WO2014002256A1 - 太陽電池 - Google Patents
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Definitions
- the present invention relates to a solar cell.
- the main object of the present invention is to provide a solar cell having improved photoelectric conversion efficiency.
- the solar cell 1 includes a substrate 11 made of a semiconductor material.
- the substrate 11 has n-type or p-type conductivity.
- the conductivity type of the substrate 11 is n-type.
- the substrate 11 can be made of, for example, an n-type crystal semiconductor material.
- the substrate 11 can be composed of, for example, n-type crystalline silicon.
- the crystalline semiconductor material includes a single crystal semiconductor material and a polycrystalline semiconductor material. Crystalline silicon includes single crystal silicon and polycrystalline silicon.
- An i-type semiconductor layer 12i made of a substantially intrinsic i-type semiconductor material may be provided between the p-type amorphous semiconductor layer 12p (a) and the first main surface 11a.
- the i-type semiconductor layer 12i can be made of, for example, i-type amorphous silicon.
- the thickness of the i-type semiconductor layer 12i is preferably a thickness that does not substantially contribute to power generation (for example, about 0.00 nm to 25 nm).
- An i-type semiconductor layer 15i made of a substantially intrinsic i-type semiconductor material may be provided between the n-type amorphous semiconductor layer 15n (a) and the second main surface 11b.
- This i-type semiconductor layer 15i can be made of, for example, i-type amorphous silicon.
- the thickness of the i-type semiconductor layer 15i is preferably a thickness that does not substantially contribute to power generation (for example, about 0.00 nm to 25 nm).
- Example 1 A solar cell having a configuration substantially similar to that of the solar cell 2 according to the second embodiment shown in FIG. 2 was produced under the following conditions, and the series resistance between the p-side electrode and the n-side electrode was measured. . The results are shown in Table 1 below.
- Material of substrate 11 Single crystal silicon Material of i-type semiconductor layers 12i, 15i: i-type amorphous silicon Material of p-type amorphous semiconductor layer 12p (a): Material of p-type amorphous silicon Material of transparent conductive oxide layer 13: Indium oxide Material of n-type amorphous semiconductor layer 15n (a): n-type amorphous silicon Material of n-type microcrystalline semiconductor layer 19n (c): n-type microcrystalline silicon p-type microcrystalline semiconductor layer 16p (c) Material: p-type microcrystalline silicon Material of p-type amorphous semiconductor layer 16p (a): p-type amorphous silicon Material of transparent conductive oxide layer 17: indium oxide
