WO2010116707A1 - 情報記録媒体及び情報記録媒体の製造方法 - Google Patents

情報記録媒体及び情報記録媒体の製造方法 Download PDF

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Abstract

 情報記録媒体は、基板と、前記基板上に孤立した状態で配列された情報記録材料を含む粒子部とを含み、前記粒子部の情報記録方向の幅が30nm以下である。また、情報記録媒体は、前記基板上に孤立した状態で配列されたピラーをさらに含み、前記粒子部は、前記ピラー上に前記情報記録材料が形成されることによって構成され、前記ピラーの情報記録方向の幅が30nm以下であって、前記ピラーの高さが前記情報記録材料の厚みよりも大きい。

Description

情報記録媒体及び情報記録媒体の製造方法
 本発明は、高密度記録を行うことができる情報記録媒体及び情報記録媒体の製造方法に関する。
 情報記録の分野では様々な光情報記録に関する研究が進められている。現在の光ディスクとしては、CD、DVD、Blu-rayディスクなどが広く使われている。さらなる情報記録分野の進歩に伴って、より高密度の光メモリが求められるようになりつつある。CD、DVD、Blu-rayディスクは最短マーク長をそれぞれ、0.83μm、0.40μm、0.15μmと小さくすることによって高密度化を実現してきた。しかしながら現行の光記録方式では、光の回折限界から、これ以上の大幅な記録マークの微小化は困難と考えられている。
 近年、近接場光を用いた光記録方式がこの回折限界を打破する技術として大きな注目を集めるようになった。上記近接場光は、光の波長以下の寸法の開口や微粒子等に光が入射したとき、それらのごく近傍に局在化した形で発生する光をいう。この近接場光で形成されるスポット径は、入射光の波長には依らず、入射した開口や微粒子等の寸法で決まる。
 従来、先鋭化したファイバープローブ等に光を入射し、その先端に設けた微小開口に近接場光を発生させる方法が多く採られてきたが、入射光に対する光の利用効率が低いという課題があった。近年、この光利用効率を大幅に向上させる技術として、金属の表面プラズモン共鳴を利用した近接場光発生素子が提案されている(例えば特許文献1)。
 この技術は、微小な金属膜に適当な波長の光を照射して表面プラズモン共鳴を誘起し、金属膜近傍に近接場光を発生させて記録再生を行うものである。
 また、記録密度を向上させるために、予め基板にパターンを形成しておくことにより安定した記録再生を行う方法も多く提案されている(例えば特許文献2及び特許文献3)。
 これらを利用してより微小な記録マークを記録することで、光メモリのさらなる高密度化、大容量化を実現することができる。
 特に書換型のCD、DVD、及びBlu-rayディスクでは、記録膜として相変化記録材料が広く用いられている(例えば特許文献4)。この場合、相変化記録材料を光スポットによって加熱・急冷することでアモルファス化する、あるいは加熱・徐冷することで結晶化する等により、マークを記録する。この相変化記録材料の研究及び開発はこれまで広く盛んに行われてきている。現在の光記録媒体における高密度化の限界は、相変化記録材料によるものでなく、現行の光記録方式の回折限界(形成される光スポットの大きさ)で決まっている。従って、より小さな光スポットを形成することができれば、相変化記録材料は高密度記録用材料としてまだまだ大きな可能性を秘めている。よって、相変化記録材料は、今後さらなる高密度光情報記録においても有望な材料であると考えられる。
 しかしながら、前述した表面プラズモン共鳴による近接場光を利用し、回折限界以下の小さな光スポットによって相変化記録材料に記録マークを書き込もうとした場合、光スポットを30nm以下に小さくすると、以下の問題が生じていた。すなわち、相変化記録材料を結晶化させるために、光スポットで昇温された相変化記録材料中に熱拡散が起こるため、記録マークが30nm以上になってしまう、といった課題があった。
 一方、孤立していない連続した相変化薄膜に小さなマークが書けたとしても、1平方インチあたり数百ギガビット以上の記録密度においては、熱的な揺らぎによって記録マークが不安定になってしまい、ノイズが非常に大きくなってしまう、といった課題もあった。
 なお、先に述べたように、基板に予めパターンを設けることで熱拡散を抑えることが提案されている(例えば、特許文献2及び特許文献3)。しかしながら、これまでの方法においては安定したパターンを作製することは非常に困難であった。
特開2003-114184号公報 特許第2584122号公報 特許第3793040号公報 特許第2574325号公報
Proc.Roy.Soc.Lond.A.,318 231
 本発明の目的は、熱的な拡散のない安定した高密度記録を行うことができる情報記録媒体及び情報記録媒体の製造方法を提供することにある。
 本発明の一局面に係る情報記録媒体は、上記の目的を達成するために、基板と、前記基板上に孤立した状態で配列された情報記録材料を含む粒子部とを含み、前記粒子部の情報記録方向の幅が30nm以下であることを特徴とする。
 上記の構成によれば、基板上に孤立した状態で粒子部が配列されており、粒子部ごとの局所的な加熱が可能となり、熱的な拡散のない安定した記録ができる。また、粒子部の情報記録方向の幅が30nm以下となっており、当該粒子部を最小単位とする高密度な記録を行うことができる。これにより、信頼性の高い高密度な情報記録媒体を得ることが可能となる。
 また、本発明の一局面に係る情報記録媒体の製造方法は、基板と、前記基板上に孤立した状態で配列された情報記録材料を含む粒子部とを含み、前記粒子部の情報記録方向の幅が30nm以下である情報記録媒体を製造する方法であって、前記基板上に、情報記録方向の幅が30nm以下のピラーを孤立した状態で配列させるピラー形成ステップと、前記ピラーが形成された基板上に前記情報記録材料を成膜することによって、ピラー上に孤立した状態の前記情報記録材料を形成する成膜ステップとを含むことを特徴とする。
 上記の構成によれば、先ず、基板上にピラーを孤立した状態で形成し、その後、当該ピラー上に情報記録材料を形成することによって、孤立した状態の情報記録材料を形成している。ここで、ピラーの情報記録方向の幅を30nm以下にしているので、ピラー上の情報記録材(粒子部)の情報記録方向の幅を30nm以下にすることができる。これにより、例えばスパッタリングや蒸着などを用いた成膜ステップによって、情報記録材料を基板上に均一に成膜した場合でも、ピラーのパターンに応じた孤立した情報記録材料(粒子部)を容易に配列させることができ、成膜が簡便になる。よって、ピラーを最小単位とする高密度な記録を行うことができる信頼性の高い情報記録媒体を容易に製造することが可能となる。
 本発明のさらに他の目的、特徴、及び優れた点は、以下に示す記載によって十分わかるであろう。また、本発明の利点は、添付図面を参照した次の説明で明白になるであろう。
