WO2005019851A1 - 磁気センサ - Google Patents

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WO2005019851A1
WO2005019851A1 PCT/JP2004/011849 JP2004011849W WO2005019851A1 WO 2005019851 A1 WO2005019851 A1 WO 2005019851A1 JP 2004011849 W JP2004011849 W JP 2004011849W WO 2005019851 A1 WO2005019851 A1 WO 2005019851A1
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current
magnetic sensor
magnetic
detection coil
groove
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Application number
PCT/JP2004/011849
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English (en)
French (fr)
Inventor
Yoshinobu Honkura
Michiharu Yamamoto
Yoshiaki Koutani
Kazumasa Sumi
Masaki Mori
Original Assignee
Aichi Steel Corporation
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Publication date
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Priority to EP04771810A priority patent/EP1528402B1/en
Priority to US10/522,753 priority patent/US7026812B2/en
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/09Magnetoresistive devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/063Magneto-impedance sensors; Nanocristallin sensors

Definitions

  • the present invention relates to a high-precision magnetic sensor for measuring a minute magnetic field.
  • a magnetic sensor using a magnetic impedance element there is a magnetic sensor in which a coil is wound around the outer periphery of an amorphous coil.
  • a magnetic sensor for example, by extracting the first pulse of the vibration waveform induced in the coil when a pulse current having a rise time of 5 ns is applied to the amorphous wire, the first pulse is extracted in proportion to the external magnetic field H. Change to sensitivity ex
  • Patent Document 1 See, for example, Patent Document 1).
  • Patent Document 1 discloses that a feedback coil is wound around an amorphous wire and a feedback circuit is provided, and a negative feedback current proportional to the sensor output voltage is always supplied to the feedback coil to perform a negative feedback.
  • a feedback coil is wound around an amorphous wire and a feedback circuit is provided, and a negative feedback current proportional to the sensor output voltage is always supplied to the feedback coil to perform a negative feedback.
  • Patent Document 1 JP-A-2000-258517
  • the conventional magnetic sensor has the following problems. That is, in the above-described conventional magnetic sensor, for example, the above-described feedback circuit or the like is required to improve the accuracy, and the circuit configuration may be complicated and the size may be increased. Further, for example, if the feedback circuit as described above is omitted, there is a problem that sufficient accuracy may not be obtained.
  • the present invention provides a magnetic sensing element whose electromagnetic characteristics change due to the action of an external magnetic field, a drive circuit for supplying a current to the magnetic sensing element, a detection coil wound around the magnetic sensing element, And a sump-no-hold circuit for measuring an induced voltage value that is a magnitude of a voltage induced in the output coil,
  • the magnetic sensor is characterized in that the sump-no-hold circuit is configured to measure the induced voltage value in synchronization with the interruption of the energizing current by the drive circuit.
  • FIGS. 13A and 13B show an operation example of a magnetic detection unit in which a detection coil is wound around an amorphous wire when an external magnetic field that acts is +2 Gauss.
  • FIG. 13A shows an example of a current waveform for driving an amorphous wire, in which a conduction time of 35 ns (nanosecond) is repeated at a predetermined cycle.
  • FIG. 13B shows the voltage induced in the detection coil.
  • the magnitude of the damped oscillation voltage and the positive and negative polarities are vector-wise determined by the relationship between the magnitude of the external magnetic field, the direction of the external magnetic field, and the angle formed by the axial direction of the amorphous wire. Therefore, the magnitude of the external magnetic field can be measured from the damped oscillation voltage.
  • the maximum value of the damped oscillation voltage induced in the detection coil when the pulse current rises is The voltage of a certain pi changes as shown in FIG. As can be seen from the figure, there is an error of about 8% nonlinearity and about 6% hysteresis. Therefore, the method of measuring the external magnetic field, which measures the voltage pi at the rise of the pulse current, is inconvenient for azimuth measurement requiring high accuracy.
  • the present inventors have eagerly studied the relationship between the voltage induced in the detection coil and the magnitude of the external magnetic field when the amorphous wire is driven by a pulse current (see FIGS. 13A and 13B).
  • the research led to the following invention from the obtained knowledge.
  • the present invention provides a magnetic sensor made of an amorphous wire through which a pulse current flows, a detection coil wound around the magnetic sensor, and a voltage induced in the coil in synchronization with the interruption of the pulse current. It is characterized by comprising a sump-no-hold circuit.
  • FIG. 13 the present inventors have eagerly studied the relationship between the voltage induced in the detection coil and the magnitude of the external magnetic field when the amorphous wire is driven by a pulse current.
  • the research led to the following invention from the obtained knowledge.
  • the present invention provides a magnetic sensor made of an amorphous wire through which a pulse current flows, a detection coil wound around the magnetic sensor, and a voltage induced in the coil in synchronization with the interruption
  • the damping oscillation voltage Q2 induced in the detection coil by the current change at the fall due to the interruption of the noise current flowing through the amorphous wire is detected by the sump-no-hold circuit.
  • the non-linearity and hysteresis characteristics are improved, and the accuracy is improved.
  • the magnetic sensor of the present invention for example, sufficient accuracy can be ensured even if the feedback circuit as described above is omitted. Therefore, with this magnetic sensor, the circuit configuration can be simplified, and the size and thickness can be reduced. Furthermore, power consumption can be suppressed by omitting the feedback circuit that needs to be constantly energized.
  • FIG. 1 is a circuit diagram of a magnetic sensor according to a first embodiment.
  • FIG. 2 is a characteristic diagram of an external magnetic field versus a maximum voltage value of a detection coil in Embodiment 1.
  • FIG. 3 is a circuit diagram of a magnetic sensor according to a second embodiment.
  • FIG. 4A is a graph showing the relationship between the time for supplying a pulse current and the current of an amorphous wire in Example 2.
  • FIG. 4B is a characteristic diagram of the time of flowing a pulse current versus the voltage of a detection coil in Example 2.
  • FIG. 5 is a characteristic diagram of an external magnetic field versus a maximum voltage value of a detection coil in Embodiment 2.
  • FIG. 6A is a graph showing a time change of a pulse current in Example 3.
  • FIG. 6B is a graph showing a change in voltage of a detection coil with respect to a pulse current in Example 3.
  • FIG. 7 is a circuit diagram of a magnetic sensor according to a fourth embodiment.
  • FIG. 8 is a graph showing a change in pulse current in Example 4.
  • FIG. 9 is a front view of a magnetic impedance element according to a fifth embodiment.
  • FIG. 10 is a conceptual cross-sectional view taken along line AA ′ of a diagram showing a magneto-impedance element in Example 5.
  • FIG. 11 is a perspective view showing an arrangement of spiral detection coils in a groove according to a fifth embodiment.
  • FIG. 12 is a characteristic diagram showing a relationship between an external magnetic field (G) and a maximum voltage value (V) of a detection coil in Example 5.
  • FIG. 13A is a graph showing a time change of a conduction current of an amorphous wire.
  • FIG. 13B is a graph showing the time change of the voltage of the detection coil when the external magnetic field acting on the magnetic detection unit is +2 G (Gauss).
  • FIG. 14 is a characteristic diagram illustrating a relationship between an external magnetic field (G) and a maximum voltage value (V) of a detection coil measured in synchronization with a rise of a pulse current.
  • FIG. 15 is a diagram illustrating an example of a conventional magnetic impedance element.
  • the sump-no-hold circuit measures a temporally first peak value based on a damped oscillation waveform that is a temporal change of the induced voltage value due to the interruption of the energizing current. It is preferable that it is configured to be.
  • the peak value p2 of the damped oscillation voltage Q2 can be detected as shown in FIG.13B, and the high sensitivity of the magnetic sensor Is possible.
  • the sump-no-hold circuit has time storage means for storing a predetermined timing at which the drive circuit cuts off the energizing current.
  • the induced voltage value is measured in synchronization with the predetermined timing.
  • the predetermined timing is obtained by measuring the current flowing through the magnetosensitive material held in an external magnetic field having a magnetic field intensity of substantially zero.
  • the induced voltage value that attenuates and oscillates is the first time when it crosses zero.
  • zero crossing means that the induced voltage value that attenuates and oscillates reverses from a positive value (negative value) to a negative value (positive value).
  • a voltage is induced in the detection coil when the current supplied to the magnetic sensing element is cut off.
  • This induced voltage is due to electromagnetic induction or the like between the detection coil and the magnetic sensitive body, and is generated independently of an external magnetic field.
  • the timing at which the induced voltage value that attenuates and vibrates at zero crossing is the timing at which the induced voltage value generated in the detection coil becomes zero irrespective of the external magnetic field.
