はそれぞれ独立して炭素原子数１～５のアルキル基、炭素原子数４～５のアルケニル基又は炭素原子数１～４のアルコキシ基が好ましい。

　一般式（Ｌ－３）で表される化合物は単独で使用することもできるが、２以上の化合物を組み合わせて使用することもできる。組み合わせることができる化合物の種類に特に制限は無いが、低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率などの求められる性能に応じて適宜組み合わせて使用する。使用する化合物の種類は、例えば本発明の一つの実施形態としては１種類であり、２種類であり、３種類であり、４種類であり、５種類以上である。

　本発明の組成物の総量に対しての式（Ｌ－３）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、１％であり、２％であり、３％であり、５％であり、７％であり、１０％である。好ましい含有量の上限値は、本発明の組成物の総量に対して、２０％であり、１５％であり、１３％であり、１０％であり、８％であり、７％であり、６％であり、５％であり、３％である。

　高い複屈折率を得る場合は含有量を多めに設定すると効果が高く、反対に、高いＴｎｉを重視する場合は含有量を少なめに設定すると効果が高い。さらに、滴下痕や焼き付き特性を改良する場合は、含有量の範囲を中間に設定することが好ましい。

　さらに、一般式（Ｌ－３）で表される化合物は、式（Ｌ－３．１）から式（Ｌ－３．９）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましく、式（Ｌ－３．１）から式（Ｌ－３．７）で表される化合物であることが好ましく、式（Ｌ－３．１）、式（Ｌ－３．２）、式（Ｌ－３．６）及び（Ｌ－３．７）で表される化合物であることが好ましい。

　一般式（Ｌ－４）で表される化合物は下記の化合物である。

（式中、Ｒ^Ｌ４１及びＲ^Ｌ４２はそれぞれ独立して、一般式（Ｌ）におけるＲ^Ｌ１及びＲ^Ｌ２と同じ意味を表す。）
　Ｒ^Ｌ４１は炭素原子数１～５のアルキル基又は炭素原子数２～５のアルケニル基が好ましく、Ｒ^Ｌ４２は炭素原子数１～５のアルキル基、炭素原子数４～５のアルケニル基又は炭素原子数１～４のアルコキシ基が好ましい。）
　一般式（Ｌ－４）で表される化合物は単独で使用することもできるが、２以上の化合物を組み合わせて使用することもできる。組み合わせることができる化合物の種類に特に制限は無いが、低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率などの求められる性能に応じて適宜組み合わせて使用する。使用する化合物の種類は、例えば本発明の一つの実施形態としては１種類であり、２種類であり、３種類であり、４種類であり、５種類以上である。

　本発明の組成物において、一般式（Ｌ－４）で表される化合物の含有量は、低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率、プロセス適合性、滴下痕、焼き付き、誘電率異方性などの求められる性能に応じて適宜調整する必要がある。

　本発明の組成物の総量に対しての式（Ｌ－４）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、１％であり、２％であり、３％であり、５％であり、７％であり、１０％であり、１４％であり、１６％であり、２０％であり、２３％であり、２６％であり、３０％であり、３５％であり、４０％である。本発明の組成物の総量に対しての式（Ｌ－４）で表される化合物の好ましい含有量の上限値は、５０％であり、４０％であり、３５％であり、３０％であり、２０％であり、１５％であり、１０％であり、５％である。

　一般式（Ｌ－４）で表される化合物は、例えば式（Ｌ－４．１）から式（Ｌ－４．３）で表される化合物であることが好ましい。

　低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率などの求められる性能に応じて、式（Ｌ－４．１）で表される化合物を含有していても、式（Ｌ－４．２）で表される化合物を含有していても、式（Ｌ－４．１）で表される化合物と式（Ｌ－４．２）で表される化合物との両方を含有していてもよいし、式（Ｌ－４．１）から式（Ｌ－４．３）で表される化合物を全て含んでいてもよい。本発明の組成物の総量に対しての式（Ｌ－４．１）又は式（Ｌ－４．２）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、３％であり、５％であり、７％であり、９％であり、１１％であり、１２％であり、１３％であり、１８％であり、２１％であり、好ましい上限値は、４５であり、４０％であり、３５％であり、３０％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％であり、１０％であり、８％である。

　式（Ｌ－４．１）で表される化合物と式（Ｌ－４．２）で表される化合物との両方を含有する場合は、本発明の組成物の総量に対しての両化合物の好ましい含有量の下限値は、１５％であり、１９％であり、２４％であり、３０％であり、好ましい上限値は、４５であり、４０％であり、３５％であり、３０％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％である。

　一般式（Ｌ－４）で表される化合物は、例えば式（Ｌ－４．４）から式（Ｌ－４．６）で表される化合物であることが好ましく、式（Ｌ－４．４）で表される化合物であることが好ましい。

　低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率などの求められる性能に応じて、式（Ｌ－４．４）で表される化合物を含有していても、式（Ｌ－４．５）で表される化合物を含有していても、式（Ｌ－４．４）で表される化合物と式（Ｌ－４．５）で表される化合物との両方を含有していてもよい。

　本発明の組成物の総量に対しての式（Ｌ－４．４）又は式（Ｌ－４．５）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、３％であり、５％であり、７％であり、９％であり、１１％であり、１２％であり、１３％であり、１８％であり、２１％である。好ましい上限値は、４５であり、４０％であり、３５％であり、３０％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％であり、１０％であり、８％である。

　式（Ｌ－４．４）で表される化合物と式（Ｌ－４．５）で表される化合物との両方を含有する場合は、本発明の組成物の総量に対しての両化合物の好ましい含有量の下限値は、１５％であり、１９％であり、２４％であり、３０％であり、好ましい上限値は、４５であり、４０％であり、３５％であり、３０％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１３％である。

　一般式（Ｌ－４）で表される化合物は、式（Ｌ－４．７）から式（Ｌ－４．１０）で表される化合物であることが好ましく、特に、式（Ｌ－４．９）で表される化合物が好ましい。

　一般式（Ｌ－５）で表される化合物は下記の化合物である。

（式中、Ｒ^Ｌ５１及びＲ^Ｌ５２はそれぞれ独立して、一般式（Ｌ）におけるＲ^Ｌ１及びＲ^Ｌ２と同じ意味を表す。）
　Ｒ^Ｌ５１は炭素原子数１～５のアルキル基又は炭素原子数２～５のアルケニル基が好ましく、Ｒ^Ｌ５２は炭素原子数１～５のアルキル基、炭素原子数４～５のアルケニル基又は炭素原子数１～４のアルコキシ基が好ましい。

　一般式（Ｌ－５）で表される化合物は単独で使用することもできるが、２以上の化合物を組み合わせて使用することもできる。組み合わせることができる化合物の種類に特に制限は無いが、低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率などの求められる性能に応じて適宜組み合わせて使用する。使用する化合物の種類は、例えば本発明の一つの実施形態としては１種類であり、２種類であり、３種類であり、４種類であり、５種類以上である。

　本発明の組成物において、一般式（Ｌ－５）で表される化合物の含有量は、低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率、プロセス適合性、滴下痕、焼き付き、誘電率異方性などの求められる性能に応じて適宜調整する必要がある。

　本発明の組成物の総量に対しての式（Ｌ－５）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、１％であり、２％であり、３％であり、５％であり、７％であり、１０％であり、１４％であり、１６％であり、２０％であり、２３％であり、２６％であり、３０％であり、３５％であり、４０％である。本発明の組成物の総量に対しての式（Ｌ－５）で表される化合物の好ましい含有量の上限値は、５０％であり、４０％であり、３５％であり、３０％であり、２０％であり、１５％であり、１０％であり、５％である
　一般式（Ｌ－５）で表される化合物は、式（Ｌ－５．１）又は式（Ｌ－５．２）で表される化合物であることが好ましく、特に、式（Ｌ－５．１）で表される化合物であることが好ましい。

