WO2012147139A1 - 半導体集積回路システムおよびそれを備えた電子機器、電気製品、移動体 - Google Patents
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Definitions
- the present invention relates to a semiconductor integrated circuit system, and more particularly to a technique for controlling a power supply voltage supplied to a semiconductor integrated circuit.
- the semiconductor integrated circuit operates by receiving a power supply voltage supplied from the power supply device. Since parasitic resistance is generated on the PCB substrate, the power supply voltage output from the power supply device gradually decreases. In order to suppress such a voltage drop, generally, the power supply voltage is divided by a voltage dividing resistor provided between the power supply device and the semiconductor integrated circuit, and the divided voltage is fed back to the power supply device to Control is in progress.
- a stable power supply voltage can be supplied to the semiconductor integrated circuit, but since the resistance ratio of the voltage dividing resistor cannot be changed dynamically, the power supply can be controlled in accordance with the operating state of the semiconductor integrated circuit. Can not. That is, even if the operating state of the semiconductor integrated circuit changes, the supplied voltage is fixed, and it is difficult to reduce power consumption.
- FIG. 16 is a block diagram illustrating a configuration of a conventional electronic device.
- the conventional electronic device includes a power supply device 140 and a semiconductor integrated circuit system including a power supply circuit 141, a power detection correction circuit 142, and a semiconductor integrated circuit 143.
- the semiconductor integrated circuit 143 a plurality of circuits for detecting various characteristics of the semiconductor integrated circuit 143 such as a soft error detection circuit are provided.
- the power supply voltage generated by the power supply device 140 is adjusted by the power supply circuit 141 and the power detection correction circuit 142 according to the result detected by these detection circuits, and is supplied to the semiconductor integrated circuit 143.
- ⁇ ⁇ Dynamic power control with high resolution can be realized by using a high-performance power supply device having a power management function, but a high-performance power supply device is generally expensive. Further, in order to realize high-resolution power control, it is necessary to use the semiconductor integrated circuit system in combination with a high-performance power supply device, and it cannot be applied to an inexpensive power supply device such as a switching regulator.
- the present invention is a semiconductor integrated circuit system that can dynamically control a high-resolution power supply with a relatively simple configuration and can be applied to an inexpensive power supply device having various specifications. It is an issue to provide.
- the present invention has taken the following solutions. For example, in a semiconductor integrated circuit system including a semiconductor integrated circuit that is supplied with a power supply voltage from a power supply device that generates a power supply voltage having a magnitude corresponding to an analog control signal, the semiconductor integrated circuit receives a power supply voltage.
- a voltage detection circuit connected between the wiring and the first and second terminals and detecting the voltage of the internal wiring and a voltage detection circuit connected between the first and second terminals and detected by the voltage detection circuit
- a resistance voltage dividing circuit that divides the power supply voltage by a resistor at a voltage dividing ratio corresponding to the magnitude and generates an analog control signal. Then, outside the semiconductor integrated circuit, a resistance element is connected between at least one of the first and third terminals and between the second and third terminals.
- the semiconductor integrated circuit receives the power supply voltage.
- a voltage detection circuit connected between the second terminals for detecting the voltage of the internal wiring and a voltage detection circuit connected between the fourth and fifth terminals and detected by the voltage detection circuit.
- a resistance element is connected between at least one of the first and fourth terminals and between the second and fifth terminals.
- a semiconductor integrated circuit includes: A first terminal for receiving a power supply voltage, a second terminal connected to the ground potential, a third terminal for outputting a second analog control signal, and the first terminal; Connected between the internal wiring for distributing the power supply voltage to the respective parts, and the first and second terminals, connected between the voltage detection circuit for detecting the voltage of the internal wiring, and the first and second terminals, And a resistance voltage dividing circuit that generates a second analog control signal by dividing the power supply voltage by a resistor at a voltage dividing ratio corresponding to the magnitude of the voltage detected by the voltage detection circuit.
- the first and second resistance elements are connected in series between the first and third terminals and between the second and third terminals outside the semiconductor integrated circuit.
- the second analog control signal is divided by the first and second resistance elements to generate the first analog control signal.
- the power supply apparatus is feedback-controlled by the analog control signal generated based on the internal voltage of the semiconductor integrated circuit, so that voltage control with dynamic and high resolution can be performed. Further, since the analog control signal is generated by the resistance voltage dividing circuit, the circuit configuration of the semiconductor integrated circuit can be relatively simple.
- the semiconductor integrated circuit system can be applied to an inexpensive power supply device having various specifications, such as a switching regulator.
- the resistance ratio of the resistance voltage dividing circuit provided in the semiconductor integrated circuit is determined based on the power supply voltage output from the power supply device and the feedback to the power supply device when the voltage supplied to the semiconductor integrated circuit is stable. Is set based on the relationship with the analog control signal. In general, this relationship is determined by the specifications of the power supply device. That is, since the resistance ratio of the resistance voltage dividing circuit is determined according to the specifications of the power supply device, a value taken by an analog control signal to be fed back to a semiconductor integrated circuit manufactured according to the specifications of a certain power supply device, for example. However, it cannot be applied to power supply units with different specifications.
- the semiconductor integrated circuit system of the present invention the voltage output from the power supply device is reduced by the resistance element provided outside the semiconductor integrated circuit and the resistance voltage dividing circuit inside the semiconductor integrated circuit. Divided pressure. That is, an appropriate analog control signal to be fed back can be generated by setting a resistance value of a resistance element provided outside the semiconductor integrated circuit according to the specifications of the power supply device. Therefore, the semiconductor integrated circuit system can be easily applied to various power supply devices having different specifications.
- the present invention it is possible to provide a semiconductor integrated circuit system that can dynamically control a high-resolution power supply with a relatively simple configuration and that can be applied to an inexpensive power supply device having various specifications. it can.
- FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of the electronic apparatus according to the first embodiment.
- FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration example of the resistance voltage dividing circuit of FIG.
- FIG. 3 is a circuit diagram showing another configuration example of the resistance voltage dividing circuit of FIG.
- FIG. 4 is a block diagram illustrating a configuration of an electronic apparatus according to a modified example of the first embodiment.
- FIG. 5 is a block diagram illustrating a configuration of an electronic apparatus according to another modification of the first embodiment.
- FIG. 6 is a block diagram illustrating a configuration of an electronic device according to the second embodiment.
- FIG. 7 is a block diagram illustrating a configuration of an electronic apparatus according to a modification of the second embodiment.
- FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of the electronic apparatus according to the first embodiment.
- FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration example of the resistance voltage dividing circuit of FIG.
- FIG. 3 is a circuit diagram showing another configuration example of the resistance voltage dividing
- FIG. 8 is a block diagram illustrating a configuration of an electronic device according to another modification of the second embodiment.
- FIG. 9 is a block diagram illustrating a configuration of an electronic device according to the third embodiment.
- FIG. 10 is a block diagram illustrating a configuration of an electronic device according to a modified example of the third embodiment.
- FIG. 11 is a block diagram illustrating a configuration of a communication device according to the first application example.
- FIG. 12 is a block diagram showing a configuration of an information reproducing apparatus according to the second application example.
- FIG. 13 is a block diagram illustrating a configuration of an image display apparatus according to the third application example.
- FIG. 14 is a block diagram illustrating a configuration of an electronic device according to a fourth application example.
- FIG. 15 is a block diagram illustrating a configuration of an electronic control device according to a fifth application example.
- FIG. 16 is a block diagram illustrating a configuration of a conventional electronic device.
- FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of the electronic apparatus according to the first embodiment.
- the electronic device includes a power supply device 10 and a semiconductor integrated circuit system 20 arranged on a PCB substrate.
- the power supply 10 outputs an input terminal 11 to which a high voltage VDDH of about 5V is input, an analog control circuit 12 that steps down the high voltage VDDH to about 1.2V to generate a power supply voltage VDD, and a power supply voltage VDD.
- a first terminal 13, a second terminal 14 connected to the ground potential VSS, and a third terminal 15 that receives an analog control signal VFB that is a feedback signal from the semiconductor integrated circuit 30 are provided.
- the analog control circuit 12 compares the reference voltage VREF with the analog control signal VFB. When the reference voltage VREF is higher than the analog control signal VFB, the analog control circuit 12 outputs a relatively high power supply voltage VDD, and the reference voltage VREF is analog. When it is lower than the control signal VFB, a relatively low power supply voltage VDD is output. Thereby, the power supply apparatus 10 can generate the power supply voltage VDD having a magnitude corresponding to the analog control signal VFB.
- the power supply device 10 may be any device that generates a voltage in response to an analog signal.
- the power supply device 10 can be configured by an inexpensive power supply IC (Integrated Circuit) such as a general switching regulator.
- the semiconductor integrated circuit system 20 can be composed of a semiconductor integrated circuit 30 and a resistance element 24.
- the semiconductor integrated circuit 30 includes a first terminal 31 to which the power supply voltage VDD is input, a second terminal 32 connected to the ground potential VSS, a third terminal 33 that outputs an analog control signal VFB, and a first terminal.
