JP5116307B2 - 集積回路装置異常検出装置、方法およびプログラム - Google Patents

集積回路装置異常検出装置、方法およびプログラム Download PDF

Info

Publication number
JP5116307B2
JP5116307B2 JP2007000197A JP2007000197A JP5116307B2 JP 5116307 B2 JP5116307 B2 JP 5116307B2 JP 2007000197 A JP2007000197 A JP 2007000197A JP 2007000197 A JP2007000197 A JP 2007000197A JP 5116307 B2 JP5116307 B2 JP 5116307B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
integrated circuit
circuit device
regression line
scatter diagram
measurement result
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2007000197A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008166644A (ja
Inventor
和宏 坂口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Electronics Corp
Original Assignee
Renesas Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Electronics Corp filed Critical Renesas Electronics Corp
Priority to JP2007000197A priority Critical patent/JP5116307B2/ja
Publication of JP2008166644A publication Critical patent/JP2008166644A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5116307B2 publication Critical patent/JP5116307B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は集積回路装置の異常検出装置、方法およびプログラムに関し、特に集積回路装置の特性測定値を解析する装置、方法およびプログラムに関する。また、本発明は集積回路装置の異常検出方法に関し、特に集積回路装置の特性測定値を解析する方法に関する。
集積回路装置の異常検出装置、方法およびプログラムは、例えば、Automotive Electronics Council発行の文献(”GUIDELINES FOR PART AVERAGE TESTING”,AEC−Q001−Rev−C,July 18, 2003)に示されるように、従来から集積回路装置の品質向上、信頼性の向上のために用いられている。当該文献の5ページに記載されている図3を用いて説明する。ある被検査集積回路装置群をテストしたときに、ある測定項目でテストリミット内にあるものは、その測定項目に対するテストはパス判定される。しかしその測定項目の測定値の分布を見ると当該文献の図3のようになっていることがある。これは、テストリミット内にある集積回路装置の測定値の分布が主分布と、主分布から外れている「外れ値=outlier」からなっていることを示している。こうした場合、主分布から新たに作成される基準値(Part Average Test Limits)で判断すると、基準値を超過している外れ値を示す被検査集積回路装置は、テストリミット内にあるにもかかわらず不良と判断されることとなる。
第1の問題点は、集積回路装置の異常品の検出精度が必ずしも高くないことである。その理由は、集積回路装置の異常品の検出をある1つの測定値のみの解析によって判断しているためである。すなわち、1つの測定値の分布を求め、その分布において規定された範囲内に被検査集積回路装置の測定値があるか否かで異常か正常かの判断を行う場合、検出したい異常品の測定値が、測定値の分布の規定範囲内にある場合、その異常品の検出は不可能である。また、別の測定値によって解析したとしても、その測定値でも同様に規定の分布内に留まっていれば異常と判断することはできないからである。
