WO2007010925A1 - 有機半導体発光素子およびそれを用いた表示装置、ならびに有機半導体発光素子の製造方法 - Google Patents

有機半導体発光素子およびそれを用いた表示装置、ならびに有機半導体発光素子の製造方法 Download PDF

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WO2007010925A1
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WO
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material layer
organic semiconductor
light emitting
type organic
region
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PCT/JP2006/314238
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Naotoshi Suganuma
Noriyuki Shimoji
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Kyoto University
Pioneer Corporation
Mitsubishi Chemical Corporation
Rohm Co., Ltd.
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/80Constructional details
    • H10K59/805Electrodes
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays

Definitions

  • ORGANIC SEMICONDUCTOR LIGHT EMITTING ELEMENT ORGANIC SEMICONDUCTOR LIGHT EMITTING ELEMENT, DISPLAY DEVICE USING SAME, AND METHOD FOR PRODUCING ORGANIC SEMICONDUCTOR LIGHT EMITTING ELEMENT
  • the present invention relates to an organic semiconductor light emitting element, a display device using the same, and a method for manufacturing an organic semiconductor light emitting element.
  • Non-Patent Document 1 The prior art of an organic semiconductor light emitting element having a transistor structure is disclosed in Non-Patent Document 1 below.
  • This prior art organic semiconductor light emitting device includes an N-type silicon substrate as a gate, a silicon oxide layer formed thereon, and a pair of electrodes formed on the oxide silicon layer with a space therebetween. (Source and drain) and a MEH—PPV (Poly [2-Methoxy-5- (2-ethylhexyloxy) -l, 4-p henylenevinylene]) layer covering the silicon oxide layer so as to be in contact with the pair of electrodes. Have it! One of the pair of electrodes is made of an AuZCr laminated film, and the other is made of an AuZAl laminated film. With this configuration, it is reported that when a negative bias is applied to the gate and a voltage is applied between the pair of electrodes, carrier recombination occurs in the MEH-PPV layer, and light emission is observed.
  • MEH—PPV Poly [
  • Non-Patent Document 1 Tomo Sakagami, two others, "Visible light emission from polymer-based field effec t transistors" ⁇ APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME 84, NUMBER 16, America n Institute of Physics, April 19, 2004
  • an object of the present invention is to provide an organic semiconductor light emitting element capable of effectively improving the light emission efficiency and a display device using the same.
  • Another object of the present invention is to provide a method for manufacturing an organic semiconductor light emitting device capable of effectively improving the light emission efficiency.
  • an organic semiconductor light-emitting device of the present invention includes an electron injection electrode and a hole injection electrode arranged at intervals, and an electrode between the electron injection electrode and the hole injection electrode A P-type organic material layer having a PN junction region in the inter-region, and at least one of the displacements dams the carrier in the inter-electrode region (position of the inter-electrode region).
  • an organic semiconductor layer including a layer thickness of several tens of nm to several hundreds of nm) and an N-type organic material layer (for example, a layer thickness of several tens of nm to several hundreds of nm ), and at least the region between the electrodes A gate electrode disposed to face the organic semiconductor layer with an insulating film interposed therebetween.
  • the P-type organic material layer and the N-type organic material layer have a PN junction region in the intermediate portion of the interelectrode region, and at least one of them dams the carrier in the vicinity of the intermediate portion. It is preferable to have a structure for stopping.
  • the “intermediate portion” is, for example, any position within the range of the width of 1Z2 in the interelectrode region centered on the midpoint position between the electron injection electrode and the hole injection electrode. Point to.
  • holes are formed, for example, near the middle portion of the interelectrode region (channel) between the electron injection electrode and the hole injection electrode via the P-type organic material layer and the N-type organic material layer. And electrons are transported respectively.
  • the P-type organic material layer and the N-type organic material layer have a structure in which at least one of them (preferably both) dams the carrier at the position of the inter-electrode region! Therefore, this interelectrode region (for example, For example, in the PN junction region in the vicinity of the intermediate portion, carrier recombination occurs efficiently, and high-efficiency light emission is possible.
  • the transport of holes and electrons to the channel is efficiently performed by the P-type organic material layer and the N-type organic material layer.
  • the balance between the two carriers can be easily optimized. This makes it possible to emit light with excellent efficiency.
  • the P-type organic material layer refers to a layer made of an organic semiconductor material having a hole transport capability higher than that of an N-type organic material layer.
  • the N-type organic material layer refers to a layer having an organic semiconductor material power higher than that of the P-type organic material layer.
  • the carrier is capable of transporting the carrier to a position where the carrier is blocked (for example, the intermediate portion), the P-type organic material layer functions as a hole transport layer, and the N-type organic material layer is It can be used as an electron transport layer.
  • Examples of the P-type organic material constituting the P-type organic material layer include the following.
  • Phthalocyanine materials such as Copper Phthalocyanine.
  • ⁇ - sexitmophene a, ⁇ - Dihexyl- sexithiophene, dihexyl- anthradithiophene, Bis (ditnienothiophene) ⁇ , ⁇ - Dihexy oligo Chio Fen material Q [0011] such as door quinquethiophene poly (3- hexylthiophene), poly (3- butylthiophene) Polythiophene materials such as.
  • low molecular weight materials such as oligophenylene, oligophenylenevinylene, TPD, -NPD, m-MTDATA, TPAC, and TCTA
  • proportional materials such as poly (phenylenevinylene), poly (thienylenevinylene), polyacetylene, and poly (vinylcarbazole).
  • N type organic material which comprises an N type organic material layer.
  • NTCDI materials such as NTCDI, C—NTC, C—NTC, F—octy NTC, F—MeBn—NTC.
  • PTCDI materials such as Ph-PTC.
  • An organic semiconductor light emitting device includes the PN junction region (particularly, An organic light-emitting material layer (for example, a layer thickness of several nm) interposed between the P-type organic material layer and the N-type organic material layer in a region where any carrier is blocked
  • holes and electrons injected in a well-balanced manner contribute to light emission with high efficiency in the organic light-emitting material layer, so that light emission with higher efficiency and higher luminance can be achieved.
  • the organic light emitting material layer refers to a layer having an organic semiconductor material power with higher light emission quantum efficiency than the P-type organic material layer and the N-type organic material layer. More specifically, the HOMO-LUMO gap is narrower than the P-type organic material layer and the N-type organic material layer, and the layer also has a material force with electrical characteristics that can confine charges! Uh.
  • the organic light emitting material layer is, for example, Tris (8-hydroxyquinolinato) aluminum (III) (Alq)
  • Fluorescent metal complex material film such metal complex material film doped with other fluorescent dyes such as DCM2, Rubrene, Coumaline, Perylene, and 4,4'-Bis (carbazo ⁇ 9-yl ) Biphenyl (CBP) with a phosphorescent dye such as fac-tris (2-phenvpyridine) iridium (Ir (ppy))
  • a single layer or a composite layer (multilayered film) including at least one is preferable.
  • the organic light emitting material layer may have a hole transport material layer interposed between the P-type organic material layer, and the hole transport material and the light emitting material may be mixed. It may be a film structure. With such a structure, the amount of carrier supplied to the light emitting region can be adjusted, or the light emitting region can be separated from the P-type material and N-type material that are rich in charge to prevent light emission from being attenuated. Can do.
  • the hole transport material include a-NPD, TPD, and other diamine-based materials.
  • the organic light-emitting material layer may have an electron transport layer interposed between the N-type organic material layer (m-TDATA, etc.) and the electron transport material.
  • m-TDATA N-type organic material layer
  • the electron transport material include oxadiazole-based materials such as PBD, triazole-based materials such as TAZ, and 4,7-Diphenyphen1,10-phenanthroline (Bathophenanthroline).
  • a layer such as Copper Phthalocvanine, m-MTDATA, etc. is used as a hole injection layer between them.
  • the layer thickness may be 1 nm or less.
  • Electron injection layer such as Alq or Bathophenanthroline
  • alkali metals such as lithium (Li) and cesium (Cs)
  • alkali metals and alkaline earth metal fluorides such as lithium fluoride (LiF), germanium oxide (GeO)
  • LiF lithium fluoride
  • GeO germanium oxide
  • a layer such as acid aluminum (A1 0) can be exemplified.
  • the P-type organic material layer and the N-type organic material layer may be directly joined in the PN junction region.
  • the P-type organic material layer and the N-type organic material layer are both positioned at a predetermined position (for example, in the vicinity of the intermediate portion) of the interelectrode region, and substantially do not have a laminated portion. , So formed, ok.
  • the P-type organic material layer and the N-type organic material layer may be laminated.
  • the organic light emitting material layer is disposed at a predetermined position (for example, the intermediate portion) in the inter-electrode region, and both the electron injection electrode side and the hole injection electrode side with respect to the organic light emitting material layer are disposed.
  • a structure in which a laminated structure film in which the P-type organic material layer and the N-type organic material layer are laminated is formed in the region.
  • the display device of the present invention is a display device in which a plurality of organic semiconductor light emitting elements having the above-described configuration are arranged on a substrate (for example, one-dimensional or two-dimensional arrangement). With this configuration, it is possible to realize a display device with good luminous efficiency (in which each pixel is composed of an organic semiconductor light emitting element). In addition, since the light emission efficiency of each pixel is high, a display device driven at low power or a display device with high luminance can be realized.
