WO2000058690A1 - Procede de transformation de coordonnees dans un moyen de reglage de position de dispositif d'observation, et dispositif d'observation equipe d'un moyen de transformation de coordonnees - Google Patents

Procede de transformation de coordonnees dans un moyen de reglage de position de dispositif d'observation, et dispositif d'observation equipe d'un moyen de transformation de coordonnees Download PDF

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Toshihiro Takahashi
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Sapporo Breweries Ltd.
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    • G01B9/04Measuring microscopes
    • GPHYSICS
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    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/24Base structure
    • G02B21/26Stages; Adjusting means therefor

Definitions

  • the present invention relates to a coordinate conversion method in a position setting unit of an observation device and an observation device including the coordinate conversion unit.
  • the present invention relates to a coordinate setting method in an observation device in which unique coordinates are set within an observation range, such as a microscope with an automatic sweeping device, and an observation object can be set at the coordinates and observed.
  • an observation range such as a microscope with an automatic sweeping device
  • an observation object can be set at the coordinates and observed.
  • a rapid microbial testing device using the ATP-luciferase method performs a luciferin-luciferase reaction using adenosine triphosphate (ATP), which is present specifically in living cells, and produces an ATP content.
  • ATP adenosine triphosphate
  • the presence of microorganisms is confirmed by detecting the minute light emission generated in proportion to the light intensity with a light intensity detector.This light emission state can be visualized using imaging means such as a CCD and visually observed. it can.
  • imaging means such as a CCD and visually observed. it can.
  • this method although the presence of a small number of microorganisms can be confirmed, the type of the confirmed microorganism cannot be recognized.
  • the location of the microorganisms in the sample should be easily and quickly determined, and the position should be specified by the automatic microscope position sweeping device provided on the microscope so that the target microorganisms can be observed immediately. is important.
  • RMDS microbial rapid inspection device
  • SFDS microscope equipped with an automatic sweeper
  • the coordinate axis for confirmation is based on one plane element of the imaging means used, and the unit of the scale is-mm.
  • the unit of the coordinate scale set in the sweep device of the SFD S is mm.
  • This is not limited to RMDD S, SFD S, but uses an observation device equipped with means that can set unique coordinates within the observation range and express and specify the specific position of the observation object by coordinates. This was a common problem above.
  • the present invention solves the conventional problems described above, When observing the same sample between observation devices that have set the coordinates for position designation, coordinate conversion is performed to correlate both coordinates and specify the other position based on position information from one. Is to get the way. Disclosure of the invention
  • the present invention has been made in view of the above problems, and solves the above problems by employing the following means.
  • the present invention relates to a method of converting a first coordinate system of one of a first and a second observation apparatus having two different coordinate systems for position designation from a first coordinate system to another second coordinate system,
  • the feature is that the following procedure is adopted.
  • an arbitrary point is set as a temporary origin (eg, (X1, y1), (XI, Yl)).
  • the observation point on the sample confirmed by the first observation means can be coordinate-transformed to the observation point of the second observation device, and the second observation device has the coordinate conversion function. By doing so, it is possible to specify the position in the second observation device using the coordinates of the observation point confirmed by the first observation device as it is.
  • the observation device of the present invention specifies the observation position by coordinates.
  • the position setting means having a second coordinate system different from that of the observation apparatus, wherein the position setting means has a position setting means having a second coordinate system different from the observation apparatus. It is characterized by comprising a coordinate conversion means for converting a second coordinate system into the first coordinate system.
  • the observation device of the present invention when the coordinate values confirmed by another observation device are input as they are, they are converted into coordinate values unique to the observation device and output to the position setting means.
  • FIG. 1 is a system configuration diagram of the rapid microorganism testing device.
  • FIG. 2 is a diagram illustrating coordinates of a pixel unit of an image pickup tube in an image of the rapid microorganism inspection apparatus.
  • Figure 3 is a system configuration diagram of the microscope with an automatic sweep device.
  • FIG. 4 is a diagram illustrating a mechanism for moving the sample stage of the microscope with an automatic sweeping device.
  • FIG. 5 is a block diagram illustrating a control device of the microscope with an automatic sweep device.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating a coordinate system of RMDS and SFDS.
  • FIG. 7 is a diagram showing an experimental example of transformation of a coordinate system from RMDS to SFDS.
  • a microbial rapid inspection device using the ATP-luciferase method, which is effective for confirming the presence of microorganisms, was used as the first observation device to confirm the specific contents of microorganisms.
