WO2013185697A1

WO2013185697A1 - 一种有源天线系统无线指标的测试方法及装置

Info

Publication number: WO2013185697A1
Application number: PCT/CN2013/080124
Authority: WO
Inventors: 王博明; 李香玲; 王鹏; 黄沛瑜
Original assignee: 中兴通讯股份有限公司
Priority date: 2012-07-27
Filing date: 2013-07-25
Publication date: 2013-12-19
Also published as: CN102857310B; CN102857310A

Abstract

一种有源天线系统无线指标的测试方法及装置，分别釆用空间射频（OTA）测试对有源天线系统的空间特性进行测试；釆用近场耦合方式对有源天线系统的射频指标进行测试。还提出了一种近场耦合测试的装置-射频测试罩，通过这种装置可以对有源天线系统这种天线和多通道收发信机一体化设备，在不需要增加任何额外的测试接口下完成射频指标测试。上述技术方案的一种综合的测试方法，充分结合了OTA测试和近场耦合方式两种测试方法的优点，克服了两者的缺陷和问题，从而在测试效率和测试成本上达到最优化。

Description

一种有源天线系统无线指标的测试方法及装置

技术领域

本发明涉及有源天线系统无线指标的测试技术领域，尤其涉及一种有源天线系统无线指标的测试方法及装置。

背景技术

有源天线系统（AAS )作为一种多通道收发信机与基站天线集成的基站通信子系统，它是天线和多通道收发信机的一体化设备，相互之间的接口表现为内部接口，工程上难以直接进行射频端口测试，这样对它的测试带来了挑战。

目前传统基站的测试，一般分为基站天线测试和基站设备测试。

对基站天线的测试，目前大部分釆用 OTA ( Over The Air, 空间射频）测试方法，这种方法也可以用于 AAS的测试，它是一种可以全面测试 AAS 无线性能的方法，包括空间特性测试和射频指标测试。但具体应用到 AAS 测试时会带来如下问题：

1 ) 为满足测试精度和可重复性的要求，对测试环境有一定的要求，如室内远场测试，需要一定尺寸的暗室；而室外远场测试，又容易受天气和外部干扰信号的影响，这样从测试成本和测试效率上都会带来问题；

2 ) 每次测试需要大量的数据支持，得出结果需要较长的时间；

3 ) 对于 AAS的一些测试项，如 CE认证实验中的可靠性实验等，需要在密闭的高低温环境下进行，这个在 OTA测试环境下^难完成；

4 )对于 AAS的一些测试项，也没有必要使用 OTA测试，如与生产相关的测试等。

目前传统基站设备的射频指标的测试大多釆用传导测试方法，测试的参考点在其有源部分的射频端口，如果釆用这种方法测试 AAS的射频指标，就需要将有源天线系统的有源部分和天线阵列部分分离开，并在有源部分增加耦合测试射频端口，这样会带来以下问题： 1 ) 增加耦合测试端口，破坏了 AAS—体化的拓朴结构；同时增加了设计的复杂度，影响了设备集成度，同时耦合方式会产生不必要的损耗；

2 ) 由于各个设备制造商釆用的耦合方式、耦合参数不同，给统一测试认证和测试规范带来困难；

3 ) 测试需要配置有合适的连接器和设备，为了让使用者得到认可，需要对测试过程和测试参数的认证做大量说明。

发明内容

本发明实施例解决的技术问题是提供一种有源天线系统无线指标的测试方法及装置，釆用一种综合的测试方法，在满足对 AAS无线性能指标测试要求的前提下，在测试成本和测试效率上达到优化。为解决上述技术问题，釆用如下技术方案：

一种有源天线系统无线指标的测试方法，包括：

釆用空间射频（OTA ) 测试对有源天线系统的空间特性进行测试；釆用近场耦合方式对所述有源天线系统的射频指标进行测试。

可选地，所述有源天线系统的空间特性测试的步骤包括：

基于暗室或模拟自由空间的测试环境 ,测试所述有源天线系统的方向图；对所述测试环境进行校准；

分别进行有源天线系统下行空间特性测试和上行空间特性测试，通过对所述有源天线系统的方向图进行补偿，分别得到等效全向辐射功率（EIRP ) 和等效全向接收灵敏度 ( EIRS ) 。

