WO2011096539A1 - 配線板及びその製造方法 - Google Patents

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mold
wiring
base material
insulating base
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孝治 本戸
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株式会社フジクラ
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    • Y10T29/49158Manufacturing circuit on or in base with molding of insulated base
    • Y10T29/4916Simultaneous circuit manufacturing

Definitions

  • the present invention relates to a wiring board and a manufacturing method thereof.
  • the conventional technology has a problem that it is difficult to maintain the connection reliability between the via formed in the wiring board and the wiring pattern that is electrically connected to the via pattern.
  • the problem to be solved by the present invention is to provide a wiring board having a high connection reliability between the via pattern and the wiring pattern and a method for manufacturing the wiring board.
  • the present invention includes a plate surface including a protrusion formed in accordance with a via pattern that constitutes a part of a pattern of a wiring board, and the protrusion is connected to the main surface of the plate surface with a curvature. And a step of preparing a mold having an inclined portion whose outer diameter becomes thinner as approaching the top of the projection from the base, and pressing the plate surface of the mold onto one main surface of the softened insulating base After the contact, the mold is released and a hole corresponding to the shape of the protrusion is formed in the insulating base, and a wiring pattern constituting a part of the pattern is formed on one main surface of the insulating base.
  • a fourth lamination step of forming a via pattern and a wiring pattern which are filled with a material and can be connected to each other, and depending on the number of laminations of the wiring boards, the first lamination step to the fourth lamination step are By a method of manufacturing a laminated wiring board, characterized in that To solve the problems.
  • the present invention includes a protrusion formed according to a via pattern constituting a part of a pattern of a wiring board and a convex part formed according to a wiring pattern constituting a part of the pattern.
  • a wiring board comprising: a step of forming an insulating base material; and a step of filling the hole and the concave portion formed in the insulating base material with a conductive material to form a via pattern and a wiring pattern that can conduct each other.
  • the present invention includes a printing plate including a protrusion formed in accordance with a via pattern that constitutes a part of a pattern of a wiring board, and has a base having a curved surface, and as the base approaches the top of the protrusion.
  • a step of preparing a via mold having an inclined portion with a thin outer diameter, and a wiring mold having a plate surface including a convex portion formed according to a wiring pattern constituting a part of the pattern And a step of preparing and releasing the mold after pressing against one main surface of the insulating base material in which the plate surface of the wiring mold is softened, and forming the concave portion corresponding to the convex portion into the insulating base material.
  • the protrusion is pressed after the plate surface of the mold for via is pressed against the surface of the insulating base so that the protrusion hits the recess formed on the surface of the insulating base, and the protrusion
  • the method for producing a multilayer wiring board which comprises carrying out 1 laminating step to the fourth laminating step once or twice more, to solve the above problems.
  • the top of the protrusion may be configured to have a curved surface.
  • a step of removing the insulating base material at the bottom of the hole and penetrating the hole can be further provided.
  • the present invention provides an insulating substrate, a wiring pattern formed on one main surface of the insulating substrate, and from one main surface side to the other main surface side of the insulating substrate.
  • a via pattern that penetrates and is electrically connected to the wiring pattern, and the via pattern has a connecting base portion that has a curvature connected to the wiring pattern, and an outer diameter that approaches the top of the via pattern from the connecting base portion.
  • the wiring pattern and the via pattern can be integrally formed without an interface.
  • the wiring pattern can be formed in a convex shape on the main surface of the insulating substrate toward the outside of the main surface.
  • the wiring pattern may be formed on the main surface of the insulating base material in a state of being embedded in a convex shape toward the inner side of the main surface.
  • the via pattern may be a filled via.
  • the diameter of the connection base portion of the via pattern may be 2 ⁇ m or more and 35 ⁇ m or less.
  • the diameter of the top of the via pattern may be 1 ⁇ m or more and 30 ⁇ m or less.
  • the via pattern penetrating from the one main surface side of the insulating substrate of the wiring board to the other main surface side has a curvature with the wiring pattern formed on the one main surface of the insulating substrate. Since the outer diameter is reduced from the connected part to the top of the via pattern, the stress generated between the via pattern and the wiring pattern is dispersed, and the stress is concentrated on the connection part between the via pattern and the wiring pattern. Can be prevented. As a result, the connection reliability between the via pattern and the wiring pattern can be improved. In addition, since the via pattern is connected to the wiring pattern with a curvature, reflection of the signal can be suppressed, so that loss of signal can be reduced even when a high-frequency signal is transmitted.
  • the method for manufacturing a wiring board in the present embodiment is roughly divided into two steps: a step of preparing a mold to be used and a step of manufacturing a wiring board using the prepared die.
  • the method for manufacturing a mold according to the present embodiment includes a step of preparing a cured resin plate body, a step of irradiating a main surface of the resin plate body with a laser or an electron beam according to a via pattern, and forming a hole, And filling a hole formed in the resin plate using a mold material and covering the main surface of the resin plate.
  • a resin plate 3 for taking the shape of the mold 1 and a support plate 2 for supporting the resin plate 3 are prepared.
  • the support plate 2 is made of a material that can be removed by etching.
  • a copper foil having a thickness of about 80 to 120 ⁇ m is used as the support plate 2.
  • the resin plate 3 is made of an alkali or acid soluble material.
  • a photocurable or thermosetting resist film having a thickness of about 15 to 40 ⁇ m, for example, 25 ⁇ m is used as the resin plate 3.
  • the resin plate 3 is laminated on the main surface of the support plate 2, and the resin plate 3 is cured by light irradiation or heating. A peeling process can be performed between the support plate 2 and the resin plate 3.
  • the main surface of the resin plate 3 is irradiated with a laser or an electron beam (EB) to form holes 31 and 32.
  • a laser an excimer laser, a femtosecond laser, or the like can be used.
  • the irradiation direction of the laser or electron beam may be perpendicular to the main surface of the resin plate 3 or may be irradiated from a predetermined angle.
  • the diameters of the openings 311 and 321 of the holes 31 and 32 of the present embodiment are 2 ⁇ m or more and 35 ⁇ m or less, preferably 2 ⁇ m or more and 15 ⁇ m or less, more preferably 2 ⁇ m or more and less than 10 ⁇ m. .
  • the diameters of the bottom portions 312 and 322 of the holes 31 and 32 of the present embodiment are 1 ⁇ m or more and 30 ⁇ m or less, preferably 1 ⁇ m or more and 10 ⁇ m or less, more preferably 1 ⁇ m or more and 5 ⁇ m or less.
  • the depth is 1 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less, preferably 10 ⁇ m or more and 40 ⁇ m or less.
  • the diameters of the openings 311 and 321 are about 10 ⁇ m and the depth is about 15 ⁇ m.
  • the energy applied to the resin plate 3 by the laser or the electron beam gradually decreases from the openings 311 and 321 of the holes 31 and 32 toward the bottoms 312 and 322 of the holes 31 and 32.
  • the resin plate 3 can be irradiated with a laser or an electron beam.
  • a method of gradually decreasing the energy density of the laser beam and a method of gradually decreasing the number of shots over time can be used.
  • the holes 31 and 32 are gradually digged from the opening parts 311 and 321 toward the bottom parts 312 and 322.
  • the diameter of 32 can be reduced.
  • the inner walls 311a and 321a of the openings 311 and 321 of the holes 31 and 32 can be made to have curved surfaces, and the openings 311 and 321
  • the continuous trunk portions 313 and 323 can be inclined walls 313a and 323a having an inclination in the depth direction.
  • the method for controlling the energy applied by the laser or electron beam is not particularly limited, but the type of the resin plate 3, the thickness of the resin plate 3, the type of the laser or electron beam, and the magnitude of energy applied (energy density, number of shots) Depending on the distance between the light source and the resin plate 3, it can be determined experimentally.
  • a method of reducing the beam diameter of laser light such as excimer laser with time can be used.
  • the laser beam diameter when forming the openings 311 and 321 of the holes 31 and 32 can be made larger than the laser beam diameter when forming the bottom portions 312 and 322 of the holes 31 and 32.
  • the diameters of the openings 31 and 321 are increased, and the diameters of the holes 31 and 32 are reduced as the holes 31 and 32 are dug from the openings 311 and 321 toward the bottoms 312 and 322. Can do.
  • the holes 31 and 32 formed by such a method are such that the inner walls 311 a and 321 a of the openings 311 and 321 are connected to the main surface of the resin plate 3 with a curvature. Can be formed. Also, body portions 313 and 323 having inclined walls 313a and 323a whose outer diameters become narrower from the opening portions 311 and 321 of the holes 31 and 32 formed in the resin plate body 3 toward the bottom portions 312 and 322 are formed. Can do.
  • the mold material is used to fill the holes 31 and 32 formed in the resin plate 3 and cover the main surface of the resin plate 3.
  • a conductive layer that becomes a seed layer in a plating process or the like performed later.
  • This conductive layer is formed by a direct plating process (DPP) treatment using carbon (C), palladium (Pd), or the like, or sputtering using copper (Cu) or nickel (Ni).
  • DPP direct plating process
  • plating is performed using a mold material such as copper (Cu) or nickel (Ni)
  • the holes 31 and 32 are filled with the mold material
  • the main surface of the resin plate 3 is covered with a plating layer of the mold material. cover.
  • a conductive nano paste containing copper (Cu), silver (Ag) or the like may be printed to fill the holes 31 and 32 with a mold material and cover the main surface of the resin plate 3.
  • a conductive nano paste containing copper (Cu), silver (Ag) or the like may be printed to fill the holes 31 and 32 with a mold material and cover the main surface of the resin plate 3.
  • an insulating material non-conductive material such as glass can be used.
  • copper plating is performed after a copper (Cu) layer is formed to a thickness of about 100 to 300 nm by sputtering.
  • a copper plating layer having a thickness of about 10 to 50 ⁇ m is formed on the resin plate 3 to fill the holes 31 and 32 with a mold material and cover the main surface of the resin plate 3.
  • the base portions 111 and 121 having the curved surfaces 111a and 121a, the inclined portions 113 and 123, and the top portions 112 and 122, Protrusions 11 and 12 having the above are formed.
  • the formed curved surfaces 111a and 121a of the projections 11 and 12 are in contact with the inner walls 311a and 321a of the holes 31 and 32, and the inclined surfaces 113a and 123a of the projections 11 and 12 are the inclined walls 313a and 323a of the holes 31 and 32, respectively.
  • the top portions 112 and 122 of the protrusions 11 and 12 are in contact with the bottom portions 312 and 322 of the holes 31 and 32.
  • the holes 31 and 32 of the resin plate body 3 of the present embodiment are formed so that the inner walls 311a and 321a of the openings 311 and 321 are connected to the main surface of the resin plate body 3 by a surface having a curvature, Corners formed by intersecting straight lines are not formed. If the object to be plated has corners, the plating thickness of the corners tends to be different from the plating thickness of other parts. On the other hand, in this embodiment, since the corners are not formed in the openings 311 and 321, it is possible to form a plating layer having a uniform thickness on the inner walls 311 a and 321 a.
  • the surfaces of the inclined walls 313a and 323a whose diameters become thinner from the inner side walls 311a and 321a toward the bottoms 312 and 322, are flat with no irregularities, and the opening area gradually increases from the bottoms 312 and 322 to the openings 311 and 321. Since it is wide, a plating layer having a uniform thickness can be formed on the inclined walls 313a and 323a and the bottom portions 312 and 322 as well.
  • the plating thickness is not uniform, the stress acting on the plating layer is concentrated and a strong force may be applied to a part of the plating layer, but in this embodiment, the inner walls 311a and 321a of the openings 311 and 321 are applied. Since the plating layers having a uniform thickness are formed on the inclined walls 313a and 323a and the bottom portions 312 and 322, it is possible to prevent stress from acting on a part of the plating layer (mold 1). According to the manufacturing method of this embodiment, the highly durable metal mold
  • the support plate 2 is removed with an etching solution such as ferric chloride to expose the surface of the resin plate 3.
  • the shape of the protrusion is governed by the resolution of photolithography, and the diameter is 20 ⁇ m or less, particularly 10 ⁇ m or less, and the aspect ratio is 1 or more. It was difficult to produce a fine shape.
  • the holes 31 and 32 are formed by a laser or an electron beam, so that the diameters of the openings 311 and 321 of the holes 31 and 32 are small.
  • the fine holes 31 and 32 having a high aspect ratio (for example, 1 or more) having a diameter of 2 ⁇ m or more and 35 ⁇ m or less and the diameters of the bottom portions 312 and 322 of the holes 31 and 32 being 1 ⁇ m or more and 30 ⁇ m or less are formed in one step. Can do.
  • a curved surface that is difficult to form in the photolithography process can be formed in one process.
  • the inner walls 311a and 321a having curvature and the inner walls 311a and 321a are connected to each other and inclined with respect to the depth direction. Since the inclined walls 313a and 323a and the bottom portions 312 and 322 connected to the inclined walls 313a and 323a and formed by curved surfaces can be manufactured in one step, the mold 1 having the shape shown in FIG. The manufacturing cost can be reduced.
  • the diameter of the via pattern formed on the insulating substrate is limited to about 30 ⁇ m in diameter. is there.
  • a gas such as krypton fluoride (KrF) to be used is expensive. Therefore, it takes a cost to process each via pattern of the wiring board one by one.
  • the via pattern of the wiring board can be formed using the mold 1 according to the present embodiment, a fine via having a diameter of the thickest part of the via pattern of 35 ⁇ m or less, further 15 ⁇ m or less, and less than 10 ⁇ m.
  • a pattern can be formed at low cost.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view of the mold 1 of the present embodiment along the clamping direction (arrow M in the figure).
  • the mold 1 of this embodiment has a printing plate 1a formed according to a pattern (including a via pattern and a wiring pattern) produced on a wiring board.
  • the plate surface 1a of the mold 1 according to the present embodiment has a concavo-convex shape (including protrusions 11 and 12 corresponding to a via pattern and a convex portion corresponding to a wiring pattern) for forming a desired pattern. It functions as a processing plate (original plate) for transferring to an insulating substrate or the like.
  • symbol 1a in FIG. 5 has instruct
  • the plate surface 1a of this embodiment has at least protrusions 11 and 12 formed in a convex shape on the main surface side of the plate surface 1a. There is no interface between the plate surface 1a and the projections 11 and 12, and the projections 11 and 12 constitute a part of the plate surface 1a.
  • the plate surface 1a may be a plate-like member having a predetermined thickness as shown in FIG. 5, or may be a structure supported by another plate-like member (not shown).
  • a metal such as copper (Cu), a resin, or the like can be used as a mold material constituting the mold 1.
  • the protrusions 11 and 12 of the present embodiment are formed in a shape having a thickness (diameter), a length, and an aspect ratio corresponding to the via pattern hole to be formed.
  • the diameters of the bases 111 and 121 of the protrusions 11 and 12 are 2 ⁇ m or more and 35 ⁇ m or less, preferably 2 ⁇ m or more and 15 ⁇ m or less, more preferably 2 ⁇ m or more and less than 10 ⁇ m.
  • the diameters of the top portions 112 and 122 of the protrusions 11 and 12 of the present embodiment are 1 ⁇ m or more and 30 ⁇ m or less, preferably 1 ⁇ m or more and 10 ⁇ m or less, more preferably 1 ⁇ m or more and 5 ⁇ m or less.
  • the length of the protrusions 11 and 12 of the present embodiment is 1 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less, preferably 10 ⁇ m or more and 40 ⁇ m or less.
  • the aspect ratio is 0.5 to 40, preferably 1 to 30, and can be about 1 to 4 in this example.
  • two protrusions 11 and 12 are shown in FIG. 5, the arrangement and number of the protrusions 11 and 12 are not particularly limited.
  • the protrusions 11 and 12 in the present embodiment taper from the bases 111 and 121 connected by curved surfaces 111a and 121a having a curvature to the main surface of the printing plate 1a, and from the bases 111 and 121 to the tops 112 and 122 of the protrusions 11 and 12, respectively. And inclined portions 113 and 123.
  • the main surface of the plate surface 1a is a surface parallel to a surface that moves when transferring or releasing.
  • FIG. 6 is an enlarged view of a region A indicated by a broken line in FIG.
  • the protrusion 12 of the present embodiment has a curved surface 121a at the base 121 that is the root portion thereof.
  • the base 121 of the protrusion 12 is continuous with the plate surface 1a with a curvature.
  • the base 121 that supports the projection 12 having a high aspect ratio on the plate surface 1a is configured by the curved surface 121a, the force acting on the base 121 can be dispersed by the curved surface 121a. As a result, it is possible to prevent problems such as the protrusion 12 being bent from the base or the tip of the protrusion 12 being chipped.
  • FIG. 6 only the protrusion 12 is shown, but the protrusion 11 can also have the same configuration.
  • the inclined portions 113 and 123 have a diameter (thickness) or a cross-section of a cross section parallel to the main surface of the plate surface 1a as the distance from the main surface of the plate surface 1a increases. It is formed in the shape of a cone whose area gradually decreases (see FIG. 5). Specifically, as shown in the enlarged view of FIG. 6, the inclined surface 123a of the inclined portion 123 of the projection portion 12 of the present embodiment has an outer diameter (P1-P1 ′) that becomes narrower from the base portion 121 toward the top portion 122. It is formed as follows.
  • the distance (outer diameter: P1-P1 ′) between the points T1 and T4 on the surface of the protrusion 12 shown in FIG. 6 gradually decreases from the point T1 (T4) to the point T2 (T3) (P2- P2 ′ ⁇ P1-P1 ′).
  • the cross-sectional shape along the moving direction (direction of arrow M in FIG. 5) of the plate surface 1a of the inclined portion 123 for example, the shape surrounded by the points T1, T2, T3, T4 is approximately. It can be a tapered shape.
  • the mold 1 of the present embodiment has the protruding portion 12 having the shape including the inclined portion 123 gradually narrowing from the base portion 121 to the top portion 122 having a curvature on the main surface of the plate surface 1a, and thus resin.
  • the protrusion 12 is press-fitted into the base material, the portion having a small cross-sectional area can be first press-fitted into the resin base material. Thereby, the resistance at the time of press-fitting can be reduced.
  • the top 122 of the protrusion 12 can be formed to have a curved surface.
  • the tip portion when embossing the resin base material is curved, the force acting on the protrusion 12 at the time of press-fitting can be dispersed.
  • the protrusions 11 and 12 are easily press-fitted into the resin substrate when the mold 1 is pressed onto the resin substrate, and the protrusions 11 and 12 are removed from the resin substrate when released from the resin substrate.
  • An easy mold 1 can be provided.
  • the length of T1-T4 shown in FIG. 6 corresponds to an example of the diameter of the bases 111, 121 of the protrusions 11, 12, and the length of T2-T3 shown in FIG. This corresponds to an example of the diameter of the top portions 112 and 122.
  • the top portions 112 and 122 include a portion of a predetermined distance from the top of the top portions 112 and 122 of the projecting portions 11 and 12 to the base portions 111 and 121, and the diameter of the top portions 112 and 122 is a portion included in the top portions 112 and 122. Of the cross section along the plate surface 1a.
  • the shapes of the holes 31 and 32 of the resin plate 3 described above, the holes 31V and 32V of the insulating base material 30 described later, and the via patterns 11V and 12V are substantially the same as the shape of the protrusion 12 shown in FIG. .
  • the diameter of the base 121 of the protrusion 12 includes the diameters of the openings 311 and 321 of the holes 31 and 32 of the resin plate 3, the diameters of the openings 311V and 321V of the holes 31V and 32V of the insulating substrate 30, and Corresponding to the connection base portions 111V and 121V of the via patterns 11V and 12V, the diameter of the top portion 122 of the projection portion 12 is the diameter of the bottom portions 312 and 322 of the holes 31 and 32 of the resin plate 3, and the hole 31V of the insulating substrate 30. , 32V of the bottom portions 312V and 322V, and the via patterns 11V and 12V of the top portions 112V and 122V.
  • a wiring board is obtained by a so-called imprint method using the mold 1 shown in FIGS.
  • a transfer insulating substrate (resin film) 30 constituting the mold 1 and the wiring board is prepared, and the main surface of the mold 1 is opposed to the main surface of the insulating substrate 30. Let them be arranged.
  • a thermosetting resin such as an epoxy resin or a thermoplastic resin such as a liquid crystal polymer can be used.
  • die 1 is moved along the direction (direction shown by arrow P1) which makes the insulating base material 30 approach.
  • an Ajinomoto Build-Up Film (ABF) which is a thermosetting resin, is used as the material of the insulating base material 30 and is heated and pressed at 150 ° C. and 10 MPa.
  • the resistance force received from the insulating base material 30 can be reduced. For this reason, it can press-fit into the insulating base material 30 with a force smaller than the case where the top parts 112 and 122 of the projection parts 11 and 12 are flat.
  • the mold 1 and the insulating substrate 30 are heated to a temperature equal to or higher than the glass transition temperature (Tg), and the mold 1 is pressed against the main surface of the insulating substrate 30 as shown in FIG. Thereafter, the mold 1 and the insulating base material 30 are cooled to below the glass transition temperature (Tg).
  • Tg glass transition temperature
  • the mold 1 is released in a direction (arrow P ⁇ b> 2) away from the insulating substrate 30.
  • the bases 111 and 121 of the protrusions 11 and 12 have a curvature, the bases 111 and 121 are easier to release than when the bases 111 and 121 are connected to the plate surface 1a at an angle.
  • the insulating base material 30 is a thermosetting resin, the insulating base material 30 is completely cured by heating at 180 ° C. for 1 hour in an oven or the like.
  • the insulating base material 30 is a thermoplastic resin, it is cooled and cured.
  • the pattern (including a via pattern and a wiring pattern, the same applies hereinafter) of the plate surface 1 a of the mold 1 can be transferred to the main surface of the insulating base material 30.
  • holes 31V and 32V corresponding to the shapes of the protrusions 11 and 12 of the mold 1 are formed in the insulating base material 30.
  • the holes 31V and 32V include inner side walls 311Va and 321Va having curvature around the openings 311V and 321V, and inclined walls 313Va and 323Va whose inner diameter gradually decreases toward the bottom surface.
  • the holes 31V and 32V formed in the insulating substrate 30 have substantially the same shape as the holes 31 and 32 shown in FIG.
  • the holes 31V and 32V formed in the insulating base material 30 have inner walls 311Va and 321Va having curvatures formed in the openings 311V and 321V, as shown in FIG.
  • the main surface has a curvature and continues.
  • the holes 31V and 32V have trunk portions 313V and 323V having inclined walls 313Va and 323Va that have outer diameters that become narrower from the openings 311V and 321V toward the bottom portions 312V and 322V.
  • the diameters of the openings 311V and 321V of the holes 31V and 32V of the present embodiment are 2 ⁇ m or more and 35 ⁇ m or less, preferably 2 ⁇ m or more and 15 ⁇ m or less, more preferably 2 ⁇ m or more and less than 10 ⁇ m. .
  • the diameters of the bottom portions 312V and 322V of the holes 31V and 32V of the present embodiment are 1 ⁇ m or more and 30 ⁇ m or less, preferably 1 ⁇ m or more and 10 ⁇ m or less, more preferably 1 ⁇ m or more and 5 ⁇ m or less.
  • the depth is 1 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less, preferably 10 ⁇ m or more and 40 ⁇ m or less.
  • the diameters of the openings 311V and 321V are about 10 ⁇ m and the depth is about 15 ⁇ m.
  • the insulating base material 30 remaining in the bottom portions 312V and 322V of the holes 31V and 32V is removed. And as shown in FIG. 10, the holes 31V and 32V are penetrated.
  • the method of removing the insulating base material 30 remaining in the bottom portions 312V and 322V is not particularly limited, polishing is performed mechanically or chemically from the upper surface or the lower surface of the insulating base material 30.
  • the holes 31 ⁇ / b> V and 32 ⁇ / b> V are penetrated by irradiating plasma from the upper surface or the lower surface of the insulating base material 30, spraying a chemical, or sandblasting.
  • a resist is applied to one main surface of the insulating base material 30, the resist is patterned according to the wiring pattern using a photolithography technique, and a concave portion corresponding to the wiring pattern is formed on the one main surface of the insulating base material 30.
  • plating is performed, and the recesses formed by the holes 31V and 32V and the resist pattern are filled with a conductive material such as copper (Cu) or silver (Ag).