  • the timing at which the induced voltage value that attenuates and vibrates first zero-crosses in time is stored as the predetermined timing, and the sampler-hold circuit operates in synchronization with the predetermined timing. Then, the external magnetic field is measured. Therefore, a voltage component generated irrespective of an external magnetic field due to electromagnetic induction or the like between the detection coil and the magnetic sensitive body is less likely to be mixed as an error component. Therefore, according to the magnetic sensor, it is possible to measure the induced voltage value generated by the action of the external magnetic field with high accuracy.
  • the time storage means can be configured as, for example, a delay circuit in which a coil, a resistor, and a capacitor are appropriately and selectively combined.
  • the time storage means can be configured by using one function of a timer of a microcomputer or the like.
  • the drive circuit stores a minimum voltage value which is the induced voltage value measured by the sample and hold circuit when an external magnetic field having a minimum magnetic field strength detected by the magnetic sensor acts on the magnetic sensitive body.
  • a voltage storage means is provided, and the conduction current is cut off in a state where the induced voltage value converges to a voltage range of 5% or less of the minimum voltage value.
  • the energizing current may be cut off. For example, thereafter, it is possible to accurately measure the induced voltage value using the sump-no-hold circuit.
  • the state in which the induced voltage value converges refers to a state in which the damped oscillation voltage induced in the detection coil due to the rise of the conduction current falls within the voltage range.
  • the induced voltage value is input to an envelope detection circuit in which a diode and a CR circuit are combined, and a threshold value is set as an output voltage value of the envelope detection circuit. It can be configured to check convergence by comparing with a value.
  • One method is to add a second sample-and-hold circuit that samples and holds the peak value of the induced voltage value, and compare the voltage measured by the second sample-and-hold circuit with the threshold and value. Can be configured to check the convergence.
  • the drive circuit is configured to apply a pulse-like current change as the energizing current to the magnetic sensing element, and it is necessary to increase the magnitude of the energizing current to a predetermined current value. It is preferable that the rise time is configured to be 3 times or more and 30 times or less of a cutoff time for cutting off the conduction current of the predetermined current value.
  • the rise time at least three times the cutoff time, it is possible to suppress the induced voltage value caused by the rise of the conduction current as compared with the induced voltage value caused by the interruption of the conduction current. it can. If the induced voltage value at the time of rising is suppressed, the relative influence on the measured induced voltage value can be suppressed, and the measurement accuracy by the magnetic sensor can be improved.
  • the rise time refers to the time required for the supplied current to rise from 10% to 90% of the predetermined current value
  • the cutoff time refers to the time required for the supplied current to reach 90% of the predetermined current value. The time it takes to fall from 10% to 10%.
  • the predetermined current value refers to the magnitude of the conducting current at the time of interruption.
  • the drive circuit includes a capacitor for storing electric energy, which is a supply source of the conduction current, and an electronic switch disposed on an electric path between the capacitor and the magnetic sensitive body, And,
  • the energizing current supplied from the capacitor to the magnetic sensitive body is supplied to the electronic switch.
  • it is configured to be cut off using a switch.
  • the current change rate when the pulse current of the magnetic sensitive body is cut off can be increased, and the detection sensitivity of the magnetic sensor can be further increased. It becomes possible.
  • the magnetic sensor has an electrode wiring substrate having a groove extending in one direction, and the groove is configured to be filled with an insulator having electrical insulation.
  • the magnetic sensing element is disposed so as to penetrate the insulator along a groove direction of the groove.
  • the detection coil has one coil portion disposed on a groove surface that is an inner peripheral surface of the groove. It is preferable that a spiral electric path is formed by combining with the other coil portion provided on the upper surface of the groove, which is the outer surface of the insulator, which is the upper surface of the groove.
  • the detection coil which combines one of the coil portions formed on the inner peripheral surface of the groove and the other coil portion formed on the upper surface of the groove, passes through the insulator in the groove.
  • the magnetic sensitive body is an amorphous wire having a diameter of 1 ⁇ m or more and 30 ⁇ m or less, and the detection coil has a winding inner diameter of 200 ⁇ m or less.
  • the gap between the amorphous wire skin and the detection coil can be reduced by setting the winding inner diameter of the detection coil to 200 ⁇ or less. If the gap is made small, the skin effect excitation of the magneto-sensitive body made of an amorphous wire can be used efficiently. Therefore, a large induced voltage value of the detection coil can be secured, and the sensitivity of the magnetic sensor can be increased.
  • FIG. 1 is a circuit diagram of the magnetic sensor of the present example.
  • a magnetic sensing unit 1 has a zero magnetostrictive amorphous wire 11 of a CoFeSiB-based alloy having a length of 2.5 mm as a magnetic sensitive material and a diameter of 30 / im, and is wound 40 times around the amorphous wire 11. It consists of a detection coil 12 and a current control resistor R11. The amorphous wire 11 is connected to the output terminal P2 of the pulse generator 2 via the resistor R11 in order to conduct a pulse current.
  • the detection coil 12 is connected to an input terminal P 3 of an electronic switch of the sample and hold circuit 3 so as to output a voltage based on an induced voltage generated in response to an external magnetic field when the pulse current is cut off. I have.
  • the pulse generator 2 includes a multivibrator including CMOS inverter elements L21 and L22, a resistor R21 and a capacitor C21, and a waveform shaping circuit including a CMOS inverter element L23 including a differentiating circuit including a capacitor C22 and a resistor R22.
  • the multivibrator is electrically connected to the waveform shaping circuit.
  • the wave-forming circuit When the multivibrator generates a square wave having a frequency of 1 MHz, the wave-forming circuit generates a pulse voltage having a period of 35 ns (nanosecond) with a logic level of "1" at a repetition frequency of 1 MHz, This pulse voltage is output to the output terminal P2.
  • the sample and hold circuit 3 includes a sample and hold unit B31 including an electronic switch S31, a capacitor C32, a resistor R32, a resistor R33, and a high input resistance amplifier A31, and a resistor R31 connected to a control terminal of the electronic switch S31. And a delay circuit with a capacitor C31.
  • the other terminal of the delay circuit is connected to the output terminal P2 of the pulse generator.
  • the delay circuit delays the logic level of the control terminal of the electronic switch S31 to "1" by a predetermined time determined by the resistor R31 and the capacitor C31.
  • the electronic switch S31 is in the “closed” state, and the induced voltage of the detection coil 12 is applied to the capacitor C32.
  • the pulse of the output terminal P2 falls, the error is detected.
  • the current flowing through the morphus wire 11 is cut off, and the electronic switch S31 is opened after a predetermined time ⁇ t determined by the resistor R31 and the capacitor C31.
  • the delay time At is equal to the maximum voltage p2 of the damped oscillation voltage Q2 applied to the detection coil 12 after the current of the amorphous wire 11 is cut off (time 1).
  • the high input resistance amplifier A31 outputs a voltage corresponding to the magnitude of the external magnetic field to the output terminal P4 by converting the voltage of the detection coil to a DC voltage. It keeps outputting that voltage until it is newly updated by the pulse.
  • FIG. 2 shows the results when the magnetic field applied to the magnetic detection unit was changed in a range of ⁇ 3 G.
  • the figure shows the result obtained by DC-converting the voltage of p2, which is the maximum value of the damped oscillation voltage induced in the detection coil 12 when the pulse current is cut off, by the sump-no-hold circuit.
  • the non-linearity and the hysteresis are both less than 2%, and practical accuracy has been achieved in azimuth measurement.
  • the circuit of the magnetic sensor of the present example it is not necessary to use a negative feedback circuit. Therefore, the necessity of constantly flowing a negative feedback current to the negative feedback circuit can be eliminated, and power consumption can be reduced.
  • FIG. 3 is a circuit diagram of the magnetic sensor of the present example.
  • the circuit diagram of FIG. 3 shows the first embodiment.
  • a driving circuit 4 for supplying a pulse current to the amorphous wire 11 is newly added to the circuit diagram of FIG.
  • the other circuits in FIG. 3 are the same as those in FIG. Therefore, the drive circuit 4 will be described.
  • the drive circuit 4 includes a delay circuit including a capacitor C41 charged to a voltage Vdd (connected to a stabilized power supply circuit not shown), an electronic switch S41, a resistor R41, and a capacitor C42.
  • the drive circuit 4 supplies a current from the capacitor C41 to the resistor R11 of the magnetic detection unit 1 and the amorphous wire 11 when the electronic switch S41 is "closed".
  • the control terminal of the electronic switch S 41 is delayed by a predetermined time by a delay circuit including a resistor R 41 and a capacitor C 42.
  • the state of the logic level “0" becomes the state of "1". Thereafter, after a lapse of 35 ns, the state returns to "0" again with the fall of the pulse voltage.
  • the delay circuit including the resistor R41 and the capacitor C42 is for adjusting the operation timing of the electronic switch S31 with respect to the interruption of the current flowing through the amorphous wire 11.
  • the delay time of the delay circuit is set such that the electronic switch S31 of the sump-no-hold circuit is opened at the timing when the damped oscillation voltage induced in the detection coil 12 becomes the maximum value. is there.