  • the electron injection electrode and the hole injection electrode are spaced apart so as to form a predetermined interelectrode region facing the gate electrode through the insulating film. And forming an organic semiconductor layer in a region including the interelectrode region between the electron injection electrode and the hole injection electrode. Then, the step of forming the organic semiconductor layer includes the step of forming the interelectrode region (for example, substantially in the middle of the interelectrode region). A P-type organic material layer and an N-type organic material layer so that at least one of them has a structure for blocking the carrier in the inter-electrode region (for example, near the intermediate portion). Forming.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a configuration of an organic semiconductor light emitting element according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a graph showing an example of operating characteristics of the organic semiconductor light emitting device of FIG.
  • FIGS. 3A to 3F are schematic cross-sectional views showing a method of manufacturing the organic semiconductor light-emitting element in the order of steps.
  • FIG. 4 is a schematic cross-sectional view for explaining a configuration of an organic semiconductor light emitting element according to a second embodiment of the present invention.
  • FIGS. 5A to 5H are schematic cross-sectional views showing a method of manufacturing the organic semiconductor light emitting device of FIG. 4 in the order of steps.
  • FIG. 6 is a schematic sectional view showing a configuration of an organic semiconductor light emitting element according to a third embodiment of the present invention.
  • FIG. 7A to FIG. 7A are schematic cross-sectional views showing a method of manufacturing the organic semiconductor light emitting device of FIG. 6 in the order of steps.
  • FIG. 8 is a schematic sectional view showing a configuration of an organic semiconductor light emitting element according to a fourth embodiment of the present invention.
  • FIGS. 9A to 9E are schematic cross-sectional views showing a method of manufacturing the organic semiconductor light-emitting element of FIG. 8 in the order of steps.
  • FIG. 10 is an electric circuit diagram of a display device configured by two-dimensionally arranging organic semiconductor light emitting elements having the configuration shown in FIG. 1, FIG. 4, FIG. 6 or FIG. 8 on a substrate.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the organic semiconductor light emitting device according to the first embodiment of the present invention.
  • This organic semiconductor light-emitting element is an element having a basic structure as a FET (field effect transistor).
  • This organic semiconductor light emitting device includes a gate electrode 1 composed of an impurity diffusion layer formed by introducing a high concentration of N-type impurities into the surface layer portion of a silicon substrate, and an acid film as an insulating film laminated on the gate electrode 1.
  • the silicon film 2, a pair of electrodes 3, 4 formed on the silicon-silicon film 2 with a predetermined interval (for example, 10 m), and the pair of electrodes 3, 4 are in contact with each other
  • an organic semiconductor part 5 arranged in
  • One of the pair of electrodes 3 and 4 is an electron injection electrode 3 that injects electrons into the organic semiconductor portion 5, and the other is a hole injection electrode 4 that injects holes into the organic semiconductor portion 5.
  • Organic semiconductor part 5 is injected from electron injection hole 3 and electron injection hole 4 Recombination with the generated holes causes light emission. More specifically, the organic semiconductor part 5 includes an N-type organic semiconductor material layer 6 (N-type organic material layer) formed in contact with the electron injection electrode 3 and a P formed in contact with the hole injection electrode 4. Type organic semiconductor material layer 7 (P-type organic material layer) and an organic light emitting material layer 8 interposed therebetween. The P-type organic semiconductor material layer 7 covers the upper surface of the hole injection electrode 4 and the side surface opposite to the electron injection electrode 3, and further, on the oxide silicon film 2 between the electrodes 3 and 4, the force is applied to the electron injection electrode 3.
  • N-type organic material layer N-type organic material layer
  • Type organic semiconductor material layer 7 P-type organic material layer
  • the P-type organic semiconductor material layer 7 covers the upper surface of the hole injection electrode 4 and the side surface opposite to the electron injection electrode 3, and further, on the oxide silicon film 2 between the electrodes 3 and 4, the force is applied to the electron injection electrode 3.
  • each of the electrodes 3 and 4 reaches an intermediate portion 11 of the interelectrode region 10 (channel).
  • the organic light emitting material layer 8 covers the P-type organic semiconductor material layer 7, and is in contact with the oxide silicon film 2 in the region closer to the electron injection electrode 3 than the middle portion 11 between the interelectrode regions 10, and the tip thereof Reaches the electron injection electrode 3.
  • the N-type organic semiconductor material layer 6 covers the upper surface of the electron injection electrode 3 and the side surface facing the hole injection electrode 4, and further covers the organic light emitting material layer 8 toward the hole injection electrode 4. It stretches.
  • the N-type organic semiconductor material layer 6 and the P-type organic semiconductor material layer 7 have a PN junction region 12 in a region from the intermediate portion 11 to the hole injection electrode 4 in the interelectrode region 10.
  • the midpoint position between the electron injection electrode 3 and the hole injection electrode 4 is shown as an intermediate part 11! /, but in general, the "intermediate part 11"
  • the center point between the electrode 3 and the hole injection electrode 4 is the center, and any position within the range of 1Z2 width of the inter-electrode region 10 is assumed. The same applies to other embodiments below.
  • the N-type organic semiconductor material layer 6 functions as an electron transport layer that can transport electrons to at least the vicinity of the intermediate portion 11.
  • the P-type organic semiconductor material layer 7 functions as a hole transport layer that can transport holes to at least the vicinity of the intermediate portion 11.
  • the organic light-emitting material layer 8 receives supply of electrons from the N-type organic semiconductor material layer 6 and receives supply of holes from the P-type organic semiconductor material layer 7 and recombines them to generate light emission.
  • the organic light emitting material layer 8 has a carrier transport capability, it is not necessary, but the organic semiconductor material layer has higher emission quantum efficiency than the N type organic semiconductor material layer 6 and the P type organic semiconductor material layer 7. It is preferable.
  • the gate electrode 1 is integrally formed so as to face the organic semiconductor portion 5 with the oxide silicon film 2 interposed at least in the interelectrode region 10.
  • a negative gate control voltage Vg is applied from the gate control circuit 15 to the gate electrode 1, and a bias voltage Vd from the bias application circuit 16 is positive between the electrodes 3 and 4 from the positive hole injection electrode 4 side.
  • Vd bias voltage
  • electrons are injected from the electron injection electrode 3 into the N-type organic semiconductor material layer 6, and holes are injected into the P-type organic semiconductor material layer 7 from 4 holes.
  • the N-type organic semiconductor material layer 6 electrons are transported toward the hole injection electrode 4, and in the P-type organic semiconductor material layer 7, holes are transported toward the electron injection electrode 3.
  • the N-type organic semiconductor material layer 6 transports electrons to the intermediate portion 11 of the interelectrode region 10 (channel), and the P-type organic semiconductor material layer 7 performs the interelectrode region. Holes are transported to the middle part 11 of 10 and recombined in the organic light emitting material layer 8 near the middle part 11. Therefore, both electrons and holes can be efficiently transported, and they can be recombined with high efficiency.
  • the carrier injection balance can be easily optimized.
  • a material having high electron injection efficiency for the N-type organic semiconductor material layer 6 is selected as the material for the electron injection electrode 3, and a material for the P-type organic semiconductor material layer 7 is used as the material for the hole injection electrode 4.
  • Those having a high hole injection efficiency can be selected, and there is no difficulty in selecting such a material. Therefore, as a whole, extremely efficient light emission can be realized.
  • Each of the electron injection electrode 3 and the hole injection electrode 4 can be composed of, for example, an Au electrode.
  • the N-type organic semiconductor material layer 6 includes, for example, a C—NTC layer (for example, a layer
  • any material selected from the above-mentioned N-type organic materials can be used as a constituent material.
  • the P-type organic semiconductor material layer 7 can be composed of, for example, a pentacene layer (for example, a layer thickness of 50 nm), Any material selected from the machine materials can be used as the constituent material.
  • the organic light emitting material layer 8 includes, for example, a TPD film (for example, a film thickness of 15 nm) and an Alq film (N type).
  • Organic semiconductor material layer 6 An electron injection material layer arranged on the 6 side.
  • the organic light emitting material layer having the above-described structure can be arbitrarily selected and applied.
  • FIG. 2 is a graph showing an example of operating characteristics of the organic semiconductor light emitting device of FIG.
  • the horizontal axis shows the bias voltage Vd (volt) between the electrodes, and the vertical axis shows the emission intensity (arbitrary unit)! / ⁇
  • the results of measuring the characteristics for various gate voltages Vg (volts) are shown below. It is shown.
  • the emission intensity can be modulated in accordance with the gate voltage Vg, and if the voltage value is appropriately selected, the on / off of light emission can be controlled.
  • FIGS. 3A to 3F are schematic cross-sectional views showing a method of manufacturing the organic semiconductor light-emitting element in the order of steps.
  • an oxide silicon film 2 is formed on a silicon substrate on which a gate electrode 1 made of an impurity diffusion layer is formed by introducing N-type impurities at a high concentration on the surface.
  • a predetermined pattern of the electron injection electrode 3 and the hole injection electrode 4 are formed on the oxide silicon film 2 at intervals.
  • a photoresist 20 is applied to a region from the electron injection electrode 3 to the hole injection electrode 4.
