WO2009105902A1 - Interferenz-lichtmikroskop - Google Patents

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WO2009105902A1
WO2009105902A1 PCT/CH2008/000079 CH2008000079W WO2009105902A1 WO 2009105902 A1 WO2009105902 A1 WO 2009105902A1 CH 2008000079 W CH2008000079 W CH 2008000079W WO 2009105902 A1 WO2009105902 A1 WO 2009105902A1
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WO
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microscope
light
preparation
thin layer
layer
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PCT/CH2008/000079
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Inventor
Fredy F. Beerli
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Beerli Fredy F
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    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/0016—Technical microscopes, e.g. for inspection or measuring in industrial production processes
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
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    • G02B21/08—Condensers
    • G02B21/082—Condensers for incident illumination only
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/24—Base structure

Definitions

  • the present invention relates to light microscopes for dynamic information acquisition from liquid "thin layers" in the nano range of 1000 to 1 nanometer, in the liquid state and in the phase transitions Flussig gas and Flussig-Fest.
  • the field of application includes: chemistry, biological membrane research, physics of aggregate states and force effects, medicine, atmospheric research, energy behavioral research, as well as the production and production control of liquid products.
  • Information in the nanoscale from 1000 to 1 nanometer in the solid state is visible with electron microscopes, under vacuum, by scanning with an electron beam, or with scanning tunneling microscopes for solid state, by mechanical scanning or by X-ray methods.
  • the subject of the present invention is an interference light microscope according to claim 1. Special embodiments are given in the dependent claims.
  • the light microscope according to the invention comprises a microscope cup, a lens body, a light source and a preparation plane, and it is characterized by an arrangement of the light source and the preparation plane such that the light incident beam and the light emission beam have the same angle amount ALPHA relative to the vertical of the preparation plane and the light-emitting beam is aligned exactly with the direction of the optical object beam of the microscope.
  • the advantage of the light microscope according to the invention is that with the technical device, the hitherto invisible dynamic behavior of ele- mentarteilchen (molecules, atoms, electrons, etc.) in the liquid state in the nano-range, dynamically made visible and recorded as information and can be processed. This will improve the level of scientific knowledge, which will be reflected in the improvement of products for the life, health and well-being of humans, plants and animals, and the relationship with natural phenomena may be enriched with new knowledge and, in particular, the understanding of the energy sector. Behavior and the construction of matter are required.
  • the light microscope according to the invention for the fulfillment of interference conditions consists of known light microscopes, for example stereo microscopes, monocular or binocular universal microscopes, inverted microscopes, etc.
  • the light incident beam and the light emission beam, relative to the vertical of the specimen plane, have the same angular amount ALPHA of the micro spectrum MS and the light emission beam is to be aligned exactly in the direction of the optical lens beam of the microscope ,
  • FIG. 1 shows a mini spectrum of the interference conditions
  • FIG. 2 shows the interference conditions for wedge-shaped microspheres
  • Figure 3 is a stereomicroscope with tilted microscope 7;
  • FIG. 4 shows a cross section through an inverted microscope converted according to the invention.
  • FIG. 5 shows a plan view of an inverse microscope retrofitted according to the invention
  • Figure 7 shows an alternative reivkorper with Lichtbowungsnuten
  • FIG. 8 shows a further reivkorper with Lichtschreibungsnuten
  • FIG. 9 shows a light guide plate for a stereomicroscope
  • FIG. 10 shows a light guide plate for an inverted microscope
  • FIG. 11 shows a preparation plate for preparing thin layers in plan view
  • FIG. 12 shows a preparation plate for the preparation of thin layers in cross section
  • FIG. 14 shows an embodiment of a "thin layer"
  • FIG. 15 shows an embodiment of a very thin layer, a black layer, and FIG. 16 shows a "thin layer" which has been broken by natural collapse.
  • Lens beam 35 swiveling coating board, sharp-edged blade
  • Microscope 38 oblique bearing surface
  • Separating gap 41 screws upper support surface 42 recess for preparation carrier lower support surface 43 preparation supports lower oblique support bore flattened swivel 45 layer carrier
  • interference conditions are basically fulfilled within a large angle spectrum, as shown in FIG.
  • a micro-spectrum MS is to be aimed for, because with the interference a loss of quality due to microscopic image distortion must be accepted.
  • the benefits of interference outweigh this small disadvantage.
  • the light incidence beam 1 and the light emission beam 2, relative to the vertical 3 of the preparation plane 4, have the same angular amount ALPHA of the microstructure. Spectrum MS and the light emission beam is aligned exactly in the direction of the optical lens beam 5 of the microscope 6.
  • the light microscope 6 is characterized by a microscope column 7, a lens body 26, a light source and a preparation plane 4, wherein it has an arrangement of the light source and the preparation plane 4 such that the light incidence beam 1 and the light emission beam 2 relate to the verticals 3 of the plane of preparation 4 have the same angular amount ALPHA and that the light-striking beam 2 is aligned exactly with the direction of the optical object beam 5 of the microscope 6.
  • the arrangement is achieved in that the microscope column 7 can be pivoted in by the angle ALPHA, that it is equipped with a separating gap 9, which is formed by an upper support surface 10 and a lower support surface 11 or a lower inclined support surface 12 , and wherein the pivoted microscope column 7 is clamped.
  • the upper support surface 10 and the lower support surface 11, 12 are opened or closed by a rotary joint 13 with a rotation axis 14, wherein the rotation axis 14 of the rotary joint 13 is formed as an eccentric axis 15.
  • the support surface 12 is chamfered on the half surface by the angle ALPHA, such that either one or the other surface is involved in the separation gap 9, so that the microscope axis is either perpendicular or at the simple angle ALPHA directed to drug.
  • the Lichtbowung 16 may have a Fuhrungsnut 18, wherein the Lichtbowung 16 is arranged at the simple angle ALPHA with respect to the vertical 3 of the Praparatebe- ne 4 on the microscope 6.
  • the light microscope 6 may be a stereomicroscope, in which the light incident beam 1 is formed as a double light incident beam Ia, Ib.
  • the light microscope 6 can also have a light guide plate 17 with two guide grooves 18, 19 for receiving two cold light glass fiber cables as light sources 20, 21, such that the incident light beams Ia, Ib of the light sources 20, 21 point to a central point of the light source Preparation are aligned.
  • the light microscope may be a universal revolver microscope, and the light guide grooves 18, 19 may be disposed directly in the lens body 26.
  • the preparation plane 4 may be part of a wedge-shaped preparation abutment 26, the preparation abutment 26 being such that the light incidence beam 1 and the light emission beam 2 have the same angular amount ALPHA with respect to the vertical 3 of the preparation plane 4 and that the light emission beam 2 is exactly aligned with the direction of the optical object beam 5 of the microscope 6.
  • the entire microscope 6 can be swung around on a work surface such that a preparation placed on the wedge-shaped preparation pad 32 resp. an applied preparation carrier 34 is pivotable and can be aligned in the horizontal.
