CH696983A5 - Interferenz-Lichtmikroskop. - Google Patents

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft Lichtmikroskope zur dynamische Informations-Erfassung aus flüssigen, "Dünnen Schichten", im Nanobereich von 1000 bis 1 Nanometer, im Flüssigzustand und in den Phasenübergängen Flüssig-Gas und Flüssig-Fest. Das Anwendungsgebiet umfasst: Chemie, Biologische Membranen-Forschung, Physik der Aggregat-Zustände und Kraftwirkungen, Medizin, Atmosphären-Forschung ENERGIE-VERHALTENS-FORSCHUNG sowie die Produktion und Produktionskontrolle von flüssigen Erzeugnissen.

Stand der Technik:

Informationen im Nanobereich von 1000 bis 1 Nanometer im Festzustand werden mit Elektronen-Mikroskopen, unter Vakuum, durch Abtasten mit einem Elektronenstrahl oder mit Raster-Tunnel-Mikroskopen für Festkörper, durch mechanisches Abstasten oder mit Röntgenverfahren sichtbar abgebildet.

In diesen Einrichtungen muss das Präparat im Festzustand fixiert werden. Mit solchen Einrichtungen können somit keine dynamischen Informationen von Flüssigkeiten im Nanobereich unter natürlichen Umweltbedingungen sichtbar gemacht und aufgezeichnet werden. Es sind auch Lichtmikroskope bekannt, die in der inneren, optischen Lichtführung die Bedingungen für Interferenz-Gangunterschiede erfüllen und in einem beschränkten Bereich für das Messen von Abständen im Nanobereich und im Festzustand verwendet werden.

Detaillierte Darstellung der Erfindung.

Gegenstand vorliegender Erfindung ist ein Interferenz Lichtmikroskop gemäss Anspruch 1. Spezielle Ausführungsformen sind den abhängigen Ansprüchen zu entnehmen.

Der Vorteil des erfindungsgemässen Lichtmikroskops besteht darin, dass mit der technischen Einrichtung das bisher unsichtbare dynamische Verhalten von Elementarteilchen (Molekülen, Atomen, Elektronen usw.) im flüssigen Zustand im Nanobereich, dynamisch sichtbar gemacht werden und als Information erfasst und verarbeitet werden kann. Damit kann der wissenschaftliche Wissensstand verbessert werden, der sich niederschlägt in der Verbesserung von Produkten, die dem Leben, der Gesundheit und dem Wohlergehen von Menschen, Pflanzen und Tieren dienen, und die Beziehung zum Naturgeschehen kann mit neuen Erkenntnissen bereichert und insbesondere das Verständnis zum ENERGIE-VERHALTEN und über den Aufbau der Materie gefördert werden.

Das erfindungsgemässe Lichtmikroskop zur Erfüllung von Interferenz-Bedingungen besteht aus bekannten Lichtmikroskopen, zum Beispiel Stereo-Mikroskopen, monokularen oder binokularen Universal-Mikroskopen, Inversen Mikroskopen usw., die durch Umrüstung und eine zusätzliche Einrichtung die Anforderungen an die äussere Lichtführung und an die Präparation erfüllen.

Grundsätzlich werden Interferenz-Bedingungen innerhalb eines grossen Winkel-Spektrums erfüllt, wie in Fig. 1 dargestellt. Für die Interferenz am Mikroskop ist ein Mikro-Spektrum MS anzustreben, weil mit der Interferenz ein Qualitätsverlust infolge mikroskopischer Bildverzerrung in Kauf genommen werden muss. Die Vorteile der Interferenz überwiegen diesen kleinen Nachteil.

Zur Erfüllung von Interferenz-Bedingungen am Mikroskop müssen folgende Anforderungen erfüllt werden, die in Fig. 1 dargestellt sind: Der Lichteinfallstrahl 1 und der Lichtausfallstrahl 2, bezogen auf die Vertikale 3 der Präparatebene 4, haben den gleichen Winkelbetrag ALPHA des Mikrospektrums MS, und der Lichtausfallstrahl ist genau in die Richtung des optischen Objektivstrahles 5 des Mikroskopes 6 auszurichten.

