WO2013080238A1 - 複合センサおよびその製造方法 - Google Patents

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青野 宇紀
健悟 鈴木
雅秀 林
希元 鄭
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日立オートモティブシステムズ株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to a physical quantity sensor used for measurement of a physical quantity and a method for manufacturing the physical quantity detection sensor.
  • the physical quantity sensor has movable mechanism parts such as vibrating bodies and movable bodies by micromachining on silicon substrates and glass substrates, and a drive gap is provided on the cap substrate at locations corresponding to the movable mechanism parts such as vibrating bodies and movable bodies. Provided, these substrates are sealed by bonding, bonding or the like.
  • the size of these movable mechanism parts is on the order of microns [ ⁇ m], and there is a problem of deterioration in characteristics due to the influence of air resistance, etc., and the pressure atmosphere corresponding to each movable mechanism part such as a vibrating body and movable body It is necessary to seal the sensing part.
  • each of the acceleration sensor and the angular velocity sensor is sealed in a pressure atmosphere in which the characteristics do not deteriorate.
  • a composite sensor is provided in which the sensing part of the acceleration sensor is sealed at atmospheric pressure, and the sensing part of the angular velocity sensor is sealed in vacuum, so that the characteristics do not deteriorate.
  • the angular velocity sensor when the movable mechanism component is a vibrating body, and this vibrating body is driven to vibrate at a certain frequency, if an angular velocity is applied, a Coriolis force is generated. The vibrator is displaced by this Coriolis force. The angular velocity is detected by detecting the amount of displacement of the vibrating body due to this Coriolis force.
  • the Coriolis force increases as the driving speed of the vibrating body increases, it is necessary to vibrate the vibrating body with a high frequency and a large amplitude of several ⁇ m in order to improve the detection sensitivity of the angular velocity sensor.
  • the vibrating body manufactured by micromachining is formed with a small gap, when the driving atmosphere is atmospheric pressure, the influence of the damping effect of air (sealing gas) becomes large. This damping effect affects the vibration of the angular velocity sensor at a high frequency and a large amplitude, and decreases the detection sensitivity of the angular velocity sensor.
  • an angular velocity sensor capable of high frequency and large amplitude can be obtained.
  • the acceleration sensor is a movable body in which the movable mechanism parts are composed of weights, beams, etc., and when the acceleration is applied, the movable body is displaced. The acceleration is detected by detecting the displacement amount of the movable body. If the acceleration sensor is sealed in the same vacuum atmosphere as the angular velocity sensor, the movable body of the acceleration sensor has a less damping effect, so that a phenomenon that continues to vibrate occurs and the acceleration cannot be detected with high sensitivity.
  • the acceleration sensor has a great damping effect, that is, is sealed in an air atmosphere.
  • Patent Documents 1 to 3 As a known example of a composite sensor in which an acceleration sensor and an angular velocity sensor are combined, for example, there are technologies disclosed in Patent Documents 1 to 3.
  • a through-hole air passage
  • a damping agent is supplied from the air passage.
  • the through hole is filled with solder, resin, etc., and the acceleration sensor is sealed in an air atmosphere and the angular velocity sensor is sealed in a vacuum atmosphere.
  • an acceleration sensor and an angular velocity sensor are sealed in an atmospheric pressure atmosphere, and then a through hole is formed in the cap substrate or sensor substrate on the angular velocity sensor.
  • the angular velocity sensor is sealed under the pressure of the CVD method, that is, in a vacuum atmosphere. With this method, the acceleration sensor is sealed in an atmospheric pressure atmosphere and the angular velocity sensor is sealed in a vacuum atmosphere.
  • Patent Document 3 discloses a method of forming an air passage connected to the outer periphery of the wafer in order to seal the device with a prescribed pressure, and adjusting the internal pressure of the device through the air passage. Yes.
  • Patent Document 3 can cope with sealing with one kind of pressure, but cannot cope with a device such as a composite sensor having different driving environments. Further, the distribution of the pressure in the device becomes large due to the difference in flow path resistance of the air passage connected to the outer periphery of the wafer.
  • An object of the present invention is to provide a composite sensor with improved reliability and a method for manufacturing the same.
  • the composite sensor wafer of the present invention includes an acceleration sensor and an angular velocity sensor arranged adjacent to each other, and a plurality of sensor wafers installed on the same substrate and a cap wafer for sealing the sensors.
  • the composite sensor includes (1) a process of bonding a sensor wafer and a cap wafer to seal a sensing portion to form a composite sensor wafer, (2) a process of separating the composite sensor wafer into a composite sensor chip, and (3) composite A sensor chip, a wiring board having external input / output terminals, a step of mounting together with a circuit board for detection and correction, (4) a step of connecting the composite sensor chip, wiring board, and electrodes of the circuit board with wires, and (5) a resin package. In the process of sealing with a ceramic package or the like.
  • FIG. 1 is an outline of bonding of a composite sensor wafer according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is an enlarged view of a composite sensor chip according to the first to third embodiments of the present invention.
  • FIG. 4 is an enlarged view of through holes and bumps according to the first to third embodiments of the present invention.
  • Sectional drawing of the acceleration sensor which concerns on 1st Embodiment of this invention.
  • Sectional drawing of the angular velocity sensor which concerns on 2nd Embodiment of this invention.
  • 10 is a mounting configuration of a composite sensor according to a fifth embodiment of the present invention. The mounting structure of the composite sensor which concerns on 6th Embodiment of this invention.
  • a sensor wafer 1 in which a plurality of sensor chips 10 each including an acceleration sensor 11 and an angular velocity sensor 12 are arranged, and a cap wafer 2 in which a plurality of cap chips 20 in which an acceleration sensor gap 21 and an angular velocity sensor gap 22 are formed are arranged.
  • a sensor wafer 1 in which a plurality of sensor chips 10 each including an acceleration sensor 11 and an angular velocity sensor 12 are arranged
  • a cap wafer 2 in which a plurality of cap chips 20 in which an acceleration sensor gap 21 and an angular velocity sensor gap 22 are formed are arranged.
