WO2000014833A1 - Connecteur femelle pour dispositif de traitement - Google Patents

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WO2000014833A1
WO2000014833A1 PCT/JP1999/004745 JP9904745W WO0014833A1 WO 2000014833 A1 WO2000014833 A1 WO 2000014833A1 JP 9904745 W JP9904745 W JP 9904745W WO 0014833 A1 WO0014833 A1 WO 0014833A1
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WO
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socket
contact
holder
circuit board
handler
Prior art date
Application number
PCT/JP1999/004745
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English (en)
French (fr)
Inventor
Kazuhisa Ozawa
Original Assignee
Enplas Corporation
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Publication date
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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R33/00Coupling devices specially adapted for supporting apparatus and having one part acting as a holder providing support and electrical connection via a counterpart which is structurally associated with the apparatus, e.g. lamp holders; Separate parts thereof
    • H01R33/74Devices having four or more poles, e.g. holders for compact fluorescent lamps
    • H01R33/76Holders with sockets, clips, or analogous contacts adapted for axially-sliding engagement with parallely-arranged pins, blades, or analogous contacts on counterpart, e.g. electronic tube socket
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/02Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
    • H05K7/10Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets
    • H05K7/1015Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having exterior leads
    • H05K7/1023Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having exterior leads co-operating by abutting, e.g. flat pack
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/70Coupling devices
    • H01R12/7005Guiding, mounting, polarizing or locking means; Extractors
    • H01R12/7011Locking or fixing a connector to a PCB

Definitions

  • the present invention relates to a socket for a handler that is interposed between an electric component such as a semiconductor device (hereinafter referred to as an “IC package”) and a circuit board and electrically connects the electric component to the circuit board. is there.
  • an electric component such as a semiconductor device (hereinafter referred to as an “IC package”)
  • a so-called handler is a type in which a large number of IC carriers containing IC packages are mounted on a test tray.
  • the test tray is conveyed.
  • the IC package housed in the IC carrier is pressed from above by the press contact, and the terminals of the IC package are pressed. It is pressed against the socket for handler and is electrically connected to the circuit board via the socket for handler.
  • a large number of contact pins are provided on the socket body, and these contact pins are brought into contact with the terminals of the IC package and the circuit board to electrically connect the two.
  • the IC package is tested by the IC test apparatus, and based on the test results, non-defective products and defective products are sorted.
  • the socket for the handler is
  • the present invention provides a socket for a handler that can be partially shared even when the position of a positioning portion of an IC carrier or a circuit board is changed or the number of terminals or the terminal interval of an IC package is changed. It is intended to be. Disclosure of the invention
  • the present invention provides a socket for a handler for connecting an electric component and a circuit board to opposing surfaces, and electrically connecting the electric component to the circuit board.
  • the contact pin is held by projecting a contact portion from the opposing surface, and the holder is a socket for one handler detachably attached to a side of the socket body. .
  • the holder for holding a large number of contact bins is detachably attached to the side of the socket body, so that the Ic carrier circuit board can be changed or the terminal of the electric component terminal can be changed.
  • the number or the distance between the terminals is different, only one of the holder and the socket body needs to be replaced, and the other part can be shared.
  • Another invention is characterized in that the holder having a different number of contact pins and / or a different pin interval can be mounted on the socket body.
  • the socket body is provided with a positioning portion for positioning the electrical component or the circuit board, and a socket body having a different position or shape of the positioning portion can be mounted on the holder. It is characterized by.
  • Another invention is characterized in that the contact bin has a substantially U shape, and the contact portion is formed near an end of the U shape.
  • the thickness of the socket for the handler can be reduced, and the contact The same contact pressure acts on both contact portions of the pin, and contact stability can be improved.
  • the contact pins are U-shaped and the current path is short, making them suitable for testing high-frequency IC packages.
  • the contact portion of the contact pin has a projection shape projecting outward in a u-shape, and the opposing surface of the electric component side contact portion on the side to which the electric component is connected is provided.
  • the amount of protrusion from the opposite side is greater than the amount of protrusion of the contact portion on the circuit board side to which the circuit board is connected from the opposite surface.
  • the electric component side contact portion can be appropriately brought into contact with the terminal of the electric component.
  • an end of the contact bin in a state where the holder is mounted on the socket main body, an end of the contact bin is engaged with a contact bin engaging portion of the socket main body to apply a preload. It is characterized by having been set as follows.
  • each contact pin is improved, and the height of each contact portion can be made uniform.
  • the holder is provided with insulating walls positioned between the plurality of contact pins and performing insulation, and each of the insulating walls is fitted in a fitting concave portion formed in the socket body. It is characterized by being combined.
