JP5947978B2 - アクティブアンテナシステム無線周波数インデックスの試験方法及び装置 - Google Patents

Description

本発明は、アクティブアンテナシステム無線周波数インデックスの試験技術に関し、特にアクティブアンテナシステム無線周波数インデックスの試験方法及び装置に関する。

従来の基地局は、普通、アクティブ部分及びアンテナ給電部分に分けられている。基地局のアクティブ部分の試験は、普通、伝達試験方法を用いて、基地局の無線周波数ポートを無線周波数ケーブルにより、必要な減衰器、コンバイナー等の受動素子及び試験メータに接続し、基地局無線周波数インデックス性能試験を行う。アンテナ給電部分は電波吸収材料を有する暗室又は室外ファーフィールド中で行われ、そのゲイン、指向性パターン等の空間的分解特性を試験する。２つの部分の試験内容は分けて行われる。

アクティブアンテナシステム（ＡＡＳ）は、マルチチャンネルトランシーバ及び基地局アンテナを集積してなる基地局通信サブシステムとする。それはアンテナ及びマルチチャンネルトランシーバの一体化装置であり、互いのインターフェースは内部インターフェースであり、技術上において直接、無線周波数ポート試験を行うことは困難であり、このようにその試験に挑戦をもたらす。

従来の伝達試験方法を使用してアクティブアンテナシステムを試験するには、アクティブアンテナシステムのアクティブ部分及びアンテナ給電部分を分けて、アクティブ部分に結合試験インターフェースを増加する必要があり、このように下記の問題をもたらす。
１）アクティブアンテナシステムの一体化のトポロジー構造を破壊し、同時に設計の複雑度が増加し、結合方式は不必要な損失を発生させる。
２）この結合方式は、試験応用上にいくつかの問題、例えば試験装置のダイナミックレンジに対して高いニーズを有する問題等をもたらす。
３）各装置のメーカが用いる結合方式、結合パラメータは異なるため、統一な試験認証及び試験仕様に困難をもたらす。
４）試験時、好適なコネクター及び装置を配置する必要があり、ユーザに許可されるように、試験過程及び試験パラメータの認証に対して多くの説明を行う必要がある。
５）直接、アクティブアンテナシステムのアンテナインタフェースの性能インデック及び空間特性を測定することができず、アンテナパラメータインデック及びアクティブ部分試験によって換算して得ることしかできず、このように、ユーザは導入されたアンテナパラメータの認証に対して多くの作業を行う必要がある。

他のアクティブアンテナシステムを適用可能な試験方法、例えば空間無線周波数（ＯＴＡ、Ｏｖｅｒ Ｔｈｅ Ａｉｒ）の試験方法は、アクティブアンテナシステムを総合的に実現する試験方法であり、空間特性試験及び無線周波数インデックス試験を含む。しかしながら、この試験は、所定の試験環境要求が必要であるため、例えば、室内ファーフィールド試験は、所定の寸法の暗室を必要とし、室外ファーフィールド試験は、天気及び外部干渉信号の影響を受けやすいため、このように、試験コスト及び試験効率上の問題をもたらし、且ついくつかの試験項目、例えば生産に関連する試験項目等に対して、ＯＴＡ試験を使用する必要がない。

本発明の実施例が解決しようとする技術問題は、アクティブアンテナシステム無線周波数インデックスの試験方法及び装置を提供し、付加的な試験インターフェースを増加する必要がない場合には、直接、有効的にアクティブアンテナシステムの無線周波数インデックスを測定することができる。

上記技術問題を解決するために、以下の技術的解決手段を用いる。

被試験アクティブアンテナシステムを試験カバー内に設置して無線周波数インデックスの試験を行い、そのうち、前記試験カバーはアンテナアレイ部分及び受動ネットワーク部分を含み、前記アンテナアレイ部分は前記被試験アクティブアンテナシステムのアンテナ給電部分と同一であるアクティブアンテナシステム無線周波数インデックスの試験方法であって、
前記試験カバー自体が生じた差損及び位相オフセット量を校正する試験カバー単体校正、
２つの前記試験カバー単体校正を経た試験カバーを用いて、前記試験カバーの近接場結合試験環境を校正する近接場結合校正、
前記被試験アクティブアンテナシステムを、校正後の前記試験カバー内に設置して、それと近接場結合方式を構成し、その試験環境が前記近接場結合校正試験環境と同一であり、校正過程で得られた校正結果を用いて前記試験環境を補償した後、前記試験カバーにおける無線周波数試験インターフェースを介して前記被試験アクティブアンテナシステムに対して無線周波数インデックス試験を行い、前記被試験アクティブアンテナシステム無線周波数ポートの無線周波数インデックスを得る無線周波数インデックス試験、を含む。

前記試験カバー単体校正のステップは、
それぞれ各アンテナ素子のゲイン及びアンテナアレイの合成ゲインを得るアンテナアレイ部分校正、及び、
前記試験カバーの単体振幅位相校正表を得る受動ネットワーク部分校正、を含んでもよい。

前記近接場結合校正のステップは、
近接場結合の分岐振幅位相校正表を得る分岐結合校正、
近接場結合のコンバイニング振幅位相校正表を得るコンバイニング結合校正、を含んでもよい。

前記近接場結合校正のステップは、
２つの単体校正を経た後の試験カバーにより前記近接場結合校正を行い、前記２つの試験カバーを固定し、前記２つの試験カバーのアンテナアレイを対向させ、且つ前記２つの試験カバーの間の距離が所定の距離範囲内にあることを含んでもよい。

前記受動ネットワーク部分は、分岐ネットワーク、併合ネットワーク及び複数の分岐振幅位相コントローラを含んでもよい。

前記無線周波数インデックス試験のステップは、
得られた前記分岐振幅位相校正表に基づいてゲイン補償の近似値を取得し、前記被試験アクティブアンテナシステムの各分岐のゲインを補償した後、各項分岐無線周波数インデックスの試験を行う分岐無線周波数試験、
前記試験カバーの各分岐振幅位相コントローラの状態を調整し、前記試験カバーに１組の振幅位相ウェイトを与え、且つ前記振幅位相ウェイトに基づいて前記被試験アクティブアンテナシステムに対してウェイト設定を行い、次に、前記コンバイニング振幅位相校正表に基づいてウェイト補償の近似値を取得し、それぞれゲイン及び位相上に設定された前記被試験アクティブアンテナシステムのウェイトを補償した後、異なる振幅位相ウェイト下でのコンバイニング無線周波数インデックス試験を行うコンバイニング無線周波数試験、を含んでもよい。