　本発明の組成物の総量に対してのこれら化合物の好ましい含有量の下限値は、１％であり、２％であり、３％であり、５％であり、７％である。これら化合物の好ましい含有量の上限値は、２０％であり、１５％であり、１３％であり、１０％であり、９％である。

　一般式（Ｌ－５）で表される化合物は、式（Ｌ－５．３）又は式（Ｌ－５．４）で表される化合物であることが好ましい。

　一般式（Ｌ－５）で表される化合物は、式（Ｌ－５．５）から式（Ｌ－５．７）で表される化合物群から選ばれる化合物であることが好ましく、特に式（Ｌ－５．７）で表される化合物であることが好ましい。

　一般式（Ｌ－６）で表される化合物は下記の化合物である。

（式中、Ｒ^Ｌ６１及びＲ^Ｌ６２はそれぞれ独立して、一般式（Ｌ）におけるＲ^Ｌ１及びＲ^Ｌ２と同じ意味を表し、Ｘ^Ｌ６１及びＸ^Ｌ６２はそれぞれ独立して水素原子又はフッ素原子を表す。）
　Ｒ^Ｌ６１及びＲ^Ｌ６２はそれぞれ独立して炭素原子数１～５のアルキル基又は炭素原子数２～５のアルケニル基が好ましく、Ｘ^Ｌ６１及びＸ^Ｌ６２のうち一方がフッ素原子他方が水素原子であることが好ましい。

　一般式（Ｌ－６）で表される化合物は単独で使用することもできるが、２以上の化合物を組み合わせて使用することもできる。組み合わせることができる化合物の種類に特に制限は無いが、低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率などの求められる性能に応じて適宜組み合わせて使用する。使用する化合物の種類は、例えば本発明の一つの実施形態としては１種類であり、２種類であり、３種類であり、４種類であり、５種類以上である。

　本発明の組成物の総量に対しての式（Ｌ－６）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、１％であり、２％であり、３％であり、５％であり、７％であり、１０％であり、１４％であり、１６％であり、２０％であり、２３％であり、２６％であり、３０％であり、３５％であり、４０％である。本発明の組成物の総量に対しての式（Ｌ－６）で表される化合物の好ましい含有量の上限値は、５０％であり、４０％であり、３５％であり、３０％であり、２０％であり、１５％であり、１０％であり、５％である。Δｎを大きくすることに重点を置く場合には含有量を多くした方が好ましく、低温での析出に重点を置いた場合には含有量は少ない方が好ましい。

　一般式（Ｌ－６）で表される化合物は、式（Ｌ－６．１）から式（Ｌ－６．９）で表される化合物であることが好ましい。

　組み合わせることができる化合物の種類に特に制限は無いが、これらの化合物の中から１種～３種類含有することが好ましく、１種～４種類含有することがさらに好ましい。また、選ぶ化合物の分子量分布が広いことも溶解性に有効であるため、例えば、式（Ｌ－６．１）又は（Ｌ－６．２）で表される化合物から１種類、式（Ｌ－６．４）又は（Ｌ－６．５）で表される化合物から１種類、式（Ｌ－６．６）又は式（Ｌ－６．７）で表される化合物から１種類、式（Ｌ－６．８）又は（Ｌ－６．９）で表される化合物から１種類の化合物を選び、これらを適宜組み合わせることが好ましい。その中でも、式（Ｌ－６．１）、式（Ｌ－６．３）式（Ｌ－６．４）、式（Ｌ－６．６）及び式（Ｌ－６．９）で表される化合物を含むことが好ましい。

　さらに、一般式（Ｌ－６）で表される化合物は、例えば式（Ｌ－６．１０）から式（Ｌ－６．１７）で表される化合物であることが好ましく、その中でも、式（Ｌ－６．１１）で表される化合物であることが好ましい。

　一般式（Ｌ－７）で表される化合物は下記の化合物である。

（式中、Ｒ^Ｌ７１及びＲ^Ｌ７２はそれぞれ独立して一般式（Ｌ）におけるＲ^Ｌ１及びＲ^Ｌ２と同じ意味を表し、Ａ^Ｌ７１及びＡ^Ｌ７２はそれぞれ独立して一般式（Ｌ）におけるＡ^Ｌ２及びＡ^Ｌ３と同じ意味を表すが、Ａ^Ｌ７１及びＡ^Ｌ７２上の水素原子はそれぞれ独立してフッ素原子によって置換されていてもよく、Ｚ^Ｌ７１は一般式（Ｌ）におけるＺ^Ｌ２と同じ意味を表し、Ｘ^Ｌ７１及びＸ^Ｌ７２はそれぞれ独立してフッ素原子又は水素原子を表す。）
　式中、Ｒ^Ｌ７１及びＲ^Ｌ７２はそれぞれ独立して炭素原子数１～５のアルキル基、炭素原子数２～５のアルケニル基又は炭素原子数１～４のアルコキシ基が好ましく、Ａ^Ｌ７１及びＡ^Ｌ７２はそれぞれ独立して１，４－シクロヘキシレン基又は１，４－フェニレン基が好ましく、Ａ^Ｌ７１及びＡ^Ｌ７２上の水素原子はそれぞれ独立してフッ素原子によって置換されていてもよく、Ｑ^Ｌ７１は単結合又はＣＯＯ－が好ましく、単結合が好ましく、Ｘ^Ｌ７１及びＸ^Ｌ７２は水素原子が好ましい。

　組み合わせることができる化合物の種類に特に制限は無いが、低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率などの求められる性能に応じて組み合わせる。使用する化合物の種類は、例えば本発明の一つの実施形態としては１種類であり、２種類であり、３種類であり、４種類である。

　本発明の組成物において、一般式（Ｌ－７）で表される化合物の含有量は、低温での溶解性、転移温度、電気的な信頼性、複屈折率、プロセス適合性、滴下痕、焼き付き、誘電率異方性などの求められる性能に応じて適宜調整する必要がある。

　本発明の組成物の総量に対しての式（Ｌ－７）で表される化合物の好ましい含有量の下限値は、１％であり、２％であり、３％であり、５％であり、７％であり、１０％であり、１４％であり、１６％であり、２０％である。本発明の組成物の総量に対しての式（Ｌ－７）で表される化合物の好ましい含有量の上限値は、３０％であり、２５％であり、２３％であり、２０％であり、１８％であり、１５％であり、１０％であり、５％である。

　本発明の組成物が高いＴｎｉの実施形態が望まれる場合は式（Ｌ－７）で表される化合物の含有量を多めにすることが好ましく、低粘度の実施形態が望まれる場合は含有量を少なめにすることが好ましい。

　さらに、一般式（Ｌ－７）で表される化合物は、式（Ｌ－７．１）から式（Ｌ－７．４）で表される化合物であることが好ましく、式（Ｌ－７．２）で表される化合物であることが好ましい。

　さらに、一般式（Ｌ－７）で表される化合物は、式（Ｌ－７．１１）から式（Ｌ－７．１３）で表される化合物であることが好ましく、式（Ｌ－７．１１）で表される化合物であることが好ましい。

　さらに、一般式（Ｌ－７）で表される化合物は、式（Ｌ－７．２１）から式（Ｌ－７．２３）で表される化合物である。式（Ｌ－７．２１）で表される化合物であることが好ましい。

　さらに、一般式（Ｌ－７）で表される化合物は、式（Ｌ－７．３１）から式（Ｌ－７．３４）で表される化合物であることが好ましく、式（Ｌ－７．３１）又は／及び式（Ｌ－７．３２）で表される化合物であることが好ましい。