  • a photomask 21 is disposed above the substrate in this state, and the photoresist 20 is selectively exposed.
  • the photomask 21 has an opening 21a having a shape corresponding to the P-type organic semiconductor material layer 7, and the photoresist 20 in a region corresponding to the opening 21a is selectively exposed to ultraviolet rays.
  • Photoresist 20 undergoes a chemical change to a property soluble in an alkali developer upon exposure to ultraviolet light.
  • the hole injection electrode 4 is exposed by developing the photoresist 20 using an alkaline developer.
  • HMDS hexamethyldisilazane (silane coupling agent): adhesion improving coating is applied.
  • a surface using a thiol compound to enhance the adhesion between the P-type organic semiconductor material layer 7 and the hole injection electrode 4 (for example, made of Au). Processing is performed.
  • the entire surface is exposed to ultraviolet rays.
  • a P-type organic semiconductor material layer 7 is deposited on the entire surface.
  • the photoresist 20 is dissolved using an alkaline developer. As a result, unnecessary portions of the P-type organic semiconductor material layer 7 are lifted off. Since the photoresist 20 has been exposed to ultraviolet rays in advance in the process of FIG. 3C, it easily dissolves in an alkaline developer.
  • the HMDS treatment and the surface treatment with the thiol compound are performed before the formation of the P-type organic semiconductor material layer 7, the P-type organic semiconductor material layer 7, the oxide silicon film 2, and the hole injection electrode are used even during lift-off. The bond with 4 is firmly held. In this way, the P-type organic semiconductor material layer 7 can be formed in the region from the hole injection electrode 4 to the intermediate portion 11 of the interelectrode region 10.
  • the organic light emitting material layer 8 and the N-type organic semiconductor material layer 6 are sequentially deposited on the entire surface, thereby completing the organic semiconductor light emitting element.
  • the organic light-emitting material layer 8 is interposed between the electron injection electrode 3 and the N-type organic semiconductor material layer 6, but electrons pass through the organic light-emitting material layer 8 and pass through the electron injection electrode 3 Is injected into the N-type organic semiconductor material layer 6, so there is no operational problem.
  • the organic light emitting material layer 8 may not be formed on the upper surface of the electron injection electrode 3.
  • FIG. 4 is a schematic cross-sectional view for explaining the configuration of an organic semiconductor light emitting element according to the second embodiment of the present invention.
  • portions corresponding to the respective portions shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals as in FIG.
  • the organic light emitting material layer is not provided, and the P-type organic semiconductor material layer 7 and the N-type organic semiconductor material layer 6 are directly joined at the intermediate portion 11 of the interelectrode region 10 to form a PN junction. Region 12 is formed. Further, the leading edge of the N-type organic semiconductor material layer 6 is located at the intermediate portion 11 and does not reach the hole injection electrode 4. In other words, in this embodiment, the N-type organic semiconductor material layer 6 and the P-type organic semiconductor material layer 7 have substantially stacked portions that are stacked vertically.
  • FIGS. 5A to 5H are schematic cross-sectional views showing the method of manufacturing the organic semiconductor light-emitting element of FIG. The process of FIGS. 5A to 5D is the same as the process of FIGS. 3A to 3E. Thereafter, as shown in FIG.
  • a photoresist 23 is applied to the entire surface, and ultraviolet exposure is performed using the photomask 24 as a mask.
  • an opening 24a is formed in a region corresponding to the N-type organic semiconductor material layer 6, and the region corresponding to the opening 24a is subjected to ultraviolet exposure.
  • Photoresist 23 is chemically changed to a property soluble in an alkali developer upon exposure to ultraviolet light.
  • the photoresist 23 is developed with an alkaline developer. As a result, the photoresist 23 in the region from the electron injection electrode 3 to the intermediate portion 11 is peeled off, and the region on the electron injection electrode 3 side of the electron injection electrode 3 and the silicon oxide film 2 is exposed. After this development, the entire surface is exposed to ultraviolet rays.
  • an N-type organic semiconductor material layer 6 is deposited on the entire surface, and then, as shown in FIG. 5H, the photoresist 23 is dissolved using an alkali developer. As a result, an unnecessary portion of the N-type organic semiconductor material layer 6 is lifted off, and an organic semiconductor light emitting device having the configuration shown in FIG. 4 is obtained.
  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing the configuration of the organic semiconductor light-emitting device according to the third embodiment of the present invention.
  • portions corresponding to the respective portions shown in FIG. 1 are given the same reference numerals as in FIG.
  • This organic semiconductor light-emitting element is similar to the configuration of the second embodiment described above, and the N-type organic semiconductor material layer 6 and the P-type organic semiconductor material layer 7 are close to the middle portion 11 of the interelectrode region 10. Each has a leading edge.
  • the intermediate portion 11 has an oxysilicon film 2 in a PN junction region 12 between the N-type organic semiconductor material layer 6 and the P-type organic semiconductor material layer 7 so as to bisect the interelectrode region 10.
  • An organic light emitting material layer 8 is interposed in contact therewith.
  • FIGS. 7A to 7A are schematic sectional views showing the method of manufacturing the organic semiconductor light emitting device of FIG. 6 in the order of steps.
  • the process of FIGS. 7A-7D is the same as the process of FIGS. 3A-3E.
  • a photoresist 27 is applied to the entire surface, and ultraviolet exposure is performed using the photomask 28 as a mask.
  • an opening 28a is formed in a region corresponding to the N-type organic semiconductor material layer 6, and the region corresponding to the opening 28a is exposed to ultraviolet light.
  • Photoresist 27 undergoes a chemical change to a property soluble in an alkaline developer upon exposure to ultraviolet light.
  • the photoresist 27 is developed with an alkaline developer.
  • the developed photoresist 27 has a portion 27 a in contact with the silicon oxide film 2 in the vicinity of the intermediate portion 11.
  • an N-type organic semiconductor material layer 6 is deposited on the entire surface, and then, as shown in FIG. 7H, the photoresist 27 is dissolved using an alkali developer. As a result, unnecessary portions of the N-type organic semiconductor material layer 6 are lifted off. A gap 29 corresponding to the organic light emitting material layer 8 (corresponding to the portion 27a of the photoresist 27) is formed between the N-type organic semiconductor material layer 6 and the P-type organic semiconductor material layer 7.
  • FIG. 8 is a schematic cross-sectional view showing the configuration of an organic semiconductor light emitting device according to the fourth embodiment of the present invention.
  • portions corresponding to the respective portions shown in FIG. 6 are given the same reference numerals as in FIG.
  • an organic light emitting material layer 8 that is in contact with the silicon oxide film 2 is disposed in an intermediate portion 11 so as to bisect the interelectrode region 10.
  • a laminated structure film of a P-type organic semiconductor material layer 7 and an N-type organic semiconductor material layer 6 is formed on both sides of the organic light emitting material layer 8. Therefore, the P-type organic semiconductor material layer 7 is in contact with both the hole injection electrode 4 and the electron injection electrode 3.
  • the region near the organic light emitting material layer 8 is a P-type organic semiconductor material layer 7 on the hole injection electrode 4 side and an N-type organic semiconductor on the electron injection electrode 3 side. It becomes the PN junction area 12 between the material layer 6.
  • the organic light-emitting material layer 8 has a low carrier mobility! ⁇ Material.
  • FIGS. 9A to 9E are schematic cross-sectional views showing the method of manufacturing the organic semiconductor light-emitting element of FIG. 8 in the order of steps.
  • an oxide silicon film 2 is formed on a silicon substrate on which a gate electrode 1 made of an impurity diffusion layer is formed by introducing N-type impurities at a high concentration on the surface,
  • a predetermined pattern of the electron injection electrode 3 and the hole injection electrode 4 are formed on the oxide silicon film 2 with a space therebetween.
  • a photoresist 33 is applied to a region from the electron injection electrode 3 to the hole injection electrode 4.
  • a photomask 34 is disposed above the substrate in this state, and the photoresist 33 is selectively exposed.
  • the photomask 34 has an opening 34a having a shape corresponding to the P-type organic semiconductor material layer 7 and an opening 34b corresponding to the N-type organic semiconductor material layer 6, and these openings 34a and 34b are formed.
  • the corresponding region of the photoresist 33 is selectively exposed to UV light. Photoresist 33 chemically changes to a property soluble in an alkaline developer when exposed to ultraviolet light.
  • the hole injection electrode 4 and the electron injection electrode 3 are exposed by developing the photoresist 33 with an alkaline developer.
  • the photoresist 33 remains in the intermediate portion 11 of the interelectrode region 10, and on both sides, the silicon oxide film 2 is exposed in the region between the electron injection electrode 3 and the hole injection electrode 4.
  • an HMDS treatment is further performed to strengthen the adhesion between the P-type organic semiconductor material layer 7 and the silicon oxide film 2 to be formed next.
  • the P-type organic semiconductor material layer 7 and the hole Injection electrode 4 and In order to reinforce the adhesion with the electron injection electrode 3 (for example, all having Au force), a surface treatment using a thiol compound is performed. Thereafter, the entire surface is exposed to ultraviolet light.