前記分岐無線周波数試験のステップ中において、前記被試験アクティブアンテナシステムの各分岐のゲインを補償する時、前記被試験アクティブアンテナシステムのデジタル領域中において補償してもよく、又は前記試験カバーの振幅位相コントローラ中において補償してもよい。

前記コンバイニング無線周波数試験のステップ中において、設定された前記被試験アクティブアンテナシステムのウェイトを補償する時、前記被試験アクティブアンテナシステムのデジタル領域中において補償してもよく、又は前記試験カバーの振幅位相コントローラ中において補償してもよい。

前記試験カバー内に取り付けホルダが設けられ、前記被試験アクティブアンテナシステムが前記取り付けホルダ上に据え付けられ、前記試験カバーとともに近接場結合方式を構成してもよい。

前記試験カバーのカバー体内部に電波吸収材料を用いてもよい。

アンテナアレイ部分及び受動ネットワーク部分を含むアクティブアンテナシステム無線周波数インデックスの試験装置であって、前記アンテナアレイ部分は被試験アクティブアンテナシステムのアンテナ給電部分と同一であり、前記受動ネットワーク部分は複数の分岐振幅位相コントローラ、分岐ネットワーク及び併合ネットワークを含み、
前記試験装置と被試験アクティブアンテナシステムの間には近接場結合方式を構成し、
前記振幅位相コントローラは、各分岐信号の振幅及び位相を調整するように設置され、
前記分岐ネットワークは、信号をそれぞれ各分岐上に接続し、分岐試験を実現するように設置され、
前記併合ネットワークは、各分岐信号を接続し、コンバイニング試験を実現するように設置される。

前記分岐ネットワークは、給電ネットワーク及び分岐コネクターを含んでもよい。

前記併合ネットワークは、コンバイナー及びコンバイニングコネクターを含んでもよい。

ボックス内に設けられた、アンテナアレイ、振幅位相コントローラ、給電ネットワーク、分岐コネクター、コンバイナー及びコンバイニングコネクターを備えるアクティブアンテナシステム無線周波数インデックスの試験装置であって、
前記アンテナアレイは被試験アクティブアンテナシステムのアンテナ給電部分と同一であり、
前記振幅位相コントローラは前記アンテナアレイに接続され、分岐信号の振幅及び位相を変更することに用いられ、
前記給電ネットワークは一端が前記振幅位相コントローラに接続され、他端が前記分岐コネクターに接続されて分岐試験を実現し、又は他端は無線周波数ジャンパ線により各分岐と前記コンバイナーを接続する、且つ前記コンバイニングコネクターによりコンバイニング試験を実現する。

前記ボックスは金属シールドボックスであり、前記試験装置の内部及び外部信号をシールドしてもよい。

上記技術的解決手段は、近接場結合の方式によりアクティブアンテナシステムに対して無線周波数インデックス試験を行い、アクティブアンテナシステム試験中において、従来の基地局の伝達試験方法を使用することによる付加的な結合試験インターフェースを増加する必要がある等の問題を克服し、同時にＯＴＡ試験方法の使用による試験効率及び試験コスト等の問題をも解決する。

ここで説明する図面は、本発明を更に理解させるためのものであり、本願の一部分を構成し、本発明の例示的な実施例及びその説明は本発明を解釈するためのものであり、不当に本発明を限定するものではない。図面において、
図１は、本発明の実施例によるアクティブアンテナ試験カバー原理のブロック図である。 図２（ａ）及び２（ｂ）は、本発明の実施例による２×８アレイアクティブアンテナ試験カバー装置の略図である。 図３は、本発明の実施例による２×８アレイのアクティブアンテナ試験カバーの基本構成のブロック図である。 図４は、本発明の応用例による２×８アレイのアクティブアンテナ試験カバーの単体校正作業のフローチャートである。 図５は、本発明の応用例による２×８アレイのアクティブアンテナ試験カバーの近接場結合校正作業原理のブロック図である。 図６は、本発明の応用例による２×８アレイのアクティブアンテナ試験カバーの近接場結合校正作業のフローチャートである。 図７は、本発明の応用例による２×８アレイのアクティブアンテナ無線周波数試験作業原理のブロック図である。 図８は、本発明の応用例による試験カバーの受信感度試験原理のブロック図である。 図９は、本発明の応用例による試験カバーの隣接チャネル漏洩電力比（ＡＣＬＲ）試験原理のブロック図である。 図１０は、本発明の応用例による試験カバーの上りリンクブロッキング（Ｂｌｏｃｋｉｎｇ）試験原理のブロック図である。

本発明の説明の便宜上、以下、図面及び具体的な実施例を参照しながら本発明の技術的解決手段の実施を更に詳細に説明する。ただし、矛盾がない場合は、本願における実施例及び実施例における特徴は互いに任意に組み合せることができる。

本発明の実施例の提供されるアクティブアンテナシステム無線周波数インデックスの試験装置は、一つの試験ツールに相当し、本文中においては試験カバーと称し、図１に示すように、それは、主に下記の部分からなる。

アンテナアレイ１０１は、一シリーズのアンテナ素子からなり、その素子構造及び構成方式は被試験アクティブアンテナシステムのアンテナ給電部分と完全に同一であるべきである。

振幅位相コントローラ１０２は、信号位相及び振幅を変更することができる装置である。各分岐の信号振幅位相を変更させることができ、アクティブアンテナシステムの信号振幅位相に対する調整能力を検証するためのものである。

給電ネットワーク１０３は、信号の方向を割り当てることができ、同軸無線周波数ケーブルであってもよく、無線周波数マイクロストリップラインであってもよく、且つ無線周波数ジャンパ線により信号の方向を変更させることができ、分岐試験及びコンバイニング試験に便を与える。

コンバイナー１０４は、複数の試験ポートからの信号を合併してから出力することができ、信号を各試験ポートにディストリビューションすることもできる。

分岐コネクター１０５は、信号の入力／出力ポートであり、試験ポート及び分岐給電ネットワークを接続し、分岐試験に用いられる。

コンバイニングコネクター１０６は、信号の入力／出力ポートであり、試験ポート及びコンバイナーを接続し、コンバイニング試験に用いられる。

取り付けホルダ１０７は、試験カバーと被試験部品の間の空間関係を調整及び固定するように設置される。

電波吸収材料１０８は、試験カバーハウジングの内側に付着され、試験カバーの内部／外部の信号干渉を減少して、試験カバーと被試験部品の間に良好な空間電磁環境を持たせることができる。

