WO2013073438A1 - 信号処理装置、信号処理方法、プログラム、及び電子機器 - Google Patents

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luminance
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山下　淳一
勝秀 内野
佑樹 妹尾
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ソニー株式会社
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    • G09G2360/145—Detecting light within display terminals, e.g. using a single or a plurality of photosensors the light originating from the display screen

Definitions

  • the present disclosure relates to a signal processing device, a signal processing method, a program, and an electronic device, and more particularly, to a signal processing device, a signal processing method, a program, and an electronic device that can prevent burn-in that occurs on a display screen.
  • An organic EL element is a light emitting element having a diode characteristic and utilizing a phenomenon that light is emitted when an electric field is applied to an organic thin film. Since the organic EL element is driven at an applied voltage of 10 V or less, it has low power consumption, and since it is a self-luminous element that emits light by itself, it has the feature that it is easy to reduce the weight and thickness without requiring an illumination member. . Further, since the response speed of the organic EL element is as high as several ⁇ s, there is an advantage that an afterimage at the time of displaying a moving image does not occur in the EL panel.
  • JP 2003-255856 A JP 2003-271095 A JP 2004-133240 A JP 2004-029791 A JP 2004-093682 A
  • the organic EL element has a characteristic that the luminance efficiency decreases in proportion to, for example, the light emission amount and the light emission time. Since the light emission luminance of the organic EL element is represented by the product of the current value and the luminance efficiency, a decrease in luminance efficiency results in a decrease in light emission luminance. As a display image displayed on the display screen, a display image that performs uniform display in each pixel is rare, and the amount of light emission is generally different for each pixel.
  • some conventional EL panels perform a burn-in correction process for preventing an image sticking phenomenon by causing an organic EL element to emit light with a light emission luminance before luminance reduction.
  • an EL panel includes an organic EL element that emits light for display image display (hereinafter referred to as an organic EL element for display) and an organic EL element that emits light for measurement of luminance reduction (hereinafter referred to as an organic EL element for measurement). Built-in EL element).
  • the EL panel estimates the luminance deterioration characteristic indicating the degree of decrease in the light emission luminance of the organic EL element based on the measurement result obtained by measuring the luminance of the measurement organic EL element.
  • the EL panel performs a burn-in correction process for causing the display organic EL element and the measurement organic EL element to emit light with the emission luminance before the decrease, based on the estimated luminance deterioration characteristic.
  • both the organic EL element for display and the organic EL element for measurement emit light with the emission luminance before the decrease.
  • the measurement organic EL element emits light with the light emission luminance before the decrease, so the luminance deterioration characteristic can be accurately estimated from the measurement result obtained from such a measurement EL element. May not be possible. In this case, the image sticking correction process may not prevent the image sticking phenomenon.
  • the present disclosure has been made in view of such a situation, and is intended to prevent image sticking that occurs on a display screen.
  • the signal processing device emits an image signal for causing a first light emitting element used for displaying an image to emit light and a second light emitting element used for measuring a luminance.
  • a signal combining unit configured to generate a first combined signal composed of the dummy pixel signals of the first pixel and the generated first combined signal of the first light emitting element and the second light emitting element. Based on the second combined signal, a conversion unit that converts only the first light emitting element into a second combined signal for emitting light with the same luminance regardless of the degree of deterioration of the first light emitting element.
  • a signal processing apparatus including a light emission control unit configured to emit light from the first light emitting element and the second light emitting element.
  • the conversion unit can convert the first combined signal into the second combined signal based on a luminance measurement result by a measurement unit that measures the luminance of the second light emitting element.
  • the image signal included in the first combined signal is an image signal for causing the first light emitting element to emit light with the same luminance regardless of the degree of deterioration of the first light emitting element.
  • the first composite signal can be converted into the second composite signal including the corrected image signal.
  • the conversion unit further corrects the dummy pixel signal included in the first combined signal to be the same as the dummy pixel signal included in the first combined signal, thereby correcting the first combined signal.
  • a signal can be converted to the second composite signal.
  • a display screen for displaying an image, and a display unit including the first light-emitting element, the second light-emitting element, and the measurement unit may be further provided.
  • An image is displayed on the display screen by causing the first light emitting element to emit light based on the image signal included in the combined signal, and based on the dummy pixel signal included in the second combined signal, By causing the second light-emitting element to emit light, the measurement unit can measure luminance.
  • a signal processing method is a signal processing method of a signal processing device that processes a signal, and causes the first light emitting element used for image display by the signal processing device to emit light.
  • a signal combining step for generating a first combined signal composed of the image signal and a dummy pixel signal for causing the second light emitting element used for luminance measurement to emit light, and the generated first A combined signal for causing only the first light-emitting element of the first light-emitting element and the second light-emitting element to emit light with the same luminance regardless of the degree of deterioration of the first light-emitting element.
  • a signal processing method including a conversion step of converting to a second combined signal and a light emission control step of causing the first light emitting element and the second light emitting element to emit light based on the second combined signal. .
  • a program causes a computer to emit an image signal for causing a first light emitting element used for image display to emit light and a second light emitting element used for measuring luminance.
  • a signal combining unit configured to generate a first combined signal composed of dummy pixel signals for the first light emitting element and the second light emitting element. Based on the second combined signal, a conversion unit that converts only the first light emitting element into a second combined signal for emitting light with the same luminance regardless of the degree of deterioration of the first light emitting element.
  • An electronic device is an electronic device including a signal processing device that processes a signal, and the signal processing device causes a first light-emitting element used for displaying an image to emit light.
  • a signal combining unit that generates a first combined signal composed of the image signal and a dummy pixel signal for causing the second light emitting element used for luminance measurement to emit light, and the generated first A combined signal for causing only the first light-emitting element of the first light-emitting element and the second light-emitting element to emit light with the same luminance regardless of the degree of deterioration of the first light-emitting element.
  • the electronic apparatus includes a conversion unit that converts to a second combined signal, and a light emission control unit that causes the first light emitting element and the second light emitting element to emit light based on the second combined signal.
  • an image signal for causing the first light emitting element used for image display to emit light and a dummy for causing the second light emitting element used for measuring luminance to emit light A first combined signal composed of a pixel signal is generated, and the generated first combined signal is only the first light emitting element among the first light emitting element and the second light emitting element. Regardless of the degree of deterioration of the first light emitting element, the first light emitting element is converted into a second combined signal for emitting light with the same luminance, and based on the second combined signal, The second light emitting element emits light.
  • the signal processing device emits an image signal for causing a first light emitting element used for displaying an image to emit light and a second light emitting element used for measuring a luminance.
  • a signal combining unit configured to generate a first combined signal composed of the dummy pixel signals of the first pixel and the generated first combined signal of the first light emitting element and the second light emitting element.
  • a conversion unit Based on the second combined signal, a conversion unit that converts the amount of current flowing only in the first light emitting element into a second combined signal that increases according to the light emission time of the first light emitting element.
  • 1 is a signal processing apparatus including a light emitting control unit that emits light from the first light emitting element and the second light emitting element.
  • an image signal for causing the first light emitting element used for displaying an image to emit light and a dummy for causing the second light emitting element used for measuring luminance to emit light A first combined signal composed of a pixel signal is generated, and the generated first combined signal is only the first light emitting element among the first light emitting element and the second light emitting element. Is converted into a second combined signal that increases the amount of current flowing in accordance with the light emission time of the first light emitting element, and based on the second combined signal, the first light emitting element and the second light emitting element The light emitting element emits light.
  • FIG. 3 is a flowchart for explaining display processing performed by the display device of FIG. 1. It is a flowchart for demonstrating the detail of the inclination correction process in step S5 of FIG. It is a flowchart for demonstrating the detail of the gradation correction process in FIG.18 S6. It is a flowchart for demonstrating the detail of the degradation curve estimation process in FIG.18 S11. It is a block diagram which shows the structural example of the display apparatus which is 2nd Embodiment. It is a block diagram which shows the detailed structural example of the sticking correction
  • FIG. 24 is a block diagram illustrating a detailed configuration example of a gradation correction unit in FIG. 23. It is a flowchart for demonstrating the display process which the display apparatus of FIG. 22 performs. It is a flowchart for demonstrating the detail of the inclination correction process in FIG.27 S94. It is a flowchart for demonstrating the detail of the gradation correction process in step S96 of FIG. It is a block diagram which shows the structural example of the display apparatus which is 3rd Embodiment. It is a block diagram which shows the detailed structural example of the sticking correction
  • Fig. 31 is a flowchart for explaining display processing performed by the display device of Fig. 30.
  • FIG. 35 is a block diagram illustrating a detailed configuration example of a printing correction unit in FIG. 34. It is a figure for demonstrating the reason also using the temperature from a temperature sensor.
  • FIG. 36 is a block diagram illustrating a detailed configuration example of an inclination correction unit in FIG. 35. It is another figure which shows an example of a luminance degradation curve.
  • FIG. 38 is a first diagram for explaining an example of an estimation method in which the degradation curve estimation unit in FIG. 37 estimates a luminance degradation curve.
  • FIG. 38 is a second diagram for explaining an example of an estimation method in which the degradation curve estimation unit in FIG. 37 estimates a luminance degradation curve.
  • First embodiment an example of performing a burn-in correction process only on an image signal
  • Second embodiment an example of calculating a correction amount and an offset amount using an image signal after tilt correction processing
  • Third embodiment an example of performing gradation correction processing on an image signal having gamma characteristics
  • Fourth embodiment an example of estimating a luminance deterioration curve based on a change in temperature of an organic EL element
  • Fifth embodiment an example when a dummy image is synthesized above or below a display image
  • FIG. 1 shows a configuration example of a display device 1 according to the first embodiment.
  • the display device 1 includes a dummy pixel signal generation unit 21, a signal synthesis unit 22, a burn-in correction unit 23, a data driver 24, a display unit 25, and a control unit 26.
  • the display unit 25 is, for example, an active matrix display using an organic EL (electroluminescent) element as a light emitting element.
  • the display unit 25 has a display screen 25a for displaying a display image corresponding to an image signal from the outside (for example, an antenna).
  • the display unit 25 has a built-in organic EL element that emits light to display a display image on the display screen 25a (hereinafter referred to as a display organic EL element). As will be described later with reference to FIG. 15, the display organic EL element emits light as a sub-pixel of the display image.
  • the display unit 25 includes an organic EL element that emits light for measuring the luminance by the luminance sensor 25b (hereinafter, referred to as a measurement organic EL element), and a luminance sensor 25b that measures the luminance of the measurement organic EL element. Built-in. Note that light emitted from the measurement organic EL element does not leak to the outside of the display unit 25.
  • the dummy pixel signal generation unit 21 generates a dummy pixel signal for causing the measurement organic EL element incorporated in the display unit 25 to emit light, and supplies the dummy pixel signal to the signal synthesis unit 22.
  • Image signal for causing the display organic EL element to emit light is supplied to the signal synthesis unit 22 from the outside.
  • the signal synthesis unit 22 synthesizes the image signal from the outside and the dummy pixel signal from the dummy pixel signal generation unit 21, and supplies the resultant synthesized signal to the burn-in correction unit 23.
  • FIG. 2 shows an example of a combining process in which the signal combining unit 22 combines the image signal and the dummy pixel signal.
  • FIG. 2 shows an example of a display image 41 displayed on the display screen 25a when the organic EL element for display included in the display unit 25 emits light according to the image signal.
  • the dummy image 42 obtained by the measurement organic EL element included in the display unit 25 emitting light according to the dummy pixel signal is shown.
  • the dummy image 42 is not displayed on the display screen 25a and is used only for measuring the luminance by the luminance sensor 25b.
  • the signal synthesis unit 22 synthesizes the image signal and the dummy pixel signal so that the dummy image 42 is arranged on the right side of the display image 41.
  • the signal synthesis unit 22 generates a synthesized signal representing the synthesized image 43 as shown in FIG. 3 by synthesizing the image signal and the dummy pixel signal, and supplies the synthesized signal to the burn-in correction unit 23.
  • the signal combining unit 22 may combine the image signal and the dummy pixel signal so that the dummy image 42 is arranged on the left side of the display image 41.
  • the luminance sensor 25b is provided on the left side of the display screen 25a.
  • the burn-in correction unit 23 corrects the image signal (display image 41) included in the combined signal from the signal combining unit 22 to perform a burn-in correction process that prevents burn-in on the display screen 25a of the display unit 25.
  • the image sticking occurring on the display screen 25a will be described in detail with reference to FIGS.
  • the burn-in correction unit 23 performs a burn-in correction process on the image signal based on the measurement result from the luminance sensor 25b, and supplies a composite signal including the image signal after the burn-in correction process to the data driver 24. To do. Details of the burn-in correction unit 23 will be described in detail with reference to FIG.
  • the data driver 24 performs AD (analog / digital) conversion on the combined signal from the burn-in correction unit 23 and supplies the combined signal after AD conversion to the display unit 25.
  • the display unit 25 causes the organic EL element for display to emit light based on the image signal included in the composite signal from the data driver 24. Thereby, the display image 41 as an image signal is displayed on the display screen 25a.
  • the display unit 25 causes the measurement organic EL element to emit light based on the dummy pixel signal included in the composite signal from the data driver 24.
  • the luminance sensor 25 b is provided near the measurement organic EL element, measures the luminance of the measurement organic EL element, and supplies the measurement result to the burn-in correction unit 23.
  • the control unit 26 controls the dummy pixel signal generation unit 21, the signal synthesis unit 22, the burn-in correction unit 23, the data driver 24, the display unit 25, and the luminance sensor 25b.
  • the organic EL element for display emits light with a luminance L corresponding to the image signal input from the data driver 24 to the display unit 25.
  • the organic EL element for display emits light with luminance L when a current I corresponding to the signal potential Vsig represented by the image signal flows.
  • the luminance L is expressed by the following equation (1) using a current I flowing through the organic EL element and a slope ⁇ representing a conversion efficiency (luminance efficiency) for converting the current I into the luminance L.
  • L ⁇ ⁇ I (1)
  • the inclination ⁇ is determined in advance according to the organic EL element, and the organic EL element can efficiently convert the current I into the luminance L as the inclination ⁇ is larger.
  • the luminance L can be expressed by the following equation (2) using the signal potential Vsig represented by the image signal.
  • Vsig represented by the image signal.
  • ⁇ ⁇ ⁇ 1 represents the conversion efficiency when converting the signal potential Vsig 2 to the luminance L.
  • the luminance L can be expressed by the following equation (3) using the gradation k corresponding to the current I and the gradient ⁇ .
  • L ⁇ ⁇ ⁇ 2 ⁇ k 2.2 (3)
  • ⁇ ⁇ ⁇ 2 represents the conversion efficiency when k 2.2 is converted to luminance L.
  • the organic EL element for measurement is configured similarly to the organic EL element for display, and the organic EL element for measurement has a luminance corresponding to the dummy pixel signal input from the data driver 24 to the display unit 25. Flashes on.
  • the luminance of the organic EL element for measurement can be expressed by the above-described equations (1) to (3), similarly to the luminance L of the organic EL for display, if the signal potential represented by the dummy pixel signal is Vsig. . For this reason, only the luminance L of the organic EL element for display is described, and the description of the luminance of the organic EL element for measurement is omitted.
  • the luminance L decreases due to the deterioration of the organic EL element over time.
  • the decreased luminance L ′ can be expressed by the following equation (4) corresponding to the equation (1).
  • L ' ⁇ ' ⁇ I (4)
  • the organic EL element for display deteriorates according to the magnitude of the current flowing through the organic EL element for display and the length of time during which the current flows. Then, according to the deterioration of the organic EL element for display, as shown in the equation (4), the conversion efficiency (inclination) may be deteriorated such that the inclination ⁇ is reduced to the inclination ⁇ ′ ( ⁇ ).
  • the organic EL element for display deteriorates in proportion to the magnitude of the current flowing through the organic EL element and the time when the current flows.
  • the inclination ⁇ decreases to a smaller inclination ⁇ ′ as the deterioration of the organic EL element for display increases.
  • the current deterioration amount ⁇ I increases in proportion to the magnitude of the current flowing through the display organic EL element and the time the current flows.
  • the luminance L decreases to the luminance L ′ due to the deterioration of the conversion efficiency in which the inclination ⁇ decreases and the deterioration of the current in which the current I decreases.
  • a so-called burn-in phenomenon occurs in which the image displayed immediately before appears on the display screen 25a.
  • FIG. 4 shows an example of the display screen 25a.
  • a black image 61a representing a black image is displayed on the display screen 25a in FIG. 4, and a white image 61b representing a white character “BS” (characters surrounded by black circles in the figure) against the black image 61a. Is displayed.
  • BS white character
  • the current I 1 flows through the first organic EL element that emits light to display the black image 61a, and the luminance L 1 (for example, the luminance value 0) is displayed. ).
  • the luminance L 1 ′ of the first organic EL element in which the efficiency deterioration and the current deterioration have occurred is expressed by the following equation (4 ′).
  • L 1 ' ⁇ 1 ' ⁇ (I- ⁇ I 1 ) (4 ')
  • the current I 2 (> I 1 ) flows through the second organic EL element that emits light to display the white image 61b, and the luminance L Light is emitted at 2 (> L 1 ) (for example, luminance value 255).
  • the luminance L 2 ′ of the second organic EL element in which the deterioration of efficiency and the deterioration of current have occurred is expressed by the following equation (4 ′′).
  • L 2 ' ⁇ 2 ' ⁇ (I- ⁇ I 2 ) (4 '')
  • the deterioration in efficiency and current that occur in the first organic EL element are smaller than the deterioration in efficiency and current that occur in the second organic EL element.
  • the slope ⁇ 1 ′ of the formula (4 ′) is larger than the slope ⁇ 2 ′ of the formula (4 ′′), and the current deterioration amount ⁇ I 1 of the formula (4 ′) is expressed by the formula (4 ′′). It is smaller than the current deterioration amount ⁇ I 2 .
  • the luminance L 1 ′ of the first organic EL element is the second organic EL element. It becomes larger than the luminance L 2 ′ of the element.
  • FIG. 5 shows an example when a gray image 62a representing a gray image is displayed immediately after displaying the black image 61a and the white image 61b on the display screen 25a.
  • a gray image 62a is shown.
  • the gray image 62a is composed of a plurality of pixels, and the brightness of each pixel constituting the gray image 62a is the same brightness corresponding to gray.
  • FIG. 5B shows a display screen 25a when the gray image 62a is displayed immediately after displaying the black image 61a and the white image 61b.
  • the display organic EL element composed of the first organic EL element and the second organic EL element has the same luminance corresponding to the gray image 62a.
  • the same current I corresponding to the luminance of the current flows.
  • the luminance L 1 ′ of the first organic EL element is larger than the luminance L 2 ′ of the second organic EL element.
  • the first organic EL element emits light with the luminance L 1 ′
  • the second organic EL element emits light with the luminance L 2 ′ lower than the luminance L 1 ′.
  • the second organic EL element is a light emitting element that emits light to display a white image 61b representing a white character “BS”.
  • a burn-in phenomenon occurs as if the character “BS” displayed immediately before remains in the upper right portion of the display screen 25a.
  • the second organic EL element on the display screen 25a emits light. It appears as if the character “BS” that was displayed immediately before remains in the upper right part.
  • FIG. 6 shows a detailed configuration example of the burn-in correction unit 23 of FIG.
  • the burn correction unit 23 includes an inclination correction unit 71, a gradation correction unit 72, a detection unit 73, and a holding unit 74.
  • the composite signal C n represents the n-th supplied composite signal (composite image).
  • Skew corrector 71 a synthetic signal C n image signals inputted immediately before the image signal S n included in the S n-1 of the signal potential (Vsig) n-1 from the signal synthesizing unit 22, the holding portion 74 read out.
  • the holding unit 74 has a signal potential (Vsig) n-1 of the image signal Sn -1 included in the combined signal Cn -1 supplied from the signal combining unit 22 to the inclination correcting unit 71. Is retained.
  • the inclination correction unit 71 Based on the signal potential (Vsig) n ⁇ 1 read from the holding unit 74 and the luminance measurement result from the luminance sensor 25b, the inclination correction unit 71 converts the inclination ⁇ ′ reduced due to the deterioration in efficiency to the original inclination ⁇ . A correction amount ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) for correction is calculated.
  • Skew corrector 71, the composite signal including a signal potential (Vsig ') n ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ') ⁇ (Vsig) n ⁇ image signal S n which is the as the multiplication result obtained as a result of the multiplication C n is supplied to the gradation correction unit 72.
  • Tone correction unit 72 the holding portion 74, reads the signal potential (Vsig) n of the image signal S n.
  • the gradation correction unit 72 determines the gradation (k ⁇ k) that has decreased due to current degradation based on the signal potential (Vsig) n read from the holding unit 74 and the luminance measurement result from the luminance sensor 25b. ( ⁇ Vsig) n corresponding to the offset amount ⁇ k for correcting to the original gradation k is calculated.
  • the composite signal C n including an image signal S n and supplies the data driver 24.
  • I ⁇ 1 ⁇ Vsig 2 is derived, and the current I (current amount) flowing through the display organic EL element is the signal potential (Vsig ′′) n . It increases according to the size (absolute value).
  • the current I flowing through the organic EL element for display increases as the efficiency and current deteriorate.
  • the signal potential (Vsig '') n potential [ ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ') x ⁇ (Vsig) n + ( ⁇ Vsig) n ⁇ ]
  • the image signal S n from the tone correction section 72 is output to the data driver 24, indeed, the slope alpha 'is corrected to the original inclination alpha, gradation (k n - ⁇ k n) is the original gradation k n is corrected.
  • Detector 73 based on the image signal S n included in the composite signal C n from the signal synthesizing unit 22 detects a signal potential (Vsig) n of the image signal S n, and holds and supplies to the holding portion 74 .
  • Vsig signal potential
  • the holding unit 74 holds the signal potential (Vsig) n from the detection unit 73.
  • FIG. 7 shows a detailed configuration example of the inclination correction unit 71 of FIG.
  • the inclination correction unit 71 includes a correction amount generation unit 101, a correction amount multiplication unit 102, an inclination holding unit 103, a deterioration curve holding unit 104, and a deterioration curve estimation unit 105.
  • control unit 26 in FIG. 1 sequentially pays attention to the organic EL elements for display, and uses the focused organic EL element as the attention element.
  • the correction amount generation unit 101 reads, from the inclination holding unit 103, the inclination ⁇ ′ of the element of interest calculated at the time of generating the previous correction amount, that is, when generating the correction amount of the image signal Sn-1 .
  • the inclination holding unit 103 holds the inclination ⁇ ′ of the element of interest calculated by the correction amount generation unit 101.
  • the correction amount generation unit 101 receives the signal potential (Vsig) n ⁇ 1 represented by the image signal S n ⁇ 1 from the holding unit 74 and applied to the pixel circuit 184 containing the element of interest. ) n-1 (hereinafter simply referred to as signal potential (Vsig) n-1 of the element of interest) is read out.
  • the correction amount generation unit 101 calculates the current I n ⁇ 1 flowing through the target element.
  • the correction amount generation unit 101 converts the luminance deterioration curve associated with the current In -1 flowing through the target element among the plurality of luminance deterioration curves held in the deterioration curve holding unit 104 to the deterioration curve. Read from the holding unit 104.
  • the correction amount generation unit 101 calculates the latest inclination ⁇ ′ of the element of interest based on the inclination ⁇ ′ read from the inclination holding part 103 and the luminance deterioration curve read from the deterioration curve holding part 104.
  • the correction amount generation unit 101 supplies the latest inclination ⁇ ′ to the inclination holding unit 103 and holds (stores) it as the inclination ⁇ ′ of the element of interest by overwriting.
  • the correction amount generation unit 101 generates (calculates) a correction amount ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) based on the latest inclination ⁇ ′ of the element of interest, and supplies the correction amount ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) to the correction amount multiplication unit 102.
  • a method of generating the correction amount by the correction amount generation unit 101 will be described in detail with reference to FIGS.
  • Correction multiplication unit 102 represented by the image signal S n included in the composite signal C n from the signal synthesizing unit 22, among the signal potential (Vsig) n of each organic EL element for display, the signal potential of the target elements ( Vsig) n is multiplied by a correction amount ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) from the correction amount generation unit 101.
  • image signal S n represents the respective applied to the signal potential to the pixel circuit incorporating an organic EL element (Vsig) n for display.
  • the correction amount multiplication unit 102 obtains the signal potential ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) ⁇ (Vsig) n ⁇ after correcting the inclination ⁇ ′ obtained by the multiplication as the signal potential (Vsig ′) n of the element of interest. , And supplied to the gradation correction unit 72.
  • the inclination holding unit 103 holds the inclination ⁇ ′ of the element of interest supplied from the correction amount generation unit 101.
  • maintenance part 103 shall hold
  • the deterioration curve holding unit 104 holds the luminance deterioration curve from the deterioration curve estimation unit 105.
  • the degradation curve estimation unit 105 includes a memory (not shown), and a luminance degradation reference curve serving as a reference when estimating a luminance degradation curve that represents the degree to which the slope is lowered is stored in advance in the memory. .
  • This luminance degradation reference curve represents an average luminance degradation curve in a plurality of organic EL elements that are respectively incorporated in the plurality of display devices 1.
  • the luminance deterioration reference curve is created in advance based on experimental results using an organic EL element. The same applies to the embodiments described later.
  • the degradation curve estimation unit 105 reduces the luminance of the display organic EL element due to efficiency degradation based on the luminance measurement result from the luminance sensor 25b and the luminance degradation reference curve stored in advance in a memory (not shown). Is estimated.
  • the deterioration curve estimation unit 105 estimates the luminance deterioration curve of the organic EL element for display built in the display unit 25 for each display device 1. This is due to variations in the luminance degradation curve of EL elements.
  • the deterioration curve estimation unit 105 supplies the luminance deterioration curve obtained as a result of the estimation to the deterioration curve holding unit 104 and holds it.
  • FIG. 8 shows an example of the luminance deterioration curve estimated by the deterioration curve estimation unit 105 and held in the deterioration curve holding unit 104.
  • the horizontal axis represents time
  • the vertical axis represents the slope that decreases with the passage of time.
  • the unit [nit] represents the luminance in the direction when the luminous intensity of the light source (organic EL element) which is a plane of 1 square meter is 1 cd (candela) in the direction perpendicular to the plane.
  • the correction amount generation unit 101 calculates the current I n ⁇ 1 flowing through the target element.
  • the correction amount generator 101 luminance degradation curves corresponding to the deterioration of the plurality of luminance degradation curves stored in the curved holding portion 104 (e.g., luminance degradation curves 120 to 122), the calculated current I n-1 Is read from the deterioration curve holding unit 104.
  • correction amount generation unit 10 reads the inclination ⁇ ′ of the element of interest from the inclination holding unit 103.
  • the correction amount generation unit 101 calculates the latest inclination ⁇ ′ of the element of interest based on the inclination ⁇ ′ of the element of interest read from the inclination holding unit 103 and the luminance deterioration curve 121 read from the deterioration curve holding unit 104. To do.
  • FIG. 9 shows the correction amount generation unit 101 based on the inclination ⁇ ′ of the element of interest read from the inclination holding unit 103 and the latest luminance degradation curve 121 read from the deterioration curve holding unit 104.
  • Controller 26 of FIG. 1 by the interest element of all organic EL element for display, the skew corrector 71, respectively represented by the image signals S n, the signal potential of each organic EL element for display A process of converting (Vsig) n into a signal potential (Vsig ′) n is performed.
  • the control unit 26 in FIG. 1 again pays attention to the organic EL elements for display again and pays attention.
  • the organic EL element is used as the element of interest.
  • the correction amount generation unit 101 reads the signal potential (Vsig) n of the element of interest from the holding unit 74. Then, the correction amount generating unit 101, based on the signal potential (Vsig) n of interest device read from the holding unit 74, calculates the current I n flowing in the attention element.
  • the correction amount generating unit 101 among the plurality of luminance degradation curves stored in the degradation curve holding unit 104, a luminance degradation curve corresponding to the calculated current I n, read from the degradation curve holding portion 104.
  • the control unit 26 in FIG. 1 sets the signal potentials (Vsig) n + 1 respectively represented by the image signals S n + 1 in the inclination correction unit 71 by using all the organic EL elements for display as the target elements.
  • the signal potential (Vsig ′) is converted into n + 1 .
  • the control unit 26 in FIG. 1 sequentially pays attention to the organic EL elements for display again and pays attention.
  • the organic EL element is used as the element of interest.
  • the correction amount generation unit 101 reads the signal potential (Vsig) n + 1 of the target element from the holding unit 74. Then, based on the signal potential (Vsig) n + 1 of the target element read from the holding unit 74, the correction amount generation unit 101 calculates the current I n + 1 that has flowed through the target element.
  • the correction amount generation unit 101 reads out from the deterioration curve holding unit 104 a luminance deterioration curve corresponding to the calculated current In + 1 among the plurality of luminance deterioration curves held in the deterioration curve holding unit 104.
  • the correction amount multiplication unit 102 of the skew corrector 71 on the basis of the correction amount from the correction amount generating unit 101, and corrects only the image signals S n included in the composite signal C n.
  • the correction amount multiplied by 102 the dummy pixel signals included in the composite signal C n may also be corrected similarly to the image signal S n.
  • the correction amount for the dummy pixel signal generated by the correction amount generation unit 101 is a correction amount (for example, a value of 1 or the like) in which the inclination correction unit 71 does not substantially correct the inclination.
  • the correction amount multiplication unit 102 corrects the dummy pixel signal included in the composite signal C n based on the correction amount for the dummy pixel signal from the correction amount generation unit 101 to obtain a corrected dummy pixel signal.
  • the same dummy pixel signal as before correction is supplied to the gradation correction unit 72.
  • FIG. 10 shows an example when the degradation curve estimation unit 105 estimates a luminance degradation curve based on the luminance measurement result from the luminance sensor 25b.
  • the horizontal axis represents time
  • the vertical axis represents inclination
  • the luminance deterioration curve 121 is used when the correction amount generation unit 101 generates a correction amount as a luminance reduction of the display organic EL element. This is because the organic EL element for measurement is manufactured under the same environment as the organic EL element for display, and has the same properties as the organic EL element for display.
  • the deterioration curve estimation unit 105 holds a luminance deterioration reference curve 141 in advance in a built-in memory (not shown).
  • the luminance deterioration reference curve 141 is used as a reference when estimating the luminance deterioration curve 121. .
  • the luminance deterioration reference curve 141 is generated in advance based on a measurement result obtained by measuring the luminance of an arbitrary organic EL element assumed to be incorporated in the display unit 25, and the degradation curve estimation unit 105 includes an unillustrated built-in component. Retained in the memory. The same applies to other luminance deterioration reference curves described later.
  • the deterioration curve holding unit 104 is supplied and held.
  • the luminance deterioration curve 122 is used when the correction amount generation unit 101 generates a correction amount, as representing a decrease in luminance of the display organic EL element.
  • the deterioration curve estimation unit 105 holds a luminance deterioration reference curve 142 in advance in a built-in memory (not shown).
  • the luminance degradation curve 122 for the measurement organic EL element is estimated.
  • the deterioration curve holding unit 104 is supplied and held.
  • the deterioration curve estimation unit 105 holds a plurality of luminance deterioration reference curves (for example, luminance deterioration reference curves 141 and 142) in a built-in memory (not shown) in advance.
  • X is an arbitrary positive integer.
  • the memory capacity of the memory must be increased according to the number of luminance deterioration reference curves.
  • the deterioration curve estimation unit 105 holds any one of the plurality of luminance deterioration reference curves as a master curve that can be used when any of the luminance deterioration curves is estimated, and is stored in the memory. You may make it save capacity.
  • the luminance degradation curve 121 is estimated as follows.
  • the master curve is not limited to the luminance deterioration reference curve 142, and an arbitrary luminance deterioration reference curve can be adopted.
  • FIG. 11 shows a detailed configuration example of the gradation correction unit 72 of FIG.
  • the gradation correction unit 72 includes an offset amount calculation unit 161 and an offset correction unit 162.
  • the brightness measurement result is supplied from the brightness sensor 25b to the offset amount calculation unit 161.
  • the offset amount calculation unit 161 reads the signal potential (Vsig) n of the element of interest from the holding unit 74.
  • the offset amount calculation unit 161 is based on the read signal potential (Vsig) n of the element of interest, the offset amount calculation information held in advance in a memory (not shown), and the luminance measurement result from the luminance sensor 25b. Then, the offset amount ( ⁇ Vsig) n added to the signal potential (Vsig) n of the element of interest is calculated and supplied to the offset correction unit 162.
  • Offset correction unit 162 of the skew corrector 71, and (Vsig) n of the signal potential interest element (Vsig ') n ( ⁇ ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ') ⁇ (Vsig) n ⁇ ), the offset amount The offset amount ( ⁇ Vsig) n from the calculation unit 161 is added.
  • the offset correction unit 162 obtains the signal potential [ ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) ⁇ ⁇ (Vsig) n + ( ⁇ Vsig) n ⁇ ] as the addition result obtained as a result of the addition, from the signal potential (Vsig ′ ')
  • the data is supplied to the data driver 24 as n .
  • the offset correction unit 162 of the tone correction section 72 based on the offset amount from the offset amount calculating section 161, and corrects only the image signals S n included in the composite signal C n.
  • a dummy pixel signals included in the composite signal C n may also be corrected similarly to the image signal S n.
  • the offset amount for the dummy pixel signal calculated by the offset amount calculation unit 161 is an offset amount (for example, a value of 0 or the like) in which the gradation correction unit 72 does not substantially perform gradation correction.
  • the offset correction unit 162 corrects the dummy pixel signal included in the composite signal C n based on the offset amount for the dummy pixel signal from the offset amount calculation unit 161, and as a corrected dummy pixel signal, The same dummy pixel signal as before the correction is supplied to the data driver 24.
  • FIG. 12 shows an example when the offset amount calculation unit 161 in FIG. 11 calculates the offset amount.
  • a function f 1 (Vsig) is a function representing the relationship between the signal potential Vsig and the current I before the current is deteriorated.
  • This function f 1 (Vsig) is assumed to be held in advance in a memory (not shown) of the offset amount calculation unit 161 as offset amount calculation information.
  • the function f 1 (Vsig) is generated in advance based on a measurement result obtained by measuring the luminance of an arbitrary organic EL element assumed to be built in the display unit 25, for example. It is held in a built-in memory (not shown).
  • the function f 1 (Vsig) is calculated based on the measurement result measured by the luminance sensor 25b, which is obtained before current degradation occurs in the measurement organic EL element included in the display unit 25. 161 may be generated and held in a built-in memory (not shown).
  • a function g 1 (Vsig) is a function representing the relationship between the signal potential Vsig and the current I after the current is deteriorated.
  • the function g 1 (Vsig) is generated by the offset amount calculation unit 161 based on the luminance measurement result from the luminance sensor 25b.
  • the horizontal axis represents Vsig
  • the vertical axis represents current (gradation).
  • the offset amount calculation unit 161 calculates the function g 1 (Vsig) based on the luminance measurement result from the luminance sensor 25b, for example, by the method of least squares.
  • An offset amount ( ⁇ Vsig) n is generated and supplied to the offset correction unit 162.
  • the offset amount ( ⁇ Vsig) n is different for each signal potential (Vsig) n of the element of interest. That is, for example, as shown in FIG. 12, the offset amount ( ⁇ Vsig) n increases as the signal potential (Vsig) n of the element of interest increases.
  • the offset amount calculation unit 161 needs to calculate the offset amount ( ⁇ Vsig) n for each signal potential (Vsig) n of the element of interest.
  • the signal potential (Vsig) n and the offset amount ( ⁇ Vsig) n of the element of interest are added in the gamma space, and the display organic EL element as the element of interest is added.
  • the gradation can be corrected with the same offset amount ( ⁇ Vsig) n .
  • FIG. 13 shows a front view of the display unit 25.
  • the display unit 25 includes a rectangular three-dimensional housing, and a pixel circuit including an organic EL element is incorporated in the housing.
  • the display unit 25 is provided with a display screen 25 a at the center of the housing.
  • the display unit 25 has a plurality of luminance sensors 25b 1 to 25b M arranged on the right side of the display screen 25a so as to be built in the housing.
  • FIG. 14 shows a detailed configuration example of the display unit 25.
  • the display unit 25 includes a horizontal selector 181, a write scanner 182, a power supply scanner (drive scanner) 183, and pixel circuits 184-(1, 1) to 184-(N, M) and luminance sensors 25b 1 to 25b M are incorporated.
  • the pixel circuit 184- (N , M) are organic EL elements for measurement.
  • An organic EL element included in each of the plurality of pixel circuits excluding (N, M) is an organic EL element for display.
  • the pixel circuits 184-(1, 1) to 184-(N, M) are configured by arranging N ⁇ M pixel circuits 184 (N and M are mutually independent integer values of 1 or more) in a matrix. Has been.