  • FIG. 2 is a first embodiment according to the present invention, and is an enlarged view of a part of the sensor wafer 1 and the cap wafer 2 of FIG.
  • the sensor chip 10 includes an acceleration sensor 11, an angular velocity sensor 12, a through hole 13 connected to the back surface of the wafer, and a bonding portion 14 bonded to the cap chip 20 on an SOI (Silicon ion insulator) substrate.
  • An SOI substrate is a substrate in which a silicon oxide layer is formed between silicon and silicon.
  • the movable body 111 of the acceleration sensor 11, the detection element 112, the vibration body 121 of the angular velocity sensor 12, and the detection element 122 are formed on the active layer side of the SOI substrate by Si DRIE (deep Reactive Ion Etching). Thereafter, the silicon oxide layer is removed to release the movable body 111, the vibrating body 121, and the detection elements 112 and 122.
  • the movable body 111, the vibrating body 121, and the detection elements 112 and 122 are arranged with a wall 16 therebetween.
  • the detection element 112 of the acceleration sensor 11, the vibrating body 121 of the angular velocity sensor, and the detection element 122 are connected to the electrode pad 17 on the back surface of the SOI substrate via a through electrode, and signals are input / output from the electrode pad 17. Thus, the drive and displacement amount are detected.
  • the through-hole 13 in the wafer thickness direction is formed by forming an active layer and a handle layer by dry etching of silicon or the like. After forming an insulating film on the side wall of the through-hole 13 with a silicon oxide film or the like, the through-hole 13 is made of polysilicon. Then, the electrode is formed on the handle layer side. The handle layer side through hole 13 is formed larger than the active layer side through hole 13, and the handle layer side through hole is filled with polysilicon. At this time, since the through hole 13 on the handle layer side is larger than the through hole 13 on the active layer side, it is not completely embedded.
  • the through hole 13 on the active layer side and the through hole 13 on the handle layer side can be opened to form a through hole in the wafer thickness direction. .
  • the through hole 13 is configured to be installed in the joint portion 14.
  • a through hole 13 having a thickness of about 20 ⁇ m or more on the handle layer side and about 10 ⁇ m on the active layer side is formed.
  • an insulating film such as an oxide film is formed on the side wall of the through hole 13
  • polysilicon is stacked by 5 ⁇ m or more by CDV to fill the through hole 13.
  • polysilicon is also laminated on the side wall of the through hole on the handle layer side, but is not completely buried.
  • the vibrating body 121 and the detection element 122 of the angular velocity sensor 12 are manufactured, the polysilicon embedded in the through hole 13 is penetrated by dry etching to form the through hole 13 in the wafer thickness direction.
  • the through hole 13 is provided in the joint portion 14 on the angular velocity sensor 12 side, but the through hole 13 may be provided in the joint portion 14 on the acceleration sensor 11 side.
  • the sensor chip 10 has a through hole 13
  • the cap chip 20 has a plurality of bumps 23 formed around the through hole 13.
  • the bump is formed with a size of ⁇ 10 ⁇ m or more and a height of 0.5 ⁇ m or more.
  • FIGS. 4 is a cross-sectional view taken along the line AA ′ of the angular velocity sensor shown in FIG. 2
  • FIG. 5 is a cross-sectional view taken along the line BB ′ of the acceleration sensor shown in FIG.
  • the cap wafer 2 is made of glass, and includes a gap 21 of an acceleration sensor, a gap 22 of an angular velocity sensor, and a bump 23 installed in the joint portion 14 of the angular velocity sensor.
  • An adsorbent 24 is formed in the gap 22 of the angular velocity sensor.
  • the pressure adjusting adsorbent 24 is arranged in the gap 22 of the angular velocity sensor in this way, even if the active gas adsorbed on the cap chip 20 and the sensor chip 10 is desorbed, it adheres to the adsorbent 24. Therefore, the configuration does not affect the driving environment of the angular velocity sensor, and the pressure reliability in the angular velocity sensor can be improved.
  • the bumps 23 formed on the cap chip 20 were formed by isotropic etching with buffered hydrofluoric acid to have a diameter of 10 ⁇ m or more and a height of 0.5 ⁇ m or more.
  • the metal film may be formed by patterning by milling, lift-off, etching, or the like. When a metal film is used, it may be installed in the vicinity of a through hole formed on the side (active layer side) to which the SOI substrate is bonded.
  • the gap 21 of the acceleration sensor and the gap 22 of the angular velocity sensor were formed by isotropic etching with hydrofluoric acid.
  • the acceleration sensor gap 21 and the angular velocity sensor gap 22 may be formed by dry etching or the like. Thereafter, an adsorbent 24 (getter) was formed in the gap 22 of the angular velocity sensor.
  • the sensor wafer 1 and the cap wafer 2 are aligned (FIGS. 4A and 5A), adjusted to an atmospheric pressure atmosphere with argon gas, and the sensor wafer 1 and the cap wafer 2 are aligned. A voltage was applied between them to perform anodic bonding at a bonding temperature of 250 ° C. (FIGS. 4B and 5B).
  • the acceleration sensor 11 is bonded and sealed in an atmospheric pressure atmosphere.
  • the bumps 23 inhibit the bonding and the gap 15 is formed. Note that the internal pressure of the angular velocity sensor can be adjusted via the air passage formed by the bumps 23 and the through holes 13.
  • the flow path resistance can be in the thickness direction of the wafer (several tens to several hundreds ⁇ m).
  • the air flow path (several to several tens of centimeters) connected to the outer periphery of the wafer can be 10 ⁇ 4 or less, and the flow resistance distribution can be reduced in the wafer surface. It is possible to make the pressure distribution very small.
  • the bonding region becomes small, degas generated during bonding can be reduced, and the pressure distribution in the wafer surface can be reduced.