本発明の一実施の形態に係る情報記録媒体の一例を示す概略の要部拡大斜視図である。 本発明の一実施の形態に係る情報記録媒体への記録再生方法の一例を示す概略の要部拡大斜視図である。 従来の情報記録媒体への記録再生方法の一例を示す説明図である。 図4Aは、本発明の一実施の形態に係る情報記録媒体におけるピラーが配列された基板の一例を示す概略の要部拡大斜視図である。図4Bは、本発明の一実施の形態に係る情報記録媒体の断面の一例を示す概略の断面図である。 本発明の一実施の形態に係る情報記録媒体の製造方法の一例を示す概略の断面図である。 本発明の一実施の形態に係る情報記録媒体の製造方法の一例を示す概略の断面図である。 図7Aは、本発明の一実施の形態に係る情報記録媒体の断面の一例を示す概略の断面図である。図7Bは、本発明の一実施の形態に係る情報記録媒体の断面の一例を示す概略の断面図である。 図8Aは、本発明の一実施の形態に係る情報記録媒体の製造方法の一例を示す概略の説明図である。図8Bは、本発明の一実施の形態に係る情報記録媒体のピラー上に形成された相変化記録材料の一例を示す説明図である。図8Cは、本発明の一実施の形態に係る情報記録媒体のピラー上に形成された相変化記録材料の他の例を示す説明図である。 図9Aは、本発明の一実施の形態に係る情報記録媒体の製造方法の一例を示す概略の説明図である。図9Bは、本発明の一実施の形態に係る情報記録媒体の製造方法の一例を示す概略の説明図である。図9Cは、本発明の一実施の形態に係る情報記録媒体の製造方法の一例を示す概略の説明図である。図9Dは、本発明の一実施の形態に係る情報記録媒体の製造方法の一例を示す概略の説明図である。 本発明の一実施の形態に係る情報記録媒体の一例を示す概略の要部拡大斜視図である。 従来の情報記録媒体の断面の一例を示す概略の断面図である。 図12Aは、情報記録媒体のピラー上に形成された相変化記録材料の一例を示す説明図である。図12Bは、情報記録媒体のピラー上に形成された相変化記録材料の他の例を示す説明図である。図12Cは、情報記録媒体のピラー上に形成された相変化記録材料のその他の例を示す説明図である。 図13Aは、本発明の一実施の形態に係る情報記録媒体における基板の主面と平行な面で切断したピラーの断面の一例を示す断面図である。図13Bは、本発明の一実施の形態に係る情報記録媒体における基板の主面と平行な面で切断したピラーの断面の他の例を示す断面図である。 本発明の一実施の形態に係る情報記録媒体における基板の主面と垂直な面で切断したピラーの断面の一例を示す断面図である。 図15Aは、情報記録媒体におけるピラーの角度を説明するための説明図である。図15Bは、情報記録媒体におけるピラーの角度とピラー上の相変化記録材料の形状との関係の一例を示す概略の断面図である。図15Cは、情報記録媒体におけるピラーの角度とピラー上の相変化記録材料の形状との関係の他の例を示す概略の断面図である。
 以下、実施の形態を用いて本発明をさらに具体的に説明する。
(実施の形態1)
 以下、本発明の一実施の形態に係る情報記録媒体について図面を参照しながら説明する。説明の便宜上、図面はすべて情報記録媒体の一部を拡大して示している。
 図1は、本実施の形態に係る情報記録媒体100の一構成例を示している。図1に示すように、情報記録媒体100は、ガラスからなる基板102と、基板102上にそれぞれ独立した状態で形成された相変化微粒子(粒子部)101と、を備えている。
 情報記録媒体100は、後述するように、相変化微粒子101を保護する保護層を有していてもよい。
 基板102は円盤形状を有している。基板102を構成する材料としては、平坦性が高く、記録再生のために情報記録媒体100を回転させたときの安定性が高いものが好ましい。本実施の形態では、平坦性に優れたでガラスを用いたが、これに限定されるものではなく、アルミなどの金属や、ポリカーボネートなどのプラスティック材料を用いてもよい。
 基板102上の各相変化微粒子101は、情報記録方向の大きさが略30nm以下に形成されている。ここで、情報記録方向とは、情報記録媒体100に情報を記録するためのトラッキング方向である。相変化微粒子101の材料(情報記録材料)としては、情報記録媒体100の書き込み速度を高めるために、相変化微粒子101の結晶化速度が速いものが好ましい。特に、相変化微粒子101の材料としては、(Ge-Sn)Te、GeTe-BiTe、(Ge-Sn)Te-BiTe、Sb-Geが好ましい。本実施の形態では、GeTeとSbTeを22:1の割合で含む材料を相変化微粒子101の材料として用いたが、これに限定されるものではない。例えば、GeTe、(Ge-Sn)Te、GeTe-SbTe、(Ge-Sn)Te-SbTe、GeTe-BiTe、(Ge-Sn)Te-BiTe、GeTe-(Sb-Bi)Te、(Ge-Sn)Te-(Sb-Bi)Te、GeTe-(Bi-In)Te、及び(Ge-Sn)Te-(Bi-In)Teのいずれかを含む材料でも構わないし、Sb-Ga、(Sb-Te)-Ga、Sb-Ge、(Sb-Te)-Ge、Sb-In、(Sb-Te)-In、Sb-Mn-Ge、Sb-Sn-Ge、Sb-Mn-Sn-Ge、及び(Sb-Te)-Ag-Inの何れかを含む材料等を用いてもよい。
 相変化微粒子101の保護層6は、図7Aに示すように、相変化微粒子101の上部(基板と反対側)に形成してもよいが、相変化微粒子101の下部(基板側)に形成してもよい。また、図7Bに示すように、保護層6を相変化微粒子101の上下に形成し、相変化微粒子101を保護層6で挟むようにしてもよい。このように、保護層6で相変化微粒子101を保護することで、相変化微粒子101にさらに安定的に情報を記録し、又は書き換えることができる。
 保護層6の材料としては、誘電体材料が望ましい。保護層6の材料としては、例えば、TiO、ZrO、HfO、ZnO、Nb、Ta、SiO、SnO、Al、Bi、Cr、Ga、In、Sc、Y、La、Gd、Dy、Yb、CaO、MgO、CeO、及びTeO等から選ばれる一種又は複数種の酸化物を用いることができる。また、保護層6の材料として、C-N、Ti-N、Zr-N、Nb-N、Ta-N、Si-N、Ge-N、Cr-N、Al-N、Ge-Si-N、及びGe-Cr-N等から選ばれる一種又は複数の窒化物を用いることもできる。また、保護層6の材料として、ZnS等の硫化物やSiC等の炭化物、LaF、CeF、MgF等の弗化物、及びCを用いることもできる。また、上記材料から選ばれる1種又は複数種の材料の混合物を用いて、保護層を形成しても構わない。
 保護層6の厚みは、10nm以下であることが好ましい。保護層6の厚みを10nmより厚くすると、後述の近接場光が相変化微粒子に集中しにくくなり、記録が不安定になる可能性がある。保護層6の厚みを10nm以下にすることで、安定的な記録を行うことが可能となる。また、保護層6の厚みは、5nm以下であることがより好ましい。保護層6の厚みを5nm以下にすることで、より安定的な記録を行うことができる。
 図2は、本実施の形態に係る情報記録媒体100に情報を記録する方法の一例を示している。