- a circuit 37 and a circuit block 38 that operates in response to the power supply voltage VDD are provided.
- the voltage detection circuit 36 is connected between the internal wiring 34 and the ground wiring 35 and outputs, for example, an H level or L level digital control signal according to the voltage of the internal wiring 34.
- the voltage detection circuit 36 preferably detects a voltage near the connection point between the internal wiring 34 and the circuit block 38, but may be connected between the first and second terminals 31 and 32.
- the resistance voltage dividing circuit 37 is connected between the internal wiring 34 and the ground wiring 35.
- the voltage dividing ratio can be adjusted according to a control signal from the voltage detection circuit 36, and the power supply voltage VDD is divided and divided. As a result of the compression, an analog control signal VFB is generated.
- the resistance voltage dividing circuit 37 may be connected between the first and second terminals 31 and 32.
- the circuit block 38 operates by receiving the power supply voltage VDD distributed by the internal wiring 34.
- the circuit block 38 can be composed of a single logic circuit element, a plurality of logic circuit elements, a single device, or a plurality of devices.
- the resistance element 24 is provided outside the semiconductor integrated circuit 30. Specifically, the resistance element 24 is connected between the first and third wirings 21 and 23.
- the first wiring 21 is connected between the first terminal 13 of the power supply device 10 and the first terminal 31 of the semiconductor integrated circuit 30.
- the second wiring 22 is connected between the second terminal 14 of the power supply device 10 and the second terminal 32 of the semiconductor integrated circuit 30.
- the third wiring 23 is connected between the third terminal 15 of the power supply device 10 and the third terminal 33 of the semiconductor integrated circuit 30.
- the resistance element 24 may be connected between the first and third terminals 31 and 33 outside the semiconductor integrated circuit 30.
- FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration example of a resistance voltage dividing circuit.
- the resistance voltage dividing circuit 37 includes a first resistance circuit 371 connected between the first and third terminals 31 and 33, and a second resistance circuit connected between the second and third terminals 32 and 33.
- a resistor circuit 372 can be used.
- the first resistance circuit 371 includes a plurality of resistance elements 373 connected in series between the internal wiring 34 and the third terminal 33, and a plurality of resistance elements 373 that are conductively controlled according to a control signal output from the voltage detection circuit 36.
- a switch element 374 can be used.
- the plurality of resistance elements 373 may be connected between the first and third terminals 31 and 33.
- Each switch element 374 is a PMOS transistor, for example, and is connected between the internal wiring 34 and the connection point of each resistance element 373.
- Each switch element 374 may be connected between the third terminal 33 and the connection point of each resistance element 373, and may be connected in parallel to at least one of the plurality of resistance elements 373.
- one of the plurality of switch elements 374 is controlled to be turned on / off in accordance with a control signal output from the voltage detection circuit 36, whereby the resistance value of the first resistance circuit 371 changes.
- the plurality of switch elements 374 may be on / off controlled.
- the PMOS_1 may be on-controlled while the PMOS_2 is on-controlled.
- PMOS_1 to PMOS_m (m is an integer greater than or equal to 2) in the figure are codes assigned to identify each switch element 374 which is a PMOS transistor.
- the second resistance circuit 372 includes a plurality of resistance elements 375 connected in series between the third terminal 33 and the ground wiring 35, and a plurality of resistance elements 375 that are conduction controlled according to a control signal output from the voltage detection circuit 36.
- a switch element 376 can be used.
- the plurality of resistance elements 375 may be connected between the second and third terminals 32 and 33.
- Each switch element 376 is an NMOS transistor, for example, and is connected between the ground wiring 35 and the connection point of each resistance element 375.
- Each switch element 376 may be connected between the third terminal 33 and the connection point of each resistance element 375, or may be connected in parallel to at least one of the plurality of resistance elements 375.
- one of the plurality of switch elements 376 is controlled to be turned on / off in accordance with a control signal output from the voltage detection circuit 36, whereby the resistance value of the second resistance circuit 372 changes.
- the plurality of switch elements 376 may be on / off controlled.
- NMOS_n n is a natural number of 2 or more
- NMOS_1 to NMOS_n ⁇ 1 may be on-controlled.
- NMOS_1 to NMOS_n in the figure are symbols given to identify each switch element 376 which is an NMOS transistor.
- the power supply voltage VDD can be calculated by the following equation.
- the resistance value of each resistance element 373 of the first resistance circuit 371 is R1_1 to R1_m + 1
- the resistance value of each resistance element 375 of the second resistance circuit 372 is R2_1.
- the switch elements 374 and 376 of the first and second resistance circuits 371 and 372 are all in the OFF state
- VDD ([R1_1] + [R1_2] + [R1_3] +...
- the resistance voltage dividing circuit 37 may be configured as shown in FIG.
- FIG. 3 is a circuit diagram showing another configuration example of the resistance voltage dividing circuit.
- the common reference numerals in FIGS. 2 and 3 indicate the same components, and differences will be described.
- the first resistance circuit 371 includes a plurality of resistance elements 373 connected in parallel between the internal wiring 34 and the third terminal 33, and a plurality of switch elements 374 connected in series to each of the resistance elements 373. Composed.
- the switch element 374 may be provided in at least one of a plurality of paths connecting the first and third terminals 31 and 33, which are configured by the plurality of resistance elements 373.
- the second resistance circuit 372 includes a plurality of resistance elements 375 connected in parallel between the third terminal 33 and the ground wiring 35, and a plurality of switch elements 376 connected in series to each of the resistance elements 375. Composed.
- the switch element 376 only needs to be provided in at least one of a plurality of paths connecting the second and third terminals 32 and 33, which are configured by the plurality of resistance elements 375.
- first and second resistance circuits 371 and 372 At least one of the plurality of switch elements 374 and 376 is on-controlled. In the first and second resistance circuits 371 and 372, combinations of switch elements 374 and 376 to be turned on / off to obtain a desired resistance value are arbitrary.
- VDD (1 / (1 / [R1_1] + 1 / [R1_2] + 1 / [R1_3] +... + 1 / [R1_m-1] + 1 / [R1_m]) + 1 / (1 / [R2_n] + 1 / [ R2_n-1] + ...
- the resistance voltage dividing circuit 37 shown in FIG. 3 can also control the voltage dividing ratio of the power supply voltage VDD by the on / off control of the switch elements 374 and 376, similarly to the resistance voltage dividing circuit 37 shown in FIG.
- the analog control signal VFB can be finely adjusted as the number of resistance elements 373 and 375 and switch elements 374 and 376 increases. Therefore, power supply control can be performed with high resolution, but at least one switch element 374 and 376 may be provided.
- the first and second resistance circuits 371 and 372 may have a configuration in which a resistance element connected in series and a resistance element connected in parallel may be combined as long as the resistance value can be changed by a control signal. .
- the analog control signal VFB can be dynamically adjusted at a fine level with a relatively simple configuration. Therefore, the analog control signal VFB can be adjusted dynamically without using a power supply device having a power management function. High resolution power supply control can be realized relatively easily. Therefore, it is possible to reduce the power consumption and cost of the electronic device.
- the configuration of the present embodiment allows the semiconductor integrated circuit 30 to be controlled.
- the semiconductor integrated circuit system 20 can be applied to an inexpensive power supply device with various specifications without changing the design. This point will be described below.
- a semiconductor integrated circuit is manufactured so that a supplied power supply voltage and a voltage to be fed back match the specifications of the power supply device. For example, when using a power supply device having a specification in which the power supply voltage is 1.2 V and the feedback voltage is 0.7 V in a stable state, the resistance voltage dividing circuit divides the power supply voltage of 1.2 V, The resistance value is designed to feed back a voltage of 0.7V. That is, the semiconductor integrated circuit is manufactured on the assumption that it is used in a power supply device having a predetermined specification. Therefore, when the specification of the power supply device is changed during the manufacture of the semiconductor integrated circuit, the manufactured semiconductor integrated circuit cannot be applied to the power supply device after the specification change. The integrated circuit needs to be remanufactured.
- the resistance value of the resistance element 24 provided outside the semiconductor integrated circuit 30 is set so as to match the changed specification. Since the semiconductor integrated circuit 30 can be applied to power supply devices having different specifications, it is not necessary to remanufacture the semiconductor integrated circuit 30. In other words, the semiconductor integrated circuit system 20 can be applied to power supply devices having various specifications by appropriately setting the resistance value of the resistance element 24 according to the specifications of the power supply device.
- the operation of the voltage detection circuit 36 becomes unstable, an erroneous control signal is output, and the switch elements 374 and 376 in the resistance voltage dividing circuit 37 are output. On-off control may not be performed normally. In this case, the desired analog control signal VFB cannot be generated in the resistance voltage dividing circuit 37, and the power supply voltage VDD generated by the power supply device 10 may become unstable. That is, power supply control cannot be performed normally, and the operation of the semiconductor integrated circuit 30 may become unstable.