本発明の第1の目的は、集積回路装置の1つの特性の測定値の解析からだけでは検出できない集積回路装置の異常品を検出できる集積回路装置の異常検出装置を提供することである。
本発明の第2の目的は、集積回路装置の1つの特性の測定値の解析からだけでは検出できない集積回路装置の異常品の検出方法を提供することである。
本発明の第3の目的は、集積回路装置の1つの特性の測定値の解析からだけでは検出できない集積回路装置の異常品の検出プログラムを提供することである。
本発明の第1の視点によれば、集積回路装置異常検出装置が提供される。すなわち、集積回路装置異常検出装置は、集積回路装置それぞれに紐付けされた第1の測定結果を記録する記憶手段と、前記集積回路装置それぞれに紐付けされた、前記第1の測定とは異なる条件で取得された第2の測定結果を記録する記憶手段と、前記第1の測定結果および前記第2の測定結果に基づいて散布図を作成する手段と、前記散布図の回帰直線を求める手段と、前記散布図の各点と前記回帰直線の距離を求める手段と、予め定められた基準値を記録する記憶手段と、前記距離が前記基準値を上回る集積回路装置を検出する手段と、前記検出された集積回路装置を出力する手段と、を備えたことを特徴とする。
本発明の第2の視点によれば、集積回路装置異常検出方法が提供される。すなわち、集積回路装置異常検出方法は、集積回路装置それぞれに紐付けされた第1の測定結果を記憶手段から読み出す工程と、前記集積回路装置それぞれに紐付けされた、前記第1の測定とは異なる条件で取得された第2の測定結果を記憶手段から読み出す工程と、前記第1の測定結果および前記第2の測定結果に基づいて散布図を作成する工程と、前記散布図の回帰直線を求める工程と、前記散布図の各点と前記回帰直線の距離を求める工程と、前記距離が予め定めた基準値を上回る集積回路装置を検出する工程と、前記検出された集積回路装置を出力する工程と、を含むことを特徴とする。
第1の効果は従来見つけられなかった集積回路装置の異常品を検出できることである。その理由は、従来集積回路装置の異常品を見つけるために、測定値Aの分布をもとめ、主分布から外れた値を示す集積回路装置を異常品と判断していた。しかし、この場合、集積回路装置に異常があっても、その測定値が主分布に入っている場合に外れ値であるとは認識できず、前記集積回路装置の異常を検出することは不可能である。
同様に測定値Bを用いた判定でも、異常のある集積回路装置の測定値が主分布の範囲内にある場合にその異常を検出することはできない。
しかし、測定値Aと測定値Bの散布図を描かせ、その回帰直線からの距離によって外れ値を検出する場合に、測定値Aのみの分布では主分布に入り、同様に測定値Bのみの分布でも主分布に入るような場合でも、散布図では回帰直線からの距離を判定材料に用いることで、明確に外れ値であることを認識することが可能となることがあるからである。
本発明を実施するための最良の形態について図面を参照して説明する。
本発明に係る集積回路装置異常検出装置は、図1を参照すると、集積回路装置それぞれに紐付けされた第1の測定結果を記録する記憶手段1と、前記集積回路装置それぞれに紐付けされた、前記第1の測定とは異なる条件で取得された第2の測定結果を記録する記憶手段2と、前記第1の測定結果および前記第2の測定結果に基づいて散布図を作成する手段3と、前記散布図の回帰直線を求める手段4と、前記散布図の各点と前記回帰直線の距離を求める手段5と、予め定められた基準値を記録する記憶手段7と、前記距離が前記基準値を上回る集積回路装置を検出する手段6と、前記検出された集積回路装置を出力する手段8と、を備えたことを特徴とする。
図6を参照すると、前記回帰直線を求める手段(図1の4)に代えて、再帰的に回帰直線を求める手段9を備えたものであってもよい。
図8を参照すると、前記散布図を作成する手段(図1の3)に代えて、前記第1の測定結果または前記第2の測定結果の少なくともいずれか一方の値を変換し、変換後の値に基づいて散布図を作成する手段10を備えたものであってもよい。
本発明に係る集積回路装置異常検出方法は、図2を参照すると集積回路装置それぞれに紐付けされた第1の測定結果を記憶手段から読み出す工程S1と、前記集積回路装置それぞれに紐付けされた、前記第1の測定とは異なる条件で取得された第2の測定結果を記憶手段から読み出す工程S2と、前記第1の測定結果および前記第2の測定結果に基づいて散布図を作成する工程S3と、前記散布図の回帰直線を求める工程S4と、前記散布図の各点と前記回帰直線の距離を求める工程S5と、前記距離が予め定めた基準値を上回る集積回路装置を検出する工程S6と、前記検出された集積回路装置を出力する工程S7と、を含むことを特徴とする。
