WO2007077992A1 - Method for cleaning/drying apparatus for transferring subject to be processed, cleaning/drying apparatus and storing medium - Google Patents

Method for cleaning/drying apparatus for transferring subject to be processed, cleaning/drying apparatus and storing medium Download PDF

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WO2007077992A1
WO2007077992A1 PCT/JP2007/050018 JP2007050018W WO2007077992A1 WO 2007077992 A1 WO2007077992 A1 WO 2007077992A1 JP 2007050018 W JP2007050018 W JP 2007050018W WO 2007077992 A1 WO2007077992 A1 WO 2007077992A1
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Toshiyuki Yoshida
Takafumi Tsuchiya
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Abstract

Provided is a method for cleaning/drying an apparatus (10) which transfers a subject to be processed. In the method, the subject (W) to be processed, which is carried in from a carry-in section prior to processing, is transferred to one of the units among a chemical treatment unit, a unit for washing the subject in water and a drying unit, and the processed subject (W) processed by such unit is carried out to a carry-out section. Specifically, a plurality of subjects (W) prior to processing are successively transferred by the apparatus (10). At this time, processing conditions for cleaning/drying the apparatus (10) between transfer of the preceding subject (W) and transfer of the subsequent subject (W) are switched, depending on the kinds of series of processes of the preceding subject (W) and the kinds of the series of processes of the subsequent subject (W).

Description

明 細 書  Specification
被処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理方法、及び洗浄 ·乾燥処理装置、並び に記憶媒体  Cleaning / drying method and cleaning / drying apparatus for storage device transporter, and storage medium
技術分野  Technical field
[0001] この発明は、被処理体搬送器の洗浄'乾燥処理方法、及び洗浄'乾燥処理装置、 並びに記憶媒体に関するものであり、更に詳細には、例えば半導体ウェハや LCD用 ガラス基板等の被処理体に対して薬液処理,水洗処理,乾燥処理等を行う洗浄処理 システムに設置された被処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理方法、及び洗浄 ·乾燥処理 装置、並びに記憶媒体に関するものである。  TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a cleaning / drying processing method, a cleaning / drying processing apparatus, and a storage medium for a processing object transporter, and more specifically, for example, a semiconductor wafer or a glass substrate for LCD. The present invention relates to a cleaning / drying processing method, a cleaning / drying processing apparatus, and a storage medium for a processing object transporter installed in a cleaning processing system for performing chemical treatment, water washing processing, drying processing, etc. on a processing body.
背景技術  Background art
[0002] 一般に、被処理体に対して薬液処理,水洗処理,乾燥処理等を行う洗浄処理シス テムにお 、ては、被処理体としての例えば LCDガラス基板や半導体ウェハ等(以下 、「ウェハ」と 、う)に付着した汚染物を、種々の薬液やリンス液 (洗浄液)等の処理液 によって取り除くような処理を行うようになって!/、る。  [0002] Generally, in a cleaning processing system that performs chemical treatment, water washing processing, drying processing, etc. on a target object, for example, an LCD glass substrate or a semiconductor wafer (hereinafter referred to as "wafer") as the target object. The process of removing contaminants adhering to ") with various processing liquids such as chemicals and rinsing liquids (cleaning liquids)!
[0003] ウェハ表面の汚染物としては、例えばパーティクル、金属、有機物、酸化膜等があ る。薬液は、汚染物の種類に応じて様々な種類のものが使い分けられるようになって おり、純水で希釈したアンモニアと過酸ィ匕水素との混合液 (NH OH/H O /H O)  [0003] Examples of contaminants on the wafer surface include particles, metals, organic substances, and oxide films. Various types of chemicals can be used depending on the type of contaminant, and a mixture of ammonia diluted with pure water and hydrogen peroxide (NH OH / H 2 O / H 2 O)
4 2 2 2 4 2 2 2
、純水で希釈した希塩酸と過酸化水素の混合液 (HC1ZH O /H 0)、純水で希釈 , Diluted hydrochloric acid and hydrogen peroxide mixed solution with pure water (HC1ZH 2 O / H 0), diluted with pure water
2 2 2  2 2 2
したフッ化水素酸液 (HFZH O)等が使用されている。また、リンス液は、主としてゥ  Hydrofluoric acid solution (HFZH 2 O) or the like is used. The rinse liquid is mainly
2  2
ェハに付着した薬液を洗い流すことに使われるようになっており、純水やオゾン水等 が使用されている。  It has come to be used to wash away chemicals adhering to Yeha, and pure water and ozone water are used.
[0004] 洗浄処理システムにおいて行われる動作としては、搬入部から搬入される処理前の ウェハをウェハ搬送器によって、薬液処理ユニット,水洗処理ユニット及び乾燥処理 ユニットのいずれかのユニットに搬送して処理を施し、その後、処理済のウェハをゥェ ハ搬送器によって搬出部に搬出するようなものが知られている(例えば、特開 2002 118086号公報参照)。  [0004] As an operation performed in the cleaning processing system, a wafer before processing carried in from a loading unit is transported to a chemical processing unit, a water washing processing unit and a drying processing unit by a wafer transporter and processed. After that, it is known that the processed wafer is unloaded to the unloading section by a wafer transfer device (see, for example, JP-A-2002 118086).
[0005] しかしながら、従来のこの種の洗浄処理システムの動作においては、複数のウェハ に対して順次処理を行う際に、先行するウェハの一連の処理を実行した後に、ゥェ ハ搬送器の洗浄'乾燥処理を毎回実行して、後続のウェハの搬送を行っている。そ のため、洗浄 ·乾燥処理を行う必要がな!、場合にぉ 、てもウェハ搬送器を洗浄 ·乾燥 するので、洗浄'乾燥時間分の無駄が生じ、スループットの低下をきたすという問題 かあつた。 However, in the operation of the conventional cleaning processing system of this type, a plurality of wafers are used. When performing sequential processing on the wafer, after performing a series of processing of the preceding wafer, cleaning and drying processing of the wafer transfer device is executed every time to transfer the subsequent wafer. Therefore, it is not necessary to perform cleaning and drying! In this case, however, the wafer transfer device is cleaned and dried, so that there is a problem that the cleaning time and the drying time are wasted and the throughput is lowered.
発明の開示  Disclosure of the invention
[0006] この発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、先行する被処理体の一連の処 理の種類と後続する被処理体の一連の処理の種類によって、前記先行の被処理体 の搬送と前記後続の被処理体の搬送との間における被処理体搬送器に対する洗浄 •乾燥処理の処理条件を切り換えながら、当該被処理体搬送器による被処理体の搬 送を行うことにより、被処理体搬送器の洗浄'乾燥処理にカゝかる時間を減少させること ができ、スループットの向上を図ることができる被処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理方 法、及び洗浄'乾燥処理装置、並びに記憶媒体を提供することを目的とする。  [0006] The present invention has been made in view of the above circumstances, and the preceding object to be processed depends on the series of processing types of the preceding object to be processed and the series of processing types of the subsequent object to be processed. Cleaning the workpiece transport device between the transport of the target and the transport of the succeeding workpiece.By switching the processing conditions of the drying process, the workpiece is transported by the workpiece transport device. Cleaning and drying processing method of the processing target transporter, which can reduce the time required for cleaning and drying processing of the target transporter, and improve the throughput, and cleaning and drying processing apparatus, An object of the present invention is to provide a storage medium.
[0007] 本発明の被処理体搬送器の洗浄'乾燥処理方法は、搬入部から搬入される処理前 の被処理体を、薬液処理ユニット、水洗処理ユニット及び乾燥処理ユニットのいずれ かのユニットに搬送するとともに、これらのユニットにより処理された処理済の被処理 体を搬出部に搬出するような被処理体搬送器の洗浄,乾燥処理方法であって、前記 被処理体搬送器によって複数の処理前の被処理体の搬送を順次行う工程と、前記 被処理体搬送器により処理前の被処理体の搬送を行う際に、先行する被処理体の 一連の処理の種類と後続する被処理体の一連の処理の種類とによって、前記先行 の被処理体の搬送と前記後続の被処理体の搬送との間における前記被処理体搬送 器に対する洗浄'乾燥処理の処理条件を切り換える工程と、  [0007] In the cleaning / drying method of the object transporter of the present invention, the object to be processed before being carried in from the carry-in unit is placed in any one of the chemical treatment unit, the water washing treatment unit, and the drying treatment unit. A cleaning / drying method for a target object transporter that transports and processes a processed target object processed by these units to an unloading unit, wherein a plurality of processes are performed by the target object transporter. A process of sequentially transporting the previous object to be processed, and a type of a series of processes of the preceding object to be processed and a subsequent object to be processed when the object to be processed is transferred by the object carrier A step of switching the processing conditions of the cleaning and drying process for the processing object transport device between the transport of the preceding target object and the transport of the subsequent processing object, depending on the type of processing of
を備えたことを特徴とする。  It is provided with.
[0008] 上述の洗浄'乾燥処理方法にお!、て、前記洗浄'乾燥処理の処理条件は、前記被 処理体搬送器に対する洗浄処理および乾燥処理の少なくとも!ヽずれかの処理を省 略することを含むことが好ましい。この際に、先行の被処理体の搬送が終了してから 後続の被処理体の搬送が開始するまでの時間が、前記被処理体搬送器の洗浄処理 および乾燥処理に必要とされる時間よりも短いときに、前記被処理体搬送器に対する 洗浄処理および乾燥処理の少なくともいずれかの処理が省略されることが更に好ま しい。ここで、「省略」とは、処理を簡略にするために処理の一部又は全部を省くこと や、処理時間を短縮させることをいう。 [0008] In the cleaning and drying method described above, the processing condition of the cleaning and drying process omits at least one of the cleaning process and the drying process for the object transporter. It is preferable to include. At this time, the time from the completion of the transfer of the preceding object to be processed to the start of the transfer of the subsequent object to be processed is longer than the time required for the cleaning process and the drying process of the object to be processed transfer unit. Is shorter than the object transporter More preferably, at least one of the cleaning process and the drying process is omitted. Here, “omitted” means that part or all of the processing is omitted or the processing time is shortened in order to simplify the processing.