  • each insulating wall formed on the holder is fitted into the fitting recess formed on the socket body, and also serves as a positioning when the holder is mounted on the socket body. Therefore, the workability and the positional accuracy of the holder can be improved.
  • FIG. 1 is a plan view of a handler socket according to an embodiment of the present invention
  • FIG. 2 is a front view of the handler socket according to the embodiment.
  • FIG. 3 is a bottom view of the handler socket according to the embodiment.
  • FIG. 4 is a sectional view taken along the line IV-IV in FIG. 1 according to the embodiment.
  • FIG. 5 is a sectional view taken along the line VV of FIG. 1 according to the embodiment.
  • FIG. 6 is a plan view of the holder according to the embodiment.
  • FIG. 7 is a cross-sectional view taken along the line WW of FIG. 6 according to the same embodiment.
  • FIG. 8 is a diagram showing the IC package according to the embodiment, wherein (a) is a plan view of the IC package and (b) is a right side view of the IC package.
  • FIG. 9 is a perspective view of a test tray, an IC carrier and the like according to the same embodiment.
  • Embodiment 1 of the present invention show Embodiment 1 of the present invention.
  • reference numeral 11 denotes a handler socket
  • the handler socket 11 corresponds to an IC package 12 which is an “electric component” shown in FIGS. 8 and 9.
  • the terminals 12b of the IC package 12 are electrically connected to the circuit board 13 of the IC test apparatus.
  • a large number of terminals 12b project in a crank shape at a predetermined pitch from the side surface of the rectangular package body 12a toward the side.
  • the number of the terminals 12b is 54 and the interval between the terminals 12b is 0.8 mm.
  • the socket body 14 has a substantially rectangular plate shape, and has a pair of cutout portions 14a to which the holder 15 is attached.
  • a positioning pin fitting hole 14b and a stopper pin fitting hole 14c are formed, and the positioning pin 17 and the stopper pin 18 are fitted and mounted in these holes 14b and 14c.
  • a pair of positioning projections 14 d serving as “positioning portions” that are fitted into the fitting holes of the circuit board 13 and protrude diagonally. (See Figure 3).
  • the positioning pin 17 is made of metal and has a fitting portion 17 a fitted into the positioning pin fitting hole 14 b and an upper surface portion of the socket body 14. And a positioning portion 17c for positioning an IC carrier 20 described later.
  • the stopper pin 18 has a fitting part 18a fitted in the fitting hole 14c for the stopper pin and a stopper part 18 contacted with the IC carrier 20. b.
  • a fitting recess 14e into which the holder 15 is fitted is formed in the cutout portion 14a of the socket body 14 (see FIG. 4).
  • the holder 15 has storage portions 15a into which the contact pins 16 are fitted at a predetermined pitch, and has A large number of insulating walls 15b interposed between the stored contact bins 16 protrude adjacent to each other.
  • the distal end portion 15c of the insulating wall 15b is fitted into the fitting concave portion 14e of the socket body 14.
  • a screw 21 is inserted into a through hole 15 e formed at an end 15 d of the holder 15, and the screw 21 is inserted into the socket body 14.
  • the holder 15 is detachably attached to the socket body 14 while holding the contact bin 16 by being screwed into the formed female screw portion 14 f.
  • the contact bin 16 is formed by stamping a thin sheet material having conductivity and paneling properties, has a U-shaped contact pin body 16a, and has an electrical contact near the upper end of the U-shape.
  • a component-side contact portion 16b is formed, and a circuit-board-side contact portion 16c is formed near the lower end of the U-shape.
  • contact portions 16b and 16c have a U-shaped projecting shape protruding outward, and the electrical component side contact portions 16 1) have terminals 1 2b of the 1C package 12.
  • the circuit board side contact portion 16 c is connected to the circuit board 13.
  • the protruding amount L1 of the electrical component side contact portion 16b from the upper surface as the "opposite surface” is equal to the protrusion amount of the circuit board side contact portion 16c from the lower surface as the “opposite surface”. It is set larger than the quantity L2.
  • the contact pins 16 have a U-shaped contact pin body 16a, and the tips 16d and 16e of the contact pin 16 It engages with the upper wall 14 g and the lower wall 14 h of the fitting recess 14 e as the “contact bin engaging part”, and elastically moves so that the two end portions 16 d 16 e side approach each other.
  • the contact bin 16 is set so as to be pre-loaded by being deformed (see Fig. 4).
