WO2012093467A1 - 有機ｅｌ表示装置およびその製造方法 - Google Patents

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剛 平瀬
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    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/80—Constructional details
    • H10K59/87—Passivation; Containers; Encapsulations
    • H10K59/873—Encapsulations

Definitions

  • the present invention relates to an organic EL display device including an organic electroluminescence element (organic electroluminescence element: hereinafter referred to as “organic EL element”) and a method for manufacturing the same.
  • organic electroluminescence element organic electroluminescence element: hereinafter referred to as “organic EL element”
  • organic EL display devices have attracted attention as next-generation flat panel display devices such as full-color displays.
  • This organic EL display device is a self-luminous display device, has excellent viewing angle characteristics, high visibility, low power consumption, and can be reduced in thickness, so that demand is increasing.
  • the organic EL display device includes a plurality of organic EL elements arranged in a predetermined arrangement, and each of the plurality of organic EL elements includes a first electrode (anode) formed on an insulating substrate, a first electrode An organic layer having a light emitting layer formed on one electrode and a second electrode (cathode) formed on the organic layer are provided.
  • an organic EL display device having a structure for protecting the organic EL element from these acids and alkalis has been proposed. More specifically, for example, an organic EL element in which an organic layer is sandwiched between a pair of opposing electrodes, and a polyparaxylylene or a derivative thereof (hereinafter referred to as parylene) provided on the organic EL element.
  • An organic EL display device including a protective layer formed by the above is disclosed. And by such a structure, since parylene has high solvent resistance and chemical resistance, it describes that an organic EL element can be protected (for example, refer patent document 1).
  • the present invention has been made in view of the above-described problems, and an object thereof is to provide an organic EL display device capable of preventing deterioration of characteristics of an organic EL element due to an acid or an alkali, and a manufacturing method thereof.
  • an organic EL display device of the present invention includes a first substrate, a second substrate provided opposite to the first substrate, a first substrate, a first substrate, An organic EL element provided between the two substrates, a first protective layer formed on the first substrate and covering the surface of the organic EL element, and a second protective layer formed on the first protective layer
  • the first protective layer is made of parylene
  • the second protective layer is made of aluminum oxide.
  • the first protective layer made of parylene is provided so as to cover the organic EL element, and further, the second protective layer made of aluminum oxide is provided on the first protective layer. It is possible to reliably prevent the entry of acid and alkali contained in the outgas from the inside of the organic EL display device and the entry of acid and alkali from the outside of the organic EL display device to the element.
  • the thickness of the second protective layer may be 10 nm to 10 ⁇ m.
  • the acid resistance and alkali resistance of the organic EL element can be reliably ensured without increasing the thickness of the second protective layer.
  • the first protective layer may have a thickness of 500 nm to 5 ⁇ m.
  • a third protective layer made of silicon nitride may be formed on the second protective layer.
  • the third protective layer made of silicon nitride is provided on the second protective layer, it is possible to more reliably prevent acid and alkali from entering the organic EL element.
  • the thickness of the third protective layer may be 500 nm to 10 ⁇ m.
  • the acid resistance and alkali resistance of the organic EL element can be more reliably ensured without increasing the thickness of the third protective layer.
  • the method for producing an organic EL display device of the present invention includes an organic EL element forming step for forming an organic EL element on a substrate, and a first protective layer that is made of parylene and covers the organic EL element on the substrate. It is characterized by comprising at least a protective layer forming step and a second protective layer forming step of forming a second protective layer made of aluminum oxide on the first protective layer.
  • the first protective layer made of parylene is formed so as to cover the organic EL element, and further, the second protective layer made of aluminum oxide is formed on the first protective layer.
  • the first protective layer may be formed by a chemical vapor deposition method in the first protective layer forming step.
  • the second protective layer may be formed by an atomic layer deposition method (ALD method) in the second protective layer forming step.
  • ALD method atomic layer deposition method
  • the organic EL display device manufacturing method of the present invention further includes a third protective layer forming step of forming a third protective layer made of silicon nitride on the second protective layer after the second protective layer forming step. May be.
  • an organic EL display device that can more reliably prevent the entry of acid and alkali into the organic EL element. Can be provided.
  • the third protective layer may be formed by a sputtering method or a chemical vapor deposition method (CVD method).
  • an organic EL display device having a protective layer it is possible to prevent deterioration of the characteristics of the organic EL element due to the entry of acid or alkali.
  • FIG. 1 is a plan view of an organic EL display device according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. It is sectional drawing for demonstrating the organic layer which comprises the organic EL element with which the organic EL display apparatus which concerns on the 1st Embodiment of this invention is provided. It is a figure for demonstrating the manufacturing method of the organic electroluminescence display which concerns on the 1st Embodiment of this invention. It is a figure for demonstrating the manufacturing method of the organic electroluminescence display which concerns on the 1st Embodiment of this invention. It is a figure for demonstrating the manufacturing method of the organic electroluminescence display which concerns on the 1st Embodiment of this invention. It is a figure for demonstrating the manufacturing method of the organic electroluminescence display which concerns on the 1st Embodiment of this invention.
  • FIG. 1 is a plan view of an organic EL display device according to the first embodiment of the present invention
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG.
  • FIG. 3 is sectional drawing for demonstrating the organic layer which comprises the organic EL element with which the organic EL display apparatus which concerns on the 1st Embodiment of this invention is provided.
  • the organic EL display device 1 is formed on an element substrate 30 that is a first substrate, a sealing substrate 20 that is a second substrate facing the element substrate 30, and the element substrate 30.
  • an organic EL element 4 provided between the element substrate 30 and the sealing substrate 20 is provided.
  • the element substrate 30 has a display region D in which the organic EL elements 4 are arranged.
  • the organic EL elements 4 are formed in a matrix on the surface of the element substrate 30 facing the sealing substrate 20.
  • the element substrate 30 and the sealing substrate 20 are formed of an insulating material such as glass or plastic, for example.
  • the organic EL element 4 includes a first electrode 6 (anode) provided on the surface of the element substrate 30, an organic layer 7 provided on the surface of the first electrode 6, And a second electrode 8 (cathode) provided on the surface of the organic layer 7.
  • a plurality of first electrodes 6 are formed in a matrix at predetermined intervals on the surface of the element substrate 30, and each of the plurality of first electrodes 6 constitutes each pixel region of the organic EL display device 1. .
  • the first electrode 6 is formed of, for example, Au, Ni, Pt, ITO (indium-tin oxide), or a laminated film of ITO and Ag.
  • the organic layer 7 is formed on the surface of each first electrode 6 partitioned in a matrix. As shown in FIG. 3, the organic layer 7 is formed on the hole injection layer 9, the hole transport layer 10 formed on the surface of the hole injection layer 9, and the surface of the hole transport layer 10. , A light emitting layer 11 that emits one of red light, green light, and blue light, an electron transport layer 12 formed on the surface of the light emitting layer 11, and an electron injection layer formed on the surface of the electron transport layer 12 13.
  • the organic layer 7 is configured by sequentially stacking the hole injection layer 9, the hole transport layer 10, the light emitting layer 11, the electron transport layer 12, and the electron injection layer 13.
  • the hole injection layer 9 is for increasing the efficiency of hole injection into the light emitting layer 11.
