WO1998035293A1 - Memory system - Google Patents

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WO1998035293A1
WO1998035293A1 PCT/JP1998/000492 JP9800492W WO9835293A1 WO 1998035293 A1 WO1998035293 A1 WO 1998035293A1 JP 9800492 W JP9800492 W JP 9800492W WO 9835293 A1 WO9835293 A1 WO 9835293A1
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memory
module
signal selection
selection circuit
board
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PCT/JP1998/000492
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Inventor
Kouichi Ikeda
Takeshi Ikeda
Original Assignee
T.I.F. Co., Ltd.
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F13/00Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F13/14Handling requests for interconnection or transfer
    • G06F13/16Handling requests for interconnection or transfer for access to memory bus
    • G06F13/1668Details of memory controller
    • G06F13/1678Details of memory controller using bus width

Definitions

  • the present invention relates to a memory system in which a plurality of memory chips are mounted.
  • Computer devices such as personal computers and workstations are built around a central processing unit (hereinafter referred to as CPU), which is connected to memories and various controllers.
  • the CPU has a plurality of data input / output terminals for transmitting and receiving data to / from a memory or the like, and the number of data input / output terminals is often a multiple of 8 such as eight or sixteen.
  • the number of data input / output terminals of the CPU is not constant, and the number of variations tends to increase in the future.
  • the present invention has been made in view of the above points, and a purpose thereof is to provide a memory system capable of easily switching a bus width.
  • a signal selection circuit for switching the number of data input / output signals transmitted and received between the module substrate and another substrate is provided on the module substrate.
  • the memory system of the present invention sends all the data input / output signals of each memory chip to the main board without performing the work of adjusting the data bus width in the module board.
  • the main board some of the data input / output signals from the module board are combined by a signal selection circuit to reduce the data bus width.
  • the memory system of the present invention can be used to select data input / output in consideration of the fact that the data bus width of ordinary computer equipment is often 4 bits, 8 bits, or 16 bits. Set the number of signals to at least 4, 8, or 16 signals.
  • the memory system of the present invention switches the signal input to the control terminal of the memory chip according to the desired data bus width.
  • the upper bits of the address signal are input to the chip select terminal and the CAS terminal of the memory chip, and the data bus width is switched by the logic of the upper bits.
  • FIG. 1 is a plan view schematically showing a memory module constituting a part of a memory system
  • FIG. 2 is a sectional view taken along the line A—A ′ in FIG. 1
  • FIG. 3 is a perspective view showing a part of the memory module shown in FIG. 1
  • FIG. 4 is a circuit diagram of the memory module shown in FIG. 1
  • FIG. 5 is a diagram showing a configuration of the signal selection circuit shown in FIG. 4,
  • FIG. 6 is a diagram showing the configuration of the signal selection circuit shown in FIG. 4,
  • FIG. 7 is a circuit diagram of a memory module when a data bus width of 16 bits is selected
  • FIG. 8 is a circuit diagram of a memory module when an 8-bit data bus width is selected
  • FIG. 9 is a circuit diagram of a memory module when a 4-bit data bus width is selected.
  • FIG. 10 is a memory configuration diagram.
  • FIG. 10A shows a configuration when a 16-bit data bus width is selected
  • FIG. 10B shows an 8-bit data bus.
  • FIG. 3C is a diagram showing a configuration when an evening bus width is selected.
  • FIG. 4C is a diagram showing a configuration when a 4-bit data bus width is selected.
  • Fig. 11 is a diagram showing an example of a memory system in which a plurality of memory modules are mounted on an SO-DIMM board.
  • Fig. 11 (a) is a diagram showing one surface
  • Fig. 11 (b) is a diagram showing the other. Diagram showing a plane
  • FIG. 12 is a diagram showing a configuration of a memory module not including a signal selection circuit.
  • FIG. 13 is a diagram showing a modification of the memory module.
  • FIG. 14 is a diagram showing another modification of the memory module
  • FIG. 15 is a diagram showing another modification of the memory module
  • FIG. 16 is a diagram showing another modification of the memory module
  • FIG. 17 is a diagram showing another modified example of the memory module
  • FIG. 18 is a diagram showing another modification of the memory module
  • FIG. 19 is a diagram showing another modification of the memory module
  • FIG. 20 is a diagram showing another modification of the memory module
  • FIG. 21 is a diagram showing another modification of the memory module
  • FIG. 22 is a diagram showing another modification of the memory module
  • FIG. 23 is a diagram showing another modified example of the memory module
  • FIG. 24 is a view showing a modified example of the bare chip for memory.
  • FIG. 24A shows a bare chip for memory in which a pad is arranged at the center of the short side
  • FIG. 25 is a diagram showing another modified example of the memory bare chip. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • FIG. 1 is a plan view schematically showing a memory module constituting a part of the memory system
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA ′ of FIG.
  • the memory module 10 shown in FIG. 1 includes four memory bare chips 1A, 1B, 1C, and 1D cut out from a semiconductor wafer and a signal selection circuit 21 for switching the data bus width. And a module substrate 2 on which is mounted.
  • Each of the memory bear chips 1A to 1D is a DRAM having a memory capacity of, for example, 4M ⁇ 4 bits.Each of the memory bear chips 1A has a rectangular shape, and is arranged in a line along a long side thereof. A plurality of pads 3 are formed.
  • the signal selection circuit 21 on the module board 2 switches the signal input to each control terminal of each memory chip 1A to 1D, and the signal selection circuit 22 inputs data of each memory bare chip 1A etc. Switches the output signal.
  • the detailed configuration of the signal selection circuits 21 and 22 will be described later.
  • the module board 2 has an external dimension that can be mounted on an S-type DIMM (Small Out Dualine Inline Memory Module) board, which will be described later.
  • Pad 4 is formed at the bottom. Two bare chips 1A to 1D for memory are mounted on both sides with the pad 4 interposed therebetween, and the direction in which the pads 4 on the module board 2 are lined up and the bare chips 1A to 1D for each memory are mounted. The directions in which the pads 3 are arranged are almost parallel.
  • the pad 4 on the module substrate 2 and the pad 3 on the memory bare chips 1A to 1D are connected by bonding wires 5-, respectively.
  • the pad 4 includes one in which two bonding wires 5 are connected and one in which one bonding wire 5 is connected.
  • Memory pan For terminals that are commonly connected to a plurality of memory bare chips 1A, such as address terminals for chip 1A, etc. padding is achieved by connecting a plurality of bonding wires 5 to pads 4 on the module board 2. 4 is being shared. As a result, the number of pads 4 can be reduced as compared with the total number of pads 3 on memory bare chips 1A to 1D, and the amount of wiring in module substrate 2 can be reduced. Further, by arranging the memory bare chips 1A to 1D to face each other at substantially the same distance from the pad 4 on the module substrate 2, the lengths of the bonding wires 5 can be made substantially equal.
  • a plurality of external connection terminals 8 formed in a concave shape are provided on the side surface of the module substrate 2, and these external connection terminals 8 are electrically connected to the pads 4 on the module substrate 2 via a wiring pattern. are doing.
  • the memory module 10 of the present embodiment covers the upper surface of the wire bonded memory chip 1A or the like with a resin 6 to prevent disconnection or the like.
  • a sealing frame 7 is attached near the outer periphery of the module substrate 2, and the resin 6 is poured into the sealing frame 7.
  • the resin layer may be formed by, for example, a transfer molding method, or the resin layer may be formed without using any mold or the like.
  • FIG. 3 is a perspective view showing a part of the memory module 10 shown in FIG. 1.
  • the memory module 10 of the present embodiment uses a so-called LCC (Leadless Chip Carrier) method such as an SO-DIMM substrate. It is mounted on the main board, and specifically, is fixed on the main board by pouring solder into a concave portion of the external connection terminal 8.
  • LCC Leadless Chip Carrier
  • connection to the main board is performed by normal soldering, repair (replacement) when the memory module 10 becomes defective can be performed relatively easily.
  • the yield of the main board on which is mounted can be improved.
