WO2014178415A1 - 化合物、高分子化合物、有機半導体材料、有機半導体デバイス、化合物の合成方法、高分子化合物の合成方法 - Google Patents

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和男 瀧宮
格 尾坂
正浩 中野
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独立行政法人理化学研究所
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Definitions

  • the present invention relates to a compound, a polymer compound, an organic semiconductor material, an organic semiconductor device, a compound synthesis method, and a polymer compound synthesis method.
  • Naphthalene diimide (hereinafter referred to as NDI) is a skeleton that is widely used as an organic semiconductor skeleton having an electron deficiency (acceptor property or n-type semiconductor property).
  • NDI conjugate expansion allows various materials to be developed. N-type semiconductors, p-type semiconductors, and amphoteric semiconductors manufactured using compounds in which NDI skeletons are linked by single bonds and incorporated into conjugated systems of oligomers and polymers It has been reported.
  • a compound in which 6-membered rings are condensed on both sides of NDI naphthalene has a twisted structure due to steric hindrance with peri-position hydrogen bonded to the 6-membered ring. Due to the twisted structure, the planarity is poor, and when an organic semiconductor layer is formed using this skeleton, it is difficult to improve the charge mobility.
  • the present invention has been made in view of the above-mentioned matters.
  • the purpose is to provide.
  • the compound according to the first aspect of the present invention is: Represented by Equation 1, It is characterized by that.
  • R independently represents an alkyl group, an alkoxy group, an alkoxycarbonyl group, an alkylcarbonyl group or an aryl group
  • X independently represents hydrogen, a halogen, an aryl group or a heteroaromatic ring group
  • Z independently represents Represents sulfur or selenium.
  • the polymer compound according to the second aspect of the present invention is: Having a skeleton represented by Formula 2 in the polymer main chain; It is characterized by that.
  • R independently represents an alkyl group, an alkoxy group, an alkoxycarbonyl group, an alkylcarbonyl group or an aryl group, and Z independently represents sulfur or selenium.
  • the polymer compound according to the third aspect of the present invention is: Represented by Equation 3, It is characterized by that.
  • R independently represents an alkyl group, an alkoxy group, an alkoxycarbonyl group, an alkylcarbonyl group or an aryl group
  • Z independently represents sulfur or selenium
  • Y represents a structure represented by Formula 4
  • m represents an integer of 0 or more
  • n represents a positive real number.
  • W independently represents carbon or nitrogen.
  • W has any of hydrogen, halogen, alkyl group, alkoxy group, alkoxycarbonyl group or alkylcarbonyl group as a substituent, and Q is 2 A valent heterocyclic group, an alkylene group, an alkenylene group, or an alkynylene group, and l and r each independently represent an integer of 0 or more.
  • the organic semiconductor material according to the fourth aspect of the present invention is: Containing one of the compound according to the first aspect of the present invention, the polymer compound according to the second aspect of the present invention, and the polymer compound according to the third aspect of the present invention, It is characterized by that.
  • the organic semiconductor device according to the fifth aspect of the present invention is: Containing an organic semiconductor material according to a fourth aspect of the present invention, It is characterized by that.
  • the method for synthesizing the compound according to the sixth aspect of the present invention comprises: Reacting a compound represented by Formula A1 with trialkylsilylacetylene to synthesize a compound represented by Formula A2.
  • R independently represents an alkyl group, an alkoxy group, an alkoxycarbonyl group, an alkylcarbonyl group or an aryl group, and X 1 represents a halogen.
  • R has the same definition as in formula A1, and TAS represents a trialkylsilyl group.
  • Reacting a compound represented by Formula A2 with a sulfide salt or a selenide salt to synthesize a compound represented by Formula 1a;
  • In Formula 1a, R is the same as defined in Formula A1, and Z independently represents sulfur or selenium.
  • a method for synthesizing a compound according to the seventh aspect of the present invention includes: Reacting a compound represented by Formula A1 with trialkylsilylacetylene to synthesize a compound represented by Formula A2.
  • R independently represents an alkyl group, an alkoxy group, an alkoxycarbonyl group, an alkylcarbonyl group or an aryl group, and X 1 represents a halogen.
  • R has the same definition as in formula A1, and TAS represents a trialkylsilyl group.
  • In Formula A3, R is the same as defined in Formula A1, TAS is the same as defined in Formula A2, and Z independently represents sulfur or selenium.
  • Reacting a compound represented by Formula A3 with a halogenating agent to synthesize a compound represented by Formula 1b;
  • the polymer compound synthesis method comprises: Reacting a compound represented by Formula A1 with trialkylsilylacetylene to synthesize a compound represented by Formula A2.
  • R independently represents an alkyl group, an alkoxy group, an alkoxycarbonyl group, an alkylcarbonyl group or an aryl group, and X 1 represents a halogen.
  • R has the same definition as in formula A1, and TAS represents a trialkylsilyl group.
  • In Formula A3, R is the same as defined in Formula A1, TAS is the same as defined in Formula A2, and Z independently represents sulfur or selenium.
  • R is the
  • W has any of hydrogen, halogen, alkyl group, alkoxy group, alkoxycarbonyl group or alkylcarbonyl group as a substituent
  • Q is 2) A valent heterocyclic group, an alkylene group, an alkenylene group or an alkynylene group, X 2 represents a substituent having an organic metal, and l and r each independently represents an integer of 0 or more.
  • R is the same as defined in formula A1
  • Z is the same as defined in formula A3
  • Y represents the structure represented by formula 4
  • m represents an integer of 0 or more
  • n represents (Represents a positive real number.)
  • W, Q, l and r are the same as defined in Formula A4.) including.
  • the compound according to the present invention has a 5-membered chalcogenophene ring condensed on both sides of naphthalene, is excellent in planarity, and has a chalcogenophene ring ⁇ -position, so that conjugate expansion can be easily performed.
  • 1A and 1B are molecular structure ORTEP diagrams based on single crystal structure analysis of C 8 -NDTI.
  • 2A and 2B are C 8 -NDTI packing structure ORTEP diagrams.
  • 2 is a graph showing a UV-vis absorption spectrum and a PL spectrum of C 8 -NDTI. It is sectional drawing which shows the structure of a TCBG type
  • 6 is a graph showing the transfer characteristics of TCBG-C 8 -NDTI (FIG. 5A) and a graph showing the output characteristics (FIG. 5B). It is sectional drawing which shows the structure of a TGBC type
  • 8 is a graph showing the transfer characteristics of TCBG-C 8 -NDTI (FIG.
  • FIG. 7A is a graph showing the output characteristics (FIG. 7B).
  • FIG. 8 (A) which shows the transfer characteristic of a C26 (200, ODTS) element
  • FIG. 8 (B) which shows an output characteristic.
  • FIG. 9 is a graph showing the output characteristics of the p-type semiconductor of the P2 (OAn350) element (FIG. 9A) and a graph showing the output characteristics of the n-type semiconductor (FIG. 9B).
  • FIG. 10 (A) which shows the transfer characteristic of P7 element
  • FIG. 10 (B)) which shows an output characteristic.
  • Z represents sulfur or selenium, and Z may be the same or different, but is preferably the same.
  • X independently represents hydrogen, halogen, aryl group or heteroaromatic ring group.
  • the aryl group and heteroaromatic ring group may each have a substituent.
  • Examples of the aryl group include a trifluoromethylphenyl group.
  • Examples of the heteroaromatic ring group include a pyrimidyl group.
  • R represents an alkyl group, an alkoxy group, an alkoxycarbonyl group, an alkylcarbonyl group or an aryl group. Each of these may have a substituent.
  • R may be the same or different.
  • R preferably has 6 to 30 carbon atoms, and more preferably 8 to 24 carbon atoms.
  • it may be either linear or branched, it is preferably a branched alkyl group in the case of producing an organic semiconductor layer by a solution method by polymerizing a polymer compound described later.
  • the compound represented by Formula 1 is rigid and has high planarity. Therefore, the intermolecular distance when the active layer is produced by applying as an organic semiconductor material is shortened, and high charge mobility can be exhibited.
  • the compound represented by Formula 1 has a chalcogenophene ring ⁇ -position, it can be easily conjugated and expanded.
  • Derivatization that is, a compound in which X is halogen in Formula 1, is easy to develop into various polymer compounds by conjugation expansion as described later.
  • the compound represented by Formula 1 showed remarkable fluorescence emission near 580 nm as described later, it can be applied to organic light-emitting materials such as organic EL (Electro-Luminescence), or as a functional dye. Use is also expected.
  • organic light-emitting materials such as organic EL (Electro-Luminescence), or as a functional dye. Use is also expected.
  • the polymer compound according to the present embodiment has a skeleton represented by Formula 2 in the polymer main chain.
  • R and Z are the same as defined in Formula 1 above.
  • polymer compound is represented by Formula 3.
  • R and Z are the same as defined in Formula 1 described above.
  • M represents an integer of 0 or more, and n represents a positive real number.
  • Y represents the structure represented by Formula 4.
  • W independently represents carbon or nitrogen.
  • W is carbon, it has any of hydrogen, halogen, alkyl group, alkoxy group, alkoxycarbonyl group or alkylcarbonyl group as a substituent.
  • L and r each independently represents an integer of 0 or more.
  • Q represents a divalent heterocyclic group, an alkylene group, an alkenylene group, or an alkynylene group.
  • examples thereof include divalent heterocyclic groups such as structures represented by formulas 5 to 29.
  • R represents hydrogen or an alkyl group.
  • R When R is an alkyl group, it may be linear or branched, and preferably has 6 to 30 carbon atoms, more preferably 8 to 24 carbon atoms.
  • the alkylene group preferably has 1 to 4 carbon atoms.
  • the alkenylene group and the alkynylene group preferably have 2 to 4 carbon atoms.
  • the polymer compound represented by Formula 3 is a conjugated polymer compound and has high ⁇ -conjugated planarity, it is easy to exhibit even better charge mobility.
  • the compound represented by the formula A1 is reacted with trialkylsilylacetylene such as trimethylsilylacetylene, triethylsilylacetylene, tert-butylmethylsilylacetylene, triisopropylsilylacetylene, tert-butyldiphenylsilylacetylene (Sonogashira coupling) ).
  • trialkylsilylacetylene such as trimethylsilylacetylene, triethylsilylacetylene, tert-butylmethylsilylacetylene, triisopropylsilylacetylene, tert-butyldiphenylsilylacetylene (Sonogashira coupling) ).
  • trialkylsilylacetylene such as trimethylsilylacetylene, triethylsilylacetylene, tert-butylmethylsilylacetylene, triisopropylsilylacetylene
  • the compound represented by the formula A2 is reacted with a sulfide salt or a selenide salt. Due to the cyclization reaction, chalcogenophene rings are condensed on both sides of naphthalene. Then, a compound represented by Formula 1a (a compound represented by Formula 1 in which X is hydrogen) is obtained via the compound represented by Formula A3 (intermediate).
  • a sulfide metal salt is preferably used, and a sulfide alkali metal salt is more preferably used.
  • the sulfide alkali metal salt include sodium sulfide ⁇ 9 hydrate, sodium sulfide ⁇ pentahydrate, anhydrous sodium sulfide, hydrous sodium hydrate and the like.
