WO1999021131A1 - Verfahren und vorrichtung zur herstellung von chipkarten - Google Patents

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WO1999021131A1
WO1999021131A1 PCT/EP1998/006548 EP9806548W WO9921131A1 WO 1999021131 A1 WO1999021131 A1 WO 1999021131A1 EP 9806548 W EP9806548 W EP 9806548W WO 9921131 A1 WO9921131 A1 WO 9921131A1
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Bernd Göbel
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Meinen, Ziegel & Co. Gmbh
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    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/28Applying non-metallic protective coatings

Definitions

  • the invention relates to a method and an apparatus for producing chip cards.
  • Various ID cards are known in which contact areas of a semiconductor chip module must be connected to contact areas that belong to a second component that is already installed in the body of the card.
  • a second component can be, for example, an antenna for a contactless chip card.
  • the connection of the contact surfaces can be made by different conductive masses, for example a conductive adhesive or the like, which is applied to the contact surfaces of the component installed in the card body by means of a metering device.
  • the invention is based on the object of demonstrating a method and a device for producing chip cards in such a way that a correct assembly of the chip module and chip card is ensured.
  • This object is achieved in a method in which at least a first contact surface of a first component such as a chip module or the like is connected to at least a second contact surface of a second component provided in a card body such as an antenna or the like via a conductive mass such as a conductive adhesive or the like, which means a metering device is applied to the second contact surface, in that a measuring electrode is positioned substantially perpendicular to the card body above the applied mass, an electrical voltage is applied between the second contact surface with the applied conductive mass and the measuring electrode, the measuring electrode in the direction the applied conductive mass is moved, and that the height of the measuring electrode above the card body is then determined to measure a height relative to the card body when a discharge of the electrical voltage in the gas space between the measuring element ktrode and the conductive mass takes place.
  • a direct voltage or a high-frequency alternating voltage can now be used, which brings about an easier ionization of the air.
  • an alternating voltage of lower frequency (20-30 kHz) is preferably used as the electrical voltage, the amplitude of which is chosen to be relatively low in accordance with the accuracy requirements, so that a discharge occurs only at a relatively small (but constant) distance between the measuring electrode and the conductive one Mass takes place.
  • the electrical voltage is preferably transmitted without contact, in particular by influence or capacitively, to the second electrode with the applied conductive mass. It is therefore not necessary to make direct electrical contact with the component built into the card body.
  • the application quantity of the applied composition is preferably regulated as a function of the application amount. So whenever the measurement shows that the height of the applied If the mass is in the upper limit range (with a tendency to increase), the application quantity of the applied mass is reduced a little.
  • a clamping device for clamping a card body in a defined position
  • a measuring electrode the height of which can be set in a defined manner relative to the clamping device and which can be moved in the direction of the second contact surface with the conductive mass applied thereon;
  • a scanning device for determining an electrical discharge between the measuring electrode and the conductive mass and for registering the height of the measuring electrode relative to the clamping device at the time of the electrical discharge.
  • the voltage generating device preferably comprises an LF AC voltage source which is particularly simple to manufacture or is available on the market.
  • the measurement signals that can be achieved are very interference-free.
  • the voltage generating device preferably further comprises an electrically conductive section of the clamping device as the opposite pole to the measuring electrode, the electrically conductive section being at least partially closely adjacent in capacitive coupling to an electrically conductive section of the second component.
  • the device according to the invention is thus particularly well suited for producing contactless chip cards in which the second component is an antenna.
  • the scanning device comprises a measuring element, by means of which the breakdown of the electrical voltage during a discharge can be determined.
  • This can be, for example, a transformer in the electrical connection line between the voltage source and the measuring electrode, or a direct voltage tap via a resistor.
  • the scanning device comprises an electrically conductive surface as a measuring electrode, which is arranged in capacitive coupling to an electrically conductive section of the second component at least partially adjacent to the latter. This arrangement thus corresponds to the arrangement described above, in which the opposite pole of the voltage generating device is ensured via a capacitive coupling.
  • the measuring electrode is preferably formed in the clamping device.
  • the measuring electrode and the electrically conductive section of the clamping device can either be arranged opposite one another on one side of the card body or side by side, each covering part of the antenna or of the second component.
  • the scanning device preferably comprises a signal evaluation device which is designed to scan a drop in the voltage between the measuring electrode and the second contact surface.
