WO2007098426A3 - Procedes et appareils pour l'analyse de donnees - Google Patents

Procedes et appareils pour l'analyse de donnees Download PDF

Info

Publication number
WO2007098426A3
WO2007098426A3 PCT/US2007/062366 US2007062366W WO2007098426A3 WO 2007098426 A3 WO2007098426 A3 WO 2007098426A3 US 2007062366 W US2007062366 W US 2007062366W WO 2007098426 A3 WO2007098426 A3 WO 2007098426A3
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
data
methods
data analysis
outliers
test data
Prior art date
Application number
PCT/US2007/062366
Other languages
English (en)
Other versions
WO2007098426A2 (fr
Inventor
Emilio Miguelanez
Michael J Scott
Greg Labonte
Original Assignee
Test Advantage Inc
Emilio Miguelanez
Michael J Scott
Greg Labonte
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Test Advantage Inc, Emilio Miguelanez, Michael J Scott, Greg Labonte filed Critical Test Advantage Inc
Priority to EP07757164A priority Critical patent/EP1989561A2/fr
Priority to JP2008555533A priority patent/JP2009527903A/ja
Publication of WO2007098426A2 publication Critical patent/WO2007098426A2/fr
Priority to US11/857,654 priority patent/US7904279B2/en
Priority to IL193447A priority patent/IL193447A/en
Publication of WO2007098426A3 publication Critical patent/WO2007098426A3/fr

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2894—Aspects of quality control [QC]

Abstract

La présente invention concerne des procédés et des appareils pour l'analyse de données selon différents aspects de la présente invention qui identifient des outliers statistiques (ensembles de donnés divergentes) dans des données telles que des données test pour des composants. Les outliers peuvent être identifiés et catégorisés en fonction de la distribution des données. En supplément, des outliers peuvent être identifiés selon des paramètres multiples tels que des relations spatiales, des variations dans les données test et des corrélations avec d'autres données test.
PCT/US2007/062366 2004-04-02 2007-02-17 Procedes et appareils pour l'analyse de donnees WO2007098426A2 (fr)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP07757164A EP1989561A2 (fr) 2006-02-17 2007-02-17 Procedes et appareils pour l'analyse de donnees
JP2008555533A JP2009527903A (ja) 2006-02-17 2007-02-17 データ解析のための方法および装置
US11/857,654 US7904279B2 (en) 2004-04-02 2007-09-19 Methods and apparatus for data analysis
IL193447A IL193447A (en) 2006-02-17 2008-08-14 Methods and system for data analysis

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US77468206P 2006-02-17 2006-02-17
US60/774,682 2006-02-17

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
US11/535,851 Continuation-In-Part US20070219741A1 (en) 2002-05-24 2006-09-27 Methods and apparatus for hybrid outlier detection

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
US11/857,654 Continuation-In-Part US7904279B2 (en) 2004-04-02 2007-09-19 Methods and apparatus for data analysis

Publications (2)

Publication Number Publication Date
WO2007098426A2 WO2007098426A2 (fr) 2007-08-30
WO2007098426A3 true WO2007098426A3 (fr) 2008-11-13

Family

ID=38438077

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/US2007/062366 WO2007098426A2 (fr) 2004-04-02 2007-02-17 Procedes et appareils pour l'analyse de donnees

Country Status (4)

Country Link
EP (1) EP1989561A2 (fr)
JP (3) JP2009527903A (fr)
IL (1) IL193447A (fr)
WO (1) WO2007098426A2 (fr)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5537346B2 (ja) * 2010-09-06 2014-07-02 株式会社日立メディコ 画像診断支援装置、画像診断支援方法
JP5767963B2 (ja) * 2011-12-28 2015-08-26 株式会社キーエンス 外観検査装置、外観検査方法及びコンピュータプログラム
JP6532373B2 (ja) * 2015-10-16 2019-06-19 株式会社Ｎｔｔファシリティーズ 蓄電池劣化推定システム、蓄電池劣化推定方法および蓄電池劣化推定プログラム
JP6752661B2 (ja) * 2016-09-05 2020-09-09 日置電機株式会社 処理装置、検査システムおよび処理プログラム
EP3451219A1 (fr) 2017-08-31 2019-03-06 KBC Groep NV Détection d'anomalies améliorée
US20200004619A1 (en) * 2018-06-28 2020-01-02 Honeywell International Inc. System and method for detecting a shift in real data trend using the configurable adaptive threshold
US11157346B2 (en) * 2018-09-26 2021-10-26 Palo Alto Rsearch Center Incorporated System and method for binned inter-quartile range analysis in anomaly detection of a data series
CN113486003B (zh) * 2021-06-02 2024-03-19 广州数说故事信息科技有限公司 数据可视化时考虑异常值的企业数据集处理方法及系统
US11907088B2 (en) * 2021-12-15 2024-02-20 Synopsys, Inc. Testing of hardware queue systems using on device test generation

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030014205A1 (en) * 2001-05-24 2003-01-16 Tabor Eric Paul Methods and apparatus for semiconductor testing

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0352247A (ja) * 1989-07-20 1991-03-06 Seiko Instr Inc 半導体試験装置
JPH04283046A (ja) * 1991-03-12 1992-10-08 Nec Corp 作業順序制御方式
JP2002016118A (ja) * 2000-06-29 2002-01-18 Agilent Technologies Japan Ltd 半導体パラメトリック試験装置
US8417477B2 (en) * 2001-05-24 2013-04-09 Test Acuity Solutions, Inc. Methods and apparatus for local outlier detection
EP1723571A4 (fr) * 2004-02-06 2007-05-09 Test Advantage Inc Procedes et dispositifs d'analyse de donnees
JP2006146459A (ja) * 2004-11-18 2006-06-08 Renesas Technology Corp 半導体デバイスの製造方法および製造システム
JP5116307B2 (ja) * 2007-01-04 2013-01-09 ルネサスエレクトロニクス株式会社 集積回路装置異常検出装置、方法およびプログラム

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030014205A1 (en) * 2001-05-24 2003-01-16 Tabor Eric Paul Methods and apparatus for semiconductor testing

Also Published As

Publication number Publication date
IL193447A0 (en) 2009-05-04
JP2009188418A (ja) 2009-08-20
JP5080526B2 (ja) 2012-11-21
JP5907649B2 (ja) 2016-04-26
EP1989561A2 (fr) 2008-11-12
JP2009527903A (ja) 2009-07-30
JP2010197385A (ja) 2010-09-09
WO2007098426A2 (fr) 2007-08-30
IL193447A (en) 2015-05-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2007098426A3 (fr) Procedes et appareils pour l'analyse de donnees
WO2008039918A3 (fr) Procédés et appareils pour la détection de contours hybrides
EP1952280A4 (fr) Systeme, procede et produit-programme d'ordinateur pour recherche et analyse conceptuelles
WO2008109878A3 (fr) Dispositif de test
WO2008144729A3 (fr) Jeu électronique utilisant des photographies
SG10201700044VA (en) Apparatuses, methods and systems for integrated, information-engineered and self-improving advertising, e-commerce and online customer interactions
PL1891798T3 (pl) System, jednostka sieciowa, terminal, sposób i produkt programu komputerowego do publikacji obecności
DE602005008949D1 (de) Verfahren und System zur dynamischen Spektrumzuweisung, und entsprechendes Computerprogrammprodukt
WO2007127092A3 (fr) Procédé procurant des informations d'accès à un terminal d'accès
EP1946537A4 (fr) Procedes, systemes, et progiciels pour la fourniture de traduction d'adresses a l'aide d'information d'adresses ulterieure
WO2006129137A3 (fr) Systemes et procedes pour le financement objectif d'actifs
ZA201006084B (en) Method and apparatus for identifying, authenticating, tracking and tracing manufacturing items
WO2010009000A8 (fr) Connecteurs rubans pour appareils de mesure
MX292095B (es) Sistema de alto rendimiento y metodos para analizar formulaciones liquidas.
HK1141167A1 (en) Data acquiring method, system and server of user access path
EP1948002A4 (fr) Systeme et procede de test visuel
EP2116021A4 (fr) Procédés, systèmes, et produits de programme informatique permettant d'examiner le solde du compte de prépaiement
ZA200904524B (en) Electrical measuring device, method and computer program product
WO2010042415A3 (fr) Système et procédé pour analyser des données métabolomiques
WO2011021198A3 (fr) Procédé et système d'analyse par chromatographie en phase gazeuse
MY138785A (en) Test apparatus, diagnosing program and diagnosing method therefor
EP2214027A4 (fr) Cristaux d'alimentation en liquide et procédé d'analyse
EP1923110A4 (fr) Systeme de jeu, dispositif serveur, dispositif terminal et programme informatique
EP1903493A4 (fr) Méthode et programme de traitement informatique
HK1186520A1 (zh) 用於分析被 -羧基苯基 卟吩 標記的樣品的系統和方法

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 11857654

Country of ref document: US

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 193447

Country of ref document: IL

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2008555533

Country of ref document: JP

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2007757164

Country of ref document: EP