  • the following is an example in which a microscope with an automatic sweep device (SFDS), which is effective for this purpose, is used as the second observation device.
  • SFDS automatic sweep device
  • a sample solution is filtered to capture live bacteria on a filter, and the filter is detected using a microbial luminescence image analysis system.
  • This microbial luminescence image analysis system treats a filter that captures viable bacteria with an extraction reagent and a luminescence reagent, sets it in a specimen holder, and sets up a TV that consists of an optical system and imaging means (such as a CCD). Set the camera as close to the filter as possible, photograph the light emission of the filter, display and observe the image data on a display via an image processing device and data analysis device, and print out the analysis results.
  • FIG 1 shows an overview of the system of the Microbial Rapid Test System (RDMS) 10, 1 is a high-sensitivity TV camera consisting of a tapered fiber, an optical amplifier and a CCD (CCD), a camera controller 2, an image processor 3, It consists of a data analyzer 4 and a TV monitor 5.
  • the filter 6 holding the viable bacteria subjected to the luminescence treatment was brought close to the high-sensitivity television camera 1, and two-dimensional photons were emitted for a predetermined time, for example, 30 to 1 using the camera controller 2 and the image processor 3.
  • the light emission from the cells is imaged, the light emission noise is eliminated by the data analyzer 4, and only the strong light emission by viable bacteria is displayed on the TV monitor 5.
  • the light emission point of the microorganism (In Fig. 2, "1" indicates the light emission point of the microorganism.)
  • the positional relationship between the filter 6 and the image pickup tube the light emission point at the position of the filter 6 can be determined. You can check.
  • Fig. 3 shows a schematic diagram of the SFDS 20.
  • the S FDS 20 controls the position of the microscope 21 and the holder that holds the slide, and inputs necessary data to the control box 31 and the control box 31. It consists of an operation panel 41 for outputting the result of microscopy by a microscope.
  • the microscope 21 is provided with a stage 22 for supporting the sample filter 100 and a stage 22.
  • the X-axis moving mechanism 24 A and the Y-axis moving mechanism 24 for moving the filter 100 in the directions of the arrows X and Y under the objective lens 23 respectively. B is provided.
  • the control box 31 includes an X-axis drive motor 32 A and a Y-axis drive motor 32 B for driving the X-axis movement mechanism 24 A and the Y-axis movement mechanism 24 B of the microscope 21, respectively, and an X of the filter 100.
  • Display units 34A and 34B are provided to display the positions in the axial and Y-axis directions. The driving forces of the X-axis drive motor 32A and the Y-axis drive motor 32B are transmitted to the X-axis movement mechanism 24A and the Y-axis movement mechanism 24B by the flexible shafts 33A and 33B.
  • the operation panel 41 has a power switch 42A, other operation switches 42B, and an input switch 43 for inputting various data for specifying a moving position of the filter 100.
  • the input switch group 43 includes a switch for inputting coordinate data for designating a movement position of the filter 100, and a switch for inputting coordinate data.
  • a coordinate switch (not shown) is provided to switch the coordinate system for inputting coordinates between the RMDS mode and the FSDS mode.
  • the control panel 41 also has an output device 45, and by operating the operation switch 42, a specific position of the filter position is stored and printed out to the output device 45.
  • FIG. 4 shows details of the X-axis moving mechanism 24 A and the Y-axis moving mechanism 24 B for moving the filter 100 provided on the stage 22 of the microscope 21.
  • the stage 22 has a holder 51 for holding the filter, and the holder 51 is movable in the X direction in the figure by a guide shaft 53 mounted on the movable base 52 at its mounting portion 51A. It is supported by The mounting portion 51A also has a screw hole through which the screw 54 passes.
  • the screw 54 is rotationally driven by the drive motor 32A described above, whereby the holder 51 moves in the X direction.
  • the movable base 52 is supported on the stage 22 so as to be movable in the Y direction in the figure, and the screw 55 penetrates at the end.
  • the screw 55 is rotationally driven by a drive motor 32B, so that the movable table 52 moves in the Y direction.
  • FIG. 5 is a block diagram showing a control system for operating SFDS 20.
  • the control box 31 has a control device 33, performs various arithmetic processing based on input signals from various switches of the operation panel 41, and sends control signals to the X-axis and Y-axis drive motors 32A and 32B.
  • predetermined data is output to the output device 43 of the operation panel 41.