  • the scanning device preferably has a control output for controlling an application device for applying the mass to the second contact surface in such a way that the application device generates a substantially constant amount of the conductive mass for generating a predetermined application.
  • 1 is a plan view of the part of a pre-processed chip card that is of interest here,
  • FIG. 3 is a view similar to that of FIG. 2 with the conductive mass applied
  • FIG. 5 is a representation corresponding to that of FIG. 4, but with an excessive amount of conductive mass
  • FIG. 6 shows a representation corresponding to that of FIG. 4 with insufficiently applied conductive mass
  • FIG. 7 is a representation of the map section of FIG. 3 in a measuring device
  • Fig. 8 is an equivalent circuit diagram of a measuring arrangement under
  • FIG. 9 shows another embodiment of the invention in a representation corresponding to that of FIGS. 7 and
  • FIG. 10 is an equivalent circuit diagram corresponding to that of FIG. 8 using the embodiment of the invention of FIG. 9.
  • FIG. 1 shows a plan view of part of a card body 10, a recess 11 being milled into the card surface 13 (see FIG. 2) and comprising a deeper receiving section for receiving a chip module and a contact surface 12 which the chip module is glued with its contact frame.
  • An antenna is embedded in the card body 10 in a manner known per se, the conductor track 21 of which is indicated by a broken line in FIG. 1.
  • the conductor track 21 ends below the support surface 12 with a contact surface 20.
  • a second end of the antenna coil with a further contact surface is also provided diagonally (relative to the recess 11) opposite the contact surface 20 shown below the support surface 12, but not here shown in more detail.
  • bores 15, 15 ′ are countersunk in the contact surface 12 such that the contact surfaces 20 are open from above, as shown in FIG. 2.
  • an electrically conductive mass in particular a conductive one, is used in the manufacture of the chip card
  • the conductive mass is designated by the reference number 9 in FIG. 3.
  • Fig. 4 it is shown what the application amount of the conductive mass 9 must look like, so that correct contacting and simultaneous bonding takes place when the chip module is put on. If too much conductive mass or conductive adhesive is applied, as shown in FIG. 5, it can escape laterally during the joining process, that is to say when the chip module is implanted, and contaminate the card surface. Short circuits can even occur if chip modules are used which have a metal ring on the underside to prevent breakage of the chip module and which comes into contact with the conductive ground. If, in turn, the application quantity is too small, as can be seen in FIG. 6, either there is no contact at all with the contact surfaces of the chip module or the connection is not mechanically stable enough.
  • a reliable criterion for determining the correct amount of conductive mass is its application height above the contact surface 12 and thus to the card surface 13, since the depth of the recess 11 is constant (and known) relative to the card surface 13.
  • the card body 10 is placed after the application of the conductive mass 9 on the contact surface 20 with its underside 14 on a lifting stamp 34, on the surface of which there is an insulated signal electrode 33, so that the
  • Signal electrode 33 comes to lie between the underside of the card 14 and the lifting stamp 34.
  • the lifting plunger 34 as indicated by an arrow in FIG. 7, together with the card body 10, is pressed against a contact surface 31 on the underside of a reference plate 30, which is made of metal.
  • a measuring electrode 35 is inserted through a recess 11 in the card body 10 exposing opening 32 of reference plate 30 in the direction of the applied conductive mass by means of a measuring drive 36 with a drive motor M, as indicated by a double arrow in FIGS. 7 and 8.
  • the position of the end face of the measuring electrode 35, which lies opposite the applied mass 9, is communicated to an evaluation device 38 via a measuring line 40 after calibration of the measuring drive 36.
  • the measuring electrode 35 is connected to an output terminal of an LF voltage source 37 with a frequency of preferably 30-40 kHz, the other output terminal of which is grounded.
  • the reference plate 30 is also grounded.
  • the signal electrode 33 is connected to ground via a resistor R and connected to the input of a measuring amplifier V, the output of which is connected via a signal line 39 to an input of the evaluation device 38.
  • the connections A, B and C of the measuring electrode 35 or the reference plate 30 or the signal electrode 33 shown in FIG. 7 are drawn into the circuit in FIG. 8.
  • the contact surface 20, which represents one end of the antenna built into the card body 10 can be understood as a capacitor plate, on the one hand the reference plate 30 and on the other hand the signal electrode 33.
  • Conductor is embedded in the card body or placed on it, so that charging can be accomplished by means of influence or capacitive coupling.