- the resistance element 24 outside the semiconductor integrated circuit 30, it is possible to feed back a voltage that follows the fluctuation of the power supply voltage VDD. This is because if the power supply voltage VDD on one end side of the resistance element 24 increases, for example, the voltage on the other end side of the resistance element 24 also increases. Therefore, even if the on / off control of the switch elements 374 and 376 in the resistance voltage dividing circuit 37 cannot be normally performed immediately after the power supply device 10 is started up, the resistance value of the resistance element 24 provided outside is set to a desired voltage. If the value is set such that it can be fed back, a stable power supply voltage VDD can be generated, and the operation of the semiconductor integrated circuit 30 can be stabilized. When the resistance value of the resistance element 24 is set to the above-described value, it is preferable to control the resistance value in the resistance voltage dividing circuit 37 in consideration of the resistance value.
- the resistance element 24 be connected to at least one of the first and third terminals 31 and 33 and between the second and third terminals 32 and 33 outside the semiconductor integrated circuit 30.
- a resistance element 24 may be connected between the second and third wirings 22 and 23 as shown in FIG.
- the resistive element 24 may be connected between the first and third wirings 21 and 23 and between the second and third wirings 22 and 23.
- FIG. 6 is a block diagram of an electronic device according to the second embodiment. Since common reference numerals in FIGS. 1 and 6 indicate the same components, differences will be described.
- the resistance element 24 and the resistance elements 373 and 375 in the resistance voltage dividing circuit 37 are connected in parallel, whereas in the second embodiment, they are connected in series. .
- the semiconductor integrated circuit 30 includes fourth and fifth terminals 41 and 42.
- the fourth terminal 41 is connected to the first wiring 21 via the resistance element 24 outside the semiconductor integrated circuit 30.
- the fifth terminal 42 is short-circuited to the second terminal 32 outside the semiconductor integrated circuit 30.
- the resistance voltage dividing circuit 37 is connected between the fourth and fifth terminals 41 and 42.
- the first resistance circuit 371 according to the present embodiment (see FIGS. 3 and 4) is substantially the same as the configuration shown in FIGS. 3 and 4, but is connected between the third and fourth terminals 33 and 41. This is different from the first embodiment.
- the second resistance circuit 372 according to the present embodiment (see FIGS. 3 and 4) is substantially the same as the configuration shown in FIGS. 3 and 4, but between the third and fifth terminals 33 and 42. It is different from the first embodiment in that it is connected to. With such a configuration, the resistance voltage dividing circuit 37 can divide the voltage applied between the fourth and fifth terminals 41 and 42.
- the resistance element 24 is connected to at least one of the first and fourth terminals 31 and 41 and the second and fifth terminals 32 and 42 outside the semiconductor integrated circuit 30.
- the first and fourth terminals 31 and 41 may be short-circuited, and the resistance element 24 may be connected between the second wiring 22 and the fifth terminal 42.
- FIG. 9 is a block diagram of an electronic apparatus according to the third embodiment. Since common reference numerals in FIGS. 1 and 9 indicate the same components, differences will be described.
- the third terminal 15 of the power supply device 10 and the third terminal 33 of the semiconductor integrated circuit 30 are connected by the third wiring 23, whereas in the third embodiment, The third terminal 15 of the power supply device 10 and the third terminal 33 of the semiconductor integrated circuit 30 are connected via the third wiring 23 and the resistance element 24.
- two resistance elements 24 as first and second resistance elements are connected in series between the first and third wirings 21 and 23, and the third terminal of the power supply device 10.
- a connection node 25 of these resistance elements 24 is connected to 15.
- the analog control signal VFB2 (second analog control signal) output from the third terminal 33 of the semiconductor integrated circuit 30 is divided by the two resistance elements 24, and the analog control signal VFB1 ( A first analog control signal) is generated.
- the analog control signal VFB1 is input from the node 25 to the third terminal 15 of the power supply device 10.
- two resistance elements 24 may be connected in series between the second and third wirings 32 and 33. That is, the two resistance elements 24 are connected in series between the first and third terminals 31 and 33 and between the second and third terminals 32 and 33 outside the semiconductor integrated circuit 30. It only has to be done.
- the number of resistance elements 24 may be three or more. That is, the analog control signal VFB2 may be divided by the resistive element 24 and the analog control signal VFB1 may be fed back.
- the value taken by the analog control signal to be fed back can be further expanded.
- the analog control signal VFB obtained by dividing the resistance by combining the resistance voltage dividing circuit 37 in the semiconductor integrated circuit 30 and the resistance element 24 outside the semiconductor integrated circuit 30 is the power supply device. 10 is fed back.
- the analog signal VFB ⁇ b> 2 that has been resistance-divided by the resistance voltage dividing circuit 37 in the semiconductor integrated circuit 30 is again resistance-divided by the resistance element 24 outside the semiconductor integrated circuit 30, and An analog control signal VFB1 to be fed back is generated.
- the value taken by the analog control signal to be fed back becomes wider, so that the semiconductor integrated circuit system 20 according to the present embodiment can be applied to a power supply device having a specification in which the feedback voltage is wider.
- the resistance values of the respective resistance elements 373 and 375 shown in FIGS. 3 and 4 may be the same or different.
- FIG. 11 is a block diagram illustrating a communication device that is an example of an electrical product.
- the communication device shown in FIG. 11 is a mobile phone, for example.
- the electronic device is mounted on a baseband LSI 101 (Large Scale Integration) and an application LSI 102.
- baseband LSI 101 Large Scale Integration
- power control is periodically performed by an internal timer. Further, the power supply control is performed by changing the operation state of the circuit block (see FIG. 1) in the semiconductor integrated circuit 30 in accordance with a control signal received by the antenna and input via the high frequency transmission / reception interface unit. .
- the application LSI 102 performs power supply control by changing the operation state of the circuit block in the semiconductor integrated circuit 30 in accordance with a control signal input from the keyboard or the like via the interface unit.
- the communication device should not be limited to a mobile phone.
- a transmitter / receiver in a communication system and a modem device for performing data transmission are included. That is, regardless of whether it is wired / wireless, optical communication / electric communication, any of a digital method and an analog method may be used.
- FIG. 12 is a block diagram illustrating an information reproducing apparatus that is an example of an electrical product.
- the information reproducing device shown in FIG. 12 is an AV device such as an optical disk device.
- the electronic device is mounted on a media signal processing LSI 201 that processes a signal read from an optical disc, and an error correction / servo processing LSI 202 that performs error correction of the signal and servo control of an optical pickup.
- the media signal processing LSI 201 performs power supply control based on infrared input, button input, radio wave input from an antenna, DVD signal output, and the like.
- the error correction / servo processing LSI 202 performs power control based on infrared input, button input, DVD signal output, and the like.
- the information reproducing apparatus should not be limited to the optical disk apparatus.
- an image recording / reproducing apparatus incorporating a magnetic disk, an information recording / reproducing apparatus using a semiconductor memory as a medium, and the like are included. That is, an information reproducing apparatus including an information recording function may be used regardless of the medium on which the information is recorded.
- FIG. 13 is a block diagram illustrating an image display device which is an example of an electrical product.
- the image display device shown in FIG. 13 is, for example, a television receiver.
- the electronic devices are mounted on an image / audio processing LSI 301 that processes image signals and audio signals, and a display / sound source control LSI 302 that controls devices such as a display screen and a speaker.
- Each of the image / sound processing LSI 301 and the display / sound source control LSI 302 performs power supply control based on infrared input, button input, radio wave input from an antenna, video input, and the like.
- the image display device should not be limited to a television receiver.
- a device for displaying streaming data distributed through a telecommunication line is included. That is, any image display apparatus is included regardless of the information transmission method.
- FIG. 14 is a block diagram illustrating an electronic device which is an example of an electrical product.
- the electronic device illustrated in FIG. 14 is an imaging device such as a digital camera.
- the electronic device is mounted on the signal processing LSI 401.
- the signal processing LSI 401 performs power supply control based on infrared input, button input, CCD (Charge Coupled Device) output, and the like.
- the electronic device should not be limited to a digital camera. In addition to this, for example, it includes all devices including a semiconductor integrated circuit such as various sensor devices and electronic computers.
- FIG. 15 is a block diagram illustrating an electronic control device and a navigation device, which are examples of electrical products.
- the electronic control device shown in FIG. 15 includes an engine / transmission LSI 501 that controls an engine and a transmission of an automobile or the like.
- the navigation apparatus also includes a navigation LSI 502.
- the electronic devices are mounted on the engine / transmission LSI 501 and the navigation LSI 502.
- the engine / transmission LSI 501 senses the operation of the accelerator, brake, gear, and the like, and performs power control based on these states.
- the navigation LSI 502 senses radio wave input, infrared input, button input, etc. from a TV antenna or the like, and performs power supply control based on these inputs.
- the electronic control device should not be limited to the one that controls the engine or transmission.
- a motor control device or the like which includes a general semiconductor integrated circuit and a device for controlling a power source, is included.
- the electronic control device shown in FIG. 15 can be applied to a moving body other than an automobile. That is, the electronic device mounted on the electronic control device can be applied to all devices including an electronic control device that controls an engine, a motor, and the like that are power sources, such as trains, airplanes, and ships.