図7を参照すると、前記回帰直線を求める工程(図2のS4)に代えて、再帰的に回帰直線を求める工程S4Aを含むものであってもよい。
図9を参照すると、前記散布図を作成する工程(図2のS3)に代えて、前記第1の測定結果または前記第2の測定結果の少なくともいずれか一方の値を変換し、変換後の値に基づいて散布図を作成する工程S3Aを含むものであってもよい。
本発明に係るプログラムは、集積回路装置それぞれに紐付けされた第1の測定結果を記憶手段から読み出す処理と、前記集積回路装置それぞれに紐付けされた、前記第1の測定とは異なる条件で取得された第2の測定結果を記憶手段から読み出す処理と、前記第1の測定結果および前記第2の測定結果に基づいて散布図を作成する処理と、前記散布図の回帰直線を求める処理と、前記散布図の各点と前記回帰直線の距離を求める処理と、前記距離が予め定めた基準値を上回る集積回路装置を検出する処理と、前記検出された集積回路装置を出力する処理と、をコンピュータに実行させる。
前記プログラムは、前記回帰直線を算出する処理において、回帰直線を算出し、前記散布図の各点と回帰直線との距離を算出し、事前に指定された値以上の距離を持つ点を除外する一連の処理を、新たに除外される点がなくなるまで再帰的に繰り返す処理を、前記コンピュータに実行させてもよい。
前記散布図を作成する処理において、前記第1の測定結果または前記第2の測定結果の少なくともいずれか一方の値を変換し、変換後の値に基づいて散布図を作成する処理をコンピュータに実行させてもよい。
本発明により、上記のいずれかのプログラムを記録した記録媒体が提供される。
本発明の集積回路装置の異常検出装置は、従来の検査装置では見逃してしまうような異常のある集積回路装置を検出する。すなわち、本発明の集積回路装置の異常検出装置は、被検査集積回路装置の測定値Aと測定値Bとの散布図を作成する散布図作成ユニット(図1の3)と、前記散布図の回帰直線を求める回帰直線算出ユニット(図1の4)と、前記回帰直線と、前記散布図における各点との距離を求める距離計算ユニット(図1の5)と、前記距離と事前に定められた基準値とから外れ値を示す集積回路装置を特定する判定ユニット(図1の6)と、前記集積回路装置を異常品であると出力する結果出力ユニット(図1の8)と、を備える。
本発明の集積回路装置の異常検出方法は、従来の検査方法では見逃してしまうような異常のある集積回路装置を検出する。より具体的には、被検査集積回路装置の測定値Aと測定値Bとの散布図を作成するステップ(図2のS3)と、前記散布図の回帰直線を求めるステップ(図2のS4)と、前記回帰直線と、前記散布図における各点との距離を求めるステップ(図2のS5)と、前記距離と事前に定められた基準値とから外れ値を示す集積回路装置を特定するステップ(図2のS6)と、前記集積回路装置を異常品であると出力するステップ(図2のS7)と、を含む。
本発明では、集積回路装置の異常品をその測定値A、測定値Bとの散布図において、回帰直線からの距離の外れ値によって判定する。そのため、測定値A、あるいは測定値Bのみの解析では見つけられない異常品を見つけることが可能となる。
図1は、本発明の第1の実施の形態を示す、ブロック図である。図2は本発明の第1の実施の形態の動作を示すフローチャートである。
図1を参照すると、本発明の第1の実施の形態は、被検査集積回路装置群に属する各集積回路装置の測定値Aの結果を記録した測定値A情報ファイル1と、同じく前記被検査集積回路装置群に属する各集積回路装置の測定値Bの結果を記録した測定値B情報ファイル2と、これら2つの情報ファイルに接続し、測定値Aと測定値Bとの散布図を作成する散布図作成ユニット3と、散布図作成ユニット3に接続し、前記散布図の回帰直線を求める回帰直線算出ユニット4と、前記回帰直線算出ユニット4に接続し、前記散布図と、前記回帰直線から前記散布図上の各点の前記回帰直線からの距離を算出する距離計算ユニット5と、距離計算ユニット5と、判定基準ファイル7に接続し、前記距離情報と、判定基準ファイル7に格納された判定基準情報から、外れ値を判定する判定ユニット6と、判定ユニット6に接続し、判定ユニット6で外れ値と判定された測定値を示した被検査集積回路装置群の特定の被検査集積回路装置を出力する結果出力ユニット8を有する。
次に本発明の第1の実施の形態について図1と図2を参照して説明する。
被検査集積回路装置群は何らかのカテゴリによって定義された同一種類の被検査集積回路装置の集合である。例えば、1枚のウエハー上に形成された一連の集積回路装置を1つの群と定義し、あるいは、同一バッチで処理されている複数枚のウエハーを1つのロットとした場合、このロットに含まれる集積回路装置を1つの群と定義する。
