WO2006117913A1

WO2006117913A1 - 光記録方法、光記録装置、及び光記録再生装置

Info

Publication number: WO2006117913A1
Application number: PCT/JP2006/302615
Authority: WO
Inventors: Osamu Tsukahara; Tomo Kishigami; Yoshihiro Kiyose
Original assignee: Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha
Priority date: 2005-04-28
Filing date: 2006-02-15
Publication date: 2006-11-09
Also published as: JP4818126B2; US20090073846A1; TW200639826A; US7864646B2; JPWO2006117913A1; TWI348156B

Abstract

　マルチパルス型のライトストラテジを用いて光ディスクに記録する光記録方法及び光記録再生装置であって、記録された（Ｓ１５２）信号のスペースに対応する信号のピークレベルを読み取り（Ｓ１５３）、読み取ったスペースに対応する信号のピークレベルを、スペースの直前のマークに対するパターンの長さ別に比較し（Ｓ１５６）、ライトストラテジのマルチパルスのパルス幅を修正する（Ｓ１５７～Ｓ１５９）。ライトストラテジのマルチパルスのパルス幅を最適調整し、光ディスクに対して最適な記録が行えるようにした光記録方法及び光記録再生装置を得ることができる。

Description

明細書

光記録方法、光記録装置、及び光記録再生装置

技術分野

[0001] 本発明は、光ディスクに対して情報の記録を行うための光記録方法及び光記録装置に関わるもので、特に記録時に用いるライトストラテジの調整方法に関するものである。

本発明はまた、 DVD (Digital Versatile Disk)レコーダ等、光ディスクに対して情報の記録を行うための光記録方法及び光記録再生装置に係わるもので、特にライトストラテジ (記録に用いられるレーザ発光波形規則）を選択する方法及びそれを用レ、た装置に関するものである。

背景技術

[0002] 光ディスクに対して情報の記録を行うためには、記録時に用いるライトストラテジを光ディスクの特性に合わせて最適に調整する必要があった。

[0003] この対応策として、試し書きにより形成されたピット部分を読み取り、読み取ったピット部分の信号の振幅のピーク部分が略平坦となるようにマルチパルスのパルス幅を調整するものがある（例えば特許文献 1参照）。

[0004] 別の改善策として、光ディスクに試し書きしたデータを再生し、再生信号と基準クロックの位相誤差を検出してパルスの先頭位置を調整するものがある（例えば特許文献 2参照）。

[0005] さらに、従来の他の光記録方法及び光記録再生装置においては、ライトストラテジを容易かつ迅速に最適化するために、マーク部およびスペース部の開始ジッタの大小関係により、例えば、マーク部開始ジッタがスペース部開始ジッタより大きレ、場合にはマーク部の先頭パルス幅を小さくし、一方、マーク部開始ジッタがスペース部開始ジッタより小さい場合にはマーク部の先頭パルス幅を大きくすることにより、ライトストラテジの変更方向を正しく認識するようにしていた（例えば、特許文献 3参照）。

[0006] 特許文献 1 :特開 2002— 63721号公報（第 1 10貢、第 1 7図）

特許文献 2 :特開 2003— 30837号公報（第 1— 26頁、第 1— 10図）特許文献 3 :特開 2003— 208716号公報（段落 0028, 0029)

発明の開示

発明が解決しょうとする課題

[0007] 特許文献 1に記載された従来の光記録装置では、試し書きにより形成されたピット部分を読み取った信号の振幅のピーク部分が略平坦となるようにマルチノ^レスのパノレス幅を調整してレ、るが、ピット部分を読み取った信号の振幅のピーク部分のマルチパルスのパルス幅に対する変動量は光ディスクの感度等によって異なる為、マルチパルスのパルス幅をどれだけ調整すれば良いかは分からなレ、。また、光ディスクの特性によっては、前記振幅のピーク部分が平坦となる場合に必ずしもジッタ等の信号品質が良くならないという問題点があった。

[0008] 特許文献 2に記載された従来の光記録装置では、光ディスクに試し書きしたデータを再生し、再生信号と基準クロックの位相誤差を検出してパルスの先頭位置を調整してレ、るが、マーク長とそのマークの直前または直後のスペース長との組み合わせ毎に位相誤差を測定しているため、位相誤差を求めるための演算や組み合わせ毎の誤差を格納する多量のメモリが必要で手順が複雑であった。

[0009] 特許文献 3に記載された従来の光記録方法及び光記録再生装置では、マーク部開始ジッタおよびスペース部開始ジッタの大小により調整を実施するものであるが、先頭パルス幅の調整に対して必ずしもジッタが最小となるポイントが最適ライトストラテジであるとは限らず、また、初期記録で用いたライトストラテジと最適ライトストラテジの差が大きい場合には先頭ノ^レス幅の調整に時間がかかるという問題点があった。

[0010] 本発明は、上記のような問題点を解決するためになされたもので、光ディスクに対して情報の記録を行うためのライトストラテジのマルチパルスのパルス幅を、前記光ディスクに対して最適に調整し、最適な記録が行えるようにした光記録方法及び光記録装置を得ることを目的としている。

[0011] この発明の他の目的は、光ディスクに対して情報の記録を行うためのライトストラテジを、光ディスクに対して最適に調整し、最適な記録が行えるようにした光記録方法及び光記録装置を得ることにある。

[0012] この発明のさらに他の目的は、光ディスクに対して情報の記録を行うためのライトストラテジを調整し、最適な記録が行えるようにした光記録方法及び光記録再生装置を得ることにある。

課題を解決するための手段

[0013] 本発明は、光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、先頭パルスのみ、或いは先頭パルスとマルチパルスを含むライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み工程と、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを読み取るスペースレベル読み込み工程と、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さ別に比較し、比較結果に基づいて前記ライトストラテジのマルチパルスのパルス幅を修正する記録パルス幅修正ェ程と、前記記録パルス幅修正工程で修正した前記ライトストラテジのパルス幅を用いて、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程とを有する光記録方法を提供する。

[0014] 本発明はまた、光ディスク上にノ^レス駆動されたレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、先頭パルスのみ、或いは先頭パルスとマルチパルスを含むライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み工程と、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルを読み取るマークレベル読み込み工程と、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルを、前記マークの直前のスペースの長さ別に比較し、比較結果に基づいて前記ライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を修正する記録パルス修正工程とを有する光記録方法を提供する。

[0015] この発明はさらに、光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより所与のクロック周期数に対応する長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与のクロック周期数に対応する長さのスペースとで構成された記録部を形成し、上記記録部を読み出すことにより得られる信号の、マークに対応する部分の幅と、前記マークと同一のクロック周期数に対応する長さのスペースに対応する部分の幅が等しくなるように、記録のためのレーザ光の照射幅の調整を行うことを特徴とする光記録方法を提供する。

発明の効果

[0016] 本発明に係る、光ディスク上にノ^レス駆動されたレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、先頭パルスのみ、或いは先頭ノルスとマルチパルスを含むライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み工程と、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを読み取るスペースレベル読み込み工程と、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さ別に比較し、比較結果に基づいて前記ライトストラテジのマルチパルスのパルス幅を修正する記録パルス幅修正ェ程と、前記記録パルス幅修正工程で修正した前記ライトストラテジのパルス幅を用いて、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程とを有する光記録方法によれば、記録された信号のスペースに対応する信号のピークレベルを、スペースの直前のマークの長さ別に比較し、ライトストラテジのマルチパルスのノルス幅を修正するので、光ディスクに最適なマルチパルスのパルス幅を決定することができ、最適な記録を行うこと力 Sできる。

[0017] 本発明に係る、光ディスク上にノ^レス駆動されたレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、先頭パルスのみ、或いは先頭パルスとマルチパルスを含むライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み工程と、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルを読み取るマークレベル読み込み工程と、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルを、前記マークの直前のスペースの長さ別に比較し、比較結果に基づいて前記ライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を修正する記録パルス修正工程とを有する光記録方法によれば、記録された信号のマークに対応する信号のボトムレベルを、マークの直前のスペースの長さ別に比較し、ライトストラテジの先頭パルスの前ェッジ位置を修正するので、光ディスクに最適なマルチパルスの先頭パルスの前エッジ位置を決定することができ、最適な記録を行うことができるとレ、う効果がある。

[0018] この発明に係る、光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより所与のクロック周期数に対応する長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与のクロック周期数に対応する長さのスペースとで構成された記録部を形成し、上記記録部を読み出すことにより得られる信号の、マークに対応する部分の幅と、前記マークと同一のクロック周期数に対応する長さのスペースに対応する部分の幅が等しくなるように、記録のためのレーザ光の照射幅の調整を行うことを特徴とする光記録方法によれば、再生された信号のうちの、互いに等しい周期数のマーク及びスペースにそれぞれ対応する部分の幅が互いに等しくなるようにマーク形成のためのレ一ザ光の照射幅調整を行うため、光ディスクに最適な先頭パルス幅を決定することができ、最適な記録を行うことができる。

図面の簡単な説明

[0019] [図 1]この発明の実施の形態 1における光記録再生装置を示すブロック図である。

[図 2] (a)〜（c)は、この発明の実施の形態 1におけるァシンメトリ検出部において、検出される再生信号のァシンメトリの例を示した図である。

[図 3] (a)〜（e)は、この発明の実施の形態 1における光記録再生装置において、光ディスクが色素系媒体である場合に生成するライトストラテジの例を示した図である。

[図 4]この発明の実施の形態 1における光記録再生装置における、記録の手順を示すフローチャートである。

[図 5]この発明の実施の形態 1における光記録再生装置における、マルチパルスの調整手順の一例を示すフローチャートである。

[図 6]この発明の実施の形態 1における光記録再生装置における、マルチノ^レスの調整手順の他の例を示すフローチャートである。

[図 7]この発明の実施の形態 1における光記録再生装置における、マルチノ^レスの調整手順のさらに他の例を示すフローチャートである。

[図 8] (a)〜（e)は、この発明の実施の形態 1におけるスペースレベル検出部において、検出される再生信号のスペースレベルの例を示した図である。

園 9] (a)〜（c)は、この発明の実施の形態 1におけるスペースレベル検出部において、検出される再生信号のスペースレベルの例を示した図である。

園 10]この発明の実施の形態 1における光記録再生装置において、マルチパルスのパルス幅 TMを変更した時の 3Tスペース信号レベル I3HA—I3H1と再生ジッタとの関係を示した図である。

園 11]この発明の実施の形態 1における光記録再生装置において、マルチパルスのパルス幅 TMを変更した時の 3Tスペース信号レベル I3HA—I3H1とマルチパルスのパルス幅 TMとの関係を示した図である。

園 12]この発明の実施の形態 1における光記録再生装置において、 Aの光ディスクにおいて、マルチパルスのパルス幅 TMを変更した時の 3Tスペース信号レベル I3HA I3H1と再生ジッタとの関係を示した図である。

園 13]この発明の実施の形態 1における光記録再生装置において、 Bの光ディスクにおいて、マルチパルスのパルス幅 TMを変更した時の 3Tスペース信号レベル I3HA I3H1と再生ジッタとの関係を示した図である。

園 14]この発明の実施の形態 1における光記録再生装置において、 Cの光ディスクにおいて、マルチパルスのパルス幅 TMを変更した時の 3Tスペース信号レベル I3HA I3H1と再生ジッタとの関係を示した図である。

[図 15]この発明の実施の形態 1における光記録再生装置において、マルチパルスのパルス幅 TMを変更した時の 3Tスペース信号レベル I3HB— I3H1と再生ジッタとの関係を示した図である。

園 16]この発明の実施の形態 1における光記録再生装置において、マルチパルスのパルス幅 TMを変更した時の 3Tスペース信号レベル I3H4— I3H1と再生ジッタとの関係を示した図である。

園 17]この発明の実施の形態 2における光記録再生装置における、マルチノ^レスの調整手順の一例を示すフローチャートである。園 18]この発明の実施の形態 3における光記録再生装置を示すブロック図である。園 19]この発明の実施の形態 3における光記録再生装置における、記録の手順の一例を示すフローチャートである。

園 20]この発明の実施の形態 3における光記録再生装置における、マルチノ^レスの調整手順の一例を示すフローチャートである。

園 21]この発明の実施の形態 3における光記録再生装置における、マルチノ^レスの調整手順の他の例を示すフローチャートである。

園 22]この発明の実施の形態 3における光記録再生装置における、マルチノ^レスの調整手順のさらに他の例を示すフローチャートである。

[図 23] (a)〜（c)は、この発明の実施の形態 3におけるスペースレベル検出部において、検出される再生信号のスペースレベルの例を示した図である。

[図 24] (a)〜（e)は、この発明の実施の形態 3におけるスペースレベル検出部において、検出される再生信号のスペースレベルの例を示した図である。

園 25]この発明の実施の形態 3における光記録再生装置において、先頭パルスの前エッジ位置 TLDを変更した時の 3Tマーク信号レベルの差 I3LA—I3L1と再生ジッタとの関係を示した図である。

園 26]この発明の実施の形態 3における光記録再生装置において、先頭パルスの前エッジ位置 TLDを変更した時の 3Tマーク信号レベルの差 I3LA— I3L1と先頭パルスの前エッジ位置 TLDとの関係を示した図である。

園 27]この発明の実施の形態 4における光記録再生装置における、マルチノ^レスの調整手順の一例を示すフローチャートである。

園 28]この発明の実施の形態 5における光記録再生装置を示すブロック図である。園 29] (a)〜（f)は、この発明の実施の形態 5における光記録再生装置において、光ディスクが色素系媒体である場合に生成するライトストラテジの例を示した図である。園 30]この発明の実施の形態 5における光記録再生装置における、記録の手順を示すフローチャートである。

園 31]この発明の実施の形態 5における光記録再生装置における、マーク形成のための先頭パルスの調整手順の一例を示すフローチャートである。 [図 32]この発明の実施の形態 5における光記録再生装置におけるマーク形成のための先頭パルスの調整手順の他の例を示すフローチャートである。

[図 33]この発明の実施の形態 5における光記録再生装置における、マーク形成のための先頭パルスの調整手順のさらに他の例を示すフローチャートである。

[図 34]この発明の実施の形態 5における光記録再生装置において、各周期数のマーク形成のための先頭パルス幅を変更してデータ記録を行レ、、同一周期数のマーク部の幅とスペース部の幅の差と再生ジッタとの関係を示した図である。

[図 35]この発明の実施の形態 5における光記録再生装置において、各周期数のマーク形成のための先頭パルス幅を変更してデータ記録を行レ、、同一周期数のマーク部の幅と基準マーク部幅の差と再生ジッタとの関係を示した図である。

[図 36]この発明の実施の形態 5における光記録再生装置において、異なる種類の光ディスク（A、 B、 C)において、 3Tのマーク形成のための先頭パルス幅を変更してデータ記録を行レ、、 3Τのマーク部の幅とスペース部の幅の差と再生ジッタとの関係を示した図である。

[図 37]この発明の実施の形態 6における光記録再生装置を示すブロック図である。

[図 38]この発明の実施の形態 6における光記録再生装置における、記録の手順を示すフローチャートである。符号の説明

[0020] 100 光記録再生装置、 110 半導体レーザ、 120 レーザ駆動部、 130 コリメートレンズ、 140 ビームスプリッタ、 150 対物レンズ、 160 光ディスク、 17 0 検出レンズ、 180 受光素子、 190 ヘッドアンプ、 200 プリピット検出部、 210 ァシンメトリ検出部、 220 イコライザ、 230 データエンコーダ、 240 レーザ波形制御部、 250 中央制御装置、 260 データデコーダ、 270 スペースレベル検出部、 280 マークレベル検出部、 290 パルス幅検出部。

発明を実施するための最良の形態

[0021] 以下、この発明の実施の形態を、図面を参照して説明する。

実施の形態 1.