 図2に示すように、Auからなるアンテナ103に、偏光方向106を持つ光104を照射する。これにより、プラズモン増強によって偏光方向にあるアンテナ103の頂点107に強い近接場光を発生させる。そして、この増強した近接場光によって相変化微粒子101が昇温され、相変化微粒子101に情報が記録される。具体的には、相変化微粒子101を、融点以上に加熱した後に急冷することでアモルファス化する一方、融点以上に加熱した後に徐冷することにより結晶化する。このように、相変化微粒子101がアモルファス状態のときと結晶化のときで異なる物性を有することを利用して、情報を記録している。
 なお、アンテナ103が情報記録媒体100に対して相対的に移動するトラッキング方向が情報記録方向である。本実施の形態では、アンテナ103の材料としてAuを用いたがこれに限定されず、使用するレーザの波長に合わせてそれとプラズモン共鳴するような材料を選ぶことが好ましい。
 ここで、本実施の形態に係る図2に示すような孤立した相変化微粒子101へ情報を記録した場合と、図3のような孤立していない連続的な相変化薄膜105へ情報を記録した場合とを比較する。図2に示すように、基板102上にそれぞれ孤立して配列された相変化微粒子101に情報を記録した場合、その大きさを最小単位とした良好な記録を行うことができた。一方、図3のような連続的な相変化薄膜105に情報を記録した場合、相変化薄膜105を結晶化する際に、近接場光により相変化薄膜105が加熱されると、相変化薄膜105中に熱が拡散する。このため、近接場光のスポットが30nm以下であっても、30nm以上の大きな記録マークしか記録できなかった。
 ここで、熱拡散に起因して、連続的な相変化薄膜105(図3)と相変化微粒子101(図2)とで、記録マークの大きさに差が出始めるのは、記録マークが30nm以下となる場合である。従って、情報を30nm以下の微小領域に記録する場合には、それぞれが孤立した30nm以下の相変化微粒子101を用いることが好ましい。
 さらに、記録方向の大きさ(楕円の場合、長径)が30nm以下のような小さな相変化微粒子101にすることで、相変化微粒子101に用いる材料の融点が下がることが知られている(例えば、非特許文献1参照)。この結果、記録エネルギーを小さくすることができる。
 各相変化微粒子101の記録方向の大きさは、20nm以下とすることがさらに好ましい。この場合、各相変化微粒子101の表面が滑らかな形状になりやすいため、近接場光で記録する場合に、近接場光が相変化微粒子101に集中しやすく記録が容易となる。
 ただし、相変化微粒子101が3nm程度まで小さくなると、当該相変化微粒子101に含まれる原子数が少なくなり、融点が低くなりすぎる。この結果、熱的な揺らぎによって、相変化微粒子101に記録された情報を安定的に保持することが困難になる。さらに、このように相変化微粒子101の融点が低い場合、結晶化しようとしても、相変化微粒子101を徐冷することができなくなってしまい、結晶化することが困難となり、記録自すること自体が不安定になってしまう。従って、各相変化微粒子101の記録方向の大きさは、3nm以上であることが好ましい。
 なお、本実施の形態のように、基板102上にそれぞれ孤立した状態で配列された相変化微粒子101に情報を記録した場合でも、DVDやBlu-rayディスクのような連続的な相変化薄膜とほぼ同等の繰り返し記録による性能を維持できることが確認できた。
 以上、本発明の実施の形態について例を挙げて説明したが、本発明は、上記実施の形態に限定されず、本発明の技術的思想に基づき他の実施の形態に適用することができる。
 (実施の形態2)
 本発明に係る他の実施の形態について、図面を参照し、以下に説明する。なお、実施の形態1と同様な構成要素については同一の部材番号を付し、その説明を適宜省略する。
 ここでは、本実施の形態に係る情報記録媒体の製造方法について一例を説明する。
 本実施の形態では、前述の実施の形態1と同様に、基板102上に相変化微粒子101をそれぞれ孤立した状態で配列させている。本相変化微粒子101は、図4A及び図4Bに示すように、基板102上に予め複数のピラー206からなるパターン307を形成し、パターン307を成すピラー206上に相変化記録材料(情報記録材料)208を形成することで、それぞれ孤立した状態の相変化微粒子101を形成している。
 まず、図4Aに示すように、基板102上に円筒形のピラー206を複数形成した。ここで、各ピラー206は、幅:略20nm、高さ:略20nmの大きさとした。このとき、ピラー206同士が当接しないように各ピラー206を孤立した状態で形成した。このように、基板102上に複数のピラー206からなるパターン307を形成した後、相変化記録材料208を成膜した。これにより、図4Bに示すように、基板102上に相変化記録材料208をそれぞれ孤立した状態で配列することができた。このようにして形成されたそれぞれ孤立した状態の相変化記録材料208が、情報を記録する相変化微粒子101となる。
 本実施の形態では、ピラー206は、電子線描画によって作成したパターンに基づき、基板102をエッチングすることで形成した。ただし、ピラー206の形成方法はこれに限定されるものではなく、他の方法でピラー206を形成しても構わない。記録特性については、実施の形態1で示したようなパターンのときと比較してもほぼ同等であった。
 また、基板102上に形成するピラー206の形状についても、図4A及び図4Bに示すような円筒形に限定されず、三角柱、四角柱、球、ほぼ逆三角錐等であっても構わない。
 上述したように、成膜した相変化記録材料208は、孤立した状態になることが好ましい。また、ピラー206上に成膜される相変化記録材料208(すなわち、相変化微粒子101)は、できるだけ微小化して相変化微粒子101のサイズを小さくし、且つ、孤立した状態の相変化微粒子101同士をできるだけ近接して設けることが、記録の高密度化の面でより好ましい。
 また、相変化記録材料208を成膜するに際し、ピラー206の側面には当該相変化記録材料208が形成されないようにすることが好ましい。よって、成膜方向に指向性を有する成膜方法を適用し、ピラー206の上面には相変化記録材料208が成膜され易い一方、ピラー206の側面には相変化記録材料208が成膜され難くすることが好ましい。これにより、相変化微粒子101同士を容易に孤立させることができる。成膜方向に指向性を有する成膜方法としては、例えばスパッタリングがある。
 スパッタリングによって、基板102に形成されたピラー206の上面に相変化記録材料208を成膜する場合、図8Aに示すように、相変化記録材料208からなるターゲット30を基板102に対向して配置する。このとき、ターゲット30と基板102との間の距離を出来るだけ長くすることが望ましい。また、スパッタリング装置内のガス圧条件に関しても、ガス圧を低くする方が望ましい。ターゲット30と基板102との間の距離を長くし、ガス圧を低くすることにより、ターゲット30からスパッタ粒子が指向性(直線性)よく飛翔し、基板102に形成されたピラー206の上面に到達する。これにより、ピラー206の側面に相変化記録材料208がスパッタ成膜され難くなる。
 上述のように、記録密度を高めるためには、孤立した状態の相変化微粒子101同士をできるだけ近接して設けることが望ましい。よって、記録密度を高めるためには、ピラー206同士の間隔が狭い方が好ましい。ただし、ピラー206同士の間隔が狭すぎると、各ピラー206の上面に形成された相変化記録材料208同士が接触し、相変化微粒子101の独立性(孤立状態)が担保できなくなる可能性がある。よって、これらの点を考慮して、ピラー206同士の間隔を設計することが望ましい。