  • FIG. 4 is a circuit diagram of the memory module 10 shown in FIG. In this figure, some terminals such as a power terminal and a ground terminal are omitted for simplification. Bare chip for each memory 1 A to 1 D Address terminals A 0 to 10 are connected to external connection terminals AO to 10, control terminal RAS is connected to external connection terminal RAS, control terminal WE is connected to external connection terminal WE. The control terminal ⁇ E is connected to the external connection terminal OE. Further, each CAS terminal of each of the memory base chips 1A to 1D is connected to the signal selection circuit 21, and data input / output terminals I / O 0 to 3 are connected to the signal selection circuit 22.
  • the signal selection circuit 21 outputs the control signals CS0 to CS3 in accordance with the logic between the upper bits A12 and All of the address signal and the external connection terminal CS.
  • the signal selection circuit 22 switches the number of input / output data lines by cutting a predetermined portion of the wiring pattern.
  • FIG. 5 is a diagram showing a detailed configuration of the signal selection circuit 21.
  • the signal selection circuit 21 has four AND gates 30, 32, 34, and 36 whose output terminals are connected to the CAS terminals of the memory bare chips 1 A to 1 D.
  • the input terminals are connected to the external connection terminals All and A12 respectively, and are connected to the respective output terminals of the two inverters 38, 40 and 38, 40, respectively.
  • the pull-up resistor 42 and the inverter 38 point a in FIG. 5
  • the pull-up resistor 44 and the inverter Each wiring pattern between 40 and 40 (point b in Fig. 5) is cut by laser light irradiation or the like. Therefore, the four memory bare chips 1A to 1D are simultaneously selected according to the logic of the chip select signal input to the external connection terminal CS.
  • the memory module 10 When the memory module 10 is used with an 8-bit width, only the wiring pattern between the pull-up resistor 44 and the inverter 40 is cut by laser light irradiation or the like. Therefore, one of two of memory bare chips 1A and IB or two of memory bare chips 1C and 1D is selected by a combination of upper bit All of the address signal and chip select signal CS.
  • the signal selection circuit 21 shown in FIG. 5 is operated in the same configuration. Therefore, one of the four memory bare chips 1A to 1D is selected according to the combination of the address signals A11 and A12.
  • FIG. 6 is a diagram showing a detailed configuration of the signal selection circuit 22.
  • the signal selection circuit 22 has input / output terminals for each of the memory bare chips 1A to 1D.
  • the wiring patterns between I / O 0-3 and the external connection terminals D0-3, D4-7, D8-ll, D12-15 are partially connected.
  • the memory bear chips 1A and 1C the memory bear chips 1A and 1B, and the memory bear chips 1B and 1D, wire the corresponding input / output terminals I / O 0-3. They are connected by a patron.
  • the memory module 10 when the memory module 10 is used with a 16-bit width, it is necessary to separately draw out the input / output terminals I / O 0 to 3 of the four memory bare chips 1 A to 1 D. Then, all the wiring patterns at points c, d and e shown in FIG. 6 are cut. When the memory module 10 is used with an 8-bit width, only the wiring pattern at the point c is cut off. When the memory module 10 is used with a 4-bit width, any wiring pattern is used. Do not disconnect.
  • the data width of the memory module 10 can be changed to any one of 16 bits, 8 bits, and 4 bits.
  • the circuit diagram of FIG. 4 is equivalent to that of FIG. 7, and similarly, when 8 bits and 4 bits are selected, FIG.
  • the equivalent circuit diagrams are as shown in Figs. 8 and 9 respectively.
  • FIG. 10 is a diagram showing a memory space of the memory module 10.
  • 16 bits are selected as the data width, as shown in FIG. 10 (a)
  • four A bare memory chips 1A to 1 16-bit data input / output in parallel with D is specified.
  • 8 bits are selected as the data width, as shown in FIG. 10 (b)
  • the two bare chips 1A, IB or 1C, 8-bit data to be input / output in parallel to any of D is specified.
  • 4 bits are selected as the data width, as shown in FIG. 10 (c)
  • the data is input to or output from one of the memory patches 1A to 1D by the addresses A0 to A10. 4-bit data is specified.
  • the signal selection circuit 21 for switching the signal input to the CAS terminal of each memory chip 1 A and the data of each memory bare chip 1 A etc.
  • FIG. 11 is a diagram showing an example of a memory system in which a plurality of memory modules 10 shown in FIGS. 1 to 4 are mounted on an SO-DIMM board 11.
  • FIG. 11 Is a plan view on the front side of the SO-DIMM substrate 11, and
  • FIG. 11 (b) is a plan view on the back side.
  • two memory modules 10 are mounted on both the front and back sides.
  • Two noise-prevention capacitors hereafter referred to as two
  • a controller 13 for checking the memory bare chip 1A and the like is mounted.
  • Each memory module 10 is implemented by the above-described LCC scheme, and the bypass capacitor 12 and the controller 13 are implemented by an SMT (Surface Mount Technology) scheme.
  • SMT Surface Mount Technology
  • the S ⁇ —DIMM board in Fig. 11 has the same result as mounting a total of 16 memory ICs with 8 on each side.
  • the bare chip for memory that constitutes each memory module 10 In the case of 4 MX 4 bits, the memory capacity of each memory module 10 is 8 Mbytes, and the memory capacity of the entire SO-DIMM board is 32 Mbytes.
  • the data bus width of the SO-DIMM board is set to 64 bits by the standard, the data bus width of each memory module is set to 16 bits by the setting of the signal selection circuit described above. You.
  • the signal selection circuit 21 shown in FIG. 4 switches the upper bits of the address terminal according to the data bus width
  • the lower bits of the address terminal may be switched.
  • the unit of switching the data bus width is not limited to 4 bits, 8 bits, and 16 bits, and may be, for example, 1 bit / 2 bits.
  • FIG. 1 shows an example in which the signal selection circuits 21 and 22 for switching the data bus width are provided on the module substrate 2, but may be provided on the main substrate of the memory system. That is, signals may always be transmitted and received between the memory module 10 and the main board with a 16-bit data bus width, and the data bus width may be switched on the main board.
  • the structure of the module substrate can be simplified, the memory module 10 can be reduced in size, and the cost can be reduced.
  • COB Chip On Glass
  • COF Chip On Film
  • the memory bare chip 1A etc. are flip-chip mounted on the module substrate 2 using bumps such as solder balls or gold balls. You may.
  • a main substrate such as an S0_DIMM by the LCC method
  • a BGA All Grid Array
  • the number of memory chips 1A and the like mounted on the module substrate 2 is not limited to four, and is not particularly limited as long as it is two or more. However, since the memory capacity of ordinary computer equipment is often set to a multiple of 4, an even number of memory chip 1A and the like mounted on the module board is desirable.
  • FIGS. 13 to 22 show modified examples of the memory module.
  • attention is paid to the arrangement state of the memory bare chip and the wiring state by the bonding wire 5, and the signal selection circuits 21 and 22 are omitted.
  • the bonding wires 5 may be alternately drawn out from the memory bare chips arranged on both sides to the pads 4 formed in a line in the center of the module substrate 2.
  • the bonding wires 5 are alternately drawn in units of a plurality of wires, or as shown in FIG. 15, two or more rows formed on the module substrate 2 (two rows in the same figure).
  • the bonding wire 5 may be connected to the pad 4.
  • pads 3 are formed in two rows along the long side of the memory bear chip, and bonding wires 5 are formed on both sides of each memory bear chip. Or, as shown in Fig. 18 to Fig. 21, form pads 3 in two rows along the short side of the bare memory chip and pull out the bonding wires 5 on both sides of each bare memory chip. You may do so. Further, as shown in FIG. 22, a memory module may be constituted by using two memory chips.
  • pads 4 ′ are formed on the module substrate 2 at the same intervals as the pads on the memory bare chip, and these pads 4 ′ and the pads on the memory bare chip are formed.
  • the flip chip mounting may be performed by arranging them so as to face each other.
  • the mounting state may be unstable.
  • the pads 3 When the pads 3 are formed in a row on the memory bare chip, the pads 3 may be formed in a stepwise manner as shown in FIG. .