  • Examples of the material for forming the hole injection layer 9 include benzine, styrylamine, triphenylamine, porphyrin, triazole, imidazole, oxadiazole, polyarylalkane, phenylenediamine, arylamine, oxazole, anthracene, fluorenone, Examples include hydrazone, stilbene, triphenylene, azatriphenylene, or derivatives thereof, or heterocyclic conjugated monomers, oligomers, or polymers such as polysilane compounds, vinylcarbazole compounds, thiophene compounds, or aniline compounds. .
  • the hole transport layer 10 is for increasing the efficiency of hole injection into the light emitting layer 11, as with the hole injection layer 9 described above.
  • the thing similar to the hole injection layer 9 can be used.
  • the light emitting layer 11 is a region in which holes and electrons are injected from each of the two electrodes when a voltage is applied by the first electrode 6 and the second electrode 8, and the holes and electrons are recombined.
  • the light emitting layer 11 is formed of a material having high luminous efficiency, and is formed of, for example, an organic material such as a low molecular fluorescent dye, a fluorescent polymer, or a metal complex.
  • tris (8-quinolinolato) aluminum complex, bis (benzoquinolinolato) beryllium complex, tri (dibenzoylmethyl) phenanthroline europium complex ditoluyl vinyl biphenyl are mentioned.
  • the electron transport layer 12 is for transporting electrons injected from the second electrode 8 to the light emitting layer 11.
  • Examples of the material forming the electron transport layer 12 include quinoline, perylene, phenanthroline, bisstyryl, pyrazine, triazole, oxazole, oxadiazole, fluorenone, and derivatives or metal complexes thereof.
  • examples include tris (8-hydroxyquinoline) aluminum, anthracene, naphthalene, phenanthrene, pyrene, anthracene, perylene, butadiene, coumarin, acridine, stilbene, 1,10-phenanthroline, or derivatives or metal complexes thereof. It is done.
  • the electron injection layer 13 is for transporting electrons injected from the second electrode 8 to the light emitting layer 11, similarly to the electron transport layer 12 described above, and the material for forming the electron injection layer 13 is described above.
  • the same material as the electron transport layer 12 can be used.
  • the second electrode 8 has a function of injecting electrons into the organic layer 7.
  • the second electrode 8 is made of, for example, a magnesium alloy (such as MgAg), an aluminum alloy (such as AlLi, AlCa, or AlMg), metallic calcium, or a metal having a small work function.
  • the organic EL display device 1 is provided with a protective layer 18 for protecting the organic EL element 4 from acid and alkali on the surface of the organic EL element 4.
  • the protective layer 18 includes a first protective layer 15 provided so as to cover the organic EL element 4 and a second protective layer 16 provided on the surface of the first protective layer 15.
  • the first protective layer 15 is made of parylene. As described above, this parylene has high solvent resistance and chemical resistance, and among organic materials, the gas permeability is particularly low. Therefore, the first protective layer 15 formed of parylene is used as the organic EL element. 4 so as to cover the organic EL element 4, deterioration of the organic layer 7 due to the entry of acid or alkali into the organic EL element 4 can be suppressed.
  • the first protective layer 15 can be formed by a chemical vapor deposition method (CVD method).
  • CVD method chemical vapor deposition method
  • a substrate serving as a reference for vapor deposition is disposed inside the vapor deposition unit, and the raw material vaporization unit is a raw material.
  • a gas dimer obtained by sublimating a solid dimer of diparaxylylene can be formed by thermally decomposing in a thermal decomposition part to generate diradical paraxylylene and adsorbing it to a substrate.
  • the second protective layer 16 is made of aluminum oxide (Al 2 O 3 ).
  • an organic EL display for the organic EL element 4 is provided by providing the second protective layer 16 formed of aluminum oxide on the surface of the first protective layer formed of parylene. The entry of acid or alkali contained in the outgas from the inside of the apparatus 1 or the entry of acid or alkali from the outside can be prevented.
  • the first protective layer 15 formed by the method described above is provided so as to cover the organic EL element 4, and the second protective layer 16 formed of aluminum oxide is further provided on the surface of the first protective layer 15. It is possible to reliably prevent acid and alkali from entering the element 4.
  • the second protective layer 16 can be formed by an atomic layer deposition method (ALD method).
  • ALD method for example, first, a reaction vessel in which a target substrate is placed is placed in a reduced pressure state (0.1 Torr or less), and the substrate is heated to a predetermined temperature (50 to 500 ° C.).
  • Si raw material gas which is a metal raw material gas for film formation
  • Si raw material gas is supplied to the reaction vessel, and while supplying an inert gas (nitrogen gas, etc.) to the reaction vessel, the Si raw material gas is exhausted to become an inert gas.
  • the ozone gas and water vapor, which are oxidant raw material gases, are simultaneously supplied to the reaction vessel.
  • the water vapor may be supplied to the reaction vessel after the ozone gas is supplied. Next, while supplying an inert gas (nitrogen gas or the like) to the reaction vessel, the ozone gas and water vapor are exhausted and replaced with the inert gas. A series of steps is taken as one cycle to form a one-atom layer metal oxide thin film, which is repeated a plurality of cycles to form a multi-atom layer metal oxide thin film.
  • an inert gas nitrogen gas or the like
  • pinholes and cracks may be formed in the second protective layer 16, but when the second protective layer 16 is formed by the atomic layer deposition method, Such pinholes are not formed.
  • the thickness of the first protective layer 15 is preferably 500 nm to 5 ⁇ m. Further, from the viewpoint of ensuring the acid resistance and alkali resistance of the organic EL element 4 without increasing the thickness of the second protective layer 16, the thickness of the second protective layer 16 is 10 nm to 10 ⁇ m. preferable.
  • the thickness of the protective layer 18 is preferably 5 ⁇ m to 25 ⁇ m.
  • an adhesive layer 17 is provided on the surface of the second protective layer 16, and faces the element substrate 30 via the adhesive layer 17.
  • the sealing substrate 20 is bonded.
  • the adhesive layer 17 functions as a resin sealing film.
  • 4 to 10 are views for explaining a method of manufacturing the organic EL display device according to the first embodiment of the present invention.
  • an ITO film is patterned by a sputtering method on an element substrate 30 such as a glass substrate having a substrate size of 300 ⁇ 400 mm and a thickness of 0.7 mm, and the first electrode 6 is formed.
  • the film thickness of the first electrode 6 is, for example, about 150 nm.
  • the organic layer 7 including the light emitting layer 11 and the second electrode 8 are formed on the first electrode 6 by vapor deposition using a metal mask.
  • the element substrate 30 provided with the first electrode 6 is placed in the chamber of the vapor deposition apparatus.
  • the inside of the chamber of the vapor deposition apparatus is maintained at a vacuum degree of 1 ⁇ 10 ⁇ 5 to 1 ⁇ 10 ⁇ 4 (Pa) by a vacuum pump.
  • the element substrate 30 provided with the first electrode 6 is installed in a state where two sides are fixed by a pair of substrate receivers attached in the chamber.
  • the vapor deposition materials of the hole injection layer 9, the hole transport layer 10, the light emitting layer 11, the electron transport layer 12, and the electron injection layer 13 are sequentially evaporated from the vapor deposition source, so that the hole injection layer 9, the hole
  • the organic layer 7 is formed on the first electrode 6 in the pixel region as shown in FIG. 5.
  • Element 4 is formed.
  • a crucible charged with each evaporation material can be used as the evaporation source.
