KR20140098058A - 신호 처리 장치, 신호 처리 방법, 프로그램, 및 전자 기기 - Google Patents

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KR20140098058A
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카츠히데 우치노
유키 세오
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Abstract

본 개시는, 표시 화면에 생기는 번인을 방지할 수 있도록 하는 신호 처리 장치, 신호 처리 방법, 프로그램, 및 전자 기기에 관한 것이다. 신호 합성부는, 화상의 표시용으로 이용되는 제1의 발광 소자를 발광시키기 위한 화상 신호와, 휘도의 계측용으로 이용되는 제2의 발광 소자를 발광시키기 위한 더미 화소 신호에 의해 구성되는 합성 신호를 생성하고, 번인 보정부는, 생성된 제1의 합성 신호를, 제1의 발광 소자 및 제2의 발광 소자 중, 제1의 발광 소자만을 제1의 발광 소자의 열화의 정도에 관계없이, 동일한 휘도로 발광시키기 위한 제2의 합성 신호로 변환하고, 표시부는, 제2의 합성 신호에 의거하여, 제1의 발광 소자, 및 제2의 발광 소자를 발광시킨다. 본 개시는, 예를 들면, 발광 소자로서 유기 EL 소자를 이용한 평면 자발광형의 패널을 내장하는 전자 기기 등에 적용할 수 있다.

Description

신호 처리 장치, 신호 처리 방법, 프로그램, 및 전자 기기{SIGNAL PROCESSING DEVICE, SIGNAL PROCESSING METHOD, PROGRAM, AND ELECTRONIC APPARATUS}
본 개시는, 신호 처리 장치, 신호 처리 방법, 프로그램, 및 전자 기기에 관한 것으로, 특히, 표시 화면에 생기는 번인을 방지할 수 있도록 하는 신호 처리 장치, 신호 처리 방법, 프로그램, 및 전자 기기에 관한 것이다.
발광 소자로서 유기 EL(electro luminescent) 소자를 이용한 평면 자발광형의 패널(EL 패널)의 개발이 근래 왕성해지고 있다. 유기 EL 소자는, 다이오드 특성을 가지며, 유기 박막에 전계를 걸음으로써 발광하는 현상을 이용한 발광 소자이다. 유기 EL 소자는, 인가 전압이 10V 이하로 구동하기 때문에 저소비 전력이고, 스스로 광을 발한하는 자발광 소자이기 때문에), 조명 부재를 필요로 하지 않나 경량화 및 박형화가 용이하다는 장점을 갖는다. 또한, 유기 EL 소자의 응답 속도는 수㎲ 정도로 매우 고속이기 때문에, EL 패널에서는 동화 표시시의 잔상이 발생하지 않는다는 이점이 있다.
유기 EL 디바이스를 화소에 이용한 평면 자발광형의 패널 중에서도, 특히 구동 소자로서 박막 트랜지스터를 각 화소에 집적 형성한 액티브 매트릭스형의 패널의 개발이 왕성하다. 액티브 매트릭스형의 패널은, 예를 들면 이하의 특허 문헌 1 내지 5에 기재되어 있다.
특허 문헌 1 : 일본국 특개2003-255856호 공보 특허 문헌 2 : 일본국 특개2003-271095호 공보 특허 문헌 3 : 일본국 특개2004-133240호 공보 특허 문헌 4 : 일본국 특개2004-029791호 공보 특허 문헌 5 : 일본국 특개2004-093682호 공보
그런데, 유기 EL 소자에는, 예를 들면, 발광량 및 발광 시간에 비례하여 휘도 효율이 저하되는 특성이 있다. 유기 EL 소자의 발광 휘도는 전류치와 휘도 효율의 곱으로 표시되기 때문에, 휘도 효율의 저하는 발광 휘도의 저하가 된다. 표시 화면에 표시되는 표시 화상으로서, 각 화소에서 일양한 표시를 행하는 표시 화상은 드물고, 화소마다 발광량이 다른 것이 일반적이다.
따라서 과거의 발광량 및 발광 시간의 차에 의해, 동일한 구동 조건하라도 각 화소에서 발광 휘도의 저하의 정도가 다르고, 휘도 저하의 편차가 시각적으로 인식되는 현상이 발생한다. 이 휘도 저하의 편차가 시각적으로 인식되는 현상을 번인(burn-in) 현상이라고 한다.
그래서, 종래의 EL 패널에서는, 유기 EL 소자를 휘도 저하 전(前)의 발광 휘도로 발광시키도록 하여, 번인 현상을 방지하는 번인 보정 처리를 행하는 일이 있다.
즉, 예를 들면, EL 패널은, 표시 화상의 표시용으로 발광하는 유기 EL 소자(이하, 표시용의 유기 EL 소자라고 한다)와, 휘도 저하의 계측용으로 발광하는 유기 EL 소자(이하, 계측용의 유기 EL 소자라고 한다)를 내장하고 있다.
EL 패널은, 계측용의 유기 EL 소자의 휘도를 계측하여 얻어지는 계측 결과에 의거하여, 유기 EL 소자의 발광 휘도의 저하의 정도를 나타내는 휘도 열화 특성을 추정한다.
그리고, EL 패널은, 추정한 휘도 열화 특성에 의거하여, 표시용의 유기 EL 소자, 및 계측용의 유기 EL 소자를, 저하 전의 발광 휘도로 발광시키기 위한 번인 보정 처리를 행한다.
이에 의해, 표시용의 유기 EL 소자, 및 계측용의 유기 EL 소자는, 모두, 저하 전의 발광 휘도로 발광하게 된다.
그런데, 종래의 EL 패널에서는, 계측용의 유기 EL 소자는, 저하 전의 발광 휘도로 발광하기 때문에, 그와같은 계측용의 EL 소자로부터 얻어지는 계측 결과로부터, 휘도 열화 특성을 정확하게 추정할 수가 없는 일이 있다. 이 경우, 번인 보정 처리에서, 번인 현상을 방지할 수 없는 일이 생길 수 있다.
본 개시는, 이와 같은 상황을 감안하여 이루어진 것으로, 표시 화면에 생기는 번인을 방지할 수 있도록 하는 것이다.
본 개시한 제1의 측면의 신호 처리 장치는, 화상의 표시용으로 이용되는 제1의 발광 소자를 발광시키기 위한 화상 신호와, 휘도의 계측용으로 이용되는 제2의 발광 소자를 발광시키기 위한 더미 화소 신호에 의해 구성되는 제1의 합성 신호를 생성하는 신호 합성부와, 생성된 상기 제1의 합성 신호를, 상기 제1의 발광 소자 및 상기 제2의 발광 소자 중, 상기 제1의 발광 소자만을 상기 제1의 발광 소자의 열화의 정도에 관계없이, 동일한 휘도로 발광시키기 위한 제2의 합성 신호로 변환하는 변환부와, 상기 제2의 합성 신호에 의거하여, 상기 제1의 발광 소자, 및 상기 제2의 발광 소자를 발광시키는 발광 제어부를 포함하는 신호 처리 장치이다.
상기 변환부에서는, 상기 제2의 발광 소자의 휘도를 계측하는 계측부에 의한 휘도의 계측 결과에 의거하여, 상기 제1의 합성 신호를 상기 제2의 합성 신호로 변환할 수 있다.
상기 변환부에서는, 상기 제1의 합성 신호에 포함되는 상기 화상 신호를, 상기 제1의 발광 소자의 열화의 정도에 관계없이, 상기 제1의 발광 소자를 동일한 휘도로 발광시키기 위한 화상 신호로 보정함에 의해, 상기 제1의 합성 신호를, 보정 후의 상기 화상 신호를 포함하는 상기 제2의 합성 신호로 변환할 수 있다.
상기 변환부에서는, 또한, 상기 제1의 합성 신호에 포함되는 상기 더미 화소 신호를, 상기 제1의 합성 신호에 포함되는 상기 더미 화소 신호와 동일한 것으로 보정함에 의해, 상기 제1의 합성 신호를 상기 제2의 합성 신호로 변환할 수 있다.
화상을 표시하는 표시 화면을 가지며, 상기 제1의 발광 소자, 상기 제2의 발광 소자, 및 상기 계측부를 내장하는 표시부를 또한 마련할 수 있고, 상기 발광 제어부에서는, 상기 제2의 합성 신호에 포함되는 상기 화상 신호에 의거하여, 상기 제1의 발광 소자를 발광시킴에 의해 상기 표시 화면에 화상을 표시시키고, 상기 제2의 합성 신호에 포함되는 상기 더미 화소 신호에 의거하여, 상기 제2의 발광 소자를 발광시킴에 의해 상기 계측부에 휘도의 계측을 행하게 할 수 있다.
본 개시한 제1의 측면의 신호 처리 방법은, 신호를 처리하는 신호 처리 장치의 신호 처리 방법으로서, 상기 신호 처리 장치에 의한, 화상의 표시용으로 이용되는 제1의 발광 소자를 발광시키기 위한 화상 신호와, 휘도의 계측용으로 이용되는 제2의 발광 소자를 발광시키기 위한 더미 화소 신호에 의해 구성되는 제1의 합성 신호를 생성하는 신호 합성 스텝과, 생성된 상기 제1의 합성 신호를, 상기 제1의 발광 소자 및 상기 제2의 발광 소자 중, 상기 제1의 발광 소자만을 상기 제1의 발광 소자의 열화의 정도에 관계없이, 동일한 휘도로 발광시키기 위한 제2의 합성 신호로 변환하는 변환 스텝과, 상기 제2의 합성 신호에 의거하여, 상기 제1의 발광 소자, 및 상기 제2의 발광 소자를 발광시키는 발광 제어 스텝을 포함하는 신호 처리 방법이다.
본 개시한 제1의 측면의 프로그램은, 컴퓨터를, 화상의 표시용으로 이용되는 제1의 발광 소자를 발광시키기 위한 화상 신호와, 휘도의 계측용으로 이용되는 제2의 발광 소자를 발광시키기 위한 더미 화소 신호에 의해 구성되는 제1의 합성 신호를 생성하는 신호 합성부와, 생성된 상기 제1의 합성 신호를, 상기 제1의 발광 소자 및 상기 제2의 발광 소자 중, 상기 제1의 발광 소자만을 상기 제1의 발광 소자의 열화의 정도에 관계없이, 동일한 휘도로 발광시키기 위한 제2의 합성 신호로 변환하는 변환부와, 상기 제2의 합성 신호에 의거하여, 상기 제1의 발광 소자, 및 상기 제2의 발광 소자를 발광시키는 발광 제어부로서 기능시키기 위한 프로그램이다.
본 개시한 제1의 측면의 전자 기기는, 신호를 처리하는 신호 처리 장치를 내장하는 전자 기기로서, 상기 신호 처리 장치는, 화상의 표시용으로 이용되는 제1의 발광 소자를 발광시키기 위한 화상 신호와, 휘도의 계측용으로 이용되는 제2의 발광 소자를 발광시키기 위한 더미 화소 신호에 의해 구성되는 제1의 합성 신호를 생성하는 신호 합성부와, 생성된 상기 제1의 합성 신호를, 상기 제1의 발광 소자 및 상기 제2의 발광 소자 중, 상기 제1의 발광 소자만을 상기 제1의 발광 소자의 열화의 정도에 관계없이, 동일한 휘도로 발광시키기 위한 제2의 합성 신호로 변환하는 변환부와, 상기 제2의 합성 신호에 의거하여, 상기 제1의 발광 소자, 및 상기 제2의 발광 소자를 발광시키는 발광 제어부를 갖는 전자 기기이다.
본 개시한 제1의 측면에 의하면, 화상의 표시용으로 이용되는 제1의 발광 소자를 발광시키기 위한 화상 신호와, 휘도의 계측용으로 이용되는 제2의 발광 소자를 발광시키기 위한 더미 화소 신호에 의해 구성되는 제1의 합성 신호가 생성되고, 생성된 상기 제1의 합성 신호가, 상기 제1의 발광 소자 및 상기 제2의 발광 소자 중, 상기 제1의 발광 소자만을 상기 제1의 발광 소자의 열화의 정도에 관계없이, 동일한 휘도로 발광시키기 위한 제2의 합성 신호로 변환되고, 상기 제2의 합성 신호에 의거하여, 상기 제1의 발광 소자, 및 상기 제2의 발광 소자가 발광된다.
본 개시한 제2의 측면의 신호 처리 장치는, 화상의 표시용으로 이용되는 제1의 발광 소자를 발광시키기 위한 화상 신호와, 휘도의 계측용으로 이용되는 제2의 발광 소자를 발광시키기 위한 더미 화소 신호에 의해 구성되는 제1의 합성 신호를 생성하는 신호 합성부와, 생성된 상기 제1의 합성 신호를, 상기 제1의 발광 소자 및 상기 제2의 발광 소자 중, 상기 제1의 발광 소자만에 흐르는 전류량을, 상기 제1의 발광 소자의 발광 시간에 응하여 증가시키는 제2의 합성 신호로 변환하는 변환부와, 상기 제2의 합성 신호에 의거하여, 상기 제1의 발광 소자, 및 상기 제2의 발광 소자를 발광시키는 발광 제어부를 포함하는 신호 처리 장치이다.
본 개시한 제2의 측면에 의하면, 화상의 표시용으로 이용되는 제1의 발광 소자를 발광시키기 위한 화상 신호와, 휘도의 계측용으로 이용되는 제2의 발광 소자를 발광시키기 위한 더미 화소 신호에 의해 구성되는 제1의 합성 신호가 생성되고, 생성된 상기 제1의 합성 신호가, 상기 제1의 발광 소자 및 상기 제2의 발광 소자 중, 상기 제1의 발광 소자만에 흐르는 전류량을 상기 제1의 발광 소자의 발광 시간에 응하여 증가시키는 제2의 합성 신호로 변환되고, 상기 제2의 합성 신호에 의거하여, 상기 제1의 발광 소자, 및 상기 제2의 발광 소자가 발광된다.
본 개시에 의하면, 표시 화면에 생기는 번인을 방지하는 것이 가능해진다.
도 1은 제1의 실시의 형태인 표시 장치의 구성례를 도시하는 블록도.
도 2는 도 1의 신호 합성부가 행하는 합성 처리의 한 예를 도시하는 도면.
도 3은 합성 처리에 의해 얻어지는 합성 화상의 한 예를 도시하는 도면.
도 4는 표시 화면에 생기는 번인에 관해 설명하기 위한 제1의 도면.
도 5는 표시 화면에 생기는 번인에 관해 설명하기 위한 제2의 도면.
도 6은 도 1의 번인 보정부의 상세한 구성례를 도시하는 블록도.
도 7은 도 6의 기울기 보정부의 상세한 구성례를 도시하는 블록도.
도 8은 휘도 열화곡선의 한 예를 도시하는 도면.
도 9는 주목 소자의 최신의 기울기를 산출할 때의 한 예를 도시하는 도면.
도 10은 휘도 열화곡선을 추정할 때의 한 예를 도시하는 도면.
도 11은 도 6의 계조 보정부의 상세한 구성례를 도시하는 블록도.
도 12는 오프셋량을 산출할 때의 한 예를 도시하는 도면.
도 13은 도 1의 표시부의 정면도.
도 14는 도 1의 표시부의 상세한 구성례를 도시하는 블록도.
도 15는 도 14의 화소 회로가 발광하는 색의 배열의 한 예를 도시하는 블록도.
도 16은 도 14의 화소 회로의 상세한 구성례를 도시하는 도면.
도 17은 도 14의 화소 회로의 동작을 설명하기 위한 타이밍 차트.
도 18은 도 1의 표시 장치가 행하는 표시 처리를 설명하기 위한 플로 차트.
도 19는 도 18의 스텝 S5에서의 기울기 보정 처리의 상세를 설명하기 위한 플로 차트.
도 20은 도 18의 스텝 S6에서의 계조 보정 처리의 상세를 설명하기 위한 플로 차트.
도 21은 도 18의 스텝 S11에서의 열화곡선 추정 처리의 상세를 설명하기 위한 플로 차트.
도 22는 제2의 실시의 형태인 표시 장치의 구성례를 도시하는 블록도.
도 23은 도 22의 번인 보정부의 상세한 구성례를 도시하는 블록도.
도 24는 도 23의 기울기 보정부의 상세한 구성례를 도시하는 블록도.
도 25는 도 24의 보정량 생성부가 행하는 처리를 설명하기 위한 도면.
도 26은 도 23의 계조 보정부의 상세한 구성례를 도시하는 블록도.
도 27은 도 22의 표시 장치가 행하는 표시 처리를 설명하기 위한 플로 차트.
도 28은 도 27의 스텝 S94에서의 기울기 보정 처리의 상세를 설명하기 위한 플로 차트.
도 29는 도 27의 스텝 S96에서의 계조 보정 처리의 상세를 설명하기 위한 플로 차트.
도 30은 제3의 실시의 형태인 표시 장치의 구성례를 도시하는 블록도.
도 31은 도 30의 번인 보정부의 상세한 구성례를 도시하는 블록도.
도 32는 오프셋량을 산출할 때의 한 예를 도시하는 다른 도면.
도 33은 도 30의 표시 장치가 행하는 표시 처리를 설명하기 위한 플로 차트.
도 34는 제4의 실시의 형태인 표시 장치의 구성례를 도시하는 블록도.
도 35는 도 34의 번인 보정부의 상세한 구성례를 도시하는 블록도.
도 36은 온도 센서로부터의 온도도 이용하는 이유에 관해 설명하기 위한 도면.
도 37은 도 35의가 기울기 보정부의 상세한 구성례를 도시하는 블록도.
도 38은 휘도 열화곡선의 한 예를 도시하는 다른 도면.
도 39는 도 37의 열화곡선 추정부가, 휘도 열화곡선을 추정하는 추정 방법의 한 예를 설명하기 위한 제1의 도면.
도 40은 도 37의 열화곡선 추정부가, 휘도 열화곡선을 추정하는 추정 방법의 한 예를 설명하기 위한 제2의 도면.
도 41은 도 34의 표시 장치가 행하는 표시 처리를 설명하기 위한 플로 차트.
도 42는 도 41의 스텝 S196에서의 기울기 보정 처리를 설명하기 위한 플로 차트.
도 43은 도 41의 스텝 S202에서의 열화곡선 추정 처리를 설명하기 위한 플로 차트.
도 44는 제5의 실시의 형태인 표시 장치의 구성례를 도시하는 블록도.
도 45는 도 44의 신호 합성부가 행하는 합성 처리의 한 예를 도시하는 도면.
도 46은 합성 처리에 의해 얻어지는 합성 화상의 한 예를 도시하는 도면.
도 47은 유기 EL 소자를 발광시키는 양상의 한 예를 도시하는 도면.
도 48은 유기 EL 소자를 발광시키는 양상의 한 예를 도시하는 다른 도면.
도 49는 3개의 데이터 드라이버가 마련되어 있는 경우의 한 예를 도시하는 도면.
도 50은 4개의 데이터 드라이버가 마련되어 있는 경우의 한 예를 도시하는 도면.
도 51은 도 44의 표시부의 정면도.
도 52는 도 44의 표시 장치가 행하는 표시 처리를 설명하기 위한 플로 차트.
도 53은 텔레비전 수상기의 한 예를 도시하는 도면.
도 54는 컴퓨터의 구성례를 도시하는 블록도.
이하, 본 개시에서의 실시의 형태(이하, 실시의 형태라고 한다)에 관해 설명한다. 또한, 설명은 이하의 순서로 행한다.
1. 제1의 실시의 형태(화상 신호에 대해서만, 번인 보정 처리를 행할 때의 한 예)
2. 제2의 실시의 형태(기울기 보정 처리 후의 화상 신호를 이용하여, 보정량 및 오프셋량을 산출할 때의 한 예)
3. 제3의 실시의 형태(감마 특성을 갖는 화상 신호에 대해, 계조 보정 처리를 행할 때의 한 예)
4. 제4의 실시의 형태(유기 EL 소자의 온도의 변화에도 의거하여, 휘도 열화곡선을 추정할 때의 한 예)
5. 제5의 실시의 형태(표시 화상의 상측 또는 하측에, 더미 화상을 합성할 때의 한 예)
6. 변형례
<1. 제1의 실시의 형태>
[표시 장치(1)의 구성례]
도 1은, 제1의 실시의 형태인 표시 장치(1)의 구성례를 도시하고 있다.
이 표시 장치(1)는, 더미 화소 신호 생성부(21), 신호 합성부(22), 번인 보정부(23), 데이터 드라이버(24), 표시부(25), 및 제어부(26)로 구성된다.
여기서, 표시부(25)는, 예를 들면, 발광 소자로서 유기 EL(electro luminescent) 소자를 이용한 액티브 매트릭스형의 디스플레이이다. 표시부(25)는, 외부(예를 들면, 안테나 등)로부터의 화상 신호에 대응하는 표시 화상을 표시시키기 위한 표시 화면(25a)을 갖고 있다.
또한, 표시부(25)는, 표시 화면(25a)에 표시 화상을 표시시키기 위해 발광하는 유기 EL 소자(이하, 표시용의 유기 EL 소자라고 한다)를 내장하고 있다. 표시용의 유기 EL 소자는, 도 15를 참조하여 후술하지만, 표시 화상의 부화소(서브픽셀)로서 발광한다.
또한, 표시부(25)는, 휘도 센서(25b)에 의해 휘도를 계측시키기 위해 발광하는 유기 EL 소자(이하, 계측용의 유기 EL 소자라고 한다), 및 계측용의 유기 EL 소자의 휘도를 계측한 휘도 센서(25b)를 내장하고 있다. 또한, 계측용의 유기 EL 소자로부터 발광되는 광은, 표시부(25)의 외부로 누설되지 않도록 되어 있다.
더미 화소 신호 생성부(21)는, 표시부(25)에 내장된 계측용의 유기 EL 소자를 발광시키기 위한 더미 화소 신호를 생성하고, 신호 합성부(22)에 공급한다.
신호 합성부(22)에는, 외부로부터, 표시용의 유기 EL 소자를 발광시키기 위한 화상 신호가 공급된다.
신호 합성부(22)는, 외부로부터의 화상 신호와, 더미 화소 신호 생성부(21)로부터의 더미 화소 신호를 합성하고, 그 결과 얻어지는 합성 신호를, 번인 보정부(23)에 공급한다.
다음에, 도 2는, 신호 합성부(22)가, 화상 신호와 더미 화소 신호를 합성하는 합성 처리의 한 예를 도시하고 있다.
도 2 좌측에는, 화상 신호에 응하여, 표시부(25)에 포함되는 표시용의 유기 EL 소자가 발광함에 의해, 표시 화면(25a)에 표시되는 표시 화상(41)의 한 예를 도시하고 있다.
또한, 도 2 우측에는, 더미 화소 신호에 응하여, 표시부(25)에 포함되는 계측용의 유기 EL 소자가 발광함에 의해 얻어지는 더미 화상(42)의 한 예를 도시하고 있다. 또한, 더미 화상(42)은, 표시 화면(25a)에는 표시되지 않고, 휘도 센서(25b)에 의한 휘도의 계측에만 이용된다.
신호 합성부(22)는, 예를 들면, 도 2에 도시되는 바와 같이, 표시 화상(41)의 우측에, 더미 화상(42)이 배치되도록, 화상 신호와 더미 화소 신호를 합성한다.
이에 의해, 신호 합성부(22)는, 화상 신호와 더미 화소 신호를 합성함에 의해, 도 3에 도시되는 바와 같은 합성 화상(43)을 나타내는 합성 신호를 생성하고, 번인 보정부(23)에 공급한다.
또한, 신호 합성부(22)는, 표시 화상(41)의 좌측에, 더미 화상(42)이 배치되도록, 화상 신호와 더미 화소 신호를 합성하도록 하여도 좋다. 이 경우, 표시부(25)에서, 휘도 센서(25b)는, 표시 화면(25a)의 좌측에 마련된다.
번인 보정부(23)는, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호에 포함되는 화상 신호(표시 화상(41))을 보정함에 의해, 표시부(25)의 표시 화면(25a)에 생기는 번인을 방지하는 번인 보정 처리를 행한다. 또한, 표시 화면(25a)에 생기는 번인에 관해서는, 도 4 및 도 5를 참조하여 상세히 기술한다.
즉, 예를 들면, 번인 보정부(23)는, 휘도 센서(25b)로부터의 계측 결과에 의거하여, 화상 신호에 대해 번인 보정 처리를 시행하고, 번인 보정 처리 후의 화상 신호를 포함하는 합성 신호를, 데이터 드라이버(24)에 공급한다. 또한, 번인 보정부(23)의 상세는, 도 6을 참조하여 상세히 기술한다.
데이터 드라이버(24)는, 번인 보정부(23)로부터의 합성 신호를 AD(analog/digital) 변환하고, AD 변환 후의 합성 신호를, 표시부(25)에 공급한다.
표시부(25)는, 데이터 드라이버(24)로부터의 합성 신호에 포함되는 화상 신호에 의거하여, 표시용의 유기 EL 소자를 발광시킨다. 이에 의해, 표시 화면(25a)에는, 화상 신호로서의 표시 화상(41)이 표시된다.
또한, 표시부(25)는, 데이터 드라이버(24)로부터의 합성 신호에 포함되는 더미 화소 신호에 의거하여, 계측용의 유기 EL 소자를 발광시킨다.
휘도 센서(25b)는, 계측용의 유기 EL 소자의 곁에 마련되어 있고, 계측용의 유기 EL 소자의 휘도를 계측하고, 그 계측 결과를, 번인 보정부(23)에 공급한다.
또한, 표시부(25)의 상세는, 도 13 내지 도 17을 참조하여 상세히 기술한다.
제어부(26)는, 더미 화소 신호 생성부(21), 신호 합성부(22), 번인 보정부(23), 데이터 드라이버(24), 표시부(25), 및 휘도 센서(25b)를 제어한다.
그런데, 표시용의 유기 EL 소자는, 데이터 드라이버(24)로부터 표시부(25)에 입력되는 화상 신호에 응한 휘도(L)로 발광한다.
즉, 예를 들면, 표시용의 유기 EL 소자는, 화상 신호가 나타내는 신호 전위(Vsig)에 응한 전류(I)가 흐름에 의해, 휘도(L)로 발광한다.
여기서, 휘도(L)는, 유기 EL 소자에 흐르는 전류(I)와, 전류(I)를 휘도(L)로 변환하는 변환 효율(휘도 효율)를 나타내는 기울기(α)를 이용하여, 다음 식(1)에 의해 표시된다.
L=α×I … (1)
또한, 기울기(α)는, 유기 EL 소자에 응하여 미리 정하여져 있고, 유기 EL 소자는, 기울기(α)가 클수록, 전류(I)를 효율적으로 휘도(L)로 변환할 수 있다.
또한, 휘도(L)는, 화상 신호가 나타내는 신호 전위(Vsig)를 이용하여, 다음 식(2)에 의해 표시할 할 수 있다.
L=α×β1×Vsig2 … (2)
또한, α×β1는, 신호 전위(Vsig2)를 휘도(L)로 변환할 때의 변환 효율을 나타낸다.
또한, 휘도(L)는, 전류(I)에 대응하는 계조(k)와 기울기(α)를 이용하여, 다음 식(3)에 의해 표시할 수 있다.
L=α×β2×k2 .2 … (3)
또한, α×β2는, k2 .2를 휘도(L)로 변환할 때의 변환 효율을 나타낸다.
그런데, 계측용의 유기 EL 소자는, 표시용의 유기 EL 소자와 마찬가지로 구성되어 있고, 계측용의 유기 EL 소자는, 데이터 드라이버(24)로부터 표시부(25)에 입력되는 더미 화소 신호에 응한 휘도도로 발광한다.
계측용의 유기 EL 소자의 휘도는, 더미 화소 신호가 나타내는 신호 전위를 Vsig로 두면, 표시용의 유기 EL의 휘도(L)와 마찬가지로, 상술한 식(1) 내지 (3)에 의해 표시할 수 있다. 이 때문에, 표시용의 유기 EL 소자의 휘도(L)만을 설명하고, 계측용의 유기 EL 소자의 휘도의 설명을 생략하도록 하고 있다.
표시용의 유기 EL 소자에서는, 전류(I)가 동일함에도 불구하고, 시간의 경과에 응한 유기 EL 소자의 열화에 의해, 휘도(L)가 저하되어 버린다. 저하 후의 휘도(L')는, 식(1)에 대응하는 다음 식(4)에 의해 표시할 수 있다.