  • the selenide salt a metal selenide salt is preferably used, and an alkyl selenide metal salt is more preferably used.
  • the selenide alkali metal salt include sodium diselenide obtained by a reaction of metallic sodium and powdered selenium, sodium hydrogen selenide obtained from sodium borohydride and powdered selenium, and the like.
  • R and Z are the same as defined in Formula 1, X 1 represents halogen, and TAS represents a trialkylsilyl group.
  • the compound represented by Formula A3 produced as an intermediate during the synthesis of the compound represented by Formula 1a in Scheme 1 is reacted with a halogenating agent.
  • a halogenating agent for example, bromine, iodine, or iodine monochloride is used.
  • the polymer represented by the formula 3 can be synthesized by reacting the compound represented by the formula 1b with the compound represented by the formula A4 to perform polymerization.
  • R and Z in Formula 1b of Scheme 2 are the same as defined in Formula 1, and X represents halogen.
  • Q, W, l, and r are the same as defined in Formula 4, and X 2 represents a substituent having an organic metal such as a trialkyltin group or a borate group.
  • a compound represented by Formula 1b (a compound represented by Formula 1 in which X is a halogen) and an aryl group or heteroaromatic ring group having a boronic acid such as phenylboronic acid or pyridimilboronic acid
  • a compound in which X is an aryl group or a heteroaromatic ring group which may have a substituent can be obtained.
  • Organic semiconductor material contains any of the compound represented by Formula 1 described above, the polymer compound represented by Formula 2, and the polymer compound represented by Formula 3. Since the compound represented by Formula 1, the polymer compound represented by Formula 2, and the polymer compound represented by Formula 3 are rigid and have high planarity as described above, an organic semiconductor material is manufactured. When an organic semiconductor layer is formed by film formation, the intermolecular distance in the organic semiconductor layer is short, and high charge mobility is exhibited.
  • the organic semiconductor material includes an improvement in the film forming property of the organic semiconductor layer and doping.
  • additives and other semiconductor materials may be mixed.
  • An organic semiconductor device is a device manufactured using the organic semiconductor material described above, and includes an active layer formed using an organic semiconductor material on a substrate or the like.
  • Examples of the organic semiconductor device include various devices such as a field effect transistor having an organic semiconductor layer, a light emitting device, and a photoelectric conversion element.
  • the method for producing the organic semiconductor layer in the organic semiconductor device is not particularly limited, and various conventionally known production methods can be used. For example, a vapor deposition method or a coating method such as a spin coating method, a solution method such as an ink jet method, a screen printing method, an offset printing method, or a micro contact printing method can be given.
  • the reaction mixture was diluted with water (50 mL) and extracted with dichloromethane (100 mL). The extract was washed with water (100 mL ⁇ 2), dried over magnesium sulfate, and the solvent was removed under reduced pressure to give a crude product of C 8 -NDTI. This was dissolved in THF (150 mL) and acetic acid (1.5 mL), and tetra-n-butylammonium fluoride (1M in THF, 16 mL) was further added at 0 ° C. After stirring at room temperature for 2 hours, the solution was diluted with water (100 mL). The formed precipitate was collected by filtration and washed with water, methanol and hexane to obtain a purple solid compound C 8 -NDTI (736 mg, yield 42%).
  • a purple solid compound 4 (yield 58%) was obtained by the same method as the synthesis method of the above compound 3 except that iodine monochloride (1M in CH 2 Cl 2 ) was used instead of bromine.
  • the vessel was sealed and refilled with argon, placed in a microwave reactor and heated to 180 ° C. over 40 minutes. After cooling to room temperature, the reaction was poured into methanol (50 mL) containing hydrochloric acid (1M, 1 mL) and stirred for 5 hours. The resulting precipitate was collected by filtration, and further a low molecular weight fraction was removed by sequential Soxhlet extraction using methanol, hexane, chloroform and chlorobenzene. The residue was extracted with o-dichlorobenzene, and the concentrated fraction was precipitated with methanol (50 mL) to obtain a black-green solid polymer compound PNDTI-BT (31 mg, yield 28%).
  • a UV-vis absorption spectrum and a PL emission spectrum of the compound C 8 -NDTI were measured.
  • the UV absorption spectrum was measured in a dichloromethane solution (concentration 10 ⁇ 5 to 10 ⁇ 6 M) with an ultraviolet-visible near-infrared spectrophotometer (manufactured by Shimadzu Corporation, UV-3600).
  • FIG. 3 shows UV-vis (Ultraviolet / Visible) absorption spectrum and PL (Photo Luminescence) spectrum.
  • Compound C 8 -NDTI showed remarkable fluorescence emission (absolute quantum yield 71%) around 580 nm, and it was found that application to light-emitting devices such as organic EL is possible.
  • FET field effect transistor
  • TCBG Top Contact-Bottom Gate
  • TCBG Top Contact-Bottom Gate
  • TCBG Type FET Device Using Compound C 8 -NDTI
  • a high-concentration n-type silicon substrate having a 200 nm thick silicon oxide film to be a gate electrode is sufficiently washed, and then the silicon oxide film surface of the n-type silicon substrate is silane-treated with perfluorodecyltriethoxysilane. Processed.
  • an organic thin film (about 50 nm thick) of Compound C 8 -NDTI was formed by vacuum deposition. Film formation was performed by changing the temperature as appropriate to maintain a film formation rate of 1 kg / s under a pressure condition of 1 ⁇ 10 ⁇ 3 Pa or less.
  • TCBG type FET device having the structure shown in FIG. 4 was produced. Note that the film thickness of the source electrode and the drain electrode is 80 nm, the channel length is 50 ⁇ m, and the channel width is 1.5 mm.
  • This FET element is referred to as a TCBG-C 8 -NDTI element.
  • Transistor characteristics were measured for the fabricated TCBG-C 8 -NDTI element by changing the gate voltage Vg to ⁇ 10 to 60 V and the source-drain voltage Vd to 0 to 60 V.
  • FIG. 5A shows the transfer characteristics
  • FIG. 5B shows the output characteristics.
  • the TCBG-C 8 -NDTI element exhibited n-type transistor behavior, and the charge mobility was calculated to be 0.05 cm 2 / Vs.
  • n-type silicon substrate having a 200 nm thick silicon oxide film to be a gate electrode is sufficiently cleaned, and then the silicon oxide film surface of the n-type silicon substrate is perfluorodecyltriethoxysilane (FDTS). ).
  • the polymer compound PNDTI-BT was dissolved in orthodichlorobenzene to prepare a 3 g / L solution, filtered through a membrane filter, and then applied to the surface-treated n-type silicon substrate by spin coating to a thickness of about 30 nm.
  • An organic thin film of the molecular compound PNDTI-BT was prepared. This thin film was annealed at 150 ° C.
  • TCBG type FET device having the structure shown in FIG. 4 was produced. Note that the film thickness of the source electrode and the drain electrode is 80 nm, the channel length is 50 ⁇ m, and the channel width is 1.5 mm.
  • This FET element is referred to as a TCBG-PNDTI-BT (An) element.
  • TCBG type FET device was produced in the same manner as described above except that after the organic thin film of the polymer compound PNDTI-BT was produced, no annealing treatment was performed.
  • This FET element is referred to as a TCBG-PNDTI-BT (NAn) element.
  • CYTOP registered trademark, manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.
  • CYTOP registered trademark, manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.
  • aluminum was vacuum-deposited (50 nm thickness) as a gate electrode on the gate insulating film.
  • a TGBG FET element having the structure shown in FIG. 6 was produced.
  • the channel length is 50 ⁇ m and the channel width is 3 mm.
  • This TGBG FET element is referred to as a TGBC-PNDTI-BT (An) element.
  • a TGBC type FET element was produced in the same manner as described above except that after the organic thin film of the polymer compound PNDTI-BT was produced, no annealing treatment was performed.
  • This FET element is referred to as a TGBC-PNDTI-BT (NAn) element.
  • the gate voltage Vg is set to ⁇ 60 for each of the manufactured TCBG-PNDTI-BT (An) element, TCBG-PNDTI-BT (NAn) element, TGBC-PNDTI-BT (An) element, and TGBC-PNDTI-BT (NAn) element.
  • the transistor characteristics were measured while changing the source-drain voltage Vd from 0 to -60 V to -20 V.
  • FIG. 7A shows the transfer characteristics of the TGBC-PNDTI-BT (An) element
  • FIG. 7B shows the output characteristics.
  • Table 1 shows the Hall mobility ( ⁇ FET ), current on / off ratio (I on / I off ), and threshold voltage (V th ) of each FET element.
  • TCBG Top Contact-Bottom Gate
  • compound 26 was used, and an FET device was produced in the same manner as in the production of the top contact-bottom gate (TCBG) type FET device using compound C 8 -NDTI described above.
  • the vapor deposition substrate temperatures were 150 ° C. and 200 ° C.
  • OTS octyltrichlorosilane
  • ODTS octadecyltrichlorosilane
  • Each of the fabricated FET elements is referred to as a C26 (150, OTS) element, a C26 (150, ODTS) element, a C26 (200, OTS) element, and a C26 (200, ODTS) element.
  • Transistor characteristics were measured by changing the gate voltage Vg to ⁇ 20 to 60 V and the source-drain voltage Vd to 0 to 60 V for each of the fabricated EFT elements.
  • the charge mobility ( ⁇ ), current on / off ratio (I on / I off ), and threshold voltage (V th ) of each FET element are shown in Table 2, and the transmission of the C26 (200, ODTS) element is shown.
  • the characteristics are shown in FIG. 8A, and the output characteristics are shown in FIG. 8B.
  • TCBG type FET element using polymer compound P2 (Production of TCBG type FET element using polymer compound P2) Using the polymer compound P2, an FET device was fabricated in the same manner as the fabrication of the TCBG type FET device using the polymer compound PNDTI-BT described above. Note that hexamethyldisilazane (HMDS) was used for the silane treatment of the n-type silicon substrate.
  • HMDS hexamethyldisilazane
  • an FET element manufactured without annealing treatment is annealed under the conditions of P2 (HNAn) element, 150 ° C., 30 min.
  • the FET element manufactured as described above is referred to as a P2 (HAn350) element.
  • an FET device manufactured by using octadecyltrichlorosilane (ODTS) for silane treatment of an n-type silicon substrate and annealing at 150 ° C. for 30 min is a P2 (OAn150) device, 350 ° C., 30 min.
  • An FET element fabricated by annealing under the conditions described above is referred to as a P2 (OAn350) element.
  • the p-type transistor characteristics were measured by changing the gate voltage Vg from ⁇ 80 to 0 V and the source-drain voltage Vd from ⁇ 60 to 0 V. Further, the n-type transistor characteristics were measured by changing the gate voltage Vg from 0 to 60 V and the source-drain voltage Vd from 0 to 60 V.
  • Table 3 shows the hole mobility ( ⁇ h ), electron mobility ( ⁇ e ), current on / off ratio (I on / I off ), and threshold voltage (V th ) of each element.
  • FIG. 9A shows the output characteristics of the p-type semiconductor of the P2 (OAn350) element
  • FIG. 9B shows the output characteristics of the n-type semiconductor.
