JPH10284682A - Memory module - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、メモリ基板やマザ
ーボード等に実装可能であり、複数のメモリチップが実
装されたメモリモジュールに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a memory module that can be mounted on a memory board, a motherboard, or the like, and has a plurality of memory chips mounted thereon.
【0002】[0002]
【従来の技術】パッケージングされたメモリICをメモ
リ基板やマザーボードなどに実装すると、パッケージの
外形寸法によって実装可能なメモリICの数が制限され
てしまう。メモリ基板等の実装密度を上げるためには、
パッケージングされていないメモリチップを実装すれば
よく、最近CPUなどの実装に用いられるようになった
COB実装技術やフリップチップ実装技術を利用すれ
ば、ベアのメモリチップをメモリ基板等に実装すること
も可能である。2. Description of the Related Art When a packaged memory IC is mounted on a memory substrate, a motherboard, or the like, the number of memory ICs that can be mounted is limited by the external dimensions of the package. To increase the mounting density of memory boards, etc.,
It is sufficient to mount an unpackaged memory chip, and if a COB mounting technology or a flip chip mounting technology that has recently been used for mounting a CPU or the like is used, a bare memory chip can be mounted on a memory substrate or the like. Is also possible.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ベアの
メモリチップを基板上に直接実装すると、例えばCOB
(Chip On Board )実装したりフリップチップ実装する
と、何れかのメモリチップに不具合があった場合のリペ
ア作業が容易ではない。また、各メモリチップ間の共通
端子等を基板上で配線することになるため、基板内の配
線量が増加し、このため、基板の層数を増やしたり、配
線パターンの幅をできるだけ細くして配線密度を上げる
などの手段を講じる必要が生じる。また、基板内の配線
量が増えると、それに応じて迂回路を通る配線が増える
ため、配線長が一般に長くなるとともに各配線パターン
において配線遅延量が異なる場合が生じる。特に、最近
のコンピュータ機器は、50MHz以上の速い速度でメモ
リの読み書きを行うことが多く、わずかな配線遅延量の
相違が誤動作の原因になるおそれがある。基板内の各配
線パターンの配線遅延量、すなわち信号の遅延時間にば
らつきが生じると、アドレスバスなどの相互に関連性の
高い信号間でタイミングのずれが起こる可能性もある。However, when a bare memory chip is directly mounted on a substrate, for example, COB
(Chip On Board) When mounted or flip-chip mounted, repair work is not easy if any memory chip has a defect. In addition, since common terminals and the like between each memory chip are wired on the substrate, the amount of wiring in the substrate increases. Therefore, the number of layers of the substrate is increased, and the width of the wiring pattern is reduced as much as possible. It is necessary to take measures such as increasing the wiring density. Further, as the amount of wiring in the substrate increases, the number of wirings passing through the detour increases accordingly, so that the wiring length generally becomes longer and the wiring delay amount differs in each wiring pattern. In particular, recent computer equipment often reads and writes to and from a memory at a high speed of 50 MHz or more, and a slight difference in the amount of wiring delay may cause malfunction. If the wiring delay amount of each wiring pattern in the substrate, that is, the signal delay time varies, there is a possibility that a timing shift may occur between signals having high mutual relations such as an address bus.
【0004】本発明は、このような点に鑑みて創作され
たものであり、その目的は、複数のメモリチップをモジ
ュール基板上に実装するとともに各配線の遅延時間をほ
ぼ一定にしたメモリモジュールを提供することにある。[0004] The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a memory module in which a plurality of memory chips are mounted on a module substrate and the delay time of each wiring is made substantially constant. To provide.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、本発明においては、メモリチップ上の各パッド
とモジュール基板の対応する外部接続端子との間の配線
遅延量がほぼ等しくなるように配線が行われており、各
メモリチップに入出力される信号のタイミングを合わせ
ることができ、例えばメモリチップを高速度で動作させ
ても、誤動作のおそれがなくなる。具体的には、モジュ
ール基板の外部接続端子からメモリチップのパッドまで
の配線の長さが各配線間でほぼ同じになるようにするこ
とで、各配線遅延量をほぼ等しくすることができる。In order to solve the above-mentioned problems, according to the present invention, the amount of wiring delay between each pad on a memory chip and a corresponding external connection terminal on a module substrate is made substantially equal. In this case, the timing of signals input to and output from each memory chip can be adjusted, and even if the memory chip is operated at a high speed, there is no possibility of malfunction. Specifically, by setting the length of the wiring from the external connection terminal of the module substrate to the pad of the memory chip to be substantially the same between the wirings, it is possible to make the wiring delay amounts substantially equal.
【0006】特に、メモリチップとモジュール基板とを
ボンディングワイヤを用いて接続する場合には、メモリ
チップ上のパッドとモジュール基板上のパッドとを接続
するボンディングワイヤの配線遅延量と、モジュール基
板上のパッドと外部接続端子とを接続する配線パターン
の配線遅延量との合計量がほぼ同じに設定されており、
仮にボンディングワイヤの長さにばらつきがあっても、
各メモリチップに入出力される信号のタイミングを合わ
せることができる。In particular, when a memory chip and a module substrate are connected by using bonding wires, a wiring delay amount of a bonding wire connecting a pad on the memory chip and a pad on the module substrate and a wiring delay amount on the module substrate are reduced. The total amount of the wiring delay amount of the wiring pattern connecting the pad and the external connection terminal is set to be substantially the same,
Even if the bonding wire length varies,
The timing of signals input to and output from each memory chip can be matched.
