WO2004043839A1

WO2004043839A1 - 糸巻取装置、張力検出方法及び張力検出装置

Info

Publication number: WO2004043839A1
Application number: PCT/JP2002/011814
Authority: WO
Inventors: Kazuhiko Nakade; Masakatsu Hasegawa; Katsufumi Muta
Original assignee: Murata Kikai Kabushiki Kaisha
Priority date: 2002-11-13
Filing date: 2002-11-13
Publication date: 2004-05-27
Also published as: DE10297812T5; CN1620398A; DE10297812B4; CN100377979C

Description

明細書糸巻取装置、張力検出方法及び張力検出装置技術分野

本発明は、張力検出方法及び張力検出装置と、糸を巻取る糸巻取装置、特に、連続して供給されてくるナイロン又はポリエステル糸等の合成繊維フィラメント糸を巻き取る糸巻取装置とに関する。背景技術

連続して供給されてくる合成繊維フィラメント糸を卷取るテイクアップワインダ（糸巻取装置）においては、スピニングへッドから一定速度で連続供給される糸を一定の状態で巻取ることが重要である。そのための巻取制御技術として、糸速度制御と糸張力制御とが知られている。糸速度制御としては、例えば、ボビンに巻かれた糸層の周面と接触して回転する接触ローラの回転速度が一定になるように、ボビンを回転させるスピンドルモ一夕の回転速度を制御し、ボビンに巻かれた糸層の周速を糸の供給速度と常に一致させる方法がある。

このように、糸速度制御によって巻取速度を供給速度に一致させることができる力巻取速度を一定にした場合でも、糸の張力が変化することがある。糸の品質向上のために、糸の張力を一定にすることが重要視されている。

糸張力制御を行うためには、糸の張力を検出する張力センサを用いる。張力センサは、そのほとんどが糸と接触して張力を検出する。検出の方法としては、特公昭 6 0 - 4 7 9 8 5号公報に開示されているように、糸を 2個のガイド間で屈曲させて測定する方法が一般的である。し力、し、糸をガイド間で屈曲させると摩擦が生じてフィラメント切れの発生率が高くなる等の悪影響が生じ、糸の品質が低下する。

このような問題を解決する方法として、特公昭 5 1 - 4 4 6 6 8号公報、特公昭 5 4 - 2 8 1 0 6号公報で示されているように、綾振りされる糸の両ターン付近で糸に触れるように、張力センサを綾振り支点の直下に設ける方法が知られている。綾振りの折返し付近で糸が張力センサに接触するため、フィラメント切れの発生率は低く、糸の品質に与える影響が少ないしかし、糸巻取装置はボビンの回転等により装置自身が振動しており、張力センサ自身も振動しながら糸に触れている。そのため、張力センサの検出信号には、糸の張力成分及び該高調波成分と機械の振動成分とが含まれており、検出信号から糸の張力成分のみを分離することが必要になる。糸の張力成分のみを分離する方法として、周波数が高い機械の振動成分をローパスフィルタ等でカツ卜する方法があるが、糸卷取装置には種々の振動が含まれ、しかも振動は一定でないのでカツ卜する周波数の選択は困難である。

本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、張力センサの出力信号に含まれる種々の成分の中から糸の張力成分を抽出することができる張力検出方法、張力検出装置及び該張力検出装置を備えた糸卷取装置を提供することを目的とする。発明の開示

第 1発明に係る糸巻取装置は、ボビンに糸を巻取る巻取機構と、前記ボビンに巻取られる糸を、設定された綾振り周波数で綾振る綾振機構と、前記糸の綾振り支点となる綾振り支点ガイドと、前記綾振り支点ガイドと前記綾振り機構との間に設けられ、前記糸から受ける力に応じた検出信号を出力する手段と、前記検出信号の周波数スぺクトルを求める分析手段と、求めた周波数スぺクトルから、前記検出信号出力時の綾振り周波数に対応するスぺクトル強度を抽出する抽出手段とを備え、抽出したスぺクトル強度に基づいて前記糸の張力を求めるべくなしてあることを特徴とする。第 2発明に係る糸卷取装置は、第 1発明において、前記分析手段は、前記検出信号の周波数スぺクトルを前記設定された最高の綾振り周波数をわずかに超える範囲まで求めるベぐなしてあることを特徵とする。