可选地，所述测试环境的建立的步骤包括：

在暗室或模拟自由空间环境下，将增益基准天线安装在天线转台上，并通过射频线缆将所述增益基准天线与矢量信号发生器相连接；将接收天线安装在天线支架上，并通过射频线缆将所述接收天线与频谱分析仪或功率计相连接。

可选地，对测试环境进行校准的步骤包括：通过调整所述天线转台和所述天线支架使所述增益基准天线与所述接收天线正向对准；

设置所述矢量信号发生器发射指定频段的下行连续模拟信号，通过所述接收天线接收此信号输入给所述频谱分析仪或功率计 ,得到相应的信号功率；得到测试环境链路的校准参数 Δ Pc。

可选地，所述有源天线系统下行空间特性测试的步骤包括：

首先，在暗室或模拟自由空间环境下，将所述有源天线系统安装在所述天线转台上，并通过光纤与后台配置设备相连接；将所述接收天线安装在所述天线支架上，并通过射频线缆与频谱分析仪或无线通信综测仪相连接；然后，按照以下步骤进行测试：

11) 配置所述有源天线系统处于发射模式，在指定频段内发射额定功率的固定无线波束；

12) 调整所述天线转台使得所述有源天线系统与所述接收天线在水平和俯仰上达到最佳指向，使所述频谱分析仪或无线通信综测仪接收到的功率值 ( Pg ) 为最大或最小；

13) 将所述有源天线系统在所述天线转台上做方位旋转，将所述频谱分析仪测量的功率值 Pg作为角度函数记录；并调整所述有源天线系统的水平或垂直安装方式及所述接收天线极化方向，得到不同主平面和不同极化的下行方向图；

14)调整所述有源天线系统配置参数，重复上述步骤 12)和步骤 13),测试

AAS不同波束指向的方向图；

15)分析所述有源天线系统的下行空间特性，并按照下式得到所述 EIRP: EIRP = Pg +APc , 其中， △ Pc为得到的所述校准参数， Pg为所述频谱分析仪测量的功率值。

可选地，所述有源天线系统上行空间特性测试的步骤包括：

首先，在暗室或模拟自由空间环境下，将所述有源天线系统安装在所述天线转台上，并通过光纤与后台配置设备相连接；将发射天线安装在所述天线支架上，并通过射频线缆与矢量信号发生器相连接；然后，按照以下步骤进行测试：

21 )配置所述有源天线系统处于接收模式，并接收指定频段固定指向的无线波束；

22)设置所述矢量信号发生器在指定频段内发射模拟调制信号，调整所述天线转台使得所述有源天线系统与所述接收天线在水平和俯仰上达到最佳指向，使所述有源天线系统接收的功率值为最大或最小；

23)将所述有源天线系统在所述天线转台上做方位旋转，并将所述有源天线系统的接收功率值 (Rs)作为角度函数记录；并调整所述有源天线系统的水平或垂直安装方式及所述发射天线的极化方向，得到不同主平面和不同极化的下行方向图；

24)调整所述有源天线系统配置参数，重复上述步骤 22)和步骤 23),测试所述有源天线系统不同波束指向的方向图；

25)分析所述有源天线系统的下行空间特性，并按照下式得到所述 EIRS： EIRS = Ps - APc, 其中， APc为得到的所述校准参数， Ps为所述矢量信号发生器输出调制信号功率值。