  • the horizontal selector 181, the write scanner 182, and the power supply scanner 183 operate as a drive unit that drives the pixel circuits 184-(1,1) to 184-(N, M).
  • the display unit 25 also includes N scanning lines WSL-1 to WSL-N, N power supply lines DSL-1 to DSL-N, and M video signal lines DTL-1 to DTL-M.
  • scanning lines WSL-1 to WSL-N when it is not necessary to distinguish the scanning lines WSL-1 to WSL-N, they are simply referred to as scanning lines WSL. Further, when there is no need to distinguish between the power lines DSL-1 to DSL-N, they are simply called power lines DSL.
  • video signal lines DTL-1 to DTL-M when it is not necessary to distinguish the video signal lines DTL-1 to DTL-M, they are simply referred to as video signal lines DTL.
  • pixel circuits 184-(1, 1) to 184-(N, M) when it is not necessary to distinguish the pixel circuits 184-(1, 1) to 184-(N, M), they are simply referred to as pixel circuits 184.
  • N, x is connected to the horizontal selector 181 by the video signal line DTL-x.
  • the light scanner 182 supplies the control signals to the scanning lines WSL-1 to WSL-N sequentially in the horizontal period (1H) to scan the pixel circuits 184 line by line.
  • the power supply scanner 183 supplies a power supply voltage of the first potential (Vcc described later) or the second potential (Vss described later) to the power supply lines DSL-1 to DSL-N in accordance with the line sequential scanning.
  • the horizontal selector 181 replaces the image signal in each horizontal period (1H) in accordance with the line sequential scanning (in the case where the organic EL element included in the pixel circuit 184 is an organic EL element for measurement).
  • the signal potential Vsig and the reference potential Vofs corresponding to the dummy pixel signal are switched and supplied to the columnar video signal lines DTL-1 to DTL-M.
  • the luminance sensor 25b 1 is provided in the vicinity of the pixel circuit 184- (1, M), measures the luminance of the organic EL element included in the pixel circuit 184- (1, M), and performs the burn-in correction unit in FIG. 23.
  • the luminance sensors 25b 2 to 25b M are provided in the vicinity of the pixel circuits 184- (2, M) to 184- (N, M), respectively, and perform the same processing as the luminance sensor 25b 1 .
  • luminance sensors 25b 1 to 25b M are simply referred to as luminance sensors 25b.
  • FIG. 15 shows an example of an arrangement of colors emitted by the pixel circuit 184.
  • the pixel circuit 184 uses an organic EL element as a built-in light-emitting element to generate a so-called sub-pixel that emits light in any of red (R), green (G), and blue (B). Equivalent to. Note that one pixel (one pixel of a display image) as a display unit is configured by three pixel circuits 184 of red, green, and blue arranged in the row direction (left-right direction in the drawing).
  • FIG. 15 is different from FIG. 14 in that the scanning line WSL and the power supply line DSL are connected from the lower side of the pixel circuit 184. Wirings connected to the horizontal selector 181, the write scanner 182, the power supply scanner 183, and the pixel circuits 184 can be arranged at appropriate positions as necessary.
  • FIG. 16 shows a detailed configuration example of the pixel circuit 184.
  • the pixel circuit 184 includes a sampling transistor 201, a driving transistor 202, a storage capacitor 203, and a light emitting element 204.
  • the gate of the sampling transistor 201 is connected to the scanning line WSL, the drain of the sampling transistor 201 is connected to the video signal line DTL, and the source is connected to the gate g of the driving transistor 202.
  • One of the source and drain of the driving transistor 202 is connected to the anode of the light emitting element 204, and the other is connected to the power line DSL.
  • the storage capacitor 203 is connected to the gate g of the driving transistor 202 and the anode of the light emitting element 204.
  • the cathode of the light emitting element 204 is connected to a wiring 205 set to a predetermined potential Vcat. This potential Vcat is at the GND level, and therefore the wiring 205 is a ground wiring.
  • the sampling transistor 201 and the driving transistor 202 are both N-channel transistors. Therefore, the sampling transistor 201 and the driving transistor 202 can be made of amorphous silicon, which can be made at a lower cost than low-temperature polysilicon. Thereby, the manufacturing cost of the pixel circuit 184 can be further reduced. Of course, the sampling transistor 201 and the driving transistor 202 may be made of low-temperature polysilicon or single crystal silicon.
  • the light emitting element 204 is an organic EL element.
  • the organic EL element is a current light emitting element having diode characteristics. Therefore, the light emitting element 204 emits light with a gradation corresponding to the supplied current value Ids.
  • the sampling transistor 201 is turned on (conducted) in response to the control signal from the scanning line WSL, and the signal potential Vsig corresponding to the gradation is set via the video signal line DTL. Sampling the video signal.
  • the storage capacitor 203 stores and holds charges supplied from the horizontal selector 181 via the video signal line DTL.
  • the driving transistor 202 receives supply of current from the power supply line DSL at the first potential Vcc, and flows (supplies) the driving current Ids to the light emitting element 204 in accordance with the signal potential Vsig held in the storage capacitor 203. When a predetermined drive current Ids flows through the light emitting element 204, the light emitting element 204 emits light.
  • the pixel circuit 184 has a threshold correction function.
  • the threshold correction function is a function of holding a voltage corresponding to the threshold voltage Vth of the driving transistor 202 in the storage capacitor 203. By exerting the threshold correction function, it is possible to cancel the influence of the threshold voltage Vth of the driving transistor 202 that causes the variation of each pixel of the display unit 25.
  • the pixel circuit 184 also has a mobility correction function in addition to the above-described threshold correction function.
  • the mobility correction function is a function of adding correction for the mobility ⁇ of the driving transistor 202 to the signal potential Vsig when the signal potential Vsig is held in the storage capacitor 203.
  • the pixel circuit 184 has a bootstrap function.
  • the bootstrap function is a function of interlocking the gate potential Vg with the fluctuation of the source potential Vs of the driving transistor 202. By exhibiting the bootstrap function, the voltage Vgs between the gate and the source of the driving transistor 202 can be kept constant.
  • FIG. 17 is a timing chart for explaining the operation of the pixel circuit 184.
  • 17A to 17E respectively show changes in potentials of the scanning line WSL, the power supply line DSL, and the video signal line DTL with respect to the same time axis (horizontal direction in the drawing), and corresponding driving transistors 202. Changes in the gate potential Vg and the source potential Vs are shown.
  • the period up to time t1 is the light emission period T1 during which light emission is performed in the previous horizontal period (1H).
  • a threshold correction preparation period T2 in which the gate potential Vg and the source potential Vs of the driving transistor 202 are initialized to prepare for the threshold voltage correction operation.
  • the power supply scanner 183 switches the potential of the power supply line DSL from the first potential Vcc, which is a high potential, to the second potential Vss, which is a low potential.
  • the horizontal selector 181 switches the potential of the video signal line DTL from the signal potential Vsig to the reference potential Vofs.
  • the write scanner 182 switches the potential of the scanning line WSL to a high potential and turns on the sampling transistor 201.
  • the gate potential Vg of the driving transistor 202 is reset to the reference potential Vofs
  • the source potential Vs is reset to the second potential Vss of the video signal line DTL.
  • a threshold correction period T3 in which a threshold correction operation is performed.
  • the power supply scanner 183 switches the potential of the power supply line DSL to the high potential Vcc, and a voltage corresponding to the threshold voltage Vth is connected between the gate and the source of the driving transistor 202.
  • the stored storage capacity 203 is written.
  • the potential of the scanning line WSL is once switched from the high potential to the low potential.
  • the horizontal selector 181 switches the potential of the video signal line DTL from the reference potential Vofs to the signal potential Vsig corresponding to the gradation.
  • the potential of the scanning line WSL is set to a low potential, and thereafter, the light emitting element 204 emits light with a light emission luminance corresponding to the signal voltage Vsig during the light emission period T6. Since the signal voltage Vsig is adjusted by a voltage corresponding to the threshold voltage Vth and a mobility correction voltage ⁇ V ⁇ , the light emission luminance of the light emitting element 204 varies depending on the threshold voltage Vth and mobility ⁇ of the driving transistor 202. Not affected.
  • the potential of the video signal line DTL is dropped from the signal potential Vsig to the reference potential Vofs.
  • the period from time t2 to time t9 corresponds to the horizontal period (1H).
  • the light emitting element 204 can emit light without being affected by variations in the threshold voltage Vth and mobility ⁇ of the driving transistor 202.
  • This first display process is started, for example, when the display device 1 is powered on.
  • step S 1 the dummy pixel signal generation unit 21 generates a dummy pixel signal for causing the measurement organic EL element built in the display unit 25 to emit light, and supplies the dummy pixel signal to the signal synthesis unit 22.
  • step S 2 the signal synthesis unit 22 synthesizes the image signal from the outside and the dummy pixel signal from the dummy pixel signal generation unit 21, and supplies the resultant synthesized signal to the burn-in correction unit 23.
  • step S3 the control unit 26 sequentially pays attention to the organic EL elements for display included in the display unit 25, and takes the focused organic EL element as the target element.
  • step S4 the detection unit 73 of the baking correcting unit 23, based on the image signal S n included in the composite signal C n from the signal synthesizing unit 22 detects a signal potential of the target device (Vsig) n, holder 74 to be held.
  • Vsig target device
  • step S5 the inclination correction unit 71 of the burn-in correction unit 23 multiplies the signal potential (Vsig) n of the element of interest supplied from the signal synthesis unit 22 by the correction amount ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′).
  • An inclination correction process is performed to correct the inclination ⁇ ′ of the element of interest to the original inclination ⁇ . The details of this inclination correction processing will be described in detail with reference to the flowchart of FIG.
  • step S7 the control unit 26 determines whether or not all of the display organic EL elements included in the display unit 25 are set as the target elements, and if all of the display organic EL elements are not set as the target elements. If so, the process returns to step S3.
  • step S3 the control unit 26 pays attention to an organic EL element that has not been set as a target element among the organic EL elements for display included in the display unit 25, and newly selects the target organic EL element.
  • the process proceeds to step S4, and the same process is repeated thereafter.
  • step S7 if the control unit 26 determines that all of the display organic EL elements included in the display unit 25 have been set as the target element, the process proceeds to step S8.
  • step S ⁇ b > 8 the data driver 24 performs AD conversion on the combined signal C n from the burn correction unit 23 and supplies the combined signal C n after AD conversion to the display unit 25.
  • step S9 the display unit 25 based on the image signal S n included in the composite signal C n from the data driver 24 causes light organic EL element for display. Thereby, the display image 41 corresponding to the image signal is displayed on the display screen 25a.
  • the display unit 25 causes the measurement organic EL element to emit light based on the dummy pixel signal included in the composite signal from the data driver 24.
  • step S10 the luminance sensor 25b measures the luminance of the measurement organic EL element by receiving light from the pixel circuit 184 including the measurement organic EL element, and the measurement result is displayed as the burn-in correction unit 23. Are supplied to the inclination correction unit 71 and the gradation correction unit 72. Note that the luminance sensor 25b is provided near the pixel circuit 184 including the organic EL element for measurement.
  • step S11 the inclination correcting unit 71 estimates and holds a luminance deterioration curve for the display organic EL element incorporated in the display unit 25 based on the luminance measurement result from the luminance sensor 25b. Process. This deterioration curve estimation process will be described in detail with reference to the flowchart of FIG.
  • step S11 After the end of step S11, the process is returned to step S1, and thereafter the same process is performed.
  • the first display process is terminated when, for example, the power of the display device 1 is turned off.
  • the burn correction unit 23 performs the burn correction process on the image signal included in the synthesized signal from the signal synthesis unit 22.
  • the organic EL element for display emits light with a constant luminance corresponding to the image signal regardless of the deterioration of efficiency and the deterioration of current.
  • the dummy pixel signal included in the composite signal is not subjected to, for example, the burn correction process, and the dummy pixel signal is output from the burn correction unit 23 to the data driver 24 as it is. I tried to do it.
  • the organic EL element for measurement emits light with reduced luminance in accordance with the deterioration of efficiency and the deterioration of current. Then, the luminance sensor 25b measures a decrease in luminance of such an organic EL element for measurement, and supplies the measurement result to the burn-in correction unit 23.
  • the burn-in correction unit 23 accurately represents the decrease in the luminance of the measurement organic EL element as the decrease in the luminance of the display organic EL element based on the measurement result of the luminance from the luminance sensor 25b. Can be recognized. For this reason, the burn-in correction unit 23 can accurately prevent burn-in that occurs on the display screen 25a based on the exact degree of decrease in luminance.
  • step S31 the correction amount generation unit 101 reads the inclination ⁇ ′ of the element of interest from the inclination holding unit 103.
  • step S ⁇ b > 32 the correction amount generation unit 101 reads out the signal potential (Vsig) n ⁇ 1 of the element of interest from the holding unit 74.
  • step S ⁇ b > 33 the correction amount generation unit 101 calculates the current I n ⁇ 1 flowing in the target element based on the signal potential (Vsig) n ⁇ 1 of the target element read from the holding unit 74. Then, the correction amount generation unit 101 reads out from the deterioration curve holding unit 104 a luminance deterioration curve corresponding to the calculated current In -1 among the plurality of luminance deterioration curves held in the deterioration curve holding unit 104.
  • step S34 the correction amount generation unit 101 calculates the latest inclination ⁇ ′ of the element of interest based on the inclination ⁇ ′ of the element of interest read from the inclination holding unit 103 and the luminance deterioration curve read from the deterioration curve holding unit 104. calculate.
  • the correction amount generation unit 101 supplies the calculated latest inclination ⁇ ′ of the element of interest to the inclination holding unit 103 and holds (stores) it by overwriting.
  • step S 35 the correction amount generation unit 101 generates (calculates) a correction amount ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) based on the latest inclination ⁇ ′ of the element of interest, and supplies the correction amount ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) to the correction amount multiplication unit 102.
  • step S36 the correction amount multiplication unit 102 corrects the correction amount ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) from the correction amount generation unit 101 with respect to the signal potential (Vsig) n of the element of interest supplied from the signal synthesis unit 22.
  • the inclination correction process of FIG. 19 is terminated, the process returns to step S5 of FIG. 18, and the correction amount multiplication unit 102 obtains the signal potential ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) ⁇ (Vsig) obtained by the multiplication.
  • n ⁇ is supplied to the gradation correction unit 72 as the signal potential (Vsig ′) n of the element of interest whose inclination ⁇ ′ is corrected to the original inclination ⁇ , and the subsequent processing is performed.
  • step S51 the offset amount calculation unit 161 reads the signal potential (Vsig) n of the element of interest from the holding unit 74.
  • step S52 the offset amount calculation unit 161 reads the read signal potential (Vsig) n of the element of interest, offset amount calculation information (for example, function f 1 (Vsig)) held in advance in a memory (not shown), and luminance. Based on the luminance measurement result from the sensor 25b, an offset amount ( ⁇ Vsig) n added to the signal potential (Vsig) n of the element of interest is calculated and supplied to the offset correction unit 162.
  • the tone correction process in FIG. 20 is finished, the process returns to step S6 in FIG. 18, and the offset correction unit 162 obtains the signal potential [ ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) as an addition result obtained as a result of the addition. ) ⁇ ⁇ (Vsig) n + ( ⁇ Vsig) n ⁇ ] to the data driver 24 as the signal potential (Vsig ′′) n of the element of interest whose gradation (k ⁇ k) is corrected to the original gradation k. Supply.
  • step S71 the deterioration curve estimation unit 105 sequentially pays attention to the plurality of luminance sensors 25b and sets the focused luminance sensor 25b as the attention sensor.
  • the deterioration curve estimation unit 105 calculates an acceleration coefficient ⁇ t1 ′ / ⁇ t1 based on the calculated time ⁇ t1 ′ and time ⁇ t1.
  • step S ⁇ b> 74 the deterioration curve estimation unit 105 estimates a luminance deterioration curve based on the calculated acceleration coefficient and a luminance deterioration reference curve previously stored in a memory (not shown), and supplies the luminance deterioration curve to the deterioration curve holding unit 104. And hold it.
  • step S75 the deterioration curve estimation unit 105 determines whether or not all of the plurality of luminance sensors 25b are the attention sensors, and determines that all of the plurality of luminance sensors 25b are not the attention sensors. Return to S71.
  • step S71 the deterioration curve estimation unit 105 sets a luminance sensor that has not yet been set as the attention sensor among the plurality of luminance sensors 25b as a new attention sensor, and proceeds to step S72. Thereafter, similar processing is performed. I do.
  • step S75 If the deterioration curve estimation unit 105 determines in step S75 that all of the plurality of luminance sensors 25b are the target sensors, the deterioration curve estimation process in FIG. 21 is terminated, and the process proceeds to step S11 in FIG. Return and the subsequent processing is performed.
  • the detected signal potential (Vsig) n is supplied to and held in the holding unit 74.
  • the inclination correction unit 71 calculates the correction amount for correcting the inclination ⁇ ′ of the element of interest, assuming that the efficiency has deteriorated due to the current In -1 flowing through the element of interest.
  • the gradation correction section 72 as the deterioration of the current by a current flows I n the attention element occurs, and to calculate the offset amount for correcting the gradation of the attention element.
  • the display device 241 shown in FIG. 22 performs a burn-in correction process based on the current actually flowing through the element of interest.
  • FIG. 22 shows a configuration example of the display device 241 according to the second embodiment.
  • the display device 241 is configured in the same manner as the display device 1 of FIG. 1 except that a printing correction unit 261 is provided instead of the printing correction unit 23 of FIG.
  • the burn-in correction unit 261 is supplied with the combined signal C n from the signal combining unit 22.
  • Baking correction unit 261 like the baking correcting unit 23, the image signal S n included in the composite signal C n from the signal synthesizing unit 22, by performing the baking correction processing, the display screen 25a of the display unit 25 A seizure correction process is performed to prevent seizure occurring.
  • baking correcting unit 261 a point subjected to baking correction processing based on the signal potential of the image signal S n after the inclination correction (Vsig ') n, the signal potential of the image signal S n before skew correction process (Vsig ) Based on n , it is different from the burn-in correction unit 23 that performs the burn-in correction process.
  • FIG. 23 shows a detailed configuration example of the burn-in correction unit 261 of FIG.
  • the burn correction unit 261 includes an inclination correction unit 281, a gradation correction unit 282, a detection unit 283, and a holding unit 284.
  • the tilt correction unit 281 is supplied with the combined signal C n from the signal combining unit 22.
  • the inclination correction unit 281 reads the signal potential (Vsig ′) n ⁇ 1 of the image signal S n ⁇ 1 after the inclination correction output from the inclination correction unit 281 from the holding unit 284.
  • the holding portion 284, the signal potential (Vsig ') n of the image signal S n after the inclination correction processing by the tilt correcting section 281 is held.
  • the inclination correction unit 281 Based on the signal potential (Vsig ′) n ⁇ 1 read from the holding unit 284 and the luminance measurement result from the luminance sensor 25b, the inclination correction unit 281 converts the inclination ⁇ ′ reduced due to the deterioration in efficiency to the original inclination ⁇ .
  • the correction amount ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) for correcting to is calculated.
  • the inclination correction unit 281 calculates the correction amount ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′), not the signal potential (Vsig) n ⁇ 1 of the image signal S n ⁇ 1 before the inclination correction process, but after the inclination correction process.
  • 6 is different from the inclination correcting unit 71 of FIG. 6 in that the signal potential (Vsig ′) n ⁇ 1 of the image signal S n ⁇ 1 is used. The rest is the same as the inclination correction unit 71.
  • Skew corrector 281 the composite signal C n image signal S n of the signal potential contained in (Vsig) n from the signal synthesizing unit 22, the calculated correction amount ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ') is multiplied by.
  • Tone correction unit 282 from the holding portion 284, the signal potential of the image signal S n after the inclination correction (Vsig ') reads the n.
  • the gradation correction unit 282 has a gradation (k ⁇ k) that is reduced due to current degradation based on the signal potential (Vsig ′) n read from the holding unit 284 and the luminance measurement result from the luminance sensor 25b. ( ⁇ Vsig) n corresponding to the offset amount ⁇ k for correcting to the original gradation k is calculated.
  • gradation correction unit 282 corresponds to the offset amount ⁇ k for the calculation of the ([Delta] Vsig) n, skew correction process before the image signal S n signal potential (Vsig) rather than n, the image signal S after the inclination correction in terms of using the n signal potential (Vsig ') n of different from the tone correction unit 72 of FIG. The rest is the same as the gradation correction unit 72.
  • the composite signal C n including an image signal S n and supplies the data driver 24.
  • Detection unit 283 is output from the skew corrector 281, the combined signal based on the image signal S n included in C n, the signal potential of the image signal S n after the inclination correction (Vsig ') detects n, It is supplied to and held by the holding unit 284.
  • the holding unit 284 holds the signal potential (Vsig ′) n from the detection unit 283.
  • FIG. 24 shows a detailed configuration example of the inclination correction unit 281 of FIG.
  • the inclination correction unit 281 is configured in the same manner as in FIG. 7 except that a correction amount generation unit 301 is provided instead of the correction amount generation unit 101 in FIG.
  • the correction amount generation unit 301 reads the inclination ⁇ ′ of the element of interest from the inclination holding unit 103 in the same manner as the correction amount generation unit 101. Note that the control unit 26 in FIG. 22 pays attention to the organic EL elements for display included in the display unit 25 in order, and uses the focused organic EL element as the target element.
  • correction amount generation unit 301 reads the signal potential (Vsig ′) n ⁇ 1 of the element of interest from the holding unit 284.
  • the correction amount generation unit 301 calculates the current I n ⁇ 1 actually flowing through the target element. Then, the correction amount generation unit 301 reads, from the deterioration curve holding unit 104, a luminance deterioration curve corresponding to the calculated current In -1 among the plurality of luminance deterioration curves held in the deterioration curve holding unit 104.
  • the correction amount generation unit 301 determines the target element based on the inclination ⁇ ′ of the target element read from the tilt holding unit 103 and the luminance deterioration curve read from the deterioration curve holding unit 104. The latest slope ⁇ ′ is calculated.
  • the correction amount generation unit 301 supplies the latest inclination ⁇ ′ of the element of interest to the inclination holding unit 103 and holds (stores) it by overwriting.
  • the correction amount generation unit 301 generates (calculates) a correction amount ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) based on the latest inclination ⁇ ′ of the element of interest, and supplies it to the correction amount multiplication unit 102.
  • the correction amount generation unit 101 Reads out the signal potential (Vsig) n ⁇ 1 of the element of interest held in the holding unit 74.
  • the correction amount generation unit 101 deteriorates the luminance deterioration curve corresponding to the current based on the signal potential (Vsig) n ⁇ 1 of the target element among the plurality of luminance deterioration curves held in the deterioration curve holding unit 104. Read from the curve holding unit 104.
  • the correction amount generation unit 101 calculates the latest inclination ⁇ ′ of the element of interest using the read luminance degradation curve 121 and the inclination ⁇ ′ of the element of interest read from the inclination holding unit 103.
  • the inclination correction unit 281 in FIG. 24 multiplies the signal potential (Vsig) n of the element of interest by the correction amount to correct the inclination ⁇ ′ of the element of interest, a correction amount is generated.
  • the unit 301 reads the signal potential (Vsig ′) n ⁇ 1 of the element of interest held in the holding unit 284.
  • the signal potential (Vsig ′) n ⁇ 1 is held.
  • the correction amount generation unit 301 reads the signal potential (Vsig ′) n ⁇ 1 of the element of interest held in the holding unit 284.
  • the correction amount generation unit 301 calculates a luminance deterioration curve corresponding to the current based on the signal potential (Vsig ′) n ⁇ 1 of the target element among the plurality of luminance deterioration curves held in the deterioration curve holding unit 104. Read from the deterioration curve holding unit 104.
  • the correction amount generation unit 301 calculates the latest inclination ⁇ ′ of the element of interest using the read luminance degradation curve 123 and the inclination ⁇ ′ of the element of interest read from the inclination holding unit 103.
  • FIG. 26 shows a detailed configuration example of the gradation correction unit 282 of FIG.
  • the gradation correction unit 282 includes an offset amount calculation unit 321 and an offset correction unit 322.
  • the offset amount calculation unit 321 is supplied with the luminance measurement result from the luminance sensor 25b.
  • the offset amount calculation unit 321 reads the signal potential (Vsig ′) n of the target element from the holding unit 284.
  • the offset correction unit 322 uses the signal potential [ ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) ⁇ ⁇ (Vsig) n + ( ⁇ Vsig) n ⁇ ] as an addition result obtained as a result of the addition, as the signal potential ( Vsig ′′) n is supplied to the data driver 24.
  • This second display process is started when the display device 241 is powered on, for example.
  • steps S91 to S93 the same processes as in steps S1 to S3 in FIG. 18 are performed.
  • step S94 the inclination correction unit 281 of the burn-in correction unit 261 multiplies the signal potential (Vsig) n of the element of interest supplied from the signal synthesis unit 22 by the correction amount ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′).
  • An inclination correction process is performed to correct the inclination ⁇ ′ of the element of interest to the original inclination ⁇ .
  • this inclination correction processing generates a correction amount ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) multiplied by the signal potential (Vsig) n of the target element based on the current actually passed through the target element. This is different from the inclination correction process in step S5 of FIG. Details of the inclination correction processing in step S94 will be described in detail with reference to the flowchart of FIG.
  • step S95 the detection unit 283 of the burn-in correction unit 261 detects and holds the signal potential (Vsig ′) n of the target element based on the signal potential (Vsig ′) n of the target element from the inclination correction unit 281. It is supplied to the unit 284 and held.
  • tone correction processing is different from the tone correction processing in step S6 in FIG. 18 in that ( ⁇ Vsig) n as an offset amount is calculated based on the current actually passed through the element of interest. Details of the tone correction processing in step S96 will be described in detail with reference to the flowchart of FIG.
  • steps S97 through S101 the same processing as in steps S7 through S11 in FIG. 18 is performed.
  • the second display process is ended when the power of the display device 241 is turned off, for example.
  • the burn-in correction process is performed based on the current that actually flows through the organic EL element for display that is the element of interest. It is possible to prevent seizure occurring on the screen 25a.
  • step S121 the correction amount generation unit 301 reads the inclination ⁇ ′ of the element of interest from the inclination holding unit 103 in the same manner as the correction amount generation unit 101.
  • step S122 the correction amount generation unit 301 reads the signal potential (Vsig ′) n ⁇ 1 of the element of interest from the holding unit 284.
  • step S123 the correction amount generation unit 301 calculates the current In -1 that has actually flown through the target element, based on the signal potential (Vsig ') n-1 of the target element read from the holding unit 284.
  • the correction amount generation unit 301 reads, from the deterioration curve holding unit 104, a luminance deterioration curve corresponding to the calculated current In -1 among the plurality of luminance deterioration curves held in the deterioration curve holding unit 104.
  • step S124 and step S125 the correction amount generation unit 301 performs the processing of step S34 and step S35 in FIG.
  • step S126 processing similar to that in step S36 in FIG. 19 is performed. Then, the inclination correction process in FIG. 28 is terminated, and the process returns to step S94 in FIG. 27, and the subsequent processes are performed.
  • step S ⁇ b > 141 the offset amount calculation unit 321 reads out the signal potential (Vsig ′) n of the element of interest from the holding unit 284.
  • the offset correction unit 322 uses the signal potential [ ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) ⁇ ⁇ (Vsig) n + ( ⁇ Vsig) n ⁇ ] as an addition result obtained as a result of the addition, as the signal potential ( Vsig ′′) n is supplied to the data driver 24.
  • the first embodiment and so it subjected to only baking correction processing on the image signal S n.
  • the image processing different from the baking correction e.g., color reproduction processing, noise reduction processing, and the like
  • the image quality may be improved.
  • the second embodiment the same applies to the second embodiment.
  • the display unit 25 which is a display has a gamma characteristic in which the brightness (luminance) of the display screen 25a is not proportional to the level (gradation) of the image signal from the outside but changes exponentially. .
  • the display unit 25 has a gamma characteristic as shown in the following equation (7).
  • Y X ⁇ (7)
  • the gradation X represents the level of the image signal
  • the luminance Y represents the luminance corresponding to the level of the image signal.
  • the broadcasting station the gamma characteristic in order to be corrected to the linear characteristics (linear characteristic), and the image signal S n after inverse gamma correction to send (broadcast).
  • Image signal S n after inverse gamma correction becomes to have a reverse gamma characteristic as shown in the following equation (8).
  • Y X 1 / ⁇ (8)
  • FIG. 30 illustrates a configuration example of the display device 341 according to the third embodiment.
  • the display device 34 when performing the image processing described above, by converting the characteristic of the image signal S n in a linear characteristic by a gamma correction, in performing the tone correction processing, the image signal S by the inverse gamma correction This converts n characteristics into gamma characteristics.
  • the characteristics of the image signals S n when performing the inclination correction processing, may be a linear characteristics, or may be a gamma characteristic.
  • a gamma conversion unit 361 and an image processing unit 362 are newly provided, and a printing correction unit 363 is provided instead of the printing correction unit 23 in FIG.
  • the display device 1 is configured in the same manner.
  • a synthesized signal C n is supplied from the signal synthesis unit 22 to the gamma conversion unit 361.
  • the gamma conversion unit 361 performs gamma correction on the composite signal C n from the signal synthesis unit 22 and supplies the composite signal C n after the gamma correction to the image processing unit 362.
  • the synthesized signal C n output from the signal synthesizing unit 22 has an inverse gamma characteristic as shown in Expression (8).
  • the characteristic of the dummy pixel signals included in the composite signal C n is, when a linear characteristic, a gamma conversion unit 361, the image signal S n only the gamma correction included in the composite signal C n from the signal synthesizer 22 do it.
  • the image processing unit 362 the synthesized signal C n from the gamma conversion unit 361, predetermined image processing (for example, a color reproduction processing, noise reduction processing, and the like) subjected to the synthetic signal C n after the image processing,
  • the image is supplied to the image sticking correction unit 363.
  • the baking correcting unit 363, the image signal S n included in the composite signal C n after inverse gamma correction, that performs a gradation correction process the first and second embodiment It is very different from the form.
  • control unit 26 includes a dummy pixel signal generation unit 21, a signal synthesis unit 22, a data driver 24, a display unit 25, and a luminance sensor 25b, a gamma conversion unit 361, an image processing unit 362, and a printing process.
  • the correction unit 363 is also controlled.
  • FIG. 31 shows a detailed configuration example of the burn-in correction unit 363 in FIG.
  • an inverse gamma conversion unit 381 is newly provided, and a tone correction unit 382 is provided instead of the tone correction unit 72 in FIG. It is constructed in the same way as the case.
  • Inverse gamma conversion unit 381 from the skew corrector 71, the image signal S n after the inclination correction, performs inverse gamma correction, an image signal S n after inverse gamma correction, the gradation correction unit 382 Supply.
  • the tone correction unit 382 from the inverse gamma conversion unit 381, the image signal S n with the gamma characteristic as shown in equation (7) is supplied.
  • the tone correction unit 382 includes an offset amount calculation unit 391 and an offset correction unit 392.
  • the offset amount calculation unit 391 calculates the offset amount ( ⁇ Vsig) n based on the offset amount calculation information stored in advance in a memory (not shown) and the luminance measurement result from the luminance sensor 25b, and the offset correction unit 392.
  • the difference from the offset amount calculation unit 161 is that the same offset amount ( ⁇ Vsig) n is calculated.
  • the offset correction unit 392 the image signal S n is represented, the organic EL elements each signal potentials for display (Vsig ') to (Vsig) n of n, the same amount of offset from the offset amount calculating section 391 ([Delta] Vsig ) The point where n is added is different from the offset correction unit 162.
  • FIG. 32 illustrates an example when the offset amount calculation unit 391 in FIG. 31 calculates the offset amount.
  • a function f 2 (k) is a function representing the relationship between the gradation k and the luminance L before the current is deteriorated.
  • the function f 2 (k) is generated in advance based on a measurement result obtained by measuring the luminance of an arbitrary organic EL element assumed to be built in the display unit 25, for example. It is held in a built-in memory (not shown).
  • the function f 2 (k) is generated by the offset amount calculation unit 391 based on the measurement result measured by the luminance sensor 25b before current deterioration occurs, and is stored in a built-in memory (not shown). You may do it.
  • the function g 2 (k + ⁇ k) is generated by the offset amount calculation unit 391 based on the luminance measurement result from the luminance sensor 25b.
  • the horizontal axis represents gradation and the vertical axis represents luminance.
  • the offset amount calculation unit 391 calculates the function g 2 (k + ⁇ k) based on the luminance measurement result from the luminance sensor 25b, for example, by the least square method.
  • the tone correction unit 382, the inverse gamma conversion unit 381, the image signal S n with the gamma characteristic is supplied. For this reason, as shown in FIG. 32, it is possible to correct the gradation of the target element with the same offset amount ⁇ k in any gradation of the target element.
  • This third display process is started, for example, when the display device 341 is powered on.
  • steps S161 and S162 processing similar to that in steps S1 and S2 in FIG. 18 is performed, respectively.
  • step S163 for example, the gamma conversion unit 361 performs gamma correction on the combined signal C n from the signal combining unit 22, and supplies the combined signal C n after the gamma correction to the image processing unit 362. Thereby, the characteristic of the synthesized signal C n (image signal S n ) is converted into a linear characteristic.
  • step S164 the image processing unit 362 performs predetermined image processing (for example, color reproduction processing, noise reduction processing, etc.) on the synthesized signal C n converted to the linear characteristic from the gamma conversion unit 361.
  • predetermined image processing for example, color reproduction processing, noise reduction processing, etc.
  • the combined signal C n after image processing is supplied to the burn-in correction unit 363.
  • steps S165 to S167 processing similar to that in steps S3 to S5 in FIG. 18 is performed.
  • step S168 the control unit 26 determines whether or not all of the display organic EL elements are the target elements. If the control unit 26 determines that all of the display organic EL elements are not the target elements, the process proceeds to step S168. Return to S165.
  • step S165 the control unit 26 pays attention to an organic EL element that has not yet been set as a target element among the organic EL elements for display included in the display unit 25, and renews the target organic EL element.
  • the process proceeds to step S166, and the same process is repeated thereafter.
  • step S168 when the control unit 26 determines that all of the display organic EL elements are the target elements, the process proceeds to step S169.
  • step S169 the inverse gamma conversion unit 381 is included in the composite signal C n from the skew corrector 71, the image signal S n after the inclination correction, performs inverse gamma correction, image after inverse gamma correction the signals S n, and supplies to the tone correction unit 382.
  • the tone correction unit 382 supplies the signal potential obtained by adding (Vsig '') n image signals S n representing respectively, as an image signal S n after the tone correction processing, the data driver 24.
  • the tone correction unit 382 includes an offset amount calculation unit 391 and an offset correction unit 392.
  • the offset correction unit 392 uses the signal potential [ ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) ⁇ ⁇ (Vsig) n + ( ⁇ Vsig) n ⁇ ] as an addition result obtained as a result of the addition as the signal potential (Vsig ′′) n. and an image signal S n which, as an image signal S n after the tone correction processing, to the data driver 24.
  • steps S171 to S174 the same processing as in steps S8 to S11 in FIG. 18 is performed. Then, the process returns to step S161, and thereafter the same process is repeated.
  • the third display process is terminated when, for example, the display device 341 is powered off.
  • the inverse gamma correction is performed on the image signal having the linear characteristic. Then, gradation correction processing is performed on an image signal having gamma characteristics obtained by inverse gamma correction.
  • the third display process for example, as shown in FIG. 32, it is possible to correct the gradation with the same offset amount regardless of the signal potential of the element of interest. Therefore, the load due to the gradation correction process can be reduced.
  • the deterioration curve estimation unit 105 performs display based on the luminance deterioration reference curve held in a built-in memory (not shown) and the luminance measurement result from the luminance sensor 25b.
  • the luminance degradation curve for organic EL elements was estimated.
  • the luminance deterioration curve changes due to the temperature of the organic EL element that is emitting light, it is desirable to estimate the luminance deterioration curve based on the temperature of the organic EL element.
  • FIG. 34 shows a configuration example of the display device 401 according to the fourth embodiment.
  • the display device 401 estimates a luminance degradation curve based on the temperature of the organic EL element that is emitting light.
  • the display device 401 is configured in the same manner as the display device 1 in FIG. 1 except that a burn-in correction unit 421 and a display unit 422 are provided instead of the burn-in correction unit 23 and the display unit 25 in FIG. .
  • the burn-in correction unit 421 is supplied with the combined signal C n from the signal combining unit 22.
  • burn-in correction processing burn-in that occurs on the display screen 25a of the display unit 422 can be prevented.
  • the display unit 422 has a built-in temperature sensor 25c that measures the temperature of the display unit 422, and is otherwise configured in the same manner as the display unit 25.
  • the temperature sensor 25 c is built in the display unit 422, measures the temperature of the display unit 422, and supplies it to the burn-in correction unit 421.