第 3発明に係る糸巻取装置は、第 1または第 2発明において、前記抽出手段は、求めた周波数スぺクトルから、前記検出信号出力時の綾振り周波数に対応するスぺクトル強度のうちのピークのスぺクトル強度を抽出すベくなしてあることを特徴とする。

第 4発明に係る糸卷取装置は、第 1〜第 3発明の何れかにおいて、前記検出信号を出力する手段は、綾振られている糸が接触する接触部と、前記接触部が前記糸から受けた力を検出する手段とを備えたことを特徵とする。第 5発明に係る糸巻取装置は、第 4発明において、前記接触部は、綾振りの折返し付近で前記糸と接触すベくなしてあることを特徴とする。

第 6発明に係る張力検出方法は、設定された綾振り周波数で綾振られながら走行する糸の張力検出方法において、前記糸から受ける力に応じた検出信号を出力する第 1ステップと、前記検出信号の周波数スぺクトルを求める第 2ステップと、求めた周波数スぺクトルから、前記検出信号出力時の綾振り周波数に対応するスぺクトル強度を抽出する第 3ステップと、抽出したスぺクトル強度に基づいて前記糸の張力を求める第 4ステップとを有することを特徴とする。

第 7発明に係る張力検出方法は、第 6発明において、前記第 2ステップは、前記検出信号の周波数スぺクトルを前記設定された最高の綾振り周波数をわずかに超える範囲まで求めることを特徴とする。

第 8発明に係る張力検出方法は、第 6又は第 7発明において、前記第 3 ステップは、求めた周波数スぺクトルから、前記検出信号出力時の綾振り周波数に対応するスぺクトル強度のうちのピークのスぺクトル強度を抽出することを特徴とする。

第 9発明に係る張力検出方法は、第 6〜第 8発明の何れかにおいて、前記第 1ステップは、受けた力に応じた検出信号を生成する検出器に、前記糸を接触させて、該糸から受けた力に応じた検出信号を出力させることを特徴とする。

第 1 0発明に係る張力検出方法は、第 9発明において、前記検出器は、綾振りの折返し付近で前記糸と接触させることを特徴とする。

第 1 1発明に係る張力検出方法は、定められた周波数で位置が変動する被検出体から受ける力に応じた検出信号を出力し、該検出信号に基づいて前記被検出体の張力を求める張力検出方法において、前記検出信号を周波数分析するステップと、分析結果から、前記検出信号出力時の定められた周波数に対応するデータを抽出するステップと、抽出したデータに基づいて前記被検出体の張力を求めるステップとを有することを特徴とする。第 1 2発明に係る張力検出方法は、第 1 1発明において、前記周波数分析するステップは、前記周波数分析を前記定められた最高の周波数をわずかに超える範囲まで行うことを特徴とする。

第 1 3発明に係る張力検出方法は、第 1 1又は第 1 2発明において、前記データを抽出するステップは、分析結果から、検出信号出力時の定められた周波数に対応するデータのうちのピークのデータを抽出することを特徴とする。

第 1 4発明に係る張力検出装置は、設定された周波数で位置が変動する被検出体から受ける力に応じた検出信号を出力する手段を備え、該検出信号に基づいて、前記被検出体の張力を求める張力検出装置において、前記検出信号を周波数分析する分析手段と、分析結果から、前記検出信号出力時の定められた周波数に対応するデータを抽出する抽出手段とを備え、抽出したデータに基づいて前記被検出体の張力を求めるべくなしてあることを特徴とする。