金属シールドボックス１０９は、試験カバーのハウジングであり、試験カバーの内部及び外部信号を遮蔽して、良好な空間電磁遮蔽能力を持たせることができる。

図２は、本発明の実施例による２×８アレイアクティブアンテナ試験カバー装置の略図であり、それは被試験部品ＡＡＳのアンテナ給電部分を継承し、併合ネットワーク部分等で被試験部品ＡＡＳのアクティブ部分を代替してなる試験装置である。

図３は、本発明の実施例による２×８アレイの試験カバーの各部分の接続方式を示す。そのうち、アンテナアレイ３０１部分は、被試験アクティブアンテナシステムのアンテナアレイ部分と完全に同一であり、振幅位相コントローラ３０２は、ｃインターフェース（すなわち被試験アクティブアンテナシステムのアンテナアレイアクセスポート）を介してアンテナアレイ３０１に接続され、そのうち本明細書中に記載されているインターフェースは試験参照インターフェースと称されてもよい。振幅位相コントローラ３０２は、分岐信号の振幅及び位相を変更することができる。給電ネットワーク３０３は、ｂインターフェースを介して分岐コネクター３０４に接続され、各分岐の独立な試験を実現する。同時に無線周波数ジャンパ線により信号をコンバイナー３０５にジャンプさせることもでき、ａインターフェース上のコンバイニングコネクター３０６により、コンバイニング試験を実現する。

アクティブアンテナシステム無線周波数無線インデック試験を実現することは、３つのステップ、すなわち試験カバー単体校正、試験カバー近接場結合校正及びアクティブアンテナシステムの無線周波数インデックス試験を含み、具体的な方法は以下の通りである。

１、 試験カバー単体校正
アクティブアンテナシステムに対する正確な試験を実現するには、まず試験カバー自体に生じた差損及び位相オフセット量を校正する必要がある。試験カバーの構成部分に基づいて、更にアンテナアレイ部分校正及び受動ネットワーク部分部校正に分けられる。

アンテナアレイ部分校正は、通常のアンテナ試験方法と同一であり、暗室又はアンテナ試験フィールドで行う必要があり、各アンテナ素子のゲイン及びアンテナアレイの合成ゲイン等をそれぞれ得ることができる。

アクティブアンテナシステムのアンテナアレイ部分の性能は、アンテナ設計の機械性能により決定されるため、大量の生産中において性能が安定していることを保証することができ、且つ重複試験要求を満たすこともでき、従って、アンテナアレイ部分校正動作は、一回又は数回だけ、そのインデックを取得することができる。

受動ネットワーク部分の校正は、ベクトルネットワークアナライザにより測定して完成される。試験カバー単体振幅位相校正表を得ることができる。

２、 試験カバー近接場結合校正
試験カバーと被試験アクティブアンテナシステムの間の試験は、近接場結合方式であるため、近接場結合の試験環境を校正する必要がある。校正インターフェースは、アンテナアレイと接続するｃインターフェース、即ちアクティブアンテナシステムの無線周波数ポートに定義される。単体及び近接場結合校正により、最後にｃインターフェースの校正表を推算して得て、次にこの校正表で補償した後、試験によりｃインターフェースの無線周波数インデックスをキャラクタリゼーションすることができる。

２つの標準の試験カバー（単体校正されたもの）により近接場結合環境を校正する。２つの標準試験カバーは取り付けホルダにより固定され、試験カバーのアンテナ給電部分を対向させ、且つ要求に応じて両者の間の距離を固定する。

アクティブアンテナシステムの分岐及びコンバイニングの無線周波数試験需要を満たすために、近接場結合校正は更に分岐結合校正及びコンバイニング結合校正に分けられる。ベクトルネットワークアナライザにより異なる試験インターフェースを測定する。測定結果に対して、単体振幅位相校正表により、それぞれ近接場結合の分岐振幅位相校正表及びコンバイニング振幅位相校正表を推算して得ることができる。

３、アクティブアンテナシステムの無線周波数インデックス試験
一つの校正後の試験カバーを被試験部品アクティブアンテナシステム上に取り付けて位置決めし、試験環境は近接場結合校正と同一であり、被試験部品でそのうちの一つの標準試験カバーを代替することに相当する。試験需要に応じて、分岐無線周波数試験及びコンバイニング無線周波数試験に分けられる。

分岐無線周波数試験：
被試験アクティブアンテナシステムの各分岐試験は、まず分岐ごとのゲインを補償する必要がある。補償の近似値は校正過程中における分岐振幅位相校正表から取得することができる。分岐試験の補償は、アクティブアンテナシステムのデジタル領域中において補償してもよく、試験カバーの振幅位相コントローラ中において補償してもよく、補償後、３ＧＰＰのＡＡＳを有する無線基地局（ＢＳ）に対するプロトコル要求に応じて、各項試験を行うことができる。試験インターフェースは被試験アクティブアンテナシステムの無線周波数ポートに相当する。

コンバイニング無線周波数試験：
まず、一組の試験待ちの振幅位相ウェイトを確定し、試験カバーの各分岐振幅位相コントローラの状態を調整することにより、試験カバーにこの組の振幅位相ウェイトを与え、試験する時、それぞれゲイン及び位相上に試験環境を補償する必要がある。補償の近似値は、校正過程中におけるコンバイニング振幅位相校正表から取得される。それはアクティブアンテナシステムのデジタル領域において補償してもよく、試験カバーの振幅位相コントローラ中において補償してもよく、補償完了後、被試験アクティブアンテナシステムにこの組の試験待ちの振幅位相ウェイトを設定し、次に３ＧＰＰのＡＡＳを有する無線基地局（ＢＳ）に対するプロトコル要求に応じて、各項コンバイニング試験を行うことができる。校正値に基づいて、対応する試験インターフェースは異なる。試験インターフェースは被試験アクティブアンテナシステムの無線周波数ポートに相当する。

以下、いくつかの応用例を結合して本発明の技術的解決手段の実施を更に具体的に説明する。

１．試験カバー単体校正
試験カバー単体校正の具体的な過程は、図４に示され、ステップ４０１に示されるように、主に二部分の校正、即ちアンテナアレイ部分校正、受動ネットワーク部分校正を含む。

１．１．アンテナアレイ部分校正
ステップ４０２に示されるように、この部分は、試験カバーのアンテナアレイ部分のゲインを校正し、暗室又はアンテナ試験ファーフィールドで試験を行うことができ、試験方法は通常のアンテナ試験と同一である。異なる周波数下でのアンテナの各素子のゲインＧ＿ａｎｔ＿ｎｍ（そのうち、２×８アレイアクティブアンテナシステムに対して、ｎ＝１，２； ｍ＝１，２，…，８）及びアンテナアレイの合成ゲインＧ＿ａｒｒａｙを得る。試験カバーのアンテナアレイ部分は、被試験アクティブアンテナシステムのアンテナ給電部分と同一であるため、この試験結果は、被試験アクティブアンテナシステムのアンテナ給電部分性能に対するキャラクタリゼーションに用いられる。