可选地，所述釆用近场耦合方式对所述有源天线系统的射频指标进行测试的步骤包括：

将所述有源天线系统置于测试罩中进行射频指标的测试，其中所述测试罩包括天线阵列与无源网络部分，所述天线阵列的阵子结构和组成方式与所述有源天线系统天馈部分完全相同。

可选地，通过以下方式对所述有源天线系统的射频指标进行测试：测试罩单体校准：校准所述测试罩自身所产生的差损和相位偏移量；近场耦合校准：用两个经过所述测试罩单体校准的测试罩，对所述测试罩的近场耦合测试环境进行校准；

射频指标测试：将被测有源天线系统置于校准后的所述测试罩内与所述测试罩之间构成近场耦合方式，其测试环境与所述近场耦合校准后的测试环境相同；使用所述校准得到的校准结果对测试环境进行补偿后，通过所述测试罩上的射频测试接口对所述被测有源天线系统进行射频指标的测试，得到所述被测有源天线系统射频端口的射频指标。

一种有源天线系统无线指标的测试装置，所述装置包括用于测试有源天线系统的测试罩，所述测试罩包括：金属屏蔽箱体、天线阵列、馈电网络、支路连接器和支架；

所述金属屏蔽箱体设置成：对所述测试罩内部和外部信号进行屏蔽；所述支架设置成：固定并调整所述天线阵列或者被测有源天线系统在所述测试罩中的方位；相连接；所述支路连接器的另一端连接至测试端口，实现信号的输入 /输出，完成各支路的测试。

可选地，所述测试罩内部还设有设置成：减少测试罩内部阵子之间的信号干扰的吸波材料。

综上所述，上述技术方案的一种综合测试方法，釆用 OTA测试结合测试罩，可以分别从 AAS空间特性和 AAS射频指标两个角度全面地测试 AAS 的无线性能。本发明实施例的这种综合的测试方法可以作为一种全面对有源天线系统无线性能测试的方法，通过对测试内容划分为空间特性测试和射频指标测试两项，分别利用 OTA测试和近场耦合测试来完成，充分结合了两种测试方法的优点，克服了两者的缺陷和问题，从而在测试效率和测试成本上达到最优化。附图概述

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图 1是本发明实施例的射频测试罩的基本组成框图；

图 2是 OTA测试环境校准工作原理框图；图 3是本发明实施例的有源天线系统下行空间特性测试工作原理框图；图 4是本发明实施例的有源天线系统上行空间特性测试工作原理框图；图 5是本发明实施例的射频测试罩单体校准原理框图；

图 6是本发明实施例的射频测试罩近场耦合校准工作原理框图；图 7是本发明实施例的射频测试罩测试被测件工作原理框图。

图 8是本发明实施例的 OTA测试环境校准工作流程图；

图 9是本发明实施例的有源天线系统下行空间特性测试工作流程图；图 10是本发明实施例的有源天线系统上行空间特性测试工作流程图；图 11是本发明实施例的射频测试罩校准流程图；

图 12是本发明实施例的射频测试罩测试被测件工作流程图。本发明的较佳实施方式

为了便于阐述本发明，以下将结合附图及具体实施例对本发明技术方案的实施作进一步详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

本发明实施例提出的对 AAS无线指标测试主要分为两个部分： AAS空间特性测试和 AAS射频指标测试。具体测试过程描述如下：

1、 AAS空间特性测试

AAS空间特性测试可以继承传统的基站天线测试环境，需要在暗室等天线测试场进行。主要测试 AAS的空间特性， AAS空间特性主要包括： AAS 的波束控制能力和精度，空间合成增益测试，半功率波束宽度、前后比、交叉极化比、副瓣电平测量，下倾角测试等，首先通过天线测试场的环境，测试 AAS的方向图（相对量），然后对测试场的进行校准；对方向图补偿后就可以得到表征 AAS 空间特性的绝对量，分别为等效全向辐射功率（EIRP, Effective Isotropic Radiated Power )和等效全向接收灵敏度（ EIRS, Effective Isotropic Reference Sensitivity ) 。

