WO2000077827A2 - Niederinduktives halbleiterbauelement - Google Patents

Niederinduktives halbleiterbauelement Download PDF

Info

Publication number
WO2000077827A2
WO2000077827A2 PCT/DE2000/001254 DE0001254W WO0077827A2 WO 2000077827 A2 WO2000077827 A2 WO 2000077827A2 DE 0001254 W DE0001254 W DE 0001254W WO 0077827 A2 WO0077827 A2 WO 0077827A2
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
load current
semiconductor component
switching elements
elements
supply potential
Prior art date
Application number
PCT/DE2000/001254
Other languages
English (en)
French (fr)
Other versions
WO2000077827A3 (de
Inventor
Martin Hierholzer
Original Assignee
eupec Europäische Gesellschaft für Leistungshalbleiter mbH & Co. KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by eupec Europäische Gesellschaft für Leistungshalbleiter mbH & Co. KG filed Critical eupec Europäische Gesellschaft für Leistungshalbleiter mbH & Co. KG
Priority to EP00934918A priority Critical patent/EP1186041A2/de
Priority to JP2001503209A priority patent/JP3675403B2/ja
Publication of WO2000077827A2 publication Critical patent/WO2000077827A2/de
Publication of WO2000077827A3 publication Critical patent/WO2000077827A3/de
Priority to US10/023,189 priority patent/US6809411B2/en

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/02Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/52Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
    • H01L23/538Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames the interconnection structure between a plurality of semiconductor chips being formed on, or in, insulating substrates
    • H01L23/5386Geometry or layout of the interconnection structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/07Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00
    • H01L25/072Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/4901Structure
    • H01L2224/4903Connectors having different sizes, e.g. different diameters
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49175Parallel arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01023Vanadium [V]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • H01L2924/13055Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1306Field-effect transistor [FET]
    • H01L2924/13091Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor [MOSFET]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/156Material
    • H01L2924/15786Material with a principal constituent of the material being a non metallic, non metalloid inorganic material
    • H01L2924/15787Ceramics, e.g. crystalline carbides, nitrides or oxides
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/1901Structure
    • H01L2924/1904Component type
    • H01L2924/19041Component type being a capacitor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/30107Inductance

