WO2002073222A1 - Procede d'analyse de frequence, appareil d'analyse de frequence et analyseur de spectre - Google Patents

Procede d'analyse de frequence, appareil d'analyse de frequence et analyseur de spectre Download PDF

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WO2002073222A1
WO2002073222A1 PCT/JP2002/002353 JP0202353W WO02073222A1 WO 2002073222 A1 WO2002073222 A1 WO 2002073222A1 JP 0202353 W JP0202353 W JP 0202353W WO 02073222 A1 WO02073222 A1 WO 02073222A1
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frequency
frequency analysis
signal
correlation value
under test
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PCT/JP2002/002353
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Inventor
Makoto Kurosawa
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Advantest Corporation
JAPAN as represented by MINISTER FOR PUBLIC MANAGEMENT, HOME AFFAIRS, POSTS AND TELECOMMUNICATIONS
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B17/00Monitoring; Testing
    • H04B17/10Monitoring; Testing of transmitters
    • H04B17/15Performance testing
    • H04B17/16Test equipment located at the transmitter
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/16Spectrum analysis; Fourier analysis

Definitions

  • the present invention relates to a frequency analysis method suitable for extracting a signal present in a specified frequency band and performing a frequency analysis of the extracted signal, a frequency analysis device using the frequency analysis method, and
  • the present invention relates to a spectrum analyzer incorporating the frequency analyzer.
  • FIG. 1 An example of this type of frequency analyzer and an example of a spectrum analyzer incorporating this frequency analyzer are shown in FIG.
  • the part that detects the signal under measurement and analyzes its frequency is referred to as a frequency analyzer
  • the entire configuration including the display that displays the analysis results of the frequency analyzer is referred to as a spectrum analyzer.
  • the prior art frequency analyzer 100 comprises a signal extractor 11 for extracting a signal present in a specific frequency band X to be measured (see FIG. 9A), An analog-to-digital converter (hereinafter, referred to as an AZD converter) 12 coupled to the device 11, a frequency analysis unit 13 for analyzing the frequency of digital data output from the AZD converter 12, A buffer memory 16 for storing the frequency analysis result output from the frequency analyzer 13, a clock source 14 for supplying a clock signal to the AZD converter 12, and a clock supplied from the clock source 14 It is composed of a frequency divider 15 which divides a signal and supplies it to a frequency analyzer 13 and a buffer memory 16.
  • an AZD converter analog-to-digital converter
  • the spectrum analyzer 200 includes the frequency analyzer 100 having the above-described configuration, and a display 17 for displaying an analysis result of the frequency analyzer 100.
  • the signal extraction device 11 can be configured by If the signal to be measured is, for example, a signal obtained through a signal line (a signal having a relatively low frequency), it can be constituted by a pan-pass filter.
  • FIG. 8 shows the configuration of the frequency analyzer 100 when the signal to be measured is a radio wave.
  • an antenna AN is used as a sensor for capturing the signal under measurement, and this antenna AN is connected to a signal extraction device (high-frequency receiver in this example) 11.
  • the antenna AN is connected to an input terminal of a high-frequency circuit of a spectrum analyzer that is normally used, for example, when analyzing the frequency of a high-frequency signal.
  • the spectrum analyzer uses the signal extraction device 11 as a bandpass filter without frequency sweeping.
  • a commonly used high-frequency circuit of a spectrum analyzer generally employs a super dyne reception method to convert high-frequency signals S l and S 2 existing in the frequency band to be measured (high frequency band) X shown in FIG. 9A.
  • the signals IF1 and IF2 having lower intermediate frequencies are frequency down-converted and output.
  • the signals under test S 1 and S 2 existing in the frequency band under test X are extracted by the signal extracting device 11 used in this case as a bandpass filter, and further, the signal IF 1 of the intermediate frequency is output.
  • the signals to be measured S1 and S2 are extracted below for simplicity. Description will be made assuming that the signal is supplied from the device 11 to the AZD converter 12 without frequency conversion.
  • the AZD converter 12 performs A / D conversion of the signals under test S 1 and S 2 in synchronization with the clock signal supplied from the clock source 14 and converts the signals into digital data strings.
  • the signals under test S 1 and S 2 converted into digital data strings by the AZD converter 12 are input to the frequency analysis unit 13, where each sample point in the frequency band under measurement X is sampled.
  • the amplitude data of the signals under test S1 and S2 are calculated for each frequency of, and a frequency analysis is performed.
  • a well-known fast Fourier transform An apparatus using FFT
  • a fast Fourier transform apparatus a well-known fast Fourier transform apparatus using (FFT)
  • FFT Fast Fourier transform apparatus
  • the amplitude of the signals S 1 and S 2 at each sample point in the frequency band X under test can be determined from the mixed signals of the signals S 1 and S 2.
  • Data can be calculated and frequency analyzed.
  • the frequency analysis unit 13 every time the A / D converter 12 outputs, for example, S digital sample values to the frequency analysis unit 13, the time point when the last S-th digital sample value is output ( At timing, the frequency analysis calculation of the signals under test S1 and S2 is performed.
  • the frequency divider 15 forms a 1ZS frequency divider that divides the frequency of the clock signal to 1 / S.
  • the M data latches 16 A, 16 B, 16 C, 16 C, ..., 16 M provided in the buffer memory 16 are assigned to each sample point in the frequency band X to be measured.
  • the amplitude data corresponding to the frequency is stored.
  • the number M of data latches may be an integer greater than or equal to S (M S).
  • FIG. 10 An example of the frequency analysis results stored in the image memory of the display 17 is schematically shown in FIG.
  • the horizontal axis F indicates frequency
  • the vertical axis Y indicates amplitude
  • the front-back (depth) axis T indicates time. From the waveform of FIG. 10, the results of the frequency analysis of the signals under test S 1 and S 2 at the timing tl, the results of the frequency analysis of the signals under test S 1 and S 2 at the timing t 2, are stored in the image memory, respectively. It is easy to see that it is accumulated.
  • the display 17 reads out the frequency analysis results at each of these timings t1, t2, t3,..., One by one and displays them on the display, and displays the amplitude values of the signals S1 and S2 to be measured, Measure the center frequency, bandwidth, etc. of the measurement signals S1 and S2.
  • the frequency analysis of the signals under test S1 and S2 existing in the frequency band under test X can be performed.
  • the frequency analysis result shown in FIG. 10 illustrates an ideal state.
  • the signals under test S1 and S2 are radio waves transmitted from a mobile phone
  • the radio waves of the mobile phone are spread in frequency, so that the amplitude value is disturbed so that it cannot be distinguished from noise. is there.
  • the radio wave level is low, it is impossible to distinguish between noise and radio waves.
  • the prior art frequency analysis method and apparatus have a serious drawback that it is not possible to reliably detect the presence or absence of radio waves that are spread in frequency as in a mobile phone. Disclosure of the invention
  • One object of the present invention is to provide a frequency analysis method capable of reliably detecting the presence of a radio wave that is spread in frequency or a radio wave of a low level and performing frequency analysis. It is to provide.
  • Another object of the present invention is to provide a frequency analysis device capable of reliably detecting the presence of a radio wave that is spread in frequency or a radio wave of a low level and analyzing the frequency. That is.
  • Still another object of the present invention is to be able to reliably detect the presence of a radio wave that is spread in frequency and a radio wave of a low level, analyze the frequency, and display the radio wave. It is to provide a spectrum analyzer.
  • a step of extracting a signal under measurement existing in a frequency band to be measured by a plurality of measurement signal extracting devices Performing a frequency analysis on each of them; calculating a correlation value of the frequency analysis results of the plurality of signals under measurement; and calculating the correlation value if the calculated correlation value is equal to or greater than a preset value. Determining that the signal to be measured exists in the number, and determining that the signal to be measured does not exist at the frequency analyzed when the calculated correlation value is less than a preset value. Is done.
  • the method further comprises the step of converting the plurality of extracted signals under test into digital data, and the step of frequency analysis is performed by digital operation means.
  • the step of calculating the correlation value further includes the step of adding, and calculates the correlation value of the plurality of frequency analysis results including the noise.
  • the calculation of the correlation value is performed by a coherence function.
  • a plurality of measurement signal extracting devices for extracting a signal to be measured existing in a frequency band to be measured, and a digital signal for each of the signals to be measured extracted by the plurality of measurement signal extracting devices.
  • a plurality of A / D converters for performing frequency analysis of the plurality of signals under test over the frequency band to be measured from digital data output from the plurality of A / D converters, respectively.
  • Frequency analysis means for calculating a correlation value of the frequency analysis results of a plurality of signals to be measured output from the plurality of frequency analysis means, and a correlation value calculated by the correlation value calculation means If is greater than or equal to a preset value, it is determined that the signal to be measured exists at the frequency analyzed above, and the calculated correlation value is less than the preset value.
  • the frequency analyzer measured signal to a frequency above the frequency analysis includes a determining level determination means and does not exist is provided.
  • an adder is provided between each output side of the plurality of frequency analysis means and the correlation value calculation means, and the plurality of adders output signals from the plurality of frequency analysis means, respectively. Noise components having no correlation with each other are added to the frequency analysis results of the plurality of signals under measurement, respectively, to prevent the correlation value calculating means from being unable to calculate.