L'=α'×I … (4)
즉, 예를 들면, 표시용의 유기 EL 소자에 흘리는 전류의 크기나, 전류가 흐른 시간의 길이에 응하여, 표시용의 유기 EL 소자가 열화된다. 그리고, 표시용의 유기 EL 소자의 열화에 응하여, 식(4)에 표시되는 바와 같이, 기울기(α)가 기울기(α')(<α)로 저하되는 변환 효율(기울기)의 열화가 생길 수 있다.
표시용의 유기 EL 소자는, 유기 EL 소자에 흘리는 전류의 크기, 및 전류가 흐른 시간에 비례하여 열화된다. 그리고, 기울기(α)는, 표시용의 유기 EL 소자의 열화가 클수록, 보다 작은 기울기(α')로 저하된다.
또한, 변환 효율의 열화는, 식(2)에 대응하는 다음 식(5)에 표시되는 바와 같이, 신호 전위(Vsig)에 관한 식으로 표시할 수 있다.
L'=α'×β1×Vsig2 … (5)
또한, 변환 효율의 열화는, 식(3)에 대응하는 다음 식(6)에 표시되는 바와 같이, 계조(k)에 관한 식으로 표시할 수 있다.
L'=α'×β2×k2 .2 … (6)
또한, 예를 들면, 표시용의 유기 EL 소자에서는, 표시용의 유기 EL 소자의 열화에 응하여, 표시용의 유기 EL 소자에 흐르는 전류(I)가 전류(I)=(I-ΔI)로 저하되는 전류의 열화가 생길 수 있다.
전류 열화량(ΔI)은, 표시용의 유기 EL 소자에 흘리는 전류의 크기, 및 전류가 흐른 시간에 비례하여 커진다.
또한, 전류의 열화는, 화상 신호의 신호 전위(Vsig)가, 신호 전위(Vsig)=(Vsig-ΔVsig)로 저하되는 것과 등가(等價)이다. 또한, 전류의 열화는, 계조(k)가, 계조(k)=(k-Δk)로 저하되는 것과 등가라고 말할 수 있다.
표시용의 유기 EL 소자에서는, 상술한 바와 같이, 기울기(α)가 저하되는 변환 효율의 열화와, 전류(I)가 저하되는 전류의 열화에 기인하여, 휘도(L)가 휘도(L')로 저하되어 버린다. 이에 의해, 표시 화면(25a)에는, 직전에 표시되어 있던 화상이 남아 있는 것같이 보이는, 이른바 번인이라는 현상이 생겨 버린다.
[번인에 관해]
다음에, 도 4 및 도 5를 참조하여, 표시 화면(25a)에 생기는 번인에 관해 설명한다.
도 4는, 표시 화면(25a)의 한 예를 도시하고 있다. 도 4의 표시 화면(25a)에는, 흑색의 화상을 나타내는 흑색 화상(61a)이 표시되고, 흑색 화상(61a)을 배경으로 한 백색의 문자 「BS」(도면 중, 검은색 원으로 둘러싸여진 문자)를 나타내는 백색 화상(61b)이 표시되어 있다.
예를 들면, 표시 화면(25a)에서, 표시용의 유기 EL 소자 중, 흑색 화상(61a)을 표시시키기 위해 발광하는 제1의 유기 EL 소자에는, 전류(I1)가 흘러서 휘도(L1) (예를 들면, 휘도치 0)로 발광한다.
이에 의해, 전류(I1)의 통전에 의해 발광한, 통전 후의 제1의 유기 EL 소자에는, 전류(I1)의 통전에 기인하여, 효율의 열화와 전류의 열화가 생긴다. 따라서 효율의 열화와 전류의 열화가 생긴 제1의 유기 EL 소자의 휘도(L1')는, 다음 식(4')에 의해 표시된다.
L1'=α1'×(I-ΔI 1) … (4')
또한, 예를 들면, 표시 화면(25a)에서, 표시용의 유기 EL 소자 중, 백색 화상(61b)을 표시시키기 위해 발광하는 제2의 유기 EL 소자에는, 전류(I2)(>I1)가 흘러서 휘도(L2)(>L1)(예를 들면, 휘도치 255)로 발광한다.
이에 의해, 전류(I2)의 통전에 의해 발광한, 통전 후의 제2의 유기 EL 소자에는, 전류(I2)의 통전에 기인하여, 효율의 열화와 전류의 열화가 생긴다. 따라서 효율의 열화와 전류의 열화가 생긴 제2의 유기 EL 소자의 휘도(L2')는, 다음 식(4")에 의해 표시된다.
L2'=α2'×(I-ΔI2) … (4")
또한, 제1의 유기 EL 소자에는, 식(4')에 표시되는 바와 같이, 제2의 유기 EL 소자에 흐르는 전류(I)=I2보다도 작은 전류(I)=I1가 흐르고 있다.
따라서 제1의 유기 EL 소자에 생기는 효율의 열화 및 전류의 열화는, 제2의 유기 EL 소자에 생기는 효율의 열화 및 전류의 열화와 비교하여 작은 것으로 되어 있다.
이 때문에, 식(4')이 기울기(α1')는, 식(4")이 기울기(α2')보다도 크게, 식(4')의 전류 열화량(ΔI1)은, 식(4")의 전류 열화량(ΔI2)보다도 작은 것으로 되어 있다.
따라서, 제1의 유기 EL 소자와, 제2의 유기 EL 소자에, 각각, 동일한 전류(I)를 흘리도록 한 경우, 제1의 유기 EL 소자의 휘도(L1')는, 제2의 유기 EL 소자의 휘도(L2')보다도 큰 것으로 된다.
다음에, 도 5는, 표시 화면(25a)에, 흑색 화상(61a) 및 백색 화상(61b)을 표시한 직후에, 회색의 화상을 나타내는 회색 화상(62a)을 표시한 때의 한 예를 도시하고 있다.
도 5의 A에는, 회색 화상(62a)이 나타나 있다. 이 회색 화상(62a)은, 복수의 화소에 의해 구성되어 있고, 회색 화상(62a)을 구성하는 각 화소의 휘도가, 회색에 대응하는 동일한 휘도로 되어 있다.
도 5의 B에는, 흑색 화상(61a) 및 백색 화상(61b)을 표시한 직후에, 회색 화상(62a)을 표시시킨 때의 표시 화면(25a)이 나타나 있다.
회색 화상(62a)을 표시 화면(25a)에 표시시키기 위해, 제1의 유기 EL 소자 및 제2의 유기 EL 소자에 의해 구성되는 표시용의 유기 EL 소자에는, 회색 화상(62a)의 휘도(회색에 대응하는 동일한 휘도)에 대응하는 동일한 전류(I)가 흐른다.
이 때문에, 상술한 바와 같이, 제1의 유기 EL 소자의 휘도(L1')는, 제2의 유기 EL 소자의 휘도(L2')보다도 큰 것으로 된다.
따라서, 회색 화상(62a)을 표시 화면(25a)에 표시시키기 위해, 제1의 유기 EL 소자는 휘도(L1')로 발광하고, 제2의 유기 EL 소자는 휘도(L1')보다도 낮은 휘도(L2')로 발광한다.
또한, 제2의 유기 EL 소자는, 도 4에 도시하는 바와 같이, 백색의 문자 「BS」를 나타내는 백색 화상(61b)을 표시시키기 위해 발광하고 있던 발광 소자이다.
따라서, 도 5의 B에 도시되는 바와 같이, 표시 화면(25a)에서의 도면 중 오른쪽 위의 부분에, 직전에 표시되어 있던 문자 「BS」가 남아 있는 것처럼 보이는 번인의 현상이 발생한다.
즉, 제1의 유기 EL 소자의 휘도(L1')와, 제2의 유기 EL 소자의 휘도(L2')의 휘도차에 기인하여, 표시 화면(25a)상의, 제2의 유기 EL 소자가 발광하고 있는 오른쪽 위의 부분에, 직전에 표시되어 있던 문자 「BS」가 남아 있는 것처럼 보여 버린다.
[번인 보정부(23)의 상세]
다음에, 도 6은, 도 1의 번인 보정부(23)의 상세한 구성례를 도시하고 있다.
이 번인 보정부(23)는, 기울기 보정부(71), 계조 보정부(72), 검출부(73), 및 유지부(74)로 구성된다.
기울기 보정부(71)에는, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호(Cn)(n=1, 2, …)가 공급된다. 여기서, 합성 신호(Cn)는, n번째에 공급되는 합성 신호(합성 화상)를 나타낸다.
기울기 보정부(71)는, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)의 직전에 입력된 화상 신호(Sn -1)의 신호 전위((Vsig)n-1)를, 유지부(74)로부터 판독한다.
또한, 후술하지만, 유지부(74)에는, 신호 합성부(22)로부터 기울기 보정부(71)에 공급되는 합성 신호(Cn -1)에 포함되는 화상 신호(Sn -1)의 신호 전위((Vsig)n-1)가 유지되어 있다.
기울기 보정부(71)는, 유지부(74)로부터 판독한 신호 전위((Vsig)n-1)와, 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과에 의거하여, 효율의 열화에 의해 저하된 기울기(α')를 원래의 기울기(α)로 보정하기 위한 보정량(±√(α/α'))을 산출한다.
그리고, 기울기 보정부(71)는, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig)n)에, 산출한 보정량(±√(α/α'))을 승산한다. 기울기 보정부(71)는, 그 승산의 결과 얻어지는 승산 결과로서의 신호 전위((Vsig')n)={±√(α/α')×(Vsig)n]로 된 화상 신호(Sn)를 포함하는 합성 신호(Cn)를, 계조 보정부(72)에 공급한다.
계조 보정부(72)는, 유지부(74)로부터, 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig)n)를 판독한다.
또한, 계조 보정부(72)는, 유지부(74)로부터 판독한 신호 전위((Vsig)n)와, 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과에 의거하여, 전류의 열화에 의해 저하되는 계조(k-Δk)를 원래의 계조(k)로 보정하기 위한 오프셋량(Δk)에 대응하는 (ΔVsig)n를 산출한다.
그리고, 계조 보정부(72)는, 기울기 보정부(71)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig')n)={±√(α/α')×(Vsig)n]의 (Vsig)n에, 오프셋량(Δk)에 대응하는 (ΔVsig)n를 가산한다.
계조 보정부(72)는, 그 가산의 결과 얻어지는 가산 결과로서의 신호 전위((Vsig")n)=[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n]]가 된 화상 신호(Sn)를 포함하는 합성 신호(Cn)를, 데이터 드라이버(24)에 공급한다.
또한, 효율의 열화나 전류의 열화가 진행될수록, 계조 보정부(72)로부터 데이터 드라이버(24)에 출력되는 신호 전위((Vsig")n)의 절대치는 큰 것으로 된다.
또한, 상술한 식(4) 및 식(5)로부터, I=β1×Vsig2가 도출되고, 표시용의 유기 EL 소자에 흐르는 전류(I)(전류량)는, 신호 전위((Vsig")n)의 크기(절대치)에 응하여 증가한다.
따라서 표시용의 유기 EL 소자에 흐르는 전류(I)는, 효율의 열화나 전류의 열화가 진행될수록 증가하는 것으로 된다.
여기서, 신호 전위((Vsig")n)=전위[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n]]에서, 전류의 열화에 의한 전류 열화량((ΔVsig)n)을 고려하면, 표시용의 유기 EL 소자를 내장하는 화소 회로(184)(도 14)에 인가되는 신호 전위((Vsig"')n)는, [±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n-(ΔVsig)n]]=[±√(α/α')×(Vsig)n]가 된다.
그리고, 그 신호 전위((Vsig"')n)=[±√(α/α')×(Vsig)n]를, 식(5)의 신호 전위(Vsig)에 대입하면, L'=α'×β1×[±√(α/α')×{(Vsig)n]]2=α'×β1×(α/α')×{(Vsig)n]2=α×β1×{(Vsig)n]2이 된다. 또한, 식(5) 및 식(6)에서, L'=α×β1×{(Vsig)n]2=α×β2×{kn]2가 된다.
따라서, 계조 보정부(72)로부터 데이터 드라이버(24)에 출력된 화상 신호(Sn)는, 확실히, 기울기(α')가 원래의 기울기(α)로 보정되고, 계조(kn-Δkn)가 원래의 계조(kn)로 보정된 것으로 된다.
검출부(73)는, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)에 의거하여, 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig)n)를 검출하고, 유지부(74)에 공급하여 유지시킨다.
유지부(74)는, 검출부(73)로부터의 신호 전위((Vsig)n)를 유지한다.
[기울기 보정부(71)의 상세]
다음에, 도 7은, 도 6의 기울기 보정부(71)의 상세한 구성례를 도시하고 있다.
의 기울기 보정부(71)는, 보정량 생성부(101), 보정량 승산부(102), 기울기 유지부(103), 열화곡선 유지부(104), 및 열화곡선 추정부(105)로 구성된다.
또한, 도 1의 제어부(26)는, 표시용의 유기 EL 소자에 순차적으로 주목하고, 주목하고 있는 유기 EL 소자를, 주목 소자로 한다.
보정량 생성부(101)는, 기울기 유지부(103)로부터, 전회의 보정량의 생성시, 즉, 화상 신호(Sn -1)의 보정량의 생성시에 산출한 주목 소자의 기울기(α')를 판독한다.
후술하지만, 기울기 유지부(103)에는, 보정량 생성부(101)에 의해 산출된 주목 소자의 기울기(α')가 유지된다.
또한, 보정량 생성부(101)는, 유지부(74)로부터, 화상 신호(Sn -1)가 나타내는 신호 전위((Vsig)n-1)로서, 주목 소자를 내장하는 화소 회로(184)에 인가되는 신호 전위((Vsig)n-1)(이하, 단지, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n-1)라고 한다)를 판독한다.
보정량 생성부(101)는, 유지부(74)로부터 판독한 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n-1)에 의거하여, 주목 소자에 흐르고 있던 전류(In -1)를 산출한다.
그리고, 보정량 생성부(101)는, 열화곡선 유지부(104)에 유지되어 있는 복수의 휘도 열화곡선 중, 주목 소자에 흐르고 있던 전류(In -1)에 대응지어진 휘도 열화곡선을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한다.
보정량 생성부(101)는, 기울기 유지부(103)로부터 판독한 기울기(α')와, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한 휘도 열화곡선에 의거하여, 주목 소자에서의 최신의 기울기(α')를 산출한다.
그리고, 보정량 생성부(101)는, 최신의 기울기(α')를, 기울기 유지부(103)에 공급하고, 주목 소자의 기울기(α')로서, 재기록에 의해 유지(기억)시킨다.
또한, 보정량 생성부(101)는, 주목 소자에서의 최신의 기울기(α')에 의거하여, 보정량(±√(α/α'))을 생성(산출)하여, 보정량 승산부(102)에 공급한다. 또한, 보정량 생성부(101)가 보정량을 생성하는 방법은, 도 8 및 도 9를 참조하여 상세히 기술한다.
보정량 승산부(102)는, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)가 나타내는, 표시용의 유기 EL 소자마다의 신호 전위((Vsig)n) 중, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)에 대해, 보정량 생성부(101)로부터의 보정량(±√(α/α'))을 승산한다.
또한, 화상 신호(Sn)는, 표시용의 유기 EL 소자를 내장하는 화소 회로에 각각 인가시키는 신호 전위((Vsig)n)를 나타낸다.
보정량 승산부(102)는, 그 승산에 의해 얻어지는, 기울기(α')를 보정 후의 신호 전위{±√(α/α')×(Vsig)n]를, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n)로서, 계조 보정부(72)에 공급한다.
기울기 유지부(103)는, 보정량 생성부(101)로부터 공급되는 주목 소자의 기울기(α')를 유지한다. 또한, 기울기 유지부(103)는, 미리, 표시용의 유기 EL 소자로서의 주목 소자의 기울기(α)(저하 전의 기울기(α))를 유지하고 있는 것으로 한다.
따라서 기울기 유지부(103)에 유지되어 있는 기울기(α)가, 재기록에 의해 갱신될 때까지는, 보정량 생성부(101)는, 기울기 유지부(103)로부터, 주목 소자의 기울기(α')=α를 판독하게 된다.
열화곡선 유지부(104)는, 열화곡선 추정부(105)로부터의 휘도 열화곡선을 유지한다.
열화곡선 추정부(105)는, 도시하지 않은 메모리를 내장하고 있고, 그 메모리에는, 기울기가 저하되는 정도를 나타내는 휘도 열화곡선을 추정할 때에 기준이 되는 휘도 열화 기준 곡선이 미리 유지되어 있다.
이 휘도 열화 기준 곡선은, 복수의 표시 장치(1)에 각각 내장되는 복수의 유기 EL 소자에서, 평균적인 휘도 열화곡선을 나타낸다. 또한, 휘도 열화 기준 곡선은, 유기 EL 소자를 이용한 실험 결과 등에 의거하여 미리 작성된다. 이러한 것은, 후술하는 실시의 형태에서도 마찬가지이다.
열화곡선 추정부(105)는, 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과와, 도시하지 않은 메모리에 미리 유지된 휘도 열화 기준 곡선에 의거하여, 효율의 열화에 의한, 표시용의 유기 EL 소자의 휘도의 저하를 나타내는 휘도 열화곡선을 추정한다.
또한, 열화곡선 추정부(105)가, 표시부(25)에 내장된 표시용의 유기 EL 소자의 휘도 열화곡선을 추정하도록 하고 있는 것은, 표시 장치(1)마다, 표시부(25)에 내장되는 유기 EL 소자의 휘도 열화곡선에 편차가 있는 것에 의한다.
열화곡선 추정부(105)는, 그 추정의 결과 얻어지는 휘도 열화곡선을, 열화곡선 유지부(104)에 공급하여 유지시킨다.
또한, 열화곡선 추정부(105)가 휘도 열화곡선을 추정하는 방법은, 도 10을 참조하여 상세히 기술한다.
[보정량 생성부(101)가 행하는 보정량의 생성]
다음에, 도 8 및 도 9를 참조하여, 보정량 생성부(101)가, 보정량을 생성할 때의 한 예를 설명한다.
도 8은, 열화곡선 추정부(105)에 의해 추정되고, 열화곡선 유지부(104)에 유지되어 있는 휘도 열화곡선의 한 예를 도시하고 있다.
또한, 도 8에서, 횡축은 시간을 나타내고, 종축은 시간의 경과에 응하여 저하되는 기울기를 나타낸다.
도 8에서, 휘도 열화곡선(120)은, 기울기가 α일 때에 100nit에 상당하는 휘도(L)로 유기 EL 소자를 발광시키기 위한 전류(I(L=100nit))를, 유기 EL 소자에 흘린 때의 기울기의 저하의 정도를 나타낸다.
또한, 휘도 열화곡선(121)은, 기울기가 α일 때에 200nit에 상당하는 휘도(L)로 유기 EL 소자를 발광시키기 위한 전류(I(L=200nit))를, 유기 EL 소자에 흘린 때의 기울기의 저하의 정도를 나타낸다.
또한, 휘도 열화곡선(122)은, 기울기가 α일 때에 400nit에 상당하는 휘도(L)로 유기 EL 소자를 발광시키기 위한 전류(I(L=400nit))를, 유기 EL 소자에 흘린 때의 기울기의 저하의 정도를 나타낸다.
여기서, 단위[nit]란, 1평방미터의 평면인 광원(유기 EL 소자)의 광도가, 그 평면과 수직한 방향에서 1cd(칸델라)인 때의, 그 방향에서의 휘도를 나타낸다.
보정량 생성부(101)는, 유지부(74)로부터 판독한 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n-1)에 의거하여, 주목 소자에 흐르고 있던 전류(In -1)를 산출한다. 그리고, 보정량 생성부(101)는, 열화곡선 유지부(104)에 유지되어 있는 복수의 휘도 열화곡선 중(예를 들면, 휘도 열화곡선(120 내지 122)), 산출한 전류(In -1)에 대응하는 휘도 열화곡선을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한다.
즉, 예를 들면, 보정량 생성부(101)는, 산출한 전류(In -1)가, 전류(I(L=200nit))인 경우, 전류(I(L=200nit))에 대응하는 휘도 열화곡선(121)을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한다.
또한, 보정량 생성부(10)는, 기울기 유지부(103)로부터, 주목 소자의 기울기(α')를 판독한다.
그리고, 보정량 생성부(101)는, 기울기 유지부(103)로부터 판독한 주목 소자의 기울기(α')와, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한 휘도 열화곡선(121)에 의거하여, 주목 소자의 최신의 기울기(α')를 산출한다.
다음에, 도 9는, 보정량 생성부(101)가, 기울기 유지부(103)로부터 판독한 주목 소자의 기울기(α')와, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한 휘도 열화곡선(121)에 의거하여, 주목 소자의 최신의 기울기(α')를 산출할 때의 한 예를 도시하고 있다.
예를 들면, 보정량 생성부(101)는, 기울기 유지부(103)로부터 판독한 주목 소자의 기울기(α')=α와, 주목 소자에 전류(In -1)=I(L=200nit)를 흘린 시간(t1)에 의거하여, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한 휘도 열화곡선(121)을 이용하여, 주목 소자의 최신의 기울기(α')를 산출한다.
즉, 예를 들면, 보정량 생성부(101)는, 보정 대상의 화상 신호(Sn)에서의 주목 소자의 기울기(α')가 점(P0)에 대응하는 P0(α')=α인 경우, 휘도 열화곡선(121)상의 점(P0)을, 주목 소자에 전류(In -1)=I(L=200nit)를 흘린 시간(t1)의 경과 후의 점(P1)으로 이동시킨다.
그리고, 보정량 생성부(101)는, 휘도 열화곡선(121)상의 점(P1)에 대응하는 기울기 P1(α')=α1'를, 주목 소자의 최신의 기울기(α')=α1'로서 산출한다. 이 기울기(α1')는, 주목 소자의 기울기(α')=α인 상태에서, 주목 소자에 시간(t1)만큼 전류(In -1)=I(L=200nit)를 흘린 때의 기울기, 즉, 전류(In -1)의 통전에 의해 열화 후의 기울기(α')=α1'를 나타낸다.
보정량 생성부(101)는, 주목 소자의 최신의 기울기(α')=P1(α')=α1'를, 기울기 유지부(103)에 공급하여, 재기록에 의해 유지(기억)시킨다.
또한, 보정량 생성부(101)는, 주목 소자의 최신의 기울기(α')=α1'에 의거하여, 보정량(±√(α/α'))을 생성(산출)하여, 보정량 승산부(102)에 공급한다.
그리고, 보정량 승산부(102)는, 보정량 생성부(101)로부터의 보정량(±√(α/α'))을, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)에 승산함에 의해, 주목 소자의 기울기(α')=α1'를 원래의 기울기(α)로 보정한다.
도 1의 제어부(26)는, 표시용의 유기 EL 소자의 모두를 주목 소자로 함에 의해, 기울기 보정부(71)에서, 화상 신호(Sn)에 의해 각각 표시되는, 표시용의 유기 EL 소자마다의 신호 전위((Vsig)n)를, 신호 전위((Vsig')n)로 변환하는 처리가 행하여진다.
신호 합성부(22)로부터 기울기 보정부(71)에 대해, 다음의 화상 신호(Sn +1)가 공급되면, 도 1의 제어부(26)는, 재차, 표시용의 유기 EL 소자에 순차적으로 주목하고, 주목하고 있는 유기 EL 소자를, 주목 소자로 한다.
이 경우, 보정량 생성부(101)는, 유지부(74)로부터, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)를 판독한다. 그리고, 보정량 생성부(101)는, 유지부(74)로부터 판독한 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)에 의거하여, 주목 소자에 흐르고 있던 전류(In)를 산출한다.
그리고, 보정량 생성부(101)는, 열화곡선 유지부(104)에 유지되어 있는 복수의 휘도 열화곡선 중, 산출한 전류(In)에 대응하는 휘도 열화곡선을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한다.
즉, 예를 들면, 보정량 생성부(101)는, 산출한 전류(In)가, 전류(I(L=200nit))인 경우, 전류(I(L=200nit))에 대응하는 휘도 열화곡선(121)을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한다.
또한, 보정량 생성부(101)는, 기울기 유지부(103)로부터, 주목 소자의 기울기(α')=α1'를 판독한다.
그리고, 보정량 생성부(101)는, 기울기 유지부(103)로부터 판독한 주목 소자의 기울기(α')=α1'와, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한 휘도 열화곡선(121)에 의거하여, 주목 소자의 최신의 기울기(α')=α2'를 산출한다.
즉, 예를 들면, 보정량 생성부(101)는, 보정 전의 기울기(α')가 점(P1)에 대응하는 P1(α')=α1'인 경우, 휘도 열화곡선(121)상의 점(P1)을, 주목 소자에 전류(In)=I(L=200nit)를 흘린 시간(t2)의 경과 후의 점(P2)으로 이동시킨다.
그리고, 보정량 생성부(101)는, 휘도 열화곡선(121)상의 점(P2)에 대응하는 기울기(P2(α'))=α2'를, 주목 소자의 최신의 기울기(α')=α2'로서 산출한다. 이 기울기(α2')는, 주목 소자의 기울기(α')=α1'인 상태로부터, 주목 소자에 시간(t2)만 전류(In -1)=I(L=200nit)를 흘린 때의 기울기, 즉, 전류(In -1)의 통전에 의해 열화 후의 기울기(α')=α2'를 나타낸다.
보정량 생성부(101)는, 주목 소자의 최신의 기울기(α')=P2(α')=α2'를, 기울기 유지부(103)에 공급하고, 재기록에 의해 유지(기억)시킨다.
또한, 보정량 생성부(101)는, 주목 소자의 최신의 기울기(α')=α2'에 의거하여, 보정량(±√(α/α'))을 생성(산출)하여, 보정량 승산부(102)에 공급한다.
그리고, 보정량 승산부(102)는, 보정량 생성부(101)로부터의 보정량(±√(α/α'))을, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n+1)에 승산함에 의해, 주목 소자의 기울기(α')=α2'를 원래의 기울기(α)로 보정한다.
도 1의 제어부(26)는, 표시용의 유기 EL 소자의 모두를 주목 소자로 함에 의해, 기울기 보정부(71)에서, 화상 신호(Sn +1)에 의해 각각 표시된 신호 전위((Vsig)n+1)를, 신호 전위((Vsig')n+1)로 변환하는 처리가 행하여진다.
신호 합성부(22)로부터 기울기 보정부(71)에 대해, 또한 다음의 화상 신호(Sn +2)가 공급되면, 도 1의 제어부(26)는, 재차, 표시용의 유기 EL 소자에 순차적으로 주목하고, 주목하고 있는 유기 EL 소자를 주목 소자로 한다.
이 경우, 보정량 생성부(101)는, 유지부(74)로부터, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n+1)를 판독한다. 그리고, 보정량 생성부(101)는, 유지부(74)로부터 판독한 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n+1)에 의거하여, 주목 소자에 흐르고 있던 전류(In +1)를 산출한다.
그리고, 보정량 생성부(101)는, 열화곡선 유지부(104)에 유지되어 있는 복수의 휘도 열화곡선 중, 산출한 전류(In +1)에 대응하는 휘도 열화곡선을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한다.
즉, 예를 들면, 보정량 생성부(101)는, 산출한 전류(In +1)가, 전류(I(L=400nit))인 경우, 전류(I(L=400nit))에 대응하는 휘도 열화곡선(122)을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한다.
또한, 보정량 생성부(101)는, 기울기 유지부(103)로부터, 주목 소자의 기울기(α')=α2'를 판독한다.
그리고, 보정량 생성부(101)는, 기울기 유지부(103)로부터 판독한 주목 소자의 기울기(α')=α2'와, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한 휘도 열화곡선(122)에 의거하여, 주목 소자의 최신의 기울기(α')=α3'를 산출한다.
즉, 예를 들면, 보정량 생성부(101)는, 주목 소자의 기울기(α')가 점(P2)에 대응하는 P2(α')=α2'인 경우, 기울기(α2')에 대응하는, 휘도 열화곡선(122)상의 점(P1')을, 주목 소자에 전류(In +1)=I(L=400nit)를 흘린 시간(t3)의 경과 후의 점(P2')로 이동시킨다.
그리고, 보정량 생성부(101)는, 휘도 열화곡선(122)상의 점(P2')에 대응하는 기울기(P2(α'))=α3'를, 주목 소자의 최신의 기울기(α')=α3'로서 산출한다. 이 기울기(α3')는, 주목 소자의 기울기(α')=α2'인 상태에서, 주목 소자에 시간(t3)만큼 전류(In +1)=I(L=400nit)를 흘린 때의 기울기, 즉, 전류(In +1)의 통전에 의해 열화 후의 기울기(α')=α3'를 나타낸다.
보정량 생성부(101)는, 주목 소자의 최신의 기울기(α')=P2'(α')=α3'를, 기울기 유지부(103)에 공급하고, 재기록에 의해 유지(기억)시킨다.