  • the inside of the angular velocity sensor 12 is adjusted to a vacuum atmosphere through the through hole 13 and the gap 15.
  • a voltage is applied between the sensor wafer 1 and the cap wafer 2 in a state where the bonding temperature is 500 ° C. or higher and a load is applied to the sensor wafer 1 and the cap wafer 2 in the second-stage sealing process.
  • Anodically bonded (FIGS. 4C and 5C).
  • the bump 23 is plastically deformed, the gap 15 around the through hole 13 of the angular velocity sensor 12 is crushed, and the joining proceeds, so that the angular velocity sensor 12 can be sealed in a vacuum atmosphere.
  • the composite sensor wafer 3 in which the acceleration sensor 11 is sealed in an atmospheric pressure atmosphere and the angular velocity sensor 12 is sealed in a vacuum atmosphere is formed.
  • the sensor wafer 1 and the cap wafer 2 are aligned, and then adjusted to atmospheric pressure with a rare gas or an inert gas such as argon in the first-stage sealing process.
  • a voltage is applied to the sensor wafer 1 and the cap wafer 2 at ⁇ 400 ° C. to seal the acceleration sensor.
  • the bonding is inhibited by the bumps 23 and the angular velocity sensor is not sealed.
  • the sensor wafer 1 is adjusted in a state where the driving pressure (vacuum atmosphere) of the angular velocity sensor is adjusted with a rare gas such as argon or an inert gas and a load is applied at 500 ° C. or higher.
  • a voltage is applied to the cap wafer 2 to seal the angular velocity sensor.
  • the bumps 23 are deformed, the wafers are brought into contact with each other, and the angular velocity sensor is sealed in a vacuum atmosphere.
  • a composite sensor that matches the driving environment of the first sensor and the second sensor can be formed by changing the pressure in the chamber in the first and second sealing steps.
  • a material that is easily plastically deformed is selected according to temperature, load, and the like, and a plurality of bumps 23 are arranged around the through hole of the sensor wafer.
  • it can seal by a series of joining processes, and can aim at highly reliable sealing and reduction of manufacturing cost.
  • the through-hole 13 when the through-hole 13 is formed in the acceleration sensor 11, it seals in the vacuum atmosphere which is the drive pressure of the angular velocity sensor 12 in the 1st step
  • FIGS. 6 is a cross-sectional view taken along the line AA ′ of the angular velocity sensor shown in FIG. 2
  • FIG. 7 is a cross-sectional view taken along the line BB ′ of the acceleration sensor shown in FIG.
  • the material of the cap wafer 2 was silicon, and the gap 21 of the acceleration sensor and the gap 22 of the angular velocity sensor were formed by anisotropic etching using a potassium hydroxide aqueous solution.
  • the gap may be formed by isotropic etching using a mixed solution of hydrofluoric acid, nitric acid, and acetic acid, dry etching, or the like.
  • films were formed in the order of Cr: 0.05 ⁇ m and Au: 0.5 ⁇ m by sputtering using a metal mask beside the gap 22 of the angular velocity sensor.
  • an adsorbent 24 (getter) is formed as in the first embodiment.
  • the first sealing step after the sensor wafer 1 and the cap wafer 2 are aligned (FIGS. 6A and 7A), the surfaces of the sensor wafer 1 and the cap wafer 2 are activated with argon plasma. Then, the atmosphere was adjusted to an atmospheric pressure with argon gas, the sensor wafer 1 and the cap wafer 2 were brought into contact with each other, and surface activated bonding was performed (FIGS. 6B and 7B). At this time, the acceleration sensor 11 is bonded and sealed in an atmospheric pressure atmosphere. However, in the angular velocity sensor 12, the bumps 23 inhibit the bonding and the gap 15 is formed.
  • the inside of the angular velocity sensor 12 is adjusted to be in a vacuum atmosphere through the through hole 13 and the gap 15 connected to the back surface of the wafer.
  • the driving pressure (vacuum atmosphere) of the angular velocity sensor is adjusted with a rare gas or inert gas such as argon.
  • a rare gas or inert gas such as argon.
  • the sensor wafer 1 and the cap wafer 2 are brought into contact with each other while the surface is activated again with argon plasma and a load is applied to the sensor wafer 1 and the cap wafer 2 in the second sealing step.
  • surface activated bonding was performed (FIGS. 6C and 7C).
  • the bump 23 is plastically deformed, the gap 15 of the through-hole 13 portion is crushed, and the joining proceeds, so that the angular velocity sensor 12 can be sealed in a vacuum atmosphere.
  • a voltage is applied to the sensor wafer 1 and the cap wafer 2 in a second sealing process at 200 to 400 ° C. with a load that deforms the metal bumps applied. Then, the angular velocity sensor may be sealed.
  • a groove having a diameter larger than the bump 23 and smaller than the height of the bump 23 may be formed in the sensor wafer 1 or the cap wafer 2 in accordance with the deformation of the bump 23.
  • FIG. 8 is a cross-sectional view taken along the line AA ′ of the angular velocity sensor of FIG.
  • the acceleration sensor is the same as in the second embodiment.
  • the material of the cap wafer 2 was silicon, and the gap 21 of the acceleration sensor and the gap 22 of the angular velocity sensor were formed by anisotropic etching using a tetramethylammonium aqueous solution.
  • the cap chip 20 has a configuration in which through holes 13 are formed by Si DRIE, and a plurality of bumps 23 are formed around the through holes 13.
  • the bump is formed with a size of ⁇ 10 ⁇ m or more and a height of 0.5 ⁇ m or more.
  • the surfaces of the sensor wafer 1 and the cap wafer 2 are activated with argon plasma and adjusted to an atmospheric pressure atmosphere with argon gas.
  • the wafer 2 was brought into contact and surface activated bonding was performed (FIG. 8B).
  • the acceleration sensor 11 is bonded and sealed in an atmospheric pressure atmosphere.
  • the bumps 23 inhibit the bonding and the gap 15 is formed.