【0007】この場合において、モジュール基板上に形
成されたパッド列の両側にほぼ対称となるようにメモリ
チップを同じ向きに配置することにより、ボンディング
ワイヤの長さを等しくするのが容易になる。In this case, by arranging the memory chips in the same direction so as to be substantially symmetrical on both sides of the pad row formed on the module substrate, it becomes easy to make the lengths of the bonding wires equal.
【0008】また、一般にモジュール基板上の配線量が
増えると、各配線パターンの配線遅延量が異なってくる
が、この場合には、配線パターンの長さおよび太さ
(幅)のいずれか一方あるいは両方を調整することによ
り配線遅延量を調整することができる。例えば、配線パ
ターンを太くすることにより配線遅延量を少なくし、反
対に配線パターンを細くすることにより配線遅延量を多
くする。あるいは、配線パターンの一部に例えば蛇行形
状の迂回路を形成することにより、配線パターンの長さ
を調整して、各配線パターン間の配線遅延量をほぼ一定
にすることもできる。In general, when the amount of wiring on a module substrate increases, the amount of wiring delay of each wiring pattern differs. In this case, either one of the length and thickness (width) of the wiring pattern or By adjusting both, the wiring delay amount can be adjusted. For example, the amount of wiring delay is reduced by making the wiring pattern thicker, and the amount of wiring delay is increased by making the wiring pattern thinner. Alternatively, by forming, for example, a meandering detour in a part of the wiring pattern, the length of the wiring pattern can be adjusted to make the amount of wiring delay between the wiring patterns substantially constant.
【0009】[0009]
【発明の実施の形態】以下、本発明を適用したメモリモ
ジュールについて、図面を参照しながら具体的に説明す
る。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a memory module to which the present invention is applied will be specifically described with reference to the drawings.
【0010】図1は本実施形態のメモリモジュールの概
略を示す平面図、図2は図1のA−A′線断面図であ
る。同図に示すように、メモリモジュール10は、半導
体ウエハから個別に切り出した4個のメモリ用ベアチッ
プ1をモジュール基板2上にCOB実装したものであ
る。各メモリ用ベアチップ1は、例えば4M×4ビット
のメモリ容量を有するDRAMであり、いずれのメモリ
用ベアチップ1も長方形形状をしており、その長辺に沿
った中央に一列に並んだ複数のパッド3が形成されてい
る。FIG. 1 is a plan view schematically showing a memory module according to the present embodiment, and FIG. 2 is a sectional view taken along line AA 'of FIG. As shown in FIG. 1, a memory module 10 is obtained by mounting four memory bare chips 1 individually cut out from a semiconductor wafer on a module substrate 2 by COB. Each memory bare chip 1 is a DRAM having a memory capacity of, for example, 4M × 4 bits. Each of the memory bare chips 1 has a rectangular shape, and a plurality of pads arranged in a line at a center along a long side thereof. 3 are formed.
【0011】一方、モジュール基板2は、例えばSO−
DIMM(Small Outline Dual Inline Memory Module
)基板に実装可能な外形寸法を有しており、モジュー
ル基板2の中央付近には長手方向に沿ってほぼ一列にパ
ッド4が形成されている。これらパッド4を挟んで両側
に2個ずつメモリ用ベアチップ1が実装され、モジュー
ル基板2上のパッド4の並ぶ方向と各メモリ用ベアチッ
プ1上のパッド3の並ぶ方向はほぼ平行になっている。On the other hand, the module substrate 2 is made of, for example, SO-
DIMM (Small Outline Dual Inline Memory Module)
The pads 4 have external dimensions that can be mounted on a board, and the pads 4 are formed in a line near the center of the module board 2 along the longitudinal direction. Two memory bare chips 1 are mounted on both sides of these pads 4, and the direction in which the pads 4 on the module substrate 2 are arranged is almost parallel to the direction in which the pads 3 on each memory bare chip 1 are arranged.
【0012】モジュール基板2上のパッド4とメモリ用
ベアチップ1上のパッド3はそれぞれボンディングワイ
ヤ5により接続されている。パッド4には、ボンディン
グワイヤ5が2本接続されたものと1本接続されたもの
がある。メモリ用ベアチップ1のアドレス端子など、複
数のメモリ用ベアチップ1に共通に接続される端子につ
いては、モジュール基板2上のパッド4に複数のボンデ
ィングワイヤ5を接続することで、パッド4の共有化を
図っている。これにより、メモリ用ベアチップ1上のパ
ッド3の総数よりもパッド4の数を減らすことができ、
モジュール基板2内の配線量も軽減できる。The pads 4 on the module substrate 2 and the pads 3 on the memory bare chip 1 are connected by bonding wires 5, respectively. The pad 4 includes a pad to which two bonding wires 5 are connected and a pad to which one bonding wire is connected. For terminals commonly connected to a plurality of memory bare chips 1 such as address terminals of the memory bare chip 1, the pads 4 can be shared by connecting a plurality of bonding wires 5 to the pads 4 on the module substrate 2. I'm trying. As a result, the number of pads 4 can be reduced from the total number of pads 3 on the memory bare chip 1,
The amount of wiring in the module substrate 2 can also be reduced.