  • Both FET elements show p-type transistor behavior and n-type transistor behavior, and it can be seen that they have both polarities.
  • the P2 (OAn350) elements Hall mobility 0.10 cm 2 / Vs, the electron mobility was as good as 0.27 cm 2 / Vs.
  • the polymer compound P2 can be used for both p-type semiconductor materials and n-type semiconductor materials.
  • TCBG type FET device using polymer compound P7 (Production of TCBG type FET device using polymer compound P7) A polymer compound P7 is used in place of the polymer compound P2, octadecyltrichlorosilane (ODTS) is used for silane treatment, and annealing treatment is performed at 150 ° C. for 30 minutes. A TCBG FET element using the polymer compound P2 is used. An FET element was produced by the same method as the production.
  • ODTS octadecyltrichlorosilane
  • the transistor characteristics of the P7 element were measured by changing the gate voltage Vg to ⁇ 20 to 60 V and the source-drain voltage Vd to 0 to 60 V.
  • Table 4 shows the charge mobility ( ⁇ ) of the P7 element, the current on / off ratio (I on / I off ), and the threshold voltage (V th ).
  • FIG. 10A shows the transfer characteristics of the P7 element
  • FIG. 10B shows the output characteristics.
  • the compound according to the present invention is excellent in flatness and has a chalcogenophene ring ⁇ -position, so that conjugate expansion can be easily performed. As a result, conjugate expansion is expected to synthesize various polymer compounds and develop them into organic semiconductor materials.

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Abstract

　化合物は、式１で表される。式１中、Ｒは独立にアルキル基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基、アルキルカルボニル基又はアリール基を表し、Ｘは独立に水素、ハロゲン、アリール基又は複素芳香環基を表し、Ｚは独立に硫黄又はセレンを表す。式１で表される化合物は平面性に優れるとともに、カルコゲノフェン環α位を持つため、容易に共役拡張が可能である。

Description

化合物、高分子化合物、有機半導体材料、有機半導体デバイス、化合物の合成方法、高分子化合物の合成方法
　本発明は、化合物、高分子化合物、有機半導体材料、有機半導体デバイス、化合物の合成方法、高分子化合物の合成方法に関する。
　ナフタレンジイミド（以下、ＮＤＩ）は、電子不足（アクセプター性、若しくはｎ型半導体性）の有機半導体骨格として広く用いられている骨格である。ＮＤＩの共役拡張により様々な材料展開が可能であり、ＮＤＩ骨格を単結合で連結し、オリゴマーやポリマーの共役系に組み込んだ化合物を用いて作製されたｎ型半導体、ｐ型半導体、両性半導体が報告されている。
　また、近年では、ＮＤＩ骨格に直接、芳香環を縮合することで、π拡張ＮＤＩ誘導体の開発も検討されており、芳香環としてベンゼン、インドール、置換チオフェン、チアゾール、ピラジンなどを含むものが合成され、低分子有機半導体として検討されている（例えば、非特許文献１～５、特許文献１）。
Katsuta, S.; Tanaka, K.; Maruya, Y.; Mori, S.; Masuo, S.; Okujima, T.; Uno, H.; Nakayama, K.-i.; Yamada, H. Chemical Communications 2011, 47, 10112-10114. Suraru, S.-L.; Zschieschang, U.; Klauk, H.; Wurthner, F. Chemical Communications 2011, 47, 11504-11506. Hu, Y.; Gao, X.; Di, C.-a.; Yang, X.; Zhang, F.; Liu, Y.; Li, H.; Zhu, D. Chemistry of Materials 2011, 23, 1204-1215. Chen, X.; Guo, Y.; Tan, L.; Yang, G.; Li, Y.; Zhang, G.; Liu, Z.; Xu, W.; Zhang, D. Journal of Materials Chemistry C 2013, 1, 1087-1092. Bhosale, S. V.; Bhosale, S. V.; Bhargava, S. K. Organic & Biomolecular Chemistry 2012, 10, 6455-6468.
中国特許出願公開第１０１８８５７３２号明細書
　ＮＤＩのナフタレンの両側に６員環が縮合した化合物では、６員環に結合するペリ位水素等との立体障害によりねじれた構造を持つ。ねじれ構造によって平面性に乏しく、この骨格を用いて有機半導体層を形成した場合、電荷移動度を向上させることに難がある。
　また、ＮＤＩのナフタレンの両側に５員環が縮合した化合物では、α位にシアノ基等が結合している。共役拡張が困難であり、高分子有機半導体材料への展開に難がある。
　本発明は上記事項に鑑みてなされたものであり、平面性が良好で共役拡張に有用な化合物、高分子化合物、有機半導体材料、有機半導体デバイス、化合物の合成方法、高分子化合物の合成方法を提供することを目的とする。
　本発明の第１の観点に係る化合物は、
　式１で表される、
　ことを特徴とする。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000019
（式１中、Ｒは独立にアルキル基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基、アルキルカルボニル基又はアリール基を表し、Ｘは独立に水素、ハロゲン、アリール基又は複素芳香環基を表し、Ｚは独立に硫黄又はセレンを表す。）
　本発明の第２の観点に係る高分子化合物は、
　高分子主鎖に式２で表される骨格を有する、
　ことを特徴とする。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000020
（式２中、Ｒは独立にアルキル基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基、アルキルカルボニル基又はアリール基を表し、Ｚは独立に硫黄又はセレンを表す。）
　本発明の第３の観点に係る高分子化合物は、
　式３で表される、
　ことを特徴とする。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000021
（式３中、Ｒは独立にアルキル基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基、アルキルカルボニル基又はアリール基を表し、Ｚは独立に硫黄又はセレンを表し、Ｙは式４で表される構造を表し、ｍは０以上の整数を表し、ｎは正の実数を表す。）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000022
（式４中、Ｗは、独立に炭素又は窒素を表し、炭素の場合は置換基として水素、ハロゲン、アルキル基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基又はアルキルカルボニル基のいずれかを有し、Ｑは２価の複素環基、アルキレン基、アルケニレン基、又はアルキニレン基を表し、ｌ及びｒはそれぞれ独立に０以上の整数を表す。）
　本発明の第４の観点に係る有機半導体材料は、
　本発明の第１の観点に係る化合物、本発明の第２の観点に係る高分子化合物、及び、本発明の第３の観点に係る高分子化合物のいずれかを含有する、
　ことを特徴とする。
　本発明の第５の観点に係る有機半導体デバイスは、
　本発明の第４の観点に係る有機半導体材料を含有する、
　ことを特徴とする。
　本発明の第６の観点に係る化合物の合成方法は、
　式Ａ１で表される化合物とトリアルキルシリルアセチレンとを反応させて式Ａ２で表される化合物を合成すること、
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000023
（式Ａ１中、Ｒは独立にアルキル基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基、アルキルカルボニル基又はアリール基を表し、Ｘ１はハロゲンを表す。）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000024
（式Ａ２中、Ｒは式Ａ１における定義と同じであり、ＴＡＳはトリアルキルシリル基を表す。）
　式Ａ２で表される化合物と硫化物塩又はセレン化物塩とを反応させて式１ａで表される化合物を合成すること、
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000025
（式１ａ中、Ｒは式Ａ１における定義と同じであり、Ｚは独立に硫黄又はセレンを表す。）
　を含む。
　本発明の第７の観点に係る化合物の合成方法は、
　式Ａ１で表される化合物とトリアルキルシリルアセチレンとを反応させて式Ａ２で表される化合物を合成すること、
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000026
（式Ａ１中、Ｒは独立にアルキル基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基、アルキルカルボニル基又はアリール基を表し、Ｘ１はハロゲンを表す。）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000027
（式Ａ２中、Ｒは式Ａ１における定義と同じであり、ＴＡＳはトリアルキルシリル基を表す。）
　式Ａ２で表される化合物と硫化物塩又はセレン化物塩とを反応させて式Ａ３で表される化合物を合成すること、
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000028
（式Ａ３中、Ｒは式Ａ１における定義と同じであり、ＴＡＳは式Ａ２における定義と同じであり、Ｚは独立に硫黄又はセレンを表す。）
　式Ａ３で表される化合物とハロゲン化剤とを反応させて式１ｂで表される化合物を合成すること、
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000029
（式１ｂ中、Ｒは式Ａ１における定義と同じであり、Ｚは式Ａ３における定義と同じであり、Ｘはハロゲンを表す。）
　を含む。
　本発明の第８の観点に係る高分子化合物の合成方法は、
　式Ａ１で表される化合物とトリアルキルシリルアセチレンとを反応させて式Ａ２で表される化合物を合成すること、
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000030
（式Ａ１中、Ｒは独立にアルキル基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基、アルキルカルボニル基又はアリール基を表し、Ｘ１はハロゲンを表す。）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000031
（式Ａ２中、Ｒは式Ａ１における定義と同じであり、ＴＡＳはトリアルキルシリル基を表す。）
　式Ａ２で表される化合物と硫化物塩又はセレン化物塩とを反応させて式Ａ３で表される化合物を合成すること、
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000032
（式Ａ３中、Ｒは式Ａ１における定義と同じであり、ＴＡＳは式Ａ２における定義と同じであり、Ｚは独立に硫黄又はセレンを表す。）
