WO1992017805A1 - Apparatus for sensing automatic focusing - Google Patents

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WO1992017805A1
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magnification
light
focus
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PCT/JP1992/000393
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Motokazu Yamana
Nobuyuki Nagasawa
Hirokazu Konishi
Yasuteru Takahama
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Olympus Optical Co., Ltd.
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/36Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/24Base structure
    • G02B21/241Devices for focusing

Definitions

  • Magnification detecting means for detecting the magnification of the objective optical system; and calculating means for calculating the contrast of the first and second optical images based on the electric signal from the at least one image sensor.
  • FIG. 10 is a configuration diagram of an automatic focus detection device to which the sixth embodiment of the present invention is applied.
  • switching the focus detection method according to the magnification of the objective lens realizes automatic focus detection corresponding to magnifications from low to high.
  • the optical path is not divided, and the optical image is projected on the light receiving surface of the image sensor 27 so as to have a predetermined focal plane, and the objective lens
  • the relative distance between 2 2 and the observation sample 20 (Fig. 3) and switching to the method of searching for the point at which the focus evaluation level is the maximum it is possible to change the magnification from low to high with a simple configuration. In-focus detection corresponding to various magnifications can be realized.
  • the epi-illumination device 19 is for illuminating the observation sample 20. Stage 21 is moved up and down to focus. The light image reflected from the observation sample 20 is applied to the image sensor 27 via the objective lens 22, prism 23, and imaging lens 24. Projected force ⁇
  • an optical path difference prism 25 that divides the optical path into two parallel optical paths and a planned focal plane projection that does not divide the optical path
  • Two types of optical systems, shadow optics 26, are inserted. That is, both the optical path difference prism 25 and the planned focal plane projection optical system 26 are moved in the direction of 28 in the figure by the optical path switching device 29, and two types of optical systems are switched.
  • the optical path difference prism 25 When the optical path difference prism 25 is inserted into the optical path, light images in front of and behind the planned focal plane are projected onto the light receiving surface of the image sensor 27, and the planned focal plane projection optical system 26 is placed in the optical path. When inserted, the light image of the expected focal plane is projected on the light receiving surface of the image sensor 27.
  • the CPU 34 reads the image signal from the image memory 32 and compares the image state before and after the predetermined focal plane, thereby determining the focal point from the focal point. By calculating the direction and the amount of deviation of the stage 21 and moving the stage 21 by a predetermined amount using the Z drive unit 35, focusing can be obtained.o
  • the planned focal plane projection optical system 26 is in the optical path, so that the light image of the planned focal plane is projected on the light receiving surface of the image sensor 27, and
  • the image signal photoelectrically converted by the sensor 27 is input to the image memory 32 via the analog processing circuit 30 and the A / D converter 31.
  • the CPU 34 reads the image signal from the image memory 32, calculates the degree of focus, moves the stage 21 by the Z drive unit 35, and moves the stage to the position where the degree of focus is highest. Focus is obtained by doing so.
  • the second embodiment of the present invention it is possible to detect a focal point corresponding to magnifications from low magnification to high magnification with a simple device, and to split an optical path at high magnification where the amount of light decreases. No image can be projected on the image sensor without reducing the amount of light image.
  • Reference numeral 24 denotes an imaging lens
  • reference numeral 25 denotes an optical path difference prism, which can move in the direction of 28 in the figure.
  • the light image transmitted through the imaging lens 24 is split into optical paths by the optical path difference prism 25, and the light image in front of the predetermined focal plane is placed on the light receiving surface of the image sensor 27. The light image behind the planned focal plane is projected.
  • the optical path difference prism 25 is moved in the direction of 28 in the figure and switched to the optical path as shown in FIG. 4B
  • the light image transmitted through the imaging lens 24 passes through the optical path difference prism 25 as it is.
  • the light is transmitted, and the light image of the expected focal plane is projected on the light receiving surface of the image sensor 27.
  • the CPU 34 reads out the image signal from the image memory, compares the image state before and after the planned focal plane, and refers to the stored focus evaluation level and the positional relationship of the stage 21 to determine the position from the focus point.
  • the focus direction can be obtained by calculating the shift direction and the shift amount, and moving the stage 21 by a predetermined amount by the Z drive unit 35.
  • the CPU 34 determines that the illuminance on the light receiving surface of the image sensor 27 is low, the planned focal plane projection optical system 26 is inserted into the optical path, and the light is projected on the light receiving surface of the image sensor 27.
  • the image signal on which the light image of the fixed focal plane is projected and photoelectrically converted by the image sensor 27 is stored in the image memory 32 via the analog processing circuit 30 and the AZD comparator 31.
  • the CPU 34 reads out the image signal from the image memory 32 and compares and refers to the stored focus evaluation level and the positional relationship between the stage 21 to calculate the focus position and based on the result. Then, the stage 21 is moved by the Z drive unit 35, and the stage 21 is moved to a position where the degree of focus is the highest, thereby achieving focusing.
  • the relationship between the stage position and the focus evaluation level is stored in accordance with the optical conditions of the magnification of the objective lens or the microscopic method and the combination thereof.
  • the principle of changing the numerical aperture of the illumination optical system can change the defocus characteristic of the focus evaluation value curve obtained by arithmetically processing the output signal from the light receiving element array. This will be described with reference to FIG. 5A and FIG. 5B.
  • Fig. 5A schematically shows the image formed by the microscope objective lens.
  • Fig. 5A shows the vicinity of the center of the light source when the aperture stop 106 of the illumination optical system is narrowed down.
  • Fig. 5B shows the size of the aperture stop 106 of the illumination optical system. Illumination light that exits from one point at the end of the light source and passes through the edge of the aperture stop 106 when opened wide is shown.
  • the three lights BO, ⁇ 1 and B -1 are used to form diffraction images Q 0, Q 1 and Q -1 of the Fraunhofer on the rear focal plane 119 of the objective lens 108 by the objective lens 108, and further.
  • a spherical surface having the centers of Q 0, Q 1, and Q -1 is formed, and the clearest interference image is formed on the planned imaging plane 120 of the observation object 105.
  • This interference image is a sinusoidal grid like the observation object 105, and its pitch P ′ is
  • the object image by the objective lens 108 is also innumerable by high-order diffraction waves (harmonics) having various diffraction angles. It can be said that this is a superposition of sine wave gratings. Originally, all of these innumerable harmonics had to be incident on the objective lens 108 in order to perform correct image reproduction.However, since the numerical aperture of the objective lens 108 is actually limited, The numerical value of the numerical aperture determines how much higher-order diffracted light can be collected, that is, the resolution.
  • the aperture stop 106 when the aperture stop 106 is widely opened, even if the numerical aperture of the objective lens 108 is the same, higher-order light generated by illumination light passing through the peripheral portion of the aperture stop 106 is used.
  • the diffracted light B_2 can be collected, and the diffraction image Q-2 of the Fraunhofer can be formed on the rear focal plane 119 of the objective lens 108, but the positive diffracted light B1 can be collected by the objective lens 108. become unable.
  • the aperture stop 106 when the aperture stop 106 is widely opened, an object image having a higher ratio of harmonic components is obtained, and the depth of focus on the planned image plane 120 becomes smaller.
  • FIGS. 5A and 5B in the optical path from the objective lens (imaging optical system) 108 to the expected imaging plane (light receiving element array position) 120 as in the conventional example, for example, after the objective lens 108
  • the aperture means is arranged on the side focal plane 119
  • the high-order diffracted light is reduced as in the case where the numerical aperture of the objective lens 108 itself becomes small.
  • the performance of the objective lens 108 is deteriorated, and a satisfactory focus evaluation cannot be obtained.
  • the aperture stop 106 is almost optimally controlled by the control unit via the aperture stop driving unit based on image information obtained from the light receiving element array and / or optical conditions including the numerical aperture of the imaging optical system.
  • the drive control is performed so as to obtain an appropriate focus evaluation value. If the observation object 105 is replaced or the objective lens is replaced and the optical conditions such as the numerical aperture and focal length change, the drive is controlled.
  • the numerical aperture of the illumination optical system can be automatically set so that an almost optimum focus evaluation value can be obtained. Therefore, in a microscope or an optical measuring instrument, an optical system such as a numerical aperture of an imaging optical system or an observation object having various power spectra can be used without largely changing an existing configuration. However, the focus state can always be detected with high accuracy.
  • FIG. 6 shows an example in which the above-described fourth embodiment is applied to an automatic focusing device of a microscope.
  • the light from the light source 101 is condensed by the collector lens 102 and then incident on the condenser lens 104 via the lens 103 to illuminate the observation object 105 with parallel light beams having various angles.
  • an aperture stop 106 is provided on the front focal plane of the condenser lens 104 on which the image of the light source 101 is formed so that the numerical aperture of the illumination light is changed.
  • the field stop 1 G7 is set at a position optically conjugate with the observation object 105 so that the illumination range of the observation object 105 is changed. That is, in this embodiment, the illumination optical system is a so-called Koehler illumination. The configuration is based on the law.