以下に説明する実施の形態 1及び実施の形態 2における光記録方法は、マークェッジ記録 (PWM記録）を行うものである。そして、光ディスク上に記録すべきデータに応じて、半導体レーザをライトストラテジ (記録に用いられるレーザ発光波形規貝 IJ)に従いマルチパルス発光させて、記録マークを形成することにより情報の記録をおこなつている。即ち、以下の実施の形態 1及び実施の形態 2で用いられるライトストラテジは、マルチパルス型のものであり、マーク期間中に 1つ以上のパルスを有する。そして、このようなマルチパルス型のライトストラテジにおいて、以下に説明する実施の形態 1及び実施の形態 2では、ライトストラテジのマルチパルスのパルス幅を、試し書きした信号から読み取ったスペースに対応した信号のピークレベルを基に調整することとしている。

さらにまた、以下に説明する実施の形態 1及び実施の形態 2では、マークの長さやマーク相互間のスペースの長さは、該マークやスペースに対応する信号部分の、記録ゃ再生に用いられるチャンネルクロックの周期 Tを単位として表され、光ディスクへの情報の記録力 EFM (8— 16)変調の3T〜11T及び14Tのマーク、即ちクロック周期数 nが 3乃至 11、及び 14のマークに対応したパターンの光パルスを光ディスクに照射することにより行われるものとする。なお、最長マーク (長さ 14Tのマーク）は、シンクパターンである。

[0022] 図 1は本発明の実施の形態 1に係る光記録再生装置 100の基本的な構成例を示す図である。図 1において、レーザ光源としての半導体レーザ 110はレーザ駆動部 1 20により駆動制御されている。

[0023] データ再生時においては、半導体レーザ 110から出射された、データ再生に必要な出力値（再生パワー）を有するレーザ光がコリメートレンズ 130とビームスプリッタ 14 0と対物レンズ 150とを介して光ディスク 160に集光照射される。光ディスク 160からの反射光は、対物レンズ 150を通った後にビームスプリッタ 140により入射光と分離され、検出レンズ 170を介して受光素子 180で受光される。

上記のうち、半導体レーザ 110と、コリメートレンズ 130と、ビームスプリッタ 140と、対物レンズ 150、検出レンズ 170とで光学系が構成され、この光学系と受光素子 180 と、レーザ駆動部 120とで光ピックアップ PUが構成されている。

受光素子 180は光信号を電気信号に変換する。受光素子 180において変換された電気信号は、ヘッドアンプ 190を介してプリピット検出部 200とァシンメトリ検出部 2 10とイコライザ 220とに入力される。プリピット検出部 200は、入力された電気信号から、光ディスク 160のプリピット部に予め記録された、ァシンメトリ値の推奨値等の光ディスク固有の情報を検出する。

また、イコライザ 220に入力されたヘッドアンプ 190からの電気信号は整形され、データデコーダ 260とスペースレベル検出部 270とに入力される。データデコーダ 260 は、入力された電気信号を 2値化し、復調やエラー訂正などの処理を行うことにより、光ディスク 160に記録されたデータを生成（再生）する。

スペースレベル検出部 270は、再生された信号のうち、スペースに対応する部分のピークレベルを検出する。この場合、各クロック周期数のスペース部に対応するピークレベルを、当該スペースの直前に位置するマークの長さ別（クロック周期数で表されるマークの長さ別に）に検出する。例えば、 3Tのスペースに対応するピークレベルを、当該スペースの直前に位置するマーク 3Tである場合について検出し、また当該スペースの直前に位置するマークが 3T以外である場合について検出する。

[0024] ァシンメトリ検出部 210は、入力された電気信号を AC (交流）カップリングし、 AC力ップリングされた電気信号のピークレベル A1とボトムレベル A2を検出する。検出したピークレベル A1とボトムレベル A2から、以下の式（1)を用いて、ァシンメトリ値 ;3を算出する。

β = (Al +Α2) / (A1 -Α2)…（1)

ここで、ピークレベル Al、ボトムレベル Α2は、最長スペースと最長マークが交互に現れる部分で発生するものであり、それらの値は、最短スペースと最短マークが交互に現れる部分のピークレベルとボトムレベルの平均値をゼロレベルとして表したものである。

[0025] 図 2 (a)〜（c)は、ァシンメトリ検出部 210において、検出される再生信号 (ヘッドァンプ 190から出力される信号）のァシンメトリの検出例を示したものである。図 2 (a)に β < 0の場合を示す。図 2 (b)に j3 =0の場合を示す。図 2 (c)に /3 >0の場合を示す

[0026] データ記録時においては、データエンコーダ 230は、中央制御部 250から与えられる、記録すべき元データに対して、エラー訂正符号を付与し、データ変調を行って、半導体レーザ 110への駆動信号の基本となる記録データを生成する。レーザ波形制御部 240は、記録データに基きライトストラテジ信号を生成する。即ち、中央制御部 2 50からライトストラテジが設定された後、データエンコーダ 230から、周期数 nを指定する記録データ、即ち、 3T乃至 11T及び 14Tのいずれかを指定する記録データが与えられると、レーザ波形制御部 240は、そのような記録データに対応するライトストラテジ信号 (ライトストラテジに従って生成された、発光ノ^レス列の波形と略同一の波形を有する信号)を出力する。

[0027] レーザ駆動部 120は、生成されたライトストラテジ信号に応じた駆動電流により半導体レーザ 110を駆動する。半導体レーザ 110から出射されたデータ記録に必要な出力値（記録パワー）を有するレーザ光がコリメートレンズ 130とビームスプリッタ 140と対物レンズ 150とを介して光ディスク 160に集光照射される。これにより、マークが形成され、マークとマーク相互間に位置するスペースとから成る記録部が形成される。

[0028] 図 3 (a)〜（e)は、図 1に示される光記録再生装置 100において、光ディスク 160が色素系記録媒体である場合に、レーザ波形制御部 240で生成されるライトストラテジ信号の例を示したものである。図 3 (a)に、記録のために用いられる周期 Tを有するチャネルクロックを（記録用チャンネルクロック）示す。図 3 (b)に、マーク部 MAとスぺース部 SAとからなる記録データの例を示す。図 3 (c)に、図 3 (b)の記録データを記録するためのライトストラテジ信号、即ち発光パルスパターンの例を示す。発光パルスパターンは、記録パワーレベル WPと再生パワーレベル RPとの間でレベルが変化し、記録パワーレベル WPにある期間が各パルスの幅と定義される。

図 3 (d)に、図 3 (c)のライトストラテジで記録を行うことにより形成された光ディスク上のマーク MKと、マーク MK相互間に位置するスペース SPとを示す。図 3 (d)の横軸は、光ディスクのトラックに沿う長さ（位置）であるが、便宜上図 3 (c)の発光パルスパターンに対応させて示してある。

図 3 (e)に、図 3 (d)のマーク MK及びスペース SPを読み出すことにより得られた再生信号を示す。この再生信号はマーク MKに対応する部分 MBとスペース SPに対応する部分 SBとを有する。 [0029] 最短マークは、周期数 n= 3、即ち 3Tに対応する長さを有し、最長マークは周期数 n= 14、即ち 14Tに対応する長さを有する。

図 3 (b)及び図 3 (c)は、最短マーク、即ち 3Tのマークを記録し、次に 4番目に短いマーク、即ち 6Tのマークを記録する場合を想定している。

[0030] 図 3 (c)の左側に示すように、記録データが最短マークの場合のライトストラテジは、 1Fのパルス幅を有する先頭パルス Fのみからなる。

図 3 (c)の右側に示すように、記録データが 4番目に短いマークを記録する場合のライトストラテジは、 LFのパルス幅を有する先頭パルス Fとそれに続く 3個のマルチパルス Mからなる。

記録データとして p番目（4< p< 10)に短いマーク（（p + 2) T=nTに対応する長さを有するマーク）を記録する場合のライトストラテジは、 LFのノ^レス幅を有する先頭パルス Fとそれに続く（ρ—1)個のマルチパルス Μ力、らなる。

また、記録データとして最長マーク（14Tの長さを有するマーク）を記録する場合のライトストラテジは、 LFのパルス幅を有する先頭パルス Fとそれに続く 11個のマルチパルス Μからなる。

このように、 4番目に短いマーク力ら最長マークまでは、先頭のパルスの幅がいずれの場合も LFであり、互いに同じである。

記録データとして 2番目に短いマークを記録する場合のライトストラテジは、 2Fのパルス幅を有する先頭パルス Fとそれに続く 1個のマルチパルス Μからなる。

記録データとして 3番目に短いマークを記録する場合のライトストラテジは、 3Fのパルス幅を有する先頭パルス Fとそれに続く 2個のマルチパルス Μからなる。

記録されるマークが上記のいずれであっても、マルチパルス Μの幅はすべて同じである。

[0031] 中央制御部 250は、光記録再生装置 100の再生、書き込みの際に、装置の全体を制御するもので、プリピット検出部 200からのプリピット情報、及びァシンメトリ検出部 2 10力、らのァシンメトリ値、データデコーダ 260からの再生データ、スペースレベル検出部 270からのスペースレベル値を受ける一方、データエンコーダ 230、レーザ波形制御部 240、レーザ駆動部 120に制御信号を与える。 [0032] 中央制御部 250はまた、後に図 4及び図 5、図 6又は図 7を参照して説明するライトストラテジの調整、特にそのノルス幅の算出、ァシンメトリ値の計算、修正されたライトストラテジとァシンメトリ値を用いて行われる試し書きの制御などを行う。

[0033] 中央制御部 250は例えば CPU250aと該 CPU250aの動作のためのプログラムを格納した R〇M250bとデータを記憶する RAM250Cとを備えている。 R〇M250bに格納されたプログラムは、後に図 5、図 6又は図 7並びに図 8 (a)〜（e)及び図 9 (a)〜 (c)を参照して説明されるマルチパルスのノ^レス幅の調整のための計算、及びマルチパルスのパルス幅を修正を定義する部分を含む。また、 ROM250bには、後述のマルチパルスのパルス幅を調整する際に、パルス幅の変更量を設定するための係数や、調整精度を定める為の許容誤差量等の、種々の定数が記憶されている。

[0034] 一般に、情報を記録する前に試し書きを行うことで記録パワーの最適化が行われる。以下にこの手順について説明する。

[0035] 最初に、例えばランダムな記録データに対応した 3T〜： 11Tのマークとスペースとからなるテストパターンを用いて、記録パワーを変化させて光ディスク 160への試し書きを行ない、次にこのテストパターンを記録した光ディスク 160上の領域を再生し、ァシンメトリ検出部 210によりァシンメトリ値を検出し、検出されたァシンメトリ値を、中央制御部 250において、目標とするァシンメトリ値と比較して最適の記録パワーを求める。一般に、記録パワーを大きくすればァシンメトリ値は大きくなり、記録パワーを小さくすればァシンメトリ値は小さくなる。

中央制御部 250では、互いに異なる複数の記録パワーに対応するァシンメトリ値の検出値を目標値と比較して、目標値に最も近い検出値を生じさせた記録パワーを最適の記録パワーとして設定する。

なお、このようにする代わりに、一つの記録パワーで光ディスク 160への試し書きを行なった後再生し、再生結果からァシンメトリ値を検出し、検出されたァシンメトリ値を、目標とするァシンメトリ値と比較して比較結果に応じて記録パワーを増減して最適値を求めるようにしても良い。

[0036] このような光記録方法を基本として、本実施の形態 1及び実施の形態 2においては、試し書きにより形成されたマーク MK及びスペース SPを読み取って信号を再生する際に、スペースレベル検出部 270で検出された、スペース SPに対応する信号部分 SBのピークレベルを、当該スペース SPの直前に位置するマーク MKの長さ（マーク MKに対応する再生信号部分 MBの、クロック周期数で表される長さ）別に検出し、比較し、比較結果に基づいて、マルチパルスのパルス幅を調整する。

[0037] 以下、図 4を参照して実施の形態 1の光記録方法の手順を説明する。

最初に記録に用いられる光ディスク 160が光記録再生装置 100に揷入されると、図示しないセンサによりそのことが検出されて (ステップ S10)、中央制御部 250に伝えられ、中央制御部 250は、光ピックアップ PUを駆動して光ディスク 160から、予めディスクメーカにより記録されたライトストラテジの推奨値や、ァシンメトリ β値の推奨値等のディスクの固有情報を読み出す (ステップ S11)。

[0038] 次にステップ S12において、読み取られたライトストラテジの推奨値を、マルチパルスのノ^レス幅の調整を行う際の初期ライトストラテジとして、中央制御部 250内に (例えば RAM250b内に）設定する。なお、初期ライトストラテジとしては、光ディスク 160 力読み取った値ではなぐ光記録再生装置 100に予め設定された特定のライトストラテジを用いるようにしても良い。

[0039] 次にステップ S13において、読み取られたァシンメトリ β値の推奨値を、記録パワーの最適化に使用する為の目標値として、中央制御部 250内に（例えば RAM250b内に）設定する。なお、ァシンメトリ β値の目標値としては、光ディスク 160から読み取つた値ではなぐ光記録再生装置 100に予め設定した特定の値を用いても良い。

[0040] 然る後、図示しない手段により記録の指示が与えられると（S14)、ステップ S15において、上記のようにして設定された初期ライトストラテジ及びァシンメトリ目標値を用いて前記光ディスク 160への試し書きを行う。即ち、ステップ S 12において中央制御部 250内に設定されたライトストラテジ (各 nTに対するストラテジ)をレーザ波形制御部 240に設定することにより、レーザ波形制御部 240でテストパターンに基づいたライトストラテジを生成し、光ピックアップを用いて光ディスク 160への試し書きを行う。そして、テストパターンを記録した光ディスク 160上の領域を光ピックアップで再生し、ァシンメトリ検出部 210により検出されたァシンメトリ値とステップ S13において設定されたァシンメトリ目標値とを中央制御部 250で比較して両者が一致するように制御を行うことで、最適な記録パワーを決定する。

[0041] そして、この試し書きを行ってパワー調整を行った後、ステップ S16で、マルチパルスのパルス幅の調整を行う。なお、ステップ S 16では、マルチパルスのパルス幅の調整と共に、再度パワー調整を行っても良い。

[0042] 最後にステップ S 17において、ステップ S 16で調整されたマルチパルスのパルス幅をレーザ波形制御部 240に設定することにより、レーザ波形制御部 240で記録データに基づいたライトストラテジを生成し、ステップ S15で決定された記録パワーにより、光ディスク 160への本来のデータの書き込み（本書き込み）を行う。なお、ステップ S1 6において、記録パワーの再調整が行われた場合は、前記記録パワーは、ステップ S 15で決定された値ではなくステップ S 16で決定された記録パワーを用いても良い。

[0043] 上記のうち、ステップ S10の処理は、図示しない光ディスクの揷入を検出するセンサと、中央制御部 250とにより行われ、ステップ S11の処理は、光ピックアップ PU、へッドアンプ 190、イコライザ 220、データデコーダ 260、及び中央制御部 250により行われ、ステップ S12及び S13の処理は、中央制御部 250により行われ、ステップ S14の処理は、図示しない記録の指示を受ける手段 (インターフェース）と、中央制御部 250 とにより行われ、ステップ S15の処理は、ヘッドアンプ 190、ァシンメトリ検出部 210、中央制御部 250、レーザ波形制御部 240、及び光ピックアップ PUにより行われ、ステツプ S16の処理は、ヘッドアンプ 190、イコライザ 220、スペースレベル検出部 270 、中央制御部 250、レーザ波形制御部 240、及び光ピックアップ PUにより行われ、ステツプ S 17の処理は、中央制御部 250、レーザ波形制御部 240、及び光ピックアップ PUにより行われる。