　式Ａ３で表される化合物とハロゲン化剤とを反応させて式１ｂで表される化合物を合成すること、
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000033
（式１ｂ中、Ｒは式Ａ１における定義と同じであり、Ｚは式Ａ３における定義と同じであり、Ｘはハロゲンを表す。）
　式１ｂで表される化合物と式Ａ４で表される化合物とを反応させて重合し、式３で表される高分子化合物を合成すること、
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000034
（式Ａ４中、Ｗは、独立に炭素又は窒素を表し、炭素の場合は置換基として水素、ハロゲン、アルキル基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基又はアルキルカルボニル基のいずれかを有し、Ｑは２価の複素環基、アルキレン基、アルケニレン基、又はアルキニレン基を表し、Ｘ２は、有機金属を有する置換基を表し、ｌ及びｒはそれぞれ独立に０以上の整数を表す。）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000035
（式３中、Ｒは式Ａ１における定義と同じであり、Ｚは式Ａ３における定義と同じであり、Ｙは式４で表される構造を表し、ｍは０以上の整数を表し、ｎは正の実数を表す。）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000036
（式４中、Ｗ、Ｑ、ｌ及びｒは式Ａ４における定義と同じである。）
　を含む。
　本発明に係る化合物は、ナフタレンの両側に５員環であるカルコゲノフェン環が縮合しており、平面性に優れるとともに、カルコゲノフェン環α位を持つため、容易に共役拡張が可能である。
図１（Ａ）、（Ｂ）は、Ｃ８－ＮＤＴＩの単結晶構造解析に基づく分子構造ＯＲＴＥＰ図である。 図２（Ａ）、（Ｂ）は、Ｃ８－ＮＤＴＩのパッキング構造ＯＲＴＥＰ図である。 Ｃ８－ＮＤＴＩのＵＶ－ｖｉｓ吸収スペクトル、ＰＬスペクトルを示すグラフである。 ＴＣＢＧ型ＦＥＴ素子の構造を示す断面図である。 ＴＣＢＧ－Ｃ８－ＮＤＴＩの伝達特性を示すグラフ（図５（Ａ））、出力特性を示すグラフ（図５（Ｂ））である。 ＴＧＢＣ型ＦＥＴ素子の構造を示す断面図である。 ＴＣＢＧ－Ｃ８－ＮＤＴＩの伝達特性を示すグラフ（図７（Ａ））、出力特性を示すグラフ（図７（Ｂ））である。 Ｃ２６（２００，ＯＤＴＳ）素子の伝達特性を示すグラフ（図８（Ａ））、出力特性を示すグラフ（図８（Ｂ））である。 Ｐ２（ＯＡｎ３５０）素子のｐ型半導体の出力特性を示すグラフ（図９（Ａ））、ｎ型半導体の出力特性を示すグラフ（図９（Ｂ））である。 Ｐ７素子の伝達特性を示すグラフ（図１０（Ａ））、出力特性を示すグラフ（図１０（Ｂ））である。
（化合物）
　化合物は、式１で表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000037
　式１中、Ｚは硫黄又はセレンを表し、Ｚは同一であっても異なっていてもよいが、同一であることが好ましい。
　また、式１中、Ｘは独立に水素、ハロゲン、アリール基又複素芳香環基を表す。アリール基、複素芳香環基はそれぞれ置換基を有していてもよい。アリール基として、例えば、トリフルオロメチルフェニル基が挙げられる。また、複素芳香環基として、例えば、ピリミジル基が挙げられる。
　また、式１中、Ｒはアルキル基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基、アルキルカルボニル基又はアリール基を表す。これらはそれぞれ置換基を有していてもよい。Ｒは同一であっても異なっていてもよい。Ｒは、炭素数が６～３０であることが好ましく、８～２４であることがより好ましい。また、直鎖状、分岐状のいずれでもよいが、後述の高分子化合物を重合して溶液法にて有機半導体層を作製する場合においては分岐状アルキル基であることが好ましい。
　式１で表される化合物は、剛直で高い平面性を持つ。そのため、有機半導体材料として適用して活性層を作製した際の分子間距離が短くなり、高い電荷移動度を発揮することができる。
　更に、式１で表される化合物は、カルコゲノフェン環α位を持つために、容易に共役拡張が可能である。誘導体化、即ち、式１中、Ｘがハロゲンである化合物では、後述のように共役拡張して種々の高分子化合物への展開が容易である。
　また、式１で表される化合物は、後述のように５８０ｎｍ付近に顕著な蛍光発光を示したことから、有機ＥＬ（Electro Luminescence）などの有機発光材料への応用、或いは、機能性色素としての利用も期待できる。
（高分子化合物）
　本実施の形態に係る高分子化合物は、高分子主鎖に式２で表される骨格を有する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000038
　式２中、Ｒ及びＺは上述した式１における定義と同じである。
　更には、高分子化合物は式３で表される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000039
　式３中、Ｒ及びＺは上述した式１における定義と同じである。また、ｍは０以上の整数を表し、ｎは正の実数を表す。また、Ｙは式４で表される構造を表す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000040
　式４中、Ｗは、独立に炭素又は窒素を表す。Ｗが炭素の場合、置換基として水素、ハロゲン、アルキル基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基又はアルキルカルボニル基のいずれかを有する。また、ｌ及びｒはそれぞれ独立に０以上の整数を表す。
　Ｑは２価の複素環基、アルキレン基、アルケニレン基、又はアルキニレン基を表す。２価の複素環基、例えば、式５～式２９で表される構造が挙げられる。式５～式２８中、Ｒは水素又はアルキル基を表す。Ｒがアルキル基である場合、直鎖状でも分岐状でもよく、炭素数は６～３０であることが好ましく、８～２４であることがより好ましい。また、アルキレン基の炭素数は１～４であることが好ましい。また、アルケニレン基及びアルキニレン基の炭素数は２～４であることが好ましい。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000041
　式３で表される高分子化合物は、共役系高分子化合物であり、高いπ共役平面性を有することから、さらに優れた電荷移動度を発揮し易くなる。
　上述した式１で表される化合物（式１中、Ｘが水素である化合物）は、例えば、以下のスキーム１のように合成することができる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000042
　まず、式Ａ１で表される化合物とトリメチルシリルアセチレン、トリエチルシリルアセチレン、ｔｅｒｔ－ブチルメチルシリルアセチレン、トリイソプロピルシリルアセチレン、ｔｅｒｔ－ブチルジフェニルシリルアセチレン等のトリアルキルシリルアセチレンとを反応させる（薗頭カップリング）。これにより、式Ａ２で表される化合物が得られる。
　式Ａ２で表される化合物と硫化物塩或いはセレン化物塩とを反応させる。環化反応により、ナフタレンの両側にカルコゲノフェン環が縮合する。そして、式Ａ３で表される化合物（中間体）を経て式１ａで表される化合物（式１で表される化合物において、Ｘが水素である化合物）が得られる。
　硫化物塩として、硫化物金属塩を用いることが好ましく、硫化物アルカリ金属塩を用いることがより好ましい。硫化物アルカリ金属塩として、例えば、硫化ナトリウム・９水和物、硫化ナトリウム・５水和物、硫化ナトリウム無水物、水流化ナトリウム水和物などが挙げられる。セレン化物塩として、セレン化金属塩を用いることが好ましく、セレン化アルキル金属塩を用いることがより好ましい。セレン化物アルカリ金属塩として、例えば、金属ナトリウムと粉末セレンの反応により得られる二セレン化ナトリウム、水素化ホウ素ナトリウムと粉末セレンより得られるセレン化水素ナトリウムなどが挙げられる。
　なお、上記スキーム１の式Ａ１～式Ａ３、式１ａにおいて、Ｒ、Ｚは式１における定義と同じであり、Ｘ１はハロゲンを表し、ＴＡＳはトリアルキルシリル基を表す。
　また、式１で表される化合物（式１中、Ｘがハロゲン）、式２、式３で表される高分子化合物は、例えば、以下のスキーム２のように合成することができる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000043
　スキーム１の式１ａで表される化合物の合成の際の中間体として生成する式Ａ３で表される化合物とハロゲン化剤とを反応させる。これにより、式１ｂで表される化合物（式１で表される化合物において、Ｘがハロゲンである化合物）が合成される。ハロゲン化剤として、例えば、臭素、ヨウ素、又は一塩化ヨウ素などが用いられる。
　続いて、式１ｂで表される化合物と式Ａ４で表される化合物とを反応させて重合することで、式３で表される高分子化合物を合成することができる。
　なお、上記スキーム２の式１ｂにおけるＲ、Ｚは式１における定義と同じであり、Ｘはハロゲンを表す。また、式Ａ４中、Ｑ、Ｗ、ｌ、ｒは式４における定義と同じであり、Ｘ２はトリアルキルスズ基やホウ酸エステル基等の有機金属を有する置換基を表す。
　また、式１ｂで表される化合物（式１で表される化合物において、Ｘがハロゲンである化合物）と、フェニルボロン酸やピリジミルボロン酸等、ボロン酸等を有するアリール基や複素芳香環基とのカップリング反応により、式１で表される化合物において、Ｘが置換基を有していてもよいアリール基や複素芳香環基である化合物を得ることができる。
（有機半導体材料）
　有機半導体材料は、上述した式１で表される化合物、式２で表される高分子化合物、及び、式３で表される高分子化合物のいずれかを含有する。式１で表される化合物、式２で表される高分子化合物、及び、式３で表される高分子化合物は、上述したように、剛直で高い平面性を持つので、有機半導体材料を製膜して有機半導体層を作製した場合、有機半導体層中における分子間距離が短く、高い電荷移動度を発揮する。
　また、有機半導体材料は、式１で表される化合物、式２で表される高分子化合物、及び、式３で表される高分子化合物のほか、有機半導体層の製膜性の向上、ドーピング等のために添加剤や他の半導体材料が混合されてもよい。
（有機半導体デバイス）
　有機半導体デバイスは、上述した有機半導体材料が用いられて製造されるデバイスであり、基板等の上に有機半導体材料を用いて製膜された活性層を備える。有機半導体デバイスとして、例えば、有機半導体層を有する電界効果トランジスタ、発光デバイス、光電変換素子等、種々のデバイスが挙げられる。
　有機半導体デバイスにおける有機半導体層の製造方法としては、特に限定されるものではなく、従来公知の種々の製造方法を用いることができる。例えば、蒸着法、或いは、スピンコート法等の塗布法、インクジェット法、スクリーン印刷法、オフセット印刷法、マイクロコンタクト印刷法などの溶液法が挙げられる。
（N,N'-Dioctyl-4,5,9,10-naphtho[2,3-b:6,7-b']dithiophenediimide（以下、化合物Ｃ８－ＮＤＴＩ）の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000044
　アルゴン雰囲気、６０℃の条件下、エタノール（１５０ｍＬ）及び酢酸（３ｍＬ）に化合物１（２．０ｇ，２．９３ｍｍｏｌ）を加えて撹拌した懸濁液に、硫化ナトリウム・９水和物（Ｎａ２Ｓ・９Ｈ２Ｏ，４．２３ｇ，１７．６ｍｍｏｌ）を加えた。
　なお、化合物１は、「Buckland, D.; Bhosale, S. V.; Langford, S. J. Tetrahedron Letters 2011, 52, 1990-1992.」で報じられている手法に基づいて合成して用いた。
　同温度で１２時間撹拌した後、大気中で混合物を３時間室温で撹拌した。
　反応混合物を水（５０ｍＬ）で希釈し、ジクロロメタン（１００ｍＬ）で抽出した。
　抽出物を水で洗浄し（１００ｍＬ×２回）、硫酸マグネシウムで乾燥し、溶媒を減圧除去して、Ｃ８－ＮＤＴＩの粗生成物を得た。
　これをＴＨＦ（１５０ｍＬ）及び酢酸（１．５ｍＬ）で溶解し、更に、フッ化テトラ－ｎ－ブチルアンモニウム（１Ｍ ｉｎ ＴＨＦ，１６ｍＬ）を０℃で加えた。
　室温で２時間撹拌した後、溶液を水（１００ｍＬ）で希釈した。
　生成した沈殿物をろ取し、水、メタノール及びヘキサンで洗浄し、紫色固体の化合物Ｃ８－ＮＤＴＩ（７３６ｍｇ，収率４２％）を得た。
　得られた化合物Ｃ８－ＮＤＴＩの測定結果を以下に示す。
Mp 287-288℃;
IR (KBr) ν = 1643 cm-1 (C=O);
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ 0.88 (t, J = 6.4 Hz, 6H), 1.30-1.50 (m, 20H), 1.84 (quin, J = 7.6 Hz, 4H), 4.32 (t, J = 7.6 Hz, 4H), 8.11 (d, J = 5.8 Hz, 2H), 8.96 (d, J = 5.8 Hz, 2H);
13C NMR (100 MHz, CDCl3) δ 13.97, 14.02, 22.6, 27.3, 28.2, 29.4, 31.8, 41.3, 117.9, 119.1, 122.6, 124.4, 140.3, 143.0, 145.1, 163.2, 163.3 ;
HRMS (APCI) m/z calcd for C34H39O4N2S2 + [M+H]+ 603.23456, found 603.23458.