  • the light emitted from one point on the observation object 105 by the illumination by the illumination optical system passes through an imaging optical system, that is, an objective lens 108 and an imaging lens 109, and forms an image on an image sensor 110 composed of a light receiving element array.
  • an imaging optical system that is, an objective lens 108 and an imaging lens 109
  • the objective lens 108 is attached to a revolver of a microscope so that an objective lens having an arbitrary magnification can be selected from a plurality of objective lenses having different magnifications.
  • the imaging plane of the aperture stop 106 of the illumination optical system coincides with the rear focal plane of the objective lens 108, and the observation object 105 and the imaging element 110 have a conjugate positional relationship. Become.
  • the image sensor 110 is driven at a predetermined timing through a timing circuit 112 and an image sensor driver 113 in accordance with a command from a control device (CPU) 111, and the video signal is amplified by a preamplifier 114.
  • the signal is converted into a digital signal by the AZD converter 115 and supplied to the CPU 111.
  • the detecting means 1 for detecting the optical conditions such as the magnification and the numerical aperture of the selected objective lens 108, the aperture stop driving means 117 for driving the aperture stop 1D6, the objective lens 108 and the observation object 105 are relatively positioned.
  • An adjusting means 118 is provided to adjust the distance between them by supplying the output of the detecting means 116 to the CPU 111, and the aperture stop driving means 117 and the adjusting means 118 are controlled by the CPU 111.
  • the CPU 111 takes in the optical conditions from the detecting means 116 and based on the optical conditions. Then, the aperture stop 106 is driven via the aperture stop driving means 117, whereby the numerical aperture of the illumination optical system is adjusted so as to obtain an almost optimum focus degree evaluation value.
  • the CPU 111 drives the image sensor 11 ⁇ via the timing circuit 112 and the image sensor driver 113. Then, based on the focusing degree evaluation value obtained by taking the video signal through the preamplifier 114 and the AZD converter 115 and calculating according to a predetermined evaluation function, the adjusting means is adjusted so that the focusing degree becomes the highest. The relative distance between the objective lens 108 and the observation object 105 via 118 is adjusted.
  • the focus state evaluation value may be too small to detect the focus state, or the focus degree evaluation value may change slowly with respect to defocus, resulting in poor focusing accuracy. Then, based on the obtained focusing degree evaluation value, the aperture stop 106 is further driven through the aperture stop driving means 1 ⁇ , and the numerical aperture of the illumination optical system is set to an optimal value for focus detection, and then the focusing operation is performed. By continuing, a highly accurate focus position is obtained.
  • FIG. 7 shows a fifth embodiment of the present invention.
  • an image of an observation object 105 by an imaging optical system is received by a pair of imaging elements 121 and 122 each having a light receiving element array arranged before and after a predetermined imaging plane.
  • the half mirror 123 and the reflection mirror 124 are arranged on the image side of the imaging lens 109 constituting the imaging optical system, and the light emitted from one point on the observation object 105 is used as an objective lens.
  • the half After passing through the imaging lens 108 and the imaging lens 109, the half is divided by a half mirror 123, and the other is received by an imaging element 121 arranged on the optical axis in front of the intended imaging plane, and the other is reflected by a reflection mirror 124. After being reflected, the light is received by the image sensor 122 disposed on the optical axis behind the predetermined image plane.
  • an optical condition from the detecting means 116 is taken into the CPU 111 by a focusing operation start command, and an aperture stop driving means is provided based on the optical condition.
  • the aperture stop 106 is driven via 117, and thereby the numerical aperture of the illumination optical system is adjusted so as to obtain an almost optimum focus degree evaluation value.
  • the image is captured by the CPU 111 via the timing circuits 125 and 126 and the image sensor drivers 127 and 128.
  • the elements 121 and 122 are driven, their video signals are taken in via the blinds 129 and 130 and the AZD converters 131 and 132, and the focus evaluation value obtained by calculating each according to the predetermined evaluation function.
  • the amount of defocus is calculated based on the comparison, and the relative distance between the objective lens 108 and the observation object 105 is adjusted via the adjustment means 118 so as to minimize the amount.
  • the focus state evaluation value may be too small to detect the focus state, or the focus state evaluation value may change slowly with respect to the defocus, resulting in poor focusing accuracy.
  • the aperture stop 106 is further driven via the aperture stop driving means 117, and the numerical aperture of the illumination optical system is set to an optimal value for focus detection, and then the focusing operation is continued. By doing so, a highly accurate focus position is obtained.
  • the illumination optical system is similar to the fourth embodiment.
  • the numerical aperture By setting the numerical aperture to be smaller than the numerical aperture suitable for observation when the objective lens 108 has a low magnification and large when the objective lens 108 has a high magnification, the focusing degree evaluation value curve accompanying the magnification conversion of the objective lens 108 can be obtained. Since the change in characteristics with respect to defocus can be minimized, there is a dead zone where the difference between the focus evaluation values based on the video signals from the pair of image sensors 121 and 122 is continuously zero. A high-precision focusing operation can always be performed without any occurrence. Also in this embodiment, after the completion of the focusing operation, the numerical aperture of the illumination optical system can be automatically set to a value suitable for observation at the magnification of the objective lens 108 or manually set to an arbitrary value according to the user's preference. Of course.
  • the numerical aperture of the optical system is adjusted to obtain an almost optimal focus evaluation value, but the numerical aperture of the illumination optical system is controlled only by the focus evaluation value or only by the optical conditions. It can be configured as follows.
  • the focus operation is first started with the user's set value, and the image signal from the image sensor is converted to a predetermined value.
  • the relative distance between the objective lens 108 and the observation object 105 is adjusted based on the focus evaluation value obtained by performing the calculation according to the evaluation function.
  • the aperture stop 106 is driven via the aperture stop driving means 11 7 based on the value, and the numerical aperture of the illumination optical system is adjusted. After setting the optimum value for focus detection, the focus operation is continued to obtain a highly accurate focus position.
  • the detection means for detecting the optical conditions such as the magnification and the numerical aperture of the objective lens becomes unnecessary.
  • this embodiment can be effectively applied to focus detection not only in a microscope but also in various optical devices having an illumination optical system.
  • the aperture stop for changing the numerical aperture of the illumination optical system and the aperture stop driving means for driving the aperture stop are provided.
  • the drive means is controlled so as to obtain an almost optimum focus evaluation based on image information obtained from the light receiving element array and / or optical conditions including the numerical aperture of the imaging optical system.
  • the defocusing characteristics of the focus evaluation value curve at high magnification and low magnification of the objective lens can be approximated as much as possible without significantly changing the configuration of the microscope and optical measuring instrument, etc.
  • the effect of the magnification conversion can be reduced.
  • reference numeral 301 denotes an imaging optical system
  • Reference numeral 304 denotes an optical system for projecting the above two objects onto the two image sensors.
  • Reference numerals 302 and 302 ′ denote planned image planes of the image forming optical system 301.
  • FIGS. 9A and 9B show the imaging surfaces of the two image sensors 303 and 303 'by taking a 10-pixel line sensor as an example, and the imaging surface of the image sensor 303 is a pixel.
  • the dimensions are a and b in vertical and horizontal order, and the pixel pitch is p.
  • the imaging surface of the image sensor 303 ′ has vertical and horizontal pixel dimensions of k a and k b, and a pixel pitch of k p.
  • the present embodiment is characterized in that the pixel size and the ratio of the pixel pitch between the two image sensors are set to the constant value k.
  • an in-focus image and an autofocus image are formed on the image sensors 303 and 303 'by the imaging optical system 301, and the out-focus image is formed.
  • the scum image is k times the in-focus image. k is determined by the imaging optical system 301, but is 1.1 or more with a normal microscope. Further, since the imaging surfaces of the two image sensors 303 and 303 'are formed as shown in FIG. 9, an in-focus image is captured with the pixel dimensions and pixel pitch shown in FIG. 9A. Then, the out-focus image k times as large as the in-focus image is captured with a pixel size and pixel pitch k times as shown in FIG. 9B.
  • Reference numeral 301 denotes an imaging optical system
  • reference numeral 303 denotes an image sensor that captures two object images in the vicinity of a predetermined imaging plane.
  • the projection optical systems 304 and 304 ′ project two object images onto the image sensor 303, and are composed of a half mirror and a mirror, a prism, or the like.
  • the correction circuit 305 is a circuit that corrects a fixed pattern noise, a dark current component, and the like with respect to the output of the image sensor 303, and performs correction for each pixel in synchronization with an external clock signal.
  • the variable gain amplifier 306 controls the gain by an external control signal.
  • the AZD converter 307 performs AZD conversion in synchronization with an external clock signal.c
  • the driver 308 receives an external clock signal, converts the image sensor 303 into a driveable signal, and supplies it to the image sensor 303. I do.
  • the memory circuit 309 temporarily stores the video signal read at high speed. The accumulation is performed in synchronization with the external clock signal.