  • FIG. 4A shows the behavior of the current of the amorphous wire 11 when a pulse current (35 ns) is applied to the amorphous wire 11, and
  • FIG. 4B shows the behavior of the voltage of the detection coil.
  • the gradient k2 which is the current change rate when the pulse current of the amorphous wire 11 is cut off, is twice as large as the gradient kl driven by the CMOS inverter element shown in FIG.13A. I have.
  • the magnitude of the maximum value p3 of the damped oscillation voltage induced in the detection coil 12 is also increased about twice as large as p2 in FIG. 13B.
  • FIG. 5 shows the maximum value p3 of the damped oscillation voltage induced in the detection coil when the external magnetic field acting on the magnetic detection unit 1 is changed within a range of ⁇ 3G.
  • the sensitivity that is, the output voltage per unit magnetic field intensity is 0.037 VZG, which is about 2.5 times higher than the sensitivity of Example 1 shown in FIG. I have.
  • the drive circuit 4 is provided to supply a pulse current to the amorphous wire 11.
  • the drive circuit 4 uses the electronic switch to conduct and cut off the current supplied from the charged capacitor to the magnetic sensing element. This makes it possible to increase the rate of change over time with respect to the pulse current flowing through the amorphous wire, thereby further increasing the sensitivity of the magnetic sensor.
  • This embodiment is an example in which the delay time of the delay circuit is changed based on the first embodiment. This will be described with reference to FIGS. 1, 6A and 6B.
  • FIG. 6A shows a current change when the pulse current supplied to the amorphous wire 11 is cut off.
  • FIG. 6B shows a change in voltage induced in the detection coil of the magnetic detection unit (reference numeral 1 in FIG. 1).
  • the voltage change indicated by reference numeral V0 in Fig. 6B is when the external magnetic field acting on the magnetic detection unit is substantially zero.
  • the voltage change indicated by the reference numeral VI is that when the magnetic field strength is S1 gauss of the external magnetic field acting along the axial direction of the amorphous wire of the magnetic detection unit.
  • the voltage change indicated by the symbol V2 indicates that the magnetic field strength of the external magnetic field acting along the axial direction of the amorphous wire of the magnetic detection section is 2 ga. It is when you are.
  • the voltage induced in the detection coil is constant.
  • a damped oscillation voltage having a small amplitude is generated in the detection coil.
  • the damped oscillation voltage V0 induced in the detection coil by electromagnetic induction or the like between the amorphous wire and the detection coil is likely to be superimposed on the damped oscillation voltage VI or V2 when measuring an external magnetic field. . That is, a voltage generated due to electromagnetic induction between the amorphous wire and the detection coil or the like is highly likely to contribute to a measurement error of the magnetic sensor.
  • the delay time of the delay circuit of the first embodiment It is set to the time until the first zero crossing zl of the voltage V0 appears. Therefore, the electronic switch S31 is opened when the first zero cross zl appears. On the other hand, the capacitor C32 holds the voltage of the detection coil immediately before the electronic switch S31 is opened.
  • the high input resistance amplifier converts the voltage of the detection coil into a DC voltage, and outputs a voltage corresponding to the magnitude of the external magnetic field to the output terminal P4.
  • the delay time of the delay circuit is set to the timing at which the zero crossing zl (see FIG. 6B) of the damped oscillation voltage of the detection coil appears under an external magnetic field of approximately zero. Therefore, in the measurement of the external magnetic field by the magnetic sensor of this example, it is possible to suppress an error due to electromagnetic induction or the like generated between the amorphous coil and the detection coil. Furthermore, the delay time is that of the first zero cross zl in time. Therefore, by setting the delay time, it is possible to measure the voltage P 5 size close to Gotogu maximum voltage p4 shown in FIG. 6B as voltage prior Symbol detection coil.
  • the magnetic sensor of this example it is possible to suppress errors due to electromagnetic induction between the amorphous wire and the detection coil or the like, and perform measurement with high accuracy.
  • Example 4 This embodiment is an example in which the configuration of the drive circuit is changed based on the second embodiment. This content will be described with reference to FIGS.
  • the drive circuit 4 of the present embodiment is such that the inductance L41 is connected between the capacitor C41 and the electronic switch S41 based on the drive circuit of the second embodiment as shown in FIG.
  • a saw-tooth wave current can be generated by a first-order lag characteristic based on a time constant determined by the inductance L41 and the resistance R11.
  • a diode D41 is connected in parallel with the inductance L41. The diode D41 absorbs a surge voltage when the electronic switch S41 is opened.
  • the drive circuit 4 when the electronic switch S41 is closed as shown in FIG. 8, that is, when the current flowing through the amorphous wire rises, the sawtooth having a gentle rise as described above. A wave current can be generated.
  • the electronic switch S41 becomes "open", that is, when the conduction current to the amorphous wire is cut off, the conduction current can be decreased more rapidly than the above-described rising force S. Then, in this example, a pulse current close to the sawtooth wave current is supplied to the amorphous wire.
  • the rise time Tu is set to 20 ns
  • the cutoff time Td is set to 3 ns. That is, the rise time Tu of this example is about seven times the cutoff time Td.
  • the conduction time Tw from the rise to the cutoff is set to about 25 ns.
  • the rise time Tu refers to the time required for the current to rise from 10% to 90% of the steady-state value
  • the cut-off time Td refers to the time required for the current to flow from 90% to 10% of the steady-state value. The time it takes to fall.
  • the energization time Tw is determined so that the following requirement is satisfied.
  • this requirement means that the magnitude of the attenuation oscillation voltage induced in the detection coil with the rise of the energizing current is 5% or less of the minimum voltage value described below when the energizing current is cut off.
  • the minimum voltage value is a magnitude of the induced voltage value measured by the sample-hold circuit when an external magnetic field having a minimum magnetic field strength detected by the magnetic sensor acts on the magnetic sensitive body.
  • the pulse-shaped energizing current is applied to the amorphous wire.
  • the current slowly raise the current.
  • power consumption can be suppressed and an energy saving effect can be obtained as compared with a case where a nearly complete pulse current is supplied (dotted line dl).
  • the current change rate at the time of the rise of the current flowing through the amorphous wire is made small (slowly rises), the amplitude of the oscillation voltage generated in the detection coil can be suppressed.
  • the current flowing through the amorphous wire is interrupted while the amplitude of the oscillating voltage of the detection coil is small, the voltage generated according to the external magnetic field can be measured with high accuracy.
  • the oscillating voltage caused by the rise of the energizing current converges early, so that the energizing current can be immediately cut off and the external magnetic field can be measured. Therefore, the power-saving time can be reduced and the power saving effect can be obtained.
  • the saw-tooth wave current is used, but an incomplete pulse-like current having a longer rise time than the cut-off time may be used instead.
  • This incomplete panelless current can be realized by adjusting the time constant of the drive circuit 4 of the present embodiment. For example, if the rise time is set to be 3 times or more and 30 times or less of the cutoff time, the operation effect of this example can be obtained.
  • a magnetic impedance element composed of a magnetic sensing element made of an amorphous wire for supplying a pulse current and a detection coil wound around the magnetic sensing element constituting a magnetic detecting section will be described with reference to FIGS. Will be explained.
  • a magnetic sensitive body 20 for detecting a magnetic field on the electrode wiring board 10 and only an insulator 40 is interposed between the magnetic sensitive body 20 and the detection coil 30.
  • a detection coil 30 having a winding inner diameter of 200 / im or less is arranged on the outer periphery of the insulator 40.
  • the terminals of the magnetic sensitive body 20 and the detection coil 30 are connected to the respective electrodes 51 and 52 on the electrode wiring board 10.
  • the magneto-impedance element supplies a panel current to the magnetic sensing element 20 via the electrodes 51 and 52, and outputs a voltage generated in the detection coil 30 at that time.
  • the inner diameter of the winding can be reduced to 200 zm or less.
  • the winding inner diameter is a circle-equivalent inner diameter corresponding to the diameter of a circle having the same area as the groove cross-sectional area formed by the height and width shown in FIG. If the winding inside diameter is large, the gap between the magnetic sensing element and the detection coil In this example, the inner diameter of the winding is set to 200 ⁇ m or less in view of the fact that high sensitivity cannot be obtained due to the expansion of the magnetic field and the need for downsizing the magnetic impedance element.
  • the magnetic sensitive body 20 is a magnetic amorphous wire of a CoFeSiB-based alloy having a diameter of 10 to 30 ⁇ m and having conductivity.
  • the diameter of the magnetic amorphous wire is preferably set to 10 to 30 zm, from the viewpoint of manufacturing.
  • the electrode wiring board 10 has a groove 90 with a depth of 40 200 zm.
  • the detection coil 30 has one side 31 (coil portion 31) of the detection coil arranged along the groove surface 91 and one side 32 (coil portion 32) of the detection coil arranged on the upper surface 92 of the groove. It has a two-layer structure composed of 31 and a coil part 32.