  • the positioning projections 14d of the plurality of handler sockets 11 are fitted in advance into the fitting holes 13a of the circuit board 13 and attached to predetermined positions. In this state, the contact portion 16 c of the contact bin 16 on the circuit board side is pressed against the circuit board 13.
  • a large number of IC carriers 20 are mounted on the test tray 23 of the handler, and the IC package 12 is positioned and stored in the IC carrier 20.
  • the test tray 23 is transported by a device not shown.
  • the IC carrier 20 is positioned on a plurality of handler-use sockets 11 arranged at predetermined positions on the circuit board 13 on the side of the IC test apparatus. Then, by lowering the test tray 23, the positioning pins 17 are fitted into the positioning holes formed in the IC carrier 20, and the IC carrier 20 is brought into contact with the stopper pins 18.
  • the IC carrier 20 and thus the IC package 12, the socket 11 for the commander, and the circuit board 13 are assembled in a predetermined positional relationship. Then, the terminal 12 b of the IC package 12 is pressed from above with a pressure contactor (not shown) on the handler side, and the terminal 12 b of the IC package 12 is contacted with the contact part 16 of the contact pin 16 of the contact pin 16. Press against b.
  • the contact pin 16 is elastically deformed, and the terminal 12b of the IC cage 12 and the electrical component side contact portion 16b are brought into contact with a predetermined pressing force.
  • the IC package 12 is tested by the IC tester. Based on this, good and defective products are sorted.
  • the contact bin 16 elastically deformed in a U-shape, the thickness of the handler socket 11 can be reduced, and the contact portions 16 b, 1 of the contact pin 16 can be reduced. 6
  • the same contact pressure acts on c, improving contact stability.
  • the contact pins 16 are U-shaped and the current path is short, making them suitable for testing high frequency IC packages 12.
  • the contact pins 16 were pre-loaded by slightly bending the U-shaped contact bins 16 and fitting them into the fitting recesses 14 e of the socket body 14.
  • the alignment of 16 is improved, and the height of each contact portion 16b or 16c can be made uniform.
  • the contact portion 16 Furthermore, by making the protrusion amount L1 of the contact portion 16b of the electrical component side of the contact pin 16 larger than the protrusion amount L2 of the contact portion 16c of the circuit board side, the contact portion 16 The contact stability with the terminal 1 2b of the IC package 12 of b can be ensured. That is, the overall elastic deformation of the U-shaped contact pin body 16a is determined by the contact pin 16, and the displacement of each contact portion 16b, 16c is determined by the overall elastic deformation. This is the amount obtained by assigning the deformation amount.
  • the contact part 16b on the electric component side is displaced.
  • the amount will be longer.
  • the push-in amount on the IC package 12 side can be increased, the electrical component side contact portion 16 b can be appropriately brought into contact with the terminal 12 b of the IC package 12.
  • the displacement amount of the circuit board side contact portion 16c is small, but the circuit board 13 does not bend so much, so that even if the displacement amount is small, the contact stability can be secured. .
  • the socket body 14 and the holder 15 holding the contact pin 16 are interchangeable, the socket body 14 or the holder 15 can be replaced. Can be shared.
  • the socket body 14 may not be able to be attached to the IC carrier 20 or the circuit board 13 in a predetermined positional relationship. In this case, do not replace the holder 15 and only the socket body 14
  • the number of terminals and the terminal spacing of the terminals 12 b of the IC package 12 may be different. In this case, it is possible to cope by exchanging only the holder 15 holding the contact bin 16 without exchanging the socket body 14. In this way, only the holder 15 is replaced, and the socket body 14 does not need to be replaced, so that the socket body 14 can be shared.
  • the tip 15 c of the insulating wall 15 b of the holder 15 is fitted to the fitting recess 14 e of the socket body 14.
  • the positioning can be performed, the insulating wall 15b for insulating the contact bin 16 can have a positioning function, and the mounting workability and the positional accuracy can be improved.
  • the contact pin 16 can be easily held simply by fitting the U-shaped contact pin main body 16 a into the storage portion 15 a adapted to this shape.
  • the IC package 12 is applied as the “electric component”.
  • the present invention is not limited to this, and another type of IC package may be used, or an electric component other than the IC package may be used.
  • the handler socket according to the present invention can be suitably used for electrically connecting an IC package to a circuit board.