  • the timing controller 310 supplies a clock signal and the like to each of the correction circuit 305, the variable gain amplifier 306, the AZD converter 307, the driver 308, and the memory circuit 309.
  • FIG. 11 is a diagram showing a light receiving section of the image sensor 303. In this embodiment, a line sensor as shown is used. Twenty-two pixels 32 1 are arranged on the same straight line for receiving the focus image and 200 pixels are arranged for receiving the out-force image.
  • the size of the pixel 321 is vertical a, horizontal b, and is arranged at a pitch p.
  • the size of the pixel 322 is vertical a ′ and horizontal b ′, and is arranged at a pitch P ′.
  • the object image incident on the imaging optical system 301 is projected on the image sensor 303 by the optical system 304 as an in-focus image and an out-of-focus image.
  • FIG. 12A shows an example of the pattern of this projected image.
  • the horizontal axis indicates the physical position of the line sensor in the pitch direction.
  • the in-focus image ⁇ ⁇ The luminance distribution of the to-focus image is different in its level and size.
  • k times the in-focus image is the size of the auto-focus image
  • the level is 1 / k 2 times the in-focus image is the level of the out-focus image.
  • k is a constant determined by the imaging optical system.
  • the output of the image sensor 303 that photoelectrically converts the object image is as shown in Fig. 12B.
  • the size of the in-focus and out-of-focus images is the same.
  • the output of the image sensor 303 is corrected by the correction circuit 305, a signal as shown in FIG. 12C is obtained.
  • the in-focus image and out-of-focus image have an error such as ⁇ E in FIG. 12C due to a sensitivity error of the sensor, an error in the light amount splitting ratio of the optical system 304, and the like.
  • the output level can be made uniform as shown in Fig. 12D by changing the gain when outputting an in-focus image or an out-focus image. As described above, the object image becomes appropriate for the calculation for the focus evaluation without newly adding an optical component.

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Description

明 細 書 自 動 焦 点 検 出 装 置 [技 術 分 野]
本発明は、 顕微鏡のように、 低倍率から高倍率まで幅広い 倍率条件による観察を行う光学機器の合焦点検出装置に関す る ものである。
[背 景 技 術]
特公昭 6 1 — 6 0 4 1 3号公報によると、 結像面前方の光 像と結像面後方の光像とをイメージセンサでと らえ両光像の 光強度に応じた電気信号の差信号が所定値になるように対物 光学系と試料との間隙を調整する装置において、 対物光学系 の倍率切換にともなって、 結像面とイメージセンサとの間の 光路長を可変にする手段を設けた焦点調節装置が考案されて いる。
また特開昭 6 3 - 7 8 1 1 3号公報によると、 被検体側か らライ ンセンサに向かう測距用光線を複数の光線に分割し、 分割光線の結像位置をライ ンセンサの光軸方向前後にずらし、 両光像の信号を比較しながら合焦動作を行い、 測距用光線の 光路中、 光線の分割後ライ ンセンサに至る間に、 分割光線の —方に空気と屈折率が近似せずかつ正透過性の高い透明部材 を退避可能とした自動焦点調整機構が考案されている。
しかしながら、 予定焦点面前後の光像をィメージセンサ上 に投影し、 両光像の信号を比較することにより合焦点を検出 する方法では、 高倍率の対物レンズを使用すると、 予定焦点 面前後の両光像の信号に差がほとんど現れなく なつてしまい 合焦点を検出できないという欠点がある。 この問題を解決す るために、 特公昭 6 1 — 6 0 4 1 3号公報では、 対物レンズ の切換など光学系の倍率切換にともなつて、 予定焦点面とィ メージセンサとの間の光路差を可変と し、 高倍率の場合には、 光路差を大き く する方法が考案されている。 しかしながらこ の方法では、 高倍率時に大きな光路差を設けなければならな いため、 光路のための領域が大き く とられ装置が大き く なつ てしまう とともに、 光路差を変えるための装置が必要となる 欠点がある。
さ らに高倍率においては、 光像の光量が非常に少なく なる にもかかわらず 2光像に分割されるためさらに光量が減少し、 合焦点検出が困難になるという欠点もある。
[発明の開示]
そこで、 本発明の自動焦点検出装置は以上のような点に鑑 みてなされたものであり、 低倍率から高倍率まで安定した高 精度な合焦点検出が可能な自動焦点検出装置を提供すること を目的とする。
本発明の第 1の態様によれば、 試料を照明するための照明 光学系と、
この照明光学系によつて照明された前記試料からの光像を 受けて、 予定焦点面前方の所定距離だけ離れた位置に形成さ れる第 1の光像と、 予定焦点面後方の所定距離だけ離れた位 置に形成される第 2の光像とを形成する対物光学系と、 上記対物光学系からの上記第 1、 第 2の光像を受ける第 1 第 2の受光部を有し、 受光した上記第 1、 第 2の光像をそれ ぞれ対応する電気信号に変換する少なく とも 1つのイメージ センサと、
上記対物光学系の倍率を検出する倍率検出手段と、 上記少なく と も 1つのイメ ージセンサからの上記電気信号 に基づいて上記第 1、 第 2の光像のコ ン トラス トを演算する 演算手段と、
上記倍率検出手段による検出結果が低倍率であるときは、 上記演算手段によつて演算された上記第 1、 第 2の光像のコ ン トラス トの差に基づいて合焦点を検出するとともに、 上記 倍率検出手段による検出結果が高倍率であるときは、 上記対 物光学系の一部又は上記試料を光軸方向に移動させ、 上記第 1、 第 2の光像のうち一方または両方についてのコ ン トラス 卜の変化に基づいて合焦点を検出する合焦点検出手段とを具 備する自動焦点検出装置が提供される。
また、 本発明の第 2の態様によれば、 試料を照明するため の照明光学系と、
この照明光学系によつて照明された前記試料からの光像を 受けて、 予定焦点面前方の所定距離だけ離れた位置に形成さ れる第 1の光像と、 予定焦点面後方の所定距離だけ離れた位 置に形成される第 2の光像とを形成する第 1の光学系と、 上記対物光学系からの上記光像を受ける第 1、 第 2の受光 805 P JP92
4
部を有し、 受光した上記第 1、 第 2の光像をそれぞれ対応す る電気信号に変換する少なく と も 1つのイメ ージセンサと、 上記試料からの光像が上記予定焦点面上のみに投影される ように上記第 1の光学系に隣接して設けられた第 2の光学系 と、