  • a plurality of measurement signal extracting devices for extracting a signal to be measured existing in a frequency band to be measured, and a digital signal for each of the measured signals extracted by the plurality of measurement signal extracting devices.
  • a plurality of A / D converters for performing frequency analysis of the plurality of signals under test over the frequency band to be measured from digital data output from the plurality of A / D converters, respectively.
  • Frequency analysis means for calculating a correlation value of the frequency analysis results of a plurality of signals to be measured output from the plurality of frequency analysis means, and a correlation value calculated by the correlation value calculation means If is greater than or equal to a preset value, it is determined that the signal to be measured exists at the frequency analyzed above, and if the calculated correlation value is less than the preset value, In some cases, the signal under measurement exists at the frequency analyzed above.
  • Level determining means for determining that there is no signal; calculating means for calculating at least the center frequency of the bandwidth of the signal under test from data representing the presence or absence of the signal to be measured output from the level determining means; And a display for displaying data indicating the presence or absence of the signal under measurement output from the spectrum analyzer.
  • an adder is provided between each output side of the plurality of frequency analysis means and the correlation value calculation means, and the plurality of adders output signals from the plurality of frequency analysis means, respectively. Noise components having no correlation with each other are added to the frequency analysis results of the plurality of signals under measurement, respectively, to prevent the correlation value calculating means from being unable to calculate.
  • the data indicating the presence or absence of the signal to be measured output from the level determination means detects whether or not a signal having a frequency less than a predetermined frequency bandwidth is present.
  • a noise detecting means for judging the signal as noise and processing so as not to be displayed on the display is further provided.
  • the signals to be measured are extracted by the plurality of measurement signal extracting devices, and the extracted signals to be measured are each subjected to frequency analysis, and furthermore, correlation values of the frequency analysis results are obtained.
  • the internal noise components of each signal extraction device are removed. Therefore, it is possible to obtain a frequency analysis result excluding the influence of the internal noise of each signal extraction device.
  • the correlation value is calculated according to the coherence function. If the obtained correlation value is larger than a predetermined value, it is determined that a signal is present. If the obtained correlation value is equal to or less than a predetermined value. For example, since it is determined that no signal exists, the presence or absence of a signal can be determined without being affected by the intensity of the signal under measurement. As a result, a frequency analysis result with a good SN ratio can be obtained.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of a spectrum analyzer according to the present invention.
  • FIG. 2 is a waveform chart showing an example of a frequency analysis result of a frequency analysis unit used in the spectrum analyzer shown in FIG.
  • FIG. 3 is a waveform diagram showing a frequency analysis result when the frequency analysis method according to the present invention is applied.
  • Fig. 4 shows a comparison between the frequency analysis result of the frequency analysis unit normally used in the prior art spectrum analyzer and the frequency analysis result when the frequency analysis method according to the present invention is applied to the frequency analysis result. It is a waveform diagram shown.
  • FIG. 5 is a diagram showing an example in which the center frequency, the bandwidth, and the total power of the signal under measurement calculated by the spectrum analyzer shown in FIG. 1 are displayed together with the waveform.
  • FIG. 6 is a block diagram showing a second embodiment of the spectrum analyzer according to the present invention.
  • FIG. 7 is a waveform chart for explaining the operation of the spectrum analyzer of the second embodiment shown in FIG.
  • FIG. 8 is a block diagram showing one configuration of a prior art spectrum analyzer.
  • FIG. 9 is a diagram for explaining the operation of the signal extraction device used in the spectrum analyzer of the prior art shown in FIG.
  • FIG. 10 is a diagram for explaining an example of a frequency analysis result stored in an image memory of a display used in the spectrum analyzer of the prior art shown in FIG. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • FIG. 1 shows a first embodiment of a frequency analyzing apparatus according to the present invention, and this frequency analyzing apparatus.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of a spectrum analyzer according to the present invention incorporating a device.
  • the exemplary frequency analysis device 100 suitably operates by using the frequency analysis method according to the present invention, as will become apparent hereinafter. Note that, in FIG. 1, parts and elements corresponding to those in FIG. 8 are given the same reference numerals, and descriptions thereof will be omitted unless necessary.
  • the spectrum analyzer 200 includes a frequency analyzer 100, a calculation unit 23, a second buffer memory 24, and a display 17.
  • the frequency analysis device 100 is provided with two circuits including a signal extraction device 11, an AZD converter 12, and a frequency analysis unit 13, which may have the same configuration as the frequency analysis device 100 shown in FIG.
  • One circuit includes a first signal extraction device 11A, a first AZD converter 12A, and a first frequency analysis section 13A, and the other circuit includes a second signal extraction device 11A.
  • B a second AZD converter 12B, and a second frequency analyzer 13B.
  • the frequency analyzer 100 further includes a clock source 14, a first frequency divider 15 for dividing the frequency of the clock signal into 1ZS, and a 1 / S clock output from the first frequency divider 15.
  • a second frequency divider 15B that divides the frequency of the signal to 1ZL, first and second noise sources 19A and 19B, noise N1 output from the first noise source 19A, and a first frequency
  • a first adder 18A that adds a first frequency analysis result (hereinafter, referred to as a first spectrogram) Sr ′ (f, t) output from the analyzer 13A, and a second noise source 19B
  • the noise N2 output from the second frequency analysis unit 13B and the second frequency analysis result (hereinafter, referred to as a second spectrogram) Sm ′ (f, t) output from the second frequency analysis unit 13B are added.
  • the clock source 14, and the first and second frequency dividers 15 and 15B are commonly used for the two circuits, and the clock signal output from the clock source 14 is used for the first and second AZD converters 12.
  • the first frequency divider 15 divides the frequency of the clock signal into 1ZS, and supplies the clock signal to the first and second frequency analysis units 138 and 13B and the second frequency divider 15B, respectively.
  • the second frequency divider 15B further performs 1ZL on the input clock signal having the frequency of 1 / S, and transmits the clock signal having the frequency of 1ZSL to the first buffer memory 16, the level determination unit 21, and the operation unit 23. Supply each.
  • the first and second noise sources 198 and 19B have the same level of noise N 1 and N 2 consisting of uncorrelated (ie, uncorrelated) random numbers, respectively, and the corresponding first and second additions, respectively.
  • the first and second adders 188 and 18B provide the first and second spectrograms S r ′ output from the first and second frequency analyzers 13A and 13B, respectively. (f, t) and Sm '(f, t), and the first and second noises Nl and N2, respectively, to obtain spectrograms S r (f, t) and Sm (f , t).
  • the correlation value calculation unit 20 prevents the calculation result from diverging even if the level of the signal under measurement is an infinitesimal value close to zero. Can be.
  • the threshold value setting unit 22 outputs the threshold value V set for each frequency f of each sample point in the measured frequency band to the level determination unit 21.
  • the level judgment unit 21 calculates the frequency of each sample point in the correlation value calculation unit 20; the first and second spectrum programs Sr ′ (f, t) and Sm ′ (f, t) calculated for each f. Is compared with the corresponding threshold value V output from the threshold value setting unit 22. In this embodiment, if each correlation value r 2 (f, t) is greater than the threshold value V, the level determination unit 21 determines that the signal to be measured exists at that frequency, and determines each correlation value ⁇ 2 (f , t) is smaller than the threshold value V, it is determined that the signal under measurement does not exist at that frequency.
  • the signal extraction devices 11A and 11B can be configured by a receiver or a band-pass filter having the same bandwidth, and the same frequency band is used as the frequency band to be measured. Determine.
  • the operation of the spectrum analyzer when detecting whether or not there is a radio wave used in the frequency band to be measured (for example, a radio wave transmitted from a mobile phone) and analyzing the frequency of the detected radio wave will be described. explain. Note that, as can be easily understood from FIG. 1, the antenna AN that receives the signal under measurement is commonly connected to the first and second signal extraction devices 11A and 11B.
  • the signal received by the antenna AN is sent to the first and second signal extraction devices 11A and 11B, and the received signals are band-limited by the signal extraction devices 11A and 11B, and then down-converted to an intermediate frequency signal. And output.
  • These intermediate frequency signals are sampled by the first and second AZD converters 12 and 12B with a clock signal of the frequency fs supplied from the clock source 14, and in this embodiment, are converted into S digital data strings. I do.
  • the S digital data output from the first and second AZD converters 12A and 12B, respectively, are subjected to frequency analysis in first and second frequency analysis units 13A and 13B, respectively.
  • the first and second adders 18A and 18B add the first and second spectrograms S r ′ (f, t) and Sm ′ (f, t) obtained in the process (1) above.
  • Sm (f, t) are output from the first and second adders 18A and 18B, respectively.
  • the noises N1 and N2 are uncorrelated with each other, and the first and second spectrograms S r ′ (f, t) and Sm ′ (f, t) are also uncorrelated and have an amplitude Are the same.
  • the amplitudes of these noises N 1 and N 2 are set as a.
  • phase In related value calculating section 20 calculates a correlation value ⁇ 2 (f, t) of these two systems L pieces of data output from circuit (scan Bae Kutoroguramu noisy).
  • the correlation value is calculated by a coherence function represented by the following equation (1).
  • ⁇ > represents an ensemble average of L data, and represents complex conjugate.
  • Correlation value ⁇ 2 (f, t) is, 0 ⁇ ⁇ 2 (f, t) ⁇ 1.