- each application example it is possible to reduce power consumption and cost.
- a function may be added or the configuration may be changed.
- the electrical product may be other than the application examples described above.
- the functions included in each of the LSIs described above can be freely changed as long as integration is possible.
- the semiconductor integrated circuit system according to the present invention can reduce power consumption and cost, it is useful for various electric products. Furthermore, since it is possible to easily cope with a change in the specifications of the power supply device, for example, it is useful for suppressing an increase in man-hours for manufacturing electronic devices due to the change in the specifications.
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Abstract
半導体集積回路システム(20)は、電源電圧を受ける第1の端子(31)と、グランド電位に接続された第2の端子(32)と、アナログ制御信号を出力する第3の端子(33)と、第1の端子に接続された内部配線(34)と、内部配線の電圧を検出する電圧検出回路(36)と、第1および第2の端子の間に接続され、電圧検出回路によって検出された電圧の大きさに応じた分圧比で電源電圧を分圧して、アナログ制御信号を生成する抵抗分圧回路(37)とを有する半導体集積回路(30)を備え、半導体集積回路の外部において、第1および第3の端子の間、ならびに第2および第3の端子の間のうち少なくとも一方には、抵抗素子(24)が接続されている。
Description
本発明は、半導体集積回路システムに関し、特に、半導体集積回路に供給される電源電圧を制御する技術に関する。
近年、電子機器には、低消費電力化が求められている。PCB(Printed Circuit Board)基板上に配置された、電源装置と半導体集積回路とで構成される電子機器において、半導体集積回路は、電源装置から供給される電源電圧を受けて動作する。PCB基板上には寄生抵抗が生じることから、電源装置から出力された電源電圧は徐々に低下する。このような電圧低下を抑制するために、一般に、電源装置と半導体集積回路との間に設けられた分圧抵抗器によって電源電圧を分圧し、分圧した電圧を電源装置にフィードバックして、電源制御を行っている。これにより、半導体集積回路に安定した電源電圧を供給することができるが、分圧抵抗器の抵抗比を動的に変更できないため、半導体集積回路の動作状態等に応じた電源制御をすることができない。すなわち、半導体集積回路の動作状態が変化しても、供給される電圧は固定的であるため、消費電力を低減することが困難である。
そこで、従来、半導体集積回路の特性等に応じて、電源装置から出力された電源電圧を制御することで、低消費電力化を図っているものがある(例えば、特許文献1参照)。図16は、従来の電子機器の構成を示すブロック図である。図16に示すように、従来の電子機器は、電源装置140と、電源回路141、電力検知補正回路142、および半導体集積回路143からなる半導体集積回路システムとで構成される。半導体集積回路143内には、ソフトエラー検知回路等、半導体集積回路143の各種特性を検知する回路が複数設けられている。電源装置140で生成された電源電圧は、これら検知回路によって検知された結果に応じて、電源回路141および電力検知補正回路142で調整されて、半導体集積回路143に供給される。
図16に示す従来の電子機器によると、半導体集積回路143の動作状態に応じた動的な電源制御が可能であるが、電源電圧を調整するための電源回路141および電力検知補正回路142の構成が非常に複雑である。また、半導体集積回路143内に各種検知回路が必要となる。したがって、半導体集積回路システムの設計が困難であることに加えて、製造コストが増加してしまう。
パワーマネージメント機能を有する高機能な電源装置を用いることで、動的で分解能が高い電源制御を実現することができるが、高機能な電源装置は一般にコストが高い。また、高分解能の電源制御を実現するためには、半導体集積回路システムを、高機能な電源装置とセットで用いる必要があり、例えばスイッチングレギュレータのような安価な電源装置に適用することができない。
かかる点に鑑みて、本発明は、比較的簡単な構成で、高分解能の電源制御を動的に行うことができ、かつ、様々な仕様の、安価な電源装置に適用可能な半導体集積回路システムを提供することを課題とする。
上記課題を解決するため本発明によって次のような解決手段を講じた。例えば、アナログ制御信号に応じた大きさの電源電圧を生成する電源装置から、当該電源電圧が供給される半導体集積回路を備えた半導体集積回路システムにおいて、半導体集積回路は、電源電圧を受ける第1の端子と、グランド電位に接続された第2の端子と、アナログ制御信号を出力する第3の端子と、第1の端子に接続され、当該半導体集積回路内部の各部に電源電圧を分配する内部配線と、第1および第2の端子の間に接続され、内部配線の電圧を検出する電圧検出回路と、第1および第2の端子の間に接続され、電圧検出回路によって検出された電圧の大きさに応じた分圧比で電源電圧を抵抗によって分圧して、アナログ制御信号を生成する抵抗分圧回路とを備えている。そして、半導体集積回路の外部において、第1および第3の端子の間、ならびに第2および第3の端子の間のうち少なくとも一方には、抵抗素子が接続されている。
あるいは、アナログ制御信号に応じた大きさの電源電圧を生成する電源装置から、当該電源電圧が供給される半導体集積回路を備えた別の半導体集積回路システムとして、半導体集積回路は、電源電圧を受ける第1の端子と、グランド電位に接続された第2の端子と、アナログ制御信号を出力する第3の端子と、当該半導体集積回路の外部において第1の端子と接続される第4の端子と、当該半導体集積回路の外部において第2の端子と接続される第5の端子と、第1の端子に接続され、当該半導体集積回路内部の各部に電源電圧を分配する内部配線と、第1および第2の端子の間に接続され、内部配線の電圧を検出する電圧検出回路と、第4および第5の端子の間に接続され、電圧検出回路によって検出された電圧の大きさに応じた分圧比で、第4および第5の端子の間に与えられる電圧を抵抗によって分圧して、アナログ制御信号を生成する抵抗分圧回路とを備えている。そして、半導体集積回路の外部において、第1および第4の端子の間、ならびに第2および第5の端子の間のうち少なくとも一方には、抵抗素子が接続されている。
また、第1のアナログ制御信号に応じた大きさの電源電圧を生成する電源装置から、当該電源電圧が供給される半導体集積回路を備えたさらに別の半導体集積回路システムとして、半導体集積回路は、電源電圧を受ける第1の端子と、グランド電位に接続された第2の端子と、第2のアナログ制御信号を出力する第3の端子と、第1の端子に接続され、当該半導体集積回路内部の各部に電源電圧を分配する内部配線と、第1および第2の端子の間に接続され、内部配線の電圧を検出する電圧検出回路と、第1および第2の端子の間に接続され、電圧検出回路によって検出された電圧の大きさに応じた分圧比で電源電圧を抵抗によって分圧して、第2のアナログ制御信号を生成する抵抗分圧回路とを備えている。そして、半導体集積回路の外部において、第1および第3の端子の間、ならびに第2および第3の端子の間のうちいずれか一方には、第1および第2の抵抗素子が直列接続されており、第2のアナログ制御信号を第1および第2の抵抗素子によって分圧して、第1のアナログ制御信号を生成する。
これらによると、半導体集積回路の内部電圧に基づいて生成されたアナログ制御信号によって電源装置がフィードバック制御されることにより、動的でかつ分解能が高い電圧制御を行うことができる。さらに、アナログ制御信号が抵抗分圧回路によって生成される構成であるため、半導体集積回路の回路構成が比較的簡単で済む。
また、半導体集積回路システムを、様々な仕様の、例えばスイッチングレギュレータ等の安価な電源装置に適用することができる。具体的に、半導体集積回路に設けられた抵抗分圧回路の抵抗比は、半導体集積回路に供給される電圧が安定している場合における、電源装置から出力される電源電圧と、電源装置にフィードバックされるアナログ制御信号との関係に基づいて設定される。一般に、この関係は、電源装置の仕様によって決まっている。つまり、抵抗分圧回路の抵抗比は、電源装置の仕様に応じて決定されるため、ある電源装置の仕様に応じて製造された半導体集積回路を、例えば、フィードバックすべきアナログ制御信号の取る値が異なる、別の仕様の電源装置に適用することができない。