  • the inside of the angular velocity sensor 12 is in a vacuum atmosphere through the through hole 13 connected to the back surface of the cap wafer and the gap 15.
  • the surface is activated again with argon plasma, and in a state where a load is applied to the sensor wafer 1 and the cap wafer 2, the sensor wafer 1 and the cap wafer 2 are brought into contact with each other to perform surface activation bonding (FIG. 8C). )).
  • the bump 23 is plastically deformed, the gap 15 of the through-hole 13 portion is crushed, and the joining proceeds, so that the angular velocity sensor 12 can be sealed in a vacuum atmosphere.
  • FIG. 9 shows a fourth embodiment of the present invention, and is a cross-sectional view of a process of cutting and mounting the composite sensor wafer 3 described in Examples 1 to 3 to form a composite sensor.
  • FIG. 9A is a CC ′ cross section of FIG.
  • FIG. 9B the composite sensor wafer 3 is cut with a CO 2 laser and divided into composite sensor chips 30.
  • the composite sensor chip 30 is disposed on the circuit board 40 by using a die attach film, a Si adhesive, or the like (FIG. 9D).
  • the electrode pads 17 of the composite sensor chip 30, the electrodes 41 of the circuit board 40, and the external input / output electrodes 51 of the wiring board 50 are connected by wires 60.
  • the composite sensor chip 30, the circuit board 40, the wiring board 50, the wire 60 made of Au or the like is resin-sealed by injection molding, potting, or the like (FIG. 9F).
  • the resin material an epoxy resin in which particles such as silica are mixed is used.
  • FIG. 10 shows a fifth embodiment of the present invention, and is a cross-sectional view of a process of cutting and mounting the composite sensor wafer 3 described in Examples 1 to 4 to form a composite sensor.
  • FIG. 10A is a CC ′ cross section of FIG.
  • the composite sensor wafer 3 is cut with a diamond grindstone and divided into composite sensor chips 30.
  • the composite sensor chip 30 is disposed on the circuit board 40 using a die attach film, a Si adhesive material, or the like.
  • the electrode pad 17 of the composite sensor chip 30, the electrode 41 of the circuit board 40, and the electrode 81 of the ceramic package 80 are connected by a wire 60 made of Au or the like.
  • the lid 82 is soldered to the opening of the ceramic package 80 in an inert gas (FIG. 10F).
  • the acceleration sensor and the angular velocity sensor on the same substrate can be sealed in their respective driving atmospheres, and a composite sensor that can be manufactured at a low cost and a manufacturing method thereof can be obtained.

Abstract

 信頼性を向上させた複合センサおよびその製造方法を提供すること。 加速度センサの可動体と角速度センサの振動体と、を壁で隔てて、同一のセンサウエハ上に設置し、それぞれのセンサに対応したギャップを設けたキャップウエハを形成する。センサ封止部に貫通孔、バンプを形成し、第1の封止工程において加速度センサを大気圧封止し、第2の封止工程において、真空雰囲気でセンサとキャップとを接触させて、接合することで、角速度センサを真空封止する。その後、複合センサウエハを切断し、回路基板、配線基板を実装して、複合センサを形成する。