In einem Ausführungs-Beispiel I gemäss Fig. 3 besteht die Umrüstung beispielweise darin, dass die Mikroskopsäule 7 zusammen mit der technischen, äusseren Lichtführung 8 um den Lichtausfallwinkel ALPHA abgeschwenkt wird, derart, dass der Lichtausfallstrahl 2 genau auf den Objektivstrahl 5 (Fig. 1) ausgerichtet ist, und derart, dass der Lichteinfallstrahl 1 seinerseits genau um den einfachen Winkel ALPHA auf die Präparatebene 4 ausgerichtet ist.

Zum Einschwenken der Mikroskopsäule 7 ist diese mit einem Trennspalt 9 ausgerüstet, der mit einer oberen Auflagefläche 10 wahlweise mit einer unteren Auflagefläche 11 oder mit einer unteren schrägen Auflagefläche 12, mit dem Winkel ALPHA festgespannt wird.

Die Spaltflächen werden durch ein Drehgelenk 13 geöffnet oder geschlossen. Zu diesem Zweck ist die Drehachse 14 des Drehgelenks 13 als Excenterachse 15 ausgebildet, die durch Drehung die Spaltflächen 10 wahlweise mit der Spaltfläche 11 oder 12 öffnet oder mit Festspannung schliesst.

Mit dieser Auflagepressung werden die Positionen genau fixiert und das Mikroskop kann in zwei Positionen verwendet werden. Mit dieser Umschwenkung wird auch die Einrichtung für die Lichtführung 16 um den Einfallswinkel ALPHA umgeschwenkt. Für ein binokulares Stereo-Mikroskop wird der Lichteinfallstrahl 1 als doppelter Lichtstrahl 1a und 1b ausgebildet, Fig. 9, weil dieses Mikroskop einen doppelten Objektivstrahl 5 auf das Präparat ausrichtet.

Diese Einrichtung besteht aus einer Lichtführungsplatte 17 gemäss Fig, 9, die zwei Führungsnuten 18 und 19 zur Aufnahme von zwei Kaltlicht-Glasfaserkabeln 20 und 21, Fig. 3, aufweist. Die Einfall-Lichstrahlen der Lichtquellen 20 und 21 sind auf einen zentralen Punkt des Präparates 4 ausgerichtet. Die Lichtführungsplatte 17 gemäss Fig. 9 wird beidseitig mit je einem Befestigungsflansch 22 und 23, Fig. 3, am Mikroskop-Körper 24, justierbar mit Schrauben 25 befestigt. Die Lichtquelle besteht beispielweise aus Glasfaser-Lichtkabeln 20 und 21, die von einer separaten handelsüblichen Lichtquelle das Licht auf das Mikroskop, mit reduzierter Wärmeeinwirkung, überträgt. Diese Umrüstung erfordert eine sehr präzise Justierung auf die Präparatebene.

Ausführungsbeispiel II für ein Inverses Mikroskop. Zur Erfüllung von Interferenz-Bedingungen an einem Inversen Lichtmikroskop müssen folgende Anforderungen erfüllt werden, die in Fig. 2 dargestellt sind: Der Lichteinfallwinkel ALPHA 1 und der Lichtausfallwinkel ALPHA 2, bezogen auf die Vertikale 3 der keilförmigen Präparatauflage 26, haben den gleichen Winkelbetrag ALPHA und der Lichtausfallstrahl ALPHA 2 ist in die vertikale Richtung des optischen Objektivstrahles 5 des Mikroskopes ausgerichtet. Das ergibt für den Lichteinfallwinkel den doppelten ALPHA-Winkel bezogen auf die Mikroskopachse 5.