（N,N'-Dioctyl-2,6-bis(trimethylsilyl)naphtho[2,3-b:6,7-b']dithiophene-4,5,9,10-diimide（以下、化合物２）の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000045
　アルゴン雰囲気、６０℃の条件下、エタノール（１０ｍＬ）及び酢酸（０．２ｍＬ）に化合物１（５０ｍｇ，０．０７３ｍｍｏｌ）を加えて撹拌した溶液に、硫化ナトリウム・９水和物（Ｎａ２Ｓ・９Ｈ２Ｏ（１０６ｍｇ、０．４４ｍｍｏｌ）を加えた。
　同温度で１２時間撹拌した後、大気中で混合物を３時間室温で撹拌した。
　その後、反応混合物を水（１０ｍＬ）で希釈し、ジクロロメタン（２０ｍＬ）で抽出した。
　抽出物を水で洗浄し（３０ｍＬの×２回）、硫酸マグネシウムで乾燥して濃縮し、シリカゲルカラムクロマトグラフィー（Ｒｆ＝０．３、展開溶媒：ジクロロメタン－ヘキサン（ｖ／ｖ＝１／２））によって精製し、化合物２の粗生成物を得た。
　更に、クロロホルム－メタノールを用いて再結晶を行い、紫色固体の化合物２（１７ｍｇ、収率３２％）を得た。
　得られた化合物２の測定結果を以下に示す。
Mp > 300℃;
IR (KBr) v = 1653 cm-1 (C=O);
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ 0.54 (s, 18H), 0.88 (t, J = 6.7 Hz, 6H), 1.30-1.50 (m, 20H), 1.86 (quin, J = 7.6 Hz, 4H), 4.32 (d, J = 7.6 Hz, 4H), 9.12 (s, 2H);
13C NMR (100 MHz, CDCl3) δ-0.23,14.4, 23.0, 27.6, 27.7, 28.6, 29.6, 29.7, 32.2, 41.7, 117.6, 118.8, 122.9, 130.8, 144.5, 148.6, 159.8, 163.62, 163.70;
HRMS (APCI) m/z calcd for C40H55O4N2S2Si2 + [M+H]+ 747.31335, found 747.31363.
（N,N'-Dioctyl-2,6-dibromonaphtho[2,3-b:6,7-b']dithiophene-4,5,9,10-diimide（以下、化合物３）の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000046
　アルゴン雰囲気、室温の条件下、ジクロロメタン（１０ｍＬ）に化合物２（５０ｍｇ、０．０６７ｍｍｏｌ）を加えて撹拌した懸濁液に、臭素（２４ｍｇ、０．３４ｍｍｏｌ）を加えた。
　４０℃で３時間撹拌した後、混合物を水（１０ｍＬ）で希釈した。
　沈殿物をろ取し、クロロホルム－エタノールを用いた再結晶により、紫色固体の化合物３（３３ｍｇ，収率６５％）を得た。
　得られた化合物３の測定結果を以下に示す。
Mp 277-278 ℃;
IR (KBr) ν = 1639 cm-1 (C=O);
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ 0.88 (t, J = 6.9 Hz, 6H), 1.30-1.48 (m, 20H), 1.82 (quin, J = 7.5 Hz, 4H), 4.30 (t, J = 7.5 Hz, 4H), 9.03 (s, 2H);
13C NMR (100 MHz, CDCl3) δ 14.2, 22.8, 27.4, 28.3, 29.4, 29.5, 32.0, 41.5, 104.5, 114.5, 116.6, 118.1, 127.1, 133.2, 142.6, 163.0, 163.3;
HRMS (APCI) m/z calcd for C34H37O4N2Br2S2 + [M+H]+ 759.05530, found 759.05560.
（N,N'-Dioctyl-2,6-diiodonaphtho[2,3-b:6,7-b']dithiophene-4,5,9,10-diimide(以下、化合物４)の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000047
　臭素に代えて一塩化ヨウ素（１Ｍ　ｉｎ　ＣＨ２Ｃｌ２）を用いた以外、上記の化合物３の合成方法と同様の手法により、紫色固体の化合物４（収率５８％）を得た。
　得られた化合物４の測定結果を以下に示す。
Mp > 300℃;
IR (KBr) ν = 1635 cm-1 (C=O);
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ 0.89 (t, J = 6.5 Hz, 6H), 1.30-1.49 (m, 20H), 1.84 (quin, J = 7.5 Hz, 4H), 4.32 (t, J = 7.5 Hz, 4H), 9.32 (s, 2H);
HRMS (APCI) m/z calcd for C34H37O4N2I2S2 + [M+H]+ 855.02686, found 855.02786;
The solubility of C8-NDTI-I was not sufficient for measuring 13C NMR spectra.
（Poly{(2,7-bis(3-dodecylthiophene-2-yl)-N,N'-Dioctyl-4,5,9,10-naphtho[2,3-b:6,7-b']dithiophenediimide}（以下、ＰＮＤＴＩ－ＢＴ）の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000048
　攪拌子を備えた２－５ｍＬのマイクロウェーブ圧力容器に、化合物３（０．０７６ｇ、０．１ｍｍｏｌ）、５，５’－ビス（トリメチルスタンニル）－４，４’－ジドデシル－２，２’－ビチオフェン（０．０８２ｇ、０．１ｍｍｏｌ）、Ｐｄ（ＰＰｈ３）２Ｃｌ２（１．６ｍｇ、０．０２４ｍｍｏｌ）、トルエン（５ｍＬ）を加えた。
　容器を封止してアルゴンを補充し、マイクロウェーブ反応器に入れ、４０分間かけて１８０℃まで加熱した。
　室温まで冷却した後、塩酸（１Ｍ、１ｍＬ）を含有するメタノール（５０ｍＬ）に反応物を注ぎ、５時間撹拌した。
　生じた沈殿物を濾取し、更に、メタノール、ヘキサン、クロロホルム及びクロロベンゼンを用いたシーケンシャルソックスレー抽出により低分子量の分画を取り除いた。
　残留物をｏ－ジクロロベンゼンで抽出し、更に、濃縮分画をメタノール（５０ｍＬ）で沈殿させ、黒緑色固体の高分子化合物ＰＮＤＴＩ－ＢＴ（３１ｍｇ、収率２８％）を得た。
　得られた高分子化合物ＰＮＤＴＩ－ＢＴの測定結果を以下に示す。
Anal. Calcd for (C66H88N2O4S4)n: C, 71.82; H, 8.22; N, 2.54%; S, 11.62%. Found C, 71.15; H, 8.76; N, 2.53; S, 12.36%;
Solubility of the polymer was not sufficient for recoding 1H and 13C NMR spectra.
（化合物Ｃ８－ＮＤＴＩの単結晶構造解析）
　得られた化合物Ｃ８－ＮＤＴＩについて再結晶（溶媒：クロロベンゼン）を行い、得られた結晶について単結晶Ｘ線構造解析装置（Bruker SMART APEX-II）を用い、単結晶構造解析を行った。
　化合物Ｃ８－ＮＤＴＩの単結晶構造解析結果を下記に示す。
Crystallographic data for C8-NDTI:　C34H38N2O4S2 (602.78), purple plate, 0.20 × 0.20 × 0.10 mm3, monoclinic, space group, P21/c (#14), a = 16.91(2), b = 5.089(6), c = 18.16(2) A, β= 108.22 (2)°, V = 1485(3) A3, Z = 2, R = 0.070 for 1493 observed reflections (I > 2σ(I)) and 187 variable parameters, wR2 = 0.2246 for all data.
　また、この単結晶構造解析に基づく分子構造ＯＲＴＥＰ（Ｏａｋ Ｒｉｄｇｅ Ｔｈｅｒｍａｌ Ｅｌｌｉｐｓｏｉｄ Ｐｌｏｔ）図及び結晶パッキング（ステレオ）図を、それぞれ図１及び図２に示す。本結果から、化合物Ｃ８－ＮＤＴＩが高い平面性を持つことがわかった。
　また、化合物Ｃ８－ＮＤＴＩのＵＶ－ｖｉｓ吸収スペクトル及びＰＬ発光スペクトルを測定した。ＵＶ吸収スペクトルは、ジクロロメタン溶液（濃度１０－５～１０－６Ｍ）中にて、紫外可視近赤外分光光度計（（株）島津製作所製、ＵＶ－３６００）で測定した。また、ＰＬスペクトル及び絶対量子収率は、絶対ＰＬ量子収率測定装置（λｅｘ＝５３０ｎｍ）（浜松ホトニクス、Ｑｕａｎｔａｕｒｕｓ－ＱＹ）で測定した。
　ＵＶ－ｖｉｓ（Ｕｌｔｒａｖｉｏｌｅｔ・Ｖｉｓｉｂｌｅ）吸収スペクトル及びＰＬ（Ｐｈｏｔｏ　Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ）スペクトルを図３に示す。化合物Ｃ８－ＮＤＴＩは、５８０ｎｍ付近に顕著な蛍光発光（絶対量子収率７１％）を示しており、これにより、有機ＥＬ等の発光デバイスへの適用も可能であることがわかった。
（電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）素子の作製及び特性）
　上記で合成した化合物Ｃ８－ＮＤＴＩ、高分子化合物ＰＮＤＴＩ－ＢＴを用いてＦＥＴ素子を作製し、その特性を検証した。
（化合物Ｃ８－ＮＤＴＩを用いたトップコンタクト－ボトムゲート（ＴＣＢＧ）型ＦＥＴ素子の作製）
　まず、ゲート電極となる２００ｎｍ厚のシリコン酸化膜を有する高濃度にドーピングされたｎ－型シリコン基板を十分洗浄した後、ｎ－型シリコン基板のシリコン酸化膜表面をパーフルオロデシルトリエトキシシランでシラン処理した。
　上記表面処理したｎ－型シリコン基板上に、真空蒸着法で化合物Ｃ８－ＮＤＴＩの有機薄膜（約５０ｎｍ厚）を製膜した。製膜は、１×１０－３Ｐａ以下の圧力条件下、１Å／ｓの製膜速度を維持すべく温度を適宜変更させて行った。
　この有機薄膜上に、シャドーマスクを用いて金を真空蒸着し、ソース電極及びドレイン電極を形成した。このようにして、図４に示す構造のＴＣＢＧ型ＦＥＴ素子を作製した。なお、ソース電極及びドレイン電極の膜厚は８０ｎｍ、チャネル長は５０μｍ、チャネル幅は１．５ｍｍである。このＦＥＴ素子をＴＣＢＧ－Ｃ８－ＮＤＴＩ素子と記す。
　作製したＴＣＢＧ－Ｃ８－ＮＤＴＩ素子に、ゲート電圧Ｖｇを－１０～６０Ｖ、ソース・ドレイン間電圧Ｖｄを０～６０Ｖに変化させてトランジスタ特性を測定した。図５（Ａ）に伝達特性、図５（Ｂ）に出力特性をそれぞれ示す。ＴＣＢＧ－Ｃ８－ＮＤＴＩ素子はｎ型トランジスタ挙動を示し、電荷移動度は０．０５ｃｍ２／Ｖｓと算出された。