アクティブアンテナシステムアンテナ給電部分の性能は、アンテナ設計の機械性能により決定されるため、大量の生産中において性能が安定していることを保証することができ、且つ重複試験要求を満たすこともでき、従ってアンテナアレイ部分に対する校正は一回又は数回だけ、その特性を取得することができる。

１．２．受動ネットワーク部分の校正
アクティブアンテナシステム中において、アンテナ素子のゲイン、アレイゲインの大きさ及び一致性は、アンテナ素子の構造及び空間アレイ態様で決められる。同時に試験カバーのアンテナアレイ部分は、被試験アクティブアンテナシステムと完全に同一である。このように試験カバー測定に対する影響要素は、主に試験カバーの受動ネットワーク部分である。

受動ネットワーク部分は、振幅位相コントローラ３０２、給電ネットワーク３０３、分岐コネクター３０４、コンバイナー３０５及びコンバイニングコネクター３０６を含むべきである。

まず、振幅校正を行い、ステップ４０３に示されるように、指定された帯域内において、固定周波数端を設定し、各分岐の振幅位相コントローラ３０２を初期状態にし、ステップ４０４に示されるように、ベクトルネットワークアナライザで分岐コネクター３０４（ｂインターフェース）とアンテナアレイ３０１のアクセス端（ｃインタフェース）の間のＳ２１パラメータを試験するだけで、単体振幅校正値Ｇ＿ｂｃ＿ｎを得ることができ、そのうち第一組のＮ＝１の各分岐差損Ｇ＿ｂｃ＿１は、それぞれＧ＿ｂ０＿ｃ０，Ｇ＿ｂ１＿ｃ０，…，Ｇ＿ｂ７＿ｃ０として定義され、第二組のＮ＝２の各分岐差損Ｇ＿ｂｃ＿２は、それぞれＧ＿ｂ０＿ｃ１，Ｇ＿ｂ１＿ｃ１，…，Ｇ＿ｂ７＿ｃ１として定義され、同時に位相校正を行い、ステップ４０５に示されるように、アンテナアレイ分布に基づいて、単体位相校正値Ｐｈａｓｅ＿ｂｃ＿ｎは２組に分けられ、第一組はＮ＝１，Ｍ＝１分岐を参照とし、分岐の間の位相オフセット量Ｐｈａｓｅ＿ｂｃ＿１を得て、それぞれ０，Δｐｈａｓｅ＿ｂ１＿ｃ０，Δｐｈａｓｅ＿ｂ２＿ｃ０，…，Δｐｈａｓｅ＿ｂ７＿ｃ０であり、第二組はＮ＝２，Ｍ＝１分岐を参照とし、分岐の間の位相オフセット量Ｐｈａｓｅ＿ｂｃ＿２を得て、それぞれ０，Δｐｈａｓｅ＿ｂ１＿ｃ１，Δｐｈａｓｅ＿ｂ２＿ｃ１，…，Δｐｈａｓｅ＿ｂ７＿ｃ１である。

ステップ４０６に示されるように、指定された試験周波数範囲内において、高、中、低の３つの周波数端を選択して校正することができる。試験精度の要求に基づいて多周波数端校正を行ってもよい。最後に複数組の校正データに対して補間等の数学計算を行って所要の周波数端の校正値を得る。

２．試験カバー近接場結合校正
試験カバーと被試験アクティブアンテナシステムの間の試験は、近接場結合方式である。近接場結合の試験環境を校正する必要がある。近接場結合校正動作原理は、図５に示される。

２つの標準の試験カバー（単体校正されたもの）により近接場結合環境を校正する。

近接場結合校正ワークフローは、図６に示され、具体的な校正過程は以下のように説明される。

ステップ６０１に示されるように、２つの標準試験カバーは、それぞれ試験カバーＡ（５０１）及び試験カバーＢ（５０２）として示される。取り付けホルダによりこの２つの試験カバーを固定し、試験カバーのアンテナ給電部分を対向させ、且つ、要求に応じて両者の間の距離を固定する。

アクティブアンテナシステムの分岐及びコンバイニングの無線周波数試験需要を満たすために、近接場結合校正は、更に分岐結合校正及びコンバイニング結合校正に分けられる。

２．１．分岐結合校正
ステップ６０２と６０３に示されるように、指定された帯域内において、固定周波数端を設定し、ベクトルネットワークアナライザで試験カバーＢ（５０２）の分岐コネクターポート（ｂ´インターフェース）と試験カバーＡ（５０１）の分岐コネクターポート（ｂインタフェース）の間のＳ２１パラメータを試験し、２つの試験カバーの間の分岐振幅校正値Ｇ＿ｂ´ｂ＿ｎを得ることができ、そのうち第一組のＮ＝１の各分岐差損Ｇ＿ｂ´ｂ＿１は、それぞれＧ＿ｂ´０＿ｂ０，Ｇ＿ｂ´１＿ｂ０，…，Ｇ＿ｂ´７＿ｂ０として定義され、第二組のＮ＝２の各分岐差損Ｇ＿ｂ´ｂ＿２は、それぞれＧ＿ｂ´０＿ｂ１，Ｇ＿ｂ´１＿ｂ１，…，Ｇ＿ｂ´７＿ｂ１である。

このように、ステップ６０４に示されるように、試験カバーＡを被試験部品とすると、試験カバーＢの分岐接続口（ｂ´インタフェース）から被試験アクティブアンテナシステムのアンテナアレイアクセスポート（ｃインターフェース）までの間の差損Ｇ＿ｂ´ｃ＿ｎは、
Ｇ＿ｂ´ｃ＿ｎ ＝ Ｇ＿ｂ´ｂ＿ｎ − Ｇ＿ｂｃ＿ｎ
である。
ただし、２×８アレイアクティブアンテナシステムに対して、２組ｎ＝１，２に分けられ、各組は８個の校正値であり、
Ｇ＿ｂ´ｂ＿ｎは分岐振幅校正値であり、
Ｇ＿ｂｃ＿ｎは単体振幅校正値である。