  • a real number in the range of 0, has a higher correlation closer to 1 the correlation value.
  • the noise N1 and N2 are added to the first and second spectrograms S r ′ (f, t) and Sm ′ (f, t), which are the results of the frequency analysis, according to the above equation. This is to prevent (1) from diverging.
  • FIG. 2 shows that the above processes (1) to (3) are performed for the frequency of each sample point (S in this embodiment) in the specified frequency band, and the S correlation values y 2 ( f, .t), that is, in this embodiment, an example of a coherence function Oite horizontal axis in FIG. 2 is a frequency (MHz), and the vertical axis is the correlation value ⁇ 2 (f, t). From the waveform in Figure 2, it can be seen that the noise and signal are clearly different.
  • the S correlation values 2 (f, t) calculated by the correlation value calculation unit 20 for each frequency of each sample point are stored in the first buffer 16.
  • the first correlation values stored in the buffer 16 ⁇ 2 (f, t) determines the threshold value V from the noise level with respect to the level of the threshold value V from the threshold setter 22 determination unit supplies 21, the first correlation value correlation value output from the buffer 16 ⁇ 2 (f, t) in the level determining unit 21 and is compared with a threshold value V. If the correlation value is greater than the threshold value V, the logic value “1” is output from the level determination unit 21, and if the correlation value is smaller, the logic value “0” is output.
  • the value of the threshold value V is determined as follows.
  • the threshold value V is set to 16Z25. Good.
  • the logic “1” is output from the level determination unit 21 in the process (3).
  • the time required to obtain one spectrogram S r (f, t) and Sm (f, t) is T If it is seconds, during L XT seconds), it indicates that a signal above a certain level in the specified frequency band has been detected.
  • FIG. 3 shows a waveform obtained by performing the process (4) on the waveform shown in FIG. That is, it shows the processing result of the level determination unit 21.
  • the value of the threshold V is selected to be 0.64 (16/25) in the value shown in Fig. 2.
  • the arithmetic unit 23 calculates the center frequency, the frequency band, and the total power of the waveform, which are obtained from the first frequency analysis unit 13A. It is needless to say that the spectrogram S r ′ (f, t) can be stored in the second buffer memory 24, and the arithmetic unit 23 can calculate and calculate the center frequency, frequency band, and total power of the waveform. .
  • Figure 4 shows an example of a spectral display.
  • Figure 4 A is I ⁇ S r '(f, t)> I 2
  • Fig. 4 B is I rather S m' (f, t) > I 2
  • Figure 4 C is the correlation value ⁇ 2 each scan Bae click DOO This is what is displayed. These spectrum displays show the case where the value of L is 128.
  • FIG. 6 is a block diagram showing a second embodiment of the spectrum analyzer according to the present invention.
  • the second embodiment not only has the same function as the first embodiment described above, but also has a function of removing impulse-like noise from outside when the noise is mixed. There is a feature.
  • FIG. 6 does not show a circuit configuration from the signal extraction devices 11 A and 11 B to the correlation value calculation unit 20 which is the same as in the first embodiment.
  • a third buffer memory 25 is provided on the output side of the level determination unit 21, and the logical value of “1” or “0” output from the level determination unit 21 is stored in the third buffer memory 25. It is stored in buffer memory 25 once.
  • a frequency bandwidth determination unit 26 is provided on the output side of the third buffer memory 25. The frequency bandwidth determination unit 26 checks whether or not the logic “1” continues over the predetermined frequency bandwidth. "1” is determined as noise, and the logic “1” is converted to logic "0” and output to the operation unit 23. If the logic “1” continues over the specified frequency bandwidth, it is determined that the signal is to be detected and the logic “1” is set. The data is output to the operation unit 23 as it is. Therefore, even if impulse-like external noise is mixed in the received signal, this noise can be removed.
  • a threshold value m is supplied from a second threshold value setting unit 27 to a frequency bandwidth determination unit 26.
  • m indicates a frequency bandwidth corresponding to one address of the third buffer memory 25. Therefore, m is an integer of 2 or more.
  • the frequency bandwidth determination unit 26 determines that the logic is noise and supplies the supplied logic. "1" is converted to logical "0" and output to the arithmetic unit 23.
  • the signal received by the antenna AN is band-limited by the first and second signal extraction devices 11 A and 11 B (see Fig. 1), and then down-converted to an intermediate frequency signal and output. .
  • These intermediate frequency signals are sampled by the first and second AZD converters 12A and 12B (see FIG. 1) using a clock signal of a frequency f s and converted into S digital data strings.
  • These S digital data are subjected to frequency analysis in the first and second frequency analysis units 13A and 13B (see FIG. 1), and the first and second two spectrograms S r ′ (f, t) are obtained. And Sm '(f, t).
  • the first and second spectrograms S r ′ (f, t) and Sm ′ (f, t) obtained in the above process (1) are added to the first and second noises Nl and N2 (no Then, the spectrum programs S r (f, t) and Sm (f, t) containing the noises N1 and N2 are obtained.
  • the noises N 1 and N 2 are uncorrelated with each other, and the first and second spectrograms S r ′ (f, t) and Sm ′ (f, t) are also uncorrelated, and Are the same.
  • the amplitudes of these noises N 1 and N 2 are set as a.
  • a threshold value V is determined from the noise level for the correlation value 2 (f, t) stored in the first buffer 16 and the threshold value is determined by the threshold value setting unit 22.
  • the correlation value 2 (f, t) is compared with the threshold value V in the level judgment unit 21.If the correlation value is larger than the threshold value V, the logic "1" is decreased. Output logic “0”.
  • the value of the threshold value V is determined in the same manner as in the first embodiment.
  • the logic “1” or “0” signal output from the level determination unit 21 is stored in the third buffer memory 25.
  • the threshold value m is supplied from the second threshold value setting unit 27 to the frequency bandwidth judgment unit 26, and the continuous number of logic “1” supplied from the third buffer memory 25 is Check if it is below the threshold value m. If the number of consecutive logic “1” s is less than the threshold value m, the logic “1” supplied from the third buffer memory 25 is converted to a logic “0” and output to the operation unit 23 I do.
  • m indicates the frequency bandwidth corresponding to one address of the third buffer memory 25
  • m is an integer of 2 or more.
  • FIG. 7 is a waveform diagram for explaining the check operation of the frequency bandwidth determination unit 26.
  • the horizontal axis corresponds to the frequency f, which also corresponds to the address of the third buffer memory 25.
  • waveforms S1, S2, and NOIS are shown below Short vertical line segments at regular intervals represent the address of the third buffer memory 25. Since p indicates a frequency bandwidth corresponding to one address of the third buffer memory 25, it corresponds to the length between two adjacent vertical lines as shown in FIG.
  • Waveforms S1, S2, and NOIS indicate the waveforms formed by the logic “1” and "0" stored in the third buffer memory 25.
  • the window WIN is moved from the first address of the third buffer memory 25 at a pitch of P corresponding to one address (in the example shown in FIG. 7, it is moved to the right where the frequency becomes higher), and the third buffer memory is moved.
  • 2 Measure the length (frequency bandwidth) of the part that is logic “1” in 5.
  • the waveforms S 1 and S 2 are stored at six consecutive addresses, respectively, so the length of the portion that is a logic “1” is 6, and is therefore a signal to be detected. And sent to the operation unit 23 as it is. Since the waveform NOIS is stored in only one address, the length of the portion having the logic "1" is 1, and it is determined as external noise.
  • the impulse-like noise can be obtained. Since it has almost no bandwidth and is in the form of a linear spectrum, this impulse-like noise can be almost completely removed. Also, since the frequency bandwidth of the window WIN for observing the inside of the third buffer memory 25 is set to a maximum value of less than 2 xm, only one signal can be observed in this window WIN. Therefore, there is no mistake of counting one signal twice.
  • the radio wave is simply received by the antenna AN.
  • the antenna AN is merely an example of a means for receiving radio waves.
  • two circuits composed of a signal extractor, an A / D converter, and a frequency analyzer are provided.However, two or more circuits composed of a signal extractor, an AZD converter, and a frequency analyzer are provided. It is also conceivable to provide the number of Therefore, the circuit including the signal extraction device, the A / D converter, and the frequency analysis unit is not limited to two systems. When three or more systems are provided, the correlation value calculation unit calculates the correlation between the frequency analysis results of any two or more signals.
  • the correlation value calculation unit may calculate the correlation between the plurality of frequency analysis results without adding unrelated noise to the frequency analysis results respectively output from the plurality of frequency analysis units.
  • the number of samples (S) when converting a received signal into a digital signal, the number of frequency analysis results (L) used to calculate a correlation value, and the values of thresholds V and m are merely examples. It goes without saying that various changes can be made as necessary.
  • the signals to be measured are extracted by a plurality of signal extraction devices, and a correlation value is calculated for each frequency of each sample point from the frequency analysis results, and each correlation value is calculated. If the value is equal to or greater than a predetermined value, a logic “1” is output. If the correlation value is equal to or less than a predetermined value, a logic “0” is output and the result of the frequency analysis is displayed. A significant advantage is obtained that the presence of this signal can be clearly displayed even if the signal is at a low level.

