WO2009147863A1 - 光受信機 - Google Patents

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WO2009147863A1
WO2009147863A1 PCT/JP2009/002538 JP2009002538W WO2009147863A1 WO 2009147863 A1 WO2009147863 A1 WO 2009147863A1 JP 2009002538 W JP2009002538 W JP 2009002538W WO 2009147863 A1 WO2009147863 A1 WO 2009147863A1
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WO
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light
photoelectric conversion
unit
charge
optical receiver
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Application number
PCT/JP2009/002538
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English (en)
French (fr)
Inventor
青山千秋
Original Assignee
本田技研工業株式会社
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14609Pixel-elements with integrated switching, control, storage or amplification elements
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B10/00Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/11Arrangements specific to free-space transmission, i.e. transmission through air or vacuum
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/77Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • G01J1/46Electric circuits using a capacitor

Definitions

  • the present invention relates to a receiver that belongs to the field of optical communication and receives and demodulates modulated light.
  • Non-Patent Document 1 describes a basic standard for a visible light communication system.
  • Visible light communication includes a baseband communication method and a subcarrier communication method.
  • the baseband communication system is a system for direct communication with information converted into an electrical signal.
  • the subcarrier communication method is a method of transmitting and receiving data after modulating information into an electrical signal and then modulating a predetermined subcarrier. Both methods include a digital method and an analog method.
  • Non-Patent Document 2 describes a basic standard for a unidirectional communication system (visible light ID system) using visible light as a carrier wave.
  • 4PPM is used as an encoding method for modulating a subcarrier of 28.8 kHz, and is called SC-4PPM.
  • SC-4PPM a 2-bit code is represented by a slot in which a subcarrier pulse train is arranged. That is, of the four slots, when the subcarrier pulse train is arranged in the first slot, 00 is represented, and when the pulse train is arranged in the second slot, 01 is represented, and the pulse train is represented in the third slot. When arranged, it represents 10, and when a pulse train is arranged in the fourth slot, 11 is represented.
  • Patent Document 1 describes a signal processing circuit that detects light from a remote controller using infrared rays of home appliances.
  • the signal processing circuit amplifies the output of the light receiving element, filters the frequency band of the carrier wave with a band-pass filter, detects with the detector, integrates with the integrator, and shapes the waveform with a comparator having hysteresis characteristics To demodulate.
  • Patent Document 2 light is emitted in a pulsed form from a light source, and charges generated by light incident on the photodiode from the field of view are used to irradiate light to a plurality of capacitors connected to the photodiode through a gate. It is described that sorting is performed synchronously. It describes that signal processing is performed on the charges accumulated in the plurality of capacitors, an output waveform corresponding to pulsed light irradiation from the light emission source is extracted, and the distance to the subject is measured from the phase difference. Yes.
  • Patent Document 3 describes a structure and manufacturing method of an embedded photodiode.
  • a P-type region 13 is formed on the N-type region 6 (FIG. 1 (e)) of the photodiode formed on the semiconductor substrate, and the N-type photodiode region 6 is embedded (FIG. 1 (f)).
  • the charges generated in the photodiode region 6 are transferred to the N-type region 7 serving as a charge transfer portion by the action of the silicon electrode serving as a transfer gate.
  • Non-Patent Document 3 modulated light is sent in parallel from a plurality of LEDs, and a receiver forms an image of a light source on a light receiving surface in which light receiving elements are arranged two-dimensionally via a lens, and is received at a plurality of image positions.
  • a parallel optical communication system that demodulates light in parallel is described.
  • Non-Patent Document 4 describes an ID camera system using a CMOS image sensor that can recognize the ID of a beacon from a long distance.
  • This camera system has two operation modes, a scene mode and an ID mode.
  • an ID image is created by performing a 12 kHz sampling process on all the pixels (192 x 124) of the image.
  • Non-Patent Document 4 The frequency that can be handled by the method of Non-Patent Document 4 is 12 kHz, and cannot cope with the frequency of modulated light of 40 kHz used in a general remote controller.
  • an optical receiver that receives light from a light source that emits modulated light.
  • the optical receiver includes a light receiving unit in which a plurality of pixel units are arranged in a matrix, and a lens that receives light from the outside and forms an image on the light receiving unit.
  • Each of the pixel units has a comb-shaped photoelectric conversion region, and a photoelectric conversion unit connected to the charge transfer unit, and is connected to the photoelectric conversion unit for transferring charges generated by the photoelectric conversion unit.
  • the optical receiver includes a control unit that controls the distribution gate so that the charge of the photoelectric conversion unit is sequentially transferred to three or more charge storage units in one period of the modulated light. It is configured to perform sampling of light.
  • the photoelectric conversion region that is comb-shaped and narrower than the charge transfer unit is directed toward the charge transfer unit having a low potential (potential).
  • the charge moves quickly.
  • sampling is performed in the form of charge distribution to three or more charge storage units. Therefore, it is possible to cope with high-frequency modulated light.
  • each of the pixel units in the light receiving unit of the receiver, includes a plurality of fine photoelectric conversion regions and includes a photoelectric conversion unit connected to the charge transfer unit.
  • the charge when charge is generated in the light receiving portion of the receiver, the charge moves quickly from the fine photoelectric conversion region toward the charge transfer portion having a low potential (potential).
  • sampling is performed in the form of charge distribution to three or more charge storage units. Therefore, it is possible to cope with high-frequency modulated light.
  • each of the pixel units is connected to the photoelectric conversion unit through the sorting gate and three or more charge storage units that store charges. Is provided.
  • the optical receiver further includes a control unit that controls the distribution gate to sequentially transfer the charge of the photoelectric conversion unit to three or more charge storage units in a period of one cycle of the modulated light, and a plurality of cycles And a difference circuit for taking a difference of accumulated charges for each pixel unit, and obtaining a sampling value of light modulated from the difference.
  • the sampling value of the modulated light is obtained from the difference between the charges accumulated for each pixel unit, so that light without modulation (sampling value zero) is excluded and the modulation intensity (sampling value) is determined. Further, the detection sensitivity of modulated light can be increased.
  • the plurality of cycles corresponds to a period of 1 ⁇ 4 of the pulse width of the symbol included in the modulated light, and one cycle corresponds to one period of the subcarrier pulse included in the symbol. It is configured as follows.
  • FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of an optical receiver according to an embodiment of the present invention.
  • the figure which shows the equivalent circuit of FIG. FIG. 4 is a diagram showing potential and charge movements in the light receiving element of FIG. 3.
  • the figure which shows the equivalent circuit of the pixel unit of FIG. The figure which shows the timing of exposure in a pixel unit.
  • the figure which shows the principle of a phase detection The figure which shows the relationship between symbol coding and a subcarrier.
