WO1984000812A1 - Infrared detector - Google Patents

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WO1984000812A1
WO1984000812A1 PCT/JP1983/000259 JP8300259W WO8400812A1 WO 1984000812 A1 WO1984000812 A1 WO 1984000812A1 JP 8300259 W JP8300259 W JP 8300259W WO 8400812 A1 WO8400812 A1 WO 8400812A1
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WO
WIPO (PCT)
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time
shutter
output
infrared
oscillator
Prior art date
Application number
PCT/JP1983/000259
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Yukio Kasahara
Ritsuo Inaba
Original Assignee
Matsushita Electric Ind Co Ltd
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Filing date
Publication date
Priority claimed from JP57139419A external-priority patent/JPS5931423A/ja
Priority claimed from JP57223871A external-priority patent/JPS59114422A/ja
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Priority to DE8383902575T priority Critical patent/DE3380794D1/de
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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/38Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using extension or expansion of solids or fluids
    • G01J5/44Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using extension or expansion of solids or fluids using change of resonant frequency, e.g. of piezoelectric crystals

Definitions

  • the present invention relates to an infrared detection device.
  • thermal type and photon type infrared detecting devices have been used.
  • a relatively high-sensitivity and low-cost thermal io detector is used to measure the living space temperature in the wavelength region of 5 ⁇ or more.
  • a typical example of a thermal detection device is a pyroelectric element used for applications such as microwave ovens and crime prevention.
  • mono- Mi Sutaboro meter, 0 but is Sir Mopainore etc. these devices or elements, any der to obtain a ⁇ Naro grayed output, there are difficulties in terms of noise immunity,
  • the present invention has a digital output signal that satisfies these requirements.
  • An infrared detection device is a surface acoustic wave oscillator, wherein the surface acoustic wave propagation path of the surface acoustic wave propagation element is irradiated with infrared rays.
  • FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an infrared detector used in the infrared detector according to the present invention
  • FIG. 2 is a schematic diagram of the infrared detector shown in FIG.
  • FIG. 5 is a diagram showing a change in the oscillation frequency when the shutter is opened and closed
  • FIG. 3 is a diagram for explaining the timing of the opening and closing of the shutter and the counting of the clock pulse in the infrared detector according to the present invention.
  • Fig. 4 is the red color shown in Fig. 1 '; a block diagram for processing the signal from the outside line detection unit;
  • Fig. 5 is the lO test obtained by the high-sensitivity infrared detector of the present invention.
  • FIG. 6 is a diagram showing the relationship between the output #J temperature and the clock pulse count value.
  • FIG. 6 is a diagram for explaining the principle of the infrared detecting device according to the present invention
  • FIGS. 6 and 7 are block diagrams showing the configuration of a specific example of the infrared detecting device of the present invention
  • FIG. FIG. 1 is a diagram showing an example of the relationship between the temperature of the tidal target and the output.
  • FIG. 1 ⁇ is a block diagram showing another specific example of the infrared ray 15 detecting device according to the present invention. Is a diagram for explaining the operation of the example shown in FIG. 10,
  • FIG. 12 is a diagram showing still another specific example of the present invention, and
  • FIG. 13 is an example shown in FIG.
  • FIG. 2 is a diagram showing an observation example according to FIG.
  • FIG. 1 shows a configuration of an infrared detecting section used in the infrared detecting apparatus of the present invention.
  • 1 is Nioburichiumu etc.!
  • the piezoelectric substrates 2) and 3) are elastic wave transmitting electrodes 25 formed on the polished surface of the piezoelectric substrate 1 by a method such as vapor deposition, and 25 are digital electrodes and elastic wave receiving electrodes. With a digital electrode is there.
  • One end of the elastic wave transmitting interdigital electrode 2 and the elastic wave receiving interdigital electrode 3 are grounded, and the other ends are connected to the output side and the input side of the amplifier 4 respectively. It is connected.
  • Reference numeral 5 denotes an output terminal connected to the output side of the amplifier 4 via the capacitor 6 .
  • the feedback oscillator is configured as described above.
  • Reference numeral 8 denotes an object that generates infrared light!
  • Reference numeral 8 denotes an object that generates infrared light!
  • the shutter 9 is provided so as to be movable in the directions of arrows A and B, for example, by a driving means (not shown) such as a solenoid. move-shirts capacitor 9 one with Gill role eye shield from infrared light to reach the oscillator ⁇ from the detected member 8 in the arrow B direction, the piezoelectric substrate '1 acoustic wave Den ⁇ surface When the substrate is irradiated with infrared light, the temperature of the piezoelectric substrate 1 rises.
  • the temperature rise of the piezoelectric substrate 1 by infrared light emitted from the object to be detected 8 from the surface of the piezoelectric substrate 1 Ryo ⁇ away ⁇ O ° C is about i Z 1 ⁇ _Oo ° about C.
  • Slight temperature rise of 1 Bruno 1 ooo ° c is the amount measured difficult in such conventional thermal expansion measurement.
  • the present invention seeks to detect this minute temperature rise with high sensitivity by a change in the elastic constant of the piezoelectric substrate 1 . That is, the speed of the elastic wave propagating on the surface of the piezoelectric substrate- 1 changes due to the temperature rise9, and the speed change of the elastic wave causes the elastic wave transmitting and receiving waves to change. te - phase when it reaches the de-Sita Le electrodes 2, 3 ⁇ reception for I printer one Elasticity waves propagating between the di Sita Le electrode 3 changes. Only the phase variation, in particular the output frequency from the oscillator 7 changes, the dyed frequency, the co-down capacitor 6 , Via the output terminal 5]? The change in the frequency at this time is, for example, as described above, the object 8 at 0 ° C is set at a distance of TO from the oscillator 7, and the output frequency of the oscillator 7 is set to 1 to 1 MHz. OOH z
  • ⁇ f — a small- ⁇ -(l O: where is the temperature coefficient of the piezoelectric substrate 1, f is the number of vibrations of the oscillator 7, K is the thermal conductivity of the piezoelectric substrate 1, and is the elasticity Wave transmission and reception ⁇ half of the distance between digital and
  • Q represents the infrared light applied to the piezoelectric substrate 1 ⁇ Energy According to equation ( 1 ), ⁇ ⁇ , Q, are large and the piezoelectric substrate 1 with small ⁇ is small.
  • the frequency change due to infrared light irradiation is large.
  • the higher the temperature of the object 8 that irradiates the piezoelectric substrate 1 with infrared light the greater the frequency change.
  • the infrared light can be transmitted with good sensitivity. It can be detected.
  • Fig. 2 shows the infrared detector shown in Fig. 1
  • curve 1 1, 1 3 shows the change in Kino oscillation frequency and opened the shut motor 9, the change in frequency when curve 1.2, 1 4 closing the sheet catcher jitter
  • the indicated o / Q is the oscillation frequency of the oscillator 7 when the shutter 9 is closed.
  • / n is when the oscillation frequency is changed (decreased) when the shutter 9 is opened. Indicates the minimum value of.
  • the wave front of the waveform of the output from the oscillator is calculated, and when the number of wave fronts reaches a certain number, the shutter 9 is assumed to be in the open or closed state.