【0013】ところで、モジュール基板2のパッド4を
挟んで配置される2個のメモリ用ベアチップ1は、同じ
構成を有しており、しかもその配置方向も一致させてあ
るため、各メモリ用ベアチップ1の中央に形成された複
数のパッド3が並ぶ順番は、隣接した2個のメモリ用ベ
アチップ1において同じとなる。したがって、上述した
ように、モジュール基板2の中央に形成された複数のパ
ッド4の一部を2個のメモリ用ベアチップ1に対応させ
て共用化することができる。また、上述したように、メ
モリ用ベアチップ1の中央にパッド3が形成されている
ため、隣接した2個のメモリ用ベアチップ1のパッド3
とモジュール基板2の中央のパッド4とをボンディング
ワイヤ5で接続する場合であっても、2個のメモリ用ベ
アチップ1から引き出される各ボンディングワイヤ5の
長さをほぼ等しくすることができる。Incidentally, the two memory bare chips 1 arranged with the pad 4 of the module substrate 2 interposed therebetween have the same configuration, and their arrangement directions are also matched, so that each memory bare chip 1 The order in which the plurality of pads 3 formed at the center of the memory chip are arranged is the same in two adjacent memory bare chips 1. Therefore, as described above, a part of the plurality of pads 4 formed at the center of the module substrate 2 can be shared corresponding to the two memory bare chips 1. Further, as described above, since the pad 3 is formed at the center of the memory bare chip 1, the pad 3 of the two adjacent memory bare chips 1 is formed.
Even in the case where the bonding wire 5 is connected to the center pad 4 of the module substrate 2 by the bonding wire 5, the length of each bonding wire 5 pulled out from the two memory bare chips 1 can be made substantially equal.
【0014】また、モジュール基板2の外側面には、凹
部形状に形成された複数の外部接続端子8が設けられ、
これら外部接続端子8は配線パターン9を介してモジュ
ール基板2の中央にほぼ一列に並んだパッド4と電気的
に導通している。モジュール基板2上の複数のパッド4
は、モジュール基板2上の中央部にほぼ一列に形成され
ており、各パッド4と対応する外部接続端子8とはそれ
それの長さがほぼ一定に設定された配線パターン9によ
って接続されている。A plurality of external connection terminals 8 formed in a concave shape are provided on the outer surface of the module substrate 2.
These external connection terminals 8 are electrically connected to the pads 4 arranged substantially in a line at the center of the module substrate 2 via the wiring pattern 9. A plurality of pads 4 on the module substrate 2
Are formed substantially in a line at the center on the module substrate 2, and each pad 4 and the corresponding external connection terminal 8 are connected by a wiring pattern 9 having a substantially constant length. .
【0015】このように、本実施形態のメモリモジュー
ル10は、モジュール基板2上のボンディングワイヤ5
の長さをほぼ等しくするとともに、各ボンディングワイ
ヤ5に接続される配線パターンの長さもほぼ等しくして
いるため、メモリ用ベアチップ1上のパッド3から外部
接続端子8までの配線遅延量のばらつきをなくせる。し
たがって、各メモリ用ベアチップ1に入出力される信号
のタイミングを合わせることができる。As described above, the memory module 10 of the present embodiment has the bonding wires 5 on the module substrate 2.
And the length of the wiring pattern connected to each bonding wire 5 is also substantially equal, so that the variation in the wiring delay amount from the pad 3 on the memory bare chip 1 to the external connection terminal 8 is reduced. Can be lost. Therefore, the timing of signals input to and output from each memory bare chip 1 can be matched.
【0016】本実施形態のメモリモジュール10は、図
2に示すように、ワイヤボンディングされたメモリ用ベ
アチップ1の上面を樹脂6で覆って断線等の防止を図っ
ている。メモリモジュール10の高さをできるだけ低く
するため、モジュール基板2の外周近傍に封止枠7を設
け、この封止枠7の内側に樹脂6を流し込んでいる。な
お、封止枠7を設けずに、直接樹脂層を形成したり、ト
ランスファーモールド法により樹脂層を形成するように
してもよい。As shown in FIG. 2, in the memory module 10 of the present embodiment, the upper surface of the wire-bonded memory bare chip 1 is covered with a resin 6 to prevent disconnection or the like. In order to make the height of the memory module 10 as low as possible, a sealing frame 7 is provided near the outer periphery of the module substrate 2, and the resin 6 is poured inside the sealing frame 7. Note that the resin layer may be directly formed without providing the sealing frame 7, or the resin layer may be formed by a transfer molding method.
【0017】図3は、図1に示したメモリモジュール1
0の一部分を示す斜視図である。本実施形態のメモリモ
ジュール10は、いわゆるLCC(Leadless Chip Carr
ier)方式によってSO−DIMM基板などのメイン基
板に実装される。具体的には、外部接続端子8の凹部に
半田を流し込んでメイン基板上に固定される。FIG. 3 shows the memory module 1 shown in FIG.