  • the crucible is installed in the lower part of the chamber, and the crucible is equipped with a heater, and the crucible is heated by the heater.
  • the various vapor deposition materials charged in the crucible become evaporated molecules and jump out upward in the chamber.
  • m-MTDATA common to all RGB pixels
  • a hole injection layer 9 made of 4,4,4-tris (3-methylphenylphenylamino) triphenylamine) is formed with a film thickness of, for example, 25 nm through a mask.
  • a hole transport layer 10 made of ⁇ -NPD (4,4-bis (N-1-naphthyl-N-phenylamino) biphenyl) is common to all pixels of RGB.
  • the film is formed with a film thickness of 30 nm through the mask.
  • red light emitting layer 11 30 weight of 2,6-bis ((4'-methoxydiphenylamino) styryl) -1,5-dicyanonaphthalene (BSN) is added to di (2-naphthyl) anthracene (ADN).
  • BSN 2,6-bis ((4'-methoxydiphenylamino) styryl) -1,5-dicyanonaphthalene
  • ADN di (2-naphthyl) anthracene
  • a mixture of 5% by weight of coumarin 6 in ADN is formed on the hole transport layer 10 formed in the pixel region through a mask with a film thickness of, for example, 30 nm. .
  • the blue light-emitting layer 11 is prepared by mixing ADN with 2.5% by weight of 4,4′-bis (2- ⁇ 4- (N, N-diphenylamino) phenyl ⁇ vinyl) biphenyl (DPAVBi).
  • DPAVBi 4,4′-bis (2- ⁇ 4- (N, N-diphenylamino) phenyl ⁇ vinyl) biphenyl
  • a film having a thickness of 30 nm is formed on the hole transport layer 10 formed in the pixel region through the mask.
  • 8-hydroxyquinoline aluminum (Alq3) is formed as an electron transport layer 12 in a thickness of, for example, 20 nm through a mask in common to all the RGB pixels.
  • lithium fluoride (LiF) is formed as an electron injection layer 13 on the electron transport layer 12 with a film thickness of, for example, 0.3 nm through a mask.
  • a cathode made of magnesium silver (MgAg) is formed as the second electrode 8 with a film thickness of 10 nm, for example.
  • the first protective layer 15 is formed with a thickness of, for example, 1 ⁇ m on the element substrate 30 so as to cover the organic EL element 4 by the above-described chemical vapor deposition method.
  • the vaporization temperature when sublimating the solid dimer of diparaxylylene as a raw material is preferably 40 ° C. to 240 ° C.
  • the vaporization can be performed under a reduced pressure of 1 Torr (133 Pa) or less.
  • the thermal decomposition temperature of the vaporized dimer is preferably 600 ° C. to 680 ° C., and the thermal decomposition can usually be performed under a reduced pressure of 0.5 Torr (67 Pa) or less.
  • the generated diradical paraxylylene adsorbs on the film surface of the substrate and polymerizes with each other to form a high molecular weight polyparaxylylene film.
  • the polymerization reaction temperature is such that the release agent applied to the substrate From the viewpoint of preventing transpiration and decomposition and preventing deformation and damage of the thin film formed on the substrate, it is preferably performed at room temperature, for example, 20 ° C. to 35 ° C. is preferable.
  • the polymerization can usually be carried out under a reduced pressure of 0.1 Torr (13 Pa) or less.
  • Excess diradical paraxylylene can be recovered at a temperature of usually about -70 ° C. by providing a cooling cylinder in the downstream.
  • the second protective layer 16 is formed with a thickness of, for example, 100 nm on the surface of the first protective layer 15 by the atomic layer deposition method (ALD method) described above.
  • this atomic layer deposition method uses water (water vapor), but the first protective layer that covers the organic EL element 4 between the organic EL element 4 and the second protective layer 16 is used. 15 is formed, it is considered that there is no influence on the organic EL element 4 even when the second protective layer 16 is formed by the atomic phase deposition method.
  • an adhesive layer 17 made of, for example, an epoxy resin is formed on the second protective layer 16.
  • an adhesive agent which comprises the contact bonding layer 17 does not specifically limit as an adhesive agent which comprises the contact bonding layer 17.
  • various resin adhesives such as a butyral resin and an acrylic resin other than an epoxy resin, are used, for example. be able to.
  • a differential pressure in a vacuum atmosphere under predetermined conditions (for example, a pressure of 100 Pa or less, a dew point temperature of ⁇ 30 ° C. or less, preferably a dew point temperature of ⁇ 70 ° C. or less).
  • a pressure of 100 Pa or less for example, a pressure of 100 Pa or less, a dew point temperature of ⁇ 30 ° C. or less, preferably a dew point temperature of ⁇ 70 ° C. or less.
  • the ultraviolet ray to be irradiated is preferably 0.5 to 10 J, and more preferably 1 to 6 J.
  • heat treatment 70 ° C. or higher and 120 ° C. or lower, 10 minutes or longer and 2 hours or shorter is performed in the air in order to accelerate the curing of the resin.
  • the organic EL display device 1 shown in FIGS. 1 and 2 is manufactured.
  • the first protective layer 15 made of parylene and covering the surface of the organic EL element 4 is formed on the element substrate 30.
  • the second protective layer 16 made of aluminum oxide is formed on the first protective layer 15. Accordingly, it is possible to reliably prevent the entry of acid or alkali contained in the outgas from the inside of the organic EL display device 1 and the entry of acid or alkali from the outside of the organic EL display device 1 to the organic EL element 4. .
  • the thickness of the second protective layer 16 is set to 10 nm to 10 ⁇ m. Therefore, the acid resistance and alkali resistance of the organic EL element 4 can be reliably ensured without increasing the thickness of the second protective layer 16.
  • the thickness of the first protective layer 15 is set to 500 nm to 5 ⁇ m. Therefore, it becomes possible to ensure the moisture resistance of the organic EL element 4.
  • the second protective layer 16 is formed by an atomic layer deposition method (ALD method). Therefore, the second protective layer 16 can be formed without forming pinholes or cracks.
  • ALD method atomic layer deposition method
  • FIG. 11 is a cross-sectional view of an organic EL display device according to the second embodiment of the present invention.
  • the planar structure of the organic EL display device and the configuration of the organic layer constituting the organic EL element are the same as those in the first embodiment described above, and thus detailed description thereof is omitted here.
  • the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.
  • the organic EL display device 40 of the present embodiment is characterized in that the protective layer 18 further includes a third protective layer 19 provided on the surface of the second protective layer 16. is there.
  • the protective layer 18 includes a first protective layer 15 provided so as to cover the organic EL element 4, a second protective layer 16 provided on the surface of the first protective layer 15, It is characterized in that it includes a third protective layer 19 provided on the surface of the second protective layer 16.
  • the third protective layer 19 is made of silicon nitride (SiNx). Then, when the second protective layer 16 is formed by providing the third protective layer 19 formed of silicon nitride on the surface of the second protective layer 16 formed of aluminum oxide, the second protective layer 19 is temporarily provided. Even when pinholes due to sparks or dust are formed in the layer 16, it is possible to prevent the entry of acid or alkali, and as a result, the entry of acid or alkali to the organic EL element 4 is further increased. It becomes possible to prevent.
  • the third protective layer 19 can be formed by a sputtering method or a chemical vapor deposition method (CVD method).
  • the thickness of the third protective layer 19 is 500 nm to 10 ⁇ m. It is preferable.