또한, 보정량 생성부(101)는, 주목 소자의 최신의 기울기(α')=α3'에 의거하여, 보정량(±√(α/α'))을 생성(산출)하여, 보정량 승산부(102)에 공급한다.
그리고, 보정량 승산부(102)에서는, 보정량 생성부(101)로부터의 보정량(±√(α/α'))을, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n+2)에 승산함에 의해, 주목 소자의 기울기(α')=α3'를 원래의 기울기(α)로 보정한다.
또한, 기울기 보정부(71)의 보정량 승산부(102)는, 보정량 생성부(101)로부터의 보정량에 의거하여, 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)만을 보정하도록 하고 있다.
그러나, 그 밖에, 예를 들면, 보정량 승산부(102)는, 합성 신호(Cn)에 포함되는 더미 화소 신호도, 화상 신호(Sn)와 마찬가지로 보정하도록 하여도 좋다.
단, 이 경우, 보정량 생성부(101)에서의 생성되는, 더미 화소 신호용의 보정량은, 기울기 보정부(71)에서의 실질적으로 기울기의 보정을 행하지 않는 보정량(예를 들면 값1 등)이 된다.
이 때문에, 보정량 승산부(102)는, 보정량 생성부(101)로부터의, 더미 화소 신호용의 보정량에 의거하여, 합성 신호(Cn)에 포함되는 더미 화소 신호를 보정하고, 보정 후의 더미 화소 신호로서, 보정 전과 동일한 더미 화소 신호를, 계조 보정부(72)에 공급한다.
[휘도 열화곡선의 추정 방법에 관해]
다음에, 도 10은, 열화곡선 추정부(105)가, 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과에 의거하여, 휘도 열화곡선을 추정할 때의 한 예를 도시하고 있다.
도 10에서, 횡축은 시간을 나타내고, 종축은 기울기를 나타낸다.
최초에, 열화곡선 추정부(105)에서, 전류(I(L=200nit))가 흘려지는 계측용의 유기 EL 소자의 휘도의 저하를 나타내는 휘도 열화곡선(121)을 추정하는 방법을 설명한다.
또한, 이 휘도 열화곡선(121)은, 표시용의 유기 EL 소자의 휘도의 저하를 나타내는 것으로 하여, 보정량 생성부(101)에 의한 보정량의 생성시에 사용된다. 이것은, 계측용의 유기 EL 소자가, 표시용의 유기 EL 소자와 같은 환경하에서 제조된 것이고, 표시용의 유기 EL 소자와 같은 성질을 갖고 있는 것에 의한다.
열화곡선 추정부(105)에는, 예를 들면, 휘도 센서(25b)로부터, 전류(I(L=200nit))가 흘려지는 계측용의 유기 EL 소자의 휘도를 계측하여 얻어진 휘도(L(t, I(L=200nit))0가 공급된다.
여기서, 휘도(L(t, I(L=200nit))0는, 휘도 센서(25b)에 의한 계측의 시작부터 시간(t)의 경과시에 계측된 휘도를 나타낸다.
열화곡선 추정부(105)는, 도시하지 않은 내장하는 메모리에 미리 유지하고 있는 전류의 값(I(L=200nit))과, 휘도 센서(25b)로부터의 계측 결과(L(t, I(L=200nit)))에 의거하여, 식(4)에 의거하여 도출된 식(α(t, I(L=200nit))')=L(t, I(L=200nit))/I(L=200nit)에 의해, 시간(t)에 대한 기울기(α(t, I(L=200nit))')를 산출한다.
또한, 열화곡선 추정부(105)는, 도시하지 않은 내장의 메모리에, 휘도 열화 기준 곡선(141)을 미리 유지하고 있다. 이 휘도 열화 기준 곡선(141)은, 전류(I(L=200nit))가 흘려지는 유기 EL 소자의 휘도의 저하를 나타내는 평균적인 휘도 열화곡선이고, 예를 들면 휘도 열화곡선(121)을 추정할 때의 기준이 된다.
또한, 휘도 열화 기준 곡선(141)은, 표시부(25)에 내장된 것으로 하고 상정된 임의의 유기 EL 소자의 휘도를 계측하는 계측 결과에 의거하여 미리 생성되고, 열화곡선 추정부(105)의 도시하지 않은 내장의 메모리에 유지된다. 이것은, 후술하는 다른 휘도 열화 기준 곡선에 대해서도 마찬가지이다.
열화곡선 추정부(105)는, 산출한 기울기(α(t, I(L=200nit))')와, 미리 유지하고 있는 휘도 열화 기준 곡선(141)에 의거하여, 전류(I(L=200nit))를 흘린 때의 계측용의 유기 EL 소자에 관한 휘도 열화곡선(121)을 추정한다.
즉, 예를 들면, 열화곡선 추정부(105)는, 도 10에 도시되는 바와 같이, 기울기(α(0, I(L=200nit))')=α가 얻어진 때부터, 기울기(α(t, I(L=200nit))')가 얻어질 때까지의 시간(Δt1')을 산출한다.
또한, 예를 들면, 열화곡선 추정부(105)는, 도 10에 도시되는 바와 같이, 휘도 열화 기준 곡선(141)에서, 기울기(α(0, I(L=200nit))')=α가 얻어진 때부터, 기울기(α(t, I(L=200nit))')가 얻어질 때까지의 시간(Δt1)을 산출한다.
또한, 열화곡선 추정부(105)는, 산출한 시간(Δt1')과 시간(Δt1)에 의거하여, 휘도 열화 기준 곡선(141)에 대한 기울기(α(t, I(L=200nit))')의 저하의 속도를 나타내는 가속 계수(Δt1'/Δt1)를 산출한다.
열화곡선 추정부(105)는, 산출한 가속 계수(Δt1'/Δt1)를, 휘도 열화 기준 곡선(141)을 나타내는 식(A(t, I(L=200nit)))에 승산함에 의해, 휘도 열화곡선(121)을 추정하고, 열화곡선 유지부(104)에 공급하여 유지시킨다.
즉, 예를 들면, 열화곡선 추정부(105)는, 그 승산에 의해 얻어지는 새로운 식((Δt1'/Δt1)×A(t, I(L=200nit)))을 나타내는 휘도 열화곡선(121)을, 전류(I(L=200nit))의 값에 대응시킨 형태로, 열화곡선 유지부(104)에 공급하여 유지시킨다.
다음에, 열화곡선 추정부(105)에서, 전류(I(L=400nit))가 흘려지는 계측용의 유기 EL 소자의 휘도의 저하를 나타내는 휘도 열화곡선(122)을 추정하는 방법을 설명한다. 또한, 이 휘도 열화곡선(122)은, 표시용의 유기 EL 소자의 휘도의 저하를 나타내는 것으로 하고, 보정량 생성부(101)에 의한 보정량의 생성시에 사용된다.
열화곡선 추정부(105)에는, 예를 들면, 휘도 센서(25b)로부터, 전류(I(L=400nit))가 흘려지는 계측용의 유기 EL 소자의 휘도를 계측하여 얻어진 휘도(L(t, I(L=400nit)))가 공급된다.
여기서, 휘도(L(t, I(L=400nit)))는, 휘도 센서(25b)에 의한 계측의 시작부터 시간(t)의 경과시에 얻어진 휘도를 나타낸다.
열화곡선 추정부(105)는, 도시하지 않은 내장하는 메모리에 미리 유지하고 있는 전류의 값(I(L=400nit))과, 휘도 센서(25b)로부터의 계측 결과(L(t, I(L=400nit)))에 의거하여, 식(4)에 의거하여 도출된 식(α(t, I(L=400nit'))=L(t, I(L=400nit))/I(L=400nit))에 의해, 시간(t)에 대한 기울기(α(t, I(L=400nit))')를 산출한다.
또한, 열화곡선 추정부(105)는, 도시하지 않은 내장의 메모리에, 휘도 열화 기준 곡선(142)을 미리 유지하고 있다. 이 휘도 열화 기준 곡선(142)은, 전류(I(L=400nit))가 흘려진 유기 EL 소자의 휘도의 저하를 나타내는 평균적인 휘도 열화곡선이고, 예를 들면 휘도 열화곡선(122)을 추정할 때의 기준이 된다.
열화곡선 추정부(105)는, 산출한 기울기(α(t, I(L=400nit))')와, 미리 유지하고 있는 휘도 열화 기준 곡선(142)에 의거하여, 전류(I(L=400nit))를 흘린 때의 계측용의 유기 EL 소자에 관한 휘도 열화곡선(122)을 추정한다.
즉, 예를 들면, 열화곡선 추정부(105)는, 도 10에 도시되는 바와 같이, 기울기(α(0, I(L=400nit))')=α가 얻어진 때부터, 기울기(α(t, I(L=400nit))')가 얻어질 때까지의 시간(Δt2')을 산출한다.
또한, 예를 들면, 열화곡선 추정부(105)는, 도 10에 도시되는 바와 같이, 휘도 열화 기준 곡선(142)에서, 기울기(α(0, I(L=400nit))')=α가 얻어진 때부터, 기울기(α(t, I(L=400nit))')가 얻어질 때까지의 시간(Δt2)을 산출한다.
또한, 열화곡선 추정부(105)는, 산출한 시간(Δt2')과 시간(Δt2)에 의거하여, 휘도 열화 기준 곡선(142)에 대한 기울기(α(t, I(L=400nit))')의 저하의 속도를 나타내는 가속 계수(Δt2'/Δt2)를 산출한다.
열화곡선 추정부(105)는, 산출한 가속 계수(Δt2'/Δt2)를, 휘도 열화 기준 곡선(142)을 나타내는 식(A(t, I(L=400nit)))에 승산함에 의해, 휘도 열화곡선(122)을 추정하고, 열화곡선 유지부(104)에 공급하여 유지시킨다.
즉, 예를 들면, 열화곡선 추정부(105)는, 그 승산에 의해 얻어지는 새로운 식((Δt2'/Δt2)×A(t, I(L=400nit)))을 나타내는 휘도 열화곡선(122)을, 전류(I(L=400nit))의 값에 대응시킨 형태로, 열화곡선 유지부(104)에 공급하여 유지시킨다.
또한, 열화곡선 추정부(105)는, 도시하지 않은 내장의 메모리에, 복수의 휘도 열화 기준 곡선(예를 들면, 휘도 열화 기준 곡선(141, 142) 등)을 미리 유지하도록 하고 있다.
그러나, 열화곡선 추정부(105)가, 복수의 다른 전류(I(L=Xnit))(X는 임의의 정의 정수)마다, 전류(I(L=Xnit))가 흐르는 계측용의 유기 EL 소자에 관한 휘도 열화곡선을 추정하는 경우, 복수의 다른 전류(I(L=Xnit))의 수만큼, 대응하는 휘도 열화 기준 곡선을, 내장하는 메모리에 유지할 필요가 있다.
이 경우, 휘도 열화 기준 곡선의 수에 응하여, 메모리의 기억 용량을 늘려야 한다.
따라서 열화곡선 추정부(105)에서는, 복수의 휘도 열화 기준 곡선의 어느 하나의 휘도 열화 기준 곡선을, 어느 휘도 열화곡선을 추정하는 경우에도 사용 가능한 마스터 커브로서 유지하여, 메모리의 기억 용량을 절약하도록 하여도 좋다.
즉, 예를 들면, 열화곡선 추정부(105)의 도시하지 않은 메모리에서, 휘도 열화 기준 곡선(142)을 마스터 커브로서 유지하도록 한 경우, 휘도 열화곡선(121)은, 이하와 같이 하여 추정된다.
열화곡선 추정부(105)는, 상술한 바와 같이 하여 산출한 기울기(α(t, I(L=200nit))')와, 미리 유지하고 있는 마스터 커브로서의 휘도 열화 기준 곡선(142)에 의거하여, 전류(I(L=200nit))를 흘린 때의 계측용의 유기 EL 소자에 관한 휘도 열화곡선(121)을 추정한다.
즉, 예를 들면, 열화곡선 추정부(105)는, 도 10에 도시되는 바와 같이, 기울기(α(0, I(L=200nit))')=α가 얻어진 때부터, 기울기(α(t, I(L=200nit))')가 얻어질 때까지의 시간(Δt1')을 산출한다.
또한, 예를 들면, 열화곡선 추정부(105)는, 도 10에 도시되는 바와 같이, 마스터 커브로서의 휘도 열화 기준 곡선(142)에서, 기울기(α(0, I(L=200nit))')=α가 얻어진 때부터, 기울기(α(t, I(L=200nit))')가 얻어질 때까지의 시간(Δt3)을 산출한다.
또한, 열화곡선 추정부(105)는, 산출한 시간(Δt1')과 시간(Δt3)에 의거하여, 휘도 열화 기준 곡선(142)에 대한 기울기(α(t, I(L=200nit))')의 저하의 속도를 나타내는 가속 계수(Δt1'/Δt3)를 산출한다.
열화곡선 추정부(105)는, 산출한 가속 계수(Δt1'/Δt3)를, 마스터 커브로서의 휘도 열화 기준 곡선(142)을 나타내는 식(A(t, I(L=400nit)))에 승산함에 의해, 휘도 열화곡선(121)을 추정하고, 열화곡선 유지부(104)에 공급하여 유지시킨다.
즉, 예를 들면, 열화곡선 추정부(105)는, 그 승산에 의해 얻어지는 새로운
식((Δt1'/Δt3)×A(t, I(L=400nit)))을 나타내는 휘도 열화곡선(121)을, 전류(I(L=400nit))의 값에 대응시킨 형태로, 열화곡선 유지부(104)에 공급하여 유지시킨다.
또한, 마스터 커브는, 휘도 열화 기준 곡선(142)로 한정하는, 임의의 휘도 열화 기준 곡선을 채용할 수 있다.
[계조 보정부의 상세]
다음에, 도 11은, 도 6의 계조 보정부(72)의 상세한 구성례를 도시하고 있다.
이 계조 보정부(72)는, 오프셋량 산출부(161) 및 오프셋 보정부(162)로 구성된다.
오프셋량 산출부(161)에는, 휘도 센서(25b)로부터, 휘도의 계측 결과가 공급된다.
오프셋량 산출부(161)는, 유지부(74)로부터, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)를 판독한다.
그리고, 오프셋량 산출부(161)는, 판독한 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n), 도시하지 않은 메모리에 미리 유지되어 있는 오프셋량 산출용 정보, 및 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과에 의거하여, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)에 가산된 오프셋량((ΔVsig)n)을 산출하고, 오프셋 보정부(162)에 공급한다.
또한, 오프셋량 산출부(161)가, 오프셋량을 산출하는 방법은, 도 12를 참조하여 상세히 기술한다.
오프셋 보정부(162)는, 기울기 보정부(71)로부터의, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n)(={±√(α/α')×(Vsig)n])의 (Vsig)n와, 오프셋량 산출부(161)로부터의 오프셋량((ΔVsig)n)을 가산한다.
오프셋 보정부(162)는, 그 가산의 결과 얻어지는 가산 결과로서의 신호 전위[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n]]를, 주목 소자의 신호 전위((Vsig")n)로서, 데이터 드라이버(24)에 공급한다.
또한, 계조 보정부(72)의 오프셋 보정부(162)는, 오프셋량 산출부(161)로부터의 오프셋량에 의거하여, 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)만을 보정하도록 하고 있다.
그러나, 그 밖에, 예를 들면, 오프셋 보정부(162)는, 합성 신호(Cn)에 포함되는 더미 화소 신호도, 화상 신호(Sn)와 마찬가지로 보정하도록 하여도 좋다.
단, 이 경우, 오프셋량 산출부(161)에서 산출되는, 더미 화소 신호용의 오프셋량은, 계조 보정부(72)에서 실질적으로 계조의 보정을 행하지 않은 오프셋량(예를 들면 값 0 등)이 된다.
이 때문에, 오프셋 보정부(162)는, 오프셋량 산출부(161)로부터의, 더미 화소 신호용의 오프셋량에 의거하여, 합성 신호(Cn)에 포함되는 더미 화소 신호를 보정하고, 보정 후의 더미 화소 신호로서, 보정 전과 동일한 더미 화소 신호를, 데이터 드라이버(24)에 공급한다.
[오프셋량의 산출에 관해]
다음에, 도 12는, 도 11의 오프셋량 산출부(161)가, 오프셋량을 산출할 때의 한 예를 도시하고 있다.
도 12에서, 함수(f1(Vsig))는, 전류의 열화 전에 있어서의, 신호 전위(Vsig)와 전류(I)와의 관계를 나타내는 함수이다.
이 함수(f1(Vsig))는, 오프셋량 산출용 정보로서, 오프셋량 산출부(161)의 도시하지 않은 메모리에 미리 유지되어 있는 것으로 한다.
또한, 함수(f1(Vsig))는, 예를 들면, 표시부(25)에 내장되는 것으로 하여 상정되는 임의의 유기 EL 소자의 휘도를 계측하는 계측 결과에 의거하여 미리 생성되고, 오프셋량 산출부(161)의 도시하지 않은 내장의 메모리에 유지된다.
또한, 함수(f1(Vsig))는, 표시부(25)에 포함되는 계측용의 유기 EL 소자에 전류의 열화가 생기기 전에 얻어지는, 휘도 센서(25b)에 의해 계측된 계측 결과에 의거하여, 오프셋량 산출부(161)가 생성하여, 도시하지 않은 내장의 메모리에 유지시키도록 하여도 좋다.
도 12에서, 함수(g1(Vsig))는, 전류의 열화 후에 있어서의, 신호 전위(Vsig)와 전류(I)와의 관계를 나타내는 함수이다.
함수(g1(Vsig))는, 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과에 의거하여, 오프셋량 산출부(161)에 의해 생성된다. 도 12에서, 횡축은 Vsig를 나타내고, 종축은 전류(계조)를 나타낸다.
오프셋량 산출부(161)는, 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과에 의거하여, 예를 들면 최소자승법 등에 의해, 함수(g1(Vsig))를 산출한다.
또한, 예를 들면, 오프셋량 산출부(161)는, 유지부(74)로부터, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)를 판독한다. 그리고, 오프셋량 산출부(161)는, 판독 신호 전위((Vsig)n)에 의거하여, 전류(In)=g1((Vsig)n)를 산출한다.
또한, 오프셋량 산출부(161)는, 판독한 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n), 도시하지 않은 내장의 메모리에 미리 유지되어 있는 함수(f1(Vsig)), 및 산출한 In=g1((Vsig)n)에 의거하여, 등식(In)=g((Vsig)n)=f1((Vsig)n-(ΔVsig)n)을 생성한다.
그리고, 오프셋량 산출부(161)는, 생성한 등식(In)=g1((Vsig)n)=f((Vsig)n-(ΔVsig)n)을, 오프셋량((ΔVsig)n)에 관해 풀음에 의해, 오프셋량((ΔVsig)n)을 생성하고, 오프셋 보정부(162)에 공급한다.
그런데, 오프셋량((ΔVsig)n)은, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)마다 다른 것으로 되어 있다. 즉, 예를 들면, 도 12에 도시되는 바와 같이, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)가 클수록, 오프셋량((ΔVsig)n)도 큰 것으로 된다.
따라서 오프셋량 산출부(161)는, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)마다, 오프셋량((ΔVsig)n)을 산출할 필요가 있다.
그래서, 후술하는 제3의 실시의 형태에서는, 감마 공간에서, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)와 오프셋량((ΔVsig)n)를 가산시키도록 하여, 주목 소자가 되는 표시용의 유기 EL 소자의 어느 신호 전위((Vsig)n)에서도, 동일한 오프셋량((ΔVsig)n)으로, 계조를 보정할 수 있도록 하고 있다. 제3의 실시의 형태는, 도 30 내지 도 33을 참조하여 상세히 기술한다.
[표시부(25)의 상세]
다음에, 도 13 내지 도 17을 참조하여, 표시부(25)의 상세를 설명한다.
도 13은, 표시부(25)의 정면도를 도시하고 있다.
표시부(25)는, 사각형상의 입체적인 몸체로 이루어지고, 그 몸체 내에는, 유기 EL 소자를 포함하는 화소 회로 등이 내장되어 있다.
그리고, 표시부(25)는, 도 13에 도시되는 바와 같이, 몸체의 중앙에, 표시 화면(25a)이 마련되어 있다. 또한, 표시부(25)는, 도 13에서, 표시 화면(25a)의 우측에, 복수의 휘도 센서(25b1 내지 25bM)가, 몸체 내에 내장된 형태로 배치되어 있다.
도 14는, 표시부(25)의 상세한 구성례를 도시하고 있다.
표시부(25)에는, 수평 실렉터(horizontal selector)(181), 라이트 스캐너(write scanner)(182), 전원 스캐너(drive scanner)(183), 유기 EL 소자를 포함하는 화소 회로(184-(1, 1) 내지 184-(N, M)), 및 휘도 센서(25b1 내지 25bM)가 내장되어 있다.
또한, 화소 회로(184-(1, 1) 내지 184-(N, M)) 중, 화소 회로(184-(1, M)), 화소 회로(184-(2, M)), …, 화소 회로(184-(N, M))에 각각 포함되는 유기 EL 소자가, 계측용의 유기 EL 소자로 된다.
또한, 화소 회로(184-(1, 1) 내지 184-(N, M)) 중, 화소 회로(184-(1, M)), 화소 회로(184-(2, M)), …, 및 화소 회로(184-(N, M))를 제외한 복수의 화소 회로에 각각 포함되는 유기 EL 소자가, 표시용의 유기 EL 소자로 된다.
화소 회로(184-(1, 1) 내지 184-(N, M))는, N×M개(N, M은 서로 독립한 1 이상의 정수치)의 화소 회로(184)가 행렬형상으로 배치되어 구성되어 있다. 수평 실렉터(181), 라이트 스캐너(182), 및 전원 스캐너(183)는, 화소 회로(184-(1, 1) 내지 184-(N, M))를 구동하는 구동부로서 동작한다.
또한, 표시부(25)는, N개의 주사선(WSL-1 내지 WSL-N), N개의 전원선(DSL-1 내지 DSL-N), 및 M개의 영상 신호선(DTL-1 내지 DTL-M)도 갖는다.
이하의 설명에서는, 주사선(WSL-1 내지 WSL-N)을 각각 구별할 필요가 없는 경우, 단지 주사선(WSL)이라고 한다. 또한, 전원선(DSL-1 내지 DSL-N)을 각각 구별할 필요가 없는 경우, 단지 전원선(DSL)이라고 한다.
또한, 영상 신호선(DTL-1 내지 DTL-M)을 각각 구별할 필요가 없는 경우, 단지 영상 신호선(DTL)이라고 한다. 또한, 화소 회로(184-(1, 1) 내지 184-(N, M))를 각각 구별할 필요가 없는 경우, 단지 화소 회로(184)라고 한다.
또한, 화소 회로(184-(1, 1) 내지 184-(N, M)) 중, x열째(x=1, 2, …, M)의 화소 회로(184-(1, x) 내지 184-(N, x))는, 영상 신호선(DTL-x)으로 수평 실렉터(181)와 접속되어 있다.
라이트 스캐너(182)는, 주사선(WSL-1 내지 WSL-N)에 수평 주기(1H)로 순차적으로 제어 신호를 공급하여 화소 회로(184)를 행 단위로 선순차 주사한다. 전원 스캐너(183)는, 선순차 주사에 맞추어서 전원선(DSL-1 내지 DSL-N)에, 제1 전위(후술하는 Vcc) 또는 제2 전위(후술하는 Vss)의 전원 전압을 공급한다. 수평 실렉터(181)는, 선순차 주사에 맞추어서 각 수평 기간 내(1H)에서 화상 신호(또한, 화소 회로(184)에 포함되는 유기 EL 소자가, 계측용의 유기 EL 소자인 경우는, 화상 신호에 대신하여 더미 화소 신호가 이용된다)에 대응하는 신호 전위(Vsig)와 기준 전위(Vofs)를 전환하여 열형상의 영상 신호선(DTL-1 내지 DTL-M)에 공급한다.
휘도 센서(25b1)는, 화소 회로(184-(1, M))의 근처에 마련되어 있고, 화소 회로(184-(1, M))에 포함되는 유기 EL 소자의 휘도를 계측하고, 도 1의 번인 보정부(23)에 공급한다.
휘도 센서(25b2 내지 25bM)는, 각각, 화소 회로(184-(2, M) 내지 184-(N, M))의 근처에 마련되어 있고, 휘도 센서(25b1)와 같은 처리를 행한다.
또한, 휘도 센서(25b1 내지 25bM)를 각각 구별할 필요가 없는 경우, 단지, 휘도 센서(25b)라고 한다.
도 15는, 화소 회로(184)가 발광하는 색의 배열의 한 예를 도시하고 있다.
화소 회로(184)는, 내장의 발광 소자로서의 유기 EL 소자를 이용하여, 적(R), 녹(G), 또는 청(B)의 어느 하나의 색으로 발광하는, 이른바 부화소(서브픽셀)에 상당한다. 또한, 행방향(도면 좌우 방향)으로 나열하는 적, 녹, 및 청의 3개의 화소 회로(184)로, 표시 단위로서의 1화소(표시 화상의 1화소)가 구성된다.
또한, 도 15에서는, 주사선(WSL) 및 전원선(DSL)이 화소 회로(184)의 하측에서 접속되어 있는 점이 도 14와 다르다. 수평 실렉터(181), 라이트 스캐너(182), 전원 스캐너(183), 및 각 화소 회로(184)와 접속되는 배선은, 필요에 응하여 적절한 위치에 배치할 수 있다.
[화소 회로(184)의 구성]
도 16은, 화소 회로(184)의 상세한 구성례를 도시하고 있다.
화소 회로(184)는, 샘플링용 트랜지스터(201), 구동용 트랜지스터(202), 축적 용량(203), 및 발광 소자(204)를 갖는다. 샘플링용 트랜지스터(201)의 게이트는 주사선(WSL)과 접속되고, 샘플링용 트랜지스터(201)의 드레인은 영상 신호선(DTL)과 접속됨과 함께, 소스가 구동용 트랜지스터(202)의 게이트(g)와 접속되어 있다.
구동용 트랜지스터(202)의 소스 및 드레인의 한쪽은 발광 소자(204)의 애노드에 접속되고, 다른쪽이 전원선(DSL)에 접속된다. 축적 용량(203)은, 구동용 트랜지스터(202)의 게이트(g)와 발광 소자(204)의 애노드에 접속되어 있다. 또한, 발광 소자(204)의 캐소드는 소정의 전위(Vcat)에 설정되어 있는 배선(205)에 접속되어 있다. 이 전위(Vcat)는 GND 레벨이고, 따라서 배선(205)은 접지 배선이다.
샘플링용 트랜지스터(201) 및 구동용 트랜지스터(202)는, 모두 N채널형 트랜지스터이다. 따라서, 샘플링용 트랜지스터(201) 및 구동용 트랜지스터(202)는, 저온 폴리실리콘보다도 염가로 작성할 수 있는 어모퍼스 실리콘으로 작성할 수 있다. 이에 의해, 화소 회로(184)의 제조 비용을 보다 염가로 할 수 있다. 물론, 샘플링용 트랜지스터(201) 및 구동용 트랜지스터(202)는, 저온 폴리실리콘이나 단결정 실리콘으로 작성하여도 상관없다.
발광 소자(204)는, 유기 EL 소자이다. 유기 EL 소자는 다이오드 특성을 갖는 전류 발광 소자이다. 따라서, 발광 소자(204)는, 공급되는 전류치(Ids)에 응한 계조의 발광을 행한다.
이상과 같이 구성되는 화소 회로(184)에서, 샘플링용 트랜지스터(201)가, 주사선(WSL)으로부터의 제어 신호에 응하여 온(도통)하고, 영상 신호선(DTL)을 통하여 계조에 응한 신호 전위(Vsig)의 영상 신호를 샘플링 한다. 축적 용량(203)은, 영상 신호선(DTL)을 통하여 수평 실렉터(181)로부터 공급되는 전하를 축적하여 유지한다. 구동용 트랜지스터(202)는, 제1 전위(Vcc)에 있는 전원선(DSL)으로부터 전류의 공급을 받고, 축적 용량(203)에 유지된 신호 전위(Vsig)에 응하여 구동 전류(Ids)를 발광 소자(204)에 흘린다(공급한다). 발광 소자(204)에 소정의 구동 전류(Ids)가 흐름에 의해, 발광 소자(204)가 발광한다.