  • 5 is a flowchart showing a reader search process.
  • 6 is a flowchart showing a process of reading bits.
  • Photodetectors 14a, 14b, 14c, 14d Sampling capacitors 25 Pixel units 25a, 25b, 25c, 25d Photoelectric converters (regions) 31 Charge transfer unit 27a, 27b, 27c, 27d Charge storage unit
  • FIG. 1 is a functional block diagram of an optical receiver according to an embodiment of the present invention.
  • the optical receiver 10 includes a light receiving unit 12 that receives an image formed by the lens 19.
  • the light receiving unit 12 has a structure in which a plurality of pixel units are two-dimensionally arranged. As will be described in detail later, each pixel unit accumulates electric charges generated in the photoelectric conversion unit, outputs them at a predetermined time interval, and holds them in the sampling capacitors 14a, 14b, 14c, and 14d.
  • the difference circuit 16 takes the difference between the large and small of the sampling capacitor voltage. For light from a light source that always emits light, the sample value as the difference is zero. In contrast, in light from a light source that emits intensity-modulated light, the sample value as a difference represents the intensity of the light pulse.
  • the pulse discriminator 18 discriminates the presence of an optical pulse according to this criterion, and sends an electric pulse signal corresponding to the sequentially detected optical pulse to the decoder 20.
  • the timing control unit 22 controls the read timing so that charges are read from the four charge storage regions of the pixel unit at a speed suitable for the pulse frequency of the intensity modulated light to be received.
  • the pulse discriminator 18 By performing the pulse discrimination process for all the pixel units of the light receiving unit 12, it is possible to detect one or a plurality of light sources that emit intensity-modulated light in the image.
  • the function of the pulse discriminator 18 will be described in detail later.
  • the signal provided from the computer 11 is encoded by the encoder 13 and modulated by the modulator 15.
  • the projector 17 outputs an optical pulse (modulated light) corresponding to the modulated signal sequence.
  • the projector 17 may be a light emitting diode (LED) or a laser diode capable of emitting a high rate (repetitive frequency) light pulse.
  • the projector 17 may be a light emitting diode that emits a high-rate infrared pulse.
  • FIG. 2 shows a general arrangement of the pixel units 25 in the light receiving unit 12.
  • FIG. 3 is a diagram created by estimating the layout of the pixel unit described in Patent Document 2.
  • Each pixel unit 25 includes a photoelectric conversion unit 25a that converts light into electric charge.
  • the photoelectric conversion unit 25 a is a buried photodiode formed by embedding an N-type region in a P-type region (P well) of a semiconductor substrate.
  • the charges generated by the photoelectric conversion unit 25a are distributed by the distribution gates Tx1 and Tx2, and are stored at different timings in the first charge storage region 27a and the second charge storage region 27b.
  • the first and second charge storage regions 27a and 27b are formed of N-type regions embedded in the P-type region.
  • the difference circuit 16 takes the difference between the read output values and outputs it as a difference image output.
  • the charge storage regions 27a and 27b are connected to the reset electrodes 29a and 29b via the reset gates Ra and Rb.
  • the reset gates Ra and Rb are opened, and the charge storage regions 27a and 27b are charged by the voltage V applied to the reset electrode. This is called reset, and the electrons generated in the photoelectric conversion unit 25a act in a direction to reduce the charge in the charge storage regions 27a and 27b in the charged state.
  • FIG. 3 schematically shows the structure of the pixel unit 25 of the light receiving section as shown in Patent Document 2, for example.
  • the photoelectric conversion unit 25a of the pixel unit 25 is a photodiode, and is connected to the charge storage region 27a via the distribution gate Tx1 and to the charge storage region 27b via the distribution gate Tx2.
  • the charge storage regions 27a and 27b are connected to the reset electrodes 29a and 29b via the reset gates Ra and Rb.
  • the cross-sectional view shown in the lower part of FIG. 3 shows that the photoelectric conversion part 25a is formed by embedding an N-type region in a P-type well of a semiconductor substrate. The edge of the N-type region is drawn up on the surface of the substrate.
  • the N-type is shown in FIGS.
  • Patent Document 3 This is to represent the same structure as the edge of the region 6 and represents a known structure.
  • the charge moves from the photoelectric conversion region 25a to the N + region of the charge storage region 27a.
  • FIG. 3 shows an A-A ′ cross section of the pixel unit 25.
  • An N-type layer 25a is buried in a P-type well (P-well), and a photodiode is formed by a PN junction with a P + region formed thereon.
  • a charge storage region 27a is formed next to the MOS structure transfer gate Tx1.
  • the charge storage region 27a is composed of an N region embedded in a P-type well region 61.
  • the N + region 29a forms a reset electrode and is connected to the voltage V.
  • the N + region 27a and the N + region 29a are electrically connected by applying a voltage to the gate R1 of the MOS structure.
  • the pixel unit 25 is entirely covered with a light shielding film 51 except for the photoelectric conversion region 25a.
  • FIG. 4 is a circuit diagram of the pixel unit of FIG. FIG. 5 represents the potential well change in this circuit.
  • the light receiving region 25a that is, the photoelectric conversion unit 25a includes a diode having a photoelectric conversion function and a capacitor C0.
  • (A) shows a potential well in a state where no operation is applied to the circuit.
  • (B) the distribution gates Tx1 and Tx2 and the reset gates R1 and R2 are opened (each transistor is turned on) to move the charges in the photoelectric conversion unit and the charge storage region.
  • (C) shows a state in which charges are generated in the photoelectric conversion unit 25a during the first period of the first exposure.
  • (D) shows how the charge accumulated in the photoelectric conversion unit 25a is transferred to the charge storage region 27a (capacitor C1) by opening the sorting gate Tx1.
  • (E) shows how charges are generated in the photoelectric conversion unit 25a during the second period of the first exposure.
  • (F) shows a state where the sorting gate Tx2 is opened and charges are transferred to the charge storage region C2.
  • (G) shows a state where the first period of the second exposure has started.
  • (H) shows how the charge accumulated in the photoelectric conversion unit in (G) is transferred to the charge accumulation region 27a (capacitor C1).
  • the exposure cycle is repeated n times, and the charges accumulated in the charge accumulation region 27a (capacitor C1) and the charge accumulation region 27b (capacitor C2) during this time are read out through the output gate T.
  • the L1 and L2 FET transistors are level shift transistors, and when the output gate T is opened, a current corresponding to the potential of the capacitor C1 or C2 is sent to a downstream sampling capacitor (difference circuit).
  • FIG. 6 is a layout diagram of the pixel unit 25 used in the light receiving unit 12 of the optical receiver 10 according to the embodiment of the present invention.
  • the photoelectric conversion unit of one pixel has a comb shape.