  • the thickness of the protective layer 18 is 2 ⁇ m to 25 ⁇ m from the viewpoint of further ensuring the acid resistance and alkali resistance of the organic EL element 4 without increasing the thickness of the protective layer 18. It is preferable that
  • the organic EL display device 40 of the present embodiment When manufacturing the organic EL display device 40 of the present embodiment, first, the organic EL element forming step, the first protective layer forming step, and the second protective layer forming step described in the first embodiment are performed. Thereafter, the third protective layer 19 is formed with a thickness of, for example, 1 ⁇ m on the surface of the second protective layer 16 by a known method such as sputtering or chemical vapor deposition (CVD).
  • CVD chemical vapor deposition
  • the organic EL display device 40 shown in FIG. 11 is manufactured by performing the adhesive layer forming step, the bonded body forming step, and the resin curing step described in the first embodiment.
  • the third protective layer 19 made of silicon nitride is formed on the second protective layer 16. Therefore, the entry of acid or alkali to the organic EL element 4 can be more reliably prevented.
  • the thickness of the third protective layer 19 is set to 500 nm to 10 ⁇ m. Therefore, the acid resistance and alkali resistance of the organic EL element 4 can be more reliably ensured without increasing the thickness of the third protective layer 19.
  • the organic layer 7 has a five-layer structure in which the hole injection layer 9, the hole transport layer 10, the light emitting layer 11, the electron transport layer 12, and the electron injection layer 13 are sequentially stacked.
  • a three-layer structure including a hole injection layer / hole transport layer, a light emitting layer, and an electron transport layer / electron injection layer may be used.
  • the laminated structure includes a first electrode 6 that is a cathode from below, an electron injection layer 13, an electron transport layer 12, a light emitting layer 11, a hole transport layer 10, a hole injection layer 9, and a second electrode that is an anode. Electrode 8 is formed. In this case, the materials used for the first electrode 6 and the second electrode 8 are also replaced.
  • the organic EL display device 1 of the present invention employs either a bottom emission structure that emits light from the element substrate 30 side or a top emission structure that emits light from the side opposite to the element substrate 30 side. can do.
  • thermosetting resin material is thermoset in a temperature range of 60 ° C. to 120 ° C.
  • the present invention is suitable for an organic EL display device including an organic EL element and a manufacturing method thereof.

Landscapes

  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

　有機ＥＬ表示装置（１）は、素子基板（３０）と、素子基板（３０）に対向して設けられた封止基板（２０）と、素子基板（３０）上に形成され、素子基板（３０）と封止基板（２０）との間に設けられた有機ＥＬ素子（４）と、素子基板（３０）上に形成され、有機ＥＬ素子（４）の表面を覆う第１保護層（１５）と、第１保護層（１５）上に形成された第２保護層（１６）とを備える。そして、第１保護層（１５）は、パリレンからなり、第２保護層（１６）は、酸化アルミニウムからなる。

Description

有機ＥＬ表示装置およびその製造方法
　本発明は、有機電界発光素子（有機エレクトロルミネッセンス素子：以下、「有機ＥＬ素子」と記載する）を備えた有機ＥＬ表示装置およびその製造方法に関する。
　近年、フルカラーディスプレイ等の次世代フラットパネル表示装置として有機ＥＬ表示装置が注目されている。この有機ＥＬ表示装置は、自己発光型の表示装置であり、視野角特性に優れ、視認性が高く、低消費電力であり、かつ薄型化が可能であるため、需要が高まってきている。
　この有機ＥＬ表示装置は、所定の配列で配列された複数の有機ＥＬ素子を有し、複数の有機ＥＬ素子の各々は、絶縁性の基板上に形成された第１電極（陽極）と、第１電極上に形成された発光層を有する有機層と、有機層上に形成された第２電極（陰極）とを備えている。