  • This treatment can also be performed on the other main surface of the insulating substrate 30. That is, after patterning a resist on one main surface of the insulating base material 30, the resist can be patterned on the other main surface using a photolithography technique, and then plating can be performed.
  • a conductive material such as copper (Cu) or silver (Ag) in the upper concave portion on one main surface side and the lower concave portion on the other main surface side formed by the holes 31V and 32V and the resist pattern. It can. That is, the conductive material is filled in the holes 31V and 32V corresponding to the via pattern and the concave portions corresponding to the front and back wiring patterns in a single plating process, so that a wiring board having interlayer conduction can be obtained.
  • a conductive material such as copper (Cu) or silver (Ag)
  • the holes 31V and 32V of the present embodiment have inner walls 311Va and 321Va having curvature around the openings 311V and 321V, and inclined walls 313Va and 323Va whose inner diameter gradually decreases toward the bottom surface.
  • a uniform seed layer can be formed evenly on the inner surfaces of the holes 31V and 32V by a direct plating process (DPP) process or a sputtering process before the plating process.
  • DPP direct plating process
  • the holes 31V and 32V of the present embodiment have inner side walls 311Va and 321Va having curvature around the openings 311V and 321V, and inclined walls 313Va and 323Va whose inner diameter gradually decreases toward the bottom surface, they are uniform.
  • the plating layer can be formed at a rate, a plating layer having a uniform metal orientation can be formed on the inner surfaces of the holes 31V and 32V.
  • the plating layer formed there can be formed evenly on the inner surfaces of the holes 31V and 32V with a uniform thickness.
  • the holes 31V and 32V of the present embodiment have openings 311V and 321V having diameters of 2 ⁇ m or more and 35 ⁇ m or less, preferably 2 ⁇ m or more and 15 ⁇ m or less, more preferably 2 ⁇ m or more and less than 10 ⁇ m. Since the diameters of the bottom portions 312V and 322V of 31V and 32V are 1 ⁇ m or more and 30 ⁇ m or less, preferably 1 ⁇ m or more and 10 ⁇ m or less, more preferably 1 ⁇ m or more and 5 ⁇ m or less, a solid filled via is formed by plating. can do. By forming the holes 31V and 32V to be thin, the filled via can be formed in a short time. Further, since the plating time can be shortened, the formation conditions of the plating layer can be controlled to be uniform, and a uniform plating layer can be formed.
  • the first wiring patterns 51 to 57, the second wiring patterns 61 and 62, and these Via patterns 11V and 12V that are electrically connected to each other can be formed in a lump. If an excess portion of the conductive material remains, it is removed by polishing or etching. And the wiring board 100 is obtained.
  • the step of drilling the insulating base material 30 with a laser since the step of drilling the insulating base material 30 with a laser is not included, smear such as debris and dust generated at the time of drilling does not occur. For this reason, it is not necessary to perform a desmear process, and a process can be reduced.
  • FIG. 11 is a diagram showing the wiring board 100 according to the present embodiment.
  • the wiring board 100 of the present embodiment includes an insulating substrate 30, first wiring patterns 51 to 57 formed on one main surface of the insulating substrate 30, and formed on the other main surface.
  • the via patterns 11 ⁇ / b> V and 12 ⁇ / b> V in the present embodiment of the present invention are a concept including a columnar conductive member formed in a via hole that penetrates the insulating base material 30.
  • the first wiring patterns 51 to 57 of the wiring board 100 of the present embodiment are formed in a convex shape from one main surface of the insulating base material 30 to the outside side (upper side in the figure) of the insulating base material 30.
  • the via patterns 11V and 12V of the present embodiment are connected to the first wiring patterns 52 and 56 with a curvature and connected to the connecting base portions 111V and 121V, and from the connecting base portions 111V and 121V to the via patterns 11V and 12V.
  • cone-shaped portions 113V and 123V whose outer diameters become narrower as they approach the head top portions 112V and 122V.
  • the via patterns 11V and 12V of this embodiment have curved surfaces 111Va and 121Va having curvatures with the first wiring patterns 52 and 56, and the via patterns 11V and 12V and the first wiring patterns 52 and 56. Is smoothly connected via the curved surfaces 111Va and 121Va, so that even when the frequency is increased, the reflection of the electric signal is reduced and the loss can be suppressed.
  • the via patterns 11V and 12V of the present embodiment are so-called filled vias, have no cavities, and are solidly formed of a conductive material. Since the via patterns 11V and 12V and the first wiring patterns 51 to 57 of the present embodiment are formed by the same process (for example, plating process) under the same conditions at the same time, the orientation of the metal crystals in the conductive material is made uniform. be able to. Therefore, no interface is generated in the via patterns 11V and 12V and in the connection portions between the via patterns 11V and 12V and the first wiring patterns 51 to 57. When a portion having a different orientation of the metal crystal is generated, this portion becomes a starting point, and a crack tends to be generated in the via pattern.
  • the diameters of the connection bases 111V and 121V of the via patterns 11V and 12V of the present embodiment are 2 ⁇ m or more, and It is 35 ⁇ m or less, preferably 2 ⁇ m or more and 15 ⁇ m or less, more preferably 2 ⁇ m or more and less than 10 ⁇ m.
  • the diameters of the top portions 112V and 122V of the via patterns 11V and 12V of the present embodiment are 1 ⁇ m or more and 30 ⁇ m or less, preferably 1 ⁇ m or more and 10 ⁇ m or less, more preferably 1 ⁇ m or more and 5 ⁇ m or less.
  • the lengths of the via patterns 11V and 12V of this embodiment are 1 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less, preferably 10 ⁇ m or more and 40 ⁇ m or less.
  • the aspect ratio is 0.5 to 40, preferably 1 to 30, and can be about 1 to 4 in this example.
  • the connection bases 111V and 121V have a diameter of about 10 ⁇ m and a depth of about 15 ⁇ m.
  • first wiring patterns 51 to 57 and the via patterns 11V and 12V of the wiring board 100 of the present embodiment are formed at the same time, they are integrally formed without an interface.
  • a cross section along the penetration direction of the first wiring pattern 52 and the via pattern 11V and the first wiring pattern 56 and the via pattern 12V of this embodiment is observed by scanning ion microscopy (SIM), the pattern shown in FIG. As shown in the figure, crystal grains without boundaries can be observed.
  • connection base 111V of the via pattern 11V connected to the first wiring pattern 52 and the connection base 121V of the via pattern 12V connected to the first wiring pattern 56 crystal grains having no boundary can be observed.
  • the via patterns 11V and 12V of the wiring board 100 formed using the mold 1 according to the present embodiment corners where straight lines intersect are not formed. That is, the main surface of the insulating substrate 30, the first wiring patterns 51 to 57, and the connection bases 111V and 121V of the via patterns 11V and 12V are connected by the curved surfaces 111Va and 121Va having the curvature. It is possible to prevent signal reflection when the signal is transmitted. Even when a high-frequency signal, which is generally considered to cause signal reflection, is transmitted, according to the wiring board according to the present embodiment, signal reflection can be prevented. Can be suppressed. As a result, the wiring board 100 having excellent transmission characteristics can be provided.
  • the limit of the diameter of the via pattern formed in the insulating layer using an ultraviolet (UV) laser is about 30 ⁇ m as in the conventional manufacturing process of a wiring board.
  • UV ultraviolet
  • a gas such as krypton fluoride (KrF) to be used is expensive. Therefore, the manufacturing cost is increased.
  • the wiring board 100 having the fine via patterns 11V and 12V can be efficiently manufactured using the mold 1.
  • the wiring board 100 shown in FIG. 11 described above is prepared.
  • Insulating base materials 30a and 30b are laminated (first laminating step).
  • a thermosetting resin such as an epoxy resin or a thermoplastic resin such as a liquid crystal polymer can be used.
  • the same material as the insulating substrate 30 of the wiring board 100 can be used, but a different material can also be used.
  • two molds 1A and 1B are prepared. Since the structures of the molds 1A and 1B are the same as those of the mold 1 shown in FIG. 5 described in the first embodiment, description thereof is omitted here.
  • one mold 1 ⁇ / b> A is arranged in parallel to the insulating base material 30 a laminated on the uppermost layer surface side of the wiring board 100, and the other mold 1 ⁇ / b> B is laminated on the lowermost layer side of the wiring board 100.
  • the insulating substrate 30b is arranged in parallel.
  • the top portions 112 and 122 of the projecting portions 11 and 12 formed on the plate surfaces 1a of the two molds 1A and 1B are opposed to the insulating base materials 30a and 30b, respectively.
  • Insulating base materials 30a and 30b are heated until the glass transition temperature or higher, and molds 1A and 1B are moved in the directions of insulating base materials 30a and 30b as shown in FIG. , 12a (11b, 12b) are press-fitted into the insulating substrate 30a (30b).
  • the movement of the molds 1A and 1B may be performed simultaneously or sequentially.
  • the mold 1A and the mold 1B are released from the insulating base materials 30a and 30b, respectively.
  • the bases 111 and 121 of the protrusions 11a and 12a (11b and 12b) have a curvature, the protrusions 11a and 12a (11b and 12b) are easier to release than when the protrusions 11a and 12a (11b and 12b) are connected to the plate surface 1a at an angle.
  • the insulating base materials 30a and 30b are thermosetting resins, they are cured by heating with an oven or the like.
  • the insulating base materials 30a and 30b are thermoplastic resins, they are cooled and cured.
  • holes 31Va, 32Va (31Vb, 31Vb, 31Vb, 31Bb) corresponding to the shapes of the protrusions 11a, 12a (11b, 12b) of the molds 1A, 1B are formed in the insulating base material 30a (30b) after the release. 32Vb) is formed (second lamination step).
  • a resist is applied to the main surfaces (exposed surfaces) of the insulating base materials 30a and 30b, and the resist is patterned according to the wiring pattern using a photolithography technique. A recess corresponding to the wiring pattern is formed on the main surface (third lamination step).
  • conductive materials such as copper (Cu) and silver (Ag) are filled in the recesses formed by the holes 31Va, 32Va (31Vb, 32Vb) and the resist pattern.
  • the conductive material is filled in the recesses corresponding to the holes 31Va, 32Va (31Vb, 32Vb) and the wiring pattern. Therefore, as shown in FIG. 18, the via patterns 11Va, 12Va (11Vb, 12Vb) and the wiring pattern 51a.
  • To 57a (51b to 57b) can be formed (fourth stacking step).
  • the laminated wiring board 1000 having the interlayer conduction with the wiring board 100 can be obtained from the first laminating process to the fourth laminating process.
  • the first to fourth lamination steps described above can be repeated as many times as the number of laminations of the target wiring board 1000.
  • the first wiring patterns 51 to 57, 51a to 57a, 51b to 57b, and the second wiring patterns 61 and 62 may have substantially the same shape or different shapes.
  • the stacked wiring board 1000 having the fine via patterns 11Va and 12Va (11Vb and 12Vb) using the mold 1A and the mold 1B is high. It can be manufactured with production efficiency.
  • first wiring patterns 51 to 57 are formed on one main surface of the insulating substrate 30 of the wiring board 100 located in the center, and second wiring patterns 61 and 62 are formed on the other main surface. Is formed. Via patterns 11 ⁇ / b> V and 12 ⁇ / b> V formed integrally with these and electrically conductive are connected to the first wiring patterns 52 and 56 on a curved surface. The via patterns 11V and 12V taper from the first wiring patterns 52 and 56 side toward the second wiring patterns 61 and 62 side.
  • another wiring board 100a is laminated on one main surface side (upper side in the figure) of the wiring board 100, and another wiring board 100b is placed on the other main surface side of the wiring board 100.
  • First wiring patterns 51a to 57a are formed on one main surface side (upper side in the drawing) of the insulating substrate 30a of the wiring board 100a.
  • Via patterns 11Va and 12Va that are formed integrally with the first wiring patterns 51a to 57a and are electrically connected to the first wiring patterns 51 to 57 of the wiring board 100 and the first wiring patterns 51a to 57a
  • the patterns 52a and 56a are connected by curved surfaces.
  • the via patterns 11Va and 12Va taper from the first wiring patterns 52a and 56a side toward the first wiring patterns 52 and 56 side of the wiring board 100.
  • first wiring patterns 51b to 57b are formed on the other main surface side (lower side in the figure) of the insulating base material 30b of the wiring board 100b.
  • Via patterns 11Vb and 12Vb that are formed integrally with the first wiring patterns 51b to 57b and are electrically connected to the second wiring patterns 61 and 62 of the wiring board 100 and the first wiring patterns 51b to 57b
  • the patterns 52b and 56b are connected by curved surfaces.
  • the via patterns 11Vb and 12Vb taper from the first wiring patterns 52b and 56b side toward the second wiring patterns 61 and 62 side of the wiring board 100.
  • the via patterns 11Va and 12Va and the via patterns 11Vb and 12Vb are formed integrally with the first wiring patterns 51a to 57a and 51b to 57b in the same manner as the via patterns 11V and 12V described in the first embodiment without any interface. Has been.
  • the via patterns 11Va and 12Va and the via patterns 11Vb and 12Vb in the multilayer wiring board 1000 of the present embodiment have the same configuration as the via patterns 11V and 12V of the first embodiment, the multilayer pattern according to the present embodiment.
  • the wiring board 1000 has the same operations and effects as the single-layer wiring board 100 according to the first embodiment.
  • the manufacturing method according to the first embodiment is the same as the second embodiment, but the manufacturing method (variation example) is different from that of the second embodiment in the aspect of lamination. Will be explained.
  • the wiring board 100 shown in FIG. 11 obtained by the manufacturing method of the first embodiment is prepared. And as shown in FIG. 19, another insulating base material 30a is laminated
  • the insulating base material 30a the same material as that of the second embodiment can be used.
  • the mold 1 is the same as the mold 1 shown in FIG. 5 used in the manufacturing method of the first embodiment. As shown in FIG. 20, the mold 1 is disposed in parallel with the wiring board 100, and the plate surface 1a of the mold 1 is disposed so as to face the main surface of the insulating base material 30a.
  • the insulating base material 30a is heated until the glass transition temperature or higher, and as shown in FIG. 21, the mold 1 is moved in the direction of the insulating base material 30a, and the protrusions 11 and 12 are further connected to the insulating base material. Press fit into the material 30a.
  • the mold 1 is released from the insulating substrate 30a, and the insulating substrate 30a is cured.
  • holes 31Va and 32Va corresponding to the shapes of the protrusions 11 and 12 of the mold 1 are formed in the insulating base material 30a after the release (second laminating step).
  • a resist is applied to the main surface (exposed surface) of the insulating base material 30a, the resist is patterned according to the wiring pattern using a photolithography technique, and wiring is performed on the main surface of the insulating base material 30a. A concave portion corresponding to the pattern is formed (third lamination step).
  • a conductive material such as copper (Cu) or silver (Ag) is filled in the recesses formed by the holes 31Va and 32Va and the resist pattern.
  • a conductive material such as copper (Cu) or silver (Ag) is filled in the recesses formed by the holes 31Va and 32Va and the resist pattern.
  • a laminated wiring board 1000 having interlayer conduction with the wiring board 100 can be obtained as shown in FIG.
  • the first to fourth lamination steps described above can be repeated as many times as the number of laminations of the target wiring board 1000.
  • the wiring board 1000 shown in the figure is an example of a four-layer wiring board 1000 in which the first to fourth lamination processes are repeated three times, and the wiring board 100 is laminated with three layers of the wiring boards 100a, 100c, and 100d. is there.
  • the first wiring patterns 51 to 57, 51a to 57a, 51c to 57c, 51d to 57d, and the second wiring patterns 61 and 62, 61a may have the same shape or different shapes. .
  • the via patterns 11Va, 12Va, the via patterns 11Vc, 12Vc, the via patterns 11Vd, 12Vd are the same as the via patterns 11V, 12V described in the first embodiment.
  • the first wiring patterns 51a to 57a, 51c to 57c, and 51d to 57d are formed integrally with no wiring.
  • the via patterns 11Va, 12Va, the via patterns 11Vc, 12Vc, the via patterns 11Vd, 12Vd are connected to the first wiring patterns 51a to 57a, 51c to 57c, and 51d to 57d by curved surfaces. It has a tapered shape toward the tip of the pattern.
  • the via patterns 11Va, 12Va, the via patterns 11Vc, 12Vc, the via patterns 11Vd, 12Vd in the multilayer wiring board 1000 of this example have the same configuration as the via patterns 11V, 12V of the first embodiment.
  • the multilayer wiring board 1000 of this embodiment exhibits the same operations and effects as the single-layer wiring board 100 of the first embodiment.
  • a wiring board manufacturing method and a wiring board 100 manufactured by this manufacturing method according to the third embodiment will be described below with reference to FIGS.
  • the method for manufacturing the wiring board of the present embodiment and the configuration of the wiring board 100 manufactured by this manufacturing method are basically the same as the configuration of the wiring board 100 of the first embodiment.
  • the description of the embodiment will be cited, and different parts will be mainly described.
  • the method for manufacturing a wiring board in the present embodiment is roughly divided into two steps: a step of preparing a mold to be used and a step of manufacturing a wiring board using the prepared die.
  • a method for manufacturing a mold and a manufactured mold will be described, and a method for manufacturing a wiring board using the mold and the manufactured wiring board will be described.
  • the mold manufacturing method of the present embodiment includes a step of preparing a cured resin plate body, and a step of forming a hole by irradiating a main surface of the resin plate body with a laser or an electron beam according to a via pattern.
  • a laminate of the resin plate 3 and the support plate 2 shown in FIG. 25 is prepared, and the resin plate 3 is cured.
  • the materials of the resin plate 3 and the support 2 are the same as those in the first embodiment.
  • holes 31 and 32 are formed by irradiating the main surface of the resin plate 3 with a laser or an electron beam (EB) by the same method as in the first embodiment.
  • the inner walls of the openings 311 and 321 of the holes 31 and 32 of the resin plate body 3 of the present embodiment are formed so as to be connected to the main surface of the resin plate body 3 with a curved surface having a curvature.
  • the holes 31 and 32 have inclined walls 313 a and 323 a that are continuous with the openings 311 and 321 and have an inclination in the depth direction, and are connected at the bottoms 312 and 322.
  • the diameters of the openings 311 and 321 of the holes 31 and 32 of the present embodiment are 2 ⁇ m or more and 35 ⁇ m or less, preferably 2 ⁇ m or more and 15 ⁇ m or less, more preferably 2 ⁇ m or more and less than 10 ⁇ m. .
  • the diameters of the bottom portions 312 and 322 of the holes 31 and 32 of the present embodiment are 1 ⁇ m or more and 30 ⁇ m or less, preferably 1 ⁇ m or more and 10 ⁇ m or less, more preferably 1 ⁇ m or more and 5 ⁇ m or less.
  • the depth is 1 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less, preferably 10 ⁇ m or more and 40 ⁇ m or less.
  • the holes 31 and 32 of this embodiment have a diameter of about 10 ⁇ m and a depth of about 15 ⁇ m.
  • a resist layer 4 is formed on the resin plate 3 so as not to fill the holes 31 and 32.
  • the resist layer 4 may be a film having a thickness of about 5 to 20 ⁇ m soluble in alkali or acid.
  • a predetermined region of the resist layer 4 including a region covering the opening region of the holes 31 and 32 is removed by photolithography according to the wiring pattern.
  • the resist layer 4 is exposed using a photomask and an exposure apparatus, and a predetermined region of the resist layer 4 is selectively removed by alkali development or acid development and patterned.
  • the opening regions of the holes 31 and 32 are opened (the holes 31 and 32 are not closed), and the grooves 41 to 47 of the resist layer 4 are formed.
  • the formed grooves 42 and 46 are connected to the previously formed holes 31 and 32, the main surface of the resin plate 3 connected to the openings 311 and 321 of the holes 31 and 32, and the resist layer 4 that forms the grooves 42 and 46.
  • a step-like (two-stage) pattern is formed by the main surface (on the light source side of exposure).
  • the wiring width of the line-and-space portion formed by the grooves 41 to 47 should be about 5 to 20 ⁇ m
  • the wiring interval should be about 5 to 20 ⁇ m
  • the land diameter of the via pattern should be about 50 to 120 ⁇ m. Can do.
  • a conductive layer to be a seed layer is formed in a plating process or the like performed later by the same method as in the first embodiment.
  • the main surface of the resist layer 4 and the resin plate 3 from which the predetermined region including the region covering the opening region is removed is covered with a mold material.
  • the mold material is filled with holes 31 and 32 and grooves 41 to 47 formed in the resin plate 3 by plating, and the upper and side surfaces of the resist layer 4 and the main surface of the resin plate 3 are filled. Cover.
  • the plating method and the like are the same as those in the first embodiment.
  • the support plate 2 is removed with an etching solution such as ferric chloride.
  • the resin plate 3 is swelled and peeled off with an aqueous sodium hydroxide solution to obtain the mold 1 shown in FIG.
  • a two-step pattern having holes 31 and 32 and grooves 41 to 47 by a laser or an electron beam is formed, thereby performing a single plating process.
  • the protrusions 11 and 12 and the protrusions 21 to 27 can be formed in one step.
  • via pattern holes 31 and 32 are first formed by laser or the like, then wiring pattern grooves 41 to 47 are formed, and mold material holes 31 and 32 and grooves 41 to 47 are formed in one step.
  • the process of polishing the top of the protrusion for the via pattern as compared with the conventional method of forming the protrusion for the via pattern on the protrusion after forming the protrusion for the wiring pattern. Can be eliminated, and the process can be simplified.
  • the holes 31 and 32 may be formed in the resin plate disposed below.
  • the protrusion 11 having the bases 111 and 121 that are curved and smoothly connected to the upper surfaces of the protrusions 12 and 16 that cannot be obtained in the photolithography process. , 12 can be formed, and the same operations and effects as the first embodiment can be obtained.
  • the via pattern and the wiring pattern constitute a wiring board pattern.
  • the protrusions 11 and 12 have bases 111 and 121 that are continuous with curvature on the upper surfaces of the convex parts 21 to 27, and an inclination in which the outer diameter becomes thinner from the bases 111 and 121 toward the top parts 112 and 122 of the protrusions 11 and 12. Parts 113 and 123.
  • the bases 111 and 121 of the protrusions 11 and 12 corresponding to the via pattern are connected to the upper surfaces of the convex portions 21 to 27 (surfaces parallel to the main surface of the plate surface 1a, hereinafter the same) by the curved surfaces 111a and 121a. That is, the protrusions 11 and 12 have apexes 112 and 122 higher than the protrusions 21 to 27, and bases 111 and 121 connected to the upper surfaces of the protrusions 22 and 26 by curved surfaces 111a and 121a having curvature. There is no interface between the printing plate 1a and the projections 21 to 27, and between the projections 22 and 26 and the projections 11 and 12, and the mold 1 is integrally formed. Copper (Cu) or the like can be used as the mold material constituting the mold 1 as in the first embodiment.
  • Cu Copper
  • the protrusions 11 and 12 of the present embodiment have tops 112 and 122 formed of curved surfaces, respectively.
  • shape of the projections 11 and 12 can be formed by the same method as in the above-described embodiment.
  • the diameters of the bases 111 and 121 of the protrusions 11 and 12 are 2 ⁇ m or more and 35 ⁇ m or less, preferably 2 ⁇ m or more and 15 ⁇ m or less, more preferably 2 ⁇ m or more and less than 10 ⁇ m.
  • the diameters of the top portions 112 and 122 of the protrusions 11 and 12 of the present embodiment are 1 ⁇ m or more and 30 ⁇ m or less, preferably 1 ⁇ m or more and 10 ⁇ m or less, more preferably 1 ⁇ m or more and 5 ⁇ m or less.
  • the lengths of the protrusions 11 and 12 of the present embodiment are 1 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less, preferably 10 ⁇ m or more and 40 ⁇ m or less.
  • the aspect ratio is 0.5 to 40, preferably 1 to 30, and can be about 1 to 4 in this example.
  • the bases 111 and 121 of the projections 11 and 12 are smoothly connected to the upper surfaces (surfaces parallel to the plate surface 1a) of the convex portions 21 to 27 with a curvature. The same operations and effects as the first embodiment are achieved.
  • a wiring board is obtained by the so-called imprint method using the mold 1 shown in FIG.