 例えば、スパッタリングによって、基板102に形成されたピラー206の上面に相変化記録材料208を成膜する場合、相変化記録材料208のスパッタ粒子としての直線性及びピラー206上に形成する変化記録材料208の厚み(スパッタ厚み)に応じて、ピラー206同士の間隔を適切に設計することが望ましい。このピラー206同士の間隔について、図8Aの場合を例示して以下に説明する。
 図8Aに示すように、相変化記録材料208からなるターゲット30を基板102に対向して配置した場合であって、ターゲット30の直径を50.8mm、基板102の直径を100mm、ターゲット30と基板102との距離を150mmとした場合、ターゲット30の端部から飛翔するスパッタ粒子は、基板102の中央部では約9度の角度θ1で基板102に到達する。また、ターゲット30の端部から飛翔するスパッタ粒子は、基板102の端部では約27度の角度θ2で基板102に到達する。なお、上記角度θ1及びθ2は、基板102表面と垂直な方向とスパッタ粒子の飛翔方向との成す角度である。この場合、ターゲット30の端部から飛翔するスパッタ粒子によってスパッタ成膜されるという仮定の下では、次のようになる。
 すなわち、基板102の中央部に存在するピラー206においては、スパッタ厚みをT、ピラー206から相変化記録材料208がはみ出す量(長さ)をLとすると、
 L=T×tanθ1
となる。よって、図8Bに示すように、基板102の中央部に存在するピラー206に形成される相変化記録材料208は、スパッタ厚みの約15%がピラー206から横にはみ出すことになる。その隣のピラー206からはみ出し量(長さ)も同様であるため、スパッタ厚みの約30%よりも大きなピラー206同士の間隔を設けることにより、各ピラー206の上面に形成された相変化記録材料208同士が接触することを防止できる。
 また、基板102の端部に存在するピラー206においては、スパッタ厚みをT、ピラー206から相変化記録材料208がはみ出す量をL1、相変化記録材料208がピラー206の中心側へくぼむ量をL2とすると、
 L1=T×sinθ2
 L2=T×sin9.4°
となる。よって、図8Cに示すように、基板102の端部に存在するピラー206に形成される相変化記録材料208は、スパッタ厚みの約45%がピラー206の一方側から横にはみ出すことになると共に、他方側はスパッタ厚みの約16%がピラー206の中心側へくぼむことになる。その隣のピラー206も同様であるため、基板102の端部では、スパッタ厚みの約29%よりも大きな間隔を設けることにより、各ピラー206の上面に形成された相変化記録材料208同士が接触することを防止できる。図8B及び図8Cを総合的に考えると、ピラー206同士の間隔は、スパッタ厚みの約30%よりも大きくすることが好ましい。
 なお、上記では、ターゲット30の端部から飛翔するスパッタ粒子によってスパッタ成膜されるという仮定の下で説明したが、ターゲット30の端部から飛翔するスパッタ粒子は僅かであり、ターゲット30の中央部から飛翔するスパッタ粒子の方が多いことを考慮すれば、ピラー206同士の間隔をスパッタ厚みの約30%よりも小さく設計することも可能である。
 なお、相変化記録材料208を成膜する方法としては上記のスパッタリングに限定されるものではなく、例えば蒸着を用いることも可能である。
 以上、本発明の実施の形態について例を挙げて説明したが、本発明は、上記実施の形態に限定されず、本発明の技術的思想に基づき他の実施の形態に適用することができる。
 (実施の形態3)
 本実施の形態に係るさらに他の実施の形態について図面を参照し、以下に説明する。実施の形態1と同様な構成要素については同一の部材番号を付し、その説明を適宜省略する。
 本実施の形態では、孤立した相変化記録材料が配列された情報記録媒体の他の製造方法について、実施の形態2の製造方法と異なる点について主に説明する。
 本実施の形態でも、前述の実施の形態1と同様に、基板102上に相変化微粒子101をそれぞれ孤立した状態で配列させている。だたし、本実施の形態では、ピラー206を用いることなく、平坦な基板102上に、直接、相変化微粒子101を形成して情報記録媒体100を製造する。
 本実施の形態に係る情報記録媒体100の製造方法では、図5に示すように、まず、平坦な基板102上に、相変化記録材料208をスパッタリングや蒸着等により一様に成膜した。そして、当該相変化記録材料208上に、所望のパターン307(マスク)を形成した。
 具体的には、パターン307(マスク)の材料を相変化記録材料208上に一様に形成し、そこに電子ビームでパターン描画して現像した。その後、パターン307をマスクとして相変化記録材料208をエッチングした。マスクとなる材料としては、例えばTeの酸化物やZnS、遷移金属の酸化物などの無機物や、一般的な電子ビーム用の有機材料からなるレジスト(例えば、日本ゼオン社製の商品名ZEP520)を用いることができる。なお、マスク(パターン307)の材料は、相変化材料とのエッチングレート比を考慮して選択することが好ましい。
 そして、パターン307(マスク)を形成した後、図6に示すように、相変化記録材料208をエッチングし、その後に当該マスクを除去することによって、所望のパターンを持った、孤立した相変化記録材料208(相変化微粒子101)が配列された媒体を作製することができた。このようにして形成されたそれぞれ孤立した状態の相変化記録材料208が、情報を記録する相変化微粒子101となる。
 本実施の形態でも、実施の形態2と同様に、電子線描画によって形成したパターンをマスクに用いて、相変化記録材料208をエッチングすることによって、独立した相変化記録材料208からなる相変化微粒子101を形成している。なお、本実施の形態では、相変化記録材料208のエッチングに、ArやOを用いたが、本実施の形態はこれに限定されず、他のガスを用いてもよい。
 ところで、相変化記録材料208には、マスクのパターン307とのエッチングレート差が大きくないものもあり、相変化記録材料208を直接的にエッチングする工程が困難な場合も考えられる。そこで、ピラー206を用いることなく、平坦な基板102上に、直接、相変化微粒子101を形成して情報記録媒体100を製造する他の方法を、図9A~図9Dを参照しながら、以下に説明する。
 図9Aに示すように、まず、平坦な基板102上に、エッチングし易い材料(例えば、アクリル樹脂など)からなる下地層20を一様に成膜した。そして、下地層20の上に、所望のパターン307(マスク)を形成した。具体的には、パターン307(マスク)の材料を下地層20上に一様に形成し、そこに電子ビームでパターン描画して現像した。
 その後、図9Bに示すように、パターン307をマスクとして下地層20を酸素等でエッチングし、その後に当該マスクを除去することによって、所望のパターンを持った下地層20を形成した。マスクとなる材料としては、例えばTeの酸化物やZnS、遷移金属の酸化物などの無機物や、一般的な電子ビーム用の有機材料からなるレジスト(例えば、日本ゼオン社製の商品名ZEP520)を用いることができる。下地層20としては、マスクのパターン307とのエッチングレート差が大きなエッチングし易い任意の材料を選択することができ、このエッチング処理は容易に行えるものである。