Definitions

  • the invention relates to a semiconductor component consisting of a housing, a carrier plate, at least one ceramic substrate, which is provided with a metallization at least on its upper side.
  • the semiconductor component also has at least two switching elements which are arranged on the upper side of the ceramic substrate in an electrically conductive manner and each have a load current connection and a control connection.
  • the load current connection elements can have a first or a second supply potential.
  • Such semiconductor components are used, for example, in motor vehicles between at least one battery-based low-voltage electrical system on the one hand and a starter generator as a starter or charging device for the respective battery on the other hand. They are used in overrun operation of the motor vehicle to adapt the voltage and power of the starter generator, which then functions as a generator, to the corresponding operating data of the respective battery to be recharged and when the starter generator, which then operates as a motor, is started with the aid of the respective battery to ensure a sufficient start Torque with a correspondingly high starting current.
  • the essential components of such a circuit arrangement include in particular a number of semiconductor half bridges as power components, a number of intermediate circuit components, in particular capacitors, and a number of control elements, in particular driver stages.
  • Such a thing Semiconductor component is known for example from DE 196 45 636 Cl, which is used to control an electric motor.
  • MOSFETs switching elements. These are switched on or off by a control voltage applied between the source contact and the gate contact.
  • the control voltage is placed between the source connection and the gate connection.
  • the wire leading to the source contact has a self-inductance, which has the effect that the load current, which changes over time when the MOSFET is switched on or off, induces a voltage in the inductance which counteracts the control voltage with a switching delay. If you connect several MOSFETs in parallel and control them together from a single voltage source, the above-mentioned inductance leads to tolerances of high-frequency vibrations with amplitudes occurring in the control circuit due to unavoidable components, which can destroy the MOSFET.
  • EP 0 265 833 B1 proposes arranging the conductor tracks which are connected to the source terminals on one side of the MOSFET and the conductor tracks for the control on the other side of the MOSFET. This results in an extensive magnetic decoupling of the control circuit from the source connections of the semiconductor component.
  • the object of the present invention is therefore to provide a semiconductor component which does not have the disadvantageous effect of the leakage inductances and which can be produced in a simple manner.
  • At least one ceramic substrate which is metallized at least on its upper side
  • At least two switching elements which are arranged on the top of the ceramic substrate in an electrically conductive manner and each have load current connections and a control connection,
  • the load current connection elements being able to have a first or a second supply potential
  • the load current connection elements located on one housing side and assigned to two adjacent switching elements are acted upon with the first or with the second supply potential.
  • the load current connection elements of which on one side of the housing have a different polarity.
  • the advantages of the invention can be achieved with any even number of switching elements.
  • the large number of even-numbered switching elements are advantageously arranged next to one another on an alignment line.
  • the feeds between the load current connection elements and the load current connections of the switching elements arranged next to one another advantageously run approximately orthogonally to the alignment line mentioned.
  • the assigned load current connection elements then alternately have the first and the second supply potential.
  • a very compact structure of the semiconductor component can be achieved in this way. There is only a small area for suitable conductor tracks or for the Feeds are provided, which enables an inexpensive construction.
  • a switching element preferably consists of two series-connected semiconductor switches, the connection point of which is connected to a load current connection element and forms an output of the semiconductor component.
  • the two series-connected semiconductor switches are preferably arranged on an approximately orthogonal alignment line to the first or the second side. As is known, a half bridge is hereby formed.
  • the plurality or part of the plurality of switching elements or half bridges are connected in parallel by means of the metalization and / or bonding wires in order to increase the current carrying capacity of the semiconductor component. This enables use in high performance ranges.
  • MOSFETs or IGBTs are preferably used as switching elements. Basically, any controllable semiconductor switch can be used.
  • the invention is preferably used to control a phase of a 3-phase inverter module.
  • the semiconductor component then represents a very low-inductance half-bridge.
  • the invention is illustrated by the single figure.
  • the semiconductor component 1 shows this in a plan view.
  • This has a housing 2 which is connected to a carrier plate 3.
  • Three ceramic substrates 4, which are arranged towards the interior of the housing, are applied to the carrier plate 3 by way of example. A single ceramic substrate could also be used.
  • Each of the ceramic substrates 4 is provided with a metallization 5 (not shown), on which an even number of switching elements 6 are applied.
  • the left and the middle ceramic substrate 4 each have four switching elements 6.
  • Each switching element 6 consists of two semiconductor switches 17, 17 ⁇ . These are arranged on an alignment line, which are arranged approximately orthogonally to the two long sides 13, 14 of the housing 2.
  • Semiconductor switches 17, 17 ⁇ can for example be designed as a MOSFET or as an IGBT.
  • Each of the two semiconductor switches 17, 17 is connected to the metallization 5 via bonding wires 16. Furthermore, each semiconductor switch 17, 17 ⁇ is connected to a load current connection element 10 via a feed 9.
  • the feed 9 can for example be designed as a bond wire or as a single wire.
  • the feeder 9 is arranged approximately in the line of alignment of the two semiconductor switches 17, 17 ⁇ .
  • the load current connection elements 10 are fastened in the present figure in so-called guide elements 15 on the inside of the housing.
  • This mechanical design merely represents a variant of how the switching elements 6 can be contacted to the outside via the feeds 9. Any other variant is of course conceivable.
  • the uppermost left load current connection element 10 is connected to a first supply potential, which could be the ground potential, for example.
  • the load current connection element 10 which is adjacent to it on the right, has a second supply potential 12 applied to it.
  • This load current connection element is assigned to a second switching element 6.
  • the load current connection elements 10 are alternately acted upon on the first side 13 of the housing 2 by the first supply potential 11 and the second supply potential 12 (from left to right).
  • the load current connection elements 10 are alternately acted upon first with the second 12, then with the first supply potential 11.
  • the inductance can be reduced with the semiconductor component according to the invention from 50 nH to 5 nH.
  • the semiconductor switches 17, 17 are MOSFETs.
  • the source contact of the MOSFET 17, 17 ⁇ is arranged on the top, while the drain contact is on the back and is electrically and mechanically connected to the metallization.
  • the following load current path then results from the top to the bottom of the switching element 6 arranged on the far left: first supply potential 11 at the load current connection element 10 - supply 9 ⁇ - source of the semiconductor switch 17 ⁇ (top of the semiconductor switch) - drain of the semiconductor switch 17 (bottom of the semiconductor switch) - metallization 5 - Bonding wire 16 - Source contact of the semiconductor switch 17 (top of the semiconductor switch) - Drain contact of the semiconductor switch 17 (bottom of the semiconductor switch) - Metallization - Feed 9 - Load current connection element 10, connected to the second supply potential.
  • Load current connection element 10 connected to the first supply potential (reference potential).
  • capacitors can also be arranged, for example, to further reduce overvoltages. Compared to the prior art, these capacitors can, however, be dimensioned considerably smaller and therefore more cost-effectively. It is also conceivable to accommodate the control for the semiconductor switches 17, 17 ⁇ on the ceramic substrate 4 arranged on the right. However, this could also be outside the semiconductor component.
  • the semiconductor component according to the invention represents a half-bridge in the manner described.
  • a 3-phase inverter module can then be controlled. This can advantageously be used in a motor vehicle and, for example, control a three-phase motor, which replaces both an alternator and a starter. It can be used on both 12 V and 42 V electrical systems.
  • the invention can be used expediently in all applications which have high current steepness.
  • use in converter technology would be conceivable.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Inverter Devices (AREA)
  • Power Conversion In General (AREA)

