TWM468058U - 探測針座及具有該針座之探測線材 - Google Patents
探測針座及具有該針座之探測線材 Download PDFInfo
- Publication number
- TWM468058U TWM468058U TW102213204U TW102213204U TWM468058U TW M468058 U TWM468058 U TW M468058U TW 102213204 U TW102213204 U TW 102213204U TW 102213204 U TW102213204 U TW 102213204U TW M468058 U TWM468058 U TW M468058U
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- probe
- guiding
- wire
- sleeve
- conductive
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
本創作係有關係一種探針結構,尤指一種用以偵測同軸連接器訊號之探測針座。
於電子或電器設備上常見於同軸端子設於其中,透過同軸端子與另一對應之端子插設組裝,以使兩同軸端子分別組接的電子裝置可以便利地連結成導通狀態,以進行電子訊號的傳送或接收。
而該同軸端子的設計雖提供欲進行電性連接的兩電子裝置相當的便利性,然而,兩同軸端子於組接時會因此外力因素而造成二同軸端子無法對接組設或組設後容易鬆脫等情形,因此,同軸端子於製作完成後需要經過訊號的探測檢驗,以確保出廠之同軸端子的品質。
習知技術中,如台灣專利公告第I291269號所提出的一種同軸連接器及測定用同軸探測器,用來偵測其同軸端子的訊號品質;然而此習知結構其中心導體探測器係凸露於外殼,因此當該同軸探測器往下位移,與下方插座對應插設時,若下方插座的中心孔稍有偏斜,則該中心導體探測器便會與其產生衝撞,雖上方設有螺旋彈簧可為其緩衝該撞擊力,但由於該中心導體探測器結構強度極低,造成該中心導體探測器受到撞擊後即使未產生斷裂亦會產生歪斜狀況,導致其下次再做探測時的不準確性。
後續習知技術如台灣專利公告第M443308號所提出一種同軸連接器之探測器結構,用以解決前述技術中該探測器之探針受力衝擊損壞的缺失,其方式係於主套筒之套孔內套設有防護套筒,且於主套筒之套孔底端向內成形有抵靠緣,以與防護套筒上端所設止擋緣擋止定位,又於主套筒之套孔上端組設探針,且使該探針穿設藏於防護套筒之套孔中,藉此,將探針隱藏於防護套筒內,待防護套筒接觸到欲檢測之同軸連接器後,
方繼續作動使探針凸伸出防護套筒,以對同軸連接器進行檢測。
但此習知技術仍存在其問題,該探測器結構係利用主套筒內外增設彈簧元件,透過彈簧元件所產生的彈力來導正探針與同軸端子的相對位置,藉此避免探針的損害;然而其過多的彈簧元件設置,所產生的彈力反而適得其反,造成探針對位的不準確性,因此有必要再進一步的修正。
針對上述之缺失,本創作之主要目的在於提供一種探測針座及具有該針座之探測線材,透過於管體外周面設置單一彈性元件,以確實導正該針座之位置,有效防止探測針座之探針受力而損壞其結構。
為達成上述之目的,本創作係主要提供一種探測針座及具有該針座之探測線材,該探測線材主要包括一探測針座及一導接線材,其中該針座更包括一管體,於該管體外周面位置上設有一環形凸板,於該管體之一端上連接一套筒,並與該管體形成連通,於該套筒內係具有一通孔,又於該套孔內容設一探針並滑動於該通孔中,於該管體外周面上套設一彈性元件,其上之一端恰抵於該環形凸板,再於該管體之另一端外周面上套設一接合板,並用以壓掣該彈性元件,另於該管體並介於該接合板與管體之套合位置上設有一緩衝座,用以保持該管體之滑動功能順暢,最後,於該管體之另一端口上連接一接合筒,該接合筒之另一端面上係具有一穿孔,於該管體內設有一導電元件,其上分別具有一導接端及一導電端,該導接端係用以穿設於該穿孔內並外露其外,於該探針及該導電端間設有一導接組並產生電性連接,該導電元件係利用該導接組裡之導接彈簧推移該探針位置,而該導接線材係與該探測針座電性連接,該導接線材更包括一導線,該導線之一端係具有一導接端子,該導接端子係用以連接該導接端並產生電性連接,該導線之另一端係為一導接頭。
為讓本創作之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂,下文特舉較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說明如下。
1‧‧‧管體
11‧‧‧環形凸板
2‧‧‧套筒
21‧‧‧通孔
3‧‧‧彈性元件
4‧‧‧接合板
41‧‧‧套孔
42‧‧‧鎖孔
5‧‧‧緩衝座
6‧‧‧緩衝墊
7‧‧‧接合筒
71‧‧‧穿孔
8‧‧‧導電元件
81‧‧‧導接端
82‧‧‧導電端
9‧‧‧導接組
91‧‧‧導接彈簧