2、 AAS射频指标测试考虑到 AAS作为天线阵列和收发信机一体化设备，在不破坏设备完整性的前提下，本发明实施例中提出一种可以测试 AAS的射频指标的测试装置，该装置相当于一个测试装置，本文中将其称作射频测试罩。如图 1所示，射频测试罩主要包括：

天线阵列 101 , 由一系列天线阵子组成，其阵子结构和组成方式应该和被测 AAS的天馈部分完成相同。

馈电网路 102 ,用来连接测试端口和天线阵列各阵子，可以是同轴线缆，也可以是射频微带线。

支路连接器 103 , 信号的输入 /输出端口，连接测试端口和各通道的馈电网路，用于支路测试。

支架 104, 可以设置成：固定射频测试罩和被测试件之间的空间关系。吸波材料 105 , 能够减少测试罩的内部阵子之间的信号干扰以及对内外部的信号的屏蔽，使得测试罩和被测试件之间具有良好的空间电磁环境。

金属屏蔽箱 106 , 测试罩的壳体，可以对测试罩的内部和外部信号进行屏蔽，使其具有良好的空间电磁屏蔽能力。

天线阵列部分通过馈电网络实现各阵子和支路连接器连接，通过支路连接器来实现信号的输入 /输出完成各通道的测试。

射频测试罩测试，首先需要对测试罩自身和近场耦合测试环境分别进行校准，产生校准表；然后放置被测件 AAS在测试罩中，固定测试罩和被测件 AAS的空间关系，其测试环境和近场耦合校准测试环境相同，这样通过近场耦合方式，实现 AAS的各通道的测试，查找校准表并且补偿到测试系统中，可以推算出被测件 AAS的射频端口的无线射频指标。

同时，由于射频测试罩的天线阵列部分和被测件 AAS天线部分完全相同，对测试罩的天线阵列部分电气性能的测试，可以表征 AAS的天线部分的电气特性；测试项可以包括：电压驻波比测试，隔离度测试，校准电路参数测试 (针对带校准电路的天线）和交调测试等，这些测试项主要通过矢量网络分析仪来测试天线的端口的 S参数和无源交调分析仪来测试交调产物得到。

以下将对本发明提出的有源天线系统的测试方法和装置的具体实现进行详细描述。

1、 AAS空间特性测试

1 ) 测试环境校准

结合图 2所示，建立测试环境。在暗室 201环境下，增益基准天线 202 安装在天线转台 206上，并通过射频线缆 204和矢量信号发生器 208相连，另一端，接收天线 203安装在天线支架 207上，并将接收天线 203通过射频线缆 205连接到频谱分析仪 (或功率计） 209上。

环境校准可参照图 8所示的步骤进行，具体包括如下主要步骤：步骤 801 , 调整天线转台 206和天线支架 207使得增益基准天线 202与接收天线 203正向对准。

步骤 802 ,设置矢量信号发生器 208发射指定频段的下行连续模拟信号。步骤 803 , 通过接收天线 203接收此信号，输入给频谱分析仪或功率计 209, 得到相应的接收信号功率并记录数据，计算方法如下：

Py - Px = Lx + (Ly - Gh + Ls) - Gs 公式 ( 1 ) 其中， Py为矢量信号发生器 208输出连续模拟信号功率值；

Px为频语仪或功率计测量 209的功率值；

Gh为接收天线的增益；

Gs为增益基准天线的增益；

Ly为射频线缆 204的差损；

Lx为射频线缆 205的差损；

Ls为 OTA测试环境中空间路径损耗。

公式（ 1 )中， Py和 Gs已知。 Px和 Lx可以测量得到，通过公式计算可以得到测试环境链路（包括空间损耗、线缆差损、接收天线增益等）的校准参数 APc。

APc = (Ly - Gh + Ls) = Py - Px - Lx + Gs 公式 ( 2 ) 此校准参数△ Pc 就是测试环境下进行有源天线系统各项测试的基准参 2 ) 有源天线系统下行空间特性测试