（高分子化合物ＰＮＤＴＩ－ＢＴを用いたＴＣＢＧ型ＦＥＴ素子の作製）
　まず、ゲート電極となる２００ｎｍ厚のシリコン酸化膜を有する高濃度にドーピングされたｎ－型シリコン基板を十分洗浄した後、ｎ－型シリコン基板のシリコン酸化膜表面をパーフルオロデシルトリエトキシシラン（ＦＤＴＳ）でシラン処理した。
　高分子化合物ＰＮＤＴＩ－ＢＴをオルトジクロロベンゼンに溶解して３ｇ／Ｌの溶液を調製し、メンブランフィルターでろ過した後、上記表面処理したｎ－型シリコン基板上にスピンコート法で約３０ｎｍ厚の高分子化合物ＰＮＤＴＩ－ＢＴの有機薄膜を作製した。
　この薄膜を窒素雰囲気下にて、１５０℃で３０分加熱しアニール処理した。
　有機薄膜上に、シャドーマスクを用いて金を真空蒸着し、ソース電極及びドレイン電極を形成した。このようにして、図４に示す構造のＴＣＢＧ型ＦＥＴ素子を作製した。なお、ソース電極及びドレイン電極の膜厚は８０ｎｍ、チャネル長は５０μｍ、チャネル幅は１．５ｍｍである。このＦＥＴ素子をＴＣＢＧ－ＰＮＤＴＩ－ＢＴ（Ａｎ）素子と記す。
　また、高分子化合物ＰＮＤＴＩ－ＢＴの有機薄膜を作製後、アニール処理を行わなかった以外、上記と同様にしてＴＣＢＧ型ＦＥＴ素子を作製した。このＦＥＴ素子をＴＣＢＧ－ＰＮＤＴＩ－ＢＴ（ＮＡｎ）素子と記す。
（高分子化合物ＰＮＤＴＩ－ＢＴを用いたトップゲート－ボトムコンタクト（ＴＧＢＣ）型ＦＥＴ素子の作製）
　フォトリゾグラフィーによってソース及びドレイン電極（５０ｎｍ厚、Ｃｒ／Ａｕ）をパターニングしたガラス基板をアセトン、イソプロパノールで十分に洗浄した。
　高分子化合物ＰＮＤＴＩ－ＢＴをオルトジクロロベンゼンに溶解して３ｇ／Ｌの溶液を調製し、メンブランフィルターでろ過した後、上記表面処理したガラス基板上にスピンコート法により約５０ｎｍ厚の高分子化合物ＰＮＤＴＩ－ＢＴの有機薄膜を作製した。
　この薄膜を窒素雰囲気下にて、１５０℃で３０分加熱した。
　次にゲート絶縁膜としてＣＹＴＯＰ（登録商標、旭硝子株式会社製）をスピンコート法により塗布した（８００ｎｍ厚）。さらに、ゲート絶縁膜上に、ゲート電極としてアルミニウムを真空蒸着した（５０ｎｍ厚）。このようにして、図６に示す構造のＴＧＢＧ型ＦＥＴ素子を作製した。なお、チャネル長は５０μｍ、チャネル幅は３ｍｍである。このＴＧＢＧ型ＦＥＴ素子をＴＧＢＣ－ＰＮＤＴＩ－ＢＴ（Ａｎ）素子と記す。
　また、高分子化合物ＰＮＤＴＩ－ＢＴの有機薄膜を作製後、アニール処理を行わなかった以外、上記と同様にしてＴＧＢＣ型ＦＥＴ素子を作製した。このＦＥＴ素子をＴＧＢＣ－ＰＮＤＴＩ－ＢＴ（ＮＡｎ）素子と記す。
　作製したＴＣＢＧ－ＰＮＤＴＩ－ＢＴ（Ａｎ）素子、ＴＣＢＧ－ＰＮＤＴＩ－ＢＴ（ＮＡｎ）素子、ＴＧＢＣ－ＰＮＤＴＩ－ＢＴ（Ａｎ）素子、ＴＧＢＣ－ＰＮＤＴＩ－ＢＴ（ＮＡｎ）素子それぞれについて、ゲート電圧Ｖｇを－６０～２０Ｖ、ソース・ドレイン間電圧Ｖｄを０～－６０Ｖに変化させてトランジスタ特性を測定した。
　ＴＧＢＣ－ＰＮＤＴＩ－ＢＴ（Ａｎ）素子の伝達特性を図７（Ａ）に、出力特性を図７（Ｂ）に示す。また、それぞれのＦＥＴ素子のホール移動度（μＦＥＴ）、電流のオン・オフ比（Ｉｏｎ／Ｉｏｆｆ）、及び、スレッショルド電圧（Ｖｔｈ）をそれぞれ表１に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000049
　いずれのＦＥＴ素子もトランジスタ特性を示し、高分子化合物ＰＮＤＴＩ－ＢＴが有機半導体材料として有用であることを確認した。
（化合物２１の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000050
　化合物１の代わりに化合物１１を用いる以外、上記化合物Ｃ８－ＮＤＴＩの合成方法と同様の手法により、化合物２１（収率４０％）を合成した。
　得られた化合物２１の測定結果を以下に示す。
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ 0.87 (t, J = 6.8 Hz, 6H), 1.26-1.46 (m, 60H), 1.83 (quin, J = 7.2 Hz, 4H), 4.31 (t, J = 7.2 Hz, 4H), 8.10 (d, J = 5.6 Hz, 2H) , 8.93 (d, J = 5.6 Hz, 2H).
（化合物２２の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000051
　化合物１の代わりに化合物１２を用いる以外、上記化合物Ｃ８－ＮＤＴＩの合成方法と同様の手法により、化合物２２（収率２０％）を合成した。
　得られた化合物２２の測定結果を以下に示す。
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ 1.18 (d, J = 6.8 Hz, 24H), 2.77 (sept, J = 6.8 Hz, 4H), 7.41 (d, J = 7.6 Hz, 4H), 7.56 (t, J = 7.6 Hz, 2H), 8.18 (d, J = 5.2 Hz, 2H) , 9.02 (d, J = 5.2 Hz, 2H).
（化合物２３の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000052
　化合物１の代わりに化合物１３を用いる以外、上記化合物Ｃ８－ＮＤＴＩの合成方法と同様の手法により、化合物２３（収率１２％）を合成した。
　得られた化合物２３の測定結果を以下に示す。
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ 5.20 (t, J = 14.6 Hz, 4H), 8.24 (d, J = 6.0 Hz, 2H) , 9.03 (d, J = 6.0 Hz, 2H).
（化合物２４の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000053
　化合物１の代わりに化合物１４を用いる以外、上記化合物Ｃ８－ＮＤＴＩの合成方法と同様の手法により、化合物２４（収率４５％）を合成した。
　得られた化合物２４の測定結果を以下に示す。
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ 0.85 (m, 12H), 1.20-1.40 (m, 64H), 2.13 (m, 2H), 4.29 (m, 4H), 8.17 (d, J = 6.0 Hz, 2H), 9.03 (d, J = 6.0 Hz, 2H).
（化合物２６の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000054
　化合物１の代わりに化合物１６を用いる以外、上記化合物Ｃ８－ＮＤＴＩの合成方法と同様の手法により、化合物２６（収率２５％）を合成した。
　得られた化合物２６の測定結果を以下に示す。
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ1.09-1.34 (m, 10H), 1.48-1.78 (m, 12H), 1.89 (quin, J= 6.2 Hz, 4H), 4.38 (t, J= 7.6 Hz, 4H), 8.15 (d, J= 5.8 Hz, 2H), 9.04 (d, J= 5.8 Hz, 2H)
（化合物２７の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000055
　化合物１の代わりに化合物１７を用いる以外、上記化合物Ｃ８－ＮＤＴＩの合成方法と同様の手法により、化合物２７（収率３０％）を合成した。
　得られた化合物２７の測定結果を以下に示す。
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ0.87 (t, J = 6.4 Hz, 12H), 1.30-1.76 (m, 82H), 1.79 (quin, J= 7.6 Hz, 4H), 4.33 (t, J= 7.6 Hz, 4H), 8.17 (d, J= 5.6 Hz, 2H), 9.03 (d, J= 5.6 Hz, 2H)
（化合物２８の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000056
　化合物１の代わりに化合物１８を用いる以外、上記化合物Ｃ８－ＮＤＴＩの合成方法と同様の手法により、化合物２８（収率２２％）を合成した。
　得られた化合物２８の測定結果を以下に示す。
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ0.87 (t, J = 6.4 Hz, 12H), 1.30-1.76 (m, 82H), 1.79 (quin, J= 7.6 Hz, 4H), 4.33 (t, J= 7.6 Hz, 4H), 8.17 (d, J= 5.6 Hz, 2H), 9.03 (d, J= 5.6 Hz, 2H)
（化合物２６を用いたトップコンタクト－ボトムゲート（ＴＣＢＧ）型ＦＥＴ素子の作製）
　化合物Ｃ８－ＮＤＴＩに代えて、化合物２６を用い、上記の化合物Ｃ８－ＮＤＴＩ用いたトップコンタクト－ボトムゲート（ＴＣＢＧ）型ＦＥＴ素子の作製と同様の手法により、ＦＥＴ素子を作製した。なお、蒸着基板温度を１５０℃、２００℃とし、それぞれにつきシラン処理剤として、オクチルトリクロロシラン（ＯＴＳ）、オクタデシルトリクロロシラン（ＯＤＴＳ）を用いた。作製したそれぞれのＦＥＴ素子をＣ２６（１５０，ＯＴＳ）素子、Ｃ２６（１５０，ＯＤＴＳ）素子、Ｃ２６（２００，ＯＴＳ）素子、Ｃ２６（２００，ＯＤＴＳ）素子と記す。
　作製したそれぞれのＥＦＴ素子に、ゲート電圧Ｖｇを－２０～６０Ｖ、ソース・ドレイン間電圧Ｖｄを０～６０Ｖに変化させてトランジスタ特性を測定した。それぞれのＦＥＴ素子の電荷移動度（μ）、電流のオン・オフ比（Ｉｏｎ／Ｉｏｆｆ）、及び、スレッショルド電圧（Ｖｔｈ）を表２に示すとともに、Ｃ２６（２００，ＯＤＴＳ）素子の伝達特性を図８（Ａ）に、出力特性を図８（Ｂ）にそれぞれ示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000057
（化合物３１の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000058
　化合物１の代わりに化合物１１を用いる以外、上記化合物２の合成方法と同様の手法により、化合物３１（収率３３％）を合成した。
　得られた化合物３１の測定結果を以下に示す。
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ 0.56 (s, 18H), 0.87 (t, J = 6.9 Hz, 6H), 1.26-1.50 (m, 60H), 1.82 (quin, J = 7.2 Hz, 4H), 4.31 (d, J = 7.3 Hz, 4H), 9.03 (s, 2H).