所定の条件に応じて、 上記第 1、 第 2の光学系を切り換え る ことによつて合焦点を検出する合焦点検出手段とを具備す る自動焦点検出装置が提供される。
[図面の簡単な説明]
第 1図は本発明の第 1の実施例を示す自動焦点検出装置の 構成図、
第 2 A図及び第 2 B図は本発明の第 2の実施例の基本的概 念を説明するための光学配置図、 ' 第 3図は本発明の第 2 , 3の実施例を適用した自動焦点検 出装置の構成図、
第 4 A図及び第 4 B図は本発明の第 2の実施例の変形例を 説明するための光学配置図、
第 5 A図及び第 5 B図は本発明の第 4の実施例の原理を説 明するための図、
第 6図は本発明の第 4の実施例を適用した自動焦点検出装 置の構成図、
第 7図は本発明の第 5の実施例を適用した自動焦点検出装 置の構成図、
第 8図は本発明の第 6の実施例の概念を説明するための光 学配置図、
第 9 A図及び第 9 B図は本発明の第 6の実施例の概念を説 明するためのイメージセンサの撮像面を示す図、
第 1 0図は本発明の第 6の実施例を適用した自動焦点検出 装置の構成図、
第 1 1図は第 1 0図に示すイメージセンサの受光部を示す 図、
第 1 2 A〜 1 2 D図はイメ ージセンサの出力波形図、 第 1 3図は本発明の第 7の実施例におけるイメ ージセンサ の受光部を示す図である。
[発明を実施するための最良の形態] まず、 本発明にかかる自動焦点検出装置の第 1実施例の基 本的概念について第 1図を参照して説明する。
第 1実施例においては、 倍率検出器 8によって検出された 対物レンズ 2の倍率が低倍であるときには、 C P U 1 0にお いて 2画像のコ ン トラス ト等の差を演算する こ とによって合 焦点を検出する。 また、 倍率が高倍であるときには、 C P U 1 0は Z駆動部 9によりステージ 7を移動させるとともに、 2画像のうち 1方または両方の画像信号を入力し、 ステージ 7の位置の変化に対するコン トラス ト等の合焦評価値の変化 の関係から合焦点を検出する。
すなわち、 高倍の対物レンズの場合には、 予定焦点面前方 と予定焦点面後方の 2画像にほとんど差が出なく なるため、 2画像のコ ン トラス ト等の差により合焦点を求めるのは困難 であるので、 ステージ移動と合焦度評価値との変化関係から 合焦点を求めるこ とによって、 低倍から高倍までの対物レン ズに対応した合焦点検出が可能となる。
以下に、 第 1図を参照して、 上記した本発明の第 1実施例 の動作を説明する。
光源 1 5 と集光レンズ 1 4 とからなる照明光学系によつて 照明された観察標本 1の光像は対物レンズ 2、 プリズム 3、 結像レンズ 4を透過し、 光路差プリズム 5によって平行な 2 光線に分割され、 予定焦点面前方の光像及び予定焦点面後方 の光像がィメージセンサ 6の受光面上に投影される。 受光面 上に投影された予定焦点面前後の光像は、 イメージセンサ 6 によって光電変換され、 アナログ処理回路 1 3、 A Z Dコン バー夕 1 2を介してデジタルデータと して画像メモリ 1 1に 記憶される。
対物レ ンズ 2の倍率は倍率検出器 8によ って検出され、 C P U 1 0に入力される。 こ こで、 対物レンズ 2が低倍であ ることが検出された場合には、 C P U 1 0は画像メモリ 1 1 から予定焦点面前後の画像信号をそれぞれ読み出し、 コ ン ト ラス ト等の合焦度評価値を演算し、 予定焦点面前後の合焦度 評価値の差から合焦点までのずれ量、 ずれ方向を検出する。
また、 対物レンズ 2が高倍であることが検出された場合に は、 C P U 1 0は Z駆動部 9により焦点調節のために上下に 移動可能なステージ 7を移動させるとと もに、 予定焦点面前 後の画像信号を画像メモリ 1 1から読み出し、 予定焦点面前 後の 2画像のうち一方または両方について、 ステージ 7の移 動量と合焦度評価値との関係を演算し、 その演算結果によつ て合焦点を算出する。
以上のように、 対物レンズの倍率によって焦点検出方法を 切換えることで低倍から高倍までの倍率に対応した自動焦点 検出を実現する。
次に、 第 2実施例の基本的概念を第 2 A図及び第 2 B図を 参照して説明する。 図において、 2 4は結像レンズ、 2 5は 光路差プリ ズムでイメージセンサ 2 7の受光面上に予定焦点 面前方及び後方に同じだけ光路差のある光像をそれぞれ投影 する光学系である。 2 6は予定焦点面投影光学系で、 ィメー ジセンサ 2 7の受光面が予定焦点面となるように構成されて いる。
光路差プリズム 2 5と予定焦点面投影光学系 2 6は、 とも に第 2 A図、 第 2 B図の 2 8の方向に移動可能であり、'対物 レンズ 2 2 (第 3図) が低倍で光像が充分明るいときは、 第 2 A図に示すように結像レンズ 2 4からイメージセンサ 2 7 へ向かう光路中に光路差プリズム 2 5が挿入され、 対物レン ズ 2 2が高倍であるときまたは低倍でも光像が暗いときには、 第 2 B図に示すように、 結像レンズ 2 4からイメージセンサ 2 7へ向かう光路中に予定焦点面投影光学系 2 6が挿入され すなわち、 対物レンズ 2 2 (第 3図) の倍率が低く光像が 充分明るい場合には、 第 2 A図のように光学系を構成し、 予 定焦点面前後の 2画像のコ ン トラス ト等を比較するこ とによ り合焦点を検出し、 対物レンズ 2 2 (第 3図) の倍率が高い 場合または低倍でも光像が暗い場合には、 第 2 B図のように 光学系を構成し、 対物レンズ 2 2と観察標本 2 0 (図 3 ) と の相対的距離を変化させ、 コ ン トラス ト等の合焦度評価レべ ルが最大となる点をサーチするこ とにより合焦点を検出する。
なお、 低倍においては、 小さな光路差でもデフォーカス時 に予定焦点面前後の光像の合焦度評価値に差が現れやすく、 デフォーカスの方向と量が 1回の画像入力で検出できるため 合焦点の検出の高精度、 高速化のために有利であるが、 反面、 高倍時においては、 デフ ォーカス時にも予定焦点面前後の光 像の合焦度評価値に差が出にく いとともに、 高倍または低倍 でも光像が暗いときにおいては結像レンズ 2 4を透過してく る光量が非常に少なく なるため、 光路を分割するのは非常に 不利となる。 したがって、 本実施例のように高倍時または、 低倍でも光像が暗いときには光路分割せず、 イメージセンサ 2 7の受光面上を予定焦点面となるように光像を投影し、 対 物レンズ 2 2 と観察標本 2 0 (第 3図) との相対的な距離を 変化させ、 合焦度評価レベルの最大となる点をサーチする方 法に切換える方法により、 簡単な構成で低倍から高倍まで様 々な倍率に対応した合焦点検出が実現できる。
以下に、 上記した第 2実施例を第 3図の自動焦点検出装置 に適用した場合の動作を説明する。
落射照明装置 1 9は観察標本 2 0を照明するためのもので ある。 ステージ 2 1 は焦点を合わせるために上下に移動され る。 観察標本 2 0から反射した光像は、 対物レンズ 2 2、 プ リズム 2 3、 結像レンズ 2 4を介しイメージセンサ 2 7上に 投影される力《、 本実施例においては、 結像レンズ 2 4からィ メージセンサ 2 7へ向かう光路中に、 光路を平行な 2光路に 分割する光路差プリズム 2 5 と光路分割しない予定焦点面投 影光学系 2 6の 2種類の光学系が挿入される。 すなわち、 光 路切換装置 2 9により光路差プリズム 2 5と予定焦点面投影 光学系 2 6はともに図中 2 8の方向に移動され、 2種類の光 学系が切換えられる。
光路差プリズム 2 5が光路中に挿入されると予定焦点面前 方及び予定焦点面後方の光像がィメージセンサ 2 7の受光面 上に投影され、 予定焦点面投影光学系 2 6が光路中に挿入さ れると予定焦点面の光像がィメージセンサ 2 7の受光面上に 投影される。
さ らに、 合焦点検出動作について説明する。 倍率検出器 3 6により対物レンズ 2 2の倍率が検出され、 その検出結果 に基いて C P U 3 4は、 光路切換装置 2 9を駆動し低倍率で あれば光路差プリズム 2 5を、 高倍率であれば予定焦点面投 影光学系 2 6を光路中に揷入する。 イメージセンサ 2 7は、 駆動回路 3 3により駆動されている。 対物レンズ 2 2が低倍 率である場合には、 光路差プリズム 2 5が光路中にあるため、 イメージセンサ 2 7の受光面上には、 予定焦点面前後の光像 がそれぞれ投影され、 イメージセンサ 2 7により光電変換さ れた画像信号はアナログ処理回路 3 0、 A Z Dコ ンバータ 3 1を介して画像メモ リ 3 2に入力される。
C P U 3 4は画像メモリ 3 2から画像信号を読み出し、 予 定焦点面前後の画像状態を比較するこ とによ り、 合焦点から のずれ方向とずれ量を算出し、 Z駆動部 3 5により、 ステー ジ 2 1を所定量移動させることにより、 合焦を得ることがで さる o
