WO2014201867A1 - 用于检测接触效果的探针模组 - Google Patents

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宋涛
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    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Definitions

  • the present invention relates to the field of liquid crystal display manufacturing technology, and in particular, to a probe module for detecting a contact effect in a liquid crystal alignment process.
  • LCDs liquid crystal displays
  • UV Curing is an important process for aligning liquid crystals. This method is mainly used to complete the liquid crystal alignment by the combination of UV and electric field after the liquid crystal panel is filled with liquid crystal.
  • the current electric field source is to apply an external voltage to the liquid crystal through the external test circuit of the liquid crystal panel through a set of probe modules. Referring to FIG. 1 and FIG. 2, as shown in FIG. 1, the probe module 12 is in contact with the glass substrate 11, and an external voltage is applied to the liquid crystal through the external connection line 13 connected to the probe module 12, so that the liquid crystal is generated. electric field.
  • the probe module 12 (shown in FIG. 5) includes only one retractable probe and a signal line 51.
  • the retractable probe includes a probe body 54 and a probe cover 53 that is sleeved outside the probe body 54 and An elastic member 52 that is disposed inside the probe cover 53 to allow the probe body 54 to telescopically move.
  • the current monitoring device 42 in the device detects the current through the probe line 41. If the magnitude of the monitored current is not within the set range, the alarm 43 in the device automatically alarms.
  • the monitored current value is too large, it can be basically confirmed that the probe is in good contact, which is caused by an abnormally large current due to other reasons such as internal short circuit of the liquid crystal panel.
  • the contact current may cause the current to be too small. It may also be that the internal line of the liquid crystal panel is broken, or the partial breakage causes the resistance to increase and the current becomes small, so that it is impossible to quickly confirm whether it is due to the probe contact problem. The exception is caused, and the abnormal processing of the device becomes complicated and takes a long time.
  • One of the technical problems to be solved by the present invention is to provide a probe module for detecting a contact effect, which can promptly and promptly confirm a probe and a contact surface thereof during liquid crystal alignment.
  • the contact effect reduces the complexity and consumption of device anomalies.
  • the present invention provides a probe module for detecting a contact effect, which is used for detecting a contact effect between itself and a test circuit external to a substrate of a liquid crystal panel in a liquid crystal alignment process, including: at least two a retractable probe insulated from each other; a resistance monitoring device electrically connected to the at least two mutually retractable retractable probes, wherein the at least two retractable probes insulated from each other are monitored The electrical resistance between the two at least two mutually insulated telescopic probes is in contact with the contact surface.
  • each of the retractable probes includes a probe body, a probe cover that fits over the probe body, and an elastic member that is disposed inside the probe cover to retractably move the probe body.
  • a portion of the gap between each adjacent retractable probe is provided with an insulating layer, and the outer peripheral wall of the probe sleeve and the probe of each of the retractable probes is provided with an insulating coating.
  • the distance between each adjacent retractable probe is in the range of 0.1 mm - 2 mm. In one embodiment, when the resistance value measured by the resistance monitoring device is within a first set range, determining that the at least two retractable probes insulated from each other are not in contact with the contact surface; When the resistance value of the monitoring device is within the second set range, it is determined that the at least two retractable probes insulated from each other are in contact with the contact surface.
  • an alarm is also provided that is electrically coupled to the resistance monitoring device to issue an alarm when the resistance value measured by the resistance monitoring device is within a first set range.
  • the alarm sounds an alarm by sound or light.
  • the probe module of the present invention has multiple contact points with the contact target, and the plurality of contact points are independent of each other. Therefore, by using the resistance monitoring device of the probe module, the contact between the probe and the contact target can be determined in time according to the resistance value between the plurality of probes obtained by the traceability. Moreover, it is not necessary for the personnel to check the cause of the abnormality, so that it is much simpler to find and solve the abnormal situation, and the time for performing the cause search processing due to the abnormality of the monitored current during the existing liquid crystal alignment process is eliminated.
  • Fig. 2 is a front view showing the liquid crystal alignment by means of ultraviolet curing (UV Curmg) in the prior art
  • Fig. 2 is a bottom view showing the liquid crystal alignment by means of UV Curing in the prior art
  • (b) are schematic diagrams of probe contact anomalies during liquid crystal alignment using UV Curing;
  • FIG. 4 is a schematic structural diagram of a monitoring device of a monitoring probe module in the prior art
  • FIG. 5 is a schematic structural view of a probe module in the prior art
  • FIG. 6 is a schematic structural view of a probe module according to an embodiment of the invention. DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
  • FIG. 6 is a schematic structural view of a probe module according to an embodiment of the invention.