これに対して、本発明に係る半導体集積回路システムによれば、半導体集積回路の外部に設けられた抵抗素子、および半導体集積回路の内部の抵抗分圧回路によって、電源装置から出力された電圧が分圧される。つまり、電源装置の仕様に応じて、半導体集積回路の外部に設けられた抵抗素子の抵抗値を設定することで、フィードバックすべき適切なアナログ制御信号を生成することができる。したがって、半導体集積回路システムを、仕様が異なる様々な電源装置に容易に適用することができる。
本発明によると、比較的簡単な構成で、高分解能の電源制御を動的に行うことができ、かつ、様々な仕様の、安価な電源装置に適用可能な半導体集積回路システムを提供することができる。
<第1の実施形態>
図1は、第1の実施形態に係る電子機器の構成を示すブロック図である。電子機器は、PCB基板上に配置された、電源装置10と、半導体集積回路システム20とを備えている。電源装置10は、5V程度の高電圧VDDHが入力される入力端子11と、高電圧VDDHを1.2V程度に降圧して電源電圧VDDを生成するアナログ制御回路12と、電源電圧VDDを出力する第1の端子13と、グランド電位VSSに接続された第2の端子14と、半導体集積回路30からのフィードバック信号であるアナログ制御信号VFBを受ける第3の端子15と、を備えている。
図1は、第1の実施形態に係る電子機器の構成を示すブロック図である。電子機器は、PCB基板上に配置された、電源装置10と、半導体集積回路システム20とを備えている。電源装置10は、5V程度の高電圧VDDHが入力される入力端子11と、高電圧VDDHを1.2V程度に降圧して電源電圧VDDを生成するアナログ制御回路12と、電源電圧VDDを出力する第1の端子13と、グランド電位VSSに接続された第2の端子14と、半導体集積回路30からのフィードバック信号であるアナログ制御信号VFBを受ける第3の端子15と、を備えている。
アナログ制御回路12は、基準電圧VREFとアナログ制御信号VFBとを比較して、基準電圧VREFがアナログ制御信号VFBよりも高い場合には、比較的高い電源電圧VDDを出力し、基準電圧VREFがアナログ制御信号VFBよりも低い場合には、比較的低い電源電圧VDDを出力する。これにより、電源装置10は、アナログ制御信号VFBに応じた大きさの電源電圧VDDを生成することができる。電源装置10は、アナログ信号を受けて電圧を生成するものであればよく、例えば、一般的なスイッチングレギュレータのような、安価な電源IC(Integrated Circuit)で構成することができる。
半導体集積回路システム20は、半導体集積回路30および抵抗素子24で構成することができる。半導体集積回路30は、電源電圧VDDが入力される第1の端子31と、グランド電位VSSに接続された第2の端子32と、アナログ制御信号VFBを出力する第3の端子33と、第1の端子31に接続された内部配線34と、第2の端子32に接続されたグランド配線35と、内部配線34の電圧を検出する電圧検出回路36と、アナログ制御信号VFBを生成する抵抗分圧回路37と、電源電圧VDDを受けて動作する回路ブロック38とを備えている。
電圧検出回路36は、内部配線34とグランド配線35との間に接続されており、内部配線34の電圧に応じて、例えば、HレベルまたはLレベルのデジタル制御信号を出力する。電圧検出回路36は、内部配線34と回路ブロック38との接続点近傍の電圧を検出することが好ましいが、第1および第2の端子31,32の間に接続されていてもよい。
抵抗分圧回路37は、内部配線34とグランド配線35との間に接続されており、電圧検出回路36からの制御信号に応じて分圧比が調整可能であり、電源電圧VDDを分圧し、分圧した結果としてアナログ制御信号VFBを生成する。抵抗分圧回路37は、第1および第2の端子31,32の間に接続されていてもよい。
回路ブロック38は、内部配線34によって分配された電源電圧VDDを受けて動作する。回路ブロック38は、単一の論理回路素子や複数の論理回路素子、あるいは、デバイス単体や複数のデバイスで構成することができる。
抵抗素子24は、半導体集積回路30の外部に設けられている。具体的に、抵抗素子24は、第1および第3の配線21,23の間に接続されている。第1の配線21は、電源装置10の第1の端子13と半導体集積回路30の第1の端子31との間に接続されている。第2の配線22は、電源装置10の第2の端子14と半導体集積回路30の第2の端子32との間に接続されている。また、第3の配線23は、電源装置10の第3の端子15と半導体集積回路30の第3の端子33との間に接続されている。抵抗素子24は、半導体集積回路30の外部において、第1および第3の端子31,33の間に接続されていてもよい。
図2は、抵抗分圧回路の構成例を示す回路図である。抵抗分圧回路37は、第1および第3の端子31,33の間に接続された第1の抵抗回路371と、第2および第3の端子32,33の間に接続された第2の抵抗回路372とで構成することができる。
第1の抵抗回路371は、内部配線34と第3の端子33との間に直列接続された複数の抵抗素子373と、電圧検出回路36から出力される制御信号に従って導通制御される、複数のスイッチ素子374とで構成することができる。複数の抵抗素子373は、第1および第3の端子31,33の間に接続されていてもよい。
各スイッチ素子374は、例えばPMOSトランジスタであり、内部配線34と各抵抗素子373の接続点との間に接続されている。各スイッチ素子374は、第3の端子33と各抵抗素子373の接続点との間に接続されていてもよく、複数の抵抗素子373のうち少なくとも1つに並列接続されていればよい。
第1の抵抗回路371において、電圧検出回路36から出力される制御信号に従って、複数のスイッチ素子374のいずれか1つがオンオフ制御されることで、第1の抵抗回路371の抵抗値が変化する。なお、複数のスイッチ素子374をオンオフ制御してもよい。例えば、PMOS_2をオン制御しているときに、PMOS_1をオン制御してもよい。ここで、図中のPMOS_1~PMOS_m(mは2以上の整数)は、PMOSトランジスタである各スイッチ素子374を識別するために付与した符号である。
第2の抵抗回路372は、第3の端子33とグランド配線35との間に直列接続された複数の抵抗素子375と、電圧検出回路36から出力される制御信号に従って導通制御される、複数のスイッチ素子376とで構成することができる。複数の抵抗素子375は、第2および第3の端子32,33の間に接続されていてもよい。
各スイッチ素子376は、例えばNMOSトランジスタであり、グランド配線35と各抵抗素子375の接続点との間に接続されている。各スイッチ素子376は、第3の端子33と各抵抗素子375の接続点との間に接続されていてもよく、複数の抵抗素子375のうち少なくとも1つに並列接続されていてもよい。
第2の抵抗回路372において、電圧検出回路36から出力される制御信号に従って、複数のスイッチ素子376のいずれか1つがオンオフ制御されることで、第2の抵抗回路372の抵抗値が変化する。なお、複数のスイッチ素子376をオンオフ制御してもよい。例えば、NMOS_n(nは2以上の自然数)をオン制御しているときに、NMOS_1~NMOS_n-1をそれぞれオン制御してもよい。ここで、図中のNMOS_1~NMOS_nは、NMOSトランジスタである各スイッチ素子376を識別するために付与した符号である。
図2に示す抵抗分圧回路37を用いた場合、電源電圧VDDは以下の式で算出することができる。ここで、図2に示すように、第1の抵抗回路371の各抵抗素子373の抵抗値を、それぞれR1_1~R1_m+1とし、第2の抵抗回路372の各抵抗素子375の抵抗値を、それぞれR2_1~R2_n+1とし、第1および第2の抵抗回路371,372の各スイッチ素子374,376が全てオフ状態であるとすると、
VDD=([R1_1]+[R1_2]+[R1_3]+・・・+[R1_m-1]+[R1_m]+[R1_m+1]+[R2_n+1]+[R2_n]+[R2_n-1]+・・・+[R2_3]+[R2_2]+[R2_1])/([R2_n+1]+[R2_n]+[R2_n-1]+・・・+[R2_3]+[R2_2]+[R2_1])×VREF
と表される。この式より、各スイッチ素子374,376のオンオフ制御により、第1および第2の抵抗回路371,372の抵抗値が変わるため、第1および第2の抵抗回路371,372による電源電圧VDDの分圧比が調整可能であることがわかる。
VDD=([R1_1]+[R1_2]+[R1_3]+・・・+[R1_m-1]+[R1_m]+[R1_m+1]+[R2_n+1]+[R2_n]+[R2_n-1]+・・・+[R2_3]+[R2_2]+[R2_1])/([R2_n+1]+[R2_n]+[R2_n-1]+・・・+[R2_3]+[R2_2]+[R2_1])×VREF
と表される。この式より、各スイッチ素子374,376のオンオフ制御により、第1および第2の抵抗回路371,372の抵抗値が変わるため、第1および第2の抵抗回路371,372による電源電圧VDDの分圧比が調整可能であることがわかる。
また、抵抗分圧回路37を図3に示すように構成してもよい。図3は、抵抗分圧回路の別の構成例を示す回路図である。図2および図3における共通の符号は、同一の構成要素を示すため、相違点について説明する。
第1の抵抗回路371は、内部配線34と第3の端子33との間に並列接続された複数の抵抗素子373と、各抵抗素子373のそれぞれに直列接続された複数のスイッチ素子374とで構成される。スイッチ素子374は、複数の抵抗素子373によって構成される、第1および第3の端子31,33を接続する複数の経路のうち少なくとも1つに設けられていればよい。