また、 対物レンズ 2 2が高倍率である場合には、 予定焦点 面投影光学系 2 6が光路中にあるためイメージセンサ 2 7の 受光面上には予定焦点面の光像が投影され、 イメージセンサ 2 7 によ り光電変換された画像信号は、 アナログ処理回路 3 0、 A / D コ ンバータ 3 1 を介して画像メ モリ 3 2に入 力される。 C P U 3 4は画像メ モ リ 3 2から画像信号を読み 出し合焦度を算出するとともに Z駆動部 3 5によりステージ 2 1を移動させ、 合焦度の最も高く なる位置にステージを移 動させることにより合焦を得る。
一般に顕微鏡によって標本を観察する場合、 低倍率の対物 レンズや高倍率の対物レンズ等を切換えて使用することが多 い。 このように対物レンズの倍率を切りかえた場合、 従来の 装置においては焦点検出が困難である。 予定焦点面の画像を 比較する方法においては、 たとえば特公昭 6 1 - 6 0 4 1 3 号公報のように倍率に応じて予定焦点面とイメージセンサと の間の光路長を可変にする方法が考案されているが、 高倍率 に対応するためには、 光路長をかなり大きく とらなければ予 定焦点面前後の画像に差が出ないため、 実現するためには、 装置が大き く なつてしま う とともに、 1つのイメージセンサ 上に 2画像を投影するのも困難であり、 さらに高倍率では光 像の光量が少なく なるので光路分割するのは非常に不利であ る o これに対して本発明の上記第 2実施例によれば、 簡単な装 置で低倍率から高倍率までの倍率に対応した合焦点検出が可 能であり、 光量が少なく なる高倍においては光路分割しない ので光像の光量を減らすことなく イメージセンサ上に画像が 投影できる。
以下に、 第 4 A図及び第 4 B図を参照して、 上記した第 2 実施例の変形例を説明する。 2 4は結像レンズ、 2 5は光路 差プリ ズムで図中 2 8の方向に移動可能である。 第 4 A図に 示す構成の場合には、 結像レンズ 2 4を透過した光像は光路 差プリズム 2 5によって光路分割され、 イメージセンサ 2 7 の受光面上に予定焦点面前方の光像と予定焦点面後方の光像 を投影する。 そして、 光路差プリズム 2 5を図中 2 8の方向 に移動し、 第 4 B図のような光路に切換えると、 結像レ ズ 2 4を透過した光像は、 光路差プリズム 2 5をそのまま透過 し、 イメージセンサ 2 7の受光面上に予定焦点面の光像が投 影される。
以上により、 光路差プリズム 2 5を図中 2 8の方向に移動 させることによって、 予定焦点面前後の 2画像をイメージセ ンサ 2 7上に投影する光学系と、 予定焦点面の画像をィメ一 ジセンサ 2 7上に投影する光学系とを切換えることができる。 以下に、 第 3図を参照して本発明の第 3実施例を説明する。 一般に、 顕微鏡で標本を観察する際、 低倍率から高倍率ま で数種の対物レンズを切換えて観察することから、 同様の標 本を観察していても対物レンズと標本との距離に対する合焦 度評価レベルの変化も対物レンズの倍率等または検鏡法によ り様々である。 第 3実施例では第 2実施例と構成を同様にし て、 顕微鏡に通常観察する標本をセッ ト し、 各対物レンズの 倍率等または検鏡法について、 Z駆動部 3 5によりステージ 2 1を合焦位置を中心にして所定間隔で移動させ、 各位置に おけるイ メ ー ジセンサ 2 7により光電変換された画像信号を アナ口グ処理回路 3 0、 A Z Dコ ンバータ 3 1、 画像メモリ 3 2を介して C P U 3 4に取り込み、 合焦度評価レベルを演 算するこ とによ りステージ 2 1 の位置と合焦度評価レベルと の関係をそれぞれの対物レンズの倍率等または検鏡法につい て算出した初期設定データを記憶する。
合焦点検出動作は第 2実施例と同様に行ない、 対物レンズ 2 2が低倍率であれば光路差プリズム 2 5を、 高倍率であれ ば予定焦点面投影光学系 2 6を光路中に挿入する。 対物レン ズ 2 2が低倍率で光像が充分明るい場合には、 光路差プリズ ム 2 5が光路中にあるため、 イメージセンサ 2 7の受光面上 に予定焦点面前後の光像がそれぞれ投影され、 ィメージセン サ 2 7によ り光電変換された画像信号はアナログ処理回路 3 0、 A Dコンバータ 3 1を介して画像メモリ 3 2に記億 される。 C P U 3 4は画像メモリから画像信号を読み出し、 予定焦点面前後の画像状態を比較するとと もに、 記憶された 合焦度評価レベルとステージ 2 1の位置関係を参照し、 合焦 点からのずれ方向、 ずれ量を算出し、 Z駆動部 3 5によりス テ一ジ 2 1を所定量移動させることにより合焦を得ることが できる。
また、 対物レンズ 2 2が高倍率である場合または、 低倍率 でイメージセンサ 2 7の受光面における照度が低いと C P U 3 4により判定された場合には、 予定焦点面投影光学系 2 6 が光路中に挿入され、 イメージセンサ 2 7の受光面上には予 定焦点面の光像が投影されてィメージセンサ 2 7により光電 変換された画像信号はアナ口グ処理回路 3 0、 A Z Dコ ンパ 一夕 3 1を介して画像メ モリ 3 2に記憶される。 C P U 3 4 は画像メ モリ 3 2から画像信号を読み出すとと もに、 記憶さ れた合焦度評価レベルとステージ 2 1 の位置関係を比較参照 し合焦位置を算出してその結果に基いて、 Z駆動部 3 5によ りステージ 2 1を移動させ、 合焦度の最も高く なる位置にス テージ 2 1を移動させることにより合焦を得る。
特に、 対物レンズ 2 2が高倍率であるような場合には、 予 定焦点面のみの画像を入力するために合焦点からのずれ方向、 ずれ量が 1回の入力では精度良く算出できないので、 本実施 例のように、 対物レンズの倍率等または検鏡法と、 それらの 組み合わせとの光学的条件に応じてステージ位置と合焦度評 価レベルの関係を記憶しておく こ とによ り、 画像入力結果と 記憶された初期設定データとから合焦点検出演算することに より高倍においても合焦点検出の高速化、 高精度化が可能と なる。
以上、 上記した第 1〜第 3の実施例によれば、 (1 ) 対物レ ンズの倍率に対応して合焦点検出方法を変更することによつ て低倍から高倍まで様々な倍率に対応した自動焦点検出が実 現可能となるとともに、 (2) 対物レンズの倍率等光学的な条 件、 画像の明暗等の条件に応じてイメージセンサへの光像投 影光学系を切換えるこ とによって簡単な構成で低倍から高倍 まで様々な倍率に対応した自動焦点検出が可能となる。 特に 高倍時においては、 光路分割方式では、 光路差を大き く と ら なければ合焦点検出が困難であるが、 本発明によれば高倍時 または低照度時には光路分割はせず、 光路分割による光量低 減をなくすことができ特に有利である。
以下に本発明の第 4の実施例の概念を説明する。
この実施例では、 照明光学系の開口数を変化させる開口絞 り と、 この開口絞りを駆動する開口絞り駆動手段とを設け、 この開口絞り駆動手段を受光素子列から得られる画像情報お よび Zまたは結像光学系の開口数を含む光学的条件に基づい て制御する こ とにより、 対物レンズの高倍時と低倍時とにお ける合焦度評価値曲線のデフォ一カス特性を極力近似させて、 倍率変換による影響を少なく しょう とするものである。
以下、 照明光学系の開口数を変化させるこ とによって、 受 光素子列からの出力信号を演算処理して得られる合焦度評価 値曲線のデフォーカス特性を変化させることができるという 原理について第 5 A図と第 5 B図を参照して説明する。
周知のように、 顕微鏡対物レンズによる結像は、 アッベの 理論と して知られているように、 回折および干渉という波動 光学的な 2段階の写像であるといえる。 図は顕微鏡対物レン ズによる結像を模式的に示したもので、 第 5 A図は照明光学 系の開口絞り 1 06 を小さく絞ったときの、 光源の中心付近、 詳しく は光軸上の 1点から出て開口絞り 106 の中心を通る照 明光について、 第 5 B図は照明光学系の開口絞り 106 を大き く開いたときの、 光源の端部 1 点から出て開口絞り 106 の最 縁部を通る照明光についてそれぞれ表している。
第 5 A図において、 開口絞り 106 の中心を通り、 コンデン サレンズ 104 によって光軸に対して平行に進む平面波 (平行 光) となった照明光は、 一様に観察物体 105 を照明する。 こ こで、 観察物体 105 がピッチ Pの正弦波格子であると仮定す ると、 観察物体 105 による回折光は、 照明光の入射方向すな わち光軸方向の 0 次光 B G と、 これと土 e方向の + 1 次回折 光 B 1 および一 1 次回折光 B -1となって、 三方向に平行光と なって進む。 この場合の回折角 Sは、 格子のピッチ Pおよび 波長; Iによって、
s i n θ = λ / V
で表され、 ピッチ Ρが小さい程 (周波数が高い程) 、 回折角 0は大きく なる。
その後、 三つの光 B O , Β 1 および B -1は、 対物レンズ 108 によって対物レンズ 108 の後側焦点面 119 にフラウ ンホ —ファの回折像 Q 0 , Q 1 および Q -1を作り、 さ らに Q 0 , Q 1 , Q -1を中心とする球面となって進んで、 観察物体 105 の予定結像面 120 で最も鮮明な干渉像を作る。 この干渉像は、 観察物体 105 と同じく正弦波格子であり、 そのピッチ P ' は、
P ' = m · P (mは対物レンズ 108 の倍率)
となる。