　ここで、有機ＥＬ素子は、一般に、一定期間駆動すると、発光輝度や発光の均一性等の発光特性が初期の場合に比し著しく低下してしまう。このような発光特性の劣化の原因としては、有機ＥＬ表示装置の内部からのアウトガスに含まれる酸やアルカリ、及び外部から進入する酸やアルカリに起因する有機ＥＬ表示素子の劣化が挙げられる。
　そこで、これらの酸やアルカリから有機ＥＬ素子を保護するための構造を備えた有機ＥＬ表示装置が提案されている。より具体的には、例えば、対向する一対の電極間に有機層が狭持された有機ＥＬ素子と、有機ＥＬ素子上に設けられ、ポリパラキシリレン又はその誘導体（以下、パリレンと称する。）により形成された保護層とを備えた有機ＥＬ表示装置が開示されている。そして、このような構成により、パリレンは、高い耐溶剤性、及び耐化学性を有するため、有機ＥＬ素子を保護することができると記載されている（例えば、特許文献１参照）。
特開２００６－１２７８５号公報
　しかし、上記特許文献１に記載の有機ＥＬ表示素子では、有機ＥＬ表示装置の幅方向からの酸やアルカリの進入による有機ＥＬ素子の劣化を防止することはできるものの、パリレンは、ポリマー分子の成長において、有機ＥＬ表示装置の厚み方向に成長するため、有機ＥＬ表示装置の厚み方向からの酸やアルカリを完全には防止することができない。従って、酸やアルカリによる有機ＥＬ表示素子の劣化を十分に防止することができないという問題があった。
　そこで、本発明は、上述の問題に鑑みてなされたものであり、酸やアルカリに起因する有機ＥＬ素子の特性劣化を防止することができる有機ＥＬ表示装置およびその製造方法を提供することを目的とする。
　上記目的を達成するために、本発明の有機ＥＬ表示装置は、第１基板と、第１基板に対向して設けられた第２基板と、第１基板上に形成され、第１基板と第２基板との間に設けられた有機ＥＬ素子と、第１基板上に形成され、有機ＥＬ素子の表面を覆う第１保護層と、第１保護層上に形成された第２保護層とを備え、第１保護層は、パリレンからなり、第２保護層は、酸化アルミニウムからなることを特徴とする。
　同構成によれば、パリレンからなる第１保護層が有機ＥＬ素子を覆うように設けられ、更に、第１保護層上に、酸化アルミニウムからなる第２保護層が設けられているため、有機ＥＬ素子に対する、有機ＥＬ表示装置の内部からのアウトガスに含まれる酸やアルカリの進入、及び有機ＥＬ表示装置の外部からの酸やアルカリの進入を確実に防止することができる。
　本発明の有機ＥＬ表示装置においては、第２保護層の厚みが、１０ｎｍ～１０μｍであってもよい。
　同構成によれば、第２保護層の厚みを大きくすることなく、有機ＥＬ素子の耐酸性及び耐アルカリ性を確実に確保することができる。
　本発明の有機ＥＬ表示装置においては、第１保護層の厚みが、５００ｎｍ～５μｍであってもよい。
　同構成によれば、有機ＥＬ素子の防湿性を確保することが可能になる。
　本発明の有機ＥＬ表示装置においては、第２保護層上に、窒化シリコンからなる第３保護層が形成されていてもよい。
　同構成によれば、第２保護層上に、窒化シリコンからなる第３保護層が設けられているため、有機ＥＬ素子に対する酸やアルカリの進入を、より一層確実に防止することができる。
　本発明の有機ＥＬ表示装置においては、第３保護層の厚みが、５００ｎｍ～１０μｍであってもよい。
　同構成によれば、第３保護層の厚みを大きくすることなく、有機ＥＬ素子の耐酸性及び耐アルカリ性をより一層確実に確保することができる。
　本発明の有機ＥＬ表示装置の製造方法は、基板上に有機ＥＬ素子を形成する有機ＥＬ素子形成工程と、基板上に、パリレンからなり、有機ＥＬ素子を覆う第１保護層を形成する第１保護層形成工程と、第１保護層上に、酸化アルミニウムからなる第２保護層を形成する第２保護層形成工程とを少なくとも備えることを特徴とする。
　同構成によれば、パリレンからなる第１保護層を有機ＥＬ素子を覆うように形成し、更に、第１保護層上に、酸化アルミニウムからなる第２保護層を形成するため、有機ＥＬ素子に対する、有機ＥＬ表示装置の内部からのアウトガスに含まれる酸やアルカリの進入、及び有機ＥＬ表示装置の外部からの酸やアルカリの進入を確実に防止することができる有機ＥＬ表示装置を提供することができる。
　本発明の有機ＥＬ表示装置の製造方法においては、第１保護層形成工程において、第１保護層を、化学気相蒸着法により形成してもよい。
　本発明の有機ＥＬ表示装置の製造方法においては、第２保護層形成工程において、第２保護層を、原子層堆積法（ＡＬＤ法）により形成してもよい。
　本発明の有機ＥＬ表示装置の製造方法においては、第２保護層形成工程の後、第２保護層上に、窒化シリコンからなる第３保護層を形成する第３保護層形成工程を更に備えていてもよい。
　同構成によれば、第２保護層上に、窒化シリコンからなる第３保護層を形成するため、有機ＥＬ素子に対する酸やアルカリの進入をより一層確実に防止することができる有機ＥＬ表示装置を提供することができる。
　本発明の有機ＥＬ表示装置の製造方法においては、第３保護層形成工程において、第３保護層を、スパッタリング法、または化学気相成長法（ＣＶＤ法）により形成してもよい。
　本発明によれば、保護層を備える有機ＥＬ表示装置において、酸やアルカリの進入に起因する有機ＥＬ素子の特性劣化を防止することが可能になる。
本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の平面図である。 図１のＡ－Ａ断面図である。 本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置が備える有機ＥＬ素子を構成する有機層を説明するための断面図である。 本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の製造方法を説明するための図である。 本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の製造方法を説明するための図である。 本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の製造方法を説明するための図である。 本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の製造方法を説明するための図である。 本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の製造方法を説明するための図である。 本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の製造方法を説明するための図である。 本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の製造方法を説明するための図である。 本発明の第２の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の断面図である。
　以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。尚、本発明は、以下の実施形態に限定されるものではない。
　（第１の実施形態）
　図１は、本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の平面図であり、図２は、図１のＡ－Ａ断面図である。また、図３は、本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置が備える有機ＥＬ素子を構成する有機層を説明するための断面図である。
　図１、図２に示す様に、有機ＥＬ表示装置１は、第１基板である素子基板３０と、素子基板３０に対向する第２基板である封止基板２０と、素子基板３０上に形成されるとともに、素子基板３０及び封止基板２０の間に設けられた有機ＥＬ素子４とを備えている。
　また、図１、図２に示すように、素子基板３０は、有機ＥＬ素子４が配列された表示領域Ｄを有する。この表示領域Ｄには、封止基板２０と対向する素子基板３０側の面において、有機ＥＬ素子４がマトリックス状に配置されて形成されている。
　素子基板３０及び封止基板２０は、例えば、ガラス、またはプラスチック等の絶縁性材料により形成されている。