第2の抵抗回路372は、第3の端子33とグランド配線35との間に並列接続された複数の抵抗素子375と、各抵抗素子375のそれぞれに直列接続された複数のスイッチ素子376とで構成される。スイッチ素子376は、複数の抵抗素子375によって構成される、第2および第3の端子32,33を接続する複数の経路のうち少なくとも1つに設けられていればよい。
第1および第2の抵抗回路371,372ではそれぞれ、複数のスイッチ素子374,376のうち少なくとも1つがオン制御される。第1および第2の抵抗回路371,372において、所望の抵抗値を得るためにオンオフ制御すべきスイッチ素子374,376の組み合わせは任意である。
図3に示す抵抗分圧回路37を用いた場合の電源電圧VDDを算出する式は、第1および第2の抵抗回路371,372の各スイッチ素子374,376が全てオン状態であるとすると、
VDD=( 1/(1/[R1_1]+1/[R1_2]+1/[R1_3]+・・・+1/[R1_m-1]+1/[R1_m]) + 1/(1/[R2_n]+1/[R2_n-1]+・・・+1/[R2_3]+1/[R2_2]+1/[R2_1]) )/( 1/(1/[R2_n]+1/[R2_n-1]+・・・+1/[R2_3]+1/[R2_2]+1/[R2_1]) )×VREF
と表される。したがって、図3に示す抵抗分圧回路37でも、図2に示す抵抗分圧回路37と同様に、各スイッチ素子374,376のオンオフ制御により、電源電圧VDDの分圧比を制御することができる。
VDD=( 1/(1/[R1_1]+1/[R1_2]+1/[R1_3]+・・・+1/[R1_m-1]+1/[R1_m]) + 1/(1/[R2_n]+1/[R2_n-1]+・・・+1/[R2_3]+1/[R2_2]+1/[R2_1]) )/( 1/(1/[R2_n]+1/[R2_n-1]+・・・+1/[R2_3]+1/[R2_2]+1/[R2_1]) )×VREF
と表される。したがって、図3に示す抵抗分圧回路37でも、図2に示す抵抗分圧回路37と同様に、各スイッチ素子374,376のオンオフ制御により、電源電圧VDDの分圧比を制御することができる。
なお、図2および図3に示す、第1および第2の抵抗回路371,372において、抵抗素子373,375およびスイッチ素子374,376の数が多いほど、アナログ制御信号VFBの微調整が可能となるため、高い分解能で電源制御を行うことができるが、スイッチ素子374,376は、少なくとも1つあればよい。
また、第1および第2の抵抗回路371,372は、直列接続された抵抗素子と並列接続された抵抗素子とを組み合わせた構成でもよく、制御信号によって抵抗値が可変となる構成であればよい。
以上、本実施形態によると、比較的簡単な構成で、アナログ制御信号VFBを、動的に細かいレベルで調整することができるため、パワーマネージメント機能を有する電源装置を用いなくても、動的で高分解能の電源制御を比較的容易に実現することができる。したがって、電子機器の低消費電力化や低コスト化が可能となる。なお、半導体集積回路30の外部に抵抗素子24を設けなくても、動的で高分解能の電源制御を行うことはできるが、本実施形態のような構成とすることで、半導体集積回路30の設計変更をすることなく、半導体集積回路システム20を、様々な仕様の、安価な電源装置に適用することができる。この点について、以下に説明する。
一般に、半導体集積回路は、供給される電源電圧と、フィードバックする電圧とが電源装置の仕様に合致するように製造される。例えば、安定状態における、電源電圧が1.2Vで、かつフィードバック電圧が0.7Vであるような仕様の電源装置を用いる場合、抵抗分圧回路は、1.2Vの電源電圧を分圧して、0.7Vの電圧をフィードバックするように抵抗値が設計される。つまり、半導体集積回路は、所定の仕様の電源装置に用いられることを前提に製造される。したがって、半導体集積回路の製造途中等において、電源装置の仕様変更が生じた場合、製造された半導体集積回路を仕様変更後の電源装置に適用することができないため、変更後の仕様に合わせて半導体集積回路を製造し直す必要がある。
これに対して、本実施形態によると、電源装置の仕様変更がなされても、半導体集積回路30の外部に設けた抵抗素子24の抵抗値を、変更後の仕様に合うように設定することで、半導体集積回路30を異なる仕様の電源装置に適用することができるため、半導体集積回路30を製造し直す必要がなくなる。換言すると、抵抗素子24の抵抗値を、電源装置の仕様に合わせて適切に設定することで、半導体集積回路システム20を、様々な仕様の電源装置に適用することができる。
また、半導体集積回路30の外部に抵抗素子24を設けたことにより、以下のようなメリットを得ることができる。
電源装置10の起動直後等において、電源電圧VDDは低いため、電圧検出回路36の動作が不安定となり、誤った制御信号が出力されてしまい、抵抗分圧回路37内のスイッチ素子374,376のオンオフ制御が正常にできないおそれがある。この場合、抵抗分圧回路37内で、所望のアナログ制御信号VFBを生成できず、電源装置10で生成される電源電圧VDDが不安定になる可能性がある。つまり、電源制御が正常に行えず、半導体集積回路30の動作が不安定になるおそれがある。
そこで、半導体集積回路30の外部に抵抗素子24を設けることで、電源電圧VDDの変動に追従する電圧をフィードバックすることができる。抵抗素子24の一端側である電源電圧VDDが例えば上昇すれば、抵抗素子24の他端側の電圧も上昇するからである。したがって、電源装置10の起動直後等において、抵抗分圧回路37内のスイッチ素子374,376のオンオフ制御が正常にできなくても、外部に設けた抵抗素子24の抵抗値を、所望の電圧をフィードバックできるような値に設定すれば、安定した電源電圧VDDの生成が可能となり、半導体集積回路30の動作を安定させることができる。抵抗素子24の抵抗値を、上述したような値に設定した場合、その抵抗値を考慮して、抵抗分圧回路37内の抵抗値を制御することが好ましい。
なお、半導体集積回路30の外部において、第1および第3の端子31,33の間、ならびに第2および第3の端子32,33の間の少なくとも一方に抵抗素子24が接続されていればよい。例えば、図4に示すように、第2および第3の配線22,23の間に抵抗素子24を接続してもよい。あるいは、図5に示すように、第1および第3の配線21,23の間、ならびに第2および第3の配線22,23の間の両方に、抵抗素子24を接続してもよい。
<第2の実施形態>
図6は、第2の実施形態に係る電子機器のブロック図である。図1および図6における共通の符号は、同一の構成要素を示すため、相違点について説明する。第1の実施形態では、抵抗素子24と、抵抗分圧回路37内の抵抗素子373,375とが並列接続されているのに対して、第2の実施形態では、それらが直列接続されている。
図6は、第2の実施形態に係る電子機器のブロック図である。図1および図6における共通の符号は、同一の構成要素を示すため、相違点について説明する。第1の実施形態では、抵抗素子24と、抵抗分圧回路37内の抵抗素子373,375とが並列接続されているのに対して、第2の実施形態では、それらが直列接続されている。
具体的に、半導体集積回路30は、第4および第5の端子41,42を備えている。第4の端子41は、半導体集積回路30の外部において、抵抗素子24を介して第1の配線21に接続されている。また、第5の端子42は、半導体集積回路30の外部において、第2の端子32に短絡されている。
抵抗分圧回路37は、第4および第5の端子41,42の間に接続されている。本実施形態に係る第1の抵抗回路371(図3および図4参照)は、図3および図4に示す構成とほぼ同じであるが、第3および第4の端子33,41の間に接続されている点で、第1の実施形態と異なる。また、本実施形態に係る第2の抵抗回路372(図3および図4参照)は、図3および図4に示す構成とほぼ同じであるが、第3および第5の端子33,42の間に接続されている点で、第1の実施形態と異なる。このような構成により、抵抗分圧回路37は、第4および第5の端子41,42の間に与えられる電圧を分圧することができる。
なお、半導体集積回路30の外部において、第1および第4の端子31,41の間、ならびに第2および第5の端子32,42の間の少なくとも一方に抵抗素子24が接続されていればよい。例えば、図7に示すように、第1および第4の端子31,41を短絡し、第2の配線22と第5の端子42との間に抵抗素子24を接続してもよい。
また、図8に示すように、第1の配線21と第4の端子41との間、および第2の配線22と第5の端子42との間の両方に抵抗素子24を接続してもよい。
以上、本実施形態に係る電子機器においても、第1の実施形態と同様の効果を得ることができる。
<第3の実施形態>
図9は、第3の実施形態に係る電子機器のブロック図である。図1および図9における共通の符号は、同一の構成要素を示すため、相違点について説明する。
図9は、第3の実施形態に係る電子機器のブロック図である。図1および図9における共通の符号は、同一の構成要素を示すため、相違点について説明する。
第1の実施形態では、電源装置10の第3の端子15と半導体集積回路30の第3の端子33とが第3の配線23で接続されているのに対して、第3の実施形態では、電源装置10の第3の端子15と半導体集積回路30の第3の端子33とが第3の配線23および抵抗素子24を介して接続されている。
具体的に、第1および第3の配線21,23の間には、第1および第2の抵抗素子としての2つの抵抗素子24が直列に接続されており、電源装置10の第3の端子15にはこれら抵抗素子24の接続ノード25が接続されている。