実際の観察物体 105 は、 種々のピッチをもった正弦波格子 の重ね合わせと考えられるので、 対物レンズ 108 による物体 像も種々の回折角をもった高次回折波 (高調波) による無数 の正弦波格子の重ね合わせであるといえる。 本来、 正しい像 再現を行う には、 これら無数の高調波をすベて対物レンズ 108 に入射させな く てはな らないが、 実際には対物レンズ 108 の開口数に制限があるため、 その開口数の値によってど の程度の高次の回折光まで集めることができるかという こと、 すなわち分解能が決定されている。
そこで、 第 5 B図のように、 開口絞り 106 を大きく開いた 場合には、 対物レンズ 108 の開口数が同じであっても、 開口 絞り 106 の周縁部を通過する照明光によって生じる高次の回 折光 B _2を集めることができ、 そのフラウンホ一ファの回折 像 Q-2を対物レンズ 108 の後側焦点面 119 に形成できるが、 プラス側の回折光 B 1 は対物レンズ 108 では集めることがで きなく なる。 その結果、 開口絞り 106 を大きく開いた場合の 方が、 より高調波成分の比率の高い物体像が得られ、 予定結 像面 120 における焦点深度は小さく なる。
このよ うに、 開口絞り 106 によって照明光学系の開口数を 変化させることにより、 対物レンズ 108 の性能を何ら劣化さ せることなく 、 受光素子列からの出力信号を演算して得られ る合焦度評価値曲線のデフォ一カスに対する特性を変化させ ることができることになる。
なお、 第 5 A、 5 B図において、 従来例のように対物レン ズ (結像光学系) 108 から予定結像面 (受光素子列位置) 120 に到る光路中、 例えば対物レンズ 108 の後側焦点面 119 に絞り手段を配置した場合は、 対物レンズ 108 の開口数その ものが小さ く なる場合と同様に高次回折光が力ッ 卜されてし ま うので、 対物レンズ 1 08 の性能が劣化し、 満足な合焦度評 価値が得られなく なる。
この実施例では、 上記の開口絞り 106 を、 受光素子列から 得られる画像情報および または結像光学系の開口数を含む 光学的条件に基づいて開口絞り駆動手段を介して制御手段に よりほぼ最適な合焦度評価値が得られるように駆動制御する ようにしたので、 観察物体 10 5 を交換した場合や対物レンズ を交換して開口数、 焦点距離等の光学的条件が変化した場合 に、 その都度照明光学系の開口数をほぼ最適な合焦度評価値 が得られるように自動的に設定することができる。 したがつ て、 顕微鏡や光学測定器等においては既存の構成を大幅に変 更することなく 、 結像光学系の開口数等の光学的条件や様々 なパワースぺク トルを有する観察物体に対しても常に高精度 で焦点状態を検出することが可能となる。
第 6図は上記した第 4の実施例を顕微鏡の自動焦点整合装 置に適用した例である。 光源 10 1 からの光はコ レクタ レンズ 102 によって集光した後、 レンズ 103 を介してコンデンサレ ンズ 104 に入射させて、 種々の角度をもった平行光束により 観察物体 105 を照明するようにする。
この実施例では、 光源 10 1 の像が形成されるコ ンデンサレ ンズ 104 の前側焦点面に開口絞り 1 06 を設けて照明光の開口 数を変化させるようにすると共に、 コ レクタ レンズ 102 の直 後で観察物体 1 0 5 と光学的に共役な位置に視野絞り 1 G 7 を設 けて観察物体 1 05 の照明範囲を変化させるようにする。 すな わち、 この実施例では、 照明光学系をいわゆるケーラー照明 法による構成とする。
上記の照明光学系による照明によつて観察物体 105 上の一 点から出射する光は、 結像光学系すなわち対物レンズ 108 お よび結像レンズ 109 を経て受光素子列から成る撮像素子 110 上に結像させる。 なお、 対物レンズ 108 は図示しないが顕微 鏡のレボルバに取り付けられ、 倍率の異なる複数の対物レン ズの中から任意の倍率の対物レンズが選択されるようになつ ている。 こ こで、 合焦時においては、 照明光学系の開口絞り 106 の結像面と、 対物レンズ 108 の後側焦点面とが一致し、 観察物体 105 と撮像素子 110 とが共役な位置関係となる。 撮像素子 110 は、 制御装置 (C P U) 111 からの指令によ りタイ ミ ング回路 112 および撮像素子ドライバ 113 を経て所 定のタイ ミ ングで駆動し、 その映像信号をプリアンプ 114 で 增幅した後、 AZD変換器 115 によりデジタル信号に変換し て C P U111 に供給するようにする。
この実施例では、 選択された対物レンズ 108 の倍率や開口 数等の光学的条件を検知する検知手段 1 、 開口絞り 1D6 を 駆動する開口絞り駆動手段 117 、 対物レンズ 108 および観察 物体 105 を相対的に駆動してそれら間の距離を調節する調節 手段 118 を設け、 検知手段 116 の出力を C P U111 に供給し、 開口絞り駆動手段 117 および調節手段 118 を C P U111 によ つて制御するようにする。
以下、 この実施例の動作を説明する。
先ず、 合焦動作開始の指令により、 C P U111 は検知手段 116 からの光学的条件を取り込み、 その光学的条件に基づい て開口絞り駆動手段 117 を介して開口絞り 106 を駆動し、 こ れにより照明光学系の開口数をほぼ最適な合焦度評価値が得 られるように調節する。
こ こで、 最適な照明光学系の開口数とは、 例えば対物レン ズ 108 が低倍率 (開口数が小さい) の場合には観察に適した 開口数より小さ く 、 逆に高倍率 (開口数が大きい) の場合に は観察に適した開口数より大きくする。
このようにして、 照明光学系の開口数をほぼ最適な合焦度 評価値が得られるように調節した後は、 C P U111 において タイ ミ ング回路 112 および撮像素子ドライバ 113 を経て撮像 素子 11ϋ を駆動し、 その映像信号をプリ アンプ 114 および AZD変換器 115 を経て取込んで所定の評価関数に従って演 算して得られる合焦度評価値に基づいて、 合焦度が最も高く なるように調節手段 118 を介して対物レンズ 108 および観察 物体 105 の相対的距離を調節する。
このとき、 観察物体 105 によっては、 合焦度評価値が小さ すぎて焦点状態が検出できなかったり、 あるいは合焦度評価 値のデフォーカスに対する変化が緩やかで合焦精度が悪い場 合があるので、 得られた合焦度評価値により さ らに開口絞り 駆動手段 1Π を介して開口絞り 106 を駆動し、 照明光学系の 開口数を合焦検出に最適な値と した後、 合焦動作を継続する こ とにより高精度な合焦度位置を得る。
この実施例では、 照明光学系の開口数を、 対物レンズ 108 が低倍率のときには観察に適した開口数より小さく 、 高倍率 のときには大きく設定するようにしたので、 対物レンズ 108 の倍率変換に伴う合焦度評価値曲線のデフオーカスに対する 特性の変化を最小限に抑えることができ、 したがって対物レ ンズ 108 の倍率変換に影響されることなく 、 常に高精度の焦 点整合動作を行う こ とができる。
なお、 この実施例において、 焦点整合動作の完了後は、 照 明光学系の開口数を対物レンズ 108 の倍率における観察に適 した値に自動設定あるいは使用者の好みによつて任意の値に 手動設定できることは勿論である。
第 7図はこの発明の第 5の実施例を示すものである。 この 実施例は、 結像光学系による観察物体 105 の像を予定結像面 の前後に配置したそれぞれ受光素子列から成る一対の撮像素 子 121 および 122 で受光するようにしたものである。 このた め、 この実施例では結像光学系を構成する結像レンズ 109 の 像側にハーフ ミ ラー 123 および反射ミ ラー 124 を配置して、 観察物体 105 上の一点から出射した光を対物レンズ 108 およ び結像レンズ 109 を通過後、 ハーフ ミ ラー 123 で二分しその —方を予定結像面より前方の光軸上に配置した撮像素子 121 で受光し、 他方を反射ミ ラー 124 で反射させた後、 予定結像 面より後方の光軸上に配置した撮像素子 122 で受光するよう にする。
撮像素子 121 および 122 は、 それぞれ C P U 111 からの指 令によりタイ ミ ング回路 125 , 126 および撮像素子ドライバ 127, 128 を経て所定のタイ ミ ングで駆動し、 それらの映像 信号をプリ アンプ 129, 130 で増幅した後、 AZD変換器 131, 132 によりデジタル信号に変換して C P U 111 にそれぞれ供 給するようにする。 その他の構成は第 4実施例と同様であり、 同一符号は同一作用を成すものを示す。
この実施例では、 第 4の実施例と同様に、 先ず合焦動作開 始の指令により、 C P U111 に検知手段 116 からの光学的条 件を取り込み、 その光学的条件に基づいて開口絞り駆動手段 117 を介して開口絞り 106 を駆動し、 これにより照明光学系 の開口数をほぼ最適な合焦度評価値が得られるように調節す る 0