（化合物３２の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000059
　化合物１の代わりに化合物１２を用いる以外、上記化合物２の合成方法と同様の手法により、化合物３２（収率２０％）を合成した。
　得られた化合物３２の測定結果を以下に示す。
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ 0.45 (s, 18H), 1.18 (d, J = 6.8 Hz, 24H), 2.80 (sept, J = 6.8 Hz, 4H), 7.41 (d, J = 7.4 Hz, 4H), 7.52 (t, J = 7.4 Hz, 2H), 9.14 (s, 2H).
（化合物３３の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000060
　化合物１の代わりに化合物１３を用いる以外、上記化合物２の合成方法と同様の手法により、化合物３３（収率１２％）を合成した。
　得られた化合物３３の測定結果を以下に示す。
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ 0.54 (s, 18H)) 5.21 (t, J = 15.6 Hz, 4H), 9.11 (s, 2H).
（化合物３４の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000061
　化合物１の代わりに化合物１４を用いる以外、上記化合物２の合成方法と同様の手法により、化合物３４（収率４５％）を合成した。
　得られた化合物３４の測定結果を以下に示す。
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ 0.54 (s, 18H), 0.85 (m, 12H), 1.19-1.40 (m, 64H), 2.15 (m, 2H), 4.30 (m, 4H), 9.11 (s, 2H); 13C NMR (100 MHz, CDCl3) δ 14.6, 23.2, 26.9, 30.1, 30.2, 32.4, 37.0, 45.7, 117.6, 118.8, 122.9, 131.0, 144.6, 148.6, 159.8, 164.0, 164.1.
（化合物３５の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000062
　化合物１の代わりに化合物１５を用いる以外、上記化合物２の合成方法と同様の手法により、化合物３５（収率４０％）を合成した。
　得られた化合物３５の測定結果を以下に示す。
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ 0.57 (s, 18H), 0.86 (t, J = 3.6 Hz, 6H), 0.88 (t, J = 3.6 Hz, 6H), 1.19-1.40 (m, 80H), 2.11 (sept, J = 7.3 Hz, 2H), 4.25 (d, J = 7.3 Hz, 4H), 9.12 (s, 2H); 13C NMR (100 MHz, CDCl3) δ 14.22, 22.79, 26.54, 29.43, 29.46, 29.77, 30.23, 31.67, 32.00, 32.02, 36.54, 116.90, 118.11, 122.28, 130.54, 143.97, 148.05, 159.29, 163.28, 163.45.
（化合物３６）の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000063
　化合物１の代わりに化合物１７を用いる以外、上記化合物２の合成方法と同様の手法により、化合物３６（収率４０％）を合成した。
　得られた化合物３６の測定結果を以下に示す。
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ 0.56 (s, 18H), 0.87 (t, J = 6.4 Hz, 12H), 1.30-1.56 (m, 82H), 1.76 (quin, J= 7.6 Hz, 4H), 4.33 (t, J = 7.3 Hz, 4H), 9.06 (s, 2H); 13C NMR (100 MHz, CDCl3) δ 14.22, 22.79, 26.54, 29.43, 29.46, 29.77, 30.23, 31.67, 32.00, 32.02, 36.54, 116.90, 118.11, 122.28, 130.54, 143.97, 148.05, 159.29, 163.28, 163.45.
（化合物４１の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000064
　化合物２の代わりに化合物３４を用いる以外、上記化合物３の合成方法と同様の手法により、化合物４１（収率８０％）を合成した。
　得られた化合物４１の測定結果を以下に示す。
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ 0.86 (m, 12H), 1.20-1.40 (m, 64H), 2.01 (m, 2H), 4.15 (m, 4H), 8.91 (s, 2H).
（化合物４２の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000065
　化合物２の代わりに化合物３５を用いる以外、上記化合物３の合成方法と同様の手法により、化合物４２（収率８２％）を合成した。
　得られた化合物４２の測定結果を以下に示す。
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ 0.85 (t, J = 3.6 Hz, 6H), 0.88 (t, J = 3.6 Hz, 6H), 1.21-1.40 (m, 80H), 2.04 (sept, J = 6.8 Hz, 2H), 4.16 (d, J = 6.8 Hz, 4H), 8.97 (s, 2H); 13C NMR (100 MHz, CDCl3) δ 14.23, 22.80, 26.49, 29.47, 29.73, 29.77, 30.14, 31.72, 32.03, 36.6, 45.18, 116.02, 117.57, 122.05, 126.83, 142.26, 146.22, 162.93, 163.26.
（化合物４３の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000066
　化合物２の代わりに化合物３６を用いる以外、上記化合物３の合成方法と同様の手法により、化合物４３（収率７４％）を合成した。
　得られた化合物４３の測定結果を以下に示す。
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ0.88 (t, J = 6.4 Hz, 12H), 1.30-1.66 (m, 82H), 1.74 (quin, J= 7.6 Hz, 4H), 4.26 (t, J = 6.8 Hz, 4H), 9.02 (s, 2H); 13C NMR (100 MHz, CDCl3) δ 14.23, 22.80, 26.49, 29.47, 29.73, 29.77, 30.14, 31.72, 32.03, 36.6, 45.18, 116.02, 117.57, 122.05, 126.83, 142.26, 146.22, 162.93, 163.26.
（高分子化合物Ｐ１の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000067
　化合物３の代わりに化合物４１を、５，５’－ビス（トリメチルスタンニル）－４，４’－ジドデシル－２，２’－ビチオフェンの代わりに５，５’－ビス（トリメチルスタンニル）－２，２’－ビチオフェンを用いる以外、上記高分子化合物ＰＮＤＴＩ－ＢＴの合成方法と同様の手法により、高分子化合物Ｐ１（収率１８％）を合成した。
　得られた高分子化合物Ｐ１の測定結果を以下に示す。
Anal. Calcd for (C66H88N2O4S4)n: C, 71.82; H, 8.22; N, 2.54%; Found C, 70.905; H, 7.98; N, 2.30%;
（高分子化合物Ｐ２の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000068
　化合物３の代わりに化合物４２を、５，５’－ビス（トリメチルスタンニル）－４，４’－ジドデシル－２，２’－ビチオフェンの代わりに５，５’－ビス（トリメチルスタンニル）－２，２’－ビチオフェンを用いる以外、上記高分子化合物ＰＮＤＴＩ－ＢＴの合成方法と同様の手法により、高分子化合物Ｐ２（収率９４％）を合成した。
　得られた高分子化合物Ｐ２の測定結果を以下に示す。
Anal. Calcd for (C74H104N2O4S4)n: C, 73.10; H, 8.79; N, 2.30%; Found C, 73.05; H, 8.75; N, 2.16%
（高分子化合物Ｐ３の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000069
　上記反応式に示すように、上記高分子化合物ＰＮＤＴＩ－ＢＴの合成方法と同様の手法により、高分子化合物Ｐ３（収率９２％）を合成した。
　得られた高分子化合物Ｐ３の測定結果を以下に示す。
Anal. Calcd for (C76H108N2O4S4)n: C, 73.50; H, 8.77; N, 2.26%; Found C, 73.22; H, 8.64; N, 2.13%;
（高分子化合物Ｐ４の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000070
　５，５’－ビス（トリメチルスタンニル）－２，２’－ビチオフェンの代わりに２，７－ビス（トリメチルスタンニル）ナフト［１，２－ｂ：５，６－ｂ’］ジチオフェンを用いる以外、上記高分子化合物ＰＮＤＴＩ－ＢＴの合成方法と同様の手法により、高分子化合物Ｐ４（収率８５％）を合成した。
　得られた高分子化合物Ｐ４の測定結果を以下に示す。
Anal. Calcd for (C80H108N2O4S4)n: C, 74.37; H, 8.58; N, 2.17%; Found C, 74.05; H, 8.58; N, 2.06%;
（高分子化合物Ｐ５の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000071
　５，５’－ビス（トリメチルスタンニル）－２，２’－ビチオフェンの代わりに１，２－ビス（トリメチルスタンニル）エチレンを用いる以外、上記高分子化合物ＰＮＤＴＩ－ＢＴの合成方法と同様の手法により、高分子化合物Ｐ５（収率４５％）を合成した。
　得られた高分子化合物Ｐ５の測定結果を以下に示す。
Anal. Calcd for (C68H104N2O4S4)n: C, 75.79; H, 9.73; N, 2.60%; Found C, 75.54; H, 10.23; N, 2.48%;
（高分子化合物Ｐ６の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000072
　５，５’－ビス（トリメチルスタンニル）－２，２’－ビチオフェンの代わりに４，７－ビス（トリメチルスタンニル）－２，１，３－ベンゾチアジアゾールを用いる以外、上記高分子化合物ＰＮＤＴＩ－ＢＴの合成方法と同様の手法により、高分子化合物Ｐ６（収率６７％）を合成した。
　得られた高分子化合物Ｐ６の測定結果を以下に示す。
Anal. Calcd for (C72H104N2O4S3)n: C, 72.93; H, 8.84; N, 4.72%; Found C, 72.49; H, 8.79; N, 4.55%;
（高分子化合物Ｐ７の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000073
　５，５’－ビス（トリメチルスタンニル）－２，２’－ビチオフェンの代わりに４，９－ビス（トリメチルスタンニル）ナフト［１，２－ｃ：５，６－ｃ’］ビス［１，２，５］チアジアゾールを用いる以外、上記高分子化合物ＰＮＤＴＩ－ＢＴの合成方法と同様の手法により、高分子化合物Ｐ７（収率８８％）を合成した。
　得られた高分子化合物Ｐ７の測定結果を以下に示す。
Anal. Calcd for (C76H104N6O4S4)n: C, 70.55; H, 8.10; N, 6.50%; Found C, 66.48; H, 7.39; N, 6.60%;
（高分子化合物Ｐ８の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000074
　化合物４２の代わりに化合物４３を用いる以外、上記高分子化合物Ｐ2の合成方法と同様の手法により、高分子化合物Ｐ８（収率８１％）を合成した。
　得られた高分子化合物Ｐ８の測定結果を以下に示す。
Anal. Calcd for (C76H110N2O4S4)n: C, 73.38; H, 8.91; N, 2.25%; Found C, 73.31; H, 8.69; N, 2.19%;
（高分子化合物Ｐ２を用いたＴＣＢＧ型ＦＥＴ素子の作製）
　高分子化合物Ｐ２を用い、上述した高分子化合物ＰＮＤＴＩ－ＢＴを用いたＴＣＢＧ型ＦＥＴ素子の作製と同様の手法でＦＥＴ素子を作製した。なお、ｎ－型シリコン基板のシラン処理には、ヘキサメチルジシラザン（ＨＭＤＳ）を用いた。また、アニール処理を行わずに作製したＦＥＴ素子をＰ２（ＨＮＡｎ）素子、１５０℃、３０ｍｉｎの条件でアニール処理して作製したＦＥＴ素子をＰ２（ＨＡｎ１５０）素子、３５０℃、３０ｍｉｎの条件でアニール処理して作製したＦＥＴ素子をＰ２（ＨＡｎ３５０）素子と記す。