In einem Ausführungsbeispiel II, für ein Inverses Mikroskop, gemäss Fig. 4 und 5, werden die Massnahmen zur Umrüstung und zur Erfüllung von Interferenz-Bedingungen auf einer Grundplatte 30 vereinigt und unabhängig vom Mikroskop präzise hergestellt. Der Objektivstrahl 5 wird gemäss Fig. 2 nicht ausgeschwenkt, sondern der Präparat-Träger 34 wird auf die keilförmige Präparatauflage 32 aufgelegt.

Um das Präparat in die Horizontale auszurichten, wird das ganze Mikroskop auf der Arbeitstischplatte umgeschwenkt.

Gemäss Fig. 4 und 5 wird auf einer Grundplatte 30 ein Beleuchtungshalter 31, eine keilförmigen Präparat-Auflage 32 mit einem Kreuzschlitten 33 für die Verschiebung des Präparat-Trägers 34 und eine schwenkbare Streichplatte 35 vereinigt und mit grosser Präzision hergestellt.

Der Beleuchtungshalter 31, gemäss Fig. 4 und 5, hat eine schräge Fläche 38, mit doppeltem Lichteinfallwinkel ALPHA zur Aufnahme einer Lichtführungsplatte 17, die mit einer Führungsnut 18 ausgebildet ist, welche mit einem einfachen senkrechten Objektivstrahl 5 des Mikroskopes und mit einem einfachen senkrechten Lichtausfallstrahl 2 die Interferenz-Bedingungen erfüllt.

Der Beleuchtungshalter 31 hat eine Aussparung 42, Fig. 4 und 5 für den Bewegungsraum des Präparat-Trägers 34.

Die keilförmige Präparat-Platte 32 hat eine schräge Fläche 32a für die Auflage eines genormten Präparat-Trägers 34, der seinerseits den Schicht-Träger 45 der "Dünnen Schicht" aufnimmt, Fig. 12.

Die keilförmige Präparat-Auflage 32 dient auch der Aufnahme eines bekannten Kreuzschlittens 33 zur Verschiebung des Präparat-Trägers 34.

Die keilförmige Präparat-Platte 32 dient auch der Aufnahme einer schwenkbaren scharfkantigen Klinge 35 die an einem Schwenkarm 49 befestigt ist und in einer Bohrung 52 drehbar gelagert ist. Zu diesem Zweck trägt der Schwenkarm 49 einen Schwenkkopf 50, in den eine Achse 51 in die Bohrung 52 auswechselbar eingreift.

Die Lichtführung 16 kann in Varianten ausgebildet werden (Fig. 9 und 10). Beispielweise werden die Lichtführungsnuten 18 und 19 direkt am Beleuchtungshalter 31 vorgesehen.

Es ist vorteilhaft, die Lichtführung 16 in auswechselbaren Platten, Fig. 9 und Fig. 10, in verschiedenen Varianten auszubilden.

Die Variante in Fig. 9, für Stereomikroskope vorgesehen, zeigt eine auswechselbare Lichtführungsplatte 39, mit zwei Führungsnuten 18 und 19 für zwei Kaltlicht-Glasfaserkabel 20 und 21 mit einer gemeinsamen Lichtquelle. Weil im Stereomikroskop zwei Objektivstrahlen auf das Präparat ausgerichtet sind, sind die Führungsnuten 18 und 19 ebenfalls zweistrahlig unter dem gleichen Winkel auf das Präparat ausgerichtet ist.

In Fig. 10 ist eine auswechselbare Führungsplatte 39 für ein inverses Mikroskop dargestellt, mit einer zentralen Führungsnut 18, die auf das Zentrum des Präparates ausgerichtet ist. Die Führungsplatten 39 sind auswechselbar, weil diese unterschiedlichen Anforderungen angepasst werden können.

Das Ausführungsbeispiel III, für Universal-Mikroskope, erfordert wegen den ungünstigen Platzverhältnissen, besondere Massnahmen bei der Lichtführung. Mit den besonderen Massnahmen werden in einer Miniatur-Einrichtung für die Lichtführung die Führungsnuten 18 und 19 direkt im Objektiv-Körper angeordnet.