  • the width of the photoelectric conversion unit 25a becomes narrower than the width of the charge transfer unit 31, so that the potential of the charge transfer unit 31 is lowered.
  • charges can be quickly moved from the photoelectric conversion unit 25a toward the charge transfer unit having a low potential.
  • the shape of the comb-shaped tooth is a rectangle, but the shape of the tooth may be a trapezoid, a triangle, a semi-ellipse, or the like that becomes narrower as the distance from the charge transfer unit 31 increases.
  • any shape can be used as long as it is a tapered shape. By doing so, the minimum width at each point of the photoelectric conversion unit 25a becomes wider toward the charge transfer unit 31, so that a potential gradient is formed toward the charge transfer unit 31, and the charge can be moved quickly. .
  • FIG. 7 is a layout diagram of the pixel unit 25 used in the light receiving unit 12 of the optical receiver 10 according to another embodiment of the present invention.
  • the photoelectric conversion unit of one pixel is divided into four fine photoelectric conversion regions 25a, 25b, 25c, and 25d.
  • the charges generated in the fine photoelectric conversion regions 25a, 25b, 25c, and 25d move to the charge transfer unit 31 having a lower potential.
  • the four fine photoelectric conversion regions 25a, 25b, 25c, and 25d and the charge transfer region 31 can be formed as an integral N-type region embedded in a P-type region (P-well).
  • a light-shielding film (light-shielding mask) is provided above the integrated N-type region so that light enters only the fine photoelectric conversion regions 25a, 25b, 25c, and 25d.
  • the charge in the charge transfer region 31 flows to one of the charge storage regions 27a, 27b, 27c, and 27d corresponding to the opened gate.
  • the pixel unit 25 is covered with a light shielding film (not shown) except for the fine photoelectric conversion regions 25a, 25b, 25c, and 25d that are photoelectric conversion regions.
  • the pixel unit 25 is provided with reset electrodes 29a, 29b, 29c, and 29d adjacent to the charge storage regions 27a, 27b, 27c, and 27d.
  • the reset gates R1, R2, R3, and R4 are opened, the charge storage regions 27a, 27b, 27c, and 27d are charged by the voltage V applied to the reset electrodes 29a, 29b, 29c, and 29d to be in a reset state.
  • the reset process is performed simultaneously on all the charge accumulation regions of all the pixel units.
  • FIG. 8 is an equivalent circuit of the pixel unit 25 of FIG.
  • fine photoelectric conversion regions 25a, 25b, 25c, and 25d are shown as pairs of photodiodes and capacitors C0a, C0b, C0c, and C0d.
  • the charge transfer unit 31 is indicated by a capacitor C3.
  • Charge storage regions 27a, 27b, 27c, and 27d adjacent to the distribution gates Tx1, Tx2, Tx3, and Tx4, respectively, are represented by capacitors C1, C2, C3, and C4. These capacitors are charged with the voltage V when the FET transistors of the reset gates R1, R2, R3, and R4 are turned on. This operation is called reset and is for creating an initial state before accumulating the charge generated by the photodiode.
  • the FET transistors L1, L2, L3, and L4 are level shift transistors, and when the read gates T1, T2, T3, and T4 are opened, currents corresponding to the charges held in the capacitors C1, C2, C3, and C4 are generated. It acts to feed to the sampling capacitors 14a, 14b, 14c and 14d.
  • the waveform of incident light indicates a pulse waveform of modulated light emitted from a visible light ID transmitter, an infrared remote controller, a beacon, or the like.
  • light from the remote controller is transmitted using a subcarrier.
  • the incident light waveform in FIG. 9 shows a subcarrier pulse waveform. In this embodiment, exposure is performed four times for each subcarrier cycle.
  • the four sorting gates Tx1, Tx2, Tx3, and Tx4 are opened to reset (charge) the charge transfer region 31 and the charge storage regions 27a, 27b, 27c, and 27d.
  • the sorting gate Tx1 is opened, and the charges generated in the four fine photoelectric conversion regions 25a, 25b, 25c, and 25d are transferred to the charge storage region 27a (capacitor through the charge transfer unit 31). C1).
  • the charge received from the charge transfer unit 31 acts in the direction of decreasing the voltage of the capacitor C1.
  • the distribution gate Tx2 is opened, and the charges generated by the four minute conversion units 25a, 25b, 25c, and 25d are accumulated in the charge accumulation region 27b (capacitor C2) via the charge transfer unit 31.
  • the distribution gate Tx3 is opened, and the charges generated in the four fine photoelectric conversion regions 25a, 25b, 25c, and 25d are transferred to the charge accumulation region 27c (capacitor C3 via the charge transfer unit 31).
  • the distribution gate Tx4 is opened, and the charges generated by the four minute conversion units 25a, 25b, 25c, and 25d are accumulated in the charge accumulation region 27d (capacitor C4) via the charge transfer unit 31. To do.
  • the capacitors C1, C2, C3, and C4 accumulate the charges received in the first, second, third, and fourth exposures in each period until the m period ends.
  • the transfer gates T1, T2, T3, and T4 are opened. Since the voltages of capacitors C1, C2, C3, and C4 are applied to the gates of the level shift transistors L1, L2, L3, and L4, currents corresponding to the voltage levels of the respective capacitors are sampled capacitors 14a, 14b, It flows to 14c and 14d.
  • FIG. 10 is a timing diagram of sampling in an example in which a pulse of one symbol of modulated light is displayed by 21 subcarrier pulses.
  • FIG. 11 shows the timing of sampling over a plurality of symbols.
  • FIG. 10 represents the sampling timing at the level of 21 subcarrier pulses constituting the pulse of one symbol of FIG.
  • the subcarrier repeats the accumulation cycle and the read cycle every 5 pulse periods.
  • the output gate is opened in the read cycle and output to the sampling capacitors 14a, 14b, 14c, 14d.
  • a sampling value is obtained by the circuit 16 and the pulse discriminator 18.
  • the values read from the sampling capacitors 14a, 14b, 14c, 14d are C ( ⁇ 0 ), C ( ⁇ 1 ), C ( ⁇ 2 ), C Assuming that ( ⁇ 3 ), the sampling value R is obtained according to the following formula 1.
  • Formula 1 also includes a formula for obtaining the phase ⁇ of the modulated light. Although a sine wave is shown in FIG. 12, the pulse wave can be obtained in substantially the same manner.
  • FIG. 4 there are four charge storage areas 27a to 27d, and the charge storage area is divided into four. However, the number of charge storage sections may be three or five or more. When there are three charge storage units, Formula 2 is used instead of Formula 1.
  • Tx1 is shown in the distribution gate due to restrictions on drawing.
  • the distribution gates Tx1, Tx2, Tx3, and Tx4 are opened the same number of times in the accumulation cycle.