  • the method is particularly suitable if antenna coils are arranged in (or on) a card body, namely both wound and printed or etched antennas, as are known per se.

Abstract

Bei der Herstellung von Chipkarten, insbesondere kontaktlosen Chipkarten, muß mindestens eine erste Kontaktfläche (20) eines ersten Bauteils, nämlich des Chipmoduls oder dergleichen mit einer zweiten Kontaktfläche eines im Kartenkörper (10) vorgesehenen zweiten Bauteils, zum Beispiel der Antenne, über eine leitfähige Masse (9), insbesondere einen Leitklebstoff (9) oder dergleichen verbunden werden. Der Leitklebstoff wird mit einer Dosiereinrichtung auf die zweite Kontaktfläche aufgetragen. Um die Auftragsmenge bzw. die Auftragshöhe zu bestimmen, wird vorgeschlagen, eine Meßelektrode (35) im wesentlichen senkrecht zum Kartenkörper über der aufgetragenen elektrisch leitfähigen Masse zu positionieren, eine elektrische Spannung zwischen die zweite Kontaktfläche mit der aufgetragenen elektrisch leitfähigen Masse und die Meßelektrode zu legen, die Meßelektrode in Richtung auf die aufgetragene Masse zu bewegen und die Höhe der Meßelektrode über dem Kartenkörper dann zur Messung der Auftragshöhe zu bestimmen, wenn eine Entladung der elektrischen Spannung im Gasraum zwischen der Meßelektrode und der elektrisch leitfähigen Masse stattfindet. Dadurch ist mit hoher Präzision eine berührungslose Messung in einfacher Weise möglich.

Description

Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Chipkarten
Beschreibung
Die Erfindung betrifft ein Verfahren sowie ein Vorrichtung zur Herstellung von Chipkarten.
Es sind verschiedene ID-Karten bekannt, bei welchen Kontaktflächen eines Halbleiterchipmoduls mit Kontaktflächen verbunden werden müssen, die zu einem zweiten Bauteil gehören, das im Körper der Karte bereits eingebaut ist. Ein solches zweites Bauteil kann zum Beispiel eine Antenne für eine kontaktlose Chipkarte sein. Eine derartige Anordnung ist beispielsweise in der DE 195 00 925 AI beschrieben. Die Verbindung der Kontaktflächen kann hierbei durch verschiedene leitfähige Massen, so zum Beispiel durch einen Leitklebstoff oder dergleichen erfolgen, der mittels einer Dosiereinrichtung auf die Kontaktflächen des im Kartenkörper eingebauten Bauteils aufgetragen wird. Ein einwandfreier Einbau des Chipmoduls in den Kartenkörper unter Sicherstellung eines einwandfreien Kontaktes der Kontaktflächen zueinander ist nur dann gewährleistet, wenn die leitfähige Masse bzw. der Leitklebstoff in korrekter Menge aufgetragen wurde, so daß die Erhebung, welche durch die leitfähige Masse gebildet wird, immer etwa gleich hoch (relativ zur
Montagefläche) ist. Es ist leicht vorstellbar, daß eine zu große Menge an leitfähiger Masse ebenso zu fehlerhaften Kontakten bzw. einem fehlerhaften Montageergebnis des Chipmoduls in der Karte führt wie eine zu geringe Bemessung. Nachdem es insbesondere auf die Höhe der durch die leitfähige Masse gebildeten Erhebung relativ zum Kartenkörper (bzw. der dort gebildeten Montagefläche für das Chipmodul) ankommt, wurde versucht, diese Höhe optisch zu bestimmen. Aufgrund der Reflexionseigenschaften und variierenden Formen der Erhebungen sind solche optischen Messungen nicht praktikabel. Weiterhin sind rein mechanische Abtastmessungen nicht möglich, da während der Höhenmessung die leit- fähige Masse noch verformbar ist und insbesondere an einem Taststift anhaftet.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Herstellung von Chipkarten dahingehend aufzuzeigen, daß ein korrekter Zusammenbau von Chipmodul und Chipkarte sichergestellt wird.
