WO2004051255A1 - 包装体の漏出欠陥検査装置及び検査方法 - Google Patents

包装体の漏出欠陥検査装置及び検査方法 Download PDF

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WO2004051255A1
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sealed package
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hermetically sealed
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Yoshihiro Murakawa
Yoshihiro Wada
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Gunze Limited
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
    • G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
    • G01N27/20—Investigating the presence of flaws
    • G01N27/205—Investigating the presence of flaws in insulating materials

Definitions

  • the present invention relates to a package for inspecting the presence or absence of a leak defect in an electrically insulating hermetically sealed package filled with conductive contents such as a liquid drug or food and drink. Akira for body leak inspection
  • a method and an apparatus A method and an apparatus.
  • Liquid pharmaceuticals such as physiological saline, pudose sugar solution, distilled water, eye drops, contact lens washing liquid, soft drinks, drinks, tea and other foods and drinks, syringe bags, bottles, etc.
  • it is packed in a package and distributed in a sealed state.
  • synthetic resins such as polyethylene (PE), polypropylene (PP), polyethylene terephthalate (PET), and vinyl chloride (PVC) are widely used as materials for such packages.
  • PE polyethylene
  • PP polypropylene
  • PET polyethylene terephthalate
  • PVVC vinyl chloride
  • the packaged product include an infusion bag, an infusion bottle, a retort food, a bottled beverage, and the like.
  • Such a package is formed by heat-melting a package material, and the above-described package is used.
  • the contents are filled, they are sealed to prevent leakage and decay of the contents.
  • a method of cavitating the opening is mainly used for a glass package, while a synthetic resin package is used for superposing a sheet-like portion in addition to the cabbing to generate heat.
  • a heat sealing process for fusing is also widely used.
  • a minute hole that is, a leakage defect may be generated on the package surface.
  • a minute gap due to poor adhesion may appear .
  • These leakage defects may cause adverse effects such as liquid leakage, deterioration of the content quality due to the reaction between the content and the outside air, and invasion of various bacteria.
  • Patent Document 1 discloses that a roller-shaped electrode and a chain-shaped electrode are brought into contact with a hermetically sealed package to prevent leakage.
  • a leak defect inspection apparatus has been proposed which applies a voltage adjusted so as to generate a flashover only between the two electrodes when there is a fall and determines whether or not there is a leak defect. Also, Japanese Patent Application Laid-Open No.
  • Patent Document 2 discloses an inspection by bringing a high-voltage electrode and a low-voltage electrode into contact with a sealed package and applying a low-frequency high voltage between the two electrodes. Leakage defect inspection equipment with improved performance has been proposed.
  • FIG. 1 and 2 are block diagrams showing the configuration of a leak defect inspection device according to a conventional technique.
  • a description will be given of a case where the inspection site 3 of the insulating sealed package 2 filled with the conductive contents 1 and sequentially conveyed is inspected for a leakage defect.
  • the leakage defect inspection apparatus applies a voltage between the first electrode 5, the second electrode 6, and the first electrode 5 and the second electrode 6.
  • a power supply 4 to be applied, and a determination unit 7 for determining the presence or absence of a leakage defect based on a discharge current generated between the first electrode 5 and the second electrode 6.
  • the first electrode 5 for applying a high voltage to the sealed package 2 comes into contact, and then the first electrode 5 called an inspection electrode
  • the second electrode 6 is placed in contact with or close to the inspection site 3 on the package surface.
  • a material layer of the hermetically sealed package 2 exists between the first electrode 5 and the content 1, and a material layer exists between the second electrode 6 and the content 1. Or a material layer and an air layer are present. Therefore, a capacitance exists between the first electrode 5 and the second electrode 6 and the content 1.
  • a power supply 4 is connected to one end of the first electrode 5, and the power supply 4 is grounded.
  • One end of the second electrode 6 is grounded with a resistor and a capacitor interposed therebetween. Therefore, the first electrode 5, capacitor (material layer), conductor (content 1), An electric circuit is formed in the order of the capacitor (material layer [+ air layer]) and the second electrode 6, and the first path a is formed as shown in the figure.
  • discharge current the current flowing through the second electrode 6 through the first path a ( (Hereinafter referred to as discharge current).