この被検査集積回路装置群の各集積回路装置のある特性値、例えば、電源電流値や、各端子電圧等、を測定した測定値Aがそれぞれの集積回路装置を特定するIDとともに測定値A情報ファイル1に記録されている。また、測定値B情報ファイル2には前記被検査集積回路装置群とまったく同一の集積回路装置において、前記測定値Aとは測定条件、あるいは測定項目が異なった特性値を測定した測定値Bが、同じく集積回路装置を特定するIDとともに測定値B情報ファイル2に記録されている。
測定値Aと測定値Bとの違いは、同一の測定項目について、測定条件を変化させて測定した値、あるいは、異なる測定項目について同一の測定条件で測定した値、あるいは異なる測定項目について、異なる測定条件で測定した値である。例えば、測定項目については集積回路装置の電源電流値、端子入出力電流値、端子電圧値、消費電力値、動作周波数、遅延時間等、計測器で測定可能な各種測定値が挙げられる。また、測定条件の変化については、入出力電圧/電流値の変化、測定周囲温度の変化、測定時刻の変化(その間に加速試験等を行う)が挙げられる。また、これらの組み合わせを行っても良い。
こうして得られた測定値Aと測定値Bはそれぞれ測定値A情報ファイル1と測定値B情報ファイル2に格納されており、まずこれらの値を各集積回路装置を特定するIDとともに読み出す(図2のS1、S2)。次いで、散布図作成ユニット3ではそれぞれの集積回路装置の測定値AをX軸に取り、測定値BをY軸にとった点を散布図上に打点していく。このとき各打点とその測定値を示した集積回路装置はIDを介して紐付けされており、各打点がどの集積回路装置に由来するものかは容易に識別できるようにする(図2のS3)。回帰直線算出ユニット4では、散布図作成ユニット3で作成された散布図についてその回帰直線を算出する(図2のS4)。距離計算ユニット5では、散布図作成ユニット3で作成された散布図上での各点と、回帰直線算出ユニット4で算出された回帰直線から、前記各点と前記回帰直線との距離を算出する(図2のS5)。
図3はこの距離算出ユニットの動作を説明する図である。図3に図示するように回帰直線lと点Aとの距離dを距離計算ユニット5で算出し、点Aについての距離はdであるというように記録していく。判定ユニット6では、判定基準ファイル7に格納された基準値に基づき、距離計算ユニット5で計算された各点と回帰直線との距離dから、前記基準値を超えた値を示している点を特定する(図2のS6)。結果出力ユニット8では、判定ユニット6で決定された点について、その点に紐付けされた集積回路装置をそのIDによって特定し、前記集積回路装置を異常品として出力する(図2のS7)。
次に本発明の第1の実施の形態の効果について説明する。
図4(A)は、測定値Aのみに基づいて集積回路装置の異常品を検出する従来の方法を説明するための図である。図4(A)において、被検査集積回路装置群に属する各集積回路装置の測定値Aの分布をヒストグラムで表した。従来手法では、主分布から定義される規格値Lから規格値Hの間に集積回路装置の測定値Aの値が存在した場合、当該集積回路装置は正常と判断され、範囲外にある場合に異常と判断される。図4(A)に示す例では、集積回路装置Yの測定値Aの値AYが範囲L〜Hの範囲外に存在しているので、集積回路装置Yは異常と判断される。一方集積回路装置Xの測定値Aの値AXは範囲L〜Hの範囲内にあるので、集積回路装置Xは正常と判断される。このとき集積回路装置Xが実際には不良品であったとしても、その測定値Aの値AXが範囲L〜Hの範囲内にあるために、集積回路装置Xを異常と判断することはない。
図4(B)は、測定値Bのみに基づいて集積回路装置の異常品を検出する従来の方法を説明するための図である。図4(B)において、被検査集積回路装置群に属する各集積回路装置の測定値Bの分布をヒストグラムで表す。従来手法では、範囲L〜Hの間に被検査集積回路装置の測定値Bの値が存在した場合、該被検査集積回路装置は正常と判断する。このとき、実際には不良品である集積回路装置Xの測定値Bの値BXが範囲L〜Hの範囲内にあるので、集積回路装置Xは正常と判断してしまう。
図5は測定値Aと測定値Bとによる散布図である。前記集積回路装置Xの測定値Aの値がAXであり、測定値Bの値がBXである場合、その打点は図5のように主分布から外れた位置に存在するため、外れ値であると判断され、集積回路装置Xは異常品であると判断することが可能となる。
以上のように、測定値Aや測定値Bの値のみを用いて異常品の判定を行う従来の手法では、その測定値が主分布によって規定されるある範囲内に存在している場合に異常品であるとの判定は不可能であるが、測定値Aと測定値Bとの散布図を作成し、その回帰直線からの距離で外れ値を識別することで異常品の判別が可能となる。