[0044] 図 5は図 4のステップ S16の処理を詳細に示す。

ステップ S151においては、ステップ S 12において設定された初期ライトストラテジとステップ S 14において決定された記録パワーを用いて、光ディスク 160へ試し書きを行レ、、ステップ S152におレ、て、ステップ S151で試し書きした信号を再生する。

ステップ S151の処理は、中央制御部 250、レーザ波形制御部 240、及び光ピックアップ PUにより行われ、ステップ S152の処理は、光ピックアップ PU、ヘッドアンプ 1 90、及びイコライザ 220により行われる。 [0045] 次に、ステップ S153においては、スペースレベル検出部 270で、ステップ S152において再生された信号の、スペースの長さが 3Tの場合に対応する信号レベルを、前記スペースの前マークの長さ別に検出する。

[0046] 次に、ステップ S154においては、ステップ S153で検出したスペースの長さが 3Tの場合に対応する信号レベルから、前記スペースの前マークの長さが 3Tの場合のスぺース信号レベル（スペース SPに対応する信号 SBのレベル） I3H1を抽出する。ステツプ S153及び S154の処理は、スペースレベル検出部 270及び中央制御部 250により行われる。

[0047] 次に、ステップ S155においては、ステップ S153で検出したスペースの長さが 3Tの場合に対応する信号レベルから、前記スペースの前マークの長さが 3T以外の全ての場合のスペース信号レベルを抽出して、その平均値 I3HAを算出する。

なお、前記スペースの前マークの長さが 3T以外の場合のスペース信号レベルとしては、前マークの長さが 3T以外の全ての場合のスペース信号レベルの平均値を用いたが、前マークの長さ力 ¾Τ以外の特定の nTの場合のみを用いたり、前マークの長さが 3Τ以外の複数の場合 (複数の ηΤの値の場合）の平均値を用いても良い。

[0048] 次に、ステップ S156においては、ステップ S154において抽出した前マークの長さ力 ¾Τの場合のスペース信号レベル I3H1と、ステップ S155において抽出した前マークの長さ力 ¾Τ以外の場合のスペース信号レベル Ι3ΗΑとを比較し、両者が等しければ、マルチパルス調整を終了する。

ここで、前記前マークの長さが 3Τの場合のスペース信号レベル I3H1と前記前マークの長さが 3Τ以外の場合のスペース信号レベル Ι3ΗΑが完全に一致する必要は無ぐ予め設定した許容誤差量の範囲に収まれば、前記前マークの長さが 3Τの場合のスペース信号レベル I3H1と前記前マークの長さが 3Τ以外の場合のスペース信号レベル Ι3ΗΑは等しレ、ものとし、マルチパルス調整を終了する。

また、前マークの長さが 3Τの場合のスペース信号レベル I3H1と、前マークの長さカ 3Τ以外の場合のスペース信号レベル Ι3ΗΑが前記の場合以外の場合は、ステツプ S 157の処理を行う。

[0049] ステップ S157においては、前マークの長さが 3Τの場合のスペース信号レベル Ι3Η 1と、前マークの長さが 3T以外の場合のスペース信号レベル I3HAとを比較し、どちらが大きいかを判断する。

前マークの長さが 3Τの場合のスペース信号レベル I3H1が大きい場合は、ステップ S 158におレ、て、マルチパルスのパルス幅を、ステップ S 151の試し書きで用いたマルチパルスのパルス幅よりも、狭くなるように修正する。

また、前マークの長さが 3Τの場合のスペース信号レベル I3H1が小さい場合は、ステツプ S 158において、マルチパルスのパルス幅を、ステップ S 151の試し書きで用いたマルチパルスのパルス幅よりも、広くなるように修正する。

ここで、マルチパルスのパルス幅の修正は、前マークの長さ力 ¾Τの場合のスペース信号レベル I3H1と、前マークの長さが 3Τ以外の場合のスペース信号レベル Ι3ΗΑ との差に対するマルチパルスのノ^レス幅の変化量を予め求めておき、求められた前マークの長さが 3Τの場合のスペース信号レベル I3H1と、前マークの長さが 3Τ以外の場合のスペース信号レベル Ι3ΗΑとの差に対応する変化量分、マルチパルスのパノレス幅を修正する。または、予め設定した固定値あるいは、レーザ波形制御部 240 で変更できる最小値を用いるようにしても良レ、。

ステップ5155〜8159の処理は、中央制御部 250で行われる。

[0050] ステップ S158あるいは、ステップ S159において、マルチパルスのパルス幅を修正された後は、修正されたマルチパルスのパルス幅を用いて、ステップ S151において試し書きをし、以降の動作をステップ 156において、前マークの長さが 3Τの場合のスペース信号レベル I3H1と、前マークの長さが 3Τ以外の場合のスペース信号レベル I 3ΗΑが等しくなるまでマルチパルス調整を繰り返し行う。

なお、ステップ S151において試し書きをする前に、再度最適パワー調整を行うようにしても良い。

[0051] また、マルチパルス調整は前マークの長さが 3Τの場合のスペース信号レベル Ι3Η 1と、前マークの長さが 3Τ以外の場合のスペース信号レベル Ι3ΗΑが等しくなるまでとしてレ、たが、前マークの長さが 3Τの場合のスペース信号レベル I3H1と前マークの長さが 3Τ以外の場合のスペース信号レベル Ι3ΗΑの差が最小となる場合にマルチパルス調整を終了するようにしても良レ、。また、前マークの長さが 3Tの場合のスペース信号レベル I3H1と前マークの長さが 3Τ以外の場合のスペース信号レベル Ι3ΗΑの差力予め設定した許容値よりも小さくなる場合には、マルチパルス調整を終了するようにしても良い。

[0052] さらにまた、マルチパルス調整の回数の制限値を予め設定しておき、マルチパルスを修正した回数がその制限値を超えた場合は、マルチパルス調整を終了するようにしても良い。例えば図 6に示すように、ステップ S156で NOの場合に、ステップ S161 に進み、修正の回数が所定値を超えたか否かの判断を行レ、、超えていれば（S161 で YES)マルチパルス調整を終了する。超えていなければ（S161で NO)、ステップ S157に進む。ステップ S161の処理は、中央制御部 250で行われる。

[0053] さらにまた、ジッタ値等の信号品質が予め定めた基準よりも良い場合はマルチパルス調整を終了するようにしても良レ、。例えば、ステップ S155の次に、図 7に示すように、ジッタ値などの信号品質をチェックし (S162)、ジッタ値等の信号品質が予め定めた基準よりも良い場合はマルチパルス調整を終了し、品質が良好でない場合にステップ S156に進むようにしても良レ、。ステップ S162の処理は、中央制御部 250で行われる。

[0054] 上記の様にステップ S16では、試し書きされた信号の再生信号から、スペースの長さが 3Tの場合のスペース信号レベルを、前マークの長さが 3Tの場合と、前マークの長さが 3T以外の場合を比較することによって、記録に用いるライトストラテジのマルチパルスのパルス幅を修正するようにしてレ、る。その理由を図 8 (a)〜（e)及び図 9 (a) 〜（c)を参照して説明する。

[0055] 図 8 (a)〜（e)及び図 9 (a)〜（c)は、図 1に示される光記録再生装置 100において、光ディスク 160に記録された信号を再生した際に得られる信号を、長さが 3Tのスぺースと互いに異なる長さの前マークの組合せについて示したものである。

図 8 (a)〜（e)は 3Tスペースの前マークが 3Tよりも長い T (nT (n> 3)、図示の例では η= 7の場合を示し、図 9 (a)〜（c)は 3Tスペースの前マークが 3Tの場合を示している。

図 8 (a)及び図 9 (a)に、マーク部 MAとスペース部 SAとからなる記録データを示す。図 8 (b)〜（d)及び図 9 (b)に、図 8 (a)及び図 9 (a)の記録データを記録するためのライトストラテジを示す。ここで、図 8 (b)には、最適なマルチノルスのパルス幅 TM1 の場合を示し、図 8 (c)には、最適なマルチパルスのパルス幅 TM1よりも狭いマルチパルスのパルス幅 TM2の場合を示し、図 8 (d)には、最適なマルチパルスのパルス幅 TM1よりも広いマルチパルスのパルス幅 TM3の場合を示している。

図 8 (e)及び図 9 (c)に、図 8 (b)〜（d)及び図 9 (b)のライトストラテジで記録を行うことにより形成された光ディスク上のマークと、マーク相互間に位置するスペースとを読み出すことにより得られた再生信号を示す。

[0056] 図 8 (b)に示すように、マルチパルス幅が最適な値 (TM1)の場合、再生信号のうちスペースに対応する部分 (スペース信号） SBは、図 8 (e)に曲線 RTM1に示すごとくとなる。

図 8 (c)に示すように、最適なマルチパルスのパルス幅 TM1よりも狭いマルチパルスのノ^レス幅 TM2で記録された場合、図 8 (e)に曲線 RTM2で示す様に再生信号のマーク部 MBの終端の立ち上がりは、最適なマルチパルスのパルス幅 TM1で記録された場合よりも、前方にシフトし、符号間干渉の影響により、直後の 3Tスペース信号 SBの振幅は大きくなる。

逆に、図 8 (d)に示すように、最適なマルチパルスのパルス幅 TM1よりも広いマルチパルスのパルス幅 TM3で記録された場合、図 8 (e)に曲線 RTM3で示す様に再生信号のマーク部 MBの終端の立ち上がりは、最適なマルチパルスのパルス幅 TM 1で記録された場合よりも、後方にシフトし、符号間干渉の影響により、直後の 3Tスぺース信号 SBの振幅は小さくなる。

これに対し、図 9 (a)〜（c)に示すように、前マークが 3Tの場合は、ライトストラテジにマルチパルスが含まれてレ、なレ、為、マルチパルスの変動によってスペース信号 SB のレベルの変動は無ぐ常に信号レベル I3H1が得られることになる。

従って、前マークが 3Tの場合のスペース信号レベル I3Hと、前マークが 3T以外の場合のスペース信号レベル I3HAを等しく制御することで、良好な信号品質を得ることができる。

[0057] 本発明者等は、上記スペース信号レベルと信号品質との関係を調べる為に、ライトストラテジのパルス幅を変更した場合のスペース信号レベルを求める実験を行った。そして、再生ジッタを最小にするマルチパルスのパルス幅と、前記スペース信号レべルとの関係を求めた。

[0058] 図 10はマルチパルスのパルス幅 TMを変更した時に、前マークが 3T以外の場合の 3Tスペース信号レベル I3Hを平均した値 I3HAと、前マークが 3Tの場合の 3Tスペース信号レベル I3H1から I3HA—I3H1を算出し、再生ジッタとの関係を示している。

特性の異なる 3種類の光ディスクについて、上記関係を測定し、 Aの光ディスクを〇印で示し、 Bの光ディスクを△印で示し、 Cの光ディスクを口印で示している。

図より、 3種類の光ディスク全てで、 I3HA—I3H1がゼロとなる付近と再生ジッタの最良値がほぼ等しくなつており、前マークが 3T以外の場合の 3Tスペース信号レベル I3HAと前マークが 3Tの場合の 3Tスペース信号レベル I3H1を等しく制御することでマルチパルスのパルス幅を最適に調整できることがわ力、る。

[0059] 図 11は上記で算出した I3HA— I3H1とマルチパルス幅 TMの関係を示している。

図 10と同様に、 Aの光ディスクを〇印で示し、 Bの光ディスクを△印で示し、 Cの光デイスクをロ印で示している。

図より、算出した I3HA— I3H1とマルチパルス幅 TMは比例関係にあり、さらに 13 HA— I3H1に対するマルチパルス幅 TMの変化量は、 3種の光ディスクで殆ど等しいことがわかる。従って、 I3HA—I3H1がゼロより大きい場合は、マルチパルス幅 T Mを大きくなるように修正し、 I3HA—I3H1がゼロより小さい場合は、マルチパルス幅 TMを小さくなるように修正すれば良いことが分かる。

また、上記マルチパルス幅 TMを修正する変化量は、 I3HA— I3H1に対する TM の変化量を基に、マルチパルス幅 TMを修正すれば良いことが分かる。

[0060] 次に、マルチノ^レスを調整する際の精度について検討を行った。

図 12は、図 10で示した I3HA—I3H1と再生ジッタの関係のうち、 Aの光ディスクの場合を示している。ジッタが最良となる場合から、許容されるジッタの劣化量を、例えば 0. 3%とした場合、 I3HA—I3H1は一0. 018力ら 0. 013の範囲が許容範囲になること力 S分力る。

図 13は、図 10で示した I3HA—I3H1と再生ジッタの関係のうち、 Bの光ディスクの場合を示している。図 12の場合と同様に、ジッタが最良となる場合から、許容されるジッタの劣化量を、例えば 0. 3%とした場合、 I3HA—I3H1は 0. 023力ら 0. 012 の範囲が許容範囲になることが分かる。

図 14は、図 10で示した I3HA—I3H1と再生ジッタの関係のうち、 Cの光ディスクの場合を示している。図 12の場合と同様に、ジッタが最良となる場合から、許容されるジッタの劣化量を、例えば 0. 3%とした場合、 I3HA—I3H1は一0. 018力、ら 0. 012 の範囲が許容範囲になることが分かる。

従って、ジッタが最良となる場合から、許容されるジッタの劣化量を、例えば 0. 3% とした場合、 I3HA—I3H1を ± 0. 01以内に収まるようにマルチパルスのパルス幅を調整すれば良いことになる。

また、 I3HA—I3H1の下限値を—0. 018とし、上限値を 0. 01と、異なる数値にしても良い。

また、マルチパルスのパルス幅を設定するレーザ波形制御部 240が制御できるマルチパルスのパルス幅の最小変更量と、図 11で示した I3HA— I3H1とマルチパルス幅 TMの関係から、 I3HA— I3H1の許容範囲を設定しても良レ、。その場合、 I3H A— I3H1の許容範囲は、少なくとも、マルチパルス幅 TMの最小変更量に対して変化する I3HA— I3H1の値が必要となる。

図 11の場合は、マルチパルス幅 TMの最小変更量を例えば 0. 02Tとした場合、 13 HA—I3H1の変化量は約 0. 02であるため、 I3HA—I3H1の許容範囲は 0. 02以上の幅、即ち ± 0. 01以上が必要となる。

[0061] 上記においては、前マークが 3T以外の場合の 3Tスペース信号レベル I3Hとして、前マークが 3T以外の場合の I3Hの平均値を用いていた力 S、前マークが特定の長さの Tの場合の組合せのみ選択し、その I3Hの平均値を用いたり、さらには、前マーク力 ¾T以外の特定の長さの Tの場合の I3Hの値を用いるようにしても良い。

[0062] 図 15はマルチパルスのパルス幅 ΤΜを変更した時に、前マークが 5Τと 6Τの場合の 3Τスペース信号レベル Ι3Ηを平均した値 Ι3ΗΒと、前マークが 3Τの場合の 3Τスペース信号レベル I3H1から I3HB— I3H1を算出し、再生ジッタとの関係を示している。図より、 I3HB— I3H1がゼロとなる付近で再生ジッタが最良となっており、マルチパルスのパルス幅 TMの調整に、前マークが 5Tと 6Tの場合の 3Tスペース信号レベル I 3Hを平均した値 I3HBを用いても良いことが分かる。

[0063] 図 16はマルチパルスのパルス幅 TMを変更した時に、前マークが 6Tの場合の 3T スペース信号レベル I3H4と、前マークが 3Tの場合の 3Tスペース信号レベル I3H1 力 I3H4— I3H1を算出し、再生ジッタとの関係を示している。

図より、 I3H4— I3H1がゼロとなる付近で再生ジッタが最良となっており、マルチパルスのパルス幅 TMの調整に、前マークが 6Tの場合の 3Tスペース信号レベル I3H4 を用いても良いことが分かる。

[0064] 以上の事と同様に、マルチパルスのパルス幅 TMを調整するために、前マークが 3 T以外の場合の 3Tスペース信号レベルとして、上記以外の前マークの長さの組合せによる 3Tスペース信号レベル I3Hの平均値や、上記以外の前マークの長さの場合の 3Tスペース信号レベルを用いることとしても良レ、。

[0065] 以上の様に本実施の形態においては、前マークが 3T以外の場合の 3Tスペース信号レベルと、前マークが 3Tの場合の 3Tスペース信号レベルを比較することで、容易にマルチパルスのパルス幅 TMを最適に調整することができる。

また、前マークが 3T以外の場合の 3Tスペース信号レベルと、前マークが 3Tの場合の 3Tスペース信号レベルがどちらが大きいかを比較することにより、マルチパルスのパルス幅 TMを変化させる方向（大きくすれば良いか、小さくすれば良いか）を知ること力 Sできる。

[0066] 実施の形態 2.