　さらに、一般式（Ｌ－７）で表される化合物は、式（Ｌ－７．４１）から式（Ｌ－７．４４）で表される化合物であることが好ましく、式（Ｌ－７．４１）又は／及び式（Ｌ－７．４２）で表される化合物であることが好ましい。

　本発明の液晶組成物において、一般式（ａ）で表される化合物及び一般式（ｉ）で表される化合物の含有量は、組成物中に下限値として、０．５％以上含有することが好ましく、１％以上含有することが好ましく、３％以上含有することが好ましく、４％以上含有することが好ましく、５％以上含有することが好ましく、７％以上含有することが好ましく、１０％以上含有することが好ましく、１３％以上含有することが好ましく、１５％以上含有することが好ましく、１８％以上含有することが好ましく、２０％以上含有することが好ましく、２３％以上含有することが好ましく、２５％以上含有することが好ましく、２８％以上含有することが好ましく、３０％以上含有することが好ましく、３３％以上含有することが好ましく、３５％以上含有することが好ましく、３８％以上含有することが好ましく、４０％以上含有することが好ましい。また、上限値として、９０％以下含有することがこのましく、８０％以下含有することがこのましく、７０％以下含有することがこのましく、６０％以下含有することが好ましく、５５％以下含有することが好ましく、５０％以下含有することが好ましく、４０％以下含有することが好ましく、３８％以下含有することが好ましく、３５％以下含有することが好ましく、３３％以下含有することが好ましく、３０％以下含有することが好ましく、２８％以下含有することが好ましく、２５％以下含有することが好ましく、２３％以下含有することが好ましく、２０％以下含有することが好ましく、１８％以下含有することが好ましく、１５％以下含有することが好ましく、１０％以下含有することが好ましい。

　本発明の液晶組成物は、一般式（ａ）、一般式（ｉ）及び一般式（Ｎ－１）～一般式（Ｎ－３）で表される化合物を含有することが好ましく、組成物中に下限値として、５％以上含有することが好ましく、１０％以上含有することが好ましく、１３％以上含有することが好ましく、１５％以上含有することが好ましく、１８％以上含有することが好ましく、２０％以上含有することが好ましく、２３％以上含有することが好ましく、２５％以上含有することが好ましく、２８％以上含有することが好ましく、３０％以上含有することが好ましく、３３％以上含有することが好ましく、３５％以上含有することが好ましく、３８％以上含有することが好ましく、４０％以上含有することが好ましい。また、上限値として、９５％以下含有することが好ましく、９０％以下含有することが好ましく、８８％以下含有することが好ましく、８５％以下含有することが好ましく、８３％以下含有することが好ましく、８０％以下含有することが好ましく、７８％以下含有することが好ましく、７５％以下含有することが好ましく、７３％以下含有することが好ましく、７０％以下含有することが好ましく、６８％以下含有することが好ましく、６５％以下含有することが好ましく、６３％以下含有することが好ましく、６０％以下含有することが好ましく、５５％以下含有することが好ましく、５０％以下含有することが好ましく、４０％以下含有することが好ましい。

　本発明の液晶組成物は、一般式（ａ）、一般式（ｉ）及び一般式（Ｎ－ｉ）で表される化合物を含有することが好ましく、これらの化合物の合計の含有量は、組成物中に下限値として、５％以上含有することが好ましく、１０％以上含有することが好ましく、１３％以上含有することが好ましく、１５％以上含有することが好ましく、１８％以上含有することが好ましく、２０％以上含有することが好ましく、２３％以上含有することが好ましく、２５％以上含有することが好ましく、２８％以上含有することが好ましく、３０％以上含有することが好ましく、３３％以上含有することが好ましく、３５％以上含有することが好ましく、３８％以上含有することが好ましく、４０％以上含有することが好ましい。また、上限値として、　１００％以下含有することが好ましく、９９％以下含有することが好ましく、９５％以下含有することが好ましく、９０％以下含有することが好ましく、８５％以下含有することが好ましく、８０％以下含有することが好ましく、７５％以下含有することが好ましく、７０％以下含有することが好ましく、６５％以下含有することが好ましく、６０％以下含有することが好ましく、５５％以下含有することが好ましく、５０％以下含有することが好ましく、４０％以下含有することが好ましく、３８％以下含有することが好ましく、３５％以下含有することが好ましく、３３％以下含有することが好ましく、３０％以下含有することが好ましく、２８％以下含有することが好ましく、２５％以下含有することが好ましく、２３％以下含有することが好ましく、２０％以下含有することが好ましく、１８％以下含有することが好ましく、１５％以下含有することが好ましく、１０％以下含有することが好ましい。

　本発明の液晶組成物において、一般式（ａ）、一般式（ｉ）及び一般式（Ｌ）で表される化合物を含有することが好ましく、これらの化合物の含有量は、組成物中に下限値として、５％以上含有することが好ましく、１０％以上含有することが好ましく、１３％以上含有することが好ましく、１５％以上含有することが好ましく、１８％以上含有することが好ましく、２０％以上含有することが好ましく、２３％以上含有することが好ましく、２５％以上含有することが好ましく、２８％以上含有することが好ましく、３０％以上含有することが好ましく、３３％以上含有することが好ましく、３５％以上含有することが好ましく、３８％以上含有することが好ましく、４０％以上含有することが好ましい。また、上限値として、８０％以下含有することが好ましく、７８％以下含有することが好ましく、７５％以下含有することが好ましく、７３％以下含有することが好ましく、７０％以下含有することが好ましく、６８％以下含有することが好ましく、６５％以下含有することが好ましく、６３％以下含有することが好ましく、６０％以下含有することが好ましく、５５％以下含有することが好ましく、５０％以下含有することが好ましく、４０％以下含有することが好ましい。

　本発明の液晶組成物は、一般式（ａ）、一般式（ｉ）及び一般式（Ｌ－１）で表される化合物を含有することが好ましく、これらの化合物の合計の含有量は、組成物中に下限値として、５％（以下組成物中の％は質量％を表す。）以上含有することが好ましく、１０％以上含有することが好ましく、１３％以上含有することが好ましく、１５％以上含有することが好ましく、１８％以上含有することが好ましく、２０％以上含有することが好ましく、２３％以上含有することが好ましく、２５％以上含有することが好ましく、２８％以上含有することが好ましく、３０％以上含有することが好ましく、３３％以上含有することが好ましく、３５％以上含有することが好ましく、３８％以上含有することが好ましく、４０％以上含有することが好ましい。また、上限値として、８０％以下含有することが好ましく、７８％以下含有することが好ましく、７５％以下含有することが好ましく、７３％以下含有することが好ましく、７０％以下含有することが好ましく、６８％以下含有することが好ましく、６５％以下含有することが好ましく、６３％以下含有することが好ましく、６０％以下含有することが好ましく、５５％以下含有することが好ましく、５０％以下含有することが好ましく、４０％以下含有することが好ましい。

　本発明の液晶組成物において、一般式（ａ）、一般式（ｉ）、一般式（Ｎ－１）～一般式（Ｎ－３）及び一般式（Ｌ）で表される化合物の合計の含有量は、組成物中に下限値として、５％以上含有することが好ましく、８０％以上含有することが好ましく、８５％以上含有することが好ましく、８８％以上含有することが好ましく、９０％以上含有することが好ましく、９２％以上含有することが好ましく、９５％以上含有することが好ましく、９７％以上含有することが好ましく、９８％以上含有することが好ましく、９９％以上含有することが好ましく、実質的に他の化合物を含有しないことが好ましい。また、上限値として、９０％以下含有することが好ましく、９５％以下含有することが好ましく、９８％以下含有することが好ましく、９９％以下含有することが好ましく、実質的に他の化合物を含有しないことが好ましい。実質的にとは、製造時に不可避的に生成する不純物等の意図せず含有する化合物を除くという意味である。