Description

複合センサおよびその製造方法
 本発明は、物理量の測定に用いられる物理量センサ、およびその物理量検出センサの製造方法に関する。
 従来から、静電容量型の物理量センサには、様々なものが提供されている。物理量センサは、シリコン基板、ガラス基板上にマイクロマシニングにより、振動体、可動体等の可動機構部品を、キャップ基板には、振動体、可動体等の可動機構部品に対応した箇所に駆動ギャップを設けておき、これらの基板を接合、接着等で封止する。これらの可動機構部品のサイズは、ミクロン〔μm〕オーダとなっており、空気抵抗等の影響により、特性低下の問題が生じ、それぞれの振動体、可動体等の可動機構部品に対応した圧力雰囲気でセンシング部を封止する必要がある。
 複合センサは、加速度センサ、角速度センサ等を同一基板上に設置するため、加速度センサ、角速度センサのそれぞれが特性低下しない圧力雰囲気で封止する。一般的に加速度センサのセンシング部は、大気圧封止、角速度センサのセンシング部は、真空封止することで特性低下しない複合センサが提供される。
 角速度センサは、可動機構部品が振動体であり、この振動体がある一定の周波数で駆動振動させているときに、角速度が加わると、コリオリ力が発生する。このコリオリ力により、振動体が変位する。このコリオリ力による振動体の変位量を検出することで角速度を検出する。
 振動体の駆動速度が速いほど、コリオリ力が大きくなるため、角速度センサの検出感度を良好にするには、振動体を高周波数かつ数μmというような大きな振幅で振動させる必要がある。しかしながら、マイクロマシニングにより作製した振動体は、微小ギャップで形成するため、駆動雰囲気が大気圧の場合、空気(封止気体)のダンピング効果の影響が大きくなる。このダンピング効果が、角速度センサの高周波数、かつ大振幅での振動に影響を与えてしまい、角速度センサの検出感度を低下させる。
 したがって、ダンピング効果の影響の小さい、すなわち真空雰囲気下で角速度センサのセンシング部を封止することで、高周波数、かつ大振幅できる角速度センサを得ることができる。
 一方、加速度センサは、可動機構部品が錘、梁等で構成された可動体であり、加速度が加わると、可動体が変位する。この可動体の変位量を検出することで、加速度を検出する。加速度センサを角速度センサと同じ真空雰囲気下で封止すると、加速度センサの可動体は、ダンピング効果が小さくなるため、振動し続ける現象が発生して、加速度を感度良く検出できない。
 したがって、加速度センサは、ダンピング効果の大きい、すなわち大気雰囲気下で封止する。
 加速度センサ、角速度センサを複合化した複合センサの公知例として、例えば、特許文献1乃至3の技術がある。
 特許文献1では、加速度センサ、角速度センサを封止するキャップ基板の加速度センサ側に貫通孔(通気路)を設けておき、加速度センサ、角速度センサを真空封止した後、通気路よりダンピング剤を充填し、貫通孔を半田、樹脂等で埋めて、加速度センサを大気雰囲気下、角速度センサを真空雰囲気下で封止している。
 また、特許文献2では、加速度センサ、角速度センサを大気圧雰囲気で封止した後、角速度センサ上のキャップ基板もしくはセンサ基板に貫通孔を形成しており、その後、シリコン等のChemical Vapor Deposition(CVD)法で、その貫通孔を埋めることで、角速度センサをCVD法での圧力すなわち真空雰囲気下で封止する。この方法で、加速度センサを大気圧雰囲気、角速度センサを真空雰囲気で封止する構成である。
 また、特許文献3では、デバイスを規定の圧力で封止するため、ウエハ外周と接続した通気路を形成しておき、その通気路を介して、デバイスの内部圧力を調整する方法が開示されている。
特開2002-5950号公報 特表2008-501535号公報 特開2010-251568号公報
 しかしながら、同一基板上に設置した加速度センサ、角速度センサの検出感度を向上させるため、それぞれのセンサに対応した圧力で封止する必要がある。同一基板上で封止するため、加速度センサ、角速度センサの片方のセンシング部に対応した圧力雰囲気での封止は、特許文献3のようにウエハ外周と接続した通気路を介して圧力調整した状態で封止を実施することで容易であるが、両方のセンシング部に対応した圧力雰囲気とするためには、特許文献1、2に記載されているように、キャップ基板に貫通孔等の通気路を形成し、センサ基板と接合した後、別材料を用いて、貫通孔を埋める方法がある。
 しかし、特許文献3の方法では、1種類の圧力での封止には対応可能であるが、異なる駆動環境を有する複合センサ等のデバイスには対応できない。また、ウエハ外周と接続する通気路の流路抵抗差により、デバイス内圧力の分布が大きくなる。
 一方、特許文献1、2の方法では(1)シリコンもしくはガラスと貫通孔を埋める材料との線膨張係数差による伸縮、貫通孔を埋め込む材料との密着性劣化による信頼性低下、(2)製造工程の複雑化による高コスト化といった課題がある。
 本発明の目的は、信頼性を向上させた複合センサおよびその製造方法を提供することにある。
 本発明の複合センサウエハは、加速度センサ、角速度センサを隣接した配置で、同一基板上に複数設置したセンサウエハ、センサを封止するキャップウエハとから構成される。
 複合センサは、(1)センサウエハとキャップウエハと接合してセンシング部を封止して複合センサウエハとする工程、(2)複合センサウエハを個片化して、複合センサチップとする工程、(3)複合センサチップ、外部入出力端子を有する配線基板、検出、補正を行う回路基板と共に実装する工程、(4)複合センサチップ、配線基板、回路基板の電極をワイヤで接続する工程、(5)樹脂パッケージ、セラミックスパッケージ等で封止する工程で形成する。
 本発明によれば、信頼性を向上させた複合センサおよびその製造方法を提供することができる。
本発明の実施形態に係る複合センサウエハの接合の概略。 本発明の第1-3実施形態に係る複合センサチップの拡大図。 本発明の第1-3実施形態に係る貫通孔、バンプの拡大図。 本発明の第1実施形態に係る角速度センサの断面図。 本発明の第1実施形態に係る加速度センサの断面図。 本発明の第2実施形態に係る角速度センサの断面図。 本発明の第2実施形態に係る加速度センサの断面図。 本発明の第3実施形態に係る角速度センサの断面図。 本発明の第5実施形態に係る複合センサの実装構成。 本発明の第6実施形態に係る複合センサの実装構成。
 以下に本発明に係る実施形態について図を用いて説明する。