　また、上記同様に、ｎ－型シリコン基板のシラン処理にオクタデシルトリクロロシラン（ＯＤＴＳ）を用い、１５０℃、３０ｍｉｎの条件でアニール処理して作製したＦＥＴ素子をＰ２（ＯＡｎ１５０）素子、３５０℃、３０ｍｉｎの条件でアニール処理して作製したＦＥＴ素子をＰ２（ＯＡｎ３５０）素子と記す。
　作製したそれぞれのＦＥＴ素子について、ゲート電圧Ｖｇを－８０～０Ｖ、ソース・ドレイン間電圧Ｖｄを－６０～０Ｖに変化させてｐ型トランジスタ特性を測定した。また、ゲート電圧Ｖｇを０～６０Ｖ、ソース・ドレイン間電圧Ｖｄを０～６０Ｖに変化させてｎ型トランジスタ特性を測定した。
　それぞれの素子のホール移動度（μh）、電子移動度（μｅ）、電流のオン・オフ比（Ｉｏｎ／Ｉｏｆｆ）、及び、スレッショルド電圧（Ｖｔｈ）をそれぞれ表３に示す。また、Ｐ２（ＯＡｎ３５０）素子のｐ型半導体の出力特性を図９（Ａ）に、ｎ型半導体の出力特性を図９（Ｂ）にそれぞれ示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000075
　いずれのＦＥＴ素子もｐ型トランジスタ挙動及びｎ型トランジスタ挙動を示しており、両極性を備えていることがわかる。特に、Ｐ２（ＯＡｎ３５０）素子では、ホール移動度が０．１０ｃｍ２／Ｖｓ、電子移動度が０．２７ｃｍ２／Ｖｓと良好であった。以上のように、高分子化合物Ｐ２では、ｐ型半導体材料、ｎ型半導体材料のいずれにも用い得ることがわかった。
（高分子化合物Ｐ７を用いたＴＣＢＧ型ＦＥＴ素子の作製）
　高分子化合物Ｐ２に代わりに高分子化合物Ｐ７を用い、シラン処理にオクタデシルトリクロロシラン（ＯＤＴＳ）を用い、１５０℃、３０ｍｉｎの条件でアニール処理した以外、高分子化合物Ｐ２を用いたＴＣＢＧ型ＦＥＴ素子の作製と同様の手法により、ＦＥＴ素子を作製した。
　そして、Ｐ７素子について、ゲート電圧Ｖｇを－２０～６０Ｖ、ソース・ドレイン間電圧Ｖｄを０～６０Ｖに変化させてトランジスタ特性を測定した。
　Ｐ７素子の電荷移動度（μ）、電流のオン・オフ比（Ｉｏｎ／Ｉｏｆｆ）、及び、スレッショルド電圧（Ｖｔｈ）を表４に示す。また、Ｐ７素子の伝達特性を図１０（Ａ）に、出力特性を図１０（Ｂ）にそれぞれ示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000076
（化合物５１の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000077
　２Ｍ Ｎａ２ＣＯ３水溶液（１ｍＬ）及び１，４－ジオキサン（３ｍＬ）の混合物をアルゴンガスでパージして脱気した。そして、４－（トリフルオロメチル）フェニルボロン酸（５７ｍｇ、０．３ｍｍｏｌ）、化合物３（７６ｍｇ、０．１ｍｍｏｌ）、Ｐｄ（ＰＰｈ３）(２ｍｏｌ％)を添加した。
　アルゴン雰囲気下で混合物を１２時間加熱した後、１０％ ＨＣｌ水溶液（１０ｍＬ）を加えてクエンチした。
　有機相をジクロロメタン（２０ｍＬ）で抽出した。抽出物を水、ブラインで洗浄した後、硫酸マグネシウムで乾燥し、濃縮させて粗生成物を得た。この粗生成物をトルエン－エタノールを用いた再結晶により精製し、化合物５１（６６ｍｇ、収率７４％）を得た。
　得られた化合物５１の測定結果を以下に示す。
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ 0.85 (t, J = 3.7 Hz, 6H), 1.26-1.43 (m, 20H), 1.87 (quin, J = 7.2 Hz, 4H), 4.37 (t, J = 7.2 Hz, 4H), 7.73 (d, J = 8.2 Hz, 2H), 8.01 (d, J = 8.2 Hz, 2H), 9.20 (s, 2H).
（化合物５２の合成）
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000078
　４－（トリフルオロメチル）フェニルボロン酸の代わりに５－ピリミジルボロン酸を用いる以外、上記化合物５１の合成方法と同様の手法により、化合物５２（収率８３％）を合成した。
　得られた化合物５２の測定結果を以下に示す。
1H NMR (400 MHz, CDCl3) δ 0.89 (t, J = 6.8 Hz, 6H), 1.26-1.43 (m, 20H), 1.88 (quin, J = 7.2 Hz, 4H), 4.40 (t, J = 7.6 Hz, 4H), 9.31 (s, 2H), 9.33 (s, 2H), 9.43 (s, 2H).
　なお、本発明は、本発明の範囲を逸脱することなく、様々な実施形態及び変形が可能とされるものである。また、上述した実施形態は、本発明を説明するためのものであり、本発明の範囲を限定するものではない。
　本出願は、２０１３年４月３０日に出願された日本国特許出願２０１３－９５５９６号及び２０１３年７月２６日に出願された日本国特許出願２０１３－１５６１３０号に基づく。本明細書中に、日本国特許出願２０１３－９５５９６号及び日本国特許出願２０１３－１５６１３０号の明細書、特許請求の範囲全体、並びに、本明細書で引用したすべての刊行物、特許および特許出願を参照として取り込むものとする。
　本発明に係る化合物は平面性に優れるとともに、カルコゲノフェン環α位を持つため、容易に共役拡張が可能である。これにより、共役拡張して種々の高分子化合物の合成、並びに、有機半導体材料への展開が期待される。

Claims (8)

  1. 　式１で表される、
    　ことを特徴とする化合物。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000001
    （式１中、Ｒは独立にアルキル基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基、アルキルカルボニル基又はアリール基を表し、Ｘは独立に水素、ハロゲン、アリール基又は複素芳香環基を表し、Ｚは独立に硫黄又はセレンを表す。）
  2. 　高分子主鎖に式２で表される骨格を有する、
    　ことを特徴とする高分子化合物。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000002
    （式２中、Ｒは独立にアルキル基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基、アルキルカルボニル基又はアリール基を表し、Ｚは独立に硫黄又はセレンを表す。）
  3. 　式３で表される、
    　ことを特徴とする高分子化合物。
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000003
    （式３中、Ｒは独立にアルキル基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基、アルキルカルボニル基又はアリール基を表し、Ｚは独立に硫黄又はセレンを表し、Ｙは式４で表される構造を表し、ｍは０以上の整数を表し、ｎは正の実数を表す。）
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000004
    （式４中、Ｗは、独立に炭素又は窒素を表し、炭素の場合は置換基として水素、ハロゲン、アルキル基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基又はアルキルカルボニル基のいずれかを有し、Ｑは２価の複素環基、アルキレン基、アルケニレン基、又はアルキニレン基を表し、ｌ及びｒはそれぞれ独立に０以上の整数を表す。）
  4. 　請求項１に記載の化合物、請求項２に記載の高分子化合物、及び、請求項３に記載の高分子化合物のいずれかを含有する、
    　ことを特徴とする有機半導体材料。
  5. 　請求項４に記載の有機半導体材料を含有する、
    　ことを特徴とする有機半導体デバイス。
  6. 　式Ａ１で表される化合物とトリアルキルシリルアセチレンとを反応させて式Ａ２で表される化合物を合成すること、
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000005
    （式Ａ１中、Ｒは独立にアルキル基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基、アルキルカルボニル基又はアリール基を表し、Ｘ１はハロゲンを表す。）
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000006
    （式Ａ２中、Ｒは式Ａ１における定義と同じであり、ＴＡＳはトリアルキルシリル基を表す。）
    　式Ａ２で表される化合物と硫化物塩又はセレン化物塩とを反応させて式１ａで表される化合物を合成すること、
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000007
    （式１ａ中、Ｒは式Ａ１における定義と同じであり、Ｚは独立に硫黄又はセレンを表す。）
    　を含む、化合物の合成方法。
  7. 　式Ａ１で表される化合物とトリアルキルシリルアセチレンとを反応させて式Ａ２で表される化合物を合成すること、
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000008
    （式Ａ１中、Ｒは独立にアルキル基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基、アルキルカルボニル基又はアリール基を表し、Ｘ１はハロゲンを表す。）
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000009
    （式Ａ２中、Ｒは式Ａ１における定義と同じであり、ＴＡＳはトリアルキルシリル基を表す。）
    　式Ａ２で表される化合物と硫化物塩又はセレン化物塩とを反応させて式Ａ３で表される化合物を合成すること、
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000010
    （式Ａ３中、Ｒは式Ａ１における定義と同じであり、ＴＡＳは式Ａ２における定義と同じであり、Ｚは独立に硫黄又はセレンを表す。）
    　式Ａ３で表される化合物とハロゲン化剤とを反応させて式１ｂで表される化合物を合成すること、
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000011
    （式１ｂ中、Ｒは式Ａ１における定義と同じであり、Ｚは式Ａ３における定義と同じであり、Ｘはハロゲンを表す。）
    　を含む、化合物の合成方法。
  8. 　式Ａ１で表される化合物とトリアルキルシリルアセチレンとを反応させて式Ａ２で表される化合物を合成すること、
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000012
    （式Ａ１中、Ｒは独立にアルキル基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基、アルキルカルボニル基又はアリール基を表し、Ｘ１はハロゲンを表す。）
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000013
    （式Ａ２中、Ｒは式Ａ１における定義と同じであり、ＴＡＳはトリアルキルシリル基を表す。）
    　式Ａ２で表される化合物と硫化物塩又はセレン化物塩とを反応させて式Ａ３で表される化合物を合成すること、
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000014
    （式Ａ３中、Ｒは式Ａ１における定義と同じであり、ＴＡＳは式Ａ２における定義と同じであり、Ｚは独立に硫黄又はセレンを表す。）
    　式Ａ３で表される化合物とハロゲン化剤とを反応させて式１ｂで表される化合物を合成すること、
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000015
    （式１ｂ中、Ｒは式Ａ１における定義と同じであり、Ｚは式Ａ３における定義と同じであり、Ｘはハロゲンを表す。）
    　式１ｂで表される化合物と式Ａ４で表される化合物とを反応させて重合し、式３で表される高分子化合物を合成すること、
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000016
    （式Ａ４中、Ｗは、独立に炭素又は窒素を表し、炭素の場合は置換基として水素、ハロゲン、アルキル基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基又はアルキルカルボニル基のいずれかを有し、Ｑは２価の複素環基、アルキレン基、アルケニレン基、又はアルキニレン基を表し、Ｘ２は、有機金属を有する置換基を表し、ｌ及びｒはそれぞれ独立に０以上の整数を表す。）
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000017
    （式３中、Ｒは式Ａ１における定義と同じであり、Ｚは式Ａ３における定義と同じであり、Ｙは式４で表される構造を表し、ｍは０以上の整数を表し、ｎは正の実数を表す。）
    Figure JPOXMLDOC01-appb-C000018
    （式４中、Ｗ、Ｑ、ｌ及びｒは式Ａ４における定義と同じである。）
    　を含む、高分子化合物の合成方法。
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