按照图 3所示建立测试环境，在暗室 301环境下，有源天线系统 302安装在天线转台 306上，并通过光纤 304和后台配置设备 308相连，另一端，接收天线 303安装在天线支架 307上，通过射频线缆 305和频谱分析仪或无线通信综测仪 309连接。

参照图 9所示的步骤进行，具体包括如下主要步骤：

步骤 901 , 有源天线系统 302和后台配置设备 308启动并正常工作，通过对后台配置参数使得有源天线系统 302处于发射模式，在指定频段内发射额定功率的固定无线波束。

步骤 902 , 调整天线转台 306使得有源天线系统 302与接收天线 303在水平和俯仰上达到最佳指向，使其频谱分析仪或无线通信综测仪 309的测量功率值（Pg ) 为最大（用于主极化测试）或最小（用于交叉极化测试）。

步骤 903 , 有源天线系统 302在天线转台 306上做方位旋转，并将频谱分析仪接收到的功率值（Pg )作为角度的函数记录下来；同时调整有源天线系统 302的安装方式（水平或者垂直）以及接收天线 303的极化方向，可以得到不同主平面（水平或垂直）和不同极化的方向图等。

步骤 904 , 调整或者重新配置有源天线系统 302配置参数 (包括天线阵元的权值），重复步骤 902、 903可以得到不同指向波束的方向图；

步骤 905 , 根据步骤 902 904的测试数据，分析 AAS的下行空间特性，并根据校准过程得到的 A Pc, 可以得到 EIRP:

EIRP = Pt + Gt = Pg + (Ly - Gh + Ls) = Pg +APc 公式 ( 3 ) 其中， Pt为有源天线系统输出额定功率；

Gt为发射天线阵元增益；

Pg为频语分析仪 309测量的功率值；

A Pc为校准参数。

3 ) 有源天线系统上行空间特性测试

按照图 4所示建立测试环境，在暗室 401环境下，有源天线系统 402安装在天线转台 406上，并通过光纤 404和后台配置设备 408相连；另一端，发射天线 403安装在天线支架 407上，通过射频线缆 405和矢量信号发生器 409连接。

按照图 10所示步骤进行测试，具体包括如下主要步骤：

步骤 1001 ,先将有源天线系统 402和后台配置设备 408启动并正常工作，通过对后台配置参数使得有源天线系统 402处于接收模式，并可以接收指定频段固定指向的无线波束。

步骤 1002 ,设置矢量信号发生器 409在指定频段内发射某种制式（ GSM, CDMA, WCDMA或 LTE等）的模拟调制信号，调整天线转台 406使得有源天线系统 402与发射天线 403在水平和俯仰上达到最佳指向，使其有源天线系统 402测量功率值为最大（用于主极化测试）或最小（用于交叉极化测试 ) 。

步骤 1003 , 有源天线系统 402在测试转台上做方位旋转，并将其接收功率值（Rs )作为角度的函数记录下来。可以分别调整有源天线系统 402的安装方式（水平或者垂直）以及发射天线 403的极化方向，可以得到不同主平面（水平或垂直）和不同极化的方向图。

步骤 1004, 调整有源天线系统 402配置参数 (包括天线阵元的权值），重复步骤 1002、 1003可以得到不同指向波束的方向图；

步骤 1005 , 根据步骤 1001 1004的测试数据，分析 AAS的上行空间特性；调整矢量信号发生器 409的信号幅度（Ps ) , 使得有源天线系统 402对调制信号的解调灵敏度达到最小，可以得到 EIRS:

EIRS = Rs - Gr = Ps - (Ly - Gh + Ls) = Ps - APc 公式（ 4 ) 其中， Rs为有源天线系统检测到的接收功率电平；

Gr为接收天线增益；

Ps为矢量信号发生器 409输出调制信号功率值；

△ Pc为校准参数。

由于有源天线系统的天线阵列部分的性能是天线设计的机械性能决定的, 可以保证在大批量的生产中，性能是稳定的，并且可以满足重复测试要求，所以有源天线系统的空间特性测试的只须一次或几次，就可以获得 AAS的空间特性。