上記の実施の形態 1では、図 5に示したように、ステップ S157〜S159においては、前マークの長さが 3Tの場合のスペース信号レベル I3H1と、前マークの長さが 3T 以外の場合のスペース信号レベル I3HAとを比較し、前マークの長さ力 S3Tの場合のスペース信号レベル I3H1が大きい場合は、マルチパルスのパルス幅を、狭くなるように修正し、前マークの長さが 3Tの場合のスペース信号レベル I3H1が小さい場合は、マルチパルスのパルス幅を、広くなるように修正している力 S、このようにする代わりに、マルチパルスのパルス幅の変化量と、前マークが 3T以外の場合の 3Tスペース信号レベルと、前マークが 3Tの場合の 3Tスペース信号レベルの差の関係を予め調べておき、その差を基に、マルチパルスのパルス幅を変更することで、マルチパルスのパルス幅が最適値から大きくずれている場合にも、少ない調整回数で、マルチパルスのノルス幅を最適に調整することができる。

[0067] 例えば、各光記録再生装置 100において、実験的にマルチパルスのパルス幅の変更量と前マークが 3Τ以外の場合の 3Τスペース信号レベルと、前マークが 3Τの場合の 3Τスペース信号レベルの差との関係を求め、これを光記録再生装置 100内に、例えば中央制御部 250内の R〇M250b内に格納しておき、マルチパルスのパルス幅の調整を行う際に、前マークが 3T以外の場合の 3Tスペース信号レベルと、前マーク力 ¾Τの場合の 3Tスペース信号レベルの差の大きさに応じてマルチパルスのパルス幅を調整する。即ち、ステップ S156における判定結果で NOの場合には、図 17に示すようにステップ S163に進み、ここで、前マークが 3T以外の場合の 3Tスペース信号レベル I3HAと、前マークが 3Tの場合の 3Tスペース信号レベル I3H1の差に基づいて、上記 R〇M250bからマルチパルスのパルス幅の変更量（増加させるか減少させるかを含め）を読み出し、読み出した変更量だけマルチパルスのパルス幅を変更し、ステップ S151に戻り、変更したマルチパルスのパルス幅を用いて再度試し書きを行う。このようにすることで、マルチパルスのパルス幅を少ない調整回数で、最適に調整すること力 Sできる。

尚、上記の関係は、各型式の光記録再生装置に対して一度行えば良ぐ同じ型式の多数の光記録再生装置に対して同じ関係を用いることができる。即ち、ある型式の光記録再生装置に関して、前記関係が求められたら、同じ型式の光記録再生装置には、その関係を同様に設定して出荷すればよい。

[0068] 実施の形態 2の場合にも、図 6及び図 7を参照して説明したような変形を加えることができる。

[0069] なお、上記の実施の形態 1及び実施の形態 2においては、スペースが 3Tの場合の信号レベルを比較するようにした力 S、スペースが 4Tの場合 (スペースの長さが 2番目に短レ、場合）につレ、て信号レベルを比較するようにしても良レ、。

[0070] 実施の形態 3. 以下に説明する実施の形態 3及び実施の形態 4における光記録方法は、マークェッジ記録 (PWM記録）を行うものである。そして、光ディスク上に記録すべきデータに応じて、半導体レーザをライトストラテジ (記録に用いられるレーザ発光波形規貝 IJ)に従いマルチパルス発光させて、記録マークを形成することにより情報の記録をおこなつている。即ち、以下の実施の形態 3及び実施の形態 4で用いられるライトストラテジは、マルチパルス型のものであり、マーク期間中に 1つ以上のパルスを有する。そして、このようなマルチパルス型のライトストラテジにおいて、以下に説明する実施の形態 3及び実施の形態 4では、ライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を、試し書きした信号から読み取ったマークに対応した信号のボトムレベルを基に調整することとしている。

[0071] さらにまた、以下に説明する実施の形態 3及び実施の形態 4では、マークの長さやマーク相互間のスペースの長さは、該マークやスペースに対応する信号部分の、記録ゃ再生のためのチャンネルクロックの周期 Tを単位として表され、光ディスクへの情報の記録が、 EFM (8— 16)変調の 3T〜： 11T及び 14Tのマーク、即ちクロック周期数 nが 3乃至 11、及び 14のマークに対応したパターンの光パルスを光ディスクに照射することにより行われるものとする。なお、最長マーク（長さ 14Tのマーク）は、シンクパターンである。

[0072] 図 18は本発明の実施の形態 3に係る光記録再生装置 100の基本的な構成例を示す図である。図 18に示される光記録再生装置 100は、概して図 1に示す光記録再生装置 100と同じである力図 1のスペースレベル検出部 270が設けられておらず、代わりにマークレベル検出部 280が設けられている点で異なる。図 18の各要素は、図 1 の同じ符号で示される要素と概して同じ役割を持ち、データ再生時及びデータ記録時における基本的動作も概して同じである。以下、図 1の装置の動作とは異なる点を中心として説明する。

[0073] イコライザ 220に入力されたヘッドアンプ 190からの電気信号は整形された後、データデコーダ 260とマークレベル検出部 280とに入力される。

マークレベル検出部 280は、再生された信号のうち、マークに対応する部分のボトムレベルを検出する。この場合、各クロック周期数のマークに対応するボトムレベルを、当該マークの直前に位置するスペースの長さ別に（該スペースに対応する再生信号部分の、クロック周期数で表される長さ別に）に検出する。例えば、 3Tのマークに対応するボトムレベルを、当該マークの直前に位置するスペースが 3Tである場合について検出し、また当該マークの直前に位置するスペースが 3T以外である場合について検出する。

[0074] 図 18に示される光記録再生装置 100において、光ディスク 160が色素系記録媒体である場合に、レーザ波形制御部 240で生成されるライトストラテジ信号の例は、図 3 (a)〜（e)に示すとおりである。

[0075] 中央制御部 250は、光記録再生装置 100の再生、書き込みの際に、装置の全体を制御するもので、プリピット検出部 200からのプリピット情報、及びァシンメトリ検出部 2 10からのァシンメトリ値、データデコーダ 260からの再生データ、マークレベル検出部 280からのマークレベル値を受ける一方、データエンコーダ 230、レーザ波形制御部 240、レーザ駆動部 120に制御信号を与える。

[0076] 中央制御部 250はまた、後に図 19及び図 20、図 21又は図 22を参照して説明するライトストラテジの調整、特にそのパルス幅の算出、ァシンメトリ値の計算、修正されたライトストラテジとァシンメトリ値を用いて行われる試し書きの制御などを行う。

[0077] 中央制御部 250は例えば CPU250aと該 CPU250aの動作のためのプログラムを格納した R〇M250bとデータを記憶する RAM250cとを備えている。 R〇M250bに格納されたプログラムは、後に図 20、図 21又は図 22並びに図 23 (a)〜（c)及び図 2 4 (a)〜（e)を参照して説明される先頭パルスの前エッジ位置の調整のための計算、及び先頭パルスの前エッジ位置の修正を定義する部分を含む。また、 R〇M250bには、後述の先頭パルスの前エッジ位置を調整する際に、前エッジ位置の変更量を設定するための係数や、調整精度を定める為の許容誤差量等の、種々の定数が記憶されている。

[0078] 一般に、情報を記録する前に試し書きを行うことで記録パワーの最適化が行われる

。以下にこの手順について説明する。

[0079] 最初に、例えばランダムな記録データに対応した 3T〜： 11Tのマークとスペースとからなるテストパターンを用いて、記録パワーを変化させて光ディスク 160への試し書きを行ない、次にこのテストパターンを記録した光ディスク 160上の領域を再生し、ァシンメトリ検出部 210によりァシンメトリ値を検出し、検出されたァシンメトリ値を、中央制御部 250において、目標とするァシンメトリ値と比較して最適の記録パワーを求める。一般に、記録パワーを大きくすればァシンメトリ値は大きくなり、記録パワーを小さくすればァシンメトリ値は小さくなる。

[0080] このような光記録方法を基本として、本実施の形態においては、試し書きにより形成されたマーク MK及びスペース SPを読み取って信号を再生する際に、マークレベル検出部 280で検出された、マーク MKに対応する信号部分 MBのボトムレベルを、当該マークの直前に位置するスペース SPの長さ（スペース SPに対応する信号部分の、クロック周期数で表される長さ）別に検出し、比較し、比較結果に基づいて、記録する際の発光ライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を調整する。

[0081] 以下、図 19を参照して本実施の形態の光記録方法の手順を説明する。

最初に記録に用いられる光ディスク 160が光記録再生装置 100に挿入されると、図示しないセンサによりそのことが検出されて (ステップ S20)、中央制御部 250に伝えられ、中央制御部 250は、光ピックアップ PUを駆動して、光ディスク 160から、予めデイスタメ一力により記録されたライトストラテジの推奨値や、ァシンメトリ β値の推奨値等のディスクの固有情報を読み出す (ステップ S21)。

[0082] 次にステップ S22において、読み取られたライトストラテジの推奨値を、先頭パルスの前エッジ位置の調整を行う際の初期ライトストラテジとして、中央制御部 250内に（例えば RAM250b内に）設定する。なお、初期ライトストラテジとしては、光ディスク 16 0から読み取った値ではなぐ光記録再生装置 100に予め設定された特定のライトストラテジを用いるようにしても良レ、。

[0083] 次にステップ S23において、読み取られたァシンメトリ β値の推奨値を、記録パワーの最適化に使用する為の目標値として、中央制御部 250内に（例えば RAM250b内に)設定する。なお、ァシンメトリ /3値の目標値としては、光ディスク 160から読み取つた値ではなぐ光記録再生装置 100に予め設定した特定の値を用いても良い。

[0084] 然る後、図示しない手段により記録の指示が与えられると（S24)、ステップ S25において、上記のようにして設定された初期ライトストラテジ及びァシンメトリ目標値を用いて前記光ディスク 160への試し書きを行う。即ち、ステップ S22において中央制御部 250内に設定されたライトストラテジ (各 nTに対するストラテジ)をレーザ波形制御部 240に設定することにより、レーザ波形制御部 240でテストパターンに基づいたライトストラテジを生成し、光ピックアップを用いて光ディスク 160への試し書きを行う。そして、テストパターンを記録した光ディスク 160上の領域を光ピックアップ PUで再生し、ァシンメトリ検出部 210により検出されたァシンメトリ値とステップ S23において設定されたァシンメトリ目標値とを中央制御部 250で比較して両者が一致するように制御を行うことで、最適な記録パワーを決定する。

[0085] そして、この試し書きを行ってパワー調整を行った後、ステップ S26で、先頭パルスの前エッジ位置の調整を行う。なお、ステップ S26では、先頭パルスの前エッジ位置の調整と共に、再度パワー調整を行っても良い。

[0086] 最後にステップ S27において、ステップ S26で調整された先頭パルスの前エッジ位置をレーザ波形制御部 240に設定することにより、レーザ波形制御部 240で記録データに基づいたライトストラテジを生成し、ステップ S24で決定された記録パワーにより、光ディスク 160への本来のデータの書き込み（本書き込み）を行う。なお、ステップ S26において、記録パワーの再調整が行われた場合は、前記記録パワーは、ステツプ S24で決定された値ではなくステップ S26で決定された記録パワーを用いても良レ、。

[0087] 上記のうち、ステップ S20の処理は、図示しない光ディスクの揷入を検出するセンサと、中央制御部 250とにより行われ、ステップ S21の処理は、光ピックアップ PU、へッドアンプ 190、イコライザ 220、データデコーダ 260、及び中央制御部 250により行われ、ステップ S22及び S23の処理は、中央制御部 250により行われ、ステップ S24の処理は、図示しない記録の指示を受ける手段 (インターフェース）と、中央制御部 250 とにより行われ、ステップ S25の処理は、ヘッドアンプ 190、ァシンメトリ検出部 210、中央制御部 250、レーザ波形制御部 240、及び光ピックアップ PUにより行われ、ステツプ S26の処理 fま、ヘッドアンプ 190、イコライザ 220、マータレべノレ検出き 280、中央制御部 250、レーザ波形制御部 240、及び光ピックアップ PUにより行われ、ステツプ S27の処理は、中央制御部 250、レーザ波形制御部 240、及び光ピックアップ PUにより行われる。

[0088] 図 20は図 19のステップ S26の処理を詳細に示す。

ステップ S251においては、ステップ S22において設定された初期ライトストラテジとステップ S24において決定された記録パワーを用いて、光ディスク 160へ試し書きを行レ、、ステップ S252におレ、て、ステップ S251で試し書きした信号を再生する。

ステップ S251の処理は、中央制御部 250、レーザ波形制御部 240、及び光ピックアップ PUにより行われ、ステップ S252の処理は、光ピックアップ PU、ヘッドアンプ 1 90、及びイコライザ 220により行われる。

[0089] 次に、ステップ S253においては、マークレベル検出部 280で、ステップ S252において再生された信号の、マークの長さが 3Tの場合に対応する信号レベルを、前記マ一クの前スペースの長さ別に検出する。

[0090] 次に、ステップ S254においては、ステップ S253で検出したマークの長さが 3Tの場合に対応する信号レベルから、前記マークの前スペースの長さが 3Tの場合のスぺース信号レベル I3L1を抽出する。

ステップ S253及び S254の処理は、マークレベル検出部 280及び中央制御部 250 により行われる。

[0091] 次に、ステップ S255においては、ステップ S253で検出したマークの長さが 3Tの場合に対応する信号レベルから、前記マークの前スペースの長さが 3T以外の全ての場合のマーク信号レベル（マーク MKに対応する信号 MBのレベル）を抽出して、その平均値 I3LAを算出する。

なお、前記マークの前スペースの長さが 3T以外の場合のマーク信号レベルとしては、前スペースの長さが 3T以外の全ての場合のマーク信号レベルの平均値を用いた力前スペースの長さが 3Τ以外の特定の ηΤの場合のみを用いたり、前スペースの長さが 3Τ以外の複数の場合 (複数の ηΤの値の場合）の平均値を用いても良い。