  • the holder is adjusted to the holder 51 provided on the stage 22 of the microscope 21. After placing the sample filter, the user can move the holder 51 and observe the required position of the sample filter by inputting coordinates using the input switch 43 of the operation panel 41.
  • a predetermined switch of the operation switches 42 is operated to store the coordinates of the observation point. After the observation is completed, if necessary, the output device 45 prints the stored coordinates.
  • the control device 33 of the control box 31 has a built-in program for receiving the input of the RMD S coordinate value from the operation panel 41 and performing a later-described calculation process for converting the input value into the SFD S coordinate. ing. Therefore, by switching the coordinate switching switch of the input switch 43 to the RMD S mode, and inputting the coordinates confirmed by the RMD S through the input switch 43 as it is, the control device 33 converts the coordinates into a predetermined conversion. It is calculated by the formula and automatically converted to SFD S coordinates.
  • FIG. 6 shows (1) the RMD S coordinate system and (2) the SFD S coordinate system.
  • This operation measures at least three different spots and obtains their coordinates. Then, one of the points ((x O, y 0), (X 0, Y 0)) is set as the temporary origin, and the other two coordinates ((X 1, y 1), (XI, YD), ( Let ( ⁇ 2, y 2), (X 2, Y 2)) be the points for creating the conversion formula.
  • Equation (2) Substitute the coordinates ((X 1, y 1), (X 1, Y 1)), (( ⁇ 2, y 2), (X 2, Y 2)) into the following equation (1), Equation (2) is obtained.
  • X2 ⁇ (XI -by1) / x1 ⁇ x2 + by2
  • Y 2 J (Y 1—d ⁇ y 1) / x 1 ⁇ ⁇ x2 + d ⁇ y 2
  • (x 3, y 3) is corrected in advance to a numerical value based on the temporary origin of the RMD S coordinate, and the coordinate (X 3, Y 3) obtained by the calculation is temporarily set to the SFD S coordinate. Correct to a value based on the origin (temporary origin (XO, YO) is added).
  • Table 2 shows the measured values of each coordinate as relative values to the temporary origin. Also, the coordinate system of RMDS is in pixel units, and the coordinate system of SFDS is in mm units.
  • the correction calculation coordinates of SFD S are (c;).
  • the calculated coordinates of SFDS were obtained by adding the temporary origin coordinate values to the corrected calculation coordinates (e).
  • the filter was stained with ataridine orange, and the vicinity of the confirmed point was observed with a 200-fold fluorescent microscope. As a result, a yeast-like substance could be confirmed at the coordinates described in (e).
  • the maximum error was 1.6 mm on the X axis and 0.53 mm on the Y axis. That is, by observing the visual field in the range of ⁇ 1.6 X ⁇ 0.5 mm with respect to the entire filter (diameter: 47 mm), the bright spot generated by the RMDS can be observed by the SFDS.
  • the embodiment of the present invention has been described by taking as an example a case where a sample filter is moved between two different observation devices from a microbial rapid inspection device to a microscope with an automatic sweeping device for observation. It is not necessary to limit the present invention to the two types of observation apparatuses, and it is apparent that the present invention can be applied to any apparatus that moves a sample between observation apparatuses having different observation coordinate systems.
  • the present invention when observing a sample using an observation device having two different coordinate systems for position designation, a part on the sample confirmed by one observation device is observed by the other observation device. In such a case, the relevant site can be easily accessed, and the observation can be quickly performed by the two observation devices.