2、 AAS射频指标测试

AAS射频指标测试主要包括两部分，即射频测试罩校准、被测件射频指标测试。

1 ) 射频测试罩校准

射频测试罩校准进一步可分为射频测试罩单体校准和射频测试罩近场耦合校准。

( 1 )射频测试罩单体校准：如图 5 所示建立测试环境，其次按照附图 11所示步骤进行测试。如图 11中步骤 1101所示，在指定频段内设置固定频点，用矢量网络分析仪测试支路连接器 503的 a界面和天线阵列 501接入端的 b界面之间的 S21参数，得到的各支路的差损为 G— ab— nm (其中对于 N χ Μ阵列有源天线系统， n=l,—， N; m= l,—， M) ；

(2)射频测试罩近场耦合校准：如图 6所示建立近场耦合的校准环境，两个标准的测试罩 (经过单体校准的）分别表示为测试罩 A ( 601 )和测试罩 B (602) 。两个测试罩的天馈部分的朝向是正对的，通过安装支架 605固定两者之间的距离。使用吸波材料 606减少测试罩的内部阵子之间的信号干扰以及对内外部的信号的屏蔽，使得测试罩和被测试件之间具有良好的空间电磁环境。然后按照图 11所示步骤进行测试。如图 11中步骤 1102所示，在指定频段内设置固定频点，用矢量网络分析仪测试测试罩 B 支路连接器端口 604的 a'界面和测试罩 A支路连接器端口 603的 a界面之间的 S21参数，得到两个测试罩支路连接器端口之间的差损为 G— a'a— nm (其中对于 N χ M阵列有源天线系统， η=1, ..·, N; m=l, ..., Μ) 。

步骤 1103, 若以测试罩 Α为被测件，可以得到测试罩 B的支路连接器端口 604的 a'界面和被测件（测试罩 A ) 的天线阵列接入端口 b界面之间的差损 G a'b nm为 , G a'b nm = G— a'a— nm - G— ab— nm;

其中，对于 NxM阵列有源天线系统， n=l,—， N; m=l,—， M;

G_ab_nm为射频测试罩单体校准值； G_a'a_nm为射频测试罩近场耦合校准值。

步骤 1104 , 在要求的测试频段内，可以选择高中低三个频点重复步骤 1102和步骤 1103 ,也可以根据测试精度的要求进行多频点校准。最后对多组校准数据做插值等数学计算，得到近场耦合环境下对应校准频率和校准值的二维表格或曲线。通过查表就可以得到指定频段内的任意频点的射频测试罩的校准值 A Gc。

2 ) 被测件的射频指标测试

如图 7所示建立测试环境，将被测件 AAS701安装定位在一个校准后的测试罩 702内，测试环境和测试罩近场耦合校准环境完全相同。并按照图 12 所示如下步骤进行测试：

步骤 1201 , 需要对每个支路的增益进行补偿。补偿的近似值通过校准环节中的校准表查得 A Gc。补偿的位置可以在有源天线系统的数字域中，也可以在测试仪表中。

步骤 1202, 对射频测试罩补偿后，可以按照 3GPP协议针对 AAS BS的要求，进行各项射频指标测试。测试参考点相当于被测有源天线系统的射频端口。

综上所述，釆用本发明实施例所述方法和装置，可以实现对有源天线系统的无线指标进行全面的 'J试。

与相关技术相比，本发明实施例可以同时满足有源天线系统的空间特性和射频特性的测试要求，可以艮好的解决 OTA测试方法带来的测试效率和测试成本的问题，同时，通过射频测试罩这种近场耦合的测试方法和装置，解决了有源天线设备没有外部射频端口带来的问题，可以把被测件当作一个黑盒子进行测试，可以很好的继承传统基站的测试标准、方法、工具以及测试环境等，在设备生产和产品认证等环节是一种有效的实用测试方法；在保证测试要求的前提下，节省了测试成本，提高了测试效率，同时可以被使用者很容易接受和认证。