　本発明の液晶組成物は、一般式（ａ）、一般式（ｉ）、一般式（Ｎ－１）及び一般式（Ｌ）で表される化合物の合計の含有量は、組成物中に下限値として、５％以上含有することが好ましく、８０％以上含有することが好ましく、８５％以上含有することが好ましく、８８％以上含有することが好ましく、９０％以上含有することが好ましく、９２％以上含有することが好ましく、９５％以上含有することが好ましく、９７％以上含有することが好ましく、９８％以上含有することが好ましく、９９％以上含有することが好ましく、実質的に他の化合物を含有しないことが好ましい。また、上限値として、９０％以下含有することが好ましく、９５％以下含有することが好ましく、９８％以下含有することが好ましく、９９％以下含有することが好ましく、実質的に他の化合物を含有しないことが好ましい。

　本発明の液晶組成物は、２０℃における屈折率異方性（Δｎ）が０．０８から０．１４であるが、０．０９から０．１３がより好ましく、０．０９から０．１２が特に好ましい。更に詳述すると、薄いセルギャップに対応する場合は０．１０から０．１３であることが好ましく、厚いセルギャップに対応する場合は０．０８から０．１０であることが好ましい。

　本発明の液晶組成物は、２０℃における粘度（η）が１０から３０ｍＰａ・ｓであるが、１０から２５ｍＰａ・ｓであることがより好ましく、１０から２２ｍＰａ・ｓであることが特に好ましい。

　本発明の液晶組成物は、２０℃における回転粘性（γ_１）が６０から１３０ｍＰａ・ｓであるが、６０から１１０ｍＰａ・ｓであることがより好ましく、６０から１００ｍＰａ・ｓであることが特に好ましい。

　本発明の液晶組成物は、ネマチック相－等方性液体相転移温度（Ｔ_ｎｉ）が６０℃から１２０℃であるが、７０℃から１００℃がより好ましく、７０℃から８５℃が特に好ましい。

　本発明の液晶組成物は、上述の化合物以外に、通常のネマチック液晶、スメクチック液晶、コレステリック液晶、酸化防止剤、紫外線吸収剤、赤外線吸収剤、重合性モノマー又は光安定剤等を含有してもよい。

　本発明の液晶組成物を用いた液晶表示素子は、基板に対して水平方向に発生する電界を利用する横電界型の表示素子である。以下、図１～７を参照にして、ＦＦＳ型及びＩＰＳ型の液晶表示素子の例を説明する。

　図１は、液晶表示素子の構成を模式的に示す図である。図１では、説明のために便宜上各構成要素を離間して記載している。本発明に係る液晶表示素子１０の構成は、図１に記載するように、対向に配置された第一の透明絶縁基板２と、第二の透明絶縁基板７との間に挟持された液晶組成物（または液晶層５）を有するＦＦＳモードの液晶表示素子であって、該液晶組成物として前記本発明の液晶組成物を用いたことに特徴を有するものである。第一の透明絶縁基板２は、液晶層５側の面に電極層３が形成されている。また、液晶層５と、第一の透明絶縁基板２及び第二の透明絶縁基板７のそれぞれの間に、液晶層５を構成する液晶組成物と直接当接してホモジニアス配向を誘起する一対の配向膜４を有し、該液晶組成物中の液晶分子は、電圧無印加時に前記基板２，７に対して略平行になるように配向されている。図１および図３に示すように、前記第一の基板２および前記第二の基板７は、一対の偏光板１，８により挟持されてもよい。さらに、図１では、前記第二の基板７と配向膜４との間にカラーフィルタ６が設けられている。

　すなわち、本発明に係る液晶表示素子１０は、第一の偏光板１と、第一の基板２と、薄膜トランジスタを含む電極層３と、配向膜４と、液晶組成物を含む液晶層５と、配向膜４と、カラーフィルタ６と、第二の基板７と、第二の偏光板８と、が順次積層された構成である。第一の基板２と第二の基板７はガラス又はプラスチックの如き柔軟性をもつ透明な材料を用いることができ、一方はシリコン等の不透明な材料でも良い。２枚の基板２、７は、周辺領域に配置されたエポキシ系熱硬化性組成物等のシール材及び封止材によって貼り合わされていて、その間には基板間距離を保持するために、例えば、ガラス粒子、プラスチック粒子、アルミナ粒子等の粒状スペーサーまたはフォトリソグラフィー法により形成された樹脂からなるスペーサー柱が配置されていてもよい。

　図２は、図１における基板２上に形成された電極層３のＩＩ線で囲まれた領域を拡大した平面図である。図３は、図２におけるＩＩＩ－ＩＩＩ線方向に図１に示す液晶表示素子を切断した断面図である。図２に示すように、第一の基板２の表面に形成されている薄膜トランジスタを含む電極層３は、走査信号を供給するための複数のゲートバスライン２６と表示信号を供給するための複数のデータバスライン２５とが、互いに交差してマトリクス状に配置されている。なお、図２には、一対のゲートバスライン２５及び一対のデータバスライン２４のみが示されている。

　複数のゲートバスライン２６と複数のデータバスライン２５とにより囲まれた領域により、液晶表示装置の単位画素が形成され、該単位画素内には、画素電極２１及び共通電極２２が形成されている。ゲートバスライン２６とデータバスライン２５が互いに交差している交差部近傍には、ソース電極２７、ドレイン電極２４およびゲート電極２８を含む薄膜トランジスタが設けられている。この薄膜トランジスタは、画素電極２１に表示信号を供給するスイッチ素子として、画素電極２１と連結している。また、ゲートバスライン２６と並行して、共通ライン２９が設けられる。この共通ライン２９は、共通電極２２に共通信号を供給するために、共通電極２２と連結している。

　薄膜トランジスタの構造の好適な一態様は、例えば、図３で示すように、基板２表面に形成されたゲート電極１１と、当該ゲート電極１１を覆い、且つ前記基板２の略全面を覆うように設けられたゲート絶縁層１２と、前記ゲート電極１１と対向するよう前記ゲート絶縁層１２の表面に形成された半導体層１３と、前記半導体層１７の表面の一部を覆うように設けられた保護膜１４と、前記保護層１４および前記半導体層１３の一方の側端部を覆い、かつ前記基板２表面に形成された前記ゲート絶縁層１２と接触するように設けられたドレイン電極１６と、前記保護膜１４および前記半導体層１３の他方の側端部を覆い、かつ前記基板２表面に形成された前記ゲート絶縁層１２と接触するように設けられたソース電極１７と、前記ドレイン電極１６および前記ソース電極１７を覆うように設けられた絶縁保護層１８と、を有している。ゲート電極１１の表面にゲート電極との段差を無くす等の理由により陽極酸化被膜（図示せず）を形成してもよい。

　前記半導体層１３には、アモルファスシリコン、多結晶ポリシリコンなどを用いることができるが、ＺｎＯ、ＩＧＺＯ（Ｉｎ－Ｇａ－Ｚｎ－Ｏ）、ＩＴＯ等の透明半導体膜を用いると、光吸収に起因する光キャリアの弊害を抑制でき、素子の開口率を増大する観点からも好ましい。

　さらに、ショットキー障壁の幅や高さを低減する目的で半導体層１３とドレイン電極１６またはソース電極１７との間にオーミック接触層１５を設けても良い。オーミック接触層には、ｎ型アモルファスシリコンやｎ型多結晶ポリシリコン等のリン等の不純物を高濃度に添加した材料を用いることができる。