[0009] 上述の被処理体搬送器の洗浄'乾燥処理方法にお!、て、先行する被処理体の一 連の処理における薬液処理に使用される薬液と、後続する被処理体の一連の処理 における薬液処理に使用される薬液とが同じ種類のものである場合には、前記被処 理体搬送器に対する洗浄処理および乾燥処理の両方が省略されることが好ましい。  [0009] In the above-described cleaning and drying processing method for the object transporter !, a series of the chemicals used in the chemical process in the series of processes of the preceding target object and the subsequent target object When the chemical solution used for the chemical treatment in the treatment is of the same type, it is preferable that both the cleaning treatment and the drying treatment for the processing object transporter are omitted.
[0010] 上述の被処理体搬送器の洗浄'乾燥処理方法にお!、て、先行する被処理体の一 連の処理における薬液処理に使用される薬液と、後続する被処理体の一連の処理 における薬液処理に使用される薬液とが異なる種類のものである場合には、前記被 処理体搬送器に対する乾燥処理のみが省略されることが好ましい。  [0010] In the above-described cleaning and drying processing method for the object transporter !, a series of the chemicals used in the chemical processing in the series of processes of the preceding target object and the subsequent target object In the case where the chemical solution used for the chemical treatment in the treatment is of a different type, it is preferable that only the drying treatment for the object transporter is omitted.
[0011] 上述の被処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理方法において、前記被処理体搬送器に よって処理済の被処理体を搬出部に搬出させる際には、当該被処理体搬送器およ びこの被処理体搬送器に保持された処理済の被処理体を同時に乾燥させることが 好ましい。  [0011] In the cleaning / drying processing method for a target object transporter described above, when the target object processed by the target object transporter is transported to the unloading section, the target object transporter and In addition, it is preferable to dry the processed target objects held by the target object transporter at the same time.
[0012] 本発明の他の洗浄'乾燥処理方法は、搬入部から搬入される処理前の被処理体を 、薬液処理ユニット、水洗処理ユニット及び乾燥処理ユニットのいずれかのユニットに 搬送するとともに、これらのユニットにより処理された処理済の被処理体を搬出部に 搬出するような被処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理方法であって、前記被処理体搬送 器によって複数の処理前の被処理体の搬送を順次行う工程と、先行する被処理体の 搬送と後続の被処理体の搬送との間において予め設定された条件により前記被処 理体搬送器に対して洗浄 ·乾燥処理を行う工程と、先行する被処理体の搬送が終了 する前に後続の被処理体の搬送が可能となった場合には、先行する被処理体の一 連の処理の種類と後続する被処理体の一連の処理の種類とによって、前記先行の 被処理体の搬送と前記後続の被処理体の搬送との間における前記被処理体搬送器 に対する洗浄 ·乾燥処理の処理条件を前記予め設定された条件から切り換える工程 と、を備えたことを特徴とする。  [0012] Another cleaning and drying processing method of the present invention is to transport an object to be processed before being carried in from the carry-in section to any one of the chemical solution processing unit, the water washing processing unit and the drying processing unit, A cleaning / drying method for a target object transporter that transports a processed target object processed by these units to an unloading unit, wherein the target object transporter performs a plurality of preprocessed processes. A cleaning / drying process is performed on the processing object transport device according to a preset condition between the process of sequentially transporting the body and the transport of the preceding target object and the subsequent processing object. If it becomes possible to transfer a subsequent workpiece before the process and the conveyance of the preceding workpiece are completed, a series of processing types of the preceding workpiece and the subsequent workpiece are transferred. Depending on the type of processing, And a step of switching the cleaning / drying processing conditions for the processing object transporter between the preceding processing object and the subsequent processing object from the preset conditions. It is characterized by.
[0013] 本発明の被処理体搬送器の洗浄'乾燥処理装置は、搬入部から搬入される処理前 の被処理体を、薬液処理ユニット、水洗処理ユニット及び乾燥処理ユニットのいずれ かのユニットに搬送するとともに、これらのユニットにより処理された処理済の被処理 体を搬出部に搬出するような被処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理装置であって、前記 被処理体搬送器に対して洗浄処理を行う洗浄部と、前記被処理体搬送器に対して 乾燥処理を行う乾燥部と、予め記憶されたシーケンス制御プログラムに基づ 、て前記 被処理体搬送器、前記洗浄部および前記乾燥部を制御する制御コンピュータと、を 備え、前記制御コンピュータからの制御信号に基づいて、先行する被処理体の一連 の処理の種類と後続する被処理体の一連の処理の種類とによって、前記先行の処 理前の被処理体の搬送と前記後続の処理前の被処理体の搬送との間における前記 被処理体搬送器に対する洗浄 ·乾燥処理の処理条件を切り換えながら、前記被処理 体搬送器による複数の処理前の被処理体の搬送が順次行われることを特徴とする。 [0013] The cleaning / drying processing apparatus for an object-to-be-processed transporter according to the present invention is a pre-process that is carried in from a carry-in unit. To be processed is transported to any one of the chemical solution processing unit, the water washing processing unit, and the drying processing unit, and the processed object processed by these units is transported to the unloading unit. An apparatus for cleaning and drying a body transporter, wherein a cleaning unit that performs a cleaning process on the workpiece transporter, and a drying unit that performs a drying process on the body transporter are stored in advance. And a control computer that controls the workpiece transporter, the cleaning unit, and the drying unit based on the sequence control program, and based on a control signal from the control computer, Depending on a series of processing types and a series of processing types of subsequent processing objects, the transport of the processing object before the preceding processing and the transporting of the processing object before the subsequent processing are performed. Wherein while switching processing conditions of the washing and drying process for the workpiece transport device that the conveying of the plurality of pretreatment of the object to be processed by the workpiece conveying device, characterized in that sequentially carried out.
[0014] 上述の被処理体搬送器の洗浄'乾燥処理装置にお!、て、前記洗浄'乾燥処理の 処理条件は、前記被処理体搬送器に対する洗浄処理および乾燥処理の少なくとも V、ずれかの処理を省略することを含むことが好ま U、。  [0014] In the above-mentioned object transporter cleaning 'drying processing apparatus !, the processing condition of the cleaning' drying process is at least V of the cleaning process and the drying process for the object transporter. U, which preferably includes omitting the processing of.
[0015] 上述の被処理体搬送器の洗浄'乾燥処理装置にお!、て、前記制御コンピュータは 、先行の被処理体の搬送が終了してから後続の被処理体の搬送が開始するまでの 時間が、前記被処理体搬送器の洗浄処理および乾燥処理に必要とされる時間よりも 短 ヽと判定したときに、前記被処理体搬送器に対する洗浄処理および乾燥処理の少 なくとも 、ずれかの処理を省略させることが好まし 、。  [0015] In the above-described cleaning / drying processing apparatus for the transporter of the object to be processed !, the control computer waits until the transport of the subsequent object to be started after the transport of the preceding object to be processed is completed. If it is determined that the time is shorter than the time required for the cleaning process and the drying process of the object transporter, at least the cleaning process and the drying process for the object transporter are shifted. It is preferable to omit the process.
[0016] 上述の被処理体搬送器の洗浄'乾燥処理装置にお!、て、前記制御コンピュータは 、先行する被処理体の一連の処理における薬液処理に使用される薬液と、後続する 被処理体の一連の処理における薬液処理に使用される薬液とが同じ種類のものであ る場合には、前記被処理体搬送器に対する洗浄処理および乾燥処理の両方を省略 させることが好ましい。  [0016] In the above-described cleaning and drying processing apparatus for the transporter of the object to be processed !, the control computer includes a chemical solution used for chemical processing in a series of processes of the preceding target object, and a subsequent processing target. When the chemical solution used for the chemical treatment in the series of treatments of the body is of the same type, it is preferable to omit both the cleaning treatment and the drying treatment for the object transporter.
[0017] 上述の被処理体搬送器の洗浄'乾燥処理装置にお!、て、前記制御コンピュータは 、先行する被処理体の一連の処理における薬液処理に使用される薬液と、後続する 被処理体の一連の処理における薬液処理に使用される薬液とが異なる種類のもの である場合には、前記被処理体搬送器に対する乾燥処理のみを省略させることが好 ましい。 [0017] In the above-described cleaning and drying processing apparatus for the transporter of the object to be processed !, the control computer includes a chemical solution used for chemical processing in a series of processes of the preceding target object, and a subsequent processing target. When the chemical solution used for the chemical treatment in the series of treatments of the body is of a different type, it is preferable to omit only the drying treatment for the treatment object transporter. Good.
[0018] 上述の被処理体搬送器の洗浄'乾燥処理装置にお!ヽて、前記制御コンピュータか らの制御信号に基づ 、て、前記被処理体搬送器によって処理済の被処理体を搬出 部に搬出させる際には、当該被処理体搬送器を前記乾燥部に移動させてこの被処 理体搬送器および被処理体搬送器に保持された処理済の被処理体を同時に乾燥さ せることが好ましい。  [0018] In the above-described cleaning and drying processing apparatus for the transporter of the object to be processed, the object to be processed that has been processed by the transporter of the object to be processed is based on a control signal from the control computer. When unloading to the unloading unit, the unprocessed object transporter is moved to the drying unit, and the unprocessed object transporter and the processed object to be processed held by the unprocessed object transporter are simultaneously dried. Preferably.
[0019] 本発明の他の洗浄'乾燥処理装置は、搬入部から搬入される処理前の被処理体を [0019] Another cleaning and drying apparatus according to the present invention is to process an object to be processed before being carried in from a carry-in section.
、薬液処理ユニット、水洗処理ユニット及び乾燥処理ユニットのいずれかのユニットに 搬送するとともに、これらのユニットにより処理された処理済の被処理体を搬出部に 搬出するような被処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理装置であって、前記被処理体搬送 器に対して洗浄処理を行う洗浄部と、前記被処理体搬送器に対して乾燥処理を行う 乾燥部と、予め記憶されたシーケンス制御プログラムに基づ 、て前記被処理体搬送 器、前記洗浄部および前記乾燥部を制御する制御コンピュータと、を備え、前記制御 コンピュータからの制御信号に基づ 、て、先行する被処理体の搬送と後続の被処理 体の搬送との間において予め設定された条件により前記被処理体搬送器に対して 洗浄'乾燥処理を行い、先行する被処理体の搬送が終了する前に後続の被処理体 の搬送が可能となった場合には、先行する被処理体の一連の処理の種類と後続す る被処理体の一連の処理の種類とによって、前記先行の被処理体の搬送と前記後 続の被処理体の搬送との間における前記被処理体搬送器に対する洗浄'乾燥処理 の処理条件を前記予め設定された条件力 切り換えることを特徴とする。 Cleaning of the processing object transporter that transports the processed object processed by these units to any one of the chemical processing unit, the water washing processing unit, and the drying processing unit, and transports it to the unloading unit. · A drying processing apparatus comprising: a cleaning unit that performs a cleaning process on the object transporter; a drying unit that performs a drying process on the target object transporter; and a sequence control program stored in advance. And a control computer for controlling the processing object transporter, the cleaning unit, and the drying unit, and based on a control signal from the control computer, transporting and succeeding the preceding target object A cleaning / drying process is performed on the processing object transporter according to a preset condition between the transport of the object to be processed and the subsequent process before the transport of the preceding object is completed. When the object to be processed can be transferred, the transfer of the preceding object to be processed depends on the type of a series of processes on the preceding object to be processed and the type of processes on the subsequent object to be processed. It is characterized in that the processing condition of the cleaning and drying process for the processing object transporter during the subsequent transport of the processing object is switched to the preset condition force.