Abstract

Es wird ein Halbleiterbauelement vorgeschlagen, das ein Gehäuse, eine Trägerplatte, zumindest ein Keramiksubstrat, das zumindest an seiner Oberseite mit einer Metallisierung (10) versehen ist und zumindest zwei Schaltelemente aufweist, vorgeschlagen. Die Schaltelemente sind auf der Oberseite des Keramiksubstrats elektrisch leitend angeordnet und verfügen jeweils über Laststromanschlüsse und einen Steueranschluß. Erfindungsgemäß verfügt das Halbleiterbauelement über mehrere externe Laststromanschlußelemente, die auf einer ersten Seite und einer zweiten, der ersten gegenüberliegenden Seite angeordnet sind. Die Laststromanschlüsse der Schaltelemente sind über Zuführungen elektrisch mit den externen Laststromanschlußelementen verbunden, die ein erstes und ein zweites Versorgungspotential aufweisen können. Jeweils zwei Schaltelemente sind derart benachbart angeordnet, daß sich die jeweiligen Zuführungen annähernd parallel zu zwei zugeordneten Laststromanschlußelementen hin erstrecken, wobei die zwei benachbarten Laststromanschlußelemente unterschiedliche Polarität aufweisen. Hierdurch wird eine Kompensation der Magnetfelder erzielt.