  • the probe module can independently monitor the contact effect between the probe itself and the external test circuit of the substrate, and determine the contact effect.
  • the probe module includes two retractable probes insulated from each other, an external power source electrically connected to the retractable probe through the signal line 51, and another retractable probe.
  • the connected resistance monitoring device 63 is electrically connected to an external power source and an alarm device 43 electrically connected to the resistance monitoring device 63.
  • the probe module is utilized. Contacting the substrate to test the circuit ⁇ , the same contact surface can have two contact points, and the two contact points are independent of each other.
  • Each of the retractable probes includes a probe body 54, a probe cover 53 that is sleeved outside the probe body 54, and an elastic member 52 that is disposed inside the probe cover 53 to telescopically move the probe body 54.
  • the two telescopic probes are insulated from each other by: providing an insulating layer 6 in a portion of the gap between the two telescopic probes, and The probe sleeve 53 of the telescopic probe is coated with a corresponding insulating coating 62 adjacent to the peripheral wall and the adjacent peripheral wall of the probe body 54.
  • the present invention is not limited to the above-described insulating arrangement, and any method capable of insulating the two telescopic probes from each other belongs to the protection circle of the present invention.
  • the distance between the probes can be set as needed, and is mainly set according to the size of the substrate, and is preferably set within the range of O. lmm - 2nim.
  • the probes of one (multiple) probe modules are brought into contact with the external test line of the liquid crystal panel, and an electric field is applied to the liquid crystal through an external power source connected to the probe module.
  • each probe module uses a resistance monitoring device 63 connected to the probe to measure between the two probes in the probe module in time (which can also be considered as two probes and contact faces). Resistance between two contact points).
  • the resistance value measured by the resistance monitoring device 63 is within the first set range, generally in the mega-ohm range, it is determined that the two probes of the probe module are not in contact with the contact surface because the two probes Not in contact with the contact surface, resulting in two There is an open circuit between the probes, and the resistance between the two is quite large.
  • the resistance value measured by the resistance monitoring device 63 is within a second setting range, generally can be set to several hundred ohms or several thousand ohms, it is determined that both probes are in good contact with the contact surface because the contact surface is a metal layer. , the two probes are conductive, it will produce a certain resistance value (relative to the case of non-contact is much smaller). Therefore, the resistance between the two probes is monitored by the resistance monitoring device 63, and the state in which the probe is in contact with the contact surface can be determined based on the sudden change in the magnitude of the resistance.
  • the alarm device 43 can alarm by voice or voice. To inform staff of this anomaly.
  • the alarm device 43 can also be an indicator light, which indicates the current contact condition of the worker through different colors of light. When the feed is not in contact, the indicator light is red, and when the contact is good, the indicator light is green. In this way, the staff can clearly know the contact between the probe module and the panel.
  • the conventional probe shown in FIG. 5
  • the probe module has only one contact point with the contact target, and in this embodiment, the probe module has two contact points with the contact target.
  • the two contact points are independent of each other, and there is a resistance monitoring device externally, monitoring the resistance between the two contact points, according to the magnitude of the resistance value, the contact state between the probe and the contact target can be determined, that is, when the resistance is sudden When it is reduced to a certain extent, it can be judged that the contact is good, and when the resistance change does not reach a certain level or there is no change in the inch, the contact failure can be determined.
  • the number of probes of one probe module is not limited to two, and may be composed of three or more probes arranged in parallel.
  • the signal line 51 and the resistance monitoring device 63 need to be electrically connected to the two probes arranged in the outer edge of the probe module, respectively.
  • the probes are arranged to be insulated from each other.