  • a remarkable change in the value of the current flowing through the second electrode 6 appears depending on the presence or absence of the leakage defect.
  • a current value hereinafter referred to as a threshold value
  • the determining unit 7 compares the measured value with the threshold value, and determines that there is a leakage defect when the measured value is larger than the threshold value.
  • the second path b as shown is formed.
  • the current passing through the second path b becomes a noise current that flows directly from the first electrode 5 to the second electrode 6 through the surface of the sealed package 2 or the air layer without passing through the contents 1. . Therefore, the change in the current value along the first path a, which indicates the presence or absence of a leakage defect, is mixed with the noise current due to the second path b, which is unrelated to the presence or absence of the leakage defect, or is buried in the noise current. Leak inspection could not be performed.
  • the value of the distance between the electrodes is 2 to 3 times or less the value of the inspection voltage (kV).
  • the inspection voltage is 20 kV
  • the present invention provides a first electrode which is in contact with an insulating hermetically sealed package filled with a conductive content, and a first electrode which is arranged close to an inspection site of the hermetically sealed package.
  • a leak defect inspection device comprising: a third electrode having one end in contact with the sealed package and the other end grounded.
  • the noise current flowing directly from the first electrode through the surface of the sealed package can be flown to the ground point by the third electrode without passing through the contents of the sealed package. . Therefore, the current flowing through the second electrode can be only the current flowing from the first electrode through the contents of the sealed package, and the accuracy of the leak defect inspection can be improved.
  • the third electrode is in contact with the hermetically sealed package between a contact portion of the first electrode and the inspection portion where the second electrode is close.
  • the noise current can be easily led to the third electrode, and the accuracy of the leak defect inspection can be further improved.
  • the third electrode contacts the hermetically sealed package at a position closer to the inspection site where the second electrode is closer than a contact site of the first electrode.
  • the third electrode can be more easily guided to further improve the accuracy of the leak defect inspection.
  • the present invention also includes a step of bringing a first electrode into contact with an insulative hermetically sealed package filled with a conductive content; and forming the second electrode with the insulating hermetically sealed package. Disposing the third electrode in close proximity to a body inspection site; anda third electrode, between the contact site of the first electrode and the inspection site near the second electrode, Contacting, and applying a test voltage to the first electrode. And a step of judging the presence or absence of a leak defect in the inspection site of the hermetically sealed package based on a current value flowing through the second electrode.
  • the noise current flowing directly from the first electrode through the surface of the sealed package without passing through the contents of the sealed package can flow to the ground point at the third electrode. Therefore, the current flowing to the second electrode can be only the current flowing from the first electrode through the contents of the sealed package, and the accuracy of the leak defect inspection can be improved.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a leakage defect inspection device according to a conventional technique.
  • FIG. 2 is a diagram showing a discharge path when the first electrode and the second electrode come close to each other in the leakage defect inspection apparatus of FIG.
  • FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of the leakage defect inspection device according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of the leakage defect inspection device according to the embodiment of the present invention.
  • the leakage defect inspection apparatus includes a first electrode 5, a second electrode 6, a power supply 4, A fixed portion 7 and a third electrode 8 are provided.
  • One end of the first electrode 5 is in contact with the insulating sealed package 2 filled with the conductive content 1, and the other end is connected to the power supply 4.
  • One end of the second electrode 6 is arranged close to the inspection site 3 of the sealed package 2, and the other end is connected to the determination unit 7.
  • the third electrode 8 has one end in contact with the sealed package 2 and the other end grounded.
  • the first electrode 5 and the second electrode 6 are connected to the lower surface or side surface below the liquid surface of the contents of the sealed package 2 so that the discharge current passing through both electrodes flows through the contents 1. Be placed.
  • the third electrode 8 is in contact with any surface including the lower surface, the upper surface, or the side surface of the sealed package 2.
  • the first electrode 5 and the third electrode 8 that come into contact with the sealed package 2 have a smooth surface so as not to damage the sealed package 2, and the second electrode 6 that is close to the inspection site 3 is However, it has a sharp needle shape so as to easily induce spark discharge.
  • the electrodes 5, 6, and 8 are made of a conductive material such as stainless steel (SUS) or copper.