  • a signal selection circuit for switching the number of data input / output signals transmitted / received between a module substrate and another substrate is provided on the module substrate.
  • the module board can be mounted on the same board, the versatility of the module board is improved, and costs can be reduced by mass production effects.
  • a signal selection circuit for integrating data input / output signals transmitted / received to / from the module board is provided on the main board, so that it is not necessary to adjust the data bus width in the module board.
  • the module board can be mounted on a plurality of types of main boards having different data bus widths. Therefore, the configuration of the module substrate can be simplified, and the cost of the module substrate can be reduced.

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Abstract

A memory system wherein the data bus width can be easily changed. The memory system is made by mounting, on a main board, a module board (2) mounted with four bare chips for memory (1A-1D). The module board (2) is provided with a signal selection circuit (21) for switching signals to be inputted to CAS terminals of the bare chips for memory (1A-1D) mounted on the module board (2) and a signal selection circuit (22) for switching data I/O terminals of the bare chips for memory (1A-1D). The data bus width of the module board (2) can be changed by changing the settings of the signal selection circuits (21, 22). Therefore, a memory module mounted with components in this manner can be mounted on various kinds of mother boards or memory boards of different data bus widths. By using this mounting method, a memory module can be more widely used.

Description

明 細 書 メモリシステム 技術分野  Description Memory system Technical field
本発明は、 複数のメモリチヅプが実装されたメモリシステムに関する。 背景技術  The present invention relates to a memory system in which a plurality of memory chips are mounted. Background art
パーソナルコンピュータやワークステーションなどのコンピュータ機器は、 中 央演算装置 (以下、 C P Uと呼ぶ) を中心に構成されており、 C P Uにはメモリ や各種のコントローラが接続されている。 C P Uは、 メモリ等とデータの送受を 行うための複数のデ一夕入出力端子を備えており、 データ入出力端子の数は、 8 本や 1 6本などの 8の倍数であることが多い。  Computer devices such as personal computers and workstations are built around a central processing unit (hereinafter referred to as CPU), which is connected to memories and various controllers. The CPU has a plurality of data input / output terminals for transmitting and receiving data to / from a memory or the like, and the number of data input / output terminals is often a multiple of 8 such as eight or sixteen.
一般に、 データ入出力端子の数が多いほど、 同時に送受できるデータビット数 が増えるため、 C P Uのアクセス回数が減ってコンピュータ機器の処理性能が向 上する。 このため、 最近では、 家庭用のパーソナルコンピュータでも、 デ一夕バ ス幅が 3 2ビット、 すなわち 3 2本のデ一夕入出力端子を有する C P Uを用いる ことが多い。 また、 データバス幅を 6 4ビットや 1 2 8ビットにまで増やした C P Uや描画用コントローラなども発表されている。 その一方で、 8ビットや 1 6 ビッ トの C P Uも価格が安いこともあって、 電化製品などでは依然として広く用 いられている。  In general, as the number of data input / output terminals increases, the number of data bits that can be transmitted and received simultaneously increases, so that the number of CPU accesses decreases and the processing performance of computer equipment improves. For this reason, recently, even for personal computers for home use, a CPU having a data bus width of 32 bits, that is, a CPU having 32 data input / output terminals is often used. Also, CPUs and drawing controllers with data bus widths increased to 64 bits or 128 bits have been announced. On the other hand, 8-bit and 16-bit CPUs are still widely used in appliances and other products due to their low prices.
このように、 C P Uのデ一夕入出力端子の数は一定でなく、 その数のバリエ一 シヨンは今後増える傾向にある。  Thus, the number of data input / output terminals of the CPU is not constant, and the number of variations tends to increase in the future.
一方、 最近のコンピュータ機器は、 必要に応じてメモリ容量を増やせるように 、 S I MMや D I MM等のメモリ基板を装着するスロットを備えている。 ところ が、 S I MM等のメモリ基板は、 アドレス端子やデータ入出力端子の数が予め定 められており、 データバス幅の異なる C P Uが実装された他の基板にはそのまま では装着できない。 したがって、 マザ一ボードのデ一夕バス幅に応じて専用のメ モリ基板を設ける必要があり、 量産効果が生かせないことから、 部品コストが上 昇する要因になっていた。 発明の開示 On the other hand, recent computer equipment is provided with a slot for mounting a memory board such as a SIMM or a DIMM so that the memory capacity can be increased as necessary. However, memory boards such as SIMMs have a predetermined number of address terminals and data input / output terminals, and cannot be directly mounted on other boards on which CPUs with different data bus widths are mounted. Therefore, it is necessary to provide a dedicated memory board in accordance with the bus width of the motherboard, and the mass production effect cannot be used. It was a factor of rising. Disclosure of the invention
本発明は、 このような点に鑑みて創作されたものであり、 その目的は、 デ一夕 バス幅を簡易に切り換えられるようにしたメモリシステムを提供することにある 本発明のメモリシステムは、 モジュール基板と他の基板との間で送受されるデ 一夕入出力信号の数を切り換えるための信号選択回路をモジュール基板上に設け る。 これにより、 データバス幅の異なる複数種類の基板に容易にモジュール基板 を実装できるようになり、 モジュール基板の汎用性が向上し、 量産効果によるコ ストダウンが図れる。  The present invention has been made in view of the above points, and a purpose thereof is to provide a memory system capable of easily switching a bus width. A signal selection circuit for switching the number of data input / output signals transmitted and received between the module substrate and another substrate is provided on the module substrate. As a result, the module board can be easily mounted on a plurality of types of boards having different data bus widths, the versatility of the module board can be improved, and the cost can be reduced by mass production.
また、 本発明のメモリシステムは、 モジュール基板内ではデータバス幅を調整 する細工はせずに、 各メモリチップのデータ入出力信号をすベてメィン基板に送 る。 一方、 メイン基板は、 モジュール基板からのデ一夕入出力信号の一部を信号 選択回路でまとめてデータバス幅を狭くする。 これにより、 モジュール基板の構 成を簡略化でき、 モジュール基板を低コストで製造できるようになる。  Further, the memory system of the present invention sends all the data input / output signals of each memory chip to the main board without performing the work of adjusting the data bus width in the module board. On the other hand, in the main board, some of the data input / output signals from the module board are combined by a signal selection circuit to reduce the data bus width. As a result, the structure of the module substrate can be simplified, and the module substrate can be manufactured at low cost.
また、 本発明のメモリシステムは、 通常のコンピュータ機器のデータバス幅が 4ビヅト、 8ビット、 1 6ビッ トのいずれかであることが多いことを考慮に入れ 、 選択可能なデ一夕入出力信号の本数を少なくとも 4本、 8本および 1 6本のい ずれかに設定する。  Further, the memory system of the present invention can be used to select data input / output in consideration of the fact that the data bus width of ordinary computer equipment is often 4 bits, 8 bits, or 16 bits. Set the number of signals to at least 4, 8, or 16 signals.