화소 회로(184)는, 임계치 보정 기능을 갖는다. 임계치 보정 기능이란, 구동용 트랜지스터(202)의 임계치 전압(Vth)에 상당하는 전압을 축적 용량(203)에 유지시키는 기능이다. 임계치 보정 기능을 발휘시킴으로써, 표시부(25)의 화소마다의 편차의 원인이 되는 구동용 트랜지스터(202)의 임계치 전압(Vth)의 영향을 캔슬할 수 있다.
또한, 화소 회로(184)는, 상술한 임계치 보정 기능에 더하여, 이동도 보정 기능도 갖는다. 이동도 보정 기능이란, 축적 용량(203)에 신호 전위(Vsig)를 유지한 때, 구동용 트랜지스터(202)의 이동도(μ)에 대한 보정을 신호 전위(Vsig)에 가한 기능이다.
또한, 화소 회로(184)는, 부트스트랩 기능도 구비하고 있다. 부트스트랩 기능이란, 구동용 트랜지스터(202)의 소스 전위(Vs)의 변동에 게이트 전위(Vg)를 연동시키는 기능이다. 부트스트랩 기능의 발휘에 의해, 구동용 트랜지스터(202)의 게이트와 소스 사이의 전압(Vgs)을 일정하게 유지할 수 있다.
[화소 회로(184)의 동작 설명]
도 17은, 화소 회로(184)의 동작을 설명하기 위한 타이밍 차트이다.
도 17의 A 내지 도 17의 E는, 각각, 동일한 시간축(도면 횡방향)에 대한 주사선(WSL), 전원선(DSL), 및 영상 신호선(DTL)의 전위의 변화와, 그에 대응하는 구동용 트랜지스터(202)의 게이트 전위(Vg) 및 소스 전위(Vs)의 변화를 도시하고 있다.
도 17에서, 시각(t1)까지의 기간은, 전(前)의 수평 기간(1H)의 발광이 이루어지고 있는 발광 기간(T1)이다.
발광 기간(T1)이 종료된 시각(t1)부터 시각(t4)까지는, 구동용 트랜지스터(202)의 게이트 전위(Vg) 및 소스 전위(Vs)를 초기화함으로써 임계치 전압 보정 동작의 준비를 행하는 임계치 보정 준비 기간(T2)이다.
임계치 보정 준비 기간(T2)에서는, 시각(t1)에서, 전원 스캐너(183)가, 전원선(DSL)의 전위를 고전위인 제1 전위(Vcc)로부터 저전위인 제2 전위(Vss)로 전환한다. 그리고, 시각(t2)에서, 수평 실렉터(181)가, 영상 신호선(DTL)의 전위를 신호 전위(Vsig)로부터 기준 전위(Vofs)로 전환한다. 다음에, 시각(t3)에서, 라이트 스캐너(182)가, 주사선(WSL)의 전위를 고전위로 전환하고, 샘플링용 트랜지스터(201)를 온 시킨다. 이에 의해, 구동용 트랜지스터(202)의 게이트 전위(Vg)가 기준 전위(Vofs)에 리셋되고, 또한, 소스 전위(Vs)가 영상 신호선(DTL)의 제2 전위(Vss)에 리셋된다.
시각(t4)부터 시각(t5)까지는, 임계치 보정 동작을 행하는 임계치 보정 기간(T3)이다. 임계치 보정 기간(T3)에서는, 시각(t4)에서, 전원 스캐너(183)에 의해, 전원선(DSL)의 전위가 고전위(Vcc)로 전환되고, 임계치 전압(Vth)에 상당하는 전압이, 구동용 트랜지스터(202)의 게이트와 소스와의 사이에 접속된 축적 용량(203)에 기록된다.
시각(t5)부터 시각(t7)까지의 기록+이동도 보정 준비 기간(T4)에서는, 주사선(WSL)의 전위가 고전위로부터 저전위에 일단 전환된다. 또한, 시각(t7) 전의 시각(t6)에서, 수평 실렉터(181)가, 영상 신호선(DTL)의 전위를 기준 전위(Vofs)로부터 계조에 응한 신호 전위(Vsig)로 전환한다.
그리고, 시각(t7)부터 시각(t8)까지의 기록+이동도 보정 기간(T5)에서, 영상 신호의 기록과 이동도 보정 동작이 행하여진다. 즉, 시각(t7)부터 시각(t8)까지의 사이, 주사선(WSL)의 전위가 고전위로 설정되고, 이에 의해, 영상 신호에 대응하는 신호 전위(Vsig)가 임계치 전압(Vth)에 EJGOWLSMS 형태로 축적 용량(203)에 기록된다. 또한, 이동도 보정용의 전압(ΔVμ)이 축적 용량(33)으로 유지된 전압으로부터 공제된다.
기록+이동도 보정 기간(T5) 종료 후의 시각(t8)에서, 주사선(WSL)의 전위가 저전위로 설정되고, 그 이후, 발광 기간(T6)DM로서, 신호 전압(Vsig)에 응한 발광 휘도로 발광 소자(204)가 발광한다. 신호 전압(Vsig)은, 임계치 전압(Vth)에 상당하는 전압과 이동도 보정용의 전압(ΔVμ)에 의해 조정되어 있기 때문에, 발광 소자(204)의 발광 휘도는 구동용 트랜지스터(202)의 임계치 전압(Vth)DL나 이동도(μ)의 편차의 영향을 받는 일이 없다.
또한, 발광 기간(T6)의 최초에 부트스트랩 동작이 행하여지고, 구동용 트랜지스터(202)의 게이트-소스 사이 전압(Vgs)=Vsig+Vth-ΔVμ를 일정하게 유지한 채FH, 구동용 트랜지스터(32)의 게이트 전위(Vg) 및 소스 전위(Vs)가 상승한다.
또한, 시각(t8)부터 소정 시간 경과 후의 시각(t9)에서, 영상 신호선(DTL)의 전위가, 신호 전위(Vsig)로부터 기준 전위(Vofs)로 떨어진다. 도 17에서, 시각(t2)부터 시각(t9)까지의 기간은 수평 기간(1H)에 상당한다.
이상과 같이 하여, 표시부(25)의 각 화소 회로(184)에서는, 구동용 트랜지스터(202)의 임계치 전압(Vth)이나 이동도(μ)의 편차의 영향을 받는 일 없이, 발광 소자(204)를 발광시킬 수 있다.
[표시 장치(1)의 동작 설명]
다음에, 도 18의 플로 차트를 참조하여, 도 1의 표시 장치(1)가 행하는 표시 처리(이하, 제1의 표시 처리라고 한다)에 관해 설명한다.
이 제1의 표시 처리는, 예를 들면, 표시 장치(1)의 전원이 온으로 된 때에 시작된다.
스텝 S1에서, 더미 화소 신호 생성부(21)는, 표시부(25)에 내장된 계측용의 유기 EL 소자를 발광시키기 위한 더미 화소 신호를 생성하고, 신호 합성부(22)에 공급한다.
스텝 S2에서, 신호 합성부(22)는, 외부로부터의 화상 신호와, 더미 화소 신호 생성부(21)로부터의 더미 화소 신호를 합성하고, 그 결과 얻어지는 합성 신호를, 번인 보정부(23)에 공급한다.
스텝 S3에서는, 제어부(26)는, 표시부(25)에 포함되는 표시용의 유기 EL 소자에 순차적으로 주목하고, 주목하고 있는 유기 EL 소자를, 주목 소자로 한다.
스텝 S4에서는, 번인 보정부(23)의 검출부(73)는, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)에 의거하여, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)를 검출하고, 유지부(74)에 공급하여 유지시킨다.
스텝 S5에서는, 번인 보정부(23)의 기울기 보정부(71)는, 신호 합성부(22)로부터 공급되는 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)에, 보정량(±√(α/α'))을 승산함에 의해, 주목 소자의 기울기(α')를 원래의 기울기(α)로 보정하는 기울기 보정 처리를 행한다. 또한, 이 기울기 보정 처리의 상세는, 도 19의 플로 차트를 참조하여 상세히 기술한다.
기울기 보정부(71)는, 기울기 보정 처리에서 보정 후의, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n)(=±√(α/α')×(Vsig)n)를, 계조 보정부(72)에 공급한다.
스텝 S6에서, 계조 보정부(72)는, 기울기 보정부(71)로부터 공급되는, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n)(=±√(α/α')×(Vsig)n)의 (Vsig)n에, 오프셋량으로서의 (ΔVsig)n를 가산함에 의해, 주목 소자의 계조(k-Δk)를 원래의 계조(k)로 보정하는 계조 보정 처리를 행한다. 또한, 이 계조 보정 처리의 상세는, 도 20의 플로 차트를 참조하여 상세히 기술한다.
스텝 S7에서는, 제어부(26)는, 표시부(25)에 포함되는 표시용의 유기 EL 소자의 모두를 주목 소자로 설정하였는지의 여부를 판정하고, 표시용의 유기 EL 소자의 모두를 주목 소자로 하고 있지 않다고 판정한 경우, 처리를 스텝 S3으로 되돌린다.
그리고, 스텝 S3에서는, 제어부(26)는, 표시부(25)에 포함되는 표시용의 유기 EL 소자 중, 아직 주목 소자로 되어 있지 않은 유기 EL 소자에 주목하고, 주목하고 있는 유기 EL 소자를, 새로운 주목 소자로 하여, 처리를 스텝 S4로 진행하고, 그 이후 같은 처리가 반복된다.
또한, 스텝 S7에서, 제어부(26)는, 표시부(25)에 포함되는 표시용의 유기 EL 소자의 모두를 주목 소자로 설정하였다고 판정한 경우, 처리를 스텝 S8에 진행한다.
표시용의 유기 EL 소자의 모두가 주목 소자가 된 후, 주목 소자가 된 유기 EL 소자의 신호 전위((Vsig")n)(=±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n])를 각각 나타내는 화상 신호(Sn)를 포함하는 합성 신호(Cn)가, 데이터 드라이버(24)에 공급된다.
스텝 S8에서는, 데이터 드라이버(24)는, 번인 보정부(23)로부터의 합성 신호(Cn)를 AD 변환하고, AD 변환 후의 합성 신호(Cn)를, 표시부(25)에 공급한다.
스텝 S9에서는, 표시부(25)는, 데이터 드라이버(24)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)에 의거하여, 표시용의 유기 EL 소자를 발광시킨다. 이에 의해, 표시 화면(25a)에는, 화상 신호에 대응하는 표시 화상(41)이 표시된다.
또한, 표시부(25)는, 데이터 드라이버(24)로부터의 합성 신호에 포함되는 더미 화소 신호에 의거하여, 계측용의 유기 EL 소자를 발광시킨다.
스텝 S10에서는, 휘도 센서(25b)는, 계측용의 유기 EL 소자를 포함하는 화소 회로(184)로부터의 광을 수광함에 의해, 계측용의 유기 EL 소자의 휘도를 계측하고, 그 계측 결과를, 번인 보정부(23)의 기울기 보정부(71) 및 계조 보정부(72)에 공급한다. 또한, 휘도 센서(25b)는, 계측용의 유기 EL 소자를 포함하는 화소 회로(184)의 곁에 마련되어 있다.
스텝 S11에서는, 기울기 보정부(71)는, 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과에 의거하여, 표시부(25)에 내장된 표시용의 유기 EL 소자에 관한 휘도 열화곡선을 추정하여 유지하는 열화곡선 추정 처리를 행한다. 또한, 이 열화곡선 추정 처리는, 도 20의 플로 차트를 참조하여 상세히 기술한다.
스텝 S11의 종료 후, 처리는 스텝 S1로 되돌아와, 그 이후 같은 처리가 행하여진다.
또한, 제1의 표시 처리는, 예를 들면, 표시 장치(1)의 전원이 오프로 된 때에 종료된다.
이상 설명한 바와 같이, 제1의 표시 처리에 의하면, 번인 보정부(23)에서, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호에 포함되는 화상 신호를 대상으로 하여, 번인 보정 처리를 행하도록 하였다.
이 때문에, 제1의 표시 처리에 의하면, 표시용의 유기 EL 소자는, 효율의 열화, 및 전류의 열화에 관계없이, 화상 신호에 응한 일정한 휘도로 발광하게 된다.
따라서 표시부(25)의 표시 화면(25a)에 번인이 생기는 것을 방지하는 것이 가능해진다.
또한, 제1의 표시 처리에 의하면, 합성 신호에 포함되는 더미 화소 신호에 대해서는 예를 들면 번인 보정 처리를 행하지 않도록 하여, 번인 보정부(23)로부터 데이터 드라이버(24)에, 더미 화소 신호를 그대로 출력하도록 하였다.
이 때문에, 계측용의 유기 EL 소자는, 효율의 열화, 및 전류의 열화에 응하여 저하되는 휘도로 발광하게 된다. 그리고, 휘도 센서(25b)는, 그와같은 계측용의 유기 EL 소자의 휘도의 저하를 계측하고, 그 계측 결과를, 번인 보정부(23)에 공급한다.
따라서 번인 보정부(23)에서는, 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과에 의거하여, 계측용의 유기 EL 소자의 휘도의 저하를, 표시용의 유기 EL 소자의 휘도의 저하를 나타내는 것으로서, 정확하게 인식할 수 있다. 이 때문에, 번인 보정부(23)는, 정확한 휘도의 저하의 정도에 의거하여, 표시 화면(25a)에 생기는 번인을 정밀도 좋게 방지하는 것이 가능해진다.
[기울기 보정부(71)가 행하는 기울기 보정 처리의 상세]
다음에, 도 19의 플로 차트를 참조하여, 도 18의 스텝 S5에서의 기울기 보정 처리의 상세를 설명한다.
스텝 S31에서, 보정량 생성부(101)는, 기울기 유지부(103)로부터, 주목 소자의 기울기(α')를 판독한다.
스텝 S32에서, 보정량 생성부(101)는, 유지부(74)로부터, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n-1)를 판독한다.
스텝 S33에서는, 보정량 생성부(101)는, 유지부(74)로부터 판독한 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n-1)에 의거하여, 주목 소자에 흐르고 있던 전류(In -1)를 산출한다. 그리고, 보정량 생성부(101)는, 열화곡선 유지부(104)에 유지되어 있는 복수의 휘도 열화곡선 중, 산출한 전류(In -1)에 대응하는 휘도 열화곡선을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한다.
스텝 S34에서는, 보정량 생성부(101)는, 기울기 유지부(103)로부터 판독한 주목 소자의 기울기(α')와, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한 휘도 열화곡선에 의거하여, 주목 소자의 최신의 기울기(α')를 산출한다.
그리고, 보정량 생성부(101)는, 산출한 주목 소자의 최신의 기울기(α')를, 기울기 유지부(103)에 공급하고, 재기록에 의해 유지(기억)시킨다.
스텝 S35에서는, 보정량 생성부(101)는, 주목 소자의 최신의 기울기(α')에 의거하여, 보정량(±√(α/α'))을 생성(산출)하여, 보정량 승산부(102)에 공급한다.
스텝 S36에서는, 보정량 승산부(102)는, 신호 합성부(22)로부터 공급되는, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)에 대해, 보정량 생성부(101)로부터의 보정량(±√(α/α'))을 승산한다.
그 후, 도 19의 기울기 보정 처리는 종료되고, 처리는, 도 18의 스텝 S5로 되돌아와, 보정량 승산부(102)는, 그 승산에 의해 얻어지는 신호 전위{±√(α/α')×(Vsig)n]를, 기울기(α')가 원래의 기울기(α)로 보정된 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n)로서, 계조 보정부(72)에 공급하고, 그 이후의 처리가 행하여진다.
[계조 보정부(72)가 행하는 계조 보정 처리의 상세]
다음에, 도 20의 플로 차트를 참조하여, 도 18의 스텝 S6에서의 계조 보정 처리의 상세를 설명한다.
스텝 S51에서, 오프셋량 산출부(161)는, 유지부(74)로부터, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)를 판독한다.
스텝 S52에서, 오프셋량 산출부(161)는, 판독한 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n), 도시하지 않은 메모리에 미리 유지되어 있는 오프셋량 산출용 정보(예를 들면 함수(f1(Vsig))), 및 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과에 의거하여, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)에 가산되는 오프셋량((ΔVsig)n)을 산출하고, 오프셋 보정부(162)에 공급한다.
스텝 S53에서, 오프셋 보정부(162)는, 기울기 보정부(71)로부터의, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n)(={±√(α/α')×(Vsig)n])의 (Vsig)n와, 오프셋량 산출부(161)로부터의 오프셋량((ΔVsig)n)을 가산한다.
그 후, 도 20의 계조 보정 처리는 종료되고, 처리는, 도 18의 스텝 S6으로 되돌아와, 오프셋 보정부(162)는, 그 가산의 결과 얻어지는 가산 결과로서의 신호 전위[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n]]를, 계조(k-Δk)가 원래의 계조(k)로 보정된 주목 소자의 신호 전위((Vsig")n)로서, 데이터 드라이버(24)에 공급한다.
[기울기 보정부(71)가 행하는 열화곡선 추정 처리의 상세]
다음에, 도 21의 플로 차트를 참조하여, 도 18의 스텝 S11에서의 열화곡선 추정 처리의 상세를 설명한다.
스텝 S71에서, 열화곡선 추정부(105)는, 복수의 휘도 센서(25b)에 순차적으로 주목하고, 주목하고 있는 휘도 센서(25b)를 주목 센서로 한다.
열화곡선 추정부(105)에는, 주목 센서로부터, 전류(I(L=Xnit))가 흘려지는 계측용의 유기 EL 소자의 휘도를 계측하여 얻어진 휘도(L(t, I(L=Xnit)))가 공급되다. 또한, 계측용의 유기 EL 소자는, 각각, 다른 전류(I(L=Xnit))가 통전되어, 다른 휘도(L(t, I(L=Xnit)))로 발광한다.
스텝 S72에서, 열화곡선 추정부(105)는, 도시하지 않은 내장의 메모리에 미리 유지하고 있는 전류의 값(I)(L=Xnit)과, 주목 센서로부터의 휘도(L(t, I(L=Xnit)))에 의거하여, 기울기(α(t, I(L=Xnit))')를 산출한다.
즉, 예를 들면, 열화곡선 추정부(105)는, 도시하지 않은 내장의 메모리에 미리 유지하고 있는 전류의 값(I(L=200nit))과, 휘도 센서(25b)로부터의 계측 결과(L(t, I(L=200nit)))에 의거하여, 식(4)에 의거하여 도출된 식(α(t, I(L=200nit))')=L(t, I(L=200nit))/I(L=200nit)에 의해, 시간(t)에 대한 기울기(α(t, I(L=200nit))')를 산출한다.
스텝 S73에서는, 열화곡선 추정부(105)는, 산출한 기울기(α(t, I(L=Xnit))')와, 도시하지 않은 내장의 메모리에 미리 유지하고 있는 휘도 열화 기준 곡선에 의거하여, 휘도 열화 기준 곡선과 승산되는 가속 계수를 산출한다.
즉, 예를 들면, 열화곡선 추정부(105)는, 도 10에 도시되는 바와 같이, 기울기(α(0, I(L=200nit))')=α가 얻어진 때부터, 기울기(α(t, I(L=200nit))')가 얻어질 때까지의 시간(Δt1')을 산출한다.
또한, 예를 들면, 열화곡선 추정부(105)는, 도 10에 도시되는 바와 같이, 휘도 열화 기준 곡선(141)에서, 기울기(α(0, I(L=200nit))')=α가 얻어진 때부터, 기울기(α(t, I(L=200nit))')가 얻어질 때까지의 시간(Δt1)을 산출한다.
또한, 열화곡선 추정부(105)는, 산출한 시간(Δt1')과 시간(Δt1)에 의거하여, 가속 계수(Δt1'/Δt1)를 산출한다.
스텝 S74에서는, 열화곡선 추정부(105)는, 산출한 가속 계수와, 도시하지 않은 메모리에 미리 유지되어 있는 휘도 열화 기준 곡선에 의거하여, 휘도 열화곡선을 추정하고, 열화곡선 유지부(104)에 공급하여 유지시킨다.
즉, 예를 들면, 열화곡선 추정부(105)는, 산출한 가속 계수(Δt1'/Δt1)를, 휘도 열화 기준 곡선(141)을 나타내는 식(A(t, I(L=200nit)))에 승산한다. 그리고, 열화곡선 추정부(105)는, 그 승산에 의해 얻어지는 새로운 식((Δt1'/Δt1)×A(t, I(L=200nit)))을 나타내는 휘도 열화곡선(121)을, 전류(I(L=200nit))의 값에 대응시킨 형태로, 열화곡선 유지부(104)에 공급하여 유지시킨다.
스텝 S75에서, 열화곡선 추정부(105)는, 복수의 휘도 센서(25b)의 모두를 주목 센서로 하였는지의 여부를 판정하고, 복수의 휘도 센서(25b)의 모두를 주목 센서로 하고 있지 않는다고 판정한 경우, 처리를 스텝 S71로 되돌린다.
그리고, 스텝 S71에서는, 열화곡선 추정부(105)는, 복수의 휘도 센서(25b) 중, 아직 주목 센서로 되어 있지 않은 휘도 센서를 새로운 주목 센서로 하여, 처리를 스텝 S72로 진행하고, 그 이후, 같은 처리를 행한다.
또한, 스텝 S75에서, 열화곡선 추정부(105)는, 복수의 휘도 센서(25b)의 모두를 주목 센서로 하였다고 판정한 경우, 도 21의 열화곡선 추정 처리는 종료되고, 처리는, 도 18의 스텝 S11로 되돌아와, 그 이후의 처리가 행하여진다.
그런데, 제1의 실시의 형태에서는, 도 6의 번인 보정부(23)에서, 검출부(73)가, 신호 합성부(22)로부터의 화상 신호(Sn)에 의거하여, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)를 검출하고, 검출한 신호 전위((Vsig)n)를, 유지부(74)에 공급하여 유지시키도록 하였다.
또한, 기울기 보정부(71) 및 계조 보정부(72)에서는, 유지부(74)에 유지되어 있는 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)에 의거하여 산출되는 전류(In)가, 주목 소자에 실제로 흐르는 전류인 것으로 하였다.
그리고, 기울기 보정부(71)에서, 주목 소자에 전류(In -1)가 흐름에 의해 효율의 열화가 생긴 것으로 하여, 주목 소자의 기울기(α')를 보정하기 위한 보정량을 산출하도록 하였다.
또한, 계조 보정부(72)에서, 주목 소자에 전류(In)가 흐름에 의해 전류의 열화가 생기는 것으로 하여, 주목 소자의 계조를 보정하기 위한 오프셋량을 산출하도록 하였다.
그러나, 주목 소자에 실제로 흐르는 전류는, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)에 의거하여 산출되는 전류(In)가 아니라, 기울기(α')가 원래의 기울기(α)로 보정된 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n)에 의거하여 산출된 전류((α/α')×In)이다.
따라서 번인 보정 처리에서는, 주목 소자에 실제로 흐르는 전류((α/α')×In)에 의거하여, 주목 소자의 기울기(α')나 계조(k-Δk)를 보정하는 것이 바람직하다.
다음에, 도 22의 표시 장치(241)는, 주목 소자에 실제로 흐르는 전류에 의거하여, 번인 보정 처리를 행하도록 한 것이다.
<2. 제2의 실시의 형태>
[표시 장치(241)의 구성례]
도 22는, 제2의 실시의 형태인 표시 장치(241)의 구성례를 도시하고 있다.
또한, 이 표시 장치(241)는, 제1의 실시의 형태인 표시 장치(1)(도 1)의 경우와 마찬가지로 구성되어 있는 부분에 관해서는, 동일한 부호를 붙이도록 하고 있기 때문에, 그들의 설명은, 이하, 적절히, 생략한다.
즉, 표시 장치(241)에서, 도 1의 번인 보정부(23)에 대신하여, 번인 보정부(261)가 마련되어 있는 이외는, 도 1의 표시 장치(1)와 마찬가지로 구성된다.
번인 보정부(261)에는, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호(Cn)가 공급된다. 번인 보정부(261)는, 번인 보정부(23)와 마찬가지로, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)에 대해, 번인 보정 처리를 시행함에 의해, 표시부(25)의 표시 화면(25a)에 생기는 번인을 방지하는 번인 보정 처리를 행한다.
그러나, 번인 보정부(261)는, 기울기 보정 처리 후의 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig')n)에 의거하여 번인 보정 처리를 시행하는 점에서, 기울기 보정 처리 전의 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig)n)에 의거하여, 번인 보정 처리를 시행하는 번인 보정부(23)와는 다른 것으로 되어 있다.
[번인 보정부(261)의 상세]
다음에, 도 23은, 도 22의 번인 보정부(261)의 상세한 구성례를 도시하고 있다.
이 번인 보정부(261)는, 기울기 보정부(281), 계조 보정부(282), 검출부(283), 및 유지부(284)로 구성된다.
기울기 보정부(281)에는, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호(Cn)가 공급된다.
기울기 보정부(281)는, 기울기 보정부(281)로부터 출력된, 기울기 보정 처리 후의 화상 신호(Sn -1)의 신호 전위((Vsig')n-1)를, 유지부(284)로부터 판독한다.
또한, 후술하지만, 유지부(284)에는, 기울기 보정부(281)에 의한 기울기 보정 처리 후의 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig')n)가 유지되어 있다.
기울기 보정부(281)는, 유지부(284)로부터 판독한 신호 전위((Vsig')n-1)와, 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과에 의거하여, 효율의 열화에 의해 저하된 기울기(α')를 원래의 기울기(α)로 보정하기 위한 보정량(±√(α/α'))을 산출한다.
또한, 기울기 보정부(281)는, 보정량(±√(α/α'))의 산출에, 기울기 보정 처리 전의 화상 신호(Sn -1)의 신호 전위((Vsig)n-1)가 아니라, 기울기 보정 처리 후의 화상 신호(Sn -1)의 신호 전위((Vsig')n-1)를 이용하는 점에서, 도 6의 기울기 보정부(71)와는 다르다. 그 이외는, 기울기 보정부(71)와 마찬가지이다.
기울기 보정부(281)는, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig)n)에, 산출한 보정량(±√(α/α'))을 승산한다. 기울기 보정부(281)는, 그 승산의 결과 얻어지는 승산 결과로서의 신호 전위((Vsig')n)={±√(α/α')×(Vsig)n]가 된 화상 신호(Sn)를 포함하는 합성 신호(Cn)를, 기울기 보정부(282) 및 검출부(283)에 공급한다.
계조 보정부(282)는, 유지부(284)로부터, 기울기 보정 처리 후의 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig')n)를 판독한다.
또한, 계조 보정부(282)는, 유지부(284)로부터 판독한 신호 전위((Vsig')n)와, 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과에 의거하여, 전류의 열화에 의해 저하되는 계조(k-Δk)를 원래의 계조(k)로 보정하기 위한 오프셋량(Δk)에 대응하는 (ΔVsig)n를 산출한다.
또한, 계조 보정부(282)는, 오프셋량(Δk)에 대응하는 (ΔVsig)n의 산출에, 기울기 보정 처리 전의 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig)n)가 아니라, 기울기 보정 처리 후의 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig')n)를 이용하는 점에서, 도 6의 계조 보정부(72)와는 다르다. 그 이외는, 계조 보정부(72)와 마찬가지이다.
계조 보정부(282)는, 기울기 보정부(281)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig')n)={±√(α/α')×(Vsig)n]의 (Vsig)n에, 오프셋량(Δk)에 대응하는 (ΔVsig)n를 가산한다.
계조 보정부(282)는, 그 가산의 결과 얻어지는 가산 결과로서의 신호 전위((Vsig")n)=[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n]]가 된 화상 신호(Sn)를 포함하는 합성 신호(Cn)를, 데이터 드라이버(24)에 공급한다.
검출부(283)는, 기울기 보정부(281)로부터 출력되는, 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)에 의거하여, 기울기 보정 처리 후의 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig')n)를 검출하고, 유지부(284)에 공급하여 유지시킨다.
유지부(284)는, 검출부(283)로부터의 신호 전위((Vsig')n)를 유지한다.
[기울기 보정부(281)의 상세]
다음에, 도 24는, 도 23의 기울기 보정부(281)의 상세한 구성례를 도시하고 있다.
또한, 의 기울기 보정부(281)에서는, 도 7의 기울기 보정부(71)와 마찬가지로 구성되는 부분에 관해 동일한 부호를 붙이도록 하고 있기 때문에, 그들의 설명은, 이하, 적절히 생략한다.
즉, 기울기 보정부(281)에서, 도 7의 보정량 생성부(101)에 대신하여, 보정량 생성부(301)가 마련되어 있는 이외는, 도 7의 경우와 마찬가지로 구성되어 있다.