２．２．コンバイニング結合校正
指定された帯域内において、固定周波数端を設定し、２つの試験カバーの各分岐の振幅位相コントローラを初期状態に設定する。

振幅校正は、ステップ６０５に示されるように、ベクトルネットワークアナライザで試験カバーＢのコンバイニングコネクターポート（ａ´インタフェース）と試験カバーＡの分岐コネクターポート（ｂインタフェース）の間のＳ２１パラメータを試験し、ａ´インターフェースとｂインターフェースの間の差損を得ることができ、２×８アレイのアクティブアンテナシステムに対して、２個のコンバイナーを有し、コンバイニング振幅校正値Ｇ＿ａ´ｂ＿ｎは２組あり、第一組のＮ＝１の各分岐差損Ｇ＿ａ´ｂ＿１は、それぞれＧ＿ａ´０＿ｂ０，Ｇ＿ａ´０＿ｂ１，…，Ｇ＿ａ´０＿ｂ７であり、第二組のＮ＝２の各分岐差損Ｇ＿ａ´ｂ＿２は、それぞれＧ＿ａ´１＿ｂ０，Ｇ＿ａ´１＿ｂ１，…，Ｇ＿ａ´１＿ｂ７である。同時位相校正をに行い、コンバイニング位相校正値Ｐｈａｓｅ＿ａ´ｂ＿ｎは２組に分けられ、第一組はＮ＝１，Ｍ＝１分岐を参照とし、コンバイニング位相オフセット量Ｐｈａｓｅ＿ａ´ｂ＿１はそれぞれ０，Δｐｈａｓｅ＿ａ´０＿ｂ１，Δｐｈａｓｅ＿ａ´０＿ｂ２，…，Δｐｈａｓｅ＿ａ´０＿ｂ７であり、第二組はＮ＝２，Ｍ＝１分岐を参照とし、コンバイニング位相オフセット量Ｐｈａｓｅ＿ａ´ｂ＿２はそれぞれ０，Δｐｈａｓｅ＿ａ´１＿ｂ１，Δｐｈａｓｅ＿ａ´１＿ｂ２，…，Δｐｈａｓｅ＿ａ´１＿ｂ７である。

ステップ６０６に示されるように、試験カバーＡを被試験部品とすると、コンバイニング試験する時、試験カバーＢのコンバイニングコネクターポート（ａ´インタフェース）と被試験部品アンテナアレイのアクセスポート（ｃインタフェース）の間の差損Ｇ＿ａ´ｃ＿ｎは、
Ｇ＿ａ´ｃ＿ｎ ＝ Ｇ＿ａ´ｂ＿ｎ − Ｇ＿ｂｃ＿ｎ
であり、
そのうち、２×８アレイアクティブアンテナシステムに対して、２組ｎ＝１，２に分けられ、各組は８個の校正値であり、
Ｇ＿ａ´ｂ＿ｎはコンバイニング振幅校正値であり、
Ｇ＿ｂｃ＿ｎは単体振幅校正値である。
試験カバーＢのコンバイニングコネクターポート（ａ´インタフェース）と被試験部品アンテナアレイのアクセスポート（ｃインタフェース）の間の位相オフセット量Ｐｈａｓｅ＿ａ´ｃ＿ｎは、
Ｐｈａｓｅ＿ａ´ｃ＿ｎ ＝ Ｐｈａｓｅ＿ａ´ｂ＿ｎ − Ｐｈａｓｅ＿ｂｃ＿ｎ
であり、
そのうち、２×８アレイアクティブアンテナシステムに対して、２組のｎ＝１，２に分けられ、各組は８個の校正値であり、
Ｐｈａｓｅ＿ａ´ｂ＿ｎはコンバイニング位相校正値であり、
Ｐｈａｓｅ＿ｂｃ＿ｎは単体位相校正値である。
ステップ６０７に示されるように、指定された試験周波数範囲内において、高、中、低の３つの周波数端を選択して校正することができる。試験精度の要求に基づいて多周波数端校正を行ってもよい。最後に複数組の校正データに対して補間等の数学計算を行って、校正周波数及び校正値の２次元テーブル又は曲線を得る。試験ポートの相違によって、分岐校正表及びコンバイニング校正表に分けられる。

表検索により指定された帯域内の任意周波数端の校正近似値を得ることができる。

３．アクティブアンテナシステムの無線周波数インデックス試験
図７は、試験カバーを使用して２×８アレイのアクティブアンテナシステムに対して無線周波数試験を行う動作原理を示す。

図８、図９、図１０は、それぞれＦＤＤ ＬＴＥ作動モード下で、アクティブアンテナシステムの主な無線周波数インデックスの具体的な試験ステップを示す。

図８に示すように、試験カバーを使用してアクティブアンテナシステム上りリンク感度無線周波数無線インデックスを試験する具体的な実現ステップは、下記の通りである。

ステップ８０１：ネットワーキングに従って試験環境を立ち上げる
試験カバー及び測定待ちの部品のアクティブアンテナシステムを取り付けて固定する試験環境は、試験カバーの各分岐振幅位相コントローラを調整して初期状態にし、外部試験装置（減衰器、信号ソース、シグナリングアナライザ等）に接続され、試験カバーに使用されていないその他の受信ポートはマッチング負荷に接続される。

ステップ８０２：試験環境の校正値補償
試験環境に対して校正値補償を行い、校正値（ゲイン及び位相オフセット量を含む）は校正過程中における校正表から取得される。補償はアクティブアンテナシステムのデジタル領域において行ってもよく、振幅位相コントローラ中において完成されてもよい。

ステップ８０３：上りリンク参照感度試験
アクティブアンテナシステムを起動し、搬送波動作周波数端及びチャネル帯域幅を設定し、ベクトル信号ソースを設置し、上りリンク参照測定信号を出力する。

ａ）分岐参照感度試験は、主に、以下のステップを含む。
ステップａ．１） 信号ソースは測定待ちの分岐コネクターに接続され、有用信号電力を調整し、スループットを列参照測定チャネルの最大スループットの９５％以上にし、有用信号電力を記録し、最大スループット＝有効荷重＊１０００であり、有効荷重は固定参照測定器チャネルＦＲＣ中におけるＰａｙｌｏａｄ ｓｉｚｅ （ｂｉｔｓ）である。
ステップａ．２） 高、中、低の３つの周波数端を試験し、ステップａ．１）を重複する。
ステップａ．３） アクティブアンテナシステムの他の分岐を試験し、ａ．１）〜ａ．２）を重複する。