[0020] 本発明の記憶媒体は、搬入部から搬入される処理前の被処理体を、薬液処理ュ- ット、水洗処理ユニット及び乾燥処理ユニットのいずれかのユニットに搬送するととも に、これらのユニットにより処理された処理済の被処理体を搬出部に搬出するような 被処理体搬送器に対して洗浄 ·乾燥処理を行うためのプログラムが格納された記憶 媒体であって、前記プログラムが、前記被処理体搬送器によって複数の処理前の被 処理体の搬送を順次行うステップと、前記被処理体搬送器により処理前の被処理体 の搬送を行う際に、先行する被処理体の一連の処理の種類と後続する被処理体の 一連の処理の種類とによって、前記先行の被処理体の搬送と前記後続の被処理体 の搬送との間における前記被処理体搬送器に対する洗浄'乾燥処理の処理条件を 切り換えるステップと、を備えたことを特徴とする。 [0020] The storage medium of the present invention transports the object to be processed before being carried in from the carry-in section to any one of the chemical treatment unit, the water washing unit and the drying unit. A storage medium storing a program for performing a cleaning / drying process on a processing object transporter that transports a processed target object processed by the unit to a carry-out unit. A step of sequentially transferring a plurality of unprocessed objects to be processed by the to-be-processed object transfer device; and a step of transferring an unprocessed object to be processed by the to-be-processed object transfer device. According to a series of processing types and a series of processing types of subsequent processing objects, conveyance of the preceding processing object and subsequent processing objects And a step of switching the processing conditions of the cleaning and drying process for the object transporter during the transport of the process.
図面の簡単な説明  Brief Description of Drawings
[0021] [図 1]この発明に係るウェハ搬送器の洗浄 ·乾燥処理装置を適用した半導体ウェハ の洗浄処理システムの概略平面図である。  FIG. 1 is a schematic plan view of a semiconductor wafer cleaning processing system to which a wafer transfer device cleaning / drying processing apparatus according to the present invention is applied.
[図 2]図 1の洗浄処理システムにおける薬液槽を示す概略断面図である。  2 is a schematic sectional view showing a chemical tank in the cleaning system of FIG.
[図 3]図 1の洗浄処理システムにおけるウェハ搬送器およびその洗浄装置を示す概 略斜視図である。  3 is a schematic perspective view showing a wafer transfer device and its cleaning apparatus in the cleaning processing system of FIG. 1. FIG.
[図 4]図 1の洗浄処理システムにおける半導体ウェハの処理の一例を示すフローチヤ ートである。  FIG. 4 is a flow chart showing an example of semiconductor wafer processing in the cleaning system of FIG. 1.
[図 5]図 1の洗浄処理システムにおける半導体ウェハの処理の別の例を示すフローチ ヤートである。  FIG. 5 is a flow chart showing another example of semiconductor wafer processing in the cleaning system of FIG. 1.
[図 6]図 1の洗浄処理システムにおけるウェハ搬送器の洗浄 '乾燥に関するシーケン ス制御プログラムにおける処理条件のパターンを示す表である。  FIG. 6 is a table showing a pattern of processing conditions in a sequence control program related to cleaning and drying of a wafer transfer device in the cleaning processing system of FIG. 1.
発明を実施するための最良の形態  BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
[0022] 以下に、この発明の最良の実施形態を添付図面に基づいて詳細に説明する。この 実施形態では、本発明に係る被処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理装置を半導体ゥェ ハの洗浄処理システムに適用した場合について説明する。  Hereinafter, the best embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In this embodiment, a case will be described in which the cleaning / drying processing apparatus for a processing object transporter according to the present invention is applied to a semiconductor wafer cleaning processing system.
[0023] 半導体ウェハの洗浄処理システムは、図 1に示すように、被処理体として複数枚 (例 えば 25枚)の半導体ウェハ W (以下、「ウェハ W」と 、う)を水平状態に収容するキヤリ ァ 1を搬入、搬出するための搬入'搬出部 2と、ウェハ Wを薬液、洗浄等によって液処 理すると共に乾燥処理する処理部 3と、搬入'搬出部 2と処理部 3との間に位置し、ゥ エノ、 Wの受け渡し、位置調整及び姿勢変換等を行うインターフェース部 4とから主に 構成されている。また、インターフェース部 4及び処理部 3に沿って搬送路 11が設け られており、この搬送路 11に、 X, Y方向(水平方向)、 Z方向(鉛直方向)及び Θ方 向(回転方向)に移動可能なウェハ搬送器 10が配設されている。  [0023] As shown in Fig. 1, the semiconductor wafer cleaning processing system accommodates a plurality of (for example, 25) semiconductor wafers W (hereinafter referred to as "wafer W") in a horizontal state as objects to be processed. Loading / unloading section 2 for loading and unloading carrier 1, processing section 3 for processing wafer W by liquid processing and cleaning, and drying processing, and loading / unloading section 2 and processing section 3. It is mainly composed of the interface part 4 that is located between and performs the transfer of UENO, W, position adjustment and posture conversion. In addition, a conveyance path 11 is provided along the interface unit 4 and the processing unit 3, and the X, Y direction (horizontal direction), Z direction (vertical direction), and Θ direction (rotation direction) are provided in the conveyance path 11. A wafer transfer device 10 is provided.
[0024] 以下、このような洗浄処理システムの各構成要素について詳述する。  Hereinafter, each component of such a cleaning processing system will be described in detail.
[0025] 図 1に示すように、搬入'搬出部 2は、洗浄処理システムの側端部に位置しており、 併設されたキャリア搬入部 5aおよびキャリア搬出部 5bと、ウェハ受渡し部 6とを具備し ている。キャリア搬入部 5aとウェハ受渡し部 6の間には、キャリア 1の受け渡しを行うキ ャリア搬送ロボット 7が配設されて ヽる。 [0025] As shown in FIG. 1, the loading and unloading unit 2 is located at the side end of the cleaning processing system, It is provided with a carrier carry-in part 5a and a carrier carry-out part 5b, and a wafer delivery part 6. Between the carrier carry-in part 5a and the wafer delivery part 6, a carrier transport robot 7 that delivers the carrier 1 is arranged.
[0026] ウェハ受渡し部 6は、インターフェース部 4に開口しており、その開口部には蓋開閉 装置 8が配設されている。この蓋開閉装置 8によってキャリア 1の蓋体(図示せず)が 開放あるいは閉塞されるようになっている。したがって、ウェハ受渡し部 6に搬送され た処理前のウェハ Wを収納するキャリア 1の蓋体を、蓋開閉装置 8によって取り外して 、キャリア 1内のウェハ Wを搬出可能にし、全てのウェハ Wが搬出された後、再び蓋 開閉装置 8によって蓋体を閉塞することができる。また、キャリア待機部(図示せず)か らウェハ受渡し部 6に搬送された空のキャリア 1の蓋体を、蓋開閉装置 8によって取り 外して、キャリア 1内へのウェハ Wを搬入可能にし、全てのウェハ Wが搬入された後、 再び蓋開閉装置 8によって蓋体を閉塞することができる。なお、ウェハ受渡し部 6の 開口部近傍には、キャリア 1内に収納されたウェハ Wの枚数を検出するマッピングセ ンサ 9が配設されている。  The wafer delivery unit 6 opens in the interface unit 4, and a lid opening / closing device 8 is disposed in the opening. The lid (not shown) of the carrier 1 is opened or closed by the lid opening / closing device 8. Therefore, the lid of the carrier 1 that stores the unprocessed wafer W transferred to the wafer delivery unit 6 is removed by the lid opening / closing device 8 so that the wafer W in the carrier 1 can be unloaded, and all the wafers W are unloaded. After that, the lid can be closed again by the lid opening / closing device 8. Also, the lid of the empty carrier 1 transported from the carrier standby unit (not shown) to the wafer delivery unit 6 is removed by the lid opening / closing device 8 so that the wafer W can be carried into the carrier 1. After all the wafers W are loaded, the lid can be closed again by the lid opening / closing device 8. A mapping sensor 9 for detecting the number of wafers W stored in the carrier 1 is disposed near the opening of the wafer delivery unit 6.