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Abstract

一种用于检测接触效果的探针模组，在液晶配向过程中，用于检测其自身与液晶面板的基板外部测试线路的接触效果，包括：至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针；与至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针电连接的电阻监控装置（63），其通过监控至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针之间的电阻来判断至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针与接触面的接触效果。该探针模组由于与接触目标有多个接触点，且多个接触点之间是相互独立的，因此利用该探针模组的电阻监控装置（63），能够根据测量得到的多个探针之间的电阻值及时判定探针与接触目标之间的接触效果，以消除现有液晶配向过程中由于监控的电流异常而进行原因査找处理的时间。

Description

用于检测接触效果的探针模组 技术领域
本发明涉及液晶显示屏制造技术领域， 尤其涉及一种在液晶配向过程中用于检测接 触效果的探针模组。
背景技术
近年来， 随着薄型化的显示趋势， 液晶显示器 （Liquid Crystal Display, 简称 LCD) 已广泛使用在各种电子产品的应用中， 例如手机、 笔记本计算机以及彩色电视机等。
在液晶面板的制造过程中， 需要对液晶进行初始配向。 目前， 紫外线固化（简称 UV Curing) 是对液晶进行配向的重要制程， 该方法主要是在液晶面板注满液晶后， 通过 UV 和电场的共同作 ^完成液晶配向。
在进行 UV Otrmg液晶配向时， 给液晶施加电场， 然后对液晶进行 UV照射。 这样会 使得液晶中反应单体在电场的作用下向上下运动， 且在 IJV 的作用下发生聚合反应， 在 液晶上下基板的 导向模上形成配向层， 起到对液晶配向的作用。
需要说明的是， 执行上述操诈的关键因素分别是 UV、 电场和反应温度。 对于电场 来说， 目前常用的电场来源是通过一组探针模组将外部电压通过液晶面板的基板外部测 试线路施加到液晶上。 请参考图 1和图 2， 如图 1所示， 利用探针模组 12接触玻璃基板 11 , 并通过连接探针模组 12的外部连接线 13将外部电压施加给液晶， 使得在液晶中产生 电场。
在整个液晶配向过程中， 为了减少探针斑点 （Pin ura) , 需要减少探针 （Pm) 的 数量， 或者使探针 （Pm) 接触玻璃基板的位置远离显示区域， 然而， 这样又会导致基板 产生形变 （bending) , 导致外部电压对基板施加电压的时候出现接触不良， 从而导致配 向异常 （具体请参考图 3 a) ) , 或者探针出现伸縮疲劳， 也会产生接触失败 （具体请 参考图 3 ( b) ) 。 由于当前条件下液晶面板的形变是不可避免的， A认而导致探针模组与基板接触时会 出现接触不良的现象， 导致设定的电压没有按照设定条件进入液晶面板中， 造成配向异 常， 导致产品损失。 在消除或减少因为探针模组接触不良造成配向异常的问题上， 业界目前主要使用如 图 4所示的监控设备对外部电源和探针模组 12之间的电流进行监测和及时报警。 该探针 模组 12 (如图 5所示） 仅包括一个可伸缩探针和信号线 51 , 该可伸缩探针包括探针本体 54、 套在该探针本体 54外部的探针套 53以及设置在探针套 53内部、 使探针本体 54可伸 缩运动的弹性部件 52。 该设备中的电流监控装置 42通过探针线路 41对上述电流进行检 测， 若监控到电流的大小不在设定的范围内， 则该设备中的报警器 43便自动报警。
但是目前发生较多状况是， 当监控的电流值偏大时， 可基本认定探针接触良好， 是 由于类似液晶面板内部短路等其他原因导致电流异常偏大。 但是当电流偏小时有可能是 探针接触不良导致电流偏小， 也有可能是液晶面板内部线路断幵， 或者部分断幵导致电 阻增大使电流变小， 从而无法迅速确认是不是因为探针接触问题导致异常， 使设备异常 处理变得复杂旦耗时较长。
因此， 如何解决上述问题， 以及时迅速地确认探针接触是否良好， 降低对于设备异 常的复杂度和消耗时间乃业界所致力的课题之一。 发明内容 本发明所要解决的技术问题之一是需要提供一种用于检测接触效果的探针模组， 该 探针模组在进行液晶配向过程中， 能够及时迅速地确认自身探针与接触面的接触效果， 降低对于设备异常的复杂度和消耗 ^间。