Description

Beschreibung
Niederinduktives Halbleiterbauelement
Die Erfindung betrifft ein Halbleiterbauelement bestehend aus einem Gehäuse, einer Trägerplatte, zumindest einem Kera- miksubstrat, das zumindest an seiner Oberseite mit einer Metallisierung versehen ist. Das Halbleiterbauelement weist ferner zumindest zwei Schaltelemente auf, die auf der Ober- seite des Keramiksubstrats elektrisch leitend angeordnet sind und jeweils über Laststromanschlusse und einen Steueranschluß verfügen. Es sind weiterhin Laststromanschlußelemente auf einer ersten Seite und einer zweiten, der ersten gegenüberliegenden Seite vorgesehen, die mit den Laststromanschlüssen der Schaltelemente über Zuführungen elektrisch verbunden sind. Die Laststromanschlußelemente können dabei ein erstes oder ein zweites Versorgungspotential aufweisen.
Derartige Halbleiterbauelemente werden beispielsweise in Kraftfahrzeugen zwischen zumindest einem batteriegestützten Niederspannungs-Bordnetz einerseits und einem Starter- Generator als Anlasser bzw. Ladevorrichtung für die jeweilige Batterie andererseits eingesetzt. Sie dienen im Schubbetrieb des Kraftfahrzeuges zur Anpassung von Spannung und Leistung des dann als Generator arbeitenden Starter-Generators an die entsprechenden Betriebsdaten der jeweiligen nachzuladenden Batterie und beim Starten des dann als Motor arbeitenden Starter-Generators mit Hilfe der jeweiligen Batterie zur Gewährleistung eines hinreichenden Start-Drehmomentes mit ent- sprechend hohem Anfahrstrom.
Als wesentliche Bauteile einer solchen Schaltungsanordnung gelten insbesondere eine Anzahl von Halbleiter-Halbbrücken als Leistungsbauteile, eine Anzahl von Zwischenkreis- Bauelementen, insbesondere Kondensatoren, und eine Anzahl von Steuerelementen, insbesondere Treiberstufen. Ein derartiges Halbleiterbauelement ist beispielsweise aus der DE 196 45 636 Cl bekannt, das zur Ansteuerung eines Elektromotors dient.
Als Schaltelemente weisen die beschriebenen Halbleiterbauele- ente vielfach MOSFETs auf. Diese werden durch eine zwischen den Sourcekontakt und den Gatekontakt angelegte Steuerspannung leitend bzw. sperrend geschaltet. In der Praxis wird die Steuerspannung zwischen den Sourceanschluß und den Gatean- schluß gelegt. Der zum Sourcekontakt führende Draht hat eine Eigeninduktivität, die bewirkt, daß der sich beim Ein- oder Ausschalten des MOSFETs zeitlich ändernde Laststrom eine Spannung in der Induktivität induziert, die der Steuerspannung schaltverzögernd entgegenwirkt. Schaltet man mehrere MOSFET parallel und steuert sie gemeinsam aus einer einzigen Spannungsquelle an, so führt die erwähnte Induktivität dazu, daß im Ansteuerkreis wegen unvermeidlicher Bauelemente Toleranzen hochfrequente Schwingungen mit Amplituden auftreten, die den MOSFET zerstören können. Die Schwingfrequenz wird maßgeblich durch die Induktivität des Sourceanschlusses und daneben durch andere parasitäre Netzwerk- und Bauelementeparameter bestimmt. Zur Verringerung der Nachteile der Wirkung der Induktivität des Sourceanschlusses wird in der EP 0 265 833 Bl vorgeschlagen, die Leiterbahnen, die mit den Sourceanschlüssen verbunden werden auf der einen Seite des MOSFETs und die Leiterbahnen für die Ansteuerung auf der anderen Seite des MOSFETs anzuordnen. Hierdurch ergibt sich eine weitgehende magnetische Entkopplung des Ansteuerkreises von den Sourceanschlüssen des Halbleiterbauelements.
Es sind folglich überwiegend die Streuinduktivitäten in den Zuführungen zu den Laststromanschlüssen eines oder mehrerer Halbleiterschalter, die insbesondere bei sehr hohen Stromsteilheiten (dl/dt) Probleme, d.h. Überspannungen bereiten. Zur Kompensation dieser Überspannungen sind deshalb große Kondensatoren sowie Widerstände notwendig. Diese können jedoch das Schaltverhalten des Halbleiterbauelementes nachteilig beeinflussen. Um diesen Nachteilen zu entgehen, versucht man in der Praxis durch geschickte, d.h. kurze Leiterbahnführung die Induktivitäten in den Zuführungen zu verringern.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht deshalb darin, ein Halbleiterbauelement anzugeben, das die nachteilige Wirkung der Streuinduktivitäten nicht aufweist und auf einfache Weise herzustellen ist.
Diese Aufgabe wird gelöst durch ein Halbleiterbauelement, das folgende Merkmale aufweist:
- ein Gehäuse,
- ein Trägerplatte,
- zumindest ein Keramiksubstrat, das zumindest an seiner Oberseite mit einer Metallisierung versehen ist,
- zumindest zwei Schaltelemente, die auf der Oberseite des Keramiksubstrats elektrisch leitend angeordnet sind und jeweils über Laststromanschlusse und einen Steueranschluß verfügen,
- mehrere externe Laststromanschlußelemente auf einer ersten Seite und auf einer zweiten, der ersten gegenüberliegenden
Seite des Gehäuses, die mit den Laststromanschlüssen der Schaltelemente über Zuführungen elektrisch verbunden sind, wobei die Laststromanschlußelemente ein erstes oder ein zweites Versorgungspotential aufweisen können,