Description

明 細 書 周波数分析方法、 周波数分析装置及びスペク トラムアナライザ 技術分野
この発明は、 特定された周波数帯域内に存在する信号を抽出し、 この抽出した 信号の周波数分析を行なう場合に使用して好適な周波数分析方法及びこの周波数 分析方法を使用する周波数分析装置、 並びにこの周波数分析装置を組み込んだス ぺクトラムアナライザに関する。 背景技術
この種の周波数分析装置の一例と、 この周波数分析装置を組み込んだスぺクト ラムアナライザの一例を図 8に示す。 なお、 図示の例では被測定信号を検出して その周波数を分析する部分を周波数分析装置と称し、 この周波数分析装置の分析 結果を表示する表示器を含む全体の構成をスペク トラムアナライザと称すること にする。
図 8に示すように、 先行技術の周波数分析装置 1 0 0は、 特定の被測定周波数 帯域 X (図 9 Aを参照) 内に存在する信号を抽出する信号抽出装置 1 1と、 この 信号抽出装置 1 1に結合されたアナログ一デジタル変換器 (以下、 AZD変換器 と称す) 1 2と、 この AZD変換器 1 2から出力されるデジタルデータの周波数 を分析する周波数分析部 1 3と、 この周波数分析部 1 3から出力される周波数分 析結果を記憶するバッファメモリ 1 6と、 AZD変換器 1 2にクロック信号を供 給するクロック源 1 4と、 このクロック源 1 4から供給されるクロック信号を分 周して周波数分析部 1 3及びバッファメモリ 1 6に供給する分周器 1 5とによつ て構成されている。
—方、 スぺクトラムアナライザ 2 0 0は上記構成の周波数分析装置 1 0 0と、 この周波数分析装置 1 0 0の分析結果を表示する表示器 1 7とによって構成され ている。
信号抽出装置 1 1は、 被測定信号が例えば電波である場合には、 高周波受信機 によって構成することができる。 また、 被測定信号が例えば信号線を通じて得ら れる信号 (比較的周波数が低い信号) である場合には、 パンドパスフィルタによ つて構成することができる。 図 8には被測定信号が電波である場合の周波数分析 装置 1 0 0の構成を示す。 この場合には、 被測定信号を捕らえるセンサとして、 アンテナ ANが用いられ、 このアンテナ ANが信号抽出装置 (この例では高周波 受信機) 1 1に接続されている。 換言すれば、 このアンテナ ANは、 例えば高周 波信号の周波数を分析する際に通常使用されているスぺクトラムアナライザの高 周波回路の入力端子に接続されている。 なお、 特定された周波数帯域が比較的狭 く、 信号抽出装置 1 1を、 入力された信号から単に特定された周波数帯域内に存 在する信号を抽出するだけの手段として利用する場合には、 スペクトラムアナラ ィザは周波数掃引することなく、 信号抽出装置 1 1をバントパスフィルタとして 利用する。
通常使用されているスぺクトルアナライザの高周波回路は一般にスーパ一へテ 口ダイン受信方式により図 9 Aに示す被測定周波数帯域 (高周波数帯域) X内に 存在する高周波信号 S l、 S 2を、 図 9 Bに示すように、 これより低い中間周波 数の信号 I F 1、 I F 2にそれぞれ周波数ダウン変換して出力する。
従って、 被測定周波数帯域 X内に存在する被測定信号 S 1及び S 2は、 この場 合にはパンドパスフィルタとして利用される信号抽出装置 1 1によって抽出され 、 さらに、 中間周波数の信号 I F 1及び I F 2に周波数ダウン変換された後、 A ZD変換器 1 2に入力されることになるが、 説明を簡単にするために、 以下にお いては被測定信号 S 1及び S 2が信号抽出装置 1 1から周波数変換されずに AZ D変換器 1 2に供給されるものとして説明する。
AZD変換器 1 2はクロック源 1 4から与えられるクロック信号に同期して被 測定信号 S 1及び S 2を A/D変換し、 デジタルデータ列に変換する。 この AZ D変換器 1 2によってデジタルデータ列に変換された被測定信号 S 1及び S 2は 周波数分析部 1 3に入力され、 この周波数分析部 1 3において被測定周波数帯域 X内の各サンプル点の周波数毎に、 被測定信号 S 1及び S 2の振幅データを算出 し、 周波数分析を行なう。
周波数分析部 1 3としては、 例えば、 既に良く知られている高速フーリエ変換 (F F T) を使用する装置 (以下、 高速フーリエ変換装置と称す) を用いること ができる。 高速フーリエ変換装置を使用すれば、 被測定信号 S 1及び S 2が混在 する信号の中から、 被測定周波数帯域 X内の各サンプル点の周波数毎に被測定信 号 S 1及び S 2の振幅データを算出し、 周波数分析することができる。
周波数分析部 1 3では、 A/D変換器 1 2が周波数分析部 1 3に、 例えば S個 のデジタルサンプル値を出力する毎に、 S番目の最後のデジタルサンプル値が出 力された時点 (タイミング) で被測定信号 S 1及び S 2の周波数分析演算が行な われる。 なお、 A/D変換器 1 2が S個のデジタルサンプル値を出力する場合に は、 分周器 1 5はクロック信号の周波数を 1 / Sに分周する 1 Z S分周器を構成 する。
1回の分析演算によってバッファメモリ 1 6に設けられた M個のデータラッチ 1 6 A、 1 6 B、 1 6 C、 · · ·、 1 6 Mに被測定周波数帯域 X内の各サンプル 点の周波数に対応する振幅デ一タが格納される。 この例ではサンプル点は S個で あるので、 データラッチの個数 Mは S以上の整数 (M S ) であればよい。 周波 数分析部 1 3で次の S個のデジタルサンプル値に関する周波数分析演算が開始さ れると、 ノ ソフ ァメモリ 1 6にラッチされている振幅データは順次に表示器 1 7 に送り出され、 表示器 1 7の画像メモリに蓄積される。
表示器 1 7の画像メモリに蓄積された周波数分析結果の一例を図 1 0に摸式化 して示す。 図面において横方向の軸 Fは周波数、 上下方向の軸 Yは振幅、 前後方 向 (奥行き方向) の軸 Tは時間を示す。 図 1 0の波形から、 タイミング t lにお ける被測定信号 S 1及び S 2の周波数分析結果、 タイミング t 2における被測定 信号 S 1及び S 2の周波数分析結果、 · · ·がそれぞれ画像メモリに蓄積されて いることが容易に理解されよう。
表示器 1 7はこれら各タイミング t 1、 t 2、 t 3、 · · 'における周波数分 析結果を 1つずつ読み出してそのディスプレイに表示し、 被測定信号 S 1及び S 2の振幅値、 被測定信号 S 1及び S 2の中心周波数、 帯域幅等を測定する。 かく して、 被測定周波数帯域 X内に存在する被測定信号 S 1及び S 2の周波数分析を 行なうことができる。
図 1 0に示した周波数分析結果は理想的な状態を例示している。 現実には、 例 えば被測定信号 S 1及び S 2が携帯電話機から発信される電波である場合を想定 すると、 携帯電話機の電波は周波数拡散されているため、 ノイズと見分けがつか ない程振幅値が乱れた状態にある。 特に、 電波のレベルが低い場合には、 ノイズ と電波の区別は全く不可能となる。 このため、 先行技術の周波数分析方法及び装 置では、 携帯電話機のように周波数拡散されている電波の有無を確実に検出する ことができないという重大な欠点があった。 発明の開示
この発明の 1つの目的は、 周波数拡散されている電波であっても、 また、 レべ ルの低い電波であっても、 その存在を確実に検出し、 周波数分析することができ る周波数分析方法を提供することである。
この発明の他の目的は、 周波数拡散されている電波であっても、 また、 レベル の低い電波であっても、 その存在を確実に検出し、 周波数分析することができる 周波数分析装置を提供することである。
この発明のさらに他の目的は、 周波数拡散されている電波であっても、 また、 レベルの低い電波であっても、 その存在.を確実に検出し、 周波数分析して表示す ることができるスぺクトラムアナライザを提供することである。
上記目的を達成するために、 この発明の第 1の面においては、 被測定周波数帯 域に存在する被測定信号を複数の測定信号抽出装置によって抽出するステップと. 抽出した複数の被測定信号のそれぞれを周波数分析するステップと、 上記複数の 被測定信号の周波数分析結果についてそれらの相関値を演算するステップと、 算 出された相関値が予め設定した値以上であるときには、 上記周波数分析した周波 数に被測定信号が存在すると判定し、 算出された相関値が予め設定した値未満で あるときには、 上記周波数分析した周波数に被測定信号が存在しないと判定する ステップとを含む周波数分析方法が提供される。
好ましい一実施例においては、 上記抽出した複数の被測定信号をそれぞれデジ タルデータに変換するステップをさらに含み、 上記周波数分析するステップはデ ジタル演算手段によって実行される。
また、 上記複数の被測定信号の周波数分析結果にそれぞれ、 無相関のノイズを 加算するステップをさらに含み、 上記相関値を演算するステップはこれらノイズ を含む複数の周波数分析結果についてそれらの相関値を演算する。
上記相関値の演算はコヒーレンス関数によって行なわれる。