[0027] インターフェース部 4には、複数枚例えば 25枚のウェハ Wを水平状態に保持すると 共に、ウェハ受渡し部 6のキャリア 1との間でウェハ Wを受け渡すウェハ搬送アーム 2 0が設けられている。また、インターフェース部 4には、複数枚例えば 50枚のウェハ W を所定の間隔をおいて垂直状態に保持するピッチ ·チェンジャ(図示せず)が配設さ れている。また、ウェハ搬送アーム 20とピッチ'チェンジャとの間には、複数枚例えば 25枚のウェハ Wの姿勢を水平状態と垂直状態との間で変換する姿勢変換装置 21 が設けられている。さらに、インターフェース部 4には、ウェハ Wの姿勢が垂直状態に 変換されたときにこのウェハ Wに設けられたノッチ(図示せず)を検出するノッチァライ ナ(図示せず)が配設されて 、る。  [0027] The interface unit 4 is provided with a wafer transfer arm 20 that holds a plurality of, for example, 25 wafers W in a horizontal state and transfers the wafers W to and from the carrier 1 of the wafer transfer unit 6. Yes. The interface unit 4 is provided with a pitch changer (not shown) that holds a plurality of, for example, 50 wafers W in a vertical state at a predetermined interval. Further, between the wafer transfer arm 20 and the pitch changer, there is provided an attitude changing device 21 that converts the attitude of a plurality of, for example, 25 wafers W between a horizontal state and a vertical state. Further, the interface unit 4 is provided with a notch aligner (not shown) for detecting a notch (not shown) provided in the wafer W when the posture of the wafer W is converted to a vertical state. The
[0028] 一方、処理部 3には、薬液槽 3 la, 31b, 31cおよび洗浄槽 32a, 32b, 32cが併設 された複数(図面では 3つ)の処理ユニット 30a, 30b, 30cと、ウェハ Wを乾燥処理す ると共に、ウェハ搬送器 10を乾燥する乾燥機 33と、ウェハ搬送器 10を洗浄するゥェ ハ搬送器洗浄装置 34とが、四角形状に区画された状態で隣接するようにして直線状 に配列されている。ここで、薬液槽 31a, 31b, 31cは、ウェハ Wに付着するパーティ クルや有機物等の汚染物を除去する複数種類の薬液、具体的には例えば純水で希 釈したフッ化水素酸液 (DHF)、硫酸と過酸ィ匕水素の混合液 (SMP)、アンモニアと 過酸ィ匕水素との混合液 (SC1)等の薬液を貯留するようになつている。なお、乾燥機 3 3およびウェハ搬送器洗浄装置 34は、処理部 3におけるインターフェース部 4側に配 置されているが、ウェハ搬送器洗浄装置 34は必ずしもインターフェース部 4側に配置 されていなくてもよぐ処理部 3におけるインターフェース部 4から離れた端部に配置 されていてもよい。なお、各ユニット 30a〜30c, 33, 34の正面側(図 1の下方)の部 分には、これらのユニットを通過するよう搬送路 11が設けられている。この搬送路 11 には、 X, Y方向(水平方向)、 Z方向(垂直方向)及び Θ方向(回転方向)に移動可 能なウェハ搬送器 10が配設されている。また、各ユニット 30a〜30c, 33, 34には、 前述の搬送路 11と反対側の位置に、薬液を貯留する複数の薬液タンク(図示せず) 、リンス液である純水の供給源(図示せず)、あるいは配管機器類を収容する収容部( 図示せず)等が設けられて 、る。 [0028] On the other hand, the processing unit 3 includes a plurality of (three in the drawing) processing units 30a, 30b, and 30c in which the chemical tanks 3la, 31b, and 31c and the cleaning tanks 32a, 32b, and 32c are provided. In addition, the drying machine 33 for drying the wafer transfer device 10 and the wafer transfer device cleaning device 34 for cleaning the wafer transfer device 10 are adjacent to each other in a square-shaped state. They are arranged in a straight line. Here, the chemical baths 31a, 31b, 31c are the parties attached to the wafer W. Multiple types of chemicals that remove pollutants and organic substances such as hydrofluoric acid solution (DHF) diluted with pure water, mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide (SMP), ammonia It is designed to store chemicals such as a liquid mixture (SC1) of hydrogen peroxide with hydrogen peroxide. The dryer 33 and the wafer transporter cleaning device 34 are disposed on the interface unit 4 side in the processing unit 3, but the wafer transporter cleaning device 34 is not necessarily disposed on the interface unit 4 side. It may be arranged at the end of the stagnation processing unit 3 away from the interface unit 4. In addition, a conveyance path 11 is provided in a portion on the front side (lower side in FIG. 1) of each unit 30a to 30c, 33, 34 so as to pass through these units. In this transfer path 11, a wafer transfer device 10 is disposed that can move in the X, Y direction (horizontal direction), Z direction (vertical direction), and Θ direction (rotation direction). Each unit 30a to 30c, 33, 34 includes a plurality of chemical tanks (not shown) for storing a chemical liquid at a position opposite to the above-described transport path 11, and a supply source of pure water as a rinsing liquid ( (Not shown), or a housing (not shown) or the like for housing piping equipment is provided.
[0029] 処理ュ-ット30&〜30。にぉける薬液槽31&, 31b, 31cおよび洗浄槽 32a, 32b, 32cには、昇降可能なウェハボート 35が配設されている。このウェハボート 35は、ゥ ェハ搬送器 10との間でウェハ Wを受け渡しすると共に、ウェハ搬送器 10から受け取 つたウェハ Wを薬液槽 3 la, 31b, 31c又は洗浄槽 32a, 32b, 32c内に搬入したり槽 外に搬出したりするようになって!/、る。  [0029] Processing boots 30 & 30. Wafer boats 35 that can be moved up and down are disposed in the chemical tanks 31 &, 31b, 31c and the cleaning tanks 32a, 32b, 32c. The wafer boat 35 delivers wafers W to and from the wafer transporter 10 and also transfers the wafers W received from the wafer transporter 10 in the chemical tanks 3 la, 31b, 31c or the cleaning tanks 32a, 32b, 32c. It will come in and out of the tank!
[0030] 次に、薬液槽 31a, 31b, 31cについて、薬液槽 3 laを代表して説明する。図 2に示 すように、薬液槽 31aは、ウエノ、 Wを収容すると共に、薬液すなわち希フッ酸 (DHF) を貯留する薬液槽本体 36と、薬液槽本体 36内に薬液を供給する供給管 37と、薬液 槽本体 36内の薬液を排出する排出手段 38とを具備している。また、薬液槽 31aには 、薬液槽本体 36内に補助薬液を補充する薬液補充手段 39と、薬液槽本体 36内にリ ンス液として純水(DIW)を供給する純水供給手段 40とが設けられて ヽる。  [0030] Next, the chemical tanks 31a, 31b, 31c will be described on behalf of the chemical tank 3la. As shown in FIG. 2, the chemical tank 31a contains Ueno and W, and stores a chemical liquid body 36 for storing chemical liquid, that is, dilute hydrofluoric acid (DHF), and a supply pipe for supplying the chemical liquid into the chemical liquid tank body 36. 37 and a discharge means 38 for discharging the chemical solution in the chemical solution tank main body 36. The chemical tank 31a includes a chemical solution replenishing means 39 for replenishing the auxiliary chemical liquid in the chemical liquid tank body 36, and a pure water supply means 40 for supplying pure water (DIW) as a rinse liquid into the chemical liquid tank body 36. It is provided.
[0031] 薬液槽本体 36は、ウェハボート 35によって表面が垂直に保持されるウェハ Wを収 容すると共に、薬液を貯留する例えば石英製の内槽 36aと、この内槽 36aからオーバ 一フローする薬液を受け止める例えばポリテトラフルォロエチレン (PTFE)製の外槽 36bとから構成されている。また、内槽 36a内の底部側には、左右一対の薬液供給ノ ズル 36cが配設されており、この薬液供給ノズル 36cと外槽 36bとが供給管 37を介し て接続されている。供給管 37には、外槽 36b側力も順に、循環ポンプ P0,温調用ヒ ータ 41及びフィルタ Fが介設されている。したがって、薬液槽本体 36内に貯留される 薬液は、供給管 37及び薬液供給ノズル 36cによって循環供給されると共に、温調用 ヒータ 41によって所定温度 (例えば 23°C)に維持されている。 [0031] The chemical tank main body 36 accommodates the wafer W whose surface is held vertically by the wafer boat 35, and overflows from the inner tank 36a made of, for example, quartz, which stores the chemical liquid. The outer tank 36b made of, for example, polytetrafluoroethylene (PTFE) that receives the chemical solution is configured. In addition, a pair of left and right liquid chemical supply nodes are provided on the bottom side of the inner tank 36a. A nozzle 36c is disposed, and the chemical solution supply nozzle 36c and the outer tub 36b are connected to each other through a supply pipe 37. The supply pipe 37 is provided with a circulation pump P0, a temperature adjustment heater 41, and a filter F in that order in the outer tank 36b side force. Accordingly, the chemical liquid stored in the chemical liquid tank body 36 is circulated and supplied by the supply pipe 37 and the chemical liquid supply nozzle 36c, and is maintained at a predetermined temperature (for example, 23 ° C.) by the temperature adjustment heater 41.
[0032] 排出手段 38は、内槽 36aの底部に介設された排出孔(図示せず)に接続する排出 管 38aと、この排出管 38aに介設された開閉弁 VIと力も構成されている。  [0032] The discharge means 38 includes a discharge pipe 38a connected to a discharge hole (not shown) provided in the bottom of the inner tank 36a, and an opening / closing valve VI provided in the discharge pipe 38a. Yes.
[0033] 薬液補充手段 39は、フッ酸 (DHF)を貯留するフッ酸貯留タンク 39a (以下、「DHF タンク 39a」と!、う)と、この DHFタンク 39a内の DHFを内槽 36a内に供給する DHF 供給管 39bと、この DHF供給管 39bから分岐されて DHFを外槽 36b内に補充する DHF補充管 39cとを具備している。ここで、 DHF供給管 39bには開閉弁 V2が介設さ れている。また、 DHF補充管 39cには開閉弁 V3および DHF供給ポンプ P1が介設さ れている。  [0033] The chemical solution replenishing means 39 includes a hydrofluoric acid storage tank 39a for storing hydrofluoric acid (DHF) (hereinafter referred to as "DHF tank 39a"!) And the DHF in the DHF tank 39a in the inner tank 36a. A DHF supply pipe 39b to be supplied and a DHF supply pipe 39c branched from the DHF supply pipe 39b to replenish DHF into the outer tank 36b are provided. Here, an on-off valve V2 is interposed in the DHF supply pipe 39b. The DHF replenishment pipe 39c is provided with an open / close valve V3 and a DHF supply pump P1.
[0034] 純水供給手段 40は、純水供給源 40aに接続して純水(DIW)を内槽 36a内に供給 する純水供給管 40bと、この純水供給管 40bから分岐されて純水(DIW)を外槽 36b 内に補充する純水補充管 40cとを具備している。ここで、純水供給管 40bには開閉 弁 V4が介設されている。また、純水補充管 40cには開閉弁 V5が介設されている。  [0034] The pure water supply means 40 is connected to a pure water supply source 40a to supply pure water (DIW) into the inner tank 36a, and a pure water supply pipe 40b branched from the pure water supply pipe 40b to And a pure water replenishment pipe 40c for replenishing water (DIW) into the outer tank 36b. Here, an open / close valve V4 is interposed in the pure water supply pipe 40b. The pure water replenishment pipe 40c is provided with an on-off valve V5.