Um Interferenzbedingungen zu erfüllen, stehen diese Führungsnuten 18 und 19 unter einem doppelten Winkel ALPHA zur Objektivachse 27. Fig. 6 zeigt eine Führungsnut 18 in einem Wechsel-Objektiv 26, für eine einfache Lichtführung 16, unter doppeltem ALPHA-Winkel. Fig. 7 zeigt zwei Führungsnuten 18 und 19 in einem Wechsel-Objektiv 26 für eine doppelte Lichtführung 16, unter doppeltem Winkel ALPHA und parallel zur Objektiv-Achse 27. Fig. 8 zeigt zwei Führungsnuten 18 und 19 in einem Wechsel-Objektiv 26 für eine doppelte Lichtführung 16, unter doppeltem Winkel ALPHA und in einem Winkel BETA, gegen das Zentrum der Objektiv-Achse ausgerichtet.

Die technische Präparation zur Erfüllung von Interferenz-Bedingungen am Präparat, gemäss Fig. 11 und 12, besteht darin, dass ein Flüssigkeits-Tropfen in eine sehr dünne, flüssige Membran-Schicht 47 gewandelt wird. Um Interferenzbedingungen zu erfüllen muss die Membran-Schicht 47 eine Schichtdicke von weniger als einem Mikrometer aufweisen. Durch Interferenz des weissen Lichtes erscheinen in dieser "Dünnen Schicht" 47 die bekannten "Farben dünner Schichten". Diese Farben erscheinen zum Beispiel in der Natur bei Seifenblasen auf einer kugelförmigen Oberfläche. Die erfindungsgemässe Einrichtung hat zur Aufgabe, solche dünne Schichten auf einer flachen Platte, mit einer flachen Oberfläche, mikroskopfähig anzuordnen.

Ausser der Erfüllung von Interferenz-Bedingungen hat das Präparat weitere Anforderungen zu erfüllen.

Für die wissenschaftliche Interpretation hat die "Dünne Schicht" 47 wissenschaftliche Anforderungen zu erfüllen.

Das betrifft eine lange Standzeit (Lebensdauer), die durch einen natürlichen Kollaps, Fig. 16, abgebrochen wird. Es müssen reproduzierbare Informationen unter wiederholbaren Ausgangsbedingungen interpretiert werden können. In einer kritischen Ablaufphase bilden sich schwarze Löcher, die an die Verankerung der "Dünnen Schicht" 47, mit der Halterung am Schicht-Träger 45 hohe Anforderungen bezüglich der Kraftwirkungen durch energetische Anziehungskräfte der Kontraktion stellen. Mit zunehmender Standzeit verdünnt sich die "Dünne Schicht" durch natürliche Verdunstung der Flüssigkeit, weshalb sorgfälltige Umweltbedingungen (Erschütterungen, Schallwellen usw.) gewährleistet werden müssen. Anderseits ist es möglich, durch äussere Einwirkungen, Reaktionen gezielt auszulösen.

Erfindungsgemäss besteht die Einrichtung für die Präparation gemäss Fig. 11 und 12 aus einem genormten Präparat-Träger 34, der einen dünnen Schicht-Träger 45 aufnimmt, die mit einem scharfkantigen Loch 46 ausgebildet ist, in dem eine "Dünne Schicht" 47, im Schwebezustand zwischen dem Lochrand durch energetische Anziehungskraft kraftschlüssig gespannt ist. Es ist wesentlich, dass die "Dünne Schicht" 47 beidseitig an das Medium "Luft" grenzt.

Um den Interferenz-Bedingungen zu genügen muss die "Dünne Schicht" 47 horizontal genau eben ausgerichtet sein. Zur Unterscheidung von "oben" und "unten" ist die Schicht 47 ganz leicht geneigt. Diese Ausrichtung erfolgt dadurch, dass das ganze Mikroskop mit der Standfläche auf dem Arbeitstisch leicht geneigt ausgerichtet wird.