- Example 1 in which the p-type amorphous semiconductor layer 16p (a) is provided between the p-type microcrystalline semiconductor layer 16p (c) and the transparent conductive oxide layer 17 is more p-type amorphous. It can be seen that the series resistance of the solar cell is lower than that of Example 2 in which the semiconductor layer 16p (a) is not provided.
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Description
本発明は、太陽電池に関する。
近年、環境負荷が小さなエネルギー源として、太陽電池に対する注目が高まってきている。例えば特許文献1には、光電変換部の一主面の上にp側電極が配されており、他主面の上にn側電極が配されている太陽電池が記載されている。特許文献1に記載の太陽電池では、光電変換部と電極との間に透明導電性酸化物層が設けられている。
近年、太陽電池の光電変換効率をさらに改善したいという要望が高まってきている。
本発明の主な目的は、改善された光電変換効率を有する太陽電池を提供することである。
本発明に係る太陽電池は、半導体材料からなる基板と、p型非晶質半導体層と、p側電極と、n型非晶質半導体層と、透明導電性酸化物層と、n側電極と、p型半導体層とを備える。p型非晶質半導体層は、基板の一主面の上に設けられている。p側電極は、p型非晶質半導体層の上に設けられている。n型非晶質半導体層は、基板の他主面の上に設けられている。透明導電性酸化物層は、n型非晶質半導体層の上に設けられている。n側電極は、透明導電性酸化物層の上に設けられている。p型半導体層は、n型非晶質半導体層と透明導電性酸化物層との間に設けられている。
本発明によれば、改善された光電変換効率を有する太陽電池を提供することができる。
以下、本発明を実施した好ましい形態の一例について説明する。但し、下記の実施形態は、単なる例示である。本発明は、下記の実施形態に何ら限定されない。
また、実施形態等において参照する各図面において、実質的に同一の機能を有する部材は同一の符号で参照することとする。また、実施形態等において参照する図面は、模式的に記載されたものであり、図面に描画された物体の寸法の比率などは、現実の物体の寸法の比率などとは異なる場合がある。図面相互間においても、物体の寸法比率等が異なる場合がある。具体的な物体の寸法比率等は、以下の説明を参酌して判断されるべきである。
図1に示されるように、第1の実施形態に係る太陽電池1は、半導体材料からなる基板11を備えている。基板11は、n型またはp型の導電型を有する。本実施形態では、具体的には、基板11の導電型は、n型である。基板11は、例えば、n型の結晶半導体材料などにより構成することができる。具体的には、基板11は、例えば、n型の結晶シリコンにより構成することができる。なお、結晶半導体材料には、単結晶半導体材料と多結晶半導体材料とが含まれるものとする。結晶シリコンには、単結晶シリコンと多結晶シリコンとが含まれるものとする。
基板11は、第1の主面11aと第2の主面11bとを有する。第1の主面11aは、受光面側に位置する。ここで、「受光面」とは、2つの主面のうち、主として受光する側の主面をいい、他方の主面を裏面という。
第1の主面11aの上には、p型非晶質半導体層12p(a)が設けられている。p型非晶質半導体層12p(a)の導電型は、基板11とは異なる導電型であるp型である。p型非晶質半導体層12p(a)は、例えば、p型のアモルファスシリコンにより構成することができる。
p型非晶質半導体層12p(a)と第1の主面11aとの間に、実質的に真性なi型半導体材料からなるi型半導体層12iが設けられていてもよい。このi型半導体層12iは、例えば、i型アモルファスシリコンにより構成することができる。i型半導体層12iの厚みは、実質的に発電に寄与しない程度の厚み(例えば、0.数nm~25nm程度)であることが好ましい。
p型非晶質半導体層12p(a)の上には、p側電極14pが配されている。p側電極14pは、一の方向に沿って延び、一の方向に対して傾斜した(典型的には垂直な)他の方向に沿って相互に間隔をおいて配された複数のフィンガー部を有することが好ましい。p側電極14pは、複数のフィンガー部に電気的に接続されたバスバー部を有していてもよい。p側電極14pは、金属により構成されている。p側電極14pは、例えば、Ag、Cuなどの少なくとも一種の金属により構成することができる。