  • a P-type organic semiconductor material layer 7 and an N-type organic semiconductor material layer 6 are sequentially laminated on the entire surface. Further, as shown in FIG. 9D, alkali development is performed. The photoresist 33 is dissolved using the solution. Thereby, unnecessary portions of the P-type organic semiconductor material layer 7 and the N-type organic semiconductor material layer 6 are lifted off. Thus, a laminated structure film (a film in which the organic semiconductor material layers 6 and 7 are laminated) having the gap 35 in the middle part 11 between the electrodes 10 is obtained.
  • FIG. 10 is an electric circuit diagram of a display device 60 configured by two-dimensionally arranging the organic semiconductor light emitting elements 40 having the configuration shown in FIG. 1, FIG. 4, FIG. 6 or FIG. That is, in this display device 60, the organic semiconductor light emitting element 40 as described above is arranged in each of the pixels Pl1, P12,..., P21, P22 arranged in a matrix, and the organic semiconductor of these pixels is arranged.
  • the two-dimensional display is made possible by selectively causing the light emitting element 40 to emit light and controlling the light emission intensity (luminance) of the organic semiconductor light emitting element 40 of each pixel.
  • Each organic semiconductor light emitting element 40 is a field effect transistor (FET) having the gate electrode 1 as the gate G, and the bias voltage Vd is applied to the electron injection electrode 3 serving as the drain D thereof.
  • the hole injection electrode 4 serving as the source S is set to the ground potential.
  • a selection transistor Ts for selecting each pixel and a data holding capacitor C are connected to the gate G in parallel.
  • the gate of Ts is connected to a common scanning line LSI, LS2, for each row.
  • common data lines LD1, LD2 for each column are provided on the side opposite to the organic semiconductor light emitting element 40. , Are connected to each other.
  • the pixels Pl1, P12, P21, P22 in each row are cyclically and sequentially selected from the scanning line drive circuit 51 controlled by the controller 53 (a plurality of pixels in the row). A scanning drive signal for selecting pixels at a time is provided.
  • the scanning line driving circuit 51 sets each row as a selected row in sequence, turns on the selection transistors Ts of a plurality of pixels in the selected row at once, and collectively selects the selection transistors Ts of a plurality of pixels in the non-selected row.
  • a scanning drive signal for blocking is generated.
  • signals from the data line driving circuit 52 are inputted to the data lines LD1, LD2, and so on.
  • a control signal corresponding to the image data is input from the controller 53 to the data line driving circuit 52.
  • the data line driving circuit 52 outputs a light emission control signal corresponding to the light emission gradation of each pixel in the selected row at the timing when the scanning line driving circuit 51 collectively selects a plurality of pixels in each row. ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ Supply in parallel.
  • the light emission control signal is given to the gate G via the selection transistor Ts, so that the organic semiconductor light emitting element 40 of the pixel has a level corresponding to the light emission control signal. It emits light (or turns off) at the key. Since the light emission control signal is held in the capacitor C, the potential of the gate G is held and the light emission state of the organic semiconductor light emitting element 40 is held even after the selected row by the scanning line driving circuit 51 moves to another row. The In this way, two-dimensional display becomes possible.
  • FIG. 10 shows a display device 60 capable of two-dimensional display, but a one-dimensional display device can be configured by one-dimensionally arranging pixels.
  • the intermediate portion 11 of the inter-electrode region 10 in the examples of FIGS. 1, 4, 6, and 8, substantially the midpoint position between the electron injection electrode 3 and the hole injection electrode 4).
  • the force described in the structure in which at least one carrier is dammed up in (1) is not in the middle part 11, but the structure in which one carrier is dammed up at any position of the inter-electrode region 10.
  • the P-type organic material and the N-type organic material Offset the difference in electrical characteristics (mobility, electrical conductivity) to achieve a carrier balance. It is exempted from having a structure.

Landscapes

  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