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Description

明細書
観察装置の位置設定手段における座標変換方法及び座標変換 手段を備える観察装置 技術分野
本発明は、 自動掃引装置付き顕微鏡のように、 観察範囲内に おいて固有の座標が設定されており、 観察物を当該座標で位置 設定して観察できる観察装置における座標設定方法に係るもの で、 各々、 固有の座標を有する観察装置間で同一試料を観察す るに当たり、 装置 Aで観察し、 装置 Aの座標で位置確認した試 料の特定位置を、 装置 Aの座標と異なる座標を有する他の観察 装置 Bにおいて容易に位置設定できるようにするための座標設 定方法に関する。 背景技術
例えば、 A T P—ルシフェラーゼ法を利用した微生物迅速検 査装置は、 生きた細胞に特異的にまとまって存在するアデノシ ン三リン酸 (A T P ) を利用してルシフェリン一ルシフェラー ゼ反応を行わしめ、 A T P含量に比例して発生する微小な発光 を光度検出器で検出することにより、 微生物の存在を確認する もので、この発光状態を C C D等の撮影手段を用いて映像化し、 視覚的に観察することができる。 しかしながら、 この方法では、 僅かな微生物の存在は確認できるものの、 その確認された微生 物の種類を認知するこができない。
従って、 上記方法で存在を確認した微生物を正確に特定する ためには、 上記方法で使用したサンプルを顕微鏡に移して観察 する必要がある。 この 2回の観察を手際よく効率的に行うため には、 サンプル中の微生物の存在位置を容易かつ短時間に割り 出し、 顕微鏡に設けられた検鏡位置自動掃引装置にて位置指定 を行い、 即座に目的の微生物の観察が行えるようにすることが 重要である。
しかしながら、 サンプルを上記微生物迅速検査装置 (以下、 RMD Sとレ、う) でチェックしてから自動掃引装置付き顕微鏡 (以下、 S FD Sという) で再確認を行うに当たって、 RMD Sの座標をそのまま S FD Sというの座標値として使用するこ とができず、新らためて顕微鏡側で個別調整しなければならず、 時間と煩雑な操作を強いるものであった。
即ち、 RMD Sの座標と S FD Sの座標とは、 直接の相関性 がなく、 原点は勿論のこと、 双方の座標軸の単位を全く相関性 がない (例えば、 RMD Sに設定されている位置確認用の座標 軸は使用されている撮像手段の 1面素を目盛の単位としており、 —方、 S FD Sの掃引装置に設定されている座標の目盛の単位 は mmである。)。 例えば、 RMD Sのサンプルを 4 7 mm径の フィルタとし、 そのフィルタ上に I c e 1 1の酵素が存在する 場合、 このサンプルを顕微鏡で確認したとすると、 顕微鏡の倍 率を 1 00倍とした時は、 3, 0 00視野、 2 00倍で 6 , 0 00視野を観察する必要があり、事実上観察が不可能である(こ のとき、 顕微鏡の各倍率の視野面積はそれぞれ 0. 7 6 X 0. 7 6 mm, 0. 5 3 X 0. 5 3mmである。)。
これは、 RMDD S, S FD Sに限らず、 観察範囲内におい て固有の座標を設定し、 観察物の特定位置を座標によって表 現 ·指定することの出来る手段を備えた観察装置を使用する上 で共通の問題であった。
本発明は上述の従来の問題点を解決するものであり、 異なる 位置指定用座標が設定されている観察装置間で、 同一の試料を 観察するに当たり、 双方の座標に相関性を持たせ、 一方からの 位置情報に基づいて他方の位置を特定するための座標変換方法 を得ることにある。 発明の開示
本発明は、 上記問題に鑑みなされたものであり、 以下の手段 を採用することにより上記課題を解決するものである。
即ち、 本発明は、 それぞれ異なる二つの位置指定用座標系を 持つ第 1及び第 2の観察装置の、 一方の第 1の座標系から他方 の第 2の座標系に変換する方法であって、 その特徴は以下の手 順を採用したことにある。
(1) 任意の位置に観察点を少なく とも 3点設けた座標設定用 試料を作成する。
(2) 当該試料を第 1のの観察装置の試料台に設置し、 上記観 察点を確認し、 その座標を読み取る ((X I, Y l), (X 2, Y 2), (X 3 , Y 3))。
(3) 試料と試料台との相対位置を設定するために夫々任意に マーカーを付す。