また、 本発明のメモリシステムは、 選択したいデータバス幅に応じて、 メモリ チヅプの制御端子に入力される信号を切り換える。 例えば、 メモリチップのチッ プセレクト端子や C A S端子にアドレス信号の上位ビッ トを入力して、 上位ビッ トの論理によりデータバス幅を切り換える。 図面の簡単な説明  Further, the memory system of the present invention switches the signal input to the control terminal of the memory chip according to the desired data bus width. For example, the upper bits of the address signal are input to the chip select terminal and the CAS terminal of the memory chip, and the data bus width is switched by the logic of the upper bits. BRIEF DESCRIPTION OF THE FIGURES
第 1図は、 メモリシステムの一部を構成するメモリモジュールの概略を示す平 面図、  FIG. 1 is a plan view schematically showing a memory module constituting a part of a memory system,
第 2図は、 第 1図の A— A ' 線断面図、 第 3図は、 第 1図に示したメモリモジュールの一部分を示す斜視図、 第 4図は、 第 1図に示したメモリモジュールの回路図、 FIG. 2 is a sectional view taken along the line A—A ′ in FIG. 1, FIG. 3 is a perspective view showing a part of the memory module shown in FIG. 1, FIG. 4 is a circuit diagram of the memory module shown in FIG. 1,
第 5図は、 第 4図に示す信号選択回路の構成を示す図、  FIG. 5 is a diagram showing a configuration of the signal selection circuit shown in FIG. 4,
第 6図は、 第 4図に示す信号選択回路の構成を示す図、  FIG. 6 is a diagram showing the configuration of the signal selection circuit shown in FIG. 4,
第 7図は、 1 6ビットのデータバス幅が選択された場合のメモリモジュールの 回路図、  FIG. 7 is a circuit diagram of a memory module when a data bus width of 16 bits is selected,
第 8図は、 8ビヅトのデ一夕バス幅が選択された場合のメモリモジュールの回 路図、  FIG. 8 is a circuit diagram of a memory module when an 8-bit data bus width is selected,
第 9図は、 4ビヅ 卜のデータバス幅が選択された場合のメモリモジュールの回 路図、  FIG. 9 is a circuit diagram of a memory module when a 4-bit data bus width is selected,
第 1 0図は、 メモリ構成図であり、 同図 (a ) は 1 6ビヅ トのデータバス幅が 選択された場合の構成を示す図、 同図 (b ) は 8ビッ トのデ一夕バス幅が選択さ れた場合の構成を示す図、 同図 ( c ) は 4ビヅ トのデ一夕バス幅が選択された場 合の構成を示す図、  FIG. 10 is a memory configuration diagram. FIG. 10A shows a configuration when a 16-bit data bus width is selected, and FIG. 10B shows an 8-bit data bus. FIG. 3C is a diagram showing a configuration when an evening bus width is selected. FIG. 4C is a diagram showing a configuration when a 4-bit data bus width is selected.
第 1 1図は、 複数のメモリモジュールを S O— D I MM基板に実装したメモリ システムの一例を示す図であり、 同図 (a ) は一方の面を示す図、 同図 (b ) は 他方の面を示す図、  Fig. 11 is a diagram showing an example of a memory system in which a plurality of memory modules are mounted on an SO-DIMM board. Fig. 11 (a) is a diagram showing one surface, and Fig. 11 (b) is a diagram showing the other. Diagram showing a plane,
第 1 2図は、 信号選択回路を含まないメモリモジュールの構成を示す図、 第 1 3図は、 メモリモジュールの変形例を示す図、  FIG. 12 is a diagram showing a configuration of a memory module not including a signal selection circuit. FIG. 13 is a diagram showing a modification of the memory module.
第 1 4図は、 メモリモジュールの他の変形例を示す図、  FIG. 14 is a diagram showing another modification of the memory module,
第 1 5図は、 メモリモジュールの他の変形例を示す図、  FIG. 15 is a diagram showing another modification of the memory module,
第 1 6図は、 メモリモジュールの他の変形例を示す図、  FIG. 16 is a diagram showing another modification of the memory module,
第 1 7図は、 メモリモジュールの他の変形例を示す図、  FIG. 17 is a diagram showing another modified example of the memory module,
第 1 8図は、 メモリモジュールの他の変形例を示す図、  FIG. 18 is a diagram showing another modification of the memory module,
第 1 9図は、 メモリモジュールの他の変形例を示す図、  FIG. 19 is a diagram showing another modification of the memory module,
第 2 0図は、 メモリモジュールの他の変形例を示す図、  FIG. 20 is a diagram showing another modification of the memory module,
第 2 1図は、 メモリモジュ一ルの他の変形例を示す図、  FIG. 21 is a diagram showing another modification of the memory module,
第 2 2図は、 メモリモジュールの他の変形例を示す図、  FIG. 22 is a diagram showing another modification of the memory module,
第 2 3図は、 メモリモジュールの他の変形例を示す図、 第 2 4図は、 メモリ用ベアチップの変形例を示す図であり、 同図 (a ) は短辺 の中央にパッ ドを配置したメモリ用ベアチップを示す図、 同図 (b ) は短辺の両 端近傍にパッ ドを配置したメモリ用べァチップを示す図、 FIG. 23 is a diagram showing another modified example of the memory module, FIG. 24 is a view showing a modified example of the bare chip for memory. FIG. 24A shows a bare chip for memory in which a pad is arranged at the center of the short side, and FIG. A diagram showing a memory bay chip with pads arranged near both ends,
第 2 5図は、 メモリ用ベアチップの他の変形例を示す図である。 発明を実施するための最良の形態  FIG. 25 is a diagram showing another modified example of the memory bare chip. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
以下、 本発明を適用したメモリシステムについて、 図面を参照しながら具体的 に説明する。  Hereinafter, a memory system to which the present invention is applied will be specifically described with reference to the drawings.
第 1図はメモリシステムの一部を構成するメモリモジュールの概略を示す平面 図、 第 2図は第 1図の A— A ' 線断面図である。 第 1図に示すメモリモジュール 1 0は、 半導体ウェハから切り出された 4個のメモリ用ベアチップ 1 A、 1 B、 1 C、 1 Dとデータバス幅の切り換えを行う信号選択回路 2 1、 2 2とが実装さ れたモジュール基板 2を備える。 各メモリ用ベアチヅプ 1 A〜 1 Dは、 例えば 4 M x 4ビットのメモリ容量を有する D R A Mであり、 いずれのメモリ用ベアチヅ プ 1 A等も長方形形状をしており、 その長辺に沿って一列に複数のパッド 3が形 成されている。  FIG. 1 is a plan view schematically showing a memory module constituting a part of the memory system, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA ′ of FIG. The memory module 10 shown in FIG. 1 includes four memory bare chips 1A, 1B, 1C, and 1D cut out from a semiconductor wafer and a signal selection circuit 21 for switching the data bus width. And a module substrate 2 on which is mounted. Each of the memory bear chips 1A to 1D is a DRAM having a memory capacity of, for example, 4M × 4 bits.Each of the memory bear chips 1A has a rectangular shape, and is arranged in a line along a long side thereof. A plurality of pads 3 are formed.
モジュール基板 2上の信号選択回路 2 1は各メモリ用ベアチヅプ 1 A〜 1 Dの 各制御端子に入力される信号の切り換えを行い、 信号選択回路 2 2は各メモリ用 ベアチップ 1 A等のデータ入出力信号の切り換えを行う。 信号選択回路 2 1、 2 2の詳細構成については後述する。  The signal selection circuit 21 on the module board 2 switches the signal input to each control terminal of each memory chip 1A to 1D, and the signal selection circuit 22 inputs data of each memory bare chip 1A etc. Switches the output signal. The detailed configuration of the signal selection circuits 21 and 22 will be described later.
モジュール基板 2は、 後述する S〇一 D I M M ( Smal l Outl ine Dual Inl ine Memory Module ) 基板に実装可能な外形寸法を有しており、 モジュール基板 2の 中央付近には長手方向に沿ってほぼ一列にパッ ド 4が形成されている。 これらパ ッド 4を挟んで両側に 2個ずつメモリ用ベアチップ 1 A〜 1 Dが実装され、 モジ ユール基板 2上のパヅ ド 4の並ぶ方向と各メモリ用ベアチヅプ 1 A〜 1 D上のパ ッド 3の並ぶ方向はほぼ平行になっている。  The module board 2 has an external dimension that can be mounted on an S-type DIMM (Small Out Dualine Inline Memory Module) board, which will be described later. Pad 4 is formed at the bottom. Two bare chips 1A to 1D for memory are mounted on both sides with the pad 4 interposed therebetween, and the direction in which the pads 4 on the module board 2 are lined up and the bare chips 1A to 1D for each memory are mounted. The directions in which the pads 3 are arranged are almost parallel.