このような構成により、半導体集積回路30の第3の端子33から出力されたアナログ制御信号VFB2(第2のアナログ制御信号)が、2つの抵抗素子24によって分圧されて、アナログ制御信号VFB1(第1のアナログ制御信号)が生成される。アナログ制御信号VFB1は、ノード25から電源装置10の第3の端子15に入力される。
なお、図10に示すように、第2および第3の配線32,33の間に2つの抵抗素子24を直列に接続してもよい。つまり、2つの抵抗素子24は、半導体集積回路30の外部において、第1および第3の端子31,33の間、ならびに第2および第3の端子32,33の間のいずれか一方に直列接続されていればよい。
また、図9および図10において、抵抗素子24の数は3つ以上でもよい。すなわち、抵抗素子24によってアナログ制御信号VFB2を分圧して、アナログ制御信号VFB1をフィードバックする構成であればよい。
以上、本実施形態によれば、第1および第2の実施形態と同様の効果に加えて、フィードバックされるアナログ制御信号が取る値をより拡張することができる。
具体的に、第1および第2の実施形態では、半導体集積回路30内の抵抗分圧回路37と半導体集積回路30外の抵抗素子24が合わさって抵抗分圧されたアナログ制御信号VFBが電源装置10にフィードバックされる。一方、本実施形態では、半導体集積回路30内の抵抗分圧回路37で抵抗分圧されたアナログ信号VFB2が、半導体集積回路30外の抵抗素子24で再度抵抗分圧されて、電源装置10にフィードバックされるアナログ制御信号VFB1が生成される。これにより、フィードバックされるアナログ制御信号の取る値がより広範囲となるため、本実施形態に係る半導体集積回路システム20を、フィードバック電圧がより広範囲である仕様の電源装置に適用することができる。
なお、上記3つの実施形態において、図3および図4に示す、それぞれの抵抗素子373,375の抵抗値は、同じでも異なっていてもよい。
次に、上述した各実施形態に係る電子機器を備えた電気製品の例について説明する。以下に説明する電気製品には、第1~第3の実施形態に係る電子機器のいずれを用いてもよい。なお、図1と、以下で説明する図11~15とにおける共通の符号は、同一の構成要素を示す。
<応用例1>
図11は、電気製品の例である通信装置を示すブロック図である。図11に示す通信装置は例えば携帯電話である。電子機器は、ベースバンドLSI101(Large Scale Integration)およびアプリケーションLSI102に搭載される。ベースバンドLSI101では、内部のタイマーにより定期的に電源制御が行われる。また、アンテナで受信され、高周波送受信インターフェース部を介して入力される制御信号に応じて、半導体集積回路30内の回路ブロック(図1参照)の動作状態が変化することによって、電源制御が行われる。
図11は、電気製品の例である通信装置を示すブロック図である。図11に示す通信装置は例えば携帯電話である。電子機器は、ベースバンドLSI101(Large Scale Integration)およびアプリケーションLSI102に搭載される。ベースバンドLSI101では、内部のタイマーにより定期的に電源制御が行われる。また、アンテナで受信され、高周波送受信インターフェース部を介して入力される制御信号に応じて、半導体集積回路30内の回路ブロック(図1参照)の動作状態が変化することによって、電源制御が行われる。
アプリケーションLSI102では、キーボード等からインターフェース部を介して入力される制御信号に応じて、半導体集積回路30内の回路ブロックの動作状態が変化することによって、電源制御が行われる。
なお、通信装置は、携帯電話に限定されるべきではない。これ以外にも、例えば、通信システムにおける送信機・受信機やデータ伝送を行うモデム装置などを含むものである。すなわち、有線・無線や光通信・電気通信の別を問わず、また、デジタル方式・アナログ方式のいずれでもよい。
<応用例2>
図12は、電気製品の例である情報再生装置を示すブロック図である。図12に示す情報再生装置は、例えば光ディスク装置などのAV機器である。電子機器は、光ディスクから読み取った信号を処理するメディア信号処理LSI201、およびその信号の誤り訂正や光ピックアップのサーボ制御を行う誤り訂正・サーボ処理LSI202に搭載される。メディア信号処理LSI201では、赤外線入力、ボタン入力、アンテナからの電波入力、およびDVD信号出力等に基づいて、電源制御が行われる。誤り訂正・サーボ処理LSI202では、赤外線入力、ボタン入力、DVD信号出力等に基づいて、電源制御が行われる。
図12は、電気製品の例である情報再生装置を示すブロック図である。図12に示す情報再生装置は、例えば光ディスク装置などのAV機器である。電子機器は、光ディスクから読み取った信号を処理するメディア信号処理LSI201、およびその信号の誤り訂正や光ピックアップのサーボ制御を行う誤り訂正・サーボ処理LSI202に搭載される。メディア信号処理LSI201では、赤外線入力、ボタン入力、アンテナからの電波入力、およびDVD信号出力等に基づいて、電源制御が行われる。誤り訂正・サーボ処理LSI202では、赤外線入力、ボタン入力、DVD信号出力等に基づいて、電源制御が行われる。
なお、情報再生装置は、光ディスク装置に限定されるべきではない。これ以外にも、例えば、磁気ディスクを内蔵した画像録画再生装置や半導体メモリを媒体とした情報記録再生装置などを含むものである。すなわち、情報が記録されたメディアの別を問わず、情報記録機能を含んだ情報再生装置でもよい。
<応用例3>
図13は、電気製品の例である画像表示装置を示すブロック図である。図13に示す画像表示装置は、例えばテレビジョン受像機である。電子機器は、画像信号や音声信号を処理する画像・音声処理LSI301、および表示画面やスピーカなどのデバイスを制御するディスプレイ・音源制御LSI302に搭載される。画像・音声処理LSI301およびディスプレイ・音源制御LSI302ではそれぞれ、赤外線入力、ボタン入力、アンテナからの電波入力、およびビデオ入力等に基づいて、電源制御が行われる。
図13は、電気製品の例である画像表示装置を示すブロック図である。図13に示す画像表示装置は、例えばテレビジョン受像機である。電子機器は、画像信号や音声信号を処理する画像・音声処理LSI301、および表示画面やスピーカなどのデバイスを制御するディスプレイ・音源制御LSI302に搭載される。画像・音声処理LSI301およびディスプレイ・音源制御LSI302ではそれぞれ、赤外線入力、ボタン入力、アンテナからの電波入力、およびビデオ入力等に基づいて、電源制御が行われる。
なお、画像表示装置は、テレビジョン受像機に限定されるべきではない。これ以外にも、例えば、電気通信回線を通じて配信されるストリーミングデータを表示する装置を含むものである。すなわち、情報の伝送方法の別を問わず、あらゆる画像表示装置を含むものである。
<応用例4>
図14は、電気製品の例である電子装置を示すブロック図である。図14に示す電子装置は、例えばデジタルカメラなどの撮像装置である。電子機器は、信号処理LSI401に搭載される。信号処理LSI401では、赤外線入力、ボタン入力、およびCCD(Charge Coupled Device)出力等に基づいて、電源制御が行われる。
図14は、電気製品の例である電子装置を示すブロック図である。図14に示す電子装置は、例えばデジタルカメラなどの撮像装置である。電子機器は、信号処理LSI401に搭載される。信号処理LSI401では、赤外線入力、ボタン入力、およびCCD(Charge Coupled Device)出力等に基づいて、電源制御が行われる。
なお、電子装置は、デジタルカメラに限定されるべきではない。これ以外にも、例えば、各種センサ機器や電子計算機など、およそ半導体集積回路を備えた装置全般を含むものである。
<応用例5>
図15は、電気製品の例である電子制御装置およびナビゲーション装置を示すブロック図である。図15に示す電子制御装置は、自動車等のエンジンやトランスミッションなどを制御するエンジン・トランスミッションLSI501を備えている。また、ナビゲーション装置は、ナビゲーションLSI502を備えている。電子機器は、エンジン・トランスミッションLSI501、およびナビゲーションLSI502に搭載される。
図15は、電気製品の例である電子制御装置およびナビゲーション装置を示すブロック図である。図15に示す電子制御装置は、自動車等のエンジンやトランスミッションなどを制御するエンジン・トランスミッションLSI501を備えている。また、ナビゲーション装置は、ナビゲーションLSI502を備えている。電子機器は、エンジン・トランスミッションLSI501、およびナビゲーションLSI502に搭載される。
エンジン・トランスミッションLSI501は、アクセル、ブレーキ、ギアなどの動作を感知し、これらの状態に基づいて、電源制御を行う。ナビゲーションLSI502は、TVアンテナ等からの電波入力、赤外線入力、ボタン入力などを感知し、これら入力に基づいて、電源制御を行う。
なお、電子制御装置は、上記のエンジンやトランスミッションを制御するものに限定されるべきではない。これ以外にも、例えば、モータ制御装置など、およそ半導体集積回路を備え、動力源を制御する装置全般を含むものである。
また、図15に示す電子制御装置は、自動車以外の移動体にも適用可能である。つまり、電子制御装置に搭載される電子機器は、例えば、列車、飛行機、船舶など、およそ動力源であるエンジンやモータなどを制御する電子制御装置を備えたもの全般に適用することができる。