この発明の第 2の面においては、 被測定周波数帯域に存在する被測定信号を抽 出する複数の測定信号抽出装置と、 これら複数の測定信号抽出装置によって抽出 された被測定信号をそれぞれデジタルデータに変換する複数の A/D変換器と、 これら複数の A / D変換器からそれぞれ出力されるデジタルデータから上記被測 定周波数帯域に亘つて上記複数の被測定信号の周波数分析を行なう複数の周波数 分析手段と、 これら複数の周波数分析手段からそれぞれ出力される複数の被測定 信号の周波数分析結果についてそれらの相関値を演算する相関値演算手段と、 こ の相関値演算手段が算出した相関値が予め設定した値以上であるときには、 上記 周波数分析した周波数に被測定信号が存在すると判定し、 算出された相関値が予 め設定した値未満であるときには、 上記周波数分析した周波数に被測定信号が存 在しないと判定するレベル判定手段とを具備する周波数分析装置が提供される。 好ましい一実施例においては、 上記複数の周波数分析手段のそれぞれの出力側 と上記相関値演算手段との間にそれぞれ加算器が設けられ、 これら複数の加算器 により上記複数の周波数分析手段からそれぞれ出力される複数の被測定信号の周 波数分析結果に、 互いに相関性を持たないノイズ成分をそれぞれ加算し、 上記相 関値演算手段が演算不能になることを防止している。
この発明の第 3の面においては、 被測定周波数帯域に存在する被測定信号を抽 出する複数の測定信号抽出装置と、 これら複数の測定信号抽出装置によって抽出 された被測定信号をそれぞれデジタルデータに変換する複数の A/D変換器と、 これら複数の A/D変換器からそれぞれ出力されるデジタルデータから上記被測 定周波数帯域に亘つて上記複数の被測定信号の周波数分析を行なう複数の周波数 分析手段と、 これら複数の周波数分析手段からそれぞれ出力される複数の被測定 信号の周波数分析結果についてそれらの相関値を演算する相関値演算手段と、 こ の相関値演算手段が算出した相関値が予め設定した値以上であるときには、 上記 周波数分析した周波数に被測定信号が存在すると判定し、 算出された相関値が予 め設定した値未満であるときには、 上記周波数分析した周波数に被測定信号が存 在しないと判定するレベル判定手段と、 このレベル判定手段から出力される被測 定信号の有無を表わすデータから、 少なくとも被測定信号の帯域幅の中心周波数 を算出する演算手段と、 上記レベル判定手段から出力される被測定信号の有無を 表わすデータを表示する表示器とを具備するスぺク トラムアナライザが提供され る。
好ましい一実施例においては、 上記複数の周波数分析手段のそれぞれの出力側 と上記相関値演算手段との間にそれぞれ加算器が設けられ、 これら複数の加算器 により上記複数の周波数分析手段からそれぞれ出力される複数の被測定信号の周 波数分析結果に、 互いに相関性を持たないノイズ成分をそれぞれ加算し、 上記相 関値演算手段が演算不能になることを防止している。
また、 好ましい他の実施例においては、 上記レベル判定手段から出力される被 測定信号の有無を表わすデータに所定の周波数帯域幅未満の信号が存在するか否 かを検出し、 所定の周波数帯域幅未満の信号を検出したときには、 それをノイズ と判定して上記表示器に表示されないように処理するノイズ検出手段がさらに設 けられている。
この発明によれば、 複数の測定信号抽出装置により被測定信号を抽出すると共 に、 これら抽出した被測定信号をそれぞれ周波数分析し、 さらに、 これら周波数 分析結果の相関値を求めるようにしたので、 これら相関値を演算する過程で各信 号抽出装置の内部雑音成分が除去される。 よって、 各信号抽出装置の内部雑音の 影響を排除した周波数分析結果を得ることができる。
また、 相関値の演算をコヒーレンス関数に従って実行し、 得られた相関値が予 め設定した所定値より大きければ信号が存在すると判定し、 得られた相関値が予 め設定した所定値以下であれば信号が存在しないと判定するから、 被測定信号の 強度に影響されずに信号の有無を判定することができる。 その結果、 S N比の良 い周波数分析結果を得ることができる。 図面の簡単な説明
図 1はこの発明によるスぺクトラムアナライザの第 1の実施例を示すブロック 図である。 図 2は図 1に示したスぺクトラムアナライザに使用された周波数分析部の周波 数分析結果の一例を示す波形図である。
図 3はこの発明による周波数分析方法を適用した場合の周波数分析結果を示す 波形図である。
図 4は先行技術のスぺクトラムアナライザに通常使用されている周波数分析部 の周波数分析結果と、 この周波数分析結果にこの発明による周波数分析方法を適 用した場合の周波数分析結果とを比較して示す波形図である。
図 5は図 1に示したスぺクトラムアナライザで算出した被測定信号の中心周波 数、 帯域幅、 及び総電力を波形と共に表示した一例を示す図である。
図 6はこの発明によるスぺクトラムアナライザの第 2の実施例を示すプロック 図である。
図 7は図 6に示した第 2の実施例のスぺクトラムアナライザの動作を説明する ための波形図である。
図 8は先行技術のスぺクトラムアナライザの一構成を示すプロック図である。 図 9は図 8に示した先行技術のスぺクトラムアナライザに使用された信号抽出 装置の動作を説明するための図である。
図 1 0は図 8に示した先行技術のスぺクトラムアナライザに使用された表示器 の画像メモリに蓄積された周波数分析結果の一例を説明するための図である。 発明を実施するための最良の形態
以下、 この発明の好ましい実施例について詳細に説明する。 しかしながら、 こ の発明は多くの異なる形態で実施可能であるから、 以下に述べる実施例にこの発 明が限定されると解釈するべきではない。 後述の実施例は、 以下の開示が十分で 、 完全なものであり、 この発明の範囲をこの分野の技術者に十分に知らせるため に提供されるものである。
まず、 図 1〜図 5を参照してこの発明による周波数分析装置の第 1の実施例、 及びこの周波数分析装置を組み込んだこの発明によるスぺクトラムアナライザの 第 1の実施例について詳細に説明する。
図 1はこの発明による周波数分析装置の第 1の実施例、 及びこの周波数分析装 置を組み込んだこの発明によるスぺクトラムアナライザの第 1の実施例を示すブ ロック図である。 例示の周波数分析装置 100は、 後で明瞭になるように、 この 発明による周波数分析方法を使用することによって好適に動作する。 なお、 図 1 において、 図 8と対応する部分、 素子には同一符号を付けて示し、 必要のない限 りそれらの説明を省略する。
この第 1の実施例のスぺクトラムアナライザ 200は周波数分析装置 100と 、 演算部 23と、 第 2のバッファメモリ 24と、 表示器 17とから構成されてい る。 周波数分析装置 100には、 図 8に示した周波数分析装置 100の構成と同 じでよい信号抽出装置 11、 AZD変換器 12、 及び周波数分析部 13からなる 回路が 2系統設けられている。 一方の回路は第 1の信号抽出装置 11Aと、 第 1 の AZD変換器 12 Aと、 第 1の周波数分析部 13 Aとから構成されており、 他 方の回路は第 2の信号抽出装置 11 Bと、 第 2の AZD変換器 12Bと、 第 2の 周波数分析部 13 Bとから構成されている。
上記周波数分析装置 100は、 さらに、 クロック源 14と、 クロック信号の周 波数を 1ZSに分周する第 1の分周器 15と、 この第 1の分周器 15から出力さ れる 1/Sクロック信号の周波数を 1ZLに分周する第 2の分周器 15Bと、 第 1及び第 2のノイズ源 19 A及び 19Bと、 第 1のノイズ源 19 Aから出力され るノイズ N1と第 1の周波数分析部 13 Aから出力される第 1の周波数分析結果 (以下、 第 1のスペク トログラムと称す) Sr' (f , t) とを加算する第 1の 加算器 18Aと、 第 2のノイズ源 19Bから出力されるノイズ N2と第 2の周波 数分析部 13Bから出力される第 2の周波数分析結果 (以下、 第 2のスぺクトロ グラムと称す) Sm' (f , t) とを加算する第 2の加算器 18Bと、 これら第 1及び第 2の加算器 18A及び 18Bからそれぞれ出力される第 1及び第 2の加 算結果 Sr (f , t) 及び Sm (f , t) から第 1及び第 2のスペクトログラム Sr' (f , t) 及び Sm' (f, t) 間の相関値を演算する相関値演算部 20 と、 この相関値演算部 20から出力される相関値 y 2 (f , t) を格納する第 1 のバッファメモリ 16と、 しきい値 Vを設定するしきい値設定器 22と、 第 1の バッファメモリ 16に格納された相関値ァ2 (f , t) としきい値 Vとを比較す るレベル判定部 21とを具備している。 クロック源 14、 並びに第 1及び第 2の分周器 15及び 15 Bは上記 2系統の 回路に共通に使用され、 クロック源 14から出力されるクロック信号は第 1及び 第 2の AZD変換器 12八及ぴ12 Bに供給されると共に、 第 1の分周器 15に それぞれ供給される。 第 1の分周器 15はクロック信号の周波数を 1ZSに分周 して第 1及び第 2の周波数分析部 13八及ぴ13 Bと第 2の分周器 15Bにそれ ぞれ供給する。 第 2の分周器 15 Bは入力された 1/Sの周波数のクロック信号 をさらに 1ZLし、 1ZSLの周波数のクロック信号を第 1のバッファメモリ 1 6、 レベル判定部 21、 及び演算部 23にそれぞれ供給する。