Diese Aufgabe wird bei einem Verfahren,, bei welchem mindestens eine erste Kontaktfläche eines ersten Bauteils wie Chipmodul oder dergleichen mit mindestens einer zweiten Kontaktfläche eines in einem Kartenkörper vorgesehenen zweiten Bauteils wie Antenne oder dergleichen über eine leitfähige Masse wie Leitklebstoff oder dergleichen verbunden wird, die mittels einer Dosiereinrichtung auf die zweite Kontaktfläche aufgetragen wird, dadurch gelöst, daß eine Meßelektrode im wesentlichen senkrecht zum Kartenkörper über der aufgetragenen Masse positioniert wird, eine elektrische Spannung zwischen die zweite Kontaktfläche mit der aufgetragenen leitfähigen Masse und die Meßelektrode gelegt wird, die Meßelektrode in Richtung auf die aufgetragene leitfähige Masse bewegt wird, und daß die Höhe der Meßelektrode über dem Kartenkörper dann zur Messung einer Höhe relativ zum Kartenkörper bestimmt wird, wenn eine Entladung der elektrischen Spannung im Gasraum zwischen der Meßelektrode und der leitfähigen Masse stattfindet. Dieses Verfahren ist trotz seiner Einfachheit erstaunlich präzise und liefert erheblich kräftigere Signale, als sie bei- spielsweise bei einer kapazitiven Entfernungsmessung zu finden sind. Nachdem die elektrisch leitfähige Masse unter konstanten Bedingungen mittels eines Auftragssystems aufgetragen wird, sind im wesentlichen konstante Oberflächenfor- men der aufgetragenen Masse zu beobachten. Dies bedeutet, daß der einzige Parameter, der das Meßergebnis verfälschen könnte, in Schwankungen der Ionisierbarkeit des umgebenden Gases zu suchen ist. Da man aber im allgemeinen derartige Kartenproduktionen in klimatisierten Räumen mit relativ konstanter Temperatur und Luftfeuchtigkeit durchführt, spielen diese Schwankungen nur eine geringe Rolle, so daß das erzielbare Meßergebnis hinreichend genau ist, wenn man mit Luft als umgebendem Gas für die Entladung arbeitet.
Man kann nun eine Gleichspannung oder eine hochfrequente Wechselspannung verwenden, die eine leichtere Ionisierung der Luft mit sich bringt. Vorzugsweise wird aber als elektrische Spannung eine Wechselspannung niedrigerer Frequenz (20 - 30 kHz) verwendet, deren Amplitude den Genauig- keitsanforderungen entsprechend relativ niedrig gewählt wird, so daß eine Entladung erst bei einer relativ geringen (aber konstanten) Entfernung zwischen der Meßelektrode und der leitfähigen Masse stattfindet. Dadurch wird einerseits eine recht hohe Meßgenauigkeit erreicht, andererseits sind die an die Umwelt abgegebenen elektromagnetischen Störungen gering.
Vorzugsweise wird die elektrische Spannung berührungslos , insbesondere durch Influenz bzw. kapazitiv auf die zweite Elektrode mit der aufgetragenen leitfähigen Masse übertragen. Es ist also nicht notwendig, einen direkten elektrischen Kontakt zu dem im Kartenkörper eingebauten Bauteil herzustellen.
Vorzugsweise wird die Auftragsmenge der aufgetragenen Masse in Abhängigkeit von der Auftragshöhe geregelt. Immer dann also, wenn die Messung ergibt, daß die Höhe der aufgetrage- nen Masse im oberen Grenzbereich (mit Tendenz zu einer Überhöhung) liegt, wird die Auftragsmenge der aufgetragenen Masse ein wenig verringert.
Bei einer Vorrichtung zur Herstellung von Chipkarten dieser Art wird die genannte Aufgabe durch die Anbringung folgender Einrichtungen gelöst:
Eine Einspannvorrichtung zum Einspannen eines Kartenkörpers in einer definierten Position;
eine Meßelektrode, deren Höhe relativ zur Einspannvorrichtung definiert einstellbar und die in Richtung auf die zweite Kontaktfläche mit auf dieser aufgetragenen leitfä- higen Masse bewegbar ist;
eine Spannungserzeugungseinrichtung zum Erzeugen einer elektrischen Spannung zwischen der Meßelektrode und der leitfähigen Masse; und
eine Abtasteinrichtung zum Feststellen einer elektrischen Entladung zwischen der Meßelektrode und der leitfähigen Masse und zum Registrieren der Höhe der Meßelektrode relativ zur Einspannvorrichtung zum Zeitpunkt der elektrischen Entladung.