  • the power supply 4 is, for example, approximately 10 kV as a test voltage for the first electrode 5 as an inspection voltage. A high-voltage alternating current of about 30 kV is applied, and a current of several A to several mA is set to flow through the content 1 depending on its conductivity. However, depending on the type of the sealed package 2, a value outside this range may be appropriate.
  • the determination unit 7 determines the presence or absence of a leakage defect at the inspection site 3 of the sealed package 2 based on the value of the current flowing through the second electrode 6, and includes an arithmetic device such as a computer.
  • the determination unit 7 in this example generates a voltage signal from the current flowing through the second electrode 6, and compares the voltage signal with the above-described threshold to determine whether there is a leakage defect.
  • the current flowing through the second electrode 6 changes greatly depending on the presence or absence of a leakage defect, and the voltage signal generated by the determination unit 7 also changes greatly. In the present embodiment, it is set to detect a leak defect having a size of 2 or more. However, it is usually sufficient to detect a leak defect of 5 Oim or more.
  • the first electrode 5 is brought into contact with the insulating hermetically sealed package 2, and the second electrode 6 is connected to the inspection site of the hermetically sealed package 2. 3 and close the third electrode to the contact area of the first electrode 5
  • the hermetically sealed package is brought into contact with the inspection site 3 to which the second electrode 6 is brought close.
  • an inspection voltage is applied to the first electrode 5, and the presence or absence of a leakage defect at the inspection site 3 of the sealed package 2 is determined based on the value of the current flowing through the second electrode 6.
  • the first path a passes through the first electrode 5, the material layer of the sealed package 2, the content 1, the material layer of the sealed package 2, the air layer, the second electrode 6, and the third path c It passes through the first electrode 5, the material layer of the sealed package 2, and the third electrode 8.
  • the first electrode is directly passed without passing through the contents 1 of the sealed package 2. From 5 the noise current flowing through the surface of the sealed package 2 can be passed to the grounding point at the third electrode. Therefore, the noise current is prevented from flowing through the second electrode 6 through a path composed of the first electrode 5, the material layer of the sealed package 2, the air layer, and the second electrode 6, and The current flowing through the electrode 6 can be limited to that of the first path a via the content 1. As a result, the SZN ratio of the voltage signal generated by the determination unit 7 can be improved, and the accuracy of leakage defect inspection can be increased.
  • leakage defect inspection is not possible with the conventional technology. Even when the distance between the first electrode 5 and the second electrode 6 has been reduced, the leakage defect inspection can be performed with high accuracy. Furthermore, since the current flowing on the surface of the sealed package 2 does not enter as noise, the threshold value of the voltage signal for determining the presence or absence of a leakage defect can be reduced, which also indicates the detection accuracy. Is a positive factor.
  • the third electrode 8 is provided between the contact portion of the first electrode 5 and the inspection portion 3 where the second electrode 6 is close to the contact portion of the first electrode 5, and further, the contact portion of the first electrode 5 is provided.
  • the second electrode 6 is in contact with the hermetically sealed package 2 at a position closer to the inspection site 3 which is closer than the position.
  • the distance between the first electrode 5 and the second electrode 6 is reduced.
  • the first electrode 5 and the third electrode 8 are brought close to each other.
  • the distance between the first electrode 5 and the third electrode 8 decreases, the current flowing in the third path c increases, and the current flowing in the first path a decreases. As a result, the accuracy of the leak defect inspection may be reduced.
  • the value of the distance (mm) between the first electrode 5 and the third electrode 8 is at least 1.5 times the value of the inspection voltage (kV), for example, When the inspection voltage is 20 kV, it is desirable to arrange the electrodes so that the distance between the electrodes is 30 mm or more. A normally applicable inspection voltage value of 5 to 50 kV is desirable.
  • the third electrode 8 is located not only between the first electrode 5 and the second electrode 6 but also at a position opposite to the second electrode 6 or at a position opposite to the first electrode 5. , Or on the top surface or side surface of the sealed package 2. When the third electrode 8 is separated from the first electrode 5 as described above, the third electrode 8 can be arranged at such a position and separated.
  • the third electrode 8 may be provided at a plurality of locations. Further, the third electrode 8 may be combined with any one of the first electrode 5 and the second electrode 6 while being insulated from each other.