  • the oscillation frequency of the oscillator is slightly lower than when it is closed, so the open time and the closed time of the shutter 9 are only slightly shorter than the closed time. Be longer.
  • the shutter 9 is open, it is reduced by 300 Hz.
  • the oscillation signal from the above oscillator is used as a difference signal (for example, an oscillator signal) from an oscillation signal from another oscillator (a reference oscillator having the same configuration or another type of oscillator may be used).
  • a difference signal for example, an oscillator signal
  • FIG. 3 is a diagram for explaining an example in which the shutter opening / closing time and the _, clock pulse counting gate time are shifted by a certain time.
  • the horizontal axis indicates time, and the vertical axis indicates frequency.
  • the output waveform (only the oscillator may be used, or the difference frequency from the reference oscillator as described above) may be used. Rather, the latter is better.)
  • the wavefront was counted, and when the count reached a certain value, the shutter was closed and counting was performed again.
  • the clock pulse generated by the clock pulse generating means should be shifted by t ⁇ as shown in Fig. 3.
  • the constantly changing oscillator output (the output of the oscillator 7 or the reference generator: • The difference in clock pulse counting time caused by the difference output is large.
  • Fig. 4 shows one column of a concrete block diagram for implementing the above functions :)
  • the vibration absorber in Fig. 1 is indicated by reference numeral 41 and simultaneously. , at room temperature Dori off Bok and the Kage ⁇ of]? for excluding, Iruko oscillator 4 1 a reference O oscillator 4 2
  • There 3 ⁇ 4 irradiated with infrared light ⁇ £ to the vicinity of ⁇ unit 4 1, 4 2 output 'force from each bus Tsu off ⁇ times - circuit 4 3, 4 are input 4 to the mixer 4 5 via the oscillator 4 1 and 5 oscillator 4 2 frequency difference of the respective oscillation frequency mixer Output from 4 5.
  • the output from the mixer 45 is input to the frequency divider 46 to define the timing time for clock pulse counting.
  • the output from the frequency divider 46 opens and closes the shutter.
  • the phase shifter for making the mining was manually input, and the phase was set to O05 to O as described above.
  • Sheet catcher signals is advanced ⁇ 0 seconds Tsuda Dora Lee flop - human being in circuit 4 8 drives-shirts motor 4 9 at its output.
  • a clock signal generator 5 O is provided, and the clock signal generator 50 is operated by the signal from the frequency divider 46. In response to the shutter opening / closing signal that has shifted the clock, the clock pulse is counted.
  • FIG. 5 shows an example of the relationship between the temperature of the object to be detected and the count value of the hot pulse obtained by the configuration of the block diagram shown in FIG. In Fig. 3, the clock pulse count value is based on room temperature. According to this figure, the sensitivity is about 40 counts Z3 ⁇ 4 and 3 ⁇ 4].
  • the device 7 alone has an error of about 1 O times as compared with the obtained result.
  • the present invention also provides an optical system such as a lens system or a reflection of Cassegrain. Focusing infrared light using a system can improve sensitivity o
  • Figure 6 shows how the frequency changes when infrared radiation is continued using a shutter.
  • curves 61 and 63 show the oscillation frequency when the shutter is opened.
  • the curve 62 shows the change in frequency when the shutter is closed. / 0 is 1 key 1
  • oscillator ⁇ first figure oscillates at t ⁇ o In O to Wachi 1 ⁇ 1 MHz frequency.
  • the piezoelectric substrate 1 is irradiated with -infrared rays, and the oscillation frequency of the oscillator 5 gradually decreases.
  • the oscillation frequency changes by (-f n ) from the beginning.
  • OMPI 1a Increase to 1MHz. This condition is shown by curve 62.
  • t 2 to open the-shirts data again at t 1, t in the same manner as described above, it decreases the oscillation frequency follows a curve 6 3. Combine this! )return.
  • This a tree, and a signal that the oscillation output signal was turned into pulse from oscillator 7 of the sheet catcher jitter only the period between the time 64 and the time t ⁇ 5 going back from the closed Jill time only time t 2, on the other hand, shea
  • the difference from the pulsed signal of the same output signal during the period from the time 2 t "when the shutter is opened to the time 65, which also goes back by the time t 12, is compared with the value of the pulse.
  • the count signal at this time (difference between the above two pulse signals) is changed by the temperature of the object that radiates infrared rays. By measuring the signal, the temperature of the object to be measured can be determined.
  • FIG. 7 shows an example of the structure of an infrared ray detection device according to the present invention.
  • reference numeral 71 denotes the elastic surface wave oscillator (infrared ray detector) shown in FIG.
  • the output of the oscillator 1 is guided to the pulse generation circuit 2 and is pulsed.
  • the oscillator from the front of the (infrared detector) ⁇ 1 radiant infrared light from the object to be measured is incident,-shirts data which One are a-shirts capacitor 7 3 on its way provided ⁇ 3, the output of-shirts motor off Sudo times ⁇ 7 One by the 4 One driven Pulse circuit Ryo 2, a Tsu Pudau down mosquitoes c -.
  • Fig. 8 shows the configuration of an infrared (temperature) detection device that has been improved so as not to cause a change in the oscillation output frequency due to a rise in the temperature of the detector itself.
  • 8 1 is infrared
  • Reference numeral 15 denotes a 5-wire detector
  • reference numeral 82 denotes an oscillator having the same configuration (both have the same configuration as in FIG. 7 ).
  • Each output signal from the detector 8 1 and the oscillator 82 via a bus Tsu off ⁇ A down-flop 8 4, 8 5, is input to the mixer 0 8 6.
  • Buffer A / Fni S4, 85 is not always required.
  • the mixer 86 a frequency difference signal of the output signal from the detector 81 and the oscillator S2 is output.
  • the output signal frequency of mixer S6 is lower than the output frequencies of detector 581 and oscillator 82 by 3 ⁇ 4J.
  • the detector 8 1 and the oscillator 82 outputs a frequency of about 17 1 MHz der, - mixer 8 6 output was about 1 3 0 KHz.
  • the output of the mixer 86 is turned into a pulse signal by the pulsing circuit 8.
  • the shutter 83 is driven by the shutter opening / closing drive circuit 88.
  • Thailand Mi ranging signal from the drive circuit 8 8 (wherein the ⁇ catcher 2t ⁇ , 3 t 1 1, 6 4, 6 5 etc.) in response to the pulse signal of the pulse circuit 8 Ryo or al
  • the power of the pulse circuit 8 is monitored by a micro computer 89, including an up-counter to be powered up.
  • the drive circuit SS may be controlled by a command from the micro computer 89.
  • the number of counting pulses by the micro computer 89 is displayed on the display 9 9. ])indicate.
  • the heating groove can be controlled by a micro computer, as in the case of a heating cooker.
  • Fig. 9 shows how the number of counting pulses changes with changes in the temperature of the object to be measured.
  • FIG. 10 shows the configuration of another example of the infrared detection device of the present invention.
  • 1 O 1 and 102 in the figure indicate piezoelectric substrates.
  • the surfaces of these substrates 1 O 1 and 102 are provided with the digital digital electrodes (for example, 1 and 2) shown in 2 and 3 in FIG. o 3 ) is provided.
