TWM449268U

TWM449268U - 具有翻轉裝置的檢測設備

Info

Publication number: TWM449268U
Application number: TW101219542U
Authority: TW
Inventors: Chia-Chun Tsou; Hong-Ju Tsai; Chen-Ming Chang; Chih-Hung Hsu
Original assignee: Utechzone Co Ltd
Priority date: 2012-10-09
Filing date: 2012-10-09
Publication date: 2013-03-21

Description

具有翻轉裝置的檢測設備

本新型是有關於一種檢測設備，特別是指一種以回流輸送方式輸送待測料片並可對待測料片進行上、下表面檢測之具有翻轉裝置的檢測設備。

檢測設備通常用以檢測一待測料片的表面瑕疵，以判斷待測料片是否為良品。檢測設備的一輸送裝置會將待測料片輸送至一光學檢測裝置處，使光學檢測裝置先對待測料片的一上表面進行檢測的動作，以檢測上表面是否有如異物、刮痕或凹凸等表面形態的瑕疵。當上表面檢測完成後，輸送裝置會將待測料片輸送至一翻轉裝置，翻轉裝置是透過一設置於旋轉臂的一吸盤吸附於待測料片的上表面，藉由一馬達帶動旋轉臂翻轉180度，使待測料片的下表面朝向上方。接著，輸送裝置便能將翻轉後的待測料片輸送至另一個光學檢測裝置，以對待測料片的下表面進行檢測的動作。

前述翻轉裝置的吸盤通常會連接至一抽氣機構，透過抽氣機構的啟動，可使吸盤的複數個吸嘴產生吸力，藉此，吸盤可透過複數個吸嘴吸附待測料片。若該等吸嘴的吸附力量不均勻時，旋轉臂帶動待測料片翻轉的過程中，很容易發生待測料片脫離吸盤而掉落，造成待測料片受損或破裂的情形。此外，由於整個翻轉裝置的構造複雜，且檢測設備需透過兩組光學檢測裝置分別對待測料片的上表面與下表面進行檢測，因此，導致檢測設備的製造成本較高。再者，如何能自動化地將成堆的複數待測料片一片一片地依序輸送至輸送裝置上，使入料更有效率以節省入料工時，也是個需克服的問題。

本新型之一目的，在於提供一種具有翻轉裝置的檢測設備，翻轉裝置構造簡單且製造成本低，並能迅速且確實地進行待測料片的翻轉作業。

本新型之另一目的，在於提供一種具有翻轉裝置的檢測設備，入料裝置能自動化地將成堆的複數待測料片一片一片地依序輸送至輸送裝置上，能迅速且有效率地進行入料作業，並可節省入料工時。

本新型之又一目的，在於提供一種具有翻轉裝置的檢測設備，透過回流式輸送待測料片的設計方式，只需透過一組光學檢測裝置便可對待測料片的上表面與下表面進行檢測，藉此，能有效降低製造成本。

本新型的目的及解決先前技術問題是採用以下技術手段來實現的，依據本新型所揭露的具有翻轉裝置的檢測設備，適於檢測複數片待測料片的表面瑕疵，各待測料片具有一上表面及一相反於上表面的下表面，檢測設備包含一輸送裝置、一進料裝置、一光學檢測裝置，及一翻轉裝置。

輸送裝置包括一輸送帶體，該輸送帶體具有一前端及一後端，該輸送帶體可沿一由前朝後的輸送方向輸送各該待測料片；進料裝置包括一鄰近於該輸送帶體的該前端的進料輸送帶，及兩個左右相間隔的擋止塊，該等待測料片上下堆疊於該進料輸送帶上，該進料輸送帶可沿該輸送方向輸送各該待測料片至該輸送帶體，各該擋止塊位於該等待測料片與該輸送帶體之間並可擋止該等待測料片，各該擋止塊間隔位於該進料輸送帶上方且與該進料輸送帶之間形成一可供各該待測料片通過的間隙，該間隙大於各該待測料片的一厚度並且小於該厚度的兩倍；光學檢測裝置設置於該輸送帶體的該前、後端之間且位於該輸送帶體上方，該光學檢測裝置用以對該輸送帶體上的各該待測料片的該上表面或該下表面進行檢測；翻轉裝置鄰近於該輸送帶體的該後端用以翻轉各該待測料片，該翻轉裝置包含一導引機構及一頂推機構，導引機構包括一鄰近於該後端用以承接由該輸送帶體所輸出的各該待測料片的導引滑台，及一連接於該導引滑台的阻擋台，該導引滑台形成有一穿槽，該導引滑台及該阻擋台在一收折狀態時，該導引滑台呈傾斜並與該阻擋台之間夾一角度，該導引滑台用以導引各該待測料片朝向該阻擋台滑移到一預定位置，使各該待測料片的一末端抵接於該阻擋台而該下表面抵靠於該導引滑台；頂推機構設置於該導引滑台並包括一與該穿槽位置相對應的頂推件，該頂推件可穿伸出該穿槽並將位於該預定位置的各該待測料片的該下表面朝該阻擋台方向頂推，以帶動各該待測料片旋轉並使該上表面抵靠於該阻擋台。