モジュール基板 2上のパヅド 4とメモリ用ベアチップ 1 A〜 1 D上のパヅ ド 3 はそれぞれボンディングワイヤ 5-により接続されている。 パッ ド 4には、 ボンデ イングワイヤ 5が 2本接続されたものと 1本接続されたものがある。 メモリ用べ ァチヅプ 1 A等のァドレス端子など、 複数のメモリ用ベアチヅプ 1 A等に共通に 接続される端子については、 モジュール基板 2上のパヅ ド 4に複数のボンディン グワイヤ 5を接続することで、 パッ ド 4の共有化を図っている。 これにより、 メ モリ用ベアチップ 1 A〜 1 D上のパヅ ド 3の総数よりもパヅ ド 4の数を減らすこ とができ、 モジュール基板 2内の配線量も軽減できる。 また、 モジュール基板 2 上のパッ ド 4からほぼ同距離にメモリ用ベアチップ 1 A〜 1 Dを対向配置するこ とで、 ボンディングワイヤ 5の長さをほぼ等しくすることができる。 The pad 4 on the module substrate 2 and the pad 3 on the memory bare chips 1A to 1D are connected by bonding wires 5-, respectively. The pad 4 includes one in which two bonding wires 5 are connected and one in which one bonding wire 5 is connected. Memory pan For terminals that are commonly connected to a plurality of memory bare chips 1A, such as address terminals for chip 1A, etc., padding is achieved by connecting a plurality of bonding wires 5 to pads 4 on the module board 2. 4 is being shared. As a result, the number of pads 4 can be reduced as compared with the total number of pads 3 on memory bare chips 1A to 1D, and the amount of wiring in module substrate 2 can be reduced. Further, by arranging the memory bare chips 1A to 1D to face each other at substantially the same distance from the pad 4 on the module substrate 2, the lengths of the bonding wires 5 can be made substantially equal.
一方、 モジュール基板 2の側面には、 凹部状に形成された複数の外部接続端子 8が設けられ、 これら外部接続端子 8は配線パターンを介してモジュール基板 2 上のパッ ド 4と電気的に導通している。  On the other hand, a plurality of external connection terminals 8 formed in a concave shape are provided on the side surface of the module substrate 2, and these external connection terminals 8 are electrically connected to the pads 4 on the module substrate 2 via a wiring pattern. are doing.
また、 本実施形態のメモリモジュール 1 0は、 第 2図に示すように、 ワイヤボ ンディングされたメモリ用ベアチヅプ 1 A等の上面を樹脂 6で覆って断線等の防 止を図っている。 メモリモジュール 1 0の高さをできるだけ低くするため、 モジ ユール基板 2の外周近傍に封止枠 7を取り付け、 この封止枠 7の内部に樹脂 6を 流し込んでいる。 なお、 封止枠 7を設けずに、 例えばトランスファーモールド法 により樹脂層を形成したり、 あるいは金型等を一切用いずに樹脂層を形成しても よい。  Also, as shown in FIG. 2, the memory module 10 of the present embodiment covers the upper surface of the wire bonded memory chip 1A or the like with a resin 6 to prevent disconnection or the like. In order to make the height of the memory module 10 as low as possible, a sealing frame 7 is attached near the outer periphery of the module substrate 2, and the resin 6 is poured into the sealing frame 7. Note that, without providing the sealing frame 7, the resin layer may be formed by, for example, a transfer molding method, or the resin layer may be formed without using any mold or the like.
第 3図は、 第 1図に示したメモリモジュール 1 0の一部分を示す斜視図である 本実施形態のメモリモジュール 1 0は、 いわゆる L C C (Leadless Chip Carr ier ) 方式によって S O— D I MM基板などのメイン基板に実装され、 具体的に は、 外部接続端子 8の凹部に半田を流し込んでメイン基板上に固定される。  FIG. 3 is a perspective view showing a part of the memory module 10 shown in FIG. 1. The memory module 10 of the present embodiment uses a so-called LCC (Leadless Chip Carrier) method such as an SO-DIMM substrate. It is mounted on the main board, and specifically, is fixed on the main board by pouring solder into a concave portion of the external connection terminal 8.
このように、 メイン基板への接続を通常の半田付けによって行っているため、 メモリモジュール 1 0が不良になった場合のリペア (交換) 作業を比較的簡単に 行うことができ、 メモリモジュール 1 0が実装されるメイン基板の歩留まりを向 上できる。  As described above, since connection to the main board is performed by normal soldering, repair (replacement) when the memory module 10 becomes defective can be performed relatively easily. The yield of the main board on which is mounted can be improved.
第 4図は、 第 1図に示したメモリモジュール 1 0の回路図である。 この図では 、 簡略化のため、 電源端子や接地端子など一部の端子を省略している。 各メモリ 用ベアチップ 1 A〜 1 Dのァドレス端子 A 0〜10は外部接続端子 A O〜10に、 制 御端子 R A Sは外部接続端子 R A Sに、 制御端子 W Eは外部接続端子 W Eに、 制 御端子〇Eは外部接続端子 O Eにそれそれ接続されている。 また、 各メモリ用べ ァチップ 1 A〜 1 Dの各 C A S端子は信号選択回路 2 1に接続され、 データ入出 力端子 I / O 0〜 3は信号選択回路 2 2に接続されている。 信号選択回路 2 1は 、 アドレス信号の上位ビットである A 12、 A l lと外部接続端子 C Sとの論理に応 じて—制御信号 C S 0〜C S 3を出力する。 信号選択回路 2 2は、 配線パターンの 所定箇所を切断することにより入出力データ線の本数の切り換えを行う。 FIG. 4 is a circuit diagram of the memory module 10 shown in FIG. In this figure, some terminals such as a power terminal and a ground terminal are omitted for simplification. Bare chip for each memory 1 A to 1 D Address terminals A 0 to 10 are connected to external connection terminals AO to 10, control terminal RAS is connected to external connection terminal RAS, control terminal WE is connected to external connection terminal WE. The control terminal 〇E is connected to the external connection terminal OE. Further, each CAS terminal of each of the memory base chips 1A to 1D is connected to the signal selection circuit 21, and data input / output terminals I / O 0 to 3 are connected to the signal selection circuit 22. The signal selection circuit 21 outputs the control signals CS0 to CS3 in accordance with the logic between the upper bits A12 and All of the address signal and the external connection terminal CS. The signal selection circuit 22 switches the number of input / output data lines by cutting a predetermined portion of the wiring pattern.
第 5図は、 信号選択回路 2 1の詳細な構成を示す図である。 同図に示すように 、 信号選択回路 2 1は、 出力端がメモリ用ベアチヅプ 1 A〜 1 Dのそれぞれの C A S端子に接続された 4つのアンドゲート 3 0、 3 2、 3 4、 3 6と、 入力端が それそれ外部接続端子 A llと A 12に接続された 2つのィンバ一夕 3 8、 4 0と、 これら各インバ一夕 3 8、 4 0の各出力端に接続されたプルアップ抵抗 4 2、 4 4とを備えている。  FIG. 5 is a diagram showing a detailed configuration of the signal selection circuit 21. As shown in the figure, the signal selection circuit 21 has four AND gates 30, 32, 34, and 36 whose output terminals are connected to the CAS terminals of the memory bare chips 1 A to 1 D. The input terminals are connected to the external connection terminals All and A12 respectively, and are connected to the respective output terminals of the two inverters 38, 40 and 38, 40, respectively. And resistors 4 2 and 4 4.
例えば、 メモリモジュール 1 0を 1 6ビッ ト幅で使用する場合には、 プルアツ プ抵抗 4 2とインバ一夕 3 8との間 (第 5図の a点) およびプルアップ抵抗 4 4 とインバー夕 4 0との間 (第 5図の b点) の各配線パターンをレーザ光の照射等 によって切断する。 したがって、 外部接続端子 C Sに入力されるチップセレク ト 信号を論理にしたがって、 4個のメモリ用ベアチップ 1 A〜 1 Dが同時に選択さ れる。  For example, when the memory module 10 is used with a 16-bit width, the pull-up resistor 42 and the inverter 38 (point a in FIG. 5) and the pull-up resistor 44 and the inverter Each wiring pattern between 40 and 40 (point b in Fig. 5) is cut by laser light irradiation or the like. Therefore, the four memory bare chips 1A to 1D are simultaneously selected according to the logic of the chip select signal input to the external connection terminal CS.