　ゲートバスライン２６やデータバスライン２５、共通ライン２９は金属膜であることが好ましく、Ａｌ、Ｃｕ、Ａｕ、Ａｇ、Ｃｒ、Ｔａ、Ｔｉ、Ｍｏ、Ｗ、Ｎｉ又はその合金がより好ましく、Ａｌ又はその合金の配線を用いる場合が特に好ましい。また、絶縁保護層１８は、絶縁機能を有する層であり、窒化ケイ素、二酸化ケイ素、ケイ素酸窒化膜等で形成される。

　図２及び図３に示す実施の形態では、共通電極２２はゲート絶縁層１２上のほぼ全面に形成された平板状の電極であり、一方、画素電極２１は共通電極２２を覆う絶縁保護層１８上に形成された櫛形の電極である。すなわち、共通電極２２は画素電極２１よりも第一の基板２に近い位置に配置され、これらの電極は絶縁保護層１８を介して互いに重なりあって配置される。画素電極２１と共通電極２２は、例えば、ＩＴＯ（Ｉｎｄｉｕｍ　Ｔｉｎ　Ｏｘｉｄｅ）、ＩＺＯ（Ｉｎｄｉｕｍ　Ｚｉｎｃ　Ｏｘｉｄｅ）、ＩＺＴＯ（Ｉｎｄｉｕｍ　Ｚｉｎｃ　Ｔｉｎ　Ｏｘｉｄｅ）等の透明導電性材料により形成される。画素電極２１と共通電極２２が透明導電性材料により形成されるため、単位画素面積で開口される面積が大きくなり、開口率及び透過率が増加する。

　画素電極２１と共通電極２２とは、これらの電極間にフリンジ電界を形成するために、画素電極２１と共通電極２２との間の基板に水平方向の電極間距離：Ｒが、第一の基板２と第二の基板７との距離：Ｇより小さくなるように形成されている。ここで、電極間距離：Ｒは各電極間の基板に水平方向の距離を表す。図３には、平板状の共通電極２２と櫛形の画素電極２１とが重なり合っているため、電極間距離：Ｒ＝０となる例が示されており、電極間距離：Ｒが第一の基板２と第二の基板７との距離（すなわち、セルギャップ）：Ｇよりも小さくなるため、フリンジの電界Ｅが形成される。したがって、ＦＦＳ型の液晶表示素子は、画素電極２１の櫛形を形成するラインに対して垂直な方向に形成される水平方向の電界（横電界）と、放物線状の電界を利用することができる。画素電極２１の櫛状部分の電極幅：ｌ、及び、画素電極２１の櫛状部分の間隙の幅：ｍは、発生する電界により液晶層５内の液晶分子が全て駆動され得る程度の幅に形成することが好ましい。

　カラーフィルタ６は、光の漏れを防止する観点で、薄膜トランジスタおよびストレイジキャパシタ２３に対応する部分にブラックマトリックス（図示せず）を形成することが好ましい。

　電極層３、及び、カラーフィルタ６上には、液晶層５を構成する液晶組成物と直接当接してホモジニアス配向を誘起する一対の配向膜４が設けられている。配向膜４は、例えば、ラビング処理されたポリイミド膜であり、各配向膜の配向方向は平行である。ここで、図４を用いて、本実施形態における配向膜４のラビング方向（液晶組成物の配向方向）について説明する。図４は、配向膜４により誘起された液晶の配向方向を模式的に示す図である。本発明においては、負の誘電率異方性を有する液晶組成物が用いられる。したがって、画素電極２１の櫛形を形成するラインに対して垂直な方向（水平電界が形成される方向）をｘ軸としたときに、該ｘ軸と液晶分子３０の長軸方向とのなす角θが、概ね０～４５°となるように配向されることが好ましい。図３に示す例では、ｘ軸と液晶分子３０の長軸方向とのなす角θが、概ね０°の例が示されている。このように液晶の配向方向を誘起するのは、液晶表示装置の最大透過率を高めるためである。

　また、偏光板１及び偏光板８は、各偏光板の偏光軸を調整して視野角やコントラストが良好になるように調整することができ、それらの透過軸がノーマリブラックモードで作動するように、互いに直行する透過軸を有することが好ましい。特に、偏光板１及び偏光板８のうちいずれかは、液晶分子３０の配向方向と平行な透過軸を有するように配置することが好ましい。また、コントラストが最大になるように液晶の屈折率異方性Δｎとセル厚ｄとの積を調整することが好ましい。更に、視野角を広げるための位相差フィルムも使用することもできる。

　上記のような構成のＦＦＳ型の液晶表示装置１０は、薄膜ＴＦＴを介して画素電極２１に画像信号（電圧）を供給することで、画素電極２１と共通電極２２との間にフリンジ電界を生じさせ、この電界によって液晶を駆動する。すなわち、電圧を印加しない状態では、液晶分子３０は、その長軸方向が、配向膜４の配向方向と平行になるように配置している。電圧を印加すると、画素電極２１と共通電極２２との間に放物線形の電界の等電位線が画素電極２１と共通電極２２の上部にまで形成され、液晶層５内の液晶分子３０は、形成された電界に沿って液晶層５内を回転する。本発明では、負の誘電率異方性を有する液晶分子３０を用いるため、液晶分子３０の長軸方向が、発生した電界方向に直行するように回転する。画素電極２１の近くに位置する液晶分子３０はフリンジ電界の影響を受けやすいものの、負の誘電率異方性を有する液晶分子３０は分極方向が分子の短軸にあることから、その長軸方向が配向膜４に対して直行する方向に回転することはなく、液晶層５内の全ての液晶分子３０の長軸方向は、配向膜４に対して平行方向を維持できる。したがって、正の誘電率異方性を有する液晶分子３０を用いたＦＦＳ型の液晶表示素子に比べて、優れた透過率特性を得ることができる。

　図１～図４を用いて説明したＦＦＳ型の液晶表示素子は一例であって、本発明の技術的思想から逸脱しない限りにおいて、他の様々な形態で実施することが可能である。例えば、図５は、図１における基板２上に形成された電極層３のＩＩ線で囲まれた領域を拡大した平面図の他の例である。図５に示すように、画素電極２１がスリットを有する構成としてもよい。また、スリットのパターンを、ゲートバスライン２６又はデータバスライン２５に対して傾斜角を持つようにして形成してもよい。

　また、図６は、図２におけるＩＩＩ－ＩＩＩ線方向に図１に示す液晶表示素子を切断した断面図の他の例である。図６に示す例では、櫛形あるいはスリットを有する共通電極２２を用いており、画素電極２１と共通電極２２との電極間距離はＲ＝αとなる。さらに、図３では共通電極２２がゲート絶縁膜１２上に形成されている例が示されていたが、図６に示されるように、共通電極２２を第一の基板２上に形成して、ゲート絶縁膜１２を介して画素電極２１を設けるようにしてもよい。画素電極２１の電極幅：ｌ、共通電極２２の電極幅：ｎ、及び、電極間距離：Ｒは、発生する電界により液晶層５内の液晶分子が全て駆動され得る程度の幅に適宜調整することが好ましい。

　ＩＰＳ型の液晶表示素子は画素電極と共通電極との間の基板に水平方向の電極間距離：Ｒが、対向する第一の基板と第二の基板との距離：Ｇより小さくなるように形成される。従って、ＩＰＳ型の液晶表示素子は、図６のように画素電極が共通電極より液晶層側に設けられてもよいし、また、図７のように画素電極４１及び共通電極４２が同一面上に離間して噛合した状態で設けられていてもよい。