　また、図２に示すように、有機ＥＬ素子４は、素子基板３０の表面上に設けられた第１電極６（陽極）と、第１電極６の表面上に設けられた有機層７と、有機層７の表面上に設けられた第２電極８（陰極）とを備えている。
　第１電極６は、素子基板３０の表面上に所定の間隔でマトリクス状に複数形成されており、複数の第１電極６の各々が、有機ＥＬ表示装置１の各画素領域を構成している。なお、第１電極６は、例えば、Ａｕ、Ｎｉ、Ｐｔ、ＩＴＯ（インジウム－スズ酸化物）、またはＩＴＯとＡｇの積層膜等により形成されている。
　有機層７は、マトリクス状に区画された各第１電極６の表面上に形成されている。この有機層７は、図３に示すように、正孔注入層９と、正孔注入層９の表面上に形成された正孔輸送層１０と、正孔輸送層１０の表面上に形成され、赤色光、緑色光、および青色光のいずれかを発する発光層１１と、発光層１１の表面上に形成された電子輸送層１２と、電子輸送層１２の表面上に形成された電子注入層１３とを備えている。
　そして、これらの正孔注入層９、正孔輸送層１０、発光層１１、電子輸送層１２、および電子注入層１３が順次積層されることにより、有機層７が構成されている。
　正孔注入層９は、発光層１１への正孔注入効率を高めるためのものである。この正孔注入層９を形成する材料としては、例えば、ベンジン、スチリルアミン、トリフェニルアミン、ポルフィリン、トリアゾール、イミダゾール、オキサジアゾール、ポリアリールアルカン、フェニレンジアミン、アリールアミン、オキザゾール、アントラセン、フルオレノン、ヒドラゾン、スチルベン、トリフェニレン、アザトリフェニレン、あるいはこれらの誘導体、または、ポリシラン系化合物、ビニルカルバゾール系化合物、チオフェン系化合物あるいはアニリン系化合物等の複素環式共役系のモノマー、オリゴマーあるいはポリマーを挙げることができる。
　正孔輸送層１０は、上述の正孔注入層９と同様に、発光層１１への正孔注入効率を高めるためのものであり、正孔輸送層１０を形成する材料としては、上述の正孔注入層９と同様のものが使用できる。
　発光層１１は、第１電極６、及び第２電極８による電圧印加の際に、両電極の各々から正孔および電子が注入されるとともに、正孔と電子が再結合する領域である。この発光層１１は、発光効率が高い材料により形成され、例えば、低分子蛍光色素、蛍光性の高分子、金属錯体等の有機材料により形成されている。
　より具体的には、例えば、アントラセン、ナフタレン、インデン、フェナントレン、ピレン、ナフタセン、トリフェニレン、アントラセン、ペリレン、ピセン、フルオランテン、アセフェナントリレン、ペンタフェン、ペンタセン、コロネン、ブタジエン、クマリン、アクリジン、スチルベン、あるいはこれらの誘導体、トリス（８－キノリノラト）アルミニウム錯体、ビス（ベンゾキノリノラト）ベリリウム錯体、トリ（ジベンゾイルメチル）フェナントロリンユーロピウム錯体ジトルイルビニルビフェニルが挙げられる。
　電子輸送層１２は、第２電極８から注入される電子を発光層１１に輸送するためのものである。この電子輸送層１２を形成する材料としては、例えば、キノリン、ペリレン、フェナントロリン、ビススチリル、ピラジン、トリアゾール、オキサゾール、オキサジアゾール、フルオレノン、またはこれらの誘導体や金属錯体が挙げられる。
　より具体的には、トリス（８－ヒドロキシキノリン）アルミニウム、アントラセン、ナフタレン、フェナントレン、ピレン、アントラセン、ペリレン、ブタジエン、クマリン、アクリジン、スチルベン、１，１０－フェナントロリン、またはこれらの誘導体や金属錯体が挙げられる。
　電子注入層１３は、上述の電子輸送層１２と同様に、第２電極８から注入される電子を発光層１１に輸送するためのものであり、電子注入層１３を形成する材料としては、上述の電子輸送層１２と同様のものが使用できる。
　第２電極８は、有機層７に電子を注入する機能を有するものである。この第２電極８は、例えば、マグネシウム合金（ＭｇＡｇ等）、アルミニウム合金（ＡｌＬｉ、ＡｌＣａ、ＡｌＭｇ等）、金属カルシウム、または仕事関数の小さい金属等により形成されている。
　また、有機ＥＬ表示装置１は、図２に示すように、有機ＥＬ素子４の表面上に、有機ＥＬ素子４を酸やアルカリから保護するための保護層１８が設けられている。
　この保護層１８は、有機ＥＬ素子４を覆うように設けられた第１保護層１５と、第１保護層１５の表面上に設けられた第２保護層１６とにより構成されている。
　この第１保護層１５は、パリレンにより形成されている。このパリレンは、上述のごとく、高い耐溶剤性、及び耐化学性を有するとともに、有機材料の中では、特に、ガス透過率が低いため、パリレンにより形成された第１保護層１５を有機ＥＬ素子４を覆うように設けることにより、有機ＥＬ素子４に対する酸やアルカリの進入に起因する有機層７の劣化を抑制することができる。
　また、第１保護層１５は、化学気相蒸着法（ＣＶＤ法）により形成することができる。この方法は、例えば、原料気化部、熱分解部、及び蒸着部をこの順に備えた蒸着装置において、蒸着の対照となる基板を蒸着部の内部に配設し、原料気化部において、原料であるジパラキシリレン類の固体ダイマーを昇華することにより得られた気体ダイマーを、熱分解部において熱分解することによりジラジカルパラキシリレンを生成させ、それを基材へ吸着させることで形成することができる。
　また、本実施形態においては、第２保護層１６は、酸化アルミニウム（Ａｌ２Ｏ３）により形成されている。
　この酸化アルミニウムは、透湿性が低いため、酸化アルミニウムにより形成された第２保護層１６を、パリレンにより形成された第１保護層の表面上に設けることにより、有機ＥＬ素子４に対する、有機ＥＬ表示装置１の内部からのアウトガスに含まれる酸やアルカリの進入や、外部からの酸やアルカリの進入を防止することができる。
　即ち、上述のごとく、有機ＥＬ素子上に、パリレンにより形成された保護層を設けるだけでは、酸やアルカリによる有機ＥＬ素子の劣化を十分に防止することができないが、本実施形態のごとく、パリレンにより形成された第１保護層１５を有機ＥＬ素子４を覆うように設け、更に、第１保護層１５の表面上に、酸化アルミニウムにより形成された第２保護層１６を設けることにより、有機ＥＬ素子４に対する酸やアルカリの進入を確実に防止することができる。
　また、第２保護層１６は、原子層堆積法（ＡＬＤ法）により形成することができる。この方法は、例えば、まず、対象となる基板を内部に入れた反応容器を、減圧状態（０．１Ｔｏｒｒ以下）とし、基板を所定温度（５０～５００℃）に昇温する。
　次いで、この反応容器に、膜形成用の金属原料ガスであるＳｉ原料ガスを供給し、反応容器へ不活性ガス（窒素ガス等）を供給しつつ、Ｓｉ原料ガスを排気して不活性ガスに置き換え、反応容器へ酸化剤原料ガスであるオゾンガスと水蒸気を同時に供給する。
　なお、水蒸気は、オゾンガスの供給後に反応容器へ供給してもよい。次いで、反応容器へ不活性ガス（窒素ガス等）を供給しつつ、オゾンガス及び水蒸気を排気して不活性ガスに置き換える。この一連の工程を１サイクルとして１原子層の金属酸化物薄膜を形成し、これを複数サイクル繰り返して多原子層の金属酸化物薄膜を形成する。
　また、スパッタ法により第２保護層１６を形成した場合、第２保護層１６にピンホールやクラックが形成される場合があるが、原子層堆積法により第２保護層１６を形成した場合は、このようなピンホール等が形成されることはない。
　また、防湿性を確保するとの観点から、第１保護層１５の厚みは、５００ｎｍ～５μｍであることが好ましい。また、第２保護層１６の厚みを大きくすることなく、有機ＥＬ素子４の耐酸性及び耐アルカリ性を確実に確保するとの観点から、第２保護層１６の厚みは、１０ｎｍ～１０μｍであることが好ましい。
　また、保護層１８の厚みを大きくすることなく、有機ＥＬ素子４の耐酸性及び耐アルカリ性を確実に確保するとの観点から、保護層１８の厚みは、５μｍ～２５μｍであることが好ましい。
　また、有機ＥＬ表示装置１においては、図２に示すように、第２保護層１６の表面上に、接着層１７が設けられており、当該接着層１７を介して、素子基板３０に対向する封止基板２０が貼り合わされる構成となっている。なお、本実施形態においては、この接着層１７が、樹脂封止膜として機能する。