wobei jeweils zwei Schaltelemente derart benachbart angeordnet sind, daß sich die jeweiligen Zuführungen parallel zu zwei zugeordneten Laststromanschlußelementen hin erstrecken und benachbarte Laststromanschlußelemente eine unterschiedli- ehe Polarität aufweisen. Mit anderen Worten ausgedrückt heißt das, daß die Zuführungen zweier benachbarter Schaltelemente so angeordnet sind, daß sich entstehende Magnetfelder in den Zuführungen durch die entgegengesetzte Polarität an den Laststromanschlußelementen kompensieren und dadurch die wirksame Induktivität minimiert wird.
Vorteilhafte Ausgestaltungen ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Es ist ferner vorgesehen, ein Schaltelement mit zwei Zuführungen zu verbinden, wobei sich die Zuführungen zwischen der ersten und der zweiten Seite des Gehäuses erstrecken und wobei die eine Zuführung das erste Versorgungspotential und die andere Zuführung das zweite Versorgungspotential aufweist.
Es ist ferner vorgesehen, die auf einer Gehäuseseite befindlichen und zwei benachbarten Schaltelementen zugeordneten Laststromanschlußelemente mit dem ersten bzw. mit dem zweiten Versorgungspotential zu beaufschlagen. Zur Erzielung einer minimalen Streuinduktivität ist es folglich notwendig, zumindest zwei benachbarte Schaltelemente vorzusehen, deren auf einer Gehäuseseite benachbarte Laststromanschlußelemente eine unterschiedliche Polarität aufweisen. Die Vorteile der Erfin- düng lassen sich mit jeder geradzahligen Anzahl an Schaltelementen erzielen. Vorteilhafterweise werden die Vielzahl an geradzahligen Schaltelementen auf einer Fluchtlinie nebeneinander angeordnet. Die Zuführungen zwischen Laststromanschlußelementen und den Laststromanschlüssen der nebeneinan- der angeordneten Schaltelemente verlaufen vorteilhafterweise in etwa orthogonal zur genannten Fluchtlinie. Die zugeordneten Laststromanschlußelemente weisen dann alternierend das erste und das zweite Versorgungspotential auf. Neben der geringen Streuinduktivität läßt sich hierdurch ein sehr kompak- ter Aufbau des Halbleiterbauelementes erzielen. Es muß nur wenig Fläche für geeignete Leiterbahnführungen bzw. für die Zuführungen vorgesehen werden, was einen kostengünstigen Aufbau ermöglicht.
Vorzugsweise besteht ein Schaltelement aus zwei seriell mit- einander verschalteten Halbleiterschaltern, deren Verbindungspunkt mit einem Laststromanschlußelement verbunden ist und einen Ausgang des Halbleiterbauelementes bildet. Die zwei seriell verschalteten Halbleiterschalter sind vorzugsweise auf einer zu der ersten bzw. der zweiten Seite in etwa ortho- gonalen Fluchtlinie angeordnet. Bekannterweise ist hierdurch eine Halbbrücke gebildet.
Es ist weiterhin denkbar, daß die Vielzahl oder ein Teil der Vielzahl an Schaltelementen bzw. Halbbrücken mittels der Me- tallisierung und/oder Bonddrähten parallel geschalten sind zur Erhöhung der Stromtragfähigkeit des Halbleiterbauelementes. Hierdurch wird der Einsatz an hohen Leistungsbereichen möglich.
Als Schaltelemente werden vorzugsweise MOSFETs oder IGBTs verwendet. Es ist jedoch im Grunde jeder beliebige steuerbare Halbleiterschalter verwendbar. Vorzugsweise wird die Erfindung zur Ansteuerung einer Phase eines 3-Phasen- Wechselrichter-Moduls verwendet. Das Halbleiterbauelement stellt dann eine sehr niederinduktive Halbbrücke dar.
Die Erfindung wird anhand der einzigen Figur näher erläutert.
Das erfindungsgemäße Halbleiterbauelement 1 nach der Figur zeigt dieses in einer Draufsicht. Dieses weist ein Gehäuse 2 auf, das mit einer Trägerplatte 3 verbunden ist. Auf der Trägerplatte 3 sind beispielhaft drei Keramiksubstrate 4 aufgebracht, die zum Gehäuseinneren hin angeordnet sind. Es könnte auch nur ein einziges Keramiksubstrat verwendet werden. Jedes der Keramiksubstrate 4 ist mit einer (nicht gezeigten) Metallisierung 5 versehen, auf welcher eine geradzahlige Anzahl an Schaltelementen 6 aufgebracht sind. In der vorliegenden Figur weisen das linke und das mittlere Keramiksubstrat 4 jeweils vier Schaltelemente 6 auf. Jedes Schaltelement 6 besteht aus zwei Halbleiterschaltern 17, 17 λ . Diese sind auf einer Fluchtlinie angeordnet, die in etwa orthogonal zu den beiden langen Seiten 13, 14 des Gehäuses 2 angeordnet sind. Ein
Halbleiterschalter 17, 17 Λ kann z.B. als MOSFET oder als IGBT ausgeführt sein.