  • a lighting holder 31, the wedge-shaped preparation support 32, a cross slide 33 for the displacement of the prepraded carrier 34 and a pivotable coating plate 35 on a base plate 30 are combined.
  • the light microscope 6 of the present invention can be used for viewing a thin layer, the "thin layer” as a coating preparation on a flat, thin, horizontally arranged plate, respectively.
  • a layer carrier 45 is formed, the resp. containing at least one hole 46, wherein the "thin layer” is held in the floating state within the hole 46 with natural adhesion forces, wherein the edge of the hole carrying the "thin layer” with the natural properties of Praparatmannmaschine a "thin layer” as a preparation
  • the conversion consists, for example, in the fact that the microscope coping 7 is pivoted together with the technical, external light guide 8 by the light deflection angle ALPHA, such that the light failure beam 2 projects exactly onto the objective beam 5 (FIG. 1), and in such a way that the light incident beam 1 in turn is aligned at exactly the simple angle ALPHA on the preparation plane 4.
  • the Mikroskopsaule 7 For pivoting the Mikroskopsaule 7 this is equipped with a separating gap 9, which is clamped with an upper support surface 10 optionally with a lower support surface 11 or with a lower inclined support surface 12, with the angle ALPHA.
  • the split surfaces are opened or closed by a hinge 13.
  • the axis of rotation 14 of the rotary joint 13 is formed as an eccentric axis 15, which opens by rotation, the gap surfaces 10 optionally with the gap surface 11 or 12 or closes with fixed voltage.
  • the positions are precisely fixed and the microscope can be used in two positions.
  • the device for the Lichtbowung 16 is pivoted by the angle of incidence ALPHA.
  • the light incident beam 1 is formed as a double light beam Ia and Ib (see FIG. 9) because this microscope aligns a double objective beam 5 onto the specimen.
  • This device consists of a light guide plate 17 according to FIG. 9, which has two guide grooves 18 and 19 for receiving two cold light optical fiber cables 20 and 21 (see FIG. 3).
  • the incident light beams of the light sources 20 and 21 are aligned with a central point of the preparation 4.
  • the Lichtbowungsplatte 17 ACCORDANCE FIG. 9 is fixed on both sides with a respective mounting flange 22 and 23 (see FIG. 3) on the microscope body 24 adjustable with screws 25.
  • the light source is made, for example
  • Fiber optic light cables 20 and 21 which transmit the light to the microscope, with reduced heat, from a separate commercially available light source.
  • Exemplary embodiment II for an inverted microscope for an inverted microscope.
  • Light drop angle ALPHA 2 with respect to the vertical 3 of the wedge-shaped preparation abutments 32, have the same angle amount ALPHA and the light-loss beam ALPHA 2 is aligned in the vertical justification of the optical objective beam 5 of the microscope.
  • the measures for conversion and for the fulfillment of interference conditions on a base plate 30 are combined and manufactured precisely independent of the microscope.
  • the object beam 5 is not swung out according to FIG. 2, but the preparation carrier 34 is placed on the wedge-shaped preparation abutments 32.
  • the entire microscope is swiveled on the worktable top. 4 and 5 is on a base plate 30, a lighting holder 31, a wedge-shaped specimen support 32 with a cross slide 33 for the displacement of the specimen holder 34 and a pivotable coating plate 35 combined and manufactured with great precision.
  • the illumination holder 31 according to FIGS. 4 and 5 has an oblique surface 38 with double light incidence angle ALPHA for receiving a light guide plate 17, which is formed with a guide groove 18, which is provided with a simple vertical objective beam 5 of the microscope and with a simple vertical Lichtaus ⁇ fall beam 2 meets the interference conditions.
  • the illumination holder 31 has a recess 42 (see FIGS. 4 and 5) for the movement space of the preparation carrier 34.
  • the wedge-shaped specimen plate 32 has an oblique surface 32a for supporting a standard specimen holder 34, which in turn accommodates the thin-layer layer carrier 45 (see FIG. 12).
  • the wedge-shaped preparation support 32 also serves to receive a known cross slide 33 for displacement of the preparation carrier 34.
  • the wedge-shaped preparation plate 32 also serves to receive a pivotable sharp-edged blade 35 which is attached to a pivot arm 49 and is rotatably mounted in a bore 52.
  • the pivot arm 49 carries a pivoting head 50, in which an axle 51 interchangeably engages in the bore 52.
  • the Lichtbowung 16 can be formed in variants ( Figures 9 and 10).
  • the Lichtbowungsnuten 18 and 19 are provided directly on the lighting holder 31.
  • FIG. 9 intended for stereomicroscopes, shows an exchangeable light guide plate 39, with two Fuhrungsnuten 18 and 19 for two cold light fiber optic cable 20 and 21 with a common Lichtquel ⁇ le. Because two lens beams are aligned with the specimen in the stereomicroscope, the guide grooves 18 + 19 are also aligned with the specimen at the same angle in two beams.
  • FIG. 10 shows a replaceable guide plate 39 for an inverted microscope, with a central guide groove 18 which is aligned with the center of the specimen.
  • the Fuhrungsplatten 39 are interchangeable, because these different requirements can be adjusted.
  • Exemplary embodiment III shows that universal microscopes, because of the unfavorable space conditions, require special measures in the direction of light.
  • the guide grooves 18 and 19 are arranged directly in the objective body in a miniature device for the light guide.
  • these guide grooves 18 and 19 are at a double angle ALPHA to the lens axis 27th
  • Fig. 6 shows a Fuhrungsnut 18 in a removable lens 26 for a simple Lichtschreibung 16, under double ALPHA angle.
  • Fig. 7 shows two Fuhrungsnuten 18 and 19 in a removable lens 26 for a double Lichtschreibung 16, under double angle ALPHA and parallel to the lens axis 27th
  • Fig. 8 shows two guide grooves 18 and 19 in a dual objective light guide 16 16, at double angle ALPHA and at an angle BETA, aligned with the center of the lens axis.
  • the technical preparation for the fulfillment of interference conditions on the preparation, according to FIGS. 11 and 12, is that a liquid droplet is converted into a very thin, liquid membrane layer 47.
  • the membrane layer 47 must have a layer thickness of less than one micron. Due to the interference of the white light, the familiar "colors of thin layers" appear in this "thin layer” 47. For example, these colors appear in nature with soap bubbles on a spherical surface.
  • the purpose of the device according to the invention is to arrange such "thin layers" on a flat plate, with a flat surface, in the form of a microscope head.
  • the "Thin Layer” 47 has to meet scientific requirements.
  • the preparation for the preparation according to FIGS. 11 and 12 consists of a standardized preparation carrier 34 which receives a "thin layer” carrier 45 which is formed with a sharp-edged hole 46 in which a "thin layer” is formed.
  • the "thin layer” 47 borders on both sides of the medium “air.” In order to meet the interference conditions, the "thin layer” 47 has to be exactly horizontal In order to distinguish between "top” and “bottom”, the layer 47 is tilted very slightly, which is achieved by aligning the entire microscope with the flat surface on the work table in a slightly inclined manner.