  • the size of the electrode wiring board 10 of this example is 0.5 mm in width, 0.5 mm in height, and 1.5 mm in length.
  • the magnetic susceptor is an amorphous wire 20 having a diameter of 20 zm using a CoFeSiB-based alloy.
  • the groove 90 on the electrode wiring board 10 has a depth of 50 zm, a width of 70 x m, and a length of 1.5 mm.
  • the detection coil 30 has a two-layer structure including a coil part 31 formed on a groove surface 91 and a coil part 32 formed on a groove upper surface 92.
  • the coil portion 31 formed on the groove surface 91 was formed by vapor deposition on the entire surface of the groove surface 91 of the groove 90 and on the upper surface of the electrode wiring board 11 in the vicinity of the groove 90.
  • the conductive metal thin film is selectively removed.
  • the coil portion 31 is provided with a gap portion in the gap between the spiral metal thin films so that the metal thin film remains in a spiral shape by using a selective etching technique.
  • the coil piece 312 is composed of a third coil piece 311 facing the second coil piece 311 adjacent to the first coil piece 311 in the groove direction, and the first coil piece 311. It is formed so as to be connected to the coil piece 311. Thereby, the coil part 311 formed by combining the coil part 311 and the coil part 312 forms a spiral shape as a whole.
  • the coil portion 32 of the groove upper surface 92 (the coil portion 32 formed on the upper surface 41 of the resin 40 having an insulating property) includes the groove upper surface 92 in the longitudinal direction of the electrode wiring board 10. It consists of a conductive metal thin film deposited over a wide area.
  • the coil portion 32 was formed by applying a selective etching technique to the film. Specifically, by removing a part of the metal thin film by a selective etching method, a plurality of strip-shaped metal thin films along the width direction of the groove 90 were provided. In this example, the coil portion 32 was formed so as to connect the coil pieces 311 facing each other. Note that a protective film may be formed on the upper surface of the coil part 32 as necessary.
  • the inner diameter of the winding of the detection coil 30 of the present example is 66 ⁇ m in an inner diameter equivalent to a circle.
  • the winding interval of the detection coil is 50 x m and 20 turns.
  • a resin 40 having an insulating property is filled between the amorphous wire 20 and the detection coil 30 to keep electrical insulation between the conductive magnetic amorphous wire 20 and the detection coil 30.
  • the size of the magneto-impedance element of this example is almost the same as the size of the electrode wiring board.
  • FIG. 15 shows an example.
  • the substrate 110 has a width of 1.0 mm, a height of 0.5 mm, and a length of 2.5 mm.
  • An amorphous wire 120 having a diameter of 30 ⁇ m and having a CoFeSiB-based alloy strength is placed on a substrate 110, protected with a gel resin, and a detection coil 130 is wound.
  • the winding frame 160 and the electrode 150 have insulating properties. Therefore, it is considered that the above-mentioned high sensitivity (0.076 V / G) is caused by reducing the distance between the amorphous wire of the magnetic sensitive body and the detection coil for detecting the output.
  • the downsized and thinner magnetic sensor can be achieved by the downsized magnetic impedance element.

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Abstract

 パルス電流を通電するアモルファスワイヤからなる感磁体11と感磁体11の周囲に巻回した検出コイル12とパルス電流の遮断時に検出コイル12に誘起する電圧を検出するサンプルホールド回路とからなり、サンプルホールド回路は、電子スイッチS31、コンデンサC32、抵抗R32、抵抗R33及び高入力抵抗増幅器31からなるサンプルホールド部B31と、電子スイッチ31の制御端子に接続された抵抗R31及びコンデンサC31による遅延回路とを有している。

Description

明 細 書
磁気センサ
技術分野
[0001] 本発明は微小磁界を計測するための高精度な磁気センサに関するものである。
背景技術
[0002] 従来の磁気インピーダンス素子による磁気センサとしては、例えば、アモルファスヮ ィャの外周にコイルを卷回したものがある。このような磁気センサでは、例えば、ァモ ルファスワイヤに立ち上がり時間 5nsのパルス電流を通電したときにコイルに誘起す る振動波形の第 1パルスを抽出することにより、外部磁界 H に比例して高感度に変 ex
化する電圧を得ようとしている(例えば、特許文献 1参照。 )
また、特許文献 1は、アモルファスワイヤに帰還コイルを卷回するとともに帰還回路 を設け、その帰還コイルにセンサ出力電圧に比例した負帰還電流を常時流して負帰 還を行なうことにより、直線性のよいヒステリシスのない高精度の磁界センサ特性を得 ることができる旨を開示してレ、る。