(4) 試料を第 1の観察装置より取り外し、 第 2の観察装置に 設置する。 その時、 第 2の観察装置の試料台 (固有の座標を有 する) もしくは試料台に試料を設置するに当たり、 試料を保持 する保持手段 (例;プレパラート) に、 先に試料に付したマー カーと相対する目印を任意に付す。 そして、 試料を第 2の観察 装置に設置するに当たり、 前記試料のマーカと目印を一致させ る。 以後、 第 1の観察装置で観察した試料を第 2の観察装置で 確認する場合は、 必ず前記マーカと目印が一致するよう試料を 設置する。
( 5 ) 試料に設けられた観察点を第 2の観察装置固有の座標を 用いて位置座標を読み取る ((x l, y 1), (x 2, y 2), (x 3, y 3))。
(6) 上記観察点のうち、 任意の点を仮原点とする (例:(X 1 , y 1), (X I , Y l))。
(7) 座標変換式 x n = a Xn + b Yn, y n = c Xn + d Y nに他の 2点の座標を代入し、 a, b, c , dを算出する。 得られた数値を上式に代入し、 座標変換式を設定する。 代入す る x n, y n, Xn, Y nの値を仮原点を基準にした数値に捕 正する (相関性を付与)。
(8) 設定した変換式を、 第 2装置固有の座標系の変換式に補 正する (仮原点を基準とした座標系を第 2の観察装置固有の座 標系に補正する (X n = a X n + b Yn + X 1 , y n = c X n + d Yn + y l)。
(9) 観察すべき試料を第 1の観察装置で観察し、 試料上の観 察すべき点の数値を読み取る ((X 4, Y 4) · · · )。
( 1 0) (9) で確認した数値を上記 (8) で設定した座標変換 式に代入し、 x 4, y 4を算出する。
( 1 1 ) 他方の観察装置に試料を移し、 位置設定手段 (自動掃 引装置) に上記座標の数値を入力し、 位置指定を行う。
以上の過程でにより、 第 1の観察手段で確認した試料上の観 察点を、 第 2の観察装置の観察点に座標変換することができ、 第 2の観察装置に上記座標変換機能を持たせることにより、 第 1の観察装置で確認した観察点の座標をそのまま使用して第 2 の観察装置において位置指定が可能となる。
また、 本発明の観察装置は、 観察位置を座標により特定する ための第 1の座標系を有する位置設定手段を備える観察装置に おいて、 前記位置設定手段は、 当該観察装置と異なる第 2の座 標系を有する位置設定手段を備える他の観察装置の前記第 2の 座標系を前記第 1の座標系に変換する座標変換手段を備えるこ とを特徴とする。
本発明の観察装置によれば、 他の観察装置において確認した 座標値をそのまま入力すると、 当該観察装置固有の座標値に変 換されて位置設定手段に出力される。 図面の簡単な説明
図 1は、 微生物迅速検査装置のシステム構成図である。 図 2は、 微生物迅速検査装置の映像における撮像管の画素単 位の座標を説明する図である。
図 3は、 自動掃引装置付顕微鏡のシステム構成図である。 図 4は、 自動掃引装置付顕微鏡の試料ステージの移動機構を 説明する図である。
図 5は、 自動掃引装置付顕微鏡の制御装置を説明するプロッ ク図である。
図 6は、 R M D Sと S F D Sの座標系を説明する図である。 図 7は、 R M D Sから S F D Sへの座標系の変換の実験例を 示す図である。 発明を実施するための最良の形態
次に、 本発明の実施の形態について図面と共に説明する。 本実施例においては、 微生物の存在を確認するために有効な A T P—ルシフェラーゼ法を利用した微生物迅速検査装置 (R D M S ) を第 1の観察装置とし、 微生物の具体的内容を確認す るために有効な自動掃引装置付き顕微鏡 (S FD S) を第 2の 観察装置とした場合を例にとって説明する。
そこで、 先ず、 本実施例で使用する微生物迅速検査装置 (R DMS) と自動掃引装置付き顕微鏡 (S FD S) の概要につい て説明する。
RDMSで行う微生物検査は、 先ず、 検体液を濾過して生菌 をフィルター上に補足し、 このフィルターを微生物発光画像解 析システムを用いて検出する。 この微生物発光画像解析システ ムは、 生菌を捕捉したフィルターを抽出試薬及ぴ発光試薬で処 理した後、 標本ホルダーにセットし、 光学系及ぴ撮像手段 (C CD等) で構成されたテレビカメラを上記フィルターにできる だけ近接させてセッティングし、 フィルターの発光状態を撮影 し、 画像処理装置、 データ解析装置を介して画像データをディ スプレイで表示、観察したり、解析結果をプリントアウトする。 図 1は、 微生物迅速検査装置 (RDMS) 1 0のシステムの 概要を示し、 1はテーパーファイバー、光増幅部及び撮像管(C CD) からなる高感度テレビカメラ、 カメラコントローラ 2、 イメージプロセッサ 3、 データ解析装置 4、 テレビモニター 5 から構成されている。 