本新型的目的及解決先前技術問題還可以採用以下技術手段進一步實現。

該阻擋台可轉動地樞接於該導引滑台，該導引滑台及該阻擋台可在該收折狀態及一攤開狀態之間變換，在該攤開狀態時，該導引滑台及該阻擋台分別呈水平，該阻擋台將各該待測料片承載於該下表面朝上的一水平狀態。

檢測設備還包含一設置於該進料裝置前方的收料裝置，該導引滑台包含兩個前輸送帶，該兩前輸送帶左右相間隔並界定出該穿槽，該阻擋台包含一用以阻擋各該待測料片的後輸送帶，在該攤開狀態時，該兩前輸送帶與該後輸送帶前後相間隔且與該輸送帶體共同位於同一水平高度，該後輸送帶、該兩前輸送帶、該輸送帶體與該進料輸送帶可沿一由後朝前的回送方向輸送各該待測料片至該收料裝置。

該收料裝置包括一設置於該進料輸送帶前方的分料輸送帶，及兩個分別位於該分料輸送帶左右側的收料模組，該進料輸送帶可沿該回送方向輸送各該待測料片至該分料輸送帶，該分料輸送帶可沿一左右方向輸送各該待測料片至該兩收料模組其中之一。

各該收料模組包含一固定座、一可滑動地連接於該固定座的承載件，及一設置於該固定座與該承載件之間的驅動單元，該承載件包括一用以承接各該待測料片的承載面，該驅動單元用以驅使該承載件沿一上下方向相對於該固定座向上或向下移動。

該導引滑台還包含兩個左右相間隔的導引滑軌，各該導引滑軌呈長形且間隔位於對應的該前輸送帶上方，各該導引滑軌長向與對應的該前輸送帶平行，該兩導引滑軌用以導引各該待測料片滑移到該預定位置。

該後輸送帶包括一前緣，該阻擋台還包含兩個左右相間隔且鄰近該前緣的擋止板，各該擋止板呈長形且其長向與該後輸送帶垂直，各該擋止板間隔位於該後輸送帶上方且與該後輸送帶之間形成一空隙，該空隙大於各該待測料片的一厚度並且小於該厚度的兩倍。

各該導引滑軌包括一用以供各該待測料片的該下表面抵接的主導引面，各該擋止板包括一可擋止各該待測料片的後擋止面，在該收折狀態時，該導引滑台的前輸送帶與該阻擋台的後輸送帶之間夾的該角度為90度，各該擋止板鄰近於對應的該前輸送帶且間隔位於對應的該導引滑軌下方，該後擋止面與該前輸送帶之間的垂直距離小於該主導引面與該前輸送帶之間的垂直距離。

各該導引滑軌還包括一與該主導引面相連接的斜導引面，該兩導引滑軌的斜導引面可分別供各該待測料片的左右側抵接。

該阻擋台還包含兩個左右相間隔且分別與該兩擋止板相連接的側板，該兩側板可分別擋止於各該待測料片的左右側。

該翻轉裝置還包含一與該導引機構相連接的驅動機構，該驅動機構用以驅使該導引滑台及該阻擋台在該收折狀態與該攤開狀態之間變換。

該導引滑台包含一前框架，及兩個分別樞接於該前框架後端左右側的樞接板，該阻擋台包含一後框架，該兩樞接板分別樞接於該後框架前端左右側，該驅動機構包括兩個分別連接於該兩樞接板的驅動組件，各該驅動組件包含一與對應的該樞接板樞接的頂推桿，及一氣缸，該氣缸用以驅動該頂推桿往復移動以帶動該導引滑台及該阻擋台在該收折狀態與該攤開狀態之間變換。

該頂推機構還包括一用以驅使該頂推件作動的驅動元件、一用以感測各該待測料片是否移動到該預定位置的感測元件，及一電性連接於該感測元件與該驅動元件之間的控制器，當各該待測料片滑移到該預定位置時，該感測元件會傳遞一感測訊號至該控制器以使其控制該驅動元件驅動該頂推件作動。

該頂推件為一擺臂，該驅動元件為一可驅動該擺臂往復旋轉的馬達。

該頂推件為一推桿，該驅動元件為一可驅動該推桿往復移動的氣缸。

該進料裝置還包括兩個左右相間隔的側導引板，該兩側導引板分別擋止於各該待測料片的左右側並用以導引各該待測料片沿該輸送方向移動。

各該擋止塊可滑動地連接於對應的該側導引板並具有一下端，該下端與該進料輸送帶之間形成該間隙，各該擋止塊可沿一上下方向相對於對應的該側導引板滑動以調整該間隙大小。

各該擋止塊形成一長形導槽，該長形導槽的長向沿該上下方向延伸，各該側導引板包含一用以導引各該待測料片移動的導引板體，及一穿設於該長形導槽並螺鎖於該導引板體的螺絲。

該導引板體包括一頂面，該進料裝置還包括兩個高度微調機構，各該高度微調機構包含一與對應的該擋止塊相連接的支架，及一設置於該支架上的測微頭，該支架間隔位於對應的該導引板體的頂面上方，該測微頭包括一固定於該支架的固定套筒、一套設於該固定套筒上的旋轉套筒，及一螺接於該旋轉套筒且部分凸伸出該固定套筒的頂推螺桿，該頂推螺桿的軸向與該頂面垂直，且該頂推螺桿頂抵於該頂面。