Jeder der beiden Halbleiterschalter 17, 17 ist über Bond- drahte 16 mit der Metallisierung 5 verbunden. Ferner ist jeder Halbleiterschalter 17, 17 λ über eine Zuführung 9 mit einem Laststromanschlußelement 10 verbunden. Die Zuführung 9 kann beispielsweise als Bonddraht oder aber als Einzeldraht ausgeführt sein. Die Zuführung 9 ist annähernd in der Flucht- linie der beiden Halbleiterschalter 17, 17 λ angeordnet. Die Laststromanschlußelemente 10 sind in der vorliegenden Figur in sogenannten Führungselementen 15 an der Gehäuseinnenseite befestigt. Diese mechanische Ausführung stellt lediglich eine Variante dar, wie die Schaltelemente 6 über die Zuführungen 9 nach außen kontaktiert werden können. Es ist selbstverständlich jede andere Variante denkbar. Das oberste linke Laststromanschlußelement 10 ist mit einem ersten Versorgungspotential, welches z.B. das Massepotential sein könnte, verbunden. Das davon rechts benachbarte LastStromanschlußelement 10 ist hingegen mit einem zweiten Versorgungspotential 12 beaufschlagt. Dieses Laststromanschlußelement ist einem zweiten Schaltelement 6 zugeordnet. Wie in der Figur angedeutet, sind die Laststromanschlußelemente 10 auf der ersten Seite 13 des Gehäuses 2 alternierend mit dem ersten Versorgungspotential 11 und dem zweiten Versorgungspotential 12 beaufschlagt (von links nach rechts) . Auf der zweiten Seite 14 sind die Laststromanschlußelemente 10 (von links nach rechts) zuerst mit dem zweiten 12, dann mit dem ersten Versorgungspotential 11 alternierend beaufschlagt. Gegenüber dem Stand der Technik läßt sich die Induktivität mit dem erfindungsgemäßen Halbleiterbauelement von 50 nH auf 5 nH reduzieren. Beispielhaft wird im folgenden angenommen, daß es sich bei den Halbleiterschaltern 17, 17 um MOSFETs handelt. Der Sourcekontakt des MOSFETs 17, 17 λ ist auf der Oberseite angeordnet, während sich der Drainkontakt auf der Rückseite befindet und mit der Metallisierung elektrisch und mechanisch steht. Dann ergibt sich folgender Laststrompfad bei dem ganz links angeordneten Schaltelement 6 von oben nach unten: Erstes Versorgungspotential 11 am Laststromanschlußelement 10 - Zuführung 9λ- Source des Halbleiterschalters 17 λ (Oberseite des Halbleiterschalters) - Drain des Halbleiterschalters 17 (Unterseite des Halbleiterschalters) - Metallisierung 5 - Bonddraht 16 - Sourcekontakt des Halbleiterschalters 17 (Oberseite des Halbleiterschalters) - Drainkontakt des Halbleiterschalters 17 (Unterseite des Halbleiterschalters) - Me- tallisierung - Zuführung 9 - Laststromanschlußelement 10, verbunden mit dem zweiten Versorgungspotential.
Bei dem rechts daneben benachbarten Schaltelement 6 ergibt sich der Strompfad von oben nach unten in genau umgekehrter Reihenfolge:
Zweites Versorgungspotential 12 am Laststromanschlußelement 10 - Zuführung 9 - Drainkontakt des Halbleiterschalters 17 - Sourcekontakt des Halbleiterschalters 17 - Bondverbindung zur Metallisierung 5 - Drainkontakt des Halbleiterschalters 17 x - Sourcekontakt des Halbleiterschalters 17 λ - Zuführung 9 -
Laststromanschlußelement 10, verbunden mit dem ersten Versorgungspotential (Bezugspotential) .
Im erstgenannten Fall ergibt sich dann ein von unten nach oben verlaufender Laststrom, während im zweitgenannten Fall der Laststrom von oben nach unten verläuft. Die durch den Stromfluß in den Zuführungen entstehenden Magnetfelder werden durch die entgegengesetzte Stromrichtung kompensiert. Hierdurch verringert sich die wirksame Induktivität.
Um die Stromtragfähigkeit zu erhöhen, ist es mittels der (nicht dargestellten) Metallisierung und/oder Bondverbindun- gen möglich, die in der Figur gezeigten acht Schaltelemente miteinander parallel zu verschalten. Bei Verwendung von identischen Halbleiterschaltern 17, 17 x in allen acht Schaltelementen 6 ergibt sich bei Parallelschaltung in allen Strompfa- den ein gleich großer Strom. Hierdurch wird eine ideale Kompensation des entstehenden Magnetfeldes ermöglicht. Auf die explizite Darstellung der Metallisierung bzw. der Verdrahtung der Ausgänge der Halbbrücke mit Laststromanschlußelementen wurde verzichtet, da diese nicht den Kernbestandteil der Er- findung bilden.
Auf dem rechts angeordneten Keramiksubstrat 4 in dem Gehäuse 2 können beispielsweise zur weiteren Verringerung von Überspannungen noch Kondensatoren angeordnet werden. Diese Kon- densatoren können gegenüber dem Stand der Technik jedoch wesentlich geringer und somit kostengünstiger dimensioniert werden. Ebenso ist es denkbar, auf dem rechts angeordneten Keramiksubstrat 4 die Ansteuerung für die Halbleiterschalter 17, 17 λ unterzubringen. Diese könnte sich jedoch auch außer- halb des Halbleiterbauelements befinden.
Das erfindungsgemäße Halbleiterbauelement stellt in der beschriebenen Weise eine Halbbrücke dar. Durch die Verwendung dreier baugleicher erfindungsgemäßer Halbleiterbauelemente kann dann ein 3-Phasen-Wechselrichter-Modul angesteuert werden. Dieses kann vorteilhafterweise in einem Kraftfahrzeug eingesetzt werden und beispielsweise einen Drehstrommotor ansteuern, der sowohl eine Lichtmaschine als auch einen Anlasser ersetzt. Es ist eine Verwendung sowohl an 12 V als auch an 42 V Bordnetzen möglich.
Die Erfindung kann bei allen Anwendungen, die hohe Stromsteilheiten aufweisen, sinnvoll eingesetzt werden. Beispielsweise wäre ein Einsatz in der Umrichtertechnik denkbar.