測定は、 発光処理した生菌を保持したフ ィルター 6を高感度テレビカメラ 1に接近させておき、 カメラ コントローラ 2及びィメージプロセッサ 3を用いて 2次元的の 光子を所定時間、 例えば、 30〜 1 80秒間蓄積し、 菌体から の発光を撮像し、 データ解析装置 4により発光ノイズを消去し て生菌による強い発光のみを残してテレビモニター 5に表示す る。 この処理によって菌体由来以外の発光がノイズとして消去 され、 測定された輝点数は生菌の数となる。 微生物による発光 点は、 例えば、 図 2に示すように、 撮像管の画素単位の座標に より表示することができ (図 2中、" 1"は微生物による発光点 を示す。)、 フィルター 6と撮像管との位置関係を関連付けてお くことにより、 フィルター 6の位置での発光点を確認すること ができる。
次に、 自動掃引装置付き顕微鏡 (S FDS) の概要について 説明する。
図 3は S F D S 20の概略構成図を示し、 S FDS 20は、 顕微鏡 2 1、 プレパラートを保持するホルダの位置を制御する 制御ボックス 3 1、 制御ボックス 3 1に対し必要なデータを入 力するとともに顕微鏡による検鏡結果を出力するための操作盤 4 1からなる。
顕微鏡 2 1は試料フィルター 1 00を支持するステージ 22 と、 ステージ 22に設置され、 フィルター 100を対物レンズ 23の下でそれぞれ矢印 X, Y方向に移動させる X軸移動機構 24A, Y軸移動機構 24 Bを備えている。
制御ボックス 3 1は、 顕微鏡 2 1の X軸移動機構 24 A, Y 軸移動機構 24 Bを夫々駆動するための X軸駆動モータ 32 A, Y軸駆動モータ 3 2 Bと、 フィルター 1 00の X軸方向と Y軸 方向の位置を表示する表示する表示部 34 A, 34 Bを備えて いる。 X軸駆動モータ 3 2A, Y軸駆動モータ 3 2 Bの駆動力 はフレキシブル軸 3 3 A, 33 Bみよって X軸移動機構 24 A, Y軸移動機構 24 Bに伝達されるようにしている。
また、 操作盤 4 1は、 電源スィッチ 42 A、 その他操作用ス ィツチ群 42 Bと、 フィルター 100の移動位置を指定するた めの各種データを入力するための入力スィツチ群 43を有して いる。 入力スィッチ群 43には、 フィルター 1 00の移動位置 を指定するための座標データを入力するためのスィツチの他、 座標入力を行う際の座標系を R M D Sモードと F S D Sモード とに切り換える座標切換スィッチ (図示せず) を備えている。 制御盤 4 1は、 また、 出力装置 4 5を有し、 操作スィツチ 4 2 の操作により、 フィルター位置の特定の位置を記憶するととも に、 出力装置 4 5にプリントアウトできるようにしている。 図 4は、 顕微鏡 2 1のステージ 2 2に設けられたフィルター 1 0 0を移動するための X軸移動機構 2 4 A , Y軸移動機構 2 4 Bの詳細を示す。
ステージ 2 2は、 フィルターを保持するためのホルダ 5 1を 有し、 ホルダ 5 1はその取付部 5 1 Aにおいて可動台 5 2に設 けられたガイ ドシャフト 5 3により図中 X方向に移動自在に支 持されている。 取付部 5 1 Aには、 また、 スクリュウ 5 4が貫 通する螺子穴を有する。 スクリュウ 5 4は前述の駆動モータ 3 2 Aにより回転駆動され、 これによつてホルダ 5 1は X方向に 移動する。
—方、 可動台 5 2はステージ 2 2に対して、 図中 Y方向に移 動可能に支持されており、 端部においてスクリュウ 5 5が貫通 している。 スクリュウ 5 5は駆動モータ 3 2 Bによって回転駆 動され、 これによつて、 可動台 5 2は Y方向に移動するように している。
図 5は、 S F D S 2 0の操作の制御系統を示すプロック図で ある。 制御ボックス 3 1は制御装置 3 3を有し、 操作盤 4 1の 各種スィツチからの入力信号に基づき各種演算処理を行い、 X 軸、 Y軸駆動モータ 3 2 A , 3 2 Bに制御信号を出力するとと もに、 操作盤 4 1の出力装置 4 3に所定データを出力する。 以上の構成からなる S F D S 2 0を使用して観察する場合、 顕微鏡 2 1のステージ 2 2に設けられたホルダ 5 1に調整され た試料フィルターを載せた後、 操作盤 4 1の入力スィツチ 43 により座標を入力することにより、 ホルダ 5 1を移動させて試 料フィルターの必要位置を観察することができる。 そして、 観 察中に記録すべき観察点がある場合、 操作スィツチ 42のうち 所定のスィッチを操作して、 その観察点の座標を記憶する。 観 察終了後、 必要があれば出力装置 45により、 記憶した座標を プリントァゥトする。