Die Spannungserzeugungseinrichtung umfaßt vorzugsweise eine NF-Wechselspannungsquelle, die besonders einfach herzustellen bzw. auf dem Markt erhältlich ist. Die erzielbaren Meßsignale sind sehr störungsfrei.
Die Spannungserzeugungseinrichtung umfaßt weiterhin vorzugsweise einen elektrisch leitenden Abschnitt der Einspannvorrichtung als Gegenpol zur Meßelektrode, wobei der elektrisch leitende Abschnitt in kapazitiver Kopplung zu einem elektrisch leitenden Abschnitt des zweiten Bauteils mindestens teilweise eng benachbart angeordnet ist. Die er- findungsgemäße Vorrichtung eignet sich so also besonders gut zur Herstellung von kontaktlosen Chipkarten, bei welchen das zweite Bauteil eine Antenne ist.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform umfaßt die Abtasteinrichtung ein Meßorgan, mittels dessen der Zusammenbruch der elektrischen Spannung bei einer Entladung feststellbar ist. Dies kann zum Beispiel ein Übertrager in der elektrischen Verbindungsleitung zwischen der Spannungsquelle und der Meßelektrode oder auch ein direkter Spannungsabgriff über einen Widerstand sein. Bei einer anderen bevorzugten Ausführungsform der Erfindung umfaßt die Abtasteinrichtung eine elektrisch leitende Fläche als Meßelektrode, welche in kapazitiver Kopplung zu einem elektrisch leitenden Ab- schnitt des zweiten Bauteils mindestens teilweise benachbart zu diesem angeordnet ist. Es entspricht diese Anordnung also der zuvor beschriebenen Anordnung, bei welcher der Gegenpol der Spannungserzeugungseinrichtung über eine kapazitive Kopplung sichergestellt wird. Vorzugsweise wird hierbei die Meßelektrode in der Einspannvorrichtung ausgebildet.' Die Meßelektrode und der elektrisch leitende Abschnitt der Einspannvorrichtung können entweder einander gegenüberliegend auf jeweils einer Seite des Kartenkörpers oder aber nebeneinanderliegend, jeweils einen Teil der An- tenne bzw. des zweiten Bauteils überdeckend angeordnet sein.
Die Abtastvorrichtung umfaßt vorzugsweise eine Signalauswerteinrichtung, welche zur Abtastung eines Abfalls der Spannung zwischen der Meßelektrode und der zweiten Kontaktfläche ausgebildet ist.
Vorzugsweise weist die Abtasteinrichtung einen Stellausgang zum Ansteuern einer Auftragseinrichtung zum Auftragen der Masse auf die zweite Kontaktfläche derart auf, daß die Auf- tragseinrichtung eine im wesentlichen konstante Menge der leitfähigen Masse zur Erzeugung einer vorbestimmten Auf- tragshöhe aufweist, die für jede Karte gemessen und mit einer Soll-Höhe derart verglichen wird, daß das Vergleichsergebnis bzw. die sich ergebende Abweichung als Stellsignal für die Auftragseinrichtung verwendbar ist.
Bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand von Ausführungsbei- spielen unter Bezugnahme auf die beiliegende Zeichnung näher erläutert. Hierbei zeigen
Fig. 1 eine Draufsicht auf den hier interessierenden Teil einer vorbearbeiteten Chipkarte,
Fig. 2 einen Schnitt entlang der Linie II-II aus Fig. 1,
Fig. 3 eine Ansicht ähnlich der nach Fig. 2 mit aufge- tragener leitfähiger Masse,
Fig. 4 eine Ausschnittsdarstellung des Kontaktbereiches mit korrekt aufgetragener leitfähiger Masse,
Fig. 5 eine Darstellung entsprechend der nach Fig. 4, jedoch mit einer übergroßen Menge leitfähiger Masse,
Fig. 6 eine Darstellung entsprechend der nach Fig. 4 mit zuwenig aufgetragener leitfähiger Masse,
Fig. 7 eine Darstellung des Kartenausschnitts nach Fig. 3 in einer Meßvorrichtung,
Fig. 8 ein Ersatzschaltbild einer Meßanordnung unter
Verwendung der Anordnung nach Fig. 7, Fig. 9 eine andere Ausführungsform der Erfindung in einer Darstellung entsprechend der nach Fig. 7 und
Fig. 10 ein Ersatzschaltbild entsprechend dem nach Fig. 8 unter Verwendung der Ausführungsform der Erfindung nach Fig. 9.