  • a sharp-edged blade 35 with a pivoting arm 49 (see Fig. 5) is coated over the layer support 45 and the hole 46 with little force.
  • This is known in practice as a stroke preparation.
  • the preparation liquid is transferred from the outside to the layer carrier 45 in finely dosed form. Due to the natural evaporation of the liquid, the "thin layer” 47 thins by at least fifty times from about one thousand nano-meters to about twenty nano-meters and less.
  • the preparation carrier 34 has a bore 44 for the transmitted light from below.
  • FIG. 13 shows a "thick layer", with a lower cambered boundary surface 56. This layer does not fulfill the interference conditions.
  • a "thin layer” 47 is shown, with two parallel interfaces. This met the interference conditions when the layer ceiling is thinner than a micron.
  • a "black layer” 58 is shown. This layer satisfies the interference conditions, but is thinned by thinning so that no light is reflected. Because this is no light re ⁇ inflected black.
  • Fig. 16 shows the collapse of a "thinning
  • the "thin layer” appears during a layer dilution, in changing colors, in about ten orders, and then in the colors white and gray, multilayered in up to ten orders, the last order being the layer appears black, the layer appears black because no light is reflected.
  • the black layer figurations of individual white-gray dots can be identified.
  • the black layer is formed by black holes, which enlarge and multiply (hole phase).
  • misty small white dots can be observed, eg Brownian movement export.
  • the dilution of the layer from 1000 nanometers to one nanometer, results from the natural evaporation of the liquid (phase transition from liquid to gaseous). This dynamic information is the
  • Movement information is based on attraction or repulsion of individual particles and contraction and expansion in group behavior.
  • the light microscope according to the invention is used in chemistry, in particular in interfacial and colloid chemistry, in surfactant chemistry and in biological molecular and cell research, in the physics of the aggregate states (solid, liquid, gaseous) and in the force effects, as well as in medicine, atmospheric and weather research, cosmetics etc.
  • the interference light microscope is also used in product research for chemical and medical products as well as in process engineering and product control, etc.
  • the Coulomb's law is used, in which the distance-dependent forces to expression come and the liquids energetic properties can be assigned.
  • energetic properties are the properties of charge behavior and field behavior, e.g. to understand electrons. Since no vacuum environment is required to fulfill the microscopic conditions, the information is collected under natural environmental conditions and can be recorded electronically.
  • the microscope can be used as a research tool for energy-behavioral research.

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Abstract

Beschrieben wird ein Lichtmikroskop (6) mit einer Mikroskopsäule (7), einem Objektivkörper (26), einer Lichtquelle und einer Präparatebene (4), welches dadurch gekennzeichnet ist, dass es eine Anordnung der Lichtquelle und der Präparatebene (4) aufweist derart dass der Lichteinfallstrahl (1) und der Lichtausfallstrahl (2) bezogen auf die Vertikale (3) der Präparatebene (4) den gleichen Winkelbetrag ALPHA haben und dass der Lichtausfallstrahl (2) genau auf die Richtung des optischen Objektstrahls (5) des Mikroskops (6) ausgerichtet ist. Ein solches Mikroskop eignet sich zur Betrachtung sehr dünner Schichten.

Description

Interferenz-Lichtmikroskop
Technisches Gebiet
Die vorliegende Erfindung betrifft Lichtmikroskope zur dynamischen Informationserfassung aus flussigen „Dünnen Schichten" im Nanobereich von 1000 bis 1 Na- nometer, im Flussigzustand und in den Phasenubergangen Flussig-Gas und Flussig-Fest. Das Anwendungsgebiet umfasst : Chemie, biologische Membranenforschung, Physik der Aggregatzustande und Kraftwirkungen, Medizin, Atmosphären-Forschung, Energie-Verhaltensforschung, sowie die Produktion und Produktionskontrolle von flussigen Erzeugnissen.
Stand der Technik
Informationen im Nanobereich von 1000 bis 1 Nanometer im Festzustand werden mit Elektronen- Mikroskopen, unter Vakuum, durch Abtasten mit einem E- lektronenstrahl, oder mit Raster-Tunnel-Mikroskopen für Festkörper, durch mechanisches Abtasten oder mit Rontgen- verfahren sichtbar abgebildet.
In diesen Einrichtungen muss das Präparat im Festzustand fixiert werden. Mit solchen Einrichtungen können somit keine dynamischen Informationen von Flüssigkeiten im Nanobereich, unter naturlichen Umweltbedingungen sichtbar gemacht und aufgezeichnet werden.
Es sind auch Lichtmikroskope bekannt, die in der inneren, optischen Lichtfuhrung die Bedingungen für Interferenz-Gangunterschiede erfüllen und in einem beschrankten Bereicht für das Messen von Abstanden im Nano- Bereich und im Festzustand verwendet werden. Darstellung der Erfindung
Gegenstand vorliegender Erfindung ist ein Interferenz-Lichtmikroskop gemass Anspruch 1. Spezielle Ausfuhrungsformen sind den abhangigen Ansprüchen zu entnehmen .
Das erfindungsgemasse Lichtmikroskop urafasst eine Mikroskopsaule, einen Objektivkörper, eine Licht- guelle und eine Praparatebene, und es zeichnet sich aus durch eine Anordnung der Lichtquelle und der Praparatebene derart dass der Lichteinfallstrahl und der Lichtausfallstrahl bezogen auf die Vertikale der Praparatebene den gleichen Winkelbetrag ALPHA haben und dass der Lichtausfallstrahl genau auf die Richtung des optischen Ob- jektstrahls des Mikroskops ausgerichtet ist.
Der Vorteil des erfindungsgemassen Lichtmikroskops besteht darin, dass mit der technischen Einrichtung, das bisher unsichtbare dynamische Verhalten von E- lementarteilchen (Molekülen, Atomen, Elektronen, usw. ) im flussigen Zustand im Nano-Bereich, dynamisch sichtbar gemacht werden und als Information erfasst und verarbeitet werden kann. Damit kann der wissenschaftliche Wissensstand verbessert werden, der sich niederschlagt in der Verbesserung von Produkten die dem Leben, der Gesundheit und dem Wohlergehen von Menschen, Pflanzen und Tieren dienen und die Beziehungen zum Naturgeschehen können mit neuen Erkenntnissen bereichert, und insbesondere das Verständnis zum Energie-Verhalten und über den Aufbau der Materie gefordert werden. Das erfindungsgemasse Lichtmikroskop zur Erfüllung von Interferenz-Bedingungen besteht aus bekannten Lichtmikroskopen, zum Beispiel Stereo-Mikroskopen, monokularen oder binokularen Universal-Mikroskopen, Inversen Mikroskopen, usw. die durch Umrüstung und eine zusatzli- che Einrichtung, die Anforderungen an die aussere Licht- fuhrung und an die Praparation erfüllen. Grundsatzlich werden Interferenz-Bedingungen innerhalb eines grossen Winkel-Spektrums erfüllt. Für die Interferenz am Mikroskop ist ein Mikro-Spektrum MS anzustreben, weil mit der Interferenz ein Qualitatsverlust infolge mikroskopischer Bildverzerrung in Kauf genommen werden muss. Die Vorteile der Interferenz überwiegen diesen kleinen Nachteil.