本実施例からなる S F D Sは、 更に、 ホルダ 5 1の移動位置 を設定するために座標を入力する際、 S FD Sの座標値を入力 することなく、 RMD Sの座標値を直接入力して、 これを S F D Sの座標値に変換する機能を持たせている。 即ち、 制御ボッ クス 3 1の制御装置 33は、 操作盤 4 1からの RMD S座標値 の入力を受けてこれを S FD S座標に変換するための後述の演 算処理を行うプログラムを内蔵している。 したがって、 入カス イッチ 43のうちの座標切換スィツチを RMD Sモードに切り 換えることにより、 入力スィッチ 43より、 RMD Sで確認し た座標をそのまま入力すれば、 制御装置 33は、 これを所定の 変換式により演算して S FD S座標に自動的に変換するように している。
〔座標の変換〕
次に、 RMD Sで得たフィルターの画像における座標系を S FD Sの座標系に変換する手順について述べる。 なお、図 6は、 (1 ) RMD S座標系と (2) S FD S座標系を示す。
(1) ATP溶液に色素を混ぜ、 フィルターにスポットし、 座 標設定用試料を作成する。
(2) 当該試料を RMD Sの試料台に設置した時に、 試料と試 料台との任意の位置に相対応するマーカを付す。 続いて、 RM D Sにより上記 ATP溶液のスポッ トにより発生した輝点の座 標を確認する (X , y)。
(3) そのフィルターを S F D Sにセットする。 この時、 S F D Sの試料台もしくは試料保持手段に、 目印を任意に設け、 前 記フィルタに付してあるマーカーと前記目印とを一致させるよ うフィルタを設置する。 続いてフィルタ上に形成したスポッ ト の色素が顕微鏡の視野に入る座標を記録する (X, Y)。
(4) この操作で少なく とも異なる 3点のスポッ トを測定し、 夫々の座標を得る。そして、そのうちの 1つの点((x O, y 0), (X 0, Y 0)) を仮原点とし、 他の 2つの座標 ((X 1 , y 1 ), (X I , Y D), ((χ 2, y 2), (X 2, Y 2)) を変換式作成 用の点とする。
(5)座標((X 1 , y 1), (X 1, Y 1)), ((χ 2, y 2), (X 2, Y 2)) を次の式 (1) に代入し、 式 (2) を得る。
なお、 ここで代入する (X , y ), (X, Y) は、 常に仮原点 ((x 0 , y 0), (X 0 , Υ 0)) からの相対的な値とするため、 各座標値から、 (x 0, y 0), (X 0 , Υ 0) の座標値を引く必 要がある。
Figure imgf000012_0001
Figure imgf000012_0002
(6) 次式 (3) により、 a , b, c , dを求める, れによ り、 座標変換式 (4) が確定する。
a= (X 1— b y 1) Zx 1
c= (Yl-d y 1) /x 1
X2= { (XI -b · y 1) /x 1} · x2+b · y 2
b= {X2-X1 - X 2/X 1} / {-y 1 - x2/x l+y2} (3)
Y 2 = J (Y 1— d · y 1 ) /x 1 } · x2 + d · y 2
d= {Y2-Y1 · X 2/X 1} / {-y 1 ' x2Zx l+y2}
(7) RMD S座標 (x 3, y 3) から、 S FD S座標 (X 3,
Y 3) への変換は、 次式 (4) に座標 (x 3, y 3) を代入し て求めることができる。
この場合、 予め (x 3, y 3) を RMD S座標の仮原点を基 準にした数値に補正し、 また、 計算により得られた座標 (X 3, Y 3)を S FD S座標の仮原点を基準とした数値に補正する(仮 原点 (XO, YO) を加算する)。
X3=a - x3+b - y3
Y3=c - x3+d - y3 (4)
[実施例]
次に、 RMD Sと S F D Sの座標の具体的数値を使用して座 標変換式を求めた例について述べる。
( 1 ) 先ず、 フィルター上の選択した 3点について上述の手順 ( 1 ) 〜 (3) に従い、 表 1に示す実測値を得た。 なお、 3点 のうち、 点 ((2 2 6、 9 4)、 (34. 9 6 , 1 2. 6 3) を仮 原点とし、 他の 2点を変換式設定用の点とした,