該進料裝置還包括一導柱，該導柱沿一左右方向延伸，該兩側導引板套設於該導柱上並可沿該左右方向相對於該導柱移動以調整兩者之間的距離。

藉由上述技術手段，本新型具有翻轉裝置的檢測設備的優點及功效在於，藉由入料裝置能自動化地將成堆的複數待測料片一片一片地依序輸送至輸送裝置上，能迅速且有效率地進行入料作業，並可節省入料工時。此外，藉由構造簡單的翻轉裝置設計，能降低製造成本，並能迅速且確實地進行待測料片的翻轉作業。再者，透過回流式輸送待測料片的設計方式，只需透過一組光學檢測裝置便可對待測料片的上表面與下表面進行檢測，藉此，能有效降低製造成本。

有關本新型之前述及其他技術內容、特點與功效，在以下配合參考圖式之二個較佳實施例的詳細說明中，將可清楚的呈現。透過具體實施方式的說明，當可對本新型為達成預定目的所採取的技術手段及功效得以更加深入且具體的了解，然而所附圖式只是提供參考與說明之用，並非用來對本新型加以限制。

在本新型被詳細描述之前，要注意的是，在以下的說明內容中，類似的元件是以相同的編號來表示。

如圖1、圖2及圖3所示，是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第一較佳實施例，該檢測設備200適於檢測複數片待測料片1的表面瑕疵，本實施例的待測料片1是以一不可透光的電路基板為例作說明，各待測料片1具有一上表面11及一相反於上表面11的下表面12(如圖4所示)。當然，待測料片1也可為其他不可透光的待測元件，並不以電路基板為限。

如圖1、圖3、圖4及圖5所示，檢測設備200包含一機座20、一輸送裝置2、一進料裝置3、一光學檢測裝置4，及一翻轉裝置50。輸送裝置2設置於機座20頂端並包含一輸送帶體21，輸送帶體21具有一前端211及一後端212，輸送帶體21可沿一由前朝後的輸送方向I輸送各待測料片1。進料裝置3包括一鄰近於輸送帶體21的前端211的進料輸送帶30，及兩個左右相間隔的擋止塊31，該等待測料片1上下堆疊於進料輸送帶30上，進料輸送帶30可沿輸送方向I輸送各待測料片1至輸送帶體21。各擋止塊31位於該等待測料片1與輸送帶體21之間並可擋止該等待測料片1，各擋止塊31間隔位於進料輸送帶30上方且與進料輸送帶30之間形成一可供各待測料片1通過的間隙310，間隙310大於各待測料片1的一厚度T並且小於該厚度T的兩倍，在本實施例中，待測料片1的厚度T是以1.6mm為例，而間隙310是以2.4mm為例。藉此，當進料輸送帶30沿輸送方向I帶動該等待測料片1移動時，間隙310只允許位於最底端的一片待測料片1通過，其餘的待測料片1則會被各擋止塊31阻擋而無法移動，使得進料輸送帶30能將堆疊在一起的該等待測料片1一片一片地依序輸送至輸送帶體21上。光學檢測裝置4安裝於機座20頂端，光學檢測裝置4設置於輸送帶體21的前端211與後端212之間且位於輸送帶體21上方，光學檢測裝置4用以對輸送帶體21上的各待測料片1的上表面11或是下表面12進行檢測。

如圖1、圖6、圖7及圖8所示，翻轉裝置50鄰近於輸送帶體21的後端212用以翻轉各待測料片1，藉此，使得光學檢測裝置4先對待測料片1的上表面11檢測完成後，接著，便能夠對待測料片1的下表面12(如圖4所示)進行檢測的動作。翻轉裝置50包含一導引機構5，及一頂推機構6。導引機構5包括一鄰近於輸送帶體21的後端212用以承接由輸送帶體21所輸出的各待測料片1的導引滑台51，及一連接於導引滑台51的阻擋台52，導引滑台51形成有一穿槽510，導引滑台51及阻擋台52在一收折狀態(如圖8所示)時，導引滑台51呈傾斜並與阻擋台52之間夾一角度A，導引滑台51用以導引各待測料片1朝向阻擋台52滑移到一預定位置，使各待測料片1的一末端13抵接於阻擋台52而下表面12抵靠於導引滑台51。頂推機構6設置於導引滑台51並包括一與穿槽510位置相對應的頂推件61。當導引滑台51及阻擋台52在收折狀態且待測料片1位在預定位置時，頂推件61可穿伸出穿槽510並將位於預定位置的待測料片1的下表面12朝阻擋台52方向頂推，以帶動待測料片1旋轉並使上表面11抵靠於阻擋台52。需說明的是，當導引滑台51及阻擋台52在收折狀態時，阻擋台52可以是呈水平或是呈傾斜，角度A是界在大於0度並小於180度的範圍內，角度A的設定是以阻擋台52能夠達到阻擋待測料片1且待測料片1在翻轉後能定位在阻擋台52上的角度為佳。