 その後、図9Cに示すように、下地層20のパターンが形成された基板102上に、相変化記録材料208をスパッタリングや蒸着等により成膜した。
 その後、図9Dに示すように、下地層20を当該下地層20の上部に形成された相変化記録材料208ごと除去することによって、所望のパターンを持った、孤立した相変化記録材料208(相変化微粒子101)が配列された媒体を作製することができた。このようにして形成されたそれぞれ孤立した状態の相変化記録材料208が、情報を記録する相変化微粒子101となる。具体的には、図9Cの状態の基板102を、下地層20のみ選択的に溶解する溶剤(有機溶剤等)に浸潤すればよい。例えば、下地層20としてアクリル樹脂を用いた場合、アクリル樹脂は有機溶剤に容易に溶解し、下地層20を基板102から除去することができる。
 なお、図9Cの状態において、下地層20の膜厚(高さ)が相変化記録材料208の膜厚よりも大きくなるようにすることが望ましい。こうすることにより、下地層20が相変化記録材料208で覆いつくされることがないので、基板102を溶剤に浸漬したときに当該溶剤が下地層20に接触して難なく下地層20を除去できるからである。
 上記の情報記録媒体の製造方法により、基板102上に、記録方向の大きさが略30nm以下の相変化微粒子101を孤立させた状態で形成することができる。
 (実施の形態4)
 本実施の形態に係る他の実施の形態について図面を参照し、以下に説明する。実施の形態1と同様な構成要素については同一の部材番号を付し、その説明を適宜省略する。
 本実施の形態に係る情報記録媒体の一例を、図10に示す。本実施の形態でも、図4A及び図4Bに示す実施の形態2と同様に、基板102上にピラー206が形成されている。そして、基板102上のピラー形成面に相変化記録材料208をスパッタリングによって形成して、情報記録媒体を製造した。本実施の形態では、図4Bに示すように、ピラー206の高さ108(基板のピラー形成した面と直行する方向の長さ)が、形成した相変化記録材料208の厚みよりも大きくなるように形成している。これによって、ピラー206上に形成された相変化記録材料208がピラー206の幅(基板のピラー形成した面と平行な方向の断面)を一単位とした大きさに孤立した状態になり、記録の際の熱拡散がない、微小な記録を行うことができる。
 本実施の形態の情報記録媒体は、前述の各実施の形態と同様に、相変化微粒子101を保護する保護層6(図7A及び図7B参照)を備えていてもよいが、この場合においても、相変化記録材料208がピラー206上で孤立するように、ピラー206の高さを決めることが好ましい。
 図7Aに示すように、基板102と反対側に保護層6を形成する場合、保護層6の厚みは10nm以下であることが好ましい。保護層6の厚みを10nm以上にすると、前述の通り、近接場光が相変化微粒子101に集中しにくくなり、記録が不安定になる可能性がある。また、保護層6厚みを5nm以下にすることで、より安定的な記録を行うことができる。
 なお、本実施の形態に係る情報記録媒体に情報を記録する方法については、前述の実施の形態1と同様であるため、ここでの説明は省略する。
 ここで図4Bのようにピラー206の高さ108が相変化記録材料208の厚みよりも大きく、ピラー206上の相変化記録材料208が孤立するようにした情報記録媒体への記録と、図11のようにピラー206の高さが相変化記録材料208の厚みよりも小さく、相変化記録材料208が孤立せずにつながっているような情報記録媒体への記録を比較してみる。図4Bのような相変化記録材料208が孤立した情報記録媒体の場合、ピラーの206幅109(記録方向の長さ)を最小単位とした良好な記録を行うことができた。しかしながら、図11のような連続的につながっている相変化記録材料208の記録媒体の場合、相変化記録材料208の結晶化時に必要な近接場光による加熱の際に、相変化記録材料208中に熱が拡散してしまい、近接場光のスポットが30nm以下であっても30nmを超える大きな記録マークしか記録ができなかった。このような熱拡散によって記録マークの大きさに差が出始めるのは、記録マークが30nm以下となる場合である。記録マークが30nm以下の記録の場合には、ピラーの幅を30nm以下にし、かつ、ピラーの高さを相変化記録材料の厚みよりも大きくし、相変化記録材料が孤立するようにすることが好ましい。
 さらには、ピラー206の幅は20nm以下であることがより好ましい。これによって、ピラー206上の相変化記録材料208の表面が滑らかな形状になりやすく、近接場光で情報を記録する場合に、近接場光が相変化記録材料208に集中しやすく記録が容易となる。
 しかしながら、相変化記録材料208が3nm程度まで小さな粒子になってしまうと、粒子に含まれる原子数が少なくなり、融点が低くなりすぎて相変化記録材料208への記録の保持が熱的な揺らぎによって不安定になってしまう。また融点が低いことによって結晶化しようとしても、相変化記録材料208を徐冷しにくくなってしまい、結晶化が困難で記録すること自体が不安定になってしまう。よって、相変化記録材料208の大きさ、つまりピラー206の幅(記録方向の長さ)は3nm以上であることが好ましい。
 以上、本発明の実施の形態について例をあげて説明したが、本発明は、上記実施の形態に限定されず、本発明の技術的思想に基づき他の実施の形態に適用することができる。
 (実施の形態5)
 本実施の形態に係る他の実施の形態について図面を参照し、以下に説明する。実施の形態1と同様な構成要素については同一の部材番号を付し、その説明を適宜省略する。
 本実施の形態では、孤立した相変化記録材料が配列された情報記録媒体の他の製造方法について、前述の各実施の形態の製造方法と異なる点について主に説明する。
 実施の形態1では、基板102に形成されたピラー206上に相変化記録材料208を形成し、ピラー206の高さ108(深さ)を相変化記録材料208の厚みよりも大きくしておくことで、相変化記録材料208を孤立させた。本実施の形態では、ピラー206の幅と相変化記録材料208の厚みについて、最適となる一例を示す。
 図12Aないし図12Cに、ピラー206の幅(情報記録方向の長さ)を一定にして相変化記録材料208(相変化微粒子101)の厚みを変化させたときの断面図を示している。図12Aないし図12Cは、相変化記録材料208の形成直後ではなく、相変化記録材料208を初期化工程によって溶融状態を経て結晶化させた後、もしくは記録光によって溶融状態を経た後の概念図である。図12Aに示すように、ピラー206の幅に比べて相変化記録材料208の厚みが小さいとき、相変化記録材料208は溶融状態を経たとしても記録のためのアンテナ103(図10参照)と近接する面は平面に近い。また、図12Bに示すように、ピラー206の幅と相変化記録材料208の厚みがほぼ等しい場合、溶融状態を経た相変化記録材料208は表面張力によって球に近い形状になる。また、図12Cに示すように、ピラー206の幅より、相変化記録材料208の厚みが大きい場合、溶融された相変化記録材料208が表面張力によって横に広がりすぎる、又はピラー206の側面に流れ出したような形状になる、と考えられる。