p側電極14pとp型非晶質半導体層12p(a)との間には、透明導電性酸化物(Transparent Conductive Oxide:TCO)層13が設けられている。この透明導電性酸化物層13は、例えば、インジウム、スズ、亜鉛などを主成分とした酸化物により構成することができる。なお、透明導電性酸化物13は、インジウムスズ酸化物(ITO)のように、インジウム、スズ、亜鉛などを主成分とした酸化物に微量の元素を添加したものであってもよい。
基板11の第2の主面11bの上には、n型非晶質半導体層15n(a)が設けられている。n型非晶質半導体層15n(a)の導電型は、基板11と同じ導電型であるn型である。n型非晶質半導体層15n(a)は、例えば、n型のアモルファスシリコンにより構成することができる。
n型非晶質半導体層15n(a)と第2の主面11bとの間に、実質的に真性なi型半導体材料からなるi型半導体層15iが設けられていてもよい。このi型半導体層15iは、例えば、i型アモルファスシリコンにより構成することができる。i型半導体層15iの厚みは、実質的に発電に寄与しない程度の厚み(例えば、0.数nm~25nm程度)であることが好ましい。
n型非晶質半導体層15n(a)の上には、透明導電性酸化物(Transparent Conductive Oxide:TCO)層17が設けられている。この透明導電性酸化物層17は、例えば、インジウム、スズ、亜鉛などを主成分とした酸化物により構成することができる。なお、透明導電性酸化物17は、インジウムスズ酸化物(ITO)のように、インジウム、スズ、亜鉛などを主成分とした酸化物に微量の元素を添加したものであってもよい。
透明導電性酸化物層17の上には、n側電極18nが配されている。このn側電極18nは、電子を収集する電極である。n側電極18nは、一の方向に沿って延び、一の方向に対して傾斜した(典型的には垂直な)他の方向に沿って相互に間隔をおいて配された複数のフィンガー部を有することが好ましい。n側電極18nのフィンガー部のピッチは、p側電極14pのフィンガー部のピッチよりも狭いことが好ましい。すなわち、n側電極18nのフィンガー部の方が、p側電極14pのフィンガー部よりも密に設けられていることが好ましい。n側電極18nは、複数のフィンガー部に電気的に接続されたバスバー部を有していてもよい。n側電極18nは、金属により構成されている。n側電極18nは、例えば、Ag、Cuなどの少なくとも一種の金属により構成することができる。
一般的には、透明導電性酸化物層及びn側電極は、n型非晶質半導体層の直上に設けられる。一方、太陽電池1では、n型非晶質半導体層15n(a)と透明導電性酸化物層17との間に、p型半導体層16pが設けられている。このp型半導体層16pは、透明導電性酸化物層17に接するように設けられている。このため、透明導電性酸化物層及びn側電極を、n型非晶質半導体層の直上に設けた場合よりも、光電変換効率を改善することができる。この理由としては、以下のような理由が考えられる。
n型半導体層と透明導電性酸化物層とのコンタクト抵抗は、p型半導体層と透明導電性酸化物層との間のコンタクト抵抗よりも高いものと考えられる。これは、p型半導体層と透明導電性酸化物層とが急峻にバンド接合しているため、p型半導体層の正孔と透明導電性酸化物層の電子が界面においてキャリア再結合しやすく電気が流れやすいのに対して、n型半導体層と透明導電性酸化物層では同じ電子をキャリアに持つためバンドオフセットによる影響を受けやすく電気が流れにくい。太陽電池1では、n型非晶質半導体層15n(a)と透明導電性酸化物層17との間にp型半導体層16pが設けられている。このため、n型非晶質半導体層15n(a)とp型半導体層16pとの間でキャリアの再結合が容易に生じる。更にp型半導体層16pと透明導電性酸化物層17との間でも再びキャリアの再結合が容易に生じる。このため、n型非晶質半導体層15n(a)と透明導電性酸化物層17との間の電気抵抗が、p型半導体層16pが設けられていない場合よりも低い。その結果、改善された光電変換効率が得られるものと考えられる。
より改善された光電変換効率を実現する観点から、p型半導体層16pが、p型微結晶半導体層16p(c)を含むことが好ましく、p型微結晶半導体層16p(c)と透明導電性酸化物層17との間に配されたp型非晶質半導体層16p(a)をさらに含むことがより好ましい。また、図2に示される太陽電池2のように、p型半導体層16pとn型非晶質半導体層15n(a)との間にn型微結晶半導体層19n(c)が設けられていることがさらに好ましい。
p型微結晶半導体層16p(c)は、例えば、p型微結晶シリコンにより構成することができる。p型微結晶半導体層16p(c)の厚みは、特に限定されないが、例えば、1nm~30nmであることが好ましく、1nm~15nmであることがより好ましい。p型非晶質半導体層16p(a)は、例えば、p型アモルファスシリコンにより構成することができる。p型非晶質半導体層16p(a)の厚みは、特に限定されないが、例えば、0.5nm~30nmであることが好ましく、1nm~10nmであることがより好ましい。n型微結晶半導体層19n(c)は、例えば、n型微結晶シリコンにより構成することができる。n型微結晶半導体層19n(c)の厚みは、特に限定されないが、例えば、1nm~30nmであることが好ましく、1nm~15nmであることがより好ましい。
なお、微結晶半導体層とは、半導体結晶粒を複数個含む層をいう。微結晶半導体層には、実質的に半導体結晶粒のみからなる層が含まれる。また、微結晶半導体層は、半導体結晶粒に加え、半導体のアモルファス領域を有していてもよい。
(実施例1)
図2に示される第2の実施形態に係る太陽電池2と実質的に同様の構成を有する太陽電池を下記の条件で作製し、p側電極とn側電極との間のシリーズ抵抗を測定した。結果を下記の表1に示す。