Description

明 細 書 ハンドラー用ソケット 技術分野
この発明は、 半導体装置 (以下 「 I Cパッケージ」 という) 等の電気部品と回 路基板との間に介在し、 当該電気部品を回路基板に電気的に接続させるためのハ ンドラー用ソケットに関するものである。 背景技術
従来から特開平 9一 1 1 3 5 8 0号公報に記載されているように、 いわゆるハ ンドラと称されるものは、 I Cパッケージが収納された多数の I Cキヤリァがテ ス ト トレーに装着され、 このテス ト トレーが搬送されるようになつている。
一方、 当該公報には記載されていないが、 I C試験装置側の回路基板の所定位 匱に多数のハンドラー用ソケッ トが配置されている。
そして、 そのテスト トレーにより搬送された I Cキャリアとハンドラー用ソケ ットとが位置決めされた後、 この I Cキヤリァ内に収納された I Cパッケージが、 圧接子により上方から押圧され、 この I Cパッケージの端子がハンドラー用ソケ ットに押し付けられてこのハンドラー用ソケッ トを介して回路基板に導通される ようになっている。
このハンドラー用ソケットは、 ソケット本体に多数のコンタク トピンが配設さ れ、 これらコンタク トピンが I Cパッケージの端子と回路基板とに接触されて両 者を電気的に接続するようにしている。
このように電気的に接続されることにより、 I C試験装置にて I Cパッケージ の試験が行われ、 この試験結果に基づいて、 良品、 不良品の仕分けが行われるこ ととなる。
しかしながら、 このような従来のものにあっては、 ハンドラー用ソケットを、
I Cキャリアと回路基板に対して位置決めしなければならないと共に、 I Cパッ ケージの端子に対応したコンタク トピンのピン数ゃピン間隔とする必要がある。 従って、 I Cキャリアや回路基板の位置決め部の位置が変わったり、 I Cパッケ ージの端子数や端子間隔が変化した場合には、 ハンドラー用ソケット全体を交換 しなければならず、 コスト高を招く、 という問題があった。
そこで、 この発明は、 I Cキャリアや回路基板の位置決め部の位置が変わった り、 I Cパッケージの端子数や端子間隔が変化した場合でも、 一部の共用化が図 れるハンドラー用ソケッ トを提供することを目的としている。 発明の開示
かかる課題を達成するために、 この発明は、 相対向する面に電気部品と回路基 板を接続し、 前記電気部品を前記回路基板に電気的に導通させるためのハンドラ 一用ソケットにおいて、 ソケッ ト本体と、 前記電気部品及び回路基板に当接され て両者を電気的に接続するコンタク トビンと、 該コンタク トビンを保持し、 前記 ソケット本体に係止されるホルダーとを有し、 該ホルダーには、 前記コンタク ト ピンが前記相対向する面から接触部を突出させて保持されると共に、 該ホルダー が前記ソケット本体の側方に着脱自在に取り付けられたハンドラ一用ソケットと したことを特徴とする。
これによれば、 多数のコンタク トビンを保持するホルダーを、 ソケッ ト本体の 側方に着脱自在に装着するようにすることにより、 I cキヤリァゃ回路基板の変 更、 あるいは、 電気部品端子の端子数又は端子間距離が相違した場合には、 ホル ダ一又はソケット本体の一方を交換するだけで良いため、 他方の部品の共用化を 図ることができる。
他の発明は、 前記ソケット本体に対して、 前記コンタク トピンのピン数及び/ 又はピン間隔の異なる前記ホルダーが装着可能であることを特徴とする。
他の発明は、 前記ソケット本体には、 前記電気部品又は回路基板に位置決めさ れる位置決め部が形成され、 前記ホルダーに対して、 前記位置決め部の位置又は 形状の異なるソケット本体が装着可能であることを特徴とする。
他の発明は、 前記コンタク トビンは、 略 U字状を呈し、 該 U字状の端部近傍に 前記接触部が形成されたことを特徴とする。
これによれば、 ハンドラー用ソケッ トの厚みを薄くでき、 しかも、 コンタク ト ピンの両接触部に同じ接圧が作用し、 接触安定性を向上させることができる。 ま た、 コンタク トピンが U字状で電流の流れる経路が短いため、 高周波の I Cパッ ケージの試験に適している。
他の発明は、 前記コンタク トピンの接触部は、 u字状の外方に向けて突出する 突形状とされ、 前記電気部品が接続される側の電気部品側接触部の、 前記相対向 する面からの突出量を、 前記回路基板が接続される側の回路基板側接触部の、 前 記相対向する面からの突出量よりも大きくしたことを特徴とする。
これによれば、 電気部品側接触部を電気部品の端子により適切に接触させるこ とができる。