  • These Lee emissions Tadi digital electrodes are connected to
  • the amplifier 1 0 4, 1 0 5 constitutes a by cormorants infrared detector 1 1 O, 1 1 1 illustrated in Figure 1.
  • the piezoelectric substrate 1 0 1, 1 ⁇ 2 of the front, it Shutters 1 O 6 and 1 O 7 are provided, respectively, so that they can be opened and closed by the incidence of infrared rays (indicated by arrows).
  • FIG. 1 O 1 and 102 in the figure indicate piezoelectric substrates.
  • the surfaces of these substrates 1 O 1 and 102 are provided with the digital digital electrodes (for example, 1 and 2) shown in 2 and
  • the shutters 1 OS and 10 show a case where there are two infrared detectors.
  • the shutters 1 OS and 10 have the open / close phase of 180. And 3 ⁇ 4. That is, the shutters 106 and 107 are opened and closed in reverse.
  • the outputs 108 and 109 of these infrared detectors 110 and 111 are input to the waveform shapers 112 and 113 and output to the output terminals 114 and 115. You.
  • the shaped output waveform becomes a pulse waveform and is output from outputs 114 and 115.
  • the wavefront of the output frequency may be used as a pulse.o
  • the first 1 figure shows the change in frequency of the first infrared detecting apparatus ⁇ Figure 1 1 O, 1 1 1 of the output 1 0 8, 1 O 9.
  • Curves 12 1 and 12 2 show the frequency change of 1 OS and 1 OS, respectively.
  • t from O opens shea turbocharger jitter 1 O 6, a period in which shut data 1 O 7 is closed.
  • -Shirts motor 1 when the O 6 is opened the infrared rays are incident on the substrate 1 ⁇ 1, the output frequency of the detector 1 1 O you down.
  • the falling curve at this time is almost an exponential curve.o
  • the shutter 1 since the shutter 1 is closed, no infrared light enters the elements 1 and 2 , the output frequency of the vessel 1 1 1 rises.
  • the output terminal 1 1 of the 1 O diagrams, 1 1 the number of pulses change from 5 also large equipment ing. Therefore, if the difference between the frequency when the shutter is closed (the number of pulses) and the frequency when the shutter is opened (the number of pulses) is obtained, the temperature (the amount of infrared rays) of the object can be obtained.
  • the infrared detector S is only for one profit (for example, 11 O)
  • one measurement can be performed from when the shutter is closed to when it is opened (from ⁇ to t 3 in Fig. 11). or De) 3 which ⁇ 3 3 ⁇ 4 i indicates to i urchin in need ⁇ hours, since grooves certain result-shirts capable data O opened and closed alternately Retsue if Kiyoshi s device, the time required for a single measurement I9 j which takes half of the time.
  • FIG. 12 shows a configuration of an example of ts of the present invention.
  • FIG. 12 shows a configuration of an example of ts of the present invention.
  • 10 1 to 10 9 are exactly the same as in FIG. Also, the numbers of the detectors 11 1 ⁇ and 11 1 are the same.
  • Reference detecting equipment 1 3 0 Are I Do to mosquitoes, infrared incident 3 ⁇ 4 have structure is almost the same structure as the infrared detector 1 1 Omicron or 1 1 1.
  • the y emission Tadi digital electrodes 1 3 2 provided on the piezoelectric element 1 3 1 surface is connected to ⁇ device 1 3 3, that make up a feedback type oscillator.
  • the element 13 1 is provided with a lid 13 4 so that infrared light from the outside can enter the element 13 1, and an output having a constant frequency is output to the output terminal 13 5.
  • the three elements 101, 1 ⁇ 2, and 131 are thermally connected to each other and are equally affected by changes in ambient temperature.
  • Output signals of the output terminals 1 OS, 1 OS is engaged signal confused from mixer 1 3 6, 3 ⁇ at the output 1 3 5, respectively output terminals 1 3 8, 1 3 are One output end led to 9
  • the output signals of 13 8 and '13 9 are the frequencies of the difference between the output frequencies of detectors 11 1 and 13 ⁇ and 11 1 and 13 0, respectively.
  • Signal wife output 1 3 8 has a frequency of a signal of a frequency difference detector 1 1 Omicron and the detector 1 3 0 of the output signal.
  • the signals at the output terminals 1338 and 1339 are compensated for the ambient temperature and have an extremely stable 3 ⁇ 4 frequency.
  • this output signal has a level that can be handled by a normal microcomputer.
  • Et al shown is Rui is, such as in 'to have your output terminals 1 3 8, 3 9, the use of Terodai down method to double, can be lowered by the frequency, low-cost, to low-speed My co-down use Of course, it is advantageous.
  • Fig. 13 shows an actual measurement example of the output waveform of output terminal 1 38 in Fig. 12. - Ten- -
  • the infrared detector according to the present invention includes a feedback oscillator using an acoustic wave element, wherein the
  • the period during which the number of oscillation output waveforms of the feedback oscillator reaches a predetermined value is set as the shutter open / close time, and the clock signal generator is used.
  • the number of clock pulses from the shutter is counted while the shutter is open and the shutter is closed, and the difference between the count signals (directly detects the energy of the infrared light; Not only high sensitivity but also high detection accuracy and digital output can be obtained.
  • the shutter must be of a specific type, and a movable coil type, a movable iron piece type, etc. was also used.
  • the infrared detection device is configured such that a feedback oscillator is constituted by the elastic wave element and the amplifier, and that the infrared light applied to the elastic wave element is intermittently interrupted by the shutter.
  • the detection sensitivity is It has the feature of being very high, and has the feature that it has very good noise immunity because the output is a pulse. And the frequency change corresponds to the infrared energy
  • the temperature can be measured without touching the object to be measured. Can be measured. Also, by setting the pulse counting time by opening and closing the shutter to an appropriate value in accordance with the thermal time constant of the acoustic wave device, sensitivity can be improved to a higher level.
  • the infrared detector according to the present invention is characterized in that, of at least two or more feedback oscillators using a surface acoustic wave element, the elastic surface wave element is irradiated with infrared light to detect a minute temperature change of the element.
  • Output as a change in the oscillation frequency of the device, and the infrared light incident on the device is incident on the shutter by opening and closing the shutter provided in front of the device, and is incident on the two or more devices.
  • Infrared light is emitted by shifting the opening and closing phase of the shutter, the wave front (pulse) of the output waveform from the oscillator is counted, and the pulse at the opening and closing times of the shutter is counted. The difference between the numbers is determined.
  • the infrared energy is detected intermittently.
  • an optical system such as a lens system or Cassegrain is used. Focusing infrared light using a skin system can improve sensitivity.]) That.