 図1に示すように、加速度センサ11、角速度センサ12からなるセンサチップ10を複数配置したセンサウエハ1と加速度センサ用ギャップ21、角速度センサ用ギャップ22を形成したキャップチップ20を複数配置したキャップウエハ2とを接合封止して、複合センサウエハ3を形成する。
 図2は、本発明に係る第1の実施形態であり、図1のセンサウエハ1、キャップウエハ2の一部分の拡大図である。
 センサチップ10は、加速度センサ11、角速度センサ12、ウエハ裏面と連結する貫通孔13、キャップチップ20と接合する接合部14をSOI(Silicon on insulator)基板に形成する。SOI基板とは、シリコンとシリコンとの間にシリコン酸化層が形成された基板である。加速度センサ11の可動体111、検出素子112、角速度センサ12の振動体121、検出素子122は、SOI基板の活性層側にSi DRIE(deep Reactive Ion Etching)により形成する。その後、シリコン酸化層を除去することで、リリースされて、可動体111、振動体121、検出素子112、122となる。また、可動体111、振動体121、およびそれぞれの検出素子112、122は、壁16で隔てて配置する。
 加速度センサ11の検出素子112、角速度センサの振動体121、検出素子122は、貫通電極を介してSOI基板の裏面の電極パッド17と接続されており、その電極パッド17より信号を入出力することで、駆動、変位量を検出する構成となっている。
 また、ウエハ厚さ方向の貫通孔13は、活性層、ハンドル層をシリコンのドライエッチング等により形成され、貫通孔13側壁にシリコン酸化膜等で絶縁膜を形成した後、貫通孔13をポリシリコン等で埋め込んで、ハンドル層側に電極を形成する。ハンドル層側の貫通孔13を活性層側の貫通孔13より大きく形成しておき、ハンドル層側の貫通孔をポリシリコンで埋め込む。このとき、ハンドル層側の貫通孔13は、活性層側の貫通孔13より、大きいため、完全には埋め込まれない。したがって、活性層側の貫通孔13のポリシリコンを除去すると、活性層側の貫通孔13、ハンドル層側の貫通孔13は、開口して、ウエハ厚さ方向の貫通孔を形成することができる。このようにして、貫通孔13は接合部14内に設置するような構成となる。
 なお、具体的な貫通孔13の形成方法として、ハンドル層側に20μm以上、活性層側に10μm程度の貫通孔13を形成しておく。貫通孔13の側壁に酸化膜等の絶縁膜を形成した後、CDVにより、ポリシリコンを5μm以上積層して貫通孔13を埋める。このとき、ハンドル層側の貫通孔の側壁にもポリシリコンは、積層されるが、完全には埋まらない。その後、角速度センサ12の振動体121および検出素子122を作製する際に、貫通孔13に埋め込んだポリシリコンをドライエッチングで貫通させて、ウエハ厚さ方向に貫通孔13を形成する。
 本実施形態では、角速度センサ12側の接合部14に貫通孔13を設けたが、加速度センサ11側の接合部14に貫通孔13を設けても良い。
 第1の実施形態における貫通孔13近傍の構造について、図3(a)を用いて説明する。センサチップ10には、貫通孔13を形成し、キャップチップ20には、貫通孔13の周辺に複数のバンプ23を形成した構成である。バンプのサイズは、φ10μm以上、高さ0.5μm以上で形成する。
 次に、第1の実施形態における接合によるセンサウエハ1とキャップウエハ2との接合封止に関して、図4、図5を用いて説明する。図4は、図2の角速度センサのA-A′断面図、図5は、図2の加速度センサのB-B′断面図である。キャップウエハ2は、ガラスであり、加速度センサのギャップ21、角速度センサのギャップ22、角速度センサの接合部14内に設置したバンプ23で構成する。角速度センサのギャップ22内には吸着材24が形成されている。このように角速度センサのギャップ22内に圧力調整用の吸着材24を配置しておくと、キャップチップ20、センサチップ10表面に吸着していた活性ガスが脱離しても吸着材24に付着するため、角速度センサの駆動環境に影響を与えない構成となり、角速度センサ内の圧力信頼性を向上させることができる。
 キャップチップ20に形成するバンプ23は、バッファードフッ酸による等方性エッチングにより、φ10μm以上、高さ0.5μm以上で形成した。なお、金属膜をミリング、リフトオフ、エッチング等でパターニングすることで形成してもよい。金属膜を用いる場合、SOI基板の接合する側(活性層側)に形成した貫通孔の近傍に設置しても良い。
 加速度センサのギャップ21、角速度センサのギャップ22は、フッ酸による等方性エッチングで形成した。なお、等方性エッチングの他にドライエッチング等で加速度センサのギャップ21、角速度センサのギャップ22を形成してもよい。その後、角速度センサのギャップ22の中に、吸着材24(ゲッタ)を成膜した。
 1段目の封止工程において、センサウエハ1とキャップウエハ2とをアライメントした(図4(a)、図5(a))後、アルゴンガスで大気圧雰囲気に調整し、センサウエハ1、キャップウエハ2間に電圧を印加して、接合温度250℃で陽極接合した(図4(b)、図5(b))。このとき、加速度センサ11は、大気圧雰囲気で接合封止されるが、角速度センサ12は、バンプ23が接合を阻害して、ギャップ15が形成される。なお、バンプ23により形成される通気路と貫通孔13とを介して、角速度センサの内部圧力を調整することが可能である。このとき、ウエハ外周と接続した通気路を用いると、通気路の流路抵抗差により、ウエハの中央部と外周部とで封止内部圧力分布が生じてしまう。そこで、それぞれのセンサに貫通孔を設けておくことで、圧力調整する場合、流路抵抗はウエハの厚さ方向(数十~数百μm)分とすることができ、特許文献3のようにウエハ外周と接続した通気路(数~数十cm)に対して、10-4以下とすることができ、かつ、ウエハ面内で流路抵抗分布を低減することができるため、ウエハ面内で圧力分布を非常に小さくすることが可能である。また、接合領域が小さくなるため、接合時に発生するデガスを少なくすることができ、ウエハ面内の圧力分布を低減することができる。
 次に、貫通孔13とギャップ15とを介して角速度センサ12内を真空雰囲気下に調整する。この状態下のもと、2段目の封止工程において、接合温度500℃以上として、センサウエハ1、キャップウエハ2に荷重を印加した状態で、センサウエハ1、キャップウエハ2間に電圧を印加して陽極接合した(図4(c)、図5(c))。このとき、バンプ23は、塑性変形して、角速度センサ12の貫通孔13の周囲のギャップ15が潰され接合が進行し、角速度センサ12を真空雰囲気で封止できる。上記方法により、加速度センサ11を大気圧雰囲気、角速度センサ12を真空雰囲気で封止した複合センサウエハ3を形成する。