  • a transfer insulating base material (resin film) 30 constituting the mold 1 and the wiring board is prepared, and the main surface of the mold 1 faces the main surface of the insulating base material 30. Let them be arranged.
  • the material of the insulating substrate 30 is the same as that in the first embodiment.
  • the mold 1 is moved along the arrow P1 shown in FIG. 32, and the mold is pushed as shown in FIG.
  • the mold 1 and the insulating base material 30 are cooled to below the glass transition temperature (Tg), and the mold 1 is released in the direction (arrow P2) away from the insulating base material 30, as shown in FIG.
  • the insulating base material 30 is a thermosetting resin
  • the insulating base material 30 is completely cured by heating, for example, at 160 to 200 ° C. for 40 minutes to 80 minutes using an oven or the like.
  • the insulating base material 30 is a thermoplastic resin, it is cooled and cured.
  • the pattern of the plate surface 1a of the mold 1 (including the via pattern and the wiring pattern, the same applies hereinafter) can be transferred to the main surface of the insulating substrate 30.
  • the mold 1 when the mold 1 is released, holes 31V and 32V and recesses 331 to 337 corresponding to the shapes of the protrusions 11 and 12 of the mold 1 are formed in the insulating base 30. .
  • the holes 31V and 32V have inner walls 311Va and 321Va having curvatures around the openings 311V and 321V, and inclined walls 313Va and 323Va whose inner diameter gradually decreases toward the bottom surface.
  • inner walls 311Va and 321Va having curvature are formed in the opening portions 311V and 321V, and the concave portions 331 to 337 of the insulating base material 30 are curved.
  • the holes 31V and 32V have trunk portions 313V and 323V having inclined walls 313Va and 323Va whose outer diameters become narrower from the openings 311V and 321V toward the bottom portions 312V and 322V.
  • the diameters of the openings 311V and 321V of the holes 31V and 32V of the present embodiment are 2 ⁇ m or more and 35 ⁇ m or less, preferably 2 ⁇ m or more and 15 ⁇ m or less, more preferably 2 ⁇ m or more and less than 10 ⁇ m. .
  • the diameters of the bottom portions 312V and 322V of the holes 31V and 32V of the present embodiment are 1 ⁇ m or more and 30 ⁇ m or less, preferably 1 ⁇ m or more and 10 ⁇ m or less, more preferably 1 ⁇ m or more and 5 ⁇ m or less.
  • the depth is 1 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less, preferably 10 ⁇ m or more and 40 ⁇ m or less.
  • the holes 31V and 32V of the present embodiment have a diameter of about 10 ⁇ m and a depth of about 15 ⁇ m.
  • Plating or conductive paste is printed and sintered, and the recesses 331 to 337 and the holes 31V and 32V are filled with a conductive material, whereby the first wiring patterns 51 to 57 and the via patterns 11V and 12V are formed as shown in FIG. Form. Moreover, when the excess part of nanopaste remains, it removes by grinding
  • plating or conductive paste is printed / sintered on the other main surface (lower side in the drawing) of the insulating base material 30 to form second wiring patterns 61 and 62 that are electrically connected to the via patterns 11V and 12V. .
  • FIG. 37 shows the wiring board 100 according to the present embodiment.
  • the wiring board 100 of the present embodiment includes an insulating base material 30, first wiring patterns 51 to 57 formed on one main surface of the insulating base material 30, and the insulating base material 30.
  • the first wiring patterns 51 to 57 and the second wiring patterns 61 and 62 penetrate from the first main surface side of the insulating base material 30 to the other main surface side. Via patterns 11V and 12V which are electrically connected to each other.
  • the first wiring patterns 51 to 57 of the wiring board 100 of this embodiment are embedded on one main surface of the insulating base material 30 so as to protrude from the main surface of the insulating base material 30 toward the inside. It is formed in the state. As shown in FIG. 37, the upper side surfaces of the first wiring patterns 51 to 57 are the same height as the main surface of the insulating base material 30, and the main surface of the insulating base material 30 and the upper sides of the first wiring patterns 51 to 57 are shown. There is no difference in level with the plane. That is, although the first wiring patterns 51 to 57 are formed, the main surface of the insulating base material 30 can be flattened.
  • the via patterns 11V and 12V of the present embodiment are connected to the first wiring patterns 52 and 56 with a curvature and connected to the connecting base portions 111V and 121V, and from the connecting base portions 111V and 121V to the via patterns 11V and 12V.
  • cone-shaped portions 113V and 123V whose outer diameters become narrower as they approach the head top portions 112V and 122V.
  • the via patterns 11V and 12V of this embodiment have curved surfaces 111Va and 121Va having curvatures with the first wiring patterns 52 and 56, and the via patterns 11V and 12V and the first wiring patterns 52 and 56. Is smoothly connected via the curved surfaces 111Va and 121Va and is integrally formed, and thus has the same function as the wiring board of the first embodiment and has the same effect.
  • the first wiring patterns 51 to 57 and the via patterns 11V and 12V are collectively formed using the two-stage mold 1. Therefore, it is possible to obtain a highly accurate wiring board 100 with a small manufacturing error in the pitch and positional relationship between the first wiring patterns 51 to 57 and the via patterns 11V and 12V.
  • the first wiring patterns 51 to 57 and the via patterns 11V and 12V can be collectively formed by using the two-stage mold 1. Therefore, the via pattern 11V can be formed by a single plating process. , 12V and the first wiring patterns 51 to 57 can be manufactured together. Therefore, as compared with the case where the via pattern and the wiring pattern are formed by repeating the steps of photolithography, plating, and polishing, a polishing step between the steps is not necessary, and the process becomes simple.
  • the via patterns 11V and 12V are left using the chemical solution from the lower surface of the insulating substrate 30 as shown in FIG. A part of the insulating base material 30 is selectively removed as it is.
  • the tips of the via patterns 11 ⁇ / b> V and 12 ⁇ / b> V are projected from the lower surface (lower side in the drawing) of the insulating base material 30.
  • second wiring patterns 61 and 62 are formed by printing or sintering a plating or conductive paste. As a result, the contact area between the via patterns 11V and 12V and the second wiring patterns 61 and 62 increases, and the connection reliability can be improved.
  • FIG. 34 after the mold 1 is released from the insulating base material 30, the lower surface of the insulating base material 30 is chemically or mechanically polished, or the upper surface or the lower surface of the insulating base material 30. Then, the remaining portions of the bottom portions 312V and 322V are removed by plasma, chemical solution, sandblasting, or the like as shown in FIG. 40, and the holes 31V and 32V are penetrated. Thereafter, plating or conductive paste is printed and sintered, and the holes 31V and 32V are filled with a conductive material, thereby forming first wiring patterns 51 to 57 and via patterns 11V and 12V as shown in FIG.
  • the tips of the via patterns 11 ⁇ / b> V and 12 ⁇ / b> V are exposed and protrude from the other main surface (lower side surface) of the insulating base material 30.
  • the second wiring patterns 61 and 62 are formed by printing or sintering a plating or conductive paste.
  • the contact area between the via patterns 11V and 12V and the second wiring patterns 61 and 62 is increased, and the connection reliability can be improved.
  • FIG. 32 and FIG. 33 are substantially the same, and redundant description is omitted.
  • 34 after the mold 1 is released from the insulating substrate 30, chemical or mechanical polishing is performed from the lower surface of the insulating substrate 30, or the upper surface or lower surface of the insulating substrate 30. Then, the holes 31V and 32V are penetrated by plasma, chemical solution, sandblasting or the like as shown in FIG. Thereafter, a support substrate (not shown) is disposed on the lower surface of the insulating base material 30, and the holes 31V and 32V are temporarily closed, and plating or conductive paste is printed and sintered, so that a conductive material is formed in the holes 31V and 32V. As shown in FIG. 43, first wiring patterns 51 to 57 and via patterns 11V and 12V are formed.
  • the lower surface of the insulating base 30 and the top portions 112V and 122V of the via patterns 11V and 12V have the same height (so-called flush).
  • plating or conductive paste is printed and sintered to form second wiring patterns 61 and 62 as shown in FIG.
  • modified examples 1 to 3 have features common to the third embodiment, and exhibit common functions and effects.
  • the above-described wiring board 100 shown in FIG. 37 is prepared, and the insulating base used in the wiring board 100 is formed on the uppermost surface (exposed surface) of the wiring board 100.
  • Insulating base material 30a other than material 30 is laminated (first laminating step).
  • the same material as the insulating base material 30 of the wiring board 100 can be used for the insulating base material 30a.
  • the mold 1 is prepared. Since the structure of the mold 1 is the same as that of the mold 1 shown in FIG. 31 described in the third embodiment, the description thereof is omitted here. As shown in FIG. 44, the mold 1 is arranged in parallel with the insulating base material 30 a laminated on the uppermost surface side of the wiring board 100. The top portions 112 and 122 of the projections 11 and 12 formed on the plate surface 1a of the mold 1 are opposed to the insulating base material 30a.
  • the insulating substrate 30a is heated until the glass transition temperature or higher, and as shown in FIG. 45, the mold 1 is moved in the direction of the insulating substrate 30a, and the protrusions 11 and 12 are insulated. Press-fit into the substrate 30a.
  • the mold 1 is released from the insulating substrate 30a.
  • the bases 111 and 112 of the protrusions 11 and 12 have a curvature, they are easier to release than when the protrusions 11 and 12 are connected to the plate surface 1a at an angle.
  • the insulating substrate 30a is a thermosetting resin, it is cured by heating with an oven or the like.
  • the insulating substrate 30a is a thermoplastic resin, it is cooled and cured.
  • the step of curing the insulating base material 30a is not limited to after the mold release, but may be after the mold 1 shown in FIG. 45 is press-fitted, and the holes 31Va and 32Va as shown in FIG. 47 described later. It may be after having penetrated.
  • the insulating base material 30a after the mold release has holes 31Va and 32Va corresponding to the shapes of the protrusions 11 and 12 of the mold 1 and recesses 331a to 337a corresponding to the first wiring pattern. Is formed (second lamination step).
  • a laminated wiring board 1000 having interlayer conduction shown in FIG. 48 can be obtained by the first to third lamination steps described above. The above-described first to third stacking steps can be repeated a number of times corresponding to the target number of stacks.
  • the via patterns 11V and 12V have a curvature with the first wiring patterns 51 to 57 (51a to 57a), as in the above-described embodiment. Since the outer diameter becomes narrower as it approaches the top of the via from the connection portion with the first wiring patterns 51 to 57 (51a to 57a), the same effect as in the above-described embodiment can be obtained. There is an effect.
  • the via patterns 11V and 12V are interfaced with the first wiring patterns 51 to 57 (51a to 57a) as in the above-described embodiment. Since they are integrally formed without any problem, the same effects as those of the above-described embodiment can be obtained, and the same effects can be obtained.
  • FIG. 48 shows a laminated wiring board 1000 having wiring boards 100 and 100a.
  • another wiring board 100 may be further laminated on the upper surface of the wiring board 100a (the surface opposite to the wiring board 100). It can.
  • the first wiring patterns 51 to 57 of each wiring board to be laminated may be in a common mode or in different modes.
  • a wiring board manufacturing method and a wiring board 100 manufactured by this manufacturing method according to the fifth embodiment will be described below with reference to FIGS.
  • the method for manufacturing the wiring board of the present embodiment and the configuration of the wiring board 100 manufactured by this manufacturing method are basically the same as the configuration of the wiring board 100 of the first embodiment.
  • the description of the embodiment will be cited, and different parts will be mainly described.
  • the method for manufacturing a wiring board in the present embodiment is roughly divided into two steps: a step of preparing a mold to be used and a step of manufacturing a wiring board using the prepared die.
  • a method for manufacturing a mold and a manufactured mold will be described, and a method for manufacturing a wiring board using the mold and the manufactured wiring board will be described.
  • two molds are prepared: a via mold 1 and a wiring pattern mold 1C.
  • the manufacturing method of the via mold 1 is the same as that of the mold 1 of the first embodiment, and a laser is applied to the main surface of the resin plate according to the step of preparing the cured resin plate and the via pattern. Or it has the process of irradiating an electron beam and forming a hole, and the process of filling the hole formed in the resin plate body using metal mold
  • holes 31 and 32 are formed by irradiating the main surface of the resin plate 3 with a laser or an electron beam (EB) by the same method as in the first embodiment.
  • Inner side walls 311 a and 321 a of the openings 311 and 321 of the holes 31 and 32 of the resin plate body 3 of the present embodiment are formed so as to be continuous with a curved surface having a curvature on the main surface of the resin plate body 3.
  • the holes 31 and 32 have inclined walls 313 a and 323 a that are continuous with the openings 311 and 321 and have an inclination in the depth direction, and are connected at the bottoms 312 and 322.
  • the diameters of the openings 311 and 321 of the holes 31 and 32 of the present embodiment are 2 ⁇ m or more and 35 ⁇ m or less, preferably 2 ⁇ m or more and 15 ⁇ m or less, more preferably 2 ⁇ m or more and less than 10 ⁇ m. .
  • the diameters of the bottom portions 312 and 322 of the holes 31 and 32 of the present embodiment are 1 ⁇ m or more and 30 ⁇ m or less, preferably 1 ⁇ m or more and 10 ⁇ m or less, more preferably 1 ⁇ m or more and 5 ⁇ m or less.
  • the depth is 1 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less, preferably 10 ⁇ m or more and 40 ⁇ m or less.
  • the diameters of the openings 311 and 321 of the holes 31 and 32 of this embodiment are about 10 ⁇ m and the depth is about 15 ⁇ m.
  • a conductive layer to be a seed layer is formed in a plating process or the like performed later by the same method as in the first embodiment.
  • holes 31 and 32 formed in the resin plate 3 are filled using a mold material and the main surface of the resin plate 3 is covered.
  • the mold material is filled in the holes 31 and 32 formed in the resin plate 3 by plating, and the main surface of the resin plate 3 is covered.
  • the plating method and the like are the same as those in the first embodiment.
  • the support plate 2 is removed with an etching solution such as ferric chloride.
  • the resin plate 3 is swelled and peeled off with an aqueous sodium hydroxide solution to obtain a mold.
  • the height of the projecting portions 11 and 12 in the mold clamping direction is configured to be thicker than the insulating base material 30. This is because the mold 1 comes into contact with the insulating base material 30 when the protrusions 11 and 12 are press-fitted into the insulating base material 30, and will be described later, recessed portions 331 to 337 previously formed on the insulating base material 30. Can be prevented from losing its shape.
  • the plate surface 1a of the mold 1 has at least protrusions 11 and 12 formed in a convex shape on the main surface side of the plate surface 1a. There is no interface between the plate surface 1a and the projections 11 and 12, and the projections 11 and 12 constitute a part of the plate surface 1a.
  • the protrusions 11 and 12 of the present embodiment are formed in a shape having a thickness (diameter), a length, and an aspect ratio corresponding to the via pattern hole to be formed.
  • the diameters of the bases 111 and 121 of the protrusions 11 and 12 are 2 ⁇ m or more and 35 ⁇ m or less, preferably 2 ⁇ m or more and 15 ⁇ m or less, more preferably 2 ⁇ m or more and less than 10 ⁇ m.
  • the diameters of the top portions 112 and 122 of the protrusions 11 and 12 of the present embodiment are 1 ⁇ m or more and 30 ⁇ m or less, preferably 1 ⁇ m or more and 10 ⁇ m or less, more preferably 1 ⁇ m or more and 5 ⁇ m or less.
  • the lengths of the protrusions 11 and 12 of the present embodiment are 1 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less, preferably 10 ⁇ m or more and 40 ⁇ m or less.
  • the aspect ratio is 0.5 to 40, preferably 1 to 30, and can be about 1 to 4 in this example.
  • the protrusions 11 and 12 in the present embodiment taper from the bases 111 and 121 having the curved surfaces 111a and 121a and from the bases 111 and 121 to the tops 112 and 122 of the protrusions 11 and 12, respectively. And inclined portions 113 and 123.
  • the wiring mold 1C includes a printing plate 1a including a convex portion formed according to a wiring pattern that constitutes a part of the pattern.
  • the plate surface 1a of the mold 1C includes a convex portion corresponding to the wiring pattern.
  • the mold 1C can form a wiring pattern with a line width of about several nm to several ⁇ m in an insulating resin.
  • the mold 1C can be manufactured by various methods. For example, the mold 1C can be manufactured by using a photolithography technique.
  • a photoresist is applied to a glass substrate, the resist is patterned using a photolithography technique, a metal coat is applied to the surface of the patterned resist by sputtering or electroless plating, and nickel (Ni ) Or copper (Cu), a glass substrate is peeled from the metal layer, and a resist remaining on the metal layer is removed.
  • a metal mold die 1C, a commercially available nanoimprint mold etc. can be used.
  • a wiring board is obtained by a so-called imprint method using the via mold 1 and the wiring mold 1C shown in FIG.
  • a wiring mold 1C is disposed so as to face the main surface of the insulating substrate 30. Convex portions 21 to 27 corresponding to the wiring pattern are formed on the plate surface 1a of the wiring mold 1C.
  • the material of the insulating substrate 30 is the same as that in the first embodiment.
  • the mold 1C is brought close to the insulating base material 30 (moved along the arrow P1) under the same conditions as in the first embodiment, and the mold is pressed.
  • the convex portions 21 to 27 are press-fitted by a hot press of 130 to 170 ° C. and 0.8 to 1.2 MPa.
  • the mold 1C and the insulating base material 30 are cooled to below the glass transition temperature (Tg), and the mold 1C is released in the direction separating from the insulating base material 30 (arrow P2) as shown in FIG.
  • ABSOR Ajinomoto Build-Up Film
  • recesses 331 to 337 corresponding to the wiring pattern are formed on the main surface of the insulating substrate 30.
  • the via mold 1 is so arranged that the projections 11 and 12 of the mold 1 abut against the recesses 331 to 337 formed on one main surface of the insulating substrate 30.
  • the insulating substrate 30 is disposed so as to face the main surface.
  • die 1 is made to approach the insulating base material 30 on the same conditions as 1st Embodiment (it is moved along the arrow P1), and a mold is pushed.
  • the protrusions 11 and 12 are press-fitted by a hot press of 130 to 170 ° C. and 0.8 to 1.2 MPa.
  • the mold 1 and the insulating base material 30 are cooled to below the glass transition temperature (Tg), and the mold 1 is released in a direction (arrow P2) away from the insulating base material 30, as shown in FIG.
  • Tg glass transition temperature
  • P2 glass transition temperature
  • the insulating base material 30 is a thermosetting resin
  • the insulating base material 30 is completely cured by heating, for example, at 160 to 200 ° C. for 40 minutes to 80 minutes using an oven or the like.
  • the insulating base material 30 is a thermoplastic resin, it is cooled and cured.
  • the mold 1 and the insulating base material 30 do not come into contact with each other by making the height in the mold clamping direction (vertical direction in the drawing) of the protrusions 11 and 12 higher than the thickness of the insulating base material 30. Therefore, it is possible to prevent the concave portions 331 to 337 of the insulating base material 30 from being deformed.
  • the shape according to the via pattern of the plate surface 1a of the mold 1 and the shape according to the wiring pattern of the plate surface 1a of the mold 1C can be transferred to the main surface of the insulating substrate 30.
  • concave portions 331 to 337 corresponding to the convex portions 21 to 27 of the mold 1C are formed in the insulating substrate 30, and the protrusions of the mold 1 are formed. Holes 31V and 32V corresponding to the shapes of 11 and 12 are formed.
  • the holes 31V and 32V include inner walls 311Va and 321Va having curvatures around the openings 311V and 321V, and inclined walls 313Va and 323Va whose inner diameter gradually decreases toward the bottom surface.
  • the holes 31V and 32V formed in the insulating base material 30 have inner walls 311Va and 321Va having curvatures formed in the openings 311V and 321V, as shown in FIG.
  • the recesses 331 to 337 are continuous with curvature.
  • the holes 31V and 32V have trunk portions 313V and 323V having inclined walls 313Va and 323Va that have outer diameters that become narrower from the openings 311V and 321V toward the bottom portions 312V and 322V.
  • the diameters of the openings 311V and 321V of the holes 31V and 32V of the present embodiment are 2 ⁇ m or more and 35 ⁇ m or less, preferably 2 ⁇ m or more and 15 ⁇ m or less, more preferably 2 ⁇ m or more and less than 10 ⁇ m. .
  • the diameters of the bottom portions 312V and 322V of the holes 31V and 32V of the present embodiment are 1 ⁇ m or more and 30 ⁇ m or less, preferably 1 ⁇ m or more and 10 ⁇ m or less, more preferably 1 ⁇ m or more and 5 ⁇ m or less.
  • the depth is 1 ⁇ m or more and 50 ⁇ m or less, preferably 10 ⁇ m or more and 40 ⁇ m or less.
  • the holes 31V and 32V of the present embodiment have a diameter of about 10 ⁇ m and a depth of about 15 ⁇ m.
  • a resist is applied to the lower surface of the insulating substrate 30 shown in FIG. 60, and after patterning the resist using a photolithography technique, plating is performed to fill the holes 31V and 32V and the recesses 331 to 337 with a conductive material.
  • the via patterns 11V and 12V, the first wiring patterns 51 to 57, and the second wiring patterns 61 and 62 can be simultaneously formed.
  • the via patterns 11V and 12V, the first wiring patterns 51 to 57, and the second wiring patterns 61 and 62 can be simultaneously formed by printing and sintering a conductive paste on the upper surface of the insulating substrate 30. .
  • the excess part of nanopaste remains, it removes by grinding
  • FIG. 61 shows the wiring board 100 according to the present embodiment.
  • the wiring board 100 of the present embodiment includes an insulating substrate 30, first wiring patterns 51 to 57 formed on one main surface of the insulating substrate 30, and the insulating substrate 30.
  • the first wiring patterns 51 to 57 and the second wiring patterns 61 and 62 penetrate from the first main surface side of the insulating base material 30 to the other main surface side. Via patterns 11V and 12V which are electrically connected to each other.
  • the first wiring patterns 51 to 57 of the wiring board 100 of the present embodiment are embedded in a convex shape from one main surface (upper side in the figure) of the insulating base material 30 toward the inner side of the insulating base material 30. It is formed in a state. Therefore, the upper surfaces of the first wiring patterns 51 to 57 are the same height as the main surface of the insulating substrate 30, and the insulating substrates are formed even though the first wiring patterns 51 to 57 are formed. 30 main surfaces can be made flat. Therefore, other parts can be mounted and other wiring boards 100 can be stacked on the insulating base material 30 in which the first wiring patterns 51 to 57 are embedded without being restricted by the arrangement position. . Further, even if a plurality of wiring boards 100 are laminated, a laminated wiring board having a flat entire surface can be produced.
  • the via patterns 11V and 12V of the present embodiment are connected to the connecting base portions 111V and 121V connected to the first wiring patterns 52 and 56 at the connecting curved surfaces 111Va and 121Va and the connecting base portions 111V and 121V as shown in FIG. And conical portions 113V and 123V whose outer diameters become narrower as they approach the tips of the patterns 11V and 12V.
  • the via patterns 11V and 12V of this embodiment have curved surfaces 111Va and 121Va having curvatures with the first wiring patterns 52 and 56, and the via patterns 11V and 12V and the first wiring patterns 52 and 56. Is smoothly connected via the curved surfaces 111Va and 121Va and is integrally formed, and thus has the same function as the wiring board of the above-described embodiment and has the same effect.
  • the wiring board 100 of the fifth embodiment described above is prepared, and the insulating surface used in the wiring board 100 is provided on the uppermost surface (exposed surface) of the wiring board 100.
  • Insulating base material 30a other than base material 30 is laminated (first laminating step).
  • the same material as the insulating base material 30 of the wiring board 100 can be used for the insulating base material 30a.
  • a mold 1C is prepared.
  • the structure of the mold 1C is common to the mold 1C described in the fifth embodiment. As shown in the figure, the mold 1C is arranged in parallel to the insulating base material 30a laminated on the uppermost layer side of the wiring board 100. The convex portions 21 to 27 formed on the plate surface 1a of the mold 1C face the insulating substrate 30a.
  • the insulating base material 30a is heated to the glass transition temperature or higher, and as shown in FIG. 63, the mold 1C is moved in the direction of the insulating base material 30a, and the protrusions 21 to 27 are insulative. Press-fit into the substrate 30a.