[0035] 上記のように構成される薬液槽 31aにおいて、薬液補充手段 39を構成する開閉弁 V2, V3及び DHF供給ポンプ P1は、それぞれ制御コンピュータ 50に信号ラインを介 して接続されており、制御コンピュータ 50に予め記憶されたシーケンス制御プロダラ ムに基づ 、て制御されるようになって!/、る。  [0035] In the chemical tank 31a configured as described above, the on-off valves V2, V3 and the DHF supply pump P1 constituting the chemical liquid replenishing means 39 are connected to the control computer 50 via signal lines, respectively. It is controlled based on the sequence control program stored in the control computer 50 in advance!
[0036] 図 3に示すように、ウェハ搬送器 10は、ウェハ Wの下部を保持する下部保持部材 1 2と、下部保持部材 12の両側のウェハ Wの辺部を保持する一対の側部保持部材 13 , 14とを具備してなる。この場合、各保持部材 12, 13, 14には複数例えば 50個の保 持溝 12a, 13a, 14aが列設されている。また、各保持部材 12, 13, 14の基部側には 、例えば円板状の飛散防止板 15が、長手方向と直交するように装着されている。こ の飛散防止板 15は、ウェハ搬送器 10の洗浄時に、当該ウェハ搬送器 10の駆動部 側に洗浄液である純水(DIW)が飛散して付着するのを防止するようになって!/ヽる。 また、両側部保持部材 13, 14は、ウェハ Wを保持しない場合には、下部保持部材 1 2と同一の水平面上に位置し、ウェハ Wを保持する場合には、上方側に円弧状の軌 跡を描いて変位してウェハ Wの下部両側を保持し得るような位置となるよう構成され ている。なお、各保持部材 12, 13, 14は、耐食性及び耐薬品性に優れた部材、具 体的には例えばポリエーテルエーテルケトン(PEEK)やポリクロ口トリフルォロェチレ ン (PCTFE)等の榭脂から形成されて!、る。 As shown in FIG. 3, the wafer carrier 10 includes a lower holding member 12 that holds the lower portion of the wafer W and a pair of side holding portions that hold the sides of the wafer W on both sides of the lower holding member 12. The members 13 and 14 are provided. In this case, a plurality of, for example, 50 holding grooves 12a, 13a, 14a are arranged in each holding member 12, 13, 14. Further, for example, a disk-shaped scattering prevention plate 15 is mounted on the base side of each holding member 12, 13, 14 so as to be orthogonal to the longitudinal direction. This scattering prevention plate 15 prevents the pure water (DIW), which is a cleaning liquid, from scattering and adhering to the drive unit side of the wafer transfer device 10 when the wafer transfer device 10 is cleaned! / Speak. Further, the both side holding members 13 and 14 are positioned on the same horizontal plane as the lower holding member 12 when the wafer W is not held, and when holding the wafer W, the arcuate rails are formed on the upper side. The position is such that it can be displaced by drawing a trace so that the lower sides of the wafer W can be held. Each holding member 12, 13, and 14 is a member having excellent corrosion resistance and chemical resistance. Specifically, for example, a resin such as polyetheretherketone (PEEK) or polychloroethylene (PCTFE). Formed from!
[0037] このように構成されるウェハ搬送器 10は、信号ラインを介して制御コンピュータ 50 に接続されており、制御コンピュータ 50に予め記憶されたシーケンス制御プログラム に基づいて制御可能に構成されている。すなわち、ウェハ搬送器 10は、制御コンビ ユータ 50からの制御信号に基づいて、処理前の 1ロット分のウェハ W (すなわち、例 えば 50枚のまとまったウェハ W)をピッチ'チェンジャカも受け取って処理部 3の所定 の処理ユニット 30a, 30b, 30cの薬液槽 31a, 31b, 31c、水洗槽 32a, 32b, 32c及 び乾燥機 33のいずれかに搬送し、また、処理部 3にて適宜処理が施された処理済の 1ロット分のウエノ、 Wをピッチ'チェンジャに受け渡すように構成されている。  The wafer transfer device 10 configured as described above is connected to the control computer 50 via a signal line, and is configured to be controllable based on a sequence control program stored in the control computer 50 in advance. . That is, based on the control signal from the control computer 50, the wafer transporter 10 receives the wafer W for one lot before processing (that is, for example, 50 batches of wafers W) also received by the pitch changer. Transport to chemical tanks 31a, 31b, 31c, washing tanks 32a, 32b, 32c and dryer 33 of predetermined processing units 30a, 30b, 30c of processing unit 3, and process appropriately in processing unit 3 One lot of processed Ueno, W that has been subjected to is delivered to the pitch changer.
[0038] ウェハ搬送器洗浄装置 34は、図 3に示すように、純水等の洗浄液及び窒素 (N )ガ  [0038] As shown in FIG. 3, the wafer transfer device cleaning device 34 includes a cleaning liquid such as pure water and a nitrogen (N) gas.
2 ス等の気体を、保持部材 12, 13, 14の保持溝 12a, 13a, 14aに向力つて噴射する 2流体供給ノズル 34aと、洗浄液である純水(DIW)を保持部材 12, 13, 14の外周 面に向カゝつて噴射する洗浄液供給ノズル 34bとを具備している。また、このウェハ搬 送器洗浄装置 34は、 Nガス等の乾燥ガスを、保持部材 12, 13, 14の保持溝 12a,  2 A gas such as soot is jetted to the holding grooves 12a, 13a, 14a of the holding members 12, 13, 14 by force. 2 Fluid supply nozzle 34a and pure water (DIW) as a cleaning liquid are held by the holding members 12, 13, And a cleaning liquid supply nozzle 34b that injects the nozzle 14 toward the outer peripheral surface. In addition, this wafer transporter cleaning device 34 uses a dry gas such as N gas to hold the holding grooves 12a,
2  2
13a, 14a及び保持部材 12, 13, 14の外周面に向力つて噴射する一次乾燥ガス供 給ノズル 34cと、 Nガス等の乾燥ガスを、保持部材 12, 13, 14の保持溝 12a, 13a,  13a, 14a and holding member 12, 13, 14 primary dry gas supply nozzle 34c jetting by force toward the outer peripheral surface, and dry gas such as N gas, holding grooves 12a, 13a of holding members 12, 13, 14 ,
2  2
14a,保持部材 12, 13, 14の外周面の下部、及び飛散防止板 15に向力つて噴射す る二次乾燥ガス供給ノズル 34dとを具備している。なお、使用される気体として、 Nガ  14a, a lower part of the outer peripheral surface of the holding members 12, 13, and 14 and a secondary dry gas supply nozzle 34d for spraying the scattering prevention plate 15 by force. The gas used is N gas.
2 スに代えて清浄空気を用いてもょ 、。  Use clean air instead of 2 s.
[0039] 上述の 2流体供給ノズル 34a,洗浄液供給ノズル 34b,—次乾燥ガス供給ノズル 34 c及び二次乾燥ガス供給ノズル 34dは、ノズルボックス 34e内に配置されている。ノズ ルボックス 34eの下部には、下端が開口するカバー部が延在されており、このカバー 部によって、ウェハ搬送器の洗浄時や乾燥時に洗浄液等が側方周辺部に飛散する のを抑制している。このノズルボックス 34eは、エアシリンダ 34fの可動部 34gに連結 されて、保持部材 12, 13, 14の長手方向に沿った水平方向(+Y, — Y方向)に往 復移動し得るように構成されて ヽる。 [0039] The two-fluid supply nozzle 34a, the cleaning liquid supply nozzle 34b, the secondary drying gas supply nozzle 34c, and the secondary drying gas supply nozzle 34d are arranged in the nozzle box 34e. At the bottom of the nozzle box 34e, a cover having an opening at the lower end is extended, and this cover scatters cleaning liquid, etc. to the side periphery when the wafer transfer device is cleaned or dried. Is suppressed. This nozzle box 34e is connected to the movable part 34g of the air cylinder 34f and is configured to move back and forth in the horizontal direction (+ Y, —Y direction) along the longitudinal direction of the holding members 12, 13, and 14. Being sung.
[0040] また、ウェハ搬送器洗浄装置 34は、信号ラインを介して制御コンピュータ 50に接続 されており、制御コンピュータ 50に予め記憶されたシーケンス制御プログラムに基づ V、て制御可能に構成されて!、る。  The wafer transfer device cleaning device 34 is connected to the control computer 50 via a signal line, and is configured to be controllable based on a sequence control program stored in the control computer 50 in advance. !
[0041] 図 1に示すように、制御コンピュータ 50は、中央演算処理装置(CPU)力もなる制御 手段 50a (以下、「CPU50a」という)と、 CPU50aに接続された入出力部 50bと、シー ケンス制御プログラムを作成するための入力画面を表示する表示部 50cと、入出力 部 50bに挿着されシーケンス制御プログラムを格納した記憶媒体 50dとを具備する。  As shown in FIG. 1, the control computer 50 includes a control means 50a (hereinafter referred to as “CPU50a”) that also has a central processing unit (CPU) power, an input / output unit 50b connected to the CPU50a, and a sequence. It includes a display unit 50c that displays an input screen for creating a control program, and a storage medium 50d that is inserted in the input / output unit 50b and stores a sequence control program.
[0042] 記憶媒体 50dは、制御コンピュータ 50に固定的に設けられるもの、あるいは、制御 コンピュータ 50に設けられた読み取り装置に着脱自在に挿着されてこの読み取り装 置により読み取り可能なものであってもよい。最も典型的な実施形態においては、記 憶媒体 50dは、基板処理装置のメーカーのサービスマンによってシーケンス制御プ ログラムがインストールされたハードディスクドライブである。他の実施の形態にお!ヽ ては、記憶媒体 50dは、シーケンス制御プログラムが書き込まれた CD— ROM又は DVD— ROMのような読み出し専用のリムーバブルディスクであり、このようなリムー バブルディスクは制御コンピュータ 50に設けられた光学的読み取り装置によって読 み取られる。記憶媒体 50dは、 RAM (random access memory)又は ROM (read only memory)のいずれの形式のものであってもよぐまた、記憶媒体 50dは、カセット式の ROMのようなものであってもよい。要するに、コンピュータの技術分野において知ら れて 、る任意のものを記憶媒体 50dとして用いることが可能である。  [0042] The storage medium 50d is provided in a fixed manner in the control computer 50, or is detachably inserted in a reading device provided in the control computer 50 and can be read by this reading device. Also good. In the most typical embodiment, the storage medium 50d is a hard disk drive in which a sequence control program is installed by a serviceman of the manufacturer of the substrate processing apparatus. In another embodiment, the storage medium 50d is a read-only removable disk such as a CD-ROM or DVD-ROM in which a sequence control program is written, and such a removable disk is controlled. It is read by an optical reader provided in the computer 50. The storage medium 50d may be of any form of RAM (random access memory) or ROM (read only memory), and the storage medium 50d may be of a cassette type ROM. . In short, any storage medium known in the technical field of computers can be used as the storage medium 50d.