 発光効率を効果的に向上することができる有機半導体発光素子を提供する。この有機半導体発光素子は、間隔を開けて配置された電子注入電極3および正孔注入電極4と、これらの電極の間の電極間領域10に設けられた有機半導体部5と、酸化シリコン膜2と、これを挟んで電極間領域10に対向するゲート電極1とを備えている。有機半導体部5は、電極間領域10のほぼ中間部11にPN接合域12を有するP型有機半導体材料層7およびN型有機半導体材料層6と、PN接合域12に配置された有機発光材料層8とを備えている。

Description

明 細 書
有機半導体発光素子およびそれを用いた表示装置、ならびに有機半導 体発光素子の製造方法
技術分野
[0001] この発明は、有機半導体発光素子およびそれを用いた表示装置ならびに有機半 導体発光素子の製造方法に関する。
背景技術
[0002] トランジスタ構造を有する有機半導体発光素子の先行技術は、下記非特許文献 1 に開示されている。この先行技術の有機半導体発光素子は、ゲートとしての N型シリ コン基板と、その上に形成された酸化シリコン層と、この酸ィ匕シリコン層上に間隔を開 けて形成された一対の電極 (ソースおよびドレイン)と、この一対の電極に接触するよ うに酸化シリコン層を覆う MEH— PPV (Poly[2-Methoxy-5-(2-ethylhexyloxy)-l,4-p henylenevinylene])層とを有して!/、る。一対の電極のうちの一方は AuZCr積層膜か らなり、その他方は AuZAl積層膜とされている。この構成により、ゲートに負のバイァ スを与え、前記一対の電極間に電圧をかけることによって、 MEH— PPV層内におい てキヤリャの再結合が生じ、発光が観測されたと報告されて 、る。
非特許文献 1:坂上知、他 2名、 "Visible light emission from polymer-based field effec t transistors "ゝ APPLIED PHYSICS LETTERS, VOLUME 84, NUMBER 16、 America n Institute of Physics, 2004年 4月 19日
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0003] 前記先行技術では、ソースおよびドレインとなる一対の電極の材料として特定のも のを適用することによって、 MEH— PPV層へのキヤリャの注入バランスの改善を図り 、これにより、発光効率の向上が図られている。
しかし、この先行技術の構成では、正孔および電子の両方を輸送する能力のあるァ ンビポーラ特性 (ambipolar :同時両極性)の有機半導体材料の使用が前提である。そ して、このようなアンビポーラ特性の有機半導体材料に対して正孔および電子のそれ ぞれの注入効率の高い電極材料を見つけだす必要がある。そのうえ、キヤリャの注 入バランスのよ 、電極材料の組み合わせを見つけ出さなければならな 、。
[0004] したがって、結果として、正孔および電子の注入バランスをとるのは極めて困難であ ると言わざるをえない。すなわち、いずれかのキヤリャの大部分が発光に寄与しない まま消費されてしまうという問題を解決することができず、発光効率の向上には自ずと 限界がある。
そこで、この発明の目的は、発光効率を効果的に向上することができる有機半導体 発光素子およびそれを用いた表示装置を提供することである。
[0005] また、この発明の他の目的は、発光効率を効果的に向上することができる有機半導 体発光素子の製造方法を提供することである。
課題を解決するための手段
[0006] 上記の目的を達成するための本発明の有機半導体発光素子は、間隔を開けて配 置された電子注入電極および正孔注入電極と、前記電子注入電極および正孔注入 電極間の電極間領域に PN接合域を有し、少なくとも ヽずれか一方は前記電極間領 域 (電極間領域の 、ずれかの位置)でキヤリャを堰き止める構造となって 、る P型有 機材料層(たとえば、層厚は数十 nm〜数百 nm)および N型有機材料層(たとえば、 層厚は数十 nm〜数百 nm)を含む有機半導体層と、少なくとも前記電極間領域にお Vヽて前記有機半導体層に絶縁膜を介して対向するように配置されたゲート電極とを 含む。より具体的には、前記 P型有機材料層および N型有機材料層は、前記電極間 領域の中間部に PN接合域を有し、少なくとも 、ずれか一方は前記中間部付近でキ ャリャを堰き止める構造となっていることが好ましい。「中間部」とは、具体的には、た とえば、電子注入電極と正孔注入電極との間の中点位置を中心とし、電極間領域の 1Z2の幅の範囲内のいずれかの位置を指す。
[0007] この構成によれば、 P型有機材料層および N型有機材料層を介して、電子注入電 極および正孔注入電極間の電極間領域 (チャネル)のたとえば中間部付近へと正孔 および電子がそれぞれ輸送される。 P型有機材料層および N型有機材料層は、少な くとも 、ずれか一方 (好ましくは両方)が電極間領域の!/、ずれかの位置 (たとえば前記 中間部付近)でキヤリャを堰き止める構造となっているため、この電極間領域 (たとえ ば前記中間部付近)の PN接合域においてキヤリャの再結合が効率的に生じ、高効 率な発光が可能となる。
[0008] とくに、この発明では、チャネルへの(たとえば、チャネルの中間部付近への)正孔 および電子のそれぞれの輸送を P型有機材料層および N型有機材料層によって効 率的に行うことができ、かつ、それらの材料の組み合わせを適切に選択することによ つて、両キヤリャの注入バランスも容易に適正化できる。これにより、優れた効率での 発光が可能となる。
[0009] 前記 P型有機材料層とは、 N型有機材料層よりも正孔輸送能力が高い有機半導体 材料カゝらなる層をいう。また、 N型有機材料層とは、 P型有機材料層よりも電子輸送能 力が高い有機半導体材料力もなる層をいう。いずれも、前記キヤリャが堰き止められ る位置 (たとえば前記中間部)付近までキヤリャを輸送する能力のあるものであり、 P 型有機材料層は正孔輸送層として機能し、 N型有機材料層は、電子輸送層として機 會すること〖こなる。
[0010] P型有機材料層を構成する P型有機材料としては、次のものを例示できる。
Pentacene^ Tetraceneゝ Anthracene等の—,セン糸 料。
Copper Phthalocyanine等のフタロシア-ン系材料。
α - sexitmophene、 a , ω - Dihexyl- sexithiophene、 dihexyl- anthradithiophene、 Bis( ditnienothiophene) ^ , ω - Dihexyト quinquethiophene等のオリゴチォフェン材料 Q [0011] poly(3- hexylthiophene)、 poly(3- butylthiophene)等のポリチォフェン材料。
その他、 oligophenylene、 oligophenylenevinylene、 TPD、 - NPD、 m- MTDATA、 TP AC、 TCTA等の低分子材料や、 poly(phenylenevinylene)、 poly(thienylenevinylene)、 polyacetylene、 poly(vinylcarbazole)等の尚分ナ材料。
また、 N型有機材料層を構成する N型有機材料としては、次のものを例示できる。
[0012] NTCDI、 C— NTC、 C— NTC、 F — octyト NTC、 F— MeBn— NTC等の NTCDI系材料。
6 8 15 3
PTCDI、 C -PTC, C -PTC, C -PTC, C -PTC, Bu— PTC、 F Bu— PTC、 Ph— PTC、 F
6 8 12 13 7
Ph- PTC等の PTCDI系材料。
5
その他、 TCNQ、C フラーレン、 F - CuPc、F - Pentacene等。
60 16 14
この発明の一実施形態に係る有機半導体発光素子は、前記 PN接合域 (とくにいず れかのキヤリャが堰き止められる領域に接する領域)において前記 P型有機材料層 および N型有機材料層の間に介在された有機発光材料層(たとえば、層厚は数 nm
〜数十 nm)をさらに含む。
[0013] この構成によれば、バランス良く注入された正孔および電子が有機発光材料層で 高効率に発光に寄与するので、より効率の高い高輝度な発光が可能となる。
なお、有機発光材料層とは、 P型有機材料層および N型有機材料層よりも発光量 子効率の高い有機半導体材料力もなる層をいう。より具体的には、 P型有機材料層 および N型有機材料層よりも、 HOMO— LUMOギャップが狭く、電荷を閉じ込めること ができる電気的特性を有する材料力もなる層を!、う。
[0014] 有機発光材料層は、たとえば、 Tris(8-hydroxyquinolinato)aluminum(III) (Alq )など
3 蛍光を示す金属錯体系材料膜、このような金属錯体系材料に DCM2、 Rubrene、 Cou maline、 Peryleneなどの他の蛍光色素をドープした膜、および 4,4'-Bis(carbazo卜 9-yl) biphenyl (CBP)に fac- tris(2- phenvpyridine) iridium (Ir(ppy) )などのりん光発光色素を
3
ドープした膜のうち、少なくとも一つを含む単層または複合層 (複数層の積層膜)とす ることが好ましい。
[0015] さらに、有機発光材料層は、 P型有機材料層との間に介在された正孔輸送材料層 を有していてもよぐまた、正孔輸送材料と発光性材料とを混合成膜した構造としたり してもよい。このような構造とすれば、発光領域に供給されるキヤリャの量を調整した り、発光領域を電荷がリッチな P型材料および N型材料から離して電荷による発光減 衰を防止したりすることができる。正孔輸送材料としては、 a-NPD、 TPDを始めとする ジァミン系材料を挙げることができる。
[0016] 同様の目的で、有機発光材料層は、 N型有機材料層 (m-TDATAなど)との間に介 在された電子輸送層を有していてもよぐまた、電子輸送材料と発光性材料とを混合 成膜した構造としたりしてもよい。電子輸送材料としては、 PBDを初めとするォキサジ ァゾール系材料や、 TAZを初めとするトリァゾール系材料、 4,7-Dipheny卜 1,10-phena nthroline (Bathophenanthroline)などを挙げることができる。
[0017] さらに、 P型有機材料層から有機発光材料層への正孔の注入を容易にするために 、両者の間に、正孔注入層として、 Copper Phthalocvanine、 m- MTDATAなどの層(た とえば、層厚は lnm以下)を介装してもよい。さら〖こ、 N型有機材料層から有機発光 材料層への電子の注入を容易にするために、両者間に、電子注入層を介装する構 造としてもよい。電子注入層としては、 Alqや Bathophenanthrolineなどの電子輸送性