【表 1】
Figure imgf000014_0001
(2) 次に、 上記手順 (4) に従い、 各座標の実測値を、 仮原 点に対する相対値として示すと表 2のようになる。 また、 RM D Sの座標系は画素単位であり、 と S FD Sの座標系は mm単 位である。
【表 2】
Figure imgf000014_0002
(3) 表 2の座標 ((x l, y l ), (X I , Y 1 )), ((x 2, y 2), (X 2 , Y 2)) の値を用い、 上記手順 (6) に従い、 係数 a , b, c , dを得る。 結果は表 2に示すとおりとなる。
(4) 以上の結果から、 RMD Sの座標 (x 3, y 3 ) から S FD Sの座標 (X 3, Y 3 ) への変換式は下記の通りとなる。
X 3 = 0. 0 9 9 0 1 8 · χ 3 + 0. 0 0 0 1 7 9 - y 3 Y 3 =— 0. 00 20 7 - x 3 + 0. 1 0 1 04 8 ' y 3 〔実験例〕
次に、 上記変換式による座標変換の精度を調べるために行つ た実験について述べる。
( 1 )フィルターに 1 0個程度の酵母を添加して濾過を行った。
(2)これを RMD S処理を行い、 RMD Sで観察して図 7 (A) に示す画像データを得た。
(3) RMD Sにおいて発生した輝点について座標を測定した (図 7 (B), (a ))。
(4) 実測値 (a ) より仮原点座標により相対的座標 (b) を 得た。
(5) 座標変換式 (4) により S FD Sの補正計算座標を (c;)。 (6) 補正計算座標に仮原点座標値を加えて S F D Sの計算座 標を得た (e)。 (7) フィルターをアタリジンオレンジにより 染色し、 確認した点の近辺を 200倍の蛍光顕微鏡で観察した 結果、 ( e )に記載された座標に酵母状の物質を確認することが できた。
(8) 計算値 (d) と実測値 (e) の差をとり ( f )、 座標変換 式の精度を評価した。
評価の結果にも示されるように、 最大誤差は X軸で 1. 6m m、 Y軸で 0. 5 3 mmであった。 即ち、 フィルター全面 (直 径; 4 7mm) に対して ± 1. 6 X±0. 5 mmの範囲の視野 を観察すれば、 RMD Sで発生した輝点を S F D Sにより観察 できることとなる。
以上、 本発明の実施例を、 微生物迅速検査装置から自動掃引 装置付顕微鏡の 2つの異なる観察装置間を試料フィルターを移 動して観察する場合を例にして述べたが、 観察装置として、 上 記 2種類の観察装置に限定する必要はなく、 それぞれ異なる観 察座標系を有する観察装置間で試料を移動するものであれば適 用できることは明らかであろう。 上述の如く本発明によれば、 それぞれ異なる二つの位置指定 用座標系を持つ観察装置で試料を観察する場合、 一方の観察装 置で確認した試料上に部位について、 他方の観察装置で観察す る場合当該部位に容易にアクセスするこが可能となり、 迅速に 2つの観察装置による観察を行うことができる。

Claims

請求の範囲
1. 任意の位置に観察点を少なくとも 3点設け、 試料と試料台 との相対位置を設定するためにマーカーを付した座標設定用試 料を第 1の観察装置の試料台に設置して上記観察点の座標を読 み取る段階と、
前記試料を前記第 1の観察装置より取り外し、 第 2の観察装 置に設置し、 前記第 2の観察装置固有の座標を用いて前記観察 点の座標を読み取る段階と、
上記観察点のうち、 任意の点を仮原点とし、 他の 2点の座標 を前記仮原点を基準とした座標に補正して下記式 (1) に代入 し、 a , b , c , dを算出し座標変換式を確定する段階と、 第 1の観察装置の座標を前記確定した座標変換式に代入して 求めた値に前記第 2の観察装置の仮原点の座標に基づいて補正 して第 2の観察装置固有の座標を求める段階と、
からなる異なる観察装置の位置設定手段における座標変換方 法。
x n= a Xn + b Yn, y n= c Xn + dYn - - - ( 1)
2. 観察位置を座標により特定するための第 1の座標系を有す る位置設定手段を備える観察装置において、 前記位置設定手段 は、 当該観察装置と異なる第 2の座標系を有する位置設定手段 を備える他の観察装置の前記第 2の座標系を前記第 1の座標系 に変換する座標変換手段を備える観察装置。
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