Zur Erfüllung von Interferenz-Bedingungen am Mikroskop, müssen folgende Anforderungen erfüllt werden: Der Lichteinfallstrahl und der Lichtausfallstrahl, bezogen auf die Vertikale der Präparatebene, haben den gleichen Winkelbetrag ALPHA des Mikrospektrums MS und der Lichtausfallstrahl ist genau in die Richtung des optischen Objektivstrahles des Mikroskops auszurichten.
Kurze Beschreibung der Zeichnungen
Weitere Vorteile und Anwendungen der Erfin- düng ergeben sich aus der nun folgenden Beschreibung anhand der Figuren. Dabei zeigen:
Figur 1 ein Minispektrum der Interferenz- Bedingungen;
Figur 2 die Interferenz-Bedingungen für Mik- roskope mit Keil-Unterlage;
Figur 3 ein Stereomikroskop mit schräg gestellter Mikroskopsaule 7;
Figur 4 einen Querschnitt durch ein erfin- dungsgemass umgerüstetes Inverses Mikroskop Figur 5 ein Draufsicht auf ein erfindungsge- mass umgerüstetes Inverses Mikroskop
Figur 6 einen Objektivkorper mit Lichtführungsnuten
Figur 7 einen alternativen Objektivkorper mit Lichtfuhrungsnuten
Figur 8 einen weiteren Objektivkorper mit Lichtfuhrungsnuten Figur 9 eine Lichtfuhrungsplatte für ein Stereomikroskop
Figur 10 eine Lichtfuhrungsplatte für ein In- verses Mikroskop Figur 11 einen Praparatteller zur Praparation dunner Schichten in Draufsicht
Figur 12 einen Praparatteller zur Praparation dunner Schichten im Querschnitt
Figur 13 eine Ausgestaltung einer erfindungs- gemass nicht verwendbaren dicken Schicht
Figur 14 eine Ausgestaltung einer "Dünnen Schicht"
Figur 15 eine Ausgestaltung einer sehr dünnen Schicht, einer schwarzen Schicht, und Figur 16 eine "Dünne Schicht", die durch natürlichen Kollaps abgebrochen ist.
Figurenlegende
Lichteinfallstrahl 31 Beleuchtungshalter
Lichtausfallstrahl 32 keilförmige Praparataufläge
Vertikale Stereo 33 Kreuzschlitten
Praparat-Ebene 34 Praparattrager
Objektivstrahl 35 schwenkbare Streichplatte, scharfkantige Klinge
Mikroskop 38 schräge Auflageflache
Mikroskopsaule 39 Fuhrungsplatte für Lichtleitkabel
Licht fuhrung 40 Fuhrungs-Ansatz
Trennspalt 41 Schrauben obere Auflageflache 42 Aussparung für Praparat- Trager untere Auflageflache 43 Praparataufläge untere, schräge Aufla44 Bohrung geflache Drehgelenk 45 Schicht-Trager
Drehachse 45 Loch
Excenterachse 47 "Dünne Schicht" Lichtfuhrung 48 scharfkantige Klinge Lichtfuhrungsplatte 49 Schwenkarm nach Figuren 9 und 10 Fuhrungsnut 50 Schwenkkopf Fuhrungsnut 51 Achse Kaltlicht- 52 Bohrung Glasfaserkabel Kaltlicht- 53 gegenüberliegende Position Glasfaserkabel Befestigungsflansch 54 Hebelarm Befestigungsflansch 55 Bohrung im Praparattrager Mikroskopkorper 56 bombierte Grenzflache Befestigungsschrauben 57 parallele Grenzflachen Objektivkorper 58 dünne, schwarze Schicht Objektivachse Grundplatte Wege zur Ausfuhrung der Erfindung
Wie bereits oben ausgeführt wurde, werden In- terferenz-Bedingungen grundsatzlich innerhalb eines grossen Winkel-Spektrums erfüllt, wie in Fig. 1 dargestellt. Für die Interferenz am Mikroskop ist ein Mikro-Spektrum MS anzustreben, weil mit der Interferenz ein Qualitätsverlust infolge mikroskopischer Bildverzerrung in Kauf genommen werden muss. Die Vorteile der Interferenz überwiegen diesen kleinen Nachteil.
Zur Erfüllung von Interferenz-Bedingungen am Mikroskop, müssen folgende Anforderungen erfüllt werden, die in Fig. 1 dargestellt sind: Der Lichteinfallstrahl 1 und der Lichtausfallstrahl 2, bezogen auf die Vertikale 3 der Präparat- ebene 4, haben den gleichen Winkelbetrag ALPHA des Mikro- spektrums MS und der Lichtausfallstrahl ist genau in die Richtung des optischen Objektivstrahles 5 des Mikroskops 6 ausgerichtet.
Insbesondere zeichnet sich das erfindungsge- masse Lichtmikroskop 6 aus durch eine Mikroskopsaule 7, einen Objektivkorper 26, eine Lichtquelle und einer Pra- paratebene 4, wobei es eine Anordnung der Lichtquelle und der Praparatebene 4 aufweist derart dass der Lichteinfallstrahl 1 und der Lichtausfallstrahl 2 bezogen auf die Vertikale 3 der Praparatebene 4 den gleichen Winkelbetrag ALPHA haben und dass der Lichtausfallstrahl 2 genau auf die Richtung des optischen Objektstrahls 5 des Mikroskops 6 ausgerichtet ist.
In einer speziellen Ausfuhrungsform wird die Anordnung dadurch erzielt, dass die Mikroskopsaule 7 um den Winkel ALPHA dadurch einschwenkbar ist, dass sie mit einem Trennspalt 9 ausgerüstet ist, der durch eine obere Auflageflache 10 und eine untere Auflageflache 11 oder eine untere schräge Auflageflache 12 gebildet wird, und wobei die eingeschwenkte Mikroskopsaule 7 festspannbar ist.
In einer weiteren Ausfuhrungsform können die obere Auflageflache 10 und die untere Auflageflache 11, 12 durch ein Drehgelenk 13 mit einer Drehachse 14 geöffnet oder geschlossen werden, wobei die Drehachse 14 des Drehgelenks 13 als Excenterachse 15 ausgebildet ist.
In einer weiteren Ausfuhrungsform des Lichtmikroskop 6 ist die Auflageflache 12 auf der halben FIa- che um den Winkel ALPHA abgeschrägt, derart, dass wahlweise die eine oder andere Flache am Trennspalt 9 beteiligt ist, so dass die Mikroskopachse wahlweise senkrecht oder unter dem einfachen Winkel ALPHA auf das Präparat gerichtet ist. Die Lichtfuhrung 16 kann eine Fuhrungsnut 18 aufweisen, wobei die Lichtfuhrung 16 unter dem einfachen Winkel ALPHA bezogen auf die Vertikale 3 der Praparatebe- ne 4 am Mikroskop 6 angeordnet ist.