また、 メモリモジュール 1 0を 8ビット幅で使用する場合には、 プルアップ抵 抗 4 4とィンバ一タ 4 0との間の配線パターンのみをレーザ光の照射等によって 切断する。 したがって、 アドレス信号の上位ビヅ ト A l lとチヅプセレクト信号 C Sとの組み合わせによって、 メモリ用ベアチップ 1 A、 I Bあるいはメモリ用べ ァチップ 1 C、 1 Dのいずれかが 2個ずつ選択される。  When the memory module 10 is used with an 8-bit width, only the wiring pattern between the pull-up resistor 44 and the inverter 40 is cut by laser light irradiation or the like. Therefore, one of two of memory bare chips 1A and IB or two of memory bare chips 1C and 1D is selected by a combination of upper bit All of the address signal and chip select signal CS.
また、 メモリモジュール 1 0を 4ビット幅で使用する場合には、 第 5図に示す 信号選択回路 2 1をそのままの構成で動作させる。 したがって、 アドレス信号 A 11、 A 12の組み合わせによって 4個のメモリ用ベアチヅプ 1 A〜 1 Dのいずれか が 1つが選択される。  When the memory module 10 is used with a 4-bit width, the signal selection circuit 21 shown in FIG. 5 is operated in the same configuration. Therefore, one of the four memory bare chips 1A to 1D is selected according to the combination of the address signals A11 and A12.
第 6図は、 信号選択回路 2 2の詳細な構成を示す図である。 同図に示すように 、 信号選択回路 2 2は、 メモリ用ベアチップ 1 A〜 1 Dのそれぞれの入出力端子 I / O 0〜3と外部接続端子 D 0〜 3、 D 4〜7、 D 8〜ll、 D 12〜15とのそれ それの間の配線パターンを部分的に接続したものである。 具体的には、 メモリ用 ベアチヅプ 1 Aと 1 C、 メモリ用ベアチヅプ 1 Aと 1 B、 メモリ用ベアチップ 1 Bと 1 Dのそれそれについて、 対応する入出力端子 I / O 0〜3同士を配線パ夕 ーンによって接続している。 FIG. 6 is a diagram showing a detailed configuration of the signal selection circuit 22. As shown in the figure, the signal selection circuit 22 has input / output terminals for each of the memory bare chips 1A to 1D. The wiring patterns between I / O 0-3 and the external connection terminals D0-3, D4-7, D8-ll, D12-15 are partially connected. Specifically, for each of the memory bear chips 1A and 1C, the memory bear chips 1A and 1B, and the memory bear chips 1B and 1D, wire the corresponding input / output terminals I / O 0-3. They are connected by a patron.
例えば、 メモリモジュール 1 0を 1 6ビッ ト幅で使用する場合には、 4個のメ モリ用ベアチヅプ 1 A〜 1 Dの各入出力端子 I / O 0〜 3を別々に引き出す必要 があるため、 第 6図に示す c点、 d点、 e点の配線パターンを全て切断する。 ま た、 メモリモジュール 1 0を 8 ビヅ ト幅で使用する場合には c点の配線パターン のみを切断し、 メモリモジュール 1 0を 4 ビヅ ト幅で使用する場合にはいずれの 配線パターンも切断しない。  For example, when the memory module 10 is used with a 16-bit width, it is necessary to separately draw out the input / output terminals I / O 0 to 3 of the four memory bare chips 1 A to 1 D. Then, all the wiring patterns at points c, d and e shown in FIG. 6 are cut. When the memory module 10 is used with an 8-bit width, only the wiring pattern at the point c is cut off. When the memory module 10 is used with a 4-bit width, any wiring pattern is used. Do not disconnect.
このように、 信号選択回路 2 1、 2 2の内部構成を部分的に変更することによ り、 メモリモジュール 1 0のデ一夕幅を 1 6ビット、 8ビッ ト、 4ビットのいず れかで使用することができる。 データ幅として 1 6 ビヅトを選択した場合には、 第 4図の回路図は等価的に第 7図のようになり、 同様に、 8ビット、 4ビッ トを 選択した場合には、 第 4図の回路図はそれそれ等価的に第 8図、 第 9図のように なる。  By partially changing the internal configuration of the signal selection circuits 21 and 22 in this way, the data width of the memory module 10 can be changed to any one of 16 bits, 8 bits, and 4 bits. Can be used with When 16 bits are selected as the data width, the circuit diagram of FIG. 4 is equivalent to that of FIG. 7, and similarly, when 8 bits and 4 bits are selected, FIG. The equivalent circuit diagrams are as shown in Figs. 8 and 9 respectively.
第 1 0図は、 メモリモジュール 1 0のメモリ空間を示す図である。 デ一夕幅と して 1 6 ビヅ トが選択された場合には、 第 1 0図 (a ) に示すように、 ア ドレス A 0〜10によって、 4個のメモリ用ベアチップ 1 A〜 1 Dに並行して入出力され る 1 6ビットのデータが指定される。 また、 デ一夕幅として 8ビッ トが選択され ると、 第 1 0図 (b ) に示すように、 アドレス A 0〜10によって、 2個のメモリ 用ベアチップ 1 A、 I Bあるいは 1 C、 1 Dのいずれかに並行して入出力される 8ビットのデータが指定される。 また、 データ幅として 4ビッ トが選択されると 、 第 1 0図 ( c ) に示すように、 ァドレス A 0〜10によって、 メモリ用べァチッ プ 1 A〜 1 Dのいずれかに入出力される 4ビッ トデータが指定される。  FIG. 10 is a diagram showing a memory space of the memory module 10. When 16 bits are selected as the data width, as shown in FIG. 10 (a), four A bare memory chips 1A to 1 16-bit data input / output in parallel with D is specified. When 8 bits are selected as the data width, as shown in FIG. 10 (b), the two bare chips 1A, IB or 1C, 8-bit data to be input / output in parallel to any of D is specified. When 4 bits are selected as the data width, as shown in FIG. 10 (c), the data is input to or output from one of the memory patches 1A to 1D by the addresses A0 to A10. 4-bit data is specified.
このように、 メモリモジュール 1 0のモジュール基板 2上には、 各メモリ用べ ァチップ 1 A等の C A S端子に入力される信号を切り換える信号選択回路 2 1と 、 各メモリ用ベアチップ 1 A等のデータ入出力端子 I / O 0〜 3を切り換える信 号選択回路 2 2とが設けられるため、 必要に応じてデータバス幅を簡易に切り換 えることができる。 したがって、 データバス幅の異なる複数種類のマザ一ボード やメモリ基板にメモリモジュール 1 0をそのまま実装でき、 メモリモジュール 1 0の汎用性が向上する。 As described above, on the module substrate 2 of the memory module 10, the signal selection circuit 21 for switching the signal input to the CAS terminal of each memory chip 1 A and the data of each memory bare chip 1 A etc. Signal for switching input / output terminals I / O 0 to 3 Since the signal selection circuit 22 is provided, the data bus width can be easily switched as required. Therefore, the memory module 10 can be directly mounted on a plurality of types of mother boards or memory boards having different data bus widths, and the versatility of the memory module 10 is improved.
第 1 1図は、 第 1図から第 4図までに示した複数のメモリモジュール 1 0を S O - D I MM基板 1 1に実装したメモリシステムの一例を示す図であり、 第 1 1 図 (a ) は S O— D I M M基板 1 1の表側の平面図、 第 1 1図 (b ) は裏側の平 面図である。 同図に示す S 0— D I MM基板 1 1には、 表側および裏側ともに 2 個ずつメモリモジュール 1 0が実装されており、 各メモリモジュール 1 0に対し て 2個ずつノイズ防止用のコンデンサ (以下、 パスコンと呼ぶ) 1 2が設けられ ている。 また、 表側には、 各メモリ用ベアチップ 1 A等のチェヅク等を行うため のコントローラ 1 3が実装されている。 各メモリモジュール 1 0は、 前述した L C C方式により実装され、 パスコン 1 2とコントローラ 1 3は S M T (Surface Mount Technology) 方式により実装される。  FIG. 11 is a diagram showing an example of a memory system in which a plurality of memory modules 10 shown in FIGS. 1 to 4 are mounted on an SO-DIMM board 11. ) Is a plan view on the front side of the SO-DIMM substrate 11, and FIG. 11 (b) is a plan view on the back side. On the S0-DIMM board 11 shown in the figure, two memory modules 10 are mounted on both the front and back sides. Two noise-prevention capacitors (hereafter referred to as two) are provided for each memory module 10. 1 and 2 are provided. On the front side, a controller 13 for checking the memory bare chip 1A and the like is mounted. Each memory module 10 is implemented by the above-described LCC scheme, and the bypass capacitor 12 and the controller 13 are implemented by an SMT (Surface Mount Technology) scheme.