第 1及び第 2のノイズ源 19八及び19 Bは互いに相関性を持たない (即ち、 無相関の) 乱数からなる同一レベルのノイズ N 1及び N 2をそれぞれ対応する第 1及び第 2の加算器 18 A及び 18 Bに供給する。 上述したように、 これら第 1 及び第 2の加算器 18八及び18 Bは第 1及び第 2の周波数分析部 13 A及び 1 3 Bからそれぞれ出力される第 1及び第 2のスペクトログラム S r' (f , t) 及び Sm' (f , t) とこれら第 1及び第 2のノイズ Nl及び N2とをそれぞれ 加算し、 ノイズ N1及び N2を含むスペク トログラム S r (f , t) 及び Sm ( f , t) をそれぞれ出力する。 後述するように、 このノイズ N 1及び N 2の加算 により、 相関値演算部 20では被測定信号のレベルが限りなく 0に近い微小値で あっても、 演算結果が発散するのを防止することができる。
しきい値設定器 22は、 被測定周波数帯域内の各サンプル点の周波数 f毎に設 定されたしきい値 Vをレベル判定部 21に出力する。 レベル判定部 21は、 相関 値演算部 20で各サンプル点の周波数; f毎に算出された第 1及び第 2のスぺクト ログラム Sr' (f , t) 及び Sm' (f, t) 間の相関値 (f, t) を、 しきい値設定器 22から出力される対応するしきい値 Vと比較する。 このレベル 判定部 21は、 この実施例では、 各相関値 r 2 (f , t) がしきい値 Vより大き ければその周波数に被測定信号が存在すると判定し、 各相関値ァ2 (f, t) が しきい値 Vより小さければその周波数に被測定信号が存在しないと判定するよう に構成されている。
信号抽出装置 11A及び 11 Bは同一の帯域幅を持つ受信機或いはバンドパス フィルタによって構成することができ、 同一の周波数帯域を被測定周波数帯域と 定める。 以下、 この被測定周波数帯域内で使用されている電波 (例えば携帯電話 機が発信する電波) が存在するか否かを検出し、 検出した電波の周波数を分析す る場合のスペクトラムアナライザの動作について説明する。 なお、 図 1から容易 に理解できるように、 被測定信号を受信するアンテナ ANが第 1及び第 2の信号 抽出装置 11 A及び 11 Bに共通に接続されている。
(1) アンテナ ANで受信した信号を第 1及び第 2の信号抽出装置 11A及び 11Bに送り、 これら信号抽出装置 11A及び 11 Bによって受信信号を帯域制 限した後、 中間周波信号に周波数ダウン変換して出力する。 これら中間周波信号 を第 1及び第 2の AZD変換器 12 及ぴ12 Bにおいてクロック源 14から供 給される周波数 f sのクロック信号でサンプリングし、 この実施例では S個のデ ジタルデータ列に変換する。 第 1及び第 2の AZD変換器 12 A及び 12Bから それぞれ出力される S個のデジタルデータを第 1及び第 2の周波数分析部 13 A 及び 13 Bにおいてそれぞれ周波数分析する。 周波数分析の方法としては図 8の 先行技術で説明したように F FT (高速フーリエ変換) を使用する方法を用いる ことができる。 周波数分析の結果として、 第 1及び第 2の 2つのスぺクトログラ ム S r' (f, t) 及び Sm' (f , t) を第 1及び第 2の周波数分析部 13 A 及ぴ 13 Bから得る。
(2) 第 1及び第 2の加算器 18A及び 18Bにおいて上記 (1) の過程で得 た第 1及ぴ第 2のスペク トログラム S r' (f , t) 及び Sm' (f , t) に第 1及び第 2のノイズ源 19A及び 19Bから供給されるノイズ N1及び N2 (上 述したように同一レベルの乱数からなる値) を加え、 ノイズ N1及び N2を含む スペク トログラム Sr (f, t) 及び Sm (f, t) を第 1及ぴ第 2の加算器 1 8 A及び 18Bからそれぞれ出力させる。 上述したように、 ノイズ N1と N2は 互いに無相関であり、 また、 第 1及び第 2のスペク トログラム S r' (f, t) 及び Sm' (f , t) も無相関であり、 かつ振幅は同一である。 ここで、 これら ノイズ N 1及び N 2の振幅を aと置く。
(3) 上記 (1) 及び (2) の過程を L回実行し、 ノイズ N1及び N 2を含む それぞれ L個のスペクトログラム S r (f , t) 及び Sm (f, t) を第 1及び 第 2の加算器 18 A及び 18Bから出力させ、 相関値演算部 20に供給する。 相 関値演算部 20では、 これら 2系統の回路からそれぞれ出力される L個のデータ (ノイズを含むスぺクトログラム) から相関値ァ 2 (f, t) を求める。 この相 関値は、 この実施例では、 次の式 (1) で表わされるコヒーレンス関数によって 算出される。
Ί' (f,t) (1)
Figure imgf000013_0001
上記式 (1) において、 く 〉 内は、 L個のデータのアンサンブル平均、 は複 素共役を表わす。
相関値ァ2 (f , t) は、 0≤ァ2 (f , t) ≤1. 0の範囲の実数であり、 相関値が 1に近いほど相関度が高い。 よって、 相関値ァ 2 (f , t) を評価する ことにより、 ノイズと信号を見分けることが可能となる。 ここで、 周波数分析さ れた結果である第 1及ぴ第 2のスペク トログラム S r' (f , t) 及び Sm' ( f, t) にノイズ N 1及び N 2を加えたのは上記式 (1) が発散するのを防止す るためである。
図 2は、 上記 (1) 〜 (3) の過程を特定した周波数帯域内の各サンプル点 ( この実施例では S個) の周波数について実行し、 実際に求めた S個の相関値 y 2 (f,. t) 、 つまり、 この実施例ではコヒーレンス関数、 の一例を示す。 図 2に おいて横軸は周波数 (MHz) であり、 縦軸は相関値ァ2 (f , t) である。 こ の図 2の波形から、 ノイズと信号が明らかに違うことが分かる。
相関値演算部 20が各サンプル点の周波数毎に算出した S個の相関値 2 (f , t) は第 1のバッファ 16に格納される。
(4) 第 1のバッファ 16に格納された相関値ァ 2 (f, t) に対してノイズ レベルからしきい値 Vを決め、 しきい値設定器 22からこのしきい値 Vをレベル 判定部 21に供給し、 レベル判定部 21において第 1のバッファ 16から出力さ れる相関値相関値ァ 2 (f , t) としきい値 Vとを比較させる。 レベル判定部 2 1から、 相関値の方がしきい値 Vより大きければ論理 「1」 を、 小さければ論理 「0」 を出力させ、 演算部 23に入力する。 しきい値 Vの値は以下のようにして決める。
式 (1) を書き換えると、
γ 2= (コヒーレント電力) 2 (入力電力) 2 . · · (2)
となる。 ここで、 仮に aをノイズの振幅、 bを通信信号の振幅とすると、 上記式 (2) は aと bが無相関の場合、
Figure imgf000014_0001
となる。 仮に、 ノイズ信号の振幅 aの 2倍以上の振幅 bを有する信号を検出した い場合には、 2 X a<bが成立するので、 上記式 (3) はァ 2> 16 25とな る。 それ故、 信号の振幅が上記 (2) の過程で指定したノイズ N1及び N2の振 幅 aの 2倍より大きいものだけを検出したい場合には、 しきい値 Vの値を 16Z 25とすればよい。
換言すれば、 上記 (4) の過程でしきい値 Vより相関値が大きい場合にはレべ ル判定部 21から論理 「1」 を出力させるということは、 上記 (3) の過程で L 個のスペクトログラム S r (f , t) 及び Sm (f , t) を算出している間に ( 1つのスペクトログラム S r (f, t) 及び Sm (f, t) を得るのに要する時 間が T秒であれば、 L XT秒の間に) 、 特定された周波数帯域にあるレベル以上 の信号が検出されたということを表わす。
図 3は図 2に示された波形に上記 (4) の過程を実施した結果の波形を示す。 つまり、 レベル判定部 21の処理結果を示す。 この場合、しきい値 Vの値は図 2 に示す値では 0. 64 (16/25) に選定されている。
(5) 上記 (4) の過程で得られた判定結果のうち、 論理 「1」 が連続してい る部分に着目し、 この部分によって形成される波形の中心周波数と周波数帯域 ( 周波数の範囲) を求める。 この求めた帯域でスペク トログラム S r' (f , t) 又は Sm' (f , t) を積分することにより、 着目している部分の波形の総電力 を求める。 これは検出したい信号 (電波) の中心周波数、 周波数帯域、 及び総電 力に対応する。 これらの演算は演算部 23で行なわれる。 なお、 この実施例では 、 第 2の周波数分析部 13Bから出力されるスペク トログラム Sm' (f, t) を第 2のバッファメモリ 2 4に格納し、 演算部 2 3において波形の中心周波数、 周波数帯域、 及び総電力を演算し、 求めているが、 第 1の周波数分析部 1 3 Aか ら出力されるスペクトログラム S r ' ( f , t ) を第 2のバッファメモリ 2 4に 格納し、 演算部 2 3において波形の中心周波数、 周波数帯域、 及び総電力を演算 し、 求めてもよいことは言うまでもない。