FIG. The memory module 10 of the present embodiment is a so-called LCC (Leadless Chip Carr
ier) method, and is mounted on a main board such as an SO-DIMM board. Specifically, the solder is poured into the concave portion of the external connection terminal 8 and fixed on the main board.
【0018】このように、外部接続端子8は、通常の半
田付けによりメイン基板に接続される。したがって、メ
モリ用ベアチップをメイン基板上にCOBやフリップチ
ップによって直接実装する場合に比べると、いずれかの
メモリ用ベアチップが不良になったときのリペア(交
換)作業が比較的簡単に行えるという利点もある。As described above, the external connection terminals 8 are connected to the main board by ordinary soldering. Therefore, as compared with the case where the memory bare chip is directly mounted on the main board by the COB or the flip chip, the repair (replacement) operation when any one of the memory bare chips becomes defective can be relatively easily performed. is there.
【0019】また、本実施形態のメモリモジュール10
は、半導体ウエハ上に形成されたメモリ用ベアチップ1
を切り出して、パッケージングすることなくモジュール
基板2に実装するため、小さな面積のモジュール基板2
に複数個(例えば4個)のメモリ用ベアチップ1を無理
なく実装できる。したがって、このメモリモジュール1
0をメイン基板等に実装した場合の実装密度を高めるこ
とができる。The memory module 10 of the present embodiment
Is a memory bare chip 1 formed on a semiconductor wafer.
Is cut out and mounted on the module substrate 2 without packaging.
(For example, four) memory bare chips 1 can be mounted without difficulty. Therefore, this memory module 1
0 can be mounted on a main board or the like to increase the mounting density.
【0020】図4は図1に示したメモリモジュール10
の回路図である。この図では、簡略化のため、電源端子
や接地端子など一部の端子を省略している。同図に示す
ように、各メモリ用ベアチップ1が有する端子のうち一
部の端子については、すべてのメモリ用ベアチップ1に
共通に接続されている。具体的には、各メモリ用ベアチ
ップのアドレス端子A0 〜A10はそれぞれ外部接続端子
ADR0 〜ADR10に共通に接続され、制御端子RAS
は外部接続端子REに、制御端子WEは外部接続端子W
Eに、制御端子OEは外部接続端子OEにそれぞれ共通
に接続されている。一方、データ端子I/O0 〜I/O
3 はそれぞれ別個に外部接続端子D0 〜D15と接続され
ている。また、制御端子CASは、2個のメモリ用ベア
チップ1を組にして外部接続端子CE0、CE1に接続
されている。FIG. 4 shows the memory module 10 shown in FIG.
FIG. In this figure, some terminals such as a power supply terminal and a ground terminal are omitted for simplification. As shown in the figure, some of the terminals of each memory bare chip 1 are commonly connected to all the memory bare chips 1. Specifically, address terminals A0 to A10 of each memory bare chip are commonly connected to external connection terminals ADR0 to ADR10, respectively, and a control terminal RAS
Is the external connection terminal RE, and the control terminal WE is the external connection terminal W
E, the control terminal OE is commonly connected to the external connection terminal OE. On the other hand, data terminals I / O0 to I / O
3 are separately connected to external connection terminals D0 to D15. The control terminal CAS is connected to the external connection terminals CE0 and CE1 as a set of two memory bare chips 1.
【0021】図5はモジュール基板2のパターンレイア
ウトを示す図であり、図示の斜線部が配線パターンを、
図示の点線がメモリ用ベアチップ1の実装位置を示して
いる。モジュール基板2は、例えば4層のプリント配線
板で構成され、最上層と最下層には接地用のベタパター
ン21が形成されている。FIG. 5 is a diagram showing a pattern layout of the module substrate 2, wherein the hatched portions in FIG.
The dotted line in the figure indicates the mounting position of the memory bare chip 1. The module substrate 2 is formed of, for example, a four-layer printed wiring board, and a solid pattern 21 for grounding is formed on the uppermost layer and the lowermost layer.
【0022】図5は、最上層のパターンレイアウトを示
しており、最上層の中央部には、長手方向にほぼ一列に
パッド4が形成されており、これら一列に並んだ複数の
パッド4の両側に接地用のベタパターン21が形成され
ている。また、各パッド4にはそれぞれ配線パターン2
2が接続され、これら配線パターン22の他端は一部を
除いてスルーホール23に接続されている。スルーホー
ル23は、内層のパターンあるいは最下層のパターンに
接続され、これら各層のパターンはそれぞれ外部接続端
子8と接続されている。また、各パッド4から外部接続
端子8までの配線長はほぼ等しく設定されており、信号
遅延量がばらつかないようになっている。さらに、アド
レス端子や制御端子などの複数のメモリ用ベアチップ1
に共通に接続される端子については、対応する複数のパ
ッドが配線パターン22で互いに接続されている。FIG. 5 shows a pattern layout of the uppermost layer. In the center of the uppermost layer, pads 4 are formed in substantially one line in the longitudinal direction, and both sides of the plurality of pads 4 arranged in one line are formed. Is formed with a solid pattern 21 for grounding. Each pad 4 has a wiring pattern 2
2 are connected, and the other ends of the wiring patterns 22 are connected to the through holes 23 except for a part. The through hole 23 is connected to an inner layer pattern or a lowermost layer pattern, and each of these layer patterns is connected to the external connection terminal 8. The wiring lengths from the pads 4 to the external connection terminals 8 are set to be substantially equal, so that the signal delay amount does not vary. Further, a plurality of memory bare chips 1 such as address terminals and control terminals are provided.