92‧‧‧導筒
10‧‧‧探針
20‧‧‧導接線材
201‧‧‧導線
202‧‧‧導接端子
203‧‧‧導接頭
204‧‧‧導接座
300‧‧‧插座
400‧‧‧連接座
401‧‧‧開口
第一圖係為本創作之立體結構分解圖。
第二圖係為本創作之組合完成圖。
第三圖係為本創作之結構剖視圖。
第四圖係為本創作之組合示意圖。
第五圖係為本創作之操作示意剖視圖。
第六圖係為本創作之另一實施例結構剖視圖。
第七圖係為本創作之另一導接線材結構示意圖。
第八圖係為本創作之另一導接線材組合完成圖。
第九圖係為本創作之又一導接線材組合完成圖。
請參閱第一圖,係為本創作之立體結構分解圖。如圖所示,本創作之探測針座係主要包括一中空管體1,該管體1之一端係旋接一套筒2,該套筒2係為中空狀,該套筒2係與管體1相連通,於該套筒2之另一端面上則具有一通孔21,如第三圖之結構剖視圖所示,另於該管體1鄰近連接套筒2之外周面位置上設有一環形凸板11,又於該管體1外周面上係套設一彈性元件3,該彈性元件3於本實施例中係為一彈簧,且該彈性元件3套設於該管體1後,其上之一端恰抵於該環形凸板11上,藉此以限制該彈性元件3之伸縮範圍,另該管體1之另一端外周面上係套設一接合板4,其中該接合板4係具有一貫穿板體之套孔41,係用以套設該管體1,並使該管體1於該套孔41內具有滑動作用,於該套孔41之兩側位置上則設有鎖孔42,用以穿設固定元件(圖未明示),另於該套孔41與管體1外周面間係套設一緩衝座5,於本實施例中該緩衝座5係為塑膠材質所構成,用以保持該管體1之滑動功能順暢,並減少管體1與套孔41相對之磨損作用,再於該緩衝座5底部位置設有一環型緩衝墊6,該緩衝墊6亦套設於該管體1之外周面上,並用與該彈性元件3之另一端相抵,致使該接合板4產生滑動作用時該緩衝墊6同時壓掣該彈性元件3;另於該管體1之另一端口係旋接一接合筒7,其中該接合筒7係為一中空筒體,該接合筒7之另一端面上係具有一穿孔71;最後,於該管體1內設有一導電元件8,該導電元件8係為一柱體,其上分別具有一導接端81及一導電端82,該導接端81係用以穿設於該穿孔71內並外露其外,而該導電端82係連接一導接組9並與其產生電性連接,該導接組9更包括一導接彈簧91及一導筒92,於本實施例中該導
接彈簧91係為一導電彈簧,該導接彈簧91係容設於該導筒92內,該導筒92係容設該導接彈簧91並導正該導接彈簧91之伸縮位置不偏疑外,該導筒92之一端係容設該導電端82,而該導接組9則連接一探針10,該導筒92之另一端係容設該探針10,該探針10與該導接彈簧91產生電性連接,該探針10係容設於該套筒2內並穿設於該通孔21中,如第三圖之結構剖視圖,且該探針10於該通孔21及導筒92內具有滑動作用;其組合完成圖如第二圖所示。
請參閱第四圖及第五圖,係為本創作之組合示意圖及操作示意剖視圖。如圖所示,本創作之探測針座係與一導接線材20電性連接,其中該導接線材20係包括一導線201,該導線201之一端係具有一導接端子202,該導接端子202係用以連接該導接端81並產生電性連接,該導線201之另一端係為一導接頭203,用以連接訊號裝置(圖未明示)便以讀取訊號;如第五圖所示,該探測針座係對應插設於一插座300上,而該探測針座插設於該插座300後,該探針10受擠壓而復回該通孔21(如箭頭所示),而後透過該接合板4帶動並朝插座300壓掣,同時帶動內部之導電元件8同步向下移動,此時管體1外周面所套設之彈性元件3亦受到擠壓時而產生彈力,並產生導正作用藉以導正該探測針座與插座300之相對位置,以避免伸出之探針10因角度不正或孔位誤差產生損壞或偵測不確實之情況發生,而該導電元件8帶動向下之同時亦擠壓該導接組9之導接彈簧91,該導接彈簧91推移該探針10,使探針10對應伸入該插座300之孔位中,以確實量取訊號並回傳。
請參閱第六圖,係為本創作之另一實施例結構剖視圖。如圖所示,本實施例中係於該接合筒7之外周面上套設一連接座400,該連接座400係為一中空座體,該連接座400套設於該接合筒7後並同時套設於管體1之外周面,將其部分之管體1包覆於其中,藉以固定該連接座400之相對位置,該連接座400係具有一開口401,該開口401係用以容設並保護該外露於該穿孔71之導接端81。
請參閱第七圖,係為本創作之另一線材結構示意圖。如圖所示,該導接線材20之導線201一端係連接一導接座204,該導接座204內
係容設該導接端子202(圖未明示),該導接座204係用以直接對應套設於該連接座400上,致使該導接線材20與探測針座形成電性連接,藉此組合成該探測線材之結構,如第八圖之另一導接線材組合完成圖所示;另如第九圖之又一導接線材組合完成圖所示,該導接線材亦可如不同需求將其彈性元件3移除。
惟以上所述之實施方式,是為較佳之實施實例,當不能以此限定本創作實施範圍,若依本創作申請專利範圍及說明書內容所作之等效變化或修飾,皆應屬本創作下述之專利涵蓋範圍。
1‧‧‧管體