  • the step of bringing the third electrode 8 into contact with the sealed package 2 includes the step of bringing the first electrode 5 into contact with the sealed package 2, and the step of bringing the second electrode 6 into contact with the inspection site 3 of the sealed package 2. The inspection can be performed in conjunction with any one of the steps arranged close to each other, and the leakage defect inspection can be simplified.

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Abstract

導電性の内容物（１）が充填された絶縁性の密封包装体（２）に接触する第１の電極（５）と、密封包装体（２）の検査部位（３）に近接させて配置する第２の電極（６）と、第１の電極（５）に検査電圧を印加する電源（４）と、第２の電極（６）に流れる電流値を基に、密封包装体（２）の検査部位（３）における漏出欠陥の有無を判定する判定部（７）とを備えた漏出欠陥検査装置において、一端が密封包装体に接触し、他端が接地された第３の電極（８）を装備する。これにより、第１の電極（５）と第２の電極（６）との間の距離が近くなるときでも、正常に密封包装体（２）の漏出欠陥検査を行うことができる。　　　　　　　　　　　　　

Description

包装体の漏出欠陥検査装置及び検査方法 技術分野 本発明は、 液状の医薬品や飲食物など、 導電性の内容物が充填された電気絶 縁性の密封包装体における漏出欠陥の有無を検査する包装体の漏出検査のため 明
の方法及ぴ装置に関する。
細 背景技術 生理食塩水、 プドウ糖液、 蒸留水、 目薬、 コンタク トレンズ洗浄液等の液状 医薬品、 清涼飲料水、 ドリ ンク剤、 お茶などの飲食物などは、 シリ ンジゃバッ グ、 ポ 卜ル等の包装体に充填され、 密封された状態で流通されるのが一般的で ある。 このような包装体の材料には、 ガラスの他に、 ポリエチレン （ P E )、 ポ リ プロピレン （P P )、 ポリエチレンテレフ夕レー ト （P E T )、 塩化ビニル ( P V C ) などの合成樹脂が広く用いられている。 包装された製品の例としては 、 輸液バッグや輸液ボ トル、 レ トルト食品、 ボトル入り飲料などが挙げられる このような包装体は、 包装体材料を熱溶融させて形成され、 上記のような内 容物が充填された後、 内容物の漏出や腐敗を防止するための密封処理が施され る。 この密封処理として、 ガラス製包装体では、 主に開口部をキヤ ッ ビングす る手法が用いられる、 一方、 合成樹脂の包装体ではキヤッビングの他に、 シ一 ト状の部分を重ね合わせ熱を加えて融着させる熱シール処理も広く用いられて いる。
上記のような包装体材料の熱溶融を伴う処理時、 或いは各工程間の搬送時の 損傷によって、 包装体表面には微小な穴、 即ち漏出欠陥が発生する場合がある 。 また、 上記熱シール処理の場合には、 接着不良による微小な隙間が現れうる 。 これらの漏出欠陥は、 液洩れや、 内容物と外気との反応による内容物の品質 低下、 雑菌の侵入などの弊害をもたらす可能性がある。
したがって包装体は、 その密封処理が終わると、 通常全数について漏出欠陥 の有無が検査され、 漏出欠陥が存在する場合には、 不良品として処理される。 このような検査に用いる装置の一例として、 特開昭 5 0— 6 9 9 8号公報 （特 許文献 1 ) には、 密封包装体にローラ状電極と鎖状電極とを接触させ、 漏出欠 陥がある場合にのみ閃絡が生じるよう調節した電圧を両電極間に印加して漏出 欠陥の有無を判断する漏出欠陥検査装置が提案されている。 また、 特開平 6 — 8 8 0 1号公報 （特許文献 2 ) には、 密封包装体に高圧側電極と低圧側電極と を接触させ、 両電極間に低周波高電圧を印加することにより検査性能を向上さ せた漏出欠陥検査装置が提案されている。