Are connected to each other by a wiring pattern 22.
【0023】このように、本実施形態のメモリモジュー
ル10は、各メモリ用ベアチップ1間の配線をモジュー
ル基板2上で行うため、メモリモジュール10が実装さ
れるメイン基板の配線量を減らすことができる。また、
異なるピン配置のメモリ用ベアチップ1をモジュール基
板2に実装する場合でも、モジュール基板2内の配線を
変えれば、特にモジュール基板2の外部接続端子8の配
置を変える必要がなく、メイン基板の配線も一切変更し
なくて済む。したがって、ピン配置の異なる他のメモリ
用ベアチップへの置き換えを簡易かつ低コストで行うこ
とができる。反対に、メモリモジュール10の外部接続
端子8の配置を変える必要が生じた場合であっても、メ
モリ用ベアチップ1は変更せずに、モジュール基板2内
の配線のみを変えればよいため、1種類のメモリ用ベア
チップ1を異なるメモリモジュールで共通に使用するこ
とができ、共用化によるコストダウンを図ることができ
る。As described above, in the memory module 10 of the present embodiment, since the wiring between the memory bare chips 1 is performed on the module substrate 2, the wiring amount of the main substrate on which the memory module 10 is mounted can be reduced. . Also,
Even when the memory bare chip 1 having a different pin arrangement is mounted on the module substrate 2, if the wiring in the module substrate 2 is changed, it is not particularly necessary to change the arrangement of the external connection terminals 8 of the module substrate 2, and the wiring of the main substrate is also reduced. No changes are required. Therefore, replacement with another memory bare chip having a different pin arrangement can be performed easily and at low cost. Conversely, even when the arrangement of the external connection terminals 8 of the memory module 10 needs to be changed, only the wiring in the module substrate 2 needs to be changed without changing the memory bare chip 1. The memory bare chip 1 can be commonly used by different memory modules, and the cost can be reduced by sharing.
【0024】図6は本実施形態のメモリモジュール10
をSO−DIMM基板11に実装した例を示す平面図で
あり、図6(a)はSO−DIMM基板11の一方の面
を、図6(b)は他方の面をそれぞれ示している。同図
に示すSO−DIMM基板11には、両方の面にそれぞ
れ2個ずつメモリモジュール10が実装されており、各
メモリモジュール10に対して2個ずつノイズ防止用の
コンデンサ(以下、パスコンと呼ぶ)12が設けられて
いる。また、一方の面には、各メモリ用ベアチップ1の
チェック等を行うためのコントローラ13が実装されて
いる。各メモリモジュール10は、前述したLCC方式
により実装され、パスコン12とコントローラ13はS
MT(Surface Mount Technology)方式により実装され
る。FIG. 6 shows a memory module 10 according to this embodiment.
FIG. 6A is a plan view showing an example in which is mounted on the SO-DIMM substrate 11, FIG. 6A shows one surface of the SO-DIMM substrate 11, and FIG. 6B shows the other surface. Two memory modules 10 are mounted on both sides of the SO-DIMM board 11 shown in FIG. 1, and two capacitors for preventing noise (hereinafter referred to as decaps) are provided for each memory module 10. ) 12 are provided. On one surface, a controller 13 for checking each memory bare chip 1 and the like is mounted. Each memory module 10 is mounted by the LCC method described above, and the bypass capacitor 12 and the controller 13
It is mounted by MT (Surface Mount Technology) method.
【0025】図6のSO−DIMM基板は、片側8個で
計16個のメモリICを実装したことと同じ結果にな
り、例えば、メモリモジュール10を構成するメモリ用
ベアチップ1がそれぞれ4M×4ビットのDRAMであ
る場合には、各メモリモジュール10のメモリ容量は8
Mbyteで、SO−DIMM全体のメモリ容量は32Mバ
イトになる。The SO-DIMM board shown in FIG. 6 has the same result as mounting a total of 16 memory ICs, 8 on each side. For example, each of the memory bare chips 1 constituting the memory module 10 is 4M × 4 bits. , The memory capacity of each memory module 10 is 8
With Mbytes, the total memory capacity of the SO-DIMM is 32 Mbytes.
【0026】図1に示したメモリモジュール10は、メ
モリ用ベアチップ1上のパッド3から外部接続端子8ま
での配線長をほぼ等しくして各信号のタイミングのばら
つきを抑えているが、モジュール基板2の面積が小さい
場合や、モジュール基板2に実装されるメモリ用ベアチ
ップ1の数が多い場合には、必ずしもすべての配線の配
線長をほぼ等しくすることはできない。したがって、そ
の場合には、メモリ用ベアチップ1を実装するメイン基
板(例えば、SO−DIMM基板など)側で調整すれば
よい。すなわち、メモリ用ベアチップ1の各パッド3か
らメイン基板のコネクタまでの配線遅延量がほぼ等しく
なるようにモジュール基板2とメイン基板に配線パター
ンを形成すればよい。In the memory module 10 shown in FIG. 1, the wiring length from the pad 3 on the memory bare chip 1 to the external connection terminal 8 is substantially equal to suppress the variation in the timing of each signal. Is small, or when the number of memory bare chips 1 mounted on the module substrate 2 is large, the wiring lengths of all the wirings cannot necessarily be made substantially equal. Therefore, in that case, adjustment may be made on the main board (for example, SO-DIMM board or the like) side on which the memory bare chip 1 is mounted. That is, a wiring pattern may be formed on the module substrate 2 and the main substrate so that the wiring delay amounts from each pad 3 of the memory bare chip 1 to the connector of the main substrate are substantially equal.