第 1 5発明に係る張力検出装置は、第 1 4発明において、前記分析手段は、前記周波数分析を前記設定された最高の綾振り周波数をわずかに超える範囲まで行うべくなしてあることを特徴とする。

第 1 6発明に係る張力検出装置は、第 1 4又は第 1 5発明において、前記抽出手段は、分析結果から、検出信号出力時の設定された周波数に対応するデータのうちのピークのデータを抽出すべくなしてあることを特徴とする。

第 1又は第 6発明においては、検出信号の周波数スぺクトルを求め、綾振り周波数に対応するスぺクトル強度を抽出するため、高調波成分及び機械振動等の種々の成分を取り除いて、糸の張力を求めることができる。検出信号には、例えばボビンの回転等による糸巻取装置自身の振動成分及び高調波成分が含まれているが、周波数分析により、糸の綾振り周波数に対応するスぺクトル強度を抽出でき、高調波成分及び機械振動等の種々の成分を含まない正確な張力を求めることができる。周波数スぺクトルは、 F F T (高速フーリエ変換）を用いて高速に求めることができる。

第 2又は第 7発明においては、綾振りの周波数範囲が定まっているため、分析する周波数範囲を限定することにより、周波数分解能を張力検出に必要な分解能程度に粗くでき、周波数分析に要する時間を短縮することができる。

第 3又は第 8発明においては、検出信号は、綾振り周波数に対応する周波数スぺクトルにスぺクトル強度のピークが出るので、ピークのスぺクトル強度から張力を演算するようにすれば、正確な張力が求められる。

第 4又は第 9発明においては、綾振りにより周期的に位置が変動する糸を接触部に接触させることにより、糸が接触部に周期的に加えた力に応じて、綾振り周波数に対応する周期で変化する検出信号が得られる。

第 5又は第 1 0発明においては、綾振りの折返し付近で張力を計測するため、張力を検出する手段が糸に与える悪影響を最小限に抑えて、糸の品質を低下させずに張力検出を行うことができる。

第 1 1又は第 1 4発明においては、検出信号を周波数分析し、分析結果から被検出体の変動の周波数に対応するデー夕を抽出するため、高調波成分及び機械振動等の種々の成分を取り除いて、被検出体の張力を求めることができる。例えば、検出信号のサンプリングデータを F F T (高速フーリエ変換）を用いて周波数分析し、被検出体の変動の周波数に対応するデ一夕を抽出することができる。

第 1 2又は第 1 5発明においては、被検出体の変動の周波数範囲が定まつているため、周波数分析する周波数範囲を限定することにより、周波数分解能を張力検出に必要な分解能程度に粗くでき、周波数分析に要する時間を短縮することができる。

第 1 3又は第 1 6発明においては、検出信号は、被検出体の変動の周波数に対応するデータにピークが出るので、ピークのデータから張力を演算するようにすれば、正確な張力が求められる。図面の簡単な説明

図 1は本発明に係る張力検出装置を備えた糸巻取装置の一例を示す斜視図である。図 2は図 1に示す糸卷取装置の要部構成の一例を示すプロック図である。図 3は張力検出装置のセンサ部の一例を示す斜視図である。図 4は張力検出装置の演算部の一例を示すプロック図である。図 5は検出信号の一例を示す図である。図 6は検出信号の周波数分析結果の一例を示す図である。図 7は周波数分析の実行手順の一例を示すフローチヤ一トである。図 8は周波数分析の実行手順の一例を示すフローチヤ一トである。発明を実施するための最良の形態

以下、本発明をその実施の形態を示す図面に基づいて具体的に説明する図 1に本発明に係る張力検出装置を備えた糸卷取装置の一例を示す。図

1に示すように、スピニングへッド（図示されていない）から供給された複数 (図では 6本) のフイラメント糸 (以下、糸と呼ぶ) は、一対のゴデットローラ 2， 3を経て、固定枠 5に設けられた綾振りの支点ガイド 6に夫々挿通され、後述する張力検出装置のセンサ部（接触部） S 1〜S 6を通してテイクアップワインダ T Wへ送られる。