以下將針對檢測設備200的具體構造與操作方式進行詳細說明：

如圖3及圖4所示，在本實施例中，進料裝置3還包括兩個左右相間隔的側板件32，及兩個可轉動地樞於兩側板件32上且分別鄰近側板件32前後端的滾輪33，進料輸送帶30纏繞於兩滾輪33上，透過兩滾輪33的轉動能帶動進料輸送帶30進行旋轉運動。進料裝置3還包括兩根導柱34，及兩個側導引板35，各導柱34連接於兩側板件32之間，兩側導引板35分別套設於各導柱34上且左右相間隔，兩側導引板35分別擋止於各待測料片1的左右側並用以導引各待測料片1沿輸送方向I移動，藉此，以避免進料輸送帶30將待測料片1輸送至輸送帶體21的過程中待測料片1產生歪斜不正的情形。較佳地，各導柱34沿一左右方向II延伸，兩側導引板35可沿左右方向II相對於導柱34移動以調整兩者之間的距離，藉此，使得兩側導引板35之間的距離可隨著不同尺寸之待測料片1的寬度而對應地調整大小。

如圖4及圖5所示，各擋止塊31可滑動地連接於對應的側導引板35內側並具有一下端311，下端311與進料輸送帶30之間形成間隙310，各擋止塊31可沿一上下方向III相對於對應的側導引板35滑動以調整間隙310大小，藉此，使得間隙310可隨著不同尺寸之待測料片1的厚度T而對應地調整大小。具體而言，各擋止塊31形成有兩個上下相間隔的長形導槽312，各長形導槽312的長向沿上下方向III延伸。各側導引板35包含一用以導引各待測料片1移動的導引板體351，及兩個螺絲352，各螺絲352穿設於對應的長形導槽312內並螺鎖於導引板體351，本實施例的擋止塊31略呈傾斜狀地透過螺絲352連接於導引板體351。當然，擋止塊31也可是以其長向與進料輸送帶30垂直地連接於導引板體351。透過各螺絲352與對應的長形導槽312相配合的關係，限制了擋止塊31只能沿長形導槽312的長向相對於導引板體351滑動，藉此，操作人員可透過手動方式拉動擋止塊31向上或向下滑動以調整間隙310的大小。

如圖3、圖4及圖5所示，為了使操作人員能夠精準且迅速地微調間隙310的大小，在本實施例中，各導引板體351包括一頂面353，進料裝置3還包括兩個高度微調機構36，各高度微調機構36包含一與對應的擋止塊31相連接的支架361，及一設置於支架361上的測微頭(Micrometer head)362。支架361透過例如為螺絲鎖固的方式固定地連接於對應的擋止塊31上，支架361間隔位於對應的導引板體351的頂面353上方。測微頭362包括一固定於支架361的固定套筒363、一套設於固定套筒363上的旋轉套筒364，及一螺接於旋轉套筒364且部分凸伸出固定套筒363底端的頂推螺桿365，頂推螺桿365的軸向與頂面353垂直，且頂推螺桿365頂抵於頂面353。操作人員可透過轉動旋轉套筒364以控制頂推螺桿365凸伸出固定套筒363底端的長度，由於頂推螺桿365底端頂抵於頂面353，且固定套筒363透過支架361固定地連接於擋止塊31上，因此，當頂推螺桿365凸伸出固定套筒363底端的長度越長，固定套筒363會透過支架361帶動擋止塊31越往上移，使間隙310逐漸變大。反之，當頂推螺桿365凸伸出固定套筒363底端的長度越短，固定套筒363會透過支架361帶動擋止塊31越往下移，使間隙310逐漸變小。藉由固定套筒363外表面刻劃的刻度(圖未示)與旋轉套筒364外表面刻劃的刻度(圖未示)相配合，操作人員便能精準且迅速地微調間隙310的大小。

如圖2及圖9所示，在本實施例中，阻擋台52可轉動地樞接於導引滑台51，導引滑台51及阻擋台52可在收折狀態及一攤開狀態(如圖9所示)之間變換。當導引滑台51及阻擋台52由收折狀態變換至攤開狀態時，導引滑台51及阻擋台52分別呈水平，且阻擋台52將待測料片1承載於下表面12(如圖4所示)朝上的一水平狀態。此時，可透過任何移載輸送的手段將待測料片1移載至輸送裝置2的輸送帶體21上，使輸送帶體21能將待測料片1回送至光學檢測裝置4處以進行下表面12的檢測。由於翻轉裝置50的構造簡單，因此，能有效地降低製造的成本。再者，藉由翻轉裝置50能迅速且確實地對各待測料片1進行翻轉，能避免在翻轉待測料片1的過程中造成待測料片1受損或破裂的情形。