ｂ）コンバイニング参照敏感性試験は、主に、以下のステップを含む。
ステップｂ．１） 試験要求に基づいて、まず試験カバーの各分岐の振幅位相コントローラ状態を変更させることにより、試験カバーに一組の振幅位相ウェイトを与え、次にアクティブアンテナシステムに同一の振幅位相ウェイトを設定する。
ステップｂ．２） 信号ソースは測定待ちのコンバイニングコネクターに接続され、ｅＮＢのスループットが列参照測定器チャネルの最大スループットの９５％以上になるまで、有用信号電力を調整し、有用信号電力を記録し、最大スループット＝有効荷重＊１０００であり、有効荷重は固定参照測定器チャネルＦＲＣ中におけるＰａｙｌｏａｄ ｓｉｚｅ （ｂｉｔｓ）である。
ステップｂ．３） 高、中、低の３つの周波数端を試験し、ステップｂ．２）を重複する。
ステップｂ．４） 試験カバーの各分岐振幅位相コントローラの状態を調整し、同時にアクティブアンテナシステムに対して同一な設定を行い、次にステップｂ．２）〜ステップｂ．３）を重複し、異なるウェイト下でのインデックを検証することができる。
ステップｂ．５） アクティブアンテナシステムの他のコンバイニングを試験し、ステップｂ．２）〜ステップｂ．４）を重複する。

図９に示すように、試験カバーを使用してアクティブアンテナシステムＡＣＬＲ無線周波数無線インデックスを試験する具体的な実現ステップは下記の通りである。

ステップ９０１：ネットワーキングに従って試験環境を立ち上げる
試験カバー及び測定待ちの部品のアクティブアンテナシステムを取り付けて固定する試験環境は、試験カバーの各分岐振幅位相コントローラを調整して初期状態にし、外部試験装置（減衰器、スペクトラムアナライザ等）に接続され、試験カバーに使用されていないその他の受信ポートはマッチング負荷に接続される。

ステップ９０２：試験環境の校正値補償
試験環境に対して校正値補償を行い、校正値（ゲイン及び位相オフセット量を含む）は校正過程中における校正表から取得される。補償はアクティブアンテナシステムのデジタル領域において行ってもよく、振幅位相コントローラ中において完成されてもよい。

ステップ９０３：隣接チャネル漏洩電力比（ＡＣＬＲ）試験
アクティブアンテナシステムを起動し、装置を十分に予熱し、性能インデックスは安定状態にあり、搬送波周波数端に、チャネル帯域幅２０ＭＨｚの下りリンク信号を設定する。

分岐ＡＣＬＲ試験過程は、主に、以下のステップを含んでもよい。
ステップ１） スペクトラムアナライザは測定待ちの分岐コネクター上に接続され、３ＧＰＰ ＴＳ ３６．１０４のＥ＿ＴＭ１．１試験モードに従って、アクティブアンテナシステムの電力を定格出力電力に調整する。、
ステップ２） ベクトルシグナルアナライザを使用してＡＣＬＲを試験して記録する。
ステップ３） Ｅ＿ＴＭ１．２試験モードに従って下りリンク信号を設定し、ステップ１）〜ステップ２）を重複する。
ステップ４） 低、中、高の３つの周波数端を設定し、ステップ１）〜ステップ３）を重複する。
ステップ５） アクティブアンテナシステムの他の分岐を試験し、ステップ１）〜ステップ４）を重複する。

コンバイニングＡＣＬＲ試験過程は、主に、以下のステップを含んでもよい。
ステップ１） 試験要求に基づいて、まず試験カバーの各分岐の振幅位相コントローラ状態を変更させることにより、試験カバーに一組の振幅位相ウェイトを与え、次にアクティブアンテナシステムに同一の振幅位相ウェイトを設定する。
ステップ２） スペクトラムアナライザは測定待ちのコンバイニングコネクター・BR>繧ノ接続され、３ＧＰＰ ＴＳ ３６．１０４のＥ＿ＴＭ１．１試験モードに従って、アクティブアンテナシステムの電力を定格出力電力に調整する。
ステップ３） スペクトラムアナライザを使用してＡＣＬＲを試験して記録する。
ステップ４） Ｅ＿ＴＭ１．２試験モードに従って下りリンク信号を設定し、ステップ２）〜３）を重複する。
ステップ５） 低、中、高の３つの周波数端を設定し、ステップ２）〜４）を重複する。
ステップ６） 試験カバーの各分岐振幅位相コントローラの状態を調整し、同時にアクティブアンテナシステムに対して同一な設定を行い、次にステップ２）〜５）を重複し、異なるウェイト下でのインデックスを検証することができる。
ステップ７） アクティブアンテナシステムの他のコンバイニングを試験し、ステップ２）〜６）を重複する。

図１０に示すように、試験カバーを使用してアクティブアンテナシステム上りリンクブロッキング（Ｂｌｏｃｋｉｎｇ）無線周波数無線インデックスを試験する具体的な実現ステップは、下記の通りである。

ステップ１００１：ネットワーキングに従って試験環境を立ち上げる
試験カバー及び測定待ちの部品のアクティブアンテナシステムを取り付けて固定する試験環境は、試験カバーの各分岐振幅位相コントローラを調整して初期状態にし、外部試験装置（減衰器、信号ソース、シグナリングアナライザ等）に接続され、試験カバーに使用されていないその他の受信ポートはマッチング負荷に接続される。

ステップ１００２：試験環境の校正値補償
試験環境に対して校正値補償を行い、校正値（ゲイン及び位相オフセット量を含む）は校正過程中における校正表から取得される。補償はアクティブアンテナシステムのデジタル領域において行ってもよく、振幅位相コントローラ中において完成されてもよい。

ステップ１００３：ブロッキング試験
アクティブアンテナシステムを起動し、搬送波動作周波数端及びチャネル帯域幅を設定し、３ＧＰＰ ＴＳ ３６．１０４プロトコルに従ってベクトル信号ソースを設置し、有用信号を送信し、出力レベルは、Ｐ_{ＲＥＦＳＥＮＳ} ＋ ６ｄＢである。