テイクアップワインダ T Wは、巻取位置，待機位置に夫々位置する 2本のスピンドル 7 , 8を備えている。スピンドル 7には複数（図では 6個） . のボビン（紙製の筒） 1 1 (図 2 ) が装着され、各ボビン 1 1にそれぞれ糸が巻き取られる。糸層が形成されたボビン 1 1を、パッケージ P 1〜P 6と呼ぶ。パッケージ P 1〜P 6の糸層が規定量に達した場合、卷取位置のスピンドル 7と待機位置のスピンドル 8とが位置交換され、スピンドル 8の空のボビンに糸が巻かれる。また、パッケージ P 1〜P 6の糸層周面付近には、前記糸層周面に適度な接圧を付与するための接触ローラ 9が設けられている。スピンドル 7とボビン 1 1を基本要素として巻取機構が構成されている。

スピンドル 7の上方には、糸を綾振る（ボビン 1 1の所定幅内で糸を振る）ためのトラバース装置 1 0が設けられている。トラバース装置 1 0の更に上方には、糸の綾振り支点となる支点ガイド 6及び張力検出装置のセンサ部 S 1〜S 6が設けられている。トラバース装置 1 0を基本要素として綾振機構が構成されている。

スピンドル 7は、図 2に示すように、スピンドルモータ M S Pによって回転し、スピンドル 7の回転速度はセンサ S S Pで検出する。糸の綾振りはモータ MTRを動力源にして行い、綾振り周波数はセンサ S TRで検出する。接触ローラ 9の回転速度はセンサ S CRで検出する。各センサ S S P, S TR, S CRの検出信号は CPU等の制御装置に送られる。また、各モータ MS P， MTRの回転数は C PU等の制御装置によって制御される o

張力検出装置は、糸の張力を計測するセンサ部（検出器） S 1〜S 6と、センサ部 S 1〜S 6から出力された検出信号から張力を求める演算部 TC とを備える。センサ部 S 1〜S 6は、図 3に示すように、歪ゲージ 1 4が設けられ、一短辺が固定された弾性プレー卜 1 2と、綾振りの両ターン部分で糸と接触させる U字型の接触部 1 5と、接触部 1 5を弾性プレート 1 2に支持する支持ロッド 1 3とを備える。接触部 1 5が糸と接触して綾振り方向に動いた場合（矢印 A) 、弾性プレート 1 2の一短辺が固定されているので、他短辺が動いて（矢印 B) 弾性プレート 1 2が歪む。この歪に応じた検出信号がセンサ部 S 1〜S 6から出力され、演算部 TCに送られ o

演算部 TCは、図 4に示すように、センサ部 S 1〜S 6から出力された検出信号 (アナログ信号) から、後述するアナログ Zデジタル変換器のサンプリング周波数の 1/2倍以上の周波数成分をカツトする口一パスフィルター（L P F) 2 1と、 L P F 2 1を通過した検出信号のいずれかを選択するマルチプレクサ（MPX) 2 0と、 MPX 2 0で選択された検出信号をデジタル信号に変換するアナログ Zデジタル変換器（ADC) 22と、綾振り周波数を検出するセンサ S TRの出力と ADC 2 2の出力とが入力される演算処理装置（C PU) 2 とを備える。 MPX 2 0で選択する出力信号は、選択信号によって C PU 2 4が指示する。 C PU 2 4は、センサ S CR， S S Pからの検出信号が入力され、モ一夕 MS P， MTRの制御も行う。

C P U 2 4は、検出信号の周波数スぺクトルを求める分析手段 2 4 aとして動作する。また、 C P U 2 4は、分析手段 2 4 aで求めた周波数スぺクトルから綾振り周波数に対応するスぺクトル強度を抽出する抽出手段 2 4 bとして動作する。抽出手段 2 4 bで抽出したスぺクトル強度に基づいて、 C P U 2 4で糸の張力を求める。求めた周波数スぺクトル及び抽出したスぺクトル強度はメモリ 2 4 f に記憶される。