  • FIG. 35 shows a detailed configuration example of the burn-in correction unit 421 in FIG.
  • the burn correction unit 421 includes an inclination correction unit 441, a gradation correction unit 442, a detection unit 443, and a holding unit 444.
  • the tilt correction unit 441 is supplied with the combined signal C n from the signal combining unit 22.
  • Skew corrector 441 an image signal S n image signals S n-1 of the signal potential (Vsig) n-1 which is immediately before the included in the composite signal C n from the signal synthesizing unit 22, a temperature sensor 25c The measured temperature d n ⁇ 1 is read from the holding unit 444.
  • the holding unit 444 includes a signal potential (Vsig) n-1 of the image signal Sn -1 included in the synthesized signal Cn -1 supplied from the signal synthesizing unit 22 to the inclination correcting unit 441, and an image.
  • Vsig signal potential
  • the temperature d n-1 inside the display unit 25 when the display image as the signal S n-1 is displayed on the display screen 25a is held.
  • the temperature d n ⁇ 1 inside the display unit 25 is assumed to be (almost) equal to the temperature of the organic EL element included in each pixel circuit incorporated in the display unit 25.
  • the inclination correction unit 441 uses the signal ⁇ (Vsig) n ⁇ 1 and the temperature d n ⁇ 1 read from the holding unit 444 and the measurement result of the luminance from the luminance sensor 25b to reduce the inclination ⁇ ′ that has decreased due to the deterioration in efficiency.
  • a correction amount ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) is calculated for correcting to the original inclination ⁇ .
  • the gradation correction unit 442 is configured in the same manner as the gradation correction unit 72 in FIG. 6 and performs the same processing as the gradation correction unit 72.
  • the tone correction unit 442 the holding unit 444, reads the signal potential (Vsig) n of the image signal S n.
  • the gradation correction unit 442 displays the gradation (k ⁇ k) that has decreased due to current degradation based on the signal potential (Vsig) n read from the holding unit 444 and the luminance measurement result from the luminance sensor 25b. ( ⁇ Vsig) n corresponding to the offset amount ⁇ k for correcting to the original gradation k is calculated.
  • image signal S n have, i.e., a composite signal C n including an image signal S n after the tone correction processing, to the data driver 24.
  • Detection unit 443 similarly to the detector 73 of FIG. 6, on the basis of the image signal S n included in the composite signal C n from the signal synthesizing unit 22, the signal potential of the image signal S n (Vsig) n detection Then, it is supplied to and held by the holding unit 444.
  • the detection unit 443 supplies the temperature d n from the temperature sensor 25c to the holding unit 444 and holds it.
  • the holding unit 444 holds the signal potential (Vsig) n and the temperature d n from the detection unit 443.
  • the inclination correction unit 441 as also used temperature d n from the temperature sensor 25c, are you to perform the inclination correction processing on the image signal S n for the following reason.
  • FIG. 36 shows an example when the luminance degradation curve changes in accordance with the change in the temperature of the display unit 422.
  • the horizontal axis represents time
  • the vertical axis represents the slope that decreases with the passage of time.
  • the luminance deterioration curve 121 ′ is a decrease in the inclination of the organic EL element in accordance with a change in the temperature inside the display unit 422 (the temperature of the organic EL element incorporated in the display unit 422).
  • the inclination of the organic EL element decreases faster as the temperature of the organic EL element increases.
  • the decrease in the inclination of the organic EL element varies depending on the change in the temperature inside the display unit 422.
  • the inclination correction unit 441 estimates the luminance deterioration curve based on the temperature measurement result from the luminance sensor 25b as well as the luminance measurement result from the luminance sensor 25b, and the luminance deterioration curve. The accuracy of estimation is improved.
  • FIG. 37 shows a detailed configuration example of the inclination correction unit 441 in FIG.
  • the inclination correction unit 441 includes a correction amount generation unit 461 and a deterioration curve estimation unit 462 instead of the correction amount generation unit 101 and the deterioration curve estimation unit 105 of FIG. It is comprised similarly.
  • the correction amount generation unit 461 reads the inclination ⁇ ′ of the element of interest from the inclination holding unit 103 in the same manner as the correction amount generation unit 101 of FIG.
  • correction amount generation unit 461 receives the signal potential (Vsig) n ⁇ 1 of the element of interest and the display image as the image signal S n ⁇ 1 from the holding unit 444 and displays the inside of the display unit 422. Read temperature d n-1 .
  • the correction amount generation unit 461 calculates the current I n ⁇ 1 flowing through the target element.
  • correction amount generation unit 461 is a combination of the calculated current I n ⁇ 1 and the temperature d n ⁇ 1 read from the holding unit 444 among the plurality of luminance deterioration curves held in the deterioration curve holding unit 104. Is read from the deterioration curve holding unit 104.
  • the correction amount generation unit 461 calculates the latest inclination ⁇ ′ of the element of interest based on the inclination ⁇ ′ of the element of interest read from the inclination holding unit 103 and the luminance deterioration curve read from the deterioration curve holding unit 104.
  • the correction amount generation unit 461 supplies the latest inclination ⁇ ′ of the element of interest to the inclination holding unit 103 and holds (stores) it by overwriting.
  • the correction amount generation unit 461 generates (calculates) a correction amount ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) based on the latest inclination ⁇ ′ of the element of interest, and supplies the correction amount ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) to the correction amount multiplication unit 102. Note that a method of generating the correction amount by the correction amount generation unit 461 will be described in detail with reference to FIG.
  • the degradation curve estimation unit 462 includes a memory (not shown) as in the degradation curve estimation unit 105 in FIG. 7, and the memory uses a reference when estimating a luminance degradation curve representing the degree to which the slope decreases. A luminance deterioration reference curve is held in advance.
  • the degradation curve estimation unit 462 is based on the degradation of efficiency based on the measurement result of the luminance from the luminance sensor 25b and the luminance degradation reference curve held in advance in a memory (not shown) as well as the temperature from the temperature sensor 25c. A luminance deterioration curve representing a decrease in luminance of the display organic EL element is estimated.
  • the deterioration curve holding unit 104 is supplied and held in a form corresponding to the temperature d n .
  • the method by which the degradation curve estimation unit 462 estimates the luminance degradation curve will be described in detail with reference to FIGS. 39 and 40.
  • FIG. 38 shows an example of the luminance deterioration curve held in the deterioration curve holding unit 104 of FIG.
  • the luminance degradation curves 121 1 ′ and 121 2 ′ are respectively generated (estimated) by the degradation curve estimation unit 462 in FIG. 37, supplied to the degradation curve holding unit 104, and held.
  • the horizontal axis represents time
  • the vertical axis represents inclination
  • the correction amount generation unit 461 of the inclination correction unit 441 reads out the signal potential (Vsig) n ⁇ 1 of the target element and the temperature d n ⁇ 1 of the target element from the holding unit 444.
  • the correction amount generation unit 461 has a current I n ⁇ 1 based on the signal potential (Vsig) n ⁇ 1 of the target element of the target element read out of the plurality of luminance deterioration curves held in the deterioration curve holding unit 104. , And the luminance degradation curve corresponding to the temperature d n ⁇ 1 of the element of interest is read from the degradation curve holding unit 104.
  • the correction amount generation unit 461 reads out the luminance deterioration curve corresponding to the signal potential (Vsig) n-1 of the target element and the temperature d n-1 of the target element from the deterioration curve holding unit 104 in FIG.
  • the other processing is the same as the correction amount generation unit 101 except for the above.
  • the correction amount generation unit 461 reads the inclination ⁇ ′ of the target element from the inclination holding unit 103.
  • the correction amount generation unit 461 performs the same processing as the correction amount generation unit 101 in FIG. 9 based on the read inclination ⁇ ′ of the element of interest and the luminance deterioration curve 121 1 ′ read from the deterioration curve holding unit 104. .
  • the correction amount generation unit 461 supplies the correction amount generated in the same manner as the correction amount generation unit 101 in FIG. 9 to the correction amount multiplication unit 102.
  • the correction amount generation unit 461 reads the inclination ⁇ ′ of the element of interest from the inclination holding unit 103, similarly to the correction amount generation unit 101.
  • the correction amount generation unit 461 performs the same processing as the correction amount generation unit 101 in FIG. 9 based on the read inclination ⁇ ′ of the element of interest and the luminance deterioration curve 121 2 ′ read from the deterioration curve holding unit 104. .
  • the correction amount generation unit 461 is as follows. Perform proper processing.
  • the inclinations ⁇ 1 ′, ⁇ 2 ′, ⁇ 3 ′ described in FIG. 38 are generally different from the inclinations ⁇ 1 ′, ⁇ 2 ′, ⁇ 3 ′ described in FIG.
  • the correction amount generation unit 461 performs the following processing.
  • the correction amount generation unit 461 performs the following processing.
  • FIG. 39 shows an example when the deterioration curve estimation unit 462 estimates the luminance deterioration curve based on the measurement result of the temperature from the temperature sensor 25c together with the measurement result of the luminance from the luminance sensor 25b.
  • the horizontal axis represents time
  • the vertical axis represents inclination
  • a method of estimating 121 1 ′ (FIG. 38) will be described.
  • Xnit, d Y).
  • the deterioration curve estimation unit 462 holds a luminance deterioration reference curve 141 1 ′ in a built-in memory (not shown) in advance.
  • the luminance deterioration curve 121 1 ′ It is a standard for estimation.
  • the gradients ⁇ t1 ′, ⁇ t1, ⁇ t2 ′, ⁇ t2 described in FIG. 39 are generally different from the gradients ⁇ t1 ′, ⁇ t1, ⁇ t2 ′, ⁇ t2 described in FIG. 39.
  • the coefficient ⁇ t1 ′ / ⁇ t1 is calculated.
  • the deterioration curve 121 1 ′ is estimated and supplied to the deterioration curve holding unit 104 to be held.
  • a method of estimating '(FIG. 38) will be described.
  • the deterioration curve estimation unit 462 holds a luminance deterioration reference curve 141 2 ′ in advance in a built-in memory (not shown).
  • the luminance deterioration curve 121 2 ′ It is a standard for estimation.
  • a temperature acceleration coefficient ⁇ t2 ′ / ⁇ t2 representing is calculated.
  • the deterioration curve 121 2 ′ is estimated and supplied to the deterioration curve holding unit 104 to be held.
  • the deterioration curve estimation unit 462 holds a plurality of luminance deterioration reference curves (for example, luminance deterioration reference curves 141 1 ′, 141 2 ′, etc.) in a built-in memory (not shown) in advance.
  • the memory capacity of the memory must be increased according to the number of luminance deterioration reference curves.
  • any one of the plurality of luminance degradation reference curves can be used for estimating any luminance degradation curve. It is possible to save the storage capacity of the memory as a simple master curve.
  • the deterioration curve estimation unit 462 calculates a function 161 1 that represents the degree of inclination reduction based on the measurement result from the luminance sensor 25b.
  • the deterioration curve estimation unit 462 acquires the temperature d, which is a measurement result from the temperature sensor 25c, from the temperature sensor 25c.
  • the deterioration curve estimation unit 462 calculates the temperature acceleration coefficient ⁇ t1 ′ / ⁇ t1 based on the luminance deterioration reference curve 141 1 ′ as a master curve and the function 161 1, and as described above. To estimate the luminance degradation curve.
  • the deterioration curve estimation unit 462 determines whether or not the temperature of the pixel circuit 184 has changed from 30 degrees to 40 degrees based on the temperature d from the temperature sensor 25c.
  • the deterioration curve estimation unit 462 determines that the temperature of the pixel circuit 184 has changed from 30 degrees to 40 degrees based on the temperature d from the temperature sensor 25c, the brightness sensor is changed after the temperature d has changed to 40 degrees. Based on the measurement result obtained by measuring at 25b, the function 161 2 is calculated.
  • the deterioration curve estimation unit 462 calculates the temperature acceleration coefficient ⁇ t2 ′ / ⁇ t2 based on the luminance deterioration reference curve 141 1 ′ as a master curve and the function 161 2, and as described above. To estimate the luminance degradation curve.
  • the deterioration curve estimation unit 462 determines whether or not the temperature of the pixel circuit 184 has changed from 40 degrees to 30 degrees based on the temperature d from the temperature sensor 25c.
  • the deterioration curve estimation unit 462 determines that the temperature of the pixel circuit 184 has changed from 40 degrees to 30 degrees based on the temperature d from the temperature sensor 25c, the brightness sensor is changed after the temperature d has changed to 30 degrees. Based on the measurement result obtained by measuring at 25b, the function 161 3 is calculated.
  • the deterioration curve estimation unit 462 calculates the temperature acceleration coefficient ⁇ t3 ′ / ⁇ t3 based on the luminance deterioration reference curve 141 1 ′ as a master curve and the function 161 3, and as described above. To estimate the luminance degradation curve.
  • This fourth display process is started, for example, when the display device 401 is turned on.
  • steps S191 and S192 processing similar to that in steps S1 and S2 in FIG. 18 is performed, respectively.
  • step S193 the control unit 26 sequentially pays attention to the organic EL elements for display included in the display unit 422, and sets the focused organic EL element as the target element.
  • step S194 the detection unit 443 of the baking correction unit 421, based on the image signal S n included in the composite signal C n from the signal synthesizing unit 22 detects a signal potential of the target device (Vsig) n, holder 444 to be held.
  • Vsig target device
  • step S195 the detection unit 443 of the burn-in correction unit 421 detects the temperature d n as the measurement result from the temperature sensor 25c as the temperature d n of the element of interest, and supplies the holding unit 444 to hold it.
  • the temperature d n represents the temperature inside the display unit 422 when the element of interest emits light based on the signal potential (Vsig) n of the element of interest.
  • step S196 the inclination correction unit 441 of the burn-in correction unit 421 performs an inclination correction process using the temperature d n ⁇ 1 on the signal potential (Vsig) n of the target pixel supplied from the signal synthesis unit 22. Details of this inclination correction processing will be described in detail with reference to the flowchart of FIG.
  • step S198 the control unit 26 determines whether or not all of the display organic EL elements included in the display unit 422 are the target elements, and determines that all of the display organic EL elements are not the target elements. If so, the process returns to step S193.
  • step S193 the control unit 26 pays attention to an organic EL element that has not been set as a target element among the display organic EL elements included in the display unit 422, and newly selects the target organic EL element.
  • the process proceeds to step S419, and the same process is repeated thereafter.
  • step S198 if the control unit 26 determines that all of the display organic EL elements included in the display unit 422 are set as the target elements, the process proceeds to step S199.
  • steps S199 to S201 processing similar to that in steps S8 to S10 in FIG. 18 is performed.
  • step S202 the inclination correction unit 441 performs a degradation curve estimation process for estimating and holding a luminance degradation curve based on the luminance measurement result from the luminance sensor 25b and the temperature measurement result from the temperature sensor 25c. Do. This deterioration curve estimation process will be described in detail with reference to the flowchart of FIG.
  • step S202 After the completion of step S202, the process is returned to step S191, and thereafter the same process is performed.
  • the fourth display process is ended when, for example, the power of the display device 401 is turned off.
  • the inclination correction process is performed based on the temperature of the organic EL element. For this reason, the inclination ⁇ ′ of the organic EL element having a different rate of inclination reduction according to the temperature of the organic EL element can be more accurately corrected to the original inclination ⁇ .
  • the luminance degradation curve at the temperature before the change is estimated based on the luminance measurement result obtained before the temperature change. Then, the luminance degradation curve at the temperature after the change is estimated based on the measurement result of the luminance obtained after the temperature change.
  • step S221 the correction amount generation unit 461 reads the inclination ⁇ ′ of the element of interest from the inclination holding unit 103 in the same manner as the correction amount generation unit 101.
  • step S222 the correction amount generation unit 461 reads the signal potential (Vsig) n ⁇ 1 of the element of interest from the holding unit 444 in the same manner as the correction amount generation unit 101.
  • step S223 the correction amount generation unit 461 reads the temperature d n ⁇ 1 of the element of interest from the holding unit 444.
  • step S224 the correction amount generation unit 461 calculates the current I n ⁇ 1 flowing in the organic EL element serving as the target pixel based on the signal potential (Vsig) n ⁇ 1 of the target element read from the holding unit 444. To do.
  • the correction amount generation unit 101 combines the calculated current I n ⁇ 1 and the temperature d n ⁇ 1 read from the holding unit 444 among the plurality of luminance deterioration curves held in the deterioration curve holding unit 104. Is read out from the deterioration curve holding unit 104.
  • step S225 the correction amount generation unit 461, like the correction amount generation unit 101, based on the inclination ⁇ ′ of the element of interest read from the inclination holding unit 103 and the luminance deterioration curve read from the deterioration curve holding unit 104, The latest inclination ⁇ ′ of the element of interest is calculated.
  • the correction amount generation unit 101 supplies the latest inclination ⁇ ′ of the element of interest to the inclination holding unit 103 and holds (stores) it by overwriting.
  • step S226 the correction amount generation unit 461 generates (calculates) a correction amount ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) based on the latest inclination ⁇ ′ of the element of interest, similarly to the correction amount generation unit 101, and performs correction. This is supplied to the quantity multiplication unit 102.
  • step S227 processing similar to that in step S36 in FIG. 19 is performed. That is, the correction amount multiplication unit 102 multiplies the signal potential (Vsig) n of the element of interest by the correction amount ⁇ ⁇ ( ⁇ / ⁇ ′) from the correction amount generation unit 461.
  • n ⁇ is supplied to the gradation correction unit 442 as the signal potential (Vsig ′) n of the element of interest whose inclination ⁇ ′ is corrected to the original inclination ⁇ , and the subsequent processing is performed.
  • step S242 the degradation curve estimation unit 462 sequentially pays attention to the plurality of luminance sensors 25b and sets the focused luminance sensor 25b as the attention sensor.
  • the deterioration curve estimation unit 462 calculates the temperature acceleration coefficient ⁇ t1 ′ / ⁇ t1 based on the calculated time ⁇ t1 ′ and time ⁇ t1.
  • step S245 the deterioration curve estimation unit 462 estimates a luminance deterioration curve based on the calculated temperature acceleration coefficient and a luminance deterioration reference curve held in advance in a memory (not shown), and the deterioration curve holding unit 104 Supply and hold.
  • step S246 the deterioration curve estimation unit 462 determines whether or not all of the plurality of luminance sensors 25b are the attention sensors. If it is determined that all of the plurality of luminance sensors 25b are not the attention sensors, the process is performed. Return to S242.
  • step S242 the deterioration curve estimation unit 462 sets a luminance sensor that has not yet been set as the attention sensor among the plurality of luminance sensors 25b as a new attention sensor, proceeds to step S243, and thereafter performs the same processing. I do.
  • step S246 when the deterioration curve estimation unit 462 determines that all of the plurality of luminance sensors 25b are the target sensors, the deterioration curve estimation process in FIG. 43 is terminated, and the process proceeds to step S202 in FIG. Return and the subsequent processing is performed.
  • FIG. 44 shows a configuration example of a display device 501 according to the fifth embodiment.
  • this display device 501 the same reference numerals are given to the same components as those in the case of the display device 1 (FIG. 1) according to the first embodiment, and the description thereof will be omitted as appropriate. ing.
  • the display device 501 is provided with a synchronization signal generation unit 521 and is provided with a signal synthesis unit 522 and a display unit 523 instead of the signal synthesis unit 22 and the display unit 25 in FIG.
  • the configuration is the same as in the case of FIG.
  • the display image is displayed in synchronization with the synchronization signal.
  • the illustration of the synchronization signal generation unit that generates the synchronization signal is omitted.
  • the synchronization signal generation unit 521 is explicitly illustrated for convenience of explanation.
  • the synchronization signal generation unit 521 generates a synchronization signal (horizontal synchronization signal and vertical synchronization signal) according to control from the control unit 26 and supplies the synchronization signal to the signal synthesis unit 522 and the display unit 523.
  • the signal synthesizer 522 is supplied with an image signal from the outside and a dummy pixel signal from the dummy pixel signal generator 21.
  • the signal synthesizing unit 522 synthesizes the image signal from the outside and the dummy pixel signal from the dummy pixel signal generating unit 21 in synchronization with the vertical synchronizing signal from the synchronizing signal generating unit 521, and the resultant synthesized signal is obtained. , And supplied to the burn-in correction unit 23
  • FIG. 45 illustrates an example of a combining process in which the signal combining unit 522 in FIG. 44 combines the image signal and the dummy pixel signal.
  • FIG. 45 an example of the display image 41 displayed on the display screen 25a of the display unit 523 by the display organic EL element included in the display unit 523 emitting light according to the image signal is shown. .
  • a dummy image 42 ′ obtained by the measurement organic EL element included in the display unit 523 emitting light according to the dummy pixel signal is shown. Note that the dummy image 42 ′ is not displayed on the display screen 25 a of the display unit 523 and is used only for measuring the luminance by the luminance sensor 25 b built in the display unit 523.
  • the signal synthesis unit 522 synthesizes the image signal and the dummy pixel signal so that the dummy image 42 ′ is disposed below the display image 41.
  • the signal synthesis unit 522 generates a synthesized signal representing the synthesized image 43 ′ as shown in FIG. 46 by synthesizing the image signal and the dummy pixel signal, and supplies the synthesized signal to the burn-in correction unit 23.
  • the signal combining unit 522 may combine the image signal and the dummy pixel signal so that the dummy image 42 ′ is disposed above the display image 41.
  • the luminance sensor 25b is provided on the upper side of the display screen 25a.
  • the display unit 523 has a display screen 25a and a luminance sensor 25b.
  • the positional relationship between the display screen 25a and the luminance sensor 25b is different from that of the display unit 25 in FIG. This will be described in detail with reference to FIG.
  • the display unit 523 based on the image signal S n included in the composite signal C n from the data driver 24 in synchronization with the synchronization signal from the synchronization signal generator 521, an organic EL element for display having a built Make it emit light.
  • the display screen 25a of the display unit 523, the display image 41 as an image signal S n is displayed.
  • the display unit 523 emits light from the built-in measurement organic EL element in synchronization with the synchronization signal from the synchronization signal generation unit 521 based on the dummy pixel signal included in the composite signal C n from the data driver 24.
  • the luminance sensor 25b is provided near the pixel circuit including the organic EL element for measurement, measures the luminance of the organic EL element included in the pixel circuit, and displays the measurement result as a burn-in correction. To the unit 23.
  • the display portion 523 is provided with pixel circuits 184-(1, 1) to 184-(N, M) similarly to the display portion 25 shown in FIG.
  • the organic EL elements included in the pixel circuit 184- (1, M), the pixel circuit 184- (2, M),..., The pixel circuit 184- (N, M) are used for measurement. This is an organic EL element.
  • the pixel circuit 184- (N, 1) and the pixel circuit 184 are included.
  • a luminance sensor 25b 1 and a luminance sensor 25b are located beside the organic EL elements included in the pixel circuit 184- (N, 2),..., Pixel circuit 184- (N, M), respectively. 2 ,..., A luminance sensor 25b N is provided.
  • FIG. 47 illustrates an example of a state in which the display unit 523 causes the display organic EL element and the measurement organic EL element to emit light in synchronization with the synchronization signal from the synchronization signal generation unit 521. .
  • a vertical synchronization period which is a period from the start of the display of the composite image 43 ′ to the start of the display of the next composite image 43 ′.
  • This vertical synchronization period represents a period from when a falling edge occurs in the vertical synchronization signal output from the synchronization signal generation unit 22 to when the next falling edge occurs.
  • the vertical synchronization period includes a plurality of horizontal synchronization periods and a blanking period.
  • the horizontal synchronization period represents a period from when a falling edge occurs until the next falling edge occurs in the horizontal synchronization signal output from the synchronization signal generation unit 521.
  • the horizontal synchronization period is a period in which the organic EL element corresponding to one line of each line constituting the composite image 43 ′ is caused to emit light.
  • the display unit 523 synchronizes with the vertical synchronization signal and the horizontal synchronization signal from the synchronization signal generation unit 521, and displays the organic EL for display in a predetermined vertical synchronization period based on the synthesized signal C n supplied from the data driver 24.
  • the element and the organic EL element for measurement are caused to emit light.
  • the display unit 523 synchronizes with the horizontal synchronization signal from the synchronization signal generation unit 22 and each time a falling edge occurs in the horizontal synchronization signal, the display unit 523 Start display.
  • each line constituting the display image 41 is displayed on the display screen 25a in the raster scan order from the top.
  • the measurement organic EL element that emits light as the dummy image 42 ′ is generated in response to the falling edge occurring in the horizontal synchronization signal. Make it emit light.
  • a synthesized signal as a synthesized image 43 used in the next vertical synchronization period is generated by synthesis performed by the signal synthesis unit 522.
  • the combined signal generated by the signal combining unit 522 is corrected by the burn-in correction unit 23, and the corrected combined signal is AD-converted by the data driver 24 and supplied to the display unit 523.
  • the above-described processing is performed in the next vertical synchronization period using the combined signal after AD conversion supplied from the data driver 24.
  • the signal synthesis unit 522 performs a synthesis process for combining the dummy image 42 ′ with the lower side of the display image 41 during the blanking period. That is, the signal synthesis unit 522 only needs to perform synthesis processing for each vertical synchronization period.
  • FIG. 48 shows a state in which the display unit 25 of FIG. 1 causes the display organic EL element and the measurement organic EL element to emit light in synchronization with a synchronization signal from a synchronization signal generation unit (not shown). An example is shown.
  • a vertical synchronization period which is a period from the start of the display of the composite image 43 to the start of the display of the next composite image 43.
  • This vertical synchronization period represents a period from when a falling edge is generated to when the next falling edge is generated in a vertical synchronization signal output from a synchronization signal generation unit (not shown).
  • the vertical synchronization period is composed of a plurality of horizontal synchronization periods as shown in FIG. In FIG. 48, a blanking period may be provided in the vertical synchronization period.
  • the display unit 25 is configured to display an organic EL element for display in a predetermined vertical synchronization period based on the synthesized signal C n supplied from the data driver 24 in synchronization with a vertical synchronization signal from a synchronization signal generation unit (not shown). And the organic EL element for measurement is made to emit light.
  • the display unit 523 synchronizes with the horizontal synchronization signal from the synchronization signal generation unit 22 and each time a falling edge occurs in the horizontal synchronization signal, the display unit 523 Start display.
  • each line constituting the display image 41 is displayed on the display screen 25a in the raster scan order from the top.
  • the measurement organic EL element that emits light as part of the dummy image 42 ′ emits light.
  • the signal synthesis unit 22 needs to perform a synthesis process for combining a part of the dummy image 42 corresponding to the measurement organic EL element that emits light in the next horizontal synchronization period for each horizontal synchronization period. .
  • the signal synthesizer 522 only needs to perform the synthesis process for each vertical synchronization period, so the load caused by the process can be reduced.
  • the signal synthesis unit 522 is configured to combine the dummy image 42 ′ with the lower side of the display image 41, the data drivers 24 1 to 24 3 for the display image 41 are installed as shown in FIG. It can be used as it is.
  • a dummy pixel signal can also be supplied using a video signal line for supplying an image signal from the data driver 24 to the display unit 523.
  • FIG. 49 shows an example in which three data drivers 24 1 to 24 3 are provided as the data driver 24 for the display image 41.
  • a data driver 24 4 for the dummy image 42 must be newly provided as shown in FIG. I must. That is, it is necessary to newly provide a video signal line for supplying a dummy pixel signal from the data driver 24 to the display unit 523.
  • the display device 501 it is not necessary to newly provide the data driver 24 4 for the dummy image 42 as the data driver 24, so that the manufacturing cost of the display device 501 can be kept low.
  • FIG. 51 shows a front view of the display unit 523 of FIG.
  • the display unit 523 includes a rectangular three-dimensional housing, and the housing includes a horizontal selector 181, a light scanner 182, a power supply scanner 183, and a plurality of pixel circuits 184 ⁇ as in the display unit 25 of FIG. (1,1) to 184- (N, M) are built in.
  • the display unit 523 is provided with a display screen 25a at the center of the housing.
  • the display unit 523 has a plurality of luminance sensors 25b 1 to 25b N arranged below the display screen 25a so as to be built in the housing.
  • the plurality of luminance sensors 25b 1 , 25b 2 ,... 25b N are respectively pixel circuits 184- (N, 1), 184- (N, 2),. , M).
  • the plurality of luminance sensors 25b 1 , 25b 2 ,... 25b N are respectively organic EL elements included in the pixel circuits 184- (N, 1), 184- (N, 2), ... 184- (N, M). Measure brightness.
  • the luminance sensors 25b 1 to 25b N are replaced with the luminance sensors 25b 1 , 25b 2 ,... 25b M shown in FIG.
  • the display portion 25 is configured in the same manner as shown in FIG.
  • FIG. 52 describes a display process (hereinafter referred to as a fifth display process) performed by the display device 501 of FIG.
  • This fifth display process is started when the display device 501 is powered on, for example.
  • step S261 the dummy pixel signal generation unit 21 performs the same process as in step S1 of FIG. That is, for example, the dummy pixel signal generation unit 21 generates a dummy pixel signal for causing the measurement organic EL element incorporated in the display unit 523 to emit light, and supplies the dummy pixel signal to the signal synthesis unit 522.
  • step S262 the synchronization signal generation unit 521 generates a synchronization signal (horizontal synchronization signal and vertical synchronization signal) according to the control from the control unit 26, and supplies the synchronization signal to the signal synthesis unit 522 and the display unit 523.
  • a synchronization signal horizontal synchronization signal and vertical synchronization signal
  • step S263 based on the synchronization signal from the synchronization signal generation unit 521, the signal synthesis unit 522 causes the dummy image 42 ′ to be arranged, for example, below the display image 41 within the blanking period.
  • the image signal and the dummy pixel signal are synthesized.
  • the signal synthesis unit 522 supplies the synthesized signal C n obtained by the synthesis to the burn correction unit 23.
  • step S264 baking correcting unit 23, the image signal S n included in the composite signal C n from the signal synthesizing unit 522 performs baking correction processing as described in steps S3 to S7 in example 18 . Then, baking correcting unit 23, the combined signal C n including an image signal S n after baking correction, to the data driver 24.
  • step S265 the data driver 24 performs the same process as in step S8 of FIG. That is, for example, the data driver 24 performs AD conversion on the combined signal C n from the burn correction unit 23 and supplies the combined signal C n after AD conversion to the display unit 523.
  • step S266 the display unit 523 displays in a predetermined vertical synchronization period based on the synthesized signal C n supplied from the data driver 24 in synchronization with the vertical synchronization signal and the horizontal synchronization signal from the synchronization signal generation unit 521.
  • the organic EL element for measurement and the organic EL element for measurement are caused to emit light.
  • the display unit 523 synchronizes with the horizontal synchronization signal from the synchronization signal generation unit 22 and each time a falling edge occurs in the horizontal synchronization signal, the display unit 523 Start display.
  • each line constituting the display image 41 is displayed on the display screen 25a in the raster scan order from the top.
  • the measurement organic EL element that emits light as the dummy image 42 ′ is generated in response to the falling edge occurring in the horizontal synchronization signal. Make it emit light.
  • steps S267 and S268 processing similar to that in steps S10 and S11 in FIG. 18 is performed, respectively. After the end of step S268, the process returns to step S261, and thereafter the same process is performed.
  • the fifth display process is ended when the power of the display device 501 is turned off, for example.
  • the measurement organic EL element is arranged on the upper side or the lower side of the display organic EL element. Therefore, for each vertical synchronization period, Since it is only necessary to perform the synthesis process, the load caused by the synthesis process can be reduced.
  • the synthesis process when the synthesis process is performed every vertical synchronization period, the synthesis process may be performed at a cycle of about 1/1000 compared to the case where the synthesis process is performed every horizontal synchronization period. Can reduce the load.
  • the manufacturing cost of the display device 501 can be saved.
  • the present technology can be configured by using the display device 1 as a module, for example, as illustrated in FIG.
  • the present invention can be applied to a built-in television receiver 541.
  • the television receiver 541 includes the display device 1 so that the display screen 25a of the display device 1 is exposed.
  • the present technology is applied not only to the television receiver 541 but also to electronic devices such as a personal computer, a mobile phone, and a video camera that incorporate the display device 1 so that the display screen 25a of the display device 1 is exposed. be able to.
  • the present technology can be applied to electronic devices as in the first embodiment.
  • the configuration of the display device has been described according to the first to fifth embodiments.
  • the configuration described in each of the first to fifth embodiments is arbitrarily combined. can do.
  • a first signal composed of an image signal for causing a first light emitting element used for image display to emit light and a dummy pixel signal for causing a second light emitting element used for measuring luminance to emit light.
  • a signal combining unit that generates one combined signal, and the generated first combined signal from the first light emitting element and the second light emitting element, the first light emitting element only. Regardless of the degree of deterioration of the light emitting element, a conversion unit that converts to a second combined signal for emitting light with the same luminance, the first light emitting element based on the second combined signal, and the A signal processing device including a light emission control unit that causes the second light emitting element to emit light.
  • the conversion unit converts the first combined signal into the second combined signal based on a luminance measurement result by a measurement unit that measures the luminance of the second light emitting element.
  • a signal processing device 1.
  • the conversion unit causes the first light-emitting element to emit light with the same luminance regardless of the degree of deterioration of the first light-emitting element, with respect to the image signal included in the first combined signal.
  • the signal processing device according to (1) or (2), wherein the first combined signal is converted into the second combined signal including the corrected image signal by correcting the image signal into the second combined signal.
  • the converter further corrects the dummy pixel signal included in the first combined signal to be the same as the dummy pixel signal included in the first combined signal, thereby The signal processing device according to (3), wherein the composite signal of 1 is converted into the second composite signal.
  • a display screen that displays an image, further including a display unit that includes the first light emitting element, the second light emitting element, and the measurement unit, wherein the light emission control unit includes the second light emitting element
  • An image is displayed on the display screen by causing the first light emitting element to emit light based on the image signal included in the combined signal, and based on the dummy pixel signal included in the second combined signal,
  • the signal processing apparatus according to any one of (2) to (4), wherein the second light emitting element emits light to cause the measurement unit to measure luminance.
  • the series of processes described above can be executed by, for example, hardware, or can be executed by software.
  • a program constituting the software may execute various functions by installing a computer incorporated in dedicated hardware or various programs. For example, it is installed from a program recording medium in a general-purpose computer or the like.
  • FIG. 54 shows an example of the hardware configuration of a computer that executes the above-described series of processing by a program.
  • the series of processing described above is executed by a dedicated circuit configured by an ASIC (application specific integrated circuit) or a programmable LSI such as an FPGA (field programmable gate array) in addition to the computer shown in FIG. can do.
  • ASIC application specific integrated circuit
  • FPGA field programmable gate array
  • CPU Central Processing Unit
  • ROM Read Only Memory
  • RAM Random Access Memory
  • the CPU 561, the ROM 562, and the RAM 563 are connected to each other by a bus 564.
  • the CPU 561 is also connected with an input / output interface 565 via a bus 564.
  • the input / output interface 565 is connected to an input unit 566 composed of a keyboard, mouse, microphone, and the like, and an output unit 567 composed of a display, a speaker, and the like.
  • the CPU 561 executes various processes in response to commands input from the input unit 566. Then, the CPU 561 outputs the processing result to the output unit 567.
  • the storage unit 568 connected to the input / output interface 565 includes, for example, a hard disk and stores programs executed by the CPU 561 and various data.
  • a communication unit 569 communicates with an external device via a network such as the Internet or a local area network.
  • program may be acquired via the communication unit 569 and stored in the storage unit 568.
  • a drive 570 connected to the input / output interface 565 drives a removable medium 571 such as a magnetic disk, an optical disk, a magneto-optical disk, or a semiconductor memory, and drives programs and data recorded therein. Etc. The acquired program and data are transferred to and stored in the storage unit 568 as necessary.
  • a recording medium for recording (storing) a program that is installed in a computer and can be executed by the computer includes a magnetic disk (including a flexible disk), an optical disk (CD-ROM (Compact Disc- Removable media 571, which is a package media composed of read-only memory, DVD (digital versatile disc), magneto-optical disk (including MD (mini-disc)), or semiconductor memory, or the program is temporarily or It is configured by a ROM 562 that is permanently stored, a hard disk that constitutes the storage unit 568, and the like.
  • CD-ROM Compact Disc- Removable media 571
  • MD mini-disc
  • semiconductor memory or the program is temporarily or It is configured by a ROM 562 that is permanently stored, a hard disk that constitutes the storage unit 568, and the like.
  • Recording of a program on a recording medium is performed using a wired or wireless communication medium such as a local area network, the Internet, or digital satellite broadcasting via a communication unit 569 which is an interface such as a router or a modem as necessary. Is called.
  • a wired or wireless communication medium such as a local area network, the Internet, or digital satellite broadcasting
  • a communication unit 569 which is an interface such as a router or a modem as necessary. Is called.
  • steps describing the series of processes described above are not limited to the processes performed in time series according to the described order, but are not necessarily performed in time series, either in parallel or individually.