  • the mold 1C is released from the insulating base material 30a, and the concave portions 331a to 337a having shapes corresponding to the convex portions 21 to 27 of the mold 1C are formed as the insulating base material. 30 (second laminating step).
  • the mold 1 is prepared. Since the structure of the mold 1 is the same as that of the mold 1 described in the fifth embodiment, the description thereof is omitted here. As shown in FIG. 65, the mold 1 is arranged in parallel to the insulating base material 30a laminated on the uppermost surface side of the wiring board 100. Concave portions 331a to 337a are formed in the insulating base material 30a. The top portions 112 and 122 of the protrusions 11 and 12 formed on the plate surface 1a of the mold 1 are opposed to the recesses 332a and 336a of the insulating base material 30a.
  • the insulating base material 30a is heated until the glass transition temperature or higher, and as shown in FIG. 66, the mold 1 is moved in the direction of the insulating base material 30a, and the protrusions 11 and 12 are insulative. Press-fit into the substrate 30a.
  • the mold 1 is released from the insulating base material 30a.
  • the bases 111 and 112 of the protrusions 11 and 12 have a curvature, they are easier to release than when the protrusions 11 and 12 are connected to the mold 1 at an angle.
  • the insulating substrate 30a is a thermosetting resin, it is cured by heating with an oven or the like.
  • the insulating substrate 30a is a thermoplastic resin, it is cooled and cured.
  • the insulating base material 30a after the mold 1 is released has holes 31Va and 32Va corresponding to the shapes of the protrusions 11 and 12 of the mold 1 and the first wiring pattern.
  • Recesses 331a to 337a are formed (third lamination step).
  • the first wiring pattern and the via pattern are formed by printing / sintering the wiring board 100 of FIG. 68 or printing / sintering and filling the recesses 331a to 337a and the holes 31Va and 32Va with the conductive material. (Fourth stacking step). Moreover, when the excess part of nanopaste remains, it removes by grinding
  • the multilayer wiring board 1000 having interlayer conduction with the wiring board 100 can be obtained by the first to fourth lamination processes described above.
  • FIG. 69 shows an example of a laminated wiring board 1000 in which the wiring boards 100a, 100c, and 100d are laminated on the wiring board 100 by repeating the first to fourth lamination processes three times. The first to fourth lamination steps described above can be repeated as many times as the number of laminations of the target wiring board 1000.
  • the via patterns 11V, 12V are provided in the first wiring patterns 51 to 57 (51a to 57a, 51c to 57c, 51d to 57d) with a curvature, and from the connection portion with the first wiring patterns 51 to 57 (51a to 57a, 51c to 57c, 51d to 57d), approaching the top of the via. Since it has a shape in which the outer diameter is reduced, the same effect as the above-described embodiment is achieved, and the same effect is achieved.
  • the via patterns 11V and 12V are provided in the first wiring patterns 51 to 57, as in the above-described embodiment. Since (51a to 57a, 51c to 57c, 51d to 57d) are integrally formed with no interface, the same operation as the above-described embodiment is achieved and the same effect is achieved.
  • the number of laminated wiring boards 100 is not limited. Further, the first wiring patterns 51 to 57 (51a to 57a, 51c to 57c, 51d to 57d) of the respective wiring boards to be laminated may be in a common mode or in different modes.
  • the method for manufacturing a wiring board in the present embodiment is roughly divided into two steps: a step of preparing a mold to be used and a step of manufacturing a wiring board using the prepared die.
  • a method for manufacturing a mold and a manufactured mold will be described, and a method for manufacturing a wiring board using the mold and the manufactured wiring board will be described.
  • two molds are prepared: a via mold 1 and a wiring pattern mold 1C.
  • the manufacturing method of the via mold 1 is the same as that of the mold 1 of the first embodiment, and a laser is applied to the main surface of the resin plate according to the step of preparing the cured resin plate and the via pattern. Or it has the process of irradiating an electron beam and forming a hole, and the process of filling the hole formed in the resin plate body using metal mold
  • the manufacturing method of the via mold 1 is the same as that of the fifth embodiment.
  • holes 31 and 32 are formed by irradiating the main surface of the resin plate 3 with a laser or an electron beam (EB) by the same method as in the first embodiment.
  • Inner side walls 311 a and 321 a of the openings 311 and 321 of the holes 31 and 32 of the resin plate body 3 of the present embodiment are formed so as to be continuous with a curved surface having a curvature on the main surface of the resin plate body 3.
  • the holes 31 and 32 have inclined walls 313 a and 323 a that are continuous with the openings 311 and 321 and have an inclination in the depth direction, and are connected at the bottoms 312 and 322.
  • the diameter, depth, and aspect ratio of the holes 31 and 32 are the same as those in the fifth embodiment.
  • a conductive layer to be a seed layer is formed in a plating process or the like performed later by the same method as in the first embodiment.
  • holes 31 and 32 formed in the resin plate 3 are filled using a mold material and the main surface of the resin plate 3 is covered.
  • the holes 31 and 32 formed in the resin plate 3 are filled with a mold material by plating, and the main surface of the resin plate 3 is covered.
  • the plating method and the like are the same as those in the first embodiment.
  • the support plate 2 is removed with an etchant such as ferric chloride.
  • the resin plate 3 is swollen and peeled off with an aqueous sodium hydroxide solution to obtain a mold 1 shown in FIG.
  • the height of the projecting portions 11 and 12 in the mold clamping direction (vertical direction in the drawing) is configured to be thicker than the thickness of the insulating base material 30. This is because the mold 1 comes into contact with the insulating base material 30 when the protrusions 11 and 12 are press-fitted into the insulating base material 30, and the recesses 331 to 337 formed in the insulating base material 30 are described later. Loss of shape can be prevented.
  • FIG. 74 is a cross-sectional view of the mold 1 of the present embodiment along the mold clamping direction (arrow M in the figure).
  • the plate surface 1a of the mold 1 has at least protrusions 11 and 12 formed in a convex shape on the main surface side of the plate surface 1a. There is no interface between the plate surface 1a and the projections 11 and 12, and the projections 11 and 12 constitute a part of the plate surface 1a.
  • the thickness (diameter), length, and aspect ratio of the protrusions 11 and 12 are the same as those in the fifth embodiment.
  • the protrusions 11 and 12 in the present embodiment include bases 111 and 121 having curved surfaces 111a and 121a, and inclined parts 113 and 123 that taper from the bases 111 and 121 to the tops 112 and 122 of the protrusions 11 and 12, Have
  • the other mold 1C for wiring is prepared.
  • the wiring mold 1C is the same as that of the fifth embodiment.
  • a wiring board is obtained by a so-called imprint method using the via mold 1 and the wiring mold 1C shown in FIG.
  • the wiring mold 1C is disposed so as to face the main surface of the insulating substrate 30.
  • die 1C is made to approach the insulating base material 30 on the same conditions as 5th Embodiment (it is moved along the arrow P1), and a hot press process is performed.
  • the mold 1C and the insulating base material 30 are cooled to below the glass transition temperature (Tg), and the mold 1C is released in the direction separating from the insulating base material 30 (arrow P2) as shown in FIG. Thereby, concave portions 331 to 337 corresponding to the wiring pattern are formed on the main surface of the insulating base material 30.
  • the via mold 1 is disposed so as to face the main surface of the insulating substrate 30 in which the concave portions 331 to 337 are formed.
  • the via mold 1 is arranged so that the protrusions 11 and 12 of the mold 1 abut against the recesses 331 to 337 formed on one main surface of the insulating base 30.
  • die 1 is made to approach the insulating base material 30 on the same conditions as 5th Embodiment (it moves along the arrow P1), and a hot press process is performed.
  • the mold 1 and the insulating base material 30 are cooled to below the glass transition temperature (Tg), and the mold 1 is released in a direction (arrow P2) away from the insulating base material 30, as shown in FIG.
  • the mold 1 and the insulating base material 30 do not come into contact with each other by making the height in the mold clamping direction (vertical direction in the drawing) of the protrusions 11 and 12 higher than the thickness of the insulating base material 30. Therefore, it is possible to prevent the concave portions 331 to 337 of the insulating base material 30 from being deformed.
  • the shape according to the via pattern of the plate surface 1a of the mold 1 and the shape according to the wiring pattern of the plate surface 1a of the mold 1C can be transferred to the main surface of the insulating substrate 30.
  • concave portions 331 to 337 corresponding to the convex portions 21 to 27 of the mold 1C are formed in the insulating substrate 30, and the protrusions of the mold 1 are formed. Holes 31V and 32V corresponding to the shapes of 11 and 12 are formed.
  • a resist is applied to the lower surface of the insulating base material 30 shown in FIG. 81, and the resist is patterned using a photolithography technique, followed by plating, thereby filling the holes 31V and 32V with a conductive material.
  • the via patterns 11V and 12V, the first wiring patterns 51 to 57, and the second wiring patterns 61 and 62 can be simultaneously formed.
  • the via patterns 11V and 12V, the first wiring patterns 51 to 57, and the second wiring patterns 61 and 62 can be simultaneously formed by printing and sintering a conductive paste on the upper surface of the insulating substrate 30. .
  • the excess part of nanopaste remains, it removes by grinding
  • FIG. 82 shows the wiring board 100 according to the present embodiment.
  • the wiring board 100 of the present embodiment includes an insulating base material 30, first wiring patterns 51 to 57 formed on one main surface of the insulating base material 30, and the insulating base material 30.
  • the first wiring patterns 51 to 57 and the second wiring patterns 61 and 62 penetrate from the first main surface side of the insulating base material 30 to the other main surface side. Via patterns 11V and 12V which are electrically connected to each other.
  • the first wiring patterns 51 to 57 of the wiring board 100 of the present embodiment are embedded in a convex shape from one main surface (upper side in the drawing) of the insulating base material 30 toward the inner side of the insulating base material 30. It is formed in the state.
  • the wiring board 100 of this embodiment has the same operations and effects as the wiring board of the fifth embodiment.
  • the eighth embodiment will be described below.
  • a method for manufacturing a multilayer wiring board using the wiring board 100 according to the seventh embodiment and a multilayer wiring board obtained by this manufacturing method will be described.
  • the detailed description of the common items uses the description of the above-described embodiment.
  • the wiring board 100 of 7th Embodiment is prepared, and the insulating base material used by this wiring board 100 is provided on the uppermost surface (exposed surface) of the wiring board 100.
  • Insulating base materials 30a other than 30 are laminated (first laminating step).
  • the same material as the insulating base material 30 of the wiring board 100 can be used for the insulating base material 30a.
  • a mold 1C is prepared.
  • the mold 1C is common to the mold 1C described in the fifth embodiment. As shown in the figure, the mold 1C is arranged in parallel to the insulating base material 30a laminated on the uppermost layer side of the wiring board 100. The convex portions 21 to 27 formed on the plate surface 1a of the mold 1C face the insulating substrate 30a.
  • Insulating base material 30a is heated until the glass transition temperature or higher, and mold 1C is moved in the direction of insulating base material 30a as shown in FIG. Press-fit into the substrate 30a.
  • the mold 1C is released from the insulating base material 30a, and the concave portions 331a to 337a having shapes corresponding to the convex portions 21 to 27 of the mold 1C are formed as the insulating base material. 30a (second lamination step).
  • the mold 1 is prepared.
  • the structure of the mold 1 is common to the mold 1 described in the seventh embodiment.
  • the mold 1 is arranged in parallel with the insulating base material 30 a laminated on the uppermost surface side of the wiring board 100.
  • Concave portions 331a to 337a are formed in the insulating base material 30a.
  • the top portions 112 and 122 of the protrusions 11 and 12 formed on the plate surface 1a of the mold 1 are opposed to abut against the recesses 332a and 336a of the insulating base material 30a.
  • the insulating base material 30a is heated until the glass transition temperature or higher, and the mold 1 is moved in the direction of the insulating base material 30a as shown in FIG. 87, and the protrusions 11 and 12 are insulative. Press-fit into the substrate 30a.