如圖1、圖7及圖9所示，導引滑台51包含一前框架511、兩個可轉動地樞於前框架511上且分別鄰近前框架511前後端的滾輪512，及兩個纏繞於兩滾輪512上的前輸送帶513，兩前輸送帶513左右相間隔並且共同界定出穿槽510，透過兩滾輪512的轉動能帶動各前輸送帶513進行旋轉運動。阻擋台52包含一後框架521、兩個可轉動地樞接於後框架521上且分別鄰近後框架521前後端的滾輪522，及一纏繞於兩滾輪522上用以阻擋待測料片1的後輸送帶523，透過兩滾輪522的轉動能帶動後輸送帶523進行旋轉運動。當導引滑台51及阻擋台52在攤開狀態時，兩前輸送帶513與後輸送帶523前後相間隔且與輸送帶體21共同位於同一水平高度。檢測設備200還包含一設置於進料裝置3前方的收料裝置8，當導引滑台51及阻擋台52在攤開狀態時，後輸送帶523、兩前輸送帶513、輸送帶體21與進料輸送帶30可沿一由後朝前的回送方向IV輸送各待測料片1朝收料裝置8移動，使得光學檢測裝置4能對待測料片1的下表面12進行檢測後，再透過收料裝置8將完成檢測的待測料片1進行回收。藉由後輸送帶523與前輸送帶513沿回送方向IV輸送待測料片1至輸送帶體21上的設計方式，能夠方便且迅速地將待測料片1回送至輸送帶體21上，以避免在移載待測料片1的過程中發生掉落的情形。

如圖6、圖7及圖8所示，導引滑台51還包含兩個分別樞接於前框架511後端左右側的樞接板514，兩樞接板514還同時分別樞接於後框架521前端左右側，藉此，使得導引滑台51的前框架511及阻擋台52的後框架521能透過樞接板514相對樞轉。翻轉裝置50還包含一與導引機構5相連接的驅動機構7，驅動機構7用以驅使導引滑台51及阻擋台52在收折狀態與攤開狀態之間變換。具體而言，本實施例的驅動機構7包括一底座70，及兩個設置於底座70上且分別連接於兩樞接板514的驅動組件71，各驅動組件71包含一與對應的樞接板514樞接的頂推桿711，及一氣缸712，氣缸712底端樞接於底座70，氣缸712用以驅動頂推桿711在一初始位置(如圖8所示)及一頂推位置(如圖9所示)之間往復移動，以帶動導引滑台51及阻擋台52在收折狀態與攤開狀態之間變換。

如圖4、圖7、圖8及圖9所示，為了使導引機構5能夠先依序暫存已完成上表面11檢測之待測料片1並將其堆疊在一起，以便導引滑台51及阻擋台52在攤開狀態時能夠將堆疊在一起的複數片待測料片1依序回送至輸送帶體21上，在本實施例中，是透過下述結構設計來實現。

導引滑台51還包含兩個設置於前框架511上且左右相間隔的導引滑軌515，各導引滑軌515呈長形且間隔位於對應的前輸送帶513上方，各導引滑軌515長向與對應的前輸送帶513平行，兩導引滑軌515用以導引待測料片1滑移到預定位置。阻擋台52還包含兩個設置於後框架521上且左右相間隔的側板524，及兩個分別設置於兩側板524內側且左右相間隔的擋止板525。兩側板524可分別擋止於待測料片1的左右側，各擋止板525鄰近於後輸送帶523的一前緣526處，各擋止板525呈長形且其長向與後輸送帶523垂直，後輸送帶523、兩側板524以及兩擋止板525共同界定一可供待測料片1暫存的容置空間527。

如圖9及圖10所示，各擋止板525間隔位於後輸送帶523上方且與後輸送帶523之間形成一空隙528，空隙528大於待測料片1的一厚度T並且小於該厚度T的兩倍，在本實施例中，空隙528是以2.4mm為例。透過前述的設計，使得後輸送帶523沿回送方向IV輸送堆疊在一起的待測料片1時，空隙528只允許位於最底端的一片待測料片1通過，其餘的待測料片1則會被各擋止板525的一後擋止面529阻擋而無法移動，藉此，使得後輸送帶523能將堆疊在一起的複數片待測料片1一片一片地依序回送至前輸送帶513上。

如圖7、圖8及圖11所示，各導引滑軌515包括一用以供待測料片1的下表面12(如圖4所示)抵接的主導引面516，當導引滑台51及阻擋台52在收折狀態時，導引滑台51的前輸送帶513與阻擋台52的後輸送帶523之間夾的角度A為90度，各擋止板525鄰近於對應的前輸送帶513且間隔位於對應的導引滑軌515下方，且各擋止板525的後擋止面529與對應的前輸送帶513之間的垂直距離D1小於各導引滑軌515的主導引面516與對應的前輸送帶513之間的垂直距離D2。藉此，當待測料片1沿著導引滑軌515的主導引面516朝後輸送帶523方向滑移時，能順利地越過兩擋止板525而移動到預定位置，以避免待測料片1在滑移過程中撞擊到擋止板525。