3
有機半導体にリチウム (Li)、セシウム (Cs)などのアルカリ金属をドープした層、フッ化リ チウム (LiF)を始めとするアルカリ金属 ·アルカリ土類金属フッ化物、酸ィ匕ゲルマニウム (GeO ),酸ィ匕アルミニウム (A1 0 )などの層を例示できる。
2 2 3
[0018] 前記 P型有機材料層および N型有機材料層は、前記 PN接合域において直接接合 していてもよい。
また、前記 P型有機材料層および N型有機材料層は、それらの先端縁がいずれも 前記電極間領域の所定位置 (たとえば前記中間部付近)に位置し、積層箇所を実質 的に有しな 、ように形成されて 、てもよ 、。
[0019] さらに、前記電極間領域の所定位置 (たとえば前記中間部)に対して前記電子注入 電極側および正孔注入電極側のうちの少なくとも一方側の領域にお!、て、前記 P型 有機材料層および N型有機材料層が積層された構造としてもよい。
さらには、前記有機発光材料層が前記電極間領域の所定位置 (たとえば前記中間 部)に配置されており、この有機発光材料層に対して前記電子注入電極側および正 孔注入電極側の両方の領域に、前記 P型有機材料層および N型有機材料層を積層 した積層構造膜が形成された構造としてもょ ヽ。
[0020] この発明の表示装置は、前述のような構成の有機半導体発光素子を基板上に複数 個配列(たとえば、一次元または二次元に配列)した表示装置である。この構成により 、発光効率の良!ヽ表示装置 (個々の画素を有機半導体発光素子で構成したもの)を 実現できる。そして、個々の画素の発光効率が高いため、低電力駆動の表示装置、 または高輝度な表示装置を実現できる。
[0021] また、この発明の有機半導体発光素子の製造方法は、絶縁膜を介してゲート電極 が対向する所定の電極間領域を形成するように、電子注入電極および正孔注入電 極を間隔を開けて形成する工程と、前記電子注入電極および正孔注入電極間の前 記電極間領域を含む領域に有機半導体層を形成する工程とを含む。そして、前記有 機半導体層を形成する工程は、前記電極間領域 (たとえば電極間領域のほぼ中間 部)に PN接合域を形成し、少なくともいずれか一方が前記電極間領域 (たとえば前 記中間部付近)でキヤリャを堰き止める構造となるように、 P型有機材料層および N型 有機材料層を形成する工程を含む。
[0022] 本発明における上述の、またはさらに他の目的、特徴および効果は、添付図面を 参照して次に述べる実施形態の説明により明らかにされる。
図面の簡単な説明
[0023] [図 1]この発明の第 1実施形態に係る有機半導体発光素子の構成を図解的に示す断 面図である。
[図 2]図 1の有機半導体発光素子の動作特性例を示すグラフである。
[図 3]図 3A〜3Fは、前記有機半導体発光素子の製造方法を工程順に示す図解的 な断面図である。
[図 4]この発明の第 2の実施形態に係る有機半導体発光素子の構成を説明するため の図解的な断面図である。
[図 5]図 5A〜5Hは、図 4の有機半導体発光素子の製造方法を工程順に示す図解 的な断面図である。
[図 6]この発明の第 3実施形態に係る有機半導体発光素子の構成を示す図解的な断 面図である。
[図 7]図 7A〜 は、図 6の有機半導体発光素子の製造方法を工程順に示す図解的 な断面図である。
[図 8]この発明の第 4実施形態に係る有機半導体発光素子の構成を示す図解的な断 面図である。
[図 9]図 9A〜9Eは、図 8の有機半導体発光素子の製造方法を工程順に示す図解的 な断面図である。
[図 10]図 1、図 4、図 6または図 8に示された構成の有機半導体発光素子を基板上に 二次元配列して構成される表示装置の電気回路図である。
符号の説明
[0024] 1 ゲート電極
2 酸化シリコン膜 3 電子注入電極
4 正孔注入電極
5 有機半導体部
6 N型有機半導体材料層
7 P型有機半導体材料層
8 有機発光材料層
10 電極間領域
11 中間部
12 PN接合域
15 ゲート制御回路
16 バイアス印加回路
40 有機半導体発光素子
41 基板
51 走査線駆動回路
52 データ線駆動回路
53 コントローラ
60 表示装置
発明を実施するための最良の形態
[0025] 図 1は、この発明の第 1実施形態に係る有機半導体発光素子の構成を図解的に示 す断面図である。この有機半導体発光素子は、 FET (電界効果型トランジスタ)として の基本構造を有する素子である。この有機半導体発光素子は、シリコン基板の表層 部に高濃度に N型不純物を導入して形成された不純物拡散層からなるゲート電極 1 と、このゲート電極 1上に積層された絶縁膜としての酸ィ匕シリコン膜 2と、この酸ィ匕シリ コン膜 2上に所定の間隔 (たとえば、 10 m)を開けて形成された一対の電極 3, 4と 、この一対の電極 3, 4に接するように配置された有機半導体部 5とを備えている。
[0026] 一対の電極 3, 4の一方は有機半導体部 5に電子を注入する電子注入電極 3であり 、他方は有機半導体部 5に正孔を注入する正孔注入電極 4である。
有機半導体部 5は、電子注入電極 3から注入される電子と正孔注入電極 4カゝら注入 される正孔とを再結合させて発光を生じさせる。より詳細には、有機半導体部 5は、電 子注入電極 3に接して形成された N型有機半導体材料層 6 (N型有機材料層)と、正 孔注入電極 4に接して形成された P型有機半導体材料層 7 (P型有機材料層)と、こ れらの間に介在された有機発光材料層 8とを有している。 P型有機半導体材料層 7は 、正孔注入電極 4の上面および電子注入電極 3に対向する側面を覆い、さらに電極 3 , 4間の酸ィ匕シリコン膜 2上を電子注入電極 3に向力つて延びて形成されていて、そ の先端部は、電極 3, 4の間の電極間領域 10 (チャネル)の中間部 11に至っている。 有機発光材料層 8は、 P型有機半導体材料層 7を覆い、さらに、電極間領域 10の中 間部 11よりも電子注入電極 3側の領域において、酸ィ匕シリコン膜 2に接し、その先端 は電子注入電極 3に至っている。そして、 N型有機半導体材料層 6は、電子注入電 極 3の上面および正孔注入電極 4に対向する側面を覆い、さらに、有機発光材料層 8 を覆うように正孔注入電極 4に向カゝつて延びている。したがって、 N型有機半導体材 料層 6および P型有機半導体材料層 7は、電極間領域 10において、中間部 11から 正孔注入電極 4に至る領域に PN接合域 12を有している。なお、図 1では、電子注入 電極 3と正孔注入電極 4との間の中点位置を中間部 11として図示して!/、るが、一般 に、「中間部 11」とは、電子注入電極 3と正孔注入電極 4との間の中点位置を中心と し、電極間領域 10の 1Z2の幅の範囲内のいずれかの位置を指すものとする。以下、 他の実施形態においても同様である。
[0027] N型有機半導体材料層 6は、少なくとも中間部 11付近まで電子を輸送することがで きる電子輸送層として機能する。 P型有機半導体材料層 7は、少なくとも中間部 11付 近まで正孔を輸送することができる正孔輸送層として機能する。有機発光材料層 8は 、 N型有機半導体材料層 6から電子の供給を受け、 P型有機半導体材料層 7から正 孔の供給を受けて、これらを再結合させて発光を生じさせる。有機発光材料層 8は、 キヤリャ輸送能力を有して 、る必要はな 、が、 N型有機半導体材料層 6および P型有 機半導体材料層 7よりも発光量子効率の高い有機半導体材料力 なるものであること が好ましい。
[0028] ゲート電極 1は、少なくとも電極間領域 10において、酸ィ匕シリコン膜 2を介して有機 半導体部 5に対向するように一体的に形成されている。発光動作時には、たとえば、 ゲート電極 1に対してゲート制御回路 15から負のゲート制御電圧 Vgが印加され、電 極 3, 4間には、バイアス印加回路 16から、正孔注入電極 4側が正となるバイアス電 圧 Vdが印加される。これにより、電子注入電極 3から N型有機半導体材料層 6に電 子が注入され、正孔注入電極 4カゝら P型有機半導体材料層 7に正孔が注入される。 N 型有機半導体材料層 6内では正孔注入電極 4側に向かって電子が輸送され、 P型有 機半導体材料層 7内では電子注入電極 3に向カゝつて正孔が輸送される。
[0029] このとき、 P型有機半導体材料層 7は、電極間領域 10の中間部 11までしか形成さ れていないため、その電子注入電極 3側の先端縁 7aにおいて、正孔が堰き止められ て蓄積される。そのため、中間部 11付近において、有機半導体発光層 7内での正孔 および電子の再結合が集中的に生じ、効率的な発光が生じる。すなわち、 PN接合 域 12のうち、中間部 11の近傍の部分が、発光に実質的に寄与する。
[0030] このように、この実施形態によれば、 N型有機半導体材料層 6によって電極間領域 10 (チャネル)の中間部 11まで電子を輸送し、 P型有機半導体材料層 7によって電極 間領域 10の中間部 11まで正孔を輸送して、これらを中間部 11付近の有機発光材料 層 8内で再結合させる構成としている。したがって、電子および正孔をいずれも効率 的に輸送することができ、かつ、それらを高効率で再結合させることができる。しかも、 N型有機半導体材料層 6および P型有機半導体材料層 7の材料を適切に選択するこ とによって、容易に、キヤリャの注入バランスを適正化することができる。そのうえ、必 要に応じて、電子注入電極 3の材料として N型有機半導体材料層 6に対する電子注 入効率の高いものを選択し、正孔注入電極 4の材料として P型有機半導体材料層 7 に対する正孔注入効率の高 、ものを選択するができ、このような材料の選択に困難 を伴うこともない。そのため、全体として、極めて効率の高い発光を実現することがで きる。
[0031] 電子注入電極 3および正孔注入電極 4は、たとえば、いずれも Au電極で構成する ことができる。また、 N型有機半導体材料層 6は、たとえば C— NTC層(たとえば、層
6
厚 50nmで構成することができる他、前述の N型有機材料のなかから任意に選択し たものを構成材料として用いることができる。さらに、 P型有機半導体材料層 7は、たと えば、ペンタセン層(たとえば、層厚 50nm)で構成することができる他、前述の P型有 機材料のなかから任意に選択したものを構成材料として用いることができる。そして、 有機発光材料層 8は、たとえば、 TPD膜 (たとえば、膜厚 15nm)および Alq膜 (N型
3 有機半導体材料層 6側に配置される電子注入材料層。たとえば膜厚 15nm)を積層 した積層構造膜で構成することができるほか、前述のような構成の有機発光材料層を 任意に選択して適用することができる。
