CN111223428B - 一种cog模组相邻pin微短路的检测电路及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种COG模组相邻PIN微短路的检测方法，具体步骤为：S1、将被测COG模组的一个PIN电极引脚的开关K连接接入端A，其他PIN电极引脚连接接入端B；S2、测量PIN与其他PIN间的电压值U，计算PIN与其他PIN间的电阻R；S3、预设r为PIN电阻值的标准值，判断测得的电阻值R是否小于标准值r，还公开了一种检测电路，通过分压的方式来测量每个PIN的电压，利用差分电路和A/D模数转换以及MCU进行数据处理，达到对不良品在终端显示并告警的目的，本检测方法为全自动测量及检测数据，检测过程方便快捷，可以对不良品进行排查与清除，提高LCD产品质量，减轻员工工作强度，减少额外测试工序，且测试精度高。

Description

一种COG模组相邻PIN微短路的检测电路及方法
技术领域
本发明涉及显示器技术领域，尤其涉及一种COG模组相邻PIN微短路的检测电路，还涉及一种COG模组相邻PIN微短路的检测方法。
背景技术
参照图1，在COG液晶模组产品相邻的PIN电极引脚由于ITO的蚀刻不良、邦定杂质、FPC柔性电路板蚀刻不良等因素的影响下很容易会造成相邻PIN电极引脚微短路。在生产测试画面时，使用8051MCU测试时，由于接触电阻过大会造成不稳定的显示异常或不显示。
而现有技术中，参照图5，常将相邻PIN分别接在VDD和VSS上，在电路上串联一个电阻和发光二极管，因为良品相邻的PIN电极引脚阻值很大，故电路的电流非常小，发光二极管也就不亮，而当相邻的PIN发生短路时，因电路的电流非常大，发光二极管会被点亮。此电路设计虽然简单，但是当相邻PIN间的短路电阻>1k后，此时的电路电流并不能点亮发光二极管或刚刚能点亮发光二极管但很难被肉眼所观察到，对产品的测试准确度并不高，且此方法对PIN间的短路有效，但对于微短路却不能起到检测作用，因此在生产测试过程中还需增加检测工序，过程繁琐且工作效率低下。
发明内容
针对上述问题，本发明提出一种COG模组相邻PIN微短路的检测电路及方法，主要解决背景技术中的问题。
本发明提出一种COG模组相邻PIN微短路的检测电路，在被测COG模组的各PIN电极引脚端分别连接开关K，每个开关K都有2个接入端A和B，接入端A外接固定电阻以及电压为U0的恒压源，接入端B接地。
进一步改进在于，所述检测电路还包括差分电路，所述差分电路依次与A/D转换器和微控制单元MCU连接，所述微控制单元MCU还与显示终端连接，所述差分电路测量得出每个通路的电压值，经A/D模数转换后发送到微控制单元MCU进行数据处理，显示终端显示每个被测PIN电阻的电阻值。
本发明还提出一种检测COG模组相邻PIN微短路的方法，包括以下步骤：
S1、将被测COG模组的一个PIN电极引脚的开关K连接接入端A，其他PIN电极引脚连接接入端B；
S2、测量PIN与其他PIN间的电压值U，计算PIN与其他PIN间的电阻R；
S3、预设r为PIN电阻值的标准值，判断测得的电阻值R是否小于标准值r，若判定结果为不小于，则检测结果为合格，进入下一个PIN的检测；若判定结果为小于，则检测结果为不合格；
S4、待全部的PIN电阻值测量完成后，对异常PIN电阻值在终端显示上进行提示并告警。
进一步改进在于，所述步骤S2中电阻R的计算公式为：
R＝100K×U/(U0-U)
其中，100K为外接固定电阻的电阻值，U为被测PIN电极引脚与其他PIN电极引脚间的电压值，U0为外接恒压源。
进一步改进在于，所述步骤S3中的标准值r的确定方式为：
采用所述步骤S1～S2的测量方法分别测量10个良品每个PIN的电阻值，并取每个PIN电阻值的平均值，并预设每个PIN的电阻值的公差的10％为PIN电阻值的标准值r。
进一步改进在于，所述步骤S 3具体包括：利用差分电路测量得出每个通路的电压值，然后经过A/D模数转换后发送到微控制单元MCU进行数据处理，最后在终端显示上显示每个被测PIN电阻的电阻值，根据预设的PIN电阻标准值r，判断被测PIN电阻值是否小于标准值，若判断结果为不小于，则检测结果为合格；若判断结果为小于，则检测结果为不合格，待全部的PIN电阻值检测完成后，微控制单元MCU对检测结果为不合格的PIN进行提示并控制报警电路告警。
与现有技术相比，本发明的有益效果为：
本发明采用外加恒压源的方法，通过分压的方式来测量每个PIN电极引脚两端的电压，利用高精度差分电路和A/D模数转换后进入微控制单元MCU进行数据处理，最后达到检测每个PIN电阻值并对检测到的不良品在终端显示提示并告警的目的，本检测方法为全自动测量及检测数据，检测过程方便快捷，可以对不良品的电极引脚进行及时的排查与清除，进而提高LCD产品质量，减轻员工的工作强度，且不用增加额外的测试工序，测试精度高，能有效提高工作效率。
附图说明
附图仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制；为了更好说明本实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对于本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明可能省略是可以理解的。