各導引滑軌515還包括一與主導引面516相連接的斜導引面517，兩導引滑軌515的斜導引面517可分別供待測料片1的左右側抵接。透過斜導引面517的設計，使得待測料片1由輸送帶體21(如圖1所示)向下滑落至兩導引滑軌515的過程中，當待測料片1側邊抵觸到斜導引面517時，斜導引面517除了能導正待測料片1使其順利地沿著主導引面516向下滑移至預定位置之外，還能避免待測料片1滑移出導引滑軌515外側。

藉由前述各段落描述的結構設計，使得本實施例的導引機構5能夠先依序暫存已完成上表面11檢測之待測料片1並將其堆疊在一起，當導引滑台51及阻擋台52變換至攤開狀態時，便能夠將堆疊在一起的複數片待測料片1一片一片地依序回送至前輸送帶513及輸送帶體21上。

如圖7及圖8所示，頂推機構6還包括一設置於前框架511上用以驅使頂推件61作動的驅動元件62、一設置於其中一導引滑軌515內側用以感測待測料片1是否移動到預定位置的感測元件63，及一電性連接於感測元件63與驅動元件62之間的控制器64。當待測料片1滑移到預定位置時，感測元件63會傳遞一感測訊號至控制器64以使其控制驅動元件62驅動頂推件61作動。在本實施例中，頂推件61為一擺臂，驅動元件62為一可驅動擺臂往復旋轉的馬達。

如圖1、圖3、圖4及圖5所示，欲透過檢測設備200檢測待測料片1的表面瑕疵時，首先，將一堆待測料片1放置於進料裝置3的進料輸送帶30上，接著，調整兩側導引板35的導引板體351之間的距離，使兩導引板體351分別擋止於各待測料片1的左右側。藉由兩擋止塊31以及各擋止塊31與進料輸送帶30之間的間隙310設計，使得進料輸送帶30沿輸送方向I帶動該等待測料片1移動時，位於最底端的一片待測料片1會通過間隙310並移動至輸送帶體21上，其餘的待測料片1則會被各擋止塊31擋止而無法移動。當最底端的待測料片1與疊置於其上的另一待測料片1分離時，該另一待測料片1便會下移至下表面12抵接於進料輸送帶30上的位置，藉此，進料輸送帶30能將堆疊在一起的該等待測料片1一片一片地依序輸送至輸送帶體21上。

如圖1及圖2所示，當輸送帶體21帶動各待測料片1通過光學檢測裝置4時，光學檢測裝置4會對各待測料片1的上表面11進行線性掃描，並將掃描後所擷取的影像資訊與預先儲存的一樣板進行比對，以檢測上表面11是否有瑕疵，比對動作完成後，光學檢測裝置4會將比對後的上表面11比對資訊先儲存起來。

如圖12及圖13所示，當輸送帶體21將待測料片1輸送至導引滑台51時，由於導引滑台51與阻擋台52在收摺狀態且導引滑台51呈傾斜，因此，待測料片1會因重力關係而自行掉落至兩導引滑軌515上。透過各導引滑軌515的主導引面516及斜導引面517的導引，使得待測料片1能順利地越過兩擋止板525而移動到如圖13所示的預定位置，此時，待測料片1的一末端13抵接於後輸送帶523上且下表面12抵接於導引滑軌515的主導引面516。

如圖13、圖14及圖15所示，當感測元件63感測待測料片1移動到預定位置時，感測元件63會傳遞感測訊號至控制器64，控制器64會控制驅動元件62驅動頂推件61沿箭頭V方向旋轉，使頂推件61穿伸出導引滑台51的穿槽510並將待測料片1的下表面12朝阻擋台52方向頂推，以帶動待測料片1旋轉並使上表面11抵靠於阻擋台52的後輸送帶523。接著，驅動元件62會驅動頂推件61沿箭頭V的反向旋轉並回復至圖15所示的初始位置。重覆圖12至圖15的動作依序對一片一片的待測料片1進行翻轉之後，便可如圖16所示地將複數片待測料片1堆疊在容置空間527內。

如圖1、圖17及圖18所示，接著，透過驅動組件71的氣缸712驅動頂推桿711沿箭頭VI方向移動到頂推位置，頂推桿711上移過程中會將樞接板514往上頂推並透過樞接板514連動導引滑台51後端及阻擋台52前端上移。當頂推桿711移動到如圖17所示的頂推位置時，導引滑台51及阻擋台52呈攤開狀態。此時，兩前輸送帶513與後輸送帶523前後相間隔且與輸送帶體21共同位於同一水平高度，且各待測料片1在下表面12朝上的水平狀態。藉由兩擋止板525以及空隙528的設計，使得後輸送帶523沿回送方向IV帶動該等待測料片1移動時，位於最底端的一片待測料片1會通過空隙528並移動至前輸送帶513上，其餘的待測料片1則會被各擋止板525的後擋止面529阻擋而無法移動，當最底端的待測料片1與疊置於其上的另一待測料片1分離時，該另一待測料片1便會下移至上表面11抵接於後輸送帶523上的位置，藉此，後輸送帶523能將堆疊在一起的該等待測料片1一片一片地依序輸送至前輸送帶513上。