第 1 1図の S〇— D I MM基板は、 片側 8個で計 1 6個のメモリ I Cを実装し たことと同じ結果になり、 例えば、 各メモリモジュール 1 0を構成するメモリ用 ベアチップがそれそれ 4 M X 4ビッ トの場合には、 各メモリモジュール 1 0のメ モリ容量は 8 Mバイ トで、 S O— D I MM基板全体のメモリ容量は 3 2 Mバイ ト になる。 また、 S O— D I M M基板は、 規格によってデータバス幅が 6 4ビッ ト に定められているため、 上述した信号選択回路の設定により、 各メモリモジュ一 ルのデータバス幅は 1 6ビットに設定される。  The S〇—DIMM board in Fig. 11 has the same result as mounting a total of 16 memory ICs with 8 on each side. For example, the bare chip for memory that constitutes each memory module 10 In the case of 4 MX 4 bits, the memory capacity of each memory module 10 is 8 Mbytes, and the memory capacity of the entire SO-DIMM board is 32 Mbytes. In addition, since the data bus width of the SO-DIMM board is set to 64 bits by the standard, the data bus width of each memory module is set to 16 bits by the setting of the signal selection circuit described above. You.
なお、 第 4図に示した信号選択回路 2 1は、 アドレス端子の上位ビットをデー 夕バス幅によって切り換えているが、 ァドレス端子の下位ビッ トを切り換えても よい。 また、 データバス幅の切り換え単位は 4ビット、 8ビッ ト、 1 6ビッ トに 限定されず、 例えば 1ビットゃ 2ビッ トでもよい。  Although the signal selection circuit 21 shown in FIG. 4 switches the upper bits of the address terminal according to the data bus width, the lower bits of the address terminal may be switched. Also, the unit of switching the data bus width is not limited to 4 bits, 8 bits, and 16 bits, and may be, for example, 1 bit / 2 bits.
また、 第 1図では、 データバス幅を切り換える信号選択回路 2 1、 2 2をモジ ユール基板 2上に設ける例を示したが、 メモリシステムのメイン基板上に設けて もよい。 すなわち、 メモリモジュール 1 0とメイン基板間は常に 1 6ビットのデ —夕バス幅で信号を送受し、 メイン基板上でデ一夕バス幅を切り換えてもよい。 このようにすれば、 第 1 2図に示すように各信号選択回路がない分、 モジュール 基板の構造を簡略化でき、 メモリモジュール 1 0を小型化できるとともに、 コス トも低減できる。 FIG. 1 shows an example in which the signal selection circuits 21 and 22 for switching the data bus width are provided on the module substrate 2, but may be provided on the main substrate of the memory system. That is, signals may always be transmitted and received between the memory module 10 and the main board with a 16-bit data bus width, and the data bus width may be switched on the main board. In this way, as shown in FIG. 12, since there is no signal selection circuit, the structure of the module substrate can be simplified, the memory module 10 can be reduced in size, and the cost can be reduced.
上述した実施形態では、 モジュール基板 2上に複数のメモリ用ベアチップ 1 A 等を C O B実装する例を説明したが、 C O B実装の代わりに、 ガラス基板上にチ ップを実装するいわゆる C O G (Chip On Glass ) 実装や、 フィルム上にチップ を実装する C O F (Chip On Fi lm) 実装を行ってもよく、 モジュール基板 2の材 質は必要に応じて適宜変更可能である。  In the above-described embodiment, an example in which a plurality of memory bare chips 1 A and the like are mounted on the module substrate 2 by COB has been described. Instead of COB mounting, a so-called COG (Chip On Glass) mounting or COF (Chip On Film) mounting, in which a chip is mounted on a film, may be performed, and the material of the module substrate 2 can be appropriately changed as necessary.
また、 ボンディングワイヤ 5を用いてメモリ用ベアチップ 1 A等をモジュール 基板 2に実装する代わりに、 半田ボールや金ボールなどのバンプを用いてメモリ 用ベアチヅプ 1 A等をモジュール基板 2上にフリヅプチップ実装してもよい。 また、 上述した実施形態では、 完成したメモリモジュール 1 0を L C C方式に より S 0 _ D I M M等のメイン基板に実装する例を説明したが、 半田ボール等の バンプを用いた B G A (Bal l Grid Array ) 方式による実装を行ってもよい。 また、 モジュール基板 2上に実装されるメモリ用ベアチヅプ 1 A等の数は 4個 に限定されず、 2個以上であれば特に制限はない。 ただし、 通常のコンピュータ 機器は、 メモリ容量を 4の倍数に設定することが多いため、 モジュール基板に実 装するメモリ用ベアチヅプ 1 A等の数も偶数個が望ましい。  Also, instead of mounting the memory bare chip 1A etc. on the module substrate 2 using the bonding wire 5, the memory bare chip 1A etc. are flip-chip mounted on the module substrate 2 using bumps such as solder balls or gold balls. You may. In the above-described embodiment, an example in which the completed memory module 10 is mounted on a main substrate such as an S0_DIMM by the LCC method has been described. However, a BGA (Ball Grid Array) ) The implementation by the method may be performed. In addition, the number of memory chips 1A and the like mounted on the module substrate 2 is not limited to four, and is not particularly limited as long as it is two or more. However, since the memory capacity of ordinary computer equipment is often set to a multiple of 4, an even number of memory chip 1A and the like mounted on the module board is desirable.
第 1 3図から第 2 2図までは、 メモリモジュールの変形例を示す図である。 な お、 これらの図においては、 メモリ用ベアチップの配置状態やボンディングワイ ャ 5による配線状態に着目しており、 信号選択回路 2 1、 2 2は省略されている 。 第 1 3図に示すように、 モジュール基板 2の中央に一列に形成されたパッド 4 に対して、 両側に配置されたメモリ用ベアチップから交互にボンディングワイヤ 5を引き出すようにしてもよい。 あるいは、 第 1 4図に示すように複数本を単位 として交互にボンディングワイヤ 5を引き出したり、 第 1 5図に示すようにモジ ユール基板 2に形成された二列以上 (同図では二列) のパッ ド 4に対してボンデ ィングワイヤ 5を接続するようにしてもよい。  FIGS. 13 to 22 show modified examples of the memory module. In these drawings, attention is paid to the arrangement state of the memory bare chip and the wiring state by the bonding wire 5, and the signal selection circuits 21 and 22 are omitted. As shown in FIG. 13, the bonding wires 5 may be alternately drawn out from the memory bare chips arranged on both sides to the pads 4 formed in a line in the center of the module substrate 2. Alternatively, as shown in FIG. 14, the bonding wires 5 are alternately drawn in units of a plurality of wires, or as shown in FIG. 15, two or more rows formed on the module substrate 2 (two rows in the same figure). The bonding wire 5 may be connected to the pad 4.