以上仅为本发明的优选实施案例而已，并不用于限制本发明，本发明还可有其他多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员可根据本发明做出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，并且在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。

工业实用性

综上所述，釆用本发明实施例所述方法和装置，可以实现对有源天线系统的无线指标进行全面的测试。与相关技术相比，本发明实施例可以同时满足有源天线系统的空间特性和射频特性的测试要求，可以很好的解决 OTA 测试方法带来的测试效率和测试成本的问题，同时，通过射频测试罩这种近场耦合的测试方法和装置，解决了有源天线设备没有外部射频端口带来的问题，可以把被测件当作一个黑盒子进行测试，可以很好的继承传统基站的测试标准、方法、工具以及测试环境等，在设备生产和产品认证等环节是一种有效的实用测试方法；在保证测试要求的前提下，节省了测试成本，提高了测试效率，同时可以被使用者很容易接受和认证。因此本发明具有很强的工业实用性。

Claims

权利要求书

1、一种有源天线系统无线指标的测试方法，包括：

2、如权利要求 1所述的测试方法，其中，所述有源天线系统的空间特性测试的步骤包括：

3、如权利要求 2所述的测试方法，其中，所述测试环境的建立的步骤包括：

4、如权利要求 3所述的测试方法，其中，对测试环境进行校准的步骤包括：

通过调整所述天线转台和所述天线支架使所述增益基准天线与所述接收天线正向对准；

5、如权利要求 4所述的测试方法，其中，所述有源天线系统下行空间特性测试的步骤包括：

12) 调整所述天线转台使得所述有源天线系统与所述接收天线在水平和俯仰上达到最佳指向，使所述频谱分析仪或无线通信综测仪接收到的功率值

( Pg ) 为最大或最小;

14)调整所述有源天线系统配置参数，重复上述步骤 12)和步骤 13),测试 AAS不同波束指向的方向图；

15)分析所述有源天线系统的下行空间特性，并按照下式得到所述 EIRP:

EIRP = Pg +APc , 其中， △ Pc为得到的所述校准参数， Pg为所述频谱分析仪测量的功率值。

6、如权利要求 4所述的测试方法，其中，所述有源天线系统上行空间特性测试的步骤包括：

首先，在暗室或模拟自由空间环境下，将所述有源天线系统安装在所述天线转台上，并通过光纤与后台配置设备相连接；将发射天线安装在所述天线支架上，并通过射频线缆与矢量信号发生器相连接；

然后，按照以下步骤进行测试：

22)设置所述矢量信号发生器在指定频段内发射模拟调制信号，调整所述天线转台使得所述有源天线系统与所述接收天线在水平和俯仰上达到最佳指向，使所述有源天线系统接收的功率值为最大或最小； 23)将所述有源天线系统在所述天线转台上做方位旋转，并将所述有源天线系统的接收功率值 (Rs)作为角度函数记录；并调整所述有源天线系统的水平或垂直安装方式及所述发射天线的极化方向，得到不同主平面和不同极化的下行方向图；

7、如权利要求 1所述的测试方法，其中，所述釆用近场耦合方式对所述有源天线系统的射频指标进行测试的步骤包括：

8、如权利要求 7所述的测试方法，其中，通过以下方式对所述有源天线系统的射频指标进行测试：

测试罩单体校准：校准所述测试罩自身所产生的差损和相位偏移量；近场耦合校准：用两个经过所述测试罩单体校准的测试罩，对所述测试罩的近场耦合测试环境进行校准；

9、一种有源天线系统无线指标的测试装置，所述装置包括用于测试有源天线系统的测试罩，所述测试罩包括：金属屏蔽箱体、天线阵列、馈电网络、支路连接器和支架；

10、如权利要求 9所述的测试装置，其中，

所述测试罩内部还设有设置成：减少测试罩内部阵子之间的信号干扰的吸波材料。