Das Lichtmikroskop 6 kann ein Stereomikroskop sein, bei dem der Lichteinfallstrahl 1 als doppelter Lichteinfallstrahl Ia, Ib ausgebildet ist.
Das Lichtmikroskop 6 kann ferner eine Licht- fuhrungsplatte 17 mit zwei Fuhrungsnuten 18, 19 zur Aufnahme von zwei Kaltlicht-Glasfaserkabeln als Lichtquellen 20, 21 aufweisen, derart, dass die Einfall-Lichtstrahlen Ia, Ib der Lichtquellen 20, 21 auf einen zentralen Punkt des Präparats ausgerichtet sind.
Das Lichtmikroskop kann ein Universal- Revolvermikroskop sein und die Lichtfuhrungsnuten 18, 19 können direkt in dem Objektiv-Korper 26 angeordnet sein.
In einer weiteren Ausfuhrungsform kann die Praparatebene 4 Teil einer keilförmigen Praparataufläge 26 sein, wobei die Praparataufläge 26 derart ist, dass der Lichteinfallstrahl 1 und der Lichtausfallstrahl 2 be- zogen auf die Vertikale 3 der Praparatebene 4 den gleichen Winkelbetrag ALPHA haben und dass der Lichtausfall- strahl 2 genau auf die Richtung des optischen Objektstrahls 5 des Mikroskops 6 ausgerichtet ist.
In einer weiteren Ausfuhrungsform kann das ganze Mikroskop 6 auf einer Arbeitsplatte derart umschwenkbar sein, dass ein auf die keilförmige Praparat- auflage 32 aufgelegtes Präparat resp. ein aufgelegter Praparat-Trager 34 schwenkbar und in die Horizontale ausrichtbar ist.
In einer bevorzugten Ausfuhrungsform sind ein Beleuchtungshalter 31, die keilförmige Präparat-Auflage 32, ein Kreuzschlitten 33 für die Verschiebung des Prapa- rat-Tragers 34 und eine schwenkbare Streichplatte 35 auf einer Grundplatte 30 vereinigt.
Das Lichtmikroskop 6 der vorliegenden Erfin- düng kann verwendet werden zur Betrachtung einer dünnen Schicht, wobei die "Dünne Schicht" als Streichpraparat auf einer flachen, dünnen, horizontal angeordneten Platte resp. einem Schichttrager 45 ausgebildet ist, die resp. der mindestens ein Loch 46 enthalt, wobei die "Dünne Schicht" im Schwebezustand innerhalb des Loches 46 mit naturlichen Adhäsionskräften gehalten wird, wobei der Lochrand die Halterung der „Dünnen Schicht" mit den naturlichen Eigenschaften der Praparatflussigkeit ausübt. Eine "Dünne Schicht" als Präparat zur Be- trachtung in einem erfindungsgemassen Lichtmikroskop 6 kann hergestellt werden, indem die "Dünne Schicht" mit einer vertikalen, horizontal schwenkbaren, dünnen, insbesondere scharfkantigen Platte ausgestrichen wird, derart, dass die Schicht direkt am Standort der mikroskopischen Betrachtungsebene erstellt werden kann.
Dadurch wird auch die Untersuchung hochempfindlicher Schichten ermöglicht.
Die Erfindung wird nun in der Folge anhand von Beispielen, die auf die Figuren Bezug nehmen, naher erläutert. Ausführungsbeispiel I :
In Ausfuhrungs-Beispiel I, gemass Fig. 3 besteht die Umrüstung beispielsweise darin, dass die Mikroskopsaule 7 zusammen mit der technischen, ausseren Licht- fuhrung 8 um den Lichtausfallwinkel ALPHA abgeschwenkt wird, derart dass der Lichtausfallstrahl 2 genau auf den Objektivstrahl 5 (Fig. 1) ausgerichtet ist, und derart dass der Lichteinfallstrahl 1 seinerseits genau um den einfachen Winkel ALPHA auf die Praparatebene 4 ausgerich- tet ist.
Zum Einschwenken der Mikroskopsaule 7 ist diese mit einem Trennspalt 9 ausgerüstet, der mit einer oberen Auflageflache 10 wahlweise mit einer unteren Auflageflache 11 oder mit einer unteren schrägen Auflagefla- che 12, mit dem Winkel ALPHA festgespannt wird.
Die Spaltflachen werden durch ein Drehgelenk 13 geöffnet oder geschlossen. Zu diesem Zweck ist die Drehachse 14 des Drehgelenks 13 als Excenterachse 15 ausgebildet, die durch Drehung die Spaltflachen 10 wahlweise mit der Spaltflache 11 oder 12 öffnet oder mit Festspannung schliesst.
Mit dieser Auflagepressung werden die Positionen genau fixiert und das Mikroskop kann in zwei Positionen verwendet werden. Mit dieser Umschwenkung wird auch die Einrichtung für die Lichtfuhrung 16 um den Einfallswinkel ALPHA umgeschwenkt . Für ein binokularen Stereo- Mikroskop wird der Lichteinfallstrahl 1 als doppelter Lichtstrahl Ia und Ib ausgebildet (siehe Fig. 9) weil dieses Mikroskop einen doppelten Objektivstrahl 5 auf das Präparat ausrichtet.
Diese Einrichtung besteht aus einer Lichtfuh- rungsplatte 17 gemass Fig. 9, die zwei Fuhrungsnuten 18 und 19 zur Aufnahme von zwei Kaltlicht-Glasfaserkabel 20 und 21 (siehe Fig. 3) aufweist. Die Einfall-Lichtstrahlen der Lichtquellen 20 und 21 sind auf einen zentralen Punkt des Präparates 4 ausgerichtet. Die Lichtfuhrungsplatte 17 gemass Fig. 9 wird beidseitig mit je einem Befestigungsflansch 22 und 23 (siehe Fig. 3) am Mikroskop-Korper 24 justierbar mit Schrauben 25 befestigt. Die Lichtquelle besteht beispielsweise aus
Glasfaser-Lichtkabeln 20 und 21, die von einer separaten handelsüblichen Lichtquelle das Licht auf das Mikroskop, mit reduzierter Wärmeeinwirkung, übertragt.
Diese Umrüstung erfordert eine sehr präzise Justierung auf die Praparatebene .
Ausführungsbeispiel II für ein Inverses Mikroskop.
Zur Erfüllung von Interferenz-Bedingungen an einem Inversen Lichtmikroskop müssen folgende Anforderungen erfüllt werden, die in Fig. 2 dargestellt sind: Der Lichteinfallswinkel ALPHA 1 und der
Lichtausfallwinkel ALPHA 2, bezogen auf die Vertikale 3 der keilförmigen Praparataufläge 32, haben den gleichen Winkelbetrag ALPHA und der Lichtausfallstrahl ALPHA 2 ist in die vertikale Rechtung des optischen Objektivstrahles 5 des Mikroskops ausgerichtet.