このように、本発明の第1の実施の形態では、1つの測定値のみでは判断ができないような異常品の識別も、2つの測定値を組み合わせ、その散布図を用いて、回帰直線からの距離に基づいて判定することで、異常品を識別できる効果がある。
図6は本発明による第2の実施の形態を表すブロック図である。第1の実施の形態と比較し、回帰直線算出ユニット4の代わりに再帰回帰直線算出ユニット9が設けられている。
また、図7は本発明による第2の実施の形態の動作を示すフローチャートである。第1の実施の形態の動作を示す図2のフローチャートと比較し、ステップS4の代わりに、再帰的に回帰直線を求めるステップS4Aが設けられている。
次に本発明による第2の実施の形態の動作について説明する。
再帰回帰直線算出ユニット9では、散布図作成ユニット3で作成された散布図から回帰直線を求めるが、この回帰直線の算出において、外れ値の存在による回帰直線の歪みに対処するため、外れ値を除外して回帰直線を算出している。具体的には、回帰直線を算出し、各点の回帰直線との距離を算出し、事前に指定された値以上の距離を持つ点を除外して、再度回帰直線を算出する。これらの一連の動作を繰り返して、新たに除外される点がなくなるまで回帰直線の算出を再帰的に繰り返し、最終的に得られた回帰直線を再帰回帰直線算出ユニット9における出力として、距離計算ユニット5に伝達する(図7のステップS4A)。
次に本発明の第2の実施の形態の効果について説明する。
回帰直線の算出において、外れ値の存在は、その回帰直線が正しく求められないという悪影響を及ぼし、本来ならば、外れ値として検出されるべき点や、外れ値としては検出されるべきでない打点を外れ値として誤検出してしまうおそれがある。そこで、外れ値の存在により回帰直線が正確に求められなくなることに対し、外れ値を除外して回帰直線を算出することで、より正確な回帰直線を求められるようにする。この結果、正確な外れ値の検出を可能とし、異常品の検出をより高精度に正確に行うことを可能とする。
図8は本発明による第3の実施の形態を示すブロック図である。本発明の第1の実施の形態と比較し散布図作成ユニット3の代わりに変換散布図作成ユニット10が設けられている。
図9は本発明による第3の実施の形態の動作を示すフローチャートである。本発明による第1の実施の形態の動作と比較し、散布図を作成するステップS3の代わりに異なる散布図を作成するステップS3Aが設けられている。
次に、本発明による第3の実施の形態の動作について説明する。
変換散布図作成ユニット10では、測定値A、測定値Bを用いて散布図を作成するが、その際に測定値Aと、測定値Bの値そのものをそれぞれX軸、Y軸に取るのではなく、事前に指定された関数F、Gによって変換された関数値F(A)、G(B)の値をX軸とY軸に取って散布図を作成する(図9のS3A)。このとき、AまたBのいずれか一方については変換された関数値を用い、他方については元の値そのものを用いてもよい。
次に本発明による第3の実施の形態の効果について説明する。
測定値Aと測定値Bとの散布図において、測定値Aや測定値Bの測定項目によっては、その関係が一次の相関関係にならないことがある。その場合、回帰直線を求めて外れ値を算出しても適切に算出できないこととなる。そのため、関数値F(A)と関数値G(B)の関係が1次の相関関係になるような関数F、Gによってそれぞれの測定値を変換し、関数値F(A)と関数値G(B)による散布図において回帰直線を求め、外れ値を算出することで、より適切に異常品を検出することが可能となる。
本発明による第1の実施の形態を示すブロック図である。 本発明による第1の実施の形態の動作を示すフローチャートである。 本発明による第1の実施の形態の距離算出ユニットの動作を説明するための図である。 (A)は、測定値Aのみに基づいて集積回路装置の異常品を検出する従来の方法を説明するための図である。(B)は、測定値Bのみに基づいて集積回路装置の異常品を検出する従来の方法を説明するための図である。 本発明による第1の実施の形態の動作を説明する図である。 本発明による第2の実施の形態を示すブロック図である。 本発明による第2の実施の形態の動作を示すフローチャートである。 本発明による第3の実施の形態を示すブロック図である。 本発明による第3の実施の形態の動作を示すフローチャートである。
符号の説明
1 測定値A情報ファイル
2 測定値B情報ファイル
3 散布図作成ユニット
4 回帰直線算出ユニット
5 距離計算ユニット
6 判定ユニット
7 判定基準ファイル
8 結果出力ユニット
9 再帰回帰直線算出ユニット
10 変換散布図作成ユニット