为了解决上述技术问题， 本发明提供了一种用于检测接触效果的探针模组， 在液晶 配向过程中， 用于检测其自身与液晶面板的基板外部测试线路的接触效果， 包括： 至少 两个相互之间绝缘的可伸缩探针； 与所述至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针电连接的 电阻监控装置， 其通过监控所述至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针之间的电阻来判断 所述至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针与接触面的接触效果。
在一个实施例中， 各个可伸缩探针包括探针本体、 套在该探针本体外部的探针套以 及设置在探针套内部、 使探针本体可伸缩运动的弹性部件。
在 ·个实施飼中， 各个相邻的可伸缩探针之间的部分缝隙设有绝缘层， 各个可伸缩 探针的探针套和探针的相邻外周壁上设有绝缘涂层。
在一个实施例中， 各个相邻的可伸缩探针之间的距离在 0.1mm- 2mm范围内。 在一个实施例中， 在所述电阻监控装置测量的电阻值在第一设定范围内时， 判定所 述至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针未与接触面接触； 在所述电阻监控装置劉量的电 阻值在第二设定范围内时， 判定所述至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针与接触面接 触。
在一个实施例中， 还包括与所述电阻监控装置电连接的报警器， 其在所述电阻监控 装置测量的电阻值在第一设定范围内时， 发出警报。 在一个实施例中， 所述报警器通过声音或灯光方式来发出警报。
与现有技术相比， 本发明的一个或多个实施例可以具有如下优点： 本发明的探针模组由于与接触目标有多个接触点， 且多个接触点之间是相互独立 的， 因此利用该探针模组的电阻监控装置， 能够根据溯量得到的多个探针之间的电阻值 及时判定探针与接触目标之间的接触效果。 并且， 不需要人员再去排查异常的原因， 使 得查找与解决异常情况变得简单很多， 消除现有液晶配向过程中由于监控的电流异常而 进行原因査找处理的时间。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述， 并且， 部分地从说明书中变得 显而易见， 或者通过实施本发明而了解。 本发明的目的和其他优点可通过在说明书、 权 利要求书以及 ^图中所特别指出的结构来实现和获得。
!«'图说明
图用来提供对本发明的进一步理解， 并 ϋ构成说明 ^的一部分， 与本发明的实施 例共同 于解释本发明， 并不构成对本发明的限制。 在^图中：
图】是现有技术中利用紫外线固化 （UV Curmg) 的方式实施液晶配向的正视图； 图 2是现有技术中利用紫外线固化 （UV Curing) 的方式实施液晶配向的仰视图； 图 3 ( a) 和 (b) 是在利用紫外线固化 （UV Curing) 的方式实施液晶配向过程中探 针接触异常的示意图；
图 4是现有技术中监测探针模组的监控设备的结构示意图；
图 5是现有技术中探针模组的结构示意图；
图 6是根据本发明一实施例的探针模组的结构示意图。 具体实施方式 为使本发明的目的、 技术方案和优点更加清楚， 以下结合 ^图对本发明作进一步地 详细说明。
图 6 是根据本发明一实施例的探针模组的结构示意图。 在液晶配向过程中， 该探针 模组能够对探针自身与基板外部测试线路的接触效果进行自主监控， 并及 确定接触效 果。
如图 6 所示， 该探针模组包括两个相互之间绝缘的可伸縮探针、 与其中之 ·可伸缩 探针通过信号线 51电连接的外部电源、 与另一可伸缩探针电连接的电阻监控装置 63且其 与外部电源电连接， 以及与该电阻监控装置 63电连接的报警装置 43。
与现有的探针模组 （如图 5所示） 相比， 由于在本实施飼中一个探针模组优选由上 述两个类似的可伸缩探针构成， 这样使得利用该探针模组接触基板夕卜部测试线路^， 同 一个接触面可以有两个接触点， 旦两个接触点之间是相互独立的。
每个可伸缩探针包括探针本体 54、 套在该探针本体 54外部的探针套 53以及设置在 探针套 53内部、 使探针本体 54可伸缩运动的弹性部件 52。
在一个实施倒中， 通过以下设置使得这两个可伸缩探针之间相互绝缘： 在这两个可 伸缩探针之间的部分缝隙中设有绝缘层 6】 , 并旦在这两个可伸缩探针的探针套 53相邻夕卜 周壁以及探针本体 54相邻外周壁上都涂有相应的绝缘涂层 62。 通过上述设置， 可以防止 两个可伸缩探针之间出现短路接触。 应当注意的是， 本发明不限于上述绝缘设置， 只要 是能够使得两个可伸缩探针之间相互绝缘的方法， 均属于本发明的保护范圈。