보정량 생성부(301)는, 보정량 생성부(101)와 마찬가지로, 기울기 유지부(103)로부터, 주목 소자의 기울기(α')를 판독한다. 또한, 도 22의 제어부(26)는, 표시부(25)에 포함되는 표시용의 유기 EL 소자에 순차적으로 주목하고, 주목하고 있는 유기 EL 소자를, 주목 소자로 한다.
또한, 보정량 생성부(301)는, 유지부(284)로부터, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n-1)를 판독한다.
보정량 생성부(301)는, 유지부(284)로부터 판독한 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n-1)에 의거하여, 주목 소자에 실제로 흐르고 있던 전류(In -1)를 산출한다. 그리고, 보정량 생성부(301)는, 열화곡선 유지부(104)에 유지되어 있는 복수의 휘도 열화곡선 중, 산출한 전류(In -1)에 대응하는 휘도 열화곡선을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한다.
보정량 생성부(301)는, 보정량 생성부(101)와 마찬가지로 하여, 기울기 유지부(103)로부터 판독한 주목 소자의 기울기(α')와, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한 휘도 열화곡선에 의거하여, 주목 소자의 최신의 기울기(α')를 산출한다.
그리고, 보정량 생성부(301)는, 주목 소자의 최신의 기울기(α')를, 기울기 유지부(103)에 공급하고, 재기록에 의해 유지(기억)시킨다.
또한, 보정량 생성부(301)는, 주목 소자의 최신의 기울기(α')에 의거하여, 보정량(±√(α/α'))을 생성(산출)하여, 보정량 승산부(102)에 공급한다.
다음에, 도 25를 참조하여, 보정량 생성부(301)가 행하는 처리를, 보정량 생성부(101)가 행하는 처리와 비교하면서 설명한다.
제1의 실시의 형태에서는, 도 7의 기울기 보정부(71)에서, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)로 보정량을 승산하여, 주목 소자의 기울기(α')를 보정하는 경우, 보정량 생성부(101)는, 유지부(74)에 유지되어 있는 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n-1)를 판독한다.
그리고, 보정량 생성부(101)는, 열화곡선 유지부(104)에 유지되어 있는 복수의 휘도 열화곡선 중, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n-1)에 의거한 전류에 대응하는 휘도 열화곡선을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한다.
즉, 예를 들면, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n-1)에 의거한 전류가, 전류(I(L=200nit))인 경우, 보정량 생성부(101)는, 도 25에 도시되는 바와 같은, 전류(I(L=200nit))에 대응하는 휘도 열화곡선(121)을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한다.
보정량 생성부(101)는, 판독한 휘도 열화곡선(121)과, 기울기 유지부(103)로부터 판독한 주목 소자의 기울기(α')를 이용하여, 주목 소자의 최신의 기울기(α')를 산출한다.
그러나, 주목 소자에 흐르는 전류는, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n-1)에 의거한 전류(예를 들면, 전류(I(L=200nit)))가 아니라, 기울기(α')가 원래의 기울기(α)로 보정된 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n)에 의거한 전류(예를 들면, 전류(I)(L=220nit))이다.
보다 정확하게 기울기(α')를 산출하기 위해서는, 주목 소자에 실제로 흐르는 전류에 의거하여, 기울기(α')의 산출에 이용하는 휘도 열화곡선을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독하는 것이 바람직하다.
그래서, 제2의 실시의 형태에서는, 도 24의 기울기 보정부(281)에서, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)로 보정량을 승산하고, 주목 소자의 기울기(α')를 보정하는 경우, 보정량 생성부(301)는, 유지부(284)에 유지되어 있는 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n-1)를 판독한다.
또한, 유지부(284)에는, 주목 소자에 실제로 흐른 전류(예를 들면, I(L=220nit))에 상당하는 신호 전위((Vsig')n-1), 즉, 기울기(α')가 보정된 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n-1)가 유지된다.
보정량 생성부(301)는, 유지부(284)에 유지되어 있는 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n-1)를 판독한다.
그리고, 보정량 생성부(301)는, 열화곡선 유지부(104)에 유지되어 있는 복수의 휘도 열화곡선 중, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n-1)에 의거한 전류에 대응하는 휘도 열화곡선을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한다.
즉, 예를 들면, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n-1)에 의거한 전류가, 전류(I)(L=220nit)인 경우, 보정량 생성부(301)는, 도 25에 도시되는 바와 같은, 전류(I)(L=220nit)에 대응하는 휘도 열화곡선(123)을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한다.
또한, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n-1)는, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n-1)에, 값 1 이상의 보정량이 승산되어 얻어지는 것이다. 이 때문에, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n-1)에 의거한 전류(예를 들면, 전류(I)(L=220nit))는, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n-1)에 의거한 전류(예를 들면, 전류(I(L=200nit))) 이상의 값으로 된다.
보정량 생성부(301)는, 판독한 휘도 열화곡선(123)과, 기울기 유지부(103)로부터 판독한 주목 소자의 기울기(α')를 이용하여, 주목 소자의 최신의 기울기(α')를 산출한다.
[계조 보정부(282)의 상세]
다음에, 도 26은, 도 23의 계조 보정부(282)의 상세한 구성례를 도시하고 있다.
[이 계조 보정부(282)는, 오프셋량 산출부(321) 및 오프셋 보정부(322)로 구성된다.
오프셋량 산출부(321)에는, 휘도 센서(25b)로부터, 휘도의 계측 결과가 공급된다. 오프셋량 산출부(321)는, 유지부(284)로부터, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n)를 판독한다.
그리고, 오프셋량 산출부(321)는, 판독한 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n), 도시하지 않은 메모리에 미리 유지되어 있는 오프셋량 산출용 정보, 및 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과에 의거하여, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n)(={±√(α/α')×(Vsig)n])의 (Vsig)n에 가산되는 오프셋량((ΔVsig)n)을 산출하고, 오프셋 보정부(322)에 공급한다.
오프셋 보정부(322)는, 도 11의 오프셋 보정부(162)와 마찬가지로 하여, 기울기 보정부(281)로부터의, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n)(={±√(α/α')×(Vsig)n])의 (Vsig)n와, 오프셋량 산출부(321)로부터의 오프셋량((ΔVsig)n)을 가산한다.
또한, 오프셋 보정부(322)는, 그 가산의 결과 얻어지는 가산 결과로서의 신호 전위[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n]]를, 주목 소자의 신호 전위((Vsig")n)로서, 데이터 드라이버(24)에 공급한다.
[표시 장치(241)의 동작 설명]
다음에, 도 27의 플로 차트를 참조하여, 도 22의 표시 장치(241)가 행하는 표시 처리(이하, 제2의 표시 처리라고 한다)에 관해 설명한다.
이 제2의 표시 처리는, 예를 들면, 표시 장치(241)의 전원이 온으로 된 때에 시작된다.
스텝 S91 내지 스텝 S93에서는, 각각, 도 18의 스텝 S1 내지 스텝 S3과 같은 처리가 행하여진다.
스텝 S94에서는, 번인 보정부(261)의 기울기 보정부(281)는, 신호 합성부(22)로부터 공급되는 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)에, 보정량(±√(α/α'))을 승산함에 의해, 주목 소자의 기울기(α')를 원래의 기울기(α)로 보정하는 기울기 보정 처리를 행한다.
또한, 이 기울기 보정 처리는, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)와 승산된 보정량(±√(α/α'))을, 주목 소자에 실제로 흘려진 전류에 의거하여 생성하는 점에서, 도 18의 스텝 S5에서의 기울기 보정 처리와는 다르다. 스텝 S94에서의 기울기 보정 처리의 상세는, 도 28의 플로 차트를 참조하여 상세히 기술한다.
기울기 보정부(281)는, 스텝 S94의 기울기 보정 처리에 의해 얻어지는, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n)(=±√(α/α')×(Vsig)n)를, 계조 보정부(282) 및 검출부(283)에 공급한다.
스텝 S95에서는, 번인 보정부(261)의 검출부(283)는, 기울기 보정부(281)로부터의, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n)에 의거하여, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n)를 검출하고, 유지부(284)에 공급하여 유지시킨다.
스텝 S96에서는, 계조 보정부(282)는, 기울기 보정부(281)로부터 공급되는, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n)(=±√(α/α')×(Vsig)n)의 (Vsig)n에, 오프셋량으로서의 (ΔVsig)n를 가산함에 의해, 주목 소자의 계조(k-Δk)를 원래의 계조(k)로 보정하는 계조 보정 처리를 행한다.
또한, 이 계조 보정 처리는, 오프셋량으로서의 (ΔVsig)n를, 주목 소자에 실제로 흘려진 전류에 의거하여 산출하는 점에서, 도 18의 스텝 S6에서의 계조 보정 처리와는 다르다. 스텝 S96에서의 계조 보정 처리의 상세는, 도 29의 플로 차트를 참조하여 상세히 기술한다.
스텝 S97 내지 스텝 S101에서는, 각각, 도 18의 스텝 S7 내지 스텝 S11과 같은 처리가 행하여진다.
또한, 제2의 표시 처리는, 예를 들면, 표시 장치(241)의 전원이 오프로 된 때에 종료된다.
이상 설명한 바와 같이, 제2의 표시 처리에 의하면, 주목 소자가 되는 표시용의 유기 EL 소자에 실제로 흐르는 전류에 의거하여, 번인 보정 처리를 행하도록 하였기 때문에, 보다 정확하게, 표시 화면(25a)에 생기는 번인을 방지하는 것이 가능해진다.
[기울기 보정부(281)가 행하는 기울기 보정 처리의 상세]
다음에, 도 28의 플로 차트를 참조하여, 도 27의 스텝 S94에서의 기울기 보정 처리의 상세를 설명한다.
스텝 S121에서는, 보정량 생성부(301)는, 보정량 생성부(101)와 마찬가지로 하여, 기울기 유지부(103)로부터, 주목 소자의 기울기(α')를 판독한다.
스텝 S122에서, 보정량 생성부(301)는, 유지부(284)로부터, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n-1)를 판독한다.
스텝 S123에서는, 보정량 생성부(301)는, 유지부(284)로부터 판독한 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n-1)에 의거하여, 주목 소자에 실제로 흐르고 있던 전류(In -1)를 산출한다.
그리고, 보정량 생성부(301)는, 열화곡선 유지부(104)에 유지되어 있는 복수의 휘도 열화곡선 중, 산출한 전류(In -1)에 대응하는 휘도 열화곡선을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한다.
스텝 S124 및 스텝 S125에서는, 보정량 생성부(301)는, 보정량 생성부(101)와 마찬가지로, 도 19의 스텝 S34 및 스텝 S35의 처리를 행한다.
스텝 S126에서는, 도 19의 스텝 S36과 같은 처리가 행하여진다. 그리고, 도 28의 기울기 보정 처리는 종료되고, 처리는, 도 27의 스텝 S94로 되돌아와, 그 이후의 처리가 행하여진다.
[계조 보정부(282)가 행하는 계조 보정 처리의 상세]
다음에, 도 29의 플로 차트를 참조하여, 도 27의 스텝 S96에서의 계조 보정 처리의 상세를 설명한다.
스텝 S141에서, 오프셋량 산출부(321)는, 유지부(284)로부터, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n)를 판독한다.
스텝 S142에서, 오프셋량 산출부(321)는, 판독한 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n), 도시하지 않은 메모리에 미리 유지되어 있는 오프셋량 산출용 정보, 및 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과에 의거하여, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n)(={±√(α/α')×(Vsig)n])의 (Vsig)n에 가산되는 오프셋량((ΔVsig)n)을 산출하고, 오프셋 보정부(322)에 공급한다.
스텝 S143에서, 오프셋 보정부(322)는, 기울기 보정부(281)로부터의, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n)(={±√(α/α')×(Vsig)n])의 (Vsig)n와, 오프셋량 산출부(321)로부터의 오프셋량((ΔVsig)n)을 가산한다.
또한, 오프셋 보정부(322)는, 그 가산의 결과 얻어지는 가산 결과로서의 신호 전위[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n]]를, 주목 소자의 신호 전위((Vsig")n)로서, 데이터 드라이버(24)에 공급한다.
그 후, 도 29의 계조 보정 처리는 종료되고, 처리는, 도 27의 스텝 S96으로 되돌아와, 그 이후의 처리가 행하여진다.
그런데, 예를 들면, 제1의 실시의 형태에서는, 화상 신호(Sn)에 대해 번인 보정 처리만을 행하도록 하였다. 그러나, 그 밖에, 예를 들면, 화상 신호(Sn)에 대해, 번인 보정 처리와는 다른 화상 처리(예를 들면, 색 재현 처리나, 노이즈 저감 처리 등)를 시행하도록 하여, 표시 화면(25a)에 표시시키는 표시 화상의 화질을 향상시키도록 하여도 좋다. 이것은, 제2의 실시의 형태에 대해서도 마찬가지이다.
여기서, 예를 들면, 디스플레이인 표시부(25)는, 표시 화면(25a)의 밝기(휘도)가, 외부로부터의 화상 신호의 레벨(계조)에 비례하지 않고, 지수함수적으로 변화하는 감마 특성을 갖는다.
즉, 예를 들면, 표시부(25)는, 다음 식(7)에 표시되는 바와 같은 감마 특성을 갖고 있다.
Y=Xγ … (7)
식(7)에서, 계조(X)는 화상 신호의 레벨을 나타내고, 휘도(Y)는, 화상 신호의 레벨에 대응하는 휘도를 나타낸다. 또한, 감마값(γ)은, 표시부(25)의 감마 특성을 나타내는 것이고, 예를 들면 γ=2.2가 된다.
그래서, 방송국은, 이 감마 특성이 선형의 특성(리니어 특성)으로 보정되도록 하기 위해, 역감마 보정 후의 화상 신호(Sn)를 송신(방송)하도록 하고 있다.
역감마 보정 후의 화상 신호(Sn)는, 다음 식(8)에 표시되는 바와 같은 역감마 특성을 갖고 있는 것으로 된다.
Y=X1 /γ … (8)
상술한 화상 처리를 행하기 위해서는, 식(8)에 표시되는 바와 같은 역감마 특성을 갖는 화상 신호(Sn)를, 감마 보정하도록 하여, 선형의 특성을 갖는 화상 신호(Sn)로 변환할 필요가 있다. 이것은, 화상 신호(Sn)를, 선형의 특성을 갖는 것으로 변환하는 쪽이, 화상 처리를 행하기 쉬운 것에 의한다.
그러나, 번인 보정 처리에 포함되는 계조 보정 처리를 행할 때에는, 감마 특성을 갖는 화상 신호(Sn)를, 계조 보정 처리의 보정 대상으로 하는 편이 바람직하다.
<3. 제3의 실시의 형태>
다음에, 도 30은, 제3의 실시의 형태인 표시 장치(341)의 구성례를 도시하고 있다.
또한, 이 표시 장치(341)는, 상술한 화상 처리를 시행할 때에, 감마 보정에 의해 화상 신호(Sn)의 특성을 선형의 특성으로 변환하고, 계조 보정 처리를 시행할 때에, 역감마 보정에 의해 화상 신호(Sn)의 특성을 감마 특성으로 변환하는 것이다. 또한, 기울기 보정 처리를 시행할 때에는, 화상 신호(Sn)의 특성은, 선형의 특성이라도 좋고, 감마 특성이라도 좋다.
이 표시 장치(341)는, 제1의 실시의 형태인 표시 장치(1)(도 1)의 경우와 마찬가지로 구성되어 있는 부분에 관해서는, 동일한 부호를 붙이도록 하고 있기 때문에, 그들의 설명은, 이하, 적절히, 생략한다.
즉, 표시 장치(341)에서, 새롭게 감마 변환부(361) 및 화상 처리부(362)가 마련되어 있음과 함께, 도 1의 번인 보정부(23)에 대신하여, 번인 보정부(363)가 마련되어 있는 이외는, 도 1의 표시 장치(1)와 마찬가지로 구성된다.
감마 변환부(361)에는, 신호 합성부(22)로부터 합성 신호(Cn)가 공급된다. 감마 변환부(361)는, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호(Cn)를 감마 보정하고, 감마 보정 후의 합성 신호(Cn)를, 화상 처리부(362)에 공급한다.
여기서, 더미 화소 신호 생성부(21)는, 방송국에서 화상 신호(Sn)에 실시되는 역감마 보정과 동일한 역감마 보정을, 생성한 더미 화소 신호에 시행하여, 신호 합성부(22)에 공급하고 있는 것으로 한다. 따라서 신호 합성부(22)로부터 출력되는 합성 신호(Cn)는, 식(8)에 표시되는 바와 같은 역감마 특성을 갖고 있는 것으로 된다.
또한, 합성 신호(Cn)에 포함되는 더미 화소 신호의 특성이, 선형의 특성인 경우, 감마 변환부(361)는, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)만을 감마 보정하면 좋다.
화상 처리부(362)는, 감마 변환부(361)로부터의 합성 신호(Cn)에 대해, 소정의 화상 처리(예를 들면, 색 재현 처리나, 노이즈 저감 처리 등)를 시행하고, 화상 처리 후의 합성 신호(Cn)를, 번인 보정부(363)에 공급한다. 또한, 화상 처리부(263)는, 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)만을 대상으로 하여, 화상 처리를 시행하도록 하여도 좋다.
번인 보정부(363)는, 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과 등에 의거하여, 화상 처리부(362)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)에 대해, 기울기 보정 처리와 계조 보정 처리에 의해 구성되는 번인 보정 처리를 행한다.
또한, 번인 보정부(363)는, 적어도 계조 보정 처리를 행할 때에, 합성 신호(Cn)를 역감마 보정하고, 역감마 보정 후의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)에 대해, 계조 보정 처리를 행한다.
제3의 실시의 형태에서는, 번인 보정부(363)에서, 역감마 보정 후의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)에 대해, 계조 보정 처리를 행하는 점이, 제1 및 제2의 실시의 형태란 크게 다르다.
번인 보정부(363)는, 번인 보정 처리 후의 화상 신호(Sn)를 포함하는 합성 신호(Cn)를, 데이터 드라이버(24)에 공급한다.
또한, 도 30에서, 제어부(26)는, 더미 화소 신호 생성부(21), 신호 합성부(22), 데이터 드라이버(24), 표시부(25), 및 휘도 센서(25b) 외에, 감마 변환부(361), 화상 처리부(362), 및 번인 보정부(363)도 제어한다.
[번인 보정부(363)의 상세]
다음에, 도 31은, 도 30의 번인 보정부(363)의 상세한 구성례를 도시하고 있다.
또한, 이 번인 보정부(363)에서는, 도 6의 번인 보정부(23)의 경우와 마찬가지로 구성되는 부분에 관해 동일한 부호를 붙이도록 하여, 그들의 설명을 적절히, 생략하고 있다.
즉, 번인 보정부(363)에서, 새롭게 역감마 변환부(381)가 마련되어 있음과 함께, 도 6의 계조 보정부(72)에 대신하여, 계조 보정부(382)가 마련되어 있는 이외는, 도 6의 경우와 마찬가지로 구성된다.
역감마 변환부(381)는, 기울기 보정부(71)로부터의, 기울기 보정 처리 후의 화상 신호(Sn)에 대해, 역감마 보정을 시행하고, 역감마 보정 후의 화상 신호(Sn)를, 계조 보정부(382)에 공급한다.
이에 의해, 역감마 변환부(381)로부터 계조 보정부(382)에는, 식(7)에 표시되는 바와 같은 감마 특성을 갖는 화상 신호(Sn)가 공급된다.
계조 보정부(382)는, 역감마 변환부(381)로부터의 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig')n)(=±√(α/α')×(Vsig)n)의 (Vsig)n에, 동일한 신호 전위((ΔVsig)n)를 가산하고, 그 가산에 의해 얻어지는 신호 전위((Vsig")n)를, 데이터 드라이버(24)에 공급한다.
즉, 계조 보정부(382)는, 오프셋량 산출부(391) 및 오프셋 보정부(392)로 구성된다.
오프셋량 산출부(391)는, 도시하지 않은 메모리에 미리 유지되어 있는 오프셋량 산출용 정보, 및 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과에 의거하여, 오프셋량((ΔVsig)n)을 산출하고, 오프셋 보정부(392)에 공급한다.
또한, 오프셋량 산출부(391)는, 표시용의 유기 EL 소자마다의 신호 전위((Vsig')n)(={±√(α/α')×(Vsig)n])의 (Vsig)n에 각각 가산되는 동일한 오프셋량((ΔVsig)n)을 산출하는 점이, 오프셋량 산출부(161)와는 다르다.
또한, 오프셋량 산출부(391)가, 오프셋량을 산출하는 방법은, 도 32를 참조하여 상세히 기술한다.
오프셋 보정부(392)는, 오프셋 보정부(162)와 마찬가지로 하여, 역감마 변환부(381)로부터의, 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig')n)(={±√(α/α')×(Vsig)n])의 (Vsig)n와, 오프셋량 산출부(391)로부터의 오프셋량((ΔVsig)n)을 가산한다.
또한, 오프셋 보정부(392)는, 화상 신호(Sn)가 나타내는, 표시용의 유기 EL 소자 각각의 신호 전위((Vsig')n)의 (Vsig)n에, 오프셋량 산출부(391)로부터의 동일한 오프셋량((ΔVsig)n)을 가산하는 점이, 오프셋 보정부(162)와는 다르다.
오프셋 보정부(392)는, 그 가산의 결과 얻어지는 가산 결과로서의 신호 전위((Vsig")n)=[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n]]를 신호 전위로 하는 화상 신호(Sn)를, 데이터 드라이버(24)에 공급한다.
[오프셋량의 산출에 관해]
다음에, 도 32는, 도 31의 오프셋량 산출부(391)가, 오프셋량을 산출할 때의 한 예를 도시하고 있다.
도 32에서, 함수(f2(k))는, 전류의 열화 전에 있어서의, 계조(k)와 휘도(L)와의 관계를 나타내는 함수이다.
이 함수(f2(k))(=α×β2×k2 .2)는, 오프셋량 산출용 정보로서, 오프셋량 산출부(391)의 도시하지 않은 메모리에 미리 유지되어 있는 것으로 한다.
또한, 함수(f2(k))는, 예를 들면, 표시부(25)에 내장된 것으로 하여 상정되는 임의의 유기 EL 소자의 휘도를 계측하는 계측 결과에 의거하여 미리 생성되고, 오프셋량 산출부(391)의 도시하지 않은 내장의 메모리에 유지된다.
또한, 함수(f2(k))는, 전류의 열화가 생기기 전에, 휘도 센서(25b)에 의해 계측된 계측 결과에 의거하여, 오프셋량 산출부(391)가 생성하여, 도시하지 않은 내장의 메모리에 유지시키도록 하여도 좋다.
도 32에서, 함수(g2(k+Δk))(=α×β2×(k-Δk)2.2)는, 전류의 열화 후에 있어서의, 계조(k)와 휘도(L)와의 관계를 나타내는 함수이다.
함수(g2(k+Δk))는, 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과에 의거하여, 오프셋량 산출부(391)에 의해 생성된다. 도 32에서, 횡축은 계조를 나타내고, 종축은 휘도를 나타낸다.
오프셋량 산출부(391)는, 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과에 의거하여, 예를 들면 최소자승법 등에 의해, 함수(g2(k+Δk))를 산출한다.
또한, 예를 들면, 오프셋량 산출부(391)는, 도시하지 않은 메모리에 미리 유지하고 있는 함수(f2(k))와, 산출한 함수(g2(k+Δk))에 의거하여, f2(k)=g2(k+Δk)를, 오프셋량(Δk)에 관해 푼다.
그리고, 오프셋량 산출부(391)는, f2(k)=g2(k+Δk)를 풀음에 의해 얻어지는 오프셋량(Δk)을, 오프셋 보정부(392)에 공급한다.
계조 보정부(382)에서는, 역감마 변환부(381)로부터, 감마 특성을 갖는 화상 신호(Sn)가 공급된다. 이 때문에, 도 32에 도시되는 바와 같이, 주목 소자의 어느 계조에서도, 동일한 오프셋량(Δk)으로, 주목 소자의 계조를 보정하는 것이 가능해진다.
[표시 장치(341)의 동작 설명]
다음에, 도 33의 플로 차트를 참조하여, 도 30의 표시 장치(341)가 행하는 표시 처리(이하, 제3의 표시 처리라고 한다)에 관해 설명한다.
이 제3의 표시 처리는, 예를 들면, 표시 장치(341)의 전원이 온으로 된 때에 시작된다.
스텝 S161 및 스텝 S162에서는, 각각, 도 18의 스텝 S1 및 스텝 S2와 같은 처리가 행하여진다.
스텝 S163에서는, 감마 변환부(361)는, 예를 들면, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호(Cn)를 감마 보정하고, 감마 보정 후의 합성 신호(Cn)를, 화상 처리부(362)에 공급한다. 이에 의해, 합성 신호(Cn)(화상 신호(Sn))의 특성은, 선형의 특성으로 변환된다.
스텝 S164에서는, 화상 처리부(362)는, 감마 변환부(361)로부터의, 선형의 특성으로 변환된 합성 신호(Cn)에 대해, 소정의 화상 처리(예를 들면, 색 재현 처리나, 노이즈 저감 처리 등)를 시행하고, 화상 처리 후의 합성 신호(Cn)를, 번인 보정부(363)에 공급한다.
스텝 S165 내지 스텝 S167에서는, 각각, 도 18의 스텝 S3 내지 5와 같은 처리가 행하여진다.
스텝 S168에서는, 제어부(26)는, 표시용의 유기 EL 소자의 모두를 주목 소자로 하였는지의 여부를 판정하고, 표시용의 유기 EL 소자의 모두를 주목 소자로 하고 있지 않다고 판정한 경우, 처리를 스텝 S165로 되돌린다.
그리고, 스텝 S165에서는, 제어부(26)는, 표시부(25)에 포함되는 표시용의 유기 EL 소자 중, 아직 주목 소자로 되어 있지 않은 유기 EL 소자에 주목하고, 주목하고 있는 유기 EL 소자를, 새로운 주목 소자로 하여, 처리를 스텝 S166으로 진행하고, 그 이후 같은 처리가 반복된다.
또한, 스텝 S168에서는, 제어부(26)는, 표시용의 유기 EL 소자의 모두를 주목 소자로 하였다고 판정한 경우, 처리를 스텝 S169로 진행한다.
표시용의 유기 EL 소자의 모두가 주목 소자가 된 후, 주목 소자가 된 유기 EL 소자의 신호 전위((Vsig')n)(=±√(α/α')×(Vsig)n)를 각각 나타내는 화상 신호(Sn)를 포함하는 합성 신호(Cn)가, 도 31의 기울기 보정부(71)로부터 역감마 변환부(381)에 공급된다.
스텝 S169에서는, 역감마 변환부(381)는, 기울기 보정부(71)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는, 기울기 보정 처리 후의 화상 신호(Sn)에 대해, 역감마 보정을 시행하고, 역감마 보정 후의 화상 신호(Sn)를, 계조 보정부(382)에 공급한다. 역감마 보정에 의해, 기울기 보정 처리 후의 화상 신호(Sn)의 특성은, 선형의 특성으로부터, 감마 특성으로 변환된다.
스텝 S170에서는, 계조 보정부(382)는, 역감마 변환부(381)로부터의, 감마 특성으로 변환된 화상 신호(Sn)가 나타내는 신호 전위((Vsig')n)(=±√(α/α')×(Vsig)n)의 (Vsig)n에, 동일한 신호 전위((ΔVsig)n)를 가산한다.
그리고, 계조 보정부(382)는, 그 가산에 의해 얻어지는 신호 전위((Vsig")n)를 각각 나타내는 화상 신호(Sn)를, 계조 보정 처리 후의 화상 신호(Sn)로서, 데이터 드라이버(24)에 공급한다.
즉, 계조 보정부(382)는, 오프셋량 산출부(391) 및 오프셋 보정부(392)로 구성된다.
오프셋량 산출부(391)는, 도시하지 않은 메모리에 미리 유지되어 있는 오프셋량 산출용 정보, 및 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과에 의거하여, 기울기 보정 처리 후의 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig')n)(=±√(α/α')×(Vsig)n)의 (Vsig)n에 가산된 오프셋량((ΔVsig)n)을 산출하고, 오프셋 보정부(392)에 공급한다.
오프셋 보정부(392)는, 오프셋 보정부(162)와 마찬가지로 하여, 역감마 변환부(381)로부터의, 기울기 보정 처리 후의 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig')n)(={±√(α/α')×(Vsig)n])의 (Vsig)n와, 오프셋량 산출부(391)로부터의 오프셋량((ΔVsig)n)을 가산한다.
오프셋 보정부(392)는, 그 가산의 결과 얻어지는 가산 결과로서의 신호 전위[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n]]를, 신호 전위((Vsig")n)로 하는 화상 신호(Sn)를, 계조 보정 처리 후의 화상 신호(Sn)로서, 데이터 드라이버(24)에 공급한다.