  • the process to be executed is also included.
  • present disclosure is not limited to the first to fifth embodiments described above, and various modifications can be made without departing from the gist of the present disclosure.

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Abstract

本開示は、表示画面に生じる焼付きを防止することができるようにする信号処理装置、信号処理方法、プログラム、及び電子機器に関する。信号合成部は、画像の表示用に用いられる第１の発光素子を発光させるための画像信号と、輝度の計測用に用いられる第２の発光素子を発光させるためのダミー画素信号とにより構成される合成信号を生成し、焼付補正部は、生成された第1の合成信号を、第1の発光素子及び第２の発光素子のうち、第１の発光素子のみを第１の発光素子の劣化の程度に拘らず、同一の輝度で発光させるための第２の合成信号に変換し、表示部は、第２の合成信号に基づいて、第１の発光素子、及び第２の発光素子を発光させる。本開示は、例えば、発光素子として有機EL素子を用いた平面自発光型のパネルを内蔵する電子機器などに適用できる。

Description

信号処理装置、信号処理方法、プログラム、及び電子機器
　本開示は、信号処理装置、信号処理方法、プログラム、及び電子機器に関し、特に、表示画面に生じる焼付きを防止できるようにした信号処理装置、信号処理方法、プログラム、及び電子機器に関する。
　発光素子として有機EL(electro luminescent)素子を用いた平面自発光型のパネル（ELパネル）の開発が近年盛んになっている。有機EL素子は、ダイオード特性を有し、有機薄膜に電界をかけると発光する現象を利用した発光素子である。有機EL素子は、印加電圧が１０Ｖ以下で駆動するため低消費電力であり、自ら光を発する自発光素子であるため、照明部材を必要とせず軽量化及び薄型化が容易であるという特長を有する。また、有機EL素子の応答速度は数μｓ程度と非常に高速であるので、ELパネルでは動画表示時の残像が発生しないという利点がある。
　有機ELデバイスを画素に用いた平面自発光型のパネルの中でも、とりわけ駆動素子として薄膜トランジスタを各画素に集積形成したアクティブマトリクス型のパネルの開発が盛んである。アクティブマトリクス型のパネルは、例えば以下の特許文献１乃至５に記載されている。
特開２００３－２５５８５６号公報 特開２００３－２７１０９５号公報 特開２００４－１３３２４０号公報 特開２００４－０２９７９１号公報 特開２００４－０９３６８２号公報
　ところで、有機EL素子には、例えば、発光量及び発光時間に比例して輝度効率が低下する特性がある。有機EL素子の発光輝度は電流値と輝度効率の積で表されるため、輝度効率の低下は発光輝度の低下となる。表示画面に表示される表示画像として、各画素で一様な表示を行う表示画像は稀であり、画素ごとに発光量が異なるのが一般的である。
　したがって、過去の発光量及び発光時間の違いにより、同一の駆動条件下であっても各画素で発光輝度の低下の度合いが異なり、輝度低下のばらつきが視覚的に認識される現象が発生する。この輝度低下のばらつきが視覚的に認識される現象を焼付き現象という。
　そこで、従来のELパネルでは、有機EL素子を輝度低下前の発光輝度で発光させるようにして、焼付き現象を防止する焼付補正処理を行うものがある。
　すなわち、例えば、ELパネルは、表示画像の表示用に発光する有機EL素子（以下、表示用の有機EL素子という）と、輝度低下の計測用に発光する有機EL素子（以下、計測用の有機EL素子という）を内蔵している。
　ELパネルは、計測用の有機EL素子の輝度を計測して得られる計測結果に基づいて、有機EL素子の発光輝度の低下の程度を表す輝度劣化特性を推定する。
　そして、ELパネルは、推定した輝度劣化特性に基づいて、表示用の有機EL素子、及び計測用の有機EL素子を、低下前の発光輝度で発光させるための焼付補正処理を行う。
　これにより、表示用の有機EL素子、及び計測用の有機EL素子は、いずれも、低下前の発光輝度で発光することとなる。
　ところで、従来のELパネルでは、計測用の有機EL素子は、低下前の発光輝度で発光するため、そのような計測用のEL素子から得られる計測結果から、輝度劣化特性を正確に推定することができないことがある。この場合、焼付補正処理において、焼付き現象を防止できないことが生じ得る。
　本開示は、このような状況に鑑みてなされたものであり、表示画面に生じる焼付きを防止できるようにするものである。
　本開示の第１の側面の信号処理装置は、画像の表示用に用いられる第１の発光素子を発光させるための画像信号と、輝度の計測用に用いられる第２の発光素子を発光させるためのダミー画素信号とにより構成される第１の合成信号を生成する信号合成部と、生成された前記第1の合成信号を、前記第1の発光素子及び前記第２の発光素子のうち、前記第１の発光素子のみを前記第１の発光素子の劣化の程度に拘らず、同一の輝度で発光させるための第２の合成信号に変換する変換部と、前記第２の合成信号に基づいて、前記第１の発光素子、及び前記第２の発光素子を発光させる発光制御部とを含む信号処理装置である。
　前記変換部では、前記第２の発光素子の輝度を計測する計測部による輝度の計測結果に基づいて、前記第１の合成信号を前記第２の合成信号に変換することができる。
　前記変換部では、前記第1の合成信号に含まれる前記画像信号を、前記第１の発光素子の劣化の程度に拘らず、前記第1の発光素子を同一の輝度で発光させるための画像信号に補正することにより、前記第1の合成信号を、補正後の前記画像信号を含む前記第２の合成信号に変換することができる。
　前記変換部では、さらに、前記第1の合成信号に含まれる前記ダミー画素信号を、前記第1の合成信号に含まれる前記ダミー画素信号と同一のものに補正することにより、前記第1の合成信号を前記第２の合成信号に変換することができる。
　画像を表示する表示画面を有し、前記第１の発光素子、前記第２の発光素子、及び前記計測部を内蔵する表示部をさらに設けることができ、前記発光制御部では、前記第２の合成信号に含まれる前記画像信号に基づいて、前記第１の発光素子を発光させることにより前記表示画面に画像を表示させ、前記第２の合成信号に含まれる前記ダミー画素信号に基づいて、前記第２の発光素子を発光させることにより前記計測部に輝度の計測を行わせることができる。
　本開示の第１の側面の信号処理方法は、信号を処理する信号処理装置の信号処理方法であって、前記信号処理装置による、画像の表示用に用いられる第１の発光素子を発光させるための画像信号と、輝度の計測用に用いられる第２の発光素子を発光させるためのダミー画素信号とにより構成される第1の合成信号を生成する信号合成ステップと、生成された前記第1の合成信号を、前記第1の発光素子及び前記第２の発光素子のうち、前記第１の発光素子のみを前記第１の発光素子の劣化の程度に拘らず、同一の輝度で発光させるための第２の合成信号に変換する変換ステップと、前記第２の合成信号に基づいて、前記第１の発光素子、及び前記第２の発光素子を発光させる発光制御ステップとを含む信号処理方法である。
　本開示の第１の側面のプログラムは、コンピュータを、画像の表示用に用いられる第１の発光素子を発光させるための画像信号と、輝度の計測用に用いられる第２の発光素子を発光させるためのダミー画素信号とにより構成される第1の合成信号を生成する信号合成部と、生成された前記第1の合成信号を、前記第1の発光素子及び前記第２の発光素子のうち、前記第１の発光素子のみを前記第１の発光素子の劣化の程度に拘らず、同一の輝度で発光させるための第２の合成信号に変換する変換部と、前記第２の合成信号に基づいて、前記第１の発光素子、及び前記第２の発光素子を発光させる発光制御部として機能させるためのプログラムである。
　本開示の第１の側面の電子機器は、信号を処理する信号処理装置を内蔵する電子機器であって、前記信号処理装置は、画像の表示用に用いられる第１の発光素子を発光させるための画像信号と、輝度の計測用に用いられる第２の発光素子を発光させるためのダミー画素信号とにより構成される第1の合成信号を生成する信号合成部と、生成された前記第1の合成信号を、前記第1の発光素子及び前記第２の発光素子のうち、前記第１の発光素子のみを前記第１の発光素子の劣化の程度に拘らず、同一の輝度で発光させるための第２の合成信号に変換する変換部と、前記第２の合成信号に基づいて、前記第１の発光素子、及び前記第２の発光素子を発光させる発光制御部とを有する電子機器である。
　本開示の第１の側面によれば、画像の表示用に用いられる第１の発光素子を発光させるための画像信号と、輝度の計測用に用いられる第２の発光素子を発光させるためのダミー画素信号とにより構成される第1の合成信号が生成され、生成された前記第1の合成信号が、前記第1の発光素子及び前記第２の発光素子のうち、前記第１の発光素子のみを前記第１の発光素子の劣化の程度に拘らず、同一の輝度で発光させるための第２の合成信号に変換され、前記第２の合成信号に基づいて、前記第１の発光素子、及び前記第２の発光素子が発光される。
　本開示の第２の側面の信号処理装置は、画像の表示用に用いられる第１の発光素子を発光させるための画像信号と、輝度の計測用に用いられる第２の発光素子を発光させるためのダミー画素信号とにより構成される第１の合成信号を生成する信号合成部と、生成された前記第1の合成信号を、前記第1の発光素子及び前記第２の発光素子のうち、前記第１の発光素子のみに流れる電流量を、前記第１の発光素子の発光時間に応じて増加させる第２の合成信号に変換する変換部と、前記第２の合成信号に基づいて、前記第１の発光素子、及び前記第２の発光素子を発光させる発光制御部とを含む信号処理装置である。
　本開示の第２の側面によれば、画像の表示用に用いられる第１の発光素子を発光させるための画像信号と、輝度の計測用に用いられる第２の発光素子を発光させるためのダミー画素信号とにより構成される第１の合成信号が生成され、生成された前記第1の合成信号が、前記第1の発光素子及び前記第２の発光素子のうち、前記第１の発光素子のみに流れる電流量を前記第１の発光素子の発光時間に応じて増加させる第２の合成信号に変換され、前記第２の合成信号に基づいて、前記第１の発光素子、及び前記第２の発光素子が発光される。
　本開示によれば、表示画面に生じる焼付きを防止することが可能となる。
第１の実施の形態である表示装置の構成例を示すブロック図である。 図１の信号合成部が行う合成処理の一例を示す図である。 合成処理により得られる合成画像の一例を示す図である。 表示画面に生じる焼付きについて説明するための第１の図である。 表示画面に生じる焼付きについて説明するための第２の図である。 図１の焼付補正部の詳細な構成例を示すブロック図である。 図６の傾き補正部の詳細な構成例を示すブロック図である。 輝度劣化曲線の一例を示す図である。 注目素子の最新の傾きを算出するときの一例を示す図である。 輝度劣化曲線を推定するときの一例を示す図である。 図６の階調補正部の詳細な構成例を示すブロック図である。 オフセット量を算出するときの一例を示す図である。 図１の表示部の正面図である。 図１の表示部の詳細な構成例を示すブロック図である。 図１４の画素回路が発光する色の配列の一例を示すブロック図である。 図１４の画素回路の詳細な構成例を示す図である。 図１４の画素回路の動作を説明するためのタイミングチャートである。 図１の表示装置が行う表示処理を説明するためのフローチャートである。 図１８のステップＳ５における傾き補正処理の詳細を説明するためのフローチャートである。 図１８のステップＳ６における階調補正処理の詳細を説明するためのフローチャートである。 図１８のステップＳ１１における劣化曲線推定処理の詳細を説明するためのフローチャートである。 第２の実施の形態である表示装置の構成例を示すブロック図である。 図２２の焼付補正部の詳細な構成例を示すブロック図である。 図２３の傾き補正部の詳細な構成例を示すブロック図である。 図２４の補正量生成部が行う処理を説明するための図である。 図２３の階調補正部の詳細な構成例を示すブロック図である。 図２２の表示装置が行う表示処理を説明するためのフローチャートである。 図２７のステップＳ９４における傾き補正処理の詳細を説明するためのフローチャートである。 図２７のステップＳ９６における階調補正処理の詳細を説明するためのフローチャートである。 第３の実施の形態である表示装置の構成例を示すブロック図である。 図３０の焼付補正部の詳細な構成例を示すブロック図である。 オフセット量を算出するときの一例を示す他の図である。 図３０の表示装置が行う表示処理を説明するためのフローチャートである。 第４の実施の形態である表示装置の構成例を示すブロック図である。 図３４の焼付補正部の詳細な構成例を示すブロック図である。 温度センサからの温度も用いる理由について説明するための図である。 図３５の傾き補正部の詳細な構成例を示すブロック図である。 輝度劣化曲線の一例を示す他の図である。 図３７の劣化曲線推定部が、輝度劣化曲線を推定する推定方法の一例を説明するための第１の図である。 図３７の劣化曲線推定部が、輝度劣化曲線を推定する推定方法の一例を説明するための第２の図である。 図３４の表示装置が行う表示処理を説明するためのフローチャートである。 図４１のステップＳ１９６における傾き補正処理を説明するためのフローチャートである。 図４１のステップＳ２０２における劣化曲線推定処理を説明するためのフローチャートである。 第５の実施の形態である表示装置の構成例を示すブロック図である。 図４４の信号合成部が行う合成処理の一例を示す図である。 合成処理により得られる合成画像の一例を示す図である。 有機EL素子を発光させる様子の一例を示す図である。 有機EL素子を発光させる様子の一例を示す他の図である。 ３個のデータドライバが設けられている場合の一例を示す図である。 ４個のデータドライバが設けられている場合の一例を示す図である。 図４４の表示部の正面図である。 図４４の表示装置が行う表示処理を説明するためのフローチャートである。 テレビジョン受像機の一例を示す図である。 コンピュータの構成例を示すブロック図である。
　以下、本開示における実施の形態（以下、実施の形態という）について説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
　１．第１の実施の形態（画像信号に対してのみ、焼付補正処理を行うときの一例）
　２．第２の実施の形態（傾き補正処理後の画像信号を用いて、補正量及びオフセット量を算出するときの一例）
　３．第３の実施の形態（ガンマ特性を有する画像信号に対して、階調補正処理を行うときの一例）
　４．第４の実施の形態（有機EL素子の温度の変化にも基づいて、輝度劣化曲線を推定するときの一例）
　５．第５の実施の形態（表示画像の上側又は下側に、ダミー画像を合成するときの一例）
　６．変形例
＜１．第１の実施の形態＞
[表示装置１の構成例]
　図１は、第１の実施の形態である表示装置１の構成例を示している。
　この表示装置１は、ダミー画素信号生成部２１、信号合成部２２、焼付補正部２３、データドライバ２４、表示部２５、及び制御部２６から構成される。
　ここで、表示部２５は、例えば、発光素子として有機EL(electro luminescent)素子を用いたアクティブマトリクス型のディスプレイである。表示部２５は、外部（例えば、アンテナなど）からの画像信号に対応する表示画像を表示させるための表示画面２５aを有している。
　また、表示部２５は、表示画面２５aに表示画像を表示させるために発光する有機EL素子（以下、表示用の有機EL素子という）を内蔵している。表示用の有機EL素子は、図１５を参照して後述するが、表示画像の副画素（サブピクセル）として発光する。
　さらに、表示部２５は、輝度センサ２５bにより輝度を計測させるために発光する有機EL素子（以下、計測用の有機EL素子という）、及び計測用の有機EL素子の輝度を計測する輝度センサ２５bを内蔵している。なお、計測用の有機EL素子から発光される光は、表示部２５の外部に漏れないようになっている。
　ダミー画素信号生成部２１は、表示部２５に内蔵された計測用の有機EL素子を発光させるためのダミー画素信号を生成し、信号合成部２２に供給する。
　信号合成部２２には、外部から、表示用の有機EL素子を発光させるための画像信号が供給される。
　信号合成部２２は、外部からの画像信号と、ダミー画素信号生成部２１からのダミー画素信号を合成し、その結果得られる合成信号を、焼付補正部２３に供給する。
　次に、図２は、信号合成部２２が、画像信号とダミー画素信号とを合成する合成処理の一例を示している。
　図２左側には、画像信号に応じて、表示部２５に含まれる表示用の有機EL素子が発光することにより、表示画面２５aに表示される表示画像４１の一例を示している。
　また、図２右側には、ダミー画素信号に応じて、表示部２５に含まれる計測用の有機EL素子が発光することにより得られるダミー画像４２の一例を示している。なお、ダミー画像４２は、表示画面２５aには表示されず、輝度センサ２５bによる輝度の計測にのみ用いられる。
　信号合成部２２は、例えば、図２に示されるように、表示画像４１の右側に、ダミー画像４２が配置されるように、画像信号とダミー画素信号を合成する。
　これにより、信号合成部２２は、画像信号とダミー画素信号を合成することにより、図３に示されるような合成画像４３を表す合成信号を生成し、焼付補正部２３に供給する。
　なお、信号合成部２２は、表示画像４１の左側に、ダミー画像４２が配置されるように、画像信号とダミー画素信号を合成するようにしてもよい。この場合、表示部２５において、輝度センサ２５bは、表示画面２５aの左側に設けられる。
　焼付補正部２３は、信号合成部２２からの合成信号に含まれる画像信号（表示画像４１）を補正することにより、表示部２５の表示画面２５aに生じる焼付きを防止する焼付補正処理を行う。なお、表示画面２５aに生じる焼付きについては、図４及び図５を参照して詳述する。
　すなわち、例えば、焼付補正部２３は、輝度センサ２５bからの計測結果に基づいて、画像信号に対して焼付補正処理を施し、焼付補正処理後の画像信号を含む合成信号を、データドライバ２４に供給する。なお、焼付補正部２３の詳細は、図６を参照して詳述する。
　データドライバ２４は、焼付補正部２３からの合成信号をAD(analog/digital)変換し、AD変換後の合成信号を、表示部２５に供給する。
　表示部２５は、データドライバ２４からの合成信号に含まれる画像信号に基づいて、表示用の有機EL素子を発光させる。これにより、表示画面２５aには、画像信号としての表示画像４１が表示される。
　また、表示部２５は、データドライバ２４からの合成信号に含まれるダミー画素信号に基づいて、計測用の有機EL素子を発光させる。
　輝度センサ２５bは、計測用の有機EL素子の傍に設けられており、計測用の有機EL素子の輝度を計測し、その計測結果を、焼付補正部２３に供給する。
　なお、表示部２５の詳細は、図１３乃至図１７を参照して詳述する。
　制御部２６は、ダミー画素信号生成部２１、信号合成部２２、焼付補正部２３、データドライバ２４、表示部２５、及び輝度センサ２５bを制御する。
　ところで、表示用の有機EL素子は、データドライバ２４から表示部２５に入力される画像信号に応じた輝度Lで発光する。
　すなわち、例えば、表示用の有機EL素子は、画像信号が表す信号電位Vsigに応じた電流Iが流れることにより、輝度Lで発光する。
　ここで、輝度Lは、有機EL素子に流れる電流Iと、電流Iを輝度Lに変換する変換効率(輝度効率)を表す傾きαを用いて、次式（１）により表される。
　L=α×I　　　　　　　・・・（１）
　なお、傾きαは、有機EL素子に応じて予め決まっており、有機EL素子は、傾きαが大きい程に、電流Iを効率的に輝度Lに変換することができる。
　また、輝度Lは、画像信号が表す信号電位Vsigを用いて、次式（２）により表すようにすることができる。
　L=α×β1×Vsig2 　　　　　・・・（２）
　なお、α×β1は、信号電位Vsig2を輝度Lに変換する際の変換効率を表す。
　さらに、輝度Lは、電流Iに対応する階調kと傾きαを用いて、次式（３）により表すことができる。
　L=α×β2×k2.2　　　　　・・・（３）
　なお、α×β2は、k2.2を輝度Lに変換する際の変換効率を表す。
　ところで、計測用の有機EL素子は、表示用の有機EL素子と同様に構成されており、計測用の有機EL素子は、データドライバ２４から表示部２５に入力されるダミー画素信号に応じた輝度で発光する。
　計測用の有機EL素子の輝度は、ダミー画素信号が表す信号電位をVsigと置けば、表示用の有機ELの輝度Lと同様に、上述した式（１）乃至（３）により表すことができる。このため、表示用の有機EL素子の輝度Lのみを説明し、計測用の有機EL素子の輝度の説明を省略するようにしている。
　表示用の有機EL素子においては、電流Iが同一であるにも拘らず、時間の経過に応じた有機EL素子の劣化により、輝度Lが低下してしまう。低下後の輝度L'は、式（１）に対応する次式（４）により表すことができる。
　L'=α'×I　　　　・・・（４）
　すなわち、例えば、表示用の有機EL素子に流す電流の大きさや、電流が流れた時間の長さに応じて、表示用の有機EL素子が劣化する。そして、表示用の有機EL素子の劣化に応じて、式（４）に示されるように、傾きαが傾きα'(<α)に低下する変換効率（傾き）の劣化が生じ得る。
　表示用の有機EL素子は、有機EL素子に流す電流の大きさ、及び電流が流れた時間に比例して劣化する。そして、傾きαは、表示用の有機EL素子の劣化が大きい程に、より小さな傾きα'に低下する。
　なお、変換効率の劣化は、式（２）に対応する次式（５）に示されるように、信号電位Vsigについての式で表すことができる。
　L'=α'×β1×Vsig2 ・・・（５）
　また、変換効率の劣化は、式（３）に対応する次式（６）に示されるように、階調kについての式で表すことができる。
　L'=α'×β2×ｋ2.2・・・（６）
　さらに、例えば、表示用の有機EL素子においては、表示用の有機EL素子の劣化に応じて、表示用の有機EL素子に流れる電流Iが電流I=(I-ΔI)に低下する電流の劣化が生じ得る。
　電流劣化量ΔIは、表示用の有機EL素子に流す電流の大きさ、及び電流が流れた時間に比例して大きくなる。
　なお、電流の劣化は、画像信号の信号電位Vsigが、信号電位Vsig=(Vsig-ΔVsig)に低下することと等価である。また、電流の劣化は、階調kが、階調k=(k-Δk)に低下することと等価と言える。
　表示用の有機EL素子では、上述のように、傾きαが低下する変換効率の劣化と、電流Iが低下する電流の劣化に起因して、輝度Lが輝度L'に低下してしまう。これにより、表示画面２５aには、直前に表示されていた画像が残っているように見える、いわゆる焼付きという現象が生じてしまう。
[焼付きについて]
　次に、図４及び図５を参照して、表示画面２５aに生じる焼付きについて説明する。
　図４は、表示画面２５aの一例を示している。図４の表示画面２５aには、黒色の画像を表す黒色画像６１aが表示され、黒色画像６１aを背景とした白色の文字「BS」（図中、黒丸で囲まれた文字）を表す白色画像６１bが表示されている。
　例えば、表示画面２５aにおいて、表示用の有機EL素子のうち、黒色画像６１aを表示させるために発光する第１の有機EL素子には、電流I1が流れて輝度L1（例えば、輝度値0）で発光する。
　これにより、電流I1の通電により発光した、通電後の第１の有機EL素子には、電流I1の通電に起因して、効率の劣化と電流の劣化が生じる。したがって、効率の劣化と電流の劣化が生じた第１の有機EL素子の輝度L1'は、次式（４'）により表される。
　L1'=α1'×(I-ΔI1)　　　・・・（４'）
　また、例えば、表示画面２５aにおいて、表示用の有機EL素子のうち、白色画像６１bを表示させるために発光する第２の有機EL素子には、電流I2(>I1)が流れて輝度L2(>L1)（例えば、輝度値255）で発光する。
　これにより、電流I2の通電により発光した、通電後の第２の有機EL素子には、電流I2の通電に起因して、効率の劣化と電流の劣化が生じる。したがって、効率の劣化と電流の劣化が生じた第２の有機EL素子の輝度L2'は、次式（４''）により表される。
　L2'=α2'×(I-ΔI2)　　　・・・（４''）
　なお、第１の有機EL素子には、式（４'）に示されるように、第２の有機EL素子に流れる電流I=I2よりも小さな電流I=I1が流れている。
　したがって、第１の有機EL素子に生じる効率の劣化及び電流の劣化は、第２の有機EL素子に生じる効率の劣化及び電流の劣化と比較して小さいものとなっている。
　このため、式（４'）の傾きα1'は、式（４''）の傾きα2'よりも大きく、式（４'）の電流劣化量ΔI1は、式（４''）の電流劣化量ΔI2よりも小さいものとなっている。
　よって、第１の有機EL素子と、第２の有機EL素子とに、それぞれ、同一の電流Iを流すようにした場合、第１の有機EL素子の輝度L1'は、第２の有機EL素子の輝度L2'よりも大きなものとなる。
　次に、図５は、表示画面２５aに、黒色画像６１a及び白色画像６１bを表示した直後に、灰色の画像を表す灰色画像６２aを表示したときの一例を示している。
　図５のAには、灰色画像６２aが示されている。この灰色画像６２aは、複数の画素により構成されており、灰色画像６２aを構成する各画素の輝度が、灰色に対応する同一の輝度とされている。
　図５のBには、黒色画像６１a及び白色画像６１bを表示した直後に、灰色画像６２aを表示させたときの表示画面２５aが示されている。
　灰色画像６２aを表示画面２５aに表示させるために、第１の有機EL素子及び第２の有機EL素子により構成される表示用の有機EL素子には、灰色画像６２aの輝度（灰色に対応する同一の輝度）に対応する同一の電流Iが流れる。
　このため、上述のように、第１の有機EL素子の輝度L1'は、第２の有機EL素子の輝度L2'よりも大きなものとなる。
　したがって、灰色画像６２aを表示画面２５aに表示させるために、第１の有機EL素子は輝度L1'で発光し、第２の有機EL素子は輝度L1'よりも低い輝度L2'で発光する。
　また、第２の有機EL素子は、図４に示したように、白色の文字「BS」を表す白色画像６１bを表示させるために発光していた発光素子である。
　したがって、図５のBに示されるように、表示画面２５aにおける図中右上の部分に、直前に表示されていた文字「BS」が残っているかのように見える焼付きの現象が発生する。
　すなわち、第１の有機EL素子の輝度L1'と、第２の有機EL素子の輝度L2'の輝度差に起因して、表示画面２５a上の、第２の有機EL素子が発光している右上の部分に、直前に表示されていた文字「BS」が残っているかのように見えてしまう。
[焼付補正部２３の詳細]
　次に、図６は、図１の焼付補正部２３の詳細な構成例を示している。
　この焼付補正部２３は、傾き補正部７１、階調補正部７２、検出部７３、及び保持部７４から構成される。
　傾き補正部７１には、信号合成部２２からの合成信号Cn(n=1,2,…)が供給される。ここで、合成信号Cnは、n番目に供給された合成信号（合成画像）を表す。
　傾き補正部７１は、信号合成部２２からの合成信号Cnに含まれる画像信号Snの直前に入力された画像信号Sn-1の信号電位(Vsig)n-1を、保持部７４から読み出す。
　なお、後述するが、保持部７４には、信号合成部２２から傾き補正部７１に供給された合成信号Cn-1に含まれる画像信号Sn-1の信号電位(Vsig)n-1が保持されている。
　傾き補正部７１は、保持部７４から読み出した信号電位(Vsig)n-1と、輝度センサ２５bからの輝度の計測結果に基づいて、効率の劣化により低下した傾きα'を元の傾きαに補正するための補正量±√(α/α')を算出する。
　そして、傾き補正部７１は、信号合成部２２からの合成信号Cnに含まれる画像信号Snの信号電位(Vsig)nに、算出した補正量±√(α/α')を乗算する。傾き補正部７１は、その乗算の結果得られる乗算結果としての信号電位(Vsig')n={±√(α/α')×(Vsig)n}とされた画像信号Snを含む合成信号Cnを、階調補正部７２に供給する。
　階調補正部７２は、保持部７４から、画像信号Snの信号電位(Vsig)nを読み出す。
　また、階調補正部７２は、保持部７４から読み出した信号電位(Vsig)nと、輝度センサ２５bからの輝度の計測結果に基づいて、電流の劣化により低下した階調(k-Δk)を元の階調kに補正するためのオフセット量Δkに対応する(ΔVsig)nを算出する。
　そして、階調補正部７２は、傾き補正部７１からの合成信号Cnに含まれる画像信号Snの信号電位(Vsig')n={±√(α/α')×(Vsig)n}の(Vsig)nに、オフセット量Δkに対応する(ΔVsig)nを加算する。
　階調補正部７２は、その加算の結果得られる加算結果としての信号電位(Vsig'')n=[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n}]とされた画像信号Snを含む合成信号Cnを、データドライバ２４に供給する。
　なお、効率の劣化や電流の劣化が進むほどに、階調補正部７２からデータドライバ２４に出力される信号電位(Vsig'')nの絶対値は大きなものとなる。
　また、上述した式（４）及び式（５）から、I=β1×Vsig2が導出され、表示用の有機EL素子に流れる電流I（電流量）は、信号電位(Vsig'')nの大きさ（絶対値）に応じて増加する。
　したがって、表示用の有機EL素子に流れる電流Iは、効率の劣化や電流の劣化が進むほどに増加するものとなる。
　ここで、信号電位(Vsig'')n=電位[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n}]において、電流の劣化による電流劣化量(ΔVsig)nを考慮すれば、表示用の有機EL素子を内蔵する画素回路１８４（図１４）に印加される信号電位(Vsig''')nは、[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n-(ΔVsig)n}]=[±√(α/α')×(Vsig)n]となる。
　そして、その信号電位(Vsig''')n=[±√(α/α')×(Vsig)n]を、式（５）の信号電位Vsigに代入すれば、L'=α'×β1×[±√(α/α')×{(Vsig)n}]2=α'×β1×(α/α')×{(Vsig)n}2=α×β1×{(Vsig)n}2となる。また、式（５）及び式（６）より、L'=α×β1×{(Vsig)n}2=α×β2×{kn}2となる。
　よって、階調補正部７２からデータドライバ２４に出力される画像信号Snは、確かに、傾きα'が元の傾きαに補正され、階調(kn-Δkn)が元の階調knに補正されたものとなる。
　検出部７３は、信号合成部２２からの合成信号Cnに含まれる画像信号Snに基づいて、画像信号Snの信号電位(Vsig)nを検出し、保持部７４に供給して保持させる。
　保持部７４は、検出部７３からの信号電位(Vsig)nを保持する。
[傾き補正部７１の詳細]
　次に、図７は、図６の傾き補正部７１の詳細な構成例を示している。
　この傾き補正部７１は、補正量生成部１０１、補正量乗算部１０２、傾き保持部１０３、劣化曲線保持部１０４、及び劣化曲線推定部１０５から構成される。
　なお、図１の制御部２６は、表示用の有機EL素子に順次注目し、注目している有機EL素子を、注目素子とする。
　補正量生成部１０１は、傾き保持部１０３から、前回の補正量の生成時、つまり、画像信号Sn-1の補正量の生成時に算出した注目素子の傾きα'を読み出す。
　後述するが、傾き保持部１０３には、補正量生成部１０１により算出された注目素子の傾きα'が保持される。
　また、補正量生成部１０１は、保持部７４から、画像信号Sn-1が表す信号電位(Vsig)n-1であって、注目素子を内蔵する画素回路１８４に印加される信号電位(Vsig)n-1（以下、単に、注目素子の信号電位(Vsig)n-1という）を読み出す。
　補正量生成部１０１は、保持部７４から読み出した注目素子の信号電位(Vsig)n-1に基づいて、注目素子に流れていた電流In-1を算出する。
　そして、補正量生成部１０１は、劣化曲線保持部１０４に保持されている複数の輝度劣化曲線のうち、注目素子に流れていた電流In-1に対応付けられた輝度劣化曲線を、劣化曲線保持部１０４から読み出す。
　補正量生成部１０１は、傾き保持部１０３から読み出した傾きα'と、劣化曲線保持部１０４から読み出した輝度劣化曲線に基づいて、注目素子における最新の傾きα'を算出する。
　そして、補正量生成部１０１は、最新の傾きα'を、傾き保持部１０３に供給して、注目素子の傾きα'として、上書きにより保持（記憶）させる。
　また、補正量生成部１０１は、注目素子における最新の傾きα'に基づいて、補正量±√(α/α')を生成（算出）し、補正量乗算部１０２に供給する。なお、補正量生成部１０１が補正量を生成する方法は、図８及び図９を参照して詳述する。
　補正量乗算部１０２は、信号合成部２２からの合成信号Cnに含まれる画像信号Snが表す、表示用の有機EL素子毎の信号電位(Vsig)nのうち、注目素子の信号電位(Vsig)nに対して、補正量生成部１０１からの補正量±√(α/α')を乗算する。
　なお、画像信号Snは、表示用の有機EL素子を内蔵する画素回路にそれぞれ印加させる信号電位(Vsig)nを表す。
　補正量乗算部１０２は、その乗算により得られる、傾きα'を補正後の信号電位{±√(α/α')×(Vsig)n}を、注目素子の信号電位(Vsig')nとして、階調補正部７２に供給する。
　傾き保持部１０３は、補正量生成部１０１から供給される注目素子の傾きα'を保持する。なお、傾き保持部１０３は、予め、表示用の有機EL素子としての注目素子の傾きα（低下前の傾きα）を保持しているものとする。　
　したがって、傾き保持部１０３に保持されている傾きαが、上書きにより更新されるまでは、補正量生成部１０１は、傾き保持部１０３から、注目素子の傾きα'=αを読み出すこととなる。
　劣化曲線保持部１０４は、劣化曲線推定部１０５からの輝度劣化曲線を保持する。
　劣化曲線推定部１０５は、図示せぬメモリを内蔵しており、そのメモリには、傾きが低下する程度を表す輝度劣化曲線を推定する際に基準となる輝度劣化基準曲線が予め保持されている。
　この輝度劣化基準曲線は、複数の表示装置１にそれぞれ内蔵されるような複数の有機EL素子において、平均的な輝度劣化曲線を表す。また、輝度劣化基準曲線は、有機EL素子を用いた実験結果などに基づいて予め作成される。これらのことは、後述する実施の形態でも同様である。
　劣化曲線推定部１０５は、輝度センサ２５bからの輝度の計測結果と、図示せぬメモリに予め保持された輝度劣化基準曲線に基づいて、効率の劣化による、表示用の有機EL素子の輝度の低下を表す輝度劣化曲線を推定する。
　なお、劣化曲線推定部１０５が、表示部２５に内蔵された表示用の有機EL素子の輝度劣化曲線を推定するようにしているのは、表示装置１毎に、表示部２５に内蔵される有機EL素子の輝度劣化曲線にばらつきがあることによる。
　劣化曲線推定部１０５は、その推定の結果得られる輝度劣化曲線を、劣化曲線保持部１０４に供給して保持させる。
　なお、劣化曲線推定部１０５が輝度劣化曲線を推定する方法は、図１０を参照して詳述する。
[補正量生成部１０１が行う補正量の生成]
　次に、図８及び図９を参照して、補正量生成部１０１が、補正量を生成するときの一例を説明する。
　図８は、劣化曲線推定部１０５により推定され、劣化曲線保持部１０４に保持されている輝度劣化曲線の一例を示している。
　なお、図８において、横軸は時間を表し、縦軸は時間の経過に応じて低下する傾きを表す。
　図８において、輝度劣化曲線１２０は、傾きがαであるときに100nitに相当する輝度Lで有機EL素子を発光させるための電流I(L=100nit)を、有機EL素子に流したときの傾きの低下の程度を表す。
　また、輝度劣化曲線１２１は、傾きがαであるときに200nitに相当する輝度Lで有機EL素子を発光させるための電流I(L=200nit)を、有機EL素子に流したときの傾きの低下の程度を表す。
　さらに、輝度劣化曲線１２２は、傾きがαであるときに400nitに相当する輝度Lで有機EL素子を発光させるための電流I(L=400nit)を、有機EL素子に流したときの傾きの低下の程度を表す。
　ここで、単位[nit]とは、１平方メートルの平面である光源（有機EL素子）の光度が、その平面と垂直な方向において1cd（カンデラ）であるときの、その方向における輝度を表す。