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Description

明 細 '書
発明の名称 '
赤外線検出装置
技術分野
5 本発明は赤外線検出装置に関するものである。
背景技術
従来、 赤外線検出装置として、 熱型 , 光量子型のものが用い られている。 これらのう ち、 生活空間温度の測定には、 5 τη 以上の波長領域で、 比較的感度が高く、 また低価格である熱型 i o の検出装置が使用されている。 熱型の検出装置と して代表的る ものに、 電子レンジ , 防犯用などの用途に用いられる焦電型素 子がある。 その他にも、 サ一 ミ スタボロ メータ , サー モパイノレ 等がある 0 しかし、 これらの装置あるいは素子は、 いずれもァ ナロ グ出力を得るものであ 、 耐雑音性の面から難点があり、
1 5 デジタル出力を有する赤外線検出装置の出現が望まれていた。
さらに一方では、 マイク ロ コ ン ピュ ータの発達によ 、 直接 デジタル信号をマイ ク ロ コ ン ピュ ータ に入力でき る よ う ¾素子 の出現が要望されている。
発明の開示
0 本発明は、 これらの要求を満足す-る、 デジタル出力信号を有
し、 しかも高感度で低価格な熱型の赤外線検出装置を提供する ことを目的とするものである。
本発明の赤外線検出装置は、 弾性表面波発振装置において、 その弾性表面波伝搬要素の弾性表面波伝搬路に赤外線を照射す
5 ると、 赤外線の強度に応'じて発振周波数が変化することを応用
O ?L-
■¾。 _j . したものである。
図面の簡単な説明 ~
第 1 図は本発明にかかる赤外線検出装置に用いられる赤外線 検出部の概略構成図、 第 2図は第 1 図に示す赤外線検出部にお
5 いてシ ャ ツタを開閉したときの発振周波数の変化を示す図、 第 3図は本発明に示す赤外線検出部においてシ ャ ッ タ開閉とクロ ックパルスの計数のタィ ミ ングを説明する図、 第 4図は第 1 図 'に示す赤.外線検出部からの信号を処理するためのプロ ック図、 第 5図は本発明の高感度赤外線検出装置によ j9得られた、 被検 l O 出 #J温度とク α ックパル ス計数値の関係を示す図であるつ
第 6図は本発明にかかる赤外線検出装置の原理を説明するた めの図、 第了図 よび第 8図は本発明の赤外線検出装置の具体 例の構成を示すプロ ック図、 第 9図はその被潮定対象の温度と 出力との関係の一例を示す図、 第 1 ο図は本発明になる赤外線 1 5 検出装置の他の具体例を示すブ口 ック図、 第 1 1 図は第 1 0図 に示した例の動作を説明するための図、 第 1 2図は本発明のさ らに他の具体例を示す図、 第 1 3図は第 1 2図に示した例によ. る観測実施例を示す図である。
発明を実施するための最良の形態
20 まず、 本発明の赤外線検出装置 ついて、 その原理から説明 する。 第 1 図は本発明の赤外線検出装置に用いられる赤外線検 出部の構成を示している。 図にお て、 1 はニォブ漦リ チウ ム 等よ!)なる圧電性基板であ 、 2、 3はそれぞれ圧電性基板 1 の研磨表面に蒸着等の方法によ D形成された彈性波送波用ィン 25 タ ーディ ジタル電極 ,弾性波受波用ィ ンタ ーディ ジタ ル電極で ある。 弾性波送波用ィ ン タ 一ディ ジタル電極 2および弾性波受 波用ィ ンターディ ジタル電極 3の一端はァー スされ、 他端はそ れぞれ増巾器 4の出力側および入力側に接続されている。 5は コ ンデ'ンサ 6を介して増巾器4の出力側と接続された出力端子 である。
以上のよ うにして帰還型の発振器ァが構成されている。
8は赤外光を発生する被検出体であ!)、 9は被検出体 8と発 振器 7の間に設けられたシ ャ ツ タである。 シ ャ ツタ 9は、 たと えばソ レノ ィ ド等の駆動手段 ( 図示せず ) によ ])矢印 A , B方 向に移動可能に設けられてお ]? 、 点線に示す位置にあるときに は被検出体 8からの赤外光が発振器ァへ到達するのを遮ぎる役 目を持つつ シ ャ ツ タ 9が矢印 B方向へ移動し、 圧電性基板' 1 の 弾性波伝^表面上に赤外光が照射されると 、 圧電性基板 1 の温 度が上昇する。 たとえば圧電性基板 1 の表面から了 ^離れた ァ O °Cの被検出体 8から出た赤外光による圧電性基板 1 の温度 上昇分は約 i Z1〇oo °C程度である。 この 11 ooo °cの微少 温度上昇分は、 通常の熱膨張測定などでは測定困難な量である。
本発明は、 この微少温度上昇を、 圧電性基板 1 の弾性定数の 変化によ 高感度に検出しょ う とするものである。 す わち、 この温度上昇分によ 9、 圧電性基板-1 の表面を伝搬する彈性波 の速度が変化し、 この弹性波の速度変化によ 、 弾性波送波用 および受波用のィ ン タ —ディ ジタ ル電極 23の間で伝搬する 彈性波の弹性受波用ィ ンタ 一ディ ジタ ル電極3に到達するとき の位相が変化する。 その位相変化分だけ、 発振器 7からの出力 周波数が変化する ことに 、 そめ周波数を、 コ ン デンサ 6を , 介して、 出力端子 5 よ ]?取 出そう とするものである。 このと きの周波数の変化分は、 たとえば上記のよ う ァ 0 °Cの被検出 体 8を発振器 7から T O?離して置き、 かつ発振器 7の出力周波 数を 1 了 1 MH z に設定した場合にお て、 約了 O O H z であ
5 つた。 この周波数変化分は、 発振器了の周波数が高い程、 また 圧電性基板 1 の温度係数が大きい程大き く変化し、 計算による と次式で与えられる。 すなわち周波数変化分 は、
Δ f = — a 小 -±- ( l O である: ここで は圧電性基板 1 の温度係数、 f は発振器 7 の凳振周痰数、 Kは圧電性基板 1 の熱伝導率、 は弾性波送疚 および受浚 ^ィ ン タ —デ ジタ ル電 2 , 3間の距離の半分、
Qは圧電性基板 1 に与えられる赤外光 Ο エネ ル ギ ーを表わす (1)式によると α ν, Q, が大き く、 Κの小さい圧電性基板 1
1 5 を用いた構成にすると、 赤外光照射による周波数変化が大き く ¾る。 このとき、 圧電性基板 1 へ赤外光を照射する被検出体 8 の温度が高ければ高い程、 周波数変化は大き く る。 逆に、 圧 電性基板 1 と同程度の温度の被検出体 Sからの赤外光エネルギ
-は小さく 、 周波数変化は小さ く ¾ D、 周波数変化の検出がむ
20 ずかしく なる。 これは例えば、 室温-- (約 2 5で ) において、 人 体温( 釣 3 Οで ) を検出 したい場合などに相当する。