스텝 S171 내지 스텝 S174에서는, 각각, 도 18의 스텝 S8 내지 스텝 S11과 같은 처리가 행하여진다. 그리고, 처리는 스텝 S161로 되돌아와, 그 이후, 같은 처리가 반복된다.
또한, 제3의 표시 처리는, 예를 들면, 표시 장치(341)의 전원이 오프로 된 때에 종료된다.
이상 설명한 바와 같이, 제3의 표시 처리에 의하면, 선형의 특성으로 된 화상 신호에 역감마 보정을 행하도록 하였다. 그리고, 역감마 보정에 의해 얻어지는, 감마 특성으로 된 화상 신호에 대해, 계조 보정 처리를 행하도록 하였다.
이 때문에, 제3의 표시 처리에 의하면, 예를 들면, 도 32에 도시하는 바와 같이, 주목 소자의 신호 전위에 관계없이, 동일한 오프셋량으로 계조를 보정하는 것이 가능해진다. 따라서, 계조 보정 처리에 의한 부하를 경감할 수 있게 된다.
또한, 선형의 특성으로 된 화상 신호에서, 주목 소자의 신호 전위에 관계없이, 동일한 오프셋량으로 계조를 보정하는 경우와 비교하여, 정밀도 좋게 계조를 보정하는 것이 가능해진다.
제1의 실시의 형태에서는, 예를 들면, 열화곡선 추정부(105)가, 도시하지 않은 내장의 메모리에 유지되어 있는 휘도 열화 기준 곡선과, 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과에 의거하여, 표시용의 유기 EL 소자에 관한 휘도 열화곡선을 추정하도록 하였다.
그런데, 휘도 열화곡선은, 발광중의 유기 EL 소자의 온도에도 기인하여 변화하기 때문에, 유기 EL 소자의 온도에도 의거하여, 휘도 열화곡선을 추정하는 것이 바람직하다.
<4. 제4의 실시의 형태>
[표시 장치(401)의 구성례]
다음에, 도 34는, 제4의 실시의 형태인 표시 장치(401)의 구성례를 도시하고 있다.
또한, 이 표시 장치(401)는, 발광중의 유기 EL 소자의 온도에도 의거하여, 휘도 열화곡선을 추정하도록 하는 것이다.
이 표시 장치(401)는, 제1의 실시의 형태인 표시 장치(1)(도 1)의 경우와 마찬가지로 구성되어 있는 부분에 관해서는, 동일한 부호를 붙이도록 하고 있기 때문에, 그들의 설명은, 이하, 적절히, 생략하도록 하고 있다.
즉, 표시 장치(401)에서, 도 1의 번인 보정부(23) 및 표시부(25)에 대신하여, 번인 보정부(421) 및 표시부(422)가 마련되어 있는 이외는, 도 1의 표시 장치(1)와 마찬가지로 구성된다.
번인 보정부(421)에는, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호(Cn)가 공급된다. 번인 보정부(421)는, 표시부(422)가 내장하는 온도 센서(25c)로부터의 온도에도 의거하여, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)에 대해, 번인 보정 처리를 시행한다. 이 번인 보정 처리에 의해, 표시부(422)의 표시 화면(25a)에 생기는 번인을 방지할 수 있다.
표시부(422)는, 표시부(422)의 온도를 계측하는 온도 센서(25c)를 내장하고 있고, 그 이외는, 표시부(25)와 마찬가지로 구성된다.
온도 센서(25c)는, 표시부(422)에 내장되어, 표시부(422)의 온도를 계측하고, 번인 보정부(421)에 공급한다.
[번인 보정부(421)의 상세]
다음에, 도 35는, 도 34의 번인 보정부(421)의 상세한 구성례를 도시하고 있다.
이 번인 보정부(421)는, 기울기 보정부(441), 계조 보정부(442), 검출부(443), 및 유지부(444)로 구성된다.
기울기 보정부(441)에는, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호(Cn)가 공급된다.
기울기 보정부(441)는, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)의 직전에 입력된 화상 신호(Sn -1)의 신호 전위((Vsig)n-1)와, 온도 센서(25c)에서 계측된 온도(dn -1)를, 유지부(444)로부터 판독한다.
후술하지만, 유지부(444)에는, 신호 합성부(22)로부터 기울기 보정부(441)에 공급되는 합성 신호(Cn -1)에 포함되는 화상 신호(Sn -1)의 신호 전위((Vsig)n-1)와, 화상 신호(Sn -1)로서의 표시 화상을, 표시 화면(25a)에 표시할 때의 표시부(25)의 내부의 온도(dn -1)가 유지되어 있다.
또한, 표시부(25)의 내부의 온도(dn -1)는, 표시부(25)에 내장된 각 화소 회로에 포함되는 유기 EL 소자의 온도와 (거의) 동등한 것으로 한다.
기울기 보정부(441)는, 유지부(444)로부터 판독한 신호 전위((Vsig)n-1) 및 온도(dn -1), 및 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과에 의거하여, 효율의 열화에 의해 저하된 기울기(α')를 원래의 기울기(α)로 보정하기 위한 보정량(±√(α/α'))을 산출한다.
또한, 기울기 보정부(441)는, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig)n)에, 산출한 보정량(±√(α/α'))을 승산한다. 그리고, 기울기 보정부(441)는, 그 승산의 결과 얻어지는 승산 결과로서의 신호 전위{±√(α/α')×(Vsig)n]를 갖는 화상 신호(Sn)를 포함하는 합성 신호(Cn)를, 계조 보정부(442)에 공급한다.
계조 보정부(442)는, 도 6의 계조 보정부(72)와 마찬가지로 구성되고, 계조 보정부(72)와 같은 처리를 행한다.
즉, 예를 들면, 계조 보정부(442)는, 유지부(444)로부터, 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig)n)를 판독한다.
또한, 계조 보정부(442)는, 유지부(444)로부터 판독한 신호 전위((Vsig)n)와, 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과에 의거하여, 전류의 열화에 의해 저하되는 계조(k-Δk)를 원래의 계조(k)로 보정하기 위한 오프셋량(Δk)에 대응하는 (ΔVsig)n를 산출한다.
그리고, 계조 보정부(442)는, 기울기 보정부(441)로부터의, 기울기 보정 처리 후의 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig')n)={±√(α/α')×(Vsig)n]의 (Vsig)n에, 오프셋량(Δk)에 대응하는 (ΔVsig)n를 가산한다.
계조 보정부(442)는, 그 가산의 결과 얻어지는 가산 결과로서의 신호 전위((Vsig")n)=[±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n]]가 된 화상 신호(Sn), 즉, 계조 보정 처리 후의 화상 신호(Sn)를 포함하는 합성 신호(Cn)를, 데이터 드라이버(24)에 공급한다.
검출부(443)는, 도 6의 검출부(73)와 마찬가지로 하여, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)에 의거하여, 화상 신호(Sn)의 신호 전위((Vsig)n)를 검출하고, 유지부(444)에 공급하여 유지시킨다.
또한, 검출부(443)는, 온도 센서(25c)로부터의 온도(dn)를, 유지부(444)에 공급하여 유지시킨다.
유지부(444)는, 검출부(443)로부터의 신호 전위((Vsig)n) 및 온도(dn)를 유지한다.
또한, 기울기 보정부(441)가, 온도 센서(25c)로부터의 온도(dn)도 이용하도록 하여, 화상 신호(Sn)에 대해 기울기 보정 처리를 행하도록 하고 있는 것은, 이하의 이유에 의한다.
다음에, 도 36을 참조하여, 도 35의의 기울기 보정부(441)가, 온도 센서(25c)로부터의 온도(dn)도 이용하는 이유에 관해 설명한다.
도 36은, 표시부(422)의 온도의 변화에 응하여, 휘도 열화곡선이 변화할 때의 한 예를 도시하고 있다.
또한, 도 36에서, 횡축은 시간을 나타내고, 종축은 시간의 경과에 응하여 저하되는 기울기를 나타낸다.
도 36에서, 휘도 열화곡선(121')은, 유기 EL 소자에 전류(I(L=200nit))를 흘린 때의, 유기 EL 소자의 기울기의 저하의 정도를 나타낸다. 이 휘도 열화곡선(121')은, 도 36에 도시되는 바와 같이, 표시부(422)의 내부의 온도(표시부(422)에 내장된 유기 EL 소자의 온도)의 변화에 응하여, 유기 EL 소자의 기울기의 저하가 다른 것으로 되어 있다.
즉, 휘도 열화곡선(121')에서는, 유기 EL 소자의 온도가 높아질수록, 유기 EL 소자의 기울기가, 보다 빨리 저하되는 것으로 되어 있다.
또한, 도 36에서, 휘도 열화곡선(122')은, 유기 EL 소자에 전류(I(L=400nit))를 흘린 때의, 유기 EL 소자의 기울기의 저하의 정도를 나타낸다. 이 휘도 열화곡선(122')에 대해서도, 휘도 열화곡선(121')의 경우와 마찬가지로, 표시부(422)의 내부의 온도의 변화에 응하여, 유기 EL 소자의 기울기의 저하가 다른 것으로 되어 있다.
따라서 제4의 실시의 형태에서는, 기울기 보정부(441)에서, 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과 외에, 온도 센서(25c)로부터의 온도에도 의거하여, 휘도 열화곡선을 추정하여, 휘도 열화곡선의 추정의 정밀도를 향상시키도록 하고 있다.
[기울기 보정부(441)의 상세]
다음에, 도 37은, 도 35의의 기울기 보정부(441)의 상세한 구성례를 도시하고 있다.
또한, 의 기울기 보정부(441)는, 도 7의 기울기 보정부(71)와 마찬가지로 구성되는 부분에 관해 동일한 부호를 붙이도록 하고 있기 때문에, 그들의 설명은, 이하, 적절히 생략하고 있다.
즉, 기울기 보정부(441)에서, 도 7의 보정량 생성부(101) 및 열화곡선 추정부(105)에 대신하여, 보정량 생성부(461) 및 열화곡선 추정부(462)가 마련되어 있는 이외는, 도 7의 경우와 마찬가지로 구성된다.
보정량 생성부(461)는, 도 7의 보정량 생성부(101)와 마찬가지로, 기울기 유지부(103)로부터, 주목 소자의 기울기(α')를 판독한다.
또한, 보정량 생성부(461)는, 유지부(444)로부터, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n-1), 및 화상 신호(Sn -1)로서의 표시 화상을 표시하고 있던 때의 표시부(422)의 내부의 온도(dn -1)를 판독한다.
보정량 생성부(461)는, 유지부(444)로부터 판독한 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n-1)에 의거하여, 주목 소자에 흐르고 있던 전류(In -1)를 산출한다.
또한, 보정량 생성부(461)는, 열화곡선 유지부(104)에 유지되어 있는 복수의 휘도 열화곡선 중, 산출한 전류(In -1)와, 유지부(444)로부터 판독한 온도(dn -1)와의 조합에 대응하는 휘도 열화곡선을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한다.
또한, 도 37의 열화곡선 유지부(104)에는, 복수의 다른 전류(I(L=Xnit, d=Y))의 값마다, 전류(I(L=Xnit, d=Y))를 흘리는 계측용의 유기 EL 소자의 휘도를 계측하여 얻어지는 계측 결과에 의거하여 추정된 휘도 열화곡선이, 전류(I(L=Xnit))와 온도(d)=Y와의 조합에 대응시키는 형태로 유지되어 있다.
여기서, 전류(I(L=Xnit, d=Y))란, 표시부(422)의 내부의 온도(d)=Y인 때에, 계측용의 유기 EL 소자에 흘려지는 전류(I(L=Xnit))를 나타낸다.
보정량 생성부(461)는, 기울기 유지부(103)로부터 판독한 주목 소자의 기울기(α')와, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한 휘도 열화곡선에 의거하여, 주목 소자의 최신의 기울기(α')를 산출한다.
그리고, 보정량 생성부(461)는, 주목 소자의 최신의 기울기(α')를, 기울기 유지부(103)에 공급하고, 재기록에 의해 유지(기억)시킨다.
또한, 보정량 생성부(461)는, 주목 소자의 최신의 기울기(α')에 의거하여, 보정량(±√(α/α'))을 생성(산출)하여, 보정량 승산부(102)에 공급한다. 또한, 보정량 생성부(461)가 보정량을 생성하는 방법은, 도 38을 참조하여 상세히 기술한다.
열화곡선 추정부(462)는, 도 7의 열화곡선 추정부(105)와 마찬가지로, 도시하지 않은 메모리를 내장하고 있고, 그 메모리에는, 기울기가 저하되는 정도를 나타내는 휘도 열화곡선을 추정할 때에 기준이 되는 휘도 열화 기준 곡선이 미리 유지되어 있다.
열화곡선 추정부(462)는, 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과와, 도시하지 않은 메모리에 미리 유지된 휘도 열화 기준 곡선 외에, 온도 센서(25c)로부터의 온도에도 의거하여, 효율의 열화에 의한, 표시용의 유기 EL 소자의 휘도의 저하를 나타내는 휘도 열화곡선을 추정한다.
열화곡선 추정부(462)는, 그 추정의 결과 얻어지는 휘도 열화곡선을, 휘도 센서(25b)에 의해 계측된 계측용의 유기 EL 소자에 흘리고 있는 전류(I(L=Xnit)), 및 휘도 센서(25b)의 계측시의 온도(dn)에 대응시킨 형태로, 열화곡선 유지부(104)에 공급하여 유지시킨다.
또한, 열화곡선 추정부(462)가 휘도 열화곡선을 추정하는 방법은, 도 39 및 도 40을 참조하여 상세히 기술한다.
[보정량 생성부(461)가 행하는 보정량의 생성]
다음에, 도 38은, 도 37의 열화곡선 유지부(104)에 유지된 휘도 열화곡선의 한 예를 도시하고 있다.
도 38에서, 휘도 열화곡선(1211')은, 계측용의 유기 EL 소자의 온도가 30도인 때에 전류(I(L=200nit))를 흘린 때의 기울기의 열화를 나타낸다.
또한, 도 38에서, 휘도 열화곡선(1212')은, 계측용의 유기 EL 소자의 온도가 40도인 때에 전류(I(L=200nit))를 흘린 때의 기울기의 열화를 나타낸다.
휘도 열화곡선(1211' 및 1212')은, 각각, 도 37의 열화곡선 추정부(462)에 의해 생성(추정)되고, 열화곡선 유지부(104)에 공급되어 유지된다.
또한, 도 38에서, 횡축은 시간을 나타내고, 종축은 기울기를 나타낸다.
기울기 보정부(441)의 보정량 생성부(461)는, 유지부(444)로부터, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n-1), 및 주목 소자의 온도(dn -1)를 판독한다.
그리고, 보정량 생성부(461)는, 열화곡선 유지부(104)에 유지되어 있는 복수의 휘도 열화곡선 중, 판독한 주목 소자의 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n-1)에 의거한 전류(In -1), 및 주목 소자의 온도(dn -1)에 대응하는 휘도 열화곡선을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한다.
즉, 보정량 생성부(461)에서는, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n-1), 및 주목 소자의 온도(dn -1)에 대응하는 휘도 열화곡선을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독하는 점이, 도 7의 보정량 생성부(101)와는 다르지만, 그 이외는, 보정량 생성부(101)와 같은 처리를 행한다.
구체적으로는, 예를 들면, 전류(In -1)가 전류(I(L=200nit))이고, 온도(dn -1)가 30도인 경우, 보정량 생성부(461)는, 전류(I(L=200nit))와 온도(d)=30도에 대응지어진 휘도 열화곡선(1211')을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한다.
보정량 생성부(461)는, 보정량 생성부(101)와 마찬가지로, 기울기 유지부(103)로부터, 주목 소자의 기울기(α')를 판독한다. 그리고 보정량 생성부(461)는, 판독한 주목 소자의 기울기(α')와, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한 휘도 열화곡선(1211')에 의거하여, 도 9의 보정량 생성부(101)와 같은 처리를 행한다.
그리고, 보정량 생성부(461)는, 도 9의 보정량 생성부(101)와 마찬가지로 하여 생성한 보정량을, 보정량 승산부(102)에 공급한다.
또한, 예를 들면, 전류(In -1)가 전류(I(L=200nit))이고, 온도(dn -1)가 40도인 경우, 보정량 생성부(461)는, 전류(I(L=200nit))와 온도(d)=40도에 대응지어진 휘도 열화곡선(1212')을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한다.
그리고, 보정량 생성부(461)는, 보정량 생성부(101)와 마찬가지로, 기울기 유지부(103)로부터, 주목 소자의 기울기(α')를 판독한다. 그리고 보정량 생성부(461)는, 판독한 주목 소자의 기울기(α')와, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한 휘도 열화곡선(1212')에 의거하여, 도 9의 보정량 생성부(101)와 같은 처리를 행한다.
즉, 예를 들면, 주목 소자의 기울기(α')=α인 경우에, 휘도 열화곡선(1211')에 의거하여, 주목 소자의 최신의 기울기(α')를 산출할 때에는, 보정량 생성부(461)는, 이하와 같은 처리를 행한다.
즉, 보정량 생성부(461)는, 휘도 열화곡선(1211')상의 점(P0)(주목 소자의 기울기(α')=α에 대응하는 점(P0))을, 주목 소자에 전류(I(L=200nit, d=30))를 흘린 시간(t4)의 경과 후의 점(P1")으로 이동시키도록 하여, 보정량 생성부(101)와 마찬가지로 하여, 주목 소자의 최신의 기울기(α')=α1'를 산출한다.
또한, 도 38에서는, 도 9와의 대응 관계를 명확히 하기 위해, 종축에 기재한 기울기(α')로서, 도 9에 기재된 기울기(α')와 동일한 기울기(α1', α2', α3')를 도시하도록 하고 있지만, 실제로는 다른 것이다.
즉, 도 38에 기재된 기울기(α1', α2', α3')는, 일반적으로, 도 9에 기재된 기울기(α1', α2', α3')와는 다르다.
또한, 예를 들면, 주목 소자의 기울기(α')=α1'인 경우에, 휘도 열화곡선(1211')에 의거하여, 주목 소자의 최신의 기울기(α')=α2'를 산출할 때에는, 보정량 생성부(461)는, 이하와 같은 처리를 행한다.
즉, 보정량 생성부(461)는, 휘도 열화곡선(1211')상의 점(P1")(주목 소자의 기울기(α')=α1'에 대응하는 점(P1"))을, 주목 소자에 전류(I(L=200nit, d=30))를 흘린 시간(t5)의 경과 후의 점(P2")으로 이동시키도록 하여, 보정량 생성부(101)와 마찬가지로 하여, 주목 소자의 최신의 기울기(α')=α2'를 산출한다.
또한, 예를 들면, 주목 소자의 기울기(α')=α2'인 경우에, 휘도 열화곡선(1212')에 의거하여, 주목 소자의 최신의 기울기(α')=α3'를 산출할 때에는, 보정량 생성부(461)는, 이하와 같은 처리를 행한다.
즉, 보정량 생성부(461)는, 휘도 열화곡선(1212')상의 점(P1"')(주목 소자의 기울기(α')=α2'에 대응하는 점(P1"'))을, 주목 소자에 전류(I(L=200nit, d=40))를 흘린 시간(t6)의 경과 후의 점(P2"')으로 이동시키도록 하여, 보정량 생성부(101)와 마찬가지로 하여, 주목 소자의 최신의 기울기(α')=α3'를 산출한다.
[열화곡선 추정부(462)가 행하는 휘도 열화곡선의 추정]
다음에, 도 39 및 도 40을 참조하여, 도 37의 열화곡선 추정부(462)가, 휘도 열화곡선을 추정하는 추정 방법의 한 예를 설명한다.
도 39는, 열화곡선 추정부(462)가, 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과와 함께, 온도 센서(25c)로부터의 온도의 계측 결과에 의거하여, 휘도 열화곡선을 추정할 때의 한 예를 도시하고 있다.
도 39에서, 횡축은 시간을 나타내고, 종축은 기울기를 나타낸다.
최초에, 열화곡선 추정부(462)가, 표시부(422)의 내부의 온도가 30도인 경우에, 전류(I(L=200nit))가 흘려진 계측용의 유기 EL 소자의 휘도의 저하를 나타내는 휘도 열화곡선(1211')(도 38)을 추정하는 방법을 설명한다.
열화곡선 추정부(462)에는, 예를 들면, 휘도 센서(25b)로부터, 전류(I(L=200nit, d=30))가 흘려진 계측용의 유기 EL 소자의 휘도를 계측하여 얻어진 휘도(L(t, I(L=200nit, d=30)))가 공급된다.
여기서, 전류(I(L=200nit, d=30))는, 표시부(422)의 내부의 온도가 30도인 경우에, 계측용의 유기 EL 소자에 흘려진 전류(I(L=200nit))를 나타낸다.
또한, 열화곡선 추정부(462)에는, 예를 들면, 온도 센서(25c)로부터, 표시부(422)의 내부의 온도(d)=30, 즉, 전류(I(L=200nit, d=30))가 흘려지고 있는 계측용의 유기 EL 소자의 온도(d)=30가 공급된다.
또한, 열화곡선 추정부(462)는, 도시하지 않은 내장의 메모리에, 온도(d)=Y일 때에 유기 EL 소자에 흘려지는 전류(I(L=Xnit))를 나타내는 전류(I(L=Xnit, d=Y))의 값을 미리 유지하고 있다. 여기서, 전류(I(L=Xnit, d=Y))의 값은, 온도(d)=Y에 관계없이, 전류(I(L=Xnit))의 값과 동일하지만, 설명의 편의상, 전류(I(L=Xnit, d=Y))로 나타내도록 하고 있다.
열화곡선 추정부(462)는, 도시하지 않은 내장하는 메모리에 미리 유지하고 있는 전류의 값(I(L=200nit, d=30))과, 휘도 센서(25b)로부터의 계측 결과(L(t, I(L=200nit)))에 의거하여, 식(4)에 의거하여 도출된 식(α(t, I(L=200nit, d=30'))=L(t, I(L=200nit))/I(L=200nit, d=30))에 의해, 시간(t)에 대한 기울기(α(t, I(L=200nit, d=30))')를 산출한다.
또한, 열화곡선 추정부(462)는, 도시하지 않은 내장의 메모리에, 휘도 열화 기준 곡선(1411')을 미리 유지하고 있다. 이 휘도 열화 기준 곡선(1411')은, 전류(I(L=200nit, d=30))가 흘려진 유기 EL 소자의 휘도의 저하를 나타내는 평균적인 휘도 열화곡선이고, 예를 들면 휘도 열화곡선(1211')을 추정할 때의 기준이 된다.
열화곡선 추정부(462)는, 산출한 기울기(α(t, I(L=200nit, d=30))')와, 미리 유지하고 있는 휘도 열화 기준 곡선(1411')에 의거하여, 전류(I(L=200nit, d=30))를 흘린 때의 계측용의 유기 EL 소자에 관한 휘도 열화곡선(1211')을 추정한다.
즉, 예를 들면, 열화곡선 추정부(462)는, 도 39에 도시되는 바와 같이, 기울기(α(0, I(L=200nit, d=30))')=α가 얻어진 때부터, 기울기(α(t, I(L=200nit, d=30))')가 얻어질 때까지의 시간(Δt1')을 산출한다.
또한, 도 39에서는, 도 10과의 대응 관계를 명확히 하기 위해, 도 10에 기재된 시간(Δt1', Δt1, Δt2', Δt2)과 동일한 시간(Δt1', Δt1, Δt2', Δt2)을 도시하도록 하고 있지만, 실제로는 다른 것이다.
즉, 도 39에 기재된 기울기(Δt1', Δt1, Δt2', Δt2)는, 일반적으로, 도 10에 기재된 기울기(Δt1', Δt1, Δt2', Δt2)와는 다르다.
또한, 예를 들면, 열화곡선 추정부(462)는, 도 39에 도시되는 바와 같이, 휘도 열화 기준 곡선(1411')에서, 기울기(α(0, I(L=200nit, d=30))')=α가 얻어진 때부터, 기울기(α(t, I(L=200nit, d=30))')가 얻어질 때까지의 시간(Δt1)을 산출한다.
또한, 열화곡선 추정부(462)는, 산출한 시간(Δt1')과 시간(Δt1)에 의거하여, 휘도 열화곡선(1411')에 대한 기울기(α(t, I(L=200nit))')의 저하의 속도를 나타내는 온도 가속 계수(Δt1'/Δt1)를 산출한다.
열화곡선 추정부(462)는, 산출한 온도 가속 계수(Δt1'/Δt1)를, 휘도 열화 기준 곡선(1411')을 나타내는 식(A(t, I(L=200nit, d=30)))에 승산함에 의해, 휘도 열화곡선(1211')을 추정하고, 열화곡선 유지부(104)에 공급하여 유지시킨다.
즉, 예를 들면, 열화곡선 추정부(462)는, 그 승산에 의해 얻어지는 새로운 식((Δt1'/Δt1)×A(t, I(L=200nit, d=30)))을 나타내는 휘도 열화곡선(1211')을, 전류(I(L=200nit, d=30))와 온도(d)=30의 조합에 대응시킨 형태로, 열화곡선 유지부(104)에 공급하여 유지시킨다.
다음에, 열화곡선 추정부(462)가, 표시부(422)의 온도가 40도인 경우에, 전류(I(L=400nit))가 흘려진 계측용의 유기 EL 소자의 휘도의 저하를 나타내는 휘도 열화곡선(1222')(도 38)을 추정하는 방법을 설명한다.
열화곡선 추정부(462)에는, 예를 들면, 휘도 센서(25b)로부터, 전류(I(L=200nit, d=40))가 흘려진 계측용의 유기 EL 소자의 휘도를 계측하여 얻어진 휘도(L(t, I(L=200nit, d=40)))가 공급된다.
여기서, 전류(I(L=200nit, d=40))는, 표시부(422)의 내부의 온도가 40도인 경우에, 계측용의 유기 EL 소자에 흘려진 전류(I(L=200nit))를 나타낸다.
또한, 열화곡선 추정부(462)에는, 예를 들면, 온도 센서(25c)로부터, 표시부(422)의 내부의 온도(d)=40, 즉, 전류(I(L=200nit, d=40))가 흘려지고 있는 계측용의 유기 EL 소자의 온도(d)=40가 공급된다.
열화곡선 추정부(462)는, 도시하지 않은 내장하는 메모리에 미리 유지하고 있는 전류의 값(I(L=200nit, d=40))과, 휘도 센서(25b)로부터의 계측 결과(L(t, I(L=200nit)))에 의거하여, 식(4)에 의거하여 도출된 식(α(t, I(L=200nit, d=40))')=L(t, I(L=200nit))/I(L=200nit, d=30)에 의해, 시간(t)에 대한 기울기(α(t, I(L=200nit, d=30))')를 산출한다.
또한, 열화곡선 추정부(462)는, 도시하지 않은 내장의 메모리에, 휘도 열화 기준 곡선(1412')을 미리 유지하고 있다. 이 휘도 열화 기준 곡선(1412')은, 전류(I(L=200nit, d=40))가 흘려진 유기 EL 소자의 휘도의 저하를 나타내는 평균적인 휘도 열화곡선이고, 예를 들면 휘도 열화곡선(1212')을 추정할 때의 기준이 된다.
열화곡선 추정부(462)는, 산출한 기울기(α(t, I(L=200nit, d=40))')와, 미리 유지하고 있는 휘도 열화 기준 곡선(1412')에 의거하여, 전류(I(L=200nit, d=40))를 흘린 때의 계측용의 유기 EL 소자에 관한 휘도 열화곡선(1212')을 추정한다.
즉, 예를 들면, 열화곡선 추정부(462)는, 도 39에 도시되는 바와 같이, 기울기(α(0, I(L=200nit, d=40))')가 얻어진 때로부터, 기울기(α(t, I(L=200nit, d=40))')가 얻어질 때까지의 시간(Δt2')을 산출한다.
또한, 예를 들면, 열화곡선 추정부(462)는, 도 39에 도시되는 바와 같이, 휘도 열화 기준 곡선(1412')에서, 기울기(α(0, I(L=200nit, d=40))')가 얻어진 때부터, 기울기(α(t, I(L=200nit, d=40))')가 얻어질 때까지의 시간(Δt2)을 산출한다.
또한, 열화곡선 추정부(462)는, 산출한 시간(Δt2')과 시간(Δt2)에 의거하여, 휘도 열화곡선(1412')에 대한 기울기(α(t, I(L=200nit, d=40))')의 저하의 속도를 나타내는 온도 가속 계수(Δt2'/Δt2)를 산출한다.