このようにして、 照明光学系の開口数をほぼ最適な合焦度 評価値が得られるように調節した後は、 C P U111 において タイ ミ ング回路 125, 126 および撮像素子 ドライバ 127, 128 を 経て撮像素子 121, 122 を駆動し、 それらの映像信号をブリ ア ンプ 129, 130 および AZD変換器 131, 132 を経て取込んでそ れぞれ所定の評価関数に従って演算して得られる合焦度評価 値の比較に基づいてデフオーカス量を算出し、 それが最小と なるように調節手段 118 を介して対物レンズ 108 および観察 物体 105 の相対的距離を調節する。
このとき、 観察物体 105 によっては、 合焦度評価値が小さ すぎて焦点状態が検出できなかったり、 あるいは合焦度評価 値のデフオーカスに対する変化が緩やかで合焦精度が悪い場 合があるので、 得られた合焦度評価値により さ らに開口絞り 駆動手段 117 を介して開口絞り 106 を駆動し、 照明光学系の 開口数を合焦検出に最適な値と した後、 合焦動作を継続する ことにより高精度な合焦位置を得る。
この実施例においても、 第 4実施例と同様に照明光学系の 開口数を、 対物レンズ 108 が低倍率のときには観察に適した 開口数より小さ く 、 高倍率のときには大き く設定するこ とに より、 対物レンズ 1 08 の倍率変換に伴う合焦度評価値曲線の デフオーカスに対する特性の変化を最小限に抑えることがで きるので、 一対の撮像素子 12 1, 122 からの映像信号による合 焦度評価値の差が連続的に零となるデッ トゾ一ンが生じるこ となく 、 常に高精度の焦点整合動作を行う こ とができる。 なお、 この実施例においても、 焦点整合動作の完了後は、 照明光学系の開口数を対物レンズ 108 の倍率における観察に 適した値に自動設定あるいは使用者の好みによって任意の値 に手動設定できることは勿論である。
なお、 上述した実施例では、 対物レンズの倍率や開口数等 の光学的条件および撮像素子からの映像信号を所定の評価関 数に従って演算して得られる合焦度評価値に基づいて、 '照明 光学系の開口数をほぼ最適な合焦度評価値が得られるように 調節するようにしたが、 合焦度評価値のみ、 あるいは光学的 条件のみによつて照明光学系の開口数を制御するよう構成す るこ と もできる。
なお、 合焦度評価値のみによつて照明光学系の開口数を制 御する場合には、 先ずユーザの設定値のままで合焦動作を開 始し、 撮像素子からの影像信号を所定の評価関数に従って演 算して得られる合焦度評価値に基づいて対物レンズ 108 およ び観察物体 1 05 の相対的距離を調節し、 ほぼ合焦位置に近付 いてからその時の合焦度評価値をもとに開口絞り駆動手段 11 7 を介して開口絞り 106 を駆動し、 照明光学系の開口数を 合焦検出に最適な値と した後、 合焦動作を継続することによ り高精度な合焦位置を得る。 このように、 合焦度評価値のみ によつて照明光学系の開口数を制御する場合には、 対物レン ズの倍率や開口数等の光学的条件を検知する検知手段は不要 となる。
また、 この実施例は顕微鏡のみでなく 、 照明光学系を有す る各種の光学機器における焦点検出に有効に適用することが できる。
以上のように、 上記した第 4、 第 5の実施例によれば、 照 明光学系の開口数を変化させる開口絞り と、 この開口絞りを 駆動する開口絞り駆動手段とを設け、 この開口絞り駆動手段 を受光素子列から得られる画像情報および または結像光学 系の開口数を含む光学的条件に基づいてほぼ最適な合焦度評 価値が得られるように駆動制御するようにしたので、 既存の 顕微鏡や光学測定器等の構成を大幅に変更することなく、 対 物レンズの高倍時と低倍率とにおける合焦度評価値曲線のデ フォーカス特性を極力近似させるこ とができ、 対物レンズの 倍率変換による影響を少なくできる。 したがって、 結像光学 系の開口数等の光学的条件や様々なパワースぺク トルを有す る観察物体に対して常にほぼ最適な合焦度評価値を得ること ができ、 常に高精度で焦点状態を検出することができる。 以下に本発明の第 6の実施例について説明する。
まず、 第 6の実施例の基本的概念を第 8図、 第 9 A図、 第 9 B図を参照して説明する。
第 8図において 3 0 1 は結像光学系であり、 30 3 , 3 0 3 ' は 予定結像面近傍の 2つの物体像をそれぞれ撮像する 2つのィ メージセンサである。 304 は前記 2つのイメージセンサに前 記 2つの物体を投影するための光学系である。 302 , 302 ' は結像光学系 301 の予定結像面を示す。
第 9 A、 9 B図は、 前記 2つのイ メ ー ジセ ンサ 303 , 303 ' の撮像面を 1 0個の画素のライ ンセンサを例にとって 示したものであり、 イメ ージセンサ 303 の撮像面は画素寸法 が縦横の順に a , bで画素ピッチが pである。 そして、 ィメ —ジセンサ 303 ' の撮像面は、 画素寸法が縦、 横の順に k a , k bで、 画素ピッチが k pである。 このように、 本実施例に おいては、 2つのイメージセンサ間で、 画素寸法、 画素ピッ チの比率を一定値 k と したことを特徴とする。
すなわち、 本実施例においては、 物体像が入射したとき、 結像光学系 301 より、 イメージセンサ 303 , 303 ' 上に、 ィ ンフォーカス像とァゥ トフォ一カス像が形成され、 アウ トフ ォ一カス像はイ ンフォーカス像の k倍となる。 kは結像光学 系 301 によって決定されるが、 通常の顕微鏡では 1. 1以上 となる。 また、 2つのイメージセンサ 303 、 303 ' の撮像面 は第 9図のように形成されているので、 ィ ンフォーカス像は 第 9 A図の画素寸法、 画素ピッチで撮像される。 そしてイ ン フォーカス像の k倍のアウ トフォーカス像は、 第 9 B図で示 されるような k倍の画素寸法、 画素ピッチで撮像される。
従って、 k倍の倍率比のある 2つの物体像を、 物体がもと もともつ空間周波数分布に対して同レベルの分解能で撮像す ることが可能となる。 以下に、 第 1 0図を参照して、 上記した第 6の実施例を詳 細に説明する。
30 1 は結像光学系であり、 303 は予定結像面近傍の 2つの 物体像を撮像するイメージセンサである。 投影光学系 304 、 304 ' は前記イメ ージセンサ 303 に 2つの物体像を投影する ものであり、 ハーフ ミ ラーと ミ ラー、 又はプリズムなどによ つて構成される。 補正回路 305 は、 イメ ージセンサ 303 の出 力について、 固定パターン雑音、 暗電流成分などを補正する 回路であり、 外部よりのクロッ ク信号に同期して各画素に対 して補正を行う。 可変ゲイ ンアンプ 306 は外部コン トロール 信号によってゲイ ンをコン トロールする。 A Z Dコンバータ 307 は外部よりのクロッ ク信号に同期して A Z D変換を行う c ドライバ 308 は外部からクロッ ク信号を受けてィメ一ジセン サ 303 を ドライブ可能な信号に変換してイメ ージセンサ 303 に供給する。 メ モ リ回路 309 は高速で読み出される映像信号 を一時蓄積するものである。 蓄積は外部よりのク ロッ ク信号 に同期して行われる。 タイ ミ ングコン トローラ 310 は、 補正 回路 305、 可変ゲイ ンアンプ 306 、 A Z Dコ ンバータ 307 、 ドライバ 308 、 メモリ回路 309 の各々にクロック信号などを 供給する。
C P U 31 1 は、 タイ ミ ングコン トローラ 31 0 の制御や、 メ モ リ 回路 30 9 よ り画像データを読みだし、 合焦評価の演算 を行ったり、 その結果を出力したりする。 表示回路 3 1 2 は C P U 31 1 の合焦評価の演算結果を合焦検出装置使用者に対 して表示を行う。 第 1 1図はイメージセンサ 30 3 の受光部を示す図であり、 本実施例では図示するようなライ ンセンサを使用する。 イ ン フオーカス像受光用と して画素 32 1 が 2 0 0 ケ、 アウ ト フォ 一力ス像受光用と して画素 322 が 2 0 0 ケ同一直線上に配置 されている。 画素 32 1 のサイズは縦 a, 横 bであり、 ピッチ pで配置される。 画素 322 のサイズは縦 a ' , 横 b ' であり ピッチ P ' で配置される。
よつて受光ェリアはイ ンフォ一カス像用と して縦 b、 横 1 となり、 アウ トフォーカス像用と して縦 b ' 、 横 1 ' となる c こ こで a , b, p 1 a b ' P 1 ' は以下の関 係を満たす。
a = k a
b ' = k b - p ' = k p
1 = 2 0 0 x p - ( p - a )
1 ' = 2 0 0 x p ' 一 ( p ' — a ' )
上式で kは結像光学系によって決まる定数であり、 本実施 例では約 1 . 2である。
以下に、 第 1 0、 1 1、 1 2図を参照して本実施例の作用 を説明する。
結像光学系 30 1 に入射された物体像は光学系 304 によって イ メ ー ジセンサ 3 03 上に、 イ ンフ ォーカス像、 アウ トフ ォ 一カス像と して投影される。. この投影像のパターン例を第 1 2 A図に示す。 横軸はライ ンセンサのピッチ方向の物理 的位置を示す。 図で示されるよ うにイ ンフォーカス像、 ァ ゥ トフ ォ ーカス像の輝度分布はその レベル、 大きさが異な つている。 そして大きさはイ ンフ ォーカス像の k倍がァゥ ト フ ォーカス像の大きさとなり、 レベルはィ ンフ ォーカス像の 1 / k 2 倍がアウ トフ ォーカス像のレベルとなる。 kは前記 結像光学系によって決まる定数である。