　また、ＦＦＳモードの液晶表示素子は、第一の基板２と第二の基板７との間に液晶層５を注入する際、例えば、真空注入法又は滴下注入（ＯＤＦ：Ｏｎｅ　Ｄｒｏｐ　Ｆｉｌｌ）法等の方法が行われるが、本願発明においては、ＯＤＦ法において、液晶組成物を基板に滴下した際の滴下痕の発生を抑えることができる。なお、滴下痕とは、黒表示した場合に液晶組成物を滴下した痕が白く浮かび上がる現象と定義する。

　滴下痕の発生は、注入される液晶材料に大きな影響を受けるものであるが、さらに、表示素子の構成によってもその影響は避けられない。ＦＦＳモードの液晶表示素子においては、表示素子中に形成される薄膜トランジスター、及び、櫛形やスリットを有する画素電極２１等は、薄い配向膜４、あるいは薄い配向膜４と薄い絶縁保護層１８等しか液晶組成物を隔てる部材が無いことから、イオン性物質を遮断しきれない可能性が高く、電極を構成する金属材料と液晶組成物の相互作用による滴下痕の発生を避けることができなかったが、ＦＦＳ型の液晶表示素子において本願発明の液晶組成物を組み合わせて用いることにより、滴下痕の発生が抑えられる。

　また、ＯＤＦ法による液晶表示素子の製造工程においては、液晶表示素子のサイズに応じて最適な液晶注入量を滴下する必要があるが、本願発明の液晶組成物は、例えば、液晶滴下時に生じる滴下装置内の急激な圧力変化や衝撃に対する影響が少なく、長時間にわたって安定的に液晶を滴下し続けることが可能であるため、液晶表示素子の歩留まりを高く保持することもできる。特に、最近流行しているスマートフォンに多用される小型液晶表示素子は、最適な液晶注入量が少ないために最適値からのずれを一定範囲内に制御すること自体が難しいが、本願発明の液晶組成物を用いることにより、小型液晶表示素子においても安定した液晶材料の吐出量を実現できる。

　本発明の液晶組成物を、ＦＦＳ型、ＩＰＳ型のような横電界型の表示素子に適用すると、ちらつき（フリッカー）が低減し、液晶表示素子の透過率が向上する。これは、Δεが負の液晶組成物を横電界型の液晶表示素子に適用する場合、ホモジニアス配向を誘起する配向膜等を用いて、液晶分子が基板面に対して平行になるように配向させるが、当該液晶組成物を用いると、電圧印加時に起こる、フレクソ分極による液晶分子の配向の変化が少なくなるためであると考えられる。すなわち、本発明の液晶組成物を用いると、フレクソ分極による液晶分子の配向の変化が少なり、その結果、ちらつき（フリッカー）が低減し、また、透過率が向上する。

　以下に実施例を挙げて本発明を更に詳述するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。また、以下の実施例及び比較例の組成物における「％」は『質量％』を意味する。
実施例において化合物の記載について以下の略号を用いる。なお、ｎは自然数を表す。
（側鎖）
　－ｎ　　　　－Ｃ_ｎＨ_２ｎ＋１　炭素原子数ｎの直鎖状のアルキル基
　ｎ－　　　　Ｃ_ｎＨ_２ｎ＋１－　炭素原子数ｎの直鎖状のアルキル基
　－Ｏｎ　　　－ＯＣ_ｎＨ_２ｎ＋１　炭素原子数ｎの直鎖状のアルコキシル基
ｎＯ－　　　Ｃ_ｎＨ_２ｎ＋１Ｏ－　炭素原子数ｎの直鎖状のアルコキシル基
　－Ｖ　　　　－ＣＨ＝ＣＨ_２
　Ｖ－　　　　ＣＨ_２＝ＣＨ－
　－Ｖ１　　　－ＣＨ＝ＣＨ－ＣＨ_３
　１Ｖ－　　　ＣＨ_３－ＣＨ＝ＣＨ－
　－２Ｖ　　　－ＣＨ_２－ＣＨ_２－ＣＨ＝ＣＨ_３
Ｖ２－　　　ＣＨ_２＝ＣＨ－ＣＨ_２－ＣＨ_２－
－２Ｖ１　　－ＣＨ_２－ＣＨ_２－ＣＨ＝ＣＨ－ＣＨ_３
１Ｖ２－　　ＣＨ_３－ＣＨ＝ＣＨ－ＣＨ_２－ＣＨ_２
（連結基）
－ｎ－　　　　　－Ｃ_ｎＨ_２ｎ－
－ｎＯ－　　　　－Ｃ_ｎＨ_２ｎ－Ｏ－
－Ｏｎ－　　　　－Ｏ－Ｃ_ｎＨ_２ｎ－
－ＣＯＯ－　　　－Ｃ（＝Ｏ）－Ｏ－
－ＯＣＯ－　　　－Ｏ－Ｃ（＝Ｏ）－
－ＣＦ２Ｏ－　　－ＣＦ_２－Ｏ－
－ＯＣＦ２－　　－Ｏ－ＣＦ_２－
（環構造）

　実施例中、測定した特性は以下の通りである。

　Ｔ_ｎｉ　：ネマチック相－等方性液体相転移温度（℃）
　Δｎ　：２０℃における屈折率異方性
　Δε　：２０℃における誘電率異方性
　最高透過率：液晶表示素子における透過率は、液晶組成物注入前の素子の透過率を１００％として、液晶組成物注入後の素子の透過率を測定した際の値である。またΔｎが大きく異なる組成物の場合、セル厚を調整し、Δｎｄがほぼ同じになるように調整した。

　ちらつき（フリッカ）評価：FFS型の表示素子の場合、印加電圧は、６V、周波数６０Ｈｚの矩形波を印加し、またIPS型の表示素子の場合、印加電圧は、４０V、周波数６０Ｈｚの矩形波を印加して、電圧印加時の透過光量の変化をフォトマルで受光し、フォトマルの出力電圧をアンプを介して、オシロスコープに入力した。オシロスコープにより透過光量の変化を測定した。

　印加波形の1/2フレーム間における透過率の変化を、1/2フレーム間の最大透過率で除し、パーセントで表した値をフリッカー率とした。

　◎：フリッカ率　１．５％未満（非常に良好）
　○：フリッカ率　１．５～２．５％（許容できるレベル）
　△：フリッカ率　２．５～５％（許容できないレベル）
　×：フリッカ率　５以上（かなり劣悪）
　
　焼き付き評価：液晶表示素子の焼き付き評価は、表示エリア内に所定の固定パターンを１０００時間表示させた後に、全画面均一な表示を行ったときの固定パターンの残像のレベルを目視にて以下の４段階評価で行った。

　◎残像無し
　○残像ごく僅かに有るも許容できるレベル
　△残像有り許容できないレベル
　×残像有りかなり劣悪
　滴下痕：液晶表示装置の滴下痕の評価は、全面黒表示した場合における白く浮かび上がる滴下痕を目視にて以下の４段階評価で行った。

　◎残像無し
　○残像ごく僅かに有るも許容できるレベル
　△残像有り許容できないレベル
　×残像有りかなり劣悪
（実施例１～３及び比較例１～３）
　以下の表１及び表２に示す実施例１～１０、比較例１～３の液晶組成物を調製し、その物性値を測定した。液晶組成物の構成とその物性値の結果は表１のとおりであった。なお、表中の「（ｉ）／〔（Ｎ）＋（ｉ）〕」は、分子内に

で表される基を１個又は２個以上有する化合物の総量（〔（Ｎ）＋（ｉ）〕）に対する、一般式（ｉ）で表される化合物の割合を示す。

　また、各液晶組成物を、図１～図４に示すＦＦＳ型の液晶表示素子用パネルに注入し、ＦＦＳ型の液晶表示素子を作製し、最高透過率、ちらつき、焼き付き評価及び滴下痕評価を行った。