図 5に、検出信号の一例を示す。検出信号には、綾振り（トラバース）成分と高調波成分とが含まれる。図 5に示した条件で計測された張力の検出信号の周波数分析結果の一例を図 6に示す。

C P U 2 4 (抽出手段 2 4 b ) は、綾振り周波数に最も近いピークのスぺクトル強度を抽出する手段として動作する。抽出したスぺクトル強度はメモリ 2 4 ίに記憶される。

綾振り周波数は、パッケージ Ρ 1〜Ρ 6の糸層の形を整えるために、糸巻取り中に微調整される。例えば、綾角（ボビン 1 1の回転方向と糸の巻取方向とがなす角）の調整のために、綾振り周波数を変更する。例えば、綾振り周期が卷取回転周期の整数倍であるために、同じ部分に糸が重なつて巻かれる、いわゆるリボン巻を防止する場合等に綾振り周波数が大きく変更される。このような綾振り周波数の制御は C P U 2 4が行う。このような綾振り周波数変更時は、変更前のデータを破棄して変更後のデータで張力を検出すること、または、変更前と変更後のデータを合せて張力を検出することができる。

次に、本発明に係る張力検出装置を用いた糸の張力検出について説明する。張力検出手順の一例を図 7及び図 8に示す。図 7は、主に各センサ部 S 1〜S 6の出力信号のサンプリング手順を示し、図 8は、主に C P U 2

4による検出信号の周波数分析及び張力の演算手順を示す。サンプリング及び演算は、主に C PU 2 4により実行される。本実施の形態では、サンプリング点は 1 2 8とする。

図 7に示すように、サンプリングを行う前に、 MPX 2 0の切換カウン夕値 Nxと、サンプリングのカウンタ値 Ndをリセッ卜する（S 1 0) 。切換カウンタ値 Nxが 0， 1， · · ·， 5の場合、センサ部 S I, S 2 , • · ·， S 6が選択される。これら Nx， N dはC PU 2 4のメ乇リ 2 4 f 等に記憶される。切換カウンタ値 Nxが 0なので、 C PU 2 4は MPX 2 0にセンサ部 S 1を選択させ、センサ部 S 1から出力された検出信号が ADC 2 2でデジタル変換される (S 1 2) 。デジタル変換の完了後 (S 1 4 ： Y E S ) 、切換力ゥンタ値 N Xを 1增加させ（ S 1 6) 、 MPX 2 ◦の出力をセンサ部 S 2に切換える（S 1 8) 。切換カウンタ値 Nxが 6 に達していない場合（S 2 0 ： NO) 、センサ部 S 2〜S 6から出力された検出信号を同様にデジタル変換する。

切換カウンタ値 Nxが 6に達している場合（S 2 0 ： YE S) 、センサ部 S 1〜S 6の検出信号がデジタル変換されているので、切換カウンタ値 Nxをリセットし（S 2 2) 、サンプリングのカウンタ値 Ndを 1増加させる（S 2 4) 。カウンタ値 N が 1 2 8に達していない場合（S 3 0 ： NO) 、サンプリングを続ける。カウンタ値 N dが 1 2 8に達している場合（S 3 0 : YE S) 、 1 2 8点のサンプリングが完了しているので、力ゥンタ値 N dをリセッ卜し (S 3 2) 、サンプリングの完了を示すパラメ一夕 F L U Gを「 1」に更新する（ S 3 4 ) 。この後も同様の処理を繰り返してサンプリングを続ける。

図 8に示すように、サンプリングの完了を示すパラメータ F LUGが厂 1」の場合（S 4 0 ： YE S) 、 C PU 2 4で F F T演算を行い（S 4 2 ) 、パラメ一夕 F LUGを「0」に戻す（S 4 4) 。 F FT演算結果から、各スぺクトル強度（振幅）を演算する（S 4 6) 。 C PU 2 4は、演算結果から、綾振り周波数に最も近いピークのスぺクトル強度を抽出し