[0043] 上記のように構成された制御コンピュータ 50によってシーケンス制御プログラムを 実行することにより、ウェハ搬送器 10、処理ユニット 30a, 30b, 30cの薬液槽 31a, 3 lb, 31cや水洗槽 32a, 32b, 32c、ウェハ搬送器洗浄装置 34及び乾燥機 33等を、 所定のシーケンス制御プログラムにより定義された様々なプロセス条件が実現される ように制御する。  [0043] By executing the sequence control program by the control computer 50 configured as described above, the chemical baths 31a, 3 lb, 31c and the washing baths 32a, 32b of the wafer transfer unit 10 and the processing units 30a, 30b, 30c are performed. 32c, the wafer transfer device cleaning device 34, the dryer 33, and the like are controlled so that various process conditions defined by a predetermined sequence control program are realized.
[0044] この発明においては、制御コンピュータ 50の記憶媒体 50dに、図 6に示すような、 先行するウェハ wの一連の処理の種類および後続するウェハ wの一連の処理の種 類に関する実行可能な全てのウェハ搬送における、先行のウェハ wの搬送と後続の ウエノ、 wの搬送との間におけるウェハ搬送器 10に対する洗浄 ·乾燥処理の処理条 件のパターンに関するシーケンス制御プログラムが記憶されている。ここで、ウェハ搬 送器 10に対する洗浄 ·乾燥処理の処理条件とは、具体的には例えば、洗浄処理,乾 燥処理の少なくとも!/、ずれかの処理の省略や洗浄処理,乾燥処理の有無の条件の ことをいう。なお、「省略」とは、処理を簡略にするために処理の一部又は全部を省く ことや、処理時間を短縮させることをいう。そして、記憶媒体 50dに記憶されたシーケ ンス制御プログラムに基づ 、て、ウェハ搬送器 10の洗浄'乾燥処理の処理条件を切 り換えながら、ウェハ搬送器 10によるウェハ Wの搬送を行うようになっている。 In the present invention, the storage medium 50d of the control computer 50 has a storage medium 50d as shown in FIG. Between the transfer of the preceding wafer w and the transfer of the subsequent wafer, w, in all possible wafer transfers for the sequence of processing of the preceding wafer w and the sequence of processing of the subsequent wafer w Stores a sequence control program related to the pattern of processing conditions of cleaning / drying processing for the wafer transfer device 10. Here, the processing conditions of the cleaning / drying process for the wafer transporter 10 specifically include, for example, at least the cleaning process and / or the drying process! It means the condition. Note that “omitted” means omitting part or all of the processing in order to simplify the processing and shortening the processing time. Then, based on the sequence control program stored in the storage medium 50d, the wafer W is transferred by the wafer transfer unit 10 while switching the cleaning / drying processing conditions of the wafer transfer unit 10. It has become.
例えば、先行するウェハ Wの薬液処理で使用される薬液の種類と後続するウェハ Wの薬液処理で使用される薬液の種類が異なるような処理を行う場合について図 4 を用いて説明する。具体的には、例えば先行するウェハ Wに対して SPM処理 (硫酸 過酸化水素洗浄処理)を行 ヽ、後続するウェハ Wに対して SC1処理 (フッ酸洗浄処 理)を行う場合について説明する。この場合、図 4のフローチャートに示すように、ゥェ ハ搬送器 10によって先行 (先発)のウェハ Wを薬液槽 31aに搬送して SPM処理を行 い(ステップ 4 1)、薬液槽 3 laに併設された水洗槽 32aでこのウェハ Wの水洗処理 を行う(ステップ 4— 2)。その後、ウェハ搬送器 10をウェハ搬送器洗浄装置 34に移 動させ、当該ウェハ搬送器 10の洗浄を行う (ステップ 4— 3)。その後、ウェハ搬送器 10によって後続 (後発)のウェハ Wを別の薬液槽 31bに搬送して SC1処理を行い (ス テツプ 4— 4)、薬液槽 3 lbに併設された水洗槽 32bでこのウェハ Wの水洗処理を行 う(ステップ 4— 5)。なお、水洗処理された先行 (先発)のウェハ Wは、ウェハ搬送器 1 0によって乾燥機 33に搬送されてウェハ搬送器 10とともに乾燥処理 (ステップ 4— 6) が行われた後、搬入'搬出部 2へ搬出される。このような一連の処理を行うことにより、 従来のような、先行するウェハ Wの薬液処理および水洗処理の後に、ウェハ搬送器 10をウェハ搬送器洗浄装置 34で一旦洗浄し、乾燥機 33で乾燥した後、後続するゥ ェハ Wを別の処理ユニットの薬液槽で薬液処理して 、た場合と比較して、先行のゥ ェハ Wの搬送後のウェハ搬送器 10自体に対する乾燥処理を省くことができる。 [0046] なお、この場合、先行 (先発)のウェハ Wの薬液処理で使用される薬液の種類に応 じて、ウェハ Wに対する洗浄処理等の時間を種々変更するようにしてもよ!、。 For example, a case where a process in which the type of chemical used in the chemical process of the preceding wafer W is different from the type of chemical used in the subsequent process of the wafer W will be described with reference to FIG. Specifically, for example, the case where the preceding wafer W is subjected to SPM processing (sulfuric acid / hydrogen peroxide cleaning processing) and the subsequent wafer W is subjected to SC1 processing (hydrofluoric acid cleaning processing) will be described. In this case, as shown in the flowchart of FIG. 4, the wafer transfer device 10 transports the preceding (starting) wafer W to the chemical tank 31a to perform SPM processing (step 4 1), and into the chemical tank 3 la. The wafer W is washed in the water washing tank 32a (step 4-2). Thereafter, the wafer transfer device 10 is moved to the wafer transfer device cleaning device 34, and the wafer transfer device 10 is cleaned (step 4-3). After that, the wafer transfer device 10 transfers the succeeding (later) wafer W to another chemical bath 31b for SC1 treatment (Steps 4-4), and this wafer is washed in the washing bath 32b attached to the chemical bath 3 lb. Wash W with water (steps 4-5). The preceding (starting) wafer W that has been washed with water is transferred to the dryer 33 by the wafer transfer device 10 and dried together with the wafer transfer device 10 (step 4-6). Carried out to Part 2. By performing such a series of processes, the wafer transfer unit 10 is once cleaned by the wafer transfer unit cleaning device 34 and then dried by the dryer 33 after the chemical treatment and water washing process of the preceding wafer W. After that, the subsequent wafer W is treated with a chemical solution in a chemical tank of another processing unit, and compared with the case where the preceding wafer W is transferred, the drying process for the wafer transfer device 10 itself after the transfer of the preceding wafer W is omitted. be able to. [0046] In this case, depending on the type of chemical solution used in the chemical treatment of the preceding (starting) wafer W, the time for the cleaning process for the wafer W may be variously changed!
[0047] 次に、先行するウェハ Wの薬液処理で使用される薬液の種類と後続するウェハ W の薬液処理で使用される薬液の種類が同じような処理を行う場合について図 5を用 いて説明する。具体的には、例えば先行するウェハ Wおよび後続するウェハ Wの両 方に対して SC1処理を行う場合について説明する。この場合、図 5のフローチャート に示すように、ウェハ搬送器 10によって先行 (先発)のウェハ Wを薬液槽 31bに搬送 して SC1処理を行い (ステップ 5— 1)、薬液槽 31bに併設された水洗槽 32bでこのゥ エノ、 Wの水洗処理を行う(ステップ 5— 2)。その後、ウェハ搬送器 10によって後続( 後発)のウェハ Wを薬液槽 31bに搬送して SC1処理を行い (ステップ 5— 3)、薬液槽 31bに併設された水洗槽 32bでこのウェハ Wの水洗処理を行う(ステップ 5— 4)。な お、水洗処理された先行 (先発)のウェハ Wは、ウェハ搬送器 10によって乾燥機 33 に搬送されてウェハ搬送器 10とともに乾燥処理 (ステップ 5— 5)が行われた後、搬入 •搬出部 2へ搬出される。このような一連の処理を行うことにより、従来のような、先行 するウェハ Wの薬液処理および水洗処理の後に、ウェハ搬送器 10をウェハ搬送器 洗浄装置 34で一旦洗浄し、乾燥機 33で乾燥する場合と比較して、先行のウェハ W の搬送後のウェハ搬送器 10自体に対する洗浄 ·乾燥処理を省くことができる。  [0047] Next, the case where the same type of chemical solution used in the chemical treatment of the preceding wafer W and the type of chemical solution used in the chemical treatment of the subsequent wafer W are performed will be described with reference to FIG. To do. Specifically, for example, a case where the SC1 process is performed on both the preceding wafer W and the succeeding wafer W will be described. In this case, as shown in the flowchart of FIG. 5, the wafer transfer device 10 transfers the preceding (starting) wafer W to the chemical bath 31b to perform the SC1 process (step 5-1), and is attached to the chemical bath 31b. Wash the Ueno and W in the washing tank 32b (Step 5-2). After that, the wafer transfer device 10 transfers the subsequent (later) wafer W to the chemical bath 31b and performs SC1 treatment (Step 5-3), and the wafer W is washed in the water washing bath 32b attached to the chemical bath 31b. (Step 5-4). The preceding (starting) wafer W that has been washed with water is transferred to the dryer 33 by the wafer transfer device 10 and dried together with the wafer transfer device 10 (step 5-5), and then loaded and unloaded. Carried out to Part 2. By performing such a series of processes, the wafer transfer device 10 is once cleaned by the wafer transfer device cleaning device 34 and then dried by the dryer 33 after the chemical treatment and water washing treatment of the preceding wafer W. As compared with the case where the wafer is transferred, the cleaning / drying process for the wafer transfer device 10 itself after the transfer of the preceding wafer W can be omitted.