また、 第 1 6図や第 1 7図に示すように、 メモリ用ベアチヅプの長辺に沿って 二列にパヅド 3を形成し、 各メモリ用ベアチップの両側にボンディングワイヤ 5 を引き出したり、 第 1 8図から第 2 1図までに示すように、 メモリ用ベアチップ の短辺に沿って二列にパッド 3を形成し、 各メモリ用ベアチップの両側にボンデ イングワイヤ 5を引き出すようにしてもよい。 また、 第 2 2図に示すように、 2 個のメモリ用ベアチヅプを用いてメモリモジュールを構成してもよい。 Further, as shown in FIGS. 16 and 17, pads 3 are formed in two rows along the long side of the memory bear chip, and bonding wires 5 are formed on both sides of each memory bear chip. Or, as shown in Fig. 18 to Fig. 21, form pads 3 in two rows along the short side of the bare memory chip and pull out the bonding wires 5 on both sides of each bare memory chip. You may do so. Further, as shown in FIG. 22, a memory module may be constituted by using two memory chips.
また、 第 2 3図に示すように、 メモリ用ベアチップ上のパッ ドと同間隔でモジ ユール基板 2上にパッド 4 ' を形成しておいて、 これらのパッド 4 ' とメモリ用 ベアチヅプ上のパッドとが向かい合うように配置することにより、 フリップチヅ プ実装を行うようにしてもよい。 また、 第 1 9図に示したようなメモリ用べァチ ップを用いてフリップチップ実装を行う場合には、 取り付け状態が不安定になる おそれがあるため、 第 2 4図 (a ) あるいは (b ) に示すように、 各メモリ用べ ァチップの短辺に近い位置に数個のパッドを形成することが望ましい。  Also, as shown in FIG. 23, pads 4 ′ are formed on the module substrate 2 at the same intervals as the pads on the memory bare chip, and these pads 4 ′ and the pads on the memory bare chip are formed. The flip chip mounting may be performed by arranging them so as to face each other. When flip-chip mounting is performed using a memory chip as shown in Fig. 19, the mounting state may be unstable. As shown in (b), it is desirable to form several pads near the short side of each memory base chip.
また、 メモリ用ベアチップ上に一列にパッド 3を形成する場合には、 一直線上 に形成する場合の他に、 第 2 5図に示すように、 階段状に一列に形成するように してもよい。  When the pads 3 are formed in a row on the memory bare chip, the pads 3 may be formed in a stepwise manner as shown in FIG. .
また、 上述した実施形態では、 モジュール基板 2に D R A Mを実装する例を説 明したが、 S R A Mやフラッシュ R O M等の他の種類のメモリ用ベアチップ 1 A 等を実装することも可能である。 産業上の利用可能性  Further, in the above-described embodiment, the example in which the DRAM is mounted on the module substrate 2 has been described. However, it is also possible to mount another type of memory bare chip 1A such as an SRAM or a flash ROM. Industrial applicability
上述したように、 本発明によれば、 モジュール基板と他の基板との間で送受さ れるデータ入出力信号の数を切り換える信号選択回路をモジュール基板上に設け たため、 データバス幅の異なる複数種類の基板にモジュール基板を実装でき、 モ ジュール基板の汎用性が向上し、 量産効果によるコストダウンが図れる。  As described above, according to the present invention, a signal selection circuit for switching the number of data input / output signals transmitted / received between a module substrate and another substrate is provided on the module substrate. The module board can be mounted on the same board, the versatility of the module board is improved, and costs can be reduced by mass production effects.
また、 その他の発明によれば、 モジュール基板との間で送受されるデ一夕入出 力信号をまとめる信号選択回路をメイン基板に設けたため、 モジュール基板内で データバス幅の調整を行わなくても、 異なるデータバス幅を有する複数種類のメ イン基板にモジュール基板を実装できるようになる。 したがって、 モジュール基 板の構成を簡略化でき、 モジュール基板のコストを下げることができる。  According to another aspect of the present invention, a signal selection circuit for integrating data input / output signals transmitted / received to / from the module board is provided on the main board, so that it is not necessary to adjust the data bus width in the module board. However, the module board can be mounted on a plurality of types of main boards having different data bus widths. Therefore, the configuration of the module substrate can be simplified, and the cost of the module substrate can be reduced.

Claims

請 求 の 範 囲 The scope of the claims
1 . 半導体ウェハから切り出されたメモリチップが複数実装されたモジュール基 板を備えたメモリシステムにおいて、  1. In a memory system provided with a module substrate on which a plurality of memory chips cut out from a semiconductor wafer are mounted,
前記モジュール基板に対して入出力されるデ一夕入出力信号の数を切り換える 信号選択回路を前記モジュール基板上に設けたことを特徴とするメモリシステム  A memory system, wherein a signal selection circuit for switching the number of data input / output signals input / output to / from the module substrate is provided on the module substrate.
2 . 前記信号選択回路から出力されるデータ入出力信号の本数は、 少なくとも 4 本、 8本および 1 6本のいずれかであることを特徴とする請求の範囲第 1項記載 のメモリシステム。 2. The memory system according to claim 1, wherein the number of data input / output signals output from the signal selection circuit is at least one of four, eight, and sixteen.
3 . 前記信号選択回路は、 選択されるデータ入出力信号の数に応じて、 前記メモ リチップが有する少なくとも一部の制御端子に入力される信号を切り換えること を特徴とする請求の範囲第 1項記載のメモリシステム。  3. The signal selection circuit according to claim 1, wherein the signal selection circuit switches signals input to at least some control terminals of the memory chip according to the number of selected data input / output signals. A memory system as described.
4 . 半導体ウェハから切り出されたメモリチップが複数実装されたモジュール基 板と、  4. A module substrate on which a plurality of memory chips cut from a semiconductor wafer are mounted,
このモジュール基板が少なくとも 1つ実装されたメイン基板とを備え、 前記モジュール基板と前記メイン基板との間では、 前記モジュール基板に実装 された前記メモリチップのそれぞれが有するデ一夕入出力信号のすべてが送受さ れ、 これらデ一夕入出力信号の少なくとも一部をまとめる信号選択回路を前記メ ィン基板上に設けたことを特徴とするメモリシステム。  A main board on which at least one module board is mounted; and between the module board and the main board, all of the data input / output signals of each of the memory chips mounted on the module board are provided. And a signal selection circuit for integrating at least a part of these input / output signals is provided on the main substrate.
5 . 前記信号選択回路から出力されるデータ入出力信号の本数は、 少なくとも 4 本、 8本および 1 6本のいずれかであることを特徴とする請求の範囲第 4項記載 のメモリシステム。  5. The memory system according to claim 4, wherein the number of data input / output signals output from said signal selection circuit is at least one of four, eight, and sixteen.
6 . 前記信号選択回路は、 選択されるデータ入出力信号の数に応じて、 前記メモ リチップが有する少なくとも一部の制御端子に入力される信号を切り換えること を特徴とする請求の範囲第 4項記載のメモリシステム。  6. The signal selection circuit according to claim 4, wherein the signal selection circuit switches signals input to at least some control terminals of the memory chip according to the number of selected data input / output signals. A memory system as described.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10125911A1 (en) * 2001-05-28 2002-12-12 Infineon Technologies Ag Testing of proprietary or manufacturer memory modules with a device that allows such modules to be tested with a standard system board, thus considerably lowering testing costs
JP2009200101A (en) * 2008-02-19 2009-09-03 Liquid Design Systems:Kk Semiconductor chip and semiconductor device

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01277946A (en) * 1988-04-30 1989-11-08 Oki Electric Ind Co Ltd Word length variable storage device
JPH02310644A (en) * 1989-05-25 1990-12-26 Fanuc Ltd Memory module
JPH0465738A (en) * 1990-07-05 1992-03-02 Koufu Nippon Denki Kk Memory device

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01277946A (en) * 1988-04-30 1989-11-08 Oki Electric Ind Co Ltd Word length variable storage device
JPH02310644A (en) * 1989-05-25 1990-12-26 Fanuc Ltd Memory module
JPH0465738A (en) * 1990-07-05 1992-03-02 Koufu Nippon Denki Kk Memory device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10125911A1 (en) * 2001-05-28 2002-12-12 Infineon Technologies Ag Testing of proprietary or manufacturer memory modules with a device that allows such modules to be tested with a standard system board, thus considerably lowering testing costs
JP2009200101A (en) * 2008-02-19 2009-09-03 Liquid Design Systems:Kk Semiconductor chip and semiconductor device

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