( 6 ) 受信信号の中心周波数、 周波数帯域、 その帯域内の総電力を表示器 1 7 のディスプレイに表示する。
図 4はスペクトル表示の一例を示す。 図 4 Aは I < S r ' ( f , t ) > I 2、 図 4 Bは I く S m' ( f , t ) > I 2、 図 4 Cは相関値ァ 2をそれぞれスぺク ト ル表示したものである。 これらスペク トル表示は、 Lの値を 1 2 8とした場合の ものを示す。
図 5は、 上記 (5 ) の過程で演算部 2 3によって求められた、 受信信号の中心 周波数 (cent) 、 周波数帯域 (width) 、 及び総電力 (power) を相関値ァ 2のス ぺクトル表示に加えて表示した場合の一例を示す。
図 6はこの発明によるスぺクトラムアナライザの第 2の実施例を示すブロック 図である。 この第 2の実施例は、 上述した第 1の実施例と同じ機能を有するだけ でなく、 外部からインパルス状のノイズが混入した場合に、 このノイズを除去す る機能をさらに有している点に特徴がある。 図面を簡単化するために、 図 6には 第 1の実施例と同じである信号抽出装置 1 1 A及び 1 1 Bから相関値演算部 2 0 までの回路構成は図示しない。 なお、 図 6において、 図 1と対応する部分、 素子 には同一符号を付けて示し、 必要のない限りそれらの説明を省略する。
この第 2の実施例ではレベル判定部 2 1の出力側に第 3のバッファメモリ 2 5 を設け、 レベル判定部 2 1から出力される 「1」 又は 「0」 の論理値をこの第 3 のバッファメモリ 2 5にいつたん格納する。 また、 第 3のバッファメモリ 2 5の 出力側に周波数帯域幅判定部 2 6を設ける。 この周波数帯域幅判定部 2 6は、 所 定の周波数帯域幅に亘つて論理 「1」 が続くか否かをチェックし、 続かない場合 には第 3のバッファメモリ 2 5から供給される論理 「1」 をノイズと判定し、 そ の論理 「1」 を論理 「0」 に変換して演算部 2 3へ出力する。 所定の周波数帯域 幅に亘つて論理 「1」 が続く場合には、 検出したい信号と判定して論理 「1」 を そのまま演算部 23へ出力する。 よって、 受信信号にインパルス状の外部ノイズ が混入していても、 このノイズを除去することができる。
所定の周波数帯域幅に亘つて論理 「1」 が続くか否かをチェックするための基 準として、 第 2のしきい値設定器 27からしきい値 mが周波数帯域幅判定部 26 に供給される。 ここで、 mは第 3のバッファメモリ 25の 1アドレスに相当する 周波数帯域幅を示す。 従って、 mは 2以上の整数となる。 周波数帯域幅判定部 2 6は、 第 3のバッファメモリ 25から供給される論理 「1」 の連続数がこのしき い値 m未満である場合には、 それをノイズと判定し、 供給される論理 「1」 を論 理 「0」 に変換して演算部 23へ出力する。
上記構成の第 2の実施例のスぺクトラムアナライザの動作の詳細について以下 に列記する。
(1) アンテナ ANで受信した信号を第 1及び第 2の信号抽出装置 1 1 A及び 1 1 B (図 1を参照) によって帯域制限した後、 中間周波信号に周波数ダウン変 換して出力する。 これら中間周波信号を第 1及び第 2の AZD変換器 12A及び 12 B (図 1を参照) において周波数 f sのクロック信号によってサンプリング し、 S個のデジタルデータ列に変換する。 これら S個のデジタルデータを第 1及 び第 2の周波数分析部 13 A及び 13 B (図 1を参照) において周波数分析し、 第 1及び第 2の 2つのスペクトログラム S r' (f , t) 及び Sm' (f , t) を得る。
(2) 上記 (1) の過程で得られた第 1及び第 2のスペク トログラム S r' ( f , t) 及び Sm' (f, t) に第 1及び第 2のノイズ Nl及び N2 (無相関の 同一振幅の乱数からなる値) を加え、 ノイズ N1及び N2を含むスぺクトログラ ム S r (f , t) 及び Sm (f , t) を得る。 上述したようにノイズ N 1と N2 は互いに無相関であり、 また、 第 1及び第 2のスペク トログラム S r' (f, t ) 及び Sm' (f, t) も無相関であり、 かつ振幅は同一である。 ここで、 これ らノイズ N 1及び N 2の振幅を aと置く。
(3) 上記 (1) 及び (2) の過程を L回実行し、 ノイズ N1及び N 2を含む それぞれ L個のスペクトログラム S r (f , t) 及ぴ Sm (f , t) を得る。 こ れら L個のスペク トログラム S r (f , t) 及び Sm (f, t) から相関値演算 部 2 0 (図 1を参照) において、 上記第 1の実施例で使用した式 (1 ) のコヒー レンス関数を使用して、 相関値ァ 2 ( f , t ) を算出する。 同様にして、 各サン プル点の周波数毎に相関値ァ 2 ( f , t ) を算出し、 これら算出した S個の相関 値 2 ( f , t ) 、 この実施例ではコヒーレンス関数、 を第 1のバッファ 1 6に 格納する。
( 4 ) 第 1のバッファ 1 6に格納された相関値 2 ( f , t ) に対してノイズ レベルからしきい値 Vを決め、 しきい値設定器 2 2からこのしきい値 Vをレベル 判定部 2 1に供給し、 レベル判定部 2 1において相関値 2 ( f , t ) としきい 値 Vとを比較させ、 相関値の方がしきい値 Vより大きければ論理 「1」 を、 小さ ければ論理 「0」 を出力させる。 しきい値 Vの値は上記第 1の実施例の場合と同 様にして決める。 レベル判定部 2 1から出力された論理 「1」 又は 「0」 信号を 第 3のバッファメモリ 2 5に格納する。
( 5 ) 第 2のしきい値設定器 2 7からしきい値 mを周波数帯域幅判定部 2 6に 供給し、 第 3のバッファメモリ 2 5から供給される論理 「1」 の連続数がこのし きい値 m未満であるか否かをチヱックする。 論理 「1」 の連続数がこのしきい値 m未満である場合には、 第 3のバッファメモリ 2 5から供給される論理 「1」 を 論理 「0」 に変換して演算部 2 3へ出力する。
上述したように、 mは第 3のパッファメモリ 2 5の 1ァドレスに相当する周波 数帯域幅を示すから、 mは 2以上の整数となる。 この場合、 第 3のバッファメモ リ 2 5内を観察するための周波数帯域幅は 2 x m未満の最大値に設定しなければ ならない。 例えば、 論理 「1」 の連続数が 3つ未満か否かをチェックするために m= 3とした場合には、 その最大値は 5となる。 よって、 第 3のバッファメモリ 2 5内を観察するための周波数帯域幅は第 3のパッファメモリ 2 5の 5つのァド レス分に相当する周波数帯域幅に設定する。 何故ならば、 そのように設定するこ とにより、 1つの信号を 2重に数えることなく上記 (5 ) の過程を有効に実行す ることが可能となるからである。
図 7に周波数帯域幅判定部 2 6のチェック動作を説明するための波形図である 。 図 7において横軸は周波数 f に相当し、 これは第 3のバッファメモリ 2 5のァ ドレスにも対応する。 図 7において波形 S l、 S 2及び N O I Sの下側に示した 一定間隔の短い垂直線分は第 3のバッファメモリ 2 5のァドレスを表わす。 pは 第 3のバッファメモリ 2 5の 1アドレスに相当する周波数帯域幅を示すから、 図 7に示すように隣接する 2つの垂直線分間の長さに相当する。 図 7にはしきい値 m= 3とした場合の動作を例示する。 この場合には、 論理 「1」 が 3つ以上連続 すればノイズではない (即ち、 信号である) と判定し、 3つ未満 (1つ又は 2つ ) であればノイズと判定して論理 「1」 を論理 「0」 に変換する。
波形 S 1、 S 2及び N O I Sは第 3のバッファメモリ 2 5に記憶されている論 理 「1」 及び 「0」 によって形成される波形を示す。 また、 W I Nは第 3のパッ ファメモリ 2 5に記憶された論理 「 1」 が所定の周波数帯域幅以上連続するか否 かを判定するためのウィンドウを示す。 このウィンドウ W I Nの周波数帯域幅は 、 この例では m= 3であるから、 2 x 3 = 6以内の最大値である 5アドレス分に 相当している。
ウインドウ W I Nを第 3のバッファメモリ 2 5の最初のァドレスから 1ァドレ スに相当する Pのピッチで移動させ (図 7に示す例では周波数が高くなる右方向 に移動させ) 、 第 3のバッファメモリ 2 5内の論理 「1」 である部分の長さ (周 波数帯域幅) を計測する。 ウィンドウ W I Nが通過する際に、 波形 S 1及び S 2 はそれぞれ 6つの連続するアドレスに記憶されているから論理 「1」 である部分 の長さが 6であり、 よって、 検出すべき信号であると判定されて演算部 2 3へそ のまま送られる。 波形 N O I Sは 1つのァドレスにのみ記憶されているから論理 「1」 である部分の長さが 1であり、 外部ノイズと判定される。 よって、 この波 形 N O I Sの論理 「1」 は論理 「0」 に書き換えられるから、 外部ノイズは除去 される。 m= 3としたから第 3のバッファメモリ 2 5の 2つの連続するアドレス に論理 「1」 が記憶されている場合にも、 この波形は外部ノイズであると判定さ れて論理 「0」 に書き換えられる。 よって、 この波形も除去される。