本発明は、 このよ うに、 温度差 (検出器の圧電性基板 1 の温 度と、 被検出体 8の温度差) が小さく、 出力周波数変化の小さ いときでも、 感度よ く赤外光を検出できるものである。
25 第 2図は、 第 1 図に示す赤外線検出装置において、 赤外光を
Ο ΡΙ IPO シ ャ ツ タ 9の開閉に応じて照射した!)、 照射しなかった ]) した ときの周波数変化の様子を示している。 図にお て、 曲線 1 1, 1 3はシャ ッタ 9を開けたと きの発振周波数の変化を示し、 曲 線 1 .2 , 1 4はシ ャ ッ タを閉じたときの周波数の変化を示す o /Q はシ ャ ツ タ 9が閉 じられた状態における発振器 7の発振周波数 であ ]?、 /nはシ ャ ツタ 9を開けた状態において発振周波数が変 化 (低下 ) したと きの最小値を示す。 す ¾わち、 時間を t と し た場合 t < 0では発振器了は /〇 なる周波数で発振してお ]9、 シ ャ ツ タを t = oで開けると、 圧電性基板 1 は赤外光の照射を 受け、 圧'電性基板 1 の温度がそれに応じて上昇するため、 弾性 定数の変化によ 発振周波数は次第に低下していき、 ^nに達す るつ このと きの周波数の減少の様子が ffi籙 1 1 に示されているつ そこで、 シ ャ ツタ 9を再び閉じると、 £電性基板 1 には赤外光 は照射され ¾く ¾ 、 圧電性基板 1 の温度は低下し、 弾性定数 の変化によ ]9発振周波数は Ο に戻る o この過程が曲線 1 2 に示される。 同様にして、 曲線 1 3 , 1 4が繰 ]?返される。 こ のと き、 発振器ァからの出力の波形の波頭を計算し、 この波頭 の数が一定の数に達したと き、 シ ャ ツ タ 9を開あるいは閉状態 にあることにすると、 シ ャ ツタ 9の開時には、 発振器ァの発振 周波数は閉時に比べて微少量低下す-るため、 シ ャ ッ タ 9の開時 間と閉時間とでは、 開時間の方が閉時間よ 微少時間だけ長く るる。 たとえば、 実験によると、 圧電性基板 1 の表面よ 7 cm 離れた位置に 1 O Oでの物体を設置すると、 シ ャ ツタ 9の閉時 において /o = 1 7 1 MH z の発振周波数であったもの力;、 シ -ャ ッ タ 9 の開時においては 3 0 0 Hz 減少レた o したがって、
OMPI シャ ツ タ 9の開時間は閉時間よ f0/fn = T1000000 /- ' 1 T0999700 倍だけ長く なる。 そこで、 次にこのシ ャ ツ タ開 時間およびシャ ッ タ閉時間をそれぞれ開ゲー ト時間 , 閉ゲー ト 時間と し、 別に設けたクロ ックパルス信号発生手段からのパ ル ス信号を開ゲ— 卜時間 , 閉ゲ一 ト時間内に計数する。 前述の例 でいえば、 発振波形の波頭値を 3 4 2 X 1 O6 個に設定した場 合、 シ ャ ツ タ 9の閉時間は、 3 4 2 X 1 Οό/ ΐ 7 1 Χ 1 0ό = 2秒と ]?、 開時間は 3 4 2 X 1 0°/ l 了 0, 9997 X 1 Οό =
2 。 00000 秒と ¾る 0 したがって、 クロ ッ クパルス と して、 5 O O MHz のク コ ック パ ル スを用いる と、 開時間と閉時間と の時間差 4 X 1 O— 0秒に計数されるパ ル スは 5 O O X 1 ΟόΧ 4 Χ 1 〇—。 = 2000 と i) 、 2 O OO カ ウ ン ト が計数値と して 求められる。 このよ うに、 本癸明によれば、 赤外光の照射によ るシ ャ ツ タ開時間と、 照射のない閉時間とのわずかの時間差で 大きいカ ウ ン ト数を得る ことができ、 感度を飛躍的に増大させ ることができる ものである。
さ らに、 上記の発振器了からの発振信号を、 他の発振器 ( 同 じ構成による参照用発振器でも よいし、 他の型の発振器でも よ い ) からの発振信号との差信号 ( たとえば発振器ァが 1ァ 1MHZ の場合、 他の発振器を 1 70 MHZ -とする と、 その差信号は 1 MHz と る ) を、 上記シ ャ ッ タ開閉用の出力信号に用いると、 赤外光の照射時と非照射時の周波数の差 3 O O Hzはそのまま の値であるので、 シ ャ ッ タ開閉時間の比は 1 MHz ( 1 MHz -
3 O O Hz ) = 1 O6 / 999了 OOと な 、 前述の 1 7 1 X 1 Οό / ΎΟ .999了 X 1 Οό よ 比の値が大き く な 、 よ 検出感
O PI WIPO 度が増大することに ¾る。 このとき、 上述の他の発振器と して、 第 1 図のものと同 じ構成で赤外光を照射し ¾いだけの参照用発 振器を用いる と、 同じ構成であるために、 発振器 7 との発振周 波数差はよ 小さ く な ])、 上述のよ う に検出感度の向上をよ はかる こ とができ、 その上さ らに発振器の周囲温度の変化によ 生じる発振周波数の変化分は、 発振器ァ も参照用発振器も同 じであるので、 差し引かれて周囲温度の影響がない構成のもの ができる ことになる。 つま 温度 ドリ 7 卜の ¾い赤外線検出器 を檮成する ことができ る。
第 3図は、 上述のシ ャ ツ タ開閉時間と _、 クロ ッ クパ ルス計数 ゲー ト時間をある時間だけずらせた場合の例について説明する 図である。 横軸は時間を、 縦軸は周波数を示すつ 前述の洌では、 シ ャ ッ タ 9が開く と、 出力波形 ( 発振器ァのみでも よいし、 前 述のよ う に参照用発振器との差周波数の出力でも よい。 むしろ 後者の方がよい ) の波頭の計数を行 い、 一定の計数値と ¾ っ て となると、 シ ャ ツ タは閉 じ、 再び計数を行 ¾ つた。 次に ここで述べる例では、 シ ャ ッ タは、 前述のよ う に t =◦から t = までは開き 、 t = から t = t 2 ま では閉 じ、 t = t 2 から t = t 3 ま では開く よ うに しておき、 ク ロ ッ クパル ス発生 手段か ら発生するク α ッ クパ ルスを計数するタ イ ミ ン グを、 第 3図に示すよ うに t〇だけずらせるつ すなわち、 t = t〇 から t = t 1 + t0 までの期間を シ ャ ッ タ開時のク ロ ッ クパ ルス計数 期間と し、 t = t + t〇力 ら t = t 2 + t0 までをシ ャ ツ タ閉時 のクロ ックパルス計数期間とする。 このよ うにすると、 刻々変 化する発振器出力 ( 発振器 7の出力ま たは、 参照用発: • 差出力 ) によ ]?生ずるク ロックパルス計数時間の差がよ 大と