　次に、本実施形態の有機ＥＬ表示装置の製造方法の一例について説明する。図４～図１０は、本発明の第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の製造方法を説明するための図である。
　＜有機ＥＬ素子形成工程＞
　まず、図４に示すように、基板サイズが３００×４００ｍｍで、厚さが０．７ｍｍのガラス基板等の素子基板３０上に、スパッタ法によりＩＴＯ膜をパターン形成して、第１電極６を形成する。この際、第１電極６の膜厚は、例えば、１５０ｎｍ程度に形成する。
　次に、第１電極６上に、発光層１１を含む有機層７、及び第２電極８を金属製のマスクを使用して、蒸着法により形成する。
　より具体的には、まず、第１電極６を備えた素子基板３０を蒸着装置のチャンバー内に設置する。なお、蒸着装置のチャンバー内は、真空ポンプにより、１×１０－５～１×１０－４（Ｐａ）の真空度に保たれている。また、第１電極６を備えた素子基板３０は、チャンバー内に取り付けられた一対の基板受けによって２辺を固定した状態で設置する。
　そして、蒸着源から、正孔注入層９、正孔輸送層１０、発光層１１、電子輸送層１２、および電子注入層１３の各蒸着材料を順次蒸発させて、正孔注入層９、正孔輸送層１０、発光層１１、電子輸送層１２、および電子注入層１３を積層することにより、図５に示すように、画素領域であって第１電極６上にに有機層７を形成する。
　そして、図６に示すように、有機層７上に、第２電極８を形成することにより、素子基板３０上に、第１電極６、有機層７、及び第２電極８を備えた有機ＥＬ素子４を形成する。
　なお、蒸発源としては、例えば、各蒸発材料が仕込まれた坩堝を使用することができる。坩堝は、チャンバー内の下部に設置されるとともに、坩堝にはヒーターが備え付けられており、このヒーターにより、坩堝は加熱される。
　そして、ヒーターによる加熱により、坩堝の内部温度が各種蒸着材料の蒸発温度に到達することで、坩堝内に仕込まれた各種蒸着材料が蒸発分子となってチャンバー内の上方向へ飛び出す。
　また、有機層７、及び第２電極８の形成方法の具体例としては、まず、素子基板３０上にパターニングされた第１電極６上に、ＲＧＢ全ての画素に共通して、ｍ－ＭＴＤＡＴＡ（4,4,4-tris(3-methylphenylphenylamino)triphenylamine）からなる正孔注入層９を、マスクを介して、例えば、２５ｎｍの膜厚で形成する。
　次いで、正孔注入層９上に、ＲＧＢ全ての画素に共通して、α－ＮＰＤ（4,4-bis(N-1-naphthyl-N-phenylamino)biphenyl）からなる正孔輸送層１０を、マスクを介して、例えば、３０ｎｍの膜厚で形成する。
　次に、赤色の発光層１１として、ジ(2-ナフチル)アントラセン（ＡＤＮ）に2,6-ビス（(4’-メトキシジフェニルアミノ)スチリル）-1,5-ジシアノナフタレン（ＢＳＮ）を３０重量％混合したものを、マスクを介して、画素領域に形成された正孔輸送層１０上に、例えば、３０ｎｍの膜厚で形成する。
　次いで、緑色の発光層１１として、ＡＤＮにクマリン６を５重量％混合したものを、マスクを介して、画素領域に形成された正孔輸送層１０上に、例えば、３０ｎｍの膜厚で形成する。
　次に、青色の発光層１１として、ＡＤＮに4,4’-ビス（2-{4-(N,N-ジフェニルアミノ)フェニル}ビニル）ビフェニル(ＤＰＡＶＢｉ)を２．５重量％混合したものを、マスクを介して、画素領域に形成された正孔輸送層１０上に、例えば、３０ｎｍの膜厚で形成する。
　次いで、各発光層１１上に、ＲＧＢ全ての画素に共通して、8-ヒドロキシキノリンアルミニウム(Ａｌｑ３)を電子輸送層１２として、マスクを介して、例えば、２０ｎｍの膜厚で形成する。
　次いで、電子輸送層１２上に、フッ化リチウム(ＬｉＦ)を電子注入層１３として、マスクを介して、例えば、０．３ｎｍの膜厚で形成する。そして、第２電極８として、マグネシウム銀(ＭｇＡｇ)からなる陰極を、例えば、１０ｎｍの膜厚で形成する。
　＜第１保護層形成工程＞
　まず、図７に示すように、上述の化学気相蒸着法により、素子基板３０上に、有機ＥＬ素子４を覆うように第１保護層１５を、例えば、１μｍの厚みで形成する。
　なお、原料であるジパラキシリレン類の固体ダイマーを昇華させる際の気化温度としては、４０℃～２４０℃が好ましい。また、気化は、１トール（１３３Ｐａ）以下の減圧下にて行うことができる。
　また、気化ダイマーの熱分解温度としては、６００℃～６８０℃が好ましく、熱分解は通常、０．５トール（６７Ｐａ）以下の減圧下にて行うことができる。
　また、生成したジラジカルパラキシリレンは、基板の膜表面に吸着するとともに相互に重合し、高分子量のポリパラキシリレン膜を形成するが、重合反応温度としては、基板に塗布された剥離剤の蒸散や分解を防ぎ、かつ基板に形成された薄膜の変形やダメージを防止するとの観点から、常温で行うことが好ましく、例えば、２０℃～３５℃が好ましい。重合は通常、０．１トール（１３Ｐａ）以下の減圧下にて行うことができる。
　なお、余剰のジラジカルパラキシリレンは、後流に冷却筒を設け、通常－７０℃程度の温度にて回収することができる。
　＜第２保護層形成工程＞
　次いで、図８に示すように、上述の原子層堆積法（ＡＬＤ法）により、第１保護層１５の表面上に第２保護層１６を、例えば、１００ｎｍの厚みで形成する。
　なお、この原子層堆積法は、上述のごとく、水（水蒸気）を使用する方法ではあるが、有機ＥＬ素子４と第２保護層１６との間に、有機ＥＬ素子４を覆う第１保護層１５が形成されているため、原子相堆積法により、第２保護層１６を形成した場合であっても、有機ＥＬ素子４への影響はないものと考えられる。
　＜接着層形成工程＞
　次に、図９に示すように、第２保護層１６上に、例えば、エポキシ樹脂からなる接着層１７を形成する。
　なお、接着層１７を構成する接着剤としては、特に限定されず、かかる接着剤としては、例えば、エポキシ樹脂の他に、ブチラール樹脂、アクリル樹脂等の、各種の樹脂系の接着剤を使用することができる。
　＜貼合体形成工程＞
　次いで、真空雰囲気で、封止基板２０と、有機ＥＬ素子４が形成された素子基板３０とを、接着層１７を介して重ね合わせて、図１０に示すように、素子基板３０上に封止基板２０を載置させる。
　次いで、真空雰囲気で、所定の条件下（例えば、１００Ｐａ以下の圧力、－３０℃以下の露点温度、好ましくは、－７０℃以下の露点温度）において、大気圧までパージを行って差圧で加圧処理を行うことにより、接着層１７を介して、素子基板３０と封止基板２０とを貼り合わせ、素子基板３０と封止基板２０とが貼り合わされた貼合体を形成する。
　なお、素子基板３０と封止基板２０を貼り合わせる際に、接着層１７を形成する樹脂材料が均一に拡散するように加圧処理を行う。
　＜樹脂硬化工程＞
　次いで、図１０に示すように、封止基板２０側から紫外線（図１０における矢印）を照射して、均一に拡散した樹脂材料を硬化させる。
　なお、照射する紫外線は、０．５～１０Ｊが好ましく、１～６Ｊがより好ましい。また、紫外線照射後、樹脂の硬化を促進させるために、大気中にて加熱処理（７０℃以上１２０℃以下、１０分以上２時間以下）を行う。
　以上のようにして、図１、図２に示す有機ＥＬ表示装置１が作製される。
　以上に説明した本実施形態においては、以下の効果を得ることができる。
　（１）本実施形態においては、パリレンからなり、有機ＥＬ素子４の表面を覆う第１保護層１５を素子基板３０上に形成する構成としている。また、酸化アルミニウムからなる第２保護層１６を第１保護層１５上に形成する構成としている。従って、有機ＥＬ素子４に対する、有機ＥＬ表示装置１の内部からのアウトガスに含まれる酸やアルカリの進入、及び有機ＥＬ表示装置１の外部からの酸やアルカリの進入を確実に防止することができる。
　（２）本実施形態においては、第２保護層１６の厚みを、１０ｎｍ～１０μｍに設定する構成としている。従って、第２保護層１６の厚みを大きくすることなく、有機ＥＬ素子４の耐酸性及び耐アルカリ性を確実に確保することができる。