図 1及ぴ図 2は、 従来の技術に係る漏出欠陥検査装置の構成を示したプロッ ク図である。 以下、 逐次搬送されてくる、 導電性の内容物 1が充填された絶縁 性の密封包装体 2の検査部位 3を対象に、 漏出欠陥の有無を検査する場合につ いて説明する。
図 1 に示されているように、 従来の技術に係る漏出欠陥検査装置は、 第 1の 電極 5、 第 2の電極 6、 第 1の電極 5と第 2の電極 6 との間に電圧を印加する 電源 4、 及び第 1の電極 5 と第 2の電極 6 との間に生じる放電電流を基に漏出 欠陥の有無を判定する判定部 7を備えている。
導電性の内容物 1が充填された密封包装体 2が該検査装置にセッ 卜されると 、 密封包装体 2に高電圧を印加する第 1の電極 5が接触し、 次いで検査電極と 呼ばれる第 2の電極 6が包装体表面の検査部位 3に接触するか、 又は近接させ て配置される。 この状態では、 第 1の電極 5 と内容物 1 との間には絶縁性を有 する密封包装体 2の材料層が存在し、 第 2の電極 6 と内容物 1 との間には材料 層、 又は材料層及び空気層が存在する。 したがって、 第 1の電極 5及び第 2の 電極 6 と内容物 1 との間には静電容量が存在することになる。
通常、 第 1の電極 5の一端には電源 4が接続され、 電源 4は接地されている 。 そして第 2の電極 6の一端は抵抗器ゃコンデンサなどを挟んで接地されてい る。 したがって、 第 1の電極 5、 コンデンサ （材料層）、 導電体 （内容物 1 )、 コンデンサ （材料層 [ +空気層] )、 第 2の電極 6の順で、 電気回路が構成され ることになり、 図示したように第 1 の経路 aが形成される。
コンデンサに相当する密封包装体 2の検査部位 3 における材料層に漏出欠陥 がない場合、 第 1 の経路 aにはコロナ放電によりわずかに電流が流れるだけで ある。 一方、 検査部位 3 に漏出欠陥が存在すると、 漏出欠陥部で第 2の電極 6 と内容物 1 との間に火花放電が生じるので、 第 1 の経路 aによって第 2 の電極 6 を流れる電流 （以下、 放電電流という） が、 著しく増加する。
すなわち、 漏出欠陥の有無により、 第 2 の電極 6 を流れる電流値に顕著な変 化が現れる。 これにより、 漏出欠陥の有無を判別し、 良品と不良品とを区別す る ことができる。 この判断を行うために、' 漏出欠陥がないと判定する場合の電 流値 （以下、 しきい値と記す） が予め設定されている。 そして、 判定部 7 は、 計測値としきい値とを比較し、 計測値がしきい値より大きいときに漏出欠陥が あると判定するようになっている。
しかしながら図 2 に示すように、 第 1 の電極 5 と第 2 の電極 6 とが接近し、 相互間の距離が小さくなると、 図示のような第 2の経路 bが形成されてしまう という問題があった。 第 2の経路 bを通る電流は、 第 1 の電極 5から内容物 1 を介さずに密封包装体 2の表面や空気層を通って、 直接第 2の電極 6 に流れて しまう ノイズ電流となる。 そのため、 漏出欠陥の有無を示す第 1 の経路 a によ る電流値の変化は、 漏出欠陥の有無と無関係な第 2 の経路 bによるノィズ電流 と混在し、 或いはノイズ電流に埋もれてしまい、 正常な漏出欠陥検査ができな かった。
このような問題は、 経験的には、 電極間の距離の値 （m m ) が検査電圧の値 ( k V ) の 2 ~ 3倍以下、 例えば、 検査電圧が 2 0 k Vの場合、 電極間距離が 4 0 ~ 6 0 m m以下となったときに発生している。 したがって、 特に電極間の 距離が接近せざるを得ないサイズが小さい密封包装体 2の漏出欠陥検査などに 弊害をもたらしていた。 発明の開示 本発明は、 第 1の電極と第 2の電極との間の距離が近くなるときでも、 正常 に密封包装体の漏出欠陥検査を行うことができる包装体の漏出検査のための方 法及び装置を提供することを目的とする。