イメ ージセンサ 303 の蓄積時間はタイ ミ ングコ ン ト ローラ 310 によって適切なものとされるので、 物体像を光電変換し たイメージセンサ 303 の出力は、 第 1 2 B図で示すようなも のとなり、 イ ンフ ォーカス像とアウ トフ ォーカス像の像の大 き さは同じとなる。 イ メ ージセンサ 303 の出力を補正回路 305 によって補正すると、 第 1 2 C図で示すような信号とな る。 イ ンフ ォーカス像、 アウ トフォーカス像はセンサの感度 誤差、 光学系 304 の光量分割比の誤差などによって第 1 2 C 図の Δ Eなどの誤差があるので次段の可変ゲイ ンアンプ 306 によって、 イ ンフ ォーカス像出力時、 アウ トフォーカス像出 力時でゲイ ンを変えてやり、 第 1 2 D図のように出力レベル をそろえることができる。 以上のようにして新たに光学部品 を追加することなく 、 物体像は合焦評価のための演算に適切 なものとなる。
こ こで、 C P U 311 は、 タイ ミ ングコ ン ト ローラ 310 にィ メージセンサ 303 の画像蓄積の開始、 終了、 さ らに蓄積終了 した画像データの読み出しをスター 卜させるための制御信号 を送る。 画像データの読み出しがスター トすると、 前記した ように可変ゲイ ンアンプ 306 より適切な状態に変換されたデ 一夕が時系列的に出力される。 可変ゲイ ンアンプ 306 の出力 は A D コ ンバータ 307 によって順次デジタルデータに変換 されメモリ回路 309 に画像データと して蓄積される。
タイ ミ ングコン トローラ 310 は画像デー夕の読み出しが終 了すると、 終了信号を C P U 311 にステータス信号と して送 o
C P U 311 はさ らにメモリ回路 309 より画像データを読み 出し、 合焦度を評価するための演算を行い、 その結果を表示 回路 312 に表示する。 表示と しては前ピン、 後ピン、 合焦の 3種類のいずれか 1つを表示してもよいし、 合焦位置までの 距離を表示してもよい。
上記の撮像、 撮像信号処理、 合焦度評価演算、 合焦度評価 結果の表示をく り返し行う ことにより、 リアルタイムに合焦 度を表示可能なフォーカスイ ンジケータを構成できる。 又、 合焦度評価結果をもとにフォー力シング動作 (自動合焦動作) を行えば、 自動合焦装置が構成できることは言うまでもない。 又、 本発明実施例では結像光学系 1 とイメ ージセンサ 303 の ァライメ ン トを容易にするため、 イ ンフォーカス像検出部と アウ トフ ォーカス像検出部を同一シリ コ ン基板上に形成した が、 イ ンフォーカス像検出とアウ トフォーカス像検出を別個 のイメージセンサで行う ことも可能である。
次に、 本発明の第 7の実施例を第 1 3図を参照して説明す O
本実施例は、 イメージセンサとして 2次元のエリアセンサ を用いて合焦評価エリアの選択を行う例である。 システムの ブロッ ク構成は、 第 1 0図の第 6の実施例と同じであり、 ィ メージセンサの受光面の形状は第 1 3図で示すようなもので ある。 イ ンフ ォ 一カス像受光用画素 323 が 20 0 X 20 0 = 4 0 0 0 0画素、 アウ トフ ォ ー力ス像受光用画素 324 が 2 0 0 x 2 0 0 = 4 0 0 0 0画素配置されている。
画素 323 のサイズは縦、 横 Cでピッチ P x , P yで配置さ れ、 画素 324のサイズは縦、 横 C ' でピッチ P x ' , P y ' で配置される。
—般的には X方向、 y方向のサンプリ ングピッチを等しく するように P x = P y、 P X ' = P y ' に設定する。 そして C、 C ' 、 P x、 P y、 P x ' 、 P y ' は以下の関係を満た す。
C ' = k C
P X ' = k P ( P y ' = k P y ) . 上式で kは第 6の実施例と同じく結像光学系によつて決ま る定数であり、 約 1. 2である。
本実施例においては、 第 6の実施例と同様に、 適切な状態 となった画像データがメモ リ回路 309 に書き込まれる。 こ こ で合焦評価エリ アの選択を行なった場合、 イ ンフ ォーカス像 データ数とァゥ トフ ォーカス像データ数を等しく対応させる ことができ、 C P U 311 による演算及びメ モ リ回路 309 から の画像データの口一 ドを簡単にすることができる。 ィ ンフ ォ 一カス像検出エリアとァゥ トフォーカス像検出エリ アの画素 サイズ、 及び画素ピッチが等しい場合はエリア選択時に、 物 体像の同一部分の画素データをロー ドし演算することは非常 に複雑となる。 以上、 上記した第 6、 第 7の実施例によれば、 新たに光学 部品を設けることなく、 イ ンフォーカス像、 アウ トフォー力 ス像の大きさの違いによる、 合焦位置検出誤差を取り除く こ とができ、 そのスペース削減効果、 コス ト低減効果は非常に 大きい。
[産業上の利用可能性]
以上のように、 本発明の自動焦点検出装置ほ、 対物レンズ の倍率が高倍率であつても光路差を大きく とる必要がなく焦 点検出の構成も簡単になるので装置の小型化が計れ、 顕微鏡 あるいは他の光学機器への利用可能性が大きい。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 試料を照明するための照明光学系と、
この照明光学系によって照明された前記試料からの光像を 受けて、 予定焦点面前方の所定距離だけ離れた位置に形成さ れる第 1の光像と、 予定焦点面後方の所定距離だけ離れた位 置に形成される第 2の光像とを形成する対物光学系と、
上記対物光学系からの上記第 1、 第 2の光像を受ける第 1 . 第 2の受光部を有し、 受光した上記第 1、 第 2の光像をそれ ぞれ対応する電気信号に変換する少なく と も 1つのイメージ センサと、
上記対物光学系の倍率を検出する倍率検出手段と、
上記少なく と も 1つのイメージセンサからの上記電気信号 に基づいて上記第 1、 第 2の光像のコ ン トラス トを演算する 演算手段と、
上記倍率検出手段による検出結果が低倍率であるときは、 上記演算手段によつて演算された上記第 1、 第 2の光像のコ ン トラス トの差に基づいて合焦点を検出するとともに、 上記 倍率検出手段による検出結果が高倍率であるときは、 上記対 物光学系の一部又は上記試料を光軸方向に移動させ、 上記第
1、 第 2の光像のうち一方または両方についてのコ ン トラス 卜の変化に基づいて合焦点を検出する合焦点検出手段とを具 備することを特徴とする自動焦点検出装置。
2 . 試料を照明するための照明光学系と、
この照明光学系によつて照明された前記試料からの光像を 受けて、 予定焦点面前方の所定距離だけ離れた位置に形成さ れる第 1の光像と、 予定焦点面後方の所定距離だけ離れた位 置に形成される第 2の光像とを形成する第 1の光学系と、 上記対物光学系からの上記第 1、 第 2の光像を受ける第 1 . 第 2の受光部を有し、 受光した上記第 1、 第 2の光像をそれ ぞれ対応する電気信号に変換する少なく とも 1つのイメージ センサと、
上記試料からの光像が上記予定焦点面上のみに投影される ように上記第 1 の光学系に隣接して設けられた第 2の光学系 と、
所定の条件に応じて、 上記第 1、 第 2の光学系を切り換え ることによって合焦点を検出する合焦点検出手段とを具備す ることを特徴とする自動焦点検出装置。
3 . 上記自動焦点検出装置がさ らに上記第 1の光学系'の倍 率を検出する倍率検出手段を具備し、 上記合焦点検出手段は 上記倍率検出手段による検出結果に応じて、 上記第 1、 第 2 の光学系を切り換えることを特徴とする請求の範囲 2に従つ た自動焦点検出装置。
4 . 上記合焦点検出手段が上記ィメ一ジセンサ上に投影さ れる光像の明るさに応じて上記第 1、 第 2の光学系を切り換 えることを特徴とする請求の範囲 2に従った自動焦点検出装 。
5 . 上記自動焦点検出装置がさらに、 上記照明光学系の開 口数を前記ィメージセンサからの出力信号に基づいて変化さ せる手段を具備することを特徴とする請求の範囲 1乃至 4の いずれかに従った自動焦点検出装置。
6 . 上記自動焦点検出装置がさ らに、 上記照明光学系の開 口数を、 上記対物光学系の開口数や倍率を含む光学的条件に 基づいて変化させる手段を具備することを特徴とする請求の 範囲 1乃至 4のいずれかに従った自動焦点検出装置。
7 . 上記自動焦点検出装置がさ らに、 上記照明光学系の開 口数を、 上記対物光学系の開口数や倍率を含む光学的条件と、 上記イメージセンサからの出力信号に基づいて変化させる手 段を具備することを特徴とする請求の範囲 1乃至 4のいずれ かに従つた自動焦点検出装置。
8 . 上記イメージセンサの上記第 1、 第 2の受光部の画素 寸法と画素ピッチが 2つの受光部間で一定の比率を有するこ とを特徴とする請求の範囲 1乃至 7のいずれかに従った自動 焦点検出装置。
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