( S 4 8 ) 、抽出したスぺクトル強度から張力を求める（S 5 0 ) 。張力は、各センサ部 S 1〜S 6の出力信号に対して求める。求めた張力はメモリ 2 4 ί に記憶される。上述したサンプリング（図 7 ) と張力演算（図 8 ) とは、並行して実行される。

求めた糸の張力を用いて、スピンドル 7の回転速度制御、あるいは、糸の異常張力の監視等を行うことができる。糸の張力検出はパッケージ Ρ 1 〜Ρ 6毎に行っているため、前記制御は、 6つの張力の平均値，両端（Ρ 1 , Ρ 6 ) 又は中間（Ρ 2， Ρ 5 ) の平均値，または所定のパッケージの張力に基づいて行うこと等ができる。

以上、糸卷取装置に用いた場合を例にして説明したが、本発明の張力検出装置は、糸卷取装置に限定はされず、任意の装置に備えることができるまた、糸の張力の検出を例にして説明したが、糸に限定はされず、任意の検出体の張力を検出することができる。発明の効果

第 1又は第 6発明によれば、検出信号の周波数スぺクトルを求め、綾振り周波数に対応するスぺクトル強度を抽出するため、高調波成分及び機械振動等の種々の成分を取り除いて、糸の張力を求めることができる。検出信号には、例えばボビンの回転等による糸巻取装置自身の振動成分及び高調波成分が含まれているが、周波数分析により、糸の綾振り周波数に対応するスぺクトル強度を抽出でき、高調波成分及び機械振動等の種々の成分を含まない正確な張力を求めることができる。

第 2又は第 7発明によれば、綾振りの周波数範囲が定まっているため、分析する周波数範囲を限定することにより、周波数分解能を張力検出に必要な分解能程度に粗くでき、周波数分析に要する時間を短縮することができる。

第 3又は第 8発明によれば、検出信号は、綾振り周波数に対応する周波数スぺクトルにスぺクトル強度のピークが出るため、ピークのスぺクトル強度から張力を演算することにより、正確な張力を求めることができる。第 4又は第 9発明によれば、綾振りにより周期的に位置が変動する糸を接触部に接触させることにより、糸が接触部に周期的に加えた力に応じて、綾振り周波数に対応する周期で変化する検出信号が得られる。

第 5又は第 1 0発明によれば、綾振りの折返し付近で張力を計測するため、張力を検出する手段が糸に与える悪影響を最小限に抑えて、糸の品質を低下させずに張力検出を行うことができる。

第 1 1又は第 1 4発明によれば、検出信号を周波数分析し、分析結果から被検出体の変動の周波数に対応するデータを抽出するため、高調波成分及び機械振動等の種々の成分を取り除いて、被検出体の張力を求めることができる。

第 1 3又は第 1 6発明においては、検出信号は、被検出体の変動の周波数に対応するデータにピークが出るので、ピークのデータから張力を演算するようにすれば、正確な張力が求められる。

Claims

請求の範囲

1 . ボビンに糸を卷取る卷取機構と、

前記ボビンに巻取られる糸を、設定された綾振り周波数で綾振る綾振機構と、

前記糸の綾振り支点となる綾振り支点ガイドと、

前記綾振り支点ガイドと前記綾振り機構との間に設けられ、前記糸から受ける力に応じた検出信号を出力する手段と、

前記検出信号の周波数スぺクトルを求める分析手段と、

求めた周波数スぺクトルから、前記検出信号出力時の綾振り周波数に対応するスぺクトル強度を抽出する抽出手段と

を備え、抽出したスぺクトル強度に基づいて前記糸の張力を求めるべくなしてあることを特徵とする糸卷取装置。

2 . 前記分析手段は、前記検出信号の周波数スぺクトルを前記設定された最高の綾振り周波数をわずかに超える範囲まで求めるべくなしてあることを特徴とする請求項 1記載の糸卷取装置。