11‧‧‧環形凸板
2‧‧‧套筒
21‧‧‧通孔
3‧‧‧彈性元件
4‧‧‧接合板
41‧‧‧套孔
42‧‧‧鎖孔
5‧‧‧緩衝座
6‧‧‧緩衝墊
7‧‧‧接合筒
71‧‧‧穿孔
8‧‧‧導電元件
81‧‧‧導接端
82‧‧‧導電端
9‧‧‧導接組
91‧‧‧導接彈簧
92‧‧‧導筒
10‧‧‧探針
Claims (20)
- 一種探測針座,係包括:一管體,於該管體外周面位置上設有一環形凸板;一套筒,係連接於該管體之一端上,與該管體形成連通,於該套筒內係具有一通孔;一探針,係容設於該套筒內,並滑動於該通孔中;一彈性元件,係套設於該管體外周面上,其上之一端恰抵於該環形凸板;一接合板,係套設於該管體之另一端外周面上,使該管體相對於該接合板具有滑動作用,並用以壓掣該彈性元件;一緩衝座,係套設於該管體並介於該接合板與管體之套合位置上,用以保持該管體之滑動功能順暢;一接合筒,係連接於該管體之另一端口上,該接合筒之另一端面上係具有一穿孔;一導電元件,係設於該管體內,其上分別具有一導接端及一導電端,該導接端係用以穿設於該穿孔內並外露其外;及一導接組,該導接組更包括一導接彈簧,該導接彈簧分別連接該探針及該導電端並產生電性連接,該導電元件係利用該導接彈簧推移該探針位置。
- 如申請專利範圍第1項所述之探測針座,其中該接合筒之外周面上更套設一連接座,該連接座套設於該接合筒後並同時套設於管體之部份外周面。
- 如申請專利範圍第2項所述之探測針座,其中該連接座係具有一開口,用以容設並保護該外露於該穿孔之導接端。
- 如申請專利範圍第1項所述之探測針座,其中於該緩衝座底部位置更設有一環型緩衝墊,該緩衝墊套設於該管體之外周面上,並用與該彈性元件之另一端相抵。
- 如申請專利範圍第1項所述之探測針座,其中該導接組更包括一導筒,該導筒之兩端係分別容設該導電元件之導電端及探針。
- 如申請專利範圍第5項所述之探測針座,其中該導接彈簧係容設於該導筒內。
- 如申請專利範圍第1項所述之探測針座,其中該導接彈簧係為一導電彈簧。
- 如申請專利範圍第1項所述之探測針座,其中該接合板更具有一套孔,用以套設該管體。
- 如申請專利範圍第8項所述之探測針座,其中於該套孔兩側更設有複數鎖孔。
- 一種具有針座之探測線材,係包括:一探測針座,該針座更包括:一管體,於該管體外周面位置上設有一環形凸板;一套筒,係連接於該管體之一端上,與該管體形成連通,於該套筒內係具有一通孔;一探針,係容設於該套筒內,並滑動於該通孔中;一接合板,係套設於該管體之另一端外周面上,使該管體於該套筒內具有滑動作用;一緩衝座,係套設於該管體並介於該接合板與管體之套合位置上,用以保持該管體之滑動功能順暢;一接合筒,係連接於該管體之另一端口上,該接合筒之另一端面上係具有一穿孔;一導電元件,係設於該管體內,其上分別具有一導接端及一導電端,該導接端係用以穿設於該穿孔內並外露其外;一導接組,該導接組更包括一導接彈簧,該導接彈簧分別連接該探針及該導電端並產生電性連接,該導電元件係利用該導接彈簧推移該探針位置;一導接線材,係與該探測針座電性連接,該導接線材更包括一導線,該導線之一端係具有一導接端子,該導接端子係用以連接該導接端並產生電性連接,該導線之另一端係為一導接頭。
- 如申請專利範圍第10項所述之具有針座之探測線材,更包括一彈性元件,係套設於該管體外周面上,其上之一端恰抵於該環形凸板,其另一端係與該接合板連接並利用該接合板壓掣該彈性元件。
- 如申請專利範圍第10項所述之具有針座之探測線材,其中該接合筒之 外周面上更套設一連接座,該連接座套設於該接合筒後並同時套設於管體之部份外周面。
- 如申請專利範圍第12項所述之具有針座之探測線材,其中該導線之一端更具有一導接座,該導接座內係容設該導接端子,該導接座係用以直接對應套設於該連接座上,致使該導接線材與探測針座形成電性連接。
- 如申請專利範圍第12項所述之具有針座之探測線材,其中該連接座係具有一開口,用以容設並保護該外露於該穿孔之導接端。
- 如申請專利範圍第11項所述之具有針座之探測線材,其中於該緩衝座底部位置更設有一環型緩衝墊,該緩衝墊套設於該管體之外周面上,並用與該彈性元件之另一端相抵。
- 如申請專利範圍第10項所述之具有針座之探測線材,其中該導接組更包括一導筒,該導筒之兩端係分別容設該導電元件之導電端及探針。
- 如申請專利範圍第16項所述之具有針座之探測線材,其中該導接彈簧係容設於該導筒內。
- 如申請專利範圍第10項所述之具有針座之探測線材,其中該導接彈簧係為一導電彈簧。
- 如申請專利範圍第10項所述之具有針座之探測線材,其中該接合板更具有一套孔,用以套設該管體。