Das ergibt für den Lichteinfallwinkel den doppelten ALPHA-Winkel, bezogen auf die Mikroskopachse 5.
In einem Ausfuhrungsbeispiel II, für ein Inverses Mikroskop, gemass den Fig. 4 und 5, werden die Massnahmen zur Umrüstung und zur Erfüllung von Interferenz-Bedingungen auf einer Grundplatte 30 vereinigt und unabhängig vom Mikroskop präzise hergestellt. Der Objektstrahl 5 wird gemass Fig. 2 nicht ausgeschwenkt, sondern der Praparat-Trager 34 wird auf die keilförmige Praparataufläge 32 aufgelegt.
Um das Präparat in die Horizontale auszurich- ten wird das ganze Mikroskop auf der Arbeitstischplatte umgeschwenkt . Gemass den Fig. 4 und 5 wird auf einer Grundplatte 30 ein Beleuchtungshalter 31, eine keilförmige Präparat-Auflage 32 mit einem Kreuzschlitten 33 für die Verschiebung des Praparat-Tragers 34 und eine schwenkbare Streichplatte 35 vereinigt und mit grosser Präzision hergestellt .
Der Beleuchtungshalter 31 gemass den Fig. 4 und 5, hat eine schräge Flache 38, mit doppeltem Lichteinfallwinkel ALPHA zur Aufnahme einer Lichtfuhrungsplat- te 17, die mit einer Fuhrungsnut 18 ausgebildet ist, welche mit einem einfachen senkrechten Objektivstrahl 5 des Mikroskops und mit einem einfachen senkrechten Lichtaus¬ fallstrahl 2 die Interferenz-Bedingungen erfüllt. Der Beleuchtungshalter 31 hat eine Aussparung 42 (siehe Fig. 4 und 5) für den Bewegungsraum des Praparat-Tragers 34.
Die keilförmige Präparat-Platte 32 hat eine schräge Flache 32a für die Auflage eines genormten Praparat-Tragers 34, der seinerseits den Schicht-Trager 45 der "Dünnen Schicht" aufnimmt (siehe Fig. 12) . Die keilförmige Präparat-Auflage 32 dient auch der Aufnahme eines bekannten Kreuzschlittens 33 zur Verschiebung des Praparat-Tragers 34.
Die keilförmige Praparatplatte 32 dient auch der Aufnahme einer schwenkbaren scharfkantigen Klinge 35 die an einem Schwenkarm 49 befestigt ist und in einer Bohrung 52 drehbar gelagert ist. Zu diesem Zweck tragt der Schwenkarm 49 einen Schwenkkopf 50, in den eine Achse 51 in die Bohrung 52 auswechselbar eingreift.
Die Lichtfuhrung 16 kann in Varianten ausge- bildet werden (Fig. 9 und 10) . Beispielsweise werden die Lichtfuhrungsnuten 18 und 19 direkt am Beleuchtungshalter 31 vorgesehen.
Es ist vorteilhafter, die Lichtfuhrung 16 in auswechselbaren Platten (siehe Fig. 9 und Fig. 10) , in verschiedenen Varianten auszubilden.
Die Variante in Fig. 9, für Stereomikroskope vorgesehen, zeigt eine auswechselbare Lichtfuhrungsplatte 39, mit zwei Fuhrungsnuten 18 und 19 für zwei Kaltlicht- Glasfaserkabel 20 und 21 mit einer gemeinsamen Lichtquel¬ le. Weil im Stereomikroskop zwei Objektivstrahlen auf das Präparat ausgerichtet sind, sind die Fuhrungsnuten 18 + 19 ebenfalls zweistrahlig unter dem gleichen Winkel auf das Präparat ausgerichtet.
In Fig. 10 ist eine auswechselbare Fuhrungs- platte 39 für ein inverses Mikroskop dargestellt, mit einer zentralen Fuhrungsnut 18, die auf das Zentrum des Präparates ausgerichtet ist.
Die Fuhrungsplatten 39 sind auswechselbar, weil diese unterschiedlichen Anforderungen angepasst werden können .
Ausführungsbeispiel III für Universalmikroskope
Ausfuhrungsbeispiel III zeigt, dass Univer- sal-Mikroskope, wegen den ungunstigen Platzverhaltnissen, besondere Massnahmen bei der Lichtfuhrung erfordern. Im Zusammenhang mit den besonderen Massnahme werden in einer Miniatur-Einrichtung für die Lichtfuhrung die Fuhrungsnuten 18 und 19 direkt im Objektiv-Korper angeordnet.
Um Interferenzbedingungen zu erfüllen, stehen diese Fuhrungsnuten 18 und 19 unter einem doppelten Winkel ALPHA zur Objektivachse 27.
Fig. 6 zeigt eine Fuhrungsnut 18 in einem Wechsel-Objektiv 26 für eine einfache Lichtfuhrung 16, unter doppeltem ALPHA Winkel. Fig. 7 zeigt zwei Fuhrungsnuten 18 und 19 in einem Wechsel-Objektiv 26 für eine doppelte Lichtfuhrung 16, unter doppeltem Winkel ALPHA und parallel zur Objektiv-Achse 27.
Fig. 8 zeigt zwei Fuhrungsnuten 18 und 19 in einem Wechsel-Objektiv 26 für eine doppelte Lichtfuhrung 16, unter doppeltem Winkel ALPHA und in einem Winkel BETA, gegen das Zentrum der Objektiv-Achse ausgerichtet. Die technische Praparation zur Erfüllung von Interferenz-Bedingungen am Präparat, gemass Fig. 11 und 12, besteht darin, dass ein Flussigkeits-Tropfen in eine sehr dünne, flussige Membran-Schicht 47 gewandelt wird. Um Interferenzbedingungen zu erfüllen, muss die Membran- Schicht 47 eine Schichtdicke von weniger als einem Mikrometer aufweisen. Durch Interferenz des weissen Lichtes erscheinen in dieser "Dünnen Schicht" 47 die bekannten "Farben dunner Schichten". Diese Farben erscheinen zum Beispiel in der Natur bei Seifenblasen auf einer kugelförmigen Oberflache. Die erfindungsgemasse Einrichtung hat zur Aufgabe, solch „Dünne Schichten" auf einer flachen Platte, mit einer flachen Oberflache, mikroskopfahig anzuordnen . Ausser der Erfüllung von Interferenz-
Bedingungen hat das Präparat weitere Anforderungen zu erfüllen .
Für die wissenschaftliche Interpretation hat die "Dünne Schicht" 47, wissenschaftliche Anforderungen zu erfüllen.
Das betrifft eine lange Standzeit (Lebensdauer) , die durch einen naturlichen Kollaps (siehe Fig. 16) abgebrochen wird.