 図10に示すように、アンテナ103と記録光のプラズモン共鳴によって発生した近接場光によって記録を行う場合、相変化記録材料208(相変化微粒子)に尖った部分や凹凸があると近接場光は局所に集中することになり、記録がうまくできない。そこで、相変化記録材料208全体を均一に昇温して記録を行うためには、図12Bに示すように、相変化記録材料208が球に近い形状であることが好ましい。なお、図12Cに示すように、相変化記録材料208がピラー206から大きくはみ出して横に広がりすぎると、隣のピラー206の相変化記録材料208とくっついてしまって孤立した状態にならなかったり、ピラー206の側面に相変化記録材料208が付着してしまって熱が拡散してしまったりすることが想定される。
 これらのことから、ピラー206の幅(情報記録方向の幅)と相変化記録材料208の厚みの関係をとしては、ピラー206の幅の1/2以上、且つ、ピラー206の幅の2倍以下の厚みを有する相変化記録材料208をピラー206上に形成することが望ましい。より望ましいのは、相変化記録材料208の厚みがピラー206の幅と略等しい図12Bに示す場合である。
 また、図12Bに示すように、相変化記録材料208の厚みがピラー206の幅と略等しい場合においては、ピラー206の高さをピラー206の幅よりも大きくすることにより、ピラー206上に形成された相変化記録材料208がピラー206上で孤立した状態となる。これにより、ピラー206の幅と同程度まで孤立した相変化記録材料208が小さくなり、ピラーピラー206上の相変化記録材料208ごとの局所的な加熱が可能となる。よって、相変化記録材料208に対して熱的な拡散のない安定した情報の記録ができ、またピラー206を最小単位とする高密度な記録を行うことができる。
 上述の通り、相変化記録材料208には、尖った部分や凹凸ができないようにすることが好ましい。従って、ピラー206の基板102と平行な面での断面形状は、図13Aに示すように角のない円形、又は図13Bに示すように角のない楕円形又は卵型形状であることが好ましい。図13A又は図13Bに示すように、基板102と平行な面での断面に角のない形状のピラー206を用いることにより、当該ピラー206の上部に相変化記録材料208を形成した場合、角のない(尖った部分や凹凸がない)相変化記録材料208を形成することができる。
 さらには、図14に示すように、相変化記録材料208が形成される部分に角のない形状のピラー206を用いることが望ましい。図14Aは、基板102に垂直な面で切ったピラー206の断面を示している。また、図14Bは、基板102に平行な面で切ったピラー206の断面を示している。これにより、当該ピラー206の上部に相変化記録材料208を形成した場合、当該相変化記録材料208が球に近い、角のない形状になりやすく、安定した情報の記録を行うことができる。
 以上、本発明の実施の形態について例をあげて説明したが、本発明は、上記実施の形態に限定されず、本発明の技術的思想に基づき他の実施の形態に適用することができる。
 (実施の形態6)
 本実施の形態に係る他の実施の形態について図面を参照し、以下に説明する。実施の形態1と同様な構成要素については同一の部材番号を付し、その説明を適宜省略する。
 本実施の形態では、前述の実施の形態で説明したピラー206の形状に関し、安定した記録を実現できる一例を示す。
 前述の実施の形態では、ピラー206上に相変化記録材料208を形成し、ピラー206上で相変化記録材料208を孤立させることによって、30nm以下の小さな記録マークを記録する場合に、熱拡散のない安定した記録が行える構成について説明した。
 実施の形態3及び4では、ピラー206の深さ(高さ108)や幅109、形状について主に述べたが、相変化記録材料208を孤立させるためには、ピラー206の形成角度θも重要となる。ここで、ピラー206の角度θとは、図15Aに示すように、ピラー206の側壁部分と基板102の主面とが成す角度をいう。図15B及び図15Cに一例を示す。図15Bに示すように、ピラー206の角度θが小さい場合、ピラー206の深さに依らず、ピラー206上に形成された相変化記録材料208と基板102に直接形成された相変化記録材料208とが一体になってしまい、前記した理由から小さなマークが記録できなくなってしまう。一方、図15Cに示すように、ピラー206の角度θが大きければ、ピラー206上に孤立した相変化記録材料208を形成することができる。ラー206上に孤立した相変化記録材料208を形成するためには、ピラー206の角度θは、75度以上であることが好ましい。ピラー206の角度θが75度以上である場合、ピラー206の深さが相変化記録材料208の厚みより大きければ、ピラー206上で孤立することがわかった。なお、ピラー206の角度θは、80度以上であることがさらに好ましい。この場合、相変化記録材料208を、ピラー206上でより確実に孤立させることができる。
 上記の実施の形態1ないし6では、情報を記録できる材料として、相変化記録材料208を用いた例を挙げたが、これに限定されるものではない。情報を記録できる材料としては、熱によって穴が開いたり組成が変わる等の変化が生じる、熱記録ができるその他の材料、例えば、色素を用いることも可能である。
 以上のように、本発明の一局面に係る情報記録媒体は、基板と、前記基板上に孤立した状態で配列された情報記録材料を含む粒子部とを含み、前記粒子部の情報記録方向の幅が30nm以下であることを特徴とする。
 上記の構成によれば、基板上に孤立した状態で粒子部が配列されており、粒子部ごとの局所的な加熱が可能となり、熱的な拡散のない安定した記録ができる。また、粒子部の情報記録方向の幅が30nm以下となっており、当該粒子部を最小単位とする高密度な記録を行うことができる。これにより、信頼性の高い高密度な情報記録媒体を得ることが可能となる。
 なお、前記粒子部の情報記録方向の長さは20nm以下であることがより好ましい。これにより、粒子部の表面が滑らかな形状になり易いため、近接場光等で情報を記録する場合に、近接場光が粒子部に集中しやすく記録が容易となる。
 また、前記粒子部の情報記録方向の長さが3nm以上であることが望ましい。粒子部が3nmより小さくなると、粒子部に含まれる原子数が少なくなり、粒子部の融点が低くなって結晶化しにくくなってしまうからである。
 また、本発明の一局面に係る情報記録媒体は、前記基板上に孤立した状態で配列されたピラーをさらに含み、前記粒子部は、前記ピラー上に前記情報記録材料が形成されることによって構成され、前記ピラーの情報記録方向の幅が30nm以下であって、前記ピラーの高さが前記情報記録材料の厚みよりも大きいことを特徴とする。
 上記の構成によれば、ピラーの高さが前記情報記録材料の厚みよりも大きくなっているので、ピラー上に形成された情報記録材料がピラー上で確実に孤立した状態となる。これにより、熱的な拡散のない安定した記録ができ、また、ピラーを最小単位とする高密度な記録を行うことができる。これにより、信頼性の高い高密度な情報記録媒体を得ることが可能となる。