【0027】上述した実施形態では、モジュール基板2
上に複数のメモリ用ベアチップをCOB実装する例を説
明したが、COB実装の代わりに、ガラス基板上にチッ
プを実装するいわゆるCOG(Chip On Glass )実装
や、フィルム上にチップを実装するCOF(Chip On Fi
lm)実装を行ってもよく、モジュール基板2の材質は必
要に応じて適宜変更可能である。In the above embodiment, the module substrate 2
An example in which a plurality of memory bare chips are mounted on a COB has been described above. Instead of the COB mounting, a so-called COG (Chip On Glass) mounting in which a chip is mounted on a glass substrate or a COF (COF) in which a chip is mounted on film Chip On Fi
lm) Mounting may be performed, and the material of the module substrate 2 may be appropriately changed as necessary.
【0028】また、ボンディングワイヤ5を用いてメモ
リ用ベアチップ1をモジュール基板2に実装する代わり
に、半田ボールや金ボールなどのバンプを用いてメモリ
用ベアチップ1をモジュール基板2上にフリップチップ
実装してもよい。フリップチップ実装を行う場合には、
図7に示すように、メモリ用ベアチップ1のパッド3と
同間隔でモジュール基板2上にパッド4′を形成すれば
よい。Instead of mounting the memory bare chip 1 on the module substrate 2 using the bonding wires 5, the memory bare chip 1 is flip-chip mounted on the module substrate 2 using bumps such as solder balls and gold balls. You may. When performing flip chip mounting,
As shown in FIG. 7, pads 4 'may be formed on the module substrate 2 at the same intervals as the pads 3 of the bare chip 1 for memory.
【0029】また、上述した実施形態では、完成したメ
モリモジュール10をLCC方式によってSO−DIM
M等のメイン基板に実装する例を説明したが、半田ボー
ル等のバンプを用いたBGA(Ball Grid Array )方式
による実装を行うようにしてもよい。In the above-described embodiment, the completed memory module 10 is connected to the SO-DIM by the LCC method.
Although an example of mounting on a main substrate such as M has been described, mounting may be performed by a BGA (Ball Grid Array) method using bumps such as solder balls.
【0030】また、モジュール基板2上に実装されるメ
モリ用ベアチップ1の数は4個に限定されず、2個以上
であれば特に制限はない。ただし、通常のコンピュータ
機器は、メモリ容量を4の倍数に設定することが多いた
め、モジュール基板に実装するメモリ用ベアチップ1の
数も偶数個が望ましい。The number of memory bare chips 1 mounted on the module substrate 2 is not limited to four, and there is no particular limitation as long as it is two or more. However, in ordinary computer equipment, the memory capacity is often set to a multiple of 4, and therefore, it is desirable that the number of memory bare chips 1 mounted on the module substrate be an even number.
【0031】なお、モジュール基板2上に実装されるメ
モリ用ベアチップ1の数が多い場合には、モジュール基
板2内の配線量が多くなることから、各配線パターンの
長さを一致させることが困難になる。したがって、この
ような場合は、配線パターンの太さ(一般には配線パタ
ーンの厚みはほぼ一定であるため配線パターンの幅)を
調整することで、各配線パターンの配線遅延量をほぼ等
しくすればよい。あるいは、配線パターンの一部を折り
返したり蛇行させたりした迂回部分を設けて長さを調整
してもよい。When the number of memory bare chips 1 mounted on the module substrate 2 is large, the amount of wiring in the module substrate 2 is large, so that it is difficult to make the lengths of the wiring patterns coincide. become. Therefore, in such a case, by adjusting the thickness of the wiring pattern (in general, the width of the wiring pattern because the thickness of the wiring pattern is substantially constant), the wiring delay amounts of the respective wiring patterns may be made substantially equal. . Alternatively, the length may be adjusted by providing a detour portion in which a part of the wiring pattern is folded or meandered.
【0032】図8〜図17は、メモリモジュールの変形
例を示す図である。図8に示すように、モジュール基板
2の中央に一列に形成されたパッド4に対して、両側に
配置されたメモリ用ベアチップ1から交互にボンディン
グワイヤ5を引き出すようにしてもよい。あるいは、図
9に示すように複数本を単位として交互にボンディング
ワイヤ5を引き出したり、図10に示すようにモジュー
ル基板2に形成された二列以上(同図では二列)のパッ
ド4に対してボンディングワイヤ5を接続するようにし
てもよい。FIGS. 8 to 17 show modified examples of the memory module. As shown in FIG. 8, the bonding wires 5 may be alternately drawn from the memory bare chips 1 arranged on both sides of the pads 4 formed in a line in the center of the module substrate 2. Alternatively, as shown in FIG. 9, the bonding wires 5 are alternately drawn in units of plural wires, or as shown in FIG. 10, two or more rows (two rows in FIG. 9) of pads 4 formed on the module substrate 2 are provided. Alternatively, the bonding wires 5 may be connected to each other.