열화곡선 추정부(462)는, 산출한 온도 가속 계수(Δt2'/Δt2)를, 휘도 열화 기준 곡선(1412')을 나타내는 식(A(t, I(L=200nit, d=40)))에 승산함에 의해, 휘도 열화곡선(1212')을 추정하고, 열화곡선 유지부(104)에 공급하여 유지시킨다.
즉, 예를 들면, 열화곡선 추정부(462)는, 그 승산에 의해 얻어지는 새로운 식((Δt2'/Δt2)×A(t, I(L=200nit, d=40)))을 나타내는 휘도 열화곡선(1212')을, 전류(I(L=200nit, d=40)) 및 온도(d)=40의 조합에 대응시킨 형태로, 열화곡선 유지부(104)에 공급하여 유지시킨다.
또한, 열화곡선 추정부(462)는, 도시하지 않은 내장의 메모리에, 복수의 휘도 열화 기준 곡선(예를 들면, 휘도 열화 기준 곡선(1411' 1412' 등))을 미리 유지하도록 하고 있다.
그러나, 열화곡선 추정부(462)가, 복수의 다른 전류(I(L=Xnit, d=Y))마다, 전류(I(L=Xnit, d=Y))가 흐르는 계측용의 유기 EL 소자에 관한 휘도 열화곡선을 추정하는 경우, 복수의 다른 전류(I(L=Xnit, d=Y))의 수만큼, 대응하는 휘도 열화 기준 곡선을, 내장하는 메모리에 유지할 필요가 있다.
이 경우, 휘도 열화 기준 곡선의 수에 응하고, 메모리의 기억 용량을 늘려야 한다.
따라서 열화곡선 추정부(462)에서는, 열화곡선 추정부(105)의 경우와 마찬가지로, 복수의 휘도 열화 기준 곡선의 어느 하나의 휘도 열화 기준 곡선을, 어느 휘도 열화곡선을 추정하는 경우에도 사용 가능한 마스터 커브로서 유지하고, 메모리의 기억 용량을 절약할 수 있다.
그 밖에, 예를 들면, 열화곡선 추정부(462)는, 복수의 다른 전류(I(L=Xnit))마다, 하나의 마스터 커브를 유지하도록 하여, 메모리의 기억 용량을 보다 절약하도록 하여도 좋다.
다음에, 도 40은, 예를 들면, 휘도 열화곡선(1411')을, 전류(I(L=200nit))에 관한 마스터 커브로 하였을 때의 한 예를 도시하고 있다.
도 40에 도시되는 휘도 열화곡선(1411')은, 예를 들면, 전류(I(L=200nit))에 관한 마스터 커브를 도시하고 있다.
마스터 커브로서의 휘도 열화곡선(1411')은, 표시부(422)의 내부의 온도(d)=Y에 관계없이, 전류(I)(L=200nit, d=Y)가 흐르는 계측용의 유기 EL 소자에 관한 휘도 열화곡선을 추정할 때에 사용된다.
예를 들면, 열화곡선 추정부(462)는, 휘도 센서(25b)로부터의 계측 결과에 의거하여, 기울기의 저하의 정도를 나타내는 함수(1611)를 산출한다.
또한, 예를 들면, 열화곡선 추정부(462)는, 온도 센서(25c)로부터의 계측 결과인 온도(d)를, 온도 센서(25c)로부터 취득한다.
그리고, 열화곡선 추정부(462)는, 마스터 커브로서의 휘도 열화 기준 곡선(1411')과, 함수(1611)에 의거하여, 온도 가속 계수(Δt1'/Δt1)를 산출하도록 하여, 이하, 상술한 바와 같이 하여 휘도 열화곡선을 추정한다.
또한, 열화곡선 추정부(462)는, 온도 센서(25c)로부터의 온도(d)에 의거하여, 화소 회로(184)의 온도가 30도로부터 40도로 변화하였는지의 여부를 판정한다.
또한, 열화곡선 추정부(462)는, 온도 센서(25c)로부터의 온도(d)에 의거하여, 화소 회로(184)의 온도가 30도로부터 40도로 변화하였다고 판정한 경우, 온도(d)가 40도로 변화 후에, 휘도 센서(25b)에 계측되어 얻어진 계측 결과에 의거하여, 함수(1612)를 산출한다.
그리고, 열화곡선 추정부(462)는, 마스터 커브로서의 휘도 열화 기준 곡선(1411')과, 함수(1612)에 의거하여, 온도 가속 계수(Δt2'/Δt2)를 산출하도록 하여, 이하, 상술한 바와 같이 하여 휘도 열화곡선을 추정한다.
또한, 열화곡선 추정부(462)는, 온도 센서(25c)로부터의 온도(d)에 의거하여, 화소 회로(184)의 온도가 40도로부터 30도로 변화하였는지의 여부를 판정한다.
또한, 열화곡선 추정부(462)는, 온도 센서(25c)로부터의 온도(d)에 의거하여, 화소 회로(184)의 온도가 40도로부터 30도로 변화하였다고 판정한 경우, 온도(d)가 30도로 변화 후에, 휘도 센서(25b)에 계측되어 얻어진 계측 결과에 의거하여, 함수(1613)를 산출한다.
그리고, 열화곡선 추정부(462)는, 마스터 커브로서의 휘도 열화 기준 곡선(1411')과, 함수(1613)에 의거하여, 온도 가속 계수(Δt3'/Δt3)를 산출하도록 하여, 이하, 상술한 바와 같이 하여 휘도 열화곡선을 추정한다.
[표시 장치(401)의 동작 설명]
다음에, 도 41의 플로 차트를 참조하여, 도 34의 표시 장치(401)가 행하는 표시 처리(이하, 제4의 표시 처리라고 한다)에 관해 설명한다.
이 제4의 표시 처리는, 예를 들면, 표시 장치(401)의 전원이 온으로 된 때에 시작된다.
스텝 S191 및 스텝 S192에서는, 각각, 도 18의 스텝 S1 및 스텝 S2와 같은 처리가 행하여진다.
스텝 S193에서는, 제어부(26)는, 표시부(422)에 포함되는 표시용의 유기 EL 소자에 순차적으로 주목하고, 주목하고 있는 유기 EL 소자를, 주목 소자로 한다.
스텝 S194에서는, 번인 보정부(421)의 검출부(443)는, 신호 합성부(22)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)에 의거하여, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)를 검출하고, 유지부(444)에 공급하여 유지시킨다.
스텝 S195에서는, 번인 보정부(421)의 검출부(443)는, 온도 센서(25c)로부터의 계측 결과인 온도(dn)를, 주목 소자의 온도(dn)로서 검출하고, 유지부(444)에 공급하여 유지시킨다. 또한, 온도(dn)는, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)에 의거하여, 주목 소자가 발광할 때의 표시부(422)의 내부의 온도를 나타낸다.
표시부(422)의 내부의 온도(dn)는, 주목 소자의 온도(dn)와 (거의) 동일한 것으로 한다.
스텝 S196에서는, 번인 보정부(421)의 기울기 보정부(441)는, 신호 합성부(22)로부터 공급되는 주목 화소의 신호 전위((Vsig)n)에 대해, 온도(dn -1)도 이용한 기울기 보정 처리를 행한다. 이 기울기 보정 처리의 상세는, 도 42의 플로 차트를 참조하여 상세히 기술한다.
기울기 보정부(441)는, 기울기 보정 처리에서 보정 후의, 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n)(=±√(α/α')×(Vsig)n)를, 계조 보정부(442)에 공급한다.
스텝 S197에서는, 번인 보정부(421)의 계조 보정부(442)는, 계조 보정부(72)와 마찬가지로 하여, 기울기 보정부(441)로부터 공급되는, 주목 화소의 신호 전위((Vsig')n)(=±√(α/α')×(Vsig)n)의 (Vsig)n에, 오프셋량으로서의 (ΔVsig)n를 가산함에 의해, 주목 화소에서의 계조(k-Δk)를 원래의 계조(k)로 보정하는 계조 보정 처리를 행한다.
스텝 S198에서는, 제어부(26)는, 표시부(422)에 포함되는 표시용의 유기 EL 소자의 모두를 주목 소자로 하였는지의 여부를 판정하고, 표시용의 유기 EL 소자의 모두를 주목 소자로 하고 있지 않는다고 판정한 경우, 처리를 스텝 S193로 되돌린다.
그리고, 스텝 S193에서는, 제어부(26)는, 표시부(422)에 포함되는 표시용의 유기 EL 소자 중, 아직 주목 소자로 되어 있지 않은 유기 EL 소자에 주목하고, 주목하고 있는 유기 EL 소자를, 새로운 주목 소자로 하여, 처리를 스텝 S419로 진행하고, 그 이후 같은 처리가 반복된다.
또한, 스텝 S198에서, 제어부(26)는, 표시부(422)에 포함되는 표시용의 유기 EL 소자의 모두를 주목 소자로 설정하였다고 판정한 경우, 처리를 스텝 S199로 진행한다.
표시용의 유기 EL 소자의 모두가 주목 소자가 된 후, 주목 소자가 된 유기 EL 소자의 신호 전위((Vsig")n)(=±√(α/α')×{(Vsig)n+(ΔVsig)n])를 각각 나타내는 화상 신호(Sn)를 포함하는 합성 신호(Cn)가, 데이터 드라이버(24)에 공급된다.
스텝 S199 내지 스텝 S201에서는, 각각, 도 18의 스텝 S8 내지 스텝 S10과 같은 처리가 행하여진다.
스텝 S202에서는, 기울기 보정부(441)는, 휘도 센서(25b)로부터의 휘도의 계측 결과 외에, 온도 센서(25c)로부터의 온도의 계측 결과에도 의거하여, 휘도 열화곡선을 추정하고 유지하는 열화곡선 추정 처리를 행한다. 이 열화곡선 추정 처리는, 도 43의 플로 차트를 참조하여 상세히 기술한다.
스텝 S202의 종료 후, 처리는 스텝 S191로 되돌아와, 그 이후 같은 처리가 행하여진다.
또한, 제4의 표시 처리는, 예를 들면, 표시 장치(401)의 전원이 오프로 된 때에 종료된다.
이상 설명한 바와 같이, 제4의 표시 처리에 의하면, 유기 EL 소자의 온도에도 의거하여, 기울기 보정 처리를 행하도록 하였다. 이 때문에, 유기 EL 소자의 온도에 응하고, 기울기의 저하의 속도가 다른 유기 EL 소자의 기울기(α')를, 보다 정확하게 원래의 기울기(α)로 보정할 수 있다.
또한, 제4의 표시 처리에 의하면, 계측용의 유기 EL 소자의 온도가 변화한 경우, 온도의 변화 전에 얻어진 휘도의 계측 결과에 의거하여, 변화 전의 온도에서의 휘도 열화곡선을 추정하고, 온도의 변화 후에 얻어진 휘도의 계측 결과에 의거하여, 변화 후의 온도에서의 휘도 열화곡선을 추정하도록 하였다.
이 때문에, 온도의 변화 전과 변화 후에 얻어진 휘도의 계측 결과의 양쪽을 이용하여, 하나의 휘도 열화곡선을 추정하는 경우와 비교하여, 온도마다의, 보다 정확한 휘도 열화곡선을 추정하는 것이 가능해진다.
[기울기 보정부(441)가 행하는 기울기 보정 처리의 상세]
다음에, 도 42의 플로 차트를 참조하여, 도 41의 스텝 S196에서의 기울기 보정 처리에 관해 설명한다.
스텝 S221에서는, 보정량 생성부(461)는, 보정량 생성부(101)와 마찬가지로 하여, 기울기 유지부(103)로부터, 주목 소자의 기울기(α')를 판독한다.
스텝 S222에서는, 보정량 생성부(461)는, 보정량 생성부(101)와 마찬가지로 하여, 유지부(444)로부터, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n-1)를 판독한다.
스텝 S223에서는, 보정량 생성부(461)는, 유지부(444)로부터, 주목 소자의 온도(dn -1)를 판독한다.
스텝 S224에서는, 보정량 생성부(461)는, 유지부(444)로부터 판독한 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n-1)에 의거하여, 주목 화소로서의 유기 EL 소자에 흐르고 있던 전류(In -1)를 산출한다.
그리고, 보정량 생성부(101)는, 열화곡선 유지부(104)에 유지되어 있는 복수의 휘도 열화곡선 중, 산출한 전류(In -1)와, 유지부(444)로부터 판독한 온도(dn -1)와의 조합에 대응지어진 휘도 열화곡선을, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한다.
스텝 S225에서는, 보정량 생성부(461)는, 보정량 생성부(101)와 마찬가지로, 기울기 유지부(103)로부터 판독한 주목 소자의 기울기(α')와, 열화곡선 유지부(104)로부터 판독한 휘도 열화곡선에 의거하여, 주목 소자의 최신의 기울기(α')를 산출한다.
그리고, 보정량 생성부(101)는, 주목 소자의 최신의 기울기(α')를, 기울기 유지부(103)에 공급하고, 재기록에 의해 유지(기억)시킨다.
스텝 S226에서는, 보정량 생성부(461)는, 보정량 생성부(101)와 마찬가지로, 주목 소자의 최신의 기울기(α')에 의거하여, 보정량(±√(α/α'))을 생성(산출)하여, 보정량 승산부(102)에 공급한다.
스텝 S227에서는, 도 19의 스텝 S36과 같은 처리가 행하여진다. 즉, 보정량 승산부(102)는, 주목 소자의 신호 전위((Vsig)n)에 대해, 보정량 생성부(461)로부터의 보정량(±√(α/α'))을 승산한다.
그 후, 도 42의 기울기 보정 처리는 종료되고, 처리는, 도 41의 스텝 S196으로 되돌아와, 보정량 승산부(102)는, 그 승산에 의해 얻어지는 신호 전위{±√(α/α')×(Vsig)n]를, 기울기(α')가 원래의 기울기(α)로 보정된 주목 소자의 신호 전위((Vsig')n)로서, 계조 보정부(442)에 공급하고, 그 이후의 처리가 행하여진다.
[열화곡선 추정부(462)가 행하는 열화곡선 추정 처리의 상세]
다음에, 도 43의 플로 차트를 참조하여, 도 41의 스텝 S202에서의 열화곡선 추정 처리에 관해 설명한다.
스텝 S241에서, 열화곡선 추정부(462)는, 온도 센서(25c)로부터, 표시부(422)의 내부의 온도(d)=Y를 취득한다. 또한, 온도 센서(25c)는, 적절히, 표시부(422)의 내부의 온도를 계측하고, 그 계측 결과로서의 온도(d)=Y를, 열화곡선 추정부(462)에 공급한다.
또한, 스텝 S241에서 취득된 온도(d)=Y가, 전회의 열화곡선 추정 처리에서의 스텝 S241에서 취득된 온도(d)=Y와 동일한 경우, 스텝 S242 내지 스텝 S246을 스킵하고, 도 43의 열화곡선 추정 처리를 종료하도록 하여도 좋다.
이것은, 스텝 S241에서 취득된 온도(d)=Y가, 전회의 열화곡선 추정 처리에서의 스텝 S241에서 취득된 온도(d)=Y와 동일한 경우, 표시부(422)의 내부의 온도가 온도(d)=Y인 때의 휘도 열화곡선을 생성하여 열화곡선 유지부(104)에 유지 끝암인 것에 의한다.
스텝 S242에서, 열화곡선 추정부(462)는, 복수의 휘도 센서(25b)에 순차적으로 주목하고, 주목하고 있는 휘도 센서(25b)를 주목 센서로 한다.
열화곡선 추정부(462)에는, 주목 센서로부터, 전류(I(L=Xnit, d=Y))가 흘려지는 계측용의 화소 회로의 휘도를 계측하여 얻어진 휘도(L)(t, I(L=Xnit, d=Y))가 공급된다.
또한, 전류(I(L=Xnit, d=Y))의 Xnit는, 주목 센서마다 미리 정하여 있는 값이지만, 전류(I(L=Xnit, d=Y))의 Y는, 표시부(422)의 내부의 온도(d)=Y에 응하여 변화하는 값이다.
스텝 S243에서, 열화곡선 추정부(462)는, 도시하지 않은 내장하는 메모리에 미리 유지하고 있는 전류의 값(I)(L=Xnit, d=Y)과, 주목 센서로부터의 휘도(L)(t, I(L=Xnit, d=Y))에 의거하여, 기울기(α)(t, I(L=Xnit, d=Y'))를 산출한다.
즉, 예를 들면, 열화곡선 추정부(462)는, 도시하지 않은 내장하는 메모리에 미리 유지하고 있는 전류의 값(I)(L=200nit, d=Y)과, 휘도 센서(25b)로부터의 계측 결과(L(t, I(L=200nit, d=Y)))에 의거하여, 식(4)에 의거하여 도출된 식(α(t, I(L=200nit, d=Y))')=L(t, I(L=200nit, d=Y))/I(L=200nit, d=Y)에 의해, 시간(t)에 대한 기울기(α(t, I(L=200nit, d=Y))')를 산출한다.
스텝 S244에서는, 열화곡선 추정부(462)는, 산출한 기울기(α(t, I(L=Xnit, d=Y))')와, 도시하지 않은 내장의 메모리에 미리 유지하고 있는 휘도 열화 기준 곡선에 의거하여, 휘도 열화 기준 곡선과 승산되는 가속 계수를 산출한다.
즉, 예를 들면, 열화곡선 추정부(462)는, 도 39에 도시되는 바와 같이, 기울기(α(0, I(L=200nit, d=30))')=α가 얻어진 때부터, 기울기(α(t, I(L=200nit, d=30))')가 얻어질 때까지의 시간(Δt1')을 산출한다.
또한, 예를 들면, 열화곡선 추정부(462)는, 도 39에 도시되는 바와 같이, 휘도 열화 기준 곡선(1411')에서, 기울기(α(0, I(L=200nit, d=30))')=α가 얻어진 때부터, 기울기(α(t, I(L=200nit, d=30))')가 얻어질 때까지의 시간(Δt1)을 산출한다.
또한, 열화곡선 추정부(462)는, 산출한 시간(Δt1')과 시간(Δt1)에 의거하여, 온도 가속 계수(Δt1'/Δt1)를 산출한다.
스텝 S245에서는, 열화곡선 추정부(462)는, 산출한 온도 가속 계수와, 도시하지 않은 메모리에 미리 유지되어 있는 휘도 열화 기준 곡선에 의거하여, 휘도 열화곡선을 추정하고, 열화곡선 유지부(104)에 공급하여 유지시킨다.
즉, 예를 들면, 열화곡선 추정부(462)는, 산출한 가속 계수(Δt1'/Δt1)를, 휘도 열화 기준 곡선(1411')을 나타내는 식(A(t, I(L=200nit, d=30)))에 승산한다. 그리고, 열화곡선 추정부(462)는, 그 승산에 의해 얻어지는 새로운 식((Δt1'/Δt1)×A(t, I(L=200nit, d=30)))을 나타내는 휘도 열화곡선(1211')을, 전류(I(L=200nit)), 및 스텝 S241에서 취득된 온도(d)=30에 대응시킨 형태로, 열화곡선 유지부(104)에 공급하여 유지시킨다.
스텝 S246에서, 열화곡선 추정부(462)는, 복수의 휘도 센서(25b)의 모두를 주목 센서로 하였는지의 여부를 판정하고, 복수의 휘도 센서(25b)의 모두를 주목 센서로 하고 있지 않는다고 판정한 경우, 처리를 스텝 S242로 되돌린다.
그리고, 스텝 S242에서는, 열화곡선 추정부(462)는, 복수의 휘도 센서(25b) 중, 아직 주목 센서로 되어 있지 않은 휘도 센서를 새로운 주목 센서로 하여, 처리를 스텝 S243로 진행하고, 그 이후, 같은 처리를 행한다.
또한, 스텝 S246에서, 열화곡선 추정부(462)는, 복수의 휘도 센서(25b)의 모두를 주목 센서로 하였다고 판정한 경우, 도 43의 열화곡선 추정 처리는 종료되고, 처리는, 도 41의 스텝 S202로 되돌아와, 그 이후의 처리가 행하여진다.
<5. 제5의 실시의 형태>
[표시 장치(501)의 구성례]
다음에, 도 44는, 제5의 실시의 형태인 표시 장치(501)의 구성례를 도시하고 있다.
이 표시 장치(501)는, 제1의 실시의 형태인 표시 장치(1)(도 1)의 경우와 마찬가지로 구성되어 있는 부분에 관해 동일한 부호를 붙이도록 하고 있기 때문에, 그들의 설명은 적절히 생략하고 있다.
즉, 표시 장치(501)에서, 동기 신호 생성부(521)가 마련되어 있음과 함께, 도 1의 신호 합성부(22) 및 표시부(25)에 대신하여, 신호 합성부(522) 및 표시부(523)가 마련되어 있는 이외는, 도 1의 경우와 마찬가지로 구성된다.
또한, 도 1의 표시 장치(1)에서의 표시 화면(25a)에서는, 동기 신호에 동기하여 표시 화상을 표시하지만, 도 1에서, 동기 신호를 생성하는 동기 신호 생성부의 도시를 생략하고 있다. 이에 대해, 도 44의 표시 장치(501)에서는, 설명의 사정 상, 동기 신호 생성부(521)를 명시적으로 도시하도록 하고 있다.
동기 신호 생성부(521)는, 제어부(26)로부터의 제어에 따라, 동기 신호(수평 동기 신호, 및 수직 동기 신호)를 생성하고, 신호 합성부(522) 및 표시부(523)에 공급한다.
신호 합성부(522)에는, 외부로부터 화상 신호가, 더미 화소 신호 생성부(21)로부터 더미 화소 신호가, 각각 공급된다.
신호 합성부(522)는, 동기 신호 생성부(521)로부터의 수직 동기 신호에 동기하여, 외부로부터의 화상 신호와, 더미 화소 신호 생성부(21)로부터의 더미 화소 신호를 합성하고, 그 결과 얻어지는 합성 신호를, 번인 보정부(23)에 공급한다.
다음에, 도 45는, 도 44의 신호 합성부(522)가, 화상 신호와 더미 화소 신호를 합성하는 합성 처리의 한 예를 도시하고 있다.
도 45 상측에는, 화상 신호에 응하여, 표시부(523)에 포함되는 표시용의 유기 EL 소자가 발광함에 의해, 표시부(523)의 표시 화면(25a)에 표시되는 표시 화상(41)의 한 예를 도시하고 있다.
또한, 도 45 하측에는, 더미 화소 신호에 응하여, 표시부(523)에 포함되는 계측용의 유기 EL 소자가 발광함에 의해 얻어지는 더미 화상(42')의 한 예를 도시하고 있다. 또한, 더미 화상(42')은, 표시부(523)의 표시 화면(25a)에는 표시되지 않고, 표시부(523)에 내장된 휘도 센서(25b)에 의한 휘도의 계측에만 사용된다.
신호 합성부(522)는, 예를 들면, 도 45에 도시되는 바와 같이, 표시 화상(41)의 하측에, 더미 화상(42')이 배치되도록, 화상 신호와 더미 화소 신호를 합성한다.
이에 의해, 신호 합성부(522)는, 화상 신호와 더미 화소 신호를 합성함에 의해, 도 46에 도시되는 바와 같은 합성 화상(43')을 나타내는 합성 신호를 생성하고, 번인 보정부(23)에 공급한다.
또한, 신호 합성부(522)는, 표시 화상(41)의 상측에, 더미 화상(42')이 배치되도록, 화상 신호와 더미 화소 신호를 합성하도록 하여도 좋다. 이 경우, 표시부(523)에서, 휘도 센서(25b)는, 표시 화면(25a)의 상측에 마련된다.
도 44로 되돌아와, 표시부(523)는, 표시 화면(25a) 및 휘도 센서(25b)를 갖고 있다. 또한, 표시부(523)에서는, 표시 화면(25a)과 휘도 센서(25b)와의 위치 관계가, 도 1의 표시부(25)의 경우와는 다르다. 이것은, 도 51을 참조하여 상세히 기술한다.
또한, 표시부(523)는, 데이터 드라이버(24)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)에 의거하여, 동기 신호 생성부(521)로부터의 동기 신호에 동기하여, 내장하는 표시용의 유기 EL 소자를 발광시킨다. 이에 의해, 표시부(523)의 표시 화면(25a)에는, 화상 신호(Sn)로서의 표시 화상(41)이 표시된다.
또한, 표시부(523)는, 데이터 드라이버(24)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는 더미 화소 신호에 의거하여, 동기 신호 생성부(521)로부터의 동기 신호에 동기하여, 내장하는 계측용의 유기 EL 소자를 발광시킨다.
표시부(523)에서, 휘도 센서(25b)는, 계측용의 유기 EL 소자를 포함하는 화소 회로의 곁에 마련되어 있고, 그 화소 회로에 포함되는 유기 EL 소자의 휘도를 계측하고, 그 계측 결과를, 번인 보정부(23)에 공급한다.
또한, 표시부(523)는, 도 14에 도시한 표시부(25)와 마찬가지로 하여, 화소 회로(184-(1, 1) 내지 184-(N, M))가 마련되어 있다.
도 14의 표시부(25)에서는, 화소 회로(184-(1, M)), 화소 회로(184-(2, M)), …, 화소 회로(184-(N, M))에 각각 포함되는 유기 EL 소자가, 계측용의 유기 EL 소자로 된다.
이에 대해, 표시부(523)에서는, 표시부(523)에 내장된 화소 회로(184-(1, 1) 내지 184-(N, M)) 중, 화소 회로(184)-(N, 1), 화소 회로(184-(N, 2)), …, 화소 회로(184-(N, M))에 각각 포함되는 유기 EL 소자가, 계측용의 유기 EL 소자로 되는 점에서 다르다.
또한, 표시부(523)에서는, 화소 회로(184-(N, 2)), …, 화소 회로(184-(N, M))에 각각 포함되는 유기 EL 소자의 곁에, 각각, 휘도 센서(25b1), 휘도 센서(25b2), …, 휘도 센서(25bN)가 마련된 것이 된다.
다음에, 도 47은, 표시부(523)가, 동기 신호 생성부(521)로부터의 동기 신호에 동기하여, 표시용의 유기 EL 소자, 및 계측용의 유기 EL 소자를 발광시키는 양상의 한 예를 도시하고 있다.
도 47에서, 도면 중 상측에는, 합성 화상(43')의 표시를 시작한 때부터, 다음의 합성 화상(43')의 표시를 시작할 때까지의 기간인 수직 동기 기간이 나타나고 있다. 이 수직 동기 기간은, 동기 신호 생성부(22)로부터 출력되는 수직 동기 신호에서, 하강 에지가 생긴 때부터, 다음의 하강 에지가 생길 때까지의 기간을 나타낸다.
또한, 수직 동기 기간은, 도 47에 도시되는 바와 같이, 복수의 수평 동기 기간과, 블랭킹 기간으로 구성된다.
수평 동기 기간은, 동기 신호 생성부(521)로부터 출력되는 수평 동기 신호에서, 하강 에지가 생긴 때부터, 다음의 하강 에지가 생길 때까지의 기간을 나타내다. 또한, 수평 동기 기간은, 합성 화상(43')을 구성하는 각 라인의 1라인에 대응하는 유기 EL 소자를 발광시키는 기간이다.
표시부(523)는, 동기 신호 생성부(521)로부터의 수직 동기 신호 및 수평 동기 신호에 동기하여, 데이터 드라이버(24)로부터 공급되는 합성 신호(Cn)에 의거하여, 소정의 수직 동기 기간에서, 표시용의 유기 EL 소자, 및 계측용의 유기 EL 소자를 발광시킨다.
즉, 예를 들면, 표시부(523)는, 수직 동기 기간에서, 동기 신호 생성부(22)로부터의 수평 동기 신호에 동기하여, 수평 동기 신호에 하강 에지가 생길 때마다, 합성 화상(43)을 구성하는 각 라인의 표시를 시작시킨다.
이에 의해, 도 48에 도시되는 바와 같이, 수직 동기 기간에서, 수평 동기 신호에 하강 에지가 생길 때마다, 표시 화상(41)을 구성하는 각 라인이, 위로부터 래스터 스캔 순서로, 표시 화면(25a)에 표시된다.
또한, 수직 동기 기간에서, 표시 화면(25a)에 표시 화상(41)이 표시된 후, 수평 동기 신호에 하강 에지가 생긴 것에 대응하여, 더미 화상(42')으로서 발광하는 계측용의 유기 EL 소자를 발광시겨진다.