In der nachfolgenden Beschreibung werden für gleiche und gleichwirkende Teile dieselben Bezugsziffern verwendet.
In Fig. 1 ist eine Draufsicht auf einen Teil eines Kartenkörpers 10 gezeigt, wobei in die Kartenoberfläche 13 (siehe Fig. 2) eine Ausnehmung 11 eingefräst ist, die einen tiefe- ren Aufnahmeabschnitt für die Aufnahme eines Chipmoduls und eine Auflagefläche 12 umfaßt, auf welcher der Chipmodul mit seinem Kontaktrahmen festgeklebt wird. Im Kartenkörper 10 ist in an sich bekannter Weise eine Antenne eingebettet, deren Leiterbahn 21 in Fig. 1 mit einer unterbrochenen Linie angedeutet ist. Die Leiterbahn 21 endet unterhalb der Auflagefläche 12 mit einer Kontaktfläche 20. Ein zweites Ende der Antennenspule mit einer weiteren Kontaktfläche ist ebenfalls bis unter die Auflagefläche 12 der in Fig. 1 gezeigten Kontaktfläche 20 diagonal (relativ zur Ausnehmung 11) gegenüberliegend vorgesehen, hier aber nicht näher dargestellt.
In die Auflagefläche 12 sind im Bereich der Kontaktflächen 20 Bohrungen 15, 15' derart eingesenkt, daß die Kontaktflä- chen 20, wie in Fig. 2 gezeigt, von oben her offen sind.
Um nun einen Chipmodul einzubauen und diesen mit seinen entsprechenden Anschlußkontakten mit der Kontaktfläche 20 zu verbinden, wird bei der Herstellung der Chipkarte eine elektrisch leitfähige Masse, insbesondere ein leitfähiger
Klebstoff in die Bohrung 15 derart eingebracht, daß sie die Bohrung 15 füllt und über die Auflagefläche 12 hervorsteht. Die leitende Masse ist in Fig. 3 mit der Bezugsziffer 9 bezeichnet .
In Fig. 4 ist gezeigt, wie in etwa die Auftragsmenge der leitfähigen Masse 9 aussehen muß, damit beim Aufsetzen des Chipmoduls eine korrekte Kontaktierung und gleichzeitige Verklebung stattfindet. Wird zuviel an leitender Masse bzw. Leitklebstoff aufgetragen, wie dies in Fig. 5 gezeigt ist, so kann er beim Fügevorgang, also beim Implantieren des Chipmoduls, seitlich austreten und die Kartenoberfläche verunreinigen. Es kann sogar zu Kurzschlüssen kommen, wenn Chipmodule verwendet werden, die auf der Unterseite einen Metallring zur Bruchsicherung des Chipmoduls tragen und dieser in Berührung mit der leitfähigen Masse kommt. Wenn wiederum die Auftragsmenge zu gering ist, wie dies in Fig. 6 zu sehen ist, so kommt entweder gar kein Kontakt zu den Kontaktflächen des Chipmoduls zustande oder aber die Verbindung ist mechanisch nicht stabil genug.
Ein zuverlässiges Kriterium für die Bestimmung der richtigen Menge an leitfähiger Masse ist deren Auftragshöhe über der Auflagefläche 12 und damit zur Kartenoberfläche 13, da die Tiefe der Ausnehmung 11 relativ zur Kartenoberfläche 13 konstant (und bekannt) ist.
Um nun die Auftragshöhe der leitfähigen Masse 9 zu messen, wird der Kartenkörper 10 nach Aufbringung der leitfähigen Masse 9 auf die Kontaktfläche 20 mit seiner Unterseite 14 auf einen Hubstempel 34 gelegt, auf dessen Oberfläche sich eine isolierte Signalelektrode 33 befindet, so daß die
Signalelektrode 33 zwischen der Kartenunterseite 14 und dem Hubstempel 34 zu liegen kommt. Der Hubstempel 34 wird - wie in Fig. 7 mit einem Pfeil angedeutet - mitsamt dem Kartenkörper 10 gegen eine Anlagefläche 31 auf der Unterseite einer Referenz-platte 30 gedrückt, die aus Metall gefertigt ist. In diesem fixierten Zustand des Kartenkörpers 10 wird eine Meßelektrode 35 durch eine die Ausnehmung 11 im Kar- tenkörper 10 freilegende Öffnung 32 der Referenzplatte 30 in Richtung auf die aufgetragene leitfähige Masse mittels eines Meßantriebs 36 mit einem Antriebsmotor M gefahren, wie dies mit einem Doppelpfeil in den Figuren 7 und 8 ange- deutet ist. Die Position der Endfläche der Meßelektrode 35, die der aufgetragenen Masse 9 gegenüberliegt, wird nach Kalibrierung des Meßantriebs 36 über eine Meßleitung 40 einer Auswerteinrichtung 38 mitgeteilt.