Zur Herstellung einer "Dünnen Schicht" 47, in einer Position auf der Betrachtungsebene unter dem Mikroskop, wird eine scharfkantige Klinge 35 mit einem Schwenkarm 49, Fig. 5, über den Schicht-Träger 45 und das Loch 46, mit geringer Kraft gestrichen. Dies ist in der Praxis als Streichpräparat bekannt.

Zu diesem Zweck wird die Präparat-Flüssigkeit feindosiert von aussen auf den Schicht-Träger 45 übertragen.

Durch das natürliche Verdunsten der Flüssigkeit verdünnt sich die "Dünne Schicht" 47 um ca. das mindestens Fünfzigfache von ca. tausend Nanometer auf ca. zwanzig Nanometer und weniger.

Der Präparat-Träger 34 hat eine Bohrung 44 für den Durchlicht-Zutritt von unten.

Im Folgenden werden gemäss Fig. 13 bis 16 einige Schichtzustände erläutert:

In Fig. 13 ist eine "Dicke Schicht" dargestellt, mit einer unteren bombierten Grenzfläche 56. Diese Schicht erfüllt die Interferenzbedingungen nicht.

In Fig. 14 ist eine "Dünne Schicht" 47 dargestellt, mit zwei parallelen Grenzflächen. Diese erfüllt die Interferenzbedingungen, wenn die Schichtdicke dünner als ein Mikron ist. In Fig. 15 ist eine "Schwarze Schicht" 58 dargestellt. Diese Schicht erfüllt die Interferenz-Bedingungen, ist jedoch durch Verdünnung so dünn, dass kein Licht reflektiert wird. Weil diese kein Licht reflektiert ist sie schwarz.

Fig. 16 zeigt den Kollaps einer "Dünnen Schicht" 47. Feine Teilchen, im GASZUSTAND, bewegen sich durch die Luft.

Am Schichtträger 45 bleibt am Lochrand 46 ein kleiner Rückstand der Schicht-Flüssigkeit zurück, als Kennzeichen für den Kollaps.

Das Zusammenwirken der Interferenzbedingungen am Lichtmikroskop mit den Interferenzbedingungen am Präparat.

Durch das Zusammenwirken der Interferenzbedingungen erscheint die "Dünne Schicht" während einer Schichtverdünnung, in wechselnden Farben, in ca. zehn Ordnungen, und anschliessend in den Farben Weiss und Grau, vielschichtig in bis zu zehn Ordnungen, wobei als letzte Ordnung die Schicht schwarz erscheint. Die Schicht erscheint schwarz, weil kein Licht reflektiert wird. In der schwarzen Schicht können noch Figurationen von einzelnen weiss-grauen Punkten identifiziert werden.

Ausser den Farben werden durch intermolekulare Kräfte Formen und Bewegungen, Punktreihen, Grenzkanten, Vielschichten usw. sichtbar, die sich verändern, bewegen oder im Stillstand verharren (Phasenübergang Flüssig - Fest).

Die schwarze Schicht bildet sich aus schwarzen Löchern, die sich vergrössern und vermehren (Lochphase).

In der schwarzen Schicht können nebelhaft kleine weisse Punkte beobachtet werden, die z.B. die Brown sche Bewegung ausführen. Die Verdünnung der Schicht, von 1000 Nanometer bis gegen ein Nanometer, ergibt sich aus der natürlichen Verdunstung der Flüssigkeit (Phasenübergang Flüssig - Gas).

Diese dynamischen Informationen sind die Grundlage zur Erforschung der Ursache dieser natürlichen Veränderungen bzw. des ENERGIE-VERHALTENS der Präparat-Flüssigkeit.

Die Bewegungsinformationen beruhen bei Einzelteilchen auf ANZIEHUNG oder ABSTOSSUNG und im Gruppen-Verhalten auf KONTRAKTION und EXPANSION.