本発明は、 前記目的を達成するため、 導電性内容物が充填された絶縁性の密 封包装体に接触する第 1の電極と、 前記密封包装体の検査部位に近接させて配 置する第 2 の電極と、 前記第 1 の電極に検査電圧を印加する電源と、 前記第 2 の電極に流れる電流値を基に、 前記密封包装体の前記検査部位における漏出欠 陥の有無を判定する判定部とを備えた漏.出欠陥検査装置において、 一端が前記 密封包装体に接触し、 他端が接地された第 3の電極を備えている漏出欠陥検査 装置を提供する。
上記の装置によれば、 密封包装体の内容物を介さずに、 直接第 1の電極から 密封包装体の表面を通って流れるノィズ電流を、 第 3の電極で接地点に流すこ とができる。 したがって、 第 2の電極に'流れる電流は、 第 1の電極から密封包 装体の内容物を介して流れる電流のみとすることができ、 漏出欠陥検査の精度 を高めることができる。
また、 前記第 3の電極が、 前記第 1の電極の接触部位と前記第 2の電極が近 接した前記検査部位との間で、 前記密封包装体に接触することが望ましい。
これにより、 上記ノイズ電流を第 3の電極に導き易く して、 漏出欠陥検査の 精度をより高めることができる。
また、 前記第 3の電極が、 前記第 1の電極の接触部位より前記第 2の電極が 近接した前記検査部位に近い位置で前記密封包装体に接触することが望ましい これにより； 上記ノイズ電流を第 3の電極に、 より導き易く して、 漏出欠陥 検査の精度をさらに高めることができる。
本発明は、 また、 前記目的を達成するため、 第 1の電極を、 導電性内容物が 充填された絶縁性密封包装体に接触させるステップと、 第 2の電極を、 前記絶 縁性密封包装体の検査部位に近接させて配置するステップと、 第 3の電極を、 前記第 1の電極の接触部位と前記第 2の電極を近接させた前記検査部位との間 で、 前記密封包装体に接触させるステップと、 前記第 1の電極に検査電圧を印 加するステップと、 前記第 2の電極に流れる電流値を基に、 前記密封包装体の 前記検査部位における漏出欠陥の有無を判定するステツプとを含む漏出欠陥検 査方法を提供する。
該方法によれば、 密封包装体の内容物を介さずに 、 直接第 1の電極から密封 包装体の表面を通って流れるノイズ電流を、 第 3の電極で接地点に流すことが できる。 したがって、 第 2の電極に流れる電流は、 第 1の電極から密封包装体 の内容物を介して流れる電流のみとすることができ、 漏出欠陥検査の精度を高 めることができる。
本明細書において、 第 2の電極を、 密封包装体の検査部位に 「近接させる」 とは、 漏出欠陥が存在する場合、 火花放電による放電電流を生じる位置まで、 検査部位に接近させた状態を意味する。 図面の簡単な説明 図 1は、 従来の技術に係る漏出欠陥検査装置の構成を示したプロック図であ る。
図 2は、 図 1の漏出欠陥検査装置において、 第 1の電極と第 2の電極とが接 近した場合の放電経路を示した図である。
図 3は、 本発明の実施の形態に係る漏出欠陥検査装置の構成を示したブロッ ク図である。 発明を実施するための最良の形態 以下、 本発明に係る実施形態について、 添付図面を参照しつつ詳細に説明を する。
図 3は、 本発明の実施の形態に係る漏出欠陥検査装置の構成を示したプロッ ク図である。 図 3において、 図 1及び図 2に示す部分と実質的に同じ部分には 、 それらと同じ番号を付す。 図 3に示されているように、 本発明の実施の形態 に係る漏出欠陥検査装置は、 第 1の電極 5 と、 第 2の電極 6 と、 電源 4と、 判 定部 7 と、 第 3の電極 8 とを備えている。
第 1の電極 5は、 その一端が導電性の内容物 1が充填された絶縁性の密封包 装体 2に接触し、 他端が電源 4に接続されている。 第 2の電極 6は、 その一端 が密封包装体 2の検査部位 3に近接させて配置され、 他端が判定部 7に接続さ れている。 第 3の電極 8は、 その一端が密封包装体 2に接触し、 他端が接地さ れている。 第 1 の電極 5、 及び第 2の電極 6は、 両電極を通る放電電流が内容 物 1 を介して流れるように、 密封包装体 2の内容物の液面より下方の下面又は 側面に対して配置される。 第 3の電極 8は密封包装体 2の下面、 上面、 又は側 面を含むいずれかの表面に接している。