以上、各応用例について、低消費電力化や低コスト化を図ることができる。また、各応用例において、システム上問題が無ければ機能を追加したり、構成を変えてもよい。また、電気製品は、上述した応用例以外のものでもよい。また、上述した各LSIに含まれる機能も集積化が可能な限り変更は自由である。
本発明に係る半導体集積回路システムでは、低消費電力化や低コスト化が可能であるため、各種電気製品等に有用である。さらに、電源装置の仕様変更に容易に対応可能であるため、例えば、その仕様変更よる電子機器の製造工数増加を抑制するのに有用である。
10 電源装置
20 半導体集積回路
24 抵抗素子
30 半導体集積回路システム
31 第1の端子
32 第2の端子
33 第3の端子
34 内部配線
36 電圧検出回路
37 抵抗分圧回路
41 第4の端子
42 第5の端子
371 第1の抵抗回路
372 第2の抵抗回路
373,375 抵抗素子
374,376 スイッチ素子
20 半導体集積回路
24 抵抗素子
30 半導体集積回路システム
31 第1の端子
32 第2の端子
33 第3の端子
34 内部配線
36 電圧検出回路
37 抵抗分圧回路
41 第4の端子
42 第5の端子
371 第1の抵抗回路
372 第2の抵抗回路
373,375 抵抗素子
374,376 スイッチ素子
Claims (16)
- アナログ制御信号に応じた大きさの電源電圧を生成する電源装置から、当該電源電圧が供給される半導体集積回路を備えた半導体集積回路システムであって、
前記半導体集積回路は、
前記電源電圧を受ける第1の端子と、
グランド電位に接続された第2の端子と、
前記アナログ制御信号を出力する第3の端子と、
前記第1の端子に接続され、当該半導体集積回路内部の各部に前記電源電圧を分配する内部配線と、
前記第1および第2の端子の間に接続され、前記内部配線の電圧を検出する電圧検出回路と、
前記第1および第2の端子の間に接続され、前記電圧検出回路によって検出された電圧の大きさに応じた分圧比で前記電源電圧を抵抗によって分圧して、前記アナログ制御信号を生成する抵抗分圧回路とを備え、
前記半導体集積回路の外部において、前記第1および第3の端子の間、ならびに前記第2および第3の端子の間のうち少なくとも一方には、抵抗素子が接続されている
ことを特徴とする半導体集積回路システム。 - 第1のアナログ制御信号に応じた大きさの電源電圧を生成する電源装置から、当該電源電圧が供給される半導体集積回路を備えた半導体集積回路システムであって、
前記半導体集積回路は、
前記電源電圧を受ける第1の端子と、
グランド電位に接続された第2の端子と、
第2のアナログ制御信号を出力する第3の端子と、
前記第1の端子に接続され、当該半導体集積回路内部の各部に前記電源電圧を分配する内部配線と、
前記第1および第2の端子の間に接続され、前記内部配線の電圧を検出する電圧検出回路と、
前記第1および第2の端子の間に接続され、前記電圧検出回路によって検出された電圧の大きさに応じた分圧比で前記電源電圧を抵抗によって分圧して、前記第2のアナログ制御信号を生成する抵抗分圧回路とを備え、
前記半導体集積回路の外部において、前記第1および第3の端子の間、ならびに前記第2および第3の端子の間のうちいずれか一方には、第1および第2の抵抗素子が直列接続されており、前記第2のアナログ制御信号を前記第1および第2の抵抗素子によって分圧して、前記第1のアナログ制御信号を生成する
ことを特徴とする半導体集積回路システム。 - 請求項1および2のうちいずれか1つの半導体集積回路システムにおいて、
前記抵抗分圧回路は、
前記第1および第3の端子の間に接続され、前記電圧検出回路によって検出された電圧に応じて抵抗値が可変に構成された第1の抵抗回路と、
前記第2および第3の端子の間に接続され、前記電圧検出回路によって検出された電圧に応じて抵抗値が可変に構成された第2の抵抗回路とを備えている
ことを特徴とする半導体集積回路システム。 - 請求項3の半導体集積回路システムにおいて、
前記第1の抵抗回路は、
前記第1および第3の端子の間に直列接続された複数の抵抗素子と、
前記複数の抵抗素子のうち少なくとも1つの抵抗素子に並列接続され、前記電圧検出回路の出力に応じてオンオフ制御される、少なくとも1つのスイッチ素子とを備えている
ことを特徴とする半導体集積回路システム。 - 請求項3の半導体集積回路システムにおいて、
前記第2の抵抗回路は、
前記第2および第3の端子の間に直列接続された複数の抵抗素子と、
前記複数の抵抗素子のうち少なくとも1つの抵抗素子に並列接続され、前記電圧検出回路の出力に従ってオンオフ制御される、少なくとも1つのスイッチ素子とを備えている
ことを特徴とする半導体集積回路システム。 - 請求項3の半導体集積回路システムにおいて、
前記第1の抵抗回路は、
前記第1および第3の端子の間に並列接続された複数の抵抗素子と、
並列接続された前記複数の抵抗素子によって構成される複数の接続経路のうち少なくとも1つに挿入され、前記電圧検出回路の出力に応じてオンオフ制御される、少なくとも1つのスイッチ素子とを備えている
ことを特徴とする半導体集積回路システム。 - 請求項3の半導体集積回路システムにおいて、
前記第2の抵抗回路は、
前記第2および第3の端子の間に並列接続された複数の抵抗素子と、
並列接続された前記複数の抵抗素子によって構成される複数の接続経路のうち少なくとも1つに挿入され、前記電圧検出回路の出力に応じてオンオフ制御される、少なくとも1つのスイッチ素子とを備えている
ことを特徴とする半導体集積回路システム。 - アナログ制御信号に応じた大きさの電源電圧を生成する電源装置から、当該電源電圧が供給される半導体集積回路を備えた半導体集積回路システムであって、
前記半導体集積回路は、
前記電源電圧を受ける第1の端子と、
グランド電位に接続された第2の端子と、
前記アナログ制御信号を出力する第3の端子と、
当該半導体集積回路の外部において前記第1の端子と接続される第4の端子と、
当該半導体集積回路の外部において前記第2の端子と接続される第5の端子と、
前記第1の端子に接続され、当該半導体集積回路内部の各部に前記電源電圧を分配する内部配線と、
前記第1および第2の端子の間に接続され、前記内部配線の電圧を検出する電圧検出回路と、
前記第4および第5の端子の間に接続され、前記電圧検出回路によって検出された電圧の大きさに応じた分圧比で、前記第4および第5の端子の間に与えられる電圧を抵抗によって分圧して、前記アナログ制御信号を生成する抵抗分圧回路とを備え、
前記半導体集積回路の外部において、前記第1および第4の端子の間、ならびに前記第2および第5の端子の間のうち少なくとも一方には、抵抗素子が接続されている
ことを特徴とする半導体集積回路システム。 - 請求項8の半導体集積回路システムにおいて、
前記抵抗分圧回路は、
前記第3および第4の端子の間に接続され、前記電圧検出回路によって検出された電圧に応じて抵抗値が可変に構成された第1の抵抗回路と、
前記第3および第5の端子の間に接続され、前記電圧検出回路によって検出された電圧に応じて抵抗値が可変に構成された第2の抵抗回路とを備えている
ことを特徴とする半導体集積回路システム。 - 請求項9の半導体集積回路システムにおいて、
前記第1の抵抗回路は、
前記第3および第4の端子の間に直列接続された複数の抵抗素子と、
前記複数の抵抗素子のうち少なくとも1つの抵抗素子に並列接続され、前記電圧検出回路の出力に応じてオンオフ制御される、少なくとも1つのスイッチ素子とを備えている
ことを特徴とする半導体集積回路システム。 - 請求項9の半導体集積回路システムにおいて、
前記第2の抵抗回路は、
前記第3および第5の端子の間に直列接続された複数の抵抗素子と、
前記複数の抵抗素子のうち少なくとも1つの抵抗素子に並列接続され、前記電圧検出回路の出力に応じてオンオフ制御される、少なくとも1つのスイッチ素子とを備えている
ことを特徴とする半導体集積回路システム。 - 請求項9の半導体集積回路システムにおいて、
前記第1の抵抗回路は、
前記第3および第4の端子の間に並列接続された複数の抵抗素子と、
並列接続された前記複数の抵抗素子によって構成される複数の接続経路のうち少なくとも1つに挿入され、前記電圧検出回路の出力に応じてオンオフ制御される、少なくとも1つのスイッチ素子とを備えている
ことを特徴とする半導体集積回路システム。 - 請求項9の半導体集積回路システムにおいて、
前記第2の抵抗回路は、
前記第3および第5の端子の間に並列接続された複数の抵抗素子と、
並列接続された前記複数の抵抗素子によって構成される複数の接続経路のうち少なくとも1つに挿入され、前記電圧検出回路の出力に応じてオンオフ制御される、少なくとも1つのスイッチ素子とを備えている
ことを特徴とする半導体集積回路システム。 - 請求項1,2および8のうちいずれか1つの半導体集積回路システムと、
前記電源装置とを備えている
ことを特徴とする電子機器。 - 請求項14の電子機器を備えている
ことを特徴とする電気製品。 - 請求項14の電子機器を備えている
ことを特徴とする移動体。
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Legal Events
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122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
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NENP | Non-entry into the national phase |
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