Claims

Patentansprüche
1. Halbleiterbauelement (1) bestehend aus
- einem Gehäuse (2), - einer Trägerplatte (3) ,
- zumindest einem Keramiksubstrat (4), das zumindest an seiner Oberseite mit einer Metallisierung (5) versehen ist,
- zumindest zwei Schaltelementen (6), die auf der Oberseite des Keramiksubstrats (4) elektrisch leitend angeordnet sind und jeweils über Laststromanschlusse (7) und einen Steueranschluß (8) verfügen,
- mehreren externen Laststromanschlußelementen (10) auf einer ersten Seite 13 und einer zweiten (14), der ersten (13), gegenüberliegenden Seite des Gehäuses (2), die mit den Last- Stromanschlüssen der Schaltelemente über Zuführungen (9) elektrisch verbunden sind, wobei die Laststromanschlußelemente (10) ein erstes oder ein zweites Versorgungspotential (11, 12) aufweisen können, wobei jeweils zwei Schaltelemente (6) benachbart angeordnet sind, daß sich die jeweiligen Zuführungen (9, 9Λ) annähernd parallel zu zwei zugeordneten Laststromanschlußelementen (10) hin erstrecken und benachbarte Laststromanschlußelemente unterschiedliche Polarität aufweisen.
2. Halbleiterbauelement nach Anspruch 1, wobei ein Schaltelement (6) mit zwei Zuführungen (9) verbunden ist, die sich zwischen der ersten und der zweiten Seite (13, 14) des Gehäuses verstrecken, und wobei die eine Zuführung (9) das erste Versorgungspotential (11) und die andere Zuführung (9 ) das zweite Versorgungspotential (12) aufweist.
3. Halbleiterbauelement nach Anspruch 1 oder 2, wobei die auf einer Gehäuseseite befindlichen und zwei benachbarten Schaltelementen (6) zugeordneten Laststroman- Schlußelemente (10) mit dem ersten bzw. dem zweiten Versorgungspotential beaufschlagt sind.
4. Halbleiterbauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei eine geradzahlige Vielzahl an Schaltelementen (6) vorgesehen ist, deren zugeordnete Laststromanschlusse auf der ersten bzw. der zweiten Seite (13, 14) alternierend das erste bzw. das zweite Versorgungspotential (11, 12) aufweisen.
5. Halbleiterbauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei ein Schaltelement (6) aus zwei seriell verschalteten Halbleiterschaltern (17, 17 λ) besteht, deren Verbindungspunkt mit einem Laststromanschlußelement (10) verbunden ist und einen Ausgang des Halbleiterbauelements bildet.
6. Halbleiterbauelement nach Anspruch 5, wobei die zwei seriell verschalteten Halbleiterschalter (17, 17 Λ) auf einer zu der ersten bzw. zweiten Seite (13, 14) in einer orthogonalen Fluchtlinie angeordnet sind.
7. Halbleiterbauelement nach einem der Ansprüche 4 bis 6, wobei die Schaltelemente (6) mittels der Metallisierung (5) und/oder Bonddrähten (16) parallel geschalten sind zur Erhöhung der Stromtragfähigkeit.
8. Halbleiterbauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 7, wobei das Schaltelement (6) IGBT's oder MOSFETs aufweist.
9. Verwendung der Halbleiterbauelemente nach einem der Ansprüche 1 bis 8, zur Ansteuerung einer Phase eines 3-Phasen-Wechselrichter- Moduls.
PCT/DE2000/001254 1999-06-15 2000-04-20 Niederinduktives halbleiterbauelement WO2000077827A2 (de)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP00934918A EP1186041A2 (de) 1999-06-15 2000-04-20 Niederinduktives halbleiterbauelement
JP2001503209A JP3675403B2 (ja) 1999-06-15 2000-04-20 半導体素子およびその使用方法
US10/023,189 US6809411B2 (en) 1999-06-15 2001-12-17 Low-inductance semiconductor components

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19927285.9 1999-06-15
DE19927285A DE19927285C2 (de) 1999-06-15 1999-06-15 Niederinduktives Halbleiterbauelement

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
US10/023,189 Continuation US6809411B2 (en) 1999-06-15 2001-12-17 Low-inductance semiconductor components

Publications (2)

Publication Number Publication Date
WO2000077827A2 true WO2000077827A2 (de) 2000-12-21
WO2000077827A3 WO2000077827A3 (de) 2001-04-19

Family

ID=7911315

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/DE2000/001254 WO2000077827A2 (de) 1999-06-15 2000-04-20 Niederinduktives halbleiterbauelement

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6809411B2 (de)
EP (1) EP1186041A2 (de)
JP (1) JP3675403B2 (de)
KR (1) KR100458425B1 (de)
DE (1) DE19927285C2 (de)
WO (1) WO2000077827A2 (de)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10109344C1 (de) * 2001-02-27 2002-10-10 Siemens Ag Schaltungsanordnung mit Halbbrücken
JP3748075B2 (ja) * 2002-08-30 2006-02-22 セイコーエプソン株式会社 電子モジュール及びその製造方法並びに電子機器
DE102005036116B4 (de) * 2005-08-01 2012-03-22 Infineon Technologies Ag Leistungshalbleitermodul
DE102006004031B3 (de) * 2006-01-27 2007-03-08 Infineon Technologies Ag Leistungshalbleitermodul mit Halbbrückenkonfiguration
DE102006012781B4 (de) * 2006-03-17 2016-06-16 Infineon Technologies Ag Multichip-Modul mit verbessertem Systemträger und Verfahren zu seiner Herstellung
DE102007013186B4 (de) 2007-03-15 2020-07-02 Infineon Technologies Ag Halbleitermodul mit Halbleiterchips und Verfahren zur Herstellung desselben
US7791208B2 (en) 2007-09-27 2010-09-07 Infineon Technologies Ag Power semiconductor arrangement
CN102067309B (zh) 2008-07-10 2013-08-28 三菱电机株式会社 电力用半导体模块
DE102014219998B4 (de) * 2014-10-02 2020-09-24 Vitesco Technologies GmbH Leistungsmodul, Leistungsmodulgruppe, Leistungsendstufe sowie Antriebssystem mit einer Leistungsendstufe

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0558226A2 (de) * 1992-02-25 1993-09-01 AT&T Corp. Ausgleichschaltung zum Reduzieren des induktiven Rauschens äusserlicher Chipverbindungen
US5617293A (en) * 1994-11-07 1997-04-01 Siemens Aktiengesellschaft Bridge module