  • the reset gate is opened at the beginning of the accumulation cycle.
  • FIG. 11 is an example of a remote control signal.
  • a logical value of zero is represented by a space of the same width following a main pulse composed of 21 subcarrier pulses.
  • a logical value of 1 is represented by a space that is three times as wide as the main pulse.
  • the first symbol represents a logical value of zero
  • the second symbol represents a logical value of 1.
  • a sampling value is determined by the pulse discriminator 18 in FIG. 1, and a pulse train shown in FIG. 11D is sent to the decoder 20.
  • FIG. 13 shows an example of the specification of intensity modulation used for a remote control using infrared light of home appliances.
  • a 38 KHz pulse is used as a subcarrier, and a logic zero symbol is represented by 21 subcarrier pulses (560 microseconds) followed by a space of the same width.
  • a logic one symbol is represented by 21 subcarrier pulses followed by a space three times as wide.
  • a 9 ms continuous subcarrier pulse train and a subsequent 4.5 millisecond space are arranged as a leader indicating the start of the symbol train before the symbol train.
  • the symbol string includes 16 bits indicating the device number composed of a low-order address (Address low) and a high-order address (Address high). This address is followed by 8 bits of the command, followed by 8 bits that invert this command.
  • a pulse train indicating the end of the symbol train is arranged, and a blank section is provided as a trailer between the next symbol train.
  • FIG. 14 shows a processing flow for detecting the reader from the remote control signal shown in FIG. 12 using the method of the present invention.
  • the reader is a 9 ms pulse train as shown in FIG.
  • the timing controller 22 enters a mode in which charge accumulation is performed at a cycle of 2.25 milliseconds, which is a quarter of the reader period (101).
  • charge accumulation is performed at a cycle of 2.25 milliseconds, which is a quarter of the reader period (101).
  • m 84, and charge accumulation is performed in the charge accumulation regions 27a, 27b, 27c, and 27d.
  • the pulse discriminator 18 determines the sampling value based on the difference calculation of the difference circuit 16. By repeating this process during 9 milliseconds of the reader period, the pulse discriminator 18 discriminates the leader pulse.
  • This process is executed for all screens of the light receiving unit 12 (103). Thereby, it is possible to detect a reader from one or a plurality of light sources transmitting a remote control signal.
  • the pixel becomes bright that is, when a light pulse is detected (145)
  • the count n exceeds 3 it means that the width of the space is three times the pulse width, so the logical value is determined to be 1. (149). If n does not exceed 3, the logical value of the symbol is determined to be 0 according to the encoding rule of FIG. 12A (151). In this way, the remote control signal is decoded.
  • FIG. 16 is a diagram showing another embodiment of the present invention.
  • the charge storage units 27a, 27b, 27c, and 27d are composed of MOS capacitors.
  • the MOS capacitor is composed of a semiconductor region 27a constituting a charge storage portion and an electrode 27A provided thereabove via an insulating film.

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Abstract