このように、 第 3のバッファメモリ 2 5に記憶された周波数分析結果の連続性 をチ Xックすることにより、 外部からのインパルス状のノイズが受信信号に混入 した場合でも、 インパルス状のノイズは殆んど帯域幅を持っておらず、 線スぺク トル状であるから、 このインパルス状のノイズはほぼ完全に除去することができ る。 また、 第 3のバッファメモリ 2 5内を観察するためのウィンドウ W I Nの周波 数帯域幅を 2 x m未満の最大値に設定したので、 このウィンドウ W I Nで観察で きるのは 1つの信号のみである。 従って、 1つの信号を 2重に数えるようなミス は生じない。
なお、 上記各実施例では電波を単にアンテナ ANで受信すると表現したが、 感 度を上げるためには例えばダィバシティ方式の受信方式を採用することも考えら れる。 従って、 アンテナ ANは単に電波を受信する手段を例示したに過ぎない。 また、 信号抽出装置、 A/D変換器及び周波数分析部よりなる回路を 2系統設 けた場合について説明したが、 信号抽出装置、 AZD変換器及び周波数分析部よ りなる回路を 2系統以上の任意の数設けることも考えられる。 従って、 信号抽出 装置、 A/D変換器及び周波数分析部よりなる回路は 2系統に限定されない。 3 系統又はそれ以上設ける場合には、 2以上の任意の数の信号の周波数分析結果に ついてそれらの相関が相関値演算部において演算されることになる。
さらに、 複数の周波数分析部からそれぞれ出力される周波数分析結果に、 無相 関のノイズをそれぞれ加算しないで複数の周波数分析結果についてそれらの相関 を相関値演算部において演算してもよい。
また、 受信信号をデジタル信号に変換する際のサンプル数 (S ) 、 相関値を算 出する際に使用する周波数分析結果の個数 (L) 、 しきい値 V及び mの値等は単 なる一例であり、 必要に応じて種々に変更できることは言うまでもない。
以上の説明で明白なように、 この発明によれば、 複数の信号抽出装置により被 測定信号をそれぞれ抽出し、 それらの周波数分析結果から各サンプル点の周波数 毎に相関値を算出し、 各相関値が所定値以上であれば論理 「1」 を出力し、 各相 関値が所定値以下であれば論理 「0」 を出力し、 周波数分析結果を表示するよう に構成したので、 例えば周波数拡散された低レベルの信号であっても、 この信号 の存在を鮮明に表示することができるという顕著な利点が得られる。
また、 被測定周波数帯域内に電波が存在するか否かを調べる電波利用密度の測 定も容易に行なうことができるという利点も得られる。
以上、 この発明を図示した好ましい実施例について記載したが、 この発明の精 神及び範囲から逸脱することなしに、 上述した実施例に関して種々の変形、 変更 及び改良がなし得ることはこの分野の技術者には明らかであろう。 従って、 この 発明は例示の実施例に限定されるものではなく、 添付の請求の範囲によって定め られるこの発明の範囲内に入る全てのそのような変形、 変更及び改良をも包含す るものであるということを理解すべきである。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 被測定周波数帯域に存在する被測定信号を複数の測定信号抽出装置によって 抽出するステップと、
抽出した複数の被測定信号のそれぞれを周波数分析するステップと、 上記複数の被測定信号の周波数分析結果についてそれらの相関値を演算するス テツプと、
算出された相関値が予め設定した値以上であるときには、 上記周波数分析した 周波数に被測定信号が存在すると判定し、 算出された相関値が予め設定した値未 満であるときには、 上記周波数分析した周波数に被測定信号が存在しないと判定 するステップ
とを含むことを特徴とする周波数分析方法。
2. 上記抽出した複数の被測定信号をそれぞれデジタルデータに変換するステッ プをさらに含み、
上記周波数分析するステップはデジタル演算手段によって実行される ことを特徴とする請求の範囲第 1項に記載の周波数分析方法。
3. 上記複数の被測定信号の周波数分析結果にそれぞれ、 無相関のノイズを加算 するステップをさらに含み、
上記相関値を演算するステップはこれらノイズを含む複数の周波数分析結果に ついてそれらの相関値を演算する
ことを特徴とする請求の範囲第 1項又は第 2項に記載の周波数分析方法。
4. 上記相関値の演算はコヒーレンス関数によって行なわれることを特徴とする 請求の範囲第 1項乃至第 3項のいずれか 1つに記載の周波数分析方法。
5. 被測定周波数帯域に存在する被測定信号を抽出する複数の測定信号抽出装置 と、 これら複数の測定信号抽出装置によって抽出された被測定信号をそれぞれデジ タルデータに変換する複数の AZD変換器と、
これら複数の AZD変換器からそれぞれ出力されるデジタルデータから上記被 測定周波数帯塽に亘つて上記複数の被測定信号の周波数分析を行なう複数の周波 数分析手段と、
これら複数の周波数分析手段からそれぞれ出力される複数の被測定信号の周波 数分析結果についてそれらの相関値を演算する相関値演算手段と、
この相関値演算手段が算出した相関値が予め設定した値以上であるときには、 上記周波数分析した周波数に被測定信号が存在すると判定し、 算出された相関値 が予め設定した値未満であるときには、 上記周波数分析した周波数に被測定信号 が存在しないと判定するレベル判定手段
とを具備することを特徴とする周波数分析装置。
6. 上記複数の周波数分析手段のそれぞれの出力側と上記相関値演算手段との間 にそれぞれ設けられた複数の加算器をさらに含み、
これら複数の加算器により上記複数の周波数分析手段からそれぞれ出力される 複数の被測定信号の周波数分析結果に、 互いに相関性を持たないノイズ成分をそ れぞれ加算することを特徴とする請求の範囲第 5項に記載の周波数分析装置。
7. 被測定周波数帯域に存在する被測定信号を抽出する複数の測定信号抽出装置 と、
これら複数の測定信号抽出装置によって抽出された被測定信号をそれぞれデジ タルデータに変換する複数の AZD変換器と、
これら複数の AZD変換器からそれぞれ出力されるデジタルデータから上記被 測定周波数帯域に亘つて上記複数の被測定信号の周波数分析を行なう複数の周波 数分析手段と、
これら複数の周波数分析手段からそれぞれ出力される複数の被測定信号の周波 数分析結果についてそれらの相関値を演算する相関値演算手段と、
この相関値演算手段が算出した相関値が予め設定した値以上であるときには、 上記周波数分析した周波数に被測定信号が存在すると判定し、 算出された相関値 が予め設定した値未満であるときには、 上記周波数分析した周波数に被測定信号 が存在しないと判定するレベル判定手段と、
このレベル判定手段から出力される被測定信号の有無を表わすデータから、 少 なくとも被測定信号の帯域幅の中心周波数を算出する演算手段と、
上記レベル判定手段から出力される被測定信号の有無を表わすデータを表示す る 器
とを具備することを特徴とするスぺクトラムアナライザ。
8. 被測定周波数帯域に存在する被測定信号を抽出する複数の測定信号抽出装置 と、
これら複数の測定信号抽出装置によって抽出された被測定信号をそれぞれデジ タルデータに変換する複数の AZD変換器と、
これら複数の AZD変換器からそれぞれ出力されるデジタルデータから上記被 測定周波数帯域に亘つて上記複数の被測定信号の周波数分析を行なう複数の周波 数分析手段と、
これら複数の周波数分析手段のそれぞれの出力側に設けられ、 上記複数の周波 数分析手段からそれぞれ出力される複数の被測定信号の周波数分析結果に、 互い に相関性を持たないノイズ成分をそれぞれ加算する複数の加算器と、
これら複数の加算器からそれぞれ出力される複数の被測定信号の上記ノイズ成 分を含む複数の周波数分析結果についてそれらの相関値を演算する相関値演算手 段と、
この相関値演算手段が算出した相関値が予め設定した値以上であるときには、 上記周波数分析した周波数に被測定信号が存在すると判定し、 算出された相関値 が予め設定した値未満であるときには、 上記周波数分析した周波数に被測定信号 が存在しないと判定するレベル判定手段と、
このレベル判定手段から出力される被測定信号の有無を表わすデータから、 少 なくとも被測定信号の帯域幅の中心周波数を算出する演算手段と、
上記レベル判定手段から出力される被測定信号の有無を表わすデータを表示す る表 器
とを具備することを特徴とするスぺクトラムアナライザ。
9. 上記レベル判定手段から出力される被測定信号の有無を表わすデータに所定 の周波数帯域幅未満の信号が存在するか否かを検出し、 所定の周波数帯域幅未満 の信号を検出したときには、 それをノィズと判定して上記表示器に表示されない ように処理するノィズ検出手段をさらに含む
ことを特徴とする請求の範囲第 7項又は第 8項に記載のスぺクトラムアナライ ザ。
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