図2に示される第2の実施形態に係る太陽電池2と実質的に同様の構成を有する太陽電池を下記の条件で作製し、p側電極とn側電極との間のシリーズ抵抗を測定した。結果を下記の表1に示す。
基板11の材質:単結晶シリコン
i型半導体層12i、15iの材質:i型アモルファスシリコン
p型非晶質半導体層12p(a)の材質:p型アモルファスシリコン
透明導電性酸化物層13の材質:インジウム酸化物
n型非晶質半導体層15n(a)の材質:n型アモルファスシリコン
n型微結晶半導体層19n(c)の材質:n型微結晶シリコン
p型微結晶半導体層16p(c)の材質:p型微結晶シリコン
p型非晶質半導体層16p(a)の材質:p型アモルファスシリコン
透明導電性酸化物層17の材質:インジウム酸化物
i型半導体層12i、15iの材質:i型アモルファスシリコン
p型非晶質半導体層12p(a)の材質:p型アモルファスシリコン
透明導電性酸化物層13の材質:インジウム酸化物
n型非晶質半導体層15n(a)の材質:n型アモルファスシリコン
n型微結晶半導体層19n(c)の材質:n型微結晶シリコン
p型微結晶半導体層16p(c)の材質:p型微結晶シリコン
p型非晶質半導体層16p(a)の材質:p型アモルファスシリコン
透明導電性酸化物層17の材質:インジウム酸化物
(実施例2)
p型非晶質半導体層16p(a)を設けなかったこと以外は、実施例1と同様にして太陽電池を作製し、p側電極とn側電極との間のシリーズ抵抗を測定した。結果を下記の表1に示す。
p型非晶質半導体層16p(a)を設けなかったこと以外は、実施例1と同様にして太陽電池を作製し、p側電極とn側電極との間のシリーズ抵抗を測定した。結果を下記の表1に示す。
(比較例)
n型微結晶半導体層19n(c)及びp型半導体層16pを設けなかったこと以外は、実施例1と同様にして太陽電池を作製し、p側電極とn側電極との間のシリーズ抵抗を測定した。結果を下記の表1に示す。
n型微結晶半導体層19n(c)及びp型半導体層16pを設けなかったこと以外は、実施例1と同様にして太陽電池を作製し、p側電極とn側電極との間のシリーズ抵抗を測定した。結果を下記の表1に示す。
表1に示す結果から、n型非晶質半導体層15n(a)と透明導電性酸化物層17との間にp型半導体層16pが設けられている実施例1,2では、n型非晶質半導体層15n(a)と透明導電性酸化物層17との間にp型半導体層が設けられていない比較例よりも太陽電池のシリーズ抵抗が低いことが分かる。
p型微結晶半導体層16p(c)と透明導電性酸化物層17との間にp型非晶質半導体層16p(a)が設けられている実施例1の方が、p型非晶質半導体層16p(a)が設けられていない実施例2よりも太陽電池のシリーズ抵抗が低いことが分かる。
1,2…太陽電池
11…基板
11a…第1の主面
11b…第2の主面
12i、15i…i型半導体層
12p(a)…p型非晶質半導体層
13,17…透明導電性酸化物層
14p…p側電極
15n(a)…n型非晶質半導体層
16p…p型半導体層
16p(a)…p型非晶質半導体層
16p(c)…p型微結晶半導体層
18n…n側電極
19n(c)…n型微結晶半導体層
11…基板
11a…第1の主面
11b…第2の主面
12i、15i…i型半導体層
12p(a)…p型非晶質半導体層
13,17…透明導電性酸化物層
14p…p側電極
15n(a)…n型非晶質半導体層
16p…p型半導体層
16p(a)…p型非晶質半導体層
16p(c)…p型微結晶半導体層
18n…n側電極
19n(c)…n型微結晶半導体層
Claims (4)
- 半導体材料からなる基板と、
前記基板の一主面の上に設けられたp型非晶質半導体層と、
前記p型非晶質半導体層の上に設けられたp側電極と、
前記基板の他主面の上に設けられたn型非晶質半導体層と、
前記n型非晶質半導体層の上に設けられた透明導電性酸化物層と、
前記透明導電性酸化物層の上に設けられたn側電極と、
前記n型非晶質半導体層と前記透明導電性酸化物層との間に設けられたp型半導体層と、
を備える、太陽電池。 - 前記p型半導体層が、p型微結晶半導体層を含む、請求項1に記載の太陽電池。
- 前記p型半導体層が、前記p型微結晶半導体層と前記透明導電性酸化物層との間に配されたp型非晶質半導体層とをさらに含む、請求項2に記載の太陽電池。
- 前記p型半導体層と前記n型非晶質半導体層との間に配されたn型微結晶半導体層をさらに備える、請求項1~3のいずれか一項に記載の太陽電池。
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Legal Events
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| 121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
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| ENP | Entry into the national phase |
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| NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: DE |
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| 122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
Ref document number: 12879799 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