密封包装体 2 と接触する第 1 の電極 5及び第 3の電極 8は、 密封包装体 2を 傷つけないように滑らかな表面を有しており、 検査部位 3に近接させる第 2の 電極 6は、 火花放電を誘発しやすいように先鋭な針状となっている。 これら電 極 5 、 6及ぴ 8は、 ステンレス （S U S )、 銅等の導電性材料で構成されている 電源 4は、 例えば、 第 1の電極 5に検査電圧として実行値で約 1 0 k V ~ 3 0 k Vの程度の高電圧の交流を印加するものであり、 内容物 1 にはその電導度 によって数; A〜数 m A程度の電流が流れるように設定される。 しかし、 密封 包装体 2の種類によってはこの範囲外の値が適当な場合もある。
判定部 7は、 第 2の電極 6に流れる電流値を基に、 密封包装体 2の検査部位 3における漏出欠陥の有無を判定するものであり、 コンピュータ等の演算装置 を含んで構成される。 この例における判定部 7は、 第 2の電極 6に流れる電流 から電圧信号を生成し、 該電圧信号と上述したしきい値とを比較して漏出欠陥 の有無を判定する。 上述のように第 2の電極 6を流れる電流は漏出欠陥の有無 によって大きく変化し、 判定部 7が生成する電圧信号も大きく変化する。 本実 施形態においては、 サイズが 2 以上の漏出欠陥を検出するように設定し たが、 通常は 5 O i m以上のものを検出すると十分である。
密封包装体 2が搬送装置 （図示せず） により送られてくると、 まず、 第 1 の 電極 5を絶縁性密封包装体 2に接触させ、 第 2の電極 6を密封包装体 2の検査 部位 3に近接させて配置し、 そして、 第 3の電極を第 1の電極 5の接触部位と 第 2 の電極 6 を近接させた検査部位 3 との間で、 密封包装体に接触させる。 次 いで、 第 1 の電極 5 に検查電圧を印加して、 第 2の電極 6 に流れる電流値を基 に、 密封包装体 2 の検査部位 3 における漏出欠陥の有無を判定する。
電源 4により検査電圧が供給されると、 図示した第 1 の経路 a及ぴ第 3 の経 路 cが形成される。 第 1 の経路 aは第 1 の電極 5、 密封包装体 2 の材料層、 内 容物 1 、 密封包装体 2 の材料層、 空気層、 第 2の電極 6 を通り、 第 3の経路 c は第 1 の電極 5、 密封包装体 2の材料層、 第 3 の電極 8 を通る。
このように本発明の実施形態によれば、 第 3 の電極 8から接地点に流れる経 路が確保されているので、 密封包装体 2の内容物 1 を介さずに、 直接第 1 の電 極 5から密封包装体 2 の表面を通って流れるノイズ電流を、 第 3 の電極で接地 点に流すことができる。 したがってノイズ電流が、 第 1 の電極 5、 密封包装体 2の材料層、 空気層、 第 2 の電極 6で構成される経路を通って第 2 の電極 6 を 流れるのを防止し、 第 2 の電極 6 を流れる電流を、 内容物 1 を介した第 1 の経 路 aのものだけに制限することができる。 これにより、 判定部 7で生成される 電圧信号の S Z N比を向上させて、 漏出欠陥検査の精度を高めることができる したがって本発明の実施形態によれば、 従来の技術では漏出欠陥の検査が不 可能となつていた、 第 1 の電極 5 と第 2の電極 6 との間の距離が近づいた場合 においても、 高い精度で漏出欠陥検査を行う ことができる。 さ らに、 密封包装 体 2 の表面を流れる電流がノイズとして混入しないので、 漏出欠陥の有無を判 別するための電圧信号のしきい値を小さくすることもでき、 このことも検查精 度を向上させるプラス要因となる。
また、 本実施形態においては、 第 3の電極 8が、 第 1 の電極 5の接触部位と 第 2の電極 6が近接した検査部位 3 との間で、 さらに、 第 1の電極 5の接触部 位よ り第 2の電極 6が近接した検査部位 3 に近い位置で密封包装体 2 に接触す るようにしている。 これにより、 ノイズ電流を第 3の電極 8 に導き易く して、 漏出欠陥検査の精度をより高めることができる。