他の発明は、 前記コンタク トビンは、 前記ホルダーを前記ソケッ ト本体に装着 した状態で、 前記コンタク トビンの端部が前記ソケッ ト本体のコンタク トビン係 合部と係合して予荷重が作用するように設定したことを特徴とする。
これによれば、 各コンタク トピンの整列性が向上し、 各接触部の高さを均一に することができる。
他の発明は、 前記ホルダーには、 前記複数のコンタク トピン間に位置して、 絶 縁を行う絶縁壁が形成され、 該各絶縁壁が前記ソケッ ト本体に形成された嵌合凹 部に嵌合されるようになつていることを特徴とする。
これによれば、 ホルダ一に形成された各絶縁壁が、 ソケット本体に形成された 嵌合凹部に嵌合されるようになつており、 ホルダ一をソケット本体に取り付けた ときの位置決めを兼ねているため、 ホルダ一の取付作業性や位置精度を向上させ ることができる。
図面の簡単な説明
第 1図は、 この発明の実施の形態に係るハンドラー用ソケットの平面図である ( 第 2図は、 同実施の形態に係るハンドラー用ソケッ トの正面図である。
第 3図は、 同実施の形態に係るハンドラー用ソケッ トの底面図である。
第 4図は、 同実施の形態に係る第 1図の IV— IV線に沿う断面図である。
第 5図は、 同実施の形態に係る第 1図の V— V線に沿う断面図である。 第 6図は、 同実施の形態に係るホルダーの平面図である。
第 7図は、 同実施の形態に係る第 6図の W— W線に沿う断面図である。
第 8図は、 同実施の形態に係る I Cパッケージを示す図で、 (a ) は I Cパッ ケージの平面図、 (b ) は I Cパッケージの右側面図である。
第 9図は、 同実施の形態に係るテスト トレー及ぴ I Cキヤリァ等の斜視図であ る。
発明を実施するための最良の形態
以下、 この発明の実施の形態について説明する。
第 1図乃至第 9図には、 この発明の実施の形態 1を示す。
まず構成を説明すると、 第 1図中符号 1 1はハンドラー用ソケットで、 このハ ンドラ一用ソケット 1 1は、 第 8図及び第 9図に示す 「電気部品」 である I Cパ ッケージ 1 2の性能試験を行うために、 この I Cパッケージ 1 2の端子 1 2 bと、 I C試験装置側の回路基板 1 3との電気的接続を図るものである。
この I Cパッケージ 1 2は、 長方形状のパッケージ本体 1 2 aの側面部から側 方に向けて多数の端子 1 2 bが所定のピッチでクランク状に突出している。 この 実施の形態では、 端子 1 2 bの数が 5 4本で、 各端子 1 2 bの間隔が 0 . 8 m m である。
一方、 ハンドラー用 I Cソケッ ト 1 1は、 ソケッ ト本体 1 4の側部に一対のホ ルダー 1 5が着脱自在に取り付けられ、 これらホルダー 1 5に前記端子 1 2 bの 端子数や端子間隔に応じたコンタク トビン 1 6が収納されるようになつている。 詳しくは、 ソケット本体 1 4は、 第 1図及び第 5図等に示すように、 略長方形 の板状を呈し、 前記ホルダー 1 5が取り付けられる一対の切欠き部 1 4 aが形成 されると共に、 位置決めピン用嵌合孔 1 4 b及びストッパピン用嵌合孔 1 4 cが 形成され、 これらの孔 1 4 b, 1 4 cに位置決めピン 1 7及びス トッパピン 1 8 が嵌合されて取り付けられている。 また、 ソケッ ト本体 1 4の下面部には、 回路 基板 1 3の嵌合孔に嵌合されて位置決めされる 「位置決め部」 としての一対の位 置決め凸部 1 4 dが対角線上に突設されている (第 3図参照) 。 その位置決めピン 1 7は、 第 5図に示すように、 金属製で、 前記位置決めピン 用嵌合孔 1 4 bに嵌合される嵌合部 1 7 aと、 ソケッ ト本体 1 4の上面部に当接 される鍔部 1 7 bと、 後述する I Cキヤリア 2 0の位置決めを行う位置決め部 1 7 cとから構成されている。
また、 ストツバピン 1 8は、 第 5図に示すように、 前記ストツバピン用嵌合孔 1 4 cに嵌合される嵌合部 1 8 aと、 I Cキャリア 2 0が当接されるストッパ部 1 8 bとから構成されている。
さらに、 前記ソケッ ト本体 1 4の切欠き部 1 4 aには、 ホルダー 1 5が嵌合さ れる嵌合凹部 1 4 eが形成されている (第 4図参照) 。
一方、 ホルダ一 1 5は、 第 6図及び第 7図に示すように、 コンタク トピン 1 6 が嵌合される収納部 1 5 aが所定ピッチで形成されると共に、 この収納部 1 5 a に収納されたコンタク トビン 1 6の間に介在する絶縁壁 1 5 bが多数隣接して突 設されている。 そして、 これら絶縁壁 1 5 bの先端部 1 5 cが、 前記ソケッ ト本 体 1 4の嵌合凹部 1 4 eに嵌合されるようになつている。