[0092] 次に、ステップ S256においては、ステップ S254において抽出した前スペースの長さが 3Τの場合のマーク信号レベル I3L1と、ステップ S255において抽出した前スぺースの長さが 3Τ以外の場合のマーク信号レベル I3LAとを比較し、両者が等しければ、先頭パルス調整を終了する。

ここで、前記前スペースの長さが 3Τの場合のマーク信号レベル I3L1と前記前スぺースの長さが 3Τ以外の場合の平均マーク信号レベル I3LAが完全に一致する必要は無ぐ予め設定した許容誤差量の範囲に収まれば、前記前スペースの長さが 3Τの場合のマーク信号レベル I3L1と前記前スペースの長さが 3Τ以外の場合の平均マーク信号レベル I3LAは等しいものとし、先頭パルス調整を終了する。

また、前スペースの長さが 3Τの場合のマーク信号レベル I3L1と、前スペースの長さが 3Τ以外の場合の平均マーク信号レベル I3LAが前記の場合以外の場合は、ステツプ S 257の処理を行う。

[0093] ステップ S257においては、前スペースの長さが 3Τの場合のマーク信号レベル I3L 1と、前スペースの長さ力 ¾Τ以外の場合のマーク信号レベル I3LAとを比較し、どちらが大きいかを判断する。

前スペースの長さが 3Τの場合のマーク信号レベル I3L1が大きい場合は、ステップ S258におレ、て、先頭パルスの前エッジ位置を、ステップ S251の試し書きで用いた先頭パルスの前エッジ位置よりも、早くなるように修正する。

また、前スペースの長さが 3Τの場合のマーク信号レベル I3L1が小さい場合は、ステツプ S259において、先頭パルスのエッジ位置を、ステップ S251の試し書きで用いた先頭パルスの前エッジ位置よりも、遅くなるように修正する。

ここで、先頭パルスのエッジ位置の修正は、前スペースの長さが 3Τの場合のマーク信号レベル I3L1と、前スペースの長さが 3Τ以外の場合のマーク信号レベル I3LAとの差に対する先頭ノ^レスのエッジ位置の変化量を予め求めておき、求められた前スペースの長さが 3Τの場合のマーク信号レベル I3L1と、前スペースの長さが 3Τ以外の場合のマーク信号レベル I3LAとの差に対応する変化量分、先頭パルスの前エツジ位置を修正する。または、予め設定した固定値あるいは、レーザ波形制御部 240 で変更できる最小値を用いるようにしても良レ、。

ステップ S255〜S259の処理は、中央制御部 250で行われる。

[0094] ステップ S258あるレ、は、ステップ S259において、先頭パルスの前エッジ位置を修正された後は、修正された先頭パルスの前エッジ位置を用いて、ステップ S251において試し書きをし、以降の動作をステップ S256において、前スペースの長さが 3Tの場合のマーク信号レベル I3L1と、前スペースの長さが 3T以外の場合の平均マーク信号レベル I3LAが等しくなるまで先頭パルス調整を繰り返し行う。

なお、ステップ S251において試し書きをする前に、再度最適パワー調整を行うようにしても良い。

[0095] また、ステップ S256の処理の前に、ジッタ値等の信号品質が予め定めた基準よりも良い場合は先頭パルス調整を終了するようにしても良い。例えば、ステップ S255の次に、図 21に示すように、ジッタ値などの信号品質をチェックし (S260)、ジッタ値等の信号品質が予め定めた基準よりも良い場合はマルチパルス調整を終了し、品質が良好でない場合にステップ S256に進むようにしても良い。ステップ S260の処理は、中央制御部 250で行われる。

[0096] また、先頭パルス調整は前スペースの長さが 3Tの場合のマーク信号レベル I3L1と、前スペースの長さが 3T以外の場合の平均マーク信号レベル I3LAが等しくなるまでとしていたが、先頭パルス調整の回数の制限値を予め設定しておき、先頭パルスを修正した回数がその制限値を超えた場合は、先頭パルス調整を終了するようにしても良い。

例えば図 22に示すように、ステップ S256で N〇の場合に、ステップ S260に進み、修正の回数が所定値を超えたか否かの判断を行レ、、超えていれば（S261で YES) 先頭パルス調整を終了する。超えていなければ（S261で NO)、ステップ S257に進む。ステップ S261の処理は、中央制御部 250で行われる。

[0097] 上記の様にステップ S26では、試し書きされた信号の再生信号から、マークの長さ力 ¾Τの場合のマーク信号レベルを、前スペースの長さが 3Τの場合と、前スペースの長さが 3T以外の場合を比較することによって、記録に用いるライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を修正するようにしている。その理由を図 23 (a)〜（c)及び図 24 (a)〜（e)を参照して説明する。

[0098] 図 23 (&)〜（(）及び図24 (&)〜（6)は、図 18に示される光記録再生装置 100において、光ディスク 160に記録された信号を再生した際に得られる信号を、長さが 3Tのマークと互いに異なる長さの前スペースの組合せについて示したものである。

図 23 (a)〜（c)は、 3Tのマーク MKの直前のスペース SPが 3Tよりも長レヽ T (nT (η > 3)、例えば η = 6)の場合を示し、図 24 (a)〜（e)は 3Tマーク MKの直前のスぺース SPが 3Tの場合を示してレ、る。

図 23 (a)及び図 24 (a)に、マーク部 MAとスペース部 SAと力、らなる記録データを示す。図 23 (b)及び図 24 (b)〜（d)に、図 23 (a)及び図 24 (a)の記録データを記録するためのライトストラテジを示す。ここで、図 24 (b)に最適な先頭パルスの前エッジ位置 TLD1の場合を示し、図 24 (c)に、最適な先頭パルスの前エッジ位置 TLD1よりも早い先頭パルスの前エッジ位置 TLD2の場合を示し、図 24 (d)に、最適な先頭パルスの前エッジ位置 TLD1よりも遅い先頭パルスの前エッジ位置 TLD3の場合をそれぞれ示している。

[0099] 図 23 (c)に、図 23 (b)のライトストラテジで記録を行うことにより形成された光デイスク上のマークと、マーク相互間に位置するスペースとを読み出すことにより得られた再生信号を示す。

図 24 (e)に、図 24 (b)〜（d)のライトストラテジで記録を行うことにより形成された光ディスク上のマークと、マーク相互間に位置するスペースとを読み出すことにより得られた再生信号を示す。

[0100] 図 24 (b)に示すように、先頭パルスの前エッジが最適位置 (TLD1)の場合、再生信号は図 24 (e)に曲線 RTLD1に示すごとくとなる。

図 24 (c)に示すように、最適な先頭パルスの前エッジ位置 TLD1よりも早い先頭パノレスの前エッジ位置 TLD2で記録された場合、図 24 (e)に曲線 RTLD2で示す様に再生信号のスペースに対応する部分 SBの終端の立ち下がりは、最適な先頭パルスの前エッジ位置 TLD1で記録された場合よりも、前方にシフトし、符号間干渉の影響により、直後の 3Tマーク信号 MBの振幅は大きくなる。

[0101] 逆に、図 24 (d)に示すように、最適な先頭パルスの前エッジ位置 TLD1よりも遅い先頭パルスの前エッジ位置 TLD3で記録された場合、図 24 (e)に曲線 RTLD3で示す様に再生信号のスペースに対応する部分 SBの終端の立ち下がりは、最適な先頭パルスの前エッジ位置 TLD1で記録された場合よりも、後方にシフトし、符号間干渉の影響により、直後の 3Tマーク信号 MBの振幅は小さくなる。

[0102] これに対し、図 23 (a)〜（c)に示すように、前スペースが 3Tより長い場合は、前スぺース 3Tの時と比較すると前スペースよりさらに前のマーク生成時の熱の影響が少ないため、先頭パルスの前エッジ位置の影響を受けにくい。

従って、前スペースが 3Tの場合のマーク信号レベル I3L1と、前スペースが 3T以外の場合のマーク信号レベル I3LAを等しく制御することで、良好な信号品質を得ること力 Sできる。

[0103] 本発明者等は、上記マーク信号レベルと信号品質との関係を調べる為に、ライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を変更した場合のマーク信号レベルを求める実験を行った。そして、再生ジッタを最小にする先頭パルスの前エッジ位置と、前記マーク信号レベルとの関係を求めた。

[0104] 図 25は先頭パルスの前エッジ位置 TLDを変更した時に、前スペースが 3T以外の場合の 3Tマーク信号レベル I3Lを平均した値 I3LAと、前スペースが 3Tの場合の 3T マーク信号レベル I3L1から I3LA— I3L1を算出し、再生ジッタとの関係を示している

[0105] 特性の異なる 3種類の光ディスクについて、上記関係を測定し、 Aの光ディスクを〇印で示し、 Bの光ディスクを△印で示し、 Cの光ディスクを口印で示している。

図より、 3種類の光ディスク全てで、 I3LA—I3L1がゼロとなる付近と再生ジッタの最良値がほぼ等しくなつており、前スペースが 3T以外の場合の 3Tマーク信号レベル 13 LAと前スペースが 3Tの場合の 3Tマーク信号レベル I3L1を等しく制御することで先頭パルスの前エッジ位置を最適に調整できることがわかる。

[0106] 図 26は上記で算出した I3LA—I3L1と先頭パルスの前エッジ位置 TLDの関係を示している。図 25と同様に、 Aの光ディスクを〇印で示し、 Bの光ディスクを△印で示し、 cの光ディスクを口印で示している。

図より、算出した I3LA -I3L1と先頭パルスの前エッジ位置 TLDは比例関係にあり、さらに I3LA— I3L1に対する先頭パルスの前エッジ位置 TLDの変化量は、 3種の光ディスクで殆ど等しいことがわかる。従って、 I3LA—I3L1がゼロより大きい場合は、先頭パルスの前エッジ位置 TLDを早くなるように修正し、 I3HA—I3H1がゼロより小さい場合は、先頭パルスの前エッジ位置 TLDを遅くなるように修正すれば良いことが分かる。

また、上記先頭パルスの前エッジ位置 TLDを修正する変化量は、 I3LA—I3L1に対する先頭パルスの前エッジ位置 TLDの変化量を基に、先頭パルスの前エッジ位置 TLDを修正すれば良レ、ことが分かる。

[0107] 以上の事と同様に、先頭ノ^レスの前エッジ位置を調整するために、前スペースが 3 T以外の場合の 3Tマーク信号レベルとして、上記以外の前スペースの長さの組合せによる 3Tマーク信号レベル I3Lの平均値や、上記以外の前スペースの長さの場合の 3Tマーク信号レベルを用いることとしても良レ、。

[0108] 以上の様に本実施の形態においては、前スペースが 3T以外の場合の 3Tマーク信号レベルと、前スペースが 3Tの場合の 3Tマーク信号レベルを比較することで、容易に先頭ノ^レスの前エッジ位置を最適に調整することができる。

[0109] また、前スペースが 3T以外の場合の 3Tマーク信号レベルと、前スペースが 3Tの場合の 3Tマーク信号レベルとのどちらが大きいかを比較することにより、先頭パルスの前エッジ位置を変化させる方向（早くすれば良いか、遅くすれば良いか）を知ることができる。

[0110] 実施の形態 4.

上記の実施の形態 3では、図 20に示したように、ステップ S257〜S259におレ、ては、前スペースの長さが 3Tの場合のマーク信号レベル I3L1と、前スペースの長さが 3T 以外の場合のマーク信号レベル I3LAとを比較し、前スペースの長さが 3Tの場合のマーク信号レベル I3L1が大きい場合は、先頭ノ^レスの前エッジ位置を、早くなるように修正し、前スペースの長さが 3Tの場合のマーク信号レベル I3L1が小さい場合は、先頭パルスのエッジ位置を、遅くなるように修正している力このようにする代わりに、先頭パルスの前エッジ位置の変化量と、前スペースが 3T以外の場合の 3Tマーク信号レベルと、前スペースが 3Tの場合の 3Tマーク信号レベルの差の関係を予め調ベておき、その差を基に、先頭パルスの前エッジ位置を変更することで、先頭パルスの前エッジ位置が最適値から大きくずれている場合にも、少ない調整回数で先頭パノレスの前エッジ位置を最適に調整することができる。

[0111] 例えば、各光記録再生装置 100において、実験的に先頭パルスの前エッジ位置の変更量と前スペースが 3T以外の場合の 3Tマーク信号レベルと、前スペースが 3Tの場合の 3Tマーク信号レベルの差との関係を求め、これを光記録再生装置 100内に、例えば中央制御部 250内の R〇M250b内に格納しておき、先頭パルスの前エッジ位置の調整を行う際に、前スペースが 3T以外の場合の 3Tマーク信号レベルと、前スペースが 3Tの場合の 3Tマーク信号レベルの差の大きさに応じて先頭パルスの前ェッジ位置を調整する。即ち、ステップ S256における判定結果で N〇の場合には、図 2 7に示すようにステップ S263に進み、ここで、前スペースが 3T以外の場合の 3Tマーク信号レベル I3LAと、前スペースが 3Tの場合の 3Tマーク信号レベル I3L1の差に基づいて、上記 ROM250bから先頭パルスの前エッジ位置の変更量（増加させるか減少させるかを含め）を読み出し、読み出した変更量だけ前エッジ位置を変更し、ステツプ S251に戻り、前エッジ位置を変更した先頭パルスを用いて再度試し書きを行う。このようにすることで、先頭パルスの前エッジ位置を少ない調整回数で、最適に調整すること力 Sできる。

[0112] 実施の形態 4の場合にも、図 21及び図 22を参照して説明したような変形をカ卩えることができる。

[0113] なお、上記の実施の形態 3及び実施の形態 4マークが 3Tの場合の信号レベルを比較するようにした力マークが 4Tの場合（マークの長さが 2番目に短い場合）について信号レベルを比較するようにしても良ぐ又は他の周期数のマークについて、信号レベルを比較するようにしても良レ、。

[0114] 実施の形態 5.