分岐ブロッキング試験過程は、主に、以下のステップを含んでもよい。
ステップ１） スプリッター出力端は測定待ちの分岐コネクター上に接続される。
ステップ２） 狭帯域ブロッキング試験であり、干渉信号ソースは干渉信号を送信し、干渉信号中心周波数は有用信号搬送波縁から３４０ ＋ ｍ＊１８０［Ｋｈｚ］（ｍ＝０、１、２、３、４、９、１４、１９、２４）外し、干渉信号は５ ＭＨｚ Ｅ−ＵＴＲＡ ｓｉｇｎａｌ、１ ＲＢである。
ステップ３） 帯域内部ブロッキング試験であり、干渉信号ジェネレータは干渉信号を送信し、干渉信号中心周波数範囲は（２３００−２０Ｍ）から（２４００Ｍ＋２０Ｍ）までであり、干渉信号は５ＭＨｚ Ｅ−ＵＴＲＡ信号である。
ステップ４） 帯域外部ブロッキング試験であり、干渉信号ジェネレータは干渉信号を送信し、１Ｍ〜（２３００−２０Ｍ）、（２４００Ｍ＋２０Ｍ）〜１２．７５Ｇであり、干渉信号はＣＷ波である。
ステップ５） 同位置ブロッキング試験であり、干渉信号ソースはアンプ及びバンドストップフィルタにより干渉信号を送信し、周波数範囲はプロトコル要求に基づいて確定され、干渉信号はＣＷ波である。
ステップ６） 出力レベルを調整し、スループットを列参照測定チャネルの最大スループットの９５％以上にし、干渉信号電力を記録し、最大スループット＝有効荷重＊１０００であり、有効荷重は固定参照測定器チャネルＦＲＣ中におけるＰａｙｌｏａｄ ｓｉｚｅ （ｂｉｔｓ）である。
ステップ７） 高、中、低の３つの周波数端を試験し、ステップ２）〜 ６）を重複する。
ステップ８） アクティブアンテナシステムの他の分岐を試験し、ステップ１）〜 ７）を重複する。

コンバイニングブロッキング試験過程は主に、主に、以下のステップを含んでもよい。
ステップ１） 試験要求に基づいて、まず試験カバーの各分岐の振幅位相コントローラ状態を変更させることにより、試験カバーに一組の振幅位相ウェイトを与え、次にアクティブアンテナシステムに同一の振幅位相ウェイトを設定する。
ステップ２） スプリッター出力端を測定待ちのコンバイニングコネクター上に接続する。
ステップ３） 狭帯域ブロッキング試験であり、干渉信号ソースは干渉信号を送信し、干渉信号中心周波数は有用信号搬送波縁から３４０ ＋ ｍ＊１８０［Ｋｈｚ］（ｍ＝０,１,２,３,４,９,１４,１９,２４）外し、干渉信号は５ ＭＨｚ Ｅ−ＵＴＲＡ ｓｉｇｎａｌ、１ ＲＢである。
ステップ４） 帯域内部ブロッキング試験であり、干渉信号ジェネレータは干渉信号を送信し、干渉信号中心周波数範囲は（２３００−２０Ｍ）から（２４００Ｍ＋２０Ｍ）までであり、干渉信号は５ＭＨｚ Ｅ−ＵＴＲＡ信号である。
ステップ５） 帯域外部ブロッキング試験であり、干渉信号ジェネレータは干渉信号を送信し、１Ｍ〜（２３００−２０Ｍ）、（２４００Ｍ＋２０Ｍ）〜１２．７５Ｇであり、干渉信号はＣＷ波である。
ステップ６） 同位置ブロッキング試験であり、干渉信号ソースはアンプ及びバンドストップフィルタにより干渉信号を送信し、周波数範囲はプロトコル要求に基づいて確定され、干渉信号はＣＷ波である。
ステップ７） 出力レベルを調整し、スループットを列参照測定チャネルの最大スループットの９５％以上にし、干渉信号電力を記録し、最大スループット＝有効荷重＊１０００であり、有効荷重は固定参照測定器チャネルＦＲＣ中におけるＰａｙｌｏａｄ ｓｉｚｅ （ｂｉｔｓ）である。
ステップ８） 高、中、低の３つの周波数端を試験し、ステップ２）〜７）を重複する。
ステップ９） 試験カバーの各分岐振幅位相コントローラの状態を調整し、同時にアクティブアンテナシステムに対して同一な設定を行い、次にステップ２）〜８）を重複し、異なるウェイト下でのインデックスを検証することができる。
ステップ１０） アクティブアンテナシステムの他のコンバイニングを試験し、ステップ２）〜９）を重複する。

前記のように、本発明の実施例による試験方法及び装置によると、アクティブアンテナシステムの分岐無線周波数インデックスに対する試験を実現可能であり、コンバイニング無線周波数インデックスに対する試験をも実現可能である。従来技術に比べて、本発明の実施例は近接場結合の方式により、アクティブアンテナシステムに対して無線周波数インデックス試験を行い、従来の伝達試験がアクティブアンテナシステムを試験する時に、付加的な結合インターフェースを増加する必要があることによる一連の問題を克服し、より確実にＯＴＡ試験による試験効率問題を解決することができる。同時に異なるタイプのアクティブアンテナ製品の試験ニーズの差別化問題を解決する。試験要求を保証する前提で、試験コストを節約し、試験効率を向上させ、同時にユーザが簡単に受け入れ及び認証することができる。

以上は本発明の好適な実施案例に過ぎず、本発明を制限するものではなく、本発明は更に他の複数の種の実施例を有してもよく、本発明の趣旨とその実質を逸脱しない場合に、本分野に詳しい当業者は本発明に基づいて各種の相応する変更又は変形を行うことができ、これらの相応する変更又は変形はいずれも本発明の請求の範囲の保護範囲に含まれる。

明らかなように、当業者は、上記の本発明の各モジュール或いは各ステップを汎用の計算装置で実現してもよく、それらは単一の計算装置上に集中されてもよく、又は複数の計算装置からなるネットワーク上に分布してもよいと理解すべきであり、選択肢として、それらは計算装置が実行可能なプログラムコードで実現されてもよく、それにより、それらを記憶装置中に記憶して計算装置で実行することができ、且ついくつの場合の下で、ここと異なる順序で、示した或いは記述したステップを実行してもよく、又はそれらをそれぞれ各集積回路モジュールに製作し、又はそれらのうちの複数のモジュール或いはステップを単一の集積回路モジュールに製作して実現してもよい。このように、本発明はあらゆる特定形式のハードウェアとソフトウェアの組合せに限らない。

本発明の実施例による試験方法及び装置によると、アクティブアンテナシステムの分岐無線周波数インデックスに対する試験を実現可能であり、コンバイニング無線周波数インデックスに対する試験をも実現可能である。従来技術に比べて、本発明の実施例は、近接場結合の方式により、アクティブアンテナシステムに対して無線周波数インデックス試験を行い、従来の伝達試験がアクティブアンテナシステムを試験する時、付加的な結合インターフェースを増加する必要があることによる一連の問題を克服し、より確実にＯＴＡ試験による試験効率問題を解決することができる。同時に異なるタイプのアクティブアンテナ製品の試験ニーズの差別化問題を解決する。試験要求を保証する前提で、試験コストを節約し、試験効率を向上させ、同時にユーザが簡単に受け入れ及び認証することができる。従って本発明は非常に強い工業実用性を有する。