 受光素子を2次元に配置し、変調光の光源を的確に検出することができる受信機を提供する。光受信機は、複数の画素ユニットを行列状に配列した受光部と、外界からの光を受け、前記受光部に結像させるレンズと、を備える。画素ユニットのそれぞれは、光電変換部と、この光電変換部に接続され、光電変換部で生成された電荷を移送するための電荷移送部と、それぞれ振り分けゲートを介して前記電荷移送部に接続された4つの電荷蓄積領域と、を備える。光受信機は、変調された光のレートの2倍以上のレートで光電変換部の電荷を順に4つの電荷蓄積領域に移送するよう前記振り分けゲートを制御する制御部を備え、これにより変調された光のサンプリングを行うよう構成されている。

Description

光受信機
 この発明は、光通信の分野に属し、変調された光を受信して復調する受信機に関する。
 非特許文献1には、可視光通信システムの基本的な規格が記載されている。可視光通信には、ベースバンド通信方式と副搬送波通信方式がある。ベースバンド通信方式は、情報を電気信号に変換した状態のまま直接通信する方式である。副搬送波通信方式は、情報を電気信号に変換した後、所定の副搬送波(サブキャリア)を変調して送受信する方式である。どちらの方式にもディジタル方式とアナログ方式とがある。
 非特許文献2には、可視光を搬送波として用いた単方向の通信システム(可視光IDシステム)の基本的な規格が記載されている。28.8kHzの副搬送波を変調する符号化方式として4PPMが使われ、SC-4PPMと呼ばれている。4PPMでは、一つのシンボルを4つのスロットに分け、どのスロットに副搬送波のパルス列が配置されるかによって、2ビットのコードを表す。すなわち、4つのスロットのうち、第1のスロットに副搬送波のパルス列が配置されると、00を表し、第2のスロットにパルス列が配置されると、01を表し、第3のスロットにパルス列が配置されると、10を表し、第4のスロットにパルス列が配置されると、11を表す。
 特許文献1には、家電製品の赤外線を用いたリモコンからの光を検出する信号処理回路が記載されている。その信号処理回路は、受光素子の出力を増幅し、バンドパスフィルタで搬送波の周波数帯域をフィルタリングした後、検波器で検波し、積分器で積分し、ヒステリシス特性を有する比較器で波形整形することにより復調を行う。
 また、特許文献2には、光源からパルス状に光を照射し、視野からフォトダイオードに入射した光により発生した電荷を、ゲートを介してフォトダイオードに接続された複数のコンデンサに光の照射に同期して振り分けることが記載されている。この複数のコンデンサに蓄積された電荷について信号処理を行って、発光源からのパルス状の光照射に対応する出力波形を取り出して、その位相差から被写体までの距離を測定することが記載されている。
 特許文献3には、埋め込み型フォトダイオードの構造および製造方法が記載されている。半導体基板に形成したフォトダイオードのN型領域6(第1図(e))の上にP型領域13を形成して、N型フォトダイオード領域6を埋め込む(第1図(f))。フォトダイオード領域6で生成された電荷は、転送ゲートとなるシリコン電極の作用により電荷転送部となるN型領域7に転送される。
 非特許文献3には、複数のLEDからパラレルに変調光を送り、受信機ではレンズを介して2次元に受光素子を配置した受光面に光源の像を形成し、複数の画像位置で受信した光をパラレルに復調処理する、パラレル光通信方式が記載されている。
 非特許文献4には、ビーコンのIDを長距離から認識することができるCMOSイメージセンサを用いたIDカメラシステムが記載されている。このカメラシステムにはシーンモードとIDモードの2つの動作モードがある。IDモードでは、画像の全画素(192 x 124)すべてについて12kHzのサンプリング処理を行ってID画像を作成する。
 非特許文献4の方式で対応することができる周波数は、12kHzであり、一般的なリモコンで使われている変調光の周波数40kHzに対応することができない。
特開平8-237207号公報 米国特許6,239,456 特開平2-304974号公報 可視光通信システム、JEITA CP-1221、(社)電子情報技術産業協会、2007年3月発行 可視光IDシステム、JEITA CP-1222、(社)電子情報技術産業協会、2007年6月発行 "Analysis of LED-Allocation for High-Speed Parallel Wireless Optical Communication System", Satoshi Miyauchi, Radio and Wireless Symposium, 2006 IEEE, January 17-19, 2006, pp 191-194 "ID CAM: a smart camera for scene capturing and ID recognition Mixed and augmented Reality", Nobuyuki Matsushita, 2003, Proceedings, The Second IEEE and ACM International Symposium, October 7-10, 2003, pp 227-236
 受光素子を2次元に配置し、十分な画素数を備えながら、変調光の光源(変調された光)を的確に検出することができる受信機が必要とされている。
 この発明の一形態では、変調された光を出す光源からの光を受け取る光受信機を提供する。この光受信機は、複数の画素ユニットを行列状に配列した受光部と、外界からの光を受け、受光部に結像させるレンズと、を備える。画素ユニットのそれぞれは、櫛型の光電変換領域を有し、電荷転送部に接続されている光電変換部と、この光電変換部に接続され、光電変換部で生成された電荷を転送するための電荷転送部と、それぞれ振り分けゲートを介して電荷転送部に接続され、電荷を蓄積する3つ以上の電荷蓄積領域と、を備える。
 この光受信機は、変調された光の1周期の期間に、光電変換部の電荷を順に3つ以上の電荷蓄積部に転送するように振り分けゲートを制御する制御部を備え、これにより変調された光のサンプリングを行うよう構成されている。
 この発明の一形態によると、受信機の受光部において、電荷が生成されると、櫛型で電荷転送部よりも幅の狭い光電変換領域から、ポテンシャル(電位)の低い電荷転送部に向かって電荷が速やかに移動する。かつ、電荷が生成されると、3つ以上の電荷蓄積部への電荷の振り分けという形でサンプリングが行われる。したがって、高い周波数の変調光に対応することができる。
 この発明の一形態では、受信機の受光部において、画素ユニットのそれぞれは、複数の微細な光電変換領域を有し、電荷転送部に接続されている光電変換部を備える。
 この発明の一形態によると、受信機の受光部において、電荷が生成されると微細な光電変換領域からポテンシャル(電位)の低い電荷転送部に向かって電荷が速やかに移動する。かつ、3つ以上の電荷蓄積部への電荷の振り分けという形でサンプリングが行われる。したがって、高い周波数の変調光に対応することができる。
 この発明の一形態では、受信機の受光部において、画素ユニットのそれぞれは、光電変換部と、振り分けゲートを介して光電変換部に接続され、電荷を蓄積する3つ以上の電荷蓄積部と、を備える。
 この光受信機は、さらに、変調された光の1周期の期間に、光電変換部の電荷を順に3つ以上の電荷蓄積部に転送するように振分けゲートを制御する制御部と、複数のサイクルにわたって電荷蓄積部に蓄積された電荷を読み出し、画素ユニットごとに蓄積電荷の差分をとる差分回路と、を備え、その差分から変調された光のサンプリング値を求める。
 この発明の一形態によると、画素ユニットごとに蓄積された電荷の差分から変調光のサンプリング値を求めるので、変調無しの光(サンプリング値ゼロ)を排除して、変調強度(サンプリング値)に応じた変調光の検出感度を高めることができる。