[0032] 図 2は、図 1の有機半導体発光素子の動作特性例を示すグラフである。横軸に電 極間バイアス電圧 Vd (ボルト)がとられ、縦軸には発光強度 (任意単位)がとられて!/ヽ て、種々のゲート電圧 Vg (ボルト)に関して特性を測定した結果が示されている。この 図 2から、ゲート電圧 Vgに応じて発光強度の変調が可能であり、適切に電圧値を選 択すれば、発光のオン Zオフの制御が可能であることがわかる。
[0033] 図 3A〜3Fは、前記有機半導体発光素子の製造方法を工程順に示す図解的な断 面図である。まず、図 3Aに示すように、表面に高濃度に N型不純物を導入して不純 物拡散層からなるゲート電極 1が形成されたシリコン基板上に、酸ィ匕シリコン膜 2が形 成され、この酸ィ匕シリコン膜 2上に所定パターンの電子注入電極 3および正孔注入電 極 4が間隔を開けて形成される。そして、この状態で、電子注入電極 3から正孔注入 電極 4に至る領域にフォトレジスト 20が塗布される。この状態の基板の上方にフォトマ スク 21が配置され、フォトレジスト 20が選択的に露光される。すなわち、フォトマスク 2 1には、 P型有機半導体材料層 7に対応する形状の開口 21aが形成されていて、この 開口 21aに対応する領域のフォトレジスト 20が選択的に紫外線露光される。フオトレ ジスト 20は、紫外線露光を受けることにより、アルカリ現像液に対して可溶な性質に 化学変化するものである。
[0034] 次に、図 3Bに示すように、アルカリ現像液を用いてフォトレジスト 20を現像すること により、正孔注入電極 4が露出させられる。この後、さらに、次に形成される P型有機 半導体材料層 7と酸ィ匕シリコン膜 2との密着力を強化するために、 HMDS (へキサメ チルジシラザン (シランカップリング剤):密着性向上塗布剤)処理が行われ、さらに、 P型有機半導体材料層 7と正孔注入電極 4 (たとえば Auカゝらなるもの)との密着力を 強化するために、チオール (Thiol)化合物を用いた表面処理が行われる。
[0035] その後、図 3Cに示すように、全面が紫外線露光される。 次いで、図 3Dに示すように、全面に P型有機半導体材料層 7が蒸着され、さらに、 図 3Eに示すように、アルカリ現像液を用いて、フォトレジスト 20が溶解させられる。こ れにより、 P型有機半導体材料層 7の不要部分がリフトオフされる。フォトレジスト 20は 、図 3Cの工程において予め紫外線に露光されているため、アルカリ現像液に容易に 溶解する。また、 P型有機半導体材料層 7の形成前に HMDS処理およびチオール 化合物による表面処理を行って ヽるため、リフトオフ時にも P型有機半導体材料層 7と 酸ィ匕シリコン膜 2および正孔注入電極 4との結合が強固に保持される。こうして、正孔 注入電極 4から電極間領域 10の中間部 11に至る領域に P型有機半導体材料層 7を 形成することができる。
[0036] その後は、図 3Fに示すように、全面に有機発光材料層 8および N型有機半導体材 料層 6が順に蒸着されて、有機半導体発光素子が完成する。
図 3Fの構成では、有機発光材料層 8が電子注入電極 3と N型有機半導体材料層 6 との間に介在しているが、電子は、有機発光材料層 8を通り抜けて、電子注入電極 3 から N型有機半導体材料層 6へと注入されるので、動作上の問題はない。むろん、図 1に示すように、有機発光材料層 8を電子注入電極 3の上面には形成しな ヽようにし てもよい。
[0037] 図 4は、この発明の第 2の実施形態に係る有機半導体発光素子の構成を説明する ための図解的な断面図である。この図 4にお 、て前述の図 1に示された各部に対応 する部分には、図 1の場合と同一の参照符号を付して示す。
この実施形態では、有機発光材料層が設けられておらず、 P型有機半導体材料層 7と N型有機半導体材料層 6とが、電極間領域 10の中間部 11で直接接合して、 PN 接合域 12を形成している。また、 N型有機半導体材料層 6は、前記中間部 11にその 先端縁が位置していて、正孔注入電極 4にまでは及んでいない。すなわち、この実施 形態では、 N型有機半導体材料層 6と P型有機半導体材料層 7とは、上下に積層さ れた積層箇所を実質的に有して!/、な!、。
[0038] この構成により、正孔注入電極 4によって P型有機半導体材料層 7に注入された正 孔は、中間部 11付近の先端縁に蓄積され、電子注入電極 3によって N型有機半導 体材料層 6に注入された電子は中間部 11付近の先端縁に蓄積される。これにより、 PN接合域 12における正孔および電子の再結合により、高効率な発光が可能になる 図 5A〜5Hは、図 4の有機半導体発光素子の製造方法を工程順に示す図解的な 断面図である。図 5A〜5Dの工程は、図 3A〜3Eの工程と同様である。その後、図 5 Eに示すように、全面にフォトレジスト 23が塗布され、フォトマスク 24をマスクとして紫 外線露光が行われる。フォトマスク 24には、 N型有機半導体材料層 6に対応する領 域に開口 24aが形成されており、この開口 24aに対応する領域が紫外線露光を受け ること〖こなる。フォトレジスト 23は、紫外線露光を受けることによって、アルカリ現像液 に可溶な性質に化学変化するものである。
[0039] 次に、図 5Fに示すように、フォトレジスト 23がアルカリ現像液によって現像される。こ れにより、電子注入電極 3から中間部 11に至る領域のフォトレジスト 23が剥離され、 電子注入電極 3および酸化シリコン膜 2の電子注入電極 3側の領域が露出する。 この現像の後には、全面が紫外線露光される。
次いで、図 5Gに示すように、全面に N型有機半導体材料層 6が蒸着させられ、そ の後、図 5Hに示すように、アルカリ現像液を用いてフォトレジスト 23が溶解させられ る。これにより、 N型有機半導体材料層 6の不要部分がリフトオフされ、図 4の構成の 有機半導体発光素子が得られる。
[0040] 図 6は、この発明の第 3実施形態に係る有機半導体発光素子の構成を示す図解的 な断面図である。この図 6において、前述の図 1に示された各部に対応する部分には 、図 1の場合と同一の参照符号を付して示す。
この有機半導体発光素子は、前述の第 2実施形態の構成と類似しており、 N型有 機半導体材料層 6および P型有機半導体材料層 7は、電極間領域 10の中間部 11付 近にそれぞれ先端縁を有している。そして、中間部 11には、電極間領域 10を二分す るように、 N型有機半導体材料層 6と P型有機半導体材料層 7との間の PN接合域 12 に、酸ィ匕シリコン膜 2に接して、有機発光材料層 8が介在されている。
[0041] この構成により、 N型有機半導体材料層 6および P型有機半導体材料層 7の先端縁 付近に蓄積された電子および正孔が有機発光材料層 8で結合し、中間部 11付近で 高効率な発光が生じる。し力も、この実施形態では、有機発光材料層 8の上方を他の 有機材料層で覆う構造ではな 、ので、優れた光取り出し効率を実現できる。
図 7A〜 は、図 6の有機半導体発光素子の製造方法を工程順に示す図解的な断 面図である。図 7A〜7Dの工程は、図 3A〜3Eの工程と同様である。
[0042] これに引き続いて、図 7Eに示すように、全面にフォトレジスト 27が塗布され、フォト マスク 28をマスクとして紫外線露光が行われる。フォトマスク 28には、 N型有機半導 体材料層 6に対応する領域に開口 28aが形成されており、この開口 28aに対応する 領域が紫外線露光を受けることになる。フォトレジスト 27は、紫外線露光を受けること によって、アルカリ現像液に可溶な性質に化学変化するものである。
[0043] 次に、図 7Fに示すように、フォトレジスト 27がアルカリ現像液によって現像される。
現像後のフォトレジスト 27は、中間部 11付近に酸ィ匕シリコン膜 2に接している部分 27 aを有している。
この現像後には、全面が紫外線露光される。
次いで、図 7Gに示すように、全面に N型有機半導体材料層 6が蒸着させられ、そ の後、図 7Hに示すように、アルカリ現像液を用いてフォトレジスト 27が溶解させられ る。これにより、 N型有機半導体材料層 6の不要部分がリフトオフされる。この N型有 機半導体材料層 6と P型有機半導体材料層 7との間には、有機発光材料層 8に対応 したギャップ 29 (前記フォトレジスト 27の部分 27aに対応)が形成されている。
[0044] 次に、図 7Jに示すように、全面に有機発光材料層 8を蒸着すると、ギャップ 9内に有 機発光材料層 8が入り込み、図 6の有機半導体発光素子と同等の構成が得られる。 図 8は、この発明の第 4実施形態に係る有機半導体発光素子の構成を示す図解的 な断面図である。この図 8において、前述の図 6に示された各部に対応する部分には 、図 6の場合と同一の参照符号を付して示す。
[0045] この実施形態では、電極間領域 10を二分するように、その中間部 11に、酸化シリコ ン膜 2に接する有機発光材料層 8が配置されている。そして、この有機発光材料層 8 の両側に、 P型有機半導体材料層 7および N型有機半導体材料層 6の積層構造膜 が形成されている。したがって、正孔注入電極 4および電子注入電極 3のいずれにも P型有機半導体材料層 7が接している。また、有機発光材料層 8の近傍の領域が、正 孔注入電極 4側の P型有機半導体材料層 7と電子注入電極 3側の N型有機半導体 材料層 6との間の PN接合域 12となる。
[0046] 有機発光材料層 8は、キヤリャ移動度は低!ヽが、発光量子効率の高!ヽ材料である。
そのため、正孔注入電極 4から、これに接する P型有機半導体材料層 7に注入された 正孔は、有機発光材料層 8で堰き止められ、その先端縁に蓄積される。一方、 N型有 機半導体材料層 6には、電子注入電極 3側の P型有機半導体材料層 7を通り抜けて 電子が注入される。この電子は、正孔注入電極 4側へと向かうが、有機発光材料層 8 で堰き止められ、その先端縁に蓄積される。こうして、有機発光材料層 8を挟んで、正 孔注入電極 4側には正孔が豊富に蓄えられ、電子注入電極 3側には電子が豊富に 蓄えられる。これらが、発光量子効率の高い有機発光材料層 8で再結合することによ り、高効率な発光が可能となる。