图1为现有技术中COG液晶模组的结构示意图；
图2为本发明一实施方式的测量电路原理示意图；
图3为本发明又一实施方式的测量电路原理示意图；
图4为本发明一实施方式的测量系统整体结构示意图；
图5为现有技术中采用测试电路的电路原理示意图；
图6为本发明的TESTER结构示意图；
图7为本发明的测试板TEST BOARD结构示意图；
图8为本发明终端显示数据的一示意图；
图9为本发明终端显示数据的另一示意图。
具体实施方式
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以是通过中间媒介间接连接，可以说两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明的具体含义。下面结合附图和实施例对本发明的技术方案做进一步的说明。
参照图1，在现有技术中，COG液晶模组产品相邻的PIN电极引脚由于ITO的蚀刻不良、邦定杂质、FPC柔性电路板蚀刻不良等因素的影响下很容易会造成相邻PIN电极引脚微短路。在生产测试画面时，使用8051MCU测试时，由于接触电阻过大会造成不稳定的显示异常或不显示。
然后参照图5，现有技术中也有一种方法，就是将相邻PIN分别接在VDD和VSS上，然后在电路上串联一个电阻和发光二极管，因为良品相邻的PIN电极引脚阻值很大，故电路的电流非常小，发光二极管也就不亮，而当相邻的PIN发生短路时，因电路的电流非常大，发光二极管会被点亮。此电路设计虽然简单，但是当相邻PIN间的短路电阻>1k后，此时的电路电流并不能点亮发光二极管或刚刚能点亮发光二极管但很难被肉眼所观察到，对产品的测试准确度并不高，且此方法对PIN间的短路有效，但对于微短路却不能起到检测作用，因此在生产测试过程中还需增加检测工序，过程繁琐且工作效率低下。
而本发明采用外加恒压源的方法，通过分压的方式来测量每个PIN电极引脚两端的电压，利用高精度差分电路和A/D模数转换后进入微控制单元MCU进行数据处理，最后达到检测每个PIN电阻值并对检测到的不良品在终端显示提示并告警的目的，本检测方法为全自动测量及检测数据，检测过程方便快捷，可以对不良品的电极引脚进行及时的排查与清除，进而提高LCD产品质量，减轻员工的工作强度，且不用增加额外的测试工序，测试精度高，能有效提高工作效率。
参照图2、图3，一种COG模组相邻PIN微短路的检测电路，在被测COG模组的各PIN电极引脚端分别连接开关K，每个开关K都有2个接入端A和B，接入端A外接固定电阻以及电压为U0的恒压源，接入端B接地。
再参照图4，所述检测电路还包括差分电路，所述差分电路依次与A/D转换器和微控制单元MCU连接，所述微控制单元MCU还与显示终端连接，所述差分电路测量得出每个通路的电压值，经A/D模数转换后发送到微控制单元MCU进行数据处理，显示终端显示每个被测PIN电阻的电阻值。
参照图2、图3和图4，本发明还相应提出一种检测COG模组相邻PIN微短路的方法，包括以下步骤：
S1、将被测COG模组的一个PIN电极引脚的开关K连接接入端A，其他PIN电极引脚连接接入端B；
S2、测量PIN与其他PIN间的电压值U，计算PIN与其他PIN间的电阻R；
具体而言，在本实施例中，所述U0为0.5V，所述固定电阻的电阻值为100K。所述步骤S2中电阻R的计算公式为：
R＝100K×U/(U0-U)
其中，100K为外接固定电阻的电阻值，U为被测PIN电极引脚与其他PIN电极引脚间的电压值，U0＝0.5V为外接恒压源。
S3、预设r为PIN电阻值的标准值，判断测得的电阻值R是否小于标准值r，若判定结果为不小于，则检测结果为合格；若判定结果为小于，则检测结果为不合格。待全部的PIN电阻值测量完成后，对异常PIN电阻值在终端显示上进行提示并告警。
具体而言，在本发明实施例中，所述步骤S3中的标准值r的确定方式为：
采用所述步骤S1～S2的测量方法分别测量10个良品每个PIN的电阻值，并取每个PIN电阻值的平均值，并预设每个PIN的电阻值的公差的10％为PIN电阻值的标准值r。
更具体地说，参照图4、图6和图7，所述步骤S3具体包括：利用差分电路测量得出每个通路的电压值，然后经过A/D模数转换后发送到微控制单元MCU进行数据处理，最后在终端显示上显示每个被测PIN电阻的电阻值，参照图8和图9，根据预设的PIN电阻标准值r，判断被测PIN电阻值是否小于标准值，若判断结果为不小于，则检测结果为合格；若判断结果为小于，则检测结果为不合格。待全部的PIN电阻值测量完成后，微控制单元MCU对检测结果为不合格的PIN进行提示并控制报警电路告警。
图中，描述位置关系仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制；显然，本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非是对本发明的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明权利要求的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种检测COG模组相邻PIN微短路的方法，用于COG模组相邻PIN微短路的检测电路，该检测电路的被测COG模组的各PIN电极引脚端分别连接开关K，每个开关K都有2个接入端A和B，接入端A外接固定电阻以及电压为U0的恒压源，接入端B接地，所述检测电路还包括差分电路，所述差分电路依次与A/D转换器和微控制单元MCU连接，所述微控制单元MCU还与显示终端连接，所述差分电路测量得出每个通路的电压值，经A/D模数转换后发送到微控制单元MCU进行数据处理，显示终端显示每个被测PIN电阻的电阻值，