前輸送帶513會將各待測料片1輸送至輸送帶體21，使輸送帶體21沿回送方向IV輸送待測料片1至光學檢測裝置4處進行下表面12的檢測。光學檢測裝置4會對待測料片1的下表面12進行線性掃描，並將掃描後所擷取的影像資訊與預先儲存的一樣板進行比對，以檢測下表面12是否有瑕疵，比對動作完成後，光學檢測裝置4會依據比對後的下表面12比對資訊以及先前所儲存的上表面11比對資訊來判斷該待測料片1為良品或是不良品，以作為一檢測結果。接著，光學檢測裝置4會將該檢測結果傳輸至一例如為電腦的控制模組(圖未示)，使控制模組儲存該檢測結果。

如圖1、圖2及圖19所示，收料裝置8包括一設置於進料輸送帶30前方的分料輸送帶81，及兩個分別位於分料輸送帶81左右側的收料模組82，進料輸送帶30沿回送方向IV輸送待測料片1至分料輸送帶81後，控制模組會依據該待測料片1的檢測結果來控制分料輸送帶81的分料輸送方向，若該待測料片1為良品，則控制模組會控制分料輸送帶81沿左右方向II向左移動，以將該待測料片1輸送至其中一負責回收良品待測料片1的收料模組82上；若該待測料片1為不良品，則控制模組會控制分料輸送帶81沿左右方向II向右移動，以將該待測料片1輸送至另一個負責回收不良品待測料片1的收料模組82上。

具體而言，各收料模組82包含一固定座821、一可滑動地連接於固定座821的承載件822，及一設置於固定座821與承載件822之間的驅動單元823。固定座821包括兩根滑軌824，各滑軌824的長向平行於上下方向III。承載件822可滑動地連接於兩滑軌824上並可沿上下方向III相對於固定座821滑動，承載件822包括一用以承接待測料片1的承載面825。驅動單元823包括一設置於固定座821的馬達826、兩個皮帶輪827及一皮帶828，其中一皮帶輪827與馬達826相連接，另一個皮帶輪827可轉動地樞接於固定座821上並且間隔位於前述皮帶輪827上方，皮帶828纏繞於兩皮帶輪827上，藉此，馬達826帶動皮帶輪827轉動時可同時連動皮帶828轉動。由於承載件822固定地連接於皮帶828上，因此，皮帶828在轉動的過程中會同時連動承載件822沿上下方向III相對於固定座821向上或向下移動，藉此，能調整承載面825與分料輸送帶81之間的高度差，使分料輸送帶81能順利地將待測料片1輸送至承載面825上。本實施例中，當承載件822每承接一片待測料片1後，驅動單元823便會驅使承載件822沿上下方向III下移一小段行程，使承載件822上的待測料片1的高度等於或略低於分料輸送帶81的高度，藉此，使得分料輸送帶81能依序地將一片一片的待測料片1堆疊在承載件822上。

如圖20、圖21及圖22所示，是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第二較佳實施例，檢測設備200的整體結構與操作方式大致與第一較佳實施例相同，但翻轉裝置50的頂推機構6設計方式略有不同。

在本實施例中，頂推件61’為一推桿，驅動元件62’為一可驅動該推桿往復移動的氣缸。驅動元件62’會驅使頂推件61’沿箭頭X方向移動，使頂推件61’穿伸出導引滑台51的穿槽510並將待測料片1的下表面12朝阻擋台52方向頂推，以帶動待測料片1旋轉並使上表面11抵靠於阻擋台52的後輸送帶523。

歸納上述，各實施例的檢測設備200，藉由入料裝置3能自動化地將成堆的複數待測料片1一片一片地依序輸送至輸送裝置2的輸送帶體21上，能迅速且有效率地進行入料作業，並可節省入料工時。此外，藉由構造簡單的翻轉裝置50設計，能降低製造成本，翻轉裝置50能迅速且確實地進行待測料片1的翻轉作業，以避免待測料片1在翻轉過程中發生受損或破裂的情形。再者，藉由翻轉裝置50可對待測料片1進行翻轉，以及搭配導引滑台51及阻擋台52在攤開狀態時，阻擋台52的後輸送帶523、導引滑台51的前輸送帶513，及輸送裝置2的輸送帶體21能沿回送方向IV輸送待測料片1的回流式輸送設計，使得檢測設備200只需透過一組光學檢測裝置4便能迅速地對待測料片1的上表面11及下表面12進行表面瑕疵的檢測，藉此，能有效降低檢測設備200的製造成本，確實能達到本新型所訴求之目的。

惟以上所述者，僅為本新型之實施例而已，當不能以此限定本新型實施之範圍，即大凡依本新型申請專利範圍及新型說明內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本新型專利涵蓋之範圍內。