 キャップウエハ2にガラスを用いた場合、センサウエハ1とキャップウエハ2との位置を合わせた後、1段階目の封止工程で、アルゴン等の希ガスもしくは不活性ガスで大気圧に調整し、200-400℃で、センサウエハ1とキャップウエハ2とに電圧を印加して、加速度センサを封止する。このとき、バンプ23により、接合が阻害されて、角速度センサは封止されない。次に2段階目の封止工程で、アルゴン等の希ガスもしくは不活性ガスで、角速度センサの駆動圧力(真空雰囲気)に調整し、500℃以上で、荷重を印加した状態で、センサウエハ1とキャップウエハ2とに電圧を印加して、角速度センサを封止する。高温雰囲気で荷重を印加することで、バンプ23が変形して、ウエハ同士が接触して接合され、角速度センサが真空雰囲気で封止される。
 本実施例では、1段階目、2段階目の封止工程において、チャンバ内の圧力を変更することで、第1のセンサ、第2のセンサの駆動環境に合致した複合センサを形成できる。
 バンプ23には、温度、荷重等により、塑性変形しやすい材料を選定し、センサウエハの貫通孔周辺に複数配置する構造とする。特許文献1、2のように、貫通孔を別部材で封止する方法とは異なり、一連の接合工程で封止でき、高信頼性封止、製造コストの低減を図ることができる。
 なお、加速度センサ11に貫通孔13を形成した場合、1段目の封止工程において、角速度センサ12の駆動圧力である真空雰囲気で封止する。このとき、加速度センサ11は、バンプ23により、封止が阻害され、封止されない。この状態で、加速度センサ11の駆動圧力である大気圧雰囲気にチャンバ内の圧力を調整すると、貫通孔13、バンプ23により形成されたギャップにより、加速度センサ内を真空雰囲気とすることができる。その後、2段目の封止工程として、高温、高荷重を加えた状態で、バンプ23を変形させて、貫通孔周辺部を封止することで、加速度センサを大気圧雰囲気で封止することができ、角速度センサ12に貫通孔13を形成した場合と同様、一連の接合工程で封止でき、高信頼性封止、製造コストの低減を図ることができる。
 第2の実施形態における接合によるセンサウエハ1とキャップウエハ2との接合封止に関して、図6、図7を用いて説明する。図6は、図2の角速度センサのA-A′断面図、図7は、図2の加速度センサのB-B′断面図である。キャップウエハ2の材質は、シリコンであり、加速度センサのギャップ21、角速度センサのギャップ22は、水酸化カリウム水溶液を用いて、異方性エッチングで形成した。その他、フッ酸、硝酸、酢酸の混合液を用いた等方性エッチング、ドライエッチング等でギャップを形成してもよい。
 次に、角速度センサのギャップ22横に、メタルマスクを用いて、スパッタで、Cr:0.05μm、Au:0.5μmの順に成膜した。角速度センサのギャップ22の中には実施例1と同様、吸着材24(ゲッタ)を成膜している。
 1段目の封止工程において、センサウエハ1とキャップウエハ2とをアライメントした(図6(a)、図7(a))後、センサウエハ1とキャップウエハ2との表面をアルゴンプラズマで活性化して、アルゴンガスで大気圧雰囲気に調整し、センサウエハ1、キャップウエハ2を接触させて、表面活性化接合した(図6(b)、図7(b))。このとき、加速度センサ11は、大気圧雰囲気で接合封止されるが、角速度センサ12は、バンプ23が接合を阻害して、ギャップ15が形成される。
 次に、ウエハ裏面と接続する貫通孔13とギャップ15とを介して、角速度センサ12内を真空雰囲気下となるように調整する。具体的には、表面を活性化した後、アルゴン等の希ガスもしくは不活性ガスで、角速度センサの駆動圧力(真空雰囲気)に調整する。この状態下のもと、2段目の封止工程において、再度表面をアルゴンプラズマで活性化させて、センサウエハ1、キャップウエハ2に荷重を印加した状態で、センサウエハ1とキャップウエハ2とを接触させて、表面活性化接合した(図6(c)、図7(c))。このとき、バンプ23が塑性変形して、貫通孔13部のギャップ15が潰され接合が進行し、角速度センサ12を真空雰囲気で封止できる。上記方法により、加速度センサ11を大気圧雰囲気、角速度センサ12を真空雰囲気で封止した複合センサウエハを形成する。
 バンプ23に金属製バンプを用いた場合、2段階目の封止工程において、200-400℃で、金属製バンプの変形する荷重を印加した状態で、センサウエハ1とキャップウエハ2とに電圧を印加して、角速度センサを封止しても良い。バンプ23の塑性変形を考慮して、バンプ23の変形に合わせ、バンプ23の直径より広く、バンプ23の高さより小さい、溝をセンサウエハ1、もしくはキャップウエハ2に形成しておいても良い。
 第3の実施形態における接合によるセンサウエハ1とキャップウエハ2との接合封止に関して、図8を用いて説明する。図8は、図2の角速度センサのA-A′断面図である。加速度センサに関しては、第2の実施形態と同様である。キャップウエハ2の材質は、シリコンであり、加速度センサのギャップ21、角速度センサのギャップ22は、テトラメチルアンモニウム水溶液を用いて、異方性エッチングで形成した。次に、角速度センサ12の接合部14に、メタルマスクを用いて、スパッタで、Cr:0.05μm、In:0.5μmの順に成膜した後、裏面よりフォトリソ、シリコンのドライエッチングでエッチングして、貫通孔13を形成した。角速度センサのギャップ22の中には、実施例1と同様に吸着材24(ゲッタ)を成膜した。
 第3の実施形態における貫通孔13近傍の構造について、図3(b)を用いて説明する。キャップチップ20には、Si DRIEで貫通孔13を形成し、貫通孔13の周辺に複数のバンプ23を形成した構成である。バンプのサイズは、φ10μm以上、高さ0.5μm以上で形成する。
 センサウエハ1とキャップウエハ2とをアライメントした(図8(a))後、センサウエハ1とキャップウエハ2との表面をアルゴンプラズマで活性化して、アルゴンガスで大気圧雰囲気に調整し、センサウエハ1、キャップウエハ2を接触させて、表面活性化接合した(図8(b))。このとき、加速度センサ11は、大気圧雰囲気で接合封止されるが、角速度センサ12は、バンプ23が接合を阻害して、ギャップ15が形成される。次に、真空雰囲気とした際に、キャップウエハ裏面と接続する貫通孔13とギャップ15とを介して、角速度センサ12内は、真空雰囲気下となる。ここで、再度表面をアルゴンプラズマで活性化させて、センサウエハ1、キャップウエハ2に荷重を印加した状態で、センサウエハ1とキャップウエハ2とを接触させて、表面活性化接合した(図8(c))。このとき、バンプ23が塑性変形して、貫通孔13部のギャップ15が潰され接合が進行し、角速度センサ12を真空雰囲気で封止できる。上記方法により、加速度センサ11を大気圧雰囲気、角速度センサ12を真空雰囲気で封止した複合センサウエハを形成する。