  • the mold 1 is released from the insulating base material 30a.
  • the insulating base material 30a after releasing the mold 1 has holes 31Va and 32Va corresponding to the shapes of the protrusions 11 and 12 of the mold 1 and the first wiring pattern.
  • Recesses 331a to 337a are formed (third lamination step).
  • the first wiring pattern and the via pattern are formed by printing / sintering plating or conductive paste on the wiring board 100 of FIG. 89 and filling the recesses 331a to 337a and the holes 31Va and 32Va with a conductive material. (Fourth stacking step).
  • the multilayer wiring board 1000 having interlayer conduction with the wiring board 100 can be obtained by the first to fourth lamination processes described above.
  • FIG. 90 is a diagram illustrating an example of a laminated wiring board 1000 in which the wiring boards 100a, 100c, and 100d are laminated on the wiring board 100 by repeating the first to fourth lamination processes three times. The first to fourth lamination steps described above can be repeated as many times as the number of laminations of the target wiring board 1000.
  • the multilayer wiring board 1000 has via patterns 11V, 12V (11Va, 11Vc, 11Vd, 12Va, 12Vc, 12Vd) and first wiring patterns 51 to 57 (51a).
  • via patterns 11V, 12V 11Va, 11Vc, 11Vd, 12Va, 12Vc, 12Vd
  • first wiring patterns 51 to 57 51a.
  • To 57a, 51c to 57c, and 51d to 57d) are integrally formed with no interface, and thus the same operation as the above-described embodiment is achieved and the same effect is obtained.
  • the multilayer type wiring board 1000 having the wiring boards 100, 100a, 100c, and 100d is shown in FIG. 90, the number of laminated wiring boards 100 is not limited.
  • the first wiring patterns 51 to 57 (51a to 57a, 51c to 57c, 51d to 57d) of the respective wiring boards to be laminated may be in a common mode or in different modes.
  • Wiring board 1000 Laminated type wiring board 1, 1A, 1B, 1C ... Mold 1a ... Plate surface 11, 12 ... Projection part 111, 121 ... Base part 111a, 121a ... Curved surface 112, 122 ... Top part 113, 123 ... Inclination Portions 21 to 27: Protruding portion 2 ... Support plate 3 ... Resin plate bodies 31, 32 ... Holes 311, 321 ... Openings 312, 322 ... Bottom portions 313, 323 ... Body portions 313a, 323a ... Inclined walls 4 ... Resist layer 41- 47 ... Groove 11V, 12V, 11Va-11Vd, 12Va-12Vd, ...

Landscapes

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Abstract

 接続信頼性の高い配線板を提供する。絶縁性基材(30)と、絶縁性基材(30)の一方主面に形成された配線パターン(51~57)と、絶縁性基材(30)の一方主面側から他方主面側に貫通し、配線パターン(51~57)に導通するビア(11V,12V)と、を備え、ビア(11V,12V)は、配線パターン(51~57)と曲率を有して連なる接続基部(111V,112V)と、接続基部(111V,112V)からビア(11V,12V)の頭頂部(112V,122V)に近づくにつれて外径が細くなる錐状部(113V,123V)と、を有する。

Description

配線板及びその製造方法
 本発明は、配線板及びその製造方法に関する。
 文献の参照による組み込みが認められる指定国については、2010年2月5日に日本国に出願された特願2010-024675号、2010年2月5日に日本国に出願された特願2010-024677号、及び2010年2月5日に日本国に出願された特願2010-024678号に記載された内容を参照により本明細書に組み込み、本明細書の記載の一部とする。
 電子機器の小型化及び高機能化に伴う高密度配線を実現するために、パターン(配線パターン、ビアパターン)の微細化が要求されている。微細なパターンを形成する方法として、金型(モールド)を用いて絶縁性基材に転写した凹形状に導電材料を充填して配線パターンを形成するインプリント法が知られている。また、このインプリント法で用いられる金型の凹凸形状をフォトリソグラフィ技術により作製する方法が知られている。
特開2001-320150号公報 特開2005-108924号公報 特開2005-026412号公報 特開2009-111241号公報
 しかしながら、従来の技術では、配線板に形成されたビアと、ビアパターンと導通する配線パターンとの接続信頼性を維持することが難しいという問題がある。
 本発明が解決しようとする課題は、ビアパターンと配線パターンとの接続信頼性が高い配線板と配線板の製造方法を提供することである。
 [1]本発明は、配線板のパターンの一部を構成するビアパターンに応じて形成された突起部を含む版面を備え、前記突起部が前記版面の主面に曲率を有して連なる基部と、前記基部から前記突起部の頂部に近づくにつれて外径が細くなる傾斜部とを有する金型を準備する工程と、軟化させた絶縁性基材の一方主面に前記金型の版面を押し当てた後に離型して、前記突起部の形状に応じた孔を前記絶縁性基材に形成する工程と、絶縁性基材の一方主面に、前記パターンの一部を構成する配線パターンに応じた凹部を形成する工程と、前記絶縁性基材に形成された前記孔と前記凹部に導電材料を充填して互いに導通可能なビアパターン及び配線パターンを形成する工程と、を有する配線板の製造方法により、上記課題を解決する。
 [2]上記発明の配線板の製造方法により得られた配線板を準備し、当該配線板の最上面及び/又は最下面に他の絶縁性基材を積層する第1積層工程と、前記積層された絶縁性基材の表面に前記金型の版面を押し当てた後に離型して、前記突起部の形状に応じた孔を前記絶縁性基材に形成する第2積層工程と、前記積層された絶縁性基材の主面に、前記パターンの一部を構成する配線パターンに応じた凹部を形成する第3積層工程と、前記絶縁性基材に形成された前記孔と前記凹部に導電材料を充填して互いに導通可能なビアパターン及び配線パターンを形成する第4積層工程と、を有し、前記配線板の積層数に応じて、前記第1積層工程乃至前記第4積層工程を一回又は二回以上行うことを特徴とする積層型の配線板の製造方法により、上記課題を解決する。
 [3]本発明は、配線板のパターンの一部を構成するビアパターンに応じて形成された突起部と、前記パターンの一部を構成する配線パターンに応じて形成された凸部とを含む版面を備え、前記突起部が前記凸部の上面に曲率を有して連なる基部と、前記基部から前記突起部の頂部に近づくにつれて外径が細くなる傾斜部とを有する金型を準備する工程と、前記金型の版面を軟化させた絶縁性基材の一方主面に押し当てた後に離型して、前記突起部の形状に応じた孔と前記凸部の形状に応じた凹部を前記絶縁性基材に形成する工程と、前記絶縁性基材に形成された前記孔と前記凹部に導電材料を充填して互いに導通可能なビアパターン及び配線パターンを形成する工程と、を有する配線板の製造方法により、上記課題を解決する。
 [4]上記発明の配線板の製造方法により得られた配線板を準備し、当該配線板の最上面及び/又は最下面に他の絶縁性基材を積層する第1積層工程と、前記積層された絶縁性基材の表面に前記金型の版面を押し当てた後に離型して、前記突起部の形状に応じた孔と前記凸部の形状に応じた凹部を前記絶縁性基材に形成する第2積層工程と、前記絶縁性基材に形成された、前記孔と前記凹部に導電材料を充填して互いに導通可能なビアパターン及び配線パターンを形成する第3積層工程と、を有し、前記配線板の積層数に応じて、前記第1積層工程乃至前記第3積層工程を一回又は二回以上行うことを特徴とする積層型の配線板の製造方法により、上記課題を解決する。
 [5]本発明は、配線板のパターンの一部を構成するビアパターンに応じて形成された突起部を含む版面を備え、曲面を有する基部と、前記基部から前記突起部の頂部に近づくにつれて外径が細くなる傾斜部とを有するビア用の金型を準備する工程と、前記パターンの一部を構成する配線パターンに応じて形成された凸部を含む版面を備える配線用の金型を準備する工程と、前記配線用の金型の版面を軟化させた絶縁性基材の一方主面に押し当てた後に離型して、前記凸部に応じた形状の凹部を前記絶縁性基材に形成する工程と、前記絶縁性基材の一方主面に形成された凹部に前記突起部が突き当たるように、前記絶縁性基材の一方主面に前記ビア用の金型の版面を押し当てた後に離型して、前記突起部の形状に応じた孔を前記絶縁性基材に形成する工程と、前記絶縁性基材に形成された、前記孔と前記凹部に導電材料を充填して互いに導通可能なビアパターン及び配線パターンを形成する工程と、を有する配線板の製造方法により、上記課題を解決する。
 [6]上記発明の配線板の製造方法により得られた配線板を準備し、当該配線板の最上面及び/又は最下面に他の絶縁性基材を積層する第1積層工程と、前記配線用の金型の版面を軟化させた前記絶縁性基材の表面に押し当てた後に離型して、前記凸部に応じた形状の凹部を前記絶縁性基材に形成する第2積層工程と、前記絶縁性基材の表面に形成された凹部に前記突起部が突き当たるように、前記絶縁性基材の表面に前記ビア用の金型の版面を押し当てた後に離型して、前記突起部の形状に応じた孔を前記絶縁性基材に形成する第3積層工程と、前記絶縁性基材に形成された、前記孔と前記凹部に導電材料を充填して互いに導通可能なビアパターン及び配線パターンを形成する第4積層工程と、を有し、前記配線板の積層数に応じて、前記第1積層工程乃至前記第4積層工程を一回又は二回以上行うことを特徴とする積層型の配線板の製造方法により、上記課題を解決する。
 [7]上記発明において、前記絶縁性基材の他方主面に、前記ビアパターンと導通する配線パターンに応じた下層凹部を形成する工程をさらに有し、前記孔に導電材料を充填する工程において、前記絶縁性基材の他方主面に形成された前記下層凹部に導電材料を充填するように構成することができる。
 [8]上記発明において、前記突起部の頂部に曲面を有するように構成することができる。
 [9]上記発明において、前記絶縁性基材に孔を形成する工程の後に、前記孔の底部の絶縁性基材を除去し、前記孔を貫通させる工程をさらに設けることができる。
 [10]他の観点における本発明は、絶縁性基材と、前記絶縁性基材の一方主面に形成された配線パターンと、前記絶縁性基材の一方主面側から他方主面側に貫通し、前記配線パターンと導通するビアパターンと、を備え、前記ビアパターンは、前記配線パターンと曲率を有して連なる接続基部と、前記接続基部からビアパターンの頭頂部に近づくにつれて外径が細くなる錐状部と、を有することを特徴とする配線板を提供することにより、上記課題を解決することができる。
 [11]上記発明において、前記配線パターンと前記ビアパターンとは、界面のない状態で一体に形成することができる。
 [12]上記発明において、前記配線パターンは、前記絶縁性基材の主面に、当該主面の外部側に向かって凸状に形成することができる。
 [13]上記発明において、前記配線パターンは、前記絶縁性基材の主面に、当該主面の内部側に向かって凸状に埋設された状態で形成することができる。
 [14]上記発明において、前記ビアパターンはフィルドビアとすることができる。
 [15]上記発明において、前記ビアパターンの接続基部の径は2μm以上、かつ35μm以下に構成することができる。
 [16]上記発明において、前記ビアパターンの頭頂部の径は1μm以上、かつ30μm以下に構成することができる。
 本発明によれば、配線板の絶縁性基材の一方主面側から他方主面側に貫通するビアパターンを、絶縁性基材の一方主面に形成された配線パターンと曲率を有して連なる部分からビアパターンの頭頂部に近づくにつれて外径が細くなるように形成するので、ビアパターンと配線パターンとの間に生じる応力を分散させ、ビアパターンと配線パターンとの接続部分に応力が集中することを防止することができる。この結果、ビアパターンと配線パターンとの接続信頼性を向上させることができる。また、ビアパターンが配線パターンに曲率を有して連なるので、信号の反射を抑制することができるため、高周波信号を伝送させた場合であっても信号の損失を低減させることができる。
本発明の第1実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第1実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第1実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第1実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第1実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図であり、本製造方法に用いられる金型の断面図である。 図5に示すA部で示す突起部の拡大図である。 本発明の第1実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第1実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第1実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第1実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第1実施形態に係る配線板の一例を示す断面図である。 図11に示すXII-XIIに沿う断面の結晶の模式図である。 本発明の第2実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第2実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第2実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第2実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第2実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第2実施形態に係る積層型の配線板の一例を示す断面図である。 本発明の第2実施形態に係る配線板の他の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第2実施形態に係る配線板の他の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第2実施形態に係る配線板の他の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第2実施形態に係る配線板の他の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第2実施形態に係る配線板の他の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第2実施形態に係る積層型の他の配線板の一例を示す断面図である。 本発明の第3実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第3実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第3実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第3実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第3実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第3実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第3実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図であり、本実施形態で用いられる金型の断面図である。 本発明の第3実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第3実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第3実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第3実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第3実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第3実施形態に係る配線板を示す断面図である。 本発明の第3実施形態に係る配線板の製造方法の他の例(第1変形例)を説明するための工程断面図である。 本発明の第3実施形態に係る他の配線板の一例(第1変形例)を示す断面図である。 本発明の第3実施形態に係る配線板の製造方法の他の例(第2変形例)を説明するための工程断面図である。 本発明の第3実施形態に係る配線板の製造方法の他の例(第2変形例)を説明するための工程断面図である。 本発明の第3実施形態に係る配線板の製造方法の他の例(第2変形例)を説明するための工程断面図である。 本発明の第3実施形態に係る配線板の製造方法のさらに他の例(第3変形例)を説明するための工程断面図である。 本発明の第4実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第4実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第4実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第4実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第4実施形態に係る積層型の配線板を示す断面図である。 本発明の第5実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第5実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第5実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第5実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第5実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図であり、本実施形態で用いられる金型を示す断面図である。 本発明の第5実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第5実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第5実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第5実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第5実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第5実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第5実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第5実施形態に係る配線板の一例を示す断面図である。 本発明の第6実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第6実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第6実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第6実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第6実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第6実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第6実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第6実施形態に係る積層型の配線板の一例を示す断面図である。 本発明の第7実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第7実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第7実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第7実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第7実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図であり、本実施形態で用いられる金型を示す断面図である。 本発明の第7実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第7実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第7実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第7実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第7実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第7実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第7実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第7実施形態に係る配線板の一例を示す断面図である。 本発明の第8実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第8実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第8実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第8実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第8実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第8実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第8実施形態に係る配線板の製造方法の一例を説明するための工程断面図である。 本発明の第8実施形態に係る積層型の配線板の一例を示す断面図である。
(第1実施形態)
 以下、本発明の本実施形態に係る配線板及びこの配線板の製造方法について説明する。本実施形態における配線板の製造方法は、大きく分けて、使用する金型を準備する工程と、準備した金型を用いて配線板を作製する工程の2つの工程を有する。
 まず、図1~図4に基づいて金型の製造方法を説明し、続いて図5及び図6に基づいて、作製された金型について説明する。そして、その後に、金型を用いた配線板の製造方法を説明する。
 本実施形態の金型の製造方法は、硬化された樹脂板体を準備する工程と、ビアパターンに応じて樹脂板体の主面にレーザー又は電子線を照射して孔を形成する工程と、金型材料を用いて、樹脂板体に形成された孔を充填するとともに樹脂板体の主面を覆う工程と、を有する。
 (1)まず、金型1の形を型取るための樹脂板体3と、この樹脂板体3を支持する支持板2とを準備する。支持板2としてはエッチングで除去できる材料を用いる。特に限定されないが、本実施形態では厚さ80~120μm程度の銅箔を支持板2として用いる。支持板2として銅箔を用いることにより、樹脂板体3に熱を加えたときに支持板2が伸縮することを抑制することができる。また、樹脂板体3としては、アルカリ又は酸に可溶な材料を用いる。特に限定されないが、本実施形態では厚さ15~40μm程度、例えば25μmの光硬化型又は熱硬化型のレジストフィルムを樹脂板体3として用いる。
 (2)そして、図1に示すように、支持板2の主面に樹脂板体3を積層し、樹脂板体3を光照射又は加熱により硬化させる。支持板2と樹脂板体3との間には剥離処理を施すことができる。
 (3)次に、図2に示すように、レーザー又は電子線(EB)を樹脂板体3の主面に照射して孔31,32を形成する。レーザーとしては、エキシマレーザーやフェムト秒レーザー等を用いることができる。レーザー又は電子線の照射方向は樹脂板体3の主面に対して垂直方向であってもよいし、所定の角度から照射してもよい。
 特に限定されないが、本実施形態の孔31,32の開口部311,321の径は、2μm以上、かつ35μm以下、好ましくは2μm以上、かつ15μm以下、さらに好ましくは2μm以上、かつ10μm未満である。また、本実施形態の孔31,32の底部312,322の径は、1μm以上、かつ30μm以下、好ましくは1μm以上、かつ10μm以下、さらに好ましくは1μm以上、かつ5μm以下である。深さは、1μm以上、かつ50μm以下、好ましくは10μm以上、かつ40μm以下である。一例ではあるが、本実施形態の孔31,32は、開口部311,321の直径が10μm程度、深さが15μm程度である。
 特に限定されないが、本実施形態では、レーザー又は電子線によって樹脂板体3に与えられるエネルギーが、孔31,32の開口部311,321から孔31,32の底部312,322に向かうにつれて漸減するように、樹脂板体3にレーザー又は電子線を照射することができる。例えば、孔31,32を形成する工程において、レーザー光のエネルギー密度を経時的に漸減させる手法、ショット数を経時的に漸減させる手法を用いることができる。これにより、開口部311,321に大きなエネルギーを与えて開口部311,321近傍の径を大きくしつつ、孔31,32の開口部311,321から底部312,322へ向かって掘り進むにつれて孔31,32の径を小さくすることができる。
 また、レーザー又は電子線により与えられるエネルギーを制御することにより、孔31,32の開口部311,321の内側壁311a,321aを曲率のある面とすることができるとともに、開口部311,321に連なる胴部313,323を深さ方向に傾きを有する傾斜壁313a,323aとすることができる。レーザー又は電子線により与えるエネルギーの制御手法は特に限定されないが、樹脂板体3の種類、樹脂板体3の厚さ、レーザー又は電子線の種類、与えるエネルギーの大きさ(エネルギー密度、ショット数)、光源と樹脂板体3との距離などに応じて、実験的に求めることができる。
 また、孔31,32を形成する工程において、エキシマレーザーなどのレーザー光のビーム径を経時的に小さくする手法を用いることができる。例えば、孔31,32の開口部311,321を形成する際のレーザーのビーム径を、孔31,32の底部312,322を形成する際のレーザーのビーム径よりも大きくすることができる。この手法によれば、開口部311,321の径を大きく形成するとともに、孔31,32の開口部311,321から底部312,322へ向かって掘り進むにつれて、孔31,32の径を小さくすることができる。
 このような手法で形成された孔31,32は、図2に示すように、開口部311,321の内側壁311a,321aが、樹脂板体3の主面に曲率を有して連なるように形成することができる。また、樹脂板体3に形成された孔31,32の開口部311,321から底部312,322に近づくにつれて外径が細くなる傾斜壁313a,323aを備えた胴部313,323を形成することができる。
 (4)続いて、図3に示すように、金型材料を用いて、樹脂板体3に形成された孔31,32を充填するとともに樹脂板体3の主面を覆う。