　補正量生成部１０１は、保持部７４から読み出した注目素子の信号電位(Vsig)n-1に基づいて、注目素子に流れていた電流In-1を算出する。そして、補正量生成部１０１は、劣化曲線保持部１０４に保持されている複数の輝度劣化曲線のうち（例えば、輝度劣化曲線１２０乃至１２２）、算出した電流In-1に対応する輝度劣化曲線を、劣化曲線保持部１０４から読み出す。
　すなわち、例えば、補正量生成部１０１は、算出した電流In-1が、電流I(L=200nit)である場合、電流I(L=200nit)に対応する輝度劣化曲線１２１を、劣化曲線保持部１０４から読み出す。
　また、補正量生成部１０は、傾き保持部１０３から、注目素子の傾きα'を読み出す。
　そして、補正量生成部１０１は、傾き保持部１０３から読み出した注目素子の傾きα'と、劣化曲線保持部１０４から読み出した輝度劣化曲線１２１に基づいて、注目素子の最新の傾きα'を算出する。
　次に、図９は、補正量生成部１０１が、傾き保持部１０３から読み出した注目素子の傾きα'と、劣化曲線保持部１０４から読み出した輝度劣化曲線１２１に基づいて、注目素子の最新の傾きα'を算出するときの一例を示している。
　例えば、補正量生成部１０１は、傾き保持部１０３から読み出した注目素子の傾きα'=αと、注目素子に電流In-1=I(L=200nit)を流した時間t1に基づいて、劣化曲線保持部１０４から読み出した輝度劣化曲線１２１を用いて、注目素子の最新の傾きα'を算出する。
　すなわち、例えば、補正量生成部１０１は、補正対象の画像信号Snにおける注目素子の傾きα'が点P0に対応するP0(α')=αである場合、輝度劣化曲線１２１上の点P0を、注目素子に電流In-1=I(L=200nit)を流した時間t1の経過後の点P1に移動させる。
　そして、補正量生成部１０１は、輝度劣化曲線１２１上の点P1に対応する傾きP1(α')=α1'を、注目素子の最新の傾きα'=α1'として算出する。この傾きα1'は、注目素子の傾きα'=αである状態から、注目素子に時間t1だけ電流In-1=I(L=200nit)を流したときの傾き、つまり、電流In-1の通電により劣化後の傾きα'=α1'を表す。
　補正量生成部１０１は、注目素子の最新の傾きα'=P1(α')=α1'を、傾き保持部１０３に供給して、上書きにより保持（記憶）させる。
　また、補正量生成部１０１は、注目素子の最新の傾きα'=α1'に基づいて、補正量±√(α/α')を生成（算出）し、補正量乗算部１０２に供給する。
　そして、補正量乗算部１０２は、補正量生成部１０１からの補正量±√(α/α')を、注目素子の信号電位(Vsig)nに乗算することにより、注目素子の傾きα'=α1'を元の傾きαに補正する。
　図１の制御部２６は、表示用の有機EL素子の全てを注目素子とすることにより、傾き補正部７１において、画像信号Snによりそれぞれ表される、表示用の有機EL素子毎の信号電位(Vsig)nを、信号電位(Vsig')nに変換する処理が行われる。
　信号合成部２２から傾き補正部７１に対して、次の画像信号Sn+1が供給されると、図１の制御部２６は、再度、表示用の有機EL素子に順次注目し、注目している有機EL素子を、注目素子とする。
　この場合、補正量生成部１０１は、保持部７４から、注目素子の信号電位(Vsig)nを読み出す。そして、補正量生成部１０１は、保持部７４から読み出した注目素子の信号電位(Vsig)nに基づいて、注目素子に流れていた電流Inを算出する。
　そして、補正量生成部１０１は、劣化曲線保持部１０４に保持されている複数の輝度劣化曲線のうち、算出した電流Inに対応する輝度劣化曲線を、劣化曲線保持部１０４から読み出す。
　すなわち、例えば、補正量生成部１０１は、算出した電流Inが、電流I(L=200nit)である場合、電流I(L=200nit)に対応する輝度劣化曲線１２１を、劣化曲線保持部１０４から読み出す。
　また、補正量生成部１０１は、傾き保持部１０３から、注目素子の傾きα'=α1'を読み出す。
　そして、補正量生成部１０１は、傾き保持部１０３から読み出した注目素子の傾きα'=α1'と、劣化曲線保持部１０４から読み出した輝度劣化曲線１２１に基づいて、注目素子の最新の傾きα'=α2'を算出する。
　すなわち、例えば、補正量生成部１０１は、補正前の傾きα'が点P1に対応するP1(α')=α1'である場合、輝度劣化曲線１２１上の点P1を、注目素子に電流In=I(L=200nit)を流した時間t2の経過後の点P2に移動させる。
　そして、補正量生成部１０１は、輝度劣化曲線１２１上の点P2に対応する傾きP2(α')=α2'を、注目素子の最新の傾きα'=α2'として算出する。この傾きα2'は、注目素子の傾きα'=α1'である状態から、注目素子に時間t2だけ電流In-1=I(L=200nit)を流したときの傾き、つまり、電流In-1の通電により劣化後の傾きα'=α2'を表す。
　補正量生成部１０１は、注目素子の最新の傾きα'=P2(α')=α2'を、傾き保持部１０３に供給して、上書きにより保持（記憶）させる。
　また、補正量生成部１０１は、注目素子の最新の傾きα'=α2'に基づいて、補正量±√(α/α')を生成（算出）し、補正量乗算部１０２に供給する。
　そして、補正量乗算部１０２は、補正量生成部１０１からの補正量±√(α/α')を、注目素子の信号電位(Vsig)n+1に乗算することにより、注目素子の傾きα'=α2'を元の傾きαに補正する。
　図１の制御部２６は、表示用の有機EL素子の全てを注目素子とすることにより、傾き補正部７１において、画像信号Sn+1によりそれぞれ表される信号電位(Vsig)n+1を、信号電位(Vsig')n+1に変換する処理が行われる。
　信号合成部２２から傾き補正部７１に対して、さらに次の画像信号Sn+2が供給されると、図１の制御部２６は、再び、表示用の有機EL素子に順次注目し、注目している有機EL素子を注目素子とする。
　この場合、補正量生成部１０１は、保持部７４から、注目素子の信号電位(Vsig)n+1を読み出す。そして、補正量生成部１０１は、保持部７４から読み出した注目素子の信号電位(Vsig)n+1に基づいて、注目素子に流れていた電流In+1を算出する。
　そして、補正量生成部１０１は、劣化曲線保持部１０４に保持されている複数の輝度劣化曲線のうち、算出した電流In+1に対応する輝度劣化曲線を、劣化曲線保持部１０４から読み出す。
　すなわち、例えば、補正量生成部１０１は、算出した電流In+1が、電流I(L=400nit)である場合、電流I(L=400nit)に対応する輝度劣化曲線１２２を、劣化曲線保持部１０４から読み出す。
　また、補正量生成部１０１は、傾き保持部１０３から、注目素子の傾きα'=α2'を読み出す。
　そして、補正量生成部１０１は、傾き保持部１０３から読み出した注目素子の傾きα'=α2'と、劣化曲線保持部１０４から読み出した輝度劣化曲線１２２に基づいて、注目素子の最新の傾きα'=α3'を算出する。
　すなわち、例えば、補正量生成部１０１は、注目素子の傾きα'が点P2に対応するP2(α')=α2'である場合、傾きα2'に対応する、輝度劣化曲線１２２上の点P1'を、注目素子に電流In+1=I(L=400nit)を流した時間t3の経過後の点P2'に移動させる。
　そして、補正量生成部１０１は、輝度劣化曲線１２２上の点P2'に対応する傾きP2(α')=α3'を、注目素子の最新の傾きα'=α3'として算出する。この傾きα3'は、注目素子の傾きα'=α2'である状態から、注目素子に時間t3だけ電流In+1=I(L=400nit)を流したときの傾き、つまり、電流In+1の通電により劣化後の傾きα'=α3'を表す。
　補正量生成部１０１は、注目素子の最新の傾きα'=P2'(α')=α3'を、傾き保持部１０３に供給して、上書きにより保持（記憶）させる。
　また、補正量生成部１０１は、注目素子の最新の傾きα'=α3'に基づいて、補正量±√(α/α')を生成（算出）し、補正量乗算部１０２に供給する。
　そして、補正量乗算部１０２では、補正量生成部１０１からの補正量±√(α/α')を、注目素子の信号電位(Vsig)n+2に乗算することにより、注目素子の傾きα'=α3'を元の傾きαに補正する。
　なお、傾き補正部７１の補正量乗算部１０２は、補正量生成部１０１からの補正量に基づいて、合成信号Cnに含まれる画像信号Snのみを補正するようにしている。
　しかしながら、その他、例えば、補正量乗算部１０２は、合成信号Cnに含まれるダミー画素信号も、画像信号Snと同様に補正するようにしてもよい。
　但し、この場合、補正量生成部１０１において生成される、ダミー画素信号用の補正量は、傾き補正部７１において実質的に傾きの補正を行わない補正量（例えば値１など）とされる。
　このため、補正量乗算部１０２は、補正量生成部１０１からの、ダミー画素信号用の補正量に基づいて、合成信号Cnに含まれるダミー画素信号を補正し、補正後のダミー画素信号として、補正前と同一のダミー画素信号を、階調補正部７２に供給する。
[輝度劣化曲線の推定方法について]
　次に、図１０は、劣化曲線推定部１０５が、輝度センサ２５bからの輝度の計測結果に基づいて、輝度劣化曲線を推定するときの一例を示している。
　図１０において、横軸は時間を表し、縦軸は傾きを表す。
　最初に、劣化曲線推定部１０５において、電流I(L=200nit)が流される計測用の有機EL素子の輝度の低下を表す輝度劣化曲線１２１を推定する方法を説明する。
　なお、この輝度劣化曲線１２１は、表示用の有機EL素子の輝度の低下を表すものとして、補正量生成部１０１による補正量の生成時に用いられる。これは、計測用の有機EL素子が、表示用の有機EL素子と同様の環境下で製造されたものであり、表示用の有機EL素子と同様の性質を有していることによる。
　劣化曲線推定部１０５には、例えば、輝度センサ２５bから、電流I(L=200nit)が流される計測用の有機EL素子の輝度を計測して得られた輝度L(t,I(L=200nit))が供給される。
　ここで、輝度L(t,I(L=200nit))とは、輝度センサ２５bによる計測の開始から時間tの経過時に計測された輝度を表す。
　劣化曲線推定部１０５は、図示せぬ内蔵するメモリに予め保持している電流の値I(L=200nit)と、輝度センサ２５bからの計測結果L(t,I(L=200nit))に基づいて、式（４）に基づき導出される式α(t,I(L=200nit))'=L(t,I(L=200nit))/I(L=200nit)により、時間tに対する傾きα(t,I(L=200nit))'を算出する。
　また、劣化曲線推定部１０５は、図示せぬ内蔵のメモリに、輝度劣化基準曲線１４１を予め保持している。この輝度劣化基準曲線１４１は、電流I(L=200nit)が流される有機EL素子の輝度の低下を表す平均的な輝度劣化曲線であり、例えば輝度劣化曲線１２１を推定する際の基準とされる。
　なお、輝度劣化基準曲線１４１は、表示部２５に内蔵されるものとして想定される任意の有機EL素子の輝度を計測した計測結果に基づいて予め生成され、劣化曲線推定部１０５の図示せぬ内蔵のメモリに保持される。このことは、後述する他の輝度劣化基準曲線についても同様である。
　劣化曲線推定部１０５は、算出した傾きα(t,I(L=200nit))'と、予め保持している輝度劣化基準曲線１４１に基づいて、電流I(L=200nit)を流したときの計測用の有機EL素子についての輝度劣化曲線１２１を推定する。
　すなわち、例えば、劣化曲線推定部１０５は、図１０に示されるように、傾きα(0,I(L=200nit))'=αが得られたときから、傾きα(T,I(L=200nit))'が得られるまでの時間Δt1'を算出する。
　また、例えば、劣化曲線推定部１０５は、図１０に示されるように、輝度劣化基準曲線１４１において、傾きα(0,I(L=200nit))'=αが得られたときから、傾きα(T,I(L=200nit))'が得られるまでの時間Δt1を算出する。
　さらに、劣化曲線推定部１０５は、算出した時間Δt1'と時間Δt1に基づいて、輝度劣化基準曲線１４１に対する傾きα(t,I(L=200nit))'の低下の速さを表す加速係数Δt1'/Δt1を算出する。
　劣化曲線推定部１０５は、算出した加速係数Δt1'/Δt1を、輝度劣化基準曲線１４１を表す式A(t,I(L=200nit))に乗算することにより、輝度劣化曲線１２１を推定し、劣化曲線保持部１０４に供給して保持させる。
　すなわち、例えば、劣化曲線推定部１０５は、その乗算により得られる新たな式(Δt1'/Δt1)×A(t,I(L=200nit))を表す輝度劣化曲線１２１を、電流I(L=200nit)の値に対応付けた形で、劣化曲線保持部１０４に供給して保持させる。
　次に、劣化曲線推定部１０５において、電流I(L=400nit)が流される計測用の有機EL素子の輝度の低下を表す輝度劣化曲線１２２を推定する方法を説明する。なお、この輝度劣化曲線１２２は、表示用の有機EL素子の輝度の低下を表すものとして、補正量生成部１０１による補正量の生成時に用いられる。
　劣化曲線推定部１０５には、例えば、輝度センサ２５bから、電流I(L=400nit)が流される計測用の有機EL素子の輝度を計測して得られた輝度L(t,I(L=400nit))が供給される。
　ここで、輝度L(t,I(L=400nit))とは、輝度センサ２５bによる計測の開始から時間tの経過時に得られた輝度を表す。
　劣化曲線推定部１０５は、図示せぬ内蔵するメモリに予め保持している電流の値I(L=400nit)と、輝度センサ２５bからの計測結果L(t,I(L=400nit))に基づいて、式（４）に基づき導出される式α(t,I(L=400nit))'=L(t,I(L=400nit))/I(L=400nit)により、時間tに対する傾きα(t,I(L=400nit))'を算出する。
　また、劣化曲線推定部１０５は、図示せぬ内蔵のメモリに、輝度劣化基準曲線１４２を予め保持している。この輝度劣化基準曲線１４２は、電流I(L=400nit)が流される有機EL素子の輝度の低下を表す平均的な輝度劣化曲線であり、例えば輝度劣化曲線１２２を推定する際の基準とされる。
　劣化曲線推定部１０５は、算出した傾きα(t,I(L=400nit))'と、予め保持している輝度劣化基準曲線１４２に基づいて、電流I(L=400nit)を流したときの計測用の有機EL素子についての輝度劣化曲線１２２を推定する。
　すなわち、例えば、劣化曲線推定部１０５は、図１０に示されるように、傾きα(0,I(L=400nit))'=αが得られたときから、傾きα(T,I(L=400nit))'が得られるまでの時間Δt2'を算出する。
　また、例えば、劣化曲線推定部１０５は、図１０に示されるように、輝度劣化基準曲線１４２において、傾きα(0,I(L=400nit))'=αが得られたときから、傾きα(T,I(L=400nit))'が得られるまでの時間Δt2を算出する。
　さらに、劣化曲線推定部１０５は、算出した時間Δt2'と時間Δt2に基づいて、輝度劣化基準曲線１４２に対する傾きα(t,I(L=400nit))'の低下の速さを表す加速係数Δt2'/Δt2を算出する。
　劣化曲線推定部１０５は、算出した加速係数Δt2'/Δt2を、輝度劣化基準曲線１４２を表す式A(t,I(L=400nit))に乗算することにより、輝度劣化曲線１２２を推定し、劣化曲線保持部１０４に供給して保持させる。
　すなわち、例えば、劣化曲線推定部１０５は、その乗算により得られる新たな式(Δt2'/Δt2)×A(t,I(L=400nit))を表す輝度劣化曲線１２２を、電流I(L=400nit)の値に対応付けた形で、劣化曲線保持部１０４に供給して保持させる。
　なお、劣化曲線推定部１０５は、図示せぬ内蔵のメモリに、複数の輝度劣化基準曲線（例えば、輝度劣化基準曲線１４１,１４２など）を予め保持するようにしている。
　しかしながら、劣化曲線推定部１０５が、複数の異なる電流I(L=Xnit)(Xは任意の正の整数)毎に、電流I(L=Xnit)が流れる計測用の有機EL素子についての輝度劣化曲線を推定する場合、複数の異なる電流I(L=Xnit)の数だけ、対応する輝度劣化基準曲線を、内蔵するメモリに保持する必要がある。
　この場合、輝度劣化基準曲線の数に応じて、メモリの記憶容量を増やさなければならない。
　したがって、劣化曲線推定部１０５では、複数の輝度劣化基準曲線のいずれか１つの輝度劣化基準曲線を、いずれの輝度劣化曲線を推定する場合にも使用可能なマスターカーブとして保持して、メモリの記憶容量を節約するようにしてもよい。
　すなわち、例えば、劣化曲線推定部１０５の図示せぬメモリおいて、輝度劣化基準曲線１４２をマスターカーブとして保持するようにした場合、輝度劣化曲線１２１は、以下のようにして推定される。
　劣化曲線推定部１０５は、上述したようにして算出した傾きα(t,I(L=200nit))'と、予め保持しているマスターカーブとしての輝度劣化基準曲線１４２に基づいて、電流I(L=200nit)を流したときの計測用の有機EL素子についての輝度劣化曲線１２１を推定する。
　すなわち、例えば、劣化曲線推定部１０５は、図１０に示されるように、傾きα(0,I(L=200nit))'=αが得られたときから、傾きα(T,I(L=200nit))'が得られるまでの時間Δt1'を算出する。
　また、例えば、劣化曲線推定部１０５は、図１０に示されるように、マスターカーブとしての輝度劣化基準曲線１４２において、傾きα(0,I(L=200nit))'=αが得られたときから、傾きα(T,I(L=200nit))'が得られるまでの時間Δt3を算出する。
　さらに、劣化曲線推定部１０５は、算出した時間Δt1'と時間Δt3に基づいて、輝度劣化基準曲線１４２に対する傾きα(t,I(L=200nit))'の低下の速さを表す加速係数Δt1'/Δt3を算出する。
　劣化曲線推定部１０５は、算出した加速係数Δt1'/Δt3を、マスターカーブとしての輝度劣化基準曲線１４２を表す式A(t,I(L=400nit))に乗算することにより、輝度劣化曲線１２１を推定し、劣化曲線保持部１０４に供給して保持させる。
　すなわち、例えば、劣化曲線推定部１０５は、その乗算により得られる新たな式(Δt1'/Δt3)×A(t,I(L=400nit))を表す輝度劣化曲線１２１を、電流I(L=400nit)の値に対応付けた形で、劣化曲線保持部１０４に供給して保持させる。
　なお、マスターカーブは、輝度劣化基準曲線１４２に限定されず、任意の輝度劣化基準曲線を採用することができる。
[階調補正部の詳細]
　次に、図１１は、図６の階調補正部７２の詳細な構成例を示している。
　この階調補正部７２は、オフセット量算出部１６１及びオフセット補正部１６２から構成される。
　オフセット量算出部１６１には、輝度センサ２５bから、輝度の計測結果が供給される。
　オフセット量算出部１６１は、保持部７４から、注目素子の信号電位(Vsig)nを読み出す。
　そして、オフセット量算出部１６１は、読み出した注目素子の信号電位(Vsig)n、図示せぬメモリに予め保持されているオフセット量算出用情報、及び輝度センサ２５bからの輝度の計測結果に基づいて、注目素子の信号電位(Vsig)nに加算されるオフセット量(ΔVsig)nを算出し、オフセット補正部１６２に供給する。
　なお、オフセット量算出部１６１が、オフセット量を算出する方法は、図１２を参照して詳述する。
　オフセット補正部１６２は、傾き補正部７１からの、注目素子の信号電位(Vsig')n(={±√(α/α')×(Vsig)n})の(Vsig)nと、オフセット量算出部１６１からのオフセット量(ΔVsig)nを加算する。　
　オフセット補正部１６２は、その加算の結果得られる加算結果としての信号電位[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n}]を、注目素子の信号電位(Vsig'')nとして、データドライバ２４に供給する。
　なお、階調補正部７２のオフセット補正部１６２は、オフセット量算出部１６１からのオフセット量に基づいて、合成信号Cnに含まれる画像信号Snのみを補正するようにしている。
　しかしながら、その他、例えば、オフセット補正部１６２は、合成信号Cnに含まれるダミー画素信号も、画像信号Snと同様に補正するようにしてもよい。
　但し、この場合、オフセット量算出部１６１において算出される、ダミー画素信号用のオフセット量は、階調補正部７２において実質的に階調の補正を行わないオフセット量（例えば値０など）とされる。
　このため、オフセット補正部１６２は、オフセット量算出部１６１からの、ダミー画素信号用のオフセット量に基づいて、合成信号Cnに含まれるダミー画素信号を補正し、補正後のダミー画素信号として、補正前と同一のダミー画素信号を、データドライバ２４に供給する。
[オフセット量の算出について]
　次に、図１２は、図１１のオフセット量算出部１６１が、オフセット量を算出するときの一例を示している。
　図１２において、関数f1(Vsig)は、電流の劣化前における、信号電位Vsigと電流Iとの関係を表す関数である。
　この関数f1(Vsig)は、オフセット量算出用情報として、オフセット量算出部１６１の図示せぬメモリに予め保持されているものとする。
　なお、関数f1(Vsig)は、例えば、表示部２５に内蔵されるものとして想定される任意の有機EL素子の輝度を計測した計測結果に基づいて予め生成され、オフセット量算出部１６１の図示せぬ内蔵のメモリに保持される。
　また、関数f1(Vsig)は、表示部２５に含まれる計測用の有機EL素子に電流の劣化が生じる前に得られる、輝度センサ２５bにより計測された計測結果に基づいて、オフセット量算出部１６１が生成して、図示せぬ内蔵のメモリに保持させるようにしてもよい。
　図１２において、関数g1(Vsig)は、電流の劣化後における、信号電位Vsigと電流Iとの関係を表す関数である。
　関数g1(Vsig)は、輝度センサ２５bからの輝度の計測結果に基づいて、オフセット量算出部１６１により生成される。図１２において、横軸はVsigを表し、縦軸は電流（階調）を表す。
　オフセット量算出部１６１は、輝度センサ２５bからの輝度の計測結果に基づいて、例えば最小自乗法等により、関数g1(Vsig)を算出する。
　また、例えば、オフセット量算出部１６１は、保持部７４から、注目素子の信号電位(Vsig)nを読み出す。そして、オフセット量算出部１６１は、読み出した信号電位(Vsig)nに基づいて、電流In=g1((Vsig)n)を算出する。
　さらに、オフセット量算出部１６１は、読み出した注目素子の信号電位(Vsig)n、図示せぬ内蔵のメモリに予め保持されている関数f1(Vsig)、及び算出したIn=g1((Vsig)n)に基づいて、等式In=g((Vsig)n)=f1((Vsig)n-(ΔVsig)n)を生成する。
　そして、オフセット量算出部１６１は、生成した等式In=g1((Vsig)n)=f((Vsig)n-(ΔVsig)n)を、オフセット量(ΔVsig)nについて解くことにより、オフセット量(ΔVsig)nを生成し、オフセット補正部１６２に供給する。
　ところで、オフセット量(ΔVsig)nは、注目素子の信号電位(Vsig)n毎に異なるものとなっている。すなわち、例えば、図１２に示されるように、注目素子の信号電位(Vsig)nが大きい程に、オフセット量(ΔVsig)nも大きなものとなる。
　したがって、オフセット量算出部１６１は、注目素子の信号電位(Vsig)n毎に、オフセット量(ΔVsig)nを算出する必要がある。
　そこで、後述する第３の実施の形態では、ガンマ空間で、注目素子の信号電位(Vsig)nとオフセット量(ΔVsig)nを加算させるようにして、注目素子とされる表示用の有機EL素子のいずれの信号電位(Vsig)nにおいても、同一のオフセット量(ΔVsig)nで、階調を補正できるようにしている。第３の実施の形態は、図３０乃至図３３を参照して詳述する。
[表示部２５の詳細]
　次に、図１３乃至図１７を参照して、表示部２５の詳細を説明する。
図１３は、表示部２５の正面図を示している。
　表示部２５は、矩形状の立体的な筐体からなり、その筐体内には、有機EL素子を含む画素回路等が内蔵されている。
　そして、表示部２５は、図１３に示されるように、筐体の中央に、表示画面２５aが設けられている。また、表示部２５は、図１３において、表示画面２５aの右側に、複数の輝度センサ２５b1乃至２５bMが、筐体内に内蔵される形で配置されている。
　図１４は、表示部２５の詳細な構成例を示している。
　表示部２５には、水平セレクタ(horizontal selector)１８１、ライトスキャナ(write scanner)１８２、電源スキャナ(drive scanner)１８３、有機EL素子を含む画素回路１８４-(1,1)乃至１８４-(N,M)、及び輝度センサ２５b1乃至２５bMが内蔵されている。
　なお、画素回路１８４-(1,1)乃至１８４-(N,M)のうち、画素回路１８４-(1,M),画素回路１８４-(2,M),…,画素回路１８４-(N,M)にそれぞれ含まれる有機EL素子が、計測用の有機EL素子とされる。
　また、画素回路１８４-(1,1)乃至１８４-(N,M)のうち、画素回路１８４-(1,M),画素回路１８４-(2,M),…、及び画素回路１８４-(N,M)を除く複数の画素回路にそれぞれ含まれる有機EL素子が、表示用の有機EL素子とされる。
　画素回路１８４-(1,1)乃至１８４-(N,M)は、N×M個（N,Mは相互に独立した１以上の整数値）の画素回路１８４が行列状に配置されて構成されている。水平セレクタ１８１、ライトスキャナ１８２、及び電源スキャナ１８３は、画素回路１８４-(1,1)乃至１８４-(N,M)を駆動する駆動部として動作する。
　また、表示部２５は、N本の走査線WSL-1乃至WSL-N、N本の電源線DSL-1乃至DSL-N、及びM本の映像信号線DTL-1乃至DTL-Mも有する。
　以下の説明では、走査線WSL-1乃至WSL-Nをそれぞれ区別する必要がない場合、単に走査線WSLという。また、電源線DSL-1乃至DSL-Nをそれぞれ区別する必要がない場合、単に電源線DSLという。
　さらに、映像信号線DTL-1乃至DTL-Mをそれぞれ区別する必要がない場合、単に映像信号線DTLという。また、画素回路１８４-(1,1)乃至１８４-(N,M)をそれぞれ区別する必要がない場合、単に画素回路１８４という。
　また、画素回路１８４-(1,1)乃至１８４-(N,M)のうち、x列目(x=1,2,…,M)の画素回路１８４-(1,x)乃至１８４-(N,x)は、映像信号線DTL-xで水平セレクタ１８１と接続されている。
　ライトスキャナ１８２は、走査線WSL-1乃至WSL-Nに水平周期（１Ｈ）で順次制御信号を供給して画素回路１８４を行単位で線順次走査する。電源スキャナ１８３は、線順次走査に合わせて電源線DSL-1乃至DSL-Nに、第１電位（後述するＶｃｃ）又は第２電位（後述するＶｓｓ）の電源電圧を供給する。水平セレクタ１８１は、線順次走査に合わせて各水平期間内（１Ｈ）で画像信号（なお、画素回路１８４に含まれる有機EL素子が、計測用の有機EL素子である場合は、画像信号に代えてダミー画素信号が用いられる）に対応する信号電位Vsigと基準電位Vofsとを切換えて列状の映像信号線DTL-1乃至DTL-Mに供給する。
　輝度センサ２５b1は、画素回路１８４-(1,M)の近くに設けられており、画素回路１８４-(1,M)に含まれる有機EL素子の輝度を計測し、図１の焼付補正部２３に供給する。
　輝度センサ２５b2乃至２５bMは、それぞれ、画素回路１８４-(2,M)乃至１８４-(N,M)の近くに設けられており、輝度センサ２５b1と同様の処理を行う。
　なお、輝度センサ２５b1乃至２５bMをそれぞれ区別する必要がない場合、単に、輝度センサ２５bという。
　図１５は、画素回路１８４が発光する色の配列の一例を示している。
　画素回路１８４は、内蔵の発光素子としての有機EL素子を用いて、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、又は青（Ｂ）のいずれかの色で発光する、いわゆる副画素（サブピクセル）に相当する。なお、行方向（図面左右方向）に並ぶ赤、緑、及び青の３つの画素回路１８４で、表示単位としての１画素（表示画像の１画素）が構成される。
　また、図１５では、走査線WSL及び電源線DSLが画素回路１８４の下側から接続されている点が図１４と異なる。水平セレクタ１８１、ライトスキャナ１８２、電源スキャナ１８３、及び各画素回路１８４と接続される配線は、必要に応じて適切な位置に配置することができる。
［画素回路１８４の構成］
　図１６は、画素回路１８４の詳細な構成例を示している。
　画素回路１８４は、サンプリング用トランジスタ２０１、駆動用トランジスタ２０２、蓄積容量２０３、及び発光素子２０４を有する。サンプリング用トランジスタ２０１のゲートは走査線WSLと接続され、サンプリング用トランジスタ２０１のドレインは映像信号線DTLと接続されるとともに、ソースが駆動用トランジスタ２０２のゲートｇと接続されている。
　駆動用トランジスタ２０２のソース及びドレインの一方は発光素子２０４のアノードに接続され、他方が電源線DSLに接続される。蓄積容量２０３は、駆動用トランジスタ２０２のゲートｇと発光素子２０４のアノードに接続されている。また、発光素子２０４のカソードは所定の電位Ｖｃａｔに設定されている配線２０５に接続されている。この電位ＶｃａｔはGNDレベルであり、従って、配線２０５は接地配線である。
　サンプリング用トランジスタ２０１及び駆動用トランジスタ２０２は、いずれもＮチャネル型トランジスタである。よって、サンプリング用トランジスタ２０１及び駆動用トランジスタ２０２は、低温ポリシリコンよりも安価に作成できるアモルファスシリコンで作成することができる。これにより、画素回路１８４の製造コストをより安価にすることができる。勿論、サンプリング用トランジスタ２０１及び駆動用トランジスタ２０２は、低温ポリシリコンや単結晶シリコンで作成しても構わない。
　発光素子２０４は、有機EL素子である。有機EL素子はダイオード特性を有する電流発光素子である。よって、発光素子２０４は、供給される電流値Ｉdsに応じた階調の発光を行う。
　以上のように構成される画素回路１８４において、サンプリング用トランジスタ２０１が、走査線WSLからの制御信号に応じてオン（導通）し、映像信号線DTLを介して階調に応じた信号電位Vsigの映像信号をサンプリングする。蓄積容量２０３は、映像信号線DTLを介して水平セレクタ１８１から供給された電荷を蓄積して保持する。駆動用トランジスタ２０２は、第１電位Ｖｃｃにある電源線DSLから電流の供給を受け、蓄積容量２０３に保持された信号電位Vsigに応じて駆動電流Ｉｄｓを発光素子２０４に流す（供給する）。発光素子２０４に所定の駆動電流Ｉｄｓが流れることにより、発光素子２０４が発光する。
　画素回路１８４は、閾値補正機能を有する。閾値補正機能とは、駆動用トランジスタ２０２の閾値電圧Ｖｔｈに相当する電圧を蓄積容量２０３に保持させる機能である。閾値補正機能を発揮させることで、表示部２５の画素毎のばらつきの原因となる駆動用トランジスタ２０２の閾値電圧Ｖｔｈの影響をキャンセルすることができる。
　また、画素回路１８４は、上述した閾値補正機能に加え、移動度補正機能も有する。移動度補正機能とは、蓄積容量２０３に信号電位Vsigを保持する際、駆動用トランジスタ２０２の移動度μに対する補正を信号電位Vsigに加える機能である。
　さらに、画素回路１８４は、ブートストラップ機能も備えている。ブートストラップ機能とは、駆動用トランジスタ２０２のソース電位Ｖｓの変動にゲート電位Ｖｇを連動させる機能である。ブートストラップ機能の発揮により、駆動用トランジスタ２０２のゲートとソース間の電圧Ｖｇｓを一定に維持することができる。
［画素回路１８４の動作説明］
　図１７は、画素回路１８４の動作を説明するためのタイミングチャートである。
　図１７のA乃至図１７のEは、それぞれ、同一の時間軸（図面横方向）に対する走査線WSL、電源線DSL、及び映像信号線DTLの電位の変化と、それに対応する駆動用トランジスタ２０２のゲート電位Ｖｇ及びソース電位Ｖｓの変化を示している。
　図１７において、時刻ｔ1までの期間は、前の水平期間（１Ｈ）の発光がなされている発光期間Ｔ1である。
　発光期間Ｔ1が終了した時刻ｔ1から時刻ｔ4までは、駆動用トランジスタ２０２のゲート電位Ｖｇ及びソース電位Ｖｓを初期化することで閾値電圧補正動作の準備を行う閾値補正準備期間Ｔ2である。
　閾値補正準備期間Ｔ2では、時刻ｔ1において、電源スキャナ１８３が、電源線DSLの電位を高電位である第１電位Ｖｃｃから低電位である第２電位Ｖｓｓに切換える。そして、時刻ｔ2において、水平セレクタ１８１が、映像信号線DTLの電位を信号電位Vsigから基準電位Vofsに切換える。次に、時刻ｔ3において、ライトスキャナ１８２が、走査線WSLの電位を高電位に切換え、サンプリング用トランジスタ２０１をオンさせる。これにより、駆動用トランジスタ２０２のゲート電位Ｖｇが基準電位Ｖｏｆｓにリセットされ、且つ、ソース電位Ｖｓが映像信号線DTLの第２電位Ｖｓｓにリセットされる。
　時刻ｔ4から時刻ｔ5までは、閾値補正動作を行う閾値補正期間Ｔ3である。閾値補正期間Ｔ3では、時刻ｔ4において、電源スキャナ１８３により、電源線DSLの電位が高電位Ｖｃｃに切換えられ、閾値電圧Ｖｔｈに相当する電圧が、駆動用トランジスタ２０２のゲートとソースとの間に接続された蓄積容量２０３に書き込まれる。
　時刻ｔ5から時刻ｔ7までの書き込み＋移動度補正準備期間Ｔ4では、走査線WSLの電位が高電位から低電位に一旦切換えられる。また、時刻ｔ7の前の時刻ｔ6において、水平セレクタ１８１が、映像信号線DTLの電位を基準電位Vofsから階調に応じた信号電位Vsigに切換える。
　そして、時刻ｔ7から時刻ｔ8までの書き込み＋移動度補正期間Ｔ5において、映像信号の書き込みと移動度補正動作が行われる。即ち、時刻ｔ7から時刻ｔ8までの間、走査線WSLの電位が高電位に設定され、これにより、映像信号に対応する信号電位Vsigが閾値電圧Ｖｔｈに足し込まれる形で蓄積容量２０３に書き込まれる。また、移動度補正用の電圧ΔＶμが蓄積容量３３に保持された電圧から差し引かれる。
　書き込み＋移動度補正期間Ｔ5終了後の時刻ｔ8において、走査線WSLの電位が低電位に設定され、それ以降、発光期間Ｔ6として、信号電圧Vsigに応じた発光輝度で発光素子２０４が発光する。信号電圧Vsigは、閾値電圧Ｖｔｈに相当する電圧と移動度補正用の電圧ΔＶμとによって調整されているため、発光素子２０４の発光輝度は駆動用トランジスタ２０２の閾値電圧Ｖｔｈや移動度μのばらつきの影響を受けることがない。
　なお、発光期間Ｔ6の最初でブートストラップ動作が行われ、駆動用トランジスタ２０２のゲート‐ソース間電圧Ｖｇｓ＝Ｖｓｉｇ＋Ｖｔｈ－ΔＶμを一定に維持したまま、駆動用トランジスタ３２のゲート電位Ｖｇ及びソース電位Ｖｓが上昇する。
　また、時刻ｔ8から所定時間経過後の時刻ｔ9において、映像信号線DTLの電位が、信号電位Vsigから基準電位Vofsに落とされる。図１７において、時刻ｔ2から時刻ｔ9までの期間は水平期間（１Ｈ）に相当する。
　以上のようにして、表示部２５の各画素回路１８４では、駆動用トランジスタ２０２の閾値電圧Ｖｔｈや移動度μのばらつきの影響を受けることがなく、発光素子２０４を発光させることができる。
[表示装置１の動作説明]
　次に、図１８のフローチャートを参照して、図１の表示装置１が行う表示処理（以下、第１の表示処理という）について説明する。
　この第１の表示処理は、例えば、表示装置１の電源がオンとされたときに開始される。
　ステップＳ１において、ダミー画素信号生成部２１は、表示部２５に内蔵された計測用の有機EL素子を発光させるためのダミー画素信号を生成し、信号合成部２２に供給する。
　ステップＳ２において、信号合成部２２は、外部からの画像信号と、ダミー画素信号生成部２１からのダミー画素信号を合成し、その結果得られる合成信号を、焼付補正部２３に供給する。
　ステップＳ３では、制御部２６は、表示部２５に含まれる表示用の有機EL素子に順次注目し、注目している有機EL素子を、注目素子とする。
　ステップＳ４では、焼付補正部２３の検出部７３は、信号合成部２２からの合成信号Cnに含まれる画像信号Snに基づいて、注目素子の信号電位(Vsig)nを検出し、保持部７４に供給して保持させる。
　ステップＳ５では、焼付補正部２３の傾き補正部７１は、信号合成部２２から供給される注目素子の信号電位(Vsig)nに、補正量±√(α/α')を乗算することにより、注目素子の傾きα'を元の傾きαに補正する傾き補正処理を行う。なお、この傾き補正処理の詳細は、図１９のフローチャートを参照して詳述する。
　傾き補正部７１は、傾き補正処理で補正後の、注目素子の信号電位(Vsig')n(=±√(α/α')×(Vsig)n)を、階調補正部７２に供給する。