【0033】また、図11や図12に示すように、メモ
リ用ベアチップ1の長辺に沿って二列にパッド3を形成
し、各メモリ用ベアチップ1の両側にボンディングワイ
ヤ5を引き出したり、図13〜図16に示すように、メ
モリ用ベアチップ1の短辺に沿って二列にパッド3を形
成し、各メモリ用ベアチップ1の両側にボンディングワ
イヤ5を引き出すようにしてもよい。また、図17に示
すように、2個のメモリ用ベアチップ1を用いてメモリ
モジュールを構成してもよい。As shown in FIGS. 11 and 12, pads 3 are formed in two rows along the long side of the memory bare chip 1, and the bonding wires 5 are drawn out on both sides of each memory bare chip 1. As shown in FIGS. 13 to 16, the pads 3 may be formed in two rows along the short side of the memory bare chip 1, and the bonding wires 5 may be drawn out on both sides of each memory bare chip 1. Further, as shown in FIG. 17, a memory module may be configured by using two memory bare chips 1.
【0034】また、図14に示したようなメモリ用ベア
チップを用いてフリップチップ実装を行う場合には、取
り付け状態が不安定になるおそれがあるため、図18
(a)あるいは(b)に示すように、各メモリ用ベアチ
ップの短辺に近い位置に数個のパッドを形成することが
望ましい。また、メモリ用ベアチップ上に一列にパッド
3を形成する場合には、一直線上に形成する場合の他
に、図19に示すように、階段状に一列に形成するよう
にしてもよい。When flip-chip mounting is performed using a memory bare chip as shown in FIG. 14, the mounting state may be unstable.
As shown in (a) or (b), it is desirable to form several pads near the short side of each bare chip for memory. When the pads 3 are formed in a line on the memory bare chip, the pads 3 may be formed in a stepwise manner as shown in FIG.
【0035】上述した実施形態では、モジュール基板2
にDRAMを実装する例を説明したが、SRAMやフラ
ッシュROM等の他の種類のメモリ用ベアチップ1を実
装することも可能である。In the above embodiment, the module substrate 2
Although an example in which a DRAM is mounted on the memory device is described above, it is also possible to mount another type of memory bare chip 1 such as an SRAM or a flash ROM.
【0036】[0036]
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、モジュール基板上の外部接続端子からメモリチッ
プ上のパッドまでの配線遅延量がほぼ等しくなるように
外部接続端子とパッドとをモジュール基板上で配線した
ため、メモリチップに入出力される信号のタイミングを
合わせることができ、配線遅延による各信号間のタイミ
ングのずれをなくすことができる。したがって、モジュ
ール基板上の複数のメモリチップを高速度で動作させて
も、誤動作を起こさなくなる。As described above in detail, according to the present invention, the external connection terminal and the pad are connected so that the wiring delay from the external connection terminal on the module substrate to the pad on the memory chip becomes substantially equal. Since the wiring is performed on the module substrate, the timing of signals input to and output from the memory chip can be matched, and the timing shift between signals due to wiring delay can be eliminated. Therefore, even if a plurality of memory chips on the module substrate are operated at a high speed, no malfunction occurs.
【図1】本実施形態のメモリモジュールの概略を示す平
面図である。FIG. 1 is a plan view schematically showing a memory module according to an embodiment.
【図2】図1のA−A′線断面図である。FIG. 2 is a sectional view taken along line AA ′ of FIG.
【図3】図1に示したメモリモジュールの一部分を示す
斜視図である。FIG. 3 is a perspective view showing a part of the memory module shown in FIG. 1;
【図4】図1に示したメモリモジュールの回路図であ
る。FIG. 4 is a circuit diagram of the memory module shown in FIG. 1;
【図5】モジュール基板のパターンレイアウトを示す図
である。FIG. 5 is a diagram showing a pattern layout of a module substrate.
【図6】本実施形態のメモリモジュールをSO−DIM
M基板に実装した例を示す平面図である。FIG. 6 shows a memory module according to the present embodiment being SO-DIM.
It is a top view which shows the example mounted on the M board.
【図7】フリップチップ実装時のモジュール基板上のパ
ッド形成図である。FIG. 7 is a diagram illustrating pad formation on a module substrate during flip-chip mounting.
【図8】メモリモジュールの変形例を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing a modification of the memory module.
【図9】メモリモジュールの他の変形例を示す図であ
る。FIG. 9 is a diagram showing another modified example of the memory module.
【図10】メモリモジュールの他の変形例を示す図であ
る。FIG. 10 is a diagram showing another modification of the memory module.
【図11】メモリモジュールの他の変形例を示す図であ
る。FIG. 11 is a diagram showing another modified example of the memory module.
【図12】メモリモジュールの他の変形例を示す図であ
る。FIG. 12 is a diagram showing another modification of the memory module.
【図13】メモリモジュールの他の変形例を示す図であ
る。FIG. 13 is a diagram showing another modification of the memory module.