Die Meßelektrode 35 ist mit einer Ausgangsklemme einer NF- Spannungsquelle 37 mit einer Frequenz von vorzugsweise 30 - 40 kHz verbunden, deren andere Ausgangsklemme auf Masse liegt. Die Referenzplatte 30 liegt ebenfalls auf Masse. Die Signalelektrode 33 ist bei der in Fig. 8 gezeigten Aus- führungsform der Meßschaltung über einen Widerstand R auf Masse gelegt und mit dem Eingang eines Meßverstärkers V verbunden, dessen Ausgang über eine Signalleitung 39 mit einem Eingang der Auswerteinrichtung 38. verbunden ist. Die in Fig. 7 gezeigten Anschlüsse A, B und C der Meßelektrode 35 bzw. der Referenzplatte 30 bzw. der Signalelektrode 33 sind in Fig. 8 in die Schaltung eingezeichnet. Weiterhin ist in Fig. 8 angedeutet, daß die Kontaktfläche 20, welche ja ein Ende der im Kartenkörper 10 eingebauten Antenne darstellt, als Kondensatorplatte verstanden werden kann, der einerseits die Referenzplatte 30 und andererseits die Signalelektrode 33 gegenüberliegen. Dieses
"Gegenüberliegen" muß nicht notwendigerweise so wie in Fig. 7 gezeigt zum einen von der Kartenoberfläche 13 und zum anderen von der Kartenunterseite 14 her geschehen, es kann vielmehr auch entsprechend der symbolischen Darstellung in Fig. 8 die Anordnung derart sein, daß sowohl die mit dem Meßverstärker V verbundene Signalelektrode 33 als auch die mit Masse verbundene Referenzplatte 30 auf der selben Seite (Oberseite oder Unterseite) des Kartenkörpers 10 angeordnet sind, jeweils aber einen Teil der im Kartenkörper 10 eingebauten Antennenfläche überdecken. J OJ t t X X
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Leiterbahn im Kartenkörper eingebettet oder auf diesen aufgelegt ist, so daß eine Aufladung durch Influenz bzw. kapazitive Kopplung bewerkstelligt werden kann. Insbesondere eignet sich das Verfahren aber dann, wenn in (oder auf) einen Kartenkörper Antennenspulen angeordnet sind und zwar sowohl gewickelte als auch gedruckte oder geätzte Antennen, wie diese an sich bekannt sind.
Bezugszeichenliste
9 elektrisch leitende Masse
10 Kartenkörper
11 Ausnehmung
12 Auflagefläche 13 Kartenoberfläche
14 Kartenunterseite 15, 15' Bohrung
20 zweite Kontaktfläche
21 Leiterbahn 30 Referenzplatte
31 Anlagefläche
32 Öffnung
33 Signalelektrode
34 Hubstempel 35 Meßelektrode
36 Meßantrieb
37 Spannungsquelle
38 Auswerteinrichtung
39 Signalleitung 40 Meßleitung
41 Stellausgang

Claims

Patentansprüche
1. Verfahren zur Herstellung von Chipkarten, bei welchem mindestens eine erste Kontaktfläche eines ersten Bauteils wie eines Chipmoduls oder dergleichen mit mindestens einer zweiten Kontaktfläche eines in oder auf einem Kartenkörper vorgesehenen zweiten Bauteils wie Antenne oder dergleichen über eine elektrisch leitfähige Masse wie Leitklebstoff oder dergleichen verbunden wird, die mittels einer Dosiereinrichtung auf die zweite Kontaktfläche aufgetragen wird, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß eine Meßelektrode im wesentlichen senkrecht zum
Kartenkörper über der aufgetragenen Masse positioniert wird, eine elektrische Spannung zwischen die zweite Kontaktfläche mit der aufgetragenen, elektrisch leitfähigen Masse und die Meßelektrode gelegt wird, die Meßelektrode in Richtung auf die aufgetragene elektrisch leitfähige Masse bewegt wird, und daß die Höhe der Meßelektrode über dem Kartenkörper dann zur Messung einer Auftragshöhe der elektrisch leitfähigen Masse relativ zum Kartenkörper bestimmt wird, wenn eine Ent- ladung der elektrischen Spannung in einem Gasraum zwischen der Meßelektrode und der elektrisch leitfähigen Masse stattfindet.