　ステップＳ６において、階調補正部７２は、傾き補正部７１から供給される、注目素子の信号電位(Vsig')n(=±√(α/α')×(Vsig)n)の(Vsig)nに、オフセット量としての(ΔVsig)nを加算することにより、注目素子の階調(k-Δk)を元の階調kに補正する階調補正処理を行う。なお、この階調補正処理の詳細は、図２０のフローチャートを参照して詳述する。
　ステップＳ７では、制御部２６は、表示部２５に含まれる表示用の有機EL素子の全てを注目素子に設定したか否かを判定し、表示用の有機EL素子の全てを注目素子としていないと判定した場合、処理をステップＳ３に戻す。
　そして、ステップＳ３では、制御部２６は、表示部２５に含まれる表示用の有機EL素子のうち、まだ注目素子とされていない有機EL素子に注目し、注目している有機EL素子を、新たな注目素子とし、処理をステップＳ４に進め、それ以降同様の処理が繰り返される。
　また、ステップＳ７において、制御部２６は、表示部２５に含まれる表示用の有機EL素子の全てを注目素子に設定したと判定した場合、処理をステップＳ８に進める。
　表示用の有機EL素子の全てが注目素子とされた後、注目素子とされた有機EL素子の信号電位(Vsig'')n(=±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n})をそれぞれ表す画像信号Snを含む合成信号Cnが、データドライバ２４に供給される。
　ステップＳ８では、データドライバ２４は、焼付補正部２３からの合成信号CnをAD変換し、AD変換後の合成信号Cnを、表示部２５に供給する。
　ステップＳ９では、表示部２５は、データドライバ２４からの合成信号Cnに含まれる画像信号Snに基づいて、表示用の有機EL素子を発光させる。これにより、表示画面２５aには、画像信号に対応する表示画像４１が表示される。
　また、表示部２５は、データドライバ２４からの合成信号に含まれるダミー画素信号に基づいて、計測用の有機EL素子を発光させる。
　ステップＳ１０では、輝度センサ２５bは、計測用の有機EL素子を含む画素回路１８４からの光を受光することにより、計測用の有機EL素子の輝度を計測し、その計測結果を、焼付補正部２３の傾き補正部７１及び階調補正部７２に供給する。なお、輝度センサ２５bは、計測用の有機EL素子を含む画素回路１８４の傍に設けられている。
　ステップＳ１１では、傾き補正部７１は、輝度センサ２５bからの輝度の計測結果に基づいて、表示部２５に内蔵された表示用の有機EL素子についての輝度劣化曲線を推定して保持する劣化曲線推定処理を行う。なお、この劣化曲線推定処理は、図２０のフローチャートを参照して詳述する。
　ステップＳ１１の終了後、処理はステップＳ１に戻され、それ以降同様の処理が行われる。
　なお、第１の表示処理は、例えば、表示装置１の電源がオフとされたときに終了される。
　以上説明したように、第１の表示処理によれば、焼付補正部２３において、信号合成部２２からの合成信号に含まれる画像信号を対象として、焼付補正処理を行うようにした。
　このため、第１の表示処理によれば、表示用の有機EL素子は、効率の劣化、及び電流の劣化に拘らず、画像信号に応じた一定の輝度で発光することとなる。
　したがって、表示部２５の表示画面２５aに焼付きが生じることを防止することが可能となる。
　また、第１の表示処理によれば、合成信号に含まれるダミー画素信号に対しては例えば焼付補正処理を行わないようにして、焼付補正部２３からデータドライバ２４に、ダミー画素信号をそのまま出力するようにした。
　このため、計測用の有機EL素子は、効率の劣化、及び電流の劣化に応じて低下した輝度で発光することとなる。そして、輝度センサ２５bは、そのような計測用の有機EL素子の輝度の低下を計測し、その計測結果を、焼付補正部２３に供給する。
　したがって、焼付補正部２３では、輝度センサ２５bからの輝度の計測結果に基づいて、計測用の有機EL素子の輝度の低下を、表示用の有機EL素子の輝度の低下を表すものとして、正確に認識できる。このため、焼付補正部２３は、正確な輝度の低下の程度に基づいて、表示画面２５aに生じる焼付きを精度良く防止することが可能となる。
[傾き補正部７１が行う傾き補正処理の詳細]
　次に、図１９のフローチャートを参照して、図１８のステップＳ５における傾き補正処理の詳細を説明する。
　ステップＳ３１において、補正量生成部１０１は、傾き保持部１０３から、注目素子の傾きα'を読み出す。
　ステップＳ３２において、補正量生成部１０１は、保持部７４から、注目素子の信号電位(Vsig)n-1を読み出す。
　ステップＳ３３では、補正量生成部１０１は、保持部７４から読み出した注目素子の信号電位(Vsig)n-1に基づいて、注目素子に流れていた電流In-1を算出する。そして、補正量生成部１０１は、劣化曲線保持部１０４に保持されている複数の輝度劣化曲線のうち、算出した電流In-1に対応する輝度劣化曲線を、劣化曲線保持部１０４から読み出す。
　ステップＳ３４では、補正量生成部１０１は、傾き保持部１０３から読み出した注目素子の傾きα'と、劣化曲線保持部１０４から読み出した輝度劣化曲線に基づいて、注目素子の最新の傾きα'を算出する。
　そして、補正量生成部１０１は、算出した注目素子の最新の傾きα'を、傾き保持部１０３に供給して、上書きにより保持（記憶）させる。
　ステップＳ３５では、補正量生成部１０１は、注目素子の最新の傾きα'に基づいて、補正量±√(α/α')を生成（算出）し、補正量乗算部１０２に供給する。
　ステップＳ３６では、補正量乗算部１０２は、信号合成部２２から供給される、注目素子の信号電位(Vsig)nに対して、補正量生成部１０１からの補正量±√(α/α')を乗算する。
　その後、図１９の傾き補正処理は終了され、処理は、図１８のステップＳ５に戻り、補正量乗算部１０２は、その乗算により得られる信号電位{±√(α/α')×(Vsig)n}を、傾きα'が元の傾きαに補正された注目素子の信号電位(Vsig')nとして、階調補正部７２に供給して、それ以降の処理が行なわれる。
[階調補正部７２が行う階調補正処理の詳細]
　次に、図２０のフローチャートを参照して、図１８のステップＳ６における階調補正処理の詳細を説明する。
　ステップＳ５１において、オフセット量算出部１６１は、保持部７４から、注目素子の信号電位(Vsig)nを読み出す。
　ステップＳ５２において、オフセット量算出部１６１は、読み出した注目素子の信号電位(Vsig)n、図示せぬメモリに予め保持されているオフセット量算出用情報（例えば関数f1(Vsig)）、及び輝度センサ２５bからの輝度の計測結果に基づいて、注目素子の信号電位(Vsig)nに加算されるオフセット量(ΔVsig)nを算出し、オフセット補正部１６２に供給する。
　ステップＳ５３において、オフセット補正部１６２は、傾き補正部７１からの、注目素子の信号電位(Vsig')n(={±√(α/α')×(Vsig)n})の(Vsig)nと、オフセット量算出部１６１からのオフセット量(ΔVsig)nを加算する。
　その後、図２０の階調補正処理は終了され、処理は、図１８のステップＳ６に戻り、オフセット補正部１６２は、その加算の結果得られる加算結果としての信号電位[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n}]を、階調(k-Δk)が元の階調kに補正された注目素子の信号電位(Vsig'')nとして、データドライバ２４に供給する。
[傾き補正部７１が行う劣化曲線推定処理の詳細]
　次に、図２１のフローチャートを参照して、図１８のステップＳ１１における劣化曲線推定処理の詳細を説明する。
　ステップＳ７１において、劣化曲線推定部１０５は、複数の輝度センサ２５bに順次注目し、注目している輝度センサ２５bを注目センサとする。
　劣化曲線推定部１０５には、注目センサから、電流I(L=Xnit)が流される計測用の有機EL素子の輝度を計測して得られた輝度L(t,I(L=Xnit))が供給される。なお、計測用の有機EL素子は、それぞれ、異なる電流I(L=Xnit)が通電されて、異なる輝度L(t,I(L=Xnit))で発光する。
　ステップＳ７２において、劣化曲線推定部１０５は、図示せぬ内蔵のメモリに予め保持している電流の値I(L=Xnit)と、注目センサからの輝度L(t,I(L=Xnit))に基づいて、傾きα(t,I(L=Xnit))'を算出する。
　すなわち、例えば、劣化曲線推定部１０５は、図示せぬ内蔵のメモリに予め保持している電流の値I(L=200nit)と、輝度センサ２５bからの計測結果L(t,I(L=200nit))に基づいて、式（４）に基づき導出される式α(t,I(L=200nit))'=L(t,I(L=200nit))/I(L=200nit)により、時間tに対する傾きα(t,I(L=200nit))'を算出する。
　ステップＳ７３では、劣化曲線推定部１０５は、算出した傾きα(t,I(L=Xnit))'と、図示せぬ内蔵のメモリに予め保持している輝度劣化基準曲線に基づいて、輝度劣化基準曲線と乗算される加速係数を算出する。
　すなわち、例えば、劣化曲線推定部１０５は、図１０に示されるように、傾きα(0,I(L=200nit))'=αが得られたときから、傾きα(T,I(L=200nit))'が得られるまでの時間Δt1'を算出する。
　また、例えば、劣化曲線推定部１０５は、図１０に示されるように、輝度劣化基準曲線１４１において、傾きα(0,I(L=200nit))'=αが得られたときから、傾きα(T,I(L=200nit))'が得られるまでの時間Δt1を算出する。
　さらに、劣化曲線推定部１０５は、算出した時間Δt1'と時間Δt1に基づいて、加速係数Δt1'/Δt1を算出する。
　ステップＳ７４では、劣化曲線推定部１０５は、算出した加速係数と、図示せぬメモリに予め保持されている輝度劣化基準曲線とに基づいて、輝度劣化曲線を推定し、劣化曲線保持部１０４に供給して保持させる。
　すなわち、例えば、劣化曲線推定部１０５は、算出した加速係数Δt1'/Δt1を、輝度劣化基準曲線１４１を表す式A(t,I(L=200nit))に乗算する。そして、劣化曲線推定部１０５は、その乗算により得られる新たな式(Δt1'/Δt1)×A(t,I(L=200nit))を表す輝度劣化曲線１２１を、電流I(L=200nit)の値に対応付けた形で、劣化曲線保持部１０４に供給して保持させる。
　ステップＳ７５において、劣化曲線推定部１０５は、複数の輝度センサ２５bの全てを注目センサとしたか否かを判定し、複数の輝度センサ２５bの全てを注目センサとしていないと判定した場合、処理をステップＳ７１に戻す。
　そして、ステップＳ７１では、劣化曲線推定部１０５は、複数の輝度センサ２５bのうち、まだ注目センサとされていない輝度センサを新たな注目センサとし、処理をステップＳ７２に進め、それ以降、同様の処理を行う。
　なお、ステップＳ７５において、劣化曲線推定部１０５は、複数の輝度センサ２５bの全てを注目センサとしたと判定した場合、図２１の劣化曲線推定処理は終了され、処理は、図１８のステップＳ１１に戻り、それ以降の処理が行なわれる。
　ところで、第１の実施の形態では、図６の焼付補正部２３において、検出部７３が、信号合成部２２からの画像信号Snに基づいて、注目素子の信号電位(Vsig)nを検出し、検出した信号電位(Vsig)nを、保持部７４に供給して保持させるようにした。
　また、傾き補正部７１及び階調補正部７２では、保持部７４に保持されている注目素子の信号電位(Vsig)nに基づき算出される電流Inが、注目素子に実際に流れる電流であるものとした。
　そして、傾き補正部７１において、注目素子に電流In-1が流れたことにより効率の劣化が生じたものとして、注目素子の傾きα'を補正するための補正量を算出するようにした。
　また、階調補正部７２において、注目素子に電流Inが流れることにより電流の劣化が生じるものとして、注目素子の階調を補正するためのオフセット量を算出するようにした。
　しかしながら、注目素子に実際に流れる電流は、注目素子の信号電位(Vsig)nに基づき算出される電流Inではなく、傾きα'が元の傾きαに補正された注目素子の信号電位(Vsig')nに基づき算出される電流(α/α')×Inである。
　したがって、焼付補正処理では、注目素子に実際に流れる電流(α/α')×Inに基づいて、注目素子の傾きα'や階調(k-Δk)を補正することが望ましい。
　次に、図２２の表示装置２４１は、注目素子に実際に流れる電流に基づいて、焼付補正処理を行うようにしたものである。
＜２．第２の実施の形態＞
[表示装置２４１の構成例]
　図２２は、第２の実施の形態である表示装置２４１の構成例を示している。
　なお、この表示装置２４１は、第１の実施の形態である表示装置１（図１）の場合と同様に構成されている部分については、同一の符号を付すようにしているため、それらの説明は、以下、適宜、省略する。
　すなわち、表示装置２４１において、図１の焼付補正部２３に代えて、焼付補正部２６１が設けられている他は、図１の表示装置１と同様に構成される。
　焼付補正部２６１には、信号合成部２２からの合成信号Cnが供給される。焼付補正部２６１は、焼付補正部２３と同様に、信号合成部２２からの合成信号Cnに含まれる画像信号Snに対して、焼付補正処理を施すことにより、表示部２５の表示画面２５aに生じる焼付きを防止する焼付補正処理を行う。
　しかしながら、焼付補正部２６１は、傾き補正処理後の画像信号Snの信号電位(Vsig')nに基づいて焼付補正処理を施す点で、傾き補正処理前の画像信号Snの信号電位(Vsig)nに基づいて、焼付補正処理を施す焼付補正部２３とは異なるものとなっている。
[焼付補正部２６１の詳細]
　次に、図２３は、図２２の焼付補正部２６１の詳細な構成例を示している。
　この焼付補正部２６１は、傾き補正部２８１、階調補正部２８２、検出部２８３、及び保持部２８４から構成される。
　傾き補正部２８１には、信号合成部２２からの合成信号Cnが供給される。
　傾き補正部２８１は、傾き補正部２８１から出力された、傾き補正処理後の画像信号Sn-1の信号電位(Vsig')n-1を、保持部２８４から読み出す。
　なお、後述するが、保持部２８４には、傾き補正部２８１による傾き補正処理後の画像信号Snの信号電位(Vsig')nが保持されている。
　傾き補正部２８１は、保持部２８４から読み出した信号電位(Vsig')n-1と、輝度センサ２５bからの輝度の計測結果に基づいて、効率の劣化により低下した傾きα'を元の傾きαに補正するための補正量±√(α/α')を算出する。
　なお、傾き補正部２８１は、補正量±√(α/α')の算出に、傾き補正処理前の画像信号Sn-1の信号電位(Vsig)n-1ではなく、傾き補正処理後の画像信号Sn-1の信号電位(Vsig')n-1を用いる点で、図６の傾き補正部７１とは異なる。それ以外は、傾き補正部７１と同様である。
　傾き補正部２８１は、信号合成部２２からの合成信号Cnに含まれる画像信号Snの信号電位(Vsig)nに、算出した補正量±√(α/α')を乗算する。傾き補正部２８１は、その乗算の結果得られる乗算結果としての信号電位(Vsig')n={±√(α/α')×(Vsig)n}とされた画像信号Snを含む合成信号Cnを、傾き補正部２８２及び検出部２８３に供給する。
　階調補正部２８２は、保持部２８４から、傾き補正処理後の画像信号Snの信号電位(Vsig')nを読み出す。
　また、階調補正部２８２は、保持部２８４から読み出した信号電位(Vsig')nと、輝度センサ２５bからの輝度の計測結果に基づいて、電流の劣化により低下した階調(k-Δk)を元の階調kに補正するためのオフセット量Δkに対応する(ΔVsig)nを算出する。
　なお、階調補正部２８２は、オフセット量Δkに対応する(ΔVsig)nの算出に、傾き補正処理前の画像信号Snの信号電位(Vsig)nではなく、傾き補正処理後の画像信号Snの信号電位(Vsig')nを用いる点で、図６の階調補正部７２とは異なる。それ以外は、階調補正部７２と同様である。
　階調補正部２８２は、傾き補正部２８１からの合成信号Cnに含まれる画像信号Snの信号電位(Vsig')n={±√(α/α')×(Vsig)n}の(Vsig)nに、オフセット量Δkに対応する(ΔVsig)nを加算する。
　階調補正部２８２は、その加算の結果得られる加算結果としての信号電位(Vsig'')n=[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n}]とされた画像信号Snを含む合成信号Cnを、データドライバ２４に供給する。
　検出部２８３は、傾き補正部２８１から出力される、合成信号Cnに含まれる画像信号Snに基づいて、傾き補正処理後の画像信号Snの信号電位(Vsig')nを検出し、保持部２８４に供給して保持させる。
　保持部２８４は、検出部２８３からの信号電位(Vsig')nを保持する。
[傾き補正部２８１の詳細]
　次に、図２４は、図２３の傾き補正部２８１の詳細な構成例を示している。
　なお、この傾き補正部２８１では、図７の傾き補正部７１と同様に構成される部分について同一の符号を付すようにしているので、それらの説明は、以下、適宜省略する。
　すなわち、傾き補正部２８１において、図７の補正量生成部１０１に代えて、補正量生成部３０１が設けられている他は、図７の場合と同様に構成されている。
　補正量生成部３０１は、補正量生成部１０１と同様に、傾き保持部１０３から、注目素子の傾きα'を読み出す。なお、図２２の制御部２６は、表示部２５に含まれる表示用の有機EL素子に順次注目し、注目している有機EL素子を、注目素子とする。
　また、補正量生成部３０１は、保持部２８４から、注目素子の信号電位(Vsig')n-1を読み出す。
　補正量生成部３０１は、保持部２８４から読み出した注目素子の信号電位(Vsig')n-1に基づいて、注目素子に実際に流れていた電流In-1を算出する。そして、補正量生成部３０１は、劣化曲線保持部１０４に保持されている複数の輝度劣化曲線のうち、算出した電流In-1に対応する輝度劣化曲線を、劣化曲線保持部１０４から読み出す。
　補正量生成部３０１は、補正量生成部１０１と同様にして、傾き保持部１０３から読み出した注目素子の傾きα'と、劣化曲線保持部１０４から読み出した輝度劣化曲線に基づいて、注目素子の最新の傾きα'を算出する。
　そして、補正量生成部３０１は、注目素子の最新の傾きα'を、傾き保持部１０３に供給して、上書きにより保持（記憶）させる。
　また、補正量生成部３０１は、注目素子の最新の傾きα'に基づいて、補正量±√(α/α')を生成（算出）し、補正量乗算部１０２に供給する。
　次に、図２５を参照して、補正量生成部３０１が行う処理を、補正量生成部１０１が行う処理と比較しながら説明する。
　第１の実施の形態では、図７の傾き補正部７１において、注目素子の信号電位(Vsig)nに補正量を乗算して、注目素子の傾きα'を補正する場合、補正量生成部１０１は、保持部７４に保持されている注目素子の信号電位(Vsig)n-1を読み出す。
　そして、補正量生成部１０１は、劣化曲線保持部１０４に保持されている複数の輝度劣化曲線のうち、注目素子の信号電位(Vsig)n-1に基づく電流に対応する輝度劣化曲線を、劣化曲線保持部１０４から読み出す。
　すなわち、例えば、注目素子の信号電位(Vsig)n-1に基づく電流が、電流I(L=200nit)である場合、補正量生成部１０１は、図２５に示されるような、電流I(L=200nit)に対応する輝度劣化曲線１２１を、劣化曲線保持部１０４から読み出す。
　補正量生成部１０１は、読み出した輝度劣化曲線１２１と、傾き保持部１０３から読み出した注目素子の傾きα'を用いて、注目素子の最新の傾きα'を算出する。
　しかしながら、注目素子に流れる電流は、注目素子の信号電位(Vsig)n-1に基づく電流（例えば、電流I(L=200nit)）ではなく、傾きα'が元の傾きαに補正された注目素子の信号電位(Vsig')nに基づく電流（例えば、電流I(L=220nit)）である。
　より正確に傾きα'を算出するためには、注目素子に実際に流れる電流に基づいて、傾きα'の算出に用いる輝度劣化曲線を、劣化曲線保持部１０４から読み出すことが望ましい。
　そこで、第２の実施の形態では、図２４の傾き補正部２８１において、注目素子の信号電位(Vsig)nに補正量を乗算して、注目素子の傾きα'を補正する場合、補正量生成部３０１は、保持部２８４に保持されている注目素子の信号電位(Vsig')n-1を読み出す。
　なお、保持部２８４には、注目素子に実際に流れた電流（例えば、I(L=220nit)）に相当する信号電位(Vsig')n-1、つまり、傾きα'が補正された注目素子の信号電位(Vsig')n-1が保持される。
　補正量生成部３０１は、保持部２８４に保持されている注目素子の信号電位(Vsig')n-1を読み出す。
　そして、補正量生成部３０１は、劣化曲線保持部１０４に保持されている複数の輝度劣化曲線のうち、注目素子の信号電位(Vsig')n-1に基づく電流に対応する輝度劣化曲線を、劣化曲線保持部１０４から読み出す。
　すなわち、例えば、注目素子の信号電位(Vsig')n-1に基づく電流が、電流I(L=220nit)である場合、補正量生成部３０１は、図２５に示されるような、電流I(L=220nit)に対応する輝度劣化曲線１２３を、劣化曲線保持部１０４から読み出す。
　なお、注目素子の信号電位(Vsig')n-1は、注目素子の信号電位(Vsig)n-1に、値１以上の補正量が乗算されて得られるものである。このため、注目素子の信号電位(Vsig')n-1に基づく電流（例えば、電流I(L=220nit)）は、注目素子の信号電位(Vsig)n-1に基づく電流（例えば、電流I(L=200nit)）以上の値とされる。
　補正量生成部３０１は、読み出した輝度劣化曲線１２３と、傾き保持部１０３から読み出した注目素子の傾きα'を用いて、注目素子の最新の傾きα'を算出する。
[階調補正部２８２の詳細]
　次に、図２６は、図２３の階調補正部２８２の詳細な構成例を示している。
　この階調補正部２８２は、オフセット量算出部３２１及びオフセット補正部３２２から構成される。
　オフセット量算出部３２１には、輝度センサ２５bから、輝度の計測結果が供給される。オフセット量算出部３２１は、保持部２８４から、注目素子の信号電位(Vsig')nを読み出す。
　そして、オフセット量算出部３２１は、読み出した注目素子の信号電位(Vsig')n、図示せぬメモリに予め保持されているオフセット量算出用情報、及び輝度センサ２５bからの輝度の計測結果に基づいて、注目素子の信号電位(Vsig')n(={±√(α/α')×(Vsig)n})の(Vsig)nに加算されるオフセット量(ΔVsig)nを算出し、オフセット補正部３２２に供給する。
　オフセット補正部３２２は、図１１のオフセット補正部１６２と同様にして、傾き補正部２８１からの、注目素子の信号電位(Vsig')n(={±√(α/α')×(Vsig)n})の(Vsig)nと、オフセット量算出部３２１からのオフセット量(ΔVsig)nを加算する。
　また、オフセット補正部３２２は、その加算の結果得られる加算結果としての信号電位[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n}]を、注目素子の信号電位(Vsig'')nとして、データドライバ２４に供給する。
[表示装置２４１の動作説明]
　次に、図２７のフローチャートを参照して、図２２の表示装置２４１が行う表示処理（以下、第２の表示処理という）について説明する。
　この第２の表示処理は、例えば、表示装置２４１の電源がオンとされたときに開始される。
　ステップＳ９１乃至ステップＳ９３では、それぞれ、図１８のステップＳ１乃至ステップＳ３と同様の処理が行われる。
　ステップＳ９４では、焼付補正部２６１の傾き補正部２８１は、信号合成部２２から供給される注目素子の信号電位(Vsig)nに、補正量±√(α/α')を乗算することにより、注目素子の傾きα'を元の傾きαに補正する傾き補正処理を行う。
　なお、この傾き補正処理は、注目素子の信号電位(Vsig)nと乗算される補正量±√(α/α')を、注目素子に実際に流された電流に基づいて生成する点において、図１８のステップＳ５における傾き補正処理とは異なる。ステップＳ９４における傾き補正処理の詳細は、図２８のフローチャートを参照して詳述する。
　傾き補正部２８１は、ステップＳ９４の傾き補正処理により得られる、注目素子の信号電位(Vsig')n(=±√(α/α')×(Vsig)n)を、階調補正部２８２及び検出部２８３に供給する。
　ステップＳ９５では、焼付補正部２６１の検出部２８３は、傾き補正部２８１からの、注目素子の信号電位(Vsig')nに基づいて、注目素子の信号電位(Vsig')nを検出し、保持部２８４に供給して保持させる。
　ステップＳ９６では、階調補正部２８２は、傾き補正部２８１から供給される、注目素子の信号電位(Vsig')n(=±√(α/α')×(Vsig)n)の(Vsig)nに、オフセット量としての(ΔVsig)nを加算することにより、注目素子の階調(k-Δk)を元の階調kに補正する階調補正処理を行う。
　なお、この階調補正処理は、オフセット量としての(ΔVsig)nを、注目素子に実際に流された電流に基づいて算出する点において、図１８のステップＳ６における階調補正処理とは異なる。ステップＳ９６における階調補正処理の詳細は、図２９のフローチャートを参照して詳述する。
　ステップＳ９７乃至ステップＳ１０１では、それぞれ、図１８のステップＳ７乃至ステップＳ１１と同様の処理が行われる。
　なお、第２の表示処理は、例えば、表示装置２４１の電源がオフとされたときに終了される。
　以上説明したように、第２の表示処理によれば、注目素子とされる表示用の有機EL素子に実際に流れる電流に基づいて、焼付補正処理を行うようにしたので、より正確に、表示画面２５aに生じる焼付きを防止することが可能となる。
[傾き補正部２８１が行う傾き補正処理の詳細]
　次に、図２８のフローチャートを参照して、図２７のステップＳ９４における傾き補正処理の詳細を説明する。
　ステップＳ１２１では、補正量生成部３０１は、補正量生成部１０１と同様にして、傾き保持部１０３から、注目素子の傾きα'を読み出す。
　ステップＳ１２２において、補正量生成部３０１は、保持部２８４から、注目素子の信号電位(Vsig')n-1を読み出す。
　ステップＳ１２３では、補正量生成部３０１は、保持部２８４から読み出した注目素子の信号電位(Vsig')n-1に基づいて、注目素子に実際に流れていた電流In-1を算出する。
　そして、補正量生成部３０１は、劣化曲線保持部１０４に保持されている複数の輝度劣化曲線のうち、算出した電流In-1に対応する輝度劣化曲線を、劣化曲線保持部１０４から読み出す。
　ステップＳ１２４及びステップＳ１２５では、補正量生成部３０１は、補正量生成部１０１と同様に、図１９のステップＳ３４及びステップＳ３５の処理を行う。
　ステップＳ１２６では、図１９のステップＳ３６と同様の処理が行われる。そして、図２８の傾き補正処理は終了され、処理は、図２７のステップＳ９４に戻り、それ以降の処理が行なわれる。
[階調補正部２８２が行う階調補正処理の詳細]
　次に、図２９のフローチャートを参照して、図２７のステップＳ９６における階調補正処理の詳細を説明する。
　ステップＳ１４１において、オフセット量算出部３２１は、保持部２８４から、注目素子の信号電位(Vsig')nを読み出す。
　ステップＳ１４２において、オフセット量算出部３２１は、読み出した注目素子の信号電位(Vsig')n、図示せぬメモリに予め保持されているオフセット量算出用情報、及び輝度センサ２５bからの輝度の計測結果に基づいて、注目素子の信号電位(Vsig')n(={±√(α/α')×(Vsig)n})の(Vsig)nに加算されるオフセット量(ΔVsig)nを算出し、オフセット補正部３２２に供給する。
　ステップＳ１４３において、オフセット補正部３２２は、傾き補正部２８１からの、注目素子の信号電位(Vsig')n(={±√(α/α')×(Vsig)n})の(Vsig)nと、オフセット量算出部３２１からのオフセット量(ΔVsig)nを加算する。
　また、オフセット補正部３２２は、その加算の結果得られる加算結果としての信号電位[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n}]を、注目素子の信号電位(Vsig'')nとして、データドライバ２４に供給する。
　その後、図２９の階調補正処理は終了され、処理は、図２７のステップＳ９６に戻り、それ以降の処理が行なわれる。
　ところで、例えば、第１の実施の形態では、画像信号Snに対して焼付補正処理のみを施すようにした。しかしながら、その他、例えば、画像信号Snに対して、焼付補正処理とは異なる画像処理（例えば、色再現処理や、ノイズ低減処理等）を施すようにして、表示画面２５aに表示させる表示画像の画質を向上させるようにしてもよい。このことは、第２の実施の形態についても同様である。
　ここで、例えば、ディスプレイである表示部２５は、表示画面２５aの明るさ（輝度）が、外部からの画像信号のレベル（階調）に比例せず、指数関数的に変化するガンマ特性を有する。
　すなわち、例えば、表示部２５は、次式（７）に示されるようなガンマ特性を有している。
　Y=Xγ　　　　　・・・（７）
　式（７）において、階調Xは画像信号のレベルを表し、輝度Yは、画像信号のレベルに対応する輝度を表す。また、ガンマ値γは、表示部２５のガンマ特性を表すものであり、例えばγ=2.2とされる。
　そこで、放送局は、このガンマ特性が線形の特性（リニア特性）に補正されるようにするために、逆ガンマ補正後の画像信号Snを送信（放送）するようにしている。
　逆ガンマ補正後の画像信号Snは、次式（８）に示されるような逆ガンマ特性を有しているものとなる。
　Y=X1/γ　　　　　・・・（８）
　上述の画像処理を行うためには、式（８）に示されるような逆ガンマ特性を有する画像信号Snを、ガンマ補正するようにして、線形の特性を有する画像信号Snに変換する必要がある。これは、画像信号Snを、線形の特性を有するものに変換した方が、画像処理を行い易いことによる。
　しかしながら、焼付補正処理に含まれる階調補正処理を行うときには、ガンマ特性を有する画像信号Snを、階調補正処理の補正対象とした方が望ましい。
＜３．第３の実施の形態＞
　次に、図３０は、第３の実施の形態である表示装置３４１の構成例を示している。
　なお、この表示装置３４１は、上述の画像処理を施す際に、ガンマ補正により画像信号Snの特性を線形の特性に変換し、階調補正処理を施す際に、逆ガンマ補正により画像信号Snの特性をガンマ特性に変換するものである。なお、傾き補正処理を施す際には、画像信号Snの特性は、線形の特性であってもよいし、ガンマ特性であってもよい。
　この表示装置３４１は、第１の実施の形態である表示装置１（図１）の場合と同様に構成されている部分については、同一の符号を付すようにしているため、それらの説明は、以下、適宜、省略する。
　すなわち、表示装置３４１において、新たにガンマ変換部３６１及び画像処理部３６２が設けられているとともに、図１の焼付補正部２３に代えて、焼付補正部３６３が設けられている他は、図１の表示装置１と同様に構成される。
　ガンマ変換部３６１には、信号合成部２２から合成信号Cnが供給される。ガンマ変換部３６１は、信号合成部２２からの合成信号Cnをガンマ補正し、ガンマ補正後の合成信号Cnを、画像処理部３６２に供給する。
　ここで、ダミー画素信号生成部２１は、放送局で画像信号Snに施される逆ガンマ補正と同一の逆ガンマ補正を、生成したダミー画素信号に施して、信号合成部２２に供給しているものとする。したがって、信号合成部２２から出力される合成信号Cnは、式（８）に示されるような逆ガンマ特性を有しているものとなる。
　なお、合成信号Cnに含まれるダミー画素信号の特性が、線形の特性である場合、ガンマ変換部３６１は、信号合成部２２からの合成信号Cnに含まれる画像信号Snのみをガンマ補正すればよい。
　画像処理部３６２は、ガンマ変換部３６１からの合成信号Cnに対して、所定の画像処理（例えば、色再現処理や、ノイズ低減処理等）を施し、画像処理後の合成信号Cnを、焼付補正部３６３に供給する。なお、画像処理部２６３は、合成信号Cnに含まれる画像信号Snのみを対象として、画像処理を施すようにしてもよい。
　焼付補正部３６３は、輝度センサ２５bからの輝度の計測結果などに基づいて、画像処理部３６２からの合成信号Cnに含まれる画像信号Snに対して、傾き補正処理と階調補正処理により構成される焼付補正処理を行う。
　なお、焼付補正部３６３は、少なくとも階調補正処理を行う際に、合成信号Cnを逆ガンマ補正し、逆ガンマ補正後の合成信号Cnに含まれる画像信号Snに対して、階調補正処理を行う。
　第３の実施の形態では、焼付補正部３６３において、逆ガンマ補正後の合成信号Cnに含まれる画像信号Snに対して、階調補正処理を行う点が、第１及び第２の実施の形態とは大きく異なる。
　焼付補正部３６３は、焼付補正処理後の画像信号Snを含む合成信号Cnを、データドライバ２４に供給する。
　なお、図３０において、制御部２６は、ダミー画素信号生成部２１、信号合成部２２、データドライバ２４、表示部２５、及び輝度センサ２５bの他、ガンマ変換部３６１、画像処理部３６２、及び焼付補正部３６３も制御する。
[焼付補正部３６３の詳細]
　次に、図３１は、図３０の焼付補正部３６３の詳細な構成例を示している。
　なお、この焼付補正部３６３では、図６の焼付補正部２３の場合と同様に構成される部分について同一の符号を付すようにして、それらの説明を適宜、省略している。
　すなわち、焼付補正部３６３において、新たに逆ガンマ変換部３８１が設けられているとともに、図６の階調補正部７２に代えて、階調補正部３８２が設けられている他は、図６の場合と同様に構成される。
　逆ガンマ変換部３８１は、傾き補正部７１からの、傾き補正処理後の画像信号Snに対して、逆ガンマ補正を施し、逆ガンマ補正後の画像信号Snを、階調補正部３８２に供給する。
　これにより、逆ガンマ変換部３８１から階調補正部３８２には、式（７）に示されるようなガンマ特性を有する画像信号Snが供給される。
　階調補正部３８２は、逆ガンマ変換部３８１からの画像信号Snの信号電位(Vsig')n(=±√(α/α')×(Vsig)n)の(Vsig)nに、同一の信号電位(ΔVsig)nを加算し、その加算により得られる信号電位(Vsig'')nを、データドライバ２４に供給する。
　すなわち、階調補正部３８２は、オフセット量算出部３９１及びオフセット補正部３９２から構成される。
　オフセット量算出部３９１は、図示せぬメモリに予め保持されているオフセット量算出用情報、及び輝度センサ２５bからの輝度の計測結果に基づいて、オフセット量(ΔVsig)nを算出し、オフセット補正部３９２に供給する。
　なお、オフセット量算出部３９１は、表示用の有機EL素子毎の信号電位(Vsig')n(={±√(α/α')×(Vsig)n})の(Vsig)nにそれぞれ加算される同一のオフセット量(ΔVsig)nを算出する点が、オフセット量算出部１６１とは異なる。
　なお、オフセット量算出部３９１が、オフセット量を算出する方法は、図３２を参照して詳述する。
　オフセット補正部３９２は、オフセット補正部１６２と同様にして、逆ガンマ変換部３８１からの、画像信号Snの信号電位(Vsig')n(={±√(α/α')×(Vsig)n})の(Vsig)nと、オフセット量算出部３９１からのオフセット量(ΔVsig)nを加算する。
　なお、オフセット補正部３９２は、画像信号Snが表す、表示用の有機EL素子それぞれの信号電位(Vsig')nの(Vsig)nに、オフセット量算出部３９１からの同一のオフセット量(ΔVsig)nを加算する点が、オフセット補正部１６２とは異なる。
　オフセット補正部３９２は、その加算の結果得られる加算結果としての信号電位(Vsig'')n=[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n}]を信号電位とする画像信号Snを、データドライバ２４に供給する。
[オフセット量の算出について]
　次に、図３２は、図３１のオフセット量算出部３９１が、オフセット量を算出するときの一例を示している。
　図３２において、関数f2(k)は、電流の劣化前における、階調kと輝度Lとの関係を表す関数である。
　この関数f2(k)(=α×β2×k2.2)は、オフセット量算出用情報として、オフセット量算出部３９１の図示せぬメモリに予め保持されているものとする。
　なお、関数f2(k)は、例えば、表示部２５に内蔵されるものとして想定される任意の有機EL素子の輝度を計測した計測結果に基づいて予め生成され、オフセット量算出部３９１の図示せぬ内蔵のメモリに保持される。