【図14】メモリモジュールの他の変形例を示す図であ
る。FIG. 14 is a diagram showing another modification of the memory module.
【図15】メモリモジュールの他の変形例を示す図であ
る。FIG. 15 is a diagram showing another modified example of the memory module.
【図16】メモリモジュールの他の変形例を示す図であ
る。FIG. 16 is a diagram showing another modification of the memory module.
【図17】メモリモジュールの他の変形例を示す図であ
る。FIG. 17 is a diagram showing another modified example of the memory module.
【図18】メモリ用ベアチップの変形例を示す図であ
る。FIG. 18 is a view showing a modified example of a memory bare chip.
【図19】メモリ用ベアチップの他の変形例を示す図で
ある。FIG. 19 is a view showing another modification of the memory bare chip.
1 メモリ用ベアチップ 2 モジュール基板 3、4 パッド 5 ボンディングワイヤ 6 樹脂 7 封止枠 8 外部接続端子 10 メモリモジュール REFERENCE SIGNS LIST 1 bare chip for memory 2 module substrate 3, 4 pad 5 bonding wire 6 resin 7 sealing frame 8 external connection terminal 10 memory module
Claims (6)
ハから切り出されたメモリチップが複数個実装されたモ
ジュール基板を備え、 前記外部接続端子のそれぞれは、前記メモリチップ上の
パッドに対応して設けられ、 前記外部接続端子のそれぞれから対応する前記パッドま
での配線遅延量がほぼ等しくなるように、前記外部接続
端子と前記パッドとを前記モジュール基板上あるいは前
記モジュール基板内で配線することを特徴とするメモリ
モジュール。A module substrate having a plurality of external connection terminals and a plurality of memory chips cut from a semiconductor wafer mounted thereon, each of the external connection terminals corresponding to a pad on the memory chip; Wiring the external connection terminals and the pads on the module substrate or in the module substrate so that the wiring delay amounts from each of the external connection terminals to the corresponding pad are substantially equal. Characteristic memory module.
での配線の長さをほぼ等しくすることを特徴とするメモ
リモジュール。2. The memory module according to claim 1, wherein the lengths of the wires from each of the external connection terminals to the corresponding pad are substantially equal.
ッドに対応して複数のパッドが形成されており、これら
パッドと前記外部接続端子とはそれぞれ前記モジュール
基板に形成された配線パターンで接続され、前記モジュ
ール基板上のパッドと対応する前記メモリチップ上のパ
ッドとはそれぞれボンディングワイヤで接続され、それ
ぞれの前記外部接続端子から前記ボンディングワイヤと
前記配線パターンとを介して対応する前記パッドに至る
までの配線遅延量をほぼ等しくすることを特徴とするメ
モリモジュール。3. The module board according to claim 1, wherein a plurality of pads are formed on the module substrate in correspondence with the pads on the memory chip, and the pads and the external connection terminals are respectively connected to the pads. The pads on the module board and the corresponding pads on the memory chip are connected by bonding wires, respectively, and the pads on the module substrate are connected by bonding wires, and the bonding wires and the wiring patterns are connected from the respective external connection terminals. A wiring delay amount to reach the corresponding pad via the first and second pads is substantially equal.
るように、前記モジュール基板上に形成された複数の前
記パッドからなるパッド列の両側にほぼ対称に前記メモ
リチップを同じ向きに配置することを特徴とするメモリ
モジュール。4. The memory chip according to claim 3, wherein the memory chips are substantially symmetrically arranged on both sides of a pad row including the plurality of pads formed on the module substrate so that the lengths of the bonding wires are substantially equal to each other. A memory module characterized by being arranged in the same direction.
に接続される前記ボンディングワイヤとを合わせた配線
遅延量がほぼ等しくなるように、それぞれの前記配線パ
ターンの長さおよび太さの少なくとも一方を調整するこ
とを特徴とするメモリモジュール。5. The length of each of the wiring patterns according to claim 3, wherein a wiring delay amount of a wiring pattern of the module substrate and a bonding wire connected to the wiring pattern are substantially equal. A memory module for adjusting at least one of thickness and thickness.
に接続される前記ボンディングワイヤとを合わせた配線
遅延量がほぼ等しくなるように、前記配線パターンの一
部に迂回路を形成することを特徴とするメモリモジュー
ル。6. The wiring pattern according to claim 3, wherein a wiring delay of a wiring pattern of the module substrate and a bonding wire connected to the wiring pattern are substantially equal. A memory module forming a detour.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23540397A JPH10284682A (en) | 1997-02-07 | 1997-08-15 | Memory module |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9-39843 | 1997-02-07 | ||
JP3984397 | 1997-02-07 | ||
JP23540397A JPH10284682A (en) | 1997-02-07 | 1997-08-15 | Memory module |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10284682A true JPH10284682A (en) | 1998-10-23 |
Family
ID=26379254
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23540397A Pending JPH10284682A (en) | 1997-02-07 | 1997-08-15 | Memory module |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10284682A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001042893A1 (en) * | 1999-12-10 | 2001-06-14 | Hitachi, Ltd | Semiconductor module |
-
1997
- 1997-08-15 JP JP23540397A patent/JPH10284682A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001042893A1 (en) * | 1999-12-10 | 2001-06-14 | Hitachi, Ltd | Semiconductor module |
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