 図9は、本発明の第4の実施形態であり、実施例1~3記載の複合センサウエハ3を切断、実装して、複合センサとする工程の断面図である。図9(a)は、図2のC-C′断面である。図9(b)では、複合センサウエハ3をCO2レーザーで切断して、複合センサチップ30に分割する。
 外部入出力電極51を金属で形成したリードフレーム等の配線基板50上に、複合センサチップ30の変位を検出する回路、温度、傾き等を補正する回路を搭載した回路基板40をダイアタッチフィルムやAgペースト等を用いて配置した(図9(c))。次に、回路基板40上に複合センサチップ30をダイアタッチフィルム、Si接着材等を用いて配置する(図9(d))。次に図9(e)のように、複合センサチップ30の電極パッド17、回路基板40の電極41、配線基板50の外部入出力電極51をワイヤ60で接続する。最後に、インジェクションモールド、ポッティング等により、複合センサチップ30、回路基板40、配線基板50、Au等からなるワイヤ60を樹脂封止する(図9(f))。樹脂材料には、シリカ等の粒子を混合したエポキシ系樹脂を用いる。
 上記構成により、同一基板上の加速度センサ、角速度センサをそれぞれの駆動雰囲気下で封止でき、かつ低コストで製造可能な複合センサおよびその製造方法とすることができる。
 図10は、本発明の第5の実施形態であり、実施例1から4記載の複合センサウエハ3を切断、実装して、複合センサとする工程の断面図である。図10(a)は、図2のC-C′断面である。図10(b)のように、複合センサウエハ3をダイアモンド砥石により、切断して、複合センサチップ30に分割する。
 外部入出力電極51をセラミックス、もしくはプラスチックの多層配線と接続したパッケージ80上に、複合センサチップ30の変位を検出する回路、温度、傾き等を補正する回路を搭載した回路基板40をダイアタッチフィルムやAgペースト等を用いて配置する(図10(c))。図10(d)のように、回路基板40上に複合センサチップ30をダイアタッチフィルム、Si接着材等を用いて配置する。次に図10(e)のように、複合センサチップ30の電極パッド17、回路基板40の電極41、セラミックスパッケージ80の電極81をAu等からなるワイヤ60で接続する。最後に、セラミックスパッケージ80の開口部に蓋82を不活性ガス中において、はんだ接合する(図10(f))。
 実施例4と同様に上記構成により、同一基板上の加速度センサ、角速度センサをそれぞれの駆動雰囲気下で封止でき、かつ低コストで製造可能な複合センサおよびその製造方法とすることができる。
1 センサウエハ
2 キャップウエハ
3 複合センサウエハ
10 センサチップ
11 加速度センサ
12 角速度センサ
13 貫通孔
14 接合部
17 電極パッド
15 ギャップ
16 壁
20 キャップチップ
21 加速度センサ用ギャップ
22 角速度センサ用ギャップ
23 バンプ
24 吸着材(ゲッタ)
30 複合センサチップ
40 回路基板
41、81 電極
50 配線基板
51 外部入出力電極
60 ワイヤ
70 樹脂
80 セラミックスパッケージ
82 蓋
111 可動体
112、122 検出素子
121 振動体

Claims (6)

  1.  振動体を用いて角速度を検出する角速度検出部と可動体を用いて加速度を検出する加速度検出部とを壁で隔てた空間に設置し、角速度検出部の領域もしくは接合部に貫通孔を形成したセンサウエハと、それぞれのセンサに対応した箇所にギャップを形成し、角速度検出部に形成した貫通孔の近傍にバンプを形成したキャップウエハとから構成される複合センサであって、
     第1の封止工程である大気圧雰囲気での加速度検出部の封止工程と、
     第2の封止工程である真空雰囲気下で高温、高荷重における角速度検出部の封止工程と、切断により複合センサチップへの個片化を行う工程と、
     外部入出力端子を有する配線基板上に、検出補正を行う回路基板を設置する工程と、
     前記回路基板上に複合センサチップを設置する工程と、
     前記複合センサチップ、前記回路基板、前記配線基板をワイヤで接続する工程と、
     前記配線基板の一部を除いて、前記複合センサチップ、前記回路基板を樹脂封止する工程とからなることを特徴とする複合センサ。
  2.  振動体を用いて角速度を検出する角速度検出部と可動体を用いて加速度を検出する加速度検出部とを壁で隔てた空間に設置し、加速度検出部の領域もしくは接合部に貫通孔を形成したセンサウエハと、それぞれのセンサに対応した箇所にギャップを形成し加速度検出部に形成した貫通孔の近傍にバンプを形成したキャップウエハと、から構成される複合センサであって、
     第1の封止工程である低真空雰囲気での角速度検出部の封止工程と、
     第2の封止工程である大気圧雰囲気下で高温、高荷重における加速度検出部の封止工程と、
     切断により複合センサチップへの個片化を行う工程と、
     外部入出力端子を有する配線基板上に、検出補正を行う回路基板を設置する工程と、
     前記回路基板上に前記複合センサチップを設置する工程と、
     前記複合センサチップ、前記回路基板、前記配線基板をワイヤで接続する工程と、
     前記配線基板の一部を除いて、前記複合センサチップ、前記回路基板を樹脂封止する工程とからなることを特徴とする複合センサ。
  3.  請求項1または2に記載の複合センサにおいて、
     前記センサウエハは、シリコン基板、もしくは、シリコンとシリコンとの間にシリコン酸化層が形成された基板からなり、
     前記キャップウエハは、ガラス基板もしくはシリコン基板からなることを特徴とする複合センサ。
  4.  請求項1または2に記載の複合センサにおいて、
     前記バンプは、直径10μm以上であり高さ0.5μm以上であることを特徴とする複合センサ。
  5.  請求項4に記載の複合センサにおいて、
     前記バンプは、ガラスもしくは金属からなることを特徴とする複合センサ。
  6.  請求項1または2に記載の複合センサにおいて、
     同一平面上に1軸角速度検出部、2軸加速度検出部を設置し、角速度検出部と加速度検出部との検出軸が直行していることを特徴とする複合センサ。
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