2. Verfahren nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die elektrische Spannung eine Wechselspannung, vorzugsweise eine NF -Wechselspannung ist.
3. Verfahren nach Anspruch 2, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die Wechselspannung eine Frequenz von unter 100 kHz, vorzugsweise 20 - 30 kHz aufweist.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die elektrische Spannung berührungslos , insbeson- dere durch kapazitive Kopplung auf die zweite Elektrode mit der aufgetragenen elektrisch leitfähigen Masse übertragen wird.
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die Auftragsmenge der aufgetragenen elektrisch leitfähigen Masse in Abhängigkeit von der Auftragshöhe geregelt wird.
6. Vorrichtung zur Herstellung von Chipkarten, wobei mindestens eine erste Kontaktfläche eines ersten Bauteils wie die eines Chipmoduls oder dergleichen mit mindestens einer zweiten Kontaktfläche eines in oder auf einem Kartenkörper vorgesehenen zweiten Bauteils wie Antenne oder dergleichen über eine elektrisch leitfähige Masse wie Leitklebstoff oder dergleichen verbunden wird, die mittels einer Dosiereinrichtung auf die zweite Kontaktfläche aufgetragen wird, umfassend
- eine Einspannvorrichtung (30, 34) zum Einspannen eines Kartenkörpers (10) in einer definierten Position;
- eine Meßelektrode (35), deren Höhe relativ zur Einspannvorrichtung (30, 34) definiert einstellbar (Meßantrieb 36, M) und die in Richtung auf die zweite Kontaktfläche (20) mit auf dieser aufgetragenen elektrisch leitfähigen Masse (9) bewegbar ist;
- eine Spannungserzeugungseinrichtung (30, 37) zum Er- zeugen einer elektrischen Spannung zwischen der Meßelektrode (35) und der Masse (9); - eine Abtasteinrichtung (33, R, V, 38; RM) zum Feststellen einer elektrischen Entladung zwischen der Meßelektrode (35) und der elektrisch leitfähigen Masse (9) und zum Registrieren der Höhe der Meßelektrode (35) re- lativ zur Einspannvorrichtung zum Zeitpunkt der elektrischen Entladung.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die Spannungserzeugungseinrichtung eine Wechselspannungsquelle (37), vorzugsweise eine NF-Wechselspannungsquelle umfaßt.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7 , d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die Wechselspannungsquelle eine Frequenz von unter 100 kHz, vorzugsweise 20 - 30 kHz aufweist.
9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 8 , d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die Spannungserzeugungseinrichtung einen elektrisch leitenden Abschnitt (31) der Einspannvorrichtung (30, 34) als Gegenpol zur Meßelektrode (35) umfaßt, wobei der elektrisch leitende Abschnitt (31) in kapazitiver Kopplung einem elektrisch leitenden Abschnitt des zweiten Bauteils mindestens teilweise benachbart angeordnet ist.
10. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 9, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die Abtasteinrichtung eine elektrisch leitende Fläche als Meßelektrode (35) umfaßt, welche in kapazitiver Kopplung zu einem elektrisch leitenden Abschnitt des zweiten Bauteils mindestens teilweise benachbart ange- ordnet ist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 10, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die Meßelektrode (35) in der Einspannvorrichtung
(30, 34) ausgebildet ist.
12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 11, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die Abtasteinrichtung eine Signalauswerteinrichtung (V, 38) umfaßt, welche zur Abtastung eines Abfallens der Spannung zwischen der Meßelektrode (35) und der zweiten Kontaktfläche (20) ausgebildet ist.
13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 12, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die Abtasteinrichtung (38) einen Stellausgang (41) zum Ansteuern einer Auftragseinrichtung zum Auftragen der elektrisch leitfähigen Masse (9) auf die zweite Kontaktfläche (20) derart aufweist, daß eine im wesentlichen konstante Menge der elektrisch leitfähigen Masse ( 9 ) zur Erzeugung einer vorbestimmten Auftragshöhe auf- tragbar ist.
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