そして、 第 4図に示すように、 このホルダー 1 5の端部 1 5 dに形成された貫 通孔 1 5 eにネジ 2 1が挿入されて、 このネジ 2 1がソケッ ト本体 1 4に形成さ れた雌ねじ部 1 4 f に螺合されることにより、 このホルダー 1 5がコンタク トビ ン 1 6を保持した状態でソケット本体 1 4に着脱自在に取り付けられるようにな つている。
このコンタク トビン 1 6は、 導電性及びパネ性を有する薄板材料が打抜き加工 されて形成され、 U字状のコンタク トピン本体 1 6 aを有し、 この U字状の上側 の端部近傍に電気部品側接触部 1 6 bが、 又、 この U字状の下側の端部近傍に回 路基板側接触部 1 6 cがそれぞれ形成されている。
これら両接触部 1 6 b, 1 6 cは、 U字状の外方に向けて突出する突形状とさ れ、 電気部品側接触部 1 6 1)が 1 Cパッケージ 1 2の端子 1 2 bに接続され、 又、 回路基板側接触部 1 6 cが回路基板 1 3に接続されるようになっている。
そして、 その電気部品側接触部 1 6 bの 「相対向する面」 としての上面からの 突出量 L 1が、 回路基板側接触部 1 6 cの 「相対向する面」 としての下面からの 突出量 L 2よりも大きく設定されている。 また、 このコンタク トピン 1 6の U字状のコンタク トピン本体 1 6 aの先端部 1 6 d , 1 6 eは、 ホルダー 1 5をソケット本体 1 4に装着した状態で、 ソケッ ト本体 1 4の 「コンタク トビン係合部」 としての嵌合凹部 1 4 eの上壁 1 4 g及 び下壁 1 4 hに係合して、 当該両先端部 1 6 d 1 6 e側が接近するように弾性 変形されることにより、 コンタク トビン 1 6に予荷重が作用するように設定され ている (第 4図参照) 。
次に、 かかる構成のハンドラー用ソケット 1 1の使用方法について説明する。 予め、 複数のハンドラー用ソケット 1 1の位置決め凸部 1 4 dを回路基板 1 3 の嵌合孔 1 3 aに嵌合させてそれぞれ所定位置に取り付ける。 この状態で、 コン タク トビン 1 6の回路基板側接触部 1 6 cが回路基板 1 3に圧接されている。 一方、 第 9図に示すように、 ハンドラのテスト トレー 2 3に、 多数の I Cキヤ リア 2 0が装着され、 この I Cキャリア 2 0に I Cパッケージ 1 2が位置決めさ れて収納され、 この状態でテスト トレー 2 3が図示省略の装置により搬送される こととなる。 そして、 その I Cキャリア 2 0を、 I C試験装置側の回路基板 1 3 の所定位置に配置された複数のハンドラ一用ソケッ ト 1 1上に位置させる。 その後、 このテスト トレー 2 3を下降させることにより、 I Cキャリア 2 0に 形成された位置決め孔に位置決めピン 1 7を嵌合させると共に、 I Cキャリア 2 0をス トッパピン 1 8に当接させる。
この状態で、 I Cキャリア 2 0ひいては I Cパッケージ 1 2 と、 ヽンドラー用 ソケッ ト 1 1と、 回路基板 1 3とがそれぞれ所定の位置関係で組み付けられる。 そして、 ハンドラー側の図示省略の圧接子で、 I Cパッケージ 1 2の端子 1 2 bを上方から押圧して、 I Cパッケージ 1 2の端子 1 2 bをコンタク トピン 1 6 の電気部品側接触部 1 6 bに圧接する。
この際には、 コンタク トピン 1 6が弾性変形されて所定の圧接力で、 I C ケージ 1 2の端子 1 2 bと電気部品側接触部 1 6 bとが当接される。
このようにして I Cパッケージ 1 2がハンドラー用ソケット 1 1を介して回路 基板 1 3に電気的に接続されることにより、 I C試験装置にて I Cパッケージ 1 2の試験が行われ、 この試験結果に基づいて、 良品、 不良品の仕分けが行われる こととなる。 このようにコンタク トビン 1 6を U字状として弾性変形するように構成するこ とにより、 ハンドラー用ソケット 1 1の厚みを薄くでき、 しかも、 コンタク トピ ン 1 6の両接触部 1 6 b, 1 6 cに同じ接圧が作用し、 接触安定性が向上する。 また、 コンタク トピン 1 6が U字状で電流の流れる経路が短いため、 高周波の I Cパッケージ 1 2の試験に適している。
さらに、 U字状のコンタク トビン 1 6を少し撓ませてソケッ ト本体 1 4の嵌合 凹所 1 4 eに嵌合させることにより、 コンタク トピン 1 6に予荷重を与えたので、 各コンタク トビン 1 6の整列性が向上し、 各接触部 1 6 b又は 1 6 cの高さを均 一にすることができる。