其特征在于，所述方法包括以下步骤：
S1、将被测COG模组的一个PIN电极引脚的开关K连接接入端A，其他PIN电极引脚的开关K连接接入端B；
S2、测量PIN与其他PIN间的电压值U，计算PIN与其他PIN间的电阻R；
S3、预设r为PIN电阻值的标准值，判断电阻R是否小于标准值r，若判定结果为不小于，则检测结果为合格；若判定结果为小于，则检测结果为不合格；
S4、待全部的PIN电阻值测量完成后，对异常PIN电阻值在显示终端上进行提示并告警。
2.根据权利要求1所述的一种检测COG模组相邻PIN微短路的方法，其特征在于，所述步骤S2中电阻R的计算公式为：
R＝100K×U/(U0-U)
其中，100K为外接固定电阻的电阻值，U为被测PIN电极引脚与其他PIN电极引脚间的电压值，U0为外接恒压源。
3.根据权利要求1所述的一种检测COG模组相邻PIN微短路的方法，其特征在于，所述步骤S3中的标准值r的确定方式为：
采用所述步骤S1～S2的测量方法分别测量10个良品每个PIN的电阻值，并取每个PIN电阻值的平均值，并预设每个PIN的电阻值的公差的10％为PIN电阻值的标准值r。
4.根据权利要求1所述的一种检测COG模组相邻PIN微短路的方法，其特征在于，所述步骤S 3具体包括：利用差分电路测量得出每个通路的电压值，然后经过A/D模数转换后发送到微控制单元MCU进行数据处理，最后在显示终端上显示每个被测PIN电极引脚的电阻值，根据预设的PIN电阻值的标准值r，判断被测PIN电阻值是否小于标准值，若判断结果为不小于，则检测结果为合格；若判断结果为小于，则检测结果为不合格；待全部的PIN电阻值检测完成后，微控制单元MCU对检测结果为不合格的PIN进行提示并控制报警电路告警。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112540227A (zh) * 2020-11-19 2021-03-23 昆山贝资智能科技有限公司 一种fpc邦定电阻测试方法
CN113419190B (zh) * 2021-06-15 2023-03-17 广州安博新能源科技有限公司 一种激光切割后微短路的检测方法及其应用
CN115656876B (zh) * 2022-11-21 2023-06-13 上海海栎创科技股份有限公司 微短路测试电路及测试方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN203858315U (zh) * 2014-04-11 2014-10-01 苏州工业园区海的机电科技有限公司 Led背光模组pin间短路检测装置
CN106680591A (zh) * 2016-12-21 2017-05-17 北京集创北方科技股份有限公司 触控显示面板的检测电路及检测方法
CN109444638A (zh) * 2018-11-26 2019-03-08 国网江苏省电力有限公司检修分公司 一种智能接地导通检测系统及方法
CN109932635A (zh) * 2019-02-21 2019-06-25 绍兴文理学院 一种基于单片机的开短路漏电测试仪

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3951560B2 (ja) * 2000-06-14 2007-08-01 セイコーエプソン株式会社 信号供給装置及びその検査方法、並びにそれを用いた半導体装置及びデータ線駆動ｉｃ
JP2005274821A (ja) * 2004-03-24 2005-10-06 Tohoku Pioneer Corp 自発光表示モジュールおよび同モジュールを搭載した電子機器、ならびに同モジュールにおける欠陥状態の検証方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN203858315U (zh) * 2014-04-11 2014-10-01 苏州工业园区海的机电科技有限公司 Led背光模组pin间短路检测装置
CN106680591A (zh) * 2016-12-21 2017-05-17 北京集创北方科技股份有限公司 触控显示面板的检测电路及检测方法
CN109444638A (zh) * 2018-11-26 2019-03-08 国网江苏省电力有限公司检修分公司 一种智能接地导通检测系统及方法
CN109932635A (zh) * 2019-02-21 2019-06-25 绍兴文理学院 一种基于单片机的开短路漏电测试仪

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