3 . 前記抽出手段は、求めた周波数スぺクトルから、前記検出信号出力時の綾振り周波数に対応するスぺクトル強度のうちのピークのスぺクトル強度を抽出すべくなしてあることを特徴とする請求項 1または 2記載の糸巻

4 . 前記検出信号を出力する手段は、

綾振られている糸が接触する接触部と、

前記接触部が前記糸から受けた力を検出する手段と

を備えたことを特徵とする請求項 1〜 3の何れかに記載の糸卷取装置 c

5 . 前記接触部は、綾振りの折返し付近で前記糸と接触すベくなしてあることを特徴とする請求項 4記載の糸卷取装置。

6 . 設定された綾振り周波数で綾振られながら走行する糸の張力検出方法において、

前記糸から受ける力に応じた検出信号を出力する第 1ステップと、前記検出信号の周波数スぺクトルを求める第 2ステップと、

求めた周波数スぺクトルから、前記検出信号出力時の綾振り周波数に対応するスぺクトル強度を抽出する第 3ステップと、

抽出したスぺクトル強度に基づいて前記糸の張力を求める第 4ステップと

を有することを特徴とする張力検出方法。

7 . 前記第 2ステップは、前記検出信号の周波数スぺクトルを前記設定された最高の綾振り周波数をわずかに超える範囲まで求めることを特徴とする請求項 6記載の張力検出方法。

8 . 前記第 3ステップは、求めた周波数スぺクトルから、前記検出信号出力時の綾振り周波数に対応するスぺクトル強度のうちのピークのスぺクトル強度を抽出することを特徴とする請求項 6又は 7に記載の張力検出方法。

9 . 前記第 1ステップは、受けた力に応じた検出信号を生成する検出器に、前記糸を接触させて、該糸から受けた力に応じた検出信号を出力させることを特徴とする請求項 6〜 8の何れかに記載の張力検出方法。

1 0 . 前記検出器は、綾振りの折返し付近で前記糸と接触させることを特徴とする請求項 9記載の張力検出方法。

1 1 . 定められた周波数で位置が変動する被検出体から受ける力に応じた検出信号を出力し、該検出信号に基づいて前記被検出体の張力を求める張力検出方法において、

前記検出信号を周波数分析するステップと、

分析結果から、前記検出信号出力時の定められた周波数に対応するデー夕を抽出するステップと、抽出したデータに基づいて前記被検出体の張力を求めるステップとを有することを特徴とする張力検出方法。

1 2 . 前記周波数分析するステップは、前記周波数分析を前記定められた最高の周波数をわずかに超える範囲まで行うことを特徵とする請求項 1 1 記載の張力検出方法。

1 3 . 前記データを抽出するステップは、分析結果から、検出信号出力時の定められた周波数に対応するデータのうちのピークのデータを抽出することを特徴とする請求項 1 1又は 1 2に記載の張力検出方法。

1 4 . 設定された周波数で位置が変動する被検出体から受ける力に応じた検出信号を出力する手段を備え、該検出信号に基づいて、前記被検出体の張力を求める張力検出装置において、

前記検出信号を周波数分析する分析手段と、

分析結果から、前記検出信号出力時の定められた周波数に対応するデー夕を抽出する抽出手段と

を備え、抽出したデータに基づいて前記被検出体の張力を求めるベくなしてあることを特徴とする張力検出装置。

1 5 . 前記分析手段は、前記周波数分析を前記設定された最高の綾振り周波数をわずかに超える範囲まで行うべくなしてあることを特徼とする請求項 1 4記載の張力検出装置。

1 6 . 前記抽出手段は、分析結果から、検出信号出力時の設定された周波数に対応するデータのうちのピークのデ一夕を抽出すべくなしてあることを特徴とする請求項 1 4又は 1 5記載の張力検出装置。