 この発明の一形態では、複数のサイクルは、変調光に含まれるシンボルのパルス幅の1/4の周期に相当し、一つのサイクルは、このシンボルに含まれる副搬送波パルスの一周期に対応するよう構成されている。
この発明の一実施例の光受信機の全体的な構成を示すブロック図。 受光素子の配列の一例を示す図。 従来技術の受光素子のレイアウトを示す図。 図3の等価回路を示す図。 図3の受光素子におけるポテンシャルと電荷の動きを示す図。 この発明の一実施例の画素ユニットの構造を示す図。 この発明の他の一実施例の画素ユニットの構造を示す図。 図7の画素ユニットの等価回路を示す図。 画素ユニットにおける露光のタイミングを示す図。 入射シンボルを検出するサンプリングのタイミングを示す図。 図10のタイミングをマクロ的に示すタイミング図。 位相検出の原理を示す図。 シンボルのコーディングと副搬送波の関係を示す図。 リーダ検索のプロセスを示す流れ図。 ビット読み取りのプロセスを示す流れ図。 MOSコンデンサを用いた実施例の構造を示す図。 図16の構造の断面を示す図。
符号の説明
12   受光部
14a、14b、14c、14d   サンプリング・コンデンサ
25   画素ユニット
25a、25b、25c、25d   光電変換部(領域)
31   電荷転送部
27a、27b、27c、27d   電荷蓄積部
 次に図面を参照して、この発明の実施の形態を説明する。図1は、この発明の一実施例の光受信機の機能ブロック図である。光受信機10は、レンズ19によって形成される画像を受け取る受光部12を有する。受光部12は、複数の画素ユニットを2次元に配列した構造を有する。各画素ユニットは、後に詳述するように、光電変換部で発生する電荷を蓄積し、所定の時間間隔で出力して、サンプリング・コンデンサ14a、14b、14c、14dにホールドする。
 差分回路16は、サンプリング・コンデンサの電圧のうち大きいものと小さいものとの差分をとる。常時光りを出す光源からの光では、その差分としてのサンプル値がゼロになる。これに対し、強度変調された光を出す光源からの光では、差分としてのサンプル値が光パルスの強さを表す。パルス判別器18は、この基準にしたがって、光パルスの存在を判別し、順次検出した光パルスに対応する電気パルス信号を復号器20に送る。タイミング制御部22は、受信対象となる強度変調光のパルス周波数に適合した速度で、画素ユニットの4つの電荷蓄積領域から電荷を読み出すよう、読み出しタイミングを制御する。
 受光部12のすべての画素ユニットについてパルス判別の処理を行うことにより、画像の中に強度変調した光を出す一つまたは複数の光源を検出することができる。パルス判別器18の働きについては、後に詳しく説明する。
 図1において、計算機11から提供された信号が、符号器13で符号化され、変調器15で変調される。投光器17は、その変調された信号列に応じた光パルス(変調光)を出力する。投光器17は、高レート(繰り返し周波数)の光パルスを放射することのできる発光ダイオード(LED)またはレーザダイオードであってよい。また、投光器17は、高レートの赤外線パルスを放射する発光ダイオードであってもよい。
 図2は、受光部12における画素ユニット25の一般的な配列を示す。図3は、特許文献2に記載されている画素ユニットのレイアウトを推測して作成した図である。それぞれの画素ユニット25は、光を電荷に変える光電変換部25aを備える。A-A’断面図に示されるように光電変換部25aは、半導体基板のP型領域(Pウェル)にN型領域を埋め込んで形成された埋め込みフォトダイオードである。光電変換部25aで生成される電荷は、振り分けゲートTx1およびTx2によって振り分けられて、第1の電荷蓄積領域27aおよび第2の電荷蓄積領域27bに異なるタイミングで蓄積される。第1および第2の電荷蓄積領域27a、27bは、P型領域に埋め込まれたN型領域で形成されている。
 図2の差分回路16は、垂直操作回路23および水平走査回路27による制御にしたがって、各画素の第1および第2の電荷蓄積領域から電荷を読み出す。差分回路16は、その読みだした出力値の差分をとり、差分画像出力として出力する。電荷蓄積領域27a、27bは、リセットゲートRa、Rbを介してリセット電極29a、29bに接続される。光電変換部25aで生成される電荷を検出するサイクルの最初に、リセットゲートRa、Rbが開かれ、リセット電極に加えられる電圧Vによって電荷蓄積領域27a、27bが充電される。これをリセットといい、光電変換部25aで生成される電子は、充電状態の電荷蓄積領域27a、27bの電荷を減らす方向に作用する。
 図3は、たとえば特許文献2に示されるような受光部の画素ユニット25の構造を模型的に示す。画素ユニット25の光電変換部25aは、フォトダイオードであり、振り分けゲートTx1を介して電荷蓄積領域27aに、振り分けゲートTx2を介して電荷蓄積領域27bに接続されている。電荷蓄積領域27a、27bは、リセットゲートRa、Rbを介してリセット電極29a、29bに接続される。図3の下部に示す断面図は、光電変換部25aが半導体基板のP型井戸にN型領域を埋め込んで形成されていることを示している。N型領域の縁が基板表面にせり上がって描かれているのは、特許文献3の第1図(f)、第2図(e)、第3図(a)に描かれているN型領域6の縁部と同様の構造を表すためであり、公知の構造を表している。ゲートTx1に電位が加えられることにより、電荷が光電変換領域25aから電荷蓄積領域27aのN+領域に移動する。
 図3の下部は、画素ユニット25のA-A’断面を示す。P 型の井戸(P-well)にN型の層25aが埋め込まれ、その上に形成されているP+領域との間のPN接合によりフォトダイオードが形成されている。MOS構造の転送ゲートTx1の隣に電荷蓄積領域27aが形成されている。電荷蓄積領域27aは、P型の井戸領域61に埋め込まれたN領域で構成されていている。N+領域29aはリセット電極を構成し、電圧Vに接続されている。N+領域27aとN+領域29aとは、MOS構造のゲートR1に電圧を加えることにより電気的に接続される。画素ユニット25は、光電変換領域25aを除き遮光膜51で全体を覆われている。
 図4は、図3の画素ユニットの回路図である。図5は、この回路におけるポテンシャル井戸の変化を表している。受光領域25aすなわち光電変換部25aは、光電変換作用を持つダイオードとコンデンサC0からなる。図5を参照すると、(A)は、回路になんらの操作を加えていない状態でのポテンシャル井戸を示す。(B)において、振り分けゲートTx1、Tx2およびリセットゲートR1、R2を開いて(各トランジスタをオンさせて)、光電変換部および電荷蓄積領域の電荷を移動させる。(C)は1回目の露光の第1期間中に光電変換部25aで電荷が生成されている状態を示す。(D)は振り分けゲートTx1を開いて光電変換部25aに溜まった電荷を電荷蓄積領域27a(コンデンサC1)に転送する様子を示す。
 次に、(E)は、1回目の露光の第2期間中に光電変換部25aで電荷が生成される様子を示す。(F)は、振り分けゲートTx2を開いて電荷を電荷蓄積領域C2に転送する様子を示す。(G)は、2回目の露光の第1期間が始まった状態を示す。(H)は、(G)で光電変換部に溜まった電荷を電荷蓄積領域27a(コンデンサC1)に転送する様子を示す。このようにして、露光サイクルをn回繰り返し、この間に電荷蓄積領域27a(コンデンサC1)および電荷蓄積領域27b(コンデンサC2)に蓄積された電荷が出力ゲートTを介して読み出される。L1およびL2のFETトランジスタは、レベルシフト用のトランジスタで、出力ゲートTが開かれた際、コンデンサC1またはC2の電位に応じた電流を下流のサンプリング・コンデンサ(差分回路)に送る作用をする。