さらにまた、 コンタク トピン 1 6の電気部品側接触部 1 6 bの突出量 L 1を、 回路基板側接触部 1 6 cの突出量 L 2より大きくすることにより、 電気部品側接 触部 1 6 bの I Cパッケージ 1 2の端子 1 2 bに対する接触安定性を確保できる。 すなわち、 U字状のコンタク トピン本体 1 6 aの全体の弾性変形量はコンタク ト ピン 1 6により決まっており、 各接触部 1 6 b, 1 6 cのそれぞれの変位量は、 その全体の弾性変形量を振り分けた量となる。 従って、 電気部品側接触部 1 6 b の突出量 L 1を、 回路基板側接触部 1 6 cの突出量 L 2より大きくすることによ り、 電気部品側接触部 1 6 bの方が変位量が長くなる。 してみれば、 I Cパッケ —ジ 1 2側の押込み量を長く取ることができるため、 電気部品側接触部 1 6 bを I Cパッケージ 1 2の端子 1 2 bに適切に接触させることができる。 これに対し て、 回路基板側接触部 1 6 cの変位量は小さくなるが、 回路基板 1 3はそれ程撓 むことがないため、 変位量が小さくても、 接触安定性を確保することができる。 一方、 このようなハンドラー用ソケット 1 1は、 ソケット本体 1 4と、 コンタ ク トピン 1 6が保持されたホルダー 1 5とがそれぞれ交換可能となっているため、 ソケット本体 1 4又はホルダ一 1 5の共用化が図れる。
すなわち、 I Cパッケージ 1 2の端子 1 2 bの端子数や端子間隔が同じでも、
1 Cキャリア 2 0や回路基板 1 3等が異なると、 ソケット本体 1 4を I Cキヤリ ァ 2 0や回路基板 1 3に対して所定の位置関係で取り付けられない場合がある。 この際には、 ホルダー 1 5は交換せずに、 ソケット本体 1 4のみを I Cキャリア
2 0等に対応したものと交換し、 このソケット本体 1 4にホルダー 1 5を取り付 ける。 このようにすれば、 ソケッ ト本体 1 4のみを交換するだけで、 ホルダー 1 5は交換する必要がないため、 ホルダー 1 5の共用化が図れる。
反対に、 I Cキャリア 2 0や回路基板 1 3等が同じでも、 I Cパッケージ 1 2 の端子 1 2 bの端子数や端子間隔が異なる場合がある。 この場合には、 ソケッ ト 本体 1 4は交換せずに、 コンタク トビン 1 6が保持されたホルダー 1 5のみを交 換することにより対応が可能となる。 このようにすれば、 ホルダー 1 5のみを交 換するだけで、 ソケット本体 1 4は交換する必要がないため、 ソケット本体 1 4 の共用化が図れる。
また、 ホルダ一 1 5のソケッ ト本体 1 4への取付時には、 ホルダー 1 5の絶縁 壁 1 5 bの先端部 1 5 cを、 ソケッ ト本体 1 4の嵌合凹所 1 4 eに嵌合させるこ とにより位置決めでき、 コンタク トビン 1 6を絶縁するための絶縁壁 1 5 bに位 置決め機能を持たせることができ、 取付作業性及び位置精度を向上させることが できる。
さらに、 コンタク トピン 1 6をホルダー 1 5に保持するには、 U字状のコンタ ク トピン本体 1 6 aを、 この形状に適合した収納部 1 5 aに嵌合させるだけで簡 単に保持できる。
なお、 上記実施の形態では、 「電気部品」 として I Cパッケージ 1 2を適用し たが、 これに限らず、 他のタイプ I Cパッケージでも良いし、 又、 I Cパッケ一 ジ以外の電気部品でも良い。
産業上の利用可能性
以上のように、 本発明にかかるハンドラー用ソケットは、 I Cパッケージを回 路基板に電気的に接続させるのに好適に利用できる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 相対向する面に電気部品と回路基板を接続し、 前記電気部品を前記回路基 板に電気的に導通させるためのハンドラ一用ソケッ トにおいて、
ソケット本体と、 前記電気部品及び回路基板に当接されて両者を電気的に接続 するコンタク トピンと、 該コンタク トピンを保持し、 前記ソケッ ト本体に係止さ れるホルダーとを有し、
該ホルダーには、 前記コンタク トビンが前記相対向する面から接触部を突出さ せて保持されると共に、 該ホルダーが前記ソケッ ト本体の側方に着脱自在に取り 付けられたことを特徴とするハンドラ一用ソケッ ト。
2 . 前記ソケッ ト本体に対して、 前記コンタク トビンのピン数及び/又はピン 間隔の異なる前記ホルダーが装着可能であることを特徴とする請求の範囲第 1項 記載のハンドラ一用ソケット。