 また、本発明の一局面に係る情報記録媒体は、前記情報記録材料の厚みが、前記ピラーの情報記録方向の幅の1/2以上、且つ、当該幅の2倍以下であることを特徴とする。これにより、ピラー上に形成される情報記録材料は、表面張力によって角のない形状となり、安定した情報の記録が可能となる。また、ピラー上に形成される情報記録材料が当該ピラーから大きくはみ出して横に広がりすぎることもなく、ピラー上に形成された情報記録材料がピラー上で孤立した状態を容易に確保できる。これにより、より信頼性の高い高密度な情報記録媒体を得ることが可能となる。
 また、本発明の他の局面に係る情報記録媒体は、前記情報記録材料の厚みが、前記ピラーの情報記録方向の幅と略等しいことを特徴とする。これにより、ピラー上に形成された情報記録材料が、当該ピラーの断面と同程度まで小さくなり、また表面張力によって情報記録材料がピラー上で球に近い形状となって、より安定した記録が可能となる。これにより、より信頼性の高い高密度な情報記録媒体を得ることが可能となる。
 また、本発明の他の局面に係る情報記録媒体は、前記ピラーの高さが、前記ピラーの情報記録方向の幅よりも大きいことを特徴とする。情報記録材料の厚みが、前記ピラーの情報記録方向の幅と略等しい場合においては、ピラーの高さをピラーの情報記録方向の幅よりも大きくすることにより、ピラー上に形成された情報記録材料をピラー上で確実に孤立した状態にできる。これにより、信頼性の高い高密度な情報記録媒体を得ることが可能となる。
 また、本発明の他の局面に係る情報記録媒体は、前記ピラーの側壁部と前記基板の主面とが成す角度が75度以上であることを特徴とする請求項2ないし5の何れか1項に記載の情報記録媒体。これにより、ピラー上に形成された情報記録材料をピラー上で確実に孤立した状態にできる。これにより、信頼性の高い高密度な情報記録媒体を得ることが可能となる。
 また、本発明の一局面に係る情報記録媒体は、前記ピラーの情報記録方向の幅が20nm以下であることを特徴とする。これにより、ピラー上に形成される情報記録材料の表面が滑らかな形状になり易いため、近接場光等で情報を記録する場合に、近接場光が粒子部に集中しやすく記録が容易となる。
 また、本発明の一局面に係る情報記録媒体は、前記ピラーの情報記録方向の幅が3nm以上であることを特徴とする。粒子部が3nmより小さくなると、ピラー上に形成される情報記録材料に含まれる原子数が少なくなり、情報記録材料を含む粒子部の融点が低くなって結晶化しにくくなってしまうが、上記の構成により、それを回避でき、信頼性の高い高密度な情報の記録が可能になる。
 また、本発明の一局面に係る情報記録媒体は、前記ピラーの前記基板の主面と平行な断面が、角のない曲面で囲まれた形状であることを特徴とする。これにより、ピラー上に形成される情報記録材料も角のない曲面に囲まれた形状となり、熱的な偏りの少ない安定した情報の記録を情報記録材料含む粒子部に対して行うことができる。
 また、本発明の一局面に係る情報記録媒体は、前記粒子部の上部又は下部の少なくとも一方に保護層が形成されていることを特徴とする。これにより、粒子部の記録状態が安定する、もしくは記録感度が向上するといった効果を奏する。
 また、本発明の一局面に係る情報記録媒体は、前記保護層が、誘電体材料からなることを特徴とする。このように、保護層として誘電体材料を用いることにより、粒子部の保護を容易且つ確実に行うことができる。
 また、本発明の一局面に係る情報記録媒体は、前記保護層の厚みが10nm以下であることを特徴とする。このように、保護層6の厚みを10nm以下にすることで、安定的な記録を行うことが可能となる。すなわち、保護層6の厚みを10nmより厚くすると、記録のときの近接場光が粒子部に集中し難くなり、記録が不安定になる可能性があるがそれを回避でき、安定的な記録が可能となる。
 また、本発明の一局面に係る情報記録媒体は、前記保護層の厚みが5nm以下であることを特徴とする。このように、保護層6の厚みを5nm以下にすることで、記録のときの近接場光が粒子部に集中し易くなり、より安定的な記録を行うことができる。
 また、本発明の一局面に係る情報記録媒体は、前記粒子部が、プラズモン共鳴を利用して発生させた近接場光を用いて情報が記録されるものであることを特徴とする。これにより、プラズモン共鳴を利用して発生させた近接場光を用いて情報が記録される高密度な情報記録媒体を信頼性の高い構成として実現できる。
 また、本発明の一局面に係る情報記録媒体の製造方法は、基板と、前記基板上に孤立した状態で配列された情報記録材料を含む粒子部とを含み、前記粒子部の情報記録方向の幅が30nm以下である情報記録媒体を製造する方法であって、前記基板上に、情報記録方向の幅が30nm以下のピラーを孤立した状態で配列させるピラー形成ステップと、前記ピラーが形成された基板上に前記情報記録材料を成膜することによって、ピラー上に孤立した状態の前記情報記録材料を形成する成膜ステップとを含むことを特徴とする。
 上記の構成によれば、先ず、基板上にピラーを孤立した状態で形成し、その後、当該ピラー上に情報記録材料を形成することによって、孤立した状態の情報記録材料を形成している。ここで、ピラーの情報記録方向の幅を30nm以下にしているので、ピラー上の情報記録材(粒子部)の情報記録方向の幅を30nm以下にすることができる。これにより、例えばスパッタリングや蒸着などを用いた成膜ステップによって、情報記録材料を基板上に均一に成膜した場合でも、ピラーのパターンに応じた孤立した情報記録材料(粒子部)を容易に配列させることができ、成膜が簡便になる。よって、ピラーを最小単位とする高密度な記録を行うことができる信頼性の高い情報記録媒体を容易に製造することが可能となる。
 また、本発明の一局面に係る情報記録媒体の製造方法は、前記ピラー形成ステップで形成するピラーの高さが、前記成膜ステップで成膜する前記情報記録材料の厚みよりも大きいことを特徴とする。このように、ピラーの高さを前記情報記録材料の厚みよりも大きく形成することにより、ピラー上に形成された情報記録材料を、容易且つ確実に、ピラー上で孤立した状態にすることができる。
 また、本発明の一局面に係る情報記録媒体の製造方法は、基板と、前記基板上に孤立した状態で配列された情報記録材料を含む粒子部とを含み、前記粒子部の情報記録方向の幅が30nm以下である情報記録媒体を製造する方法であって、前記基板上に、前記情報記録材料を成膜するステップと、前記情報記録材料の上に情報記録方向の幅が30nm以下のパターンを有するマスクを形成し、当該マスクの上から前記情報記録材料をエッチングすることによって、情報記録方向の幅が30nm以下の情報記録材料を含む粒子部を基板上に形成するステップと、を含むことを特徴とする。
 上記の構成によれば、先ず、基板上に、前記情報記録材料を直接的に成膜し、その後、情報記録材料の上にマスクを形成してエッチングすることによって孤立した状態の情報記録材料を基板上に形成している。ここで、マスクのパターンの情報記録方向の幅を30nm以下にしているので、情報記録材(粒子部)の情報記録方向の幅を30nm以下にすることができる。この製造方法によって、任意のパターンの孤立した情報記録材料を基板上に直接的に配列させることができる。よって、高密度な記録を行うことができる信頼性の高い情報記録媒体を製造することが可能となる。