　また、関数f2(k)は、電流の劣化が生じる前に、輝度センサ２５bにより計測された計測結果に基づいて、オフセット量算出部３９１が生成して、図示せぬ内蔵のメモリに保持させるようにしてもよい。
　図３２において、関数g2(k+Δk)(=α×β2×(k-Δk)2.2)は、電流の劣化後における、階調kと輝度Lとの関係を表す関数である。
　関数g2(k+Δk)は、輝度センサ２５bからの輝度の計測結果に基づいて、オフセット量算出部３９１により生成される。図３２において、横軸は階調を表し、縦軸は輝度を表す。
　オフセット量算出部３９１は、輝度センサ２５bからの輝度の計測結果に基づいて、例えば最小自乗法等により、関数g2(k+Δk)を算出する。
　また、例えば、オフセット量算出部３９１は、図示せぬメモリに予め保持している関数f2(k)と、算出した関数g2(k+Δk)に基づいて、f2(k)=g2(k+Δk)を、オフセット量Δkについて解く。
　そして、オフセット量算出部３９１は、f2(k)=g2(k+Δk)を解くことにより得られるオフセット量Δkを、オフセット補正部３９２に供給する。
　階調補正部３８２では、逆ガンマ変換部３８１から、ガンマ特性を有する画像信号Snが供給される。このため、図３２に示されるように、注目素子のいずれの階調においても、同一のオフセット量Δkで、注目素子の階調を補正することが可能となる。
[表示装置３４１の動作説明]
　次に、図３３のフローチャートを参照して、図３０の表示装置３４１が行う表示処理（以下、第３の表示処理という）について説明する。
　この第３の表示処理は、例えば、表示装置３４１の電源がオンとされたときに開始される。
　ステップＳ１６１及びステップＳ１６２では、それぞれ、図１８のステップＳ１及びステップＳ２と同様の処理が行われる。
　ステップＳ１６３では、ガンマ変換部３６１は、例えば、信号合成部２２からの合成信号Cnをガンマ補正し、ガンマ補正後の合成信号Cnを、画像処理部３６２に供給する。これにより、合成信号Cn(画像信号Sn)の特性は、線形の特性に変換される。
　ステップＳ１６４では、画像処理部３６２は、ガンマ変換部３６１からの、線形の特性に変換された合成信号Cnに対して、所定の画像処理（例えば、色再現処理や、ノイズ低減処理等）を施し、画像処理後の合成信号Cnを、焼付補正部３６３に供給する。
　ステップＳ１６５乃至ステップＳ１６７では、それぞれ、図１８のステップＳ３乃至５と同様の処理が行われる。
　ステップＳ１６８では、制御部２６は、表示用の有機EL素子の全てを注目素子としたか否かを判定し、表示用の有機EL素子の全てを注目素子としていないと判定した場合、処理をステップＳ１６５に戻す。
　そして、ステップＳ１６５では、制御部２６は、表示部２５に含まれる表示用の有機EL素子のうち、まだ注目素子とされていない有機EL素子に注目し、注目している有機EL素子を、新たな注目素子とし、処理をステップＳ１６６に進め、それ以降同様の処理が繰り返される。
　また、ステップＳ１６８では、制御部２６は、表示用の有機EL素子の全てを注目素子としたと判定した場合、処理をステップＳ１６９に進める。
　表示用の有機EL素子の全てが注目素子とされた後、注目素子とされた有機EL素子の信号電位(Vsig')n(=±√(α/α')×(Vsig)n)をそれぞれ表す画像信号Snを含む合成信号Cnが、図３１の傾き補正部７１から逆ガンマ変換部３８１に供給される。
　ステップＳ１６９では、逆ガンマ変換部３８１は、傾き補正部７１からの合成信号Cnに含まれる、傾き補正処理後の画像信号Snに対して、逆ガンマ補正を施し、逆ガンマ補正後の画像信号Snを、階調補正部３８２に供給する。逆ガンマ補正により、傾き補正処理後の画像信号Snの特性は、線形の特性から、ガンマ特性に変換される。
　ステップＳ１７０では、階調補正部３８２は、逆ガンマ変換部３８１からの、ガンマ特性に変換された画像信号Snが表す信号電位(Vsig')n(=±√(α/α')×(Vsig)n)の(Vsig)nに、同一の信号電位(ΔVsig)nを加算する。
　そして、階調補正部３８２は、その加算により得られる信号電位(Vsig'')nをそれぞれ表す画像信号Snを、階調補正処理後の画像信号Snとして、データドライバ２４に供給する。
　すなわち、階調補正部３８２は、オフセット量算出部３９１及びオフセット補正部３９２から構成される。
　オフセット量算出部３９１は、図示せぬメモリに予め保持されているオフセット量算出用情報、及び輝度センサ２５bからの輝度の計測結果に基づいて、傾き補正処理後の画像信号Snの信号電位(Vsig')n(=±√(α/α')×(Vsig)n)の(Vsig)nに加算されるオフセット量(ΔVsig)nを算出し、オフセット補正部３９２に供給する。　
　オフセット補正部３９２は、オフセット補正部１６２と同様にして、逆ガンマ変換部３８１からの、傾き補正処理後の画像信号Snの信号電位(Vsig')n(={±√(α/α')×(Vsig)n})の(Vsig)nと、オフセット量算出部３９１からのオフセット量(ΔVsig)nを加算する。
　オフセット補正部３９２は、その加算の結果得られる加算結果としての信号電位[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n}]を、信号電位(Vsig'')nとする画像信号Snを、階調補正処理後の画像信号Snとして、データドライバ２４に供給する。
　ステップＳ１７１乃至ステップＳ１７４では、それぞれ、図１８のステップＳ８乃至ステップＳ１１と同様の処理が行われる。そして、処理はステップＳ１６１に戻り、それ以降、同様の処理が繰り返される。
　なお、第３の表示処理は、例えば、表示装置３４１の電源がオフとされたときに終了される。
　以上説明したように、第３の表示処理によれば、線形の特性とされた画像信号に逆ガンマ補正を施すようにした。そして、逆ガンマ補正により得られる、ガンマ特性とされた画像信号に対して、階調補正処理を行うようにした。
　このため、第３の表示処理によれば、例えば、図３２に示したように、注目素子の信号電位に拘らず、同一のオフセット量で階調を補正することが可能となる。よって、階調補正処理による負荷を軽減できるようになる。
　また、線形の特性とされた画像信号において、注目素子の信号電位に拘らず、同一のオフセット量で階調を補正する場合と比較して、精度良く階調を補正することが可能となる。
　第１の実施の形態では、例えば、劣化曲線推定部１０５が、図示せぬ内蔵のメモリに保持されている輝度劣化基準曲線と、輝度センサ２５bからの輝度の計測結果に基づいて、表示用の有機EL素子についての輝度劣化曲線を推定するようにした。
　ところで、輝度劣化曲線は、発光中の有機EL素子の温度にも起因して変化するため、有機EL素子の温度にも基づいて、輝度劣化曲線を推定することが望ましい。
＜４．第４の実施の形態＞
[表示装置４０１の構成例]
　次に、図３４は、第４の実施の形態である表示装置４０１の構成例を示している。
　なお、この表示装置４０１は、発光中の有機EL素子の温度にも基づいて、輝度劣化曲線を推定するようにしたものである。
　この表示装置４０１は、第１の実施の形態である表示装置１（図１）の場合と同様に構成されている部分については、同一の符号を付すようにしているため、それらの説明は、以下、適宜、省略するようにしている。
　すなわち、表示装置４０１において、図１の焼付補正部２３及び表示部２５に代えて、焼付補正部４２１及び表示部４２２が設けられている他は、図１の表示装置１と同様に構成される。
　焼付補正部４２１には、信号合成部２２からの合成信号Cnが供給される。焼付補正部４２１は、表示部４２２が内蔵する温度センサ２５cからの温度にも基づいて、信号合成部２２からの合成信号Cnに含まれる画像信号Snに対して、焼付補正処理を施す。この焼付補正処理により、表示部４２２の表示画面２５aに生じる焼付きを防止できる。
　表示部４２２は、表示部４２２の温度を計測する温度センサ２５cを内蔵しており、それ以外は、表示部２５と同様に構成される。
　温度センサ２５cは、表示部４２２に内蔵され、表示部４２２の温度を計測し、焼付補正部４２１に供給する。
[焼付補正部４２１の詳細]
　次に、図３５は、図３４の焼付補正部４２１の詳細な構成例を示している。
　この焼付補正部４２１は、傾き補正部４４１、階調補正部４４２、検出部４４３、及び保持部４４４から構成される。
　傾き補正部４４１には、信号合成部２２からの合成信号Cnが供給される。
　傾き補正部４４１は、信号合成部２２からの合成信号Cnに含まれる画像信号Snの直前に入力された画像信号Sn-1の信号電位(Vsig)n-1と、温度センサ２５cで計測された温度dn-1を、保持部４４４から読み出す。
　後述するが、保持部４４４には、信号合成部２２から傾き補正部４４１に供給された合成信号Cn-1に含まれる画像信号Sn-1の信号電位(Vsig)n-1と、画像信号Sn-1としての表示画像を、表示画面２５aに表示する際の表示部２５の内部の温度dn-1が保持されている。
　なお、表示部２５の内部の温度dn-1は、表示部２５に内蔵された各画素回路に含まれる有機EL素子の温度と(殆ど)等しいものとする。
　傾き補正部４４１は、保持部４４４から読み出した信号電位(Vsig)n-1及び温度dn-1、並びに輝度センサ２５bからの輝度の計測結果に基づいて、効率の劣化により低下した傾きα'を元の傾きαに補正するための補正量±√(α/α')を算出する。
　また、傾き補正部４４１は、信号合成部２２からの合成信号Cnに含まれる画像信号Snの信号電位(Vsig)nに、算出した補正量±√(α/α')を乗算する。そして、傾き補正部４４１は、その乗算の結果得られる乗算結果としての信号電位{±√(α/α')×(Vsig)n}を有する画像信号Snを含む合成信号Cnを、階調補正部４４２に供給する。
　階調補正部４４２は、図６の階調補正部７２と同様に構成され、階調補正部７２と同様の処理を行う。
　すなわち、例えば、階調補正部４４２は、保持部４４４から、画像信号Snの信号電位(Vsig)nを読み出す。
　また、階調補正部４４２は、保持部４４４から読み出した信号電位(Vsig)nと、輝度センサ２５bからの輝度の計測結果に基づいて、電流の劣化により低下した階調(k-Δk)を元の階調kに補正するためのオフセット量Δkに対応する(ΔVsig)nを算出する。
　そして、階調補正部４４２は、傾き補正部４４１からの、傾き補正処理後の画像信号Snの信号電位(Vsig')n={±√(α/α')×(Vsig)n}の(Vsig)nに、オフセット量Δkに対応する(ΔVsig)nを加算する。
　階調補正部４４２は、その加算の結果得られる加算結果としての信号電位(Vsig'')n=[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n}]とされた画像信号Sn、すなわち、階調補正処理後の画像信号Snを含む合成信号Cnを、データドライバ２４に供給する。
　検出部４４３は、図６の検出部７３と同様にして、信号合成部２２からの合成信号Cnに含まれる画像信号Snに基づいて、画像信号Snの信号電位（Vsig）nを検出し、保持部４４４に供給して保持させる。
　また、検出部４４３は、温度センサ２５cからの温度dnを、保持部４４４に供給して保持させる。
　保持部４４４は、検出部４４３からの信号電位(Vsig)n及び温度dnを保持する。
　なお、傾き補正部４４１が、温度センサ２５cからの温度dnも用いるようにして、画像信号Snに対して傾き補正処理を行うようにしているのは、以下の理由による。
　次に、図３６を参照して、図３５の傾き補正部４４１が、温度センサ２５cからの温度dnも用いる理由について説明する。
　図３６は、表示部４２２の温度の変化に応じて、輝度劣化曲線が変化するときの一例を示している。
　なお、図３６において、横軸は時間を表し、縦軸は時間の経過に応じて低下する傾きを表す。
　図３６において、輝度劣化曲線１２１'は、有機EL素子に電流I(L=200nit)を流したときの、有機EL素子の傾きの低下の程度を表す。この輝度劣化曲線１２１'は、図３６に示されるように、表示部４２２の内部の温度（表示部４２２に内蔵された有機EL素子の温度）の変化に応じて、有機EL素子の傾きの低下が異なるものとなっている。
　すなわち、輝度劣化曲線１２１'では、有機EL素子の温度が高くなる程に、有機EL素子の傾きが、より速く低下するものとなっている。
　また、図３６において、輝度劣化曲線１２２'は、有機EL素子に電流I(L=400nit)を流したときの、有機EL素子の傾きの低下の程度を表す。この輝度劣化曲線１２２'についても、輝度劣化曲線１２１'の場合と同様に、表示部４２２の内部の温度の変化に応じて、有機EL素子の傾きの低下が異なるものとなっている。
　したがって、第４の実施の形態では、傾き補正部４４１において、輝度センサ２５bからの輝度の計測結果の他、温度センサ２５cからの温度にも基づいて、輝度劣化曲線を推定して、輝度劣化曲線の推定の精度を向上させるようにしている。
[傾き補正部４４１の詳細]
　次に、図３７は、図３５の傾き補正部４４１の詳細な構成例を示している。
　なお、この傾き補正部４４１は、図７の傾き補正部７１と同様に構成される部分について同一の符号を付すようにしているので、それらの説明は、以下、適宜省略している。
　すなわち、傾き補正部４４１において、図７の補正量生成部１０１及び劣化曲線推定部１０５に代えて、補正量生成部４６１及び劣化曲線推定部４６２が設けられている他は、図７の場合と同様に構成される。
　補正量生成部４６１は、図７の補正量生成部１０１と同様に、傾き保持部１０３から、注目素子の傾きα'を読み出す。
　また、補正量生成部４６１は、保持部４４４から、注目素子の信号電位(Vsig)n-1、及び画像信号Sn-1としての表示画像を表示していたときの表示部４２２の内部の温度dn-1を読み出す。
　補正量生成部４６１は、保持部４４４から読み出した注目素子の信号電位(Vsig)n-1に基づいて、注目素子に流れていた電流In-1を算出する。
　また、補正量生成部４６１は、劣化曲線保持部１０４に保持されている複数の輝度劣化曲線のうち、算出した電流In-1と、保持部４４４から読み出した温度dn-1との組合せに対応する輝度劣化曲線を、劣化曲線保持部１０４から読み出す。
　なお、図３７の劣化曲線保持部１０４には、複数の異なる電流I(L=Xnit,d=Y)の値毎に、電流I(L=Xnit,d=Y)を流した計測用の有機EL素子の輝度を計測して得られる計測結果に基づき推定された輝度劣化曲線が、電流I(L=Xnit)と温度d=Yとの組合せに対応させる形で保持されている。
　ここで、電流I(L=Xnit,d=Y)とは、表示部４２２の内部の温度d=Yであるときに、計測用の有機EL素子に流される電流I(L=Xnit)を表す。
　補正量生成部４６１は、傾き保持部１０３から読み出した注目素子の傾きα'と、劣化曲線保持部１０４から読み出した輝度劣化曲線に基づいて、注目素子の最新の傾きα'を算出する。
　そして、補正量生成部４６１は、注目素子の最新の傾きα'を、傾き保持部１０３に供給して、上書きにより保持（記憶）させる。
　また、補正量生成部４６１は、注目素子の最新の傾きα'に基づいて、補正量±√(α/α')を生成（算出）し、補正量乗算部１０２に供給する。なお、補正量生成部４６１が補正量を生成する方法は、図３８を参照して詳述する。
　劣化曲線推定部４６２は、図７の劣化曲線推定部１０５と同様に、図示せぬメモリを内蔵しており、そのメモリには、傾きが低下する程度を表す輝度劣化曲線を推定する際に基準となる輝度劣化基準曲線が予め保持されている。
　劣化曲線推定部４６２は、輝度センサ２５bからの輝度の計測結果と、図示せぬメモリに予め保持された輝度劣化基準曲線の他、温度センサ２５cからの温度にも基づいて、効率の劣化による、表示用の有機EL素子の輝度の低下を表す輝度劣化曲線を推定する。
　劣化曲線推定部４６２は、その推定の結果得られる輝度劣化曲線を、輝度センサ２５bにより計測される計測用の有機EL素子に流している電流I(L=Xnit)、及び輝度センサ２５bの計測時の温度dnに対応付けた形で、劣化曲線保持部１０４に供給して保持させる。
　なお、劣化曲線推定部４６２が輝度劣化曲線を推定する方法は、図３９及び図４０を参照して詳述する。
[補正量生成部４６１が行う補正量の生成]
　次に、図３８は、図３７の劣化曲線保持部１０４に保持される輝度劣化曲線の一例を示している。
　図３８において、輝度劣化曲線１２１1'は、計測用の有機EL素子の温度が30度であるときに電流I(L=200nit)を流したときの傾きの劣化を表す。
　また、図３８において、輝度劣化曲線１２１2'は、計測用の有機EL素子の温度が40度であるときに電流I(L=200nit)を流したときの傾きの劣化を表す。
　輝度劣化曲線１２１1'及び１２１2'は、それぞれ、図３７の劣化曲線推定部４６２により生成（推定）され、劣化曲線保持部１０４に供給されて保持される。
　なお、図３８において、横軸は時間を表し、縦軸は傾きを表す。
　傾き補正部４４１の補正量生成部４６１は、保持部４４４から、注目素子の信号電位(Vsig)n-1、及び注目素子の温度dn-1を読み出す。
　そして、補正量生成部４６１は、劣化曲線保持部１０４に保持されている複数の輝度劣化曲線のうち、読み出した注目素子の注目素子の信号電位(Vsig)n-1に基づく電流In-1、及び注目素子の温度dn-1に対応する輝度劣化曲線を、劣化曲線保持部１０４から読み出す。
　すなわち、補正量生成部４６１では、注目素子の信号電位(Vsig)n-1、及び注目素子の温度dn-1に対応する輝度劣化曲線を、劣化曲線保持部１０４から読み出す点が、図７の補正量生成部１０１とは異なるが、それ以外は、補正量生成部１０１と同様の処理を行う。
　具体的には、例えば、電流In-1が電流I(L=200nit)であり、温度dn-1が30度である場合、補正量生成部４６１は、電流I(L=200nit)と温度d=30度に対応付けられた輝度劣化曲線１２１1'を、劣化曲線保持部１０４から読み出す。
　補正量生成部４６１は、補正量生成部１０１と同様に、傾き保持部１０３から、注目素子の傾きα'を読み出す。そして補正量生成部４６１は、読み出した注目素子の傾きα'と、劣化曲線保持部１０４から読み出した輝度劣化曲線１２１1'に基づいて、図９の補正量生成部１０１と同様の処理を行う。
　そして、補正量生成部４６１は、図９の補正量生成部１０１と同様にして生成した補正量を、補正量乗算部１０２に供給する。
　なお、例えば、電流In-1が電流I(L=200nit)であり、温度dn-1が40度である場合、補正量生成部４６１は、電流I(L=200nit)と温度d=40度に対応付けられた輝度劣化曲線１２１2'を、劣化曲線保持部１０４から読み出す。
　そして、補正量生成部４６１は、補正量生成部１０１と同様に、傾き保持部１０３から、注目素子の傾きα'を読み出す。そして補正量生成部４６１は、読み出した注目素子の傾きα'と、劣化曲線保持部１０４から読み出した輝度劣化曲線１２１2'に基づいて、図９の補正量生成部１０１と同様の処理を行う。
　すなわち、例えば、注目素子の傾きα'=αである場合に、輝度劣化曲線１２１1'に基づいて、注目素子の最新の傾きα'を算出するときには、補正量生成部４６１は、以下のような処理を行う。
　つまり、補正量生成部４６１は、輝度劣化曲線１２１1'上の点P0(注目素子の傾きα'=αに対応する点P0)を、注目素子に電流I(L=200nit,d=30)を流した時間t4の経過後の点P1"に移動させるようにして、補正量生成部１０１と同様にして、注目素子の最新の傾きα'=α1'を算出する。
　なお、図３８では、図９との対応関係を明確にするために、縦軸に記載した傾きα'として、図９に記載された傾きα'と同一の傾きα1',α2',α3'を図示するようにしているが、実際には異なるものである。
　すなわち、図３８に記載された傾きα1',α2',α3'は、一般的に、図９に記載された傾きα1',α2',α3'とは異なる。
　また、例えば、注目素子の傾きα'=α1'である場合に、輝度劣化曲線１２１1'に基づいて、注目素子の最新の傾きα'=α2'を算出するときには、補正量生成部４６１は、以下のような処理を行う。
　つまり、補正量生成部４６１は、輝度劣化曲線１２１1'上の点P1"(注目素子の傾きα'=α1'に対応する点P1")を、注目素子に電流I(L=200nit,d=30)を流した時間t5の経過後の点P2"に移動させるようにして、補正量生成部１０１と同様にして、注目素子の最新の傾きα'=α2'を算出する。
　さらに、例えば、注目素子の傾きα'=α2'である場合に、輝度劣化曲線１２１2'に基づいて、注目素子の最新の傾きα'=α3'を算出するときには、補正量生成部４６１は、以下のような処理を行う。
　つまり、補正量生成部４６１は、輝度劣化曲線１２１2'上の点P1'''(注目素子の傾きα'=α2'に対応する点P1''')を、注目素子に電流I(L=200nit,d=40)を流した時間t6の経過後の点P2'''に移動させるようにして、補正量生成部１０１と同様にして、注目素子の最新の傾きα'=α3'を算出する。
[劣化曲線推定部４６２が行う輝度劣化曲線の推定]
　次に、図３９及び図４０を参照して、図３７の劣化曲線推定部４６２が、輝度劣化曲線を推定する推定方法の一例を説明する。
　図３９は、劣化曲線推定部４６２が、輝度センサ２５bからの輝度の計測結果とともに、温度センサ２５cからの温度の計測結果に基づいて、輝度劣化曲線を推定するときの一例を示している。
　図３９において、横軸は時間を表し、縦軸は傾きを表す。
　最初に、劣化曲線推定部４６２が、表示部４２２の内部の温度が30度である場合に、電流I(L=200nit)が流される計測用の有機EL素子の輝度の低下を表す輝度劣化曲線１２１1'（図３８）を推定する方法を説明する。
　劣化曲線推定部４６２には、例えば、輝度センサ２５bから、電流I(L=200nit,d=30)が流される計測用の有機EL素子の輝度を計測して得られた輝度L(t,I(L=200nit,d=30))が供給される。
　ここで、電流I(L=200nit,d=30)とは、表示部４２２の内部の温度が30度である場合に、計測用の有機EL素子に流される電流I(L=200nit)を表す。
　また、劣化曲線推定部４６２には、例えば、温度センサ２５cから、表示部４２２の内部の温度d=30、つまり、電流I(L=200nit,d=30)が流されている計測用の有機EL素子の温度d=30が供給される。
　なお、劣化曲線推定部４６２は、図示せぬ内蔵のメモリに、温度d=Yのときに有機EL素子に流される電流I(L=Xnit)を表す電流I(L=Xnit,d=Y)の値を予め保持している。ここで、電流I(L=Xnit,d=Y)の値は、温度d=Yに拘らず、電流I(L=Xnit)の値と同一であるが、説明の便宜上、電流I(L=Xnit,d=Y)と表すようにしている。
　劣化曲線推定部４６２は、図示せぬ内蔵するメモリに予め保持している電流の値I(L=200nit,d=30)と、輝度センサ２５bからの計測結果L(t,I(L=200nit))に基づいて、式（４）に基づき導出される式α(t,I(L=200nit,d=30))'=L(t,I(L=200nit))/I(L=200nit,d=30)により、時間tに対する傾きα(t,I(L=200nit,d=30))'を算出する。
　また、劣化曲線推定部４６２は、図示せぬ内蔵のメモリに、輝度劣化基準曲線１４１1'を予め保持している。この輝度劣化基準曲線１４１1'は、電流I(L=200nit,d=30)が流される有機EL素子の輝度の低下を表す平均的な輝度劣化曲線であり、例えば輝度劣化曲線１２１1'を推定する際の基準とされる。
　劣化曲線推定部４６２は、算出した傾きα(t,I(L=200nit,d=30))'と、予め保持している輝度劣化基準曲線１４１1'に基づいて、電流I(L=200nit,d=30)を流したときの計測用の有機EL素子についての輝度劣化曲線１２１1'を推定する。　
　すなわち、例えば、劣化曲線推定部４６２は、図３９に示されるように、傾きα(0,I(L=200nit,d=30))'=αが得られたときから、傾きα(T,I(L=200nit,d=30))'が得られるまでの時間Δt1'を算出する。
　なお、図３９では、図１０との対応関係を明確にするために、図１０に記載された時間Δt1',Δt1,Δt2',Δt2と同一の時間Δt1',Δt1,Δt2',Δt2を図示するようにしているが、実際には異なるものである。
　すなわち、図３９に記載された傾きΔt1',Δt1,Δt2',Δt2は、一般的に、図１０に記載された傾きΔt1',Δt1,Δt2',Δt2とは異なる。
　また、例えば、劣化曲線推定部４６２は、図３９に示されるように、輝度劣化基準曲線１４１1'において、傾きα(0,I(L=200nit,d=30))'=αが得られたときから、傾きα(T,I(L=200nit,d=30))'が得られるまでの時間Δt1を算出する。
　さらに、劣化曲線推定部４６２は、算出した時間Δt1'と時間Δt1に基づいて、輝度劣化曲線１４１1'に対する傾きα(t,I(L=200nit))'の低下の速さを表す温度加速係数Δt1'/Δt1を算出する。
　劣化曲線推定部４６２は、算出した温度加速係数Δt1'/Δt1を、輝度劣化基準曲線１４１1'を表す式A(t,I(L=200nit,d=30))に乗算することにより、輝度劣化曲線１２１1'を推定し、劣化曲線保持部１０４に供給して保持させる。
　すなわち、例えば、劣化曲線推定部４６２は、その乗算により得られる新たな式(Δt1'/Δt1)×A(t,I(L=200nit,d=30))を表す輝度劣化曲線１２１1'を、電流I(L=200nit,d=30)と温度d=30の組合せに対応付けた形で、劣化曲線保持部１０４に供給して保持させる。
　次に、劣化曲線推定部４６２が、表示部４２２の温度が40度である場合に、電流I(L=400nit)が流される計測用の有機EL素子の輝度の低下を表す輝度劣化曲線１２２2'(図３８)を推定する方法を説明する。
　劣化曲線推定部４６２には、例えば、輝度センサ２５bから、電流I(L=200nit,d=40)が流される計測用の有機EL素子の輝度を計測して得られた輝度L(t,I(L=200nit,d=40))が供給される。
　ここで、電流I(L=200nit,d=40)とは、表示部４２２の内部の温度が40度である場合に、計測用の有機EL素子に流される電流I(L=200nit)を表す。
また、劣化曲線推定部４６２には、例えば、温度センサ２５cから、表示部４２２の内部の温度d=40、つまり、電流I(L=200nit,d=40)が流されている計測用の有機EL素子の温度d=40が供給される。
　劣化曲線推定部４６２は、図示せぬ内蔵するメモリに予め保持している電流の値I(L=200nit,d=40)と、輝度センサ２５bからの計測結果L(t,I(L=200nit))に基づいて、式（４）に基づき導出される式α(t,I(L=200nit,d=40))'=L(t,I(L=200nit))/I(L=200nit,d=30)により、時間tに対する傾きα(t,I(L=200nit,d=30))'を算出する。
　また、劣化曲線推定部４６２は、図示せぬ内蔵のメモリに、輝度劣化基準曲線１４１2'を予め保持している。この輝度劣化基準曲線１４１2'は、電流I(L=200nit,d=40)が流される有機EL素子の輝度の低下を表す平均的な輝度劣化曲線であり、例えば輝度劣化曲線１２１2'を推定する際の基準とされる。
　劣化曲線推定部４６２は、算出した傾きα(t,I(L=200nit,d=40))'と、予め保持している輝度劣化基準曲線１４１2'に基づいて、電流I(L=200nit,d=40)を流したときの計測用の有機EL素子についての輝度劣化曲線１２１2'を推定する。
　すなわち、例えば、劣化曲線推定部４６２は、図３９に示されるように、傾きα(0,I(L=200nit,d=40))'が得られたときから、傾きα(T,I(L=200nit,d=40))'が得られるまでの時間Δt2'を算出する。
　また、例えば、劣化曲線推定部４６２は、図３９に示されるように、輝度劣化基準曲線１４１2'において、傾きα(0,I(L=200nit,d=40))'が得られたときから、傾きα(T,I(L=200nit,d=40))'が得られるまでの時間Δt2を算出する。
　さらに、劣化曲線推定部４６２は、算出した時間Δt2'と時間Δt2に基づいて、輝度劣化曲線１４１2'に対する傾きα(t,I(L=200nit,d=40))'の低下の速さを表す温度加速係数Δt2'/Δt2を算出する。
　劣化曲線推定部４６２は、算出した温度加速係数Δt2'/Δt2を、輝度劣化基準曲線１４１2'を表す式A(t,I(L=200nit,d=40))に乗算することにより、輝度劣化曲線１２１2'を推定し、劣化曲線保持部１０４に供給して保持させる。
　すなわち、例えば、劣化曲線推定部４６２は、その乗算により得られる新たな式(Δt2'/Δt2)×A(t,I(L=200nit,d=40))を表す輝度劣化曲線１２１2'を、電流I(L=200nit,d=40)及び温度d=40の組合せに対応付けた形で、劣化曲線保持部１０４に供給して保持させる。
　なお、劣化曲線推定部４６２は、図示せぬ内蔵のメモリに、複数の輝度劣化基準曲線（例えば、輝度劣化基準曲線１４１1',１４１2'など）を予め保持するようにしている。
　しかしながら、劣化曲線推定部４６２が、複数の異なる電流I(L=Xnit,d=Y)毎に、電流I(L=Xnit,d=Y)が流れる計測用の有機EL素子についての輝度劣化曲線を推定する場合、複数の異なる電流I(L=Xnit,d=Y)の数だけ、対応する輝度劣化基準曲線を、内蔵するメモリに保持する必要がある。
　この場合、輝度劣化基準曲線の数に応じて、メモリの記憶容量を増やさなければならない。
　したがって、劣化曲線推定部４６２では、劣化曲線推定部１０５の場合と同様に、複数の輝度劣化基準曲線のいずれか１つの輝度劣化基準曲線を、いずれの輝度劣化曲線を推定する場合にも使用可能なマスターカーブとして保持して、メモリの記憶容量を節約することができる。
　その他、例えば、劣化曲線推定部４６２は、複数の異なる電流I(L=Xnit)毎に、１つのマスターカーブを保持するようにして、メモリの記憶容量をより節約するようにしてもよい。
　次に、図４０は、例えば、輝度劣化曲線１４１1'を、電流I(L=200nit)についてのマスターカーブとしたときの一例を示している。
　図４０に示される輝度劣化曲線１４１1'は、例えば、電流I(L=200nit)についてのマスターカーブを表している。
　マスターカーブとしての輝度劣化曲線１４１1'は、表示部４２２の内部の温度d=Yに拘らず、電流I(L=200nit,d=Y)が流れる計測用の有機EL素子についての輝度劣化曲線を推定する際に用いられる。
　例えば、劣化曲線推定部４６２は、輝度センサ２５bからの計測結果に基づいて、傾きの低下の程度を表す関数１６１1を算出する。
　また、例えば、劣化曲線推定部４６２は、温度センサ２５cからの計測結果である温度dを、温度センサ２５cから取得する。
　そして、劣化曲線推定部４６２は、マスターカーブとしての輝度劣化基準曲線１４１1'と、関数１６１1とに基づいて、温度加速係数Δt1'/Δt1を算出するようにして、以下、上述したようにして輝度劣化曲線を推定する。
　また、劣化曲線推定部４６２は、温度センサ２５cからの温度dに基づいて、画素回路１８４の温度が３０度から４０度に変化したか否かを判定する。
　さらに、劣化曲線推定部４６２は、温度センサ２５cからの温度dに基づいて、画素回路１８４の温度が３０度から４０度に変化したと判定した場合、温度dが40度に変化後に、輝度センサ２５bに計測されて得られた計測結果に基づいて、関数１６１2を算出する。
　そして、劣化曲線推定部４６２は、マスターカーブとしての輝度劣化基準曲線１４１1'と、関数１６１2とに基づいて、温度加速係数Δt2'/Δt2を算出するようにして、以下、上述したようにして輝度劣化曲線を推定する。
　また、劣化曲線推定部４６２は、温度センサ２５cからの温度dに基づいて、画素回路１８４の温度が４０度から３０度に変化したか否かを判定する。
　さらに、劣化曲線推定部４６２は、温度センサ２５cからの温度dに基づいて、画素回路１８４の温度が４０度から３０度に変化したと判定した場合、温度dが30度に変化後に、輝度センサ２５bに計測されて得られた計測結果に基づいて、関数１６１3を算出する。
　そして、劣化曲線推定部４６２は、マスターカーブとしての輝度劣化基準曲線１４１1'と、関数１６１3とに基づいて、温度加速係数Δt3'/Δt3を算出するようにして、以下、上述したようにして輝度劣化曲線を推定する。
[表示装置４０１の動作説明]
　次に、図４１のフローチャートを参照して、図３４の表示装置４０１が行う表示処理（以下、第４の表示処理という）について説明する。
　この第４の表示処理は、例えば、表示装置４０１の電源がオンとされたときに開始される。
　ステップＳ１９１及びステップＳ１９２では、それぞれ、図１８のステップＳ１及びステップＳ２と同様の処理が行われる。
　ステップＳ１９３では、制御部２６は、表示部４２２に含まれる表示用の有機EL素子に順次注目し、注目している有機EL素子を、注目素子とする。
　ステップＳ１９４では、焼付補正部４２１の検出部４４３は、信号合成部２２からの合成信号Cnに含まれる画像信号Snに基づいて、注目素子の信号電位(Vsig)nを検出し、保持部４４４に供給して保持させる。
　ステップＳ１９５では、焼付補正部４２１の検出部４４３は、温度センサ２５cからの計測結果である温度dnを、注目素子の温度dnとして検出し、保持部４４４に供給して保持させる。なお、温度dnとは、注目素子の信号電位(Vsig)nに基づいて、注目素子が発光するときの表示部４２２の内部の温度を表す。
　表示部４２２の内部の温度dnは、注目素子の温度dnと（殆ど）同一であるものとする。
　ステップＳ１９６では、焼付補正部４２１の傾き補正部４４１は、信号合成部２２から供給される注目画素の信号電位(Vsig)nに対して、温度dn-1も用いた傾き補正処理を行う。この傾き補正処理の詳細は、図４２のフローチャートを参照して詳述する。
　傾き補正部４４１は、傾き補正処理で補正後の、注目素子の信号電位(Vsig')n(=±√(α/α')×(Vsig)n)を、階調補正部４４２に供給する。
　ステップＳ１９７では、焼付補正部４２１の階調補正部４４２は、階調補正部７２と同様にして、傾き補正部４４１から供給される、注目画素の信号電位(Vsig')n(=±√(α/α')×(Vsig)n)の(Vsig)nに、オフセット量としての(ΔVsig)nを加算することにより、注目画素における階調(k-Δk)を元の階調kに補正する階調補正処理を行う。
　ステップＳ１９８では、制御部２６は、表示部４２２に含まれる表示用の有機EL素子の全てを注目素子としたか否かを判定し、表示用の有機EL素子の全てを注目素子としていないと判定した場合、処理をステップＳ１９３に戻す。
　そして、ステップＳ１９３では、制御部２６は、表示部４２２に含まれる表示用の有機EL素子のうち、まだ注目素子とされていない有機EL素子に注目し、注目している有機EL素子を、新たな注目素子とし、処理をステップＳ４１９に進め、それ以降同様の処理が繰り返される。
　また、ステップＳ１９８において、制御部２６は、表示部４２２に含まれる表示用の有機EL素子の全てを注目素子に設定したと判定した場合、処理をステップＳ１９９に進める。
　表示用の有機EL素子の全てが注目素子とされた後、注目素子とされた有機EL素子の信号電位(Vsig'')n(=±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n})をそれぞれ表す画像信号Snを含む合成信号Cnが、データドライバ２４に供給される。
　ステップＳ１９９乃至ステップＳ２０１では、それぞれ、図１８のステップＳ８乃至ステップＳ１０と同様の処理が行われる。
　ステップＳ２０２では、傾き補正部４４１は、輝度センサ２５bからの輝度の計測結果の他、温度センサ２５cからの温度の計測結果にも基づいて、輝度劣化曲線を推定して保持する劣化曲線推定処理を行う。この劣化曲線推定処理は、図４３のフローチャートを参照して詳述する。
　ステップＳ２０２の終了後、処理はステップＳ１９１に戻され、それ以降同様の処理が行われる。
　なお、第４の表示処理は、例えば、表示装置４０１の電源がオフとされたときに終了される。
　以上説明したように、第４の表示処理によれば、有機EL素子の温度にも基づいて、傾き補正処理を行うようにした。このため、有機EL素子の温度に応じて、傾きの低下の速さが異なる有機EL素子の傾きα'を、より正確に元の傾きαに補正できる。
　また、第４の表示処理によれば、計測用の有機EL素子の温度が変化した場合、温度の変化前に得られた輝度の計測結果に基づいて、変化前の温度における輝度劣化曲線を推定し、温度の変化後に得られた輝度の計測結果に基づいて、変化後の温度における輝度劣化曲線を推定するようにした。