 具体的には、まず、金型材料が充填される領域、例えば樹脂板体3の孔31,32の内部及び樹脂板体3の主面に、後に行われるめっき処理等においてシード層となる導電層を形成する。この導電層は、炭素(C)やパラジウム(Pd)等を用いたダイレクト・プレーティング・プロセス(DPP)処理又は銅(Cu)やニッケル(Ni)を用いたスパッタリングにより行う。その後、銅(Cu)やニッケル(Ni)等の金型材料を用いてめっきを行い、孔31,32を金型材料で充填するとともに樹脂板体3の主面を金型材料のめっき層で覆う。もちろん、銅(Cu)や銀(Ag)等を含む導電性ナノペーストを印刷して孔31,32を金型材料で充填するとともに樹脂板体3の主面を覆ってもよい。ちなみに、金型材料としては、導電材料の他、ガラス等の絶縁材料(非導電材料)を用いることができる。
 特に限定されないが、本実施形態では、スパッタリングにより銅(Cu)層を100~300nmほどの厚さに形成した後に銅めっきを行う。樹脂板体3上に厚さ10~50μm程度の銅めっき層を形成し、孔31,32を金型材料で充填するとともに樹脂板体3の主面を覆う。
 これにより、同図に示すように、樹脂板体3に形成された孔31,32の内側に、曲面111a,121aを有する基部111,121と、傾斜部113,123と、頂部112,122とを備えた突起部11,12が形成される。形成された突起部11,12の曲面111a,121aは孔31,32の内側壁311a,321aと接し、突起部11,12の傾斜面113a,123aは孔31,32の傾斜壁313a,323aと接し、突起部11,12の頂部112,122は孔31,32の底部312,322と接している。
 本実施形態の樹脂板体3の孔31,32は、その開口部311,321の内側壁311a,321aが、樹脂板体3の主面に曲率を有する面で連なるように形成されており、直線が交差して形成される角部が形成されていない。被めっき物に角部があると、角部のめっき厚が他の部分のめっき厚と異なる傾向がある。これに対して、本実施形態では、開口部311,321に角部が形成されないので、内側壁311a,321aに均一な厚さのめっき層を形成することができる。
 また、内側壁311a,321aから底部312,322に近づくにつれて径が細くなる傾斜壁313a,323aの表面は凹凸がなく平坦であり、底部312,322から開口部311,321にかけて徐々に開口面積が広くなっているので、傾斜壁313a,323a及び底部312,322にも均一な厚さのめっき層を形成することができる。
 ちなみに、めっき厚が不均一であると、めっき層に作用する応力が集中して一部に強い力が作用することがあるが、本実施形態では、開口部311,321の内側壁311a,321a、傾斜壁313a,323a及び底部312,322に均一な厚さのめっき層が形成されるので、応力がめっき層(金型1)の一部分に集中して作用することを防止することができる。本実施形態の製造方法によれば、部分的な破損の発生を抑制できる耐久性の高い金型1を得ることができる。
 (5)続いて、図4に示すように、支持板2を塩化第二鉄などのエッチング液により除去し、樹脂板体3の表面を露出させる。
 (6)最後に、樹脂板体3を水酸化ナトリウム水溶液等により膨潤剥離する。これにより、後述する図5に示す金型1を得る。
 従来はフォトリソグラフィ技術を用いてビアパターンを形成するための突起部を形成していたため、突起部の形状はフォトリソグラフィの解像度に律則し、直径20μm以下、特に10μm以下、アスペクト比が1以上の微細な形状を作製することが困難であった。これに対して、本実施形態に係る金型1の製造方法によれば、レーザー又は電子線により孔31,32を形成するので、小径(例えば孔31,32の開口部311,321の径が2μm以上、かつ35μm以下、孔31,32の底部312,322の径が1μm以上、かつ30μm以下)で、高アスペクト比(例えば1以上)の微細な孔31,32を一工程で形成することができる。
 さらに、レーザー又は電子線を用いて孔31,32を形成する上記方法によれば、フォトリソグラフィ工程では形成が困難な曲面をも一工程で形成することができる。
 加えて、レーザー又は電子線を用いて孔31,32を形成する上記方法によれば、曲率を有する内側壁311a,321aと、この内側壁311a,321aに連なり、深さ方向に対して傾斜を有する傾斜壁313a,323aと、この傾斜壁313a,323aに連なり、曲面で形成された底部312,322とを一工程で作製することができるので、図5に示す形状の金型1を高い生産性で製造することができ、製造コストを低減させることができる。
 従来のように、絶縁性基材に紫外線(UV)レーザーを用いてビアパターンを直接形成することも可能であるが、絶縁性基材に形成されるビアパターンの径は直径30μm程度が限界である。また、エキシマレーザーによって直径10μm程度のビアパターンを直接絶縁性基材に形成することは可能であるが、加工時間がかかるのに加え、使用するフッ化クリプトン(KrF)等のガスが高価であるため、配線板の各ビアパターンを1孔ずつ加工するにはコストがかかってしまう。本実施形態に係る金型1を用いて配線板のビアパターンを形成することができれば、ビアパターンの最も太い部分の径が直径35μm以下、さらには直径15μm以下、さらには10μm未満の微細なビアパターンを低コストで形成することができる。
 図5は、型締め方向(図中矢印M)に沿う、本実施形態の金型1の断面図である。図5に示すように、本実施形態の金型1は、配線板に作製されるパターン(ビアパターン及び配線パターンを含む)に応じて形成された版面1aを有する。本実施形態に係る金型1の版面1aは、所望のパターンを構成するための凹凸形状(ビアパターンに応じた突起部11,12及び配線パターンに応じた凸部を含む)を、配線板の絶縁基材等に転写するための加工用の版(原版)として機能する。図5中の符号1aは、所望のパターンを構成するための突起部11,12を含む凹凸形状が形成された版面1aの全体を指示している。
 本実施形態の版面1aは、この版面1aの主面側に凸状に形成された突起部11,12を少なくとも有する。版面1aと突起部11,12との間に界面はなく、突起部11,12は版面1aの一部を構成する。特に限定されないが、版面1aは、図5に示すように所定の厚みを有する板状の部材としてもよいし、他の板状の部材(不図示)により支持される構造としてもよい。なお、金型1を構成する金型材料としては銅(Cu)等の金属や、樹脂などを利用することができる。
 本実施形態の突起部11,12は、形成するビアパターンの孔に対応する太さ(径)、長さ、及びアスペクト比を有する形状に形成される。特に限定されないが、突起部11,12の基部111,121の径は、2μm以上、かつ35μm以下、好ましくは2μm以上、かつ15μm以下、さらに好ましくは2μm以上かつ10μm未満である。また、本実施形態の突起部11,12の頂部112,122の径は、1μm以上、かつ30μm以下、好ましくは1μm以上、かつ10μm以下、さらに好ましくは1μm以上、かつ5μm以下である。本実施形態の突起部11,12の長さは1μm以上、かつ50μm以下、好ましくは10μm以上、かつ40μm以下である。アスペクト比は0.5~40、好ましくは1~30であり、本例では1~4程度とすることができる。図5には2つの突起部11,12を示したが、突起部11,12の配置及び数は特に限定されない。
 本実施形態における突起部11,12は、版面1aの主面に曲率を有する曲面111a,121aで連なる基部111,121と、この基部111,121から突起部11,12の頂部112,122にかけて先細りとなる傾斜部113,123と、を有する。なお、版面1aの主面は、転写又は離型する際に移動する面と平行な面である。
 図6は、図5に破線で示すA領域の拡大図である。同図に示すように、本実施形態の突起部12は、その根元部分となる基部121に曲面121aを有する。突起部12の基部121は版面1aに曲率を持って連なっている。このように、版面1aと突起部12との接続部分を曲面121aで構成したので、離型時に突起部12を樹脂基材から抜け易くすることができる。また、アスペクト比の高い突起部12を版面1a上に支持する基部121を曲面121aで構成したので、基部121に作用する力を曲面121aで分散させることができる。この結果、突起部12が根元から折れる、又は突起部12の先端が欠けてしまうといった不具合を防止することができる。なお、図6では突起部12のみを示すが、突起部11も同じ構成とすることができる。
 特に限定されないが、本実施形態の突起部11,12において、傾斜部113,123は、版面1aの主面から離隔するにつれて版面1aの主面に平行な断面の直径(太さ)乃至断面の面積が漸減する錐体状に形成されている(図5参照)。具体的に、図6の拡大図に示すように、本実施形態の突起部12の傾斜部123の傾斜面123aは、基部121から頂部122に近づくにつれて外径(P1-P1´)が細くなるように形成されている。つまり、図6に示す突起部12の表面上の点T1とT4の距離(外径:P1-P1´)は、点T1(T4)から点T2(T3)に接近するにつれて漸減する(P2-P2´ < P1-P1´)。このとき、突起部12の表面上の点T1(T4)と点T2(T3)との線分がy=axの直線(aは正又は負の定数)となるように金型1を構成することができる。
 他の観点によると、図6に示すように、傾斜部123の版面1aの移動方向(図5中矢印M方向)に沿う断面形状、例えば点T1,T2,T3,T4に囲まれる形状を略テーパー形状とすることができる。
 このように、本実施形態の金型1は、版面1aの主面に曲率を有して連なる基部121から頂部122にかけて徐々に細くなる傾斜部123を備える形状の突起部12を有するので、樹脂基材に突起部12を圧入する際に断面積の小さい部分を先に樹脂基材に圧入させることができる。これにより、圧入時の抵抗を低減させることができる。
 また、離型時においても、突起部12が頂部122にかけて徐々に細くなっているので、樹脂基材から突起部12を引き抜くときに突起部12が樹脂基材に引っかかることがない。
 さらに、突起部12の頂部122は、曲面を有するように形成することができる。このように、樹脂基材に型押しをする際の先端部分を曲面にしたので、圧入時に突起部12に作用する力を分散させることができる。
 この結果、樹脂基材に金型1を型押しする際に突起部11,12を樹脂基材に圧入し易く、樹脂基材から離型する際に樹脂基材から突起部11,12が抜き易い金型1を提供することができる。
 なお、図6に示すT1-T4の長さは、突起部11,12の基部111,121の直径の一例に対応し、同図に示すT2-T3の長さは、突起部11,12の頂部112,122の直径の一例に対応する。ちなみに、頂部112,122は、突起部11,12の頂部112,122の頂点から基部111,121側へ所定距離の部分を含み、頂部112,122の直径は、頂部112,122に含まれる部分の、版面1aに沿う断面の最大幅である。
 また、上述した樹脂板体3の孔31,32、後述する絶縁性基材30の孔31V,32V、及びビアパターン11V,12Vの形状は、図6に示す突起部12の形状と略共通する。つまり、突起部12の基部121の直径は、樹脂板体3の孔31,32の開口部311,321の直径、絶縁性基材30の孔31V,32Vの開口部311V,321Vの直径、及びビアパターン11V,12Vの接続基部111V,121Vに対応し、突起部12の頂部122の直径は、樹脂板体3の孔31,32の底部312,322の直径、絶縁性基材30の孔31V,32Vの底部312V,322Vの直径、及びビアパターン11V,12Vの頭頂部112V,122Vに対応する。
 以下、図7~図10に基づいて金型1を用いた配線板の製造方法を説明し、図11及び図12に基づいて、作製された配線板について説明する。
 本実施形態では、上述した図5及び6に示す金型1を用いて、いわゆるインプリント法により配線板を得る。
 まず、図7に示すように金型1及び配線板を構成する転写用の絶縁性基材(樹脂フィルム)30を準備し、金型1の主面を絶縁性基材30の主面に対向させて配置する。絶縁性基材30の材料としては、例えばエポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂や液晶ポリマー等の熱可塑性樹脂を用いることができる。そして、金型1を絶縁性基材30に接近させる方向(矢印P1に示す方向)に沿って移動させる。本実施形態では、絶縁性基材30の材料として熱硬化性樹脂である味の素ビルドアップフィルム(ABF:Ajinomoto Build-Up Film)を用い、150℃、10MPaで加熱プレスする。この際、突起部11,12の頂部112,122が曲面で構成されているので、絶縁性基材30から受ける抵抗力を低減させることができる。このため、突起部11,12の頂部112,122が平坦である場合よりも小さい力で絶縁性基材30に圧入することができる。
金型1及び絶縁性基材30をガラス転移温度(Tg)以上の温度に加熱し、図8に示すように、金型1を絶縁性基材30の主面に押しつける。その後、金型1及び絶縁性基材30をガラス転移温度(Tg)未満に冷却する。
 続いて、図9に示すように、金型1を絶縁性基材30から離隔する方向(矢印P2)に離型する。この際、突起部11,12の基部111,121が曲率を有するため、基部111,121が角度をなして版面1aに接続している場合よりも離型しやすい。絶縁性基材30が熱硬化性樹脂である場合には、オーブン等により例えば180℃で1時間加熱し、絶縁性基材30を完全に硬化させる。他方、絶縁性基材30が熱可塑性樹脂の場合には冷却して硬化させる。
これにより、金型1の版面1aのパターン(ビアパターン、配線パターンを含む、以下同じ)を絶縁性基材30の主面に転写することができる。同図に示すように、金型1を離型すると、絶縁性基材30には金型1の突起部11,12の形状に応じた孔31V,32Vが形成される。この孔31V,32Vは、開口部311V,321Vの周囲に曲率を有する内側壁311Va,321Vaと、底面に向かうにつれて内径が漸減する傾斜壁313Va,323Vaとを有する。絶縁性基材30に形成される孔31V,32Vは、図2に示す孔31,32と略同じ形状である。
 具体的に、絶縁性基材30に形成された孔31V,32Vは、同図に示すように、曲率を有する内側壁311Va,321Vaが開口部311V,321Vに形成され、絶縁性基材30の主面に曲率を有して連なる。この孔31V,32Vは、開口部311V,321Vから底部312V,322Vに近づくにつれて外径が細くなる傾斜壁313Va,323Vaを備えた胴部313V,323Vを有する。特に限定されないが、本実施形態の孔31V,32Vの開口部311V,321Vの径は、2μm以上、かつ35μm以下、好ましくは2μm以上、かつ15μm以下、さらに好ましくは2μm以上、かつ10μm未満である。また、本実施形態の孔31V,32Vの底部312V,322Vの径は、1μm以上、かつ30μm以下、好ましくは1μm以上、かつ10μm以下、さらに好ましくは1μm以上、かつ5μm以下である。深さは、1μm以上、かつ50μm以下、好ましくは10μm以上、かつ40μm以下である。一例ではあるが、本実施形態の孔31V,32Vは、開口部311V,321Vの直径が10μm程度、深さ15μm程度である。
 絶縁性基材30に孔31V,32Vを形成する工程の後に、孔31V,32Vの底部312V,322Vの部分に残っている絶縁性基材30を除去する。そして、図10に示すように、孔31V,32Vを貫通させる。底部312V,322Vの部分に残っている絶縁性基材30を除去する手法は特に限定されないが、絶縁性基材30の上面又は下面から機械的又は化学的に研磨を行う。例えば、絶縁性基材30の上面又は下面からプラズマを照射させ、薬液を吹き付け、又はサンドブラスト等により、孔31V,32Vを貫通させる。
 最後に、絶縁性基材30の一方主面にレジストを塗布し、フォトリソグラフィ技術を用い、配線パターンに応じてレジストをパターニングし、絶縁性基材30の一方主面に配線パターンに応じた凹部を形成する。その後、めっきを行い、孔31V,32Vやレジストパターンによって形成された凹部に銅(Cu)や銀(Ag)等の導電材料を充填する。本処理は、絶縁性基材30の他方主面についても施すことができる。つまり、絶縁性基材30の一方主面にレジストをパターニングした後に他方主面にもフォトリソグラフィ技術を用いてレジストをパターニングし、その後にめっきを行うことができる。この処理により、孔31V,32V、及びレジストパターンによって形成された一方主面側の上層凹部と他方主面側の下層凹部に銅(Cu)や銀(Ag)等の導電材料を充填することができる。つまり、一回のめっき処理でビアパターンに応じた孔31V,32V、及び表裏の配線パターンに応じた凹部に導電材料を充填し、層間導通がされた配線板を得ることができる。
 このめっき処理において、本実施形態の孔31V,32Vは、開口部311V,321Vの周囲に曲率を有する内側壁311Va,321Vaと、底面に向かうにつれて内径が漸減する傾斜壁313Va,323Vaとを有するので、めっき処理前にダイレクト・プレーティング・プロセス(DPP)処理又はスパッタリング処理によって、均一なシード層を孔31V,32Vの内側面にまんべんなく形成することができる。さらに、本実施形態の孔31V,32Vは、開口部311V,321Vの周囲に曲率を有する内側壁311Va,321Vaと、底面に向かうにつれて内径が漸減する傾斜壁313Va,323Vaとを有するため、均一のレートでめっき層を形成することができるので、金属の配向が均一なめっき層を孔31V,32Vの内側面に形成することができる。このように、シード層が均一な状態で形成されるので、そこに形成されるめっき層も孔31V,32Vの内側面にまんべんなく均一な厚さで形成することができる。
 また、本実施形態の孔31V,32Vは、その開口部311V,321Vの径が2μm以上、かつ35μm以下、好ましくは2μm以上、かつ15μm以下、さらに好ましくは2μm以上、かつ10μm未満であり、孔31V,32Vの底部312V,322Vの径が、1μm以上、かつ30μm以下、好ましくは1μm以上、かつ10μm以下、さらに好ましくは1μm以上、かつ5μm以下と細いので、めっき処理によって中実なフィルドビアを形成することができる。孔31V,32Vを細く形成することで、フィルドビアを短い時間で形成することができる。また、めっき時間を短くできるので、めっき層の形成条件を一定に管理し、均一なめっき層を形成することができる。
 また、絶縁性基材30の上面若しくは下面、又は上面及び下面に刷版を用いて導電ペーストを印刷することにより、第1の配線パターン51~57、第2の配線パターン61,62、及びこれらと導通するビアパターン11V,12Vを一括して形成することもできる。導電材料の余剰部分が残存する場合には研磨又はエッチング等により除去する。そして、配線板100を得る。
 本実施形態の製造方法により配線板100を作製する場合には、絶縁性基材30をレーザーで穿孔する工程が含まれないので、穿孔時に生じるカスやゴミなどのスミアが発生しない。このため、デスミア処理を行う必要が無く、工程を減らすことができる。
 図11は、本実施形態に係る配線板100を示す図である。
 図11に示すように、本実施形態の配線板100は、絶縁性基材30と、絶縁性基材30の一方主面に形成された第1配線パターン51~57と、他方主面に形成された第2配線パターン61~62と、絶縁性基材30の一方主面側から他方主面側に貫通し、第1配線パターン51~57及び第2配線パターン61,62と導通するビアパターン11V,12Vと、を備えている。なお、本発明の本実施形態におけるビアパターン11V,12Vは、絶縁性基材30を貫通するビアホール内に形成される柱状の導電性部材を含む概念である。
 本実施形態の配線板100の第1配線パターン51~57は、絶縁性基材30の一方主面からこの絶縁性基材30の外部側(図中上側)に凸状に形成されている。
 本実施形態のビアパターン11V,12Vは、同図に示すように、第1配線パターン52,56と曲率を有して連なる接続基部111V,121Vと、接続基部111V,121Vからビアパターン11V,12Vの頭頂部112V,122Vに近づくにつれて外径が細くなる錐状部113V,123Vと、を有する。
 同図に示すように、本実施形態のビアパターン11V,12Vは、第1配線パターン52,56と曲率を有する曲面111Va,121Vaを有し、ビアパターン11V,12Vと第1配線パターン52,56とは曲面111Va,121Vaを介して滑らかに連なるため、周波数が高くなっても電気信号の反射が少なくなり、損失を抑制することができる。
 また、本実施形態のビアパターン11V,12Vは、いわゆるフィルドビアであり、空洞が無く、導電材料によって中実に形成されている。本実施形態のビアパターン11V,12Vと第1配線パターン51~57は、同時に同じ条件下で、同じ処理(例えばめっき処理)によって形成されるので、導電材料中の金属結晶の配向を均一にすることができる。このため、ビアパターン11V,12Vの内部、及びビアパターン11V,12Vと第1配線パターン51~57との接続部分の内部に界面が生じない。金属結晶の配向が異なる部分が発生すると、この部分が起点となり、ビアパターン内にクラックが生じる傾向がある。熱的負荷や機械的負荷によってクラックが大きくなると、配線板の電気的な接続が維持できなくなる。これに対し、本実施形態のビアパターン11V,12V内部には界面が生じないため、クラックの発生を防止して、高い接続信頼性を実現することができる。
 特に限定されないが、本実施形態のビアパターン11V,12Vの接続基部111V,121Vの径、つまり、絶縁性基材30の主面に沿う、接続基部111V,121Vの断面の径は2μm以上、かつ35μm以下、好ましくは2μm以上、かつ15μm以下、さらに好ましくは2μm以上、かつ10μm未満である。また、本実施形態のビアパターン11V,12Vの頭頂部112V,122Vの径は、1μm以上、かつ30μm以下、好ましくは1μm以上、かつ10μm以下、さらに好ましくは1μm以上、かつ5μm以下である。本実施形態のビアパターン11V,12Vの長さは1μm以上、かつ50μm以下、好ましくは10μm以上、かつ40μm以下である。アスペクト比は0.5~40、好ましくは1~30であり、本例では1~4程度とすることができる。本実施形態のビアパターン11V,12Vは、接続基部111V,121Vの直径が10μm程度、深さが15μm程度である。
 また、本実施形態の配線板100の第1配線パターン51~57,ビアパターン11V,12Vとは同時に形成されるため、界面の無い状態で一体に形成されている。本実施形態の第1配線パターン52とビアパターン11V,第1配線パターン56とビアパターン12Vの貫通方向に沿う断面を走査イオン顕微鏡法(SIM:Scanning Ion Microscopy)で観察すると、図12に示す模式図のように、境界の無い結晶粒を観察することができる。第1の配線パターン52と連なるビアパターン11Vの接続基部111V及び第1の配線パターン56と連なるビアパターン12Vの接続基部121Vにおいても、同様に、境界の無い結晶粒を観察することができる。
 本実施形態に係る金型1を用いて形成された配線板100のビアパターン11V,12Vには直線が交わる角部が形成されない。つまり、絶縁性基材30の主面、第1配線パターン51~57とビアパターン11V,12Vの接続基部111V,121Vとが曲率を有する曲面111Va,121Vaで連なるので、完成した配線板100に信号を伝送させたときの信号の反射の発生を防止することができる。一般に信号の反射が起こり易いとされている高周波信号を伝送させた場合であっても、本実施形態に係る配線板によれば、信号の反射を防止することができるので、信号の伝送損失を抑制することができる。この結果、伝送特性に優れた配線板100を提供することができる。
 また、従来の配線板の製造工程のように、紫外線(UV)レーザーを用いて絶縁層に形成されるビアパターンの直径の限界は30μm程度である。また、エキシマレーザーによって直径10μm程度のビアパターンを絶縁層に1穴ずつ形成することは可能ではあるが、加工時間がかかるのに加え、使用するフッ化クリプトン(KrF)等のガスが高価であるため、製造コストが高くなってしまう。これに対して、本発明の第1実施形態に係る配線板の製造方法によれば、金型1を用いて微細なビアパターン11V,12Vを有する配線板100を効率良く製造することができる。
(第2実施形態)
 以下、第2実施形態について説明する。第2実施形態は、第1実施形態に係る配線板100を用いて積層型の配線板を製造する方法と、この製造方法により得られた積層型の配線板について説明する。共通する事項についての詳細な説明は上述した第1実施形態に係る説明を援用する。
 まず、図13~図18に基づいて、本発明の第2実施形態に係る積層型の配線板の製造方法を説明する。
 (1)まず、先述した図11に示す配線板100を準備する。次に、図13に示すように、配線板100と、この配線板の最上面及び最下面(露出している面)に、この配線板100で用いられている絶縁性基材30以外の他の絶縁性基材30a,30bをそれぞれ積層する(第1積層工程)。絶縁性基材30a,30bとしては、例えばエポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂や液晶ポリマー等の熱可塑性樹脂を用いることができる。熱収縮防止の観点から、配線板100の絶縁性基材30と同じ材料を使用することができるが、異なる材料を使用することもできる。
 (2)次に、二つの金型1A,1Bを準備する。金型1A,1Bの構造は第1実施形態において説明した図5に示す金型1と共通するので、ここでは説明を省略する。図14に示すように、一方の金型1Aを配線板100の最上層面側に積層された絶縁性基材30aに平行に配置し、他方の金型1Bを配線板100の最下層側に積層された絶縁性基材30bに平行に配置する。二つの金型1A,1Bの版面1aに形成された突起部11,12の頂部112,122は、絶縁性基材30a、30bにそれぞれ対向している。
 (3)絶縁性基材30a,30bをガラス転移温度以上になるまで加熱し、図15に示すように、金型1A,1Bを絶縁性基材30a、30b方向に移動し、さらに突起部11a,12a(11b、12b)を絶縁性基材30a(30b)に圧入する。金型1A,1Bの移動は、同時であってもよいし、順次行ってもよい。
 (4)続いて、図16に示すように、金型1A及び金型1Bを絶縁性基材30a、30bからそれぞれ離型する。この際、突起部11a,12a(11b,12b)の基部111,121は曲率を有するため、突起部11a,12a(11b,12b)が角度をもって版面1aに連なる場合よりも離型しやすい。絶縁性基材30a,30bが熱硬化性樹脂である場合にはオーブン等により加熱して硬化させる。絶縁性基材30a,30bが熱可塑性樹脂の場合には冷却して硬化させる。
 同図に示すように、離型後の絶縁性基材30a(30b)には、金型1A,1Bの突起部11a,12a(11b,12b)の形状に応じた孔31Va,32Va(31Vb,32Vb)が形成されている(第2積層工程)。
 (5)同図に示すように絶縁性基材30a、30bの孔31Va,32Va(31Vb,32Vb)の底部312Va、322Va(312Vb、322Vb)が貫通されず、樹脂が残存している場合は、内側壁311Va,321Va(311Vb,321Vb)からプラズマ照射、薬液散布を行うか又はサンドブラスト処理を行う。そして、図17に示すように、孔31Va,32Va(31Vb,32Vb)の底部312Va、322Va(312Vb、322Vb)を貫通させる。
 (6)絶縁性基材30a、30bの主面(露出している面)にレジストを塗布し、フォトリソグラフィ技術を用い、配線パターンに応じてレジストをパターニングし、絶縁性基材30a、30bの主面に配線パターンに応じた凹部を形成する(第3積層工程)。
 その後、めっきを行い、孔31Va,32Va(31Vb,32Vb)やレジストパターンによって形成された凹部に銅(Cu)や銀(Ag)等の導電材料を充填する。この工程により、孔31Va,32Va(31Vb,32Vb)及び配線パターンに応じた凹部に導電材料が充填されるので、図18に示すように、ビアパターン11Va,12Va(11Vb,12Vb)及び配線パターン51a~57a(51b~57b)を形成することができる(第4積層工程)。
 第1積層工程から第4積層工程により、配線板100と層間導通がされた積層型の配線板1000を得ることができる。上述した第1積層工程から第4積層工程は、目的とする配線板1000の積層数に応じた回数だけ繰り返すことができる。もちろん、各層において、第1配線パターン51~57,51a~57a,51b~57b、第2配線パターン61及び62は、略同じ形状であってもよいし、異なる形状であってもよい。
 本発明の第2実施形態に係る配線板の製造方法によれば、金型1A及び金型1Bを用いて微細なビアパターン11Va,12Va(11Vb,12Vb)を有する積層型の配線板1000を高い生産効率で製造することができる。
 図18に示すように、中央に位置する配線板100の絶縁性基材30の一方主面には第1配線パターン51~57が形成され、その他方主面には第2配線パターン61,62が形成されている。これらと一体に形成され、電気的に導通可能なビアパターン11V、12Vは、第1配線パターン52,56と曲面で連なっている。また、ビアパターン11V、12Vは第1配線パターン52,56側から第2配線パターン61,62側へ向かって先細りとなっている。
 また、同図に示すように、配線板100の一方主面側(図中上側)には他の配線板100aが積層され、配線板100の他方主面側には、他の配線板100bが積層されている。配線板100aの絶縁性基材30aの一方主面側(図中上側)には第1配線パターン51a~57aが形成されている。この第1配線パターン51a~57aと一体に形成され、第1配線パターン51a~57aと配線板100の第1配線パターン51~57と電気的に導通可能なビアパターン11Va、12Vaは、第1配線パターン52a,56aと曲面で連なっている。また、ビアパターン11Va、12Vaは第1配線パターン52a,56a側から配線板100の第1配線パターン52,56側へ向かって先細りとなっている。
 さらに、配線板100bの絶縁性基材30bの他方主面側(図中下側)には第1配線パターン51b~57bが形成されている。この第1配線パターン51b~57bと一体に形成され、第1配線パターン51b~57bと配線板100の第2配線パターン61,62と電気的に導通可能なビアパターン11Vb、12Vbは、第1配線パターン52b,56bと曲面で連なっている。また、ビアパターン11Vb、12Vbは第1配線パターン52b,56b側から配線板100の第2配線パターン61,62側へ向かって先細りとなっている。
 また、ビアパターン11Va、12Va,ビアパターン11Vb、12Vbは、第1実施形態で説明したビアパターン11V、12Vと同様に界面が無い状態で第1配線パターン51a~57a,51b~57bと一体に形成されている。
 本実施形態の積層型の配線板1000におけるビアパターン11Va、12Va,ビアパターン11Vb、12Vbは、第1実施形態のビアパターン11V、12Vと同様の構成を備えるので、本実施形態に係る積層型の配線板1000は第1実施形態に係る単層の配線板100と同様の作用及び効果を奏する。
 次に、図19~図24に基づいて、第1実施形態に係る製造方法を用いる点では第2実施形態と共通するが、積層の態様が第2実施形態とは異なる製造方法(変形例)を説明する。
 (1)まず、第1実施形態の製造方法で得た図11に示す配線板100を準備する。そして、図19に示すように、配線板の最上面(図中上側)に他の絶縁性基材30aを積層する(第1積層工程)。絶縁性基材30aとしては第2実施形態と同様の材料を用いることができる。
 (2)金型1を準備する。金型1は第1実施形態の製造方法において用いた図5に示す金型1と同じものを用いる。図20に示すように、金型1を配線板100と平行に配置し、金型1の版面1aを絶縁性基材30aの主面に対向するように配置する。
 (3)絶縁性基材30aをガラス転移温度以上になるまで加熱し、図21に示すように、金型1を絶縁性基材30a方向に移動し、さらに突起部11,12を絶縁性基材30aに圧入する。
 (4)続いて、図22に示すように金型1を絶縁性基材30aから離型し、絶縁性基材30aを硬化させる。同図に示すように、離型後の絶縁性基材30aには、金型1の突起部11,12の形状に応じた孔31Va,32Vaが形成されている(第2積層工程)。
 (5)同図に示すように絶縁性基材30aの孔31Va,32Vaの底部312Va、322Vaが貫通されず、樹脂が残存している場合は、開口部311V,321Vからプラズマ照射、薬液散布を行うか又はサンドブラスト処理を行い、図23に示すように、孔31Va,32Vaの底部312Va、322Vaを貫通させる。
 (6)絶縁性基材30aの主面(露出している面)にレジストを塗布し、フォトリソグラフィ技術を用い、配線パターンに応じてレジストをパターニングし、絶縁性基材30aの主面に配線パターンに応じた凹部を形成する(第3積層工程)。
 その後、めっきを行い、孔31Va,32Vaやレジストパターンによって形成された凹部に銅(Cu)や銀(Ag)等の導電材料を充填する。この工程により、孔31Va,32Va及び配線パターンに応じた凹部に導電材料が充填されるので、ビアパターン11Va,12Vaを形成することができる(第4積層工程)。
 (7)上述の第1積層工程から第4積層工程により、図24に示すように、配線板100と層間導通がされた積層型の配線板1000を得ることができる。上述した第1積層工程から第4積層工程は、目的とする配線板1000の積層数に応じた回数だけ繰り返すことができる。同図に示す配線板1000は、第1積層工程から第4積層工程を3回繰り返し、配線板100に配線板100a,100c、100dの3層を積層させた4層の配線板1000の一例である。各層において、第1配線パターン51~57,51a~57a,51c~57c,51d~57d、第2配線パターン61及び62,61aは、同じ形状であってもよいし、異なる形状であってもよい。
 本例も第2実施形態の配線板1000と同様に、ビアパターン11Va、12Va,ビアパターン11Vc、12Vc,ビアパターン11Vd、12Vdは、第1実施形態で説明したビアパターン11V、12Vと同様に界面が無い状態で第1配線パターン51a~57a,51c~57c,51d~57dと一体に形成されている。また、各ビアパターン11Va、12Va,ビアパターン11Vc、12Vc,ビアパターン11Vd、12Vdは、各第1配線パターン51a~57a,51c~57c,51d~57dと曲面で連なっており、この接続部分からビアパターンの先端に向かって先細りの形状となっている。
 このように、本例の積層型の配線板1000におけるビアパターン11Va、12Va,ビアパターン11Vc、12Vc,ビアパターン11Vd、12Vdは、第1実施形態のビアパターン11V、12Vと同様の構成を備えるので、本実施形態の積層型の配線板1000は第1実施形態の単層の配線板100と同様の作用及び効果を奏する。
(第3実施形態)
 以下、図25~図37に基づいて第3実施形態の配線板の製造方法及びこの製造方法により製造される配線板100について説明する。本実施形態の配線板の製造方法及びこの製造方法により製造される配線板100の構成は、第1実施形態の配線板100の構成と基本的に共通するため、重複する説明を避け、第1実施形態の説明を援用し、異なる部分を中心に説明する。
 本実施形態における配線板の製造方法は、大きく分けて、使用する金型を準備する工程と、準備した金型を用いて配線板を作製する工程の2つの工程を有する。先に金型の製造方法及び製造された金型について説明し、この金型を用いた配線板の製造方法及び製造された配線板について説明する。
 本実施形態の金型の製造方法は、硬化された樹脂板体を準備する工程と、ビアパターンに応じて、樹脂板体の主面にレーザー又は電子線を照射して孔を形成する工程と、孔が形成された樹脂板体の主面にレジスト層を積層する工程と、配線パターンに応じて、孔の開口領域を含む所定領域のレジスト層をフォトリソグラフィ法により除去する工程と、金型材料を用いて、所定領域が除去されたレジスト層と樹脂板体の主面とを覆う工程とを有する。
 具体的に各工程を説明する。第1実施形態と同様に、図25に示す樹脂板体3と支持板2の積層体を準備し、樹脂板体3を硬化させる。樹脂板体3と支持体2の材料は第1実施形態と同様である。次に、図26に示すように、第1実施形態と同様の手法により、レーザー又は電子線(EB)を樹脂板体3の主面に照射して孔31,32を形成する。本実施形態の樹脂板体3の孔31,32の開口部311,321の内側壁は、樹脂板体3の主面に曲率を有する曲面で連なるように形成されている。また、孔31,32は、開口部311,321に連なり深さ方向に傾きを有する傾斜壁313a,323aを有し、底部312,322で連なっている。
 特に限定されないが、本実施形態の孔31,32の開口部311,321の径は、2μm以上、かつ35μm以下、好ましくは2μm以上、かつ15μm以下、さらに好ましくは2μm以上、かつ10μm未満である。また、本実施形態の孔31,32の底部312,322の径は、1μm以上、かつ30μm以下、好ましくは1μm以上、かつ10μm以下、さらに好ましくは1μm以上、かつ5μm以下である。深さは、1μm以上、かつ50μm以下、好ましくは10μm以上、かつ40μm以下である。一例ではあるが、本実施形態の孔31,32は、直径10μm程度、深さ15μm程度である。
 続いて、図27に示すように、樹脂板体3上に孔31,32の内部を埋めないようにレジスト層4を形成する。レジスト層4は、アルカリ又は酸に可溶な厚さが5~20μm程度のフィルム状のものを用いることができる。
 そして、図28に示すように、配線パターンに応じて、孔31,32の開口部領域を覆う領域を含むレジスト層4の所定領域をフォトリソグラフィ法により除去する。具体的には、フォトマスク及び露光装置を用いてレジスト層4を露光し、アルカリ現像又は酸現像によりレジスト層4の所定領域を選択的に除去してパターニングする。この結果、孔31,32の開口部領域が開放される(孔31,32が塞がれていない状態になる)とともに、レジスト層4の溝41~47が形成される。形成された溝42,46は先に形成した孔31,32に連なり、孔31,32の開口部311,321に連なる樹脂板体3の主面と、溝42,46を形成するレジスト層4の主面(露光の光源側)とによって、階段状(二段形状)のパターンが形成される。特に限定されないが、溝41~47が構成するライン・アンド・スペースの部分の配線幅を5~20μm程度、配線間隔を5~20μm程度とし、ビアパターンのランド径を50~120μm程度とすることができる。
 続いて、第1実施形態と同様の手法で、後に行われるめっき処理等においてシード層となる導電層を形成する。そして、図29に示すように、金型材料を用いて、開口部領域を覆う領域を含む所定領域が除去されたレジスト層4と樹脂板体3の主面を覆う。具体的には、めっき処理により、金型材料を樹脂板体3に形成された孔31,32、溝41~47を充填するとともに、レジスト層4の上面及び側面、樹脂板体3の主面を覆う。めっきの手法などは第1実施形態と共通する。そして、図30に示すように、支持板2を塩化第二鉄などのエッチング液により除去する。最後に、樹脂板体3を水酸化ナトリウム水溶液等により膨潤剥離し、図31に示す金型1を得る。
 本発明の本実施形態に係る金型1の製造方法によれば、レーザー又は電子ビームによる孔31,32と溝41~47を有する二段形状のパターンを形成することにより、1度のめっき処理(一工程)で突起部11,12及び凸部21~27を形成することができる。
 ビアパターンを形成するための突起部及び配線パターンを形成するための凸部を形成する手法として、フォトリソグラフィ、めっき及び研磨の工程を繰り返してそれぞれ別々に作り上げる工法が知られている。本実施形態では先にレーザー等によってビアパターン用の孔31,32を形成してから配線パターン用の溝41~47を形成し、金型材料を孔31,32、溝41~47を一工程で充填するので、配線パターン用の凸部を形成した後に、この凸部の上にビアパターン用の突起部を形成する従来の手法に比べて、ビアパターン用の突起部の頂部を研磨する工程が不要となり、工程を簡略化することができる。なお、レジスト層4をパターニングしてから下部に配置された樹脂板体に孔31,32を形成してもよい。
 また、レーザー又は電子線により孔31,32を形成することにより、フォトリソグラフィ工程で得られない、凸部12,16の上面に曲率を有して滑らかに連なる基部111,121を有する突起部11,12を形成することができるので、第1実施形態と同様の作用及び効果を奏する。
 図31に示すように、本発明の本実施形態に係る金型1の版面1aには、ビアパターンに応じて形成された突起部11,12と、配線パターンに応じて形成された凸部21~27とが形成されている。ビアパターンと配線パターンは配線板のパターンを構成する。突起部11,12は凸部21~27の上面に曲率を有して連なる基部111,121と、基部111,121から突起部11,12の頂部112,122に近づくにつれて外径が細くなる傾斜部113,123とを有する。つまり、ビアパターンに応じる突起部11,12の基部111,121は、凸部21~27の上面(版面1aの主面と平行な面、以下同じ)に曲面111a,121aで連なっている。つまり、突起部11,12は、凸部21~27よりも高い頂部112,122と、凸部22,26の上面に曲率を有する曲面111a,121aで接続された基部111,121とを有する。版面1aと凸部21~27の間、凸部22,26と突起部11,12との間に界面はなく、金型1は一体として形成されている。金型1を構成する金型材料は第1実施形態と同様に銅(Cu)等を用いることができる。
 同図に示すように、本実施形態の突起部11,12は曲面で構成された頂部112,122をそれぞれ有する。なお、突起部11,12の形状は先述の実施形態と同様の手法で形成することができる。
 特に限定されないが、突起部11,12の基部111,121の径は、2μm以上、かつ35μm以下、好ましくは2μm以上、かつ15μm以下、さらに好ましくは2μm以上、かつ10μm未満である。また、本実施形態の突起部11,12の頂部112,122の径は、1μm以上、かつ30μm以下、好ましくは1μm以上、かつ10μm以下、さらに好ましくは1μm以上、かつ5μm以下である。また、本実施形態の突起部11,12の長さは1μm以上、かつ50μm以下、好ましくは10μm以上、かつ40μm以下である。アスペクト比は0.5~40、好ましくは1~30であり、本例では1~4程度とすることができる。
 本実施形態の金型1は、その突起部11,12の基部111,121が、凸部21~27の上面(版面1aと平行な面)に曲率を有して滑らかに接続されているので、第1実施形態と同様の作用及び効果を奏する。
 以下、図32~図36に基づいて金型1を用いた配線板の製造方法を説明し、図37に基づいて、作製された配線板について説明する。
 本実施形態では、上述した図31に示す金型1を用いて、いわゆるインプリント法により配線板を得る。
 まず、図32に示すように金型1及び配線板を構成する転写用の絶縁性基材(樹脂フィルム)30を準備し、金型1の主面を絶縁性基材30の主面に対向させて配置する。絶縁性基材30の材料は、第1実施形態と同じである。図32に示す矢印P1に沿って金型1を移動させ、図33に示すように型押しをする。金型1及び絶縁性基材30をガラス転移温度(Tg)未満に冷却し、図34に示すように、金型1を絶縁性基材30から離隔する方向(矢印P2)に離型する。絶縁性基材30が熱硬化性樹脂である場合には、オーブン等により例えば160~200℃、40分~80分間加熱し、絶縁性基材30を完全に硬化させる。他方、絶縁性基材30が熱可塑性樹脂の場合には冷却して硬化させる。
 これにより、金型1の版面1aのパターン(ビアパターン、配線パターンを含む、以下同じ)を絶縁性基材30の主面に転写することができる。同図に示すように、金型1を離型すると、絶縁性基材30には金型1の突起部11,12の形状に応じた孔31V,32V、及び凹部331~337が形成される。
 図34に示すように、この孔31V,32Vは、開口部311V,321Vの周囲に曲率を有する内側壁311Va,321Vaと、底面に向かうにつれて内径が漸減する傾斜壁313Va,323Vaとを有する。具体的に、絶縁性基材30に形成された孔31V,32Vは、曲率を有する内側壁311Va,321Vaが開口部311V,321Vに形成され、絶縁性基材30の凹部331~337に曲率を有して連なる。この孔31V,32Vは、開口部311V,321Vから底部312V,322Vに近づくにつれて外径が細くなる傾斜壁313Va,323Vaを備えた胴部313V,323Vを有する。特に限定されないが、本実施形態の孔31V,32Vの開口部311V,321Vの径は、2μm以上、かつ35μm以下、好ましくは2μm以上、かつ15μm以下、さらに好ましくは2μm以上、かつ10μm未満である。また、本実施形態の孔31V,32Vの底部312V,322Vの径は、1μm以上、かつ30μm以下、好ましくは1μm以上、かつ10μm以下、さらに好ましくは1μm以上、かつ5μm以下である。深さは、1μm以上、かつ50μm以下、好ましくは10μm以上、かつ40μm以下である。一例ではあるが、本実施形態の孔31V,32Vは、直径10μm程度、深さ15μm程度である。
 めっき又は導電ペーストを印刷・焼結し、凹部331~337及び孔31V,32Vに導電材料を充填することにより、図35に示すように第1の配線パターン51~57及びビアパターン11V,12Vを形成する。また、ナノペーストの余剰部分が残存する場合には研磨又はエッチング等により除去する。
 図35に示すように、金型1が絶縁性基材30を貫通せずに、ビアパターン11V,12Vの先端に樹脂が残る場合は、図36に示すように化学的又は機械的な研磨により除去し、絶縁性基材30の下面からビアパターン11V,12Vの先端を露出させることができる。
 続いて、絶縁性基材30の他方主面(図中下側面)にめっき又は導電ペーストを印刷・焼結処理を行い、ビアパターン11V,12Vと導通する第2配線パターン61,62を形成する。
 図37は、本実施形態に係る配線板100を示す。図37に示すように、本実施形態の配線板100は、絶縁性基材30と、絶縁性基材30の一方主面に形成された第1配線パターン51~57と、絶縁性基材30の他方主面に形成された第2配線パターン61,62と絶縁性基材30の一方主面側から他方主面側に貫通し、第1配線パターン51~57及び第2配線パターン61,62と導通するビアパターン11V,12Vと、を備えている。
 本実施形態の配線板100の第1配線パターン51~57は、絶縁性基材30の一方主面上に、この絶縁性基材30の主面から内部側に向かって凸状に、埋設された状態で形成されている。図37に示すように、第1配線パターン51~57の上側面が絶縁性基材30の主面と同じ高さとなり、絶縁性基材30の主面と第1配線パターン51~57の上側の平面とに段差が生じていない。つまり、第1配線パターン51~57が形成されているにもかかわらず、絶縁性基材30の主面を平坦にすることができる。このため、第1配線パターン51~57が埋設された絶縁性基材30の上に、配置位置の制限を受けずに他の部品を実装することができる。また、配線板100の上に他の配線板100を複数積層しても、全体が平坦な積層型の配線板を作製することができる。
 本実施形態のビアパターン11V,12Vは、同図に示すように、第1配線パターン52,56と曲率を有して連なる接続基部111V,121Vと、接続基部111V,121Vからビアパターン11V,12Vの頭頂部112V,122Vに近づくにつれて外径が細くなる錐状部113V,123Vと、を有する。
 同図に示すように、本実施形態のビアパターン11V,12Vは、第1配線パターン52,56と曲率を有する曲面111Va,121Vaを有し、ビアパターン11V,12Vと第1配線パターン52,56とは曲面111Va,121Vaを介して滑らかに連なり、一体として形成されているため、第1実施形態の配線板と同様の作用を有し、同様の効果を奏する。
 本発明の第1実施形態に係る配線板の効果に加えて、本実施形態では2段形状の金型1を用いて第1の配線パターン51~57及びビアパターン11V,12Vを一括して形成することができるので、第1の配線パターン51~57及びビアパターン11V,12Vのピッチや位置関係の製造誤差が小さい高い精度の配線板100を得ることができる。
 また、本実施形態では2段形状の金型1を用いて第1の配線パターン51~57及びビアパターン11V,12Vを一括して形成することができるので、1度のめっき処理でビアパターン11V,12Vと第1配線パターン51~57を一括して作製できる。したがって、フォトリソグラフィ、めっき及び研磨という工程を繰り返してビアパターン及び配線パターンを形成する場合と比較して、その工程間の研磨工程等が不要となり工程が簡便となる。
 ここで、本発明の第3実施形態の第1変形例として、配線板の製造方法の一例を説明する。
 図32~図36に示した工程は実質的に同様であるので重複した説明を省略する。図36に示すように第1配線パターン51~57及びビアパターン11V,12Vを形成した後、図38に示すように絶縁性基材30の下面から薬液を用いてビアパターン11V,12Vを残存させたまま絶縁性基材30の一部を選択的に除去する。ビアパターン11V,12Vの先端を絶縁性基材30の下面(図中下側)から突出させる。その後、図39に示すようにめっき又は導電ペーストを印刷・焼結により第2配線パターン61,62を形成する。この結果、ビアパターン11V,12Vと第2配線パターン61,62との接触面積が増大し、接続信頼性を向上することができる。
 さらに、本発明の第3実施形態の第2変形例として、配線板の製造方法の一例を説明する。
 図32及び図33に示した工程は実質的に同様であるので重複した説明を省略する。図34に示すように金型1を絶縁性基材30から離型した後、絶縁性基材30の下面から化学的若しくは機械的に研磨を行うか、又は絶縁性基材30の上面若しくは下面からプラズマ、薬液若しくはサンドブラスト等により、図40に示すように底部312V,322Vの残部を除去し、孔31V,32Vを貫通させる。その後、めっき又は導電ペーストを印刷・焼結し、孔31V,32Vに導電材料を充填することにより、図41に示すように第1配線パターン51~57及びビアパターン11V,12Vを形成する。この結果、ビアパターン11V,12Vの先端が露出し、絶縁性基材30の他方主面(下側面)から突出する。その後、図42に示すように、めっき又は導電ペーストを印刷・焼結することにより第2配線パターン61,62を形成する。この結果、ビアパターン11V,12Vと第2配線パターン61,62との接触面積が増大し、接続信頼性を向上させることができる。
 さらにまた、本発明の第3実施形態の第3変形例として、配線板の製造方法の一例を説明する。
 図32及び図33に示した工程は実質的に同様であるので重複した説明を省略する。図34に示すように金型1を絶縁性基材30から離型した後、絶縁性基材30の下面から化学的若しくは機械的な研磨を行うか、又は絶縁性基材30の上面若しくは下面からプラズマ、薬液若しくはサンドブラスト等により、図40に示すように孔31V,32Vを貫通させる。その後、絶縁性基材30の下面に支持基板(図示省略)を配置して、一時的に孔31V,32Vを塞ぎ、めっき又は導電ペーストを印刷・焼結して、孔31V,32Vに導電材料を充填することにより、図43に示すように第1配線パターン51~57及びビアパターン11V,12Vを形成する。この結果、絶縁性基材30の下面とビアパターン11V,12Vの頭頂部112V,122Vが同じ高さ(いわゆる面一)となる。その後、めっき又は導電ペーストを印刷・焼結することにより図37に示すように第2配線パターン61,62を形成する。
 上述の変形例1~3は、第3実施形態と共通の特徴を備えており、共通の作用及び効果を奏する。
(第4実施形態)
 以下、第4実施形態について説明する。第4実施形態は、第3実施形態に係る配線板100を用いて積層型の配線板を製造する方法と、この製造方法により得られた積層型の配線板について説明する。共通する事項についての詳細な説明は上述した実施形態に係る説明を援用する。
 まず、図44~図47に基づいて、本発明の第4実施形態に係る積層型の配線板の製造方法を説明する。
 (1)図44に示すように、先述した図37に示す配線板100を準備し、配線板100の最上面(露出している面)に、この配線板100で用いられている絶縁性基材30以外の他の絶縁性基材30aを積層する(第1積層工程)。絶縁性基材30aは、配線板100の絶縁性基材30と同じ材料を用いることができる。
 (2)次に、金型1を準備する。金型1の構造は第3実施形態において説明した図31に示す金型1と共通するので、ここでは説明を省略する。図44に示すように、金型1を配線板100の最上層面側に積層された絶縁性基材30aに平行に配置する。金型1の版面1aに形成された突起部11,12の頂部112,122は、絶縁性基材30aに対向している。
 (3)絶縁性基材30aをガラス転移温度以上になるまで加熱し、図45に示すように、金型1を絶縁性基材30aの方向に移動し、さらに突起部11,12を絶縁性基材30aに圧入する。
 (4)続いて、図46に示すように、金型1を絶縁性基材30aから離型する。この際、突起部11,12の基部111,112は曲率を有するため、突起部11,12が角度をもって版面1aに連なる場合よりも離型しやすい。絶縁性基材30aが熱硬化性樹脂である場合にはオーブン等により加熱して硬化させる。絶縁性基材30aが熱可塑性樹脂の場合には冷却して硬化させる。絶縁性基材30aを硬化させる工程は、離型後のみに限定されず、図45に示す金型1を圧入した後であってもよいし、後述する図47に示すように孔31Va,32Vaを貫通させた後であってもよい。
 (5)図47に示すように、絶縁性基材30aの孔31Va,32Vaの底部312Va、322Vaが貫通されず、樹脂が残存している場合は、孔31Va,32Vaの開口部からプラズマ照射、薬液散布を行うか又はサンドブラスト処理を行い、孔31Va,32Vaの底部312Va、322Vaを貫通させることができる。
 同図に示すように、離型後の絶縁性基材30aには、金型1の突起部11,12の形状に応じた孔31Va,32Vaと、第1配線パターンに応じた凹部331a~337aが形成されている(第2積層工程)。
 (6)めっき又は導電ペーストを印刷・焼結し、凹部331a~337a及び孔31Va,32Vaに導電材料を充填することにより、図48に示すように第1の配線パターン51a~57a及びビアパターン11Va,12Vaを形成する。また、ナノペーストの余剰部分が残存する場合には研磨又はエッチング等により除去する(第3積層工程)。
 (7)上述の第1積層工程から第3積層工程により、図48に示す、層間導通がされた積層型の配線板1000を得ることができる。上述した第1積層工程から第3積層工程は、目的とする積層数に応じた回数だけ繰り返すことができる。
 本実施形態に係る積層型の配線板1000は、上述の実施形態と同様に、ビアパターン11V,12V(11Va,12Va)は、第1配線パターン51~57(51a~57a)と曲率を有して連なり、第1配線パターン51~57(51a~57a)との接続部分からビアの頭頂部に近づくにつれて外径が細くなる形状を有するので、上述の実施形態と同様の作用を奏し、同様の効果を奏する。
 また、本実施形態に係る積層型の配線板1000は、上述の実施形態と同様に、ビアパターン11V,12V(11Va,12Va)は、第1配線パターン51~57(51a~57a)とが界面のない状態で一体に形成されているので、上述の実施形態と同様の作用を奏し、同様の効果を奏する。
 なお、図48に配線板100,100aを有する積層型の配線板1000を示すが、配線板100aの上面(配線板100とは反対側の面)に更に他の配線板100を積層することができる。積層される各配線板の第1配線パターン51~57は、共通の態様であってもよいし、異なる態様であってもよい。
(第5実施形態)
 以下、図49~図61に基づいて第5実施形態の配線板の製造方法及びこの製造方法により製造される配線板100について説明する。本実施形態の配線板の製造方法及びこの製造方法により製造される配線板100の構成は、第1実施形態の配線板100の構成と基本的に共通するため、重複する説明を避け、第1実施形態の説明を援用し、異なる部分を中心に説明する。
 本実施形態における配線板の製造方法は、大きく分けて、使用する金型を準備する工程と、準備した金型を用いて配線板を作製する工程の2つの工程を有する。先に金型の製造方法及び製造された金型について説明し、そして、この金型を用いた配線板の製造方法及び製造された配線板について説明する。
 本実施形態では、ビア用の金型1と配線パターン用の金型1Cの、二つの金型を準備する。
 ビア用の金型1の製造方法は、第1実施形態の金型1と同じであり、硬化された樹脂板体を準備する工程と、ビアパターンに応じて、樹脂板体の主面にレーザー又は電子線を照射して孔を形成する工程と、金型材料を用いて樹脂板体に形成された孔を充填するとともに樹脂板体の主面を覆う工程と、を有する。
 具体的に各工程を説明する。第1実施形態と同様に、図49に示す樹脂板体3と支持板2の積層体を準備し、樹脂板体3を硬化させる。樹脂板体3と支持体2の材料は第1実施形態と同様である。次に、図50に示すように、第1実施形態と同様の手法により、レーザー又は電子線(EB)を樹脂板体3の主面に照射して孔31,32を形成する。本実施形態の樹脂板体3の孔31,32の開口部311,321の内側壁311a,321aは、樹脂板体3の主面に曲率を有する曲面で連なるように形成されている。また、孔31,32は、開口部311,321に連なり深さ方向に傾きを有する傾斜壁313a,323aを有し、底部312,322で連なっている。
 特に限定されないが、本実施形態の孔31,32の開口部311,321の径は、2μm以上、かつ35μm以下、好ましくは2μm以上、かつ15μm以下、さらに好ましくは2μm以上、かつ10μm未満である。また、本実施形態の孔31,32の底部312,322の径は、1μm以上、かつ30μm以下、好ましくは1μm以上、かつ10μm以下、さらに好ましくは1μm以上、かつ5μm以下である。深さは、1μm以上、かつ50μm以下、好ましくは10μm以上、かつ40μm以下である。一例ではあるが、本実施形態の孔31,32の開口部311,321の直径は10μm程度、深さ15μm程度である。
 続いて、第1実施形態と同様の手法で、後に行われるめっき処理等においてシード層となる導電層を形成する。そして、図51に示すように、金型材料を用いて樹脂板体3に形成された孔31,32を充填するとともに樹脂板体3の主面を覆う。具体的には、めっきにより、金型材料を樹脂板体3に形成された孔31,32に充填するとともに、樹脂板体3の主面を覆う。めっきの手法などは第1実施形態と共通する。そして、図52に示すように、支持板2を塩化第二鉄などのエッチング液により除去する。最後に、樹脂板体3を水酸化ナトリウム水溶液等により膨潤剥離し、金型を得る。
 本実施形態では、突起部11,12の型締め方向(図中上下方向)の高さを、絶縁性基材30よりも厚く構成する。これは突起部11,12を絶縁性基材30に圧入したときに金型1が絶縁性基材30に接触し、後述する、先に絶縁性基材30に形成されている凹部331~337の型崩れを防止することができる。
 図53は、型締め方向(図中矢印M)に沿う、本実施形態の金型1の断面図である。図53に示すように、金型1の版面1aは、この版面1aの主面側に凸状に形成された突起部11,12を少なくとも有する。版面1aと突起部11,12との間に界面はなく、突起部11,12は版面1aの一部を構成する。
 本実施形態の突起部11,12は、形成するビアパターンの孔に対応する太さ(径)、長さ、及びアスペクト比を有する形状に形成される。特に限定されないが、突起部11,12の基部111,121の径は、2μm以上、かつ35μm以下、好ましくは2μm以上、かつ15μm以下、さらに好ましくは2μm以上、かつ10μm未満である。また、本実施形態の突起部11,12の頂部112,122の径は、1μm以上、かつ30μm以下、好ましくは1μm以上、かつ10μm以下、さらに好ましくは1μm以上、かつ5μm以下である。また、本実施形態の突起部11,12の長さは1μm以上、かつ50μm以下、好ましくは10μm以上、かつ40μm以下である。アスペクト比は0.5~40、好ましくは1~30であり、本例では1~4程度とすることができる。
 本実施形態における突起部11,12は、第1実施形態と同様に、曲面111a,121aを有する基部111,121と、この基部111,121から突起部11,12の頂部112,122にかけて先細りとなる傾斜部113,123と、を有する。
 並行して、もう一方の、配線用の金型1Cを準備する。配線用の金型1Cは、パターンの一部を構成する配線パターンに応じて形成された凸部を含む版面1aを備える。金型1Cの版面1aは、配線パターンに応じた凸部を備える。金型1Cは、数nmから数μm程度の線幅の配線パターンを絶縁性樹脂に形成することができる。金型1Cは種々の方法で作製が可能であるが、例えばフォトリソグラフィ技術を用いて作製することができる。具体的には、ガラス基板にフォトレジストを塗布し、フォトリソグラフィ技術を用いてレジストをパターニングし、パターニングされたレジストの表面にスパッタ又は無電解めっき等でメタルコートを施し、電解めっきによりニッケル(Ni)や銅(Cu)からなる金属層を形成し、この金属層からガラス基板を剥離し、金属層上に残存したレジストを除去する、という手法を用いることができる。その他、電子線描画及びドライエッチングによるシリコンや石英の加工により作製してもよい。また、この金型1Cとしては、市販のナノインプリントモールド等を使用することができる。
 以下、図54~図60に基づいて金型1、1Cを用いた配線板の製造方法を説明し、図61に基づいて、作製された配線板について説明する。
 本実施形態では、上述した図53に示すビア用の金型1と配線用の金型1Cを用いて、いわゆるインプリント法により配線板を得る。
 まず、図54に示すように、配線用の金型1Cを絶縁性基材30の主面に対向させて配置する。配線用の金型1Cの版面1aには配線パターンに応じた凸部21~27が形成されている。絶縁性基材30の材料は、第1実施形態と同じである。そして、図55に示すように、第1実施形態と同じ条件で金型1Cを絶縁性基材30に接近させ(矢印P1に沿って移動させ)、型押しをする。例えば130~170℃、0.8~1.2MPaの加熱プレスにより凸部21~27を圧入する。金型1C及び絶縁性基材30をガラス転移温度(Tg)未満に冷却し、図56に示すように、金型1Cを絶縁性基材30から離隔する方向(矢印P2)に離型する。