本実施形態において、 第 1 の電極 5 に近い検査部位 3 を検査する場合、 第 の電極 5 と第 2 の電極 6 との間の距離を接近させることとなる。 この場合、 上 記のように第 3 の電極 8 を第 1 の電極 5 と第 2の電極 6 との間に配置するため には、 第 1 の電極 5 と第 3 の電極 8 とを接近させることとなる。 このようにし て第 1 の電極 5 と第 3 の電極 8 との相互間の距離が小さくなると、 第 3 の経路 c に流れる電流が大きくなつて、 第 1の経路 aに流れる電流が小さくなり、 その 結果、 漏出欠陥検査の精度を低下させる虞がある。
このような場合、 第 3の経路 c に流れる電流を抑えるために、 第 3の電極 8 を第 1 の電極 5から遠ざけることが望ましい。 具体的には、 第 3の電極 8 を、 第 1 の電極 5 と第 3の電極 8 との間の距離の値 （m m ) が検査電圧の値 （ k V ) の 1 . 5倍以上、 例えば、 検査電圧が 2 0 k Vの場合、 電極間距離が 3 0 m m以上となるよう に配置することが望ましい。 通常適用可能な検査電圧の値と しては 5 ~ 5 0 k Vが望ましい。
第 3 の電極 8 は、 第 1 の電極 5 と第 2の電極 6 との間だけでなく、 第 2 の電 極 6 に対して反対側の位置や、 第 1 の電極 5 に対して反対側の位置、 密封包装 体 2の上面や側面などに配置されてもよい。 上記のように第 3 の電極 8 を第 1 の電極 5から遠ざける場合には、 このような位置に配置して遠ざけることがで きる。
本実施形態では、 第 3の電極 8が 1つの場合について説明したが、 第 3 の電 極 8 を複数箇所に設けることもできる。 また、 第 3の電極 8 を、 第 1 の電極 5 及び第 2 の電極 6 のうちのいずれかの電極と相互に絶縁された状態で組み合わ せたアセンブリ とする こともできる。 これによ り第 3の電極 8 を密封包装体 2 に接触させるステップを、 第 1 の電極 5 を密封包装体 2 に接触させるステップ 、 及び第 2の電極 6 を密封包装体 2の検査部位 3 に近接させて配置するステツ プのうちのいずれかのステップと連動させて行う ことができ、 漏出欠陥検査を 簡略化することができる。

Claims

請求の範囲
1 . 導電性内容物が充填された絶縁性の密封包装体に接触する第 1 の電極と、 前記密封包装体の検査部位に近接させて配置する第 2の電極と、 前記第 1 の電 極に検査電圧を印加する電源と、 前記第 2の電極に流れる電流値を基に、 前記 密封包装体の前記検査部位における漏出欠陥の有無を判定する判定部とを備え た漏出欠陥検査装置において、
一端が前記密封包装体に接触し、 他端が接地された第 3 の電極を備えている ことを特徴とする漏出欠陥検査装置。
2 . 前記第 3 の電極が、 前記第 1 の電極の接触部位と前記第 2の電極が近接し た前記検査部位との間で、 前記密封包装体に接触することを特徴とする請求の 範囲第 1項に記載の漏出欠陥検査装置。
3 . 前記第 3 の電極が、 前記第 1 の電極の接触部位より前記第 2の電極が近接 した前記検査部位に近い位置で前記密封包装体に接触することを特徴とする請 求の範囲第 1項または第 2項に記載の漏出欠陥検査装置。
4 . 第 1 の電極を、 導電性内容物が充填された絶縁性の密封包装体に接触させ るステップと、
第 2の電極を、 前記密封包装体の検査部位に近接させて配置するステップと 第 3 の電極を、 前記第 1 の電極の接触部位と前記第 2 の電極を近接させた前 記検査部位との間で、 前記密封包装体に接触させるステツプと、
前記第 1 の電極に検査電圧を印加するステツプと、
前記第 2の電極に流れる電流値を基に、 前記密封包装体の前記検査部位にお ける漏出欠陥の有無を判定するステップとを含むことを特徴とする漏出欠陥検 査方法。
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