另外， 需要说明的是， 探针之间的距离可以根据需要设定， 主要是根据基板的大小 来进行设定， 优选设定在 O. lmm- 2nim的范围内。 在进行液晶配向时， 将一组 （多个） 探针模组的探针接触液晶面板的基板外部测试 线路上， 通过与探针模组连接的外部电源来给液晶施加电场。 在这个过程中， 每一个探 针模组利用与探针连接的电阻监控装置 63来及时測量该探针模组中两个探针之间 （也可 以认为是两个探针与接触面构成的两个接触点之间） 的电阻。
在电阻监控装置 63 测量的电阻值在第一设定范围内， 一般为兆欧级， 则判定该探 针模组的两个探针都未与接触面接触， 这是因为这两个探针未与接触面接触， 导致两个 探针之间是断路状态， 两者之间的电阻是相当大的。 在电阻监控装置 63测量的电阻值在 第二设定范围内， 一般可设为几百欧或几千欧， 则判定两个探针都与接触面接触良好， 这是因为接触面是金属层， 两个探针之间是导通的， 则会产生一定的电阻值 (相对未接触 的情况要小很多） 。 因此通过该电阻监控装置 63监控两个探针之间的电阻， 并根据电阻 的大小突变， 可以判定探针与接触面接触的状况。
在电阻监控装置 63测量的电阻值在第一设定范围内（即在判定该探针模组的两个探 针都未与接触面接触） 时， 报警装置 43可以通过声音或语音方式来报警以通知工作人员 这种异常现象。 另外， 该报警装置 43还可以为一个指示灯， 通过不同颜色的灯光来指示 工作人员当前的接触情况， 飼如在未接触时， 指示灯显示红色， 在接触良好时， 指示灯 显示绿色。 这样通过上述方式， 工作人员就可以明确的知道探针模组与面板的接触情 况。 在液晶配向过程中， 通过使用上述这种探针模组， 由于其自身可提示探针与目标物 的接触效果， 不需要人员再去排查异常的原因， 使得查找与解决异常情况变得简单很 多。 与目前传统的探针模组相比， 传统的探针 （如图 5 所示） 与接触目标只有一个接触 点， 而本实施倒的是一个探针模组与接触目标有两个接触点， 且两个接触点之间是相互 独立的， 并在外部有电阻监控装置， 监控两个接触点之间的电阻， 根据电阻值大小可以 判定探针与接触目标间的接触状况， 即当电阻突然变小到一定程度时， 可判定接触良 好， 电阻变化未到一定程度时或者没有变化寸， 可以判定接触不良。
当然， 上述仅为本发明的最佳实施例， ·个探针模组的探针的个数不限干 2个， 可 能是由 3个或者 3个以上探针并行排列组成。 在一个探针模组包括 3个或者 3个以上探针 时， 信号线 51和电阻监控装置 63需要分别与该探针模组中排列在最夕卜缘的两个探针电连 接， 旦各个探针设置为相互之间绝缘地连接。
虽然已经参考优选实施飼对本发明进行了描述,但在不脱离本发明的范围的情况下， 可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是，只要不存在结构冲突， 各个实施例中所提到的各项技术特征均可以任意方式组合起来。本发明并不局限于文中公 开的特定实施例， 而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。

Claims

权利要求书
1、 一种用于检测接触效果的探针模组， 在液晶配向过程中， 用于检劉其自身与液晶 面板的基板外部测试线路的接触效果， 包括- 至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针；
与所述至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针电连接的电阻监控装置，其通过监控所述 至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针之间的电阻来判断所述至少两个相互之间绝缘的可 伸缩探针与接触面的接触效果。
2、 根据权利要求 1所述的探针模组， 其中， 各个可伸缩探针包括探针本体、 套在该 探针本体外部的探针套以及设置在探针套内部、 使探针本体可伸缩运动的弹性部件。
3、 根据权利要求 2所述的探针模组， 其中，
各个相邻的可伸缩探针之间的部分缝隙设有绝缘层，各个可伸缩探针的探针套和探针 的相邻外周壁上设有绝缘涂层。
4、 根据权利要求 3所述的探针模组， 其中，
各个相邻的可伸缩探针之间的距离在 0.〗 mm- 2mm范围内。
5、 根据权利要求 1所述的探针模组， 其中，
在所述电阻监控装置测量的电阻值在第一设定范围内时,判定所述至少两个相互之间 绝缘的可伸缩探针未与接触面接触；
在所述电阻监控装置测量的电阻值在第二设定范围内时，判定所述至少两个相互之间 绝缘的可伸缩探针与接触面接触。
6、 根据权利要求 5所述的探针模组， 其中， 还包括与所述电阻监控装置电连接的报 警器， 其在所述电阻监控装置测量的电阻值在第一设定范围内时， 发出警报。
Ί、 根据权利要求 6所述的探针模组， 其中， 所述报警器通过声音或灯光方式来发出 警报。
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