- 如申請專利範圍第10項所述之具有針座之探測線材,其中於該套筒兩側更設有複數鎖孔。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW102213204U TWM468058U (zh) | 2013-07-12 | 2013-07-12 | 探測針座及具有該針座之探測線材 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW102213204U TWM468058U (zh) | 2013-07-12 | 2013-07-12 | 探測針座及具有該針座之探測線材 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TWM468058U true TWM468058U (zh) | 2013-12-11 |
Family
ID=50155697
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW102213204U TWM468058U (zh) | 2013-07-12 | 2013-07-12 | 探測針座及具有該針座之探測線材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
TW (1) | TWM468058U (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106571550A (zh) * | 2015-10-08 | 2017-04-19 | 宏达国际电子股份有限公司 | 连接器 |
-
2013
- 2013-07-12 TW TW102213204U patent/TWM468058U/zh not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106571550A (zh) * | 2015-10-08 | 2017-04-19 | 宏达国际电子股份有限公司 | 连接器 |
TWI603538B (zh) * | 2015-10-08 | 2017-10-21 | 宏達國際電子股份有限公司 | 連接器 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2485335B1 (en) | Contactor and electrical connection device | |
TWI612742B (zh) | 連接模組 | |
US8641446B1 (en) | Coaxial probe | |
TWI530036B (zh) | Connectors and performance boards, motherboards, and semiconductor test devices including the connector | |
KR20160141848A (ko) | 무선주파수 테스트 소켓 및 무선주파수 테스트 케이블 | |
TW201339586A (zh) | 具有絕緣構件之電氣連接器 | |
US20140210504A1 (en) | Testing device for electronic device testing | |
CN102097713A (zh) | 具有内部耦联器的同轴电缆连接器及其使用方法 | |
TWI668451B (zh) | Conduction device | |
TW201504631A (zh) | 光電元件檢測用之高頻探針卡 | |
KR20200002214U (ko) | 플로팅 커넥터 | |
TWI522623B (zh) | Probe module (1) | |
TW201714361A (zh) | 連接器 | |
TWM468058U (zh) | 探測針座及具有該針座之探測線材 | |
KR101509200B1 (ko) | 신호특성이 강화된 프로브핀 | |
US20150168453A1 (en) | Probe module | |
CN108627676B (zh) | 信号自动对接装置及收容结构 | |
TWI522621B (zh) | Test fixture | |
KR101815011B1 (ko) | 포고 핀 및 이를 구비하는 전자 부품 테스트 장치 | |
KR101906575B1 (ko) | 카메라모듈 검사장치 | |
KR101310290B1 (ko) | 포고핀 및 이를 이용하는 회로 검사장치 | |
TWI449918B (zh) | 測試用探針裝置 | |
JP5402718B2 (ja) | コネクタ | |
JP2005283218A (ja) | コネクタ検査用治具 | |
CN106169666A (zh) | 触碰式低频电连接器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MK4K | Expiration of patent term of a granted utility model |