[0003] 特許文献 1 :特開 2000— 258517号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0004] し力しながら、前記従来の磁気センサでは、次のような問題があった。すなわち、前 記従来の磁気センサでは、精度を向上するには、例えば、前記のような帰還回路等 が必要となり回路構成が複雑となって大型化するおそれがある。また、例えば、前記 のような帰還回路を省略すると、十分な精度が得られないおそれがあるという問題が める。
特に、例えば、携帯電話や携帯端末機器などに組み込む方位計測用の磁気セン サとしては、シンプルな回路構成により高精度な方位計測が可能であることが強く求 められており、前記従来の磁気センサでは、その要求に十分に対応できないおそれ があった。
課題を解決するための手段 [0005] 本発明は、外部磁界の作用により電磁気特性が変化する感磁体と、該感磁体に通 電電流を供給する駆動回路と、前記感磁体の周囲に卷回した検出コイルと、前記検 出コイルに誘起する電圧の大きさである誘起電圧値を計測するサンプノレホールド回 路とを有してなり、
該サンプノレホールド回路は、前記駆動回路による前記通電電流の遮断に同期して 前記誘起電圧値を計測するように構成してあることを特徴とする磁気センサにある。
[0006] ここで、感磁体であるアモルファスワイヤに瞬間的に電流を流すとアモルファスワイ ャに卷回した検出コイルに、アモルファスワイヤに作用する外部磁場の大きさに対応 する電圧が誘起されることが知られてレ、る。
[0007] 例えば、図 13A及び図 13Bは、アモルファスワイヤの周囲に検出コイルを卷回した 磁気検出部について、作用する外部磁界が + 2ガウスのときの動作例を示すもので める。
図 13Aはアモルファスワイヤを駆動する電流波形の一例で、 35ns (ナノ秒)の通電 時間を所定の周期で繰り返す。図 13Bは検出コイルに誘起する電圧を示す。例えば 、図 13Aのパルス電流が立ち上がるときには図 13Bに示す正の減衰振動電圧 Q1が 検出コイルに現れ、パルス電流が立ち下がるときには逆に負の減衰振動電圧 Q2が 現れる。この減衰振動電圧の大きさ及び正負の極性は、外部磁界の大きさおよび外 部磁界の方向と、アモルファスワイヤの軸方向とがなす角との関係によりベクトル的に 決まる。従って、この減衰振動電圧から外部磁界の大きさを測定することができる。
[0008] し力し、検出コイルを卷回したアモルファスワイヤに作用する磁界を ± 3G (ガウス)の 範囲で変化した際、パルス電流の立ち上がり時に検出コイルに誘起される減衰振動 電圧の最大値である piの電圧は、図 14に示すごとく変化する。同図から知られるよう に、約 8%の非直線性と約 6%のヒステリシスの誤差を生じている。それ故、パルス電流 の立ち上がり時に前記電圧 piを計測する外部磁界の計測方法は、高精度が要求さ れる方位計測には不都合である。
[0009] そこで、本発明者らは、アモルファスワイヤをパルス電流で駆動したときに、前記検 出コイルに誘起する電圧と外部磁界の大きさとの関係(図 13A及び図 13B参照。)に ついて鋭意研究し、得られた知見から次の発明に至った。 [0010] 本発明は、パルス電流を通電するアモルファスワイヤからなる感磁体と該感磁体の 周囲に卷回した検出コイルと前記パルス電流の遮断に同期して前記コイルに誘起す る電圧を検出するサンプノレホールド回路からなることを特徴とする。図 13Bにおいて 前記アモルファスワイヤに通電するノ^レス電流を遮断による立ち下がり時の電流変 化によって検出コイルに誘起される減衰振動電圧 Q2をサンプノレホールド回路により 検出する。これにより、非直線性及びヒステリシスの特性が改善され、精度が良好とな る。
[0011] 本発明の磁気センサでは、例えば、前記のような帰還回路を省略しても十分な精度 を確保することができる。それ故、この磁気センサでは、回路構成をシンプルにでき、 小型化、薄型化等が可能である。さらに、常時通電が必要な前記帰還回路を省略す れば、電力消費を抑制することができる。
図面の簡単な説明
[0012] [図 1]実施例 1における、磁気センサの回路図である。
[図 2]実施例 1における、外部磁界対検出コイルの最大電圧値の特性図である。
[図 3]実施例 2における、磁気センサの回路図である。
[図 4A]実施例 2における、パルス電流を流す時間対アモルファスワイヤの電流の特 十生図である。
[図 4B]実施例 2における、パルス電流を流す時間対検出コイルの電圧の特性図であ る。
[図 5]実施例 2における、外部磁界対検出コイルの最大電圧値の特性図である。
[図 6A]実施例 3における、パルス電流の時間変化を示すグラフである
[図 6B]実施例 3における、パルス電流に対する検出コイルの電圧変化を示すグラフ である。
[図 7]実施例 4における、磁気センサの回路図である。
[図 8]実施例 4における、パルス電流の変化を示すグラフである。
[図 9]実施例 5における、磁気インピーダンス素子の正面図である。
[図 10]実施例 5における、磁気インピーダンス素子を示す図の A-A'線に沿う断面概 念図である。 [図 11]実施例 5における、溝内の螺旋状の検出コイルの配設形態を示す斜視図であ る。
[図 12]実施例 5における、外部磁界 (G)に対する検出コイルの最大電圧値 (V)の関 係を示す特性図である。
[図 13A]アモルファスワイヤの通電電流の時間変化を示すグラフである。
[図 13B]磁気検出部に作用する外部磁界が + 2G (ガウス)のとき、検出コイルの電圧 の時間変化を示すグラフである。
[図 14]外部磁界 (G)に対して、パルス電流の立ち上がりに同期して計測した検出コィ ルの最大電圧値 (V)の関係を示す特性図である。
[図 15]従来技術の磁気インピーダンス素子の一例を示す図である。
符号の説明
[0013] 10 電極配線基板
11 アモルファスワイヤ
12、 30 検出コィノレ
2 ノ ルス発生器
20 感磁体
31、 32 コィノレ部
40 絶縁物 (樹脂)
90 溝
発明を実施するための最良の形態
[0014] 本発明においては、前記サンプノレホールド回路は、前記通電電流の遮断による前 記誘起電圧値の時間的変化である減衰振動波形にぉレ、て、時間的に最初のピーク 値を計測するように構成してあることが好ましレ、。
前記サンプノレホールド回路を用いて、前記誘起電圧の最初のピーク値を検出する 場合には、図 13Bに示すごとぐ前記の減衰振動電圧 Q2のピーク値 p2を検出でき、 前記磁気センサの高感度化が可能となる。
[0015] また、前記サンプノレホールド回路は、前記駆動回路による前記通電電流の遮断に 対する所定のタイミングを記憶する時間記憶手段を有し、前記通電電流の遮断に対 して前記所定のタイミングで同期して前記誘起電圧値を計測するように構成してあり 前記所定のタイミングは、略ゼロの磁界強度の外部磁界中に保持した前記感磁体 への前記通電電流を遮断する際、減衰振動する前記誘起電圧値が時間的に最初に ゼロクロスするタイミングであることが好ましレ、。
[0016] ここで、前記ゼロクロスするとは、減衰振動する前記誘起電圧値が正値 (負値)から 負値 (正値)へ正負反転することをレ、う。
作用する外部磁界が略ゼロであっても、前記感磁体への前記通電電流を遮断する 際には、前記検出コイルに電圧が誘起される。この誘起電圧は、前記検出コイルと前 記感磁体との間の電磁誘導等によるものであり、外部磁界とは無関係に発生する。 そして、減衰振動する前記誘起電圧値がゼロクロスするタイミングとは、外部磁界と は無関係に検出コイルに発生する誘起電圧値がゼロとなるタイミングである。
[0017] 前記磁気センサでは、減衰振動する前記誘起電圧値が時間的に最初にゼロクロス するタイミングを前記所定のタイミングとして記憶しておき、この所定のタイミングで同 期して前記サンプノレホールド回路を動作させて外部磁界の計測を行う。そのため、 前記検出コイルと前記感磁体との間の電磁誘導等により、外部磁界とは無関係に発 生する電圧成分が、誤差成分として混入するおそれが少ない。それ故、前記磁気セ ンサによれば、外部磁界の作用により発生する前記誘起電圧値を高精度に計測する こと力 Sできる。
[0018] なお、前記時間記憶手段としては、例えば、コイル、抵抗、コンデンサを適宜、選択 的に組み合わせた遅延回路として構成することができる。あるいは、マイコンのタイマ 一機能等を利用して前記時間記憶手段を構成することもできる。
[0019] また、前記駆動回路は、前記磁気センサで検出する最小磁界強度の外部磁界が 前記感磁体に作用したときに前記サンプルホールド回路が計測する前記誘起電圧 値である最小電圧値を記憶する電圧記憶手段を有し、かつ、前記誘起電圧値が前 記最小電圧値の 5%以下の電圧範囲に収束した状態で前記通電電流を遮断するよ うに構成してあることが好ましレ、。
[0020] 前記誘起電圧値が前記の電圧範囲に収束した状態で、前記通電電流を遮断すれ ば、その後、前記サンプノレホールド回路を用いて前記誘起電圧値を精度良く計測す ること力 Sできる。
なお、前記誘起電圧値が収束している状態とは、前記通電電流の立ち上がりにより 前記検出コイルに誘起される減衰振動電圧が前記電圧範囲内に収まっている状態 をいう。
[0021] さらになお、前記電圧記憶手段としては、例えば、ダイオードと CR回路とを組み合 わせた包絡線検波回路に前記誘起電圧値を入力し、この包絡線検波回路の出力電 圧値としきい値とを比較することにより収束を調べるように構成することができる。ある レ、は、前記誘起電圧値のピーク値をサンプルホールドする第 2のサンプルホールド回 路を追加して、この第 2のサンプルホールド回路が計測した電圧としきレ、値との比較 を行うことにより収束を調べるように構成することもできる。