Claims (7)

  1. 集積回路装置それぞれに紐付けされた第1の測定結果を記録する記憶手段と、
    前記集積回路装置それぞれに紐付けされた、前記第1の測定とは異なる条件で取得された第2の測定結果を記録する記憶手段と、
    前記第1の測定結果および前記第2の測定結果に基づいて散布図を作成する手段と、
    前記散布図の回帰直線を求める手段と、
    前記散布図の各点と前記回帰直線の距離を求める手段と、
    予め定められた基準値を記録する記憶手段と、
    前記距離が前記基準値を上回る集積回路装置を検出する手段と、
    前記検出された集積回路装置を出力する手段と、
    を備える集積回路装置異常検出装置。
  2. 前記回帰直線を求める手段が、回帰直線を算出し、前記散布図の各点と回帰直線との距離を算出し、事前に指定された値以上の距離を持つ点を除外する一連の処理を、新たに除外される点がなくなるまで再帰的に繰り返す、請求項1に記載の集積回路装置異常検出装置。
  3. 集積回路装置それぞれに紐付けされた第1の測定結果を記憶手段から読み出す工程と、
    前記集積回路装置それぞれに紐付けされた、前記第1の測定とは異なる条件で取得された第2の測定結果を記憶手段から読み出す工程と、
    前記第1の測定結果および前記第2の測定結果に基づいて散布図を作成する工程と、
    前記散布図の回帰直線を求める工程と、
    前記散布図の各点と前記回帰直線の距離を求める工程と、
    前記距離が予め定めた基準値を上回る集積回路装置を検出する工程と、
    前記検出された集積回路装置を出力する工程と、
    を含む集積回路装置異常検出方法。
  4. 前記回帰直線を求める工程が、回帰直線を算出し、前記散布図の各点と回帰直線との距離を算出し、事前に指定された値以上の距離を持つ点を除外する一連の処理を、新たに除外される点がなくなるまで再帰的に繰り返す、請求項3に記載の集積回路装置異常検出方法。
  5. 集積回路装置それぞれに紐付けされた第1の測定結果を記憶手段から読み出す処理と、
    前記集積回路装置それぞれに紐付けされた、前記第1の測定とは異なる条件で取得された第2の測定結果を記憶手段から読み出す処理と、
    前記第1の測定結果および前記第2の測定結果に基づいて散布図を作成する処理と、
    前記散布図の回帰直線を求める処理と、
    前記散布図の各点と前記回帰直線の距離を求める処理と、
    前記距離が予め定めた基準値を上回る集積回路装置を検出する処理と、
    前記検出された集積回路装置を出力する処理と、
    をコンピュータに実行させるプログラム。
  6. 前記回帰直線を算出する処理において、回帰直線を算出し、前記散布図の各点と回帰直線との距離を算出し、事前に指定された値以上の距離を持つ点を除外する一連の処理を、新たに除外される点がなくなるまで再帰的に繰り返す処理を、前記コンピュータに実行させる、請求項5に記載のプログラム。
  7. 請求項5または6に記載のプログラムを記録した記録媒体。
JP2007000197A 2007-01-04 2007-01-04 集積回路装置異常検出装置、方法およびプログラム Expired - Fee Related JP5116307B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007000197A JP5116307B2 (ja) 2007-01-04 2007-01-04 集積回路装置異常検出装置、方法およびプログラム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007000197A JP5116307B2 (ja) 2007-01-04 2007-01-04 集積回路装置異常検出装置、方法およびプログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008166644A JP2008166644A (ja) 2008-07-17
JP5116307B2 true JP5116307B2 (ja) 2013-01-09