 また、本発明の一局面に係る情報記録媒体の製造方法は、基板と、前記基板上に孤立した状態で配列された情報記録材料を含む粒子部とを含み、前記粒子部の情報記録方向の幅が30nm以下である情報記録媒体を製造する方法であって、前記基板上に、下地層を成膜するステップと、前記下地層の上に情報記録方向の幅が30nm以下のパターンを有するマスクを形成し、当該マスクの上から前記下地層をエッチングすることによって、情報記録方向の幅が30nm以下の下地層のパターンを基板上に形成するステップと、前記下地層のパターンが形成された基板上に、前記情報記録材料を成膜するステップと、前記下地層を当該下地層の上に形成された情報記録材料ごと除去することにより、情報記録方向の幅が30nm以下の情報記録材料を含む粒子部を基板上に形成するステップとを含むことを特徴とする。
 上記の構成によれば、先ず、基板上に下地層を成膜し、その後、下地層上にマスクを形成してエッチングすることによって、情報記録方向の幅が30nm以下の下地層のパターンを基板上に形成している。ここで、下地層としては、マスクとのエッチングレート差が大きなエッチングし易い任意の材料を選択することができ、当該エッチング処理は容易に行えるものである。その後、下地層のパターンが形成された基板上に情報記録材料を成膜した後、下地層を除去することによって、孤立した状態の情報記録材料を形成している。この製造方法では、情報記録材料をエッチングする必要がないので、エッチングがし難い情報記録材料を用いた情報記録媒体であっても容易に製造することが可能となる。よって、高密度な記録を行うことができる信頼性の高い情報記録媒体を容易に製造することが可能となる。
 なお、発明を実施するための形態の項においてなされた具体的な実施態様又は実施例は、あくまでも、本発明の技術内容を明らかにするものであって、そのような具体例にのみ限定して狭義に解釈されるべきものではなく、本発明の精神と特許請求事項との範囲内で、種々変更して実施することができるものである。
 本発明に係る情報記録媒体は、相変化記録材料を用い記録密度を大幅に向上させた情報記録媒体を実現する、等に有用である。

Claims (18)

  1.  基板と、
     前記基板上に孤立した状態で配列された情報記録材料を含む粒子部とを含み、
     前記粒子部の情報記録方向の幅が30nm以下であることを特徴とする情報記録媒体。
  2.  前記基板上に孤立した状態で配列されたピラーをさらに含み、
     前記粒子部は、前記ピラー上に前記情報記録材料が形成されることによって構成され、
     前記ピラーの情報記録方向の幅が30nm以下であって、
     前記ピラーの高さが前記情報記録材料の厚みよりも大きいことを特徴とする請求項1に記載の情報記録媒体。
  3.  前記情報記録材料の厚みが、前記ピラーの情報記録方向の幅の1/2以上、且つ、当該幅の2倍以下であることを特徴とする請求項2に記載の情報記録媒体。
  4.  前記情報記録材料の厚みが、前記ピラーの情報記録方向の幅と略等しいことを特徴とする請求項3に記載の情報記録媒体。
  5.  前記ピラーの高さが、前記ピラーの情報記録方向の幅よりも大きいことを特徴とする請求項4に記載の情報記録媒体。
  6.  前記ピラーの側壁部と前記基板の主面とが成す角度が75度以上であることを特徴とする請求項2ないし5の何れか1項に記載の情報記録媒体。
  7.  前記ピラーの情報記録方向の幅が20nm以下であることを特徴とする請求項2ないし6の何れか1項に記載の情報記録媒体。
  8.  前記ピラーの情報記録方向の幅が3nm以上であることを特徴とする請求項2ないし7の何れか1項に記載に情報記録媒体。
  9.  前記ピラーの前記基板の主面と平行な断面が、角のない曲面で囲まれた形状であることを特徴とする請求項2ないし8の何れか1項に記載の情報記録媒体。
  10.  前記粒子部の上部又は下部の少なくとも一方に保護層が形成されていることを特徴とする請求項1ないし9の何れか1項に記載の情報記録媒体。
  11.  前記保護層は、誘電体材料からなることを特徴とする請求項10に記載の情報記録媒体。
  12.  前記保護層の厚みが10nm以下であることを特徴とする請求項10又は11に記載の情報記録媒体。
  13.  前記保護層の厚みが5nm以下であることを特徴とする請求項10ないし12の何れか1項に記載の情報記録媒体。
  14.  前記粒子部は、プラズモン共鳴を利用して発生させた近接場光を用いて情報が記録されるものであることを特徴とする請求項1ないし13の何れか1項に記載の情報記録媒体。
  15.  基板と、前記基板上に孤立した状態で配列された情報記録材料を含む粒子部とを含み、前記粒子部の情報記録方向の幅が30nm以下である情報記録媒体を製造する方法であって、
     前記基板上に、情報記録方向の幅が30nm以下のピラーを孤立した状態で配列させるピラー形成ステップと、
     前記ピラーが形成された基板上に前記情報記録材料を成膜することによって、ピラー上に孤立した状態の前記情報記録材料を形成する成膜ステップと、を含むことを特徴とする情報記録媒体の製造方法。
  16.  前記ピラー形成ステップで形成するピラーの高さが、前記成膜ステップで成膜する前記情報記録材料の厚みよりも大きいことを特徴とする請求項15に記載の情報記録媒体の製造方法。
  17.  基板と、前記基板上に孤立した状態で配列された情報記録材料を含む粒子部とを含み、前記粒子部の情報記録方向の幅が30nm以下である情報記録媒体を製造する方法であって、
     前記基板上に、前記情報記録材料を成膜するステップと、
     前記情報記録材料の上に情報記録方向の幅が30nm以下のパターンを有するマスクを形成し、当該マスクの上から前記情報記録材料をエッチングすることによって、情報記録方向の幅が30nm以下の情報記録材料を含む粒子部を基板上に形成するステップとを含むことを特徴とする情報記録媒体の製造方法。
  18.  基板と、前記基板上に孤立した状態で配列された情報記録材料を含む粒子部とを含み、前記粒子部の情報記録方向の幅が30nm以下である情報記録媒体を製造する方法であって、
     前記基板上に、下地層を成膜するステップと、
     前記下地層の上に情報記録方向の幅が30nm以下のパターンを有するマスクを形成し、当該マスクの上から前記下地層をエッチングすることによって、情報記録方向の幅が30nm以下の下地層のパターンを基板上に形成するステップと、
     前記下地層のパターンが形成された基板上に、前記情報記録材料を成膜するステップと、
     前記下地層を当該下地層の上に形成された情報記録材料ごと除去することにより、情報記録方向の幅が30nm以下の情報記録材料を含む粒子部を基板上に形成するステップとを含むことを特徴とする情報記録媒体の製造方法。
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