　（３）本実施形態においては、第１保護層１５の厚みを、５００ｎｍ～５μｍに設定する構成としている。従って、有機ＥＬ素子４の防湿性を確保することが可能になる。
　（４）本実施形態においては、第２保護層１６を、原子層堆積法（ＡＬＤ法）により形成する構成としている。従って、ピンホールやクラックを形成することなく、第２保護層１６を形成することができる。
　（第２の実施形態）
　次に、本発明の第２の実施形態について説明する。図１１は、本発明の第２の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の断面図である。なお、有機ＥＬ表示装置の平面構造、及び有機ＥＬ素子を構成する有機層の構成は、上述の第１の実施形態と同様であるため、ここでは詳しい説明を省略する。また、上記第１の実施形態と同様の構成部分については同一の符号を付してその説明を省略する。
　図１１に示すように、本実施形態の有機ＥＬ表示装置４０においては、保護層１８が、第２保護層１６の表面上に設けられた第３保護層１９を更に備えている点に特徴がある。
　即ち、本実施形態においては、保護層１８が、有機ＥＬ素子４を覆うように設けられた第１保護層１５と、第１保護層１５の表面上に設けられた第２保護層１６と、第２保護層１６の表面上に設けられた第３保護層１９とを備えている点に特徴がある。
　この第３保護層１９は、窒化シリコン（ＳｉＮｘ）により形成されている。そして、窒化シリコンにより形成された第３保護層１９を、酸化アルミニウムにより形成された第２保護層１６の表面上に設けることにより、第２保護層１６を形成する際に、仮に、第２保護層１６にスパークやダストに起因するピンホールが形成された場合であっても、酸やアルカリの進入を防止することができるため、結果として、有機ＥＬ素子４に対する酸やアルカリの進入をより一層防止することが可能になる。
　なお、第３保護層１９は、スパッタリング法、または化学気相成長法（ＣＶＤ法）により形成することができる。
　また、第３保護層１９の厚みを大きくすることなく、有機ＥＬ素子４の耐酸性及び耐アルカリ性をより一層確実に確保するとの観点から、第３保護層１９の厚みは、５００ｎｍ～１０μｍであることが好ましい。
　また、本実施形態においては、保護層１８の厚みを大きくすることなく、有機ＥＬ素子４の耐酸性及び耐アルカリ性をより一層確実に確保するとの観点から、保護層１８の厚みは、２μｍ～２５μｍであることが好ましい。
　本実施形態の有機ＥＬ表示装置４０を製造する際には、まず、上述の第１の実施形態において説明した有機ＥＬ素子形成工程、第１保護層形成工程、及び第２保護層形成工程を行った後、公知のスパッタリング法や化学気相成長法（ＣＶＤ法）等の方法により、第２保護層１６の表面上に第３保護層１９を、例えば、１μｍの厚みで形成する。
　次いで、上述の第１の実施形態において説明した接着層形成工程、貼合体形成工程、及び、樹脂硬化工程を行うことにより、図１１に示す有機ＥＬ表示装置４０が作製される。
　以上に説明した本実施形態においては、上述の（１）～（４）の効果に加えて、以下の効果を得ることができる。
　（５）本実施形態においては、第２保護層１６上に、窒化シリコンからなる第３保護層１９を形成する構成としている。従って、有機ＥＬ素子４に対する酸やアルカリの進入を、より一層確実に防止することができる。
　（６）本実施形態においては、第３保護層１９の厚みを、５００ｎｍ～１０μｍに設定する構成としている。従って、第３保護層１９の厚みを大きくすることなく、有機ＥＬ素子４の耐酸性及び耐アルカリ性をより一層確実に確保することができる。
　なお、上記実施形態は以下のように変更しても良い。
　上記実施形態においては、有機層７を、正孔注入層９、正孔輸送層１０、発光層１１、電子輸送層１２、および電子注入層１３が順次積層された５層積層構造としたが、当該５層積層構造に限られず、例えば、正孔注入層兼正孔輸送層、発光層、及び電子輸送層兼電子注入層の３層構造であってもよい。
　また、積層構造を反転させ、第１電極６を陰極、第２電極８を陽極とすることもできる。この場合、積層構造としては、下方より陰極である第１電極６、電子注入層１３、電子輸送層１２、発光層１１、正孔輸送層１０、正孔注入層９、及び陽極である第２電極８となる。また、この場合、第１電極６および第２電極８に用いられる材料も入れ替わることになる。
　また、本発明の有機ＥＬ表示装置１は、素子基板３０側から光を外部放出するボトムエミッション構造、素子基板３０側とは反対側から光を外部放出するトップエミッション構造のどちらかの構造を採用することができる。
　また、上記実施形態においては、接着層１７を形成する樹脂材料として、紫外線硬化型の樹脂材料を使用したが、熱硬化型の樹脂材料を使用する構成としてもよい。この場合、６０℃～１２０℃の温度範囲で、熱硬化型の樹脂材料を熱硬化させる。
　以上説明したように、本発明は、有機ＥＬ素子を備えた有機ＥＬ表示装置およびその製造方法に適している。
　１　　有機ＥＬ表示装置
　４　　有機ＥＬ素子
　５　　シール材
　６　　第１電極
　７　　有機層
　８　　第２電極
　９　　正孔注入層
　１０　　正孔輸送層
　１１　　発光層
　１２　　電子輸送層
　１３　　電子注入層
　１５　　第１保護層
　１６　　第２保護層
　１７　　接着層
　１８　　保護層
　１９　　第３保護層
　２０　　封止基板（第２基板）
　３０　　素子基板（第１基板）
　４０　　有機ＥＬ表示装置

Claims (10)

  1. 　第１基板と、
    　前記第１基板に対向して設けられた第２基板と、
    　前記第１基板上に形成され、前記第１基板と前記第２基板との間に設けられた有機ＥＬ素子と、
    　前記第１基板上に形成され、前記有機ＥＬ素子の表面を覆う第１保護層と、
    　前記第１保護層上に形成された第２保護層と
    　を備え、
    　前記第１保護層は、パリレンからなり、前記第２保護層は、酸化アルミニウムからなることを特徴とする有機ＥＬ表示装置。
  2. 　前記第２保護層の厚みが、１０ｎｍ～１０μｍであることを特徴とする請求項１に記載の有機ＥＬ表示装置。
  3. 　前記第１保護層の厚みが、５００ｎｍ～５μｍであることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の有機ＥＬ表示装置。
  4. 　前記第２保護層上に、窒化シリコンからなる第３保護層が形成されていることを特徴とする請求項１～請求項３のいずれか１項に記載の有機ＥＬ表示装置。
  5. 　前記第３保護層の厚みが、５００ｎｍ～１０μｍであることを特徴とする請求項４に記載の有機ＥＬ表示装置。
  6. 　基板上に有機ＥＬ素子を形成する有機ＥＬ素子形成工程と、
    　前記基板上に、パリレンからなり、前記有機ＥＬ素子を覆う第１保護層を形成する第１保護層形成工程と、
    　前記第１保護層上に、酸化アルミニウムからなる第２保護層を形成する第２保護層形成工程と
    　を少なくとも備えることを特徴とする有機ＥＬ表示装置の製造方法。
  7. 　前記第１保護層形成工程において、前記第１保護層は、化学気相蒸着法により形成されることを特徴とする請求項６に記載の有機ＥＬ表示装置の製造方法。
  8. 　前記第２保護層形成工程において、前記第２保護層は、原子層堆積法（ＡＬＤ法）により形成されることを特徴とする請求項６または請求項７に記載の有機ＥＬ表示装置の製造方法。
  9. 　前記第２保護層形成工程の後、前記第２保護層上に、窒化シリコンからなる第３保護層を形成する第３保護層形成工程を更に備えることを特徴とする請求項６～請求項８のいずれか１項に記載の有機ＥＬ表示装置の製造方法。
  10. 　前記第３保護層形成工程において、前記第３保護層は、スパッタリング法、または化学気相成長法（ＣＶＤ法）により形成されることを特徴とする請求項９に記載の有機ＥＬ表示装置の製造方法。
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