 特に限定されないが、絶縁性基材30としては熱硬化性樹脂である味の素ビルドアップフィルム(ABF:Ajinomoto Build-Up Film)を用い、130~170℃、8~12MPaで加熱プレスする。
 図56に示すように、絶縁性基材30の主面には、配線パターンに応じた凹部331~337が形成される。
 次に、図57に示すように、ビア用の金型1を、この金型1の突起部11,12が絶縁性基材30の一方主面に形成された凹部331~337に突き当たるように、絶縁性基材30の主面に対向させて配置する。そして、図58に示すように、第1実施形態と同じ条件で金型1を絶縁性基材30に接近させ(矢印P1に沿って移動させ)、型押しをする。例えば130~170℃、0.8~1.2MPaの加熱プレスにより突起部11,12を圧入する。金型1及び絶縁性基材30をガラス転移温度(Tg)未満に冷却し、図59に示すように、金型1を絶縁性基材30から離隔する方向(矢印P2)に離型する。絶縁性基材30が熱硬化性樹脂である場合には、オーブン等により例えば160~200℃、40分~80分間加熱し、絶縁性基材30を完全に硬化させる。他方、絶縁性基材30が熱可塑性樹脂の場合には冷却して硬化させる。
 ここで、突起部11,12の型締め方向(図中上下方向)の高さを絶縁性基材30の厚さよりも高くすることにより、金型1と絶縁性基材30とが接触しないようにすることができるので、絶縁性基材30の凹部331~337の型崩れを防止することができる。
 これにより、金型1の版面1aのビアパターンに応じた形状、金型1Cの版面1aの配線パターンに応じた形状を絶縁性基材30の主面に転写することができる。同図に示すように、金型1を離型すると、絶縁性基材30には金型1Cの凸部21~27に応じた凹部331~337が形成されるとともに、金型1の突起部11,12の形状に応じた孔31V,32Vが形成される。
 図59に示すように、この孔31V,32Vは、開口部311V,321Vの周囲に曲率を有する内側壁311Va,321Vaと、底面に向かうにつれて内径が漸減する傾斜壁313Va,323Vaとを有する。具体的に、絶縁性基材30に形成された孔31V,32Vは、同図に示すように、曲率を有する内側壁311Va,321Vaが開口部311V,321Vに形成され、絶縁性基材30の凹部331~337に曲率を有して連なる。この孔31V,32Vは、開口部311V,321Vから底部312V,322Vに近づくにつれて外径が細くなる傾斜壁313Va,323Vaを備えた胴部313V,323Vを有する。特に限定されないが、本実施形態の孔31V,32Vの開口部311V,321Vの径は、2μm以上、かつ35μm以下、好ましくは2μm以上、かつ15μm以下、さらに好ましくは2μm以上、かつ10μm未満である。また、本実施形態の孔31V,32Vの底部312V,322Vの径は、1μm以上、かつ30μm以下、好ましくは1μm以上、かつ10μm以下、さらに好ましくは1μm以上、かつ5μm以下である。深さは、1μm以上、かつ50μm以下、好ましくは10μm以上、かつ40μm以下である。一例ではあるが、本実施形態の孔31V,32Vは、直径10μm程度、深さ15μm程度である。
 図59に示すように、金型1が絶縁性基材30を貫通せずに、孔31V,32Vの底に樹脂が残る場合は、図60に示すように化学的又は機械的な研磨により除去し、孔31V,32Vを貫通させることができる。
 図60に示す絶縁性基材30下面にレジストを塗布し、フォトリソグラフィ技術を用いてレジストをパターニングした後にめっきを行うことにより、孔31V,32V及び凹部331~337に導電材料を充填する。
 このめっき処理により、ビアパターン11V、12Vと、第1配線パターン51~57と、第2配線パターン61,62とを同時に形成することができる。また、絶縁性基材30上面に導電ペーストを印刷・焼結することによりビアパターン11V、12Vと、第1配線パターン51~57と、第2配線パターン61,62とを同時に形成することもできる。また、ナノペーストの余剰部分が残存する場合には研磨又はエッチング等により除去する。
 図61は、本実施形態に係る配線板100を示す。図61に示すように、本実施形態の配線板100は、絶縁性基材30と、絶縁性基材30の一方主面に形成された第1配線パターン51~57と、絶縁性基材30の他方主面に形成された第2配線パターン61,62と絶縁性基材30の一方主面側から他方主面側に貫通し、第1配線パターン51~57及び第2配線パターン61,62と導通するビアパターン11V,12Vと、を備えている。
 本実施形態の配線板100の第1配線パターン51~57は、絶縁性基材30の一方主面(図中上側)から絶縁性基材30の内部側へ向かって凸状に、埋設された状態で形成されている。このため、第1配線パターン51~57の上側面が絶縁性基材30の主面と同じ高さであり、第1配線パターン51~57が形成されているにもかかわらず、絶縁性基材30の主面を平坦にすることができる。このため、第1配線パターン51~57が埋設された絶縁性基材30の上に、配置位置の制限を受けずに他の部品の実装や、他の配線板100の積層をすることができる。また、複数の配線板100を積層しても、全体が平坦な積層型の配線板を作製することができる。
 本実施形態のビアパターン11V,12Vは、同図に示すように、第1配線パターン52,56と曲率を有する接続曲面111Va、121Vaで連なる接続基部111V,121Vと、接続基部111V,121Vからビアパターン11V,12Vの先端に近づくにつれて外径が細くなる錐状部113V,123Vと、を有する。
 同図に示すように、本実施形態のビアパターン11V,12Vは、第1配線パターン52,56と曲率を有する曲面111Va,121Vaを有し、ビアパターン11V,12Vと第1配線パターン52,56とは曲面111Va,121Vaを介して滑らかに連なり、一体として形成されているため、上述の実施形態の配線板と同様の作用を有し、同様の効果を奏する。
(第6実施形態)
 以下、第6実施形態について説明する。第6実施形態は、第5実施形態に係る配線板100を用いて積層型の配線板を製造する方法と、この製造方法により得られた積層型の配線板について説明する。共通する事項についての詳細な説明は上述の実施形態に係る説明を援用する。
 (1)図62に示すように、先述した第5実施形態の配線板100を準備し、配線板100の最上面(露出している面)に、この配線板100で用いられている絶縁性基材30以外の他の絶縁性基材30aを積層する(第1積層工程)。絶縁性基材30aは、配線板100の絶縁性基材30と同じ材料を用いることができる。
 (2)次に、金型1Cを準備する。金型1Cの構造は第5実施形態において説明した金型1Cと共通する。同図に示すように、金型1Cを配線板100の最上層面側に積層された絶縁性基材30aに平行に配置する。金型1Cの版面1aに形成された凸部21~27は絶縁性基材30aに対向している。
 (3)絶縁性基材30aをガラス転移温度以上になるまで加熱し、図63に示すように、金型1Cを絶縁性基材30aの方向に移動し、さらに凸部21~27を絶縁性基材30aに圧入する。
 (4)続いて、図64に示すように、金型1Cを絶縁性基材30aから離型し、金型1Cの凸部21~27に応じた形状の凹部331a~337aを絶縁性基材30に形成する(第2積層工程)。
 (3)次に、金型1を準備する。金型1の構造は第5実施形態において説明した金型1と共通するので、ここでは説明を省略する。図65に示すように、金型1を配線板100の最上層面側に積層された絶縁性基材30aに平行に配置する。この絶縁性基材30aには凹部331a~337aが形成されている。金型1の版面1aに形成された突起部11,12の頂部112,122は、絶縁性基材30aの凹部332a,336aに対向している。
 (4)絶縁性基材30aをガラス転移温度以上になるまで加熱し、図66に示すように、金型1を絶縁性基材30aの方向に移動し、さらに突起部11,12を絶縁性基材30aに圧入する。
 (5)続いて、金型1を絶縁性基材30aから離型する。この際、突起部11,12の基部111,112は曲率を有するため、突起部11,12が角度をもって金型1に連なる場合よりも離型しやすい。絶縁性基材30aが熱硬化性樹脂である場合にはオーブン等により加熱して硬化させる。絶縁性基材30aが熱可塑性樹脂の場合には冷却して硬化させる。
 図67に示すように、金型1の離型後の絶縁性基材30aには、金型1の突起部11,12の形状に応じた孔31Va,32Vaと、第1配線パターンに応じた凹部331a~337aが形成されている(第3積層工程)。
 (6)絶縁性基材30aの孔31Va,32Vaの底部312Va、322Vaが貫通されず、樹脂が残存している場合は、図68に示すように、孔31Va,32Vaの開口部からプラズマ照射、薬液散布を行うか又はサンドブラスト処理を行い、孔31Va,32Vaの底部312Va、322Vaを貫通させることができる。
 (7)図68の配線板100にめっき又は導電ペーストを印刷・焼結し、凹部331a~337a及び孔31Va,32Vaに導電材料を充填することにより、第1の配線パターン及びビアパターンを形成する(第4積層工程)。また、ナノペーストの余剰部分が残存する場合には研磨又はエッチング等により除去する。
 (8)上述の第1積層工程から第4積層工程により、配線板100と層間導通がされた積層型の配線板1000を得ることができる。図69は、第1積層工程から第4積層工程を3回繰り返し、配線板100に、配線板100a,100c,100dを積層させた積層型の配線板1000の例を示す。上述した第1積層工程から第4積層工程は、目的とする配線板1000の積層数に応じた回数だけ繰り返すことができる。
 本実施形態に係る積層型の配線板1000は、上記実施形態と同様に、ビアパターン11V,12V(11Va,11Vc,11Vd,12Va,12Vc,12Vd)が、第1配線パターン51~57(51a~57a,51c~57c,51d~57d)と曲率を有して連なり、第1配線パターン51~57(51a~57a,51c~57c,51d~57d)との接続部分からビアの頭頂部に近づくにつれて外径が細くなる形状を有するので、上述の実施形態と同様の作用を奏し、同様の効果を奏する。
 また、本実施形態に係る積層型の配線板1000は、上述の実施形態と同様に、ビアパターン11V,12V(11Va,11Vc,11Vd,12Va,12Vc,12Vd)が、第1配線パターン51~57(51a~57a,51c~57c,51d~57d)とが界面のない状態で一体に形成されているので、上述の実施形態と同様の作用を奏し、同様の効果を奏する。
 なお、図69に配線板100,100a,100c,100dを有する積層型の配線板1000を示したが、配線板100の積層数は限定されない。また、積層される各配線板の第1配線パターン51~57(51a~57a,51c~57c,51d~57d)は、共通の態様であってもよいし、異なる態様であってもよい。
(第7実施形態)
 以下、図70~図82に基づいて第7実施形態の配線板の製造方法及びこの製造方法により製造される配線板100について説明する。本実施形態の配線板の製造方法は、第5実施形態と基本的に共通するため、重複する説明を避け、第5実施形態の説明を援用する。
 本実施形態における配線板の製造方法は、大きく分けて、使用する金型を準備する工程と、準備した金型を用いて配線板を作製する工程の2つの工程を有する。先に金型の製造方法及び製造された金型を説明し、そして、この金型を用いた配線板の製造方法及び製造された配線板を説明する。
 まず、本実施形態では、ビア用の金型1と配線パターン用の金型1Cの、二つの金型を準備する。
 ビア用の金型1の製造方法は、第1実施形態の金型1と同じであり、硬化された樹脂板体を準備する工程と、ビアパターンに応じて、樹脂板体の主面にレーザー又は電子線を照射して孔を形成する工程と、金型材料を用いて樹脂板体に形成された孔を充填するとともに樹脂板体の主面を覆う工程と、を有する。
 ビア用の金型1の製造方法は、第5実施形態と共通する。まず、図70に示す樹脂板体3と支持板2の積層体を準備し、樹脂板体3を硬化させる。次に、図71に示すように、第1実施形態と同様の手法により、レーザー又は電子線(EB)を樹脂板体3の主面に照射して孔31,32を形成する。本実施形態の樹脂板体3の孔31,32の開口部311,321の内側壁311a,321aは、樹脂板体3の主面に曲率を有する曲面で連なるように形成されている。また、孔31,32は、開口部311,321に連なり深さ方向に傾きを有する傾斜壁313a,323aを有し、底部312,322で連なっている。孔31,32の径の大きさ、深さ、アスペクト比は、第5実施形態と共通する。
 続いて、第1実施形態と同様の手法で、後に行われるめっき処理等においてシード層となる導電層を形成する。そして、図72に示すように、金型材料を用いて樹脂板体3に形成された孔31,32を充填するとともに樹脂板体3の主面を覆う。具体的には、めっきにより、金型材料を樹脂板体3に形成された孔31,32を充填するとともに、樹脂板体3の主面を覆う。めっきの手法などは第1実施形態と共通する。そして、図73に示すように、支持板2を塩化第二鉄などのエッチング液により除去する。最後に、樹脂板体3を水酸化ナトリウム水溶液等により膨潤剥離し、図74に示す金型1を得る。
 本実施形態では、突起部11,12の型締め方向(図中上下方向)の高さを、絶縁性基材30の厚さよりも厚く構成する。これは突起部11,12を絶縁性基材30に圧入したときに金型1が絶縁性基材30に接触し、後述する先に絶縁性基材30に形成されている凹部331~337の型崩れを防止することができる。
 図74は、型締め方向(図中矢印M)に沿う、本実施形態の金型1の断面図である。図74に示すように、金型1の版面1aは、この版面1aの主面側に凸状に形成された突起部11,12を少なくとも有する。版面1aと突起部11,12との間に界面はなく、突起部11,12は版面1aの一部を構成する。突起部11,12の太さ(径)、長さ及びアスペクト比は、第5実施形態と共通する。本実施形態における突起部11,12は、曲面111a,121aを有する基部111,121と、この基部111,121から突起部11,12の頂部112,122にかけて先細りとなる傾斜部113,123と、を有する。
 並行して、もう一方の、配線用の金型1Cを準備する。配線用の金型1Cは、第5実施形態と同じである。
 以下、図75~図81に基づいて金型1、1Cを用いた配線板の製造方法を説明し、図82に基づいて、作製された配線板について説明する。
 本実施形態では、上述した図74に示すビア用の金型1と配線用の金型1Cを用いて、いわゆるインプリント法により配線板を得る。
 まず、図75に示すように、配線用の金型1Cを絶縁性基材30の主面に対向させて配置する。そして、図76に示すように、第5実施形態と同じ条件で金型1Cを絶縁性基材30に接近させ(矢印P1に沿って移動させ)、熱プレス加工をする。金型1C及び絶縁性基材30をガラス転移温度(Tg)未満に冷却し、図77に示すように、金型1Cを絶縁性基材30から離隔する方向(矢印P2)に離型する。これにより、絶縁性基材30の主面には、配線パターンに応じた凹部331~337が形成される。
 次に、図78に示すように、ビア用の金型1を凹部331~337が形成された絶縁性基材30の主面に対向させて配置する。このとき、ビア用の金型1を、この金型1の突起部11,12が絶縁性基材30の一方主面に形成された凹部331~337に突き当たるように配置する。そして、図79に示すように、第5実施形態と同じ条件で金型1を絶縁性基材30に接近させ(矢印P1に沿って移動させ)、熱プレス加工をする。金型1及び絶縁性基材30をガラス転移温度(Tg)未満に冷却し、図80に示すように、金型1を絶縁性基材30から離隔する方向(矢印P2)に離型する。
 ここで、突起部11,12の型締め方向(図中上下方向)の高さを絶縁性基材30の厚さよりも高くすることにより、金型1と絶縁性基材30とが接触しないようにすることができるので、絶縁性基材30の凹部331~337の型崩れを防止することができる。
 これにより、金型1の版面1aのビアパターンに応じた形状、金型1Cの版面1aの配線パターンに応じた形状を絶縁性基材30の主面に転写することができる。同図に示すように、金型1を離型すると、絶縁性基材30には金型1Cの凸部21~27に応じた凹部331~337が形成されるとともに、金型1の突起部11,12の形状に応じた孔31V,32Vが形成される。
 図80に示すように、金型1が絶縁性基材30を貫通せずに、孔31V,32Vの底に樹脂が残る場合は、図81に示すように化学的又は機械的な研磨により除去し、孔31V,32Vを貫通させることができる。
 図81に示す絶縁性基材30下面にレジストを塗布し、フォトリソグラフィ技術を用いてレジストをパターニングした後にめっきを行うことにより、孔31V,32Vに導電材料を充填する。
 このめっき処理により、ビアパターン11V、12Vと、第1配線パターン51~57と、第2配線パターン61,62とを同時に形成することができる。また、絶縁性基材30上面に導電ペーストを印刷・焼結することによりビアパターン11V、12Vと、第1配線パターン51~57と、第2配線パターン61,62とを同時に形成することもできる。また、ナノペーストの余剰部分が残存する場合には研磨又はエッチング等により除去する。
 図82は、本実施形態に係る配線板100を示す。図82に示すように、本実施形態の配線板100は、絶縁性基材30と、絶縁性基材30の一方主面に形成された第1配線パターン51~57と、絶縁性基材30の他方主面に形成された第2配線パターン61,62と絶縁性基材30の一方主面側から他方主面側に貫通し、第1配線パターン51~57及び第2配線パターン61,62と導通するビアパターン11V,12Vと、を備えている。本実施形態の配線板100の第1配線パターン51~57は、絶縁性基材30の一方主面(図中上側)から、この絶縁性基材30の内部側に向かって凸状に、埋設された状態で形成されている。
 このため、本実施形態の配線板100は、第5実施形態の配線板と同様の作用及び効果を奏する。
(第8実施形態)
 以下、第8実施形態について説明する。第8実施形態は、第7実施形態に係る配線板100を用いて積層型の配線板を製造する方法と、この製造方法により得られた積層型の配線板について説明する。共通する事項についての詳細な説明は上述の実施形態に係る説明を援用する。
 (1)図83に示すように、第7実施形態の配線板100を準備し、配線板100の最上面(露出している面)に、この配線板100で用いられている絶縁性基材30以外の他の絶縁性基材30aを積層する(第1積層工程)。絶縁性基材30aは、配線板100の絶縁性基材30と同じ材料を用いることができる。
 (2)次に、金型1Cを準備する。金型1Cは第5実施形態において説明した金型1Cと共通する。同図に示すように、金型1Cを配線板100の最上層面側に積層された絶縁性基材30aに平行に配置する。金型1Cの版面1aに形成された凸部21~27は絶縁性基材30aに対向している。
 (3)絶縁性基材30aをガラス転移温度以上になるまで加熱し、図84に示すように、金型1Cを絶縁性基材30aの方向に移動し、さらに凸部21~27を絶縁性基材30aに圧入する。
 (4)続いて、図85に示すように、金型1Cを絶縁性基材30aから離型し、金型1Cの凸部21~27に応じた形状の凹部331a~337aを絶縁性基材30aに形成する(第2積層工程)。
 (3)次に、金型1を準備する。金型1の構造は第7実施形態において説明した金型1と共通する。図86に示すように、金型1を配線板100の最上層面側に積層された絶縁性基材30aに平行に配置する。この絶縁性基材30aには凹部331a~337aが形成されている。金型1の版面1aに形成された突起部11,12の頂部112,122は、絶縁性基材30aの凹部332a,336aに突き当たるように対向している。
 (4)絶縁性基材30aをガラス転移温度以上になるまで加熱し、図87に示すように、金型1を絶縁性基材30aの方向に移動し、さらに突起部11,12を絶縁性基材30aに圧入する。
 (5)続いて、金型1を絶縁性基材30aから離型する。図88に示すように、金型1の離型後の絶縁性基材30aには、金型1の突起部11,12の形状に応じた孔31Va,32Vaと、第1配線パターンに応じた凹部331a~337aが形成されている(第3積層工程)。
 (6)絶縁性基材30aの孔31Va,32Vaの底部312Va、322Vaが貫通されず、樹脂が残存している場合は、図89に示すように、孔31Va,32Vaの開口部からプラズマ照射、薬液散布を行うか又はサンドブラスト処理を行い、孔31Va,32Vaの底部312Va、322Vaを貫通させることができる。
 (7)図89の配線板100にめっき又は導電ペーストを印刷・焼結し、凹部331a~337a及び孔31Va,32Vaに導電材料を充填することにより、第1の配線パターン及びビアパターンを形成する(第4積層工程)。
 (8)上述の第1積層工程から第4積層工程により、配線板100と層間導通がされた積層型の配線板1000を得ることができる。図90は、第1積層工程から第4積層工程を3回繰り返し、配線板100に、配線板100a,100c,100dが積層された積層型の配線板1000の例を示す図である。上述した第1積層工程から第4積層工程は、目的とする配線板1000の積層数に応じた回数だけ繰り返すことができる。
 本実施形態に係る積層型の配線板1000は、上述の実施形態と同様に、ビアパターン11V,12V(11Va,11Vc,11Vd,12Va,12Vc,12Vd)と、第1配線パターン51~57(51a~57a,51c~57c,51d~57d)とが界面のない状態で一体に形成されているので、上述の実施形態と同様の作用を奏し、同様の効果を奏する。
 なお、図90に配線板100,100a,100c,100dを有する積層型の配線板1000を示したが、配線板100の積層数は限定されない。また、積層される各配線板の第1配線パターン51~57(51a~57a,51c~57c,51d~57d)は、共通の態様であってもよいし、異なる態様であってもよい。
 以上説明した実施形態は、本発明の理解を容易にするために記載されたものであって、本発明を限定するために記載されたものではない。したがって、上記の実施形態に開示された各要素は、本発明の技術的範囲に属する全ての設計変更や均等物をも含む趣旨である。
100…配線板
1000…積層型の配線板
1,1A,1B,1C…金型
 1a…版面
  11,12…突起部
   111,121…基部
   111a,121a…曲面
   112,122…頂部
   113,123…傾斜部
  21~27…凸部
 2…支持板
 3…樹脂板体
  31,32…孔
 311,321…開口部
  312,322…底部
  313,323…胴部
  313a,323a…傾斜壁
 4…レジスト層
  41~47…溝
  11V,12V,11Va~11Vd,12Va~12Vd,…ビアパターン
   111V,121V…接続基部
   111Va,121Va…接続曲面
   112V,122V…頭頂部
   113V,123V…錐状部
 30,30a~30d…絶縁性基材
  31V,32V、31Va,32Va,31Vb、32Vb…孔
  311V,321V…開口部
  311Va,321Va…内側壁
  312V,322V,312Va,322Va,312Vb,322Vb…底部
  313V,323V…胴部
  313Va,323Va…傾斜壁
  331~337,331a~337a…凹部
 51~57,51a~57a,51b~57b…第1配線パターン
 61~62…第2配線パターン

Claims (16)

  1.  配線板のパターンの一部を構成するビアパターンに応じて形成された突起部を含む版面を備え、前記突起部が前記版面の主面に曲率を有して連なる基部と、前記基部から前記突起部の頂部に近づくにつれて外径が細くなる傾斜部とを有する金型を準備する工程と、
     軟化させた絶縁性基材の一方主面に前記金型の版面を押し当てた後に離型して、前記突起部の形状に応じた孔を前記絶縁性基材に形成する工程と、
     絶縁性基材の一方主面に、前記パターンの一部を構成する配線パターンに応じた凹部を形成する工程と、
     前記絶縁性基材に形成された前記孔と前記凹部に導電材料を充填して互いに導通可能なビアパターン及び配線パターンを形成する工程と、を有する配線板の製造方法。
  2.  請求項1の配線板の製造方法により得られた配線板を準備し、当該配線板の最上面及び/又は最下面に他の絶縁性基材を積層する第1積層工程と、
     前記積層された絶縁性基材の表面に前記金型の版面を押し当てた後に離型して、前記突起部の形状に応じた孔を前記絶縁性基材に形成する第2積層工程と、
     前記積層された絶縁性基材の主面に、前記パターンの一部を構成する配線パターンに応じた凹部を形成する第3積層工程と、
     前記絶縁性基材に形成された前記孔と前記凹部に導電材料を充填して互いに導通可能なビアパターン及び配線パターンを形成する第4積層工程と、を有し、
     前記配線板の積層数に応じて、前記第1積層工程乃至前記第4積層工程を一回又は二回以上行うことを特徴とする積層型の配線板の製造方法。
  3.  配線板のパターンの一部を構成するビアパターンに応じて形成された突起部と、前記パターンの一部を構成する配線パターンに応じて形成された凸部とを含む版面を備え、前記突起部が前記凸部の上面に曲率を有して連なる基部と、前記基部から前記突起部の頂部に近づくにつれて外径が細くなる傾斜部とを有する金型を準備する工程と、
     前記金型の版面を軟化させた絶縁性基材の一方主面に押し当てた後に離型して、前記突起部の形状に応じた孔と前記凸部の形状に応じた凹部を前記絶縁性基材に形成する工程と、
     前記絶縁性基材に形成された前記孔と前記凹部に導電材料を充填して互いに導通可能なビアパターン及び配線パターンを形成する工程と、を有する配線板の製造方法。
  4.  請求項3の配線板の製造方法により得られた配線板を準備し、当該配線板の最上面及び/又は最下面に他の絶縁性基材を積層する第1積層工程と、
     前記積層された絶縁性基材の表面に前記金型の版面を押し当てた後に離型して、前記突起部の形状に応じた孔と前記凸部の形状に応じた凹部を前記絶縁性基材に形成する第2積層工程と、
     前記絶縁性基材に形成された、前記孔と前記凹部に導電材料を充填して互いに導通可能なビアパターン及び配線パターンを形成する第3積層工程と、を有し、
     前記配線板の積層数に応じて、前記第1積層工程乃至前記第3積層工程を一回又は二回以上行うことを特徴とする積層型の配線板の製造方法。
  5.  配線板のパターンの一部を構成するビアパターンに応じて形成された突起部を含む版面を備え、曲面を有する基部と、前記基部から前記突起部の頂部に近づくにつれて外径が細くなる傾斜部とを有するビア用の金型を準備する工程と、
     前記パターンの一部を構成する配線パターンに応じて形成された凸部を含む版面を備える配線用の金型を準備する工程と、
     前記配線用の金型の版面を軟化させた絶縁性基材の一方主面に押し当てた後に離型して、前記凸部に応じた形状の凹部を前記絶縁性基材に形成する工程と、
     前記絶縁性基材の一方主面に形成された凹部に前記突起部が突き当たるように、前記絶縁性基材の一方主面に前記ビア用の金型の版面を押し当てた後に離型して、前記突起部の形状に応じた孔を前記絶縁性基材に形成する工程と、
     前記絶縁性基材に形成された、前記孔と前記凹部に導電材料を充填して互いに導通可能なビアパターン及び配線パターンを形成する工程と、を有する配線板の製造方法。
  6.  請求項5の配線板の製造方法により得られた配線板を準備し、当該配線板の最上面及び/又は最下面に他の絶縁性基材を積層する第1積層工程と、
     前記配線用の金型の版面を軟化させた前記絶縁性基材の表面に押し当てた後に離型して、前記凸部に応じた形状の凹部を前記絶縁性基材に形成する第2積層工程と、
     前記絶縁性基材の表面に形成された凹部に前記突起部が突き当たるように、前記絶縁性基材の表面に前記ビア用の金型の版面を押し当てた後に離型して、前記突起部の形状に応じた孔を前記絶縁性基材に形成する第3積層工程と、
     前記絶縁性基材に形成された、前記孔と前記凹部に導電材料を充填して互いに導通可能なビアパターン及び配線パターンを形成する第4積層工程と、を有し、
     前記配線板の積層数に応じて、前記第1積層工程乃至前記第4積層工程を一回又は二回以上行うことを特徴とする積層型の配線板の製造方法。
  7.  請求項1~6の何れか一項に記載の配線板の製造方法において、
     前記絶縁性基材の他方主面に、前記ビアパターンと導通する配線パターンに応じた下層凹部を形成する工程をさらに有し、
     前記孔に導電材料を充填する工程において、前記絶縁性基材の他方主面に形成された前記下層凹部に導電材料を充填することを特徴とする配線板の製造方法。
  8.  請求項1~7の何れか一項に記載の配線板の製造方法において、
     前記突起部の頂部は曲面を有することを特徴とする配線板の製造方法。
  9.  請求項1~8の何れか一項に記載の配線板の製造方法において、
     前記絶縁性基材に孔を形成する工程の後に、
    前記孔の底部の絶縁性基材を除去し、前記孔を貫通させる工程をさらに有することを特徴とする配線板の製造方法。
  10.  絶縁性基材と、
     前記絶縁性基材の一方主面に形成された配線パターンと、
     前記絶縁性基材の一方主面側から他方主面側に貫通し、前記配線パターンと導通するビアパターンと、を備え、
     前記ビアパターンは、前記配線パターンと曲率を有して連なる接続基部と、前記接続基部からビアパターンの頭頂部に近づくにつれて外径が細くなる錐状部と、を有することを特徴とする配線板。
  11.  請求項10に記載の配線板であって、
     前記配線パターンと前記ビアパターンとは、界面のない状態で一体に形成されていることを特徴とする配線板。
  12.  請求項10又は11に記載の配線板であって、
     前記配線パターンは、前記絶縁性基材の主面に、当該主面の外部側に向かって凸状に形成されていることを特徴とする配線板。
  13.  請求項10又は11に記載の配線板であって、
     前記配線パターンは、前記絶縁性基材の主面に、当該主面の内部側に向かって凸状に埋設された状態で形成されていることを特徴とする配線板。
  14.  請求項10~13の何れか一項に記載の配線板であって、
     前記ビアパターンは、フィルドビアであることを特徴とする配線板。
  15.  請求項10~14の何れか一項に記載の配線板であって、
     前記ビアパターンの接続基部の径は2μm以上、かつ35μm以下であることを特徴とする配線板。
  16.  請求項15の何れか一項に記載の配線板であって、
     前記ビアパターンの頭頂部の径は1μm以上、かつ30μm以下であることを特徴とする配線板。
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