　実施例１～１１に示すように、本発明の液晶表示素子は、Ｔ_ｎｉが小さく、Δｎ及びΔεが十分に大きい値を示す液晶組成物を用いて、ちらつきが抑えられ、優れた最高透過率を有し、また、焼き付き及び滴下痕の発生が抑えることができ、優れた表示特性を有する液晶表示素子を得られた。
（実施例１２～１４及び比較例４）
　以下の表３に示す実施例１１～１３及び比較例４の液晶組成物を調製し、各液晶組成物を、図１～図４に示すＦＦＳ型の液晶表示素子用パネルに注入し、ＦＦＳ型の液晶表示素子を作製し、最高透過率、ちらつき、焼き付き評価及び滴下痕評価を行った。

　実施例１２～１４に示すように、本発明の液晶表示素子は、ちらつきが抑えられ、優れた最高透過率を有し、また、焼き付き及び滴下痕の発生が抑えることができ、優れた表示特性を有する液晶表示素子を得られた。
（実施例１５～１６，及び比較例５）
実施例２、実施例３、比較例１で用いた液晶組成物をラインアンドスペースが5/5μmのIPSセルに注入し、同様に評価を行った。

　実施例１５、１６に示すように、本発明の液晶表示素子は、ちらつきが抑えられ、優れた最高透過率を有し、また、焼き付き及び滴下痕の発生が抑えることができ、優れた表示特性を有する液晶表示素子を得られた。

１，８　偏光板
２　第一の基板
３　電極層
４　配向膜
５　液晶層
６　カラーフィルタ
７　第二の基板
１１　ゲート電極
１２　ゲート絶縁膜
１３　半導体層
１４　絶縁層
１５　オーミック接触層
１６　ドレイン電極
１７　ソース電極
１８　絶縁保護層
２１　画素電極
２２　共通電極
２３　ストレイジキャパシタ
２５　データバスライン
２７　ソースバスライン
２９　共通ライン

Claims

対向に配置された第一の基板および第二の基板と、
前記第一の基板および第二の基板の間に挟持された液晶組成物を含有する液晶層と、
前記第一の基板上に設けられる第一の電極と、
前記第一の基板上に設けられ、前記第一の電極との間に電界を生じさせる第二の電極と、を有し、
前記液晶組成物が、
　一般式（ａ）

（式中、Ｒ^ａ１及びＲ^ａ２はそれぞれ独立して炭素原子数１～１０のアルキル基又は炭素原子数２～１０のアルケニル基を表し、該基中に存在する１個の－ＣＨ_２－又は隣接していない２個以上の－ＣＨ_２－はそれぞれ独立して－Ｏ－又は－Ｓ－に置換されてもよく、また、該基中に存在する１個又は２個以上の水素原子はそれぞれ独立してフッ素原子又は塩素原子に置換されてもよく、
Ｍ^ａ１及びＭ^ａ２はそれぞれ独立して
（ａ）　１，４－シクロヘキシレン基（この基中に存在する１個の－ＣＨ_２－又は隣接していない２個以上の－ＣＨ_２－は－Ｏ－に置き換えられてもよい。）、
（ｂ）　１，４－フェニレン基（この基中に存在する１個の－ＣＨ＝又は隣接していない２個以上の－ＣＨ＝は－Ｎ＝に置き換えられてもよい。）及び
（ｃ）　ナフタレン－２，６－ジイル基（この基中に存在する１個の－ＣＨ＝又は隣接していない２個以上の－ＣＨ＝は－Ｎ＝に置き換えられてもよい。）
からなる群より選ばれる基を表し、上記の基（ａ）、基（ｂ）及び基（ｃ）はそれぞれ独立してシアノ基、フッ素原子又は塩素原子で置換されていてもよく、
Ｚ^ａ１及びＺ^ａ２はそれぞれ独立して単結合、－ＣＨ＝ＣＨ－、－Ｃ≡Ｃ－、－ＣＨ_２ＣＨ_２－、－（ＣＨ_２）_４－、－ＣＯＯ－、－ＯＣＯ－、－ＯＣＨ_２－、－ＣＨ_２Ｏ－、－ＯＣＦ_２－又は－ＣＦ_２Ｏ－を表すが、１個又は２個以上のＺ^ａ１は－ＣＨ_２ＣＨ_２－を表し、
ｍ^ａ１は１、２又は３を表し、ｍ^ａ２は０、１又は２を表し、ｍ^ａ１＋ｍ^ａ２は１、２又は３であり、Ｍ^ａ１及びＺ^ａ１が複数存在する場合は、それらは同一であっても異なっていてもよく、Ｍ^ａ２及びＺ^ａ２が複数存在する場合は、それらは同一であっても異なっていてもよい。）
で表される化合物を１種又は２種以上と、
一般式（ｉ）

（式中、Ｒ^ｉ１及びＲ^ｉ２はそれぞれ独立して炭素原子数１～１０のアルキル基又は炭素原子数２～１０のアルケニル基を表し、該基中の１つ又は２つ以上の－ＣＨ_２－又は隣接していない２個以上の－ＣＨ_２－はそれぞれ独立して－Ｏ－又は－Ｓ－に置換されてもよく、また、該基中に存在する１個又は２個以上の水素原子はそれぞれ独立してフッ素原子又は塩素原子に置換されてもよく、
Ａ^ｉ１はそれぞれ独立して
（ａ）　１，４－シクロヘキシレン基（この基中に存在する１個の－ＣＨ_２－又は隣接していない２個以上の－ＣＨ_２－は－Ｏ－に置き換えられてもよい。）
（ｂ）　１，４－フェニレン基（この基中に存在する１個の－ＣＨ＝又は隣接していない２個以上の－ＣＨ＝は－Ｎ＝に置き換えられてもよい。）及び
（ｃ）　ナフタレン－２，６－ジイル基（この基中に存在する１個の－ＣＨ＝又は隣接していない２個以上の－ＣＨ＝は－Ｎ＝に置き換えられてもよい。）
からなる群より選ばれる基を表し、上記の基（ａ）、基（ｂ）及び基（ｃ）はそれぞれ独立してシアノ基、フッ素原子又は塩素原子で置換されていてもよく、
Ｚ^ｉ１は－ＯＣＨ_２－、－ＣＨ_２Ｏ－、－ＯＣＦ_２－又は－ＣＦ_２Ｏ－を表し、
Ｚ^ｉ２は単結合、－ＯＣＨ_２－、－ＣＨ_２Ｏ－、－ＯＣＦ_２－又は－ＣＦ_２Ｏ－を表すが、Ｒ^ｉ１と直接結合するＺ^ｉ２は単結合を表し、
ｍ^ｉ１は１～３の整数を表し、Ａ^ｉ１及びＺ^ｉ１が複数存在する場合は、それらは同一であっても異なっていてもよい。ただし、一般式（ｉ）において一般式（ａ）で表される化合物は除く。）
で表される化合物を１種又は２種以上含有し、
分子内に

で表される基を１個又は２個以上有する化合物の液晶組成物中の総量のうち、一般式（ｉ）で表される化合物の含有量の総量が、０．１～４０質量％である液晶表示素子。
前記液晶組成物が、更に、一般式（Ｎ－１）～一般式（Ｎ－３）