¾ 、 その結果、 検出感度が増大する。 実験の結果、 検出器の 構造にも よるが、 ほぼ O · 05秒力 ら 0,7秒程度タ イ ミ ングをず . らせることによ -り 、 感度がも っ と も増大した。 この実験では、 圧電性基板 1 と してニ オブ黢リ チ ウ ムを用い、 発振周波数11 MHz 、 弾性波送波用および受波用のィ ンタ ーディ ジタル電極 2 , 3の間隔が約 25 mm、 第 3図に示す時間 t が 1 〜 2秒で あ つ 7^13
第 4図は、 上記の機能を実施するための具体的 ¾ブ口 ック図 の一'列を示すものである :) 第 1 図の凳振器ァは符号 4 1 で示さ れ、 また同時に、 室温 ドリ フ 卜 の影譽をと ]?除くため、 赤外光 を照射し ¾い参照用 O発振器 4 2 を兗振器 4 1 の近傍に §£して いるこ 発振器 4 14 2からの出'力は、 それぞれバ ッ フ ァ回络 4 3 , 4 4を介して混合器 4 5に入力され、 発振器 4 1 および5 発振器 4 2のそれぞれの発振周波数の差の周波数が混合器 4 5 から出力される。 混合器 4 5からの出力を分周器 4 6に入力し ク ロ ッ クパルス計数のためのタ イ ミ ング時間を規定するつ 分周 器 4 6からの出力はシャ ッ タを開閉する タ イ ミ ングを作るため の移相器 4 了に人力され、 前述のよ う に位相を O 05 〜 O。ァ0 秒進ませた信号をシ ャ ツ タ ドラ イ プ-回路 4 8に人れ、 その出力 でシ ャ ツ タ 4 9を駆動する。 一方、 ク ロ ック信号発生器 5 Oを 設け、 分周器 46か らの信号によ 働く 、 アッ プ Zダウ ンカ ウ ンタ 5 1 に入れ、 分周器 4 6からの信号、 すなわちタイ ミ ング をずらせたシ ャ ツ タ開閉信号によ ]9、 ク ロ ックパルス計数を行5 う 。 ア ッ プ Zダウ ン カ ウ ンタ 5 1 の出力をデ ィ スプレイ 5 2
OMPI - - r によ 表示する。 この表示が、 赤外検出出力を表わすも のであ る O
第 5図には、 第 4図に示すプロ ツク図の構成によって得られ た被検出体の温度とク 口 ッ クパルス計数値の関係の一例を示す ものである。 第 3図において、 ク ロ ッ クパルス計数値は室温を 基準にと っている.つ この図によれば、 感度は約 4 0 カウ ン ト Z ¾と ¾ ] 、 単に第 1 図に示した検出器 7その も ののみによ j?得 られた結果に比べ、 約 1 O倍の惑 ¾と ¾つた,つ 勿論、本発明に、 光学系、 たとえばレ ンズ系、 あるいはカ セグレ ン などの反射系 を用いて赤外光を集束すれぱ、 感度をよ 向上させるこ とがで きる o
第 6図はシ ャ ッ タを用いて、 赤外線の照射を靳続させたとき の周波数変化の様子を示しているつ 図において、 曲線 61 , 63 はシャ ッタを開いたときの発振周波数の変化を示し、 曲線 6 2 はシャ ッタを閉じたときの周波数の変化を示す。 /011
MHz であ 、 /n はシ ャ ツ タを開いたと きに発振周波数が変 化 ( 低下 ) したときの最小値であ ?、 また は シ ャ ツタ開閉 の時間間隔を示す。 す ¾わち、 第1 図の発振器ァは t <oでは O す わち 11 MHz の周波数で発振している。 t = 0で シ ャ ツ タを開ぐ と、 圧電体基板 1 は-赤外 ·線の照射を受け、 次第 に発振器 5の発振周波数が低下して行く。 そして、 t = で は発振周波数は最初から ( ー fn ) だけ変化する。 このとき の発振周波数の減衰の状態が曲線 6 1 に示されているわけであ る 0 t = t1 に つたときに、 シ ャ ツタを閉じると、 圧電体基 板 1 には赤外線が照-射される く ]?、 発振周波数は再び /o =
OMPI 1 ァ 1 MHz に上昇する。 この状態を曲線 6 2 で示す。 t = 2 t1 で再びシ ャ ツ タを開く と、 前述と同様にし t、 発振周波数 が低下し、 曲線 6 3をたどる。 これをく !)返す。 このと き、 シ ャ ッ タを閉 じる時刻 から時間 t 2だけさかのぼった時刻64 と時刻 t ·5 との期間のみの発振器 7からの発振出力信号をパル ス 化した信号と、 一方、 シ ャ ッ タを開ける時刻 2 t" から、同じ く時間 t1 2 だけさかのぼった時刻 6 5 との期間のみの同凳振 出力信号をパ ル ス化した信号との差とを、 アッ プ.ダウ ン カ ウ ン タで計測する .:) この時のカウン 卜信号 ( 上記二つのパ ル ス信号 の差 ) は、 赤外線を輻射する対象 ¾の温袤によ 9, 変化する 逆 にこのカ ウ ン ト信号を計測する と、 測定したい対象物の温度を 劉定する こ とができるつ
第 7図は本発 ¾にかかる赤外線续出装置の構或の一例を示し ている。 図において、 7 1 は第 1 図で示した彈性表面波発振器 ( 赤外線検出器 ) マを示す。 発振器ァ 1 の出力はパル ス化回路 了 2に導かれパル ス化される。 一方、 発振器 ( 赤外検出器)ァ1 の前方から、 測定されるべき対象物からの輻射赤外光が入射さ れ、 その途中にシ ャ ツ タ 7 3を設けてあるつ シ ャ ツ タ ァ 3は、 シ ャ ツ タ開閉.鬆動回珞 7 4によ つ て駆動されるつ パ ル ス化回路 了 2の出力は、 ア ッ プダウ ン カ ウ -タ ァ 5に入力され、 シ ャ ツ タ開閉暴動回珞了 4からのタ イ ミ ング信号 ( 第 6図における、 t 1 1 , 21 ^ , 31 ^ , 6 4 , 6 5な ど ) に応じて、 パ ルス化 回铬 3 2力ゝらの出力パル スを力 ゥ ン トする よ うにな つている。 こ ©ア ッ プダウ ン カ ウ ン タ ァ 5によ つて、 第6図に示した、65 から 2 t までの時間におけるパル ス信号 ( 閉時間出力パル ス 数) と、 6 4から ま での時間におけるパ ル ス信号 ( 開時間 出力パル ス数 ) との差を計測する。 この計測出力は、 マイクロ コ ン ピュ ータ 7 6に導かれ、 表示器 7 7によ !)表示される。 マ イ ク 口 コ ン ビュ ― タ 7 6には、 シ ャ ツ タ開閉駆動回路 7 4から
5 のタ イ ミ ング信号を入力しても よ く、 このタ イ ミ ング信号を入 力すれば、 ア ッ プダウ ンカ ウ ンタ 7 5の出力計測パ ル ス数の時 間変化を、 マ イ ク ロ コ ン ピュ ータ ァ 6 で記憶し、 各種制御に用 いるこ とができる。 例えば食品加熱調理器等に用いると、 食品 の温度を検出器 7 1 で検出 し、 出力パ ルス数の時間変化をマイ i o ク □ コ ン ピュ ー タ で計測していて、 一定のパ ル ス数に到達した ら、 加熟を停止させる等の用途に用いられる。
第 8図は上述の装置において、. 検出器自身の温度上昇による 発振出力周波数の変化を生じさせないよ う 'に改良した赤外線 (温度)検出装置の構成を示す。 第 8図において、 8 1 は赤外