Das erfindungsgemässe Lichtmikroskop findet Anwendung in Chemie, insbesondere Grenzflächen und Kolloidchemie, Tensid-Chemie und in der biologischen Membranen- und Zellforschung, und in der Physik der Aggregat-Zustände (FEST, Flüssig, Gas) und der Kraftwirkungen, sowie in der Medizin, der Atmosphären- und Wetterforschung, der Kosmetik usw.

Das Interferenz-Lichtmikroskop findet auch Anwendung in der Produkt-Forschung für chemische und medizinische Erzeugnisse sowie in der Verfahrenstechnik und Produkt-Kontrolle usw. Für die Interpretation der Informationen kommt insbesondere das Coulomb sche Gesetz zur Anwendung, in dem die abstandsabhängigen Kräfte zum Ausdruck kommen und den Flüssigkeiten energetische Eigenschaften zuordnet werden können.

Unter energetischen Eigenschaften sind die Eigenschaften des LADUNGS-Verhaltens und des FELD-Verhaltens, z.B. von Elektronen, zu verstehen.

Da für die Erfüllung der mikroskopischen Bedingungen keine Vakuum-Umwelt erforderlich ist, werden die Informationen unter natürlichen Umweltbedingungen erfasst und können elektronisch aufgezeichnet werden.

Unter diesen Bedingungen kann auch von aussen auf das Präparat eingewirkt werden, z.B. mit Nadel, Luftstrahl und Stoffzugaben, Schwingungen usw.

Hauchdünne Schichten, die durch Anhauchen von Brillengläsern gebildet werden, erfüllen die Interferenz-Bedingungen nicht. Dampfniederschläge auf Spiegel oder Glas erfüllen die Interferenz-Bedingungen nicht.

Aufgedampfte Schichten im Festzustand, wie sie industriell hergestellt werden, erfüllen Interferenz-Bedingungen nicht. FLÜSSIGKEITEN jeder Art (mit Ausnahmen) erfüllen Interferenz-Bedingungen, wenn diese erfindungsgemäss in "Dünne Schichten" gewandelt werden.

Ob Interferenz-Bedingungen erfüllt sind, lässt sich am besten im Mikroskop feststellen. Wenn Interferenz-Farben erscheinen, sind Interferenz-Bedingungen erfüllt.

Es ist vorteilhaft, das erfindungsgemässe Lichtmikroskop mit einer Farbfernseh-Kamera und mit Monitor und Video-Kassettengerät, mit digitalem Fotodrucker auszubauen. Damit kann das Mikroskop als Forschungsinstrument für die ENERGIE-VERHALTENS-FORSCHUNG eingesetzt werden.

Claims (13)

1. Lichtmikroskop (6) mit einer Mikroskopsäule (7), einem Objektivkörper (26), einer Lichtquelle und einer Präparatebene (4), dadurch gekennzeichnet, dass es eine Anordnung der Lichtquelle und der Präparatebene (4) aufweist, derart, dass der Lichteinfallstrahl (1) und der Lichtausfallstrahl (2) bezogen auf die Vertikale (3) der Präparatebene (4) den gleichen Winkelbetrag ALPHA haben und dass der Lichtausfallstrahl (2) genau auf die Richtung des optischen Objektstrahls (5) des Mikroskops (6) ausgerichtet ist.

2. Lichtmikroskop (6) gemäss Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Anordnung dadurch erzielt wird, dass die Mikroskopsäule (7) um den Winkel ALPHA dadurch einschwenkbar ist, dass sie mit einem Trennspalt (9) ausgerüstet ist, der durch eine obere Auflagefläche (10) und eine untere Auflagefläche (11) oder eine untere schräge Auflagefläche (12) gebildet wird, und wobei die eingeschwenkte Mikroskopsäule (7) festspannbar ist.

3. Lichtmikroskop (6) gemäss Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die obere Auflagefläche (10) und die untere Auflagefläche (11, 12) durch ein Drehgelenk (13) mit einer Drehachse (14) geöffnet oder geschlossen werden können, wobei die Drehachse (14) des Drehgelenks (13) als Excenterachse (15) ausgebildet ist.