Claims (15)

1. 被試験アクティブアンテナシステムを試験カバー内に設置して無線周波数インデックスの試験を行い、そのうち前記試験カバーはアンテナアレイ部分及び受動ネットワーク部分を含み、前記アンテナアレイ部分は前記被試験アクティブアンテナシステムのアンテナアレイ部分と同一であるアクティブアンテナシステム無線周波数インデックスの試験方法であって、
   前記試験カバー自体が生じた差損及び位相オフセット量を校正する試験カバー単体校正と、
   ２つの前記試験カバー単体校正を経た試験カバーを用いて、前記試験カバーの近接場結合試験環境を校正する近接場結合校正と、
   前記被試験アクティブアンテナシステムを校正後の前記試験カバー内に設置してそれと近接場結合方式を構成し、その試験環境が前記近接場結合校正試験環境と同一であり、校正過程で得られた校正結果を用いて前記試験環境を補償した後、前記試験カバーにおける無線周波数試験インターフェースを介して前記被試験アクティブアンテナシステムの無線周波数ポートに対して無線周波数インデックス試験を行い、前記被試験アクティブアンテナシステムの無線周波数ポートの無線周波数インデックスを得る無線周波数インデックス試験と、を含むアクティブアンテナシステム無線周波数インデックスの試験方法。
2. 前記試験カバー単体校正のステップは、
   それぞれ各アンテナ素子のゲイン及びアンテナアレイの合成ゲインを得るアンテナアレイ部分校正と、
   前記試験カバーの単体振幅位相校正表を得る受動ネットワーク部分校正と、を含む請求項１に記載の試験方法。
3. 前記近接場結合校正のステップは、
   近接場結合の分岐振幅位相校正表を得る分岐結合校正と、
   近接場結合のコンバイニング振幅位相校正表を得るコンバイニング結合校正と、を含む請求項１に記載の試験方法。
4. 前記近接場結合校正のステップは、
   ２つの単体校正を経た後の試験カバーにより前記近接場結合校正を行い、前記２つの試験カバーを固定し、前記２つの試験カバーのアンテナアレイの向いを正対させ、且つ前記２つの試験カバーの間の距離が所定の距離範囲内にあることを含む請求項１に記載の試験方法。
5. 前記受動ネットワーク部分は、分岐ネットワーク、併合ネットワーク及び分岐における複数の振幅位相コントローラを含む請求項１、２、３又は４に記載の試験方法。
6. 前記無線周波数インデックス試験のステップは、
   得られた前記分岐振幅位相校正表に基づいてゲイン補償の近似値を取得し、前記被試験アクティブアンテナシステムの各分岐のゲインを補償した後、各項分岐無線周波数インデックスの試験を行う分岐無線周波数試験と、
   前記試験カバーの各分岐の振幅位相コントローラの状態を調整し、前記試験カバーに１組の振幅位相ウェイトを与え、且つ前記振幅位相ウェイトに基づいて前記被試験アクティブアンテナシステムに対してウェイト設定を行い、次に、前記コンバイニング振幅位相校正表に基づいてウェイト補償の近似値を取得し、それぞれゲイン及び位相上において設定された前記被試験アクティブアンテナシステムのウェイトを補償した後、異なる振幅位相ウェイトでのコンバイニング無線周波数インデックス試験を行うコンバイニング無線周波数試験と、を含む請求項３に記載の試験方法。
7. 前記分岐無線周波数試験のステップ中において、前記被試験アクティブアンテナシステムの各分岐のゲインを補償する時、前記被試験アクティブアンテナシステムのデジタル領域中において補償し、又は前記試験カバーの振幅位相コントローラ中において補償する請求項６に記載の試験方法。
8. 前記コンバイニング無線周波数試験のステップ中において、設定された前記被試験アクティブアンテナシステムのウェイトを補償する時、前記被試験アクティブアンテナシステムのデジタル領域中において補償し、又は前記試験カバーの振幅位相コントローラ中において補償する請求項６に記載の試験方法。
9. 前記試験カバー内に取り付けホルダが設けられ、前記被試験アクティブアンテナシステムが前記取り付けホルダ上に据え付けられ、前記試験カバーとともに近接場結合方式を構成する請求項１、２、３又は４のいずれか１項に記載の試験方法。
10. 前記試験カバーのカバー体内部に電波吸収材料を用いる請求項１、２、３又は４のいずれか１項に記載の試験方法。
11. アンテナアレイ部分及び受動ネットワーク部分を含むアクティブアンテナシステム無線周波数インデックスの試験装置であって、前記アンテナアレイ部分は被試験アクティブアンテナシステムのアンテナアレイ部分と同一であり、前記受動ネットワーク部分は分岐における複数の振幅位相コントローラ、分岐ネットワーク及び併合ネットワークを含み、
    前記試験装置と被試験アクティブアンテナシステムの間には近接場結合方式を構成し、
    前記振幅位相コントローラは、各分岐信号の振幅及び位相を調整するように設置され、
    前記分岐ネットワークは、信号をそれぞれ各分岐に接続し、分岐試験を実現するように設置され、
    前記併合ネットワークは、各分岐信号を接続し、コンバイニング試験を実現するように設置されるアクティブアンテナシステム無線周波数インデックスの試験装置。
12. 前記分岐ネットワークは、給電ネットワーク及び分岐コネクターを含む請求項１１に記載の試験装置。
13. 前記併合ネットワークは、コンバイナー及びコンバイニングコネクターを含む請求項１１に記載の試験装置。
14. ボックス内に設けられた、アンテナアレイ、振幅位相コントローラ、給電ネットワーク、分岐コネクター、コンバイナー及びコンバイニングコネクターを備えるアクティブアンテナシステム無線周波数インデックスの試験装置であって、
    前記アンテナアレイは被試験アクティブアンテナシステムのアンテナアレイ部分と同一であり、
    前記振幅位相コントローラは前記アンテナアレイに接続され、分岐信号の振幅及び位相を変更することに用いられ、
    前記給電ネットワークの一端が前記振幅位相コントローラに接続され、他端が前記分岐コネクターに接続されて分岐試験を実現し、又は他端が無線周波数ジャンパ線により各分岐と前記コンバイナーを接続し、且つ前記コンバイニングコネクターによりコンバイニング試験を実現するアクティブアンテナシステム無線周波数インデックスの試験装置。
15. 前記ボックスは金属シールドボックスであり、前記試験装置の内部及び外部信号をシールドする請求項１４に記載の試験装置。