1 5 線検出器を示し、 8 2は同一の構成でできた発振器( 共に第 1 図 7 と同構成のもの) を示す。 赤外線は、 シ ャ ッタ 8 3を介し て、 検出器 S 1 に入射し、 発振器 8 2は検出器周辺温度の変動 を くすために用いられる。 検出器 8 1 と発振器 8 2からの出 力信号はそれぞれバ ッ フ ァ ア ン プ 8 4 , 8 5を介して、 ミ キサ 0 8 6に入力される。 バ ッ フ ァ アン フニ S 4 , 8 5は必ずしも必要 で い。 ミ キサ 8 6では、 検出器 8 1 、 発振器 S 2からの出力 信号の周波数差信号がと ] 出される。 検出器 8 1 と発振器 8 2 とは、 その基本的 ¾構成が同一であるので、 ほぼ同じ周波数信 号である。 そのため、 ミキサ S 6の出力信号周波数は、 検出器 5 8 1 と発振器 8 2の出力周波数よ もか ¾ J 低い周波数と ¾る。 実験で^ ^、 検出器 8 1 と発振器 8 2の出力周波数が約 171MHz であ 、 —ミ キサ 8 6出力は約 1 3 0 KHz であった。 ミキサ 86 の出力はパルス化回路 8 了 によ って、 パルス信号になる。 一方 シ ャ ッ タ 8 3は、 シ ャ ッタ開閉駆動回路 8 8によ つて, 動され る。 同時に、 駆動回路 8 8からのタ イ ミ ング信号( 前記の ^ャ 2t^ , 3 t1 1 , 6 4, 6 5 ど) に応じて、 パ ルス化回路 8 了か らのパル ス信号を力 ゥ ン トするア ッ プダウ ン カ ウ ン タを含む、 マ イ ク ロ コ ン ピュ ー タ 8 9によ つ て、 パ ル ス化回路 8 了の ¾力 を監視する。 逆にマ イ ク ロ コ ン ピュータ 8 9からの指令によ 、 駆動回路 S Sが制御されるよ うにしても よい マイクロコ ン ビ ユ ー タ 8 9による計数パルス数を表示器 9 Οによ ])表示する。 あるいは、 前記のよ う 、 加熱調理器の钶のよ うに、 マ イ ク ロ コ ン ピ ュ ータ によ 、 加熱擾溝を ί御することができる ό
なお、 第ァ図 , 第 8図の実験では、 第 6図における t" と し て約 2秒、 6 4〜 t"間、 6 5〜 2 t" 間の時間を約 1 秒と し た。
第 9図は計数パルス数の、 測定対象物の温度変化に対する変 化の様子を示したものである。
第 1 O図は本発明の赤外線検出装置の他の例の構成を示す。 図の 1 O 1 , 1 0 2は圧電性基板 示している これらの基板 1 O 1 , 1 0 2の表面には、 第 1 図の 2および 3で示したよ う ィ ンタディ ジタ ル電極 (例えば 1 o 3 ) が設けられている。 これらのイ ン タディ ジタル電極は、 増巾器 1 0 4 , 1 0 5に接 続され、 第 1 図に示したよ う 赤外線検出装置 1 1 O , 1 1 1 を構成している。 圧電性基板 1 0 112の前面には、 それ ぞれシャ ッ タ 1 O 6 , 1 O 7が設けられてお ) 、 赤外線 (矢印 で示す ) の入射に対して開閉するようになっている。 第 1 O図 には赤外線検出装置が 2個の場合を示してあ jp 、 シ ャ ツタ 1 OS, 1 0 了は開閉位相が互いに 1 8 0。 と ¾つている。 つま 、 シ ャ ッタ 1 0 6 , 1 0 7は開閉が互いに逆に つている。 これら の赤外線検出装置 1 1 0 , 1 1 1 の出力 1 0 8 , 1 0 9は、 波 形整形器 1 1 2 , 1 1 3に入力され、 出力端子 1 1 4 , 1 1 5 に出力される。 波形整形された出力波形はパルス波形となって 出力 1 1 4 , 1 1 5から出力される。 検出装置 1 1 0 , 1 1 1 からの出力周波数の変化に応じて、 出力 1 1 4 , 1 1 5のパル ス数 も変化する。 そのため、 出力周波数の波頭をパルス と して よ い o
第 1 1 図は、 第 1 〇図の赤外線検出装置 1 1 O , 1 1 1 の出 力 1 0 8 , 1 O 9における周波数の変化を示したものである。 曲線 1 2 1 , 1 2 2はそれぞれ 1 O S , 1 O S の周波数変化を 示す。 時間が Oから t の間はシ ャ ッ タ 1 O 6が開き、 シャ ッ タ 1 O 7が閉じる期間である。 シ ャ ツ タ 1 O 6が開く と、 赤外 線は基板 11 に入射し、 検出器 1 1 Oの出力周波数が下降す る。 この時の下降曲.線は、 ほぼエキスポネ ン シ ャ ルの曲線であ る o 同様にこの期間は、 シ ャ ツ タ 1 マが閉じるため、素子 12 には赤外線が入射せず、 検出器1 1 1 の出力周波数は上昇する。 この上昇曲線もほぼエキスポネ ン シ ャ ル曲線である。 以下、 から t2 までは反対に、 シ ャ ツタ 16が閉じシ ャ ツ タ 1 〇 7 が開 くため図のよ う 曲線と 、 から t3、 t3から t4 と 同様にく り返す。 この時、 対象物( 図示-せず) からの赤外線ェ ネルギーを測定し ^う とする と、 すなわち対象物の温度を測定 しょ う とすると、 対-象物温度が高いほど、 赤外線放射エネルギ 一が高いため、 シ ャ ツ タの開閉による周波数変化量が大き ぐな る。 す ¾わち、 第 1 1 図に ける曲線の縦軸の高さが大き ぐな ]5、 曲線 1 2 1 , 1 2 2がそれぞれ曲線 1 2 3 , 1 2 4となる。 それに伴って、 第 1 O図の出力端 1 1 , 1 1 5からのパルス 数の変化量も大き ぐな る。 したがって、 シ ャ ツ タの閉時の周波 数 ( パ ルス数 ) と 、 シ ャ ツ タ開時の周波数 ( パルス数 ) の差を 求めると、 対象物の温变 (赤外線量 ) が求め られる。
この時、 も し、 赤外線検 S装置が 1 儲のみ ( 例えば 1 1 O ) である と、 一回の測定にシ ャ ッ タの閉時から開時まで (第 1 1 図の ^ から t3ま で ) 〇時間を必要とする 3 これを苐 3 ¾ i 示 すよ うに、 列えば 渙 s器で溝或すると シ ャ ツ タ O開閉が 交互に行なえるため、 一回の測定に要する時間が半分とる i9 j ですむよ うになる。 したがっ て応答速度が速 ぐ るる この時、 測定の方法と して、 第1 1 図の曲線 1 2 1 に いて、 oから t2, t2 から t4の間に測定 し、 同時に曲線 1 2 2において、 から t3, t3 から t5 と測定する方法と同時に、 曲線 1 2 1 , 1 2 2 を同時に用いて、 Oから t で測定、 ^ から t2 で測定すると いう よ うに測定する方法がある 3 ま—た、 第 1 O図に ける出力 端子 1 1 4 , 1 1 5からのパルス出力をマイ ク ロ コ ン ピュ —タ に入力し、 シ ャ ツ タ開閉時刻に同期させて加減させるこ とによ 、 デジタル信号と して処理することができる。
第 1 2図は、 本発明の tsの例の構成を示す。 図に て、
1 0 1 から 1 0 9は、 第 1 O図に けるものと全ぐ同じである。 また検出装置 1 1 ο , 1 1 1 の番号も同じである。 第 1 2図で は新たに、 参照用検出装置 1 3 0を設けてある。 参照用検出装 置 1 3 0は赤外線検出装置 1 1 Οあるいは 1 1 1 とほとんど同 じ構造であるカ 、 赤外線が入射し ¾い構造にな っている。 すな わち、 圧電性素子 1 3 1 の表面にイ ン タディ ジタル電極 1 3 2 を設け、 增巾器 1 3 3に接続され、 帰還型発振器を構成してい る。 素子 1 3 1 には外部からの赤外線が入射し ¾いよう にふた 1 3 4が設けられていて、 一定の周波数をもつ出力が出力端 1 3 5に出力される。 三つの素子 1 0 1 , 1 〇 2 , 1 3 1 は互 に熱的に接続されていて、 周囲温度変化に対して同じよ うに 影響を うけるよ うに ¾ つている。 出力端 1 O S , 1 O Sの出力 信号は、 ミ キサ 1 3 63ァで出力端1 3 5からの信号と混 合され、 それぞれ出力端 1 3 8 , 1 3 9に導かれるつ 出力端 1 3 8 , '1 3 9の出力信号はそれぞれ、 検出器 1 1 Οと 1 3 Ο および 1 1 1 と 1 3 0の出力周波数の差の周波数となつている。 つま 出力端 1 3 8の信号は、 検出器 1 1 Οと検出器 1 3 0の 出力信号の周波数の差の周波数の信号となっている。 さ らに、 出力端 1 3 8 , 1 3 9の信号は、 周囲温度に対して補償されて、 極めて安定 ¾周波数とるる.つ さらにま たこの出力信号は、 通常 のマイ コ ンで扱える程度の低い周波-数とするこ とができる利点 がある。 さ らに図示はるいが、 出力端 1 3 8 , 3 9などに'お いて、 ダブルへテロダイ ン方式を用いると、 周波数をよ 低下 させることができ、 低価格 ,低速度マイ コ ン使用に有利にるる ことは勿論である。
第 1 3図は、 第 1 2図の出力端 1 3 8の出力波形の実測例を — 10— -
, '示す。 測定対象物温度は 6 0_°C ,室温 2 5でであつた。
産業上の利用可能性
以上説明したよ うに、 本発明にかかる赤外線検出器は、 弾性 波素子を用いた帰還型発振器の、 前記^性波素子に、 シ ャ ツタ
5 を用いて赤外光を断続的に照射すると ともに、 この帰還型発振 器の発振出力波形の頭数が所定値に達する期間をシャ ッ タの開 閉時間に設定し、 クロ ック信号発生器からのクロ ックパ ル ス数 をシャ ッタ開 , シ ャ ツ タ閉の期間計数し、 その計数信の差の (直 で、 前記赤外光のエネルギーを検知する ものであるため、 きわ l O めて感度が高いだけで く、 検知精度も高く 、 またデジタル岀 力が得られるという特長を有するものである。
¾ 、 シ ャ ツ タは璣钱的 ものを. いてお 、 可動コ イ ル形、 可動鉄片形 ど o シ ャ ツ タ機構のものを^いたつ 池にも磁気に よ 作動するシ ャ ッ タ も用いた。
1 5 またさ らに本発明にかかる赤外線検出装置は、 弾性波素子と 増巾器とで帰還型発振器を構成し、 この弹性波素子に照射され る赤外線を、 シ ャ ツ タで断続するとと もに、 この シ ャ ツタの開 閉時刻よ 一定時間さかのぼった時刻から開閉時刻までの時間 におけるそれぞれの信号の周波数に応じたパル ス数すなわち開
20 時間出力パル ス数と閉時間出力パル-ス数との差を計測するこど によ ]?、 測定対象物温度を測定できるよ うにした赤外線検出装 置であ ]) 、 その検出感度が非常に高いという特長を有し、 その 上に、 出力がパルスであるため、 耐雑音性が非常に良好である 特長を有する。 そして、 周波数変化が赤外線エネルギーに対応
25 することから、 被測定対象物に接触することなく 、 その温度を 測定することができる。 またシ ャ ツ タの開閉によるパル ス計数 時間を、 弾性波素子の熱時定数にあわせて適当 ¾値にすること によ 1? よ 高感度にすることができる。
また、 本発明にかかる赤外線検出器は、 弹性表面波素子を用 いた少なく と も 2個以上の帰還型発振器の、 前記彈性表面波素 子に赤外光を照射し素子の微小温度変化を発振器の発振周波数 の変化と して出力し、 素子に入射される赤外光を素子前方に設 けたシ ャ ッタの開閉によ 断铳的に入射し、 前記 2個以上の素 子に入射する赤外光を前記シ ャ ッ タの開閉位相をずらせて行わ せ、 前記発振器からの出力波形の波頭 ( パ ル ス ) を計数し、 前 記シ ャ ッ タ の開時間と閉時間におけるパル ス数の差を求めるこ とによ j?赤外線エネ ルギ ーを違続して検知するよ うにしたもの. であるつ 勿論、 本発明に光学系、 たとえばレ ン ズ系 , あるいは カセグ レ ン ¾どの皮射系を用 て赤外光を集束すれば、 感度を よ ])向上させることができる。

Claims

, 請 求 の 範 Β_
1 . 弾性表面波素子ならびに增巾器で榛成された帰還型発振器 を有する赤外線検出器、 前記彈性表面波素子に照射されるべき 赤外線を新続するシ ャ ツタ、 および、 前記シ ャ ツタの開時刻あ るいは閉時刻よ 一定時間さかのぼった時刻から、 前記開時刻 までの時間における前記赤外線検出器からの開時間出力パルス 数と、 前記閉時刻までの時間における前記赤外線検出器からの ¾時間出力パル ス数とをそれぞれ計数する計数器をそ ¾え、 前 記計数器によ 前記開時間出力パルス数と前記閉時間出力パル ス数との差を計数する ことによ 、 前記彈性表面波素子に照射 される赤外線も しくは赤外線を放射する物体の温度を測定検出 することを特徵とする赤外篛検岀装量 c
2 . 請求の範 ¾第 1 項において、 弹牲表面莰素子 ¾らびに増 i巾 器で構成された帰還型発振器と シ ャ ッタとを少なくともニセ ッ ト有し、 赤外線検出器として働く一方の帰還型発振器の出力周 波数の温度を他方の帰還型発振器の発振周波数で補償すること を特徴とする赤外線検出器。
3 . 請求の範囲第2項において、 少なく とも二つの帰還型発振 器のそれぞれに設けられたシ ャ ツタを一方が開の状態のとき他 方が閉の状態にるるよう開閉させ^-ことを特徵とする赤外線検 出装置。
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