（式中、Ｒ^Ｎ１１、Ｒ^Ｎ１２、Ｒ^Ｎ２１、Ｒ^Ｎ２２、Ｒ^Ｎ３１及びＲ^Ｎ３２はそれぞれ独立して炭素原子数１～８のアルキル基を表し、該アルキル基中の１個又は非隣接の２個以上の－ＣＨ_２－はそれぞれ独立して－ＣＨ＝ＣＨ－、－Ｃ≡Ｃ－、－Ｏ－、－ＣＯ－、－ＣＯＯ－又は－ＯＣＯ－によって置換されていてもよく、
　Ａ^Ｎ１１、Ａ^Ｎ１２、Ａ^Ｎ２１、Ａ^Ｎ２２、Ａ^Ｎ３１及びＡ^Ｎ３２はそれぞれ独立して
（ａ）　１，４－シクロヘキシレン基（この基中に存在する１個の－ＣＨ_２－又は隣接していない２個以上の－ＣＨ_２－は－Ｏ－に置き換えられてもよい。）
（ｂ）　１，４－フェニレン基（この基中に存在する１個の－ＣＨ＝又は隣接していない２個以上の－ＣＨ＝は－Ｎ＝に置き換えられてもよい。）
（ｃ）　１，４－シクロヘキセニル基（この基中に存在する１個の－ＣＨ_２－又は隣接していない２個以上の－ＣＨ_２－は－Ｏ－に置き換えられてもよい。）及び
（ｄ）　ナフタレン－２，６－ジイル基、１，２，３，４－テトラヒドロナフタレン－２，６－ジイル基又はデカヒドロナフタレン－２，６－ジイル基（ナフタレン－２，６－ジイル基又は１，２，３，４－テトラヒドロナフタレン－２，６－ジイル基中に存在する１個の－ＣＨ＝又は隣接していない２個以上の－ＣＨ＝は－Ｎ＝に置き換えられても良い。）
からなる群より選ばれる基を表し、上記の基（ａ）、基（ｂ）及び基（ｃ）はそれぞれ独立してシアノ基、フッ素原子又は塩素原子で置換されていても良く、
　Ｚ^Ｎ１１及びＺ^Ｎ１２はそれぞれ独立して単結合、－（ＣＨ_２）_４－、－ＯＣＨ_２－、－ＣＨ_２Ｏ－、－ＣＯＯ－、－ＯＣＯ－、－ＯＣＦ_２－、－ＣＦ_２Ｏ－、－ＣＨ＝Ｎ－Ｎ＝ＣＨ－、－ＣＨ＝ＣＨ－、－ＣＦ＝ＣＦ－又は－Ｃ≡Ｃ－を表し、
　Ｚ^Ｎ１１、Ｚ^Ｎ１２、Ｚ^Ｎ２１、Ｚ^Ｎ２２、Ｚ^Ｎ３１及びＺ^Ｎ３２はそれぞれ独立して単結合、－ＣＨ_２ＣＨ_２－、－（ＣＨ_２）_４－、－ＯＣＨ_２－、－ＣＨ_２Ｏ－、－ＣＯＯ－、－ＯＣＯ－、－ＯＣＦ_２－、－ＣＦ_２Ｏ－、－ＣＨ＝Ｎ－Ｎ＝ＣＨ－、－ＣＨ＝ＣＨ－、－ＣＦ＝ＣＦ－又は－Ｃ≡Ｃ－を表し、
　Ｘ^Ｎ２１は水素原子又はフッ素原子を表し、
　Ｔ^Ｎ３１は－ＣＨ_２－又は酸素原子を表し、
　ｎ^Ｎ１１、ｎ^Ｎ１２、ｎ^Ｎ２１、ｎ^Ｎ２２、ｎ^Ｎ３１及びｎ^Ｎ３２はそれぞれ独立して０～３の整数を表すが、ｎ^Ｎ１１＋ｎ^Ｎ１２、ｎ^Ｎ２１＋ｎ^Ｎ２２及びｎ^Ｎ３１＋ｎ^Ｎ３２はそれぞれ独立して１、２又は３であり、Ａ^Ｎ１１～Ａ^Ｎ３２、Ｚ^Ｎ１１～Ｚ^Ｎ３２が複数存在する場合は、それらは同一であっても異なっていても良い。ただし、一般式（Ｎ－１）及び一般式（Ｎ－２）において、一般式（ａ）で表される化合物は除き、また、一般式（Ｎ－２）及び一般式（Ｎ－３）において一般式（Ｎ－１）で表される化合物は除き、更に一般式（Ｎ－３）において一般式（Ｎ－１）で表される化合物は除く。）
で表される化合物群から選ばれる化合物を１種又は２種以上含有する請求項１に記載の液晶表示素子。
前記液晶組成物が、更に、一般式（Ｌ）

（式中、Ｒ^Ｌ１及びＲ^Ｌ２はそれぞれ独立して炭素原子数１～１０のアルキル基を表し、該アルキル基中の１個又は非隣接の２個以上の－ＣＨ_２－はそれぞれ独立して－ＣＨ＝ＣＨ－、－Ｃ≡Ｃ－、－Ｏ－、－ＣＯ－、－ＣＯＯ－又は－ＯＣＯ－によって置換されていてもよく、
　ｎ^Ｌ１は０、１、２又は３を表し、
　Ａ^Ｌ１、Ａ^Ｌ２及びＡ^Ｌ３はそれぞれ独立して
（ａ）　１，４－シクロヘキシレン基（この基中に存在する１個の－ＣＨ_２－又は隣接していない２個以上の－ＣＨ_２－は－Ｏ－に置き換えられてもよい。）、
（ｂ）　１，４－フェニレン基（この基中に存在する１個の－ＣＨ＝又は隣接していない２個以上の－ＣＨ＝は－Ｎ＝に置き換えられてもよい。）及び
（ｃ）　ナフタレン－２，６－ジイル基、１，２，３，４－テトラヒドロナフタレン－２，６－ジイル基又はデカヒドロナフタレン－２，６－ジイル基（ナフタレン－２，６－ジイル基又は１，２，３，４－テトラヒドロナフタレン－２，６－ジイル基中に存在する１個の－ＣＨ＝又は隣接していない２個以上の－ＣＨ＝は－Ｎ＝に置き換えられてもよい。）
からなる群より選ばれる基を表し、上記の基（ａ）、基（ｂ）及び基（ｃ）はそれぞれ独立してシアノ基、フッ素原子又は塩素原子で置換されていてもよく、
　Ｚ^Ｌ１及びＺ^Ｌ２はそれぞれ独立して単結合、－ＣＨ_２ＣＨ_２－、－（ＣＨ_２）_４－、－ＯＣＨ_２－、－ＣＨ_２Ｏ－、－ＣＯＯ－、－ＯＣＯ－、－ＯＣＦ_２－、－ＣＦ_２Ｏ－、－ＣＨ＝Ｎ－Ｎ＝ＣＨ－、－ＣＨ＝ＣＨ－、－ＣＦ＝ＣＦ－又は－Ｃ≡Ｃ－を表し、
　Ａ^Ｌ２又はＺ^Ｌ３が複数存在する場合は、それらは同一であっても異なっていてもよい。ただし、一般式（Ｌ）において、一般式（ａ）、一般式（ｉ）、一般式（Ｎ－１）、一般式（Ｎ－２）及び一般式（Ｎ－３）で表される化合物は除く。）
で表される化合物を１種又は２種以上含有する請求項１又は２に記載の液晶表示素子。
一般式（ａ）で表される化合物の含有量が液晶組成物において１０質量％から８０質量％である請求項１から３のいずれか一項に記載の液晶表示素子。
一般式（Ｎ－１）～一般式（Ｎ－３）で表される化合物の含有量の総量が液晶組成物において５０質量％以下である請求項１から３のいずれか一項に記載の液晶表示素子。
一般式（Ｌ）で表される化合物の含有量が液晶組成物において３質量％から５０質量％である請求項１から５のいずれか一項に記載の液晶表示素子。
ＦＦＳモード用の請求項１から６のいずれか一項に記載の液晶表示素子。
ＩＰＳモード用の請求項１から６のいずれか一項に記載の液晶表示素子。請求項１から６のいずれか一項に記載の液晶表示素子。
請求項１から８のいずれか一項に記載の液晶組成物。