 図6は、この発明の一実施例の光受信機10の受光部12で使われる画素ユニット25のレイアウト図である。この実施例では、一つの画素の光電変換部は櫛型の形状をしている。櫛型の形状にすることにより、光電変換部25aの幅が電荷転送部31の幅より狭くなるため電荷転送部31のポテンシャル(電位)が低くなる。その結果、光電変換換部25aからポテンシャルの低い電荷転送部に向かって電荷を速やかに移動させることができる。図6では櫛型の歯の形状が長方形であるが、歯の形状を、電荷転送部31から離れるにつれて幅が狭くなる台形や三角形、あるいは半楕円等にしても良い。要は先細りの形状であれば基本的にどんな形状でもよい。こうすることにより、光電変換部25aの各点における最小幅が電荷転送部31に向かって広くなるため、電荷転送部31に向かってポテンシャルの傾斜が形成され、電荷を速やかに移動させることができる。
 図7は、この発明の他の一実施例の光受信機10の受光部12で使われる画素ユニット25のレイアウト図である。この実施例では、一つの画素の光電変換部は、4つの微細な光電変換領域25a、25b、25c、25dに分割されている。微細な光電変換領域25a、25b、25c、25dで生成された電荷がよりポテンシャルの低い電荷転送部31に移動する。4つの微細な光電変換領域25a、25b、25c、25dおよび電荷転送領域31は、P型領域(P-well)に埋め込まれた一体的なN型領域で形成することができる。この一体的なN型領域の上方に遮光膜(遮光マスク)を設けて微細な光電変換領域25a、25b、25c、25dだけに光が入るようにする。
 後述するタイミングで振り分けゲートTx1、Tx2、Tx3、Tx4の一つが開かれると、電荷転送領域31の電荷が、開かれたゲートに対応する電荷蓄積領域27a、27b、27c、27dの一つに流れる。画素ユニット25は、図3の構造と同様に、光電変換領域である微細な光電変換領域25a、25b、25c、25dを除いて遮光膜(図示しない)で覆われている。
 画素ユニット25には、電荷蓄積領域27a、27b、27c、27dに隣接してリセット電極29a、29b、29c、29dが設けられている。リセットゲートR1、R2、R3、R4が開かれると、リセット電極29a、29b、29c、29dに加えられている電圧Vにより電荷蓄積領域27a、27b、27c、27dが充電されてリセット状態になる。後に示すタイミング図から明らかなように、リセット処理は、全画素ユニットの全電荷蓄積領域に対して同時に行われる。
 図8は、図7の画素ユニット25の等価回路である。この回路では、微細な光電変換領域25a、25b、25c、25dがフォトダイオードとコンデンサC0a、C0b、C0c、C0dの対で示されている。電荷転送部31は、コンデンサC3で示されている。振り分けゲートTx1、Tx2、Tx3、Tx4にそれぞれ隣接する電荷蓄積領域27a、27b、27c、27dが、コンデンサC1、C2、C3、C4で表されている。これらのコンデンサは、リセットゲートR1、R2、R3、R4のFETトランジスタがオンにされることにより、電圧Vで充電される。この動作は、リセットと呼ばれ、フォトダイオードで生成される電荷を蓄積する前の初期状態を作るためのものである。
 FETトランジスタL1、L2、L3、L4は、レベルシフト・トランジスタで、読み出しゲートT1、T2、T3、T4が開かれるとき、コンデンサC1、C2、C3、C4にホールドされている電荷に応じた電流をサンプリング・コンデンサ14a、14b、14c、14dに送り出す作用をする。
 次に図9を参照して、図7の画素ユニット25の動作タイミングを説明する。入射光の波形は、可視光ID送信機、赤外線リモコン、ビーコンなどから出された変調光のパルス波形を示す。この例では、リモコンからの光は、副搬送波を用いて送信されている。図9の入射光の波形は、副搬送波のパルス波形を示す。この実施例では、副搬送波の1周期につき4回露光を行う。
 まず、リモコン光のシンボルの直前で、画素ユニット25をリセットする。リセットゲートを開くと同時に4つの振り分けゲートTx1、Tx2、Tx3、Tx4を開いて電荷移送領域31および電荷蓄積領域27a、27b、27c、27dをリセットする(充電する)。次いで、第1の露光期間では、振り分けゲートTx1を開いて、4つの微細な光電変換領域25a、25b、25c、25dで生成される電荷を、電荷転送部31を介して電荷蓄積領域27a(コンデンサC1)に蓄える。電荷転送部31から受け取る電荷は、コンデンサC1の電圧を下げる方向に作用する。
 続いて第2露光期間では、振り分けゲートTx2を開き、4つの微小変換部25a、25b、25c、25dで生成される電荷を、電荷転送部31を介して電荷蓄積領域27b(コンデンサC2)に蓄積する。次に、第3露光期間では、振り分けゲートTx3を開き、4つの微細な光電変換領域25a、25b、25c、25dで生成される電荷を、電荷転送部31を介して電荷蓄積領域27c(コンデンサC3)に蓄積する。さらに、第4露光期間では、振り分けゲートTx4を開き、4つの微小変換部25a、25b、25c、25dで生成される電荷を、電荷転送部31を介して電荷蓄積領域27d(コンデンサC4)に蓄積する。
 こうして一つの周期を終えると、次の周期に入り、同様の露光を繰り返す。コンデンサC1、C2、C3、C4には、m周期を終了するまで、各周期の第1、第2、第3、第4の露光で受け取る電荷が蓄積されていく。m周期が終了すると、転送ゲートT1、T2、T3、T4が開かれる。レベルシフト・トランジスタL1,L2、L3、L4のゲートにはコンデンサC1、C2、C3、C4の電圧が加えられているので、それぞれのコンデンサの電圧レベルに応じた電流がサンプリング・コンデンサ14a、14b、14c、14dに流れる。
 図10は、21個の副搬送波パルスで変調光の一つのシンボルのパルスが表示される例におけるサンプリングのタイミング図である。図11は、複数のシンボルにわたってのサンプリングのタイミングを表す。言い換えると、図10は、図11の一つのシンボルのパルスを構成する21個の副搬送波パルスのレベルでのサンプリングのタイミングを表す。
 図10の例では、副搬送波はパルスの5周期ごとに、蓄積サイクルと読み出しサイクルを繰り返す。この発明の手法では、蓄積サイクルにおいて電荷蓄積領域27a、27b、27c、27dに電荷を蓄積した後、読み出しサイクルにおいて出力ゲートを開いてサンプリング・コンデンサ14a、14b、14c、14dに出力し、さらに差分回路16およびパルス判別器18でサンプリング値を求める。
 一実施例では、図12に例示されるように、サンプリング・コンデンサ14a、14b、14c、14dから読み出された値をC(θ0)、C(θ1)、C(θ2)、C(θ3)とすると、次に示す数式1に従ってサンプリング値Rを求める。数式1には、変調光の位相θを求める式も含まれている。なお、図12には正弦波が示されているが、パルス波についてもほぼ同様に求められる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
 図4では、電荷蓄積領域が27aから27dまで4つあり、4つに振り分ける場合の例だが、電荷蓄積部は3つあるいは5つ以上でも良い。電荷蓄積部が3つの場合、数式1の代わりに数式2を利用する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
 図10では、作図上の制約の為、振り分けゲートではTx1だけを示してあるが、図9に示すタイミングにより、蓄積サイクルにおいては振り分けゲートTx1、Tx2、Tx3、Tx4は同じ回数開かれる。リセットゲートは、蓄積サイクルの始めに開かれる。
 図11は、リモコン信号の一例である。21個の副搬送波パルスで構成される主パルスの後に同じ幅のスペースが続くことで論理値ゼロを表す。主パルスの後に3倍の幅のスペースが続くことで論理値1を表す。図11では、第1シンボルが論理値ゼロを表し、第2シンボルが論理値1を表す。図1のパルス判別器18によりサンプリング値が決定され、図11の(D)に示すパルス列が復号器20に送られる。