　このため、温度の変化前と変化後に得られた輝度の計測結果の両方を用いて、１の輝度劣化曲線を推定する場合と比較して、温度毎の、より正確な輝度劣化曲線を推定することが可能となる。
[傾き補正部４４１が行う傾き補正処理の詳細]
　次に、図４２のフローチャートを参照して、図４１のステップＳ１９６における傾き補正処理について説明する。
　ステップＳ２２１では、補正量生成部４６１は、補正量生成部１０１と同様にして、傾き保持部１０３から、注目素子の傾きα'を読み出す。
　ステップＳ２２２では、補正量生成部４６１は、補正量生成部１０１と同様にして、保持部４４４から、注目素子の信号電位(Vsig)n-1を読み出す。
　ステップＳ２２３では、補正量生成部４６１は、保持部４４４から、注目素子の温度dn-1を読み出す。
　ステップＳ２２４では、補正量生成部４６１は、保持部４４４から読み出した注目素子の信号電位(Vsig)n-1に基づいて、注目画素としての有機EL素子に流れていた電流In-1を算出する。
　そして、補正量生成部１０１は、劣化曲線保持部１０４に保持されている複数の輝度劣化曲線のうち、算出した電流In-1と、保持部４４４から読み出した温度dn-1との組合せに対応付けられた輝度劣化曲線を、劣化曲線保持部１０４から読み出す。
　ステップＳ２２５では、補正量生成部４６１は、補正量生成部１０１と同様に、傾き保持部１０３から読み出した注目素子の傾きα'と、劣化曲線保持部１０４から読み出した輝度劣化曲線に基づいて、注目素子の最新の傾きα'を算出する。
　そして、補正量生成部１０１は、注目素子の最新の傾きα'を、傾き保持部１０３に供給して、上書きにより保持（記憶）させる。
　ステップＳ２２６では、補正量生成部４６１は、補正量生成部１０１と同様に、注目素子の最新の傾きα'に基づいて、補正量±√(α/α')を生成（算出）し、補正量乗算部１０２に供給する。
　ステップＳ２２７では、図１９のステップＳ３６と同様の処理が行われる。すなわち、補正量乗算部１０２は、注目素子の信号電位(Vsig)nに対して、補正量生成部４６１からの補正量±√(α/α')を乗算する。
　その後、図４２の傾き補正処理は終了され、処理は、図４１のステップＳ１９６に戻り、補正量乗算部１０２は、その乗算により得られる信号電位{±√(α/α')×(Vsig)n}を、傾きα'が元の傾きαに補正された注目素子の信号電位(Vsig')nとして、階調補正部４４２に供給して、それ以降の処理が行なわれる。
[劣化曲線推定部４６２が行う劣化曲線推定処理の詳細]
　次に、図４３のフローチャートを参照して、図４１のステップＳ２０２における劣化曲線推定処理について説明する。
　ステップＳ２４１において、劣化曲線推定部４６２は、温度センサ２５cから、表示部４２２の内部の温度d=Yを取得する。なお、温度センサ２５cは、適宜、表示部４２２の内部の温度を計測し、その計測結果としての温度d=Yを、劣化曲線推定部４６２に供給する。　
　なお、ステップＳ２４１において取得された温度d=Yが、前回の劣化曲線推定処理におけるステップＳ２４１で取得された温度d=Yと同一である場合、ステップＳ２４２乃至ステップＳ２４６をスキップして、図４３の劣化曲線推定処理を終了するようにしてもよい。
　これは、ステップＳ２４１において取得された温度d=Yが、前回の劣化曲線推定処理におけるステップＳ２４１で取得された温度d=Yと同一である場合、表示部４２２の内部の温度が温度d=Yであるときの輝度劣化曲線を生成して劣化曲線保持部１０４に保持済みであることによる。
　ステップＳ２４２において、劣化曲線推定部４６２は、複数の輝度センサ２５bに順次注目し、注目している輝度センサ２５bを注目センサとする。
　劣化曲線推定部４６２には、注目センサから、電流I(L=Xnit,d=Y)が流される計測用の画素回路の輝度を計測して得られた輝度L(t,I(L=Xnit,d=Y))が供給される。
　なお、電流I(L=Xnit,d=Y)のXnitは、注目センサ毎に予め決まっている値であるが、電流I(L=Xnit,d=Y)のYは、表示部４２２の内部の温度d=Yに応じて変化する値である。
　ステップＳ２４３において、劣化曲線推定部４６２は、図示せぬ内蔵するメモリに予め保持している電流の値I(L=Xnit,d=Y)と、注目センサからの輝度L(t,I(L=Xnit,d=Y))に基づいて、傾きα(t,I(L=Xnit,d=Y))'を算出する。
　すなわち、例えば、劣化曲線推定部４６２は、図示せぬ内蔵するメモリに予め保持している電流の値I(L=200nit,d=Y)と、輝度センサ２５bからの計測結果L(t,I(L=200nit,d=Y))に基づいて、式（４）に基づき導出される式α(t,I(L=200nit,d=Y))'=L(t,I(L=200nit,d=Y))/I(L=200nit,d=Y)により、時間tに対する傾きα(t,I(L=200nit,d=Y))'を算出する。
　ステップＳ２４４では、劣化曲線推定部４６２は、算出した傾きα(t,I(L=Xnit,d=Y))'と、図示せぬ内蔵のメモリに予め保持している輝度劣化基準曲線に基づいて、輝度劣化基準曲線と乗算される加速係数を算出する。
　すなわち、例えば、劣化曲線推定部４６２は、図３９に示されるように、傾きα(0,I(L=200nit,d=30))'=αが得られたときから、傾きα(T,I(L=200nit,d=30))'が得られるまでの時間Δt1'を算出する。
　また、例えば、劣化曲線推定部４６２は、図３９に示されるように、輝度劣化基準曲線１４１1'において、傾きα(0,I(L=200nit,d=30))'=αが得られたときから、傾きα(T,I(L=200nit,d=30))'が得られるまでの時間Δt1を算出する。
　さらに、劣化曲線推定部４６２は、算出した時間Δt1'と時間Δt1に基づいて、温度加速係数Δt1'/Δt1を算出する。
　ステップＳ２４５では、劣化曲線推定部４６２は、算出した温度加速係数と、図示せぬメモリに予め保持されている輝度劣化基準曲線とに基づいて、輝度劣化曲線を推定し、劣化曲線保持部１０４に供給して保持させる。
　すなわち、例えば、劣化曲線推定部４６２は、算出した加速係数Δt1'/Δt1を、輝度劣化基準曲線１４１1'を表す式A(t,I(L=200nit,d=30))に乗算する。そして、劣化曲線推定部４６２は、その乗算により得られる新たな式(Δt1'/Δt1)×A(t,I(L=200nit,d=30))を表す輝度劣化曲線１２１1'を、電流I(L=200nit)、及びステップＳ２４１で取得された温度d=30に対応付けた形で、劣化曲線保持部１０４に供給して保持させる。
　ステップＳ２４６において、劣化曲線推定部４６２は、複数の輝度センサ２５bの全てを注目センサとしたか否かを判定し、複数の輝度センサ２５bの全てを注目センサとしていないと判定した場合、処理をステップＳ２４２に戻す。
　そして、ステップＳ２４２では、劣化曲線推定部４６２は、複数の輝度センサ２５bのうち、まだ注目センサとされていない輝度センサを新たな注目センサとし、処理をステップＳ２４３に進め、それ以降、同様の処理を行う。
　なお、ステップＳ２４６において、劣化曲線推定部４６２は、複数の輝度センサ２５bの全てを注目センサとしたと判定した場合、図４３の劣化曲線推定処理は終了され、処理は、図４１のステップＳ２０２に戻り、それ以降の処理が行なわれる。
＜５．第５の実施の形態＞
[表示装置５０１の構成例]
　次に、図４４は、第５の実施の形態である表示装置５０１の構成例を示している。
　この表示装置５０１は、第１の実施の形態である表示装置１（図１）の場合と同様に構成されている部分について同一の符号を付すようにしているので、それらの説明は適宜省略している。
　すなわち、表示装置５０１において、同期信号生成部５２１が設けられているとともに、図１の信号合成部２２及び表示部２５に代えて、信号合成部５２２及び表示部５２３が設けられている他は、図１の場合と同様に構成される。
　なお、図１の表示装置１における表示画面２５aでは、同期信号に同期して表示画像を表示するが、図１において、同期信号を生成する同期信号生成部の図示を省略している。これに対して、図４４の表示装置５０１では、説明の都合上、同期信号生成部５２１を明示的に図示するようにしている。
　同期信号生成部５２１は、制御部２６からの制御にしたがって、同期信号（水平同期信号、及び垂直同期信号）を生成し、信号合成部５２２及び表示部５２３に供給する。
　信号合成部５２２には、外部から画像信号が、ダミー画素信号生成部２１からダミー画素信号が、それぞれ供給される。
　信号合成部５２２は、同期信号生成部５２１からの垂直同期信号に同期して、外部からの画像信号と、ダミー画素信号生成部２１からのダミー画素信号を合成し、その結果得られる合成信号を、焼付補正部２３に供給する。
　次に、図４５は、図４４の信号合成部５２２が、画像信号とダミー画素信号とを合成する合成処理の一例を示している。
　図４５上側には、画像信号に応じて、表示部５２３に含まれる表示用の有機EL素子が発光することにより、表示部５２３の表示画面２５aに表示される表示画像４１の一例を示している。
　また、図４５下側には、ダミー画素信号に応じて、表示部５２３に含まれる計測用の有機EL素子が発光することにより得られるダミー画像４２'の一例を示している。なお、ダミー画像４２'は、表示部５２３の表示画面２５aには表示されず、表示部５２３に内蔵される輝度センサ２５bによる輝度の計測にのみ用いられる。
　信号合成部５２２は、例えば、図４５に示されるように、表示画像４１の下側に、ダミー画像４２'が配置されるように、画像信号とダミー画素信号を合成する。
　これにより、信号合成部５２２は、画像信号とダミー画素信号を合成することにより、図４６に示されるような合成画像４３'を表す合成信号を生成し、焼付補正部２３に供給する。
　なお、信号合成部５２２は、表示画像４１の上側に、ダミー画像４２'が配置されるように、画像信号とダミー画素信号を合成するようにしてもよい。この場合、表示部５２３において、輝度センサ２５bは、表示画面２５aの上側に設けられる。
　図４４に戻り、表示部５２３は、表示画面２５a及び輝度センサ２５bを有している。なお、表示部５２３では、表示画面２５aと輝度センサ２５bとの位置関係が、図１の表示部２５の場合とは異なる。このことは、図５１を参照して詳述する。
　また、表示部５２３は、データドライバ２４からの合成信号Cnに含まれる画像信号Snに基づいて、同期信号生成部５２１からの同期信号に同期して、内蔵する表示用の有機EL素子を発光させる。これにより、表示部５２３の表示画面２５aには、画像信号Snとしての表示画像４１が表示される。
　さらに、表示部５２３は、データドライバ２４からの合成信号Cnに含まれるダミー画素信号に基づいて、同期信号生成部５２１からの同期信号に同期して、内蔵する計測用の有機EL素子を発光させる。
　表示部５２３において、輝度センサ２５bは、計測用の有機EL素子を含む画素回路の傍に設けられており、その画素回路に含まれる有機EL素子の輝度を計測し、その計測結果を、焼付補正部２３に供給する。
　なお、表示部５２３は、図１４に示した表示部２５と同様にして、画素回路１８４-(1,1)乃至１８４-(N,M)が設けられている。
　図１４の表示部２５では、画素回路１８４-(1,M),画素回路１８４-(2,M),…,画素回路１８４-(N,M)にそれぞれ含まれる有機EL素子が、計測用の有機EL素子とされる。
　これに対して、表示部５２３では、表示部５２３に内蔵された画素回路１８４-(1,1)乃至１８４-(N,M)のうち、画素回路１８４-(N,1),画素回路１８４-(N,2),…,画素回路１８４-(N,M)にそれぞれ含まれる有機EL素子が、計測用の有機EL素子とされる点で異なる。
　なお、表示部５２３においては、画素回路１８４-(N,2),…,画素回路１８４-(N,M)にそれぞれ含まれる有機EL素子の傍に、それぞれ、輝度センサ２５b1,輝度センサ２５b2,…,輝度センサ２５bNが設けられることとなる。
　次に、図４７は、表示部５２３が、同期信号生成部５２１からの同期信号に同期して、表示用の有機EL素子、及び計測用の有機EL素子を発光させる様子の一例を示している。
　図４７において、図中上側には、合成画像４３'の表示を開始したときから、次の合成画像４３'の表示を開始するまでの期間である垂直同期期間が示されている。この垂直同期期間は、同期信号生成部２２から出力される垂直同期信号において、立ち下がりエッジが生じたときから、次の立下りエッジが生じるまでの期間を表す。
　また、垂直同期期間は、図４７に示されるように、複数の水平同期期間と、ブランキング期間から構成される。
　水平同期期間は、同期信号生成部５２１から出力される水平同期信号において、立下りエッジが生じたときから、次の立下りエッジが生じるまでの期間を表す。なお、水平同期期間は、合成画像４３'を構成する各ラインの１ラインに対応する有機EL素子を発光させる期間である。
　表示部５２３は、同期信号生成部５２１からの垂直同期信号及び水平同期信号に同期して、データドライバ２４から供給される合成信号Cnに基づき、所定の垂直同期期間において、表示用の有機EL素子、及び計測用の有機EL素子を発光させる。
　すなわち、例えば、表示部５２３は、垂直同期期間において、同期信号生成部２２からの水平同期信号に同期して、水平同期信号に立下りエッジが生じる毎に、合成画像４３を構成する各ラインの表示を開始させる。
　これにより、図４８に示されるように、垂直同期期間において、水平同期信号に立ち下がりエッジが生じる毎に、表示画像４１を構成する各ラインが、上からラスタスキャン順に、表示画面２５aに表示される。
　また、垂直同期期間において、表示画面２５aに表示画像４１が表示された後、水平同期信号に立ち下りエッジが生じたことに対応して、ダミー画像４２'として発光する計測用の有機EL素子を発光させる。
　その後、垂直同期期間において、表示用の有機EL素子、及び計測用の有機EL素子を発光させるための複数の水平同期期間が終了し、ブランキング期間が開始され、ブランキング期間の終了後、次の垂直同期期間が到来し、それ以降同様の処理が繰り返される。
　なお、ブランキング期間において、次の垂直同期期間で用いられる合成画像４３としての合成信号が、信号合成部５２２が行う合成により生成される。そして、ブランキング期間において、信号合成部５２２により生成された合成信号が、焼付補正部２３により補正され、補正後の合成信号が、データドライバ２４によりAD変換され、表示部５２３に供給される。
　表示部５２３では、データドライバ２４から供給されたAD変換後の合成信号を用いて、次の垂直同期期間で、上述した処理を行う。
　信号合成部５２２は、ブランキング期間内に、表示画像４１の下側にダミー画像４２'を結合させる合成処理を行うようにしている。すなわち、信号合成部５２２は、１の垂直同期期間毎に、合成処理を行えばよいものとなる。
　これに対して、信号合成部２２のように、表示画像４１の右側にダミー画像４２を結合させる合成処理を行う場合には、水平同期期間毎に、次の水平同期期間に表示させるダミー画像４２'（の一部分）を結合させる合成処理を行う必要がある。
　次に、図４８は、図１の表示部２５が、図示せぬ同期信号生成部からの同期信号に同期して、表示用の有機EL素子、及び計測用の有機EL素子を発光させる様子の一例を示している。
　図４８において、図中上側には、合成画像４３の表示を開始したときから、次の合成画像４３の表示を開始するまでの期間である垂直同期期間が示されている。この垂直同期期間は、図示せぬ同期信号生成部から出力される垂直同期信号において、立ち下がりエッジが生じたときから、次の立下りエッジが生じるまでの期間を表す。
　また、垂直同期期間は、図４８に示されるように、複数の水平同期期間から構成される。なお、図４８において、垂直同期期間に、ブランキング期間を設けるようにしてもよい。
　表示部２５は、図示せぬ同期信号生成部からの垂直同期信号に同期して、データドライバ２４から供給される合成信号Cnに基づき、所定の垂直同期期間において、表示用の有機EL素子、及び計測用の有機EL素子を発光させる。
　すなわち、例えば、表示部５２３は、垂直同期期間において、同期信号生成部２２からの水平同期信号に同期して、水平同期信号に立下りエッジが生じる毎に、合成画像４３を構成する各ラインの表示を開始させる。
　これにより、図４８に示されるように、垂直同期期間において、水平同期信号に立ち下がりエッジが生じる毎に、表示画像４１を構成する各ラインが、上からラスタスキャン順に、表示画面２５aに表示される。
　また、垂直同期期間において、水平同期信号に立ち下がりエッジが生じる毎に、ダミー画像４２'の一部分として発光する計測用の有機EL素子が発光される。
　その後、垂直同期期間の終了後、次の垂直同期期間においても同様の処理が繰り返される。
　なお、この場合、信号合成部２２は、水平同期期間毎に、次の水平同期期間で発光させる計測用の有機EL素子に対応する、ダミー画像４２の一部分を結合させる合成処理を行う必要がある。
　これに対して、信号合成部５２２では、１の垂直同期期間毎に、合成処理を行えばよいため、処理による負荷を軽減できる。
　また、信号合成部５２２は、表示画像４１の下側に、ダミー画像４２'を結合するようにしたので、図４９に示されるように、表示画像４１用のデータドライバ２４1乃至２４3を、そのまま利用することができる。
　つまり、データドライバ２４から表示部５２３に画像信号を供給するための映像信号線を用いて、ダミー画素信号も供給するようにすることができる。
　なお、図４９では、表示画像４１用のデータドライバ２４として、３個のデータドライバ２４1乃至２４3が設けられている場合の一例を示している。
　これに対して、信号合成部２２のように、表示画像４１の右側に、ダミー画像４２を結合する場合、図５０に示されるように、ダミー画像４２用のデータドライバ２４4を新たに設けなければならない。つまり、データドライバ２４から表示部５２３にダミー画素信号を供給するための映像信号線を新たに設ける必要がある。
　よって、表示装置５０１では、データドライバ２４として、ダミー画像４２用のデータドライバ２４4を新たに設ける必要がないので、表示装置５０１の製造コストを低く抑えることが可能となる。
[表示部５２３の外観例]
　次に、図５１は、図４４の表示部５２３の正面図を示している。
　表示部５２３は、矩形状の立体的な筐体からなり、その筐体には、図１４の表示部２５と同様に、水平セレクタ１８１、ライトスキャナ１８２、電源スキャナ１８３、複数の画素回路１８４-(1,1)乃至１８４-(N,M)等が内蔵されている。
　そして、表示部５２３は、図５１に示されるように、筐体の中央に、表示画面２５aが設けられている。また、表示部５２３は、表示画面２５aの下側に、複数の輝度センサ２５b1乃至２５bNが、筐体内に内蔵される形で配置されている。
　複数の輝度センサ２５b1,２５b2,…２５bNは、それぞれ、表示部５２３の筐体内に設けられた画素回路１８４-(N,1),１８４-(N,2),…１８４-(N,M)の近くに設けられている。
　複数の輝度センサ２５b1,２５b2,…２５bNは、それぞれ、画素回路１８４-(N,1),１８４-(N,2),…１８４-(N,M)に含まれる有機EL素子の輝度を計測する。
　すなわち、表示部５２３において、輝度センサ２５b1乃至２５bNが、図1４に示される輝度センサ２５b1,２５b2,…２５bMに代えて、表示部５２３の筐体内に設けられた画素回路１８４-(N,1),１８４-(N,2),…１８４-(N,M)の近くに設けられている他は、図１４に示される表示部２５と同様に構成されている。
[表示装置５０１の動作説明]
　次に、図５２は、図４４の表示装置５０１が行う表示処理（以下、第５の表示処理という）について説明する。
　この第５の表示処理は、例えば、表示装置５０１の電源がオンされたときに開始される。
　ステップＳ２６１では、ダミー画素信号生成部２１は、図１８のステップＳ１と同様の処理を行う。すなわち、例えば、ダミー画素信号生成部２１は、表示部５２３に内蔵された計測用の有機EL素子を発光させるためのダミー画素信号を生成し、信号合成部５２２に供給する。
　ステップＳ２６２では、同期信号生成部５２１は、制御部２６からの制御にしたがって、同期信号（水平同期信号、及び垂直同期信号）を生成し、信号合成部５２２及び表示部５２３に供給する。
　ステップＳ２６３では、信号合成部５２２は、同期信号生成部５２１からの同期信号に基づいて、ブランキング期間内に、例えば、表示画像４１の下側に、ダミー画像４２'が配置されるように、画像信号とダミー画素信号を合成する。
　そして、信号合成部５２２は、その合成により得られる合成信号Cnを、焼付補正部２３に供給する。
　ステップＳ２６４では、焼付補正部２３は、信号合成部５２２からの合成信号Cnに含まれる画像信号Snに対して、例えば図１８のステップＳ３乃至ステップＳ７で説明したような焼付補正処理を施す。そして、焼付補正部２３は、焼付補正処理後の画像信号Snを含む合成信号Cnを、データドライバ２４に供給する。
　ステップＳ２６５では、データドライバ２４は、図１８のステップＳ８と同様の処理を行う。すなわち、例えば、データドライバ２４は、焼付補正部２３からの合成信号CnをAD変換し、AD変換後の合成信号Cnを、表示部５２３に供給する。
　ステップＳ２６６では、表示部５２３は、同期信号生成部５２１からの垂直同期信号及び水平同期信号に同期して、データドライバ２４から供給される合成信号Cnに基づき、所定の垂直同期期間において、表示用の有機EL素子と計測用の有機EL素子を発光させる。
　すなわち、例えば、表示部５２３は、垂直同期期間において、同期信号生成部２２からの水平同期信号に同期して、水平同期信号に立下りエッジが生じる毎に、合成画像４３を構成する各ラインの表示を開始させる。
　これにより、図４８に示したように、垂直同期期間において、水平同期信号に立ち下がりエッジが生じる毎に、表示画像４１を構成する各ラインが、上からラスタスキャン順に、表示画面２５aに表示される。
　また、垂直同期期間において、表示画面２５aに表示画像４１が表示された後、水平同期信号に立ち下りエッジが生じたことに対応して、ダミー画像４２'として発光する計測用の有機EL素子を発光させる。
　ステップＳ２６７及びステップＳ２６８では、それぞれ、図１８のステップＳ１０及びステップＳ１１と同様の処理が行われる。ステップＳ２６８の終了後、処理はステップＳ２６１に戻され、それ以降同様の処理が行われる。
　なお、第５の表示処理は、例えば表示装置５０１の電源がオフとされたときに終了される。
　以上説明したように、第５の表示処理によれば、計測用の有機EL素子を、表示用の有機EL素子の上側又は下側に配置するようにしたので、１の垂直同期期間毎に、合成処理を行えばよいため、合成処理による負荷を軽減できる。
　すなわち、例えば、垂直同期期間毎に合成処理を行う場合、水平同期期間毎に合成処理を行う場合と比較して、1/1000程度の周期で合成処理を行えばよいものとなるので、合成処理による負荷を軽減できる。
　また、ダミー画素信号用のシグナルドライバを新たに設ける必要がないので、表示装置５０１の製造コストを節約することが可能となる。
＜６．変形例＞
　上述した第１の実施の形態では、本技術を、表示装置１に適用した場合について説明したが、その他、例えば、本技術は、例えば、図５３に示されるように、表示装置１をモジュールとして内蔵するテレビジョン受像機５４１に適用できる。
　このテレビジョン受像機５４１には、表示装置１の表示画面２５aが露出するように、表示装置１が内蔵されている。
　その他、例えば、本技術は、テレビジョン受像機５４１の他、表示装置１の表示画面２５aが露出するように、表示装置１を内蔵するパーソナルコンピュータや携帯電話機、ビデオカメラなどの電子機器に適用することができる。
　なお、第２乃至第５の実施の形態においても、第１の実施の形態と同様に、本技術を電子機器に適用することができる。
　また、第１乃至第５の実施の形態により表示装置の構成を説明したが、表示装置の構成としては、第１乃至第５の実施の形態でそれぞれ説明した構成を、任意に組み合わせた構成とすることができる。
　ところで、本技術は、以下の構成をとることができる。
　（１）画像の表示用に用いられる第１の発光素子を発光させるための画像信号と、輝度の計測用に用いられる第２の発光素子を発光させるためのダミー画素信号とにより構成される第１の合成信号を生成する信号合成部と、生成された前記第1の合成信号を、前記第1の発光素子及び前記第２の発光素子のうち、前記第１の発光素子のみを前記第１の発光素子の劣化の程度に拘らず、同一の輝度で発光させるための第２の合成信号に変換する変換部と、前記第２の合成信号に基づいて、前記第１の発光素子、及び前記第２の発光素子を発光させる発光制御部とを含む信号処理装置。
　（２）前記変換部は、前記第２の発光素子の輝度を計測する計測部による輝度の計測結果に基づいて、前記第１の合成信号を前記第２の合成信号に変換する前記（１）に記載の信号処理装置。
　（３）前記変換部は、前記第1の合成信号に含まれる前記画像信号を、前記第１の発光素子の劣化の程度に拘らず、前記第1の発光素子を同一の輝度で発光させるための画像信号に補正することにより、前記第1の合成信号を、補正後の前記画像信号を含む前記第２の合成信号に変換する前記（１）又は（２）に記載の信号処理装置。
　（４）前記変換部は、さらに、前記第1の合成信号に含まれる前記ダミー画素信号を、前記第1の合成信号に含まれる前記ダミー画素信号と同一のものに補正することにより、前記第1の合成信号を前記第２の合成信号に変換する前記（３）に記載の信号処理装置。
　（５）画像を表示する表示画面を有し、前記第１の発光素子、前記第２の発光素子、及び前記計測部を内蔵する表示部をさらに含み、前記発光制御部は、前記第２の合成信号に含まれる前記画像信号に基づいて、前記第１の発光素子を発光させることにより前記表示画面に画像を表示させ、前記第２の合成信号に含まれる前記ダミー画素信号に基づいて、前記第２の発光素子を発光させることにより前記計測部に輝度の計測を行わせる前記（２）乃至（４）に記載の信号処理装置。
　ところで、上述した一連の処理は、例えばハードウェアにより実行することもできるし、ソフトウェアにより実行することもできる。一連の処理をソフトウェアにより実行する場合には、そのソフトウェアを構成するプログラムが、専用のハードウェアに組み込まれているコンピュータ、又は、各種のプログラムをインストールすることで、各種の機能を実行することが可能な、例えば汎用のコンピュータなどに、プログラム記録媒体からインストールされる。
[コンピュータの構成例]
　図５４は、上述した一連の処理をプログラムにより実行するコンピュータのハードウェアの構成例を示している。
　なお、上述した一連の処理は、図５４に示されるコンピュータの他、ASIC（application specific integrated circuit）などで構成される専用回路や、FPGA（field programmable gate array）などのプログラマブルLSIにより実行するようにすることができる。
　CPU（Central Processing Unit）５６１は、ROM（Read Only Memory）５６２、又は記憶部５６８に記憶されているプログラムに従って各種の処理を実行する。RAM（Random Access Memory）５６３には、CPU５６１が実行するプログラムやデータ等が適宜記憶される。これらのCPU５６１、ROM５６２、及びRAM５６３は、バス５６４により相互に接続されている。
　CPU５６１にはまた、バス５６４を介して入出力インタフェース５６５が接続されている。入出力インタフェース５６５には、キーボード、マウス、マイクロホン等よりなる入力部５６６、ディスプレイ、スピーカ等よりなる出力部５６７が接続されている。CPU５６１は、入力部５６６から入力される指令に対応して各種の処理を実行する。そして、CPU５６１は、処理の結果を出力部５６７に出力する。
　入出力インタフェース５６５に接続されている記憶部５６８は、例えばハードディスクからなり、CPU５６１が実行するプログラムや各種のデータを記憶する。通信部５６９は、インタネットやローカルエリアネットワーク等のネットワークを介して外部の装置と通信する。
　また、通信部５６９を介してプログラムを取得し、記憶部５６８に記憶してもよい。
　入出力インタフェース５６５に接続されているドライブ５７０は、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、或いは半導体メモリ等のリムーバブルメディア５７１が装着されたとき、それらを駆動し、そこに記録されているプログラムやデータ等を取得する。取得されたプログラムやデータは、必要に応じて記憶部５６８に転送され、記憶される。
　コンピュータにインストールされ、コンピュータによって実行可能な状態とされるプログラムを記録（記憶）する記録媒体は、図５４に示すように、磁気ディスク（フレキシブルディスクを含む）、光ディスク（CD-ROM(Compact Disc-Read Only Memory),DVD(Digital Versatile Disc)を含む）、光磁気ディスク（ＭＤ（Mini-Disc）を含む）、もしくは半導体メモリ等よりなるパッケージメディアであるリムーバブルメディア５７１、又は、プログラムが一時的もしくは永続的に格納されるROM５６２や、記憶部５６８を構成するハードディスク等により構成される。記録媒体へのプログラムの記録は、必要に応じてルータ、モデム等のインタフェースである通信部５６９を介して、ローカルエリアネットワーク、インタネット、デジタル衛星放送といった、有線又は無線の通信媒体を利用して行われる。
　なお、本明細書において、上述した一連の処理を記述するステップは、記載された順序に沿って時系列的に行われる処理はもちろん、必ずしも時系列的に処理されなくとも、並列的あるいは個別に実行される処理をも含むものである。
　また、本開示は、上述した第１乃至第５の実施の形態に限定されるものではなく、本開示の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
　１　表示装置，　２１　ダミー画素信号生成部，　２２　信号合成部，　２３　焼付補正部，　２４，２４n　データドライバ，　２５　表示部，　２５a　表示画面，　２５b,２５b1乃至２５bM　輝度センサ，　２５c　温度センサ，　２６　制御部，　７１　傾き補正部，　７２　階調補正部，　７３　検出部，　７４　保持部，　１０１　補正量生成部，　１０２　補正量乗算部，　１０３　傾き保持部，　１０４　劣化曲線保持部，　１０５　劣化曲線推定部，　１６１　オフセット量算出部，　１６２　オフセット補正部，　１８１　水平セレクタ，　１８２　ライトスキャナ，　１８３　電源スキャナ，　１８４-(1,1)乃至１８４-(N,M)　画素回路，　２０１　サンプリング用トランジスタ，　２０２　駆動用トランジスタ，　２０３　蓄積容量，　２０４　発光素子，　２０５　配線，　２４１　表示装置，　２６１　焼付補正部，　２８１　傾き補正部，　２８２　階調補正部，　２８３　検出部，　２８４　保持部，　３０１　補正量生成部，　３２１　オフセット量算出部，　３２２　オフセット補正部，　３４１　表示装置，　３６１　ガンマ変換部，　３６２　画像処理部，　３６３　焼付補正部，　３８１　逆ガンマ変換部，　３８２　階調補正部，　３９１　オフセット量算出部，　３９２　オフセット補正部，　４０１　表示装置，　４２１　焼付補正部，　４２２　表示部，　４４１　傾き補正部，　４４２　階調補正部，　４４３　検出部，　４４４　保持部，　４６１　補正量生成部，　４６２　劣化曲線推定部，　５０１　表示装置，　５２１　同期信号生成部，　５２２　信号合成部，　５２３　表示部，　５４１　テレビジョン受像機

Claims (9)

  1. 　画像の表示用に用いられる第１の発光素子を発光させるための画像信号と、輝度の計測用に用いられる第２の発光素子を発光させるためのダミー画素信号とにより構成される第１の合成信号を生成する信号合成部と、
    　生成された前記第1の合成信号を、前記第1の発光素子及び前記第２の発光素子のうち、前記第１の発光素子のみを前記第１の発光素子の劣化の程度に拘らず、同一の輝度で発光させるための第２の合成信号に変換する変換部と、
    　前記第２の合成信号に基づいて、前記第１の発光素子、及び前記第２の発光素子を発光させる発光制御部と
    　を含む信号処理装置。
  2. 　前記変換部は、前記第２の発光素子の輝度を計測する計測部による輝度の計測結果に基づいて、前記第１の合成信号を前記第２の合成信号に変換する
    　請求項１に記載の信号処理装置。
  3. 　前記変換部は、前記第1の合成信号に含まれる前記画像信号を、前記第１の発光素子の劣化の程度に拘らず、前記第1の発光素子を同一の輝度で発光させるための画像信号に補正することにより、前記第1の合成信号を、補正後の前記画像信号を含む前記第２の合成信号に変換する
    　請求項２に記載の信号処理装置。
  4. 　前記変換部は、さらに、前記第1の合成信号に含まれる前記ダミー画素信号を、前記第1の合成信号に含まれる前記ダミー画素信号と同一のものに補正することにより、前記第1の合成信号を前記第２の合成信号に変換する
    　請求項３に記載の信号処理装置。
  5. 　画像を表示する表示画面を有し、前記第１の発光素子、前記第２の発光素子、及び前記計測部を内蔵する表示部をさらに含み、
    　前記発光制御部は、
    　　前記第２の合成信号に含まれる前記画像信号に基づいて、前記第１の発光素子を発光させることにより前記表示画面に画像を表示させ、
    　　前記第２の合成信号に含まれる前記ダミー画素信号に基づいて、前記第２の発光素子を発光させることにより前記計測部に輝度の計測を行わせる
    　請求項２に記載の信号処理装置。
  6. 　信号を処理する信号処理装置の信号処理方法において、
    　前記信号処理装置による、
    　　画像の表示用に用いられる第１の発光素子を発光させるための画像信号と、輝度の計測用に用いられる第２の発光素子を発光させるためのダミー画素信号とにより構成される第1の合成信号を生成する信号合成ステップと、
    　　生成された前記第1の合成信号を、前記第1の発光素子及び前記第２の発光素子のうち、前記第１の発光素子のみを前記第１の発光素子の劣化の程度に拘らず、同一の輝度で発光させるための第２の合成信号に変換する変換ステップと、
    　　前記第２の合成信号に基づいて、前記第１の発光素子、及び前記第２の発光素子を発光させる発光制御ステップと
    　を含む信号処理方法。
  7. 　コンピュータを、
    　画像の表示用に用いられる第１の発光素子を発光させるための画像信号と、輝度の計測用に用いられる第２の発光素子を発光させるためのダミー画素信号とにより構成される第1の合成信号を生成する信号合成部と、
    　生成された前記第1の合成信号を、前記第1の発光素子及び前記第２の発光素子のうち、前記第１の発光素子のみを前記第１の発光素子の劣化の程度に拘らず、同一の輝度で発光させるための第２の合成信号に変換する変換部と、
    　前記第２の合成信号に基づいて、前記第１の発光素子、及び前記第２の発光素子を発光させる発光制御部と
    　して機能させるためのプログラム。
  8. 　信号を処理する信号処理装置を内蔵する電子機器において、
    　前記信号処理装置は、
    　　画像の表示用に用いられる第１の発光素子を発光させるための画像信号と、輝度の計測用に用いられる第２の発光素子を発光させるためのダミー画素信号とにより構成される第1の合成信号を生成する信号合成部と、
    　　生成された前記第1の合成信号を、前記第1の発光素子及び前記第２の発光素子のうち、前記第１の発光素子のみを前記第１の発光素子の劣化の程度に拘らず、同一の輝度で発光させるための第２の合成信号に変換する変換部と、
    　　前記第２の合成信号に基づいて、前記第１の発光素子、及び前記第２の発光素子を発光させる発光制御部と
    　を有する電子機器。
  9. 　画像の表示用に用いられる第１の発光素子を発光させるための画像信号と、輝度の計測用に用いられる第２の発光素子を発光させるためのダミー画素信号とにより構成される第１の合成信号を生成する信号合成部と、
    　生成された前記第1の合成信号を、前記第1の発光素子及び前記第２の発光素子のうち、前記第１の発光素子のみに流れる電流量を前記第１の発光素子の発光時間に応じて増加させる第２の合成信号に変換する変換部と、
    　前記第２の合成信号に基づいて、前記第１の発光素子、及び前記第２の発光素子を発光させる発光制御部と
    　を含む信号処理装置。
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