[0048] 上述した処理以外の場合でも、図 6の表に示したように、先行 (先発)ウェハ Wの一 連の処理の種類と後続 (後発)ウェハの一連の処理の種類によって、ウェハ搬送器 1 0に対する洗浄'乾燥処理の処理条件を切り換えて、ウェハ搬送器 10によるウエノ、 W の搬送を行うことができる。  [0048] Even in cases other than the above-described processing, as shown in the table of FIG. 6, depending on the series of processing types of the preceding (first) wafer W and the series of processing types of the subsequent (subsequent) wafer, wafer transfer Wafer and W can be transferred by the wafer transfer device 10 by changing the processing conditions of the cleaning and drying process for the device 10.
[0049] また、先行 (先発)のウェハ Wの搬送が終了して力も後続 (後発)のウェハ Wの搬送 が開始するまでの時間が、ウェハ搬送器 10に対する洗浄処理,乾燥処理に要する 時間より短い場合に、ウェハ搬送器 10に対する洗浄処理,乾燥処理の少なくともい ずれかの処理を省略するようになっていてもよい。なお、この場合、ウェハ Wの品質 を一層向上させるために、ウェハ搬送器 10に対する洗浄処理を省略せずに、代わり に洗浄処理の時間を短縮してもよ ヽ。  [0049] In addition, the time from the completion of the transfer of the preceding (first) wafer W to the start of the transfer of the subsequent (later) wafer W is longer than the time required for the cleaning process and the drying process for the wafer transfer unit 10. If it is short, at least one of the cleaning process and the drying process for the wafer transfer device 10 may be omitted. In this case, in order to further improve the quality of the wafer W, the cleaning process for the wafer transfer device 10 may be omitted and the cleaning process time may be shortened instead.
[0050] また、図 6に示すようなシーケンス制御プログラムにおいてウェハ搬送器 10に対す る洗浄処理,乾燥処理を行わなくてもよい場合においても、処理のスループットに影 響をきたさない場合には、ウェハ Wの品質をより高めるために、ウェハ搬送器 10に対 する洗浄 ·乾燥処理を行うようにしてもよい。例えば、(a) CPU50aが、処理レシピに 基づ 、て、先行 (先発)のウェハ Wの搬送と後続 (後発)のウェハ Wの搬送の間の時 間 (A)を算出し、(b)ウェハ搬送器 10に対する洗浄'乾燥処理に必要な時間 (B)、 具体的にはウェハ搬送器 10に対する最低限必要な洗浄'乾燥時間や通常の洗浄 · 乾燥時間を算出しておく。そして、 (A) > (B)の場合に、ウェハ搬送器 10に対する洗 浄 ·乾燥処理を行うようにしてもょ 、。 [0050] Further, in the sequence control program as shown in FIG. Even if it is not necessary to perform cleaning processing and drying processing, if the processing throughput is not affected, cleaning / drying processing for the wafer transfer device 10 is performed to further improve the quality of the wafer W. May be performed. For example, (a) CPU 50a calculates the time (A) between the transfer of the preceding (first) wafer W and the transfer of the subsequent (later) wafer W based on the processing recipe, and (b) Cleaning (drying) time required for the cleaning and drying process for the wafer transfer device 10 (B), specifically, the minimum required cleaning and drying time and normal cleaning / drying time for the wafer transfer device 10 are calculated. Then, in the case of (A)> (B), the wafer transfer device 10 may be cleaned and dried.
更に他の態様としては、通常時は先行するウェハ Wの搬送と後続のウェハ Wの搬 送との間において予め設定された通常の条件によりウェハ搬送器 10に対して洗浄 · 乾燥処理を行うようになっており、特定の状況において、具体的には例えば先行する ウエノ、 Wの搬送が終了する前に後続のウェハ Wの搬送が可能となった場合におい て、先行するウェハ Wの一連の処理の種類と後続のウェハ Wの一連の処理の種類と によって、先行のウェハ Wの搬送と後続のウェハ Wの搬送との間におけるウェハ搬 送器 10に対する洗浄 ·乾燥処理の処理条件を前述の予め設定された通常の条件か ら切り換えるようになって 、てもよ 、。  As another aspect, the cleaning / drying process is normally performed on the wafer transfer device 10 under normal conditions set in advance between the transfer of the preceding wafer W and the transfer of the subsequent wafer W. In a specific situation, for example, when the preceding wafer W can be transferred before the transfer of the preceding wafer W is completed, a series of processing of the preceding wafer W is possible. The processing conditions of the cleaning / drying process for the wafer transporter 10 between the transfer of the preceding wafer W and the transfer of the subsequent wafer W are determined in advance according to the type of the wafer and the series of processing of the subsequent wafer W. It is possible to switch from the normal conditions that have been set.

Claims

請求の範囲 The scope of the claims
[1] 搬入部から搬入される処理前の被処理体を、薬液処理ユニット、水洗処理ユニット 及び乾燥処理ユニットのいずれかのユニットに搬送するとともに、これらのユニットに より処理された処理済の被処理体を搬出部に搬出するような被処理体搬送器の洗浄 •乾燥処理方法であって、  [1] The object to be processed before being carried in from the carry-in section is transported to any one of the chemical treatment unit, the water washing treatment unit and the drying treatment unit, and has been treated by these units. Cleaning of the processing object transporter that transports the processed body to the unloading unit.
前記被処理体搬送器によって複数の処理前の被処理体の搬送を順次行う工程と、 前記被処理体搬送器により処理前の被処理体の搬送を行う際に、先行する被処理 体の一連の処理の種類と後続する被処理体の一連の処理の種類とによって、前記 先行の被処理体の搬送と前記後続の被処理体の搬送との間における前記被処理体 搬送器に対する洗浄'乾燥処理の処理条件を切り換える工程と、  A step of sequentially transferring a plurality of unprocessed objects to be processed by the to-be-processed object transporter, and a series of preceding objects to be processed when the unprocessed object to be processed is transported by the to-be-processed object transporter. Depending on the type of processing and the series of processing types of the subsequent object to be processed, cleaning and drying of the object to be processed between the transport of the preceding object to be processed and the subsequent object to be processed are dried. A step of switching processing conditions of the processing;
を備えたことを特徴とする、被処理体搬送器の洗浄'乾燥処理方法。  A cleaning / drying method for an object transporter, comprising:
[2] 請求項 1記載の被処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理方法にお!、て、  [2] In the cleaning / drying processing method for the object transporter according to claim 1,!
前記洗浄 ·乾燥処理の処理条件は、前記被処理体搬送器に対する洗浄処理およ び乾燥処理の少なくとも!/ヽずれかの処理を省略することを含むことを特徴とする、被 処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理方法。  The processing condition of the cleaning / drying process includes omitting at least one of the cleaning process and the drying process for the processing object transporter. Cleaning / drying method.
[3] 請求項 2記載の被処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理方法にお!、て、  [3] In the cleaning / drying processing method for the object transporter according to claim 2,!
先行の被処理体の搬送が終了してから後続の被処理体の搬送が開始するまでの 時間が、前記被処理体搬送器の洗浄処理および乾燥処理に必要とされる時間よりも 短 ヽときに、前記被処理体搬送器に対する洗浄処理および乾燥処理の少なくとも 、 ずれかの処理が省略されることを特徴とする、被処理体搬送器の洗浄'乾燥処理方 法。  When the time from the completion of the transport of the preceding target object to the start of the transport of the subsequent target object is shorter than the time required for the cleaning process and the drying process of the target object transporter In addition, at least one of the cleaning process and the drying process for the object transporter is omitted. The method for cleaning and drying the object transporter is characterized in that:
[4] 請求項 1記載の被処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理方法にお!、て、  [4] In the cleaning / drying processing method for the object transporter according to claim 1,!
先行する被処理体の一連の処理における薬液処理に使用される薬液と、後続する 被処理体の一連の処理における薬液処理に使用される薬液とが同じ種類のものであ る場合には、前記被処理体搬送器に対する洗浄処理および乾燥処理の両方が省略 されることを特徴とする、被処理体搬送器の洗浄'乾燥処理方法。  When the chemical solution used in the chemical treatment in the series of treatments of the preceding target object and the chemical solution used in the chemical treatment in the series of subsequent treatments are of the same type, A cleaning / drying method for a processing object transporter characterized in that both the cleaning process and the drying process for the processing object transporter are omitted.
[5] 請求項 1記載の被処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理方法にお!、て、 [5] In the cleaning / drying processing method for the object transporter according to claim 1,!
先行する被処理体の一連の処理における薬液処理に使用される薬液と、後続する 被処理体の一連の処理における薬液処理に使用される薬液とが異なる種類のもの である場合には、前記被処理体搬送器に対する乾燥処理のみが省略されることを特 徴とする、被処理体搬送器の洗浄'乾燥処理方法。 The chemical solution used for the chemical treatment in the series of treatments of the preceding object, followed by In the case where the chemical solution used for the chemical treatment in the series of treatments of the object to be processed is of a different type, only the drying process for the object carrier is omitted. Cleaning and drying of body transporters.
[6] 請求項 1記載の被処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理方法にお!、て、  [6] In the cleaning / drying method of the object transporter according to claim 1,!
前記被処理体搬送器によって処理済の被処理体を搬出部に搬出させる際には、 当該被処理体搬送器およびこの被処理体搬送器に保持された処理済の被処理体を 同時に乾燥させることを特徴とする、被処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理方法。  When unloading the object to be processed which has been processed by the object carrier to the unloading unit, the object to be processed and the object to be processed held by the object carrier are simultaneously dried. A cleaning / drying method for an object transporter characterized by the above.
[7] 搬入部から搬入される処理前の被処理体を、薬液処理ユニット、水洗処理ユニット 及び乾燥処理ユニットのいずれかのユニットに搬送するとともに、これらのユニットに より処理された処理済の被処理体を搬出部に搬出するような被処理体搬送器の洗浄 •乾燥処理方法であって、 [7] The object to be processed before being carried in from the carry-in section is transported to any one of the chemical treatment unit, the water washing treatment unit and the drying treatment unit, and has been treated by these units. Cleaning of the processing object transporter that transports the processed body to the unloading unit.