Family

ID=39695697

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007000197A Expired - Fee Related JP5116307B2 (ja) 2007-01-04 2007-01-04 集積回路装置異常検出装置、方法およびプログラム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5116307B2 (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1989561A2 (en) * 2006-02-17 2008-11-12 Test Advantage, Inc. Methods and apparatus for data analysis
US10557840B2 (en) 2011-08-19 2020-02-11 Hartford Steam Boiler Inspection And Insurance Company System and method for performing industrial processes across facilities
US9069725B2 (en) 2011-08-19 2015-06-30 Hartford Steam Boiler Inspection & Insurance Company Dynamic outlier bias reduction system and method
JP6172788B2 (ja) * 2013-02-15 2017-08-02 東洋ゴム工業株式会社 クラスタ分析方法、クラスタ分析装置及びコンピュータプログラム
EP2770442A3 (en) * 2013-02-20 2014-09-17 Hartford Steam Boiler Inspection and Insurance Company Dynamic outlier bias reduction system and method
WO2015157745A2 (en) 2014-04-11 2015-10-15 Hartford Steam Boiler Inspection And Insurance Company Improving future reliability prediction based on system operational and performance data modelling
CN106783697A (zh) * 2017-02-14 2017-05-31 上海华虹宏力半导体制造有限公司 一种增强半导体工艺中补值精确性的方法
US11636292B2 (en) 2018-09-28 2023-04-25 Hartford Steam Boiler Inspection And Insurance Company Dynamic outlier bias reduction system and method
US11615348B2 (en) 2019-09-18 2023-03-28 Hartford Steam Boiler Inspection And Insurance Company Computer-based systems, computing components and computing objects configured to implement dynamic outlier bias reduction in machine learning models
WO2021055847A1 (en) 2019-09-18 2021-03-25 Hartford Steam Boiler Inspection And Insurance Company Computer-based systems, computing components and computing objects configured to implement dynamic outlier bias reduction in machine learning models
US11328177B2 (en) 2019-09-18 2022-05-10 Hartford Steam Boiler Inspection And Insurance Company Computer-based systems, computing components and computing objects configured to implement dynamic outlier bias reduction in machine learning models
KR102544293B1 (ko) * 2020-11-06 2023-06-20 한국과학기술연구원 이상치 탐지 및 제거 방법
CN114265390B (zh) * 2021-12-22 2024-02-20 苏州华星光电技术有限公司 设备数据采集诊断方法、装置、服务器及存储介质

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008166644A (ja) 2008-07-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5116307B2 (ja) 集積回路装置異常検出装置、方法およびプログラム
CN102435616B (zh) 一种新型晶边检测仪稳定性的监控方法
JP6737277B2 (ja) 製造プロセス分析装置、製造プロセス分析方法、及び、製造プロセス分析プログラム
JP5287985B2 (ja) 製品選別装置、製品選別方法及びコンピュータプログラム
JP4568786B2 (ja) 要因分析装置および要因分析方法
US7557598B2 (en) Method of inspecting quiescent power supply current in semiconductor integrated circuit and device for executing the method
CN107038697A (zh) 用于诊断半导体晶圆的方法和系统
JP2721799B2 (ja) 機械の異常判定方法
JP2006317194A (ja) マルチセンサ信号異常検知装置および方法
JP4658206B2 (ja) 検査結果解析方法および検査結果解析装置、異常設備検出方法および異常設備検出装置、上記検査結果解析方法または異常設備検出方法をコンピュータに実行させるためのプログラム、並びに上記プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
US20030158679A1 (en) Anomaly detection system
JP6394787B2 (ja) 製品検査装置、製品検査方法及びコンピュータプログラム
US20110172941A1 (en) Screening apparatus, screening method, and program
CN101592692A (zh) 测量机台的评估方法
JP7128232B2 (ja) 要因分析装置および要因分析方法
JP7435071B2 (ja) 診断装置、診断方法およびプログラム
TWI472939B (zh) 良率損失估算方法及相關電腦可讀媒體
JP2021110688A (ja) 半導体素子診断装置および半導体素子診断方法
JP6304951B2 (ja) 半導体装置の試験プログラム、試験装置及び試験方法
JP2008117380A (ja) 診断プロセス支援方法とそのためのプログラム
CN111341685A (zh) 裸芯片的异常值检测方法、装置、电子设备与存储介质
CN117330882B (zh) 一种用于滤波器的自动化测试方法及系统
JP2015220379A (ja) 集積回路デバイスの潜在不良検査装置、方法およびプログラム
US20230018313A1 (en) Method for determining the level of unusualness of individuals, in particular in order to statistically detect unusual individuals in a multivariate context
KR20150082976A (ko) 반도체 생산 공정에서 센서 데이터들을 이용하여 웨이퍼의 수율을 분석하는 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090911

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120227

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120321

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120423

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121016

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121016

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151026

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees