WO2005114280A1 - 光合分波器 - Google Patents

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WO2005114280A1
WO2005114280A1 PCT/JP2005/009130 JP2005009130W WO2005114280A1 WO 2005114280 A1 WO2005114280 A1 WO 2005114280A1 JP 2005009130 W JP2005009130 W JP 2005009130W WO 2005114280 A1 WO2005114280 A1 WO 2005114280A1
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waveguide
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mode
output
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PCT/JP2005/009130
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English (en)
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Inventor
Kouichi Suzuki
Original Assignee
Nec Corporation
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    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/10Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
    • G02B6/12Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
    • G02B6/12007Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind forming wavelength selective elements, e.g. multiplexer, demultiplexer
    • G02B6/12009Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind forming wavelength selective elements, e.g. multiplexer, demultiplexer comprising arrayed waveguide grating [AWG] devices, i.e. with a phased array of waveguides
    • G02B6/12016Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind forming wavelength selective elements, e.g. multiplexer, demultiplexer comprising arrayed waveguide grating [AWG] devices, i.e. with a phased array of waveguides characterised by the input or output waveguides, e.g. tapered waveguide ends, coupled together pairs of output waveguides

Definitions

  • the present invention relates to an optical wavelength multiplexer / demultiplexer capable of extracting only a desired channel in a wavelength division multiplexing (WDM) transmission system, and more particularly to an arrayed waveguide type diffraction grating (AWG).
  • WDM wavelength division multiplexing
  • AMG arrayed waveguide type diffraction grating
  • An AWG is an optical functional device that is configured by connecting an input waveguide, an input coupler waveguide, a waveguide array, an output coupler waveguide, and an output waveguide in this order with the input side force also directed to the output side.
  • AWGs can be manufactured in the same process and the same number of steps regardless of the number of channels, and in principle, there is no characteristic deterioration such as loss increase. It is used
  • Fig. 1 is a characteristic diagram showing the band characteristics of the AWG, where the vertical axis indicates light intensity and the horizontal axis indicates wavelength.
  • the band characteristics of an AWG have a Gaussian shape as shown in FIG. Therefore, if the wavelength of the light source fluctuates, the wavelength of the light from the light source also shifts in the AWG bandwidth, causing a problem that transmission loss increases.
  • the overall band characteristic is a superposition of the band characteristics of each AWG, and the band characteristic is narrowed.
  • the overall band characteristics are the same as the band characteristics of the first-stage AWG and the second-stage AWG. Become.
  • Such narrowing of band characteristics due to the cascade connection makes it difficult to maintain a good transmission band.
  • Figure 3 shows the band characteristics when two stages of AWGs with flat band characteristics are cascaded.
  • the overall band characteristic is a superposition of the band characteristic of the first-stage AWG and the band characteristic of the second-stage AWG, but since each AWG has a flat band characteristic, The combined band characteristics also have flat characteristics.
  • an AWG having a flat band characteristic as described above can be realized, demultiplexing and multiplexing at the repeater on the transmission path can be performed, so that an OADM (Optical Add Drop Multiplexing) as shown in Fig. 4 Applications such as opening up.
  • the OADM shown in Fig. 4 is composed of a first AWG that multiplexes multiple input lights, a second AWG that splits the output light of the first AWG, and a part of the output light of the second AWG. And a fourth AWG that combines the output light of this third AWG into a plurality of output lights. .
  • the remaining output light of the second AWG is provided externally as “drop” light.
  • An optical element using quartz as a material forming the AWG has a temperature coefficient of about 0.01 nm / ° C.
  • a method is employed in which the transmission wavelength is fixed while keeping the temperature of the element constant.
  • a typical example is a method of controlling the center wavelength of an element by controlling the temperature of the element using a heater or the like.
  • this method requires a power supply to drive the heaters, etc., and requires a technique for controlling the temperature with high precision and dynamic temperature.
  • the band characteristics of the AWG are flat, even if the center wavelength of the device shifts slightly depending on the temperature, it can be prevented from affecting the transmission characteristics. For this reason, in an AWG having flat band characteristics, a wavelength control mechanism becomes unnecessary or the wavelength control mechanism can be simplified, so that the cost and power consumption of the communication system can be reduced. .
  • FIGS. 5A and 5B are schematic diagrams showing a configuration of a connection portion of an input waveguide to a coupler waveguide, which has been conventionally employed to flatten the band characteristics of an AWG.
  • 5A and 5B are regions where mode conversion of propagating light is performed.
  • the input waveguide 11 is coupled to the coupler Connected to.
  • the conventional example shown in FIG. 5B is called an MMI (Multi-mode Interference) system.
  • an input waveguide 21 is connected to a coupler waveguide via a rectangular waveguide 22.
  • the waveguide device it is important to reduce the size of the device in order to achieve low cost and high performance.
  • it is effective to increase the relative refractive index difference ⁇ ( nl-n2) between the core (refractive index nl) and the cladding (refractive index n2) of the waveguide.
  • the relative refractive index difference between the core (refractive index nl) and the cladding (refractive index n2) of the waveguide.
  • the relative refractive index difference ⁇ is increased, the confinement of light in the waveguide can be increased, so that each waveguide element such as the minimum bending radius of the bent waveguide can be reduced, and the element size can be reduced.
  • connection waveguides (parabolic waveguide 12, rectangular waveguide 22) shown in FIGS.5A and 5B by utilizing the effect of light confinement. it can.
  • the relative refractive index difference ⁇ 0.5%
  • the input / output waveguide spacing at the connection with the coupler waveguide is required to be about 30 m, but the relative refractive index difference ⁇ is 1.5%.
  • the distance between the input and output waveguides can be reduced to about 10 m.
  • the spacing between the input and output waveguides and the length of the coupler waveguide are proportional to each other when the characteristics are the same. If possible, the coupler length can be reduced to 1/3. Therefore, reducing the distance between the input waveguides (and the distance between the output waveguides) is extremely important from the viewpoint of reducing the element size.
  • the light intensity distribution at the end of the tapered waveguide is used. Needs to be changed to the optimum light intensity distribution for flattening, but it is difficult to make such a change in a small area of a small AWG. This is because a sufficient spatial frequency required for the mode conversion cannot be ensured because the waveguide width W of the nolaboric waveguide 12 is small. For this reason, when a parabolic tapered waveguide is used, the waveguide width W needs to be about the same as that of a conventional AWG, and as a result, the element size increases.
  • the conventional technique of flattening the band characteristics of the AWG basically uses the coupling between the first-order mode and the zeroth-order mode, so that about 50% of the channel bandwidth in the ldB bandwidth is used. Until now, it was possible to flatten. This problem also arises with any conventional AWG planarization technique.
  • An object of the present invention is to solve the above-described problems of the conventional technology.
  • a first object of the present invention is to provide a band flattening AWG with improved tolerance to wavelength fluctuations and process fluctuations.
  • a second object of the present invention is to realize a high- ⁇ miniaturized AWG having flattening characteristics without increasing the size of the band flattening AWG due to the high ⁇ .
  • a third object of the present invention is to provide an AWG having a flat band exceeding 50% of the channel band so as to support CWDM.
  • the first and second coupler waveguides have one end connected to the input waveguide, and the other end connected to the light input end face of the first coupler waveguide.
  • One or more input connection waveguides connected, and one or more outputs connected at one end to the output waveguide and the other end connected to the optical output end face of the second coupler waveguide.
  • the length of at least one of the output-side connection waveguides is set so that mode conversion and interference occur and the light intensity at the connection with the coupler waveguide becomes a minimum value or a value near the minimum value.
  • the mode conversion waveguide includes a mode mixing region and a mode interference region.
  • the center of the input or output waveguide in the light propagation direction is deviated from the center of the mode conversion waveguide in the light propagation direction.
  • a light propagation direction of the input or output waveguide is inclined with respect to a light propagation direction of the mode conversion waveguide.
  • the optical multiplexer / demultiplexer according to the present invention is configured such that a connection portion waveguide wider than the input / output waveguide is connected to each of the input / output force blur waveguides connected to the waveguide array.
  • at least one of the input side / output side connection waveguides is composed of a mode conversion waveguide in which inter-mode mixing and interference occur, and the length of the mode conversion waveguide is the interference between the propagation modes.
  • Has a length that is just stable! / By using the region where the light wave is stable, it is possible to realize an AWG with high manufacturing tolerance and strong resistance to wavelength fluctuation.
  • the mode mixing is performed by generating abrupt wavefront fluctuation using steep waveguide structure change.
  • the band characteristic can be flattened as it is.
  • the structure of the present invention makes it possible to realize a band flattening AWG by combining higher-order modes. AWG can be realized.
  • FIG. 1 is a graph showing characteristics of an AWG having a Gaussian band characteristic.
  • FIG. 3 is a graph showing band characteristics obtained by connecting AWGs in cascade.
  • FIG. 4 is a block diagram showing an application example of a flattening band characteristic AWG.
  • FIG. 5A is a plan view showing an example of a conventional input side connection portion waveguide.
  • FIG. 5B is a plan view showing another example of the conventional input-side connection waveguide.
  • FIG. 6 is a plan view showing one embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is an enlarged view of a part of a waveguide on an input side in FIG. 6;
  • FIG. 8 is an enlarged view of a portion of an output side connection waveguide in FIG. 6.
  • FIG. 9 is a partial cross-sectional view of one embodiment of the present invention.
  • FIG. 10 is a graph showing the light intensity distribution at the coupling portion with the coupler waveguide when the mode mixing section length ⁇ of the mode conversion waveguide is changed, and a graph showing the overall band characteristic.
  • FIG. 11 is a diagram showing a light intensity distribution in a mode conversion waveguide.
  • FIG. 12A is a plan view showing a modified example of the mode interference section of the mode conversion waveguide according to one embodiment of the present invention.
  • FIG. 12B is a plan view showing another modified example of the mode interference section of the mode conversion waveguide according to one embodiment of the present invention.
  • FIG. 13 is a diagram for explaining an IdB bandwidth, a 3 dB bandwidth, and inter-channel isolation in an AWG band characteristic diagram.
  • FIG. 14 A graph showing the IdB bandwidth of the AWG according to the embodiment, with the mode conversion waveguide width W and the tapered waveguide width W as parameters.
  • FIG. 15 is a graph showing the 3 dB bandwidth of the AWG according to the embodiment, using the mode conversion waveguide width W and the tapered waveguide width W as parameters.
  • FIG. 16 is a graph showing the excess loss of the AWG according to the embodiment using the mode conversion waveguide width W and the tapered waveguide width W as parameters.
  • FIG. 17 is a graph showing AWG channel-to-channel isolation according to the embodiment, with the mode conversion waveguide width W and the tapered waveguide width W as parameters.
  • FIG. 18 is a graph showing a light intensity distribution and a whole AWG band characteristic at a coupling portion between an input side connection waveguide and an output side connection waveguide and a coupler waveguide according to another embodiment of the present invention.
  • FIG. 19A is a plan view showing an example of a mode conversion waveguide according to another embodiment of the present invention.
  • FIG. 19B is a plan view showing another example of the mode conversion waveguide according to another embodiment of the present invention.
  • FIG. 19C is a plan view showing another example of the mode conversion waveguide according to another embodiment of the present invention.
  • FIG. 20 is a graph showing band characteristics of Example 1 of the present invention.
  • FIG. 6 is a plan view showing an embodiment of the optical multiplexer / demultiplexer of the present invention.
  • the optical multiplexer / demultiplexer according to the present embodiment transmits light having wavelengths of 1, ⁇ 2,.
  • the input-side coupler waveguide 105 has a coupler waveguide length ⁇ .
  • the input-side connection waveguide 103 is composed of a mode conversion waveguide 108 provided for each input optical waveguide 101 as shown in an enlarged view in FIG.
  • the mode conversion waveguides 108 are arranged at an interval ⁇ , and have a width W on the input coupler waveguide 105 side.
  • the output side connection portion waveguide 104 includes a tapered waveguide 109 provided for each output optical waveguide 102. Tapered waveguide 109 is spaced! ⁇ And have a width W on the output coupler waveguide 106 side.
  • FIGS. 7 and 8 are diagrams showing the mode conversion waveguide 108 and the tapered waveguide 109 in further enlarged scale, respectively.
  • the mode conversion waveguide 108 includes a mode mixing section 110 where mixing of the 0th-order mode light and the primary mode light is performed, and a mode interference section where interference between the mixed modes is performed. 111.
  • the length ⁇ and the shape of the mode mixing section 110 are selected so that the mixing ratio between the 0th-order mode light and the 1st-order mode light is appropriately adjusted.
  • the length L of the mode conversion waveguide 108 is set at a position where the light intensity becomes minimum due to interference.
  • the tapered waveguide 109 has a gentle taper as shown in FIG. 8, and its width W is smaller than the mode conversion waveguide width W. Mode conversion is not performed in the tapered waveguide 109 because the tapered waveguide 109 has a tapered shape with a gentle inclination.
  • a tapered waveguide may be arranged on the input side, and a mode conversion waveguide may be arranged on the output side.
  • mode conversion waveguides may be arranged on both the input side and the output side.
  • the optical multiplexer / demultiplexer according to the present embodiment shown in FIG. 6 is made of an AWG formed on a silicon substrate.
  • FIG. 9 is a partial sectional view showing a sectional state of the mode conversion waveguide. Silicon base An SiO film 2 is formed on a plate 1, and a core layer constituting an optical waveguide is formed on the SiO film 2.
  • the core layer 3 is made of SiON. Core layer 3 formed on SiO film 2
  • SiO film 2 core
  • the two layers 3 and the cladding layer 4 can be manufactured by using, for example, a flame deposition method or a CVD method.
  • setting the relative refractive index difference ⁇ to 1.5% or more is referred to as noise ⁇ conversion.
  • a waveguide having a relative refractive index difference ⁇ of 1.5% or more is referred to as a ⁇ waveguide.
  • This AWG is configured with 40 channels and a demultiplexing interval of 0.8 nm (100 GHz, 1.55 m).
  • the bending radius of the waveguide can be reduced. Specifically, when the relative refractive index difference ⁇ is 0.5%, the bending radius of the waveguide is about 8 mm, whereas when the relative refractive index difference ⁇ is 1.5%, the bending radius of the waveguide is Is about 2mm.
  • the bending radius of the waveguide can be reduced, so that the chip size can be reduced from 1/5 to 1/10.
  • mode conversion waveguide 108 is formed of mode mixing section 110 and mode interference section 111 having a sharp change in shape, even if high ⁇ waveguide is adopted, the width W of the mode conversion waveguide is reduced.
  • Lightwave Circuit increases the ratio of light confined to the optical waveguide by increasing the ⁇ , so the waveguide pitch (“" ”and“ ⁇ '”in Fig. 6) is reduced to reduce the AWG size. Can be achieved.
  • the waveguide pitch also determines the relative refractive index difference ⁇ force, and if they are too close to each other, light leaks to the adjacent waveguide, resulting in poor crosstalk (isolation) characteristics of light. .
  • the isolation between adjacent channels is required to be 30dB or more, so setting the waveguide pitch is important.
  • the waveguide interval P of the mode conversion waveguide 108 is proportional to the length ⁇ of the coupler waveguide 105, the length of the coupler can be shortened by high ⁇ ⁇ , and the size of the AWG can be reduced. . By reducing the size of the AWG, the device yield can be increased from 20 to 30 in the case of an 8-inch wafer.
  • the light intensity distribution at the final end of the mode conversion waveguide 108 (coupling portion of the mode conversion waveguide 108 with the coupler waveguide 105) is adjusted to the center of the distribution. It is necessary to have a concave shape (see the shape in the upper center of the light intensity distribution in Fig. 10).
  • the mode conversion waveguide 108 has a sufficiently wide width so that the light intensity distribution at the output portion of the mode conversion waveguide has a concave shape at the center. It is composed of two regions, ie, a mode mixing unit 110 for performing mode conversion up to the width 111. As a result, band flattening is realized in a compact AWG.
  • the width W of the tapered waveguide on the output side is set to 8. O / zm, and the width W of the mode conversion waveguide on the input side is 12. O ⁇ m ,
  • the interval P is 15.O ⁇ m, and the mode conversion waveguide length L is set to 110 m at the lowest point of the light intensity.
  • Figure 10 shows the calculation results of the light intensity distribution and AWG band characteristics. In addition to selecting the mode mixing length appropriately, the mode conversion waveguide length L is set long so that the bottom of the interference appears multiple times, and the other conditions are the same as above.
  • Fig. 11 shows the results of analyzing the light intensity distribution at with the ⁇ analysis method (Beam Propagation Method).
  • the upper part shows the light intensity distribution at the coupling portion with the coupler waveguide
  • the lower part shows the entire band characteristic.
  • the light intensity distribution on the left and the light intensity distribution at the center in the upper part of Fig. 10 are for the mode mixing length X force of 20 ⁇ m and 45 ⁇ m, respectively.
  • the light intensity distribution has two peaks, but the height of each peak (the depth of the valley) is different. This indicates that the mixing ratio of the 0th-order mode and the 1st-order mode changes depending on the mode mixing length ⁇ .
  • the valley of the light intensity distribution deepens.
  • the curve in the figure indicates an iso-intensity line
  • the Rikoji portion indicates a region with low light intensity.
  • the propagating light that has been concentrated in the central portion of the waveguide is diffracted and spread when entering the mode mixing unit 110, and at the same time, the first-order mode light is mixed with the zero-order mode light.
  • the light propagates through the mode interference section 111 and the bottom of the light intensity (portion of the ⁇ - ⁇ line, the portion of the C-C line) and the top (portion of the ⁇ -) line) appear alternately due to the interference between the modes.
  • the point where the light intensity takes a minimum value is determined as the final end of the mode conversion waveguide. Therefore, the position of the ⁇ - ⁇ line or the C-C line becomes a coupling portion with the coupler waveguide.
  • the reason why the mode change waveguide length L is set at the position where the light intensity has the minimum value is V, because the differential value of the change in the traveling direction of the light intensity distribution at the portion where the light intensity shows the minimum value. Is zero, so that even if the refractive index, waveguide width, or waveguide length fluctuates during manufacturing, the change in the light intensity distribution is reduced, and good manufacturing tolerance is obtained.
  • the length L of the mode conversion waveguide is determined by the width W of the waveguide and the refractive index of the waveguide material, and is given by the following equation.
  • the shape of the mode interference unit 111 does not necessarily have to be a straight shape.For example, as shown in FIGS. 12A and 12B Such a waveform or a chevron shape may be used.
  • the waveguide length L at which the coupling portion with the input-side coupler waveguide forms a valley of interference is defined as follows when the 0th-order and 1st-order mode light is used in the mode conversion region.
  • is a number indicating the order of the base of interference that appears periodically, and is 0 or a natural number.
  • is assumed that the propagation constant of all the mode conversion waveguides including the mode mixing section is constant.
  • the above two equations are the following two equations, where the number of modes is N.
  • Equation 4 In the case of the mode conversion waveguide shown in Fig. 7, since the mode conversion waveguide length L hardly changes even if the mode mixing length is changed, the mode conversion waveguide was determined based on the following equation (1).
  • the band characteristics of an AWG with a mode conversion waveguide are evaluated.
  • the characteristics of the AWG are evaluated based on the IdB bandwidth, 3dB bandwidth, and isolation with adjacent channels shown in Fig.13.
  • the ldB (3dB) bandwidth drops from the light intensity at the center of the band to IdB (3dB).
  • isolation is the intensity crosstalk from adjacent channels.
  • the relative refractive index difference ⁇ of the waveguide is 1.5%
  • the input and output waveguide spacings ⁇ and ⁇ are each 15 m
  • the selectable parameters are the input waveguide width W and the output waveguide width.
  • the mode conversion waveguide length L is determined as W, the mode mixing section length ⁇ .
  • the length at which the band characteristics become flat is uniquely determined if the widths of both waveguides are determined.
  • the parameters determine the shape of the mode conversion waveguide.
  • the maximum value of the waveguide widths W and W ' is 14 ⁇ m.
  • FIG. 14 is a graph created by plotting the ldB bandwidth when the input-side waveguide width W and the output-side waveguide width W are changed, and connecting the same bandwidth. Since the channel spacing in this case is 0.8 nm, an ldB bandwidth of 0.4 nm means that 50% of the channel bandwidth has ldB flatness. Here, when the flatness of 50% is targeted, good characteristics can be obtained in the lower right part of FIG.
  • Figure 15 is a graph plotting the 3dB bandwidth and connecting the same bandwidth. In this case, if the target bandwidth is set to 75%, the bandwidth becomes 0.6 nm, so the right side of the graph satisfies the condition.
  • FIG. 14 is a graph created by plotting the ldB bandwidth when the input-side waveguide width W and the output-side waveguide width W are changed, and connecting the same bandwidth. Since the channel spacing in this case is 0.8 nm, an ldB bandwidth of 0.4 nm means that 50% of the channel bandwidth has ldB flat
  • FIG. 16 is a graph created by plotting excess losses (losses for obtaining flattening characteristics) and connecting the same loss points. From FIG. 16, it can be seen that the excess loss increases toward the lower right.
  • FIG. 17 is a graph created by plotting isolation with adjacent channels and connecting the same isolation points. In Fig. 17, the area indicated by Rishiji has three areas where 50% of the ldB band, 75% of the 3dB band, and 30dB of isolation characteristics can be taken into account, and this area must be selected. Thus, an AWG having a flattened band and excellent isolation characteristics can be realized.
  • FIG. 18 shows a mode conversion waveguide in which the 0th-order mode and the second-order mode are mixed in the input-side connection waveguide, and a taper in which the output-side connection waveguide does not undergo mode conversion.
  • 6 is a graph showing the light intensity distribution at the coupling portion of each waveguide with the coupler waveguide and the overall band characteristics in the case of waveguides.
  • FIGS. 19A to 19C show examples of a mode conversion waveguide that can mix 0th-order mode light and 2nd-order mode light.
  • the center line of the input optical waveguide 101 in the light propagation direction is shifted from the center line force of the mode conversion waveguide 108 in the light propagation direction.
  • the light propagation direction of the input optical waveguide 101 is inclined with respect to the light propagation direction of the mode conversion waveguide. Further, in the example shown in FIG.
  • the light propagation direction of the input optical waveguide 101 is inclined with respect to the light propagation direction of the mode conversion waveguide 108, and the center line of the input optical waveguide 101 is also reduced in the center line force of the mode conversion waveguide 108. It is out of alignment.
  • a 3 ⁇ m-thick SiO film was formed on a silicon substrate by thermal oxidation, and a CVD
  • the input and output optical waveguide width is 4 m.
  • the core layer was formed such that the mode mixing section length ⁇ was 45 nm, the mode conversion waveguide length L was 120 m, the width W was 13 / ⁇ , and the interval 15 was 15 m.
  • the output side tapered waveguide has a waveguide length of 120 m, a width W force of ⁇ / z m, and a spacing! The force was 15 m, the coupler length was 2 mm, and the minimum radius of curvature in the waveguide array was 2 mm. After the formation of these waveguides, a 4 m-thick SiO film as a cladding layer is deposited thereon.
  • FIG. 20 shows the characteristics for one channel. From FIG. 20, it can be seen that a 3 dB bandwidth of 0.6 nm or more and adjacent isolation of 30 dB have been achieved.

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Abstract

 波長変動や製造プロセス変動に対するトレランスを高め、ハイΔ化しても大型化することのないようにするとともに、平坦化帯域の高帯域化を図る。  入力光導波路101と、出力光導波路102と、導波路アレイ107と、入力側カプラー導波路105と、出力側カプラー導波路106と、入力側接続部導波路103と、出力側接続部導波路104とを有するAWGにおいて、入力側接続部導波路103は、0次モード光と1次モード光とを混合させるモード混合部とモード間の干渉を行わせるモード干渉部とを有するモード変換導波路108によって構成し、出力側接続部導波路104は、テーパ導波路109によって構成する。

Description

明 細 書
光合分波器
技術分野
[0001] 本発明は、波長多重(WDM : Wavelength Division Multiplex)伝送システムにおい て、所望のチャネルだけを取り出すことができる光波長合分波器に関し、特にアレイ 導波路型回折格子 (AWG : Arrayed Waveguide Grating)型の光合分波器に関するも のである。
背景技術
[0002] 近年の通信需要の拡大に伴!、、大容量、長距離伝送に適した DWDM (Dense
Wavelength Division Multiplex)を用いた光通信システムが広く使われるようになって きた。 DWDMシステムのキーコンポーネントとして、 AWG素子のような導波路型光 機能素子の需要が増している。 AWGは、入力側力も出力側に向力つて、入力導波 路、入力側カプラー導波路、導波路アレイ、出力側カプラー導波路、出力導波路を 順に接続して構成される光機能素子である。 AWGは、チャネル数に依らず、同一プ 口セス、同一工程数で作製することができ、また原理的に損失増加などの特性劣化も ないので、多チャネルィ匕において、波長多重伝送のキーデバイスとして使われている
[0003] 図 1は、 AWGの帯域特性を示す特性図であって、縦軸は光強度、横軸は波長を 示す。通常、 AWGの帯域特性は、図 1に示すようなガウシアン形状になっている。そ のため、光源の波長が変動すると、光源からの光の波長が AWGの帯域力もずれて 伝送損失が増大する問題が発生する。
[0004] また、帯域特性がガウシアン形状の AWGを何段もカスケード接続した場合、全体 の帯域特性は、各 AWGの帯域特性が重なり合わされたものとなり、帯域特性が狭窄 化してしまう。例えば、図 2に示すように AWGを 2段にカスケード接続した場合は、全 体の帯域特性は、 1段目の AWGの帯域特性と 2段目の AWGの帯域特性とが重なり 合わされたものとなる。このようなカスケード接続による帯域特性の狭窄ィ匕は、良好な 伝送帯域の維持を困難にする。 [0005] そこで、 AWGの平坦な帯域特性を実現して、カスケードに AWGを接続した場合で も、最終的に平坦なままの広帯域な伝送特性が維持できるようにする手法が試みら れている(特開 2002— 311264号公報(図 34および図 35、第 4段落〜第 9段落)参 照)。図 3に、平坦な帯域特性を有する AWGを 2段にカスケード接続した場合の帯域 特性を示す。この場合、全体の帯域特性は、 1段目の AWGの帯域特性と 2段目の A WGの帯域特性とが重なり合わされたものとなるが、各 AWGは、平坦な帯域特性を 有するので、重なり合わされた帯域特性も平坦な特性のものとなる。
[0006] 上記のような平坦な帯域特性を有する AWGを実現できれば、伝送路の中継器で の分波と合波ができるようになるため、図 4に示すような OADM(Optical Add Drop Multiplexing)などの用途が開けてくる。図 4に示す OADMは、複数の入力光を合波 する第 1の AWGと、この第 1の AWGの出力光を分波する第 2の AWGと、この第 2の AWGの出力光の一部と外部力 の供給光(「add」として示した矢印)とを合波する第 3の AWGと、この第 3の AWGの出力光を複数の出力光に分波する第 4の AWGとか らなる。第 2の AWGの残りの出力光は「drop」光として外部に供給される。
[0007] また、 AWGを形成する材料として石英を用いた光素子の場合、約 0.01nm/°Cの温 度係数を持つ。このような光素子においては、素子の温度を一定に保って、透過波 長を固定する方式がとられている。その代表的なものに、ヒータなどを用いて素子の 温度を制御することで、素子の中心波長を制御する方式がある。しかし、この方式で は、ヒータなどを駆動するための電力供給が必要であり、し力も高精度かつ動的に温 度制御を行う技術が必要になる。 AWGの帯域特性が平坦である場合、素子の中心 波長が温度によって多少ずれても、それが伝送特性に影響しないようにすることがで きる。このため、平坦な帯域特性を有する AWGにおいては、波長制御機構が不要と なる、または波長制御機構を簡略ィ匕することができるので、通信システムの低コストィ匕 および低消費電力化が可能である。
[0008] 図 5Aおよび図 5Bは、 AWGの帯域特性を平坦ィ匕するために従来より採用されてい る入力導波路のカプラー導波路への接続部の構成を示す概略図である。図 5Aおよ び図 5Bに示す接続部はいずれも、伝播光のモード変換の行われる領域である。図 5 Aに示す例では、入力導波路 11は、ノラボリック導波路 12を介してカプラー導波路 に接続される。図 5Bに示す従来例は、 MMI (Multi-mode Interference)方式と呼ば れるものであって、この例では、入力導波路 21は矩形導波路 22を介してカプラー導 波路に接続される。
[0009] 而して、上述したような導波路素子において、低コストィ匕ゃ高機能化を図るために、 素子サイズの小型化が重要である。素子サイズの小型化には、導波路のコア (屈折 率 nl)とクラッド (屈折率 n2)の比屈折率差 Δ ( =nl— n2)を大きくする手法が有効 である。この手法を採用して、素子の開発が幅広く進められている。比屈折率差 Δを 大きくすると、導波路への光の閉じ込めを強くできるため、曲り導波路の最小曲げ半 径など、各導波路の要素を小さくでき、素子サイズを小型化することができる。特に、 光の閉じ込めの効果を利用して、図 5Aおよび図 5Bに示した接続部導波路 (パラボリ ック導波路 12、矩形導波路 22)の幅 Wおよび間隔 (ピッチ)を狭くすることができる。 一般に、比屈折率差 Δが 0. 5%の場合、カプラー導波路との接続部での入出力導 波路間隔は、 30 m程度必要となるが、比屈折率差 Δが 1. 5%の場合は、入出力 導波路間隔を 10 m程度にまで縮小することができる。 AWGのような回折格子を原 理としたデバイスでは、同一の特性のとき、入出力導波路間隔とカプラー導波路長は 比例関係にあるため、入出力導波路間隔を 1/3にすることができれば、カプラー長も 1/3にすることができる。したがって、入力導波路間隔 (および出力導波路間隔)を小 さくすることは、素子サイズの縮小と 、う観点から極めて重要である。
発明の開示
[0010] ところが、従来、 AWGの帯域特性の平坦ィ匕に用いられてきた、緩慢な変化のパラ ボリックテーパの導波路を用いる方法では、テーパ化構造の導波路の終端での光強 度分布を平坦ィ匕に最適な光強度分布に変化させる必要があるが、そのような変化を 小型の AWGの小さな領域において行うことは難しい。これは、ノラボリック導波路 12 の導波路幅 Wが小さくなるためにモード変換に必要とされる十分な空間周波数を確 保できないためである。このため、パラボリックテーパの導波路を用いる場合は、導波 路幅 Wを従来の AWGと同じ程度の幅とする必要があり、その結果、素子サイズが大 型化してしまう。一方、極めて急峻な変換構造を用いてモード変換を行う MMI方式 では、極めて微妙な光変化を利用するため、製造時に特性がばらついてしまい、歩 留まりよく帯域特性の平坦ィ匕を実現することができない。このようなことから、安定した 製作が可能で、小型化と帯域の平坦ィ匕を両立することのできる、 AWGの設計手法が 求められている。
[0011] また、従来の AWGの帯域特性の平坦化の手法は、基本的に 1次モードと 0次モー ドの結合を利用しているため、 ldB帯域幅において、チャネル帯域のうち 50%程度ま でしか平坦ィ匕することができなかった。この問題は、従来のどの AWGの平坦化の手 法においても同様に生じる。
[0012] また、最近、 CWDM(Coarse Wavelength Division Multiplex)用の AWGの開発が 進められている力 この CWDM用の波長フィルタの平坦帯域として 65%程度が要求 されており、従来の AWGではそのような平坦帯域の実現は困難であった。
[0013] 本発明は、上述した従来技術の問題点を解決することを課題とする。
[0014] 本発明の第 1の目的は、波長変動やプロセス変動に対するトレランス特性を改善し た帯域平坦化 AWGを提供することである。
[0015] 本発明の第 2の目的は、ハイ Δ化によって帯域平坦化 AWGが大型化してしまうこと のな ヽようにして、平坦化特性を有するハイ Δ化小型 AWGを実現できるようにするこ とである。
[0016] 本発明の第 3の目的は、 CWDMにも対応できるように、平坦帯域がチャネル帯域 の 50%を超える AWGを提供することである。
[0017] 上記の目的を達成するため、本発明によれば、第 1および第 2カプラー導波路と、 一端が入力導波路に接続され、他端が前記第 1カプラー導波路の光入力端面に接 続された一またはそれ以上の入力側接続部導波路と、一端が出力導波路に接続さ れ、他端が前記第 2カプラー導波路の光出力端面に接続された一またはそれ以上の 出力側接続部導波路と、前記第 1および第 2カプラー導波路間に配列された導波路 であって、互いに長さの異なる複数のチャネル導波路と、を備え、前記入力側接続部 導波路と出力側接続部導波路とのうち少なくとも一方は、モード変換および干渉が生 起されカプラー導波路との接続部での光強度が極小値ないしその近辺の値となるよ うにその長さが設定されているモード変換導波路により構成されていることを特徴とす る光合分波器、が提供される。 [0018] そして、好ましくは、前記モード変換導波路がモード混合領域とモード干渉領域に よって構成される。また、好ましくは、前記入力または出力導波路の光伝搬方向の中 心と前記モード変換導波路の光伝搬方向の中心とがずれている。また、好ましくは、 前記入力または出力導波路の光伝搬方向が、前記モード変換導波路の光伝搬方向 に対して傾いている。
[0019] 本発明の光合分波器は、導波路アレイと接続される入力側/出力側それぞれの力 ブラー導波路に入 ·出力導波路より幅広の接続部導波路を接続したものであって、 入力側/出力側の少なくとも一方の接続部導波路は、モード間の混合および干渉の 行われるモード変換導波路により構成されており、そのモード変換導波路の長さが伝 搬モード間の干渉が丁度安定する長さになって!/、ることを特徴とする。光の波動が安 定している領域を用いることによって、製造トレランスの高い、波長変動に強い AWG を実現できる。また、従来より長さの短いモード混合部において、急峻な導波路構造 変化を利用して急激な波面変動を発生させてモード混合を行っているために、ハイ Δによる小型化したサイズを維持したままで帯域特性の平坦ィ匕を実現できる。また、 本発明の構造により、高次のモードを組み合わせての帯域平坦化 AWGを実現する ことが可能となり、従来の平坦化 AWGの平坦帯域が 50%程度を上限としていたの に対し、より広帯域の平坦化 AWGを実現できる。
図面の簡単な説明
[0020] [図 1]ガウス型の帯域特性を有する AWGの特性を示すグラフ。
[図 2]ガウス型帯域特性 AWGをカスケードに接続して得られる帯域特性を示すグラフ
[図 3]平坦ィ匕帯域特性 AWGをカスケードに接続して得られる帯域特性を示すグラフ
[図 4]平坦化帯域特性 AWGの応用例を示すブロック図。
[図 5A]従来の入力側接続部導波路の一例を示す平面図。
[図 5B]従来の入力側接続部導波路の他の例を示す平面図。
[図 6]本発明の一実施の形態を示す平面図。
[図 7]図 6の入力側接続部導波路の部分の拡大図。 [図 8]図 6の出力側接続部導波路の部分の拡大図。
[図 9]本発明の一実施の形態の部分断面図。
[図 10]モード変換導波路のモード混合部長 λを変化させたときのカプラー導波路と の結合部での光強度分布を示すグラフと全体の帯域特性を示すグラフ。
[図 11]モード変換導波路での光強度分布を示す図。
[図 12A]本発明の一実施の形態のモード変換導波路のモード干渉部の変更例を示 す平面図。
[図 12B]本発明の一実施の形態のモード変換導波路のモード干渉部の他の変更例 を示す平面図。
[図 13]AWGの帯域特性図における IdB帯域幅、 3dB帯域幅およびチャネル間ァイソ レーシヨンを説明する図。
[図 14]モード変換導波路幅 Wとテーパ導波路幅 W をパラメータとする、実施の形 態の AWGの IdB帯域幅を示すグラフ。
[図 15]モード変換導波路幅 Wとテーパ導波路幅 W をパラメータとする、実施の形 態の AWGの 3dB帯域幅を示すグラフ。
[図 16]モード変換導波路幅 Wとテーパ導波路幅 W をパラメータとする、実施の形 態の AWGの過剰損失を示すグラフ。
[図 17]モード変換導波路幅 Wとテーパ導波路幅 W をパラメータとする、実施の形 態の AWGのチャネル間アイソレーションを示すグラフ。
[図 18]本発明の他の実施の形態での入力側接続部導波路と出力側接続部導波路 のカプラー導波路との結合部での光強度分布と全体の AWG帯域特性を示すグラフ
[図 19A]本発明の他の実施の形態のモード変換導波路の一例を示す平面図。
[図 19B]本発明の他の実施の形態のモード変換導波路の他の例を示す平面図。
[図 19C]本発明の他の実施の形態のモード変換導波路の他の例を示す平面図。
[図 20]本発明の実施例 1の帯域特性を示すグラフ。
符号の説明
1 シリコン基板 2 SiO膜
2
3 コア層
4 クラッド、層
11、 21 入力導波路
12 ノラボリック導波路
22 矩形導波路
101 入力光導波路
102 出力光導波路
103 入力側接続部導波路
104 出力側接続部導波路
105 入力側カプラー導波路
106 出力側カプラー導波路
107 導波路アレイ
108 モード変換導波路
109 テーパ導波路
110 モード混合部
111 モード干渉部
L モード変換導波路長
P モード変換導波路間隔
W モード変換導波路幅
Ρ' テーパ導波路間隔
テーパ導波路幅
X モード混合部長
Λ カプラー導波路長
発明を実施するための最良の形態
[0022] 次に、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
[0023] 図 6は、本発明の光合分波器の一実施の形態を示す平面図である。図 6に示すよう に、本実施の形態の光合分波器は、それぞれ波長え 1、 λ 2、 · · ·、 λ 40の光が伝播 する入力光導波路 101と、同様に波長え 1、ぇ2、 · ··、 λ 40の光が伝播する出力光 導波路 102と、それぞれ長さおよび曲率の異なる複数の導波路力 なる導波路ァレ ィ 107と、導波路アレイ 107の入力側に接続された入力側カプラー導波路 105と、導 波路アレイ 107の出力側に接続された出力側カプラー導波路 106と、入力光導波路 101と入力側カプラー導波路 105との間に接続された入力側接続部導波路 103と、 出力光導波路 102と出力側カプラー導波路 106との間に接続された出力側接続部 導波路 104とを有している。ここで、入力側カプラー導波路 105は、カプラー導波路 長 Λを有している。
[0024] 入力側接続部導波路 103は、図 6中の拡大図に示されるように、入力光導波路 10 1ごとに設けられたモード変換導波路 108からなる。モード変換導波路 108は、間隔 Ρで配列されており、入力側カプラー導波路 105側で幅 Wを有する。
[0025] 出力側接続部導波路 104は、図 6中の拡大図に示されるように、出力光導波路 10 2ごとに設けられたテーパ導波路 109からなる。テーパ導波路 109は、間隔! ^ で配 列されており、出力側カプラー導波路 106側で幅 W を有する。
[0026] 図 7、図 8は、それぞれモード変換導波路 108とテーパ導波路 109を更に拡大して 示した図である。図 7に示されるように、モード変換導波路 108は、 0次モード光と 1次 モード光との混合が行われるモード混合部 110と、その混合されたモード間の干渉が 行われるモード干渉部 111とを有している。モード混合部 110の長さ λとその形状は 、 0次モード光と 1次モード光との混合比が適切に調整されるように選定されている。 モード変換導波路 108の長さ Lは、干渉により光強度が最低となる位置に設定されて いる。テーパ導波路 109は、図 8に示されるように、緩やかな傾斜のテーパを有して おり、その幅 W はモード変換導波路幅 Wより狭い。テーパ導波路 109においては 、緩やかな傾斜のテーパ形状であるため、モード変換は行われない。
[0027] 本実施の形態の光合分波器の構造において、入力側にテーパ導波路を、出力側 にモード変換導波路を配置するようにしてもよい。あるいは、入力側および出力側の 双方にモード変換導波路を配置するようにしてもよ 、。
[0028] 図 6に示される本実施の形態の光合分波器は、シリコン基板上に形成された AWG よりなる。図 9は、モード変換導波路の断面状態を示す部分断面図である。シリコン基 板 1上に SiO膜 2が形成されており、この SiO膜 2上に、光導波路を構成するコア層
2 2
3が形成されている。コア層 3は、 SiONによりなる。 SiO膜 2上に形成されたコア層 3
2
は、 SiOによりなるクラッド層 4により被覆されている。材料選択により、比屈折率差 Δ
2
の高い(比屈折率差 Δ力 l.5%以上) AWGを実現することができる。 SiO膜 2、コア
2 層 3およびクラッド層 4は、例えば火炎堆積法や CVD法を用いて作製することができ る。ここでは、比屈折率差 Δを 1.5%以上にすることをノヽィ Δ化と呼ぶ。また、比屈折 率差 Δが 1.5%以上のものをノ、ィ Δ導波路と呼ぶ。
[0029] この AWGは、チャネル数を 40、分波間隔を 0. 8nm(100GHz、 1. 55 m)として 構成されている。コア層 3とクラッド層 4の比屈折率差 Δが 1. 5%となるように AWGを 構成すると、導波路の曲げ半径を小さくすることができる。具体的には、比屈折率差 Δが 0.5%の場合、導波路の曲げ半径が 8mm程度となるのに対して、比屈折率差 Δ が 1. 5%の場合は、導波路の曲げ半径は 2mm程度になる。このようにハイ Δ導波路 によれば、導波路の曲げ半径を小さくすることができるため、チップサイズを 1/5から 1/10に縮小することができる。
[0030] また、モード変換導波路 108を、形状変化の急激なモード混合部 110とモード干渉 部 111とにより構成したことにより、ハイ Δ導波路を採用しても、モード変換導波路の 幅 Wを例えば 14 mといった、従来の半分またはそれ以下の幅とすることができる。
[0031] ノ、ィ Δ導波路による小型化の効果は、もう一つある。一般に、 PLC (Planer
Lightwave Circuit)のハイ Δ化を行うと、光導波路へ光が閉じ込められる割合が大き くなるため、導波路ピッチ (図 6における" Ρ"、 "Ρ' ")を縮小して AWGのサイズの小型 化を図ることができる。導波路ピッチは、比屈折率差 Δ力も決定しており、近接させす ぎたときには、隣の導波路へ光が漏れてしまい、その結果、光のクロストーク (アイソレ ーシヨン)特性が悪化してしまう。一般に、隣接チャネルとのアイソレーションは 30dB 以上必要とされているため、導波路ピッチの設定は重要である。モード変換導波路 1 08の導波路間隔 Pは、カプラー導波路 105の長さ Λと比例関係にあるので、ハイ Δ ィ匕によりカプラー長の短縮、延いては AWGのサイズ小型化が可能である。この AW Gのサイズ小型化により、 8インチウヱハーの場合であれば、素子の収量を 20個から 30個に拡大することができる。 [0032] AWGの平坦な帯域特性を実現するためには、モード変換導波路 108の最終端( モード変換導波路 108のカプラー導波路 105との結合部)での光強度分布が、分布 の中心部分で凹んだ形状(図 10の光強度分布の中央上部の形状参照)になって!/、 る必要ある。これは、 AWGの帯域特性力 モード変換導波路 108と入力側カプラー 導波路 105の間の結合部分での光強度分布と、テーパ導波路 109と出力側力ブラ 一導波路 106の間の結合部分での光強度分布との畳み込み積分によって決定され るために、出力側が例えば図 8に示されるような通常のストレートテーパ導波路であ れば、出力側のカプラー導波路との接続部での光強度分布がガウス型となるからで ある。本実施の形態においては、モード変換導波路の出力部での光強度分布が、中 心部が凹んだ形状になるように、モード変換導波路 108を、幅を充分に拡大したモー ド干渉部 111とその幅までモード変換を行うモード混合部 110の二つの領域により構 成している。これにより、コンパクトなサイズの AWGにおいて、帯域の平坦化が実現 される。
[0033] 比屈折率差 Δを 1. 9%と仮定し、出力側のテーパ導波路の幅 W を 8. O /z mとし 、入力側のモード変換導波路の幅 Wを 12. O ^ m,間隔 Pを 15. O ^ m,モード変換 導波路長 Lを光強度の最低点の 110 mに設定した AWGにおける、モード混合長 λを変化させた場合の入力側カプラーとの結合部での光強度分布と AWG帯域特性 との計算結果を図 10に示す。また、モード混合長えを適切に選定すると共に、モー ド変換導波路長 Lを干渉の底が複数回現れるように長く設定し、他の条件を上記と同 じにした場合のモード変換導波路での光強度分布を ΒΡΜ解析法 (Beam Propagation Method)で解析した結果を図 11に示す。
[0034] 図 10において、上段にはカプラー導波路との結合部での光強度分布が、下段には 全体の帯域特性が示されている。図 10の上段の左の光強度分布、中央の光強度分 布はそれぞれモード混合長 X力 20 μ mの場合、 45 μ mの場合のものである。 20 μ mの場合、 45 /z mの場合のいずれも、光強度分布は、二つの山がたった形となって いるが、それぞれの山の高さ(谷の深さ)が異なっている。このことから、モード混合長 λによって、 0次モードと 1次モードの混合比率が変化することがわかる。図 10の下 段に示されるように、モード混合長 λが 20 mの場合には、光強度分布の谷が深す ぎることを反映して、 AGW帯域特性の中央部に凹みができる。モード混合長えが 45 mの場合には、平坦な特性が得られているので、モード混合が適切に行われたこ とが分かる。一方、図 10の右側に示されるように、モード混合長が 100 /z mの場合に は、光強度分布は 1山にしかならないので、帯域特性はガウス型となる。すなわち、モ ード混合長 λが長い場合には 2山の立つ光強度分布を得るのに必要なモードの混 合が行われないことが分かる。なお、以上は、出力側にテーパ導波路を配置した場 合を示したものであつたが、入力側の接続部導波路を本発明により提案されたモード 変換導波路として出力側をストレートテーパ構造としても同様な効果を得る事ができ る。
[0035] 図 11において、図中の曲線は等強度線を示し、梨子地部分は光強度の低い領域 を示している。入力光導波路 101において、導波路中央部に集中していた伝播光は 、モード混合部 110に入射すると回折して広がる同時に、 0次モード光に 1次モード 光が混合される。次いで、モード干渉部 111を伝播しモード間の干渉により光強度の 底 (Α—Α線、 C— C線の部分)と頂上 (Β— Β線の部分)とが交互に現れる。本発明は 、光強度が極小値をとるところをモード変換導波路の最終端と定めるものであるので 、Α— Α線ないし C— C線の位置がカプラー導波路との結合部となる。
[0036] 本発明において、モード変化導波路長 Lを光強度が最低値となる位置に設定して V、る理由は、光強度が最低値を示す部分で光強度分布の進行方向変化微分値が 0 になるので、製造時に屈折率、導波路幅や導波路長に変動が起きても光強度分布 に与える変化は少なくなり、良好な製造トレランスが得られるからである。モード変換 導波路の長さ Lは、導波路の幅 Wと導波路材料の屈折率より決まるものであり、後述 の式により与えられる。ここで、モード干渉部 111に求められる機能は、モード間の干 渉が生起されることであるので、モード干渉部 111の形状は必ずしもストレート形状で ある必要はなぐ例えば図 12Aおよび図 12Bに示すような波形ないし山形の形状で あってもよい。
[0037] 入力側カプラー導波路との結合部が干渉の谷となる導波路長 Lは、モード変換領 域で 0次および 1次モード光を使用する場合は、
[0038] [数 1]
Figure imgf000014_0001
により決められる。ここで、 β は 0次モードの伝搬定数、 β は 1次モードの伝搬定数
0 1
である。また、 ηは周期的に表れる干渉の底の順番を示す数で、 0または自然数であ る。なお、この式では、モード混合部を含む全モード変換導波路の伝搬定数が一定 であると仮定して 、る。モード混合部の伝搬定数をモード干渉部のそれと区別した方 力 いと考えられる場合、あるいはモード干渉部が図 12Aおよび図 12Bに示されるよ うな一定幅を有する導波路でな 、場合には、導波路 Lは、
[0039] [数 2] + )= ) Α ( の関係を満たすものとなる。なお、図 11の A— A線、 C— C線はそれぞれ数 1または 数 2において n=0、 n= lとなる位置を示している。
[0040] また、 0次モード光とより高次モード光とを混合させる場合には、上記の 2式はモー ド数を Nとして下記の 2式となる。
[0041] [数 3]
L T = I f \ \ 2π
« +—
+1〖 2j fi0 -
[0042] [数 4]
Figure imgf000014_0002
なお、図 7に示すモード変換導波路の場合、実際にはモード混合長えを変化させ てもモード変換導波路長 Lはほとんど変化しないので、以下のような、数 1に基づいて 決定されたモード変換導波路をもつ AWGの帯域特性にっ ヽての評価を行う。 AWG の特性は、図 13に示す IdB帯域幅、 3dB帯域幅、隣接チャネルとのアイソレーション により評価する。 ldB (3dB)帯域幅は、帯域中心での光強度から IdB (3dB)に落ち るまでの帯域幅であり、アイソレーションは、隣接チャネルからの強度クロストークであ る。ここで、導波路の比屈折率差 Δを 1. 5%、入'出力導波路間隔 Ρ、 Ρ' をそれぞ れ 15 mとし、選択できるパラメータを入力側導波路幅 W、出力導波路幅 W 、モ ード混合部長 λの 3つとしてモード変換導波路長 Lを決定する。しかし、 3つのパラメ ータのうちモード混合部長えに関しては、帯域特性が平坦になる長さは両導波路幅 が決まれば一意に決定されるので、実際には、両導波路幅の二つのパラメータにより モード変換導波路の形状が決定される。なお、導波路間隔 Ρ、 Ρ' を 15 mとしてお り、隣接導波路との間には安定して作製可能なプロセス精度により決まる 1 m程度 のギャップを設ける必要があるので、入'出力導波路幅 W、 W' の最大値は 14 μ mと なる。
[0043] 図 14は、入力側導波路幅 Wと出力側導波路幅 W を変化させたときの ldB帯域 幅をプロットし、同一帯域幅を連結して作成したグラフである。この場合のチャネル間 隔は 0. 8nmであるから、 ldB帯域幅が 0. 4nmであるということは、チャネル帯域の 5 0%に ldBの平坦性があるということになる。ここで、 50%の ldB平坦度を目標とする と、図 14の右下の部分で良好な特性が得られることが分かる。図 15は、 3dB帯域幅 をプロットし、同一帯域幅を連結したグラフである。この場合、 75%を目標帯域幅とす ると、 0. 6nm帯域幅となるのでグラフの右側が条件を満たすことになる。図 16は、過 剰損失 (平坦ィ匕特性を得るための損失)をプロットし、同一損失点を連結して作成し たグラフである。図 16から、過剰損失は右下に行くほど増大することが分かる。図 17 は、隣接チャネルとのアイソレーションをプロットし同一アイソレーション点を連結して 作成したグラフである。図 17において、梨子地にて示した領域が 50%の ldB帯域と 75%の 3dB帯域と 30dBのアイソレーション特性の 3つについて、ノランスを取れる 領域が示されており、この領域を選択することで、平坦化された帯域を持つアイソレ ーシヨン特性の優れた AWGを実現できる。
[0044] 以上は、 1次モード光を利用して平坦ィ匕特性を得るものであった力 2次モード以上 の高次導波路モードを用いて設計することで、さらに平坦性の高い AWGを開発する ことができる。図 18は、入力側接続部導波路を 0次モードと 2次モードとの混合が行 われるモード変換導波路、出力側接続部導波路をモード変換の行われな ヽテーパ 導波路とした場合の、それぞれの導波路のカプラー導波路との結合部での光強度分 布と全体の帯域特性を示すグラフである。入力側に 1次モード光を利用する場合に は、 ldB帯域幅 50%が限度であった力 2次モード光を利用する場合には、出力側 の接続部がストレートテーパであれば 66%の広い ldB帯域幅を実現することができ る。これによつて、例えばチャネル間隔が 20nmの AWGの場合、 13nm以上での Id B平坦性を確保することができる。このスペックは、 CWDM用のフィルタとして必要と されるスペックであり、このような機能が実現できることは産業上極めて有用である。
[0045] 図 19A〜図 19Cに、 0次モード光と 2次モード光とを混合させることのできるモード 変換導波路の例を示す。図 19Aに示す例では、入力光導波路 101の光伝播方向の 中心線がモード変換導波路 108の光伝播方向の中心線力もずれている。図 19Bに 示す例では、入力光導波路 101の光伝播方向がモード変換導波路 108の光伝播方 向に対して傾いている。さらに、図 19Cに示す例では、入力光導波路 101の光伝播 方向がモード変換導波路 108の光伝播方向に対して傾くと共に、入力光導波路 101 の中心線がモード変換導波路 108の中心線力もずれている。
実施例 1
[0046] シリコン基板上に熱酸化法により膜厚 3 μ mの SiO膜を形成し、その上に CVD法
2
により膜厚 4 の SiO膜を形成した。続いて、 CVD法により膜厚 4 111の SiON膜
2
を堆積し、フォトリソグラフィ法によりパターユングして、入'出力光導波路、入力側の モード変換導波路となるコア層および出力側のテーパ導波路をそれぞれ形成した。 入'出力光導波路幅は 4 mである。コア層は、モード混合部長 λが 45nm、モード 変換導波路長 Lが 120 m、幅 Wが 13 /ζ πι、間隔 Ρが 15 mとなるように形成した。 出力側のテーパ導波路は、導波路長が 120 m、幅 W 力^ / z m、間隔! ^ 力 15 m、カプラー長 Λが 2mm、導波路アレイでの最小曲率半径が 2mmとなるように形成 した。これら導波路の形成後、その上にクラッド層となる SiO膜を 4 mの膜厚に堆
2
積して、比屈折率差 Δが 1. 6%の導波路を形成した。こうして形成された AWGにつ いて、帯域特性を測定した。その 1チャネル分の特性を図 20に示す。図 20から、 0. 6nm以上の 3dB帯域幅と 30dBの隣接アイソレーションを実現していることが読みと れる。

Claims

請求の範囲
[1] 第 1および第 2カプラー導波路と、一端が入力導波路に接続され、他端が前記第 1 カプラー導波路の光入力端面に接続された一またはそれ以上の入力側接続部導波 路と、一端が出力導波路に接続され、他端が前記第 2カプラー導波路の光出力端面 に接続された一またはそれ以上の出力側接続部導波路と、前記第 1および第 2カブ ラー導波路間に配列された導波路であって、互いに長さの異なる複数のチャネル導 波路と、を備え、前記入力側接続部導波路と出力側接続部導波路との内少なくとも 一方は、モード変換および干渉が生起されカプラー導波路との接続部での光強度が 極小値な!/、しその近辺の値となるようにその長さが設定されて 、るモード変換導波路 により構成されて ヽることを特徴とする光合分波器。
[2] 前記モード変換導波路がモード混合領域とモード干渉領域によって構成されて ヽ ることを特徴とする請求項 1に記載の光合分波器。
[3] 前記モード混合領域は、導波路幅力カプラー導波路に向力つて広がる形状変化導 波路によって構成され、前記モード干渉領域は、導波路幅が一定のストレート導波路 によって構成されていることを特徴とする請求項 2に記載の光合分波器。
[4] 前記入力または出力導波路の光伝搬方向の中心と前記モード変換導波路の光伝 搬方向の中心とがずれていることを特徴とする請求項 1から 3のいずれかに記載の光 合分波器。
[5] 前記入力または出力導波路の光伝搬方向が、前記モード変換導波路の光伝搬方 向に対して傾 、て 、ることを特徴とする請求項 1から 4の 、ずれかに記載の光合分波
[6] 前記入力側接続部と出力側接続部とのうち、モード変換導波路によって構成され て!、な 、方の接続部ではモード変換が生起されな 、ことを特徴とする請求項 1から 5 の!ヽずれかに記載の光合分波器。
[7] 前記入力側接続部導波路と出力側接続部導波路とのうち、モード変換導波路によ り構成されて 、な 、方の接続部はストレートテーパ形状の導波路によって構成されて V、ることを特徴とする請求項 1から 6の 、ずれかに記載の光合分波器。
[8] 前記第 1および第 2カプラー導波路、前記入力側接続部導波路および出力側接続 部導波路、並びに、前記複数のチャネル導波路は、基板上に膜導波路として形成さ れて 、ることを特徴とする請求項 1から 7の 、ずれかに記載の光合分波器。
[9] 前記第 1および第 2カプラー導波路、前記入力側接続部および出力側接続部、並 びに、前記複数のチャネル導波路は、シリコン基板上に SiONをコア材料として SiO
2 をクラッド材料として形成されて 、ることを特徴とする請求項 1から 7の 、ずれかに記 載の光合分波器。
[10] モード変換導波路の全長 Lが、
[数 1]
2小 n 1
+ b r = ( ― を満たす長さもしくはその近傍の長さであることを特徴とする請求項 1から 9のいずれ かに記載の光合波器 (但し、 ηは 0または自然数、 Νは自然数、 13 0、 |8 1は 0次モード と 1次モードの伝搬定数)。
[11] モード変換導波路の全長 Lが、
[数 2]
Figure imgf000018_0001
で与えられる力もしくはその近傍の長さであることを特徴とする請求項 1から 9のいず れかに記載の光合分波器 (但し、 ηは 0または自然数、 Νは自然数、 /3 0、 β ΐは 0次 モードと 1次モードの伝搬定数)。
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