[0022] また、前記駆動回路は、前記通電電流としてパルス状の電流変化を前記感磁体に 作用するように構成してあると共に、前記通電電流の大きさを所定電流値に高めるま でに要する立ち上がり時間が、該所定電流値の前記通電電流を遮断する遮断時間 の 3倍以上 30倍以内となるように構成してあることが好ましい。
この場合には、前記遮断時間の 3倍以上の前記立ち上がり時間を設定することで、 前記通電電流の遮断による前記誘起電圧値に比べて前記通電電流の立ち上がりに よる誘起電圧値を抑制することができる。そして、立ち上がり時の誘起電圧値を抑制 すれば、計測する誘起電圧値に対する相対的な影響を抑制でき、前記磁気センサ による計測精度を高めることができる。
[0023] なお、ここで、立ち上がり時間とは、通電電流が所定電流値の 10%から 90%に立 ち上がるのに要する時間をいい、遮断時間とは、通電電流が前記所定電流値の 90 %から 10%に立ち下がるのに要する時間をいう。なおここで、前記所定電流値とは、 遮断する際の前記通電電流の大きさをレ、う。
[0024] また、前記駆動回路は、前記通電電流の供給源である電気エネルギーを蓄えるコ ンデンサと、該コンデンサと前記感磁体との間の電気的な経路に配置した電子スイツ チとを含み、かつ、
前記コンデンサから前記感磁体に向けて供給する前記通電電流を、前記電子スィ ツチを用いて遮断するように構成してあることが好ましレ、。
この場合には、コンデンサと電子スィッチとからなる駆動回路を用いることにより、前 記の感磁体のパルス電流を遮断するときの電流変化率を大きくでき、前記磁気セン サの検出感度を一層、高めることが可能となる。
[0025] また、該磁気センサは、一方向に延在する溝を形成した電極配線基板を有し、該 溝が、電気的な絶縁性を備えた絶縁体を充填されるように構成されており、
前記感磁体は、前記溝の溝方向に沿って前記絶縁体を貫通するように配置したァ 前記検出コイルは、前記溝の内周面である溝面に配設した一方のコイル部と、前記 溝の上面に当たる前記絶縁体の外表面である溝上面に配設した他方のコイル部とを 組み合わせて螺旋状の電気的な経路を形成したものであることが好ましい。
[0026] この場合には、前記溝の内周面に形成した一方のコイル部及び、溝の上面に形成 した他方のコイル部を組み合わせた前記検出コイルと、前記溝内の絶縁体を貫通す る前記アモルファスワイヤとを組み合わせて構成することで、前記磁気センサの小型 化が可能になる。
例えば、小型電子機器である携帯電話や携帯端末機器では、方位計測用の磁気 センサの小型化、薄型化が強く求められている。これに対し、前記磁気センサによれ ば、小型化、薄型化等のサイズ的な要求仕様に十分、対応することができる。
[0027] また、前記感磁体は、直径 1 μ m以上 30 μ m以下のアモルファスワイヤであり、 前記検出コイルは、捲線内径 200 μ m以下のものであることが好ましい。 この場合には、前記検出コイルの捲線内径が 200 μ ΐη以下とすることにより、ァモル ファスワイヤ表皮と検出コイルとの間隙を小さくすることができる。そして、この間隙を 小さくすれば、アモルファスワイヤよりなる感磁体の表皮効果励磁を効率良く利用で きる。そのため、前記検出コイルの前記誘起電圧値を大きく確保でき、前記磁気セン サの高感度化が可能となる。
実施例
[0028] (実施例 1)
本発明の実施例 1を図 1、図 2、図 13A及び図 13Bを用いて説明する。 図 1は、本例の磁気センサの回路図である。図 1において、磁気検出部 1は、感磁 体としての長さ 2. 5mm、直径 30 /i mの CoFeSiB系合金の零磁歪アモルファスワイ ャ 11と、該アモルファスワイヤ 11の周囲に 40回卷回した検出コイル 12と、電流制御 用抵抗 R11とからなる。アモルファスワイヤ 11は、パルス通電を行なうべく前記抵抗 R 11を介してパルス発生器 2の出力端子 P2に接続されてレ、る。
[0029] 他方、検出コイル 12は、パルス電流が遮断されたときに外部磁界に対応して発生 する誘起電圧に基づく電圧を出力するべくサンプルホールド回路 3の電子スィッチの 入力端子 P3に接続されている。
[0030] パルス発生器 2は、 CMOSインバータ素子 L21及び L22、抵抗 R21並びにコンデ ンサ C21からなるマルチバイブレータと、コンデンサ C22及び抵抗 R22からなる微分 回路を含む CMOSインバータ素子 L23からなる波形成型回路とからなる。
[0031] この波形成型回路には、前記マルチバイブレータを電気的に接続してある。前記波 形成型回路は、マルチバイブレータが 1MHzの周波数の矩形波を発生したとき、口 ジックレベルが "1 "の期間が 35ns (ナノ秒)であるパルス電圧を、繰り返し周波数 1M Hzで発生させ、このパルス電圧を出力端子 P2に出力する。
[0032] これにより前記アモルファスワイヤ 11にパルス電流が 35ns間通電される。この結果 、前記検出コイル 12には、磁気検出部 1が置かれている外部磁場に対応した減衰振 動電圧が誘起される。
[0033] サンプルホールド回路 3は、電子スィッチ S31、コンデンサ C32、抵抗 R32、抵抗 R 33及び高入力抵抗増幅器 A31からなるサンプルホールド部 B31と、前記電子スイツ チ S31の制御端子に接続された抵抗 R31及びコンデンサ C31による遅延回路とから なる。
[0034] この遅延回路の他方の端子は、前記パルス発生器の出力端子 P2に接続されてい る。遅延回路は、この出力端子 P2からパルスが出力されると、抵抗 R31およびコンデ ンサ C31によって決まる所定の時間分、遅延して前記電子スィッチ S31の制御端子 のロジックレベルを" 1 "とする。
[0035] これにより電子スィッチ S31は"閉"の状態になり前記検出コイル 12の誘起電圧がコ ンデンサ C32に印加される。次に、前記出力端子 P2のパルスが立ち下がると前記ァ モルファスワイヤ 11へ流れている電流が遮断されるとともに、電子スィッチ S31は、前 記抵抗 R31およびコンデンサ C31によって決まる所定の時間 Δ t遅れて"開"となる。
[0036] この遅延時間 A tは、図 13A及び図 13Bに示すように、前記アモルファスワイヤ 11 の電流を遮断(時亥 1)してから前記検出コイル 12に前記減衰振動電圧 Q2の最大 電圧 p2が現れる(時亥 2)までの時間に合わせてある。そのため、前記電子スィッチ S31は、この最大電圧 p2が現れるタイミングに略一致しで'開"となる。一方、コンデ ンサ C32には、電子スィッチ S31が"開"となる直前の検出コイルの電圧が保持される
[0037] 高入力抵抗増幅器 A31は、前記検出コイルの電圧を直流電圧に変換することによ り、外部磁界の大きさに対応する電圧を出力端子 P4に出力し、 1MHzで繰り返され る次のパルスにより新たに更新されるまでその電圧を出力し続ける。
[0038] 図 2には、磁気検出部に印加される磁界を ± 3Gの範囲で変化させたときの結果を 示す。同図には、パルス電流を遮断したときに検出コイル 12に誘起する減衰振動電 圧の最大値である p2の電圧を、サンプノレホールド回路で直流変換して得た結果を示 してある。図 2から知られるように、非直線性及びヒステリシスはいずれも 2%以下とな り、方位計測するに当たって実用的な精度が達成されてレ、る。
[0039] さらに、本例の磁気センサの回路では、負帰還回路を用いる必要がなレ、。それ故、 負帰還回路への負帰還電流を常時流す必要性を解消できるため、低消費電力化を 図ること力 Sできる。
[0040] 以上のように、本例の磁気センサによれば、以下のような作用効果を得ることができ る。
(1)非直線性及びヒステリシスを改善することができる。
(2)負帰還回路を用いる必要がないため、負帰還コイルの省略による電子部品点数 を少なくでき、また負帰還電流が不要となって低消費電力化を図ることができる。
(3)高精度化を達成することができる。
[0041] (実施例 2)
本発明の実施例 2を図 3 図 5、図 13A及び図 13Bを用いて説明する。 図 3は、本例の磁気センサの回路図である。図 3の回路図は、前記の実施例 1を示 す図 1の回路図に対して、前記アモルファスワイヤ 11へパルス電流を供給するため の駆動回路 4を新たに追加したものである。図 3における他の回路は図 1と同じ回路 である。そこで、駆動回路 4について説明する。
[0042] 駆動回路 4は、電圧 Vdd (図示を省略した安定化電源回路に接続)に充電されたコ ンデンサ C41、電子スィッチ S41、抵抗 R41及びコンデンサ C42による遅延回路から なる。この駆動回路 4は、電子スィッチ S41が"閉"のとき、前記コンデンサ C41から前 記磁気検出部 1の抵抗 R11及びアモルファスワイヤ 11に向けて電流を供給する。
[0043] 前記パルス発生器 2の出力端子 P2から時間幅 35nsのノ^レス電圧が出力されると、 抵抗 R41とコンデンサ C42とからなる遅延回路により所定の時間遅れて電子スィッチ S41の制御端子がロジックレベルの" 0"の状態力、ら" 1"の状態になる。その後、 35ns 経過した後に前記パルス電圧の立ち下がりと共に再び" 0"の状態になる。
[0044] 電子スィッチ S41の制御端子が" 1 "のときは該電子スィッチ S41の抵抗が減少して "閉"の状態になるため、電源電圧 Vddに充電されていた前記コンデンサ C41から電 子スィッチ S41を通して前記磁気検出部 1の抵抗 R11及びアモルファスワイヤ 11に 急激に電流が流れる。ここで、前記コンデンサ C41の容量と前記アモルファスワイヤ 1 1及び抵抗 R11がなす時定数をパルス幅時間 35nsよりも十分に大きく設定すること によって一定の電流値を保持するパルス電流を得ることができる。