1‧‧‧待測料片

36‧‧‧高度微調機構

11‧‧‧上表面

361‧‧‧支架

12‧‧‧下表面

362‧‧‧測微頭

13‧‧‧末端

363‧‧‧固定套筒

200‧‧‧檢測設備

364‧‧‧旋轉套筒

20‧‧‧機座

365‧‧‧頂推螺桿

2‧‧‧輸送裝置

4‧‧‧光學檢測裝置

21‧‧‧輸送帶體

50‧‧‧翻轉裝置

211‧‧‧前端

5‧‧‧導引機構

212‧‧‧後端

51‧‧‧導引滑台

3‧‧‧進料裝置

510‧‧‧穿槽

30‧‧‧進料輸送帶

511‧‧‧前框架

31‧‧‧擋止塊

512、522‧‧‧滾輪

310‧‧‧間隙

513‧‧‧前輸送帶

311‧‧‧下端

514‧‧‧樞接板

312‧‧‧長形導槽

515‧‧‧導引滑軌

32‧‧‧側板件

516‧‧‧主導引面

33‧‧‧滾輪

517‧‧‧斜導引面

34‧‧‧導柱

52‧‧‧阻擋台

35‧‧‧側導引板

521‧‧‧後框架

351‧‧‧導引板體

523‧‧‧後輸送帶

352‧‧‧螺絲

524‧‧‧側板

353‧‧‧頂面

525‧‧‧擋止板

526‧‧‧前緣

823‧‧‧驅動單元

527‧‧‧容置空間

824‧‧‧滑軌

528‧‧‧空隙

825‧‧‧承載面

529‧‧‧後擋止面

826‧‧‧馬達

6‧‧‧頂推機構

827‧‧‧皮帶輪

61、61’‧‧‧頂推件

828‧‧‧皮帶

62、62’‧‧‧驅動元件

I‧‧‧輸送方向

63‧‧‧感測元件

II‧‧‧左右方向

64‧‧‧控制器

III‧‧‧上下方向

7‧‧‧驅動機構

IV‧‧‧回送方向

70‧‧‧底座

V、VI‧‧‧箭頭

71‧‧‧驅動組件

X‧‧‧箭頭

711‧‧‧頂推桿

A‧‧‧角度

712‧‧‧氣缸

D1‧‧‧後擋止面與前輸送帶之間的垂直距離

8‧‧‧收料裝置

81‧‧‧分料輸送帶

D2‧‧‧主導引面與前輸送帶之間的垂直距離

82‧‧‧收料模組

821‧‧‧固定座

T‧‧‧待測料片厚度

822‧‧‧承載件

圖1是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第一較佳實施例的俯視圖，說明輸送裝置、進料裝置、光學檢測裝置、翻轉裝置及收料裝置之間的位置關係；圖2是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第一較佳實施例的前視圖，說明輸送裝置、進料裝置、光學檢測裝置、翻轉裝置及收料裝置之間的位置關係；圖3是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第一較佳實施例的進料裝置的俯視圖，說明進料裝置的細部結構；圖4是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第一較佳實施例的進料裝置的前視示意圖，說明擋止塊擋止堆疊在一起的待測料片；圖5是圖4的局部放大圖，說明擋止塊與進料輸送帶之間所界定的間隙與待測料片的厚度之間的關係；圖6是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第一較佳實施例的翻轉裝置的立體圖，說明底座、驅動機構與導引機構之間的位置關係；圖7是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第一較佳實施例的翻轉裝置的俯視圖，說明導引滑台及阻擋台在收折狀態；圖8是沿圖7中的8-8剖線所取的剖視圖，說明導引滑台及阻擋台在收折狀態；圖9是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第一較佳實施例的局部剖視放大圖，說明導引滑台及阻擋台在攤開狀態時，前輸送帶與後輸送帶前後相間隔且與輸送帶體共同位於同一水平高度；圖10是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第一較佳實施例的翻轉裝置的局部剖視放大圖，說明擋止板與後輸送帶之間所界定的空隙與待測料片的厚度之間的關係；圖11是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第一較佳實施例的翻轉裝置的俯視圖，說明導引滑軌的細部結構；圖12是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第一較佳實施例的翻轉裝置的局部剖視放大圖，說明輸送帶體輸送待測料片至導引滑台；圖13是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第一較佳實施例的翻轉裝置的局部剖視放大圖，說明待測料片滑移至預定位置；圖14是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第一較佳實施例的翻轉裝置的局部剖視放大圖，說明頂推件頂推待測料片的下表面；圖15是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第一較佳實施例的翻轉裝置的局部剖視放大圖，說明待測料片的上表面抵接於後輸送帶；圖16是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第一較佳實施例的翻轉裝置的局部剖視放大圖，說明複數片待測料片堆疊於容置空間內；圖17是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第一較佳實施例的翻轉裝置的剖視圖，說明導引滑台及阻擋台在攤開狀態；圖18是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第一較佳實施例的翻轉裝置的局部剖視放大圖，說明後輸送帶、前輸送帶與輸送帶體輸送待測料片；圖19是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第一較佳實施例的收料裝置的側視示意圖，說明分料輸送帶與收料模組之間的位置關係；圖20是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第二較佳實施例的翻轉裝置的剖視圖，說明導引滑台及阻擋台在攤開狀態；圖21是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第二較佳實施例的翻轉裝置的局部剖視放大圖，說明頂推件頂推待測料片的下表面；及圖22是本新型具有翻轉裝置的檢測設備的第二較佳實施例的翻轉裝置的局部剖視放大圖，說明待測料片的上表面抵接於後輸送帶。