4. Lichtmikroskop (6) gemäss Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Auflagefläche (12) auf der halben Fläche um den Winkel ALPHA abgeschrägt ist, derart, dass wahlweise die eine oder andere Fläche am Trennspalt (9) beteiligt ist, so dass die Mikroskopachse wahlweise senkrecht oder unter dem einfachen Winkel ALPHA auf das Präparat gerichtet ist.

5. Lichtmikroskop (6) gemäss irgendeinem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass es eine Lichtführung (16) mit einer Führungsnut (18) aufweist, wobei die Lichtführung (16) unter dem einfachen Winkel ALPHA bezogen auf die Vertikale (3) der Präparatebene (4) am Mikroskop (6) angeordnet ist.

6. Lichtmikroskop (6) gemäss einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass es ein Stereomikroskop ist und dass der Lichteinfallstrahl (1) als doppelter Lichteinfallstrahl (1a, 1b) ausgebildet ist.

7. Lichtmikroskop (6) gemäss Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass es eine Lichtführungsplatte (17) mit zwei Führungsnuten (18, 19) zur Aufnahme von zwei Kaltlicht-Glasfaserkabeln als Lichtquellen (20, 21) aufweist, derart, dass die Einfall-Lichtstrahlen (1a, 1b) der Lichtquellen (20, 21) auf einen zentralen Punkt des Präparats ausgerichtet sind.

8. Lichtmikroskop (6) gemäss Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass es ein Universal-Revolvermikroskop ist und dass die Lichtführungsnuten (18, 19) direkt in dem Objektiv-Körper (26) angeordnet sind.

9. Lichtmikroskop (6) gemäss Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Präparatebene (4) Teil einer keilförmigen Präparatauflage (26) ist, wobei die Präparatauflage (26) derart ist, dass der Lichteinfallstrahl (1) und der Lichtausfallstrahl (2) bezogen auf die Vertikale (3) der Präparatebene (4) den gleichen Winkelbetrag ALPHA haben und dass der Lichtausfallstrahl (2) genau auf die Richtung des optischen Objektstrahls (5) des Mikroskops (6) ausgerichtet ist.

10. Lichtmikroskop (6) gemäss Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass das ganze Mikroskop (6) auf einer Arbeitsplatte derart umschwenkbar ist, dass ein auf die keilförmige Präparatauflage (32) aufgelegtes Präparat resp. ein aufgelegter Präparat-Träger (34) schwenkbar und in die Horizontale ausrichtbar ist.

11. Lichtmikroskop (6) gemäss Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, dass ein Beleuchtungshalter (31), die keilförmige Präparat-Auflage (32), ein Kreuzschlitten (33) für die Verschiebung des Präparat-Trägers (34) und eine schwenkbare Streichplatte (35) auf einer Grundplatte (30) vereinigt sind.

12. Verwendung eines Lichtmikroskops (6) gemäss einem der vorangehenden Ansprüche zur Betrachtung einer dünnen Schicht, dadurch gekennzeichnet, dass die dünne Schicht als Streichpräparat auf einer flachen, dünnen, horizontal angeordneten Platte resp. einem Schichtträger (45) ausgebildet ist, die resp. der mindestens ein Loch (46) enthält, wobei die dünne Schicht im Schwebezustand innerhalb des Loches (46) mit natürlichen Adhäsionskräften gehalten wird, wobei der Lochrand die Halterung der dünnen Schicht mit den natürlichen Eigenschaften der Präparatflüssigkeit ausübt.

13. Verfahren zur Herstellung einer dünnen Schicht als Präparat zur Betrachtung in einem Lichtmikroskop (6) gemäss einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass die dünne Schicht mit einer vertikalen, horizontal schwenkbaren, dünnen, scharfkantigen Platte ausgestrichen wird, derart, dass die hochempfindliche Schicht direkt am Standort der mikroskopischen Betrachtungsebene erstellt werden kann.