[0045] また、前記電子スィッチ S41の制御端子がロジックレベル" 0"となると、前記電子ス イッチ S41の抵抗が増加して"開"の状態になって前記アモルファスワイヤ 11の電流 が急激に遮断されて" 0"となる。
[0046] なお、抵抗 R41とコンデンサ C42からなる前記遅延回路は、アモルファスワイヤ 11 の通電電流の遮断に対する電子スィッチ S31の動作タイミングを調整するためのもの である。本例では、前記検出コイル 12に誘起する減衰振動電圧が最大値となるタイミ ングで前記サンプノレホールド回路の電子スィッチ S31が"開"となるように、前記遅延 回路の遅延時間を設定してある。
[0047] この電子スィッチ S41による"閉"及び"開"の作動は、 CMOSインバータ素子による 作動よりも速ぐまた該電子スィッチ S41は大電流を流すことができる。そのため、前 電流の立ち上がり及び立ち下りの時間に対する電 流変化率を大きくすることができる。
[0048] 図 4Aは、アモルファスワイヤ 11にパルス電流(35ns)を流したとき、アモルファスヮ ィャ 11の電流の挙動を示し、図 4Bは検出コイルの電圧の挙動を示す。
同図力、ら知られるように、アモルファスワイヤ 11のパルス電流が遮断されるときの電 流変化率である勾配 k2は、図 13Aに示す CMOSインバータ素子によって駆動され る勾配 klよりも倍増している。これにより、前記検出コイル 12に誘起する減衰振動電 圧の最大値 p3の大きさも図 13Bの p2に対して約 2倍に増加している。
[0049] 図 5は、磁気検出部 1に作用する外部磁界を ± 3Gの範囲内で変化したときの前記 検出コイルに誘起する減衰振動電圧の最大値 p3を示している。同図から知られるよ うに、この感度、すなわち、単位磁界強度当たりの出力電圧が 0. 037VZGとなり、 図 2に示す実施例 1の感度 0. 015VZGに比べて約 2. 5倍に増加している。
[0050] 以上のように本例では、前記アモルファスワイヤ 11へパルス電流を供給するために 駆動回路 4をカ卩えている。該駆動回路 4では、その電子スィッチを利用して、充電さ れたコンデンサから感磁体に供給する電流の通電及び遮断を行っている。これにより 、アモルファスワイヤに通電するパルス電流について、時間変化率を大きくすることが でき、磁気センサの感度をさらに高めることができる。
なお、その他の構成及び作用効果については実施例 1と同様である。
[0051] (実施例 3)
本例は、実施例 1を基にして、前記遅延回路の遅延時間を変更した例である。この 内容について、図 1、図 6A及び図 6Bを用いて説明する。
図 6Aは、アモルファスワイヤ 11に供給するパルス電流の遮断時の電流変化を示し ている。図 6Bは、磁気検出部(図 1における符号 1。)の前記検出コイルに誘起される 電圧の変化を示している。
[0052] 図 6Bにおける符号 V0で示す電圧変化は、前記磁気検出部に作用する外部磁界 が略ゼロであるときのものである。同図中、符号 VIで示す電圧変化は、前記磁気検 出部のアモルファスワイヤの軸方向に沿って作用する外部磁界の磁界強度力 S1ガウ スであるときのものである。さらに、同図中、符号 V2で示す電圧変化は、前記磁気検 出部のアモルファスワイヤの軸方向に沿って作用する外部磁界の磁界強度が 2ガウ スであるときのものである。
[0053] ここで、作用する外部磁界が略ゼロのときには、検出コイルに誘起される電圧がゼ 口一定であるのが理想的である。しかし、実際には、図 6B中、符号 V0で示すごとぐ アモルファスワイヤと検出コイルとの間の電磁誘導等により、検出コイルに小さな振幅 の減衰振動電圧が発生する。そして、アモルファスワイヤと検出コイルとの間の電磁 誘導等によって検出コイルに誘起される前記減衰振動電圧 V0は、外部磁界を計測 する際の減衰振動電圧 VIあるいは V2に重畳されるおそれが高レ、。すなわち、ァモ ルファスワイヤと検出コイルとの間の電磁誘導等に起因して発生する電圧は、前記磁 気センサの計測誤差の一因となるおそれが高い。
[0054] そこで、本例では、実施例 1の遅延回路の遅延時間を、図 1及び図 6Bに示すように 、前記アモルファスワイヤ 11の電流を遮断してから、前記検出コイル 12に前記減衰 振動電圧 V0の最初のゼロクロス zlが現れるまでの時間に設定してある。そのため、 前記電子スィッチ S31は、この最初のゼロクロス zlが現れるタイミングに"開"となる。 一方、コンデンサ C32には、電子スィッチ S31が"開"となる直前の検出コイルの電圧 が保持される。
そして、高入力抵抗増幅器が、前記検出コイルの電圧を直流電圧に変換すること により、外部磁界の大きさに対応する電圧を出力端子 P4に出力する。
[0055] 以上のように、本例では、遅延回路の遅延時間を、略ゼロの外部磁界下における 検出コイルの減衰振動電圧のゼロクロス zl (図 6B参照。)が現れるタイミングに合わ せてある。そのため、本例の磁気センサによる外部磁界の計測では、アモルファスヮ ィャと検出コイルとの間に生じる電磁誘導等による誤差を抑制することができる。さら に、前記遅延時間は、時間的に最初のゼロクロス zlのものである。そのため、この遅 延時間を設定すれば、図 6Bに示すごとぐ最大電圧 p4に近い大きさの電圧 P5を前 記検出コイルの電圧として計測可能である。
[0056] 本例の磁気センサによれば、アモルファスワイヤと検出コイルとの間の電磁誘導等 による誤差を抑制して、精度の高レ、計測が可能である。
なお、その他の構成及び作用効果については実施例 1と同様である。
[0057] (実施例 4) 本例は、実施例 2を基にして駆動回路の構成を変更した例である。この内容につい て、図 7及び図 8を用いて説明する。
本例の駆動回路 4は、図 7に示すごとぐ実施例 2の駆動回路を基にしてコンデンサ C41と電子スィッチ S41との間にインダクタンス L41を接続したものである。この駆動 回路 4によれば、電子スィッチ S41が"閉"となるときに、インダクタンス L41と抵抗 R1 1とで決定される時定数による 1次遅れ特性による鋸歯状波電流を発生させることが できる。なお、本例の駆動回路 4では、インダクタンス L41と並列してダイオード D41 を接続してある。このダイオード D41は、電子スィッチ S41が"開"となるときのサージ 電圧を吸収する。
[0058] この駆動回路 4によれば、図 8に示すごとぐ電子スィッチ S41が"閉"となるとき、す なわち、アモルファスワイヤへの通電電流の立ち上がりでは、前記のごとく立ち上がり の緩やかな鋸歯状波電流を発生させることができる。一方、電子スィッチ S41が"開" となるとき、すなわち、アモルファスワイヤへの通電電流の遮断では、前記の立ち上 力 Sりに比べて急激に通電電流を立ち下げることができる。そして、本例では、鋸歯状 波電流に近いパルス電流をアモルファスワイヤに供給する。
[0059] 本例では、立ち上がり時間 Tuを 20nsとし、遮断時間 Tdを 3nsとしてある。すなわち 、本例の立ち上がり時間 Tuは、遮断時間 Tdの約 7倍である。そして、立ち上がりから 遮断するまでの通電時間 Twを約 25nsとしてある。なお、立ち上がり時間 Tuとは、前 記通電電流が定常値の 10%から 90%に立ち上がるのに要する時間をいい、遮断時 間 Tdとは、前記通電電流が定常値の 90%から 10%に立ち下がるのに要する時間を いう。
[0060] ここで、本例では、前記通電時間 Twは、次の要件が満たされるように決定してある 。すなわち、この要件とは、通電電流の立ち上げに伴って検出コイルに誘起される減 衰振動電圧の大きさが、前記通電電流を遮断する際、後述の最小電圧値の 5%以下 の電圧範囲に収束しているというものである。ここで、最小電圧値とは、前記磁気セン サで検出する最小磁界強度の外部磁界が前記感磁体に作用したときに前記サンプ ルホールド回路が計測する前記誘起電圧値の大きさである。
[0061] 以上のように本例の駆動装置 4によれば、アモルファスワイヤにパルス状の通電電 流を供給する際、電流を緩やかに立ち上げる。これにより、完全に近いパルス電流を 供給する場合 (点線 dl)と比べて、電力消費を抑制でき省エネルギー効果を得ること ができる。さらに、アモルファスワイヤへの通電電流の立ち上がり時における電流変 化率を小さく(緩やかに立ち上げる)すれば、検出コイルに発生する振動電圧の振幅 を抑制することができる。そして、検出コイルの振動電圧の振幅が小さい状態でァモ ルファスワイヤへの通電電流を遮断すれば、外部磁界に応じて発生した電圧を精度 高く計測できる。このことを言い換えれば、通電電流の立ち上がりによる振動電圧が 早期に収束するため、その後、速やかに通電電流を遮断して外部磁界の計測が可 能となる。それ故、通電時間を少なくして、省電力効果を得ることができる。
[0062] なお、本例では、鋸歯状波電流を用いたが、これに代えて、遮断時間に比べて立 ち上がり時間が長い不完全なパルス状電流を適用することもできる。この不完全なパ ノレス状電流は、本例の駆動回路 4の上記時定数を調整することで実現可能である。 例えば、立ち上がり時間を、遮断時間の 3倍以上 30倍以内に設定すれば、本例の作 用効果を得ることができる。
[0063] (実施例 5)
本発明において磁気検出部を構成するパルス電流を通電するアモルファスワイヤ 力 なる感磁体と該感磁体の周囲に卷回した検出コイルからなる磁気インピーダンス 素子の実施の形態について、図 9一図 12を用いて説明する。
図 9及び 10において、電極配線基板 10上に磁界を検出する感磁体 20と、感磁体 20と検出コイル 30との間には絶縁物 40のみを介設してある。本例では、絶縁物 40 の外周に、捲線内径 200 /i m以下の検出コイル 30を配置してある。感磁体 20及び 検出コイル 30の端子は、電極配線基板 10上のそれぞれの電極 51、 52に接続して ある。そして、前記磁気インピーダンス素子は、電極 51、 52を介して、感磁体 20にパ ノレス電流を流し、その時に検出コイル 30に発生する電圧を出力する。
[0064] 該磁気インピーダンス素子は、感磁体 20の周囲に絶縁物 40のみを介して検出コィ ル 30を設置するため、その捲線内径を 200 z m以下と小さくすることができる。なお、 捲線内径とは、図 10に示す高さと幅で形成される溝断面積と同一面積となる円の直 径に相当する円相当内径をレ、う。捲線内径が大きいと感磁体と検出コイルとの間隙 が拡大して高感度化が得られなレ、こと及び、磁気インピーダンス素子の小型化の要 求を鑑みて、本例では捲線内径を 200 μ m以下としてある。
[0065] また、感磁体 20は、直径 10— 30 μ mの導電性を有する CoFeSiB系合金の磁性 アモルファスワイヤである。磁性アモルファスワイヤの線径は、製造上の観点力、ら 10 一 30 z mとするのが良い。前記電極配線基板 10は、深さ 40 200 z mの溝 90を有 する。前記検出コイル 30は、検出コイルの片側 31 (コイル部 31)が前記溝面 91に沿 つて配置され、検出コイルの片側 32 (コイル部 32)が前記溝の上面 92に配置されて 、コイル部 31とコイル部 32とからなる二層構造を有するものである。
[0066] 本例の電極配線基板 10の大きさは、幅 0. 5mm、高さ 0. 5mm、長さ 1. 5mmであ る。感磁体は、 CoFeSiB系合金を使った直径 20 z mのアモルファスワイヤ 20である 。電極配線基板 10上の溝 90は深さ 50 z mで幅 70 x m、長さ 1. 5mmである。検出 コイル 30は、溝面 91に形成されたコイル部 31と、溝上面 92に形成されたコイル部 3 2とからなる二層構造により形成されている。
[0067] 前記溝面 91に形成されるコイル部 31は、図 11に示されるように、溝 90の溝面 91の 全面及び電極配線基板 11の上面における前記溝 90の近接部に蒸着形成した導電 性の金属薄膜を選択的に除去してなる。具体的には、コイル部 31は、選択エツチン グ手法を利用し、前記金属薄膜が螺旋状に残るように、螺旋状の金属薄膜の隙間に 間隙部を設けたものである。
[0068] すなわち、前記溝 90の溝側面 911においては、上下方向に垂直な短冊状のコイル 部片 311を溝方向に複数形成する。また、前記溝 90の溝底面 912においては、幅 方向に対して傾斜する短冊状のコイル部片 312を溝方向に複数形成する。ここで、コ ィル部片 312は、第 1のコイル部片 311に対して溝方向に隣り合う第 2のコイル部片 3 11に対面する第 3のコイル部片 311と、前記第 1のコイル部片 311とを接続するよう に形成してある。これにより、コイル部片 311とコイル部片 312とを組み合わせたコィ ル部 311は、全体として螺旋状をなす。
[0069] 次に、溝上面 92のコイル部 32 (絶縁性を有する樹脂 40の上面 41に形成されたコ ィル部 32)は、前記電極配線基板 10の長手方向において前記溝上面 92を含む広 い範囲にわたって蒸着形成した導電性の金属薄膜よりなる。本例では、この金属薄 膜に対して、選択エッチング手法を適用して前記コイル部 32を形成した。具体的に は、選択エッチング手法により金属薄膜の一部を除去することにより、前記溝 90の幅 方向に沿う短冊状の金属薄膜を複数設けた。本例では、相互に対面する前記コイル 部片 311を接続するようにコイル部 32を形成した。なお、前記コイル部 32の上面は 必要に応じて保護膜を形成してもよい。
[0070] 本例の検出コイル 30の捲線内径は、円相当内径にて 66 μ mである。検出コイルの 捲線間隔は 50 x mにて、 20ターンである。
[0071] アモルファスワイヤ 20と検出コイル 30との間には、絶縁性を有する樹脂 40が充填さ れ、導電性磁性アモルファスワイヤ 20と検出コイル 30との間の電気的な絶縁を保つ ている。電極配線基板 10の上面には、感磁体 20の両端から延設された端子 51と、 検出コイル 30の両端力 延設された端子 52の計 4個を焼付けてある。ちなみに本例 の磁気インピーダンス素子の大きさは、電極配線基板の大きさとほぼ同一である。
[0072] 実施例 2の回路図(図 3参照。 )を利用して、前記磁気インピーダンス素子を評価し た。その結果を図 12に示す。同図から知られるように、実施例 2で得られた感度(第 5 図参照。)よりも優れた 0. 076V/Gという高感度が得られている。
[0073] 前記磁気インピーダンス素子におけるアモルファスワイヤと検出コイルとの平均間 隔 23 μ mに対して、実施例 2において用いた磁気インピーダンス素子における間隔 は従来技術の磁気インピーダンス素子で約 lmmである。図 15にその一例を示す。 基板 110は幅 1. 0mm、高さ 0. 5mm、長さ 2. 5mmである。基板 110上には、直径 30 μ mの CoFeSiB系合金力 なるアモルファスワイヤ 120を載せてゲル状の樹脂で 保護し、検出コイル 130を捲回する。絶縁性を有する捲き枠 160及び電極 150とから なる。従って、前記の高感度化(0. 076V/G)は、感磁体のアモルファスワイヤと出 力を検出する検出コイルとの間隔を小さくしたことによるものと考えられる。
また、小型化した磁気インピーダンス素子により磁気センサの小型化 ·薄型化が達 成できる。

Claims

請求の範囲
[1] 外部磁界の作用により電磁気特性が変化する感磁体と、該感磁体に通電電流を供 給する駆動回路と、前記感磁体の周囲に卷回した検出コイルと、前記検出コイルに 誘起する電圧の大きさである誘起電圧値を計測するサンプルホールド回路とを有し てなり、
該サンプノレホールド回路は、前記駆動回路による前記通電電流の遮断に同期して 前記誘起電圧値を計測するように構成してあることを特徴とする磁気センサ。
[2] 請求項 1に記載の磁気センサにおいて、
前記サンプノレホールド回路は、前記通電電流の遮断による前記誘起電圧値の時 間的変化である減衰振動波形において、時間的に最初のピーク値を計測するように 構成してあることを特徴とする磁気センサ。
[3] 請求項 1に記載の磁気センサにおいて、
前記サンプルホールド回路は、前記駆動回路による前記通電電流の遮断に対する 所定のタイミングを記憶する時間記憶手段を有し、前記通電電流の遮断に対して前 記所定のタイミングで同期して前記誘起電圧値を計測するように構成してあり、 前記所定のタイミングは、略ゼロの磁界強度の外部磁界中に保持した前記感磁体 への前記通電電流を遮断する際、減衰振動する前記誘起電圧値が時間的に最初に ゼロクロスするタイミングであることを特徴とする磁気センサ。
[4] 請求項 1一 3のいずれか 1項に記載の磁気センサにおいて、
前記駆動回路は、前記磁気センサで検出する最小磁界強度の外部磁界が前記感 磁体に作用したときに前記サンプルホールド回路が計測する前記誘起電圧値である 最小電圧値を記憶する電圧記憶手段を有し、かつ、前記誘起電圧値が前記最小電 圧値の 5%以下の電圧範囲に収束した状態で前記通電電流を遮断するように構成し てあることを特徴とする磁気センサ。
[5] 請求項 1一 4のいずれか 1項に記載の磁気センサにおいて、
前記駆動回路は、前記通電電流としてパルス状の電流変化を前記感磁体に作用 するように構成してあると共に、前記通電電流の大きさを所定電流値に高めるまでに 要する立ち上がり時間が、該所定電流値の前記通電電流を遮断する遮断時間の 3 倍以上 30倍以内となるように構成してあることを特徴とする磁気センサ。
[6] 請求項 1一 5のいずれか 1項に記載の磁気センサにおいて、
前記駆動回路は、前記通電電流の供給源である電気エネルギーを蓄えるコンデン サと、該コンデンサと前記感磁体との間の電気的な経路に配置した電子スィッチとを 含み、かつ、
前記コンデンサから前記感磁体に向けて供給する前記通電電流を、前記電子スィ ツチを用いて遮断するように構成してあることを特徴とする磁気センサ。
[7] 請求項 1一 6のいずれか 1項に記載の磁気センサにおいて、
該磁気センサは、一方向に延在する溝を形成した電極配線基板を有し、該溝が、 電気的な絶縁性を備えた絶縁体を充填されるように構成されており、
前記感磁体は、前記溝の溝方向に沿って前記絶縁体を貫通するように配置したァ 前記検出コイルは、前記溝の内周面である溝面に配設した一方のコイル部と、前記 溝の上面に当たる前記絶縁体の外表面である溝上面に配設した他方のコイル部とを 組み合わせて螺旋状の電気的な経路を形成したものであることを特徴とする磁気セ ンサ。
[8] 請求項 7に記載の磁気センサにおいて、
前記感磁体は、直径 1 μ m以上 30 μ m以下のアモルファスワイヤであり、 前記検出コイルは、捲線内径 200 μ m以下のものであることを特徴とする磁気セン サ。
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