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4038488A (en) * 1975-05-12 1977-07-26 Cambridge Memories, Inc. Multilayer ceramic multi-chip, dual in-line packaging assembly
US4809135A (en) * 1986-08-04 1989-02-28 General Electric Company Chip carrier and method of fabrication
JPS6393126A (ja) * 1986-10-08 1988-04-23 Fuji Electric Co Ltd 半導体装置
JPH088269B2 (ja) * 1986-10-22 1996-01-29 シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト 半導体デバイス
US5089877A (en) * 1990-06-06 1992-02-18 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Zero power ic module
EP0645810A4 (de) * 1993-04-06 1997-04-16 Tokuyama Corp Packung für halbleiterchip.
DE19645636C1 (de) * 1996-11-06 1998-03-12 Telefunken Microelectron Leistungsmodul zur Ansteuerung von Elektromotoren
DE29900370U1 (de) * 1999-01-12 1999-04-08 Eupec Gmbh & Co Kg Leistungshalbleitermodul mit Deckel

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0558226A2 (de) * 1992-02-25 1993-09-01 AT&T Corp. Ausgleichschaltung zum Reduzieren des induktiven Rauschens äusserlicher Chipverbindungen
US5617293A (en) * 1994-11-07 1997-04-01 Siemens Aktiengesellschaft Bridge module

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
RAINAL A J: "ELIMINATING INDUCTIVE NOISE OF EXTERNAL CHIP INTERCONNECTIONS" IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS,US,IEEE INC. NEW YORK, Bd. 29, Nr. 2, 1. Februar 1994 (1994-02-01), Seiten 126-129, XP000443204 ISSN: 0018-9200 *

Also Published As

Publication number Publication date
JP3675403B2 (ja) 2005-07-27
US6809411B2 (en) 2004-10-26
EP1186041A2 (de) 2002-03-13
KR20020021127A (ko) 2002-03-18
WO2000077827A3 (de) 2001-04-19
US20020089046A1 (en) 2002-07-11
DE19927285C2 (de) 2003-05-22
JP2003502834A (ja) 2003-01-21
DE19927285A1 (de) 2000-12-28
KR100458425B1 (ko) 2004-11-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE60025865T2 (de) Halbleitervorrichtung und elektrische Stromwandlungsvorrichtung
DE102007013186B4 (de) Halbleitermodul mit Halbleiterchips und Verfahren zur Herstellung desselben
DE19635582C1 (de) Leistungs-Halbleiterbauelement für Brückenschaltungen mit High- bzw. Low-Side-Schaltern
DE102015115271A1 (de) Elektronikbaugruppe mit entstörkondensatoren
EP1083599B1 (de) Leistungshalbleitermodul
DE102013207507B3 (de) Leistungsmodul, Stromrichter und Antriebsanordnung mit einem Leistungsmodul
DE102019114040A1 (de) Dreistufiges Leistungsmodul
WO2000077827A2 (de) Niederinduktives halbleiterbauelement
EP3292566A1 (de) Verfahren zum herstellen einer elektronischen schaltungsvorrichtung und elektronische schaltungsvorrichtung
EP0738008A2 (de) Leistungshalbleitermodul
EP3404818A1 (de) Halbleiterschaltanordnung
DE19706798B4 (de) Halbleiter-Leistungsmodul
DE102013219192A1 (de) Leistungsmodul, Stromrichter und Antriebsanordnung mit einem Leistungsmodul
EP1632117B1 (de) Elektronische baugruppe zum schalten elektrischer leistung
WO2001039347A1 (de) Schutzvorrichtung gegen die durch schaltvorgänge verursachten überspannungen an klemmen eines elektrischen betriebsmittels
EP3281289B1 (de) Leistungsstromrichter mit parallel geschalteten halbleiterschaltern
WO2022128999A1 (de) Inverter
EP1533889A2 (de) Umrichter für eine elektrische Maschine, insbesondere für einen Starter oder einen Starter-Generator für ein Kraftfahrzeug
DE102022206606B4 (de) Einzelphasenmodul eines Inverters, Inverter und Leistungselektronik
DE102022206604B4 (de) Einzelphasenmodul eines Inverters, Inverter und Leistungselektronik
WO2023232597A1 (de) Leistungsmodul, inverter mit einem leistungsmodul
DE102022207899A1 (de) Leistungshalbleitermodul
WO2024022935A1 (de) Leistungshalbleitermodul
DE102022206596A1 (de) Einzelphasenmodul eines Inverters, Inverter und Leistungselektronik
DE102022206601A1 (de) Einzelphasenmodul eines Inverters, Inverter und Leistungselektronik

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A2

Designated state(s): JP KR US

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A2

Designated state(s): AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE

DFPE Request for preliminary examination filed prior to expiration of 19th month from priority date (pct application filed before 20040101)
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
AK Designated states

Kind code of ref document: A3

Designated state(s): JP KR US

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A3

Designated state(s): AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2000934918

Country of ref document: EP

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2001 503209

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 1020017016143

Country of ref document: KR

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 10023189

Country of ref document: US

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 2000934918

Country of ref document: EP