3 . 前記ソケッ ト本体には、 前記電気部品又は回路基板に位置決めされる位置 決め部が形成され、 前記ホルダーに対して、 前記位置決め部の位置又は形状の異 なるソケッ ト本体が装着可能であることを特徴とする請求の範囲第 1項記載のハ ンドラー用ソケット。
4 . 前記コンタク トピンは、 略じ字状を呈し、 該 U字状の端部近傍に前記接触 部が形成されたことを特徴とする請求の範囲第 1項記載のハンドラー用ソケッ ト。
5 . 前記コンタク トピンの接触部は、 U字状の外方に向けて突出する突形状と され、 前記電気部品が接続される側の電気部品側接触部の、 前記相対向する面か らの突出量を、 前記回路基板が接続される側の回路基板側接触部の、 前記相対向 する面からの突出量よりも大きく したことを特徴とする請求の範囲第 1項記載の ハンドラ一用ソケット。
6 . 前記コンタク トピンは、 前記ホルダ一を前記ソケット本体に装着した状態 で、 前記コンタク トビンの端部が前記ソケッ ト本体のコンタク トビン係合部と係 合して予荷重が作用するように設定したことを特徴とする請求の範囲第 1項記載 のハンドラー用ソケッ ト。
7 . 前記ホルダーには、 前記複数のコンタク トピン間に位置して、 絶縁を行う 絶縁壁が形成され、 該各絶縁壁が前記ソケッ ト本体に形成された嵌合凹部に嵌合 されるようになつていることを特徴とする請求の範囲第 1項記載のハンドラー用 ソケット。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4279039B2 (ja) * 2003-04-22 2009-06-17 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット
JP4745006B2 (ja) * 2005-09-28 2011-08-10 セイコーエプソン株式会社 接続装置
JP5081989B2 (ja) * 2011-01-17 2012-11-28 セイコーエプソン株式会社 接続装置及び被検査装置の検査方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS593485U (ja) * 1982-06-30 1984-01-10 本多通信工業株式会社 集積回路用ソケツト
JPS59192980A (ja) * 1983-04-15 1984-11-01 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 電子部品検査用導通部材
JPS6372880U (ja) * 1986-10-29 1988-05-16
JPH01130292U (ja) * 1988-02-29 1989-09-05
JPH08233899A (ja) * 1995-02-28 1996-09-13 Ando Electric Co Ltd Icのコンタクト機構
JPH09113580A (ja) * 1995-10-18 1997-05-02 Advantest Corp Ic試験装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR970003838Y1 (ko) * 1994-01-29 1997-04-24 금성일렉트론 주식회사 반도체 소자용 소켓
KR970002249Y1 (ko) * 1994-02-05 1997-03-20 금성일렉트론 주식회사 아이씨 소켓
KR200141129Y1 (ko) * 1996-09-30 1999-05-15 문정환 반도체 패키지 테스트용 소켓
KR0134814Y1 (ko) * 1996-09-30 1999-01-15 문정환 반도체 패키지 테스트용 소켓

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS593485U (ja) * 1982-06-30 1984-01-10 本多通信工業株式会社 集積回路用ソケツト
JPS59192980A (ja) * 1983-04-15 1984-11-01 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 電子部品検査用導通部材
JPS6372880U (ja) * 1986-10-29 1988-05-16
JPH01130292U (ja) * 1988-02-29 1989-09-05
JPH08233899A (ja) * 1995-02-28 1996-09-13 Ando Electric Co Ltd Icのコンタクト機構
JPH09113580A (ja) * 1995-10-18 1997-05-02 Advantest Corp Ic試験装置

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