前記被処理体搬送器によって複数の処理前の被処理体の搬送を順次行う工程と、 先行する被処理体の搬送と後続の被処理体の搬送との間において予め設定され た条件により前記被処理体搬送器に対して洗浄 ·乾燥処理を行う工程と、  The object to be processed is transferred according to a condition set in advance between the step of sequentially transferring a plurality of unprocessed objects to be processed by the object to be processed and the transfer of the preceding object to be processed and the subsequent object to be processed. A process of cleaning and drying the processing body transporter;
先行する被処理体の搬送が終了する前に後続の被処理体の搬送が可能となった 場合には、先行する被処理体の一連の処理の種類と後続する被処理体の一連の処 理の種類とによって、前記先行の被処理体の搬送と前記後続の被処理体の搬送との 間における前記被処理体搬送器に対する洗浄 ·乾燥処理の処理条件を前記予め設 定された条件力 切り換える工程と、  If it is possible to transfer the subsequent object before the preceding object has been transferred, the type of the process of the preceding object and the process of the subsequent object Depending on the type, the pre-set condition force is switched between cleaning and drying processing conditions for the processing object transporter between the transport of the preceding target object and the subsequent processing object. Process,
を備えたことを特徴とする、被処理体搬送器の洗浄'乾燥処理方法。  A cleaning / drying method for an object transporter, comprising:
[8] 搬入部から搬入される処理前の被処理体を、薬液処理ユニット、水洗処理ユニット 及び乾燥処理ユニットのいずれかのユニットに搬送するとともに、これらのユニットに より処理された処理済の被処理体を搬出部に搬出するような被処理体搬送器の洗浄 •乾燥処理装置であって、 [8] The object to be processed before being carried in from the carry-in section is transported to any one of the chemical treatment unit, the water washing treatment unit and the drying treatment unit, and the treated object treated by these units is processed. Cleaning of the processing object transporter that transports the processed body to the unloading unit.
前記被処理体搬送器に対して洗浄処理を行う洗浄部と、  A cleaning unit that performs a cleaning process on the object transporter;
前記被処理体搬送器に対して乾燥処理を行う乾燥部と、  A drying unit that performs a drying process on the workpiece transporter;
予め記憶されたシーケンス制御プログラムに基づ 、て前記被処理体搬送器、前記 洗浄部および前記乾燥部を制御する制御コンピュータと、 を備え、 Based on a sequence control program stored in advance, a control computer for controlling the object transporter, the cleaning unit, and the drying unit; With
前記制御コンピュータ力 の制御信号に基づ 、て、先行する被処理体の一連の処 理の種類と後続する被処理体の一連の処理の種類とによって、前記先行の処理前 の被処理体の搬送と前記後続の処理前の被処理体の搬送との間における前記被処 理体搬送器に対する洗浄 ·乾燥処理の処理条件を切り換えながら、前記被処理体搬 送器による複数の処理前の被処理体の搬送が順次行われることを特徴とする、被処 理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理装置。  Based on the control signal of the control computer force, a series of processing types of the preceding target object and a series of processing types of the subsequent target object are used to determine whether the target object before the preceding processing is processed. While the processing conditions of the cleaning / drying process for the processing object transporter between the transporting and the transporting of the processing target before the subsequent processing are switched, the processing target transporter performs a plurality of processing targets before the processing. A cleaning / drying processing apparatus for a processing object transporter, wherein the processing body is transported sequentially.
[9] 請求項 8記載の被処理体搬送器の洗浄'乾燥処理装置にお 、て、  [9] In the cleaning and drying apparatus for the object transporter according to claim 8,
前記洗浄 ·乾燥処理の処理条件は、前記被処理体搬送器に対する洗浄処理およ び乾燥処理の少なくとも!/ヽずれかの処理を省略することを含むことを特徴とする、被 処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理装置。  The processing condition of the cleaning / drying process includes omitting at least one of the cleaning process and the drying process for the processing object transporter. Cleaning and drying processing equipment.
[10] 請求項 9記載の被処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理装置において、  [10] In the cleaning / drying processing apparatus for the object transporter according to claim 9,
前記制御コンピュータは、先行の被処理体の搬送が終了してから後続の被処理体 の搬送が開始するまでの時間が、前記被処理体搬送器の洗浄処理および乾燥処理 に必要とされる時間よりも短いと判定したときに、前記被処理体搬送器に対する洗浄 処理および乾燥処理の少なくとも!/、ずれかの処理を省略させることを特徴とする、被 処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理装置。  The control computer determines the time required for cleaning and drying processing of the processing object transporter from the end of transporting the preceding processing object to the start of transporting the subsequent processing object. A cleaning / drying processing apparatus for a processing object transporter, wherein at least the cleaning process and the drying process for the processing object transporter are omitted when they are determined to be shorter than .
[11] 請求項 8記載の被処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理装置において、  [11] In the cleaning / drying processing apparatus for the object transporter according to claim 8,
前記制御コンピュータは、先行する被処理体の一連の処理における薬液処理に使 用される薬液と、後続する被処理体の一連の処理における薬液処理に使用される薬 液とが同じ種類のものである場合には、前記被処理体搬送器に対する洗浄処理およ び乾燥処理の両方を省略させることを特徴とする、被処理体搬送器の洗浄'乾燥処 理装置。  In the control computer, the chemical solution used for the chemical treatment in the series of processes of the preceding object to be processed is the same type as the chemical solution used for the chemical treatment in the series of processes of the subsequent object to be processed. In some cases, the cleaning and drying processing apparatus for the processing object transporter is characterized in that both the cleaning process and the drying process for the processing object transporter are omitted.
[12] 請求項 8記載の被処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理装置において、  [12] In the cleaning / drying processing apparatus for the object transporter according to claim 8,
前記制御コンピュータは、先行する被処理体の一連の処理における薬液処理に使 用される薬液と、後続する被処理体の一連の処理における薬液処理に使用される薬 液とが異なる種類のものである場合には、前記被処理体搬送器に対する乾燥処理の みを省略させることを特徴とする、被処理体搬送器の洗浄'乾燥処理装置。 The control computer is of a type in which the chemical liquid used for the chemical liquid processing in the series of processes of the preceding target object is different from the chemical liquid used for the chemical liquid processing in the series of processes of the subsequent target object. In some cases, a cleaning / drying apparatus for a processing object transporter, wherein only the drying process for the processing object transporter is omitted.
[13] 請求項 8記載の被処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理装置において、 前記制御コンピュータ力 の制御信号に基づ 、て、前記被処理体搬送器によって 処理済の被処理体を搬出部に搬出させる際には、当該被処理体搬送器を前記乾燥 部に移動させてこの被処理体搬送器および被処理体搬送器に保持された処理済の 被処理体を同時に乾燥させることを特徴とする、被処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理 装置。 [13] The cleaning / drying processing apparatus for a processing object transporter according to claim 8, wherein the processing object processed by the processing object transporter is carried out based on a control signal of the control computer force. When the workpiece is transported to the processing unit, the processing object transporter is moved to the drying unit, and the processed object transporter and the processed target object held by the processing object transporter are simultaneously dried. A cleaning / drying processing device for the object transporter.
[14] 搬入部から搬入される処理前の被処理体を、薬液処理ユニット、水洗処理ユニット 及び乾燥処理ユニットのいずれかのユニットに搬送するとともに、これらのユニットに より処理された処理済の被処理体を搬出部に搬出するような被処理体搬送器の洗浄 •乾燥処理装置であって、  [14] The object to be processed before being carried in from the carry-in section is transported to any one of the chemical treatment unit, the washing unit, and the drying unit, and the treated object processed by these units is processed. Cleaning of the processing object transporter that transports the processed body to the unloading unit.
前記被処理体搬送器に対して洗浄処理を行う洗浄部と、  A cleaning unit that performs a cleaning process on the object transporter;
前記被処理体搬送器に対して乾燥処理を行う乾燥部と、  A drying unit that performs a drying process on the workpiece transporter;
予め記憶されたシーケンス制御プログラムに基づ 、て前記被処理体搬送器、前記 洗浄部および前記乾燥部を制御する制御コンピュータと、  Based on a sequence control program stored in advance, a control computer for controlling the object transporter, the cleaning unit, and the drying unit;
を備え、  With
前記制御コンピュータ力 の制御信号に基づ 、て、先行する被処理体の搬送と後 続の被処理体の搬送との間において予め設定された条件により前記被処理体搬送 器に対して洗浄'乾燥処理を行い、先行する被処理体の搬送が終了する前に後続 の被処理体の搬送が可能となった場合には、先行する被処理体の一連の処理の種 類と後続する被処理体の一連の処理の種類とによって、前記先行の被処理体の搬 送と前記後続の被処理体の搬送との間における前記被処理体搬送器に対する洗浄 •乾燥処理の処理条件を前記予め設定された条件力 切り換えることを特徴とする、 被処理体搬送器の洗浄 ·乾燥処理装置。  Based on the control signal of the control computer force, the processing object transport device is cleaned according to a preset condition between the transport of the preceding object to be processed and the transport of the subsequent object to be processed. If the subsequent processing object can be transported before the transport of the preceding object is completed after the drying process, the series of processing types of the preceding object and the subsequent processing Depending on the type of a series of processing of the body, the processing conditions for cleaning and drying processing for the processing object transporter between the transport of the preceding processing object and the transporting of the subsequent processing object are set in advance. A cleaning / drying processing apparatus for a processing object transporter, characterized in that the condition force is switched.
[15] 搬入部から搬入される処理前の被処理体を、薬液処理ユニット、水洗処理ユニット 及び乾燥処理ユニットのいずれかのユニットに搬送するとともに、これらのユニットに より処理された処理済の被処理体を搬出部に搬出するような被処理体搬送器に対し て洗浄 ·乾燥処理を行うためのプログラムが格納された記憶媒体であって、 [15] The object to be processed before being carried in from the carry-in section is transported to any one of the chemical treatment unit, the water washing treatment unit, and the drying treatment unit, and the treated object treated by these units is processed. A storage medium storing a program for performing a cleaning / drying process on a processing object transporter that transports a processing body to an unloading unit,
前記プログラムが、 前記被処理体搬送器によって複数の処理前の被処理体の搬送を順次行うステップ と、 The program is Sequentially transferring a plurality of objects to be processed before processing by the object carrier;
前記被処理体搬送器により処理前の被処理体の搬送を行う際に、先行する被処理 体の一連の処理の種類と後続する被処理体の一連の処理の種類とによって、前記 先行の被処理体の搬送と前記後続の被処理体の搬送との間における前記被処理体 搬送器に対する洗浄 ·乾燥処理の処理条件を切り換えるステップと、  When the object to be processed before being processed is transported by the object transporter, the preceding object to be processed is determined according to the series of processing types of the preceding object to be processed and the series of processes of the subsequent object to be processed. Switching the processing conditions of the cleaning / drying process for the processing object transporter between the transport of the processing body and the transport of the subsequent processing object; and
を備えたことを特徴とする記憶媒体。  A storage medium comprising:
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