그 후, 수직 동기 기간에서, 표시용의 유기 EL 소자, 및 계측용의 유기 EL 소자를 발광시키기 위한 복수의 수평 동기 기간이 종료되고, 블랭킹 기간이 시작되고, 블랭킹 기간 종료 후, 다음의 수직 동기 기간이 도래하고, 그 이후 같은 처리가 반복된다.
또한, 블랭킹 기간에서, 다음의 수직 동기 기간에 이용되는 합성 화상(43)로서의 합성 신호가, 신호 합성부(522)가 행하는 합성에 의해 생성된다. 그리고, 블랭킹 기간에서, 신호 합성부(522)에 의해 생성된 합성 신호가, 번인 보정부(23)에 의해 보정되고, 보정 후의 합성 신호가, 데이터 드라이버(24)에 의해 AD 변환되고, 표시부(523)에 공급된다.
표시부(523)에서는, 데이터 드라이버(24)로부터 공급되는 AD 변환 후의 합성 신호를 이용하여, 다음의 수직 동기 기간에, 상술한 처리를 행한다.
신호 합성부(522)는, 블랭킹 기간 내에, 표시 화상(41)의 하측에 더미 화상(42')을 결합시키는 합성 처리를 행하도록 하고 있다. 즉, 신호 합성부(522)는, 하나의 수직 동기 기간마다, 합성 처리를 행하면 좋은 것으로 된다.
이에 대해, 신호 합성부(22)와 같이, 표시 화상(41)의 우측에 더미 화상(42)을 결합시키는 합성 처리를 행하는 경우에는, 수평 동기 기간마다, 다음의 수평 동기 기간에 표시시키는 더미 화상(42')(의 일부분)을 결합시키는 합성 처리를 행할 필요가 있다.
다음에, 도 48은, 도 1의 표시부(25)가, 도시하지 않은 동기 신호 생성부에서의 동기 신호에 동기하여, 표시용의 유기 EL 소자, 및 계측용의 유기 EL 소자를 발광시키는 양상의 한 예를 도시하고 있다.
도 48에서, 도면 중 상측에는, 합성 화상(43)의 표시를 시작한 때부터, 다음의 합성 화상(43)의 표시를 시작할 때까지의 기간인 수직 동기 기간이 나타나고 있다. 이 수직 동기 기간은, 도시하지 않은 동기 신호 생성부에서 출력되는 수직 동기 신호에서, 하강 에지가 생긴 때부터, 다음의 하강 에지가 생길 때까지의 기간을 나타낸다.
또한, 수직 동기 기간은, 도 48에 도시되는 바와 같이, 복수의 수평 동기 기간으로 구성된다. 또한, 도 48에서, 수직 동기 기간에, 블랭킹 기간을 두도록 하여도 좋다.
표시부(25)는, 도시하지 않은 동기 신호 생성부로부터의 수직 동기 신호에 동기하여, 데이터 드라이버(24)로부터 공급되는 합성 신호(Cn)에 의거하여, 소정의 수직 동기 기간에서, 표시용의 유기 EL 소자, 및 계측용의 유기 EL 소자를 발광시킨다.
즉, 예를 들면, 표시부(523)는, 수직 동기 기간에서, 동기 신호 생성부(22)로부터의 수평 동기 신호에 동기하여, 수평 동기 신호에 하강 에지가 생길 때마다, 합성 화상(43)을 구성하는 각 라인의 표시를 시작시킨다.
이에 의해, 도 48에 도시되는 바와 같이, 수직 동기 기간에서, 수평 동기 신호에 하강 에지가 생길 때마다, 표시 화상(41)을 구성하는 각 라인이, 위로부터 래스터 스캔 순서로, 표시 화면(25a)에 표시된다.
또한, 수직 동기 기간에서, 수평 동기 신호에 하강 에지가 생길 때마다, 더미 화상(42')의 일부분으로서 발광하는 계측용의 유기 EL 소자가 발광된다.
그 후, 수직 동기 기간 종료 후, 다음의 수직 동기 기간에서도 같은 처리가 반복된다.
또한, 이 경우, 신호 합성부(22)는, 수평 동기 기간마다, 다음의 수평 동기 기간에서 발광시키는 계측용의 유기 EL 소자에 대응하는, 더미 화상(42)의 일부분을 결합시키는 합성 처리를 행할 필요가 있다.
이에 대해, 신호 합성부(522)에서는, 하나의 수직 동기 기간마다, 합성 처리를 행하면 좋기 때문에, 처리에 의한 부하를 경감할 수 있다.
또한, 신호 합성부(522)는, 표시 화상(41)의 하측에, 더미 화상(42')을 결합하도록 하였기 때문에, 도 49에 도시되는 바와 같이, 표시 화상(41)용의 데이터 드라이버(241 내지 243)를, 그대로 이용할 수 있다.
즉, 데이터 드라이버(24)로부터 표시부(523)에 화상 신호를 공급하기 위한 영상 신호선을 이용하여, 더미 화소 신호도 공급하도록 할 수 있다.
또한, 도 49에서는, 표시 화상(41)용의 데이터 드라이버(24)로서, 3개의 데이터 드라이버(241 내지 243)가 마련되어 있는 경우의 한 예를 도시하고 있다.
이에 대해, 신호 합성부(22)와 같이, 표시 화상(41)의 우측에, 더미 화상(42)을 결합하는 경우, 도 50에 도시되는 바와 같이, 더미 화상(42)용의 데이터 드라이버(244)를 새롭게 마련하여야 한다. 즉, 데이터 드라이버(24)로부터 표시부(523)에 더미 화소 신호를 공급하기 위한 영상 신호선을 새롭게 마련할 필요가 있다.
따라서, 표시 장치(501)에서는, 데이터 드라이버(24)로서, 더미 화상(42)용의 데이터 드라이버(244)를 새롭게 마련할 필요가 없기 때문에, 표시 장치(501)의 제조 비용을 낮게 억제하는 것이 가능해진다.
[표시부(523)의 외관례]
다음에, 도 51은, 도 44의 표시부(523)의 정면도를 도시하고 있다.
표시부(523)는, 사각형상의 입체적인 몸체로 이루어지고, 그 몸체에는, 도 14의 표시부(25)와 마찬가지로, 수평 실렉터(181), 라이트 스캐너(182), 전원 스캐너(183), 복수의 화소 회로(184-(1, 1) 내지 184-(N, M)) 등이 내장되어 있다.
그리고, 표시부(523)는, 도 51에 도시되는 바와 같이, 몸체의 중앙에, 표시 화면(25a)이 마련되어 있다. 또한, 표시부(523)는, 표시 화면(25a)의 하측에, 복수의 휘도 센서(25b1 내지 25bN)가, 몸체 내에 내장되는 형태로 배치되어 있다.
복수의 휘도 센서(25b1, 25b2, …25bN)는, 각각, 표시부(523)의 몸체 내에 마련된 화소 회로(184-(N, 1), 184-(N, 2), …184-(N, M))의 근처에 마련되어 있다.
복수의 휘도 센서(25b1, 25b2, …25bN)는, 각각, 화소 회로(184-(N, 1), 184-(N, 2), …184-(N, M))에 포함되는 유기 EL 소자의 휘도를 계측한다.
즉, 표시부(523)에서, 휘도 센서(25b1 내지 25bN)가, 도 14에 도시되는 휘도 센서(25b1, 25b2, …25bM)에 대신하여, 표시부(523)의 몸체 내에 마련된 화소 회로(184-(N, 1), 184-(N, 2), …184-(N, M))의 근처에 마련되어 있는 이외는, 도 14에 도시되는 표시부(25)와 마찬가지로 구성되어 있다.
[표시 장치(501)의 동작 설명]
다음에, 도 52는, 도 44의 표시 장치(501)가 행하는 표시 처리(이하, 제5의 표시 처리라고 한다)에 관해 설명한다.
이 제5의 표시 처리는, 예를 들면, 표시 장치(501)의 전원이 온 된 때에 시작된다.
스텝 S261에서는, 더미 화소 신호 생성부(21)는, 도 18의 스텝 S1과 같은 처리를 행한다. 즉, 예를 들면, 더미 화소 신호 생성부(21)는, 표시부(523)에 내장된 계측용의 유기 EL 소자를 발광시키기 위한 더미 화소 신호를 생성하고, 신호 합성부(522)에 공급한다.
스텝 S262에서는, 동기 신호 생성부(521)는, 제어부(26)로부터의 제어에 따라, 동기 신호(수평 동기 신호, 및 수직 동기 신호)를 생성하고, 신호 합성부(522) 및 표시부(523)에 공급한다.
스텝 S263에서는, 신호 합성부(522)는, 동기 신호 생성부(521)로부터의 동기 신호에 의거하여, 블랭킹 기간 내에, 예를 들면, 표시 화상(41)의 하측에, 더미 화상(42')이 배치되도록, 화상 신호와 더미 화소 신호를 합성한다.
그리고, 신호 합성부(522)는, 그 합성에 의해 얻어지는 합성 신호(Cn)를, 번인 보정부(23)에 공급한다.
스텝 S264에서는, 번인 보정부(23)는, 신호 합성부(522)로부터의 합성 신호(Cn)에 포함되는 화상 신호(Sn)에 대해, 예를 들면 도 18의 스텝 S3 내지 스텝 S7에서 설명한 바와 같은 번인 보정 처리를 시행한다. 그리고, 번인 보정부(23)는, 번인 보정 처리 후의 화상 신호(Sn)를 포함하는 합성 신호(Cn)를, 데이터 드라이버(24)에 공급한다.
스텝 S265에서는, 데이터 드라이버(24)는, 도 18의 스텝 S8과 같은 처리를 행한다. 즉, 예를 들면, 데이터 드라이버(24)는, 번인 보정부(23)로부터의 합성 신호(Cn)를 AD 변환하고, AD 변환 후의 합성 신호(Cn)를, 표시부(523)에 공급한다.
스텝 S266에서는, 표시부(523)는, 동기 신호 생성부(521)로부터의 수직 동기 신호 및 수평 동기 신호에 동기하여, 데이터 드라이버(24)로부터 공급되는 합성 신호(Cn)에 의거하여, 소정의 수직 동기 기간에서, 표시용의 유기 EL 소자와 계측용의 유기 EL 소자를 발광시킨다.
즉, 예를 들면, 표시부(523)는, 수직 동기 기간에서, 동기 신호 생성부(22)로부터의 수평 동기 신호에 동기하여, 수평 동기 신호에 하강 에지가 생길 때마다, 합성 화상(43)을 구성하는 각 라인의 표시를 시작시킨다.
이에 의해, 도 48에 도시하는 바와 같이, 수직 동기 기간에서, 수평 동기 신호에 하강 에지가 생길 때마다, 표시 화상(41)을 구성하는 각 라인이, 위로부터 래스터 스캔 순서로, 표시 화면(25a)에 표시된다.
또한, 수직 동기 기간에서, 표시 화면(25a)에 표시 화상(41)이 표시된 후, 수평 동기 신호에 하강 에지가 생긴 것에 대응하여, 더미 화상(42')로서 발광하는 계측용의 유기 EL 소자를 발광시킨다.
스텝 S267 및 스텝 S268에서는, 각각, 도 18의 스텝 S10 및 스텝 S11과 같은 처리가 행하여진다. 스텝 S268의 종료 후, 처리는 스텝 S261로 되돌아와, 그 이후 같은 처리가 행하여진다.
또한, 제5의 표시 처리는, 예를 들면 표시 장치(501)의 전원이 오프로 된 때에 종료된다.
이상 설명한 바와 같이, 제5의 표시 처리에 의하면, 계측용의 유기 EL 소자를, 표시용의 유기 EL 소자의 상측 또는 하측에 배치하도록 하였기 때문에, 하나의 수직 동기 기간마다, 합성 처리를 행하면 좋기 때문에, 합성 처리에 의한 부하를 경감할 수 있다.
즉, 예를 들면, 수직 동기 기간마다 합성 처리를 행하는 경우, 수평 동기 기간마다 합성 처리를 행하는 경우와 비교하여, 1/1000 정도의 주기로 합성 처리를 행하면 좋은 것으로 되기 때문에, 합성 처리에 의한 부하를 경감할 수 있다.
또한, 더미 화소 신호용의 시그널 드라이버를 새롭게 마련할 필요가 없기 때문에, 표시 장치(501)의 제조 비용을 절약하는 것이 가능해진다.
<6. 변형례>
상술한 제1의 실시의 형태에서는, 본 기술을, 표시 장치(1)에 적용한 경우에 관해 설명하였지만, 그 밖에, 예를 들면, 본 기술은, 예를 들면, 도 53에 도시되는 바와 같이, 표시 장치(1)를 모듈로서 내장하는 텔레비전 수상기(541)에 적용할 수 있다.
이 텔레비전 수상기(541)에는, 표시 장치(1)의 표시 화면(25a)이 노출하도록, 표시 장치(1)가 내장되어 있다.
그 밖에, 예를 들면, 본 기술은, 텔레비전 수상기(541) 외에, 표시 장치(1)의 표시 화면(25a)이 노출하도록, 표시 장치(1)를 내장하는 퍼스널 컴퓨터나 휴대 전화기, 비디오 카메라 등의 전자 기기에 적용할 수 있다.
또한, 제2 내지 제5의 실시의 형태에서도, 제1의 실시의 형태와 마찬가지로, 본 기술을 전자 기기에 적용할 수 있다.
또한, 제1 내지 제5의 실시의 형태에 의해 표시 장치의 구성을 설명하였지만, 표시 장치의 구성으로서는, 제1 내지 제5의 실시의 형태에서 각각 설명한 구성을, 임의로 조합시킨 구성으로 할 수 있다.
그런데, 본 기술은, 이하의 구성을 취할 수 있다.
(1) 화상의 표시용으로 이용되는 제1의 발광 소자를 발광시키기 위한 화상 신호와, 휘도의 계측용으로 이용되는 제2의 발광 소자를 발광시키기 위한 더미 화소 신호에 의해 구성되는 제1의 합성 신호를 생성하는 신호 합성부와, 생성된 상기 제1의 합성 신호를, 상기 제1의 발광 소자 및 상기 제2의 발광 소자 중, 상기 제1의 발광 소자만을 상기 제1의 발광 소자의 열화의 정도에 관계없이, 동일한 휘도로 발광시키기 위한 제2의 합성 신호로 변환하는 변환부와, 상기 제2의 합성 신호에 의거하여, 상기 제1의 발광 소자, 및 상기 제2의 발광 소자를 발광시키는 발광 제어부를 포함하는 신호 처리 장치.
(2) 상기 변환부는, 상기 제2의 발광 소자의 휘도를 계측하는 계측부에 의한 휘도의 계측 결과에 의거하여, 상기 제1의 합성 신호를 상기 제2의 합성 신호로 변환하는 상기 (1)에 기재된 신호 처리 장치.
(3) 상기 변환부는, 상기 제1의 합성 신호에 포함되는 상기 화상 신호를, 상기 제1의 발광 소자의 열화의 정도에 관계없이, 상기 제1의 발광 소자를 동일한 휘도로 발광시키기 위한 화상 신호로 보정함에 의해, 상기 제1의 합성 신호를, 보정 후의 상기 화상 신호를 포함하는 상기 제2의 합성 신호로 변환하는 상기 (1) 또는 (2)에 기재된 신호 처리 장치.
(4) 상기 변환부는, 또한, 상기 제1의 합성 신호에 포함되는 상기 더미 화소 신호를, 상기 제1의 합성 신호에 포함되는 상기 더미 화소 신호와 동일한 것으로 보정함에 의해, 상기 제1의 합성 신호를 상기 제2의 합성 신호로 변환하는 상기 (3)에 기재된 신호 처리 장치.
(5) 화상을 표시하는 표시 화면을 가지며, 상기 제1의 발광 소자, 상기 제2의 발광 소자, 및 상기 계측부를 내장하는 표시부를 또한 포함하고, 상기 발광 제어부는, 상기 제2의 합성 신호에 포함되는 상기 화상 신호에 의거하여, 상기 제1의 발광 소자를 발광시킴에 의해 상기 표시 화면에 화상을 표시시키고, 상기 제2의 합성 신호에 포함되는 상기 더미 화소 신호에 의거하여, 상기 제2의 발광 소자를 발광시킴에 의해 상기 계측부에 휘도의 계측을 행하게 한 상기 (2) 내지 (4)에 기재된 신호 처리 장치.
그런데, 상술한 일련의 처리는, 예를 들면 하드웨어에 의해 실행할 수도 있고, 소프트웨어에 의해 실행할 수도 있다. 일련의 처리를 소프트웨어에 의해 실행하는 경우에는, 그 소프트웨어를 구성하는 프로그램이, 전용의 하드웨어에 조립되어 있는 컴퓨터, 또는, 각종의 프로그램을 인스톨함으로써, 각종의 기능을 실행하는 것이 가능한, 예를 들면 범용의 컴퓨터 등에, 프로그램 기록 매체로부터 인스톨된다.
[컴퓨터의 구성례]
도 54는, 상술한 일련의 처리를 프로그램에 의해 실행하는 컴퓨터의 하드웨어의 구성례를 도시하고 있다.
또한, 상술한 일련의 처리는, 도 54에 도시되는 컴퓨터 외에, ASIC(application specific integrated circuit) 등으로 구성되는 전용 회로나, FPGA(field programmable gate array) 등의 프로그래머블 LSI에 의해 실행하도록 할 수 있다.
CPU(Central Processing Unit)(561)는, ROM(Read Only Memory)(562), 또는 기억부(568)에 기억되어 있는 프로그램에 따라 각종의 처리를 실행한다. RAM(Random Access Memory)(563)에는, CPU(561)가 실행하는 프로그램이나 데이터 등이 적절히 기억된다. 이들의 CPU(561), ROM(562), 및 RAM(563)은, 버스(564)에 의해 상호 접속되어 있다.
CPU(561)에는 또한, 버스(564)를 통하여 입출력 인터페이스(565)가 접속되어 있다. 입출력 인터페이스(565)에는, 키보드, 마우스, 마이크로폰 등으로 이루어지는 입력부(566), 디스플레이, 스피커 등으로 이루어지는 출력부(567)가 접속되어 있다. CPU(561)는, 입력부(566)로부터 입력되는 지령에 대응하여 각종의 처리를 실행한다. 그리고, CPU(561)는, 처리의 결과를 출력부(567)에 출력한다.
입출력 인터페이스(565)에 접속되어 있는 기억부(568)는, 예를 들면 하드 디스크로 이루어지고, CPU(561)가 실행하는 프로그램이나 각종의 데이터를 기억한다. 통신부(569)는, 인터넷이나 로컬 에어리어 네트워크 등의 네트워크를 통하여 외부의 장치와 통신한다.
또한, 통신부(569)를 통하여 프로그램을 취득하고, 기억부(568)에 기억하여도 좋다.
입출력 인터페이스(565)에 접속되어 있는 드라이브(570)는, 자기 디스크, 광디스크, 광자기 디스크, 또는 반도체 메모리 등의 리무버블 미디어(571)가 장착된 때, 그것들을 구동하고, 거기에 기록되어 있는 프로그램이나 데이터 등을 취득한다. 취득된 프로그램이나 데이터는, 필요에 응하여 기억부(568)에 전송되고, 기억된다.
컴퓨터에 인스톨되고, 컴퓨터에 의해 실행 가능한 상태로 되는 프로그램을 기록(기억)하는 기록 매체는, 도 54에 도시하는 바와 같이, 자기 디스크(플렉시블 디스크를 포함한다), 광디스크(CD-ROM(Compact Disc-Read Only Memory), DVD(Digital Versatile Disc)를 포함한다), 광자기 디스크(MD(Mini-Disc)를 포함한다), 또는 반도체 메모리 등으로 이루어지는 패키지 미디어인 리무버블 미디어(571), 또는, 프로그램이 일시적 또는 영속적으로 격납되는 ROM(562)이나, 기억부(568)를 구성하는 하드 디스크 등에 의해 구성된다. 기록 매체에의 프로그램의 기록은, 필요에 응하여 루터, 모뎀 등의 인터페이스인 통신부(569)를 통하여, 로컬 에어리어 네트워크, 인터넷, 디지털 위성 방송이라는, 유선 또는 무선의 통신 매체를 이용하여 행하여진다.
또한, 본 명세서에서, 상술한 일련의 처리를 기술(記述)하는 스텝은, 기재된 순서에 따라 시계열적으로 행하여지는 처리는 물론, 반드시 시계열적으로 처리되지 않더라도, 병렬적 또는 개별적으로 실행되는 처리도 포함하는 것이다.
또한, 본 개시는, 상술한 제1 내지 제5의 실시의 형태로 한정되는 것이 아니고, 본 개시한 요지를 일탈하지 않는 범위에서 여러가지의 변경이 가능하다.
1 : 표시 장치
21 : 더미 화소 신호 생성부
22 : 신호 합성부
23 : 번인 보정부
24, 24n : 데이터 드라이버
25 : 표시부
25a : 표시 화면
25b, 25b1 내지 25bM : 휘도 센서
25c : 온도 센서
26 : 제어부
71 : 기울기 보정부
72 : 계조 보정부
73 : 검출부
74 : 유지부
101 : 보정량 생성부
102 : 보정량 승산부
103 : 기울기 유지부
104 : 열화곡선 유지부
105 : 열화곡선 추정부
161 : 오프셋량 산출부
162 : 오프셋 보정부
181 : 수평 실렉터
182 : 라이트 스캐너
183 : 전원 스캐너
184-(1, 1 내지 184-(N, M)) : 화소 회로
201 : 샘플링용 트랜지스터
202 : 구동용 트랜지스터
203 : 축적 용량
204 : 발광 소자
205 : 배선
241 : 표시 장치
261 : 번인 보정부
281 : 기울기 보정부
282 : 계조 보정부
283 : 검출부
284 : 유지부
301 : 보정량 생성부
321 : 오프셋량 산출부
322 : 오프셋 보정부
341 : 표시 장치
361 : 감마 변환부
362 : 화상 처리부
363 : 번인 보정부
381 : 역감마 변환부
382 : 계조 보정부
391 : 오프셋량 산출부
392 : 오프셋 보정부
401 : 표시 장치
421 : 번인 보정부
422 : 표시부
441 : 기울기 보정부
442 : 계조 보정부
443 : 검출부
444 : 유지부
461 : 보정량 생성부
462 : 열화곡선 추정부
501 : 표시 장치
521 : 동기 신호 생성부
522 : 신호 합성부
523 : 표시부
541 : 텔레비전 수상기

Claims (9)

  1. 화상의 표시용으로 이용되는 제1의 발광 소자를 발광시키기 위한 화상 신호와, 휘도의 계측용으로 이용되는 제2의 발광 소자를 발광시키기 위한 더미 화소 신호에 의해 구성되는 제1의 합성 신호를 생성하는 신호 합성부와,
    생성된 상기 제1의 합성 신호를, 상기 제1의 발광 소자 및 상기 제2의 발광 소자 중, 상기 제1의 발광 소자만을 상기 제1의 발광 소자의 열화의 정도에 관계없이, 동일한 휘도로 발광시키기 위한 제2의 합성 신호로 변환하는 변환부와,
    상기 제2의 합성 신호에 의거하여, 상기 제1의 발광 소자, 및 상기 제2의 발광 소자를 발광시키는 발광 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 처리 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 변환부는, 상기 제2의 발광 소자의 휘도를 계측하는 계측부에 의한 휘도의 계측 결과에 의거하여, 상기 제1의 합성 신호를 상기 제2의 합성 신호로 변환하는 것을 특징으로 하는 신호 처리 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 변환부는, 상기 제1의 합성 신호에 포함되는 상기 화상 신호를, 상기 제1의 발광 소자의 열화의 정도에 관계없이, 상기 제1의 발광 소자를 동일한 휘도로 발광시키기 위한 화상 신호로 보정함에 의해, 상기 제1의 합성 신호를, 보정 후의 상기 화상 신호를 포함하는 상기 제2의 합성 신호로 변환하는 것을 특징으로 하는 신호 처리 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 변환부는, 또한, 상기 제1의 합성 신호에 포함되는 상기 더미 화소 신호를, 상기 제1의 합성 신호에 포함되는 상기 더미 화소 신호와 동일한 것으로 보정함에 의해, 상기 제1의 합성 신호를 상기 제2의 합성 신호로 변환하는 것을 특징으로 하는 신호 처리 장치.
  5. 제2항에 있어서,
    화상을 표시하는 표시 화면을 가지며, 상기 제1의 발광 소자, 상기 제2의 발광 소자, 및 상기 계측부를 내장하는 표시부를 또한 포함하고,
    상기 발광 제어부는,
    상기 제2의 합성 신호에 포함되는 상기 화상 신호에 의거하여, 상기 제1의 발광 소자를 발광시킴에 의해 상기 표시 화면에 화상을 표시시키고,
    상기 제2의 합성 신호에 포함되는 상기 더미 화소 신호에 의거하여, 상기 제2의 발광 소자를 발광시킴에 의해 상기 계측부에 휘도의 계측을 행하게 하는 것을 특징으로 하는 신호 처리 장치.
  6. 신호를 처리하는 신호 처리 장치의 신호 처리 방법에 있어서,
    상기 신호 처리 장치에 의한,
    화상의 표시용으로 이용되는 제1의 발광 소자를 발광시키기 위한 화상 신호와, 휘도의 계측용으로 이용되는 제2의 발광 소자를 발광시키기 위한 더미 화소 신호에 의해 구성되는 제1의 합성 신호를 생성하는 신호 합성 스텝과,
    생성된 상기 제1의 합성 신호를, 상기 제1의 발광 소자 및 상기 제2의 발광 소자 중, 상기 제1의 발광 소자만을 상기 제1의 발광 소자의 열화의 정도에 관계없이, 동일한 휘도로 발광시키기 위한 제2의 합성 신호로 변환하는 변환 스텝과,
    상기 제2의 합성 신호에 의거하여, 상기 제1의 발광 소자, 및 상기 제2의 발광 소자를 발광시키는 발광 제어 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 처리 방법.
  7. 컴퓨터를,
    화상의 표시용으로 이용되는 제1의 발광 소자를 발광시키기 위한 화상 신호와, 휘도의 계측용으로 이용되는 제2의 발광 소자를 발광시키기 위한 더미 화소 신호에 의해 구성되는 제1의 합성 신호를 생성하는 신호 합성부와,
    생성된 상기 제1의 합성 신호를, 상기 제1의 발광 소자 및 상기 제2의 발광 소자 중, 상기 제1의 발광 소자만을 상기 제1의 발광 소자의 열화의 정도에 관계없이, 동일한 휘도로 발광시키기 위한 제2의 합성 신호로 변환하는 변환부와,
    상기 제2의 합성 신호에 의거하여, 상기 제1의 발광 소자, 및 상기 제2의 발광 소자를 발광시키는 발광 제어부로서 기능시키기 위한 프로그램.
  8. 신호를 처리하는 신호 처리 장치를 내장하는 전자 기기에 있어서,
    상기 신호 처리 장치는,
    화상의 표시용으로 이용되는 제1의 발광 소자를 발광시키기 위한 화상 신호와, 휘도의 계측용으로 이용되는 제2의 발광 소자를 발광시키기 위한 더미 화소 신호에 의해 구성되는 제1의 합성 신호를 생성하는 신호 합성부와,
    생성된 상기 제1의 합성 신호를, 상기 제1의 발광 소자 및 상기 제2의 발광 소자 중, 상기 제1의 발광 소자만을 상기 제1의 발광 소자의 열화의 정도에 관계없이, 동일한 휘도로 발광시키기 위한 제2의 합성 신호로 변환하는 변환부와,
    상기 제2의 합성 신호에 의거하여, 상기 제1의 발광 소자, 및 상기 제2의 발광 소자를 발광시키는 발광 제어부를 갖는 것을 특징으로 하는 전자 기기.
  9. 화상의 표시용으로 이용되는 제1의 발광 소자를 발광시키기 위한 화상 신호와, 휘도의 계측용으로 이용되는 제2의 발광 소자를 발광시키기 위한 더미 화소 신호에 의해 구성되는 제1의 합성 신호를 생성하는 신호 합성부와,
    생성된 상기 제1의 합성 신호를, 상기 제1의 발광 소자 및 상기 제2의 발광 소자 중, 상기 제1의 발광 소자만에 흐르는 전류량을 상기 제1의 발광 소자의 발광 시간에 응하여 증가시키는 제2의 합성 신호로 변환하는 변환부와,
    상기 제2의 합성 신호에 의거하여, 상기 제1의 발광 소자, 및 상기 제2의 발광 소자를 발광시키는 발광 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 처리 장치.
KR1020147009791A 2011-11-16 2012-11-08 신호 처리 장치, 신호 처리 방법, 프로그램, 및 전자 기기 KR20140098058A (ko)

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