Es müssen reproduzierbare Informationen unter wiederholbaren Ausgangsbedingungen interpretiert werden können .
In einer kritischen Ablaufphase bilden sich schwarze Locher, die an die Verankerung der "Dünnen Schicht" 47, mit der Halterung am Schicht-Trager 45 hohe Anforderungen bezuglich der Kraftwirkungen durch energetische Anziehungskräfte der Kontraktion stellen. Mit zunehmender Standzeit verdünnt sich die "Dünne Schicht" durch naturliche Verdunstung der Flüssigkeit, weshalb sorgfaltige Umweltbedingungen (Erschütterungen, Schall- wellen usw.) gewahrleistet werden müssen. Andererseits ist es möglich, durch aussere Einwirkungen, Reaktionen gezielt auszulosen. Erfindungsgemass besteht die Einrichtung für die Praparation gemass Fig. 11 und 12 aus einem genormten Praparat-Trager 34, der einen „Dünnen Schicht"-Trager 45 aufnimmt, die mit einem scharfkantigen Loch 46 ausgebil- det ist, in dem eine "Dünne Schicht" 47, im Schwebezustand zwischen dem Lochrand durch energetische Anziehungskräfte kraftschlussig gespannt ist. Es ist wesentlich, dass die "Dünne Schicht" 47 beidseitig an das Medium "Luft" grenzt. Um den Interferenz-Bedingungen zu genügen muss die "Dünne Schicht" 47 horizontal genau eben ausgerichtet sein. Zur Unterscheidung von "oben" und "unten" ist die Schicht 47 ganz leicht geneigt. Diese Ausrichtung erfolgt dadurch, dass das ganze Mikroskop mit der Stand- flache auf dem Arbeitstisch leicht geneigt ausgerichtet wird .
Zur Herstellung einer "Dünnen Schicht" 47, in einer Position auf der Betrachtungsebene unter dem Mikroskop, wird eine scharfkantige Klinge 35 mit einem Schwenkarm 49 (siehe Fig. 5) über den Schicht-Trager 45 und das Loch 46, mit geringer Kraft gestrichen. Dies ist in der Praxis als Streichpraparat bekannt. Zu diesem Zweck wird die Präparat-Flüssigkeit feindosiert von aussen auf den Schicht-Trager 45 übertragen. Durch das naturliche Verdunsten der Flüssigkeit verdünnt sich die "Dünne Schicht" 47 um ca. das mindestens fünfzigfache von ca. tausend Nano-Meter auf ca. zwanzig Nano-Meter und weniger.
Der Praparat-Trager 34 hat eine Bohrung 44 für den Durchlicht-Zutritt von unten.
Im Folgenden werden gemass den Fig. 13 bis 16 einige Schichtzustande erläutert:
In Fig. 13 ist eine "Dicke Schicht" dargestellt, mit einer unteren bombierten Grenzflache 56. Die- se Schicht erfüllt die Interferenzbedingungen nicht.
In Fig. 14 ist eine "Dünne Schicht" 47 dargestellt, mit zwei parallelen Grenzflachen. Diese erfüllt die Interferenzbedingungen, wenn die Schichtdecke dunner als ein Mikron ist.
In Fig. 15 ist eine "schwarze Schicht" 58 dargestellt. Diese Schicht erfüllt die Interferenz- Bedingungen, ist jedoch durch Verdünnung so dünn, dass kein Licht reflektiert wird. Weil diese kein Licht re¬ flektiert ist sie schwarz.
Fig. 16 zeigt den Kollaps einer "Dünnen
Schicht" 47. Feine Teilchen, im Gaszustand, bewegen sich durch die Luft. Am Schichttrager 45 bleibt am Lochrand 46 ein kleiner Ruckstand der Schicht-Flüssigkeit zurück, als Kennzeichen für den Kollaps .
Das Zusammenwirken der Interferenzbedingungen am Lichtmikroskop mit den Interferenzbedingungen am Präparat.
Durch das Zusammenwirken der Interferenzbedingungen erscheint die "Dünne Schicht" wahrend einer Schichtverdunnung, in wechselnden Farben, in ca. zehn Ordnungen, und anschliessend in den Farben weiss und grau, vielschichtig in bis zu zehn Ordnungen, wobei als letzte Ordnung die Schicht schwarz erscheint, die Schicht erscheint schwarz, weil kein Licht reflektiert wird. In der schwarzen Schicht können noch Figura- tionen von einzelnen weiss-grauen Punkten identifiziert werden .
Ausser den Farben werden durch intermolekulare Kräfte Formen und Bewegungen, Punktreihen, Grenzkan- ten, Vielschichten usw. sichtbar, die sich verandern, bewegen oder im Stillstand verharren. (Phasenubergang flussig-fest) .
Die schwarze Schicht bildet sich aus schwarzen Lochern, die sich vergrόssern und vermehren (Lochpha- se) .
In der schwarzen Schicht können nebelhaft kleine weisse Punkte beobachtet werden, die z.B. die Brownsche Bewegung ausfuhren. Die Verdünnung der Schicht, von 1000 Nano-Metern bis gegen ein Nanometer ergibt sich aus der naturlichen Verdunstung der Flüssigkeit, (Phasen- ubergang flussig-gasformig) . Diese dynamischen Informationen sind die
Grundlage zur Erforschung der Ursache dieser naturlichen Veränderung, bzw. des Energie-Verhaltens der Präparat- Flüssigkeit .
Die Bewegungsinformationen beruhen bei Ein- zelteilchen auf Anziehung oder Abstossung und im Gruppen- Verhalten auf Kontraktion und Expansion.
Das erfindungsgemasse Lichtmikroskop findet Anwendung in der Chemie, insbesondere der Grenzflachen- und Kolloidchemie, in der Tensid-Chemie und in der biolo- gischen Mebranen- und Zellforschung, in der Physik der Aggregat-Zustande (fest, flussig, gasformig) und der Kraftwirkungen, sowie in der Medizin, der Atmospharen- und Wetterforschung, der Kosmetik usw.
Das Interferenz-Lichtmikroskop findet auch Anwendung in der Produkt-Forschung für chemische und medizinische Erzeugnisse sowie in der Verfahrenstechnik und Produkt-Kontrolle, usw. Für die Interpretation der Informationen kommt insbesondere das Coulombsche Gesetz zur Anwendung, in dem die abstandsabhangigen Kräfte zum Aus- druck kommen und den Flüssigkeiten energetische Eigenschaften zugeordnet werden können.
Unter energetischen Eigenschaften sind die Eigenschaften des Ladungs-Verhaltens und des Feld- Verhaltens, z.B. von Elektronen zu verstehen. Da für die Erfüllung der mikroskopischen Bedingungen keine Vakuum-Umwelt erforderlich ist, werden die Informationen unter naturlichen Umweltbedingungen er- fasst und können elektronisch aufgezeichnet werden.