以下に説明する実施の形態 5における光記録方法は、マークエッジ記録を行うものである。そして、光ディスク上に記録すべきデータに応じて、半導体レーザをライトストラテジに従いマルチパルス駆動してマークを形成することにより情報の記録をおこなつている。即ち、以下の実施の形態 5で用いられるライトストラテジは、マルチパルス型のものであり、マーク期間中に 1つ以上のパルスを有する。そして、このようなマノレチパルス型のライトストラテジにおいて、以下に説明する実施の形態 5では、試し書きにより形成したマーク及びスペースを読み取ることにより得られた再生信号のうちの、互いに同一クロック周期数（以下単に「周期数」と言うことがある）のマーク部及びスぺース部（互いに同一の周期数で書き込まれたマーク及びスペースに対応する部分）の幅が互いに等しくなるようにライトストラテジの先頭パルスの幅を調整することとしている。ここで、マークの長さやマーク相互間のスペースの長さは、該マークやスペースに対応する信号部分の、記録や再生のためのチャンネルクロックの周期 Tを単位として表される。

さらにまた、以下に説明する実施の形態 5では、光ディスクへの情報の記録力 ¾FM (8— 16)変調の3丁〜11丁及び14丁のマーク、即ち周期数 nが 3乃至 11、及び 14のマークに対応したパターンのパルスを光ディスクに照射することにより行われるものとする。なお、最長マーク（長さ 14Tのマーク）は、シンクパターンである。言い換えると、記録のための変調規則に従って生成される発光パルスパターンは、周期数 nが 3乃至 11、及び 14のマークを形成するためのものである。

[0115] 図 28は本発明の実施の形態 5に係る光記録再生装置 100の基本的な構成例を示す図である。図 28に示される光記録再生装置 100は、概して図 1に示す光記録再生装置 100と同じである力図 1のスペースレベル検出部 270が設けられておらず、代わりにパルス幅検出部 290が設けられている点で異なる。図 28の各要素は、図 1の同じ符号で示される要素と概して同じ役割を持ち、データ再生時及びデータ記録時における基本的動作も概して同じである。以下、図 1の装置の動作とは異なる点を中心として説明する。 [0116] イコライザ 220に入力されたヘッドアンプ 190からの電気信号は整形された後、データデコーダ 260に入力される。

パルス幅検出部 290では、データデコーダ 260から 2値化信号を受け、各周期数のマーク部の幅を平均化し、抽出するとともに、各周期数のスペース部の幅を平均化し、抽出する。

[0117] 図 29 (a)〜（f)は、図 28に示される光記録再生装置 100において、光ディスク 160 が色素系記録媒体である場合に、レーザ波形制御部 240で生成されるライトストラテジ信号の例を示したものである。図 29 (a)に、記録のために用いられる周期 Tを有するチャネルクロック（記録用チャンネルクロック）を示す。図 29 (b)に、マーク部 MAとスペース部 SAとからなる記録データの例を示す。図 29 (c)に、図 29 (b)の記録データを記録するためのライトストラテジ信号、即ち発光ノ^レスパターンの例を示す。発光パルスパターンは、記録パワーレベル WPと再生パワーレベル RPとの間でレベルが変化し、記録パワーレベル WPにある期間が各パルスの幅と定義される。

図 29 (d)に、図 29 (c)のライトストラテジ信号で記録を行うことにより形成された光デイスク上のマーク MKと、マーク MK相互間に位置するスペース SPとを示す。図 29 (d )の横軸は、光ディスクのトラックに沿う長さ (位置）であるが、便宜上図 29 (c)の発光パルスパターンに対応させて示してある。

図 29 (e)に、図 29 (d)のマーク MK及びスペース SP力も成る記録部を読み出し、 2 値化することにより得られた 2値化再生信号を示す。図 29 (f)に、再生のために用いられるチャンネノレクロック（再生用チャンネルクロック）を示す。図 29 (e)の再生信号は、図 29 (f)の再生用チャンネルクロックを用いて生成されたものである。図 29 (e)及び図 29 (f)の横軸は、図 29 (a)乃至（c)と同様、時間であり、図 29 (d)とは異なるが、便宜上図 29 (d)のマーク MK及びスペース SPに対応させて示してあり、図 29 (f)の再生用チャンネルクロックは、図 29 (a)の記録用チャンネルクロックと同じ周期 Tを有するものとして示してある。図 29 (e)の再生信号は、マーク MKに対応するマーク部 MB と、スペース SPに対応するスペース部 SBとを含む。

[0118] 図示の例では、再生信号のうち、 3Tのマーク MKに対応する部分 MBの幅（3WM )が、基準幅 3Tよりも小さぐ再生信号のうち、 3Tのスペース SPに対応する部分 SB の幅（3WS)が、基準幅 3Tよりも大きぐ再生信号のうち、 6Tのマーク MKに対応する部分 MBの幅（6WM) 1S 基準幅 3Tよりも小さぐ再生信号のうち、 6Tのスペース

SPに対応する部分 SBの幅（6WS)力基準幅 3Tよりも大きいものとして図示してある。これについては後述する。

[0119] 最短マークは、周期数 n= 3、即ち 3Tに対応する長さを有し、最長マークは周期数 n= 14、即ち 14Tに対応する長さを有する。

図 29 (b)及び図 29 (c)は、最短マーク、即ち 3Tのマークを記録し、次に 4番目に短いマーク、即ち 6Tのマークを記録する場合を想定している。

[0120] 図 29 (c)の左側に示すように、記録データが最短マークの場合のライトストラテジは

、 1Fのパルス幅を有する先頭パルス Fのみからなる。

図 29 (c)の右側に示すように、記録データが 4番目に短いマークを記録する場合のライトストラテジは、 LFのパルス幅を有する先頭パルス Fとそれに続く 3個のマルチパルス Mからなる。

記録データとして p番目（4< p< 10)に短いマーク（（p + 2) T=nTに対応する長さを有するマーク）を記録する場合のライトストラテジは、 LFのノ^レス幅を有する先頭パルス Fとそれに続く（ρ—1)個のマルチパルス Μ力らなる。

記録されるマークが上記のいずれであっても、マルチパルス Μの幅 ΜΤはすべて同じである。

[0121] 中央制御部 250は、光記録再生装置 100の記録、再生の際に装置の全体を制御するもので、プリピット検出部 200からのプリピット情報、及びァシンメトリ検出部 210 力らのァシンメトリ値、データデコーダ 260力の再生データ、パルス幅検出部 290からのマーク部およびスペース部の幅値を受ける一方、データエンコーダ 230、レーザ波形制御部 240、レーザ駆動部 120に制御信号を与える。

[0122] 中央制御部 250はまた、後に図 30及び図 31を参照して説明するライトストラテジの調整、特にそのパルス幅の算出、ァシンメトリ値の計算、修正されたライトストラテジとァシンメトリ値を用いて行われる試し書きの制御などを行う。

[0123] 中央制御部 250は例えば CPU250aと該 CPU250aの動作のためのプログラムを格納した R〇M250bとデータを記憶する RAM250Cとを備えている。 R〇M350bに格納されたプログラムは、後に図 31及び図 34を参照して説明される先頭ノ^レスのパノレス幅の調整のための計算、及びマルチパルスのパルス幅の修正を定義する部分を含む。また、 ROM250bには、後述の先頭パルスのパルス幅を調整する際に、ノノレス幅の変更量を設定するための係数や、調整精度を定めるための許容誤差量等の、種々の定数が記憶されている。

[0124] 一般に、情報を記録する前に試し書きを行うことで記録パワーの最適化が行われる。以下にこの手順について説明する。

[0125] 最初に、例えばランダムな記録データに対応した 3T〜： 11Tのマークとスペースとからなるテストパターンを用いて、記録パワーを変化させて光ディスク 160への試し書きを行ない、次にこのテストパターンを記録した光ディスク 160上の領域を再生し、ァシンメトリ検出部 210によりァシンメトリ値を検出し、検出されたァシンメトリ値を、中央制御部 250において、目標とするァシンメトリ値と比較して最適の記録パワーを求める。一般に、記録パワーを大きくすればァシンメトリ値は大きくなり、記録パワーを小さくすればァシンメトリ値は小さくなる。

[0126] このような光記録方法を基本として、本実施の形態 5においては、試し書きにより形成されたマーク及びスペースを読み取って信号を再生する際に、パルス幅検出部 29 0で検出された同一周期数のマーク部 MBの幅とスペース部 SBの幅、即ち再生された信号のうちの、互いに同一周期数 nのマークとスペースにそれぞれ対応する部分 MB及び SBの幅（例えば、図 29において、 3WMと 3WS、或いは 6WMと 6WS)が互いに等しくなるようにマーク形成のための先頭パルス幅を調整し、調整された先頭パルス幅を用いてデータの記録を行う。なお、実際には、上記のような部分（「再生信号のうちの周期数 nのマークに対応する部分」や「再生信号のうちの周期数 nのスぺースに対応する部分」）を個々に比較して両者が同一になるようにパルス幅を調整するのではなぐ複数個のマーク及びスペースに対応する部分について平均を求め、平均値同士を比較し、平均値が互いに等しくなるようにパルス幅の調整を行う。

[0127] 以下、図 30を参照して本実施の形態 5の光記録方法の手順を説明する。

最初に記録に用いられる光ディスクが光記録装置に挿入されると、図示しないセンサによりそのことが検出されて (ステップ S30)、中央制御部 250に伝えられ、中央制御部 250は、光ピックアップ PUを駆動して、光ディスク 160力ら、予めディスクメーカにより記録されたライトストラテジの推奨値や、ァシンメトリ β値の推奨値等のディスクの固有情報を読み出す (ステップ S31)。

[0128] 次にステップ S32において、読み取られたライトストラテジの推奨値を、先頭パルスのノ^レス幅の調整を行う際の初期ライトストラテジとして、中央制御部 250内に (例えば RAM250C内に）設定する。なお、初期ライトストラテジとしては、光ディスク 160から読み取った値ではなぐ光記録再生装置 100に予め設定された特定のライトストラテジを用いるようにしても良い。

[0129] 次にステップ S33において、読み取られたァシンメトリ β値の推奨値を、記録パワーの最適化に使用するための目標値として、中央制御部 250内に（例えば RAM250C 内に)設定する。なお、ァシンメトリ /3値の目標値としては、光ディスク 160から読み取つた値ではなぐ光記録再生装置 100に予め設定した特定の値を用いても良い。 [0130] しかる後、図示しない手段により記録の指示が与えられると (ステップ S34)、ステツプ S35において、上記のようにして設定された初期ライトストラテジ及びァシンメトリ目標値を用いて前記光ディスク 160への試し書きを行う。即ち、ステップ S32において中央制御部 250内に設定されたライトストラテジ (各 nTに対するストラテジ)をレーザ波形制御部 240に設定することにより、レーザ波形制御部 240でテストパターンに基づいたライトストラテジ信号を生成し、光ピックアップを用いて光ディスク 160への試し書きを行う。そして、テストパターンを記録した光ディスク 160上の領域を光ピックアツプで再生し、ァシンメトリ検出部 210により検出されたァシンメトリ値とステップ S33において設定されたァシンメトリ目標値とを中央制御部 250で比較して両者が一致するように制御を行うことで、最適な記録パワーを決定する。

[0131] そして、この試し書きを行ってパワー調整を行った後、ステップ S36で、先頭パルスのパルス幅の調整を行う。なお、ステップ S36では、先頭パルスのパルス幅の調整と共に、再度パワー調整を行っても良い。

[0132] 最後にステップ S37において、ステップ S36で調整された先頭パルスのパルス幅をレーザ波形制御部 240に設定することにより、レーザ波形制御部 240で記録データに基づいたライトストラテジ信号を生成し、ステップ S35で決定された記録パワーにより、光ディスク 160への本来のデータの書き込み（本書き込み）を行う。なお、ステップ S36において、記録パワーの再調整が行われた場合は、前記記録パワーはステップ S35で決定された値ではなぐステップ S36で決定された記録パワーを用いても良い

[0133] 上記のうち、ステップ S30の処理は、図示しない光ディスクの挿入を検出するセンサと、中央制御部 250とにより行われ、ステップ S31の処理は、光ピックアップ PU、へッドアンプ 190、イコライザ 220、データデコーダ 260、及び中央制御部 250により行われ、ステップ S32及び S33の処理は、中央制御部 250により行われ、ステップ S34の処理は、図示しない記録の指示を受ける手段 (インターフェース）と、中央制御部 250 とにより行われ、ステップ S35の処理は、ヘッドアンプ 190、ァシンメトリ検出部 210、中央制御部 250、レーザ波形制御部 240、及び光ピックアップ PUにより行われ、ステツプ S36の処理は、ヘッドアンプ 190、イコライザ 220、データデコーダ 260、パノレス幅検出部 290、中央制御部 250、レーザ波形制御部 240、及び光ピックアップ PU により行われ、ステップ S37の処理は、中央制御部 250、レーザ波形制御部 240、及び光ピックアップ PUにより行われる。

[0134] 図 31は図 30のステップ S36の処理を詳細に示す。

ステップ S351においては、ステップ S32において設定された初期ライトストラテジとステップ S35において決定された記録パワーを用いて、光ディスク 160へ試し書きを行レ、、ステップ S352におレ、て、ステップ S351で試し書きした信号を再生する。ステップ S351の処理は、中央制御部 250、レーザ波形制御部 240、及び光ピックアップ PUにより行われ、ステップ S352の処理は、光ピックアップ PU、ヘッドアンプ 1 90、及びイコライザ 220により行われる。

[0135] 次に、ステップ S353においては、パルス幅検出部 290でステップ S352において再生された信号の各マーク部 MBの幅を平均化し、抽出する。即ち、周期数 n= 3乃至 6の各々について、複数箇所のマークを再生することにより得られた信号の対応部分の幅を平均し、平均値を、それぞれ周期数 n ( = 3乃至 6)のマーク部 MBの幅として記憶する。

[0136] 次に、ステップ S354においては、パルス幅検出部 290でステップ S352において再生された信号の各スペース部 SBの幅を平均化し、抽出する。即ち、周期数 n= 3 乃至 6の各々について、複数箇所のスペースを再生することにより得られた信号の対応部分の幅を平均し、平均値を、それぞれ周期数 n ( = 3乃至 6)のスペース部 SBの幅として記憶する。

ステップ S353及び S354の処理は、データデコーダ 260、パルス幅検出部 290及び中央制御部 250により行われる。

[0137] 次に、ステップ S355においては、ステップ S353で平均化抽出した各マーク部 MB の幅と、ステップ S354で平均化抽出した各スペース部 SBの幅のうちの、同一周期数のものについて差を算出する。

[0138] 次に、ステップ S356においては、ステップ S355において算出した同一周期数のマーク部 MBの幅とスペース部 SBの幅の差 nWM_nWS (n = 3〜： 11、 14)が 0 (ゼ口）であるかどうかを判断する。もし nWM—nWS = 0であれば、先頭パルスの調整を終了する。一方、 nWM—n WS = 0でなレ、場合には先頭パルスの調整を実行する。

[0139] ステップ S357においては、先頭パルスの調整をするにあたり、 nWMと nWSの大小比較を行う。

[0140] マーク部 MBの幅がスペース部 SBの幅より大きい場合（nWM_nWS > 0)、先頭パルス幅を狭くする（ステップ S358)。一方、マーク部 MBの幅がスペース部 SBの幅より大きくない場合、先頭パルス幅を広くする (ステップ S359)。

ステップ S355〜S359の処理は、中央制御部 250で行われる。

[0141] ステップ S358あるレ、はステップ S359におレ、て、先頭パルスのパルス幅が修正された後は、修正された先頭パルスのパルス幅を用いて、ステップ S351において試し書きをし、以降の動作をステップ 156において、同一周期数のマーク部 MBの幅とスぺース部 SBの幅の差 nWM_nWS = 0となるまで先頭パルス調整を繰り返し行う。なお、ステップ S351において試し書きをする前に、再度最適パワー調整を行うようにしても良い。

また、先頭パルス調整は同一周期数のマーク部 MBの幅とスペース部 SBの幅の差が零になるまでとしていたが、先頭ノ^レス調整の回数の制限値を予め設定しておき、先頭パルスを修正した回数がその制限値を超えた場合は、先頭パルス調整を終了するようにしても良レ、。例えば図 32に示すように、ステップ S356で NOの場合に、ステツプ S361に進み、修正の回数が所定値を超えたか否かの判断を行い、超えていれば (ステップ S361で YES)マルチノ^レス調整を終了する。超えてレ、なければ (ステップ S361で NO)、ステップ S357に進む。ステップ S361の処理は、中央制御部 250 で行われる。

[0142] また、ステップ S356の前に、ジッタ値などの信号品質をチェックし、ジッタ値等の信号品質が予め定めた基準よりも良い場合はマルチパルス調整を終了し、品質が良好でない場合にステップ S356に進むようにしても良レ、。例えば、ステップ S355の次に、図 33に示すように、ジッタ値などの信号品質をチェックし (ステップ S362)、信号品質が予め定めた基準よりも良い場合はマルチパルス調整を終了し、品質が良好でない場合にステップ S356に進むようにしても良レ、。ステップ S362の処理は、中央制御部 250で行われる。

[0143] 本発明者等は、上記同一周期数のマーク部 MBの幅とスペース部 SBの幅の差と信号品質との関係を調べるために、マーク形成のための先頭パルス幅を変更した場合のマーク部 MBの幅とスペース部 SBの幅を求める実験を行った。そして、再生ジッタを最小にする同一周期数のマーク部 MBの幅とスペース部 SBの幅との関係を求めた

[0144] 図 34は各周期数のマーク形成のための先頭パルス幅を変更してデータ記録を行レ、、再生時に取得されるマーク部 MBの幅 nWM、スペース部 SBの幅 nWSおよび再生ジッタより、同一周期数のマーク部 MBの幅とスペース部 SBの幅の差 nWM_nW Sを算出し、再生ジッタとの関係を示している。

同図において、横軸はマーク部 MBの幅とスペース部 SBの幅の差をチャネルクロック周期 Tにて正規化したものであり、縦軸は記録後の再生ジッタを示す。図中の〇、 X、△、口印は、各々 3T、 4Τ、 5Τ、 6Τ以上におけるマーク部 MBの幅とスペース部 SBの幅の差を変更させた場合の再生ジッタ値を示す（図中凡例としては各々 3Ttop 、 4Ttop、 5Ttop、 6Ttopと記載している）。

なお、同図の実験は 7T以上のマーク形成のための先頭パルス幅については 6Tと同じ先頭パルス幅にて記録を行ってレ、る。

[0145] また、先頭パルス幅の変更を行っていない周期数のマークの形成のためには固定値を用いている。例えば、先頭パルス幅固定値としては、 3Tマークでは 1. 38T、 4Τ マークでは 1 · 38Τ、 5Τマークでは 1 · 42Τ、 6Τ以上マークでは 1 · 46Τを用いているなお、マルチパルス幅についても固定値を用いており、例えば 0. 66Τとしている。

[0146] 図 34より、パターンの発生頻度の高い 3Τ、 4Τ、 5Τで nWM_nWS = 0なるポイント、すなわち同一周期数のマーク部 MBの幅とスペース部 SBの幅が等しくなる場合において再生ジッタが最小となり、 6T以上においても再生ジッタ最小近傍の良好な記録特性が得られていることが分かる。

[0147] 一方、図 35は各周期数のマーク形成のための先頭パルス幅を変更してデータ記録を行い、再生時に取得されるマーク部 MBの幅 nWMおよび再生ジッタより、マーク部 MBの幅と基準マーク部幅 nT (即ち周期数とクロック周期の積）の差 nWM— nTを算出し、再生ジッタとの関係を示している。

同図において、横軸がマーク部 MBの幅と基準マーク部幅の差をチャネルクロック周期 Tにて正規化したものであり、縦軸は記録後の再生ジッタを示す。図中の〇、 X 、△、口印は、各々 3T、 4Τ、 5Τ、 6Τ以上におけるマーク部 MBの幅と基準マーク部幅の差を変更させた場合の再生ジッタ値を示す（図中凡例としては各々 3Ttop、 4Tt op、 5Ttop、 6Ttopと記載している）。

なお、同図の実験においても図 34同様、 7T以上のマーク形成のための先頭パルス幅としては 6Tと同じ先頭パルス幅を用いて記録を行っている。

[0148] また、先頭パルス幅の変更を行っていない周期数のマークの形成のためには固定値を用いている。例えば、先頭パルス幅固定値としては、 3Tマークでは 1. 38T、 4Τ マークでは 1. 38Τ、 5Τマークでは 1. 42Τ、 6Τ以上のマークでは 1. 46Τを用いている。

なお、マルチパルス幅についても固定値を用いており、例えば 0· 66Τとしている。

[0149] 図 35より、パターンの比較的発生頻度の高い 4Τ、 5Τにおいて基準マーク部幅と比較して 0. 05Τ程ずれたポイントにおいて再生ジッタが最小となり、必ずしも基準マーク幅によるマークの記録により最良の記録特性が得られていないことが分かる。

[0150] 図 36は、特性の異なる 3種類の光ディスクについて、 3Τマークの形成のための先頭パルス幅を変更してデータ記録を行い、再生時に取得されるマーク部 MBの幅 η WM、スペース部 SBの幅 nWSおよび再生ジッタより、同一周期数のマーク部 MBの幅とスペース部 SB幅の差 nWM—nWSを算出し、再生ジッタとの関係を示している。〇印、△印、口印はそれぞれ光ディスク A、 B、 Cに対応する。先頭パルス幅の変更を行っていない周期数のマークの形成のためには固定値を用いている。

同図において、横軸は 3Tマーク部 MBの幅と 3Tスペース部 SBの幅の差をチヤネルクロック周期 Tにて正規化したものであり、縦軸は記録後の再生ジッタを示す。

[0151] 図 36より、 nWM_nWS = 0なるポイント、すなわちマーク部 MBの幅とスペース部 SBの幅が等しくなる場合において再生ジッタが最小となり、良好な記録特性が得られていることが分かる。 [0152] 以上の様に本実施の形態 5においては、同一周期数のマーク部 MBの幅とスぺース部 SBの幅が等しくなるようにマークの形成のための先頭パルス幅を調整することにより、最適な記録を行うことができる。

また、記録時のマーク形成のための先頭パルスを狭くする力、、広くするかは、同一周期数のマーク部 MBの幅とスペース部 SBの幅の大小比較の結果により、容易に知ること力 Sできる。

[0153] 即ち、各光記録再生装置 100において、同一周期数のマーク部 MBの幅とスぺース部 SBの幅が等しくなるように記録時のマーク形成のための先頭パルス幅を求め、これを光記録再生装置 100内に、例えば中央制御部 250内のメモリ内に光ディスクを特定する情報とともに格納しておくことにより、光ディスクを特定する情報が格納された光ディスクについては、マーク形成のための先頭パルス幅を無調整、あるいは少ない回数にて最適に調整することができる。

[0154] また、上記実施の形態 5においては、同一周期数のマーク部 MBの幅とスペース部 SBの幅が互いに等しくなるように記録時のマーク形成のための先頭パルス幅を調整するとした力 S、同一周期数のマーク部 MBの幅とスペース部 SBの幅の差の絶対値が閾値以下であれば、これらの差がゼロである場合と同様に扱うこととして、記録時のマーク形成のための先頭パルス幅の調整を完了するとしてもよい。

[0155] さらにまた、上記の実施の形態 5では、先頭パルス幅を調整することとしているが、先頭パルス幅以外のレーザ光の照射幅を調整することとしても良い。

[0156] また、上記の実施の形態 5では、 7T以上のマークの形成（記録）のための先頭パルス幅としては 6Tと同じ先頭パルス幅を用いて記録を行うこととしている力本発明はこれに限定されず、一般化して言えば k周期のマークの形成 (記録）のための先頭パルスの幅などのレーザ光照射幅を、 j周期 (jは kとは異なり、例えば jは kよりも大きい）のマークの形成（記録）のための先頭パルスの幅などのレーザ光照射幅としても用いることとしても良レ、。言い換えると、本発明では、変調規則で生成される複数の互いに異なる周期数のマークのうち、一部の周期数のマーク（例えば 3T〜6Tのマーク）についてのみ、レーザ光照射幅の調整を行い、他の周期数のマーク（7Τ以上のマーク )の形成には、上記一部の周期数のマークについて定められた照射幅を用いることとしても良い。

実施の形態 6

[0157] 図 37は本発明の実施の形態 6に係る光記録再生装置 100の基本的な構成例を示す図である。図 37に示される光記録再生装置 100は、概して図 1に示す光記録再生装置 100と同じである力図 18のマークレベル検出部 280及び図 28のパルス幅検出部 290が付加されている点で異なる。図 37の各要素は、図 1、図 18、及び図 28の同じ符号で示される要素と概して同じ役割を持ち、データ再生時及びデータ記録時における基本的動作も概して同じである。以下、図 1、図 18、及び図 28の装置の動作とは異なる点を中心として説明する。

[0158] 以下、図 38を参照して本実施の形態 6の光記録方法の手順を説明する。

最初に記録に用いられる光ディスク 160が光記録再生装置 100に揷入されると、図示しないセンサによりそのことが検出されて (ステップ S40)、中央制御部 250に伝えられ、中央制御部 250は、光ピックアップ PUを駆動して光ディスク 160から、予めディスクメーカにより記録されたライトストラテジの推奨値や、ァシンメトリ値の推奨値等のディスクの固有情報を読み出す (ステップ S41)。

[0159] 次にステップ S42において、読み取られたライトストラテジの推奨値を、マルチパルスのノ^レス幅の調整を行う際の初期ライトストラテジとして、中央制御部 250内に (例えば RAM250b内に）設定する。なお、初期ライトストラテジとしては、光ディスク 160 力読み取った値ではなぐ光記録再生装置 100に予め設定された特定のライトストラテジを用いるようにしても良い。

[0160] 次にステップ S43において、読み取られたァシンメトリ値 βの推奨値を、記録パワーの最適化に使用する為の目標値として、中央制御部 250内に（例えば RAM250b内に)設定する。なお、ァシンメトリ値 /3の目標値としては、光ディスク 160から読み取つた値ではなぐ光記録再生装置 100に予め設定した特定の値を用いても良い。

[0161] 然る後、図示しない手段により記録の指示が与えられると（S44)、ステップ S45において、上記のようにして設定された初期ライトストラテジ及びァシンメトリ目標値を用いて光ディスク 160への試し書きを行う。即ち、ステップ S42において中央制御部 25 0内に設定されたライトストラテジ (各 nTに対するストラテジ)をレーザ波形制御部 240 に設定することにより、レーザ波形制御部 240でテストパターンに基づいたライトストラテジを生成し、光ピックアップを用いて光ディスク 160への試し書きを行う。そして、テストパターンを記録した光ディスク 160上の領域を光ピックアップで再生し、ァシンメトリ検出部 210により検出されたァシンメトリ値とステップ S43において設定されたァシンメトリ目標値とを中央制御部 250で比較して両者が一致するように制御を行うことで、最適な記録パワーを決定する。

[0162] そして、この試し書きを行ってパワー調整を行った後、ステップ S46で、マルチパルスのパルス幅の調整を行う。なお、ステップ S46では、マルチパルスのパルス幅の調整と共に、再度パワー調整を行っても良レ、。ステップ S46の処理は、例えば実施の形態 1に関し図 5〜図 7を参照して説明したのと同様に行うことができる。

[0163] ステップ S46でマルチパルスのパルス幅の調整が終わった後、ステップ S47で、先頭パルスの前エッジ位置の調整を行う。なお、ステップ S47では、先頭パルスの前ェッジ位置の調整と共に、再度パワー調整を行っても良い。ステップ S47の処理は、例えば実施の形態 3に関し図 20〜図 22を参照して説明したのと同様に行うことができる。

[0164] ステップ S47で先頭パルスの前エッジ位置が終わった後、ステップ S48で、先頭パルスのパルス幅の調整を行う。なお、ステップ S48では、先頭パルスのパルス幅の調整と共に、再度パワー調整を行っても良い。ステップ S48の処理は、例えば実施の形態 5に関し図 31〜図 33を参照して説明したのと同様に行うことができる。

[0165] 最後にステップ S49において、ステップ S46で調整されたマルチパルスのパルス幅と、ステップ 47で調整された先頭パルスの前エッジ位置と、ステップ 48で調整された先頭パルスのパルス幅をレーザ波形制御部 240に設定することにより、レーザ波形制御部 240で記録データに基づいたライトストラテジを生成し、ステップ S45で決定された記録パワーにより、光ディスク 160への本来のデータの書き込み（本書き込み）を行う。なお、ステップ S46〜S48において、記録パワーの再調整が行われた場合は、前記記録パワーは、ステップ S45で決定された値ではなくステップ S46〜S48で決定された記録パワーを用いても良い。

[0166] 上記のうち、ステップ S40の処理は、図示しない光ディスクの揷入を検出するセンサと、中央制御部 250とにより行われ、ステップ S41の処理は、光ピックアップ PU、へッドアンプ 190、イコライザ 220、データデコーダ 260、及び中央制御部 250により行われ、ステップ S42及び S43の処理は、中央制御部 250により行われ、ステップ S44の処理は、図示しない記録の指示を受ける手段 (インターフェース）と、中央制御部 250 とにより行われ、ステップ S45の処理は、ヘッドアンプ 190、ァシンメトリ検出部 210、中央制御部 250、レーザ波形制御部 240、及び光ピックアップ PUにより行われ、ステツプ S46〜S48の処理は、ヘッドアンプ 190、イコライザ 220、スペースレベル検出部 270、マークレベル検出部 280、パルス幅検出部 290、中央制御部 250、レーザ波形制御部 240、及び光ピックアップ PUにより行われ、ステップ S49の処理は、中央制御部 250、レーザ波形制御部 240、及び光ピックアップ PUにより行われる。

[0167] また、上記のステップ S46〜S48では、マルチパルスのパルス幅の調整と、先頭パルスの前エッジ位置の調整と、先頭パルスのパルス幅の調整を順番に各々 1回ずつ行っている力各々のライトストラテジの調整後に、調整されたライトストラテジで記録した信号の、例えばジッタ値やエラーレートを確認することで、予め指定した性能を満足できる場合は、それ以降の調整を行わず、ステップ S49の処理を実行しても良い。また、ステップ S49の前に、調整されたライトストラテジで記録した信号の、例えばジッタ値ゃエラーレートを確認することで、予め指定された性能を満足できない場合は、再度ステップ S46〜ステップ S47を繰り返す様にしても良い。

[0168] また、上記のステップ S46〜S4£では、マルチパルスのパルス幅の調整から実施し、次に先頭パルスの前エッジ位置を調整し、最後に先頭パルスのパルス幅の調整を行うようにしている力この順番は最も望ましい順番を示しているのみで、実際にはどのライトストラテジ力調整を実施しても良レ、。

Claims

請求の範囲

[1] 光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、

先頭パルスのみ、或いは先頭パルスとマルチパルスを含むライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み工程と、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを読み取るスペースレベル読み込み工程と、

前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さ別に比較し、比較結果に基づいて前記ライトストラテジのマルチノ^レスのパルス幅を修正する記録パルス幅修正工程と、前記記録パルス幅修正工程で修正した前記ライトストラテジのパルス幅を用いて、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程と

を有する光記録方法。

[2] 前記読み込み工程は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルとして、前記スペースの長さが最短の場合における、信号のピークレベルを読み取ることを特徴とする請求項 1に記載の光記録方法。

[3] 前記読み込み工程は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルとして、前記スペースの長さが 2番目に短い場合における、信号のピークレベルを読み取ることを特徴とする請求項 1に記載の光記録方法。

[4] 前記記録パルス幅修正工程は、前記記録部を読み出すことにより得られる、スぺースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さが最短の場合と、最短以外の複数の場合の平均値とを比較することを特徴とする請求項 1に記載の光記録方法。

[5] 前記記録パルス幅修正工程は、前記記録部を読み出すことにより得られる、スぺースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さが最短の場合と、最短以外のレ、ずれかの長さの場合とを比較することを特徴とする請求項 1に記載の光記録方法。

[6] 前記記録パルス幅修正工程は、比較されたピークレベルが互いに一致するように前記修正を行うことを特徴とする請求項 1に記載の光記録方法。

[7] 前記記録パルス幅修正工程は、前記ピークレベルの比較において、前記スペースの直前のマークが短い場合の方が大きい場合は、マルチパルスのパルス幅を小さくなるように修正し、直前のマークが短い場合の方が小さい場合は、マルチパルスのパノレス幅を大きくなるように修正することを特徴とする請求項 1に記載の光記録方法。

[8] 前記記録パルス幅修正工程は、スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さ別に比較することにより得られる差と、マルチパルスのパルス幅の変化量の関係を予め求めておき、その関係に基づいて、マルチパルスのパルス幅を修正することを特徴とする請求項 1に記載の光記録方法。

[9] 前記スペースの長さが、該スペースに対応する信号部分の、チャンネノレクロックの周期を単位として表されるものであることを特徴とする請求項 1に記載の光記録方法

[10] 前記マークの長さが、該マークに対応する信号部分の、チャンネルクロックの周期を単位として表されるものであることを特徴とする請求項 1に記載の光記録方法。

[11] 光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録装置であって、

先頭パルスのみ、或いは先頭パルスとマルチパルスを含むライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み手段と、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを読み取るスペースレベル読み込み手段と、

前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さ別に比較し、比較結果に基づいて前記ライトストラテジのマルチパルスのパルス幅を修正する記録パルス幅修正手段と、前記記録パルス幅修正手段で修正した前記ライトストラテジのパルス幅を用いて、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み手段と

を有する光記録装置。

[12] 前記読み込み手段は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルとして、前記スペースの長さが最短の場合における、信号のピークレベルを読み取ることを特徴とする請求項 11に記載の光記録装置。

[13] 前記読み込み手段は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルとして、前記スペースの長さが 2番目に短い場合における、信号のピークレベルを読み取ることを特徴とする請求項 11に記載の光記録装置

[14] 前記記録パルス幅修正手段は、前記記録部を読み出すことにより得られる、スぺースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さが最短の場合と、最短以外の複数の場合の平均値とを比較することを特徴とする請求項 11に記載の光記録装置。

[15] 前記記録パルス幅修正手段は、前記記録部を読み出すことにより得られる、スぺースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さが最短の場合と、最短以外のレ、ずれかの長さの場合とを比較することを特徴とする請求項 11 に記載の光記録装置。

[16] 前記記録パルス幅修正手段は、比較されたピークレベルが互いに一致するように前記修正を行うことを特徴とする請求項 11に記載の光記録装置。

[17] 前記記録パルス幅修正手段は、前記ピークレベルの比較において、前記スペースの直前のマークが短レ、場合の方が大きレ、場合は、マルチパルスのパルス幅を小さくなるように修正し、直前のマークが短い場合の方が小さい場合は、マルチパルスのパノレス幅を大きくなるように修正することを特徴とする請求項 11に記載の光記録装置。

[18] 前記記録パルス幅修正手段は、スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さ別に比較することにより得られる差と、マルチパルスのパルス幅の変化量の関係を予め求めておき、その関係に基づいて、マルチパルスのパルス幅を修正することを特徴とする請求項 11に記載の光記録装置。

[19] 前記スペースの長さが、該スペースに対応する信号部分の、チャンネノレクロックの周期を単位として表されるものであることを特徴とする請求項 11に記載の光記録装置。

[20] 前記マークの長さが、該マークに対応する信号部分の、チャンネルクロックの周期を単位として表されるものであることを特徴とする請求項 11に記載の光記録装置。

[21] 光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、

先頭パルスのみ、或いは先頭パルスとマルチパルスを含むライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み工程と、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルを読み取るマークレベル読み込み工程と、

前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルを、前記マークの直前のスペースの長さ別に比較し、比較結果に基づいて前記ライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を修正する記録パルス修正工程とを有する光記録方法。

[22] 前記マークレベル読み込み工程は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルとして、前記マークの長さが最短の場合における、信号のボトムレベルを読み取ることを特徴とする請求項 21に記載の光記録方法。

[23] 前記マークレベル読み込み工程は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルとして、前記マークの長さが 2番目に短い場合における、信号のボトムレベルを読み取ることを特徴とする請求項 21に記載の光記録方法。

[24] 前記記録パルス修正工程は、前記比較する信号のボトムレベルとして、前記マークの直前のスペースの長さが、最短の場合の信号のボトムレベルと、前記マークの直前のスペースの長さが最短以外の複数の場合の信号のボトムレベルの平均値とを比較することを特徴とする請求項 21に記載の光記録方法。

[25] 前記記録パルス修正工程は、前記比較する信号のボトムレベルとして、前記マークの直前のスペースの長さが、最短の場合の信号のボトムレベルと、最短以外の場合のいずれかの信号のボトムレベルとを比較することを特徴とする請求項 21に記載の光記録方法。

[26] 前記記録パルス修正工程は、比較されたボトムレベルが互いに一致するように前記修正を行うことを特徴とする請求項 21に記載の光記録方法。

[27] 前記記録パルス修正工程は、前記マークに対応する信号のボトムレベルの比較にぉレ、て、前記マークの直前のスペースが短レ、方が大きレ、場合は前記マークの形成のための先頭パルスの前エッジ位置が早くなるように修正し、前記マークの直前のスぺースが短い方が小さい場合は前記マークの形成のための先頭パルスの前エッジ位置が遅くなるように修正することを特徴とする請求項 21に記載の光記録方法。

[28] 前記記録パルス修正工程は、前記マークに対応する信号のボトムレベルを、前記マークの直前のスペースの長さ別に比較することにより得られる差と、マークの形成のための先頭パルスの前エッジ位置の変化量との関係を予め求めておき、その関係に基づいて、前記マークの形成のための先頭パルスの前エッジ位置の修正量を決定することを特徴とする請求項 21に記載の光記録方法。

[29] 前記マークの長さが、該マークに対応する信号部分のチャンネルクロックの周期を単位として表されるのであることを特徴とする請求項 21に記載の光記録方法。

[30] 前記スペースの長さが、該スペースに対応する信号部分のチャンネルクロックの周期を単位として表されるものであることを特徴とする請求項 21に記載の光記録方法。

[31] 光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録装置であって、

先頭パルスのみ、或いは先頭パルスとマルチパルスを含むライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み手段と、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルを読み取るマークレベル読み込み手段と、

前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルを、前記マークの直前のスペースの長さ別に比較し、比較結果に基づいて前記ライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を修正する記録パルス修正手段とを有する光記録装置。

[32] 前記マークレベル読み込み手段は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルとして、前記マークの長さが最短の場合における、信号のボトムレベルを読み取ることを特徴とする請求項 31に記載の光記録装置。

[33] 前記マークレベル読み込み手段は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルとして、前記マークの長さが 2番目に短い場合における、信号のボトムレベルを読み取ることを特徴とする請求項 31に記載の光記録装置。

[34] 前記記録パルス修正手段は、前記比較する信号のボトムレベルとして、前記マークの直前のスペースの長さが、最短の場合の信号のボトムレベルと、前記マークの直前のスペースの長さが最短以外の複数の場合の信号のボトムレベルの平均値とを比較することを特徴とする請求項 31に記載の光記録装置。

[35] 前記記録パルス修正手段は、前記比較する信号のボトムレベルとして、前記マークの直前のスペースの長さが、最短の場合の信号のボトムレベルと、最短以外の場合のいずれかの信号のボトムレベルとを比較することを特徴とする請求項 31に記載の光記録装置。

[36] 前記記録パルス修正手段は、前記比較された信号のボトムレベルが互いに一致するように前記修正を行うことを特徴とする請求項 31に記載の光記録装置。

[37] 前記記録パルス修正手段は、前記マークに対応する信号のボトムレベルの比較にぉレ、て、前記マークの直前のスペースが短レ、方が大きレ、場合は前記マークの形成のための先頭パルスの前エッジ位置が早くなるように修正し、前記マークの直前のスぺースが短い方が小さい場合は前記マークの形成のための先頭パルスの前エッジ位置が遅くなるように修正することを特徴とする請求項 31に記載の光記録装置。

[38] 前記記録パルス修正手段は、前記マークに対応する信号のボトムレベルを、前記マークの直前のスペースの長さ別に比較することにより得られる差と、マークの形成のための先頭パルスの前エッジ位置の変化量との関係を予め求めておき、その関係に基づいて、前記マークの形成のための先頭パルスの前エッジ位置の修正量を決定することを特徴とする請求項 31に記載の光記録装置。

[39] 前記マークの長さが、該マークに対応する信号部分のチャンネルクロックの周期を単位として表されるのであることを特徴とする請求項 31に記載の光記録装置。

[40] 前記スペースの長さが、該スペースに対応する信号部分のチャンネルクロックの周期を単位として表されるものであることを特徴とする請求項 31に記載の光記録装置。

[41] 光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより所与のクロック周期数に対応する長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与のクロック周期数に対応する長さのスペースとで構成された記録部を形成し、

上記記録部を読み出すことにより得られる信号の、マークに対応する部分の幅と、前記マークと同一のクロック周期数に対応する長さのスペースに対応する部分の幅が等しくなるように、記録のためのレーザ光の照射幅の調整を行う

ことを特徴とする光記録方法。

[42] 前記レーザ光の照射が、先頭パルスのみ、或いは先頭パルスとマルチパルスを含むライトストラテジによって行われ、

前記レーザ光の照射幅として、ライトストラテジの先頭ノ^レスのパルス幅を調整することを特徴とする請求項 41に記載の光記録方法。

[43] 光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより所与のクロック周期数に対応する長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与のクロック周期数に対応する長さのスペースとで構成された記録部を形成する工程と、上記記録部を読み出すことにより得られた信号の、マークに対応する部分の幅を計測する工程と、

上記記録部を読み出すことにより得られた信号の、スペースに対応する部分の幅を計測する工程と、

上記記録部を読み出すことにより得られた信号の、マークに対応する部分の幅と、前記マークと同一のクロック周期数に対応する長さのスペースに対応する部分の幅を比較する工程と、

上記比較の結果に基づいて、上記マーク形成のためのレーザ光の照射幅を変更する工程と

を備えた光記録方法。

[44] 前記レーザ光の照射が、先頭パルスのみ、或いは先頭パルスとマルチパルスを含むライトストラテジによって行われ、

前記レーザ光の照射幅を変更する工程が、前記レーザ光の照射幅として、ライトストラテジの先頭パルスのパルス幅を調整することを特徴とする請求項 43に記載の光記録方法。

[45] 記録のための変調規則に従って生成される複数の互いに異なる周期数のマークのうち、一部の周期数のマークについてのみ、レーザ光の照射幅の調整を行うことを特徴とする請求項 41に記載の光記録方法。

[46] 記録のための変調規則に従って生成されるマークの周期数 nが 3〜11、 14のいずれかであり、そのうち、周期数 nが 3乃至 6のマークについてのみ、レーザ光の照射幅の調整を行うことを特徴とする請求項 45に記載の光記録方法。

[47] k周期（kは整数）のマークの記録のための照射幅を、 j周期 (jは kとは異なる整数）のマークの記録のための照射幅としても用いることを特徴とする請求項 41に記載の光記録方法。

[48] 前記 jが前記 kより大きい値であることを特徴とする請求項 47に記載の光記録方法。

[49] 光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより所与のクロック周期数に対応する長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与のクロック周期数に対応する長さのスペースとで構成された記録部を形成する手段と、上記記録部を読み出すことにより得られた信号の、マークに対応する部分の幅を計測する手段と、

上記記録部を読み出すことにより得られた信号の、スペースに対応する部分の幅を計測する手段と、

上記記録部を読み出すことにより得られた信号の、マークに対応する部分の幅と、前記マークと同一のクロック周期数に対応する長さのスペースに対応する部分の幅を比較する手段と、

上記比較の結果に基づいて、上記マーク形成のためのレーザ光の照射幅を変更する手段と

を備えた光記録再生装置。

[50] 前記レーザ光の照射が、先頭パルスのみ、或いは先頭パルスとマルチパルスを含むライトストラテジによって行われ、

前記レーザ光の照射幅を変更する手段が、前記レーザ光の照射幅として、ライトストラテジの先頭パルスのパルス幅を調整することを特徴とする請求項 49に記載の光記録再生装置。

[51] 記録のための変調規則に従って生成される複数の互いに異なる周期数のマークのうち、一部の周期数のマークについてのみ、レーザ光の照射幅の調整を行うことを特徴とする請求項 49に記載の光記録再生装置。

[52] 記録のための変調規則に従って生成されるマークの周期数 nが 3〜11、 14のいずれかであり、そのうち、周期数 nが 3乃至 6のマークについてのみ、レーザ光の照射幅の調整を行うことを特徴とする請求項 51に記載の光記録再生装置。

[53] k周期（kは整数）のマークの記録のための照射幅を、 j周期 (jは kとは異なる整数）のマークの記録のための照射幅としても用いることを特徴とする請求項 49に記載の光記録再生装置。

[54] 前記 jが前記 kより大きい値であることを特徴とする請求項 53に記載の光記録再生装置。

[55] 光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、

前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さ別に比較し、比較結果に基づいて前記ライトストラテジのマルチパルスのパルス幅を修正するマルチパルスパルス幅修正工程と、

前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルを読み取るマークレベル読み込み工程と、

前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルを、前記マークの直前のスペースの長さ別に比較し、比較結果に基づいて前記ライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を修正する前エッジ位置修正工程と、前記記録部を読み出すことにより得られた信号の、マークに対応する部分の幅を計測する工程と、前記記録部を読み出すことにより得られた信号の、スペースに対応する部分の幅を計測する工程と、

前記記録部を読み出すことにより得られた信号の、マークに対応する部分の幅と、前記マークと同一のクロック周期数に対応する長さのスペースに対応する部分の幅を比較し、比較結果に基づいて前記ライトストラテジの先頭パルスのパルス幅を修正する先頭パルス幅修正工程と、

前記マルチパルスパルス幅修正工程と、前エッジ位置修正工程と、先頭パルス幅修正工程のライトストラテジの修正工程で修正した前記ライトストラテジを用いて、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程と

を有する光記録方法。

[56] 前記ライトストラテジの修正工程力始めにマルチノ^レス幅修正工程を実施し、次に前エッジ位置修正工程を実施し、最後に先頭ノ^レス幅修正工程を実施するライトストラテジの修正工程を有する請求項 55に記載の光記録方法。

[57] 光ディスク上にパルス駆動されたレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録装置であって、

前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さ別に比較し、比較結果に基づいて前記ライトストラテジのマルチパルスのパルス幅を修正するマルチパルスパルス幅修正手段と、

前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルを読み取るマークレベル読み込み手段と、

前記記録部を読み出すことにより得られる、前記マークに対応する信号のボトムレベルを、前記マークの直前のスペースの長さ別に比較し、比較結果に基づいて前記ライトストラテジの先頭パルスの前エッジ位置を修正する前エッジ位置修正手段と、前記記録部を読み出すことにより得られた信号の、マークに対応する部分の幅を計測する手段と、前記記録部を読み出すことにより得られた信号の、スペースに対応する部分の幅を計測する手段と、

前記記録部を読み出すことにより得られた信号の、マークに対応する部分の幅と、前記マークと同一のクロック周期数に対応する長さのスペースに対応する部分の幅を比較し、比較結果に基づいて前記ライトストラテジの先頭パルスのパルス幅を修正する先頭パルス幅修正手段と、

前記マルチパルスパルス幅修正手段と、前エッジ位置修正手段と、先頭パルス幅修正手段のライトストラテジの修正手段で修正した前記ライトストラテジを用いて、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み手段と

を有する光記録装置。

前記ライトストラテジの修正手段力始めにマルチノ^レス幅修正手段を実施し、次に前エッジ位置修正手段を実施し、最後に先頭ノ^レス幅修正手段を実施するライトストラテジの修正手段を有する請求項 57に記載の光記録装置。