 図13は、家電製品の赤外線光を用いたリモコンに使用される強度変調の仕様の一例を示す。図13(A)を参照すると、副搬送波として38KHzのパルスが用いられ、論理ゼロのシンボルは、21個の副搬送波パルス(560マイクロ秒)に同じ幅のスペースが続くことで表される。論理1のシンボルは、21個の副搬送波パルスにその3倍の幅のスペースが続くことにより表される。
 図13(B)を参照すると、シンボル列の前に、シンボル列の開始を示すリーダとして9ミリ秒の連続した副搬送波パルス列とこれに続く4.5ミリ秒のスペースが配置される。シンボル列は、低位アドレス(Address low)および高位アドレス(Address high)からなる機器の番号を示す16ビットを含んでいる。このアドレスにコマンドの8ビットが続き、さらにこのコマンドを反転させた8ビットが続く。この後に、シンボル列の終端を示すパルス列が配置され、さらに次のシンボル列との間にはトレーラとして空白区間が設けられる。
 図14は、この発明の手法を用いて図12に示すリモコン信号からリーダを検出する処理フローを示す。リーダは、図12(B)に示すように9ミリ秒のパルス列である。リーダを検出するため、タイミング制御器22は、リーダ期間の1/4の周期である2.25ミリ秒の周期で電荷蓄積を行うモードに入る(101)。図9に示すように、副搬送波の1周期は26.7マイクロ秒なので、2.25ミリ秒は、副搬送波の84.3周期に相当する。したがって、図9においてm=84として、電荷蓄積領域27a、27b、27c、27dへの電荷蓄積が行なわれる。蓄積された電荷がサンプリング・コンデンサ14a、14b、14c、14dに読み出された後、差分回路16の差分演算に基づいてパルス判別器18がサンプリング値を決める。この処理をリーダ期間の9ミリ秒の間に繰り返すことにより、パルス判別器18がリーダパルスを判別する。
 この処理を受光部12の全画面について実行する(103)。これにより、リモコン信号を発信している一つまたは複数の光源からのリーダを検出することができる。リーダを検出すると(105)、タイミング制御器22は、リーダに続く4.5ミリ秒のスペースを検出するため、その1/4の1.1ミリ秒の周期で電荷蓄積を行うモードに入る。1.1ミリ秒は、副搬送波の41.2周期に相当する。したがって、このモードでは、図9における電荷蓄積の周期数mをm=41として、上記のようなパルス判別を行う。このモードでは全画面について処理を行う必要はなく、リーダを検出した画素およびその周辺の数個ないし数十個の画素についての部分的な読み出しを行うことができる(109)。
 この部分読み出し処理によって光パルスが検出されなければ、4.5ミリ秒のスペースを検出したことになる。したがって、プロセスは、560マイクロ秒のシンボルパルスを検出するため、その1/4の期間の140マイクロ秒の電荷蓄積モードに入る(113)。このモードにおいても、リーダを検出した画素およびその周辺の画素に限定した部分読み出しを行う(115)。
 このモードにおいて光パルスが検出されると(117)、リーダ検出のプロセスは終了する。引き続き図15のビット読み取り処理に入る。ビット読み取り処理では、図11を参照して説明したシンボルの取り決めにしたがって、シンボルの論理値を判定する。ブロック131および133は、図14のブロック113および115と同一である。140マイクロ秒の電荷蓄積モードにおいて光パルスが検出されず、画素が暗い状態であると(135)、560マイクロ秒のスペースが検出されたことを意味するので、スペースのカウントnを1とする(137)。続いて、ブロック139および141で、140マイクロ秒の電荷蓄積を行い、スペースのカウントnを1だけインクリメントする(143)。画素が明るくなるまで、ステップ139から143を繰り返す。
 画素が明るくなり、すなわち光パルスが検出されたとき(145)、カウントnが3を超えていれば、スペースの幅がパルス幅の3倍あることを意味するので、論理値を1と判定する(149)。nが3を超えていなければ、図12(A)の符号化規則にしたがって、シンボルの論理値を0と判定する(151)。こうして、リモコン信号の復号が行われる。
 図16は、この発明の別の実施例を示す図である。図16では、図7と同一の構成要素には同一の参照番号を付してある。この実施例では、電荷蓄積部27a、27b、27c、27dがMOS型コンデンサで構成されている。図17に示すようにMOS型コンデンサは、電荷蓄積部を構成する半導体領域27aおよびその上方に絶縁膜を介して設けられた電極27Aとで構成される。
 以上にこの発明を具体的な実施例について説明したが、この発明はこれらの実施例に限定されるものではない。

Claims (4)

  1.  変調された光を出す光源からの光を受け取る、光受信機であって、
     複数の画素ユニットを行列状に配列した受光部と、
     外界からの光を受け、前記受光部に結像させるレンズと、を備え、
     前記画素ユニットのそれぞれは、
      櫛型の光電変換領域を有し、電荷転送部に接続されている光電変換部と、
      該光電変換部に接続され、該光電変換部で生成された電荷を転送するための電荷転送部と、
      それぞれ振り分けゲートを介して前記電荷転送部に接続され、電荷を蓄積する3つ以上の電荷蓄積部と、を備え、
     前記光受信機は、さらに、前記変調された光の1周期の期間に、前記光電変換部の電荷を順に前記3つ以上の電荷蓄積部に転送するように前記振分けゲートを制御する制御部を備え、これにより前記強度変調された光のサンプリングを行うよう構成されている、前記光受信機。
  2.  変調された光を出す光源からの光を受け取る、光受信機であって、
     複数の画素ユニットを行列状に配列した受光部と、
     外界からの光を受け、前記受光部に結像させるレンズと、を備え、
     前記画素ユニットのそれぞれは、
      複数の微細な光電変換領域を有し、電荷転送部に接続されている光電変換部と、
      前記光電変換部に接続され、該光電変換部で生成された電荷を転送するための電荷転送部と、
      それぞれ振り分けゲートを介して前記電荷転送部に接続され、電荷を蓄積する3つ以上の電荷蓄積部と、を備え、
     前記光受信機は、さらに、前記変調された光の1周期の期間に、前記光電変換部の電荷を順に前記3つ以上の電荷蓄積部に転送するように前記振分けゲートを制御する制御部を備え、これにより前記強度変調された光のサンプリングを行うように構成されている、前記光受信機。
  3.  変調された光を出す光源からの光を受け取る、光受信機であって、
     複数の画素ユニットを行列状に配列した受光部と、
     外界からの光を受け、前記受光部に結像させるレンズと、を備え、
     前記画素ユニットのそれぞれは、
      光電変換部と、
      振り分けゲートを介して前記光電変換部に接続され、電荷を蓄積する3つ以上の電荷蓄積部と、を備え、
     前記光受信機は、さらに、
     前記変調された光の1周期の期間に、前記光電変換部の電荷を順に前記3つ以上の電荷蓄積部に転送するように前記振分けゲートを制御する制御部と、
     複数のサイクルにわたって前記電荷蓄積部に蓄積された電荷を読み出し、前記画素ユニットごとに蓄積電荷の差分をとる差分回路と、
     を備え、該差分から前記変調された光のサンプリング値を求める、前記光受信機。
  4.  前記複数のサイクルは、前記光に含まれるシンボルのパルス幅の1/4の周期に相当し、一つのサイクルは、前記シンボルに含まれる副搬送波パルスの一周期に対応するよう構成されている、請求項3に記載の光受信機。
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