[0047] 図 9A〜9Eは、図 8の有機半導体発光素子の製造方法を工程順に示す図解的な 断面図である。まず、図 9Aに示すように、表面に高濃度に N型不純物を導入して不 純物拡散層からなるゲート電極 1が形成されたシリコン基板上に、酸ィ匕シリコン膜 2が 形成され、この酸ィ匕シリコン膜 2上に所定パターンの電子注入電極 3および正孔注入 電極 4が間隔を開けて形成される。そして、この状態で、電子注入電極 3から正孔注 入電極 4に至る領域にフォトレジスト 33が塗布される。この状態の基板の上方にフォト マスク 34が配置され、フォトレジスト 33が選択的に露光される。すなわち、フォトマスク 34には、 P型有機半導体材料層 7に対応する形状の開口 34aおよび N型有機半導 体材料層 6に対応する開口 34bが形成されていて、これらの開口 34a, 34bに対応す る領域のフォトレジスト 33が選択的に紫外線露光される。フォトレジスト 33は、紫外線 で露光されることによって、アルカリ現像液に可溶な性質に化学変化するものである
[0048] 次に、図 9Bに示すように、アルカリ現像液でフォトレジスト 33を現像することにより、 正孔注入電極 4および電子注入電極 3が露出させられる。このとき、電極間領域 10 の中間部 11にフォトレジスト 33が残り、その両側では、電子注入電極 3および正孔注 入電極 4との間の領域において、酸ィ匕シリコン膜 2が露出する。この後、さらに、次に 形成される P型有機半導体材料層 7と酸化シリコン膜 2との密着力を強化するために 、 HMDS処理が行われ、さらに、 P型有機半導体材料層 7と正孔注入電極 4および 電子注入電極 3 (たとえば、いずれも Au力 なるもの)との密着力を強化するために、 チオールィ匕合物を用いた表面処理が行われる。その後には、全面が紫外線露光さ れる。
[0049] 次いで、図 9Cに示すように、全面に P型有機半導体材料層 7および N型有機半導 体材料層 6が順に積層形成され、さら〖こ、図 9Dに示すように、アルカリ現像液を用い て、フォトレジスト 33が溶解させられる。これにより、 P型有機半導体材料層 7および N 型有機半導体材料層 6の不要部分がリフトオフされる。こうして、電極間領域 10の中 間部 11にギャップ 35を有する積層構造膜 (有機半導体材料層 6, 7を積層した膜)が 得られる。
[0050] この後は、図 9Eに示すように、全面に有機発光材料層 8を蒸着すると、ギャップ 35 内に有機発光材料層 8が入り込み、図 8の有機半導体発光素子と同等の構成が得ら れる。
図 10は、図 1、図 4、図 6または図 8に示された構成の有機半導体発光素子 40を基 板 41上に二次元配列して構成される表示装置 60の電気回路図である。すなわち、 この表示装置 60は、前述のような有機半導体発光素子 40をマトリクス配列された画 素 Pl l, P12, · · · · , P21, P22, 内にそれぞれ配置し、これらの画素の有機 半導体発光素子 40を選択的に発光させ、また、各画素の有機半導体発光素子 40 の発光強度 (輝度)を制御することによって、二次元表示を可能としたものである。
[0051] 各有機半導体発光素子 40は、ゲート電極 1をゲート Gとした電界効果型トランジス タ(FET)であり、そのドレイン Dとなる電子注入電極 3にはバイアス電圧 Vdが与えら れており、そのソース Sとなる正孔注入電極 4は接地電位とされている。一方、ゲート Gには、各画素を選択するための選択トランジスタ Tsと、データ保持用のキャパシタ C とが並列に接続されている。
[0052] 行方向に整列した画素 Pl l, P12, ; P21, P22, の選択トランジスタ
Tsのゲートは、行ごとに共通の走査線 LSI, LS2, にそれぞれ接続されてい る。また、列方向に整列した画素 Pl l, P21, ; P12, P22, の選択トラ ンジスタ Tsにお 、て有機半導体発光素子 40とは反対側には、列ごとに共通のデー タ線 LD1, LD2, がそれぞれ接続されている。 [0053] 走査線 LSI, LS2, には、コントローラ 53によって制御される走査線駆動回 路 51から、各行の画素 Pl l, P12, ; P21, P22, を循環的に順次選 択 (行内の複数画素の一括選択)するための走査駆動信号が与えられる。すなわち 、走査線駆動回路 51は、各行を順次選択行として、選択行の複数の画素の選択トラ ンジスタ Tsを一括して導通させ、非選択行の複数の画素の選択トランジスタ Tsを一 括して遮断させるための走査駆動信号を発生する。
[0054] 一方、データ線 LD1, LD2, には、データ線駆動回路 52からの信号が入力 されるようになつている。このデータ線駆動回路 52には、画像データに対応した制御 信号が、コントローラ 53から入力されるようになっている。データ線駆動回路 52は、 各行の複数の画素が走査線駆動回路 51によって一括選択されるタイミングで、当該 選択行の各画素の発光階調に対応した発光制御信号をデータ線 LD1, LD2, · · · · · ·に並列に供給する。
[0055] これにより、選択行の各画素においては、選択トランジスタ Tsを介してゲート Gに発 光制御信号が与えられるから、当該画素の有機半導体発光素子 40は、発光制御信 号に応じた階調で発光 (または消灯)することになる。発光制御信号は、キャパシタ C において保持されるから、走査線駆動回路 51による選択行が他の行に移った後にも 、ゲート Gの電位が保持され、有機半導体発光素子 40の発光状態が保持される。こ のようにして、二次元表示が可能になる。
[0056] 以上、この発明の実施形態について説明したが、この発明はさらに他の形態で実 施することも可能である。たとえば、図 10には 2次元表示の可能な表示装置 60を示し たが、画素を一次元配列して一次元の表示装置を構成することもできる。また、前述 の実施形態では、電極間領域 10の中間部 11 (図 1、図 4、図 6および図 8の例では、 電子注入電極 3と正孔注入電極 4との間のほぼ中点位置)において少なくとも一方の キヤリャが堰き止められる構造について説明した力 中間部 11でなくとも、電極間領 域 10の 、ずれかの位置で一方のキヤリャが堰き止められる構造であればょ 、。
[0057] たとえば、少なくとも一方のキヤリャが堰き止められる PN接合域を、電子注入電極 3 および正孔注入電極 4の間の中点位置力 ずらすことによって、 P型有機材料と N型 有機材料との電気特性の差 (移動度、電気伝導度)を相殺して、キヤリャバランスをと る構造とすることち考免られる。
本発明の実施形態について詳細に説明してきたが、これらは本発明の技術的内容 を明らかにするために用いられた具体例に過ぎず、本発明はこれらの具体例に限定 して解釈されるべきではなぐ本発明の精神および範囲は添付の請求の範囲によつ てのみ限定される。
この出願は、 2005年 7月 20日に日本国特許庁に提出された特願 2005— 21038 8号に対応しており、この出願の全開示はここに引用により組み込まれるものとする。

Claims

請求の範囲
[1] 間隔を開けて配置された電子注入電極および正孔注入電極と、
前記電子注入電極および正孔注入電極間の電極間領域に PN接合域を有し、少 なくともいずれか一方は前記電極間領域でキヤリャを堰き止める構造となっている P 型有機材料層および N型有機材料層を含む有機半導体層と、
少なくとも前記電極間領域において前記有機半導体層に絶縁膜を介して対向する ように配置されたゲート電極とを含むことを特徴とする有機半導体発光素子。
[2] 前記 P型有機材料層および N型有機材料層は、前記電極間領域の中間部に PN 接合域を有し、少なくともいずれか一方は前記中間部付近でキヤリャを堰き止める構 造となっていることを特徴とする請求項 1記載の有機半導体発光素子。
[3] 前記 PN接合域において前記 P型有機材料層および N型有機材料層の間に介在さ れた有機発光材料層をさらに含むことを特徴とする請求項 1または 2記載の有機半導 体発光素子。
[4] 前記 PN接合域において前記 P型有機材料層および N型有機材料層が直接接合 していることを特徴とする請求項 1または 2記載の有機半導体発光素子。
[5] 前記 P型有機材料層および N型有機材料層は、それらの先端縁がいずれも前記電 極間領域の所定位置に位置し、積層箇所を実質的に有しないように形成されている ことを特徴とする請求項 1な 、し 4の 、ずれかに記載の有機半導体発光素子。
[6] 前記電極間領域の所定位置に対して前記電子注入電極側および正孔注入電極 側のうちの少なくとも一方側の領域にぉ 、て、前記 P型有機材料層および N型有機 材料層が積層されて 、ることを特徴とする請求項 1な 、し 4の 、ずれかに記載の有機 半導体発光素子。
[7] 前記有機発光材料層が前記電極間領域の所定位置に配置されており、
この有機発光材料層に対して前記電子注入電極側および正孔注入電極側の両方 の領域に、前記 P型有機材料層および N型有機材料層を積層した積層構造膜が形 成されていることを特徴とする請求項 3記載の有機半導体発光素子。
[8] 前記有機発光材料層は、前記 P型有機材料層との間に介在された正孔輸送材料 層を含むことを特徴とする請求項 3または 7記載の有機半導体発光素子。
[9] 前記有機発光材料層は、正孔輸送材料と発光性材料との混合層を含むことを特徴 とする請求項 3または 7記載の有機半導体発光素子。
[10] 前記有機発光材料層は、前記 N型有機材料層との間に介在された電子輸送層を 含むことを特徴とする請求項 3および 7〜9のうちのいずれかに記載の有機半導体発 光素子。
[11] 前記有機発光材料層は、電子輸送材料と発光性材料との混合層を含むことを特徴 とする請求項 3および 7〜9のうちのいずれかに記載の有機半導体発光素子。
[12] 前記 P型有機材料層と前記有機発光材料層との間に介装された正孔注入層をさら に含むことを特徴とする請求項 3および 7〜11のうちのいずれかに記載の有機半導 体発光素子。
[13] 前記 N型有機材料層と前記有機発光材料層との間に介装された電子注入層をさら に含むことを特徴とする請求項 3および 7〜12のうちのいずれかに記載の有機半導 体発光素子。
[14] 請求項 1〜13のいずれかに記載の有機半導体発光素子を基板上に複数個配列し た表示装置。
[15] 絶縁膜を介してゲート電極が対向する所定の電極間領域を形成するように、電子 注入電極および正孔注入電極を間隔を開けて形成する工程と、
前記電子注入電極および正孔注入電極間の前記電極間領域を含む領域に有機 半導体層を形成する工程とを含み、
前記有機半導体層を形成する工程は、前記電極間領域に PN接合域を形成し、少 なくともいずれか一方が前記電極間領域でキヤリャを堰き止める構造となるように、 P 型有機材料層および N型有機材料層を形成する工程を含むことを特徴とする有機半 導体発光素子の製造方法。
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