Unter diesen Bedingungen kann auch von aussen auf das Präparat eingewirkt werden, z.B. mit Nadel, Luftstrahl, und Stoffzugaben, Schwingungen usw. Hauchdünne Schichten, die durch Anhauchen von Brillenglasern gebildet werden, erfüllen die Interferenz- Bedingungen nicht. Dampfniederschlage auf Spiegel oder Glas erfüllen die Interferenz-Bedingungen nicht. Aufgedampfte Schichten im Festzustand, wie sie industriell hergestellt werden, erfüllen Interferenz- Bedingungen nicht. Flüssigkeiten jeder Art (mit Ausnahmen), erfüllen Interferenz-Bedingungen, wenn diese erfin- dungsgemass in "Dünne Schichten" gewandelt werden. Ob Interferenz-Bedingungen erfüllt sind, lasst sich am Besten im Mikroskop feststellen. Wenn Interferenz-Farben erscheinen, sind Interferenz-Bedingungen erfüllt .
Es ist vorteilhaft, das erfindungsgemasse Lichtmikroskop mit einer Farbfernseh-Kamera und mit Monitor und Video-Kassetten-Gerat mit digitalem Fotodrucker auszubauen .
Damit kann das Mikroskop als Forschungsinstrument für die Energie-Verhaltens-Forschung eingesetzt werden.
Wahrend in der vorliegenden Anmeldung bevorzugte Ausfuhrungen der Erfindung beschrieben sind, ist klar darauf hinzuweisen, dass die Erfindung nicht auf diese beschrankt ist und in auch anderer Weise innerhalb • des Umfangs der folgenden Ansprüche ausgeführt werden kann .

Claims

Patentansprüche
1. Lichtmikroskop (6) mit einer Mikroskopsau- Ie (7), einem Objektivkorper (26), einer Lichtquelle und einer Praparatebene (4), dadurch gekennzeichnet, dass es eine Anordnung der Lichtquelle und der Praparatebene (4) aufweist derart dass der Lichteinfallstrahl (1) und der Lichtausfallstrahl (2) bezogen auf die Vertikale (3) der Praparatebene (4) den gleichen Winkelbetrag ALPHA haben und dass der Lichtausfallstrahl (2) genau auf die Richtung des optischen Objektstrahls (5) des Mikroskops (6) ausgerichtet ist.
2. Lichtmikroskop (6) gemass Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Anordnung dadurch erzielt wird, dass die Mikroskopsaule (7) um den Winkel ALPHA dadurch einschwenkbar ist, dass sie mit einem Trennspalt
(9) ausgerüstet ist, der durch eine obere Auflageflache
(10) und eine untere Auflageflache (11) oder eine untere schräge Auflageflache (12) gebildet wird, und wobei die eingeschwenkte Mikroskopsäule (7) festspannbar ist.
3. Lichtmikroskop (6) gemass Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die obere Auflageflache (10) und die untere Auflageflache (11, 12) durch ein Drehgelenk (13) mit einer Drehachse (14) geöffnet oder ge- schlössen werden können, wobei die Drehachse (14) des
Drehgelenks (13) als Excenterachse (15) ausgebildet ist.
4. Lichtmikroskop (6) gemass Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Auflageflache (12) auf der halben Flache um den Winkel ALPHA abgeschrägt ist, der- art, dass wahlweise die eine oder andere Flache am Trennspalt (9) beteiligt ist, so dass die Mikroskopachse wahlweise senkrecht oder unter dem einfachen Winkel ALPHA auf das Präparat gerichtet ist.
5. Lichtmikroskop (6) gemass irgend einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass es eine Lichtfuhrung (16) mit einer Fuhrungsnut (18) aufweist, wobei die Lichtfuhrung (16) unter dem einfachen Winkel ALPHA bezogen auf die Vertikale (3) der Präparat- ebene (4) am Mikroskop (6) angeordnet ist.
6. Lichtmikroskop (6) gemass einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass es ein Ste- reomikroskop ist und dass der Lichteinfallstrahl (1) als doppelter Lichteinfallstrahl (Ia, Ib) ausgebildet ist.
7. Lichtmikroskop (6) gemass Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass es eine Lichtfuhrungsplatte (17) mit zwei Fuhrungsnuten (18, 19) zur Aufnahme von zwei Kaltlicht-Glasfaserkabeln als Lichtquellen (20, 21) aufweist, derart, dass die Einfall-Lichtstrahlen (Ia, Ib) der Lichtquellen (20, 21) auf einen zentralen Punkt des Präparats ausgerichtet sind.
8. Lichtmikroskop (6) gemass Anspruch 7, da- durch gekennzeichnet, dass es ein Universal-Revolver- mikroskop ist und dass die Lichtfuhrungsnuten (18, 19) direkt in dem Objektiv-Korper (26) angeordnet sind.
9. Lichtmikroskop (6) gemass Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Praparatebene (4) Teil ei- ner keilförmigen Praparataufläge (26) ist, wobei die Pra- paratauflage (26) derart ist, dass der Lichteinfallstrahl (1) und der Lichtausfallstrahl (2) bezogen auf die Vertikale (3) der Praparatebene (4) den gleichen Winkelbetrag ALPHA haben und dass der Lichtausfallstrahl (2) genau auf die Richtung des optischen Objektstrahls (5) des Mikroskops (6) ausgerichtet ist.
10. Lichtmikroskop (6) gemass Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass das ganze Mikroskop (6) auf einer Arbeitsplatte derart umschwenkbar ist, dass ein auf die keilförmige Praparataufläge (32) aufgelegtes Präparat resp. ein aufgelegter Praparat-Trager (34) schwenkbar und in die Horizontale ausrichtbar ist.
11. Lichtmikroskop (6) gemass Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, dass ein Beleuchtungshalter (31), die keilförmige Präparat-Auflage (32), ein Kreuzschlitten 33 für die Verschiebung des Praparat-Tragers (34) und eine schwenkbare Streichplatte (35) auf einer Grundplatte (30) vereinigt sind.
12. Verwendung eines Lichtmikroskops (6) ge- mass einem der vorangehenden Ansprüche zur Betrachtung einer "Dünnen Schicht", dadurch gekennzeichnet, dass die "Dünne Schicht" als Streichpraparat auf einer flachen, dünnen, horizontal angeordneten Platte resp. einem Schichttrager (45) ausgebildet ist, die resp. der mindestens ein Loch (46) enthalt, wobei die "Dünne Schicht" im Schwebezustand innerhalb des Loches (46) mit naturlichen Adhäsionskräften gehalten wird, wobei der Lochrand die Halterung der "Dünnen Schicht" mit den naturlichen Eigenschaften der Praparatflussigkeit ausübt.
13. Verfahren zur Herstellung einer "Dünnen Schicht" als Präparat zur Betrachtung in einem Lichtmikroskop (6) gemass einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass die "Dünne Schicht" mit einer vertikalen, horizontal schwenkbaren, dünnen, scharfkantigen Platte ausgestrichen wird, derart, dass die hochempfind- liehe Schicht